UNIVERSIDADE FEDERAL DE SO CARLOS ENGENHARIA AMBIENTAL

FSICA EXPERIMENTAL
Relatrio da Prtica 8

Prof.: Srgio de Aguiar Monsanto Tutor: Helder Vincius Avano Galeti

Helio Elael Bonini Viana Paulo Henrique dos Santos Correa Renata Mendes Nory 367800 Simei Diniz Vieira

SO JOS DOS CAMPOS 2011

FSICA EXPERIMENTAL
Data: 23/10/2011 Plo: SJC Turma: G3

Relatrio

da

Experincia

8:

INTERFERNCIA POLARIZAO

DE

ONDAS

DE

LUZ

Nome 1- GRUPO Helio Elael Bonini Viana Paulo Henrique Correa Renata Mendes Nory Simei Diniz Vieira

Nmero RA 367826 367923 367800 368091

2- RESUMO Os fenmenos de interferncia, de difrao e de polarizao da luz so de grande importncia e so discutidos desde o sculo XVII. Este relatrio descreve dois experimentos realizados: um para a determinao da direo de polarizao de uma luz laser e da variao de iluminncia detectada por um luxmetro, e outro para verificar a difrao de uma luz laser por um fio de cabelo, com a consequente formao de franja de interferncia luminosa. Os resultados obtidos foram adequados para o estudo desses fenmenos. 3- OBJETIVOS ESPECFICOS Os objetivos especficos so: 1. Estabelecer e verificar experimentalmente as condies para observao do fenmeno de interferncia da luz. 2. Usar anteparo de fenda-nica para determinar as posies de franjas de interferncia e medir larguras de fendas. 3. Estudar o fenmeno da interferncia de ondas de luz usando um anteparo de fenda-dupla, semelhante aparelhagem utilizada na experincia de Young. 4. Medir as posies das franjas claras e escuras num padro de difrao. 5. Estudar o fenmeno da Polarizao da Luz. 4- FUNDAMENTOS TERICOS Interferncia o efeito associado superposio de duas ou mais ondas de luz em pontos arbitrrios do espao. O fenmeno de interferncia da luz com duas fontes

foi observado pela primeira vez na famosa experincia de Young em 1801, que levou concluso de que luz era, sem dvidas, ondas eletromagnticas. Numa aparelhagem de duas fendas, comumente denominado de fenda-dupla, ilustrada na Fig. P.8.1, cada fenda F funciona como uma fonte de luz, sendo estas fontes coerentes, dado que tm origem na mesma fonte primria, F0. O diagrama esquemtico da experincia de Young encontra-se na Fig. P.8.1. Uma luz incide sobre uma primeira tela com uma fenda nica muito estreita, F0. A onda que emerge desta fenda incide sobre uma segunda tela contendo duas fendas paralelas e tambm muito estreitas, F1 e F2. Estas duas fendas se comportam, ento, como duas fontes de luz coerente, desde que as ondas que delas emergem originam-se na mesma fonte primria, mantendo, portanto uma relao de fase constante entre elas. As duas ondas de luz provenientes de F1 e F2 se superpem, ou seja, interferem de forma construtiva ou destrutiva, em lugares especficos do espao. Isto d origem a um padro de interferncia composto de franjas claras (mximos) e escuras (mnimos), dispostas alternadamente e que podem ser observadas num anteparo C, situado a uma distncia perpendicular L em relao ao eixo das duas fontes, Fig. P.8.1.

Fig. P.8.1 Experincia de Interferncia da Luz com Fenda-Dupla, similar Experincia de Young.

A Fig. P.8.1(b) uma fotografia do padro de interferncia observado numa experincia com fenda-dupla. As franjas claras correspondem interferncia construtiva, enquanto as franjas escuras correspondem interferncia destrutiva.

Fig. P.8.2 Esquema Geomtrico da Experincia de Fenda-Dupla de Young

A intensidade da luz num ponto P da tela ser a resultante da superposio das duas ondas com origem nas fontes F1 e F2. A onda de luz originria da fonte inferior F2 viaja mais do que a outra onda que se origina na fonte superior F1. Esta diferena de caminho, nas condies experimentais usuais, em que L >> d, dada por: r = = d sen (P.8.1) Diferena de caminho das duas ondas de luz

