To de Modelos de Sinais Alternados

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA
Centro Tecnolgico
Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial
Slvia Regina Darrigo
Desenvolvimento de modelos do
comportamento metrolgico esttico
de instrumentos de medio
Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina
para obteno do Grau de Mestre em Metrologia

Florianpolis, 12 de novembro de 2001.
ii
Desenvolvimento de modelos do comportamento
metrolgico esttico de instrumentos de medio

Slvia Regina Darrigo

Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do ttulo de
Mestre em Metrologia
e aprovada na sua forma final pelo
Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial.

Prof. Carlos Alberto Flesch, M. Eng.
Orientador

Prof. Armando Albertazzi Gonalves Jr., Dr. Eng.
Coordenador do Curso de Mestrado em Metrologia Cientfica e Industrial

Banca Examinadora:

Prof. Arcanjo Lenzi, Ph.D.

Prof. Marco Antonio Martins Cavaco, P.h.D.

Prof. Victor Juliano De Negri, Dr.Eng.

iii

Aos meus pais
Jos Neves Darrigo (in memorian) e
Margarida Darrigo

Ao meu marido Natanael Figueiredo

iv
Agradecimentos
Ao professor Carlos Alberto Flesch, pela orientao, pelo apoio e pela dedicao na
elaborao deste trabalho.

Ao LABMETRO, Laboratrio de Metrologia e Automatizao da UFSC e Fundao
CERTI, pela excelente infraestrutura de apoio.

CAPES, pela concesso da bolsa de mestrado e pela disponibilizao, atravs do
Programa de Integrao Graduao Ps-graduao (PROIN), dos recursos
materiais necessrios realizao deste trabalho.

Ao professor Armando Albertazzi, pelo apoio, incentivo e amizade durante esses
meses de convvio.

Rosana Magali, secretria da Ps-MCI, pela ateno e suporte prestados ao longo
deste trabalho.

Aos amigos da ps-graduao, pela ajuda e incentivo sempre presentes. Em
especial aos amigos,
Antnio Carlos Xavier de Oliveira,
Glucio Andrey Maas e
Jos Ricardo de Menezes.

Aos estagirios do Labmetro, pela dedicao ao trabalho desenvolvido. Em especial
aos estagirios:
Alberto Rgio Gomes,
Alex Scheuer,
Augusto De Nardin e
Rodrigo Coral.

minha me, Margarida Darrigo, e minhas irms, pelo apoio e incentivo.

Ao meu marido, Natanael, pela pacincia, apoio e dedicao a mim dispensados.

A todos os familiares e amigos que sempre torceram pelo sucesso desta conquista.

v
Sumrio
ndice de Figuras viii
ndice de Tabelas x
RESUMO xi
ABSTRACT xiii

Captulo 1
INTRODUO 1
1.1 IMPORTNCIA DA MODELAGEM DE INSTRUMENTOS........................................ 1
1.2 PROPOSTA DO TRABALHO......................................................................................... 3
1.3 ESTRUTURA DO TRABALHO...................................................................................... 4

Captulo 2
CARACTERSTICAS ESTTICAS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO 6
2.1 PARMETROS CARACTERSTICOS DE INSTRUMENTOS..................................... 7
2.1.1 Sensibilidade................................................................................................................. 8
2.1.2 Linearidade ................................................................................................................... 9
2.1.3 Histerese...................................................................................................................... 11
2.1.4 Repetitividade ............................................................................................................. 12
2.1.5 Tendncia.................................................................................................................... 13
2.1.6 Auto-aquecimento....................................................................................................... 14
2.1.7 Rudo........................................................................................................................... 14
2.1.8 Tenso de Offset.......................................................................................................... 19
2.1.9 Corrente de Bias.......................................................................................................... 20
2.1.10 Corrente de Offset .................................................................................................... 20
2.1.11 Deriva Trmica ........................................................................................................ 21
2.1.12 Razo de Rejeio de Modo Comum....................................................................... 21
2.1.13 Erro Mximo Admissvel......................................................................................... 23
2.2 APLICAES DAS CARACTERSTICAS ESTTICAS NOS MODELOS .............. 23
Sumrio
vi
Captulo 3
ESTRUTURA GERAL DO MODELO DE UM INSTRUMENTO 25
3.1 PROCEDIMENTO PROPOSTO .................................................................................... 26
3.2 MODELAGEM DE CARACTERSTICAS ESTTICAS............................................. 29
3.2.1 Distribuies aplicveis modelagem........................................................................ 29
3.2.2 Caracterizao da distribuio adotada na representao de uma caracterstica ........ 36
3.2.3 Gerao de nmeros aleatrios ................................................................................... 40

Captulo 4
MODELO DAS CARACTERSTICAS METROLGICAS ESTTICAS 43
4.1 SENSIBILIDADE........................................................................................................... 43
4.2 LINEARIDADE.............................................................................................................. 44
4.3 HISTERESE.................................................................................................................... 48
4.4 REPETITIVIDADE ........................................................................................................ 50
4.5 TENDNCIA.................................................................................................................. 52
4.6 AUTO-AQUECIMENTO ............................................................................................... 52
4.7 RUDO............................................................................................................................ 53
4.8 TENSO DE OFFSET.................................................................................................... 57
4.9 CORRENTE DE BIAS .................................................................................................... 59
4.10 CORRENTE DE OFFSET .............................................................................................. 59
4.11 DERIVA TRMICA....................................................................................................... 59
4.12 RAZO DE REJEIO DE MODO COMUM............................................................. 61
4.13 ERRO MXIMO ADMISSVEL................................................................................... 62

Captulo 5
INSTRUMENTOS MODELADOS NESTE TRABALHO 63
5.1 TERMISTOR .................................................................................................................. 64
5.1.1 Caractersticas do Termistor ....................................................................................... 64
5.1.2 Especificaes de Fabricantes..................................................................................... 66
5.1.3 Modelo do Termistor .................................................................................................. 67
5.2 TERMORRESISTOR...................................................................................................... 72
5.2.1 Caractersticas do Termorresistor ............................................................................... 72
5.2.3 Modelo do Termorresistor .......................................................................................... 77
5.3 TRANSDUTOR DE PRESSO ..................................................................................... 80
5.3.1 Caractersticas do Transdutor de Presso.................................................................... 80
5.3.3 Modelo do Transdutor de Presso............................................................................... 83

Sumrio
vii
5.4 AMPLIFICADOR........................................................................................................... 88
5.4.1 Caractersticas do Amplificador de Instrumentao ................................................... 88
5.4.3 Modelo do Amplificador de Instrumentao .............................................................. 93

Captulo 6
CONCLUSES E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS 104
6.1 CONCLUSES............................................................................................................. 104
6.2 SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS......................................................... 106

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS 108

viii
ndice de Figuras
Figura 1.1 Diagrama geral da Estao Laboratorial Multidisciplinar ........................................... 2
Figura 2.1 Cadeia de medio genrica ........................................................................................ 6
Figura 2.2 Sensibilidade de um instrumento................................................................................. 8
Figura 2.3 Erro de linearidade..................................................................................................... 10
Figura 2.4 Tenso de rudo trmico x resistncia e largura de banda ......................................... 16
Figura 2.5 Densidade espectral de rudo do amplificador AD624A [75] ................................... 18
Figura 2.6 RRMC x Freqncia do amplificador AD624A........................................................ 22
Figura 3.1 Procedimento de parametrizao de um modelo ....................................................... 27
Figura 3.2 Representao do intervalo de confiana................................................................... 35
Figura 3.3 Gerao de uma varivel aleatria normalmente distribuda..................................... 41
Figura 4.1 Modelo da sensibilidade ............................................................................................ 43
Figura 4.2 Modelo proposto para a linearidade........................................................................... 46
Figura 4.3 Modelo da linearidade do transdutor de presso modelo 1-P3MB da HBM............. 47
Figura 4.4 Curvas de linearidade gerada pelo modelo da Figura 4.3.......................................... 48
Figura 4.5 Modelo proposto para a repetitividade ...................................................................... 51
Figura 4.6 Modelo do auto-aquecimento .................................................................................... 53
Figura 4.7 Modelo do rudo branco............................................................................................. 54
Figura 4.8 Funo densidade de probabilidade do rudo............................................................. 54
Figura 4.9 Modelo do rudo trmico ........................................................................................... 55
Figura 4.10 Rudo trmico em funo do nmero de amostras................................................... 56
Figura 4.11 Modelo do rudo flicker ........................................................................................... 57
Figura 4.12 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da tenso de offset, corrente
de bias e corrente de offset ...................................................................................... 58
Figura 4.13 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da deriva trmica...................... 60
Figura 4.14 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da RRMC................................. 61
Figura 4.15 Modelo do erro mximo .......................................................................................... 62
ndice de Figuras ix
Figura 5.1 Curva caracterstica de um termistor ......................................................................... 65
Figura 5.2 Modelo do termistor Omega 44007........................................................................... 68
Figura 5.3 Tolerncia do termistor modelos 44005 e 44007 fabricante Omega [47].................. 69
Figura 5.4 Tolerncia dos termorresistores de platina segundo vrias normas........................... 75
Figura 5.5 Modelo do termorresistor .......................................................................................... 78
Figura 5.6 Tolerncia do termorresistor 1Pt100K4515 (DIN 60751 classe A)........................... 79
Figura 5.7 Tolerncia do termorresistor 1Pt100K4515 (DIN 60751 classe B)........................... 79
Figura 5.8 Modelo do transdutor de presso............................................................................... 86
Figura 5.9 Diagrama do amplificador de instrumentao AD624A ........................................... 95
Figura 5.10 Mdulo de entrada do modelo do amplificador AD624A....................................... 98
Figura 5.11 Mdulo - rudo do modelo do amplificador AD624A............................................. 99
Figura 5.12 Mdulo de sada do modelo do amplificador AD624A......................................... 101

x
ndice de Tabelas
Tabela 2.1 Especificao do rudo do amplificador AD624A [75]............................................. 18
Tabela 2.2 Aplicaes das caractersticas metrolgicas estticas nos modelos .......................... 24
Tabela 3.1 Distribuies estatsticas para modelagem................................................................ 31
Tabela 3.2 Critrios para modelagem de acordo com o valor especificado................................ 39
Tabela 5.1 Especificaes de fabricantes de termistores ............................................................ 67
Tabela 5.2 Classes tolerncia para termorresistores de platina................................................... 73
Tabela 5.3 Especificaes de fabricantes de termorresistores .................................................... 76
Tabela 5.4 Especificaes de transdutor de presso ................................................................... 82
Tabela 5.5 Especificaes de amplificador de instrumentao................................................... 90
Tabela 5.6 Dados de ajuste do amplificador AD624A - SN01 ................................................. 101
xi
Lista de Abreviaturas
u - Mdia
- Desvio padro
CRn - Caracterstica de resposta nominal
CRr - Caracterstica de resposta real
EXP - Experimento
F(z) - Funo distribuio de probabilidade de z
f(z) - Funo densidade de probabilidade de z
LI - Limite inferior de truncamento
LS - Limite superior de truncamento
mx - Valor mximo especificado pelo fabricante
mn - Valor mnimo especificado pelo fabricante
NT - Distribuio normal truncada
RRMC - Razo de Rejeio de Modo Comum
RTI - Dado especificado em relao entrada
RTO - Dado especificado em relao sada
tp - Valor tpico especificado pelo fabricante
VIM - Vocabulrio Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia

xii
RESUMO
O presente trabalho teve como objetivo desenvolver um mtodo para modelar o
comportamento metrolgico esttico de instrumentos de medio. Esta atividade faz parte de
um conjunto de trabalhos que vm sendo executados junto ao Laboratrio de Metrologia e
Automatizao da UFSC visando desenvolver um sistema de simulao de instrumentos de
medio.
A estrutura de um modelo geral proposto formada pela caracterstica de resposta
nominal do instrumento e pelo encadeamento de mdulos que contm os modelos das
caractersticas metrolgicas estticas geradas a partir de especificaes de fabricantes. Para
isso foi feito um estudo das principais caractersticas de instrumentos de medio,
pesquisando-se literatura, normas, dados tcnicos de fabricantes e folha de dados de
instrumentos. De posse da sistematizao desses dados, foi possvel implementar o modelo de
cada caracterstica de forma modular, visando reduzir o esforo futuro para implementao do
modelo de diferentes instrumentos.
A partir do modelo geral de um instrumento, possvel criar instrumentos com valores
especficos dentro dos limites especificados pelo fabricante. O processo de criao desses
instrumentos utiliza a anlise estatstica dos valores especificados na folha de dados para cada
parmetro.
Com o intuito de exemplificar a aplicao do modelo proposto, apresentou-se o
modelo de quatro instrumentos: termistor, termorresistor, transdutor de presso e
amplificador de instrumentao. Esses modelos foram implementados utilizando-se a
linguagem Labview.

xiii
ABSTRACT
The objective of the present work was to develop a method to model the metrological
static behavior of measurement instruments. This activity is part of a body of work that has
been developed by the UFSC Metrology and Automation Laboratory as a tool to implement
an instrument measurement simulation system.
The general structure model proposed is comprised of the nominal instrument
characteristic response and by linking the modules that contain the metrological static
characteristic instrument. The models are implemented using the instruments manufacturers
specifications (the data sheet). A study of the main measurement instruments characteristics
was made; researching literature, standards and manufacturers technical data, and applying it
to the instruments. With these systemized data, it was possible to implement a model for each
characteristic in a modular shape, in order to reduce effort on different instruments
implementation.
Using the general model of an instrument, it is possible to create instruments with
specific features within manufacturer specification ranges. The process to create these
instruments is based on statistical analysis of the values specified in the data sheet for each
parameter.
Finally, four models are provided as examples of the aforementioned implementation
method. These are: thermistor, thermoresistor, pressure transducer and amplifier
instrumentation. These models were implemented using Labviews language.

