Control Calidad - Unidad 9 - Muestreo de Aceptación

Universidad
Antonio Ruiz
de Montoya
Control de
Calidad
Ing. Norman
Reyes
Mayo 2015
Temas
12. Muestreo de aceptacin
12.1. Conceptos bsicos
12.2. Ventajas y desventajas del muestreo de aceptacin
12.3. Tipos de planes de muestreo
12.4. Muestreo por atributos: simple, doble y mltiple
12.5. Formacin del lote y seleccin de la muestra
12.6. Aspectos estadsticos: variabilidad y curva caracterstica de
operacin
12.7. ndices para los planes de muestreo de aceptacin
12.8. Diseo de una plan de muestreo simple con NCA y NCL
especficos (mtodo de Cameron)
12.9. Military Standard 105E
Control de Calidad Ing. Norman Reyes
12. Muestreo de aceptacin

12.10. Planes de muestreo Dodge - Roming
12.11. Planes de muestreo PDTL (LTPD) con c = 0
12.12. Muestreo de aceptacin por variables (MIL STD 414)
Qu es el muestreo de aceptacin?
El muestreo de aceptacin
es el proceso de inspeccionar una muestra de
unidades extradas de un lote.

Se realiza con el propsito de aceptar o rechazar todo el lote.
Se puede aplicar en el interior de una empresa o entre diferentes empresas.
Se considera una medida defensiva para protegerse contra la amenaza del
posible deterioro en la calidad.
No es una estrategia de mejora de la calidad, sino ms bien una estrategia
para proporcionar cierto nivel de seguridad de que los niveles de calidad con
los que se disea el plan se estn alcanzando.

2.
Se
selecciona
una muestra
de
artculos
del lote
En base a la informacin
recibida se acepta o se
rechaza el lote*
1. Una compaa recibe

un lote de materiales o
componentes de cierto
proveedor.
3. Se inspeccionan de acuerdo
con
ciertos criterios de calidad.
*Si se rechaza hay 2 posibles opciones, 1. Que se devuelva al proveedor o 2. Que se inspeccione al
100 % con los costos incurridos pagados por el proveedor.
Fig. 1 Esquema de un plan de muestreo de

aceptacin por atributos (N, n, c).
11.2. Ventajas y desventajas del muestreo de

aceptacin
Ventajas y desventajas del muestreo de aceptacin con respecto

a la inspeccin al 100%
Ventajas
1. Tiene menor costo porque se inspecciona menos, a pesar de algunos costos

adicionales generados por la planificacin y administracin de los planes de
muestreo.
2. Requiere de menos personal en las actividades de inspeccin, con lo cual se
simplifica el trabajo de coordinacin y se reducen costos.
3. El producto sufre menos dao porque hay menos manipulacin.
4. Es aplicable en pruebas destructivas.

aceptacin
5. A menudo reduce el error de inspeccin y la monotona.
6. El rechazo de lotes completos por la existencia de artculos defectuosos
proporciona una motivacin al fabricante del lote para que mejore su calidad.

aceptacin
Desventajas
1. Existe cierto riesgo de aceptar lotes malos y rechazar los buenos, aunque en
un plan de muestreo de aceptacin estos riesgos estn previstos y
cuantificados.
2. Proporciona menos informacin acerca del nivel de calidad del producto o de
su proceso de fabricacin; aunque bien utilizada, la informacin obtenida es
suficiente.
3. Se requiere ms tiempo y conocimiento para planificar y documentar el
muestreo, comparado con la inspeccin al 100 por ciento.
Tipos de planes de muestreo

Se clasifican de acuerdo al tipo de caracterstica de calidad bajo anlisis.
La cual puede ser de atributos o por variables.
De esta manera hay 2 planes de muestreo:
Planes por variables
Planes por atributos
I. Planes por variables

Se toma una muestra aleatoria del lote y a cada
unidad se le mide una caracterstica de calidad de tipo
continuo (longitud, peso, etc.).
Con las mediciones se calcula un estadstico que por
lo general est en funcin de la media, la desviacin
estndar muestral y las especificaciones, y al
comparar el valor de tal estadstico frente a un valor
de tablas, se aceptar o rechazar todo el lote.
II. Planes por atributos
Se extrae de manera aleatoria una o ms muestras de

un lote y cada pieza de la muestra es clasificada de
acuerdo con ciertos atributos como aceptable o
defectuosa.
La cantidad de piezas defectuosas es usada para
decidir si el lote es aceptado o no.
11.4. Muestreo por atributos: simple, doble y

mltiple
Muestreo por atributos

Se clasifican en tres:
1. Plan de muestreo simple
2. Plan de muestreo doble
3. Plan de muestreo mltiple

mltiple
1. Plan de muestreo simple (n,c)
Se toma una muestra de tamao n, y si en esta se encuentra c o menos

unidades defectuosas, el lote es aceptado, y si sucede lo contrario es
rechazado.
2. Plan de muestreo doble
En este caso, se toma una primera muestra de tamao ms pequeo que
el plan simple para detectar los lotes que son muy buenos o los que son
muy malos. Si con la primera muestra no se puede decidir, entonces se
toma la segunda muestra para llegar a una conclusin definitiva.

mltiple
Ejemplo muestreo doble
Sea N = 3000 el tamao del lote, n1 = 80 el tamao de la primera muestra.
En base a esto se toma una de las siguientes decisiones:
1. Aceptar el lote cuando la cantidad de unidades defectuosas sea
menor o igual que c1 = 1.
2. Rechazar el lote cuando el nmero de piezas defectuosas sea mayor
que c2 = 4.
3. Tomar una segunda muestra de n2 = 80 unidades cuando no ocurra
ninguno de los dos casos anteriores. Si la cantidad de unidades
defectuosas en las dos muestras es menor o igual que c2 = 4, el lote
es aceptado; pero si es mayor, el lote es rechazado.
Donde n2 = tamao de la segunda muestra y c2 = nmero de aceptacin
para las 2 muestras.

mltiple
3. Plan de muestreo mltiple
Es una extensin del concepto del muestreo doble. Pero si con la

segunda muestra todava no es posible decidir, se contina con el
proceso hasta tomar la decisin de aceptar o rechazar el lote en la ltima
muestra considerando todos los defectuosos encontrados.
11.5. Formacin
muestra
del
lote
seleccin
de
la
Formacin del lote

Para lograr un plan de muestreo eficaz se sugiere tomar las siguientes
recomendaciones para formar los lotes que sern sometidos a un plan
de inspeccin:
Los lotes deben ser homogneos.
Las unidades que forman un lote en particular deben haber sido
fabricadas en condiciones similares en cuanto a mquinas, operadores,
materia prima, tiempo (fechas), etc
Los lotes deben ser formados de manera que no

compliquen su manejo durante la inspeccin.
Todos los artculos de los lotes deben ser empaquetados y embarcados
con un mnimo de riesgo y de manera que la seleccin de las unidades de
la muestra sea relativamente fcil.
Los lotes deben ser tan grandes como sea posible.