O valor dessa diferena de caminho ir determinar se as duas ondas de luz esto em fase ou fora de fase, no instante em que chegarem ao ponto P. Se a diferena de caminho for zero, ou algum mltiplo inteiro do comprimento de onda da luz utilizada, ento, as duas ondas chegam ao ponto P em fase e a interferncia dita CONSTRUTIVA, correspondente exatamente a uma franja clara de mxima intensidade: r = = d sen = n (P.8.2) (n = 0, 1, 2, 3, ...) Interferncia Construtiva Se a diferena de caminho for diferente de zero, um mltiplo mpar de meio comprimento de onda, /2, as duas ondas chegam ao ponto P defasadas de um ngulo = 180, ou seja, com os vetores intensidade de campo eltrico antiparalelos, resultando numa interferncia DESTRUTIVA, correspondente exatamente a uma franja completamente escura, de intensidade zero:
1 r = = d sen = n + 2
(P.8.3)

n o nmero de ordem, se (n = 0, 1, 2, 3, ... ) Destrutiva

Interferncia

Assim, a franja central, correspondente a n = 0, chama-se mximo de ordem zero, a prxima franja clara correspondente a n = 1, chama-se franja de primeira ordem e assim por diante. A Fig. 8.3 ilustra a distribuio de intensidade do padro de interferncia num experimento de Fenda-Dupla. As posies das franjas claras e escuras do padro de interferncia em relao ao ponto 0 podem ser determinadas a partir das equaes (P.8.2) e (P.8.3).

Fig. P.8.3 Distribuio de Intensidade do padro de Interferncia num Experimento de Fenda-Dupla.

Usando a aproximao L>> d, que so as condies verificadas na prtica, desde que L da ordem de metros, e d da ordem de mm, frao de mm ou mcrons, e o comprimento de onda, , da ordem de nm, ento, tg e, do tringulo OPQ na Fig. P.8.2, obtm-se:
sen tg = y L

Usando-se as equaes (P.8.2) e (P.8.3) podem-se medir as: Posies das franjas claras de Interferncia Construtiva
L y c = n d

Construtiva

(P.8.4)

Posies das franjas Escuras de Interferncia Destrutiva

1 L yd= n + Destrutiva 2 d

(P.8.5)

Em resumo, as posies das franjas claras e escuras podem ser facilmente medidas em funo do nmero de ordem n. Ou ento, conhecendo-se o comprimento de onda, , da radiao incidente, as relaes acima permitem medir a largura de uma fenda (d) por mais fina que ela seja. E este ser o objetivo principal deste experimento, onde ser utilizada uma fenda-nica e medida a sua largura d.

A Fig. P.8.4 ilustra o padro de intensidades da difrao por uma Fendanica.

Fig. P.8.4 Distribuio de Intensidade do padro de Interferncia num Experimento de Fenda-nica.

Para analisar o padro de difrao de uma fenda - nica, conveniente dividir a fenda (a) em duas metades medindo (a /2), como na Fig. P.8.5.

Fig. P.8.5 Difrao por uma fenda-nica ilustrando cada poro da fenda com uma fonte de luz .

Pelo princpio de Huygens, cada poro da fenda age como uma fonte de ondas de luz, ento, todas as pores da fenda - nica agem como fontes de luz, estando todas em fase, desde que tm origem na mesma fonte primria. Pela Fig. P.8.5, a diferena de caminho entre duas ondas originrias no topo e no centro da fenda, ou na base e no centro da fenda dada por,

Se (m = 1, 2, 3, ...) Interferncia destrutiva Esses so os ngulos onde as interferncias (intensidade zero).

a sen = m , logo, sen = m 2 2 a

(P.8.6) destrutivas ocorrem

Fig. P.8.6 Padro de Difrao por fenda-nica mostrando no eixo vertical as posies angulares dos pontos de interferncia destrutivas. Os pontos de interferncia construtiva localizam-se no ponto mdio entre duas posies de intensidade zero.

As posies dos pontos de interferncia construtiva (franjas de intensidade mxima) ocorrem exatamente no ponto mdio entre duas franjas escuras. A Fig. P.8.6 ilustra as posies de interferncia construtiva para difrao por fenda -nica. Finalmente, pode-se mostrar facilmente a partir da Fig. 8.6 que, para L>> a,
sen tg

logo,

y 1 L

O mesmo pode ser feito para qualquer y. Ento, conhecendo, por exemplo, o comprimento de onda da radiao incidente, pode-se medir a largura de uma fenda de difrao a partir de seu padro de interferncia. 5- MATERIAL UTILIZADO Os materiais utilizados no experimento foram: 1. Laser vermelho, de comprimento de onda 670 nm. 2. Fio de cabelo, cujo dimetro, medido com micrmetro, foi de 55 m. 3. Anteparo branco (parede). 4. Luxmetro digital, marca Minipa. 5. Conjunto de polarizadores giratrios. 6- PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL a) Interferncia e Difrao