Captulo 1
INTRODUO
1.1 IMPORTNCIA DA MODELAGEM DE INSTRUMENTOS
O rpido e crescente desenvolvimento da tecnologia aplicada rea de instrumentao
e automao da medio torna-se difcil e dispendiosa a manuteno de laboratrios
equipados com tecnologia de ponta. Considerando isso, o LABMETRO Laboratrio de
Metrologia e Automatizao da Universidade Federal de Santa Catarina, vem desenvolvendo
um projeto denominado Estao Laboratorial Multidisciplinar para Suporte ao Aprendizado
Terico e Prtico. Trata-se de uma proposta inovadora no sentido de explorar atravs de
simulao e de instrumentao virtual, os aspectos metrolgicos dos instrumentos de
medio.
A motivao para o desenvolvimento desse projeto deve-se a uma pesquisa realizada
na literatura especializada, onde nada se encontrou com relao modelagem aplicada a
simulao do comportamento metrolgico de instrumentos de medio. Os laboratrios
virtuais encontrados esto voltados para aplicaes da engenharia eltrica, mais
especificamente para simulao de circuitos eltricos e eletrnicos.
O projeto da Estao Laboratorial Multidisciplinar foi concebido para permitir o
aprendizado local e remoto de tcnicas e prticas laboratoriais, principalmente nas reas de
instrumentao, automao da medio e metrologia. Seu desenvolvimento tem uma
concepo totalmente modular, e composta de quatro mdulos bsicos, conforme
Figura 1.1:

Captulo 1: INTRODUO
2
simulador de processos;
sistema de aquisio de dados de processos reais;
servidor de dados de processos;
simulador de instrumentos.

Figura 1.1 Diagrama geral da Estao Laboratorial Multidisciplinar

O mdulo Simulador de Instrumentos ser o meio de acesso do usurio s
informaes disponibilizadas pelo servidor de dados de processos, recebendo dados que
representam temperatura, presso, fora, deslocamento, torque e demais grandezas de
processos [12].
Para que o usurio possa observar o comportamento de tais grandezas, dever compor
uma cadeia de medio, utilizando instrumentos virtuais, da mesma forma que faria em um
laboratrio real. Isto possibilita alm de uma enorme flexibilidade em termos de configurao
de cadeia de medio e de processamento posterior da informao, uma atualizao constante
dos instrumentos virtuais da Estao Laboratorial Multidisciplinar, com instrumentos recm
lanados no mercado.
Observa-se que uma das ferramentas para a implementao da estao Laboratorial
o desenvolvimento de modelos de instrumentos de medio.
Genericamente, modelo a representao matemtica ou fsica de um sistema [16]

Simulador
de
Processos
Sistema de
Aquisio de
Dados de
Processos Reais
Servidor de
Dados de
Processos
Simulador
de
Instrumentos
Captulo 1: INTRODUO
3
[32]. A modelagem a tcnica de projeto e anlise de um sistema usando idealizao fsica
ou matemtica de todo um sistema ou parte dele [32].
Segundo o IEEE Standard Dictionary of Electrical and Electronics Terms [32],
modelo (relativo modelagem e simulao) uma aproximao, representao ou idealizao
de aspectos selecionados de uma estrutura, comportamento, operao, ou outra caracterstica
de um processo real, conceito ou sistema.
Este trabalho prope uma estrutura geral para a implementao de modelos das
caractersticas estticas usualmente associadas s especificaes de instrumentos.
Paralelamente a este trabalho de mestrado, esto sendo desenvolvidos outros dois, sob
a mesma orientao, vinculados ao desenvolvimento da Estao Laboratorial: o Emprego
da Orientao a Objetos para Caracterizao de Recursos num Ambiente de Simulao
de Instrumentos, de Carlos Aurlio Pezzotta [85], e Modelagem de Caractersticas
Dinmicas de Instrumentos de Medio, de Antnio Carlos Xavier de Oliveira [78]. O
primeiro trata da viabilidade da aplicao da programao orientada a objetos para
desenvolvimento de um ambiente de simulao de instrumentos e o segundo da modelagem
das caractersticas dinmicas dos instrumentos.
1.2 PROPOSTA DO TRABALHO
A proposta deste trabalho sistematizar as informaes relativas s caractersticas
estticas de instrumentos de medio e propor uma estrutura geral para a implementao de
modelos, utilizando para isto as especificaes de fabricantes e o modelo das caractersticas
estticas.
Inserido no objetivo principal, est a apresentao de alguns modelos de instrumentos
de ampla aplicao na indstria, pesquisa e desenvolvimento e que possam exemplificar o
mtodo atravs da integrao do modelo desenvolvido para cada uma das caractersticas
estticas que compem o modelo de um instrumento.
Procurou-se atravs de uma anlise criteriosa, considerar no desenvolvimento dos
modelos as no idealidades apresentadas pelo instrumento, buscando representar da melhor
maneira possvel o comportamento real do instrumento modelado.
O enfoque deste trabalho est no mtodo de modelagem de caractersticas estticas.
Para se chegar proposta da estrutura geral de um modelo, foram analisados diferentes
Captulo 1: INTRODUO
4
instrumentos de medio, e alguns desses foram modelados e apresentados neste trabalho,
visando ilustrar a estrutura proposta.
Os modelos propostos para as caractersticas de instrumentos foram testados
utilizando-se a linguagem de programao Labview da National Instruments.
O sistema de simulao composto por mdulos que representam as seguintes etapas:
elaborao de modelos gerais;
particularizao de modelos;
preparao de experimentos;
execuo de experimentos.

Como objetivos secundrios lista-se:
sistematizar as especificaes de fabricantes de instrumentos de medio, avaliando os
dados fornecidos atravs de estudo terico e levantamento de normas especficas
aplicveis;
analisar o comportamento metrolgico dos instrumentos. Esta tarefa utiliza conceitos
de metrologia aplicada instrumentao, visando o desenvolvimento de modelos
representativos do comportamento real;
determinar e analisar as principais caractersticas estticas de instrumentos de
medio, dentro do contexto do VIM (Vocabulrio Internacional de Metrologia) e de
normas especficas;
estabelecer os critrios para modelagem de acordo com o valor atribudo aos dados
pelo fabricante;
analisar e modelar os diferentes rudos, apresentando uma sistematizao para o
modelo de acordo com as especificaes;
analisar, sistematizar e apresentar as principais distribuies estatsticas aplicveis
modelagem, e seus parmetros associados.
1.3 ESTRUTURA DO TRABALHO
No Captulo 2 so definidos os principais parmetros caractersticos de instrumentos
de medio, com base na informao da literatura especializada, em normas e em diferentes
formas com que so fornecidas as especificaes por diferentes fabricantes.
Captulo 1: INTRODUO
5
No Captulo 3 apresentada uma estrutura geral para a implementao de modelos de
instrumentos de medio e os procedimentos de anlise das especificaes para a modelagem
das caractersticas estticas.
No Captulo 4 so modeladas as principais caractersticas estticas usualmente
encontradas em instrumentos em geral, como forma de contribuio para a implementao de
diferentes instrumentos.
No Captulo 5 so apresentados os modelos de quatro instrumentos: termistor,
termorresistor, transdutor de presso e amplificador de instrumentao. Esses foram
selecionados para exemplificar a estrutura de modelagem proposta em funo de
apresentarem variadas formas de especificao.
Para cada modelo apresentada a documentao, composta de:
quadro comparativo das especificaes de diferentes fabricantes;
anlise das diferentes formas de apresentao dos dados;
modelo proposto para o instrumento de um dos fabricantes analisados;
sugestes para implementao do modelo quando a caracterstica for especificada de
diferentes formas pelos fabricantes analisados;
avaliao de incertezas que o modelo pode apresentar, devido a aproximaes
consideradas na implementao.

No Captulo 6 so apresentadas concluses, mostrando as facilidades e dificuldades da
estrutura de modelagem proposta. Adicionalmente so apresentadas sugestes para a
realizao de trabalhos futuros, que possam aprimorar a estrutura de modelo proposta neste
trabalho.

Captulo 2
CARACTERSTICAS ESTTICAS DE
INSTRUMENTOS DE MEDIO
Segundo o VIM, sistema de medio o conjunto completo de instrumentos de
medio e outros equipamentos acoplados para executar uma medio especfica [66].
Cadeia de medio a seqncia de elementos de um instrumento ou sistema de
medio, que constitui o trajeto do sinal de medio desde o estmulo (mensurando) at a
resposta (sinal de medio) [66].
A anlise de diversas cadeias de medio revela a existncia de trs elementos
funcionais bem definidos que se repetem com grande freqncia [19]: transdutor,
condicionador de sinais e dispositivo mostrador (Figura 2.1). Pode-se dizer de forma geral
que uma cadeia de medio formada por um ou vrios instrumentos.

Mensurando

TRANSDUTOR
DISPOSITIVO
MOSTRADOR
CONDICIONADOR
DE SINAIS

- termistor
- termorresitor
- termopar
- clula de carga
- transdutor de presso

- amplificao
- filtragem
- multiplexao

Figura 2.1 Cadeia de medio genrica
Captulo 2: CARACTERSTICAS ESTTICAS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO
7
Um instrumento de medio um dispositivo utilizado para medio, sozinho ou em
conjunto com dispositivo(s) complementar(es) [66]. Os instrumentos de medio processam
sinais de medio.
Segundo o VIM, sinal de medio uma grandeza que representa o mensurando ao
qual est funcionalmente relacionada. O sinal de sada de um transdutor eltrico de presso, a
freqncia de um conversor tenso-freqncia e a tenso de sada de uma bateria de
automvel so alguns exemplos de sinais de medio.
Os sinais de entrada e de sada de um instrumento podem ser caracterizados como
estticos ou dinmicos.
Sinal esttico o sinal que no varia com o tempo [1]. Sua representao matemtica
dada por:

0
) ( A t Y = (2.1)
onde, A
0
uma constante.
Um sinal dinmico o que varia com o tempo. Sinais dinmicos podem ser
classificados como peridicos e no peridicos [1]. Um sinal peridico se a variao da
magnitude do sinal se repete em intervalos regulares de tempo, por exemplo, um sinal
senoidal. Um sinal no peridico aquele que no se repete em intervalos regulares de
tempo. Como exemplos de sinais dinmicos no peridicos pode-se citar um sinal
correspondente a uma funo degrau, rampa ou pulso.
O objetivo deste trabalho restringe-se ao comportamento esttico de instrumentos de
medio, sendo o comportamento dinmico tratado na referncia [78].
2.1 PARMETROS CARACTERSTICOS DE INSTRUMENTOS
O comportamento metrolgico de um instrumento est relacionado a sua caracterstica
de resposta. Segundo o VIM, caracterstica de resposta a relao entre um estmulo e a
resposta correspondente, sob condies definidas. Esta relao pode ser expressa na forma de
uma equao matemtica, uma tabela numrica ou um grfico [66].
Todo instrumento ou sistema de medio tem o seu comportamento ideal (nominal)
regido por um princpio fsico bem definido. A equao que exprime o relacionamento ideal
entre o estmulo e a resposta denominada caracterstica de resposta nominal (CRn).
Entretanto instrumentos reais no apresentam exatamente o comportamento previsto pela
8
CRn em decorrncia de imperfeies que se manifestam de forma sistemtica e/ou aleatria.
A relao que realmente ocorre entre o estmulo e a resposta denominada caracterstica de
resposta real (CRr). Os desvios entre CRn e CRr so expressos em termos de parmetros
caractersticos de instrumentos [18].
Nos prximos itens so definidos parmetros representativos do comportamento
metrolgico de instrumentos de medio. Para facilitar o desenvolvimento do modelo de cada
parmetro procurou-se sistematizar as informaes encontradas na literatura especializada,
em catlogos de fabricantes e, sempre que possvel, em normas tcnicas.
Analisou-se catlogos de diversos fabricantes visando levantar a terminologia
empregada e as formas mais usuais de apresentao dos parmetros associados uma
determinada caracterstica.
usual fabricantes expressarem os dados relativos a um parmetro em valores
percentuais da faixa de medio do instrumento. usual tambm que esses dados
representem valores mnimo, tpico ou mximo de um dado parmetro.
2.1.1 Sensibilidade
A sensibilidade a variao da resposta de um instrumento de medio dividida pela
correspondente variao do estmulo [66]. A sensibilidade pode depender do valor do
estmulo. Para sistemas que apresentem caracterstica de resposta linear, a sensibilidade
constante e para os no lineares varivel, e dada pelo coeficiente angular da tangente
caracterstica de resposta real, conforme Figura 2.2.