Esto debido a que en los lotes grandes es necesario inspeccionar, de
manera proporcional, menos que en los lotes pequeos; adems, los
planes que resultan de tamaos de lotes grandes tienen mayor poder
para detectar los lotes de mala calidad.
11.5. Formacin
muestra
del
lote
seleccin
de
la
Seleccin de la muestra
La seleccin de las unidades que forman la muestra debe hacerse aplicando
un mtodo de muestreo aleatorio, de manera que las unidades seleccionadas
sean representativas de todo el lote.
Hay 2 maneras de seleccionar la muestra:
Mtodo de muestreo aleatorio simple:
Se asigna un nmero a cada uno de los N artculos del lote, y al azar se
seleccionan n de estos nmeros para determinar qu artculos del lote
constituyen la muestra.
Cuando es difcil numerar, el nmero seleccionado puede usarse para
determinar en qu zona est el artculo a seleccionar. Por ejemplo, el
nmero 482 puede ser la representacin de una unidad localizada sobre un
cuarto nivel, octava fila y segunda columna.
11.5. Formacin
muestra
del
lote
seleccin
de
la
Mtodo de dividir el lote en estratos o capas, despus cada estrato

es dividido en cubos (ver fig. 1). Las unidades se toman de manera
aleatoria dentro de cada cubo.
Fig. 2 Divisin de un lote para muestreo
11.6. Aspectos estadsticos:

caracterstica de operacin
variabilidad
curva
Aspectos estadsticos: variabilidad y curva caracterstica

de operacin
Se tiene un proceso con lotes grandes de productos y el 6 % de la los
productos son defectuosos.
Mucha gente piensa que si se toma una muestra n = 100, se encontrara
6 productos defectuosos. Pero esto no es cierto.
Esto se puede estimar gracias a la distribucin binomial. Con esta
distribucin se calcula la probabilidad de que en la muestra vengan x
productos defectuosos. (ver tabla 1). All se puede observar que si se
sacan muchas muestras de tamao 100, se espera que solo el 16.6% de
las muestras tendrn exactamente 6 artculos defectuosos.

variabilidad
curva
Tabla 1. Conceptos bsicos de la calidad de mediciones

variabilidad
curva
Curva caracterstica de operacin (CO)

Es preciso recordar que los que se observa no es idntico a lo que hay en
la poblacin. Para tomar una decisin cierta acerca de la poblacin en
base a la muestra se recurre a un modelo de probabilidad llamado curva
caracterstica de operacin.
Ejemplo
En una fbrica se producen lotes de tamao grande y que antes de
enviarlos al cliente se les aplica el plan de muestreo simple por atributos
definido por:
n = 60, c = 1
Con esto se acepta el lote si a lo ms se encuentra un producto
defectuoso. De lo contrario se rechaza el lote y se debe realizar una
inspeccin al 100%

variabilidad
curva
En este plan de muestreo del ejemplo nos preguntamos:

Qu tipo de calidad garantiza este plan?
Cul es el nivel de calidad que no tolera?
Estas interrogantes se responden a partir de la curva caracterstica de
operacin (CO) para dicho plan de muestreo.
Qu nos proporciona la curva CO?
Una caracterizacin del desempeo potencial del plan de muestreo,
mediante el clculo de la probabilidad de aceptar o rechazar un lote que
tiene determinada calidad.

Tabla 2. Probabilidad de aceptacin del plan n = 60, c = 1,
para diferentes valores de p y suponiendo tamao de lote grande.
variabilidad
curva
Fig. 3 Curva CO para el plan n = 60, c = 1 y

tamao de lote grande.
Del ejemplo, n = 60 c =1, podemos ver en su respectiva tabla de probabilidad

de aceptacin (la tabla 2) que si el lote tiene p = 2% = 0.02, la probabilidad
de que sea aceptada Pa = 0.6619 es ms alta que si p = 10 % = 0.1, Pa =
0.0137.
Esta tabla tiene un amplio rango de proporciones de defectos ya que en la
realidad no se sabe exactamente la proporcin de defectos de un lote.
En base a esta tabla se obtiene la curva CO, para el plan n = 60, c=1

variabilidad
curva
Para calcular las probabilidades de aceptacin (Pa) de la tabla 2, y

en casos similares, se utiliza la distribucin binomial con
parmetros n y p.
En especfico para un plan (n, c), la Pa se obtiene con:
Pa = P (0) + P (1) + + P(c); para cada valor de p.
En el caso de la tabla 2, como c = 1, entonces se calcula P
(0) + P (1).
Por ejemplo si p = 0.02, se obtiene que P(0) = 0.2976
y P (1) = 0.3633; por lo tanto, Pa = 0.6619, como se especifica en
la tabla 2.

variabilidad
curva
Curva CO ideal
Supongamos que se quiere aceptar los lotes que tengan como mximo
1% de productos defectuosos y si sucede lo contrario se rechaza.
Fig. 4 Curva CO ideal para la calidad

p = 0.01 (1%).
Esta grfica nos muestra que si la p < 1% entonces se
est satisfecho con tal calidad y el lote se acepta con
probabilidad 1. Mientras si p > 1 % entonces no se
est satisfecho
con esa calidad y la probabilidad de aceptar es cero.

variabilidad
curva
Propiedades de las curvas CO

1. No existe un plan de muestreo que tenga una curva CO ideal. De
esta manera, todo plan de muestreo tiene riesgos de rechazar la buena
calidad y aceptar la mala.
2. Al aumentar el tamao de muestra y el nmero de aceptacin se
obtiene un plan ms estricto que no permita pasar tan fcilmente lotes
malo como buenos, o viceversa.
Fig. 5 Curva CO de tres planes de muestreo
Esta curva CO nos indica que cuando n crece y c lo hace
Manera proporcional, aumenta el poder de discriminacin de un
Plan.
Por ejemplo, suponga que un lote con 4% de defectivo se considera
De mala calidad, entonces con las tres curvas se tiene que:
Plan n = 60, c = 1; probabilidad de aceptacin 0.302
De esta manera, el ltimo plan slo dejar pasar 3.5% de
los lotes de referencia.

variabilidad
curva
3. El criterio de tamao de muestra igual a un porcentaje del

tamao
de lote es un mal criterio.
Fig. 6 Curvas CO para tres planes con tamao de muestra
igual a 10% del lote y c = 0.
Estos tres planes han proporcionan distintos niveles de proteccin para
un mismo nivel de calidad en los lotes.
Por ejemplo, si los lotes tienen una proporcin de defectivo de 0.05
(5%), entonces la probabilidad de aceptarlo, Pa, en cada caso es la
siguiente:
Plan N = 300, n = 30, c = 0; probabilidad de aceptacin 0.214
De esta manera, en el primer caso se aceptar 21.4% de los lotes, en
el segundo 7.69% y en el ltimo 1.65%.
Por lo anterior, obtener el tamao de muestra igual a un porcentaje del
tamao del lote no tiene el mismo efecto y, por lo tanto, es una forma
inadecuada de proceder.

variabilidad
curva
4. Al disminuir el nmero de aceptacin, la curva CO cae mas rpido.

Esto hace que los planes sean ms estrictos
Fig. 7 Efecto de disminuir c en los planes de muestreo por

atributos.

variabilidad
curva
5. Los planes con c = 0 no siempre son los mas apropiados.