Montar a bancada experimental para realizao do experimento de difrao por uma fenda - nica, conforme descrito acima. Usar como fonte primria de luz um laser de HeNe ( = 670 nm), ou outro laser disponvel. Obter o padro de interferncia projetado num anteparo distante da fonte, tal que a condio L>> a seja satisfeita. O melhor padro de difrao aquele em que as franjas de interferncia apresentam brilho mximo e o mximo de ordem de difrao observado. Posies (ymn) dos mnimos e dos mximos (ymx) da interferncia observada.
Mnimos (cm) Mximos (cm) 5,1 5,9 3,5 4,8 1,8 2,7 0 0 -1,5 -2,4 -3,2 -4 -4,7 -5,8

a.1) Determinar a largura do fio de cabelo correspondente ao melhor padro de difrao observado. Tirar uma foto.

a.2) Mostrar que, se a condio L>> a no for satisfeita no experimento, ou seja, se a comparvel com L, o resultado ser apenas uma franja central bem larga, devido posio dos mximos de interferncia ser muito prximos uns dos outros. Pode dar as medidas de L e de a.

OBS: Nessa situao, a aproximao sentg no pode mais ser admitida. b) Polarizao Anlise da intensidade da luz atravs de um sistema polarizador b.1) Montar, no banco ptico, o laser e o sensor LDR, com a luz do laser direcionada ao sensor. A intensidade do LDR ser medida por um Luxmetro. Desligar o laser e posicionar um dos polarizadores no suporte no banco ptico. Ligar o laser e observar a intensidade no LDR. Rotacionar o polarizador e observar a intensidade do LDR. O que se pode concluir destes resultados?

Fig. P.8.6 Polarizao da luz

Desses resultados podemos concluir que o laser que foi utilizado j estava polarizado pois, havia rotaes do polarizador 2 que praticamente j anulavam a luz proveniente do laser, o que no aconteceria se o laser no estivesse inicialmente polarizado. Assim, fizemos o experimento todo utilizando apenas um polarizador:

Fig. P.8.7 Polarizao da luz

Rotacionar o polarizador e analisar a intensidade no LDR. O que se pode concluir? medida em que o polarizador era rotacionado, a intensidade da luz detectada pelo luxmetro caiu drasticamente, conforme se pode observar pelos valores coletados, a seguir. b.3) Posicionar o polarizador at obter a intensidade mxima no LDR. Iniciar a rotao de um dos polarizadores anotando a cada 5 o valor do LDR, at chegar a 90, preenchendo a tabela: (o) Lux . 103 (o) Lux . 103 0
2,2

5
2,58

10
2,92

15
3,20

20
3,36

25 30
3,49 3,56

35
3,59

40
3,57

45
3,47

50
3,43

55
3,27

60
3,11

65
2,90

70 75
2,66 2,30

80
2,03

85
1,77

Para estas medidas deve-se incidir o laser por pouco tempo em cada medida, tampando-o com uma folha de papel entre as medidas. b.4) Construir um grfico em papel milimetrado, da iluminncia (lx) versus ngulo (o). Ver grfico anexo. b.5) O que se pode concluir por este grfico? Podemos concluir que h um pico de intensidade por volta dos 35, antes do qual e a partir do qual a intensidade luminosa que atinge o luxmetro se reduz a quase 50% de seu valor mximo. Ou seja, a maior luminosidade ocorre quando o ngulo do polarizador de 35, evidenciando que o laser estava polarizado nessa direo.

Concluses Os experimentos realizados foram bastante teis para a compreenso dos fenmenos tratados. De acordo com a anlises feitas, conclumos que a luz do laser j estava polarizada, o que dispensou a utilizao de um segundo polarizador. Conclumos, ainda, que os clculos realizados para a espessura do fio de cabelo esto na mesma ordem de grandeza da encontrada com a medio por micrmetro e que a distncia L entre o fio e o anteparo deve, realmente, ser muito maior que a espessura do fio, para que uma figura visvel de interferncia se forme e para que a relao sentg seja vlida. Referncias Fowles G. R.. Introduction to Modern Optics Jenkins F., White H.. Fundamentals of Optics McKelvey J. P.; Grotch H.. Fsica, vol.4 Crawford F. S.. Ondas - Curso de Fsica de Berkeley, vol. 3