Figura 2.2 Sensibilidade de um instrumento
9
Para um instrumento em que a sada y est relacionada entrada x pela equao
y = f(x), a sensibilidade diferencial ou absoluta S (x
a
) no ponto x
a
:

a
x x
a
dx
dy
x S
=
= ) (
(2.2)
A sensibilidade tambm referenciada como caracterstica de resposta e como ganho
em amplificadores.
Para instrumentos com resposta linear, a forma mais usual de apresentao da
sensibilidade :
a relao entre a sada do instrumento com valor nominal do mensurando e a tenso de
alimentao, representando a sensibilidade para toda a faixa nominal do instrumento.
Como exemplo tem-se a especificao da Sensotec e da HBM para o transdutor de
presso conforme Tabela 5.4 [49] [50].
atravs do coeficiente angular da caracterstica de resposta nominal do instrumento, ou
seja, a relao entre a sada e a entrada do instrumento. Exemplificando, para o
transdutor de presso da RS e da Endevco tem-se as formas de especificao
apresentadas na Tabela 5.4, ou seja 3,33 mV/psi [48,30 mV/bar], e (1,50,5) mV/psi
[(21,77,2) mV/bar]. Quando a sensibilidade no est especificada em relao tenso
de alimentao do instrumento, usual a apresentao do valor da tenso de
alimentao em que foram levantados os dados apresentados na folha de dados ou no
certificado de calibrao do instrumento.

A sensibilidade pode apresentar variaes com a temperatura, tendo como parmetro
associado deriva trmica da sensibilidade. usualmente especificada como um percentual
da faixa nominal por variao unitria da temperatura.
2.1.2 Linearidade
A grande maioria dos sistemas de medio apresenta uma caracterstica de resposta
nominal (CRn) linear, isto , a correlao entre resposta e estmulo pode ser expresso por uma
linha reta. O erro de linearidade um parmetro que exprime o quanto a caracterstica de
resposta real afasta-se de uma reta [18] [19].
No se encontrou uma norma especifica para a linearidade. Segundo a literatura no
10
existe um procedimento nico para a determinao do erro de linearidade [76]. Embora esses
erros sejam sempre expressos em relao a retas de referncia, podem ser adotados diferentes
critrios de ajuste dessa reta. Os mais usuais so apresentados na Figura 2.3 [18] [19]:

Legenda
CR
r
- Caracterstica de resposta real
EL
t
- Erro de linearidade terminal
EL
i
- Erro de linearidade independente
EL
q
- Erro de linearidade mtodo dos mnimos quadrados
EL
q
- Erro de linearidade mtodo dos mnimos quadrados

Figura 2.3 Erro de linearidade

a. Mtodo terminal (EL
t
)
A reta de referncia estabelecida pela reta que une os pontos da caracterstica de
resposta que correspondem ao incio e ao final da faixa de medio.

b. Mtodo independente (EL
i
)
curva de erros sistemticos so ajustadas duas retas paralelas, de forma que a faixa
definida pelas retas contenha todos os pontos da curva e que a distncia entre as mesmas seja
mnima. O erro de linearidade corresponde metade do valor correspondente distncia entre
essas retas.

c. Mtodo dos mnimos quadrados (EL
q
)
A posio da reta de referncia calculada pelo mtodo dos mnimos quadrados. O
maior afastamento da curva de erros sistemticos reta de regresso estabelece o erro de
11
linearidade [1] [2] [18].
Esse mtodo tem sido muito empregado em funo de sua determinao ser efetuada
por algoritmos simples de processamento digital de dados, no requerendo nenhuma interao
grfica [18] [19].
Por ser mais significativo em termos prticos, geralmente a apresentao do erro de
linearidade feita em termos relativos ou em unidade do estmulo, qualquer que seja o
procedimento de determinao [18].
Formas usuais de apresentao da linearidade so:
um valor percentual tpico da faixa nominal do instrumento. Como exemplo tem-se a
especificao da Sensotec e da HBM para transdutor de presso conforme Tabela 5.4
[49] [50];
um valor percentual mximo da faixa nominal de sada do instrumento. Como
exemplo tem-se a especificao da RS para transdutor de presso, conforme
Tabela 5.4 [53];
alguns fabricantes especificam qual dos mtodos acima listados foi utilizado para a
determinao do erro de linearidade. Assim, usual encontrar-se especificao de
linearidade independente como:
- A % da leitura;
- B % da faixa nominal ou;
- o maior valor entre A % da leitura e B % da faixa nominal.
2.1.3 Histerese
Histerese de um instrumento a caracterstica que representa a diferena entre as
respostas obtidas do instrumento para um mesmo valor do estmulo, observadas em sentido
decrescente de valores desse estmulo e em sentido crescente de valores desse mesmo
estmulo. O valor diferente se o ciclo de carregamento e descarregamento do instrumento
for completo ou parcial [18] [19].
O valor numrico da histerese pode ser especificado tanto em termos da entrada como
da sada.
Formas usuais de apresentao encontradas para a histerese so:
um valor percentual da faixa nominal do instrumento. Como exemplo tem-se a
12
especificao da Sensotec e da HBM para transdutor de presso conforme Tabela 5.4
[49] [50];
um valor percentual tpico da faixa nominal de sada do instrumento. Como exemplo
tem-se a especificao da RS e da Endevco para transdutor de presso, conforme
Tabela 5.4 [48] [53];
um valor percentual mximo da faixa nominal.
Em certificados de calibraes de instrumentos, quando se tem dados de calibrao
referentes vrios ciclos de carregamento e descarregamento, a histerese calculada como a
diferena entre a mdia das indicaes de um mesmo valor do mensurando, quando o
mensurando est decrescendo em valor e quando o mensurando est crescendo em valor.
No se encontrou na literatura informaes que auxiliassem na modelagem, tais como:
anlise sistemtica do comportamento da histerese para diferentes instrumentos de
medio;
dados relativos ao comportamento da histerese parcial;
valores assumidos pela histerese ao longo da faixa nominal do instrumento.
Tambm no se encontrou uma norma que tratasse de uma forma especfica a
histerese. A norma ASME B40.1-1991 referente a manmetros de presso, e a norma ASME
B40.2-1991 referente a transdutores de presso a diafragma, especifica que a histerese pode
ser determinada dos dados obtidos de dois ciclos de presso, e que o valor da histerese
menor se a faixa de medio for inferior faixa nominal do instrumento.
Assumiu-se neste trabalho que a histerese menor que a especificada se a faixa de
medio que estiver sendo empregada for inferior faixa nominal do instrumento.
2.1.4 Repetitividade
Segundo o VIM, repetitividade a aptido de um instrumento de medio em fornecer
indicaes muito prximas, em repetidas aplicaes do mesmo mensurando, sob as mesmas
condies de medio [66]. Estas condies incluem: reduo ao mnimo das variaes
devido ao observador, mesmo procedimento de medio, mesmo observador, mesmo
equipamento de medio (utilizado nas mesmas condies), mesmo local e repeties em
curto perodo de tempo.
A repetitividade especifica a faixa de valores dentro do qual, com uma probabilidade
13
estatstica definida, se situar o erro aleatrio de um instrumento ou sistema de medio para
o ponto de medio considerado. Essa probabilidade pode abranger valores tais como 95%,
99% e 99,7% dos erros aleatrios, dependendo da aplicao, determinaes de normas, ou
necessidades do usurio [18]. Analisando diferentes fabricantes nota-se que a repetitividade
aparece como um valor percentual da faixa nominal, as vezes complementadas com
observaes do tipo valor tpico ou valor mximo.
Formas usuais de apresentao encontradas para a repetitividade so:
um valor percentual da faixa nominal do instrumento. Como exemplo tem-se a
especificao da Sensotec e da HBM para o transdutor de presso conforme Tabela 5.4
[49] [50];
um valor percentual tpico da faixa nominal de sada do instrumento. Como exemplo
tem-se a especificao da RS e da Endevco para o transdutor de presso conforme
Tabela 5.4 [48] [53].
Entretanto, as especificaes de repetitividade no so acompanhadas do nvel de
confiana dos dados, ou seja, o fabricante no especifica a probabilidade de enquadramento
dos erros aleatrios.
No se encontrou uma norma especfica para a repetitividade. A norma ASME B40.1-
1991 referente a manmetros de presso, e a norma ASME B40.2-1991 referente a
transdutores de presso a diafragma, especificam que a repetitividade pode ser determinada
dos dados obtidos de dois ciclos de presso. Estabelece que a repetitividade a diferena,
expressa como um percentual da faixa nominal, entre duas leituras para o mesmo valor de
presso, e em dois ciclos diferentes, sem incluir a histerese.
Estas normas embora no estejam de acordo com a definio anterior adotada neste
trabalho, foram citadas apenas para ilustrar condies especificas (dois ciclos de
carregamento do mensurando) estabelecidas por norma para um dado instrumento.
2.1.5 Tendncia
O VIM define tendncia como o erro sistemtico da indicao de um instrumento de
medio [66]. O erro sistemtico a parcela de erro sempre presente nas medies realizadas
em idnticas condies de operao, e dado [18] [19]:
VVC MI E
S
= (2.3)
14
onde: MI mdia de infinitas indicaes de um mesmo VVC;
VVC valor verdadeiro convencional.
2.1.6 Auto-aquecimento
O auto-aquecimento uma fonte de erro presente em dispositivos que contm
elementos resistivos, devido passagem de corrente. Essa corrente de alimentao causa um
aquecimento interno (efeito Joule), acarretando um erro no valor da medida [11] [37].
No caso de termistor e termorresistor esse erro depende da capacidade de dissipao
do transdutor, relacionando-se com a corrente de acordo com a Equao 2.4:

2
RI
T
aq
= (2.4)
onde:
coeficiente de dissipao do dispositivo (auto-aquecimento) [W/K];
R resistncia do elemento resistivo para a temperatura a ser medida [];
I corrente de alimentao do dispositivo [A].
Nos transdutores o coeficiente de dissipao depende do contato trmico com o
material utilizado para sua proteo e o meio em que ele ser empregado (tipo de fludo e
velocidade). Os fabricantes apresentam os coeficientes de acordo com uma determinada
condio, geralmente gua em movimento ou ar [21] [37] [38] [54] [57]. Um transdutor pode-
se auto-aquecer 100 vezes mais no ar parado do que na gua em movimento [37] [38].
O erro devido ao auto-aquecimento pode ser minimizado escolhendo-se a menor
corrente de alimentao possvel [38], embora a reduo extrema possa levar a tornar
significativas outras fontes de erros [67] [96] [97]
2.1.7 Rudo
Rudo pode ser definido como um sinal eltrico indesejvel presente em um circuito
[32]. O Rudo pode ser de diversos tipos, por exemplo, aleatrio ou repetitivo, gerado
internamente ou externamente, rudo de corrente ou tenso, largura de banda estreita ou larga,
baixa ou alta freqncia [28].
Uma maneira usual de especificao de rudo pelos fabricantes atravs de um
grfico da densidade espectral de rudo versus freqncia, conforme Figura 2.5.
15
Densidade espectral de rudo e
n
a raiz quadrada da razo de variao do quadrado da
tenso (ou corrente) do rudo em relao freqncia [5] [26]:

2
) (
rms
R n
V
df
d
e = (2.5)
Da Equao 2.5 pode-se calcular os valores de rudo em tenso, para uma determinada
banda de freqncia [26] [28]:

=
H
L
f
f
n Rrms
df e V .
2
(2.6)
onde: V
Rrms
valor eficaz da tenso de rudo [V];
e
n
densidade espectral de rudo [nV/Hz];
f
H
limite superior de freqncia [Hz];
f
L
limite inferior de freqncia [Hz].
A Equao 2.5 e Equao 2.6 tambm se aplicam para rudo em corrente.
As fontes de rudo intrnsecas mais significativos em instrumentao so as que
predominam em baixas freqncias. Relaciona-se a seguir essas fontes de rudo, assim como
as formas de especificao encontradas nas folhas de dados de fabricantes.

a) Rudo branco
um rudo com distribuio de potncia uniforme em relao freqncia. O rudo
branco tem resposta plana no espectro de freqncia [26] [28].
Se no espectro do rudo branco, e
n
constante com a freqncia, pode-se reescrever a
Equao 2.6 como [26]:

L H n BR
f f e V
rms
= . (2.7)
Exemplos de rudo branco so o rudo trmico, ou Johnson, e o rudo shot.
O rudo branco est presente em todos os elementos que contem resistncia, tais
como: termistores, termorresistores, cabos, sensores resistivos em geral e amplificadores.