En la figura 6, se aprecian curvas CO para planes con nmero de aceptacin c = 0 y
si las comparamos con las curvas CO de la figura 5, vemos que las primeras son
cncavas hacia arriba lo cual causa que la probabilidad de aceptar disminuya ms
rpido aun para valores pequeos de la proporcin de defectivo en el lote.
Por ejemplo, si quiere aceptar lotes que tengan una proporcin de defectivo de 1% o
menos y se aplica el plan n = 120, c = 2 (figura 5), entonces la probabilidad de
aceptar los lotes con 1% de defectivo es de 0.88, pero si se aplica el plan n = 30, c =
0, la probabilidad de aceptarlos es menor (Pa = 0.74), lo que llevara a rechazar
26% de los lotes a pesar de que tengan un nivel de calidad aceptable.
Se concluye que no son necesariamente apropiados este tipo de planes con c = 0
ya que son ms exigentes para el proveedor y en algunas circunstancias costosos
para el cliente.

variabilidad
curva
6. La influencia del tamao de lote en el diseo de planes de muestreo es menor de

lo que comnmente se cree.
Las curvas CO que hemos visto hasta el momento son de Tipo B, es decir que
para obtener dichas curvas se ha supuesto que las muestras se extraen de un
lote grande o que el lote proviene de un flujo continuo de productos. Para
obtener sus probabilidades de aceptacin se utiliza la distribucin binomial.
La curva CO tipo A, se obtiene con la distribucin hipergeomtrica y se aplica
cuando el tamao de lote es pequeo con respecto al tamao de muestra.
Fig. 8 Curvas CO para plan n = 80 y c = 1 con
tamao de lote diferente.
Se muestra planes de muestreo con el mismo tamao de muestra y
nmero de aceptacin (n = 80 y c = 1), pero con diferente tamao de lote
(N = inf. Muy grande, 800 y 200)
De ah se observa que la discrepancia entre las tres curvas es
relativamente escasa; por ejemplo, para p = 0.04 se tienen las siguientes
probabilidades de aceptacin, Pa: 0.1016, 0.1508 y 0.1653,
respectivamente, que son ms o menos similares y que confirman que el
tamao de lote no importa demasiado.
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
ndices para los planes de muestreo de aceptacin

Ante la situacin de aceptar lotes de mala calidad o de rechazar aquellos de
buena calidad, lo que se pueda hacer es disear planes de muestreo que tengan
una alta probabilidad de aceptar lotes buenos y una baja probabilidad de aceptar
lotes malos.
Lo que se hace es definir ndices de que establezcan, para una situacin
especfica, lo que se considerar como calidad aceptable intermedia y no
aceptable y con sus correspondientes probabilidades de aceptacin.
1. Nivel de calidad aceptable, NCA o AQL (Acepting Quality Level)

2. Nivel de calidad lmite, NCL o LQL (Limiting Quality Level)
3. Calidad Promedio de Salida, CPS o AOQ (Average Outgoing Quality)
4. Lmite de la calidad promedio de salida, LCPS o AOQL (Average
Outgoing Quality Limit).
5. Inspeccin total promedio, ITP o ATI (Average Total Inspection)
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
1. Nivel de calidad aceptable, NCA o AQL (Acepting Quality Level)

Se define como el porcentaje mximo de unidades que no cumplen con la
calidad especificada, que para propsitos de inspeccin por muestreo se
considera como satisfactorio o aceptable como un promedio para el
proceso.
Fig. 9 Curva CO con NCA = 0.4%, = 0.05,

Segn la figura, si un lote tiene un nivel de calidad igual al NCA,
entonces la probabilidad de aceptarlo debe ser alta (1-
0.95 ).
es la probabilidad del riesgo de no aceptar un lote con calidad
aceptable. A dicho riesgo se le conoce como riesgo del
productor.
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
2. Nivel de calidad lmite, NCL o LQL (Limiting Quality Level)

Es el nivel de calidad que se considera como no satisfactorio y que los
lotes que tengan este tipo de calidad casi siempre deben ser
rechazados. El NCL en los planes de muestreo Dodge Roming se le
conoce como porcentaje defectivo tolerado del lote (PDTL) o Lot
Tolerance Percent Defective).
Fig. 10 Curva CO con NCL = 2.55% y = 0.10.

Se supone que si un lote tiene calidad igual a NCL,
entonces la probabilidad de aceptarlo debe ser muy
baja. Dicha probabilidad es = 0.10.
Beta no es cero porque existe un riesgo de no rechazar
un lote de calidad mala. Dicho riesgo es conocido
como riesgo del consumidor.
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
3. Calidad Promedio de Salida, CPS o AOQ (Average Outgoing

Quality)
Es la calidad promedio que se alcanza despus de aplicar el proceso de
inspeccin. Este concepto es una forma de medir el efecto de un plan de
muestreo sobre la calidad que se tendr despus de aplicarlo.
Fig. 11 Curva para calidad promedio de salida (CPS)
del
plan n = 60, c = 1.
0.01208
Una forma de caracterizar la bondad de un plan de

muestreo es calcular la calidad promedio de salida que
genera. Para calcular hay que considerar que para
cada proporcin de defectuosos que contiene el lote en
la entrada se espera una proporcin de defectuosos de
salida (CPS).
Graficando p vs CPS se obtiene la curva para la
calidad promedio de salida (Curva CPS).
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
Ejemplo 1
Un cliente plantea a su proveedor que solo le enve aquellos lotes que tengan un
buen nivel de calidad, y deciden establecer un plan de muestreo de aceptacin
simple por atributos. El tamao del lote es grande. Se acuerda un NCA = 0.4% y
que un lote con calidad igual a NCA tendr probabilidad
de aceptacin de 1 = 0.95. El riesgo del proveedor (productor) es = 0.05, ya
que los lotes con 0.4% de defectuosos, a pesar de tener calidad aceptable,
tendrn una probabilidad de no aceptacin de 0.05. Tambin acuerdan un NCL =
2.55%, y que los lotes con este nivel de calidad tendrn una probabilidad de
aceptacin de = 0.10. Con ello, el cliente (consumidor) est asumiendo un
riesgo de = 0.10 de aceptar lotes de calidad pobre (2.55% de defectuosos).
Un plan de muestreo que cumple moderadamente bien los acuerdos anteriores es
n = 205, c = 2, como queda claro con la curva CO de dicho plan (vea la figura 9).
Es importante entender bien el funcionamiento de este plan: garantiza que los
lotes que tengan un porcentaje de unidades defectuosas menor o igual al NCA =
0.4% sern aceptados con facilidad. A medida que este porcentaje sea mayor,
cada vez ser menos probable que los lotes correspondientes sean aceptados. En
particular, si un lote tiene un porcentaje de 2.55%, entonces tendr apenas 0.10
de probabilidades de ser aceptado.
11.7. ndices
aceptacin
para
los
planes
de
muestreo
de
La curva cuando se tiene un tamao de lote grande, se obtiene con la frmula:

CPS = p * Pa
p: proporcin de defectuosos a la entrada del lote
Pa la probabilidad de aceptacin de tal lote que proporciona el plan de muestreo.
Tabla 3. Calidad promedio de salida, CPS,

plan n = 60, c = 1
Si se tienen los clculos para la curva CO, fcilmente
se halla CPS, tal como se muestra.
Por ejemplo, observamos que si los lotes entran con
una proporcin de defectuosos de 0.04, 30.2% de ellos
ser aceptado. El restante 69.8% ser rechazado y
deber realizarse una inspeccin al 100%.
Sustituyndose las piezas malas por las buenas y
llegando esos lotes al cliente con cero defectuosos.
Para p = 0.04, la CPS = 1.21%
11.7. ndices
aceptacin|
para
los
planes
de
muestreo
de
4. Lmite de la calidad promedio de salida, LCPS o AOQL (Average

Outgoing Quality Limit).
Es el valor mximo de la curva CPS y representa la peor calidad

promedio
que puede obtenerse del programa de inspeccin. En la figura 11
podemos ver que el punto mximo es el punto ms alto de la curva que
es 1.4% se observa que el LCPS es de aproximadamente 0.014. Este
lmite quiere decir que no importa qu tan mala sea la proporcin de
defectuosos en los lotes que entran, la calidad promedio de salida nunca
ser peor que 1.4% de defectuosos en promedio.
11.7. ndices para los planes de muestreo de

aceptacin
5. Inspeccin total promedio, ITP o ATI (Average Total Inspection)
ITP es la cantidad total de inspeccin que requiere. Es claro que los lotes
aceptados slo precisan de una cantidad de inspeccin igual al tamao
de la muestra, n. Mientras tanto, los lotes que son rechazados son
sometidos a 100% de inspeccin, por lo que la cantidad de inspeccin
ser igual al tamao de lote, N.
ITP por lote es:
ITP = n + (1 Pa)(N n)
Si se tiene un tamao de lote de N = 5 000 y se aplica el plan n = 60, c =

1, entonces para los lotes con una proporcin de defectuosos de 0.04 se
tiene que la Pa = 0.3022 y, por lo tanto:
ITP = 60 + (1 0.3022)(5 000 60) = 3 507.13
Que es un nmero promedio de unidades inspeccionadas sobre muchos
lotes que tienen una proporcin de defectuosos de p = 0.04. Para cada
proporcin de defectuosos, p, en el lote de entrada es posible calcular la
ITP y de esa forma obtener la curva para la ITP.
11.8. Diseo de una plan de muestreo simple con NCA

y NCL especficos (mtodo de Cameron)
Diseo de un plan de muestreo simple con NCA y NCL

especficos (mtodo de Cameron)
El mtodo de Cameron, el cual se basa en la distribucin de Poisson y da una
buena distribucin binomial. Este mtodo nos permitir disear un plan de
muestreo simple con una alta probabilidad de aceptar la calidad NCA y que casi
nunca acepten la calidad NCL.
Pasos
1. Especificar los valores porcentuales deseados para NCA y NCL, con su
correspondiente probabilidad de aceptacin, 1 y , respectivamente.
2. Convertir estos porcentajes a proporciones, sea p1 = NCA/100 y p2 =
NCL/100.
3. Calcular la razn de operacin, Rc = p2/p1.
4. De acuerdo con los valores de y , buscar en la columna apropiada de la
tabla 4 el valor R ms cercano a Rc. Si en la tabla hay dos nmeros R
aproximadamente igual de cercanos a Rc se debe elegir el menor.

Tabla 4. Tabla de Cameron para disear planes de muestreo simple

5. Ubicado el valor R en la tabla 12.4, el nmero de aceptacin, c, se encuentra
en el mismo rengln que R en la columna c hacia la izquierda.
6. En el mismo rengln donde se localiz a R, pero en la columna np1 a la
derecha de R, localizar el valor de np1. El tamao de muestra se encontrar
al dividir ese valor entre p1. Estos pasos se ilustran en el ejemplo 12.2.
Conclusin
En este mtodo, el plan se obtiene suponiendo que el tamao de lote es grande,
por lo que si el tamao de muestra es ms de 10% del lote, entonces el plan
obtenido ser aproximado y ser mejor tener una curva tipo A usando la
distribucin hipergeomtrica, o bien, alguno de los otros mtodos que toman en
cuenta el tamao del lote.

Ejemplo 2
Al aplicar los pasos anteriores a la situacin expuesta en el

ejemplo 1 de la seccin anterior se obtiene que:
1. NCA = 0.4%, = 0.05, NCL = 2.5% y = 0.10.
2. p1 = 0.4/100 = 0.004; p2 = 2.5/100 = 0.025.
3. Rc = p2 /p1 = 0.025/0.004 = 6.25.
4. En la columna de = 0.05 y = 0.10 de la tabla 4, el valor de
R ms cercano a 6.25 es 6.51.
5. A la izquierda de R = 6.51, en la columna de c, se observa que
c = 2.
6. A la derecha de R = 6.51, en la columna de np1 se encuentra
que np1 = 0.82, as que n = 0.82/0.004 = 205.
Por lo tanto, el plan simple por atributos que ayuda a garantizar
los niveles de calidad acordados, es n = 205 y c = 2.

Obtencin curva CO
Para tener una mayor panorama del desempeo de un plan diseado con el
mtodo de Cameron, se obtiene la curva CO correspondiente mediante la tabla 5.
Para determinar los correspondientes p, es preciso ubicarse en el rengln del
valor c del plan y al dividir entre n a los valores localizados en ese rengln se
encuentra el p que corresponde a cada Pa.
Segn nuestro ejemplo anterior n = 205 y c = 2, por lo que obtenemos:
Con los valores (p, Pa) obtenidos, se grafica la curva CO para el plan n = 205, c =
2, que se muestra en la figura 9. En particular, se observa que cuando los lotes
tienen una proporcin de defectuosos de 0.0130 (1.3%), la probabilidad de
aceptarlos ser de 0.5. A este nivel de calidad, que tiene probabilidad de
aceptarse de 0.5 en un plan, se le conoce como nivel de calidad indiferente (NCI).

Tabla 5. Tabla de Cameron para determinar la curva CO
Military Standard 105E

Esta es la ltima versin de 3 anteriores y fue publicada en 1989. En la actualidad
es el sistema de muestreo de aceptacin por atributos ms usado en el mundo.
Alternativamente se puede usar su contraparte civil ANSI/ASQ Z1.4.
Caractersticas
Este sistema se usa principalmente el nivel de calidad aceptable, NCA.
El estndar prev 26 valores (porcentajes) diferentes para el NCA. 16 de ellos
que van de 0.010 a 10%, estn enfocados a porcentajes de defectuosos; y los
otros 10, que van desde 15 hasta 1 000 defectos por cada 100 unidades,
enfocados a disear planes del tipo: defectos por unidad.
Para niveles pequeos de NCA, se pueden utilizar los mismos planes para
controlar tanto la proporcin de defectuosos como el nmero de defectos por
unidad.
Los NCA forman una progresin geomtrica (r = 1.585), de manera que el
siguiente NCA es aproximadamente 1.585 veces el anterior.

