UNIVERSIDAD TECNOLOGICA METROPOLITANA DEPARTAMENTO DE FSICA LABORATORIO DE FISICA MODERNA FIS 641 EXPERIENCIA N 1 INTERFEROMETRIA

OBJETIVO: - Analizar y comprender el fenmeno de interferencia entre dos rayos de luz monocromtica coherentes. - Encontrar la longitud de onda de un rayo lser mediante el experimento de Michelson - Morley. INTRODUCCION: Antiguamente se pensaba toda onda deba propagarse a travs de algn medio, sin embargo la luz puede hacerlo an a travs del vaco y es as como nace el concepto del ter, entendido como el medio en el cual se propagara la luz. La importancia histrica del experimento de Michelson Morley (1887) radica en el hecho de que permiti desechar la hiptesis del ter. En esta experiencia usaremos una versin compacta del interfermetro utilizado en el experimento de Michelson Morley. Este aparato fue inventado por Albert Abraham Michelson (ganador del premio Nobel de fsica en 1907) y su funcionamiento se basa en la interferencia de dos rayos de luz coherentes, esto es, que su diferencia de fase permanece constante en el tiempo. Este dispositivo permite medir pequeas distancia con una precisin del orden de la longitud de onda de la luz utilizada. EXPERIMENTO DE MICHELSON PARA MEDIR DISTANCIAS PEQUEAS Una haz de luz lser de longitud de onda , incide sobre un espejo semi-transparente (beam-splitter) 1) cuya funcin es separar el haz de luz en dos rayos coherentes R1 y R2 por reflexin y transmisin respectivamente ( figura 1). El rayo R1 llega a un espejo fijo (M1) para luego volver a reflejarse y finalmente llegar a la pantalla (S). El rayo R2 transmitido a travs del beam splitter llega a un espejo mvil (M2) para luego reflejarse y llegar a la pantalla (S). Sobre la pantalla (S) llegan los dos rayos R1 y R2. Si estos coinciden en el espacio, entonces se va a producir interferencia generando un patrn de interferencia caracterstico que consiste de una serie de anillos luminosos concntricos. La diferencia de fase entre los rayos R1 y R2 va a depender de la diferencia de camino ptico entre ambos rayos. Es as que al variar el camino

recorrido por el rayo R2, moviendo el espejo M2 mediante el tornillo micromtrico (T), se observa la aparicin de anillos luminosos que emergen desde el centro conforme varia la distancia d. Este efecto es producido debido a las sucesivas interferencias constructivas y destructivas al ir variando la diferencia de camino ptico entre los dos rayos. (Fig. 2) Si el espejo M2 se mueve una distancia d, entonces el aumento de camino ptico del rayo R2 es 2d, pues debe considerarse el aumento en el camino de ida y en el de vuelta del rayo R2 al reflejarse sobre el espejo mvil M2

Interferencia de dos rayos de luz. En (a) interferencia constructiva: los rayos llegan en fase a la pantalla

2 d = m

(d = m; m = 0,1,) y en (b) llegan en contrafase, interferencia

destructiva ( 2d

1 = (m + ) ; m = 0,1,) 2

La condicin para que ocurra interferencia constructiva es que la diferencia de camino ptico sea igual a un mltiplo entero de la longitud de onda de la luz, es decir,

2 d = m

(1)

Al variar d mediante el tornillo micromtrico T aparecer un anillo brillante cada vez que se cumpla la relacin (1). Es as que al variar d y registrar el nmero de anillos emergentes, es posible determinar la longitud de onda de la luz lser una precisin del orden de la longitud de onda de la luz (menos de un micrmetro) de acuerdo a la relacin.

2 d = N
d: distancia de recorrido del espejo mvil. : longitud de onda del lser N: Nmero de anillos luminosos emergentes

(2)

PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL MATERIALES 1.2.3.4.Interfermetro de Michelson, con sus accesorios. Equipo Lser Pantalla Riel ptico

1. Alineamiento. - Monte el aparato de Michelson sobre una mesa y coloque un lser como en la figura 3. - Alinee el sistema de modo que los rayos reflejado y transmitidos por el beam splitter lleguen finalmente sobre una pantalla (puede ser la pared) y se observen dos puntos luminosos sobre la pantalla prximos entre si. - Usando los tornillos de ajuste del espejo fijo, mueva el plano del espejo de tal modo que los dos puntos luminosos se superpongan (Fig. 4) - Coloque una lente convergente entre el lser y el beam splitter (Fig. 5) para expandir el patrn de interferencia.

- Complete la siguiente tabla. Use la expresin 2 para calcular . N D ( ) ( )

- Calcule el valor de con su correspondiente error. ( = - En base a los resultados obtenidos concluya

max imo min imo

2

BIBLIOGRAFIA 1.3.5.Serway. TOMO I, II. 5ta edicin Tipler, Paul. Fsica Moderna: Revert 1994 www.pasco.com. MANUAL DE PASCO Model SE 9638