Rudo Trmico
O rudo trmico gerado pela agitao trmica dos eltrons nos dispositivos
condutores em geral [5] [8] [26].
A tenso do rudo trmico calculada pela equao [5] [8] [26]:
16
R B T K V
t
. . . . 4 = (2.8)
onde: V
t
valor eficaz da tenso de rudo [V];
K constante de Boltzmann (1,38.10
-23
) [J/K];
T temperatura absoluta [K];
B largura de banda [Hz];
R resistncia [].
Devido relao linear entre a potncia do rudo e sua banda de freqncia, o rudo
trmico tambm chamado rudo branco [8].
O grfico da Figura 2.4 mostra a relao da tenso de rudo trmico versus resistncia
para a largura de banda de 100 Hz a 1 MHz.

Figura 2.4 Tenso de rudo trmico x resistncia e largura de banda

b) Rudo Flicker
O rudo flicker ou rudo 1/f um rudo causado por um fluxo de portadores de carga
num meio descontnuo, devido ao contato imperfeito entre dois materiais. Ocorre em
vlvulas, resistores de carbono, diodos, transistores, termistores, chaves e rels [5].
As fontes de rudo flicker so inversamente proporcionais freqncia e predominam
17
em freqncias abaixo de 1 kHz. caracterizado por ter potncia de rudo igual por oitava.
No espectro do rudo flicker, a densidade espectral do rudo e
n
proporcional a 1/f, e
expresso por [26] [28]:

f
K V
frms
1
.
/ 1
= (2.9)
onde K o valor da tenso de rudo na freqncia de 1 Hz.
O valor da tenso do rudo flicker [26] [28]:
) ln( .
/ 1
L
H
frms
f
f
K V = (2.10)
A literatura subdivide o rudo flicker em diversos tipos, dos quais os mais importantes
so o rudo rosa (pink) e o rudo pipoca (popcorn) [5] [26] [28].

As formas mais usuais de especificao de rudo so:
valores tpicos de rudo em tenso, nas faixas de 1 kHz e de (0,1 a 10) Hz. Alguns
fabricantes substituem a faixa de (0,1 a 10) Hz por (0,01 a 10) Hz, ou por (0,1 a 100)
Hz [75] [82];
valores tpicos de rudo em corrente para a faixa de (0,1 a 10) Hz ou de (0,01 a 10) Hz
[75] [82];
grficos da densidade espectral de rudo em tenso e em corrente, cuja forma de
apresentao semelhante ao grfico da Figura 2.5.
Os fabricantes no especificam diretamente se o dado relativo ao rudo branco ou
flicker, mas o fazem atravs de faixas de freqncia onde esses rudos so predominantes.
Pelas definies de rudo apresentadas e pela anlise de grficos de densidade espectral de
rudo, exemplificado na Figura 2.5, pode-se identificar que a faixa plana refere-se ao rudo
branco, predominante para freqncias acima de 100 Hz, e o rudo flicker tem caracterstica
1/f no grfico log-log e predominante para freqncias inferiores a 100 Hz.
Portanto esto presentes nas especificaes dados relativos ao rudo branco e ao rudo
flicker, atravs de valores atribudos por faixa de freqncia. A predominncia de um ou de
outro tipo depende da banda de freqncia de uso do instrumento.
Em instrumentos resistivos como o termistor e termorresistor, embora no sejam
especificados dados relativos ao rudo, sabe-se que o rudo trmico est sempre presente.
18
Como exemplo de especificao do rudo, a Tabela 2.1 mostra os dados do
amplificador de instrumentao AD624A da Analog Devices. Nota-se que o rudo em tenso
fornecido para a faixa de freqncia de 1 kHz referenciados entrada e sada, e para a
faixa de (0,1 a 10) Hz, de acordo com o ganho selecionado. Tambm especificado o rudo
em corrente na faixa de (0,1 a 10) Hz. Adicionalmente fornecida a densidade espectral do
rudo em tenso versus freqncia para os ganhos de 1, 10, 100, 1000 (Figura 2.5).

Tabela 2.1 Especificao do rudo do amplificador AD624A [75]
Parmetro Condies Especificao
Freqncia Ganho Valor tpico
Rudo em tenso RTI (
1
1 kHz 4 nV/Hz (
3
)
Rudo em tenso RTO(
2
) 1 kHz 75 nV/Hz
Rudo em tenso RTI (0,1 a 10) Hz 1 10 uV pico a pico (
4
)
Rudo em tenso RTI (0,1 a 10) Hz 100 0,3 uV pico a pico
Rudo em tenso RTI (0,1 a 10) Hz 200/500/1000 0,2 uV pico a pico
Rudo em corrente RTI (0,1 a 10) Hz 60 pA pico a pico

(
1
) Rudo em tenso referido entrada.
(
2
) Rudo em tenso referido sada.
(
3
) Valor da densidade espectral de rudo.
(
4
) Valor do rudo em tenso.

Figura 2.5 Densidade espectral de rudo do amplificador AD624A [75]
19
Concluindo, das especificaes de rudo de um instrumento, deve-se considerar:
dados de rudo em tenso, e a faixa de freqncia relacionada;
dados de rudo em corrente, e a faixa de freqncia relacionada;
se os dados especificados so relativos ao rudo na entrada, ou na sada do
instrumento;
se no houver especificao de rudo e o instrumento incorporar elementos resistivos,
considerar o rudo trmico conforme Equao 2.8.
O rudo uma caracterstica que ser utilizada para a modelagem de instrumentos,
apenas quando no se obtiver informaes acerca da repetitividade do instrumento. Neste
trabalho foi considerado que o rudo est includo na repetitividade.
2.1.8 Tenso de Offset
O circuito interno de um instrumento freqentemente apresenta desbalanceamento e
assimetrias que produzem um sinal indesejvel na sada, mesmo quando no submetido a um
mensurando [4]. No caso de transdutores, alguns fabricantes referem-se tenso de offset
como erro no zero [48].
No caso de amplificadores de instrumentao esse desbalanceamento especificado
pelo fabricante como tenso de offset na entrada e tenso de offset na sada. A tenso de offset
na entrada (V
OE
) definida como a tenso dc que deve ser aplicada entre os terminais V
+
e V
-

do amplificador, para se ter tenso de sada igual a zero, em condies de malha fechada. A
tenso de offset de um amplificador de instrumentao pode ser tanto positiva como negativa
e tipicamente tem valor em mdulo entre 10 mV e 1 uV [44]. A tenso de offset na sada
(V
OS
) a tenso obtida na sada de um amplificador quando os terminais de entrada so curto
circuitados. A tenso de offset na sada igual tenso de offset na entrada multiplicada pelo
ganho de malha aberta.
As formas mais usuais de especificao da tenso de offset so:
uma faixa de valores mximo de tenso: X mV. Como exemplo tem-se a
especificao da Endevco para o transdutor de presso, conforme Tabela 5.4 [48];
valores mnimo, tpico e mximo de tenso: valor mnimo de X mV, tpico de Y mV, e
mximo de Z mV. Como exemplo tem-se a especificao da RS para o transdutor de
presso conforme Tabela 5.4 [53];
20
quando no especificada, como o caso do transdutor de presso da HBM Tabela 5.4,
necessrio a calibrao do instrumento para levantar este dado.
Os valores fornecidos para a tenso de offset referem-se s condies de temperatura e
tenso de alimentao estabelecidas na folha de dados do fabricante. Entretanto a tenso de
offset tem como parmetro associado a deriva trmica, cujas formas mais usuais de
especificao so apresentadas no item 2.1.11.
2.1.9 Corrente de Bias
Correntes de bias so correntes que fluem nos terminais de entrada de um
amplificador, e quando passam em fontes de impedncia geram tenses que interferem no
sinal de medio [27].
Os valores dessas correntes so determinados pelo circuito interno do amplificador e
podem ser tanto positivo como negativo. O valor mximo especificado pelo fabricante para
cada entrada, tipicamente de 0,1 pA a 10 uA [44].
Portanto, um desbalanceamento nas resistncias das entradas inversora e no inversora
acarretar uma tenso na sada do amplificador igual corrente de bias multiplicada pela
diferena de impedncias [24] [27] [80].
Formas usuais de especificao da corrente de bias so:
uma faixa de valores mximo de corrente: X mA. Como exemplo tem-se a
especificao da Analog devices para o amplificador de instrumentao AD624A
fornecido para a temperatura de 25C, conforme Tabela 5.5 [75];
valores tpico e mximo de corrente: valor mnimo de X nA e tpico de Y nA. Como
exemplo tem-se a especificao da Burr Brown para o amplificador de instrumentao
INA102AG fornecido para a temperatura de 25C, conforme Tabela 5.5 [82].

A corrente de bias pode apresentar variaes com a temperatura tendo como
parmetro associado deriva trmica, usualmente especificada como X pA/C.
2.1.10 Corrente de Offset
A corrente de offset a diferena das duas correntes de bias na entrada de um
amplificador diferencial. Essa diferena gera um erro de offset igual corrente de offset
21
multiplicada pela impedncia de entrada [27]. O desbalanceamento entre as correntes de bias
podem chegar a 50% da mdia da corrente de bias na entrada [44], embora valores de 5% a
10% sejam tpicos.
A corrente de offset utilizada geralmente, em lugar das correntes de bias, na
modelagem de circuitos que podem ser considerados balanceados [27].
Os fabricantes usualmente apresentam dados relativos corrente de offset
especificados da mesma forma que o descrito no item anterior para a corrente de bias.
2.1.11 Deriva Trmica
Segundo o VIM, deriva a variao lenta de uma caracterstica metrolgica de um
instrumento de medio [66].
A grande maioria dos instrumentos de medio tm caractersticas como
sensibilidade, tenso de offset, ganho, corrente de bias e offset e tenso de sada, afetadas por
variaes de temperatura.
Formas usuais de especificao da deriva trmica so:
uma faixa mxima de variao do parmetro por variao unitria da temperatura.
Como exemplo tem-se a especificao da Analog Devices [75] para a tenso de offset
na entrada e na sada do amplificador de instrumentao AD624A, conforme
Tabela 5.5. Esse mesmo fabricante fornece igual especificao para a deriva trmica
da corrente de bias e de offset, porm apresentando valores tpicos;
uma variao percentual mxima da faixa nominal do instrumento para uma dada
faixa de temperatura. Como exemplos tem-se a especificao da Endevco [48] para a
deriva trmica da sensibilidade e da tenso de offset do transdutor de presso,
conforme Tabela 5.4;
uma variao mxima na tenso de sada do instrumento para uma dada faixa de
temperatura. Como exemplos tem-se a especificao da RS para a sensibilidade e
tenso de offset do transdutor de presso [53], conforme Tabela 5.4.
2.1.12 Razo de Rejeio de Modo Comum
A tenso de modo comum (V
MC
) definida como a mdia entre as tenses dos dois
terminais de entrada de um amplificador diferencial [4] [81]. Ao aplicar essa tenso na
22
entrada de um amplificador diferencial real, aparecer na sada do amplificador uma tenso
proporcional a V
MC
adicionada tenso de sada. A capacidade de rejeio do amplificador
denominada razo de rejeio de modo comum (Common Mode Rejection Ratio CMRR)
e apresentada em decibel (dB) [27]:

=
RRMC
MC
V
V G
RRMC
.
log . 20
(2.11)
O valor da variao da tenso de sada (V
RRMC
) do amplificador pode ser determinado
atravs da equao [27]:

)
20
( log
.
1
RRMC
G V
V
MC
RRMC
=
(2.12)
onde: G ganho do amplificador;
V
MC
tenso de modo comum [V];
RRMC razo de rejeio de modo comum (dB);
V
RRMC
tenso da razo de rejeio de modo comum [V].
Entretanto, deve-se chamar a ateno para o decrscimo do valor de RRMC com o
aumento da freqncia, exemplificado na Figura 2.6, com o dado do amplificador AD624A
fornecido pelo fabricante [27] [75].