El NCA es establecido en el contrato o por la autoridad responsable del
muestreo, de acuerdo con diferentes criterios, por ejemplo: al nivel de calidad
que se considera como aceptable, a los antecedentes del productor y los
niveles de calidad que tiene la rama industrial o comercial del productor.
Se consideran diferentes NCA para distintos tipos de defectos. Por ejemplo, el
estndar distingue entre defectos crticos, defectos mayores y defectos
menores. Es una prctica comn escoger un NCA = 1.00% para defectos
mayores y NCA = 2.5% para defectos menores. Ningn defecto crtico debe ser
aceptado, aunque a veces se usan NCA menores a 0.10 por ciento.
El estndar ofrece tres procedimientos de muestreo: muestreo simple, doble y
mltiple.
Para cada plan de muestreo hay tres tipos de inspeccin: inspeccin normal,
severa o reducida.
Un plan de muestreo inicia con la inspeccin normal y el estndar proporciona
reglas que sealan cundo cambiar a inspeccin severa o a inspeccin
reducida.

El tamao de muestra usado en MIL STD 105E se determina por medio del
tamao del lote, el nivel de inspeccin elegido y el NCA acordado.
El estndar proporciona tres niveles generales de inspeccin: I, II, III. El nivel
II es el ms usual. El nivel I requiere cerca de la mitad de inspeccin que el
nivel II y podra ser usado cuando pocos productos son rechazados. La
diferencia entre usar algunos de estos niveles se da en el tamao de muestra y,
por lo tanto, en la capacidad del plan para rechazar una calidad peor que el
NCA, ya que la curva CO del nivel de inspeccin III cae ms rpido que la de
los otros dos.
Adems. el estndar proporciona cuatro niveles especiales de inspeccin, S1,
S2, S3 y S4, que se aplican en las situaciones que requieren tamaos
pequeos de muestra, por ejemplo, en pruebas destructivas y cuando es
posible tomar riesgos altos de no rechazar niveles de calidad peores que el
NCA.
Tipos de Inspeccin
Inspeccin normal. Es usada al iniciar una actividad de inspeccin.
Inspeccin severa. Se establece cuando el vendedor ha tenido un mal
comportamiento en cuanto a la calidad convenida. Los requisitos para la
aceptacin de los lotes bajo una inspeccin severa son ms estrictos que
en una inspeccin normal.
La inspeccin reducida. Se aplica cuando el vendedor ha tenido un
comportamiento bueno en cuanto a la calidad. El tamao de muestra
utilizado en una inspeccin reducida es menor que en una inspeccin
normal, por lo que el costo de inspeccin es menor.

Diseo de un esquema de muestreo con MIL STD 105E
Para obtener los planes de muestreo aplicando el MIL STD 105E se procede de
acuerdo con los siguientes pasos:
Pasos
1.
Determinar el tamao de lote.
2.
Especificar el NCA (o AQL).
3.
Escoger el nivel de inspeccin (usualmente el nivel II, que puede ser

cambiado si la situacin lo justifica).
4.
Dada la informacin anterior, en la tabla 6 se encuentra la letra cdigo

correspondiente para el tamao de muestra.
5.
Determinar el tipo de plan de muestreo a ser usado (simple, doble o mltiple).
6.
De acuerdo con la letra cdigo y el NCA, en la tabla 7 se especifican los planes

simples para inspeccin normal, en la tabla 8 el plan simple para inspeccin
severa y en la tabla 9 el plan de inspeccin reducida.

Tabla 6. Letras cdigos para el tamao de muestra (MIL STD 105E)

Tabla 7. Tabla para inspeccin normal. Muestreo simple (MIL STD 105E)

Tabla 8. Tabla para inspeccin severa. Muestreo simple (MIL STD 105E)

Tabla 9. Tabla para inspeccin reducida. Muestreo simple (MIL STD 105E)

Ejemplo 3
Retomamos la situacin descrita en el ejemplo 1, el NCA = 0.4%. Si el
tamao de lote es de N = 6 000 unidades y se utiliza el nivel de
inspeccin II, entonces, de acuerdo con la tabla 6, la letra cdigo para el
tamao de muestra es L. Con esta letra se obtienen los planes para
inspeccin normal, severa y reducida.
Plan de muestreo normal. En la tabla 7, en el rengln de la letra L y la
columna NCA = 0.4%, se encuentra que n = 200 y c = 2 (en la tabla
aparece Ac). Bajo este plan se rechaza al lote cuando se obtienen tres
(Re = 3) defectuosos o ms. Este plan es relativamente similar al que se
dise por el mtodo de Cameron en el ejemplo 2, donde adems de
tener NCA = 0.4% se fij NCL = 2.5%.
Plan de muestreo severo. De la misma forma pero en la tabla 8 se
obtiene n = 200, Ac = 1, Re = 2. As, en este plan se toma el mismo
tamao de muestra que en inspeccin normal, pero se es ms estricto ya
que el nmero de aceptacin es menor.
Plan de muestreo reducido. De la tabla 9 se obtiene n = 80, Ac = 1,
Re = 3. De esta manera, es claro que si en la muestra se encuentran uno
o cero defectuosos el lote es aceptado, si se encuentran
o ms,
Control de Calidadtres
Ing. Norman
Reyes

Reglas de cambio
Requisitos que establece el estndar para hacer cambios entre los tres tipos de
inspeccin:
1. De inspeccin normal a inspeccin severa. Cuando se efecta inspeccin
normal y con sta se rechazan dos de cinco lotes consecutivos, entonces se
aplica la inspeccin severa.
2. De inspeccin severa a inspeccin normal. Si al estar aplicando el plan de
inspeccin severa se aceptan cinco lotes consecutivos, entonces se aplica la
inspeccin normal.
3. De inspeccin normal a inspeccin reducida. Para este cambio se debe cumplir
las siguientes cuatro condiciones:
. Diez lotes consecutivos han sido aceptados.
. El nmero total de defectuosos encontrados en los 10 lotes anteriores es
menor o igual al nmero dado en la tabla 10.

La produccin es continua; esto es, recientemente no han ocurrido
problemas como mquinas descompuestas, escasez de material u otros
contratiempos.
Si la autoridad responsable del muestreo considera que es deseable una
inspeccin reducida.
Ilustrando esto con el ejemplo 3, para la inspeccin normal donde n = 200 y Ac
= 2, con NCA = 0.4%. Supongamos que los ltimos 10 lotes han sido
aceptados; entonces, el total de unidades inspeccionadas es 10 200 = 2 000.
De acuerdo con la tabla 10, el nmero lmite de unidades defectuosas en estos
10 lotes es 4. Por lo tanto, para acreditar este requisito y pasar a inspeccin
reducida es necesario que las unidades defectuosas encontradas en esas 2
000, sea menor o igual que 4.

