Microscopa

Electrnica

GUERRERO MENDOZA, LEYLA

PADILLA SALAZAR, KELER
Concepto:
La microscopa electrnica
es utilizada como una de
las tcnicas ms verstiles
en el estudio y anlisis
delas caractersticas
microestructurales de
objetos slidos.

La principal ventaja de
este tipo de microscopa es
alcanzar una extraordinaria
amplificacin de la imagen
de la muestra manteniendo
un poder de resolucin casi
mil veces mayor que el
ptico.
 Microscopio
Electrnico:
Es una herramienta fundamental dentro
de la investigacin, principalmente
dentro del estudio de la microestructura
de los materiales.

Un microscopio electrnico es aqul que

utiliza un haz de electrones en lugar de
un haz de fotones o luz visible para
formar imgenes de objetos diminutos.

Los electrones acelerados se comportan

en el vacio como la luz. Viajan en lnea
recta y tienen una longitud de onda que
es una 100 000 veces mas pequea que
la de la luz.

Permiten alcanzar ampliaciones hasta

5000 veces ms potentes que los mejores
microscopios pticos.
Los campos elctricos y
magnticos tiene el mismo
efecto sobre los electrones
que el que tiene las lentes y
espejos de vidrio sobre la
luz visible.

Comparacin esquemtica entre una lente

clsica y una magntica

Cuando el haz de electrones

interacciona con la muestra
se produce varios tipos de
seales las cuales nos
permiten hacer la
identificacin estructural y
qumica de sta. Estas
seales son electrones:
retrodispersos, secundarios,
absorbidos, auger,
transmitidos ,rayos x
continuos y rayos x
 Tipos de Microscopio Electrnico:
Existen dos tipos de microscopios
electrnicos: el microscopio electrnico
de barrido y el microscopio electrnico
de transmisin.
Microscopio Electrnico de Barrido:
Construido por el fsico alemn
Manfred Von Ardenne en 1938.
til para estudiar las caractersticas
morfolgicas y topogrficas ,en alta
resolucin, de la muestra(superficie
de los slidos).
Microscopio electrnico de
barrido(MEB) o microscopia de
exploracin electrnica(SEM), En esta Interaccin de los electrones incidentes con los
clase de microscopio los electrones tomos de la muestra y produccin de
electrones secundarios. Ntese que slo pueden
que van a dar origen a una imagen escapar los electrones secundarios generados
durante la entrada de los electrones incidentes
salen por la misma cara de la muestra (SEI) o durante su salida (SEII) en los primeros
donde incidi el haz de electrones, nanmetros por debajo de la superficie, el resto
es absorbido por la muestra.
como si fuera un microscopio de luz
reflejada(serie de interaccin elstica
e inelstica).
 Los electrones secundarios nos dan informacin sobre la
superficie de la muestra. Permitindonos de este modo
obtener una imagen topogrfica de ella. Estos electrones
son una de las fuentes de informacin para la microscopia
electrnica de barrido.

En estos equipos puede hacerse anlisis qumicos y

,actualmente cuentan con dispositivos para hacer difraccin
de electrones
Partes principales del
microscopio electrnico de
barrido (MEB:
1. Can de electrones
(filamento emisor de
electrones, capucha
wehnelt, nodo)
2. Sistemas de lentes
electromagnticas.
3. Apertura de condensador.
4. Apertura de objetivo.
5. Apertura de difraccin.
6. Un portamuestra,.
7. Sistema de barrido.
8. Sistemas de
deteccin(detector).
9. sistema de vaco.
10. sistema de refrigeracin.
11. Sistema de proyeccin o
visualizacin de las
imgenes.
VENTAJAS DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO
Tiene una gran profundidad de campo, de 100
veces ms la de un microscopio ptico.

Tiene una gran versatilidad en el manejo de

amplificaciones.

Mayor resolucin (3-6nm).

Una excelente impresin tridimensional

La preparacin de muestras es relativamente

fcil. puede ser relativamente grande desde unos
mm hasta varios centmetros.

Se le puede conectar varios sistemas de anlisis

o de deteccin fcilmente, sin implicacin de
adaptaciones o modificaciones del diseo del
microscopio.
 Aplicaciones de la microscopia
electrnica
Geologa:
-Una eficaz ayuda en estudios geomtricos y
morfolgicos
relacionados con la mineraloga y metalurgia
-Textura de rocas y minerales
Ciencia e Ingeniera de Materiales:
-Caracterizacin morfolgica y analtica de materiales
-Estudio de superficies
-Procesos de difusin
Metalurgia:
-Observacin de composicin de materiales
-Fenmenos de difusin
-Composicin de aleaciones
-Crecimiento de granos
-Estudios de corrosin de metales y aleaciones
Biologa:
-Observacin de los distintos organelos intracelulares
-Diferenciacin de clulas Patologas animales y
vegetales
-Estudios forenses (bsqueda de partculas, tejidos,
hilos, )
Otros:
-Biodeterioro de obras de arte