Figura 2.6 RRMC x Freqncia do amplificador AD624A
23
Sinais externos (ou interferncias) com certas freqncias (por exemplo 60 Hz) podem
ter influncias considerveis no sinal de sada, devido reduo da RRMC com o aumento da
freqncia. Filtragem a soluo somente para aquisio de sinais em que a mxima
freqncia de interesse muito menor que (50 ou 60) Hz [27].
A especificao da razo de rejeio de modo comum de um amplificador dada em
termos de valores mnimos e/ou tpicos, em dB, variando de acordo com o ganho e com a
freqncia.
2.1.13 Erro Mximo Admissvel
Erro mximo admissvel so valores extremos de um erro admissvel por
especificaes, regulamentos etc., para um dado instrumento de medio [66].
Considera-se o erro mximo como a faixa de valores, centrada em torno do zero, que,
com uma probabilidade definida, contm o erro mximo (em termos absolutos) do qual pode
estar afetada qualquer indicao apresentada por um instrumento ou sistema de medio.
Inclui os erros sistemticos e aleatrios em toda a faixa de medio, e sempre respeitando as
condies de operao especificadas pelo fabricante [18].
A forma mais usual de especificao do erro mximo atravs de um valor percentual
da faixa nominal do instrumento. Algumas vezes o erro mximo referenciado como classe
de incerteza [19].
o parmetro reduzido que mais tem sido utilizado como indicador da qualidade
metrolgica de um instrumento de medio [19]. Entretanto, para efeito deste trabalho
assume-se que o erro mximo uma caracterstica s modelada quando no se tem a
especificao de outros parmetros que agreguem informaes referentes parcela
sistemtica e aleatria do comportamento metrolgico do instrumento.
2.2 APLICAES DAS CARACTERSTICAS ESTTICAS NOS
MODELOS
O modelo de um instrumento de medio deve conter o modelo de todas as
caractersticas pertinentes ao instrumento. As caractersticas apresentadas neste captulo, tero
seus modelos desenvolvidos no Captulo 4.
Para se chegar a estrutura proposta de um modelo, foram analisados vrios
24
instrumentos de medio, levantados suas caractersticas, e desenvolvidos os modelos desses
instrumentos a partir da caracterstica de resposta e das caractersticas estticas e dinmicas.
A Tabela 2.2 relaciona em que instrumentos modelados esto presentes algumas
dessas caractersticas.

Tabela 2.2 Aplicaes das caractersticas metrolgicas estticas nos modelos
INSTRUMENTOS
ITEM PARMETRO
Amplificador
Transdutor
presso
Termistor
Termor-
resistor
2.1.1 Sensibilidade
(1)
X X X X
2.1.2 Linearidade X X
2.1.3 Histerese X
2.1.4 Repetitividade X X
2.1.5 Tendncia
(2)
X X X X
2.1.6 Auto-aquecimento X X
2.1.7 Rudo branco X
2.1.7 Rudo trmico X X
2.1.7 Rudo flicker(1/f) X
2.1.8 Tenso de offset X X
2.1.9 Corrente de bias X
2.1.10 Corrente de offset X
2.1.11 Deriva trmica X X
2.1.12 RRMC X

(1) Ou caracterstica de resposta.
(
2
) Aplicvel a todos os modelos quando elaborados a partir de dados de calibrao.

Captulo 3
ESTRUTURA GERAL DO MODELO DE
UM INSTRUMENTO
Neste captulo prope-se uma estrutura geral de modelo das caractersticas
metrolgicas de um instrumento, baseado na caracterstica de resposta nominal e nas
especificaes do fabricante.
As especificaes do fabricante, alm de fornecerem dados como a faixa nominal do
instrumento, temperatura de operao, tenso de sada e impedncia de entrada e de sada,
fornecem dados relativos ao comportamento esttico e dinmico do instrumento. Baseando-se
nesses dados, prope-se a obteno do modelo de cada caracterstica esttica. A utilizao de
uma forma modular para a implementao do modelo de cada caracterstica, visa o
aproveitamento desses mdulos no desenvolvimento de diferentes instrumentos de medio.
A implementao de um modelo requer uma anlise minuciosa do princpio de
funcionamento e das caractersticas metrolgicas e operacionais do instrumento.
Devido diversidade de instrumentos de medio e a no padronizao das
especificaes, so necessrios conhecimentos de metrologia e de instrumentao, incluindo
anlise de circuitos [12].
Da experincia prtica em atividades laboratoriais, sabe-se que quando se analisa um
lote de instrumentos ou de componentes eletrnicos do mesmo modelo e do mesmo
fabricante, encontram-se variaes na resposta desses. Entretanto, para que um instrumento
esteja conforme [30], os valores encontrados devem estar dentro dos limites apresentados nas
especificaes do fabricante.
Captulo 3: ESTRUTURA GERAL DO MODELO DE UM INSTRUMENTO
26
Para a simulao desse comportamento metrolgico procurou-se implementar a
estrutura geral do modelo de um determinado instrumento, analisando-se suas caractersticas
e selecionado-se os parmetros pertinentes ao instrumento. O modelo geral pode ser
particularizado para um instrumento especfico, atravs da aplicao dos dados fornecidos
pelo fabricante na folha de dados do instrumento.
Portanto, os modelos aqui propostos so baseados nas especificaes de fabricantes, e
na anlise criteriosa das caractersticas representativas do comportamento metrolgico e
operacional de instrumentos. Para a sistematizao dessas informaes necessrio analisar
as especificaes de diferentes fabricantes, preferencialmente dos mais conceituados, e
comparar essas especificaes de modo a se estabelecer a estrutura geral do modelo do
representativo de uma classe de instrumentos selecionados. A partir do modelo geral pode-se
implementar o modelo particularizado de qualquer um dos instrumentos analisados,
utilizando-se as especificaes apresentadas para o instrumento.
Cada modelo deve conter as caractersticas estticas e dinmicas, visando representar
o instrumento real e suas no idealidades.
A metodologia de modelagem de caractersticas dinmicas apresentada na referncia
[78].
3.1 PROCEDIMENTO PROPOSTO
A estrutura geral de um modelo baseada no encadeamento de mdulos que contem
os modelos das caractersticas estticas e dinmicas. Estas caractersticas se relacionam com
os parmetros caractersticos apresentados nas especificaes do fabricante.
Portanto todas as especificaes da folha de dados de um instrumento devem ser
analisadas e correlacionadas aos parmetros caractersticos do instrumento, para a
implementao do modelo de cada caracterstica.
Para isso procurou-se estabelecer o modelo de cada caracterstica da forma mais geral
possvel, visando que o mdulo correspondente a uma determinada caracterstica possa ser
aproveitado na implementao de diferentes instrumentos.
A Figura 3.1 apresenta a estrutura geral do modelo de um instrumento e o
procedimento de parametrizao de um modelo. Esse procedimento est dividido em quatro
blocos: Experimento, Especificao do Fabricante, Cria e Modelo.
27

Legenda:
D
1
, D
n
, D
m
- Dado relativo a um experimento (no especificado pelo fabricante)
DP
1
, DP
n
, DP
m
- Distribuies de probabilidade
E
1
, E
n
, E
m
- Parmetros especificados pelo fabricante
EXP - Dado relativo a um experimento
f(E
i
) - Funo que relaciona os parmetros ao CR
n
M

- Mensurando
S - Sinal de sada

Figura 3.1 Procedimento de parametrizao de um modelo

Esse modelo geral ento particularizado a partir das especificaes do fabricante
para um determinado instrumento, ou eventualmente das informaes disponveis do
instrumento, como por exemplo, as obtidas de um processo de calibrao.
O bloco denominado Modelo implementado a partir da caracterstica de resposta
nominal do instrumento e do modelo de seus parmetros caractersticos.
A coluna denominada Especificao do Fabricante, contem todas as
especificaes apresentadas na folha de dados do instrumento.
Entretanto existem entradas obrigatrias do modelo que se atribui apenas quando se
utiliza o instrumento para a realizao de uma determinada medida, ou seja, quando se
28
configura um experimento. Esses dados so apresentados na coluna Experimento e
referem-se a parmetros como: mensurando e o meio em que o instrumento ser utilizado,
tenso ou corrente de alimentao, faixa de freqncia em que se deseja medir, tenso de
modo comum e constante de dissipao.
Dados desse tipo so identificados no modelo pela sigla EXP, indicando que tais
informaes so fornecidas pelo usurio ao configurar um experimento. Portanto essa coluna
deve conter todos os dados pertinentes configurao em que se deseja utilizar o instrumento
para uma dada aplicao ou experimento.
Os valores atribudos aos parmetros na implementao de um modelo variam de um
instrumento para outro. Para simular tal condio so gerados valores aleatrios de
distribuies de probabilidade que melhor representam esses dados. O tipo de distribuio
atribudo ao dado identificado na coluna Cria, atravs de uma sigla (DP
1
, DP
n
, DP
m
).
Dessas distribuies so escolhidos os valores especficos para cada instrumento de um lote
de instrumentos a ser gerado pelo modelo.
Pode-se observar na Figura 3.1, que no bloco referente ao Modelo existem
parmetros que representam o comportamento do instrumento antes da aplicao da
caracterstica de resposta nominal, enquanto outros influenciam depois da aplicao da CR
n
.
Existem tambm parmetros que alteram a CR
n
de um instrumento, como o caso da deriva
trmica e do erro de linearidade do ganho de um amplificador de instrumentao.
No Captulo 4 so apresentados os modelos das caractersticas mais comumente
encontradas em instrumentos de medio. Prope-se que instrumentos sejam modelados
atravs da combinao e particular parametrizao dos modelos de tais caractersticas.
Dados importantes a serem considerados na implementao de um modelo so
referentes s condies em que foram levantados os dados. Essas condies, usualmente
mostradas no topo da folha de dados, incluem: faixa de temperatura, tenso de alimentao,
umidade, tempo transcorrido desde o ltimo ajuste (ou calibrao). Devem ser utilizadas no
modelo para simular condies adversas de operao do instrumento. Tambm so fornecidos
dados referentes a valores mximos permissveis para o mensurando e a temperatura, e que
sero considerados para gerar mensagens de alerta referentes s condies limites mximas
admissveis de operao do instrumento. Exemplos deste tipo de implementao esto
contemplados nos modelos apresentados no Captulo 5.
29
3.2 MODELAGEM DE CARACTERSTICAS ESTTICAS
Para a aplicao da estrutura proposta para a modelagem de um instrumento, a forma
ideal de especificao dos dados por parte dos fabricantes atravs do comportamento do
parmetro ao longo da faixa nominal do instrumento. Essas especificaes devem:
atribuir valores mnimo, tpico e mximo para os dados de cada parmetro;
especificar a distribuio de probabilidade que melhor representa os dados;
especificar o nvel de confiana atribudo aos dados.