Tabla 10. Nmeros lmite para inspeccin reducida (MIL STD 105E)
4. De inspeccin reducida a normal. Si en la actualidad se aplica inspeccin

reducida y ocurre cualquiera de las cuatro condiciones siguientes:
. Un lote o una serie de lotes son rechazados.
. La inspeccin del lote termina sin decisin, es decir, el nmero de
defectuosos en el lote es mayor que Ac pero es menor que Re.
. Si la produccin es irregular o retardada.
. Si se dan otras condiciones que de alguna manera justifiquen la aplicacin
de la inspeccin normal, tales como los deseos del cliente
Entonces, a partir del siguiente lote se aplicar inspeccin normal.
5. Suspensin de inspeccin. En caso de que 10 lotes consecutivos continen

bajo inspeccin severa (o cualquier otro nmero que seale la autoridad
responsable), de acuerdo con el estndar la inspeccin deber ser suspendida
en espera de que se mejore la calidad del material sometido a inspeccin.
Puntos importantes acerca de Military Standard
1. El MIL STD 105E est orientado al NCA.
2. Los tamaos de muestra seleccionados para usarse en MIL STD 105E son: 2,
3, 5 , 8, 13, 20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 1 250 y 2 000. De aqu que no
todos los tamaos de muestra son posibles.
3. Los tamaos muestrales en MIL STD 105E estn relacionados con los
tamaos de los lotes. El tamao de la muestra aumenta con el tamao del lote
y esto da como resultado un incremento de la probabilidad de aceptacin para
un NCA dado y, por lo tanto, una disminucin del riesgo del proveedor.

Puntos importantes acerca de Military Standard
4. Las reglas de cambio desde una inspeccin normal a una inspeccin severa, o
viceversa, tambin son sujetos de crtica, debido a que algunos cambios
ocurren aun cuando no hay una evidencia suficientemente fuerte de que la
calidad ha mejorado o empeorado.
5. Si las reglas de cambio son usadas de manera incorrecta, como consecuencia
se tienen grandes fallas. Cuando esto sucede los resultados de la inspeccin
son inefectivos y engaosos, adems que aumentan el riesgo del consumidor.
Debido a los dos puntos anteriores, en la prctica algunas veces slo se emplea el
plan normal y no se aplican las reglas de cambio.
Planes de muestreo Dodge - Roming

Entre 1920 y 1930, H. F. Dodge y H. G. Roming desarrollaron un conjunto de
tablas que permiten disear planes de muestreo por atributos.
Caractersticas
Estn basados en dos ndices. El nivel de calidad lmite (NCL) o el porcentaje
defectivo tolerado en el lote, PDTL (en ingls, LTPD), y el lmite de la calidad
promedio de salida, LCPS o AOQL (Average Outgoing Quality Limit). .
Estos planes enfatizan la proteccin del consumidor amparndolo contra la
mala calidad, ya sea en trminos de lote por lote (planes NCL) o de la calidad
promedio a largo plazo (planes LCPS).
Solo se aplican a programas de muestreo de aceptacin en donde los lotes
rechazados se inspeccionan al 100% y los artculos defectuosos encontrados
en ellos son sustituidos por unidades buenas.

Estn diseados para minimizar la inspeccin total promedio que se necesita, lo
cual hace que estos planes sean atractivos para la inspeccin en el interior de
una empresa, por ejemplo, para inspeccionar componentes o subensambles.
Para disear los planes es necesario conocer o estimar de manera adecuada la
proporcin promedio de defectuosos, p, del proceso (antes de la inspeccin).
Entre mejor se conozca p ms adecuado ser el plan adoptado, de aqu que si
en el transcurso de la aplicacin de un plan se modifica p, es aconsejable
redisear el plan de muestreo usando el nuevo valor de p.

Planes NCL (o LTPD)
Los planes NCL estn diseados para que los lotes que tengan un
porcentaje de
defectuosos igual al NCL tengan una probabilidad baja, de 0.10 de
aceptacin, de
aqu que el riesgo del consumidor de que se acepte la mala calidad
(calidad NCL)
es de = 0.10. Los porcentajes de defectivo considerados por las tablas
son
0.5,
Pasos
1.0, 2.0, 3.0, 4.0, 5.0, 5.0, 7.0 y 10%. En las tablas 11 y 12 se muestran
los
1. Seleccionar el NCL apropiado.
planes de muestreo simple para valores de NCL = 1.0% y NCL = 5.0%,
respectivamente.
2. Especificar el tamao del lote.
3. Determinar la proporcin promedio de artculos defectuosos del proceso del
productor, p.
4. Con los datos anteriores y apoyndose en tablas, como la 11 y la 12, obtener
los componentes bsicos del plan de muestreo: tamao de muestra, n,
nmero de aceptacin, c, y el lmite de la calidad promedio de salida (LCPS)
que tendr el plan

Tabla 11. Tabla Dodge-Roming para muestreo simple para un nivel de calidad lmite,
NCL 1.0% (o LTPD)
Tabla 12. Tabla Dodge-Roming para muestreo simple para un nivel de calidad lmite,
NCL 5.0% (o LTPD)

Ejemplo 4
Un proceso genera lotes de 8 000 piezas y se sabe que tiene una
proporcin promedio de defectuosos de 0.26%. Se desea evitar con un
buen nivel de seguridad que no salgan al
mercado lotes con una proporcin de defectuosos mayor a 1%. Por ello,
se establece un plan de muestreo de aceptacin, eligiendo NCL = 1%.
Con esto se utiliza la tabla 11,
y se ve que el promedio del proceso cae en la columna 0.21- 0.30% y, al
relacionarla con el tamao de lote se encuentra que el plan es: n = 910,
c = 5 y LCPS = 0.32. Con este plan se tendr una probabilidad de 0.10
o menos de mandar lotes al mercado con una proporcin de defectuosos
de 1%. Si los lotes rechazados se inspeccionan al 100%, y las piezas
malas son sustituidas por buenas, entonces el plan de muestreo
garantiza que la peor calidad
que en promedio le estar llegando al cliente es de 0.32% de
defectuosos.

Planes LCPS (o AOQL)
Los planes basados en el LCPS tienen como propsito asegurar que
despus de todo el muestreo y de la inspeccin al 100% de los lotes
rechazados, a largo plazo, la calidad promedio de salida no ser
mayor que el LCPS fijado.
Estos planes no estn inspirados en protegerse de la calidad
especfica de los lotes, sino de la calidad a la larga.
Las tablas Dodge-Roming para planes LCPS contemplan muestreo simple y
doble.
los porcentajes de unidades defectuosas considerados para el LCPS son: 0.1,
0.25, 0.5, 0.75, 1.0, 1.5, 2.0, 2.5, 3.0, 4.0, 5.0, 7.0 y 10.0%.
En las tablas 13 y 14 se muestran los planes de muestreo simple para valores de
LCPS = 2.0% y LCPS = 3.0%, respectivamente.

