Relatrio de Laboratrio

Introduo Cincia dos Materiais

Para a realizao deste ensaio, foram fornecidas trs amostras, previamente preparadas seguindo todas as etapas para a preparao da mesma. 1. PARMETROS ANALISVEIS Trincas; Incluses nos materiais; Tratamentos trmicos superficiais; Segregao qumica; Porosidades; Qualidade (profundidade) da solda; Heterogeneidade do material; Processos de fabricao.

Embora as amostras j se encontrassem prontas, importante descrever as etapas utilizadas para sua confeco, de modo que seja possvel uma eventual repetio do ensaio. 2. DESCRIO DAS ETAPAS I. INSPEO PRELIMINAR

Nesta etapa obtm-se informaes bsicas do material, tais como: aspecto da superfcie, tipo de fratura (dctil ou frgil), dureza (atravs da ao da lima), composio qumica (analisando a colorao da centelha do material no esmeril), magnetismo e sonoridade. II. CRITRIO DE ANLISE Definem-se, durante a preparao da amostra, os parmetros estruturais que devero ser analisados. III. IDENTIFICAO DA AMOSTRA Em todo procedimento experimental importante sempre realizar a identificao da amostra selecionada, de modo que evite a perda da amostra ou confuso durante o ensaio.

IV.

EXTRAO DA AMOSTRA (CORTE)

A escolha do tipo de corte da amostra se d em funo dos parmetros que se queira analisar no material.

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Em um corte transversal possvel analisar: natureza do material, homogeneidade, segregao, presena de defeitos e morfologia dendrtica. Em um corte longitudinal possvel analisar: processo de fabricao, roscas, qualidade de solda e tratamentos superficiais. O procedimento de corte pode ser realizado por maarico, serramento ou por disco abrasivo, dependendo da amostra objetivada. Observao: Caso seja necessrio, devido s dimenses reduzidas que porventura a amostra venha a ter, possvel fazer o embutimento da mesma. V. LIXAMENTO

Embora na macrografia o processo de lixamento no seja to crtico quanto o na micrografia, esta fase importante e devem-se retirar todas as imperfeies deixadas na amostra durante o processo de corte. Para a realizao deste processo, utilizam-se lixas de granas diferentes, da mais grossa a mais fina, fixadas em um suporte. A cada mudana de lixa, partindo da mais grossa, deve-se rotacionar a amostra em 90, objetivando a eliminao dos riscos deixados pela lixa anterior.

Figura 1 Suporte para Lixas

VI. LIMPEZA DA AMOSTRA Durante o processo de lixamento ou embutimento, partculas podem aderir-se superfcie da amostra. Afim de evitar o comprometimento da anlise ou mesmo de um polimento que seja necessrio, faz-se a limpeza da amostra, retirando quaisquer partculas indesejveis.

VII.

ATAQUE QUMICO

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O ataque qumico permite realizar a revelao da macroestrutura da amostra, deixando evidentes os detalhes de interesse. Para tanto, utilizam-se reativos qumicos, a exemplo: reativo de iodo. VIII. REVELAO DA MACROESTRUTURA As amostras fornecidas passaram por todos os processos necessrios sua correta confeco e esto abaixo apresentadas e numeradas:

Figura 2 Amostra N1

Figura 3 Amostra N2

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Figura 4 Amostra N3

3. OBSERVAES FINAIS A amostra N1, figura 02, foi obtida atravs de corte transversal e nela foi possvel a visualizao de diversas trincas que partem de seu centro e estendem-se at sua face com aproximadamente 00mm de comprimento. Tambm observou-se a presena de uma cavidade em sua seo transversal. A amostra N2, figura 03, tambm foi obtida atravs de corte transversal e nela apenas foi possvel observar a presena de tratamento superficial em sua periferia, com profundidade de 00mm. A amostra N3, figura 04, igualmente s anteriores, foi obtida atravs de corte transversal sendo possvel a observao de um tratamento superficial de maior profundidade, 00mm.