Entretanto, no se encontrou folhas de dados de instrumentos que apresentassem todas
essas informaes. Quanto melhor o nvel de informaes disponveis, melhor ser o modelo.
H ento necessidade de se buscar o mximo de informaes, seja atravs de consulta a
fabricantes, seja atravs de procedimentos experimentais.
Em muitas situaes prticas certamente, para muitos parmetros, haver necessidade
de se arbitrar comportamento, por falta de informaes confiveis [15]. Assim sendo, ser
necessrio associar distribuies de probabilidade que melhor caracterizem os dados do
parmetro, assim como atribuir um nvel de confiana aos dados.
O item 3.2.1, apresenta distribuies de probabilidade usualmente empregadas na
modelagem de processos fsicos em geral. O item 3.2.2 apresenta propostas para
parametrizao da distribuio adotada na representao de uma caracterstica.
3.2.1 Distribuies aplicveis modelagem
Para uma dada famlia de distribuies contnuas, por exemplo, a normal ou a gama,
existem vrias maneiras alternativas para se definir ou parametrizar a funo densidade de
probabilidade. Os parmetros associados a essa funo, podem ser classificados (baseados em
sua interpretao fsica ou geomtrica) como sendo de um dos trs tipos bsicos: localizao
(), escala () e forma () [16].
Um parmetro de localizao especifica um ponto sobre o eixo da abcissa de uma
faixa de valores da distribuio. Geralmente o ponto mdio (a mdia u para a distribuio
normal) ou o limite inferior da faixa da distribuio. No ltimo caso, o parmetro de
localizao algumas vezes referido como parmetro de deslocamento (shift parameter).
Quando varia, a distribuio associada simplesmente desloca-se para a direita ou para a
30
esquerda sem alterar a escala e a forma.
O parmetro de escala determina a escala (ou unidade) dos valores da medida na
faixa da distribuio. Uma alterao em comprime ou expande a distribuio associada sem
alterar sua forma bsica.
O parmetro de forma determina, diferentemente da localizao e da escala, a forma
bsica ou formato da distribuio dentro de uma famlia de distribuies de interesse. Uma
mudana em geralmente altera as propriedades da distribuio mais fundamentalmente que
uma mudana na localizao ou na escala [16].
Algumas distribuies como a exponencial e a normal, no tm o parmetro de forma,
enquanto outras podem ter vrios parmetros; por exemplo, a distribuio beta tem dois [15]
[16].
A Tabela 3.1 apresenta algumas distribuies bastante usadas nos processos de
modelagem, e que podem ser teis na determinao correta da distribuio que melhor
representa uma determinada caracterstica. Tambm esto relacionados os valores da mdia,
varincia e parmetros de localizao, escala e forma quando aplicveis, assim como usuais
ou possveis aplicaes das distribuies.
Dentre as distribuies amostrais apresentadas na Tabela, a distribuio normal a
mais importante para modelagem [15]. Se x uma varivel aleatria normal, ento a funo
densidade de probabilidade de x :

2 2
2 / ) (
. 2
1
) (
u

=
x
e x f
(3.1)
para -<x<+,
onde, -<u<+ a mdia, e
2
>0 a varincia.

Muitas distribuies de probabilidades tambm podem ser definidas em termos de
uma varivel aleatria normal.
Um caso especial importante da distribuio normal a distribuio normal
padronizada, que tem mdia u=0 e varincia
2
=1. Observa-se que, se x uma varivel
distribuda normalmente, ento a varivel aleatria,

u
=
x
z (3.2)
31
uma distribuio normal padronizada. A relao apresentada na Equao 3.2 chamada de
varivel aleatria padronizada da varivel x [14] [16] [72].
Muitas anlises estatsticas consideram que a varivel aleatria normalmente
distribuda baseada no teorema do limite central [14] [16].
Segundo esse teorema, se X a mdia de uma amostra aleatria de tamanho n
obtida de uma populao com mdia u e varincia
2
ento a expresso,

n
X
Z
u
=
(3.3)
uma varivel aleatria cuja distribuio mais se aproxima da distribuio normal
padronizada a medida que n. Se Y=c
1
X
1
+c
2
X
2
+... +c
n
X
n
, e todos os X
i
so caracterizados
por distribuies normais, a distribuio resultante de Y tambm ser normal. Mesmo que as
distribuies de X
i
no sejam normais, a distribuio de Y pode, freqentemente ser
aproximada por uma distribuio normal [17].
Assim, independentemente da forma de distribuio da populao, a distribuio de
X aproximadamente normal com mdia u e varincia
2
/n quando n grande [14] [16]
[72]. A referncia [72] ilustra esta tendncia para se aproximar os dados por uma distribuio
normal a medida que o nmero de amostras aumenta, para uma populao distribuda
uniformemente e para uma populao distribuda exponencialmente.
Este resultado mostra essencialmente que a soma de n variveis aleatrias distribudas
identicamente e independentemente, aproxima-se de uma distribuio normal.
Neste trabalho adotou-se a distribuio normal como modelo para a maioria dos
parmetros, considerando que cada parmetro representa uma caracterstica cujo
comportamento resultante de um somatrio de efeitos com causas fsicas.

Tabela 3.1 Distribuies estatsticas para modelagem
32

T
a
b
e
l
a

3
.
1

D
i
s
t
r
i
b
u
i
e
s

e
s
t
a
t
s
t
i
c
a
s

p
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r
a

m
o
d
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l
a
g
e
m

D
i
s
t
r
i
b
u
i
o

F
u
n
o

D
e
n
s
i
d
a
d
e

d
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P
r
o
b
a
b
i
l
i
d
a
d
e

P
a
r
m
e
t
r
o
s
:

u
,

2
,

m
o
d
a

O
b
s
e
r
v
a
e
s

F
i
g
u
r
a

C
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m
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s

G
a
m
a

g
a
m
a

(
)

)
(
x
e
.
x
.
)
x
(
f
1

s
e

x
>
0

c
a
s
o

c
o
n
t
r
r
i
o

f
(
x
)

=

0

(
1
)

u
.
=

2
2
.
=

m
o
d
a

=

.
(
-
1
)

s
e

1
,

m
o
d
a

=

0

s
e

<
1

A

e
x
p
o

(
)

e

a

g
a
m
a

(
1
,
)

t
m

a
s

m
e
s
m
a
s

d
i
s
t
r
i
b
u
i
e
s
.
W
e
i
b
u
l
l

W
e
i
b
u
l
l

(
)
x
(
1
e
x
.
.
)
x
(
f
=

s
e

x
>
0
,

c
a
s
o

c
o
n
t
r
r
i
o

f
(
x
)

=

0

)
1
(

u
=

) `

=
2
2
2
)
1
(
1
)
2
(
2

m
o
d
a

=

(
(
-
1
)
/
)
1
/

s
e

1

m
o
d
a
=
0

s
e

<
1

A

e
x
p
o

(
)

e

a

W
e
i
b
u
l
l

(
1
,
)

t
m

a
s

m
e
s
m
a
s

d
i
s
t
r
i
b
u
i
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s
.
E
x
p
o
n
e
n
c
i
a
l

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x
p
o

(
/
)
(
x
e
x
f
=

s
e

x
>
0
,

c
a
s
o

c
o
n
t
r
r
i
o

0
)
(
=
x
f

u

=

2

m
o
d
a
=
0

>
0

C
a
s
o

p
a
r
t
i
c
u
l
a
r

d
a

g
a
m
a

e

d
a

W
e
i
b
u
l
l

p
a
r
a

=
1
.

Q
u
i
-
q
u
a
d
r
a
d
a

2
/
1
2
2
/
)
2
/
(
1
)
(
x
e
x
x
f

s
e

x
>
0
,

>
0
,

o
n
d
e

=
n
-
1

c
a
s
o

c
o
n
t
r
r
i
o

0
)
(
=
x
f

u
.
2
/
=

2
2
.
2
/
=

A

d
i
s
t
r
i
b
u
i
o

d
a

s
o
m
a

d
o
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q
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d
r
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d
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v
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s

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s

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d
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d
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p
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n
d
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t
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s
.
=

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e

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.
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-
n
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m
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l

2
2
2
/
)
x
(
l
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2
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2
.
x
1
)
x
(
f
=

s
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>
0
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c
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r
r
i
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0
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(
=
x
f

2
/
2
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u
u
+
=

)
1
e
(
e
2
2
2
2
=
+

2
e
a
m
o
d
>
0

=

u

(
-
)

N
o
r
m
a
l

N

(
u
,
2
)

2
2
2
/
)
(
2
1
)
(
=
x
e
x
f

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-
<
x
<
+
=
d
x
x
f
x
)
.
(
.
u

2
2
2
)
.
(
.
u
d
x
x
f
x

m
o
d
a
=
u

=

u

(
-

>

0

(
-
)

A

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i
s
t
r
i
b
u
i
o

N

(
0
,
1
)

f
r
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q
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n
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m
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n
t
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m
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d
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u

u
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i
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i
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.

33

T
a
b
e
l
a

3
.
1

D
i
s
t
r
i
b
u
i
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s

e
s
t
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t
s
t
i
c
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b
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r
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r
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s
:

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,

2
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m
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s

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l

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d
r
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n
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1
)

2
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)
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2
2 1
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z
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-
<
z
<
+
=
x
z

u

=
0

2
=
1

=

u

(
-

>

0

(
-
)

U
n
i
f
o
r
m
e

U

(
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,
b
)

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b
1
)
x
(
f
=

s
e

a
b
,

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s
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c
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n
t
r
r
i
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,

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)
(
=
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2
b
a
+
=
u

1
2
)
a
b
(
2
2

m
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d
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x
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=

b
-
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s
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r
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0
,
1
)

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s
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r
i
b
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1
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d
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b
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2
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1
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i
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n
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u
l
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r

t
r
i
a
n
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,
b
,
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b
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x
f
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s
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)
.
(
(
)
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2
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b
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b
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b
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s
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c
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n
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r
r
i
o

0
)
(
=
x
f

3
c
b
a
+
+
=
u

1
8
2
2
2
2
b
c
a
c
a
b
c
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a
+
+
=

m
o
d
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=

c

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a

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b
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=

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1
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b
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b
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o

b
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e
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a

b
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t
a

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1
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2
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(
B
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1
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x
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2
1
1
1
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1
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1
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s
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c
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2
1
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+
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1
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)
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2
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2
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1
2
1
2
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+
+
=

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b
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i
o

U

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0
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1
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a

b
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1
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1
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m
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s
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s
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2

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r
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x
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2

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1
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t
0
1
z
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.
t
)
z
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L
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g
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p
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m
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p
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e
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e
s
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l
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2

-

v
a
r
i
n
c
i
a

-

p
a
r
m
e
t
r
o

d
e

l
o
c
a
l
i
z
a
o

f
(
x
)

-

f
u
n
o

d
e
n
s
i
d
a
d
e

d
e

p
r
o
b
a
b
i
l
i
d
a
d
e

-

g
r
a
u
s

d
e

l
i
b
e
r
d
a
d
e

-

f
u
n
o

g
a
m
a

-

d
e
s
v
i
o

p
a
d
r
o

34
Algumas caractersticas importantes da distribuio normal so:
A distribuio normal simtrica em relao mdia, podendo a mdia assumir
valores positivos, negativos, ou ser igual a zero.
O desvio padro pode ter qualquer valor positivo; quanto maior for esse valor, maior o
espalhamento.
A probabilidade de um componente estar entre dois valores dados a rea sob a curva
da FDP (funo densidade de probabilidade) compreendida entre esses valores. Por
exemplo:
u - <P(x)< u + = 68,3%, ou
u - 3,3. <P(x)< u + 3,3. = 99,9%.
A funo da distribuio normal tem valor prximo de zero para valores de (u 3,3),
ou seja a probabilidade de se encontrar um valor maior que 3,3 muito pequena
(0,1%).

Essas distribuies podem ser deslocadas ou truncadas de acordo com a necessidade
de se representar o comportamento de um parmetro de forma mais real possvel.
Exemplificando, nos modelos desenvolvidos e apresentados no Captulo 4, caractersticas
como tenso e corrente de offset, corrente de bias, foram modeladas por uma distribuio
normal truncada nos pontos de mnimo e mximo especificados pelo fabricante.
O valor de truncamento da normal corresponde a um nvel de confiana atribudo aos
dados.
Segundo a ISO 3534-1, nvel de confiana ou coeficiente de confiana o valor (1-)
(nmero fixo, positivo e menor que 1) da probabilidade associada com um intervalo de
confiana ou um intervalo estatstico de abrangncia [17] [71].
Um nvel de confiana (1-) bilateral para x o intervalo entre o limite inferior (LI) e
o limite superior (LS), funes de valores observados, tais que, x sendo um parmetro da
populao a ser estimado, a probabilidade de x estar entre LI x LS , pelo menos, igual a
(1-) [onde (1-) um nmero fixo, positivo e menor que 1].