Tabla 13. Tabla Dodge-Roming para muestreo simple con LCPS = 2 % (AOQL)

Tabla 14. Tabla Dodge-Roming para muestreo simple con LCPS = 3% (o AOQL)

Pasos
1. Seleccionar el LCPS apropiado.
2. Especificar el tamao del lote.
3. Determinar la proporcin promedio de artculos defectuosos del proceso del
productor, p.
4. Con los datos anteriores y apoyndose en tablas, como la 13 y la 14, obtener
los componentes bsicos del plan de muestreo: tamao de muestra, n,
nmero de aceptacin, c, y el Nivel de calidad lmite (NCL) que el plan
rechazar con facilidad

Ejemplo 5
Un proceso produce lotes de 2 500 piezas y se sabe que genera una
proporcin promedio de defectuosos de 1.0%. Se desea garantizar un
LCPS de 2%. En la tabla 12.13 se observa
que el promedio del proceso cae en la columna de 0.81 - 1.20% y, al
relacionarla con el tamao del lote se encuentra que el plan es n = 95, c
= 3, NCL = 7.0%.
De esta manera, con este plan los lotes con porcentaje de defectuosos
de 7.0% tendrn pocas posibilidades de mandarse al mercado sin antes
inspeccionarlos al 100%, ya que
la probabilidad de aceptarlos es slo de 0.10.
Planes de muestreo PDTL (LTPD) con c = 0

Mtodo propuesto por Shilling (1978), que genera planes de muestreo para
atributos con c = 0, es decir, que la nica forma de aceptar el lote es si en la
muestra no salen defectuosos.
Es un plan extremadamente exigentes para el proveedor, y en algunas
circunstancias son costosos para el cliente.
Son muy utilizados en la prctica, en particular en muestreos para verificar si se
estn cumpliendo especificaciones crticas o en la inspeccin de caractersticas
relacionadas con seguridad.
Genera tamaos muestrales pequeos.
El mtodo se basa en el ndice PDTL (o LTPD), que como ya vimos es un nivel
de calidad que se quiere rechazar con alta probabilidad.
El proceso debe operar con una calidad mucho mejor que el LTPD que se
establezca, ya que si son parecidos, el plan no es apropiado y terminar
rechazando prcticamente todos los lotes.

Si ocurre lo anterior ser mejor revalorar la situacin y considerar otro tipo de
plan; los Dodge-Roming son una buena alternativa
Pasos
1. Especificar el tamao del lote N.
2. Determinar el nivel de calidad PDTL, y llamarle a esta proporcin pL.
3.
Calcular el producto K = N pL.
4.
Buscar en las celdas interiores de la tabla 15 el valor ms cercano a K, y obtener el valor f, sumando los valores que se ubican al inicio
del rengln y de la columna correspondiente. Este valor f es la proporcin que ser inspeccionada del lote de referencia.
5.
El tamao de muestra se obtiene multiplicando N por f, por lo que el plan de muestreo es n = fN, con nmero de aceptacin c = 0. Si n
= fN no es un nmero entero, redondear al entero mayor ms cercano.

Tabla 15. Valores para calcular n en planes PDTL con c = 0

Ejemplo 6
Supongamos que N = 600 y que PDTL = pL = 0.025, entonces K = NpL = 600 (0.025) = 15. En la
tabla 15 se encuentra que el valor ms cercano a 15 es 15.2668, al que corresponde un valor de f igual a 0.14 (0.10 + 0.04), de aqu
que el tamao de muestra ser n = fN = 0.14 (600) = 84. As, de un lote de 600 piezas se extraern 84 y si de stas ninguna es
defectuosa (c = 0) el lote se acepta; de lo contrario se rechaza.
11.12. Muestreo de aceptacin por variables (MIL STD

414)
Muestreo de aceptacin por variables (MIL STD 414)
En este tipo de planes se toma una muestra aleatoria del lote y a cada unidad de
la muestra se le mide una caracterstica de calidad de tipo continuo (longitud,
peso, espesor, etc.), y se registra la medicin de cada pieza. En base a estas
mediciones, se calcula un ndice (estadstico) que de acuerdo con su valor se
aceptar o rechazar todo el lote. Por lo general, el ndice toma en cuenta la
informacin muestral (media, desviacin estndar) y las especificaciones de la
caracterstica de calidad.
El tamao de muestra es considerablemente menor que el muestreo por
atributos, sobre todo cuando los niveles aceptables de calidad en trminos de p
son muy pequeos.
Las mediciones en un muestreo por variables podran ser ms costosas,
aunque la reduccin obtenida en el tamao de la muestra por lo general
compensa este costo.
La distribucin de las caractersticas de calidad debe ser conocida. La mayora
de los planes de muestreo por variable suponen que tal distribucin es normal,
si esto no es verdad la confiabilidad de las decisiones puede resultar afectada
de manera importante.

414)
Existen dos tipos de planes de muestreo por variables: 1. planes que controlan
la proporcin de unidades que no cumplen con especificaciones y 2. planes que
controlan un parmetro del lote o proceso (usualmente la media).
Para disear un plan de muestreo por variables para el control de la proporcin de
artculos que no cumplen con especificaciones, es necesario que la variable o
caracterstica de calidad que se mide al producto tenga especificaciones que debe
cumplir.
Esta figura muestra una caracterstica de calidad X con
distribucin normal con media () y desviacin
estndar
(), que debe estar entre la especificacin inferior y la
superior: EI y ES.
El rea bajo la curva a la izquierda de EI representa

la proporcin de artculos, pi, que tienen un valor
menor
que EI; mientras que ps es la proporcin de unidades
que exceden la ES.
Fig. 12 La distribucin de una caracterstica de

calidad y la proporcin fuera de especificaciones (p
= pi + ps).
Lo que se hace para controlar la proporcin de

defectuosos es estimar mediante una muestra de n
artculos la proporcin de artculos que no cumplen con
la(s) especificacin(es). Si el valor estimado de p
excede un valor mximo especificado, el lote es

414)
Military Standard 414 (ANSI/ASQC Z1.9)
Estndar que proporciona planes de muestreo para variables: con las mediciones
obtenidas se calcula un ndice que de acuerdo con su valor se rechaza o acepta el
lote.
El punto principal de este estndar es el nivel de calidad aceptable (NCA o
AQL) y comprende porcentajes que van de 0.04 a 15%.
Este estndar tiene cinco niveles generales de inspeccin; al nivel IV se le
considera el usual.
Como en el estndar por atributos (MIL STD 105E), para encontrar el tamao
de muestra tambin se utilizan letras cdigo para el tamao de sta.
Los tamaos muestrales estn en funcin del tamao de lote y del nivel de
inspeccin.
De acuerdo con la calidad del producto se prev una inspeccin normal, severa
y reducida.

414)
Todos los planes de muestreo y procedimientos en el estndar suponen que las
caractersticas de calidad se distribuyen de manera normal.
El MIL STD 414 consta de cuatro secciones:
o La seccin A es la descripcin general de los planes de muestreo, incluyendo
definiciones, cdigos de letras para tamaos muestrales y curvas CO para
los diferentes planes de muestreo.
o La seccin B proporciona varios planes de muestreo basados en la
desviacin estndar de la muestra para el caso en que es desconocida.
o La seccin C presenta planes de muestreo basados en el rango de la
muestra.
o La seccin D proporciona planes de muestreo por variables para el caso en
que la desviacin estndar es conocida.

414)
Fig. 13 Organizacin del MIL STD 414.

En esta organizacin del estndar
podemos observar que los planes de
muestreo de aceptacin se pueden
disear considerando que la
desviacin estndar es conocida o
desconocida tanto para caractersticas
de calidad con una
o con doble
especificacin.
En el caso de una sola especificacin
se cuenta con 2 procedimientos el k y
el M. Cuando se cuenta con dos
especificaciones se utiliza solamente el
mtodo M.

414)
Pasos para planes de muestreo de la seccin B del MIL STD 414
1. Determinar el tamao del lote.
2. Especificar el NCA (o AQL).
3. Escoger el nivel de inspeccin (usualmente el nivel IV, que puede ser
cambiado si la situacin lo justifica). En tanto mayor sea el nivel de inspeccin
ms estricto es el plan (ms rpido cae su curva CO).
4. En la tabla 16 y de acuerdo con el tamao de lote y el nivel de inspeccin,
encontrar la letra cdigo del tamao de la muestra.
5. En la tabla 17, de acuerdo con la letra cdigo y el NCA, se busca el plan
simple para inspeccin normal, que consiste en un tamao de muestra n, y
del valor M, que es el porcentaje mximo de defectuosos tolerado en el lote.
6. En la misma tabla 17, partiendo de los NCA que estn en la parte inferior, se
encuentra el plan que se empleara bajo inspeccin severa, con sus
correspondientes valores para n y M.

414)
7. Seleccionar de manera aleatoria una muestra de tamao n, y a cada pieza de
sta se le mide la caracterstica de calidad. Con los datos obtenidos calcular
la media y la desviacin estndar muestral, S.
8. De los siguientes dos ndices, de acuerdo con el tipo de especificaciones que
tenga la caracterstica de calidad, calcular uno o ambos.
, para especificacin superior (ES)
, para especificacin inferior (EI)
Note que ambos ndices: ZEI
y ZES, son la distancia entre la media de la muestra,

y la correspondiente
especificacin, expresada en unidades de la desviacin estndar de la muestra, S. Por lo que el valor de estos ndices ser
grande si S es pequea y si tiende a estar al centro de las especificaciones.

414)
9. Estimar la proporcin de unidades defectuosas en el lote. Para ello, en la
tabla 18, en la columna de ZEI y ZES, ubicar su correspondiente valor y desplazarse por ese rengln
hasta la columna del tamao de muestra del plan de inspeccin, n. El valor que se localice en la interseccin valor
de Z y n, corresponde a la estimacin del porcentaje de defectuosos del lote de lado inferior, pi, o del lado superior,
ps, respectivamente.
10.
Decisin de aceptacin o rechazo:

. Para variables slo con especificacin inferior. Aceptar el lote si pi es menor o igual al valor de M. En caso
contrario rechazarlo.
. Para variables slo con especificacin superior. Aceptar el lote si ps es menor o igual que M. En caso contrario
rechazarlo.
. Para variables con doble especificacin. Aceptar el lote si la suma de los porcentajes inferior y superior, p = pi +
ps, es menor o igual que M. En caso contrario rechazar el lote.

414)
Tabla 16. Letras cdigos para el tamao de muestra para
MIL STD 414 (muestreo para variables)

414)
Tabla 17. Tabla para inspeccin normal y severa (variabilidad desconocida, mtodo de
la desviacin estndar), mtodo M.

414)
Tabla 18. Tabla para estimar el

porcentaje de defectuosos en el
lote (pi o ps) para ZEI o ZES
usando el mtodo de la desviacin
estndar.

414)
Tabla 18. Tabla para estimar

el porcentaje de defectuosos
en el lote (pi o ps) para ZEI o
ZES usando el mtodo de la
Desviacin
estndar
(continuacin).

414)
Ejemplo 7
En una fbrica de autopartes se han tenido problemas con la dimensin de cierta

barra de acero en el momento de ensamblarla. La longitud ideal de la barra es de
100 mm, con una tolerancia de 2 mm. Se decide implementar un muestreo de
aceptacin interno con el propsito de evitar dejar pasar a la etapa de ensamble a
los lotes con una calidad muy pobre.
El tamao del lote para estas barras es de 3 000. De acuerdo con los antecedentes
y los propsitos se elige un NCA (AQL) de 1.0%. De esta forma, lotes con 1.0% de
barras fuera de las especificaciones tendrn una alta probabilidad de ser
aceptados para ensamble. El nivel de inspeccin que se utilizar es el usual (nivel
IV). De la tabla 16 se encuentra que la letra cdigo para el tamao de la muestra
es L. Supongamos que no se conoce la desviacin estndar del proceso y que sta
va a ser estimada con S.

414)
Desarrollo
Por lo que de acuerdo con el paso 6, en la tabla 17 se encuentra que el plan de
inspeccin normal es
n = 40, M = 2.71%
y el plan de inspeccin severa es
n = 40, M = 1.88%
De un lote en particular se seleccionan de manera aleatoria 40 barras y se les
mide su longitud. Con los 40 datos se obtiene
y con stos a su vez se calculan los ndices:
Con estos valores, en la columna de n = 40 de la tabla 18 y tomando el valor de

ZES igual al valor ms cercano (2.30), se estima que el porcentaje de barras en el
lote que exceden la especificacin superior es igual a ps = 0.888%.
De la misma manera se encuentra que el porcentaje de barras que tienen una
longitud menor a la (EI) es pi = 0.236%. Por lo tanto, el porcentaje total que se
estima fuera de especificaciones es p = 0.888 + 0.236 = 1.124%, que es menor
que M = 2.71%, por lo que el lote es aceptado.

Control Calidad - Unidad 9 - Muestreo de Aceptación

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Control Calidad - Unidad 9 - Muestreo de Aceptación

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Universidad

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

12. Muestreo de aceptacin

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.1. Conceptos bsicos

es el proceso de inspeccionar una muestra de

unidades extradas de un lote.

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.1. Conceptos bsicos

1. Una compaa recibe

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.1. Conceptos bsicos

Fig. 1 Esquema de un plan de muestreo de

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.2. Ventajas y desventajas del muestreo de

Ventajas y desventajas del muestreo de aceptacin con respecto

1. Tiene menor costo porque se inspecciona menos, a pesar de algunos costos

11.2. Ventajas y desventajas del muestreo de

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.2. Ventajas y desventajas del muestreo de

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.3. Tipos de planes de muestreo

Tipos de planes de muestreo

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.3. Tipos de planes de muestreo

I. Planes por variables

II. Planes por atributos

Se extrae de manera aleatoria una o ms muestras de

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.4. Muestreo por atributos: simple, doble y

Muestreo por atributos

3. Plan de muestreo mltiple

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.4. Muestreo por atributos: simple, doble y

1. Plan de muestreo simple (n,c)

Se toma una muestra de tamao n, y si en esta se encuentra c o menos

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.4. Muestreo por atributos: simple, doble y

11.4. Muestreo por atributos: simple, doble y

Es una extensin del concepto del muestreo doble. Pero si con la

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

Formacin del lote

Los lotes deben ser formados de manera que no

Los lotes deben ser tan grandes como sea posible.

Mtodo de dividir el lote en estratos o capas, despus cada estrato

Fig. 2 Divisin de un lote para muestreo

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.6. Aspectos estadsticos:

Aspectos estadsticos: variabilidad y curva caracterstica

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.6. Aspectos estadsticos:

Tabla 1. Conceptos bsicos de la calidad de mediciones

Control de Calidad Ing. Norman Reyes

11.6. Aspectos estadsticos:

Curva caracterstica de operacin (CO)

11.6. Aspectos estadsticos:

En este plan de muestreo del ejemplo nos preguntamos:

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11.6. Aspectos estadsticos:

Fig. 3 Curva CO para el plan n = 60, c = 1 y

Del ejemplo, n = 60 c =1, podemos ver en su respectiva tabla de probabilidad

11.6. Aspectos estadsticos:

Para calcular las probabilidades de aceptacin (Pa) de la tabla 2, y

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