35

Legenda:
u
- Mdia

- Desvio padro
(1-) - Nvel de confiana
f(x) - Funo densidade de probabilidade
LI - Limite inferior de confiana
LS - Limite superior de confiana
n - Fator de abrangncia
x - Varivel aleatria

Figura 3.2 Representao do intervalo de confiana

Adotou-se neste trabalho, na falta de informaes especificas, o valor de truncamento
da distribuio normal em 3,3, o que corresponde um nvel de confiana de 99,9%. Isso foi
feito baseado na incerteza atribuda a alguns instrumentos de boa qualidade e a referncias
encontradas na literatura em geral, com relao ao uso de 3,3 ou 4, especialmente na rea
eletrnica [30].
Entretanto, considera-se necessrio um aprofundamento maior com relao coleta de
informaes mais detalhadas junto aos fabricantes, embora no desenvolvimento deste
trabalho tenham sido constatadas as dificuldades inerentes. O fabricante Fluke [30], destaca a
necessidade de se indagar aos fabricantes acerca do tipo de distribuio e nvel de confiana
atribudo aos dados, mas no sugere valores especficos na folha de dados de seus prprios
produtos. Consultas a diversos fabricantes (National, Burr Brown, Analog Devices) no
lograram xito.
36
3.2.2 Caracterizao da distribuio adotada na representao de uma
caracterstica
comum encontrar-se nos catlogos dos fabricantes de instrumentos (Data Sheets),
especificaes onde so atribudos aos dados, informaes dos tipos: valor mnimo, valor
tpico, valor mximo ou combinaes desses valores [87].

Valores tpicos ou nominais (tp) so valores utilizados para representar as
caractersticas de todo um grupo. Para express-la, fabricantes utilizam diferentes tipos de
valores resumidos. Os mais usados so moda (ou pico), mdia e mediana [95]. Quando a
distribuio que representa a grandeza centrada entre seus limites, esses valores so
praticamente coincidentes. Entretanto, se uma distribuio deslocada do centro, esses
valores podem diferenciar-se consideravelmente. Em geral, o valor tpico utilizado como
dado apresentado no catlogo. A anlise da folha de dados e o questionamento aos fabricantes
so muitas vezes necessrios para esclarecimento do tipo de informao fornecida [39].

Limites mximo ou mnimo (mx/mn) so valores garantidos pelo fabricante dentro
das condies de teste especificadas. Geralmente so os nicos parmetros medidos durante a
produo e que servem de parmetros de aceitao do usurio. A utilizao de valores
mximos e mnimos, geralmente levam a fornecer as condies de pior caso para o
instrumento em anlise [64].
usual encontrar catlogos de fabricantes como a Analog Devices, Burr-Brown,
National e Philips, onde as folhas de dados dos instrumentos contem trs colunas
identificadas por valores mnimo, tpico e mximo. Nestas folhas de dados, os parmetros
podem ser fornecidos com um ou mais desses valores. Entretanto possvel encontrar
fabricantes que no fazem referncia alguma acerca do dado fornecido. Nesses casos, foi
considerado neste trabalho que os valores fornecidos so tpicos.
Em funo da importncia da distribuio normal para modelagem este trabalho se
limitou a analisar a caracterizao dessa distribuio. Acredita-se que procedimento
semelhante possa ser adotado para outras distribuies.
Dispondo-se dos limites, de acordo com essa classificao e conhecendo-se, ou
estimando-se, o intervalo de confiana, adotou-se na parametrizao os critrios estabelecidos
37
na Tabela 3.2, e que so descritos a seguir.
a) Valores: Mnimo, Tpico e Mximo
Quando so fornecidos todos esses valores, considera-se o parmetro modelado por
uma distribuio normal, onde o limite inferior de truncamento o valor mnimo
especificado; a mdia o valor tpico; e o limite superior de truncamento o valor mximo.
Calcula-se o desvio padro, considerando o valor de truncamento da normal correspondente
ao nvel de confiana fornecido para o dado. Cumprindo o estabelecido no item 3.2.1 adotou-
se o nvel de confiana de 99,9% (3,3.), para todos os parmetros modelados.

b) Valores: Mnimo e Tpico ou Tpico e Mximo
Quando so encontradas especificaes de valor tpico e mximo ou tpico e mnimo,
considera-se o valor tpico como a mdia da distribuio normal, e o limite inferior e superior
de truncamento igual aos valores mnimo e tpico respectivamente. Ao limite de truncamento
atribudo um valor de 3,3.

c) Valores: Mnimo e Mximo
Quando o valor de um parmetro especificado por uma faixa de valores,
representado pelos valores mnimo e mximo, necessrio identificar se esse comportamento
est ocorrendo em torno da mdia igual a zero, ou se esta pode assumir outros valores.
Quando a mdia u igual a zero, considera-se o modelo do parmetro uma
distribuio normal, e truncada nos pontos de valores mnimo e mximo. Para se calcular o
desvio padro, considera-se o truncamento correspondente a n., onde n o fator de
abrangncia. Esse critrio adotado para os parmetros como a repetitividade e o rudo de um
instrumento, onde a distribuio referente a esta caracterstica se concentra em torno da mdia
igual a zero.
Quando a mdia u diferente de zero, necessrio primeiramente se conhecer o
sentido de variao do parmetro. Na falta de informaes tcnicas que mobilizem melhor
julgamento, feita uma escolha aleatria para determinar se o parmetro positivo ou
negativo.
- Se for positivo, o limite superior de truncamento da normal o valor mximo
fornecido pelo fabricante e a mdia um valor a ser estimado. Para se calcular o desvio padro,
38
considera-se o truncamento correspondente a n.
- Se for negativo, o limite inferior de truncamento da normal o valor mnimo
especificado, e a mdia um valor a ser estimado. Para se calcular o desvio padro, considera-
se o truncamento correspondente a k.
Em qualquer um dos casos, para se estimar a mdia necessrio conhecimento do
comportamento do parmetro.
Como exemplo desse tipo de especificao, tem-se parmetros tais como tenso e
corrente de offset, corrente de bias e deriva trmica. So especificados por uma faixa de
valores e como parmetros intrnsecos de um instrumento, podem tanto apresentar variaes
positivas como negativas. Nesses casos o modelo deve escolher primeiramente um sentido de
variao do parmetro. A estimativa da mdia foi baseada na anlise dos dados. Considerou-
se possvel assumir o limite inferior igual a zero, no caso de variao positiva, e o limite
superior igual a zero, no caso de variao negativa. Na prtica essa condio muito
improvvel que acontea. Entretanto, o modelo estabelece o valor de truncamento desses
limites correspondente ao nvel de confiana de 99,9%. A probabilidade que esses limites
ocorram de 0,1%, o que considera-se que seja uma boa aproximao para esses casos.

d) Valor: Tpico
um tipo de especificao bastante encontrada nas folhas de dados, embora apresente
pouca informao para a modelagem. Se diferentes instrumentos de um mesmo tipo devem
ser modelados torna-se necessrio estimar um valor mnimo ou mximo para o parmetro,
para que se possa calcular o desvio padro da distribuio normal. Como no se obteve
maiores informaes de fabricantes com referncia a valores mximos e mnimos dos dados,
adotou-se o neste trabalho o valor mximo igual ao dobro do valor tpico. Recomenda-se no
entanto que uma anlise criteriosa seja feita caso a caso.

e) Valor: Mnimo ou Mximo
Da mesma forma que a especificao anterior, tambm bastante encontrada nas
folhas de dados, embora apresente pouca informao para a modelagem. A estimativa nesse
caso recai sobre o valor da mdia da distribuio normal. Nesses casos so necessrias
maiores informaes do fabricante com relao ao comportamento do parmetro.
39
Tabela 3.2 Critrios para modelagem de acordo com o valor especificado
Item Valores fornecidos Distribuio
Desvio
padro
1 Mnimo, Tpico, Mximo

Atribui-se:
- u=tp;
- LI=mn;
- LS=mx;
- calcula-se .

n
tp mx
=

ou
n
tp mn
=

2 Mnimo e Tpico

Atribui-se:
- u=tp;
- LI=mn;
- calcula-se .

n
tp mn
=

3 Tpico e Mximo

Atribui-se:
- u=tp;
- LS=mx;
- calcula-se .

n
tp mx
=

4 Mnimo e Mximo
Para u =0
Atribui-se:
- LI=mn
- LS=mx

Para u #0
- escolhe-se o sentido de variao do parmetro;
- se o parmetro for positivo: critrio do item 7;
- se o parmetro for negativo: critrio do item 6.

Para u =0,
n
mx
=

5 Tpico

Atribui-se:
- u=tp;
- estima-se o valor mnimo ou mximo;
- calcula-se .

n
tp mx
est

=

ou
n
tp mn
est

=
40
Item Valores fornecidos Distribuio
Desvio
padro
6 Mnimo

Atribui-se:
- LI=mn;
- estima-se a mdia u;
- calcula-se .

n
mn
est
u
=
7 Mximo

Atribui-se:
- LS=mx;
- estima-se a mdia u;
- calcula-se .

n
mx
est
u
=

Legenda:
- Desvio padro mx - Valor mximo especificado
u - Mdia mx
est
- Valor mximo estimado
u
est
- Mdia estimada mn - Valor mnimo especificado
LI - Limite inferior de truncamento mn
est
- Valor mnimo estimado
LS - Limite superior de truncamento tp

- Valor tpico especificado

Os critrios para as demais distribuies de probabilidade devem-se ser analisados
cuidadosamente de acordo com o dado fornecido pelo fabricante, baseando-se nos critrios
estabelecidos para a distribuio normal. Os parmetros pertinentes a cada uma dessas
distribuies so mostrados Tabela 3.2.
3.2.3 Gerao de nmeros aleatrios
Para a escolha de valores intrnsecos dos parmetros de um instrumento assim como
para gerao de valores aleatrios dentro do modelo, extrados de distribuies de
probabilidade que melhor representam os dados, necessrio o emprego de mtodos de
gerao de nmeros aleatrios.
A literatura consultada apresenta vrios mtodos para gerao e teste de nmeros
aleatrios, normalmente baseados em uma distribuio uniforme [16] [14]. A anlise e o
Tabela 3.2 Critrios para modelagem de acordo com o valor especificado (continuao)
41
desenvolvimento desses mtodos fogem do objetivo deste trabalho.
Para a gerao de nmeros aleatrios para teste dos modelos desenvolvidos neste
trabalho foram utilizados os recursos disponveis na linguagem Labview.
A Figura 3.3 mostra a obteno de um valor de uma determinada caracterstica,
tomado aleatoriamente de sua respectiva distribuio de probabilidade, onde:
o dado a representao da funo que produz um nmero aleatrio entre 0 e 1
exclusivamente, gerada a partir de uma distribuio uniforme;

Legenda:
F(z)

- Funo distribuio de probabilidade de z
f(z) - Funo densidade de probabilidade de z
- Desvio padro
u - Mdia
LI - Limite inferior de truncamento
LS - Limite superior de truncamento
x
i
- Varivel aleatria gerada
z

- Varivel aleatria padronizada
z
i
- Varivel aleatria padronizada gerada

Figura 3.3 Gerao de uma varivel aleatria normalmente distribuda
42
o nmero aleatrio gerado, a funo de probabilidade padronizada, que aplicada
funo distribuio normal inversa, produz uma varivel aleatria padronizada;
a varivel aleatria padronizada convertida para varivel aleatria atravs da
Equao 3.2.

Captulo 4
MODELO DAS CARACTERSTICAS
METROLGICAS ESTTICAS
Neste captulo so apresentados os modelos das caractersticas estticas descritas no
Captulo 2. Cada caracterstica modelada separadamente. Os modelos das caractersticas
aqui desenvolvidos serviro de ferramenta para a implementao de modelos de diferentes
instrumentos de medio, de forma modular.
Exemplos da integrao desses mdulos so mostrados nos instrumentos modelados
no Captulo 5.
4.1 SENSIBILIDADE
Para um instrumento em que a sada Y est relacionada entrada X pela equao
y=f(x), o modelo da sensibilidade a prpria caracterstica de resposta nominal do
instrumento, conforme Figura 4.1.

Legenda:
f(x)

- Caracterstica de resposta nominal do instrumento
X

- Entrada (mensurando)
Y

- Sada

Figura 4.1 Modelo da sensibilidade
Captulo 4: MODELO DAS CARACTERSTICAS METROLGICAS ESTTICAS
44
Esse modelo exemplificado no Captulo 5 na implementao do modelo do termistor
e termorresitor.
Para sistemas com resposta linear a sensibilidade constante, e representada pela
Equao 4.3:
f(x) = a.X (4.1)
onde: a sensibilidade;
X mensurando;
No caso do amplificador de instrumentao modelado no Captulo 5, a sensibilidade
o prprio ganho do amplificador.
usual encontrarmos a especificao da sensibilidade de um transdutor relacionada
tenso de alimentao [1] [2] [22]. Para esses instrumentos o modelo da sensibilidade dado
por:
Y = (a /X
F
).V
al
.X (4.2)
onde: a sensibilidade [mV/V];
X mensurando [unidade de X];
X
F
valor fiducial do mensurando [unidade de X];
V
al
tenso de alimentao [V];
Y sada [mV].
Os fabricantes que adotam uma tenso de alimentao tpica para seus transdutores, o
fazem para todas as especificaes apresentadas na folha de dados do instrumento.
4.2 LINEARIDADE
A linearidade de um instrumento um parmetro que varia com o mensurando.
Embora seja uma caracterstica sistemtica, o valor do erro de linearidade uma funo do
mensurando. Para implement-la necessrio conhecer o comportamento da curva de
linearidade. Como no so apresentados dados relativos ao comportamento dessa funo na
faixa nominal do instrumento, procurou-se analisar dados de calibrao de transdutores de
presso, e verificou-se que a curva tem variaes suaves.
Portanto foi adotado como modelo da linearidade uma funo do mensurando, cuja
curva tem um comportamento suave, e delimitada pelos valores mximos do erro de
linearidade fornecido pelo fabricante (E
L
).
45
Essa implementao pode ser feita de diferentes formas, entretanto uma sugesto
bastante simples a implementao da funo mostrada na Equao 4.3:

)) ( sen( . E f E S
L
= (4.3)
onde:
E
L
mximo erro de linearidade;
f(E) funo a ser definida.

Uma anlise de curvas de calibrao e o conhecimento de detalhes construtivos do
instrumento certamente ajudaro na definio da funo f(E). A Figura 4.2 mostra o modelo
proposto para a linearidade, onde se deve considerar que:

a funo f(E) deve gerar uma curva suave delimitada pelos limites mximos do erro
de linearidade. Embora os fabricantes no forneam dados relativos ao comportamento
da curva de linearidade, esse dado pode ser verificado atravs de anlise do
comportamento dos dados de calibrao do instrumento;

essa funo deve gerar uma curva intrnseca para cada instrumento;

a funo f(E) tem seus coeficientes escolhidos aleatoriamente de forma que, para cada
instrumento so gerados diferentes valores para os coeficientes da funo. Assim
sendo cada instrumento de um lote ter uma funo de linearidade diferente. Os
coeficientes devem ter seus valores escolhidos de modo a manter a suavidade da
curva;

a funo seno foi escolhida apenas para delimitar o valor da f(E) entre o valor de 1 a
+1, entretanto a linearidade no tem um comportamento senoidal, sendo necessrio
tomar intervalos de variao inferiores a um perodo da funo seno;

a funo sen(f(E)) ao ser multiplicada pelo erro de linearidade E
L
, simula os limites
de variao da funo de acordo com os dados do fabricante.
46

Legenda:
A
1
,A
2
,...A
n
- Coeficientes da funo f(E)
A
1i
,A
2i
,...A
ni
- Coeficientes gerados da funo f(E)
E
L
- Erro mximo de linearidade
E - Entrada
NT

- Distribuio normal truncada
f(E) - Funo a ser definida
S

- Sada
sen(f(E))

- Seno da funo f(E)

Figura 4.2 Modelo proposto para a linearidade

Como sugesto apresentado o modelo da Figura 4.3, desenvolvido para simular o
erro de linearidade do transdutor de presso da HBM, modelo 1-P3MB/500 bar.
Nesse caso:
a funo f(E) um polinmio de quinto grau, f(E)=A
1
.E
5
+A
2
.E
3
+A
3
.E
2
+A
4
.E+A
5
;

os coeficientes da funo f(E) so escolhidos aleatoriamente atravs de distribuies
normais, possibilitando a seleo de uma funo para cada instrumento. As
distribuies tm mdia u=0 e o desvio padro para cada coeficiente dado por:
A
=E
L
/3,3 ,
B
=0,03 ,
C
=0,15 ,
D
=0,5 e
G
=0,5 ;

Selecionando-se os coeficientes da funo f(E) adequadamente, pode-se gerar curvas
de comportamento suave.
47

Legenda:
A
1
,A
2
,A
3,
A
4
,A
5
- Constantes
E
L
- Erro de linearidade
E - Entrada
NT

- Distribuio normal truncada
S

- Sada
sen(f(E))

- Seno da funo f(E)

Figura 4.3 Modelo da linearidade do transdutor de presso modelo 1-P3MB da HBM

As curvas obtidas da implementao desse modelo so mostradas na Figura 4.4, e os
coeficientes da funo gerados aleatoriamente so:

f(E)=A
1
.E
5
+A
2
.E
3
+A
3
.E
2
+A
4
.E+A
5

Curvas Coeficientes
C
1
C
2
C
3
A
1
-1,060E-1 1,023E0 5,272E-1
A
2
-7,224E-1 -1,531E0 -2,852E-1
A
3
2.298E0 -3,274E-1 -2,721E0
A
4
8,669E-2 -4,319E-2 1,429E-3
A
5
-1,938E-1 1,735E-1 -1,498E-1

48

Legenda:
C
1
- Curva 1 de linearidade
C
2
C
3
E
L
- Erro mximo de linearidade

Figura 4.4 Curvas de linearidade gerada pelo modelo da Figura 4.3

comum encontrar-se especificaes nas quais os dados do fabricante so
representativos da linearidade e histerese, ou histerese e repetitividade, assim como a
apresentao de um erro combinado de linearidade, histerese e repetitividade.
4.3 HISTERESE
A histerese um parmetro que no se pode modelar apenas com as especificaes do
fabricante.
A literatura apresenta vrios estudos relativos ao comportamento da histerese em
materiais ferromagnticos, inclusive pode-se encontrar alguns programas para a simulao
deste comportamento [90]. Entretanto, para instrumentos de medio, a abordagem desse
assunto restringe-se ao dado fornecido para a histerese relativa faixa nominal do
instrumento, e nada se encontrou com relao a uma anlise sistemtica do comportamento da
histerese para instrumentos com diferentes princpios de funcionamento.
A falta de informaes motivou a pesquisa de dados de calibrao de instrumentos,
como manmetros e transdutores de presso, para que se pudesse sistematizar os dados para a
49
modelagem. Foram analisados certificados de calibrao de um lote de manmetros do
mesmo modelo e faixa nominal, e transdutores de presso da HBM, cujo modelo
apresentado no Captulo 5. Desta anlise pode-se concluir:

a histerese uma caracterstica que apresenta diferentes comportamentos, dependendo
do princpio de funcionamento do instrumento;

uma caracterstica sistemtica e o modelo deve gerar uma curva para cada
instrumento de um lote deles;

o valor correspondente a um mensurando na curva descendente sempre maior que o
valor correspondente ao mesmo mensurando na curva ascendente;

nada se pode dizer com relao aos valores assumidos pela histerese ao longo da faixa
nominal do instrumento, considerando apenas a especificao do fabricante (item
2.1.3);

entretanto, se for possvel obter dados de calibrao do instrumento referente a vrios
ciclos de carregamento, pode-se conhecer o comportamento da histerese pois:

SUBIDA DESCIDA H
Y Y E = (4.4)
onde:
Y
DESCIDA
mdia das indicaes na descida;
Y
SUBIDA
mdia das indicaes na subida.

de acordo com a norma ASME B40.1-1991 e a ASME B40.2-1991, o valor da
histerese menor se a faixa de medio for inferior faixa nominal do instrumento.
Sugere-se aproximar a histerese parcial relativa a um dado deslocamento do
mensurando, proporcionalmente histerese especificada pelo fabricante (relativa
faixa nominal) por:

50

FN
D . E
E
H
H
P
= (4.5)
onde:
E
Hp
erro de histerese parcial;
E
H
erro de histerese;
D deslocamento do mensurando;
FN faixa nominal do instrumento.

o ponto de chegada da curva descendente no coincide com o ponto de partida da
curva ascendente, e maior em valor. Entretanto no foi possvel fixar limites de
variao para instrumentos em geral.

Para a simulao da histerese de um instrumento real so necessrios dados referentes
histerese de ciclos de carregamento parciais, que normalmente no so apresentadas em
certificados de calibrao.
Entretanto para fins didticos, assumiu-se neste trabalho ser possvel representar o
comportamento da histerese de forma simplificada, considerando o valor do erro de histerese
proporcional no s a faixa nominal do instrumento como tambm ao deslocamento efetuado,
de acordo com a Equao 4.5.
Concluindo, no se pode a partir da anlise realizada, propor um modelo geral da
histerese que seja representativo do comportamento de diferentes instrumentos. Entretanto
sugere-se que o modelo seja implementado de acordo com os dados do certificado de
calibrao do instrumento e levando-se em conta as informaes apresentadas anteriormente.
O modelo deve simular a curva descendente a partir da curva ascendente,
considerando a histerese mxima e a variao da histerese para cada mensurando conforme
curva de calibrao.
4.4 REPETITIVIDADE
A repetitividade uma caracterstica aleatria. De acordo com a definio adotada no
item 2.1.4, o modelo da repetitividade deve gerar nmeros aleatrios dentro de uma faixa de
valores especificada, e com uma dada probabilidade.
O modelo proposto para a repetitividade uma distribuio normal com mdia u=0 e
51
truncada nos pontos de E
R
, correspondente a n. (Figura 4.5). O valor de truncamento E
R
,
corresponde faixa de valores especificada pelo fabricante como erro de repetitividade. O
valor de n refere-se ao nvel de confiana atribudo repetitividade especificada pelo
fabricante, e o desvio padro. Entretanto esse valor no usualmente apresentado na folha
de dados.

Legenda:
E
R
- Mximo erro de repetitividade especificado
E
Ri
- Erro de repetitividade gerado
f(x) - Funo densidade de probabilidade de x
x - Varivel aleatria

Figura 4.5 Modelo proposto para a repetitividade

Adotou-se neste trabalho o valor de truncamento da normal correspondente a 3,3,
equivalente a um nvel de confiana 99,9 %.
A repetitividade uma caracterstica que varia de acordo com o mensurando. Embora
neste trabalho a repetitividade esteja sendo considerada constante ao longo da faixa nominal
do instrumento, prope-se a implementao de uma funo que simule variaes ao longo da
faixa nominal do instrumento.
Esta funo poderia ser semelhante a implementada para a linearidade, conforme
Figura 4.2.
Quando se tem especificaes relativas repetitividade e tambm ao rudo de um
instrumento, adotou-se neste trabalho modelar apenas a repetitividade.

52
4.5 TENDNCIA
A tendncia uma caracterstica sistemtica e dada pela Equao 2.3. Entretanto um
parmetro que usualmente no aparece nas especificaes do fabricante. Considerando que o
objetivo principal deste trabalho modelar a partir das especificaes, a tendncia no
aparece na modelagem dos instrumentos apresentados no Captulo 5. Entretanto, uma
caracterstica encontrada em certificados de calibrao de instrumentos, e pode ter um valor
positivo ou negativo. A Equao 4.6 prope uma funo para a modelagem a partir de dados
de calibrao. Assim a tendncia do instrumento seria modelada por um valor constante
somado ou subtrado para cada valor do mensurando, ao longo da faixa nominal do
instrumento.

Y= f(x) + T
d
(x) (4.6)
onde:
f(x) caracterstica de reposta;
T
d
(x) tendncia;
Y sada.

Usando a modelagem atravs de dados de calibrao, necessrio tambm se analisar
os demais erros do instrumento com os quais a tendncia est relacionada, como por exemplo
o erro de linearidade e o erro de zero.
4.6 AUTO-AQUECIMENTO
O auto-aquecimento uma fonte de erro cujo modelo deve ser analisado caso a caso.
Para o termistor e o termorresistor modelado conforme Equao 2.4. Nesse caso,
deve-se especificar a constante de dissipao do transdutor de acordo com o meio em que
ser utilizado, e sua corrente de alimentao. No modelo da Figura 4.6, a sigla EXP refere-
se as informaes que so obtidas do experimento em que o modelo for empregado.

53

Legenda:
- Constante de dissipao
T - Variao de temperatura
EXP - Indica informao obtida do experimento em que o modelo for empregado
I - Corrente
R - Resistncia

Figura 4.6 Modelo do auto-aquecimento

Para o extensmetro de resistncia, por exemplo, o auto-aquecimento provoca uma
variao da resistncia do extensmetro.
4.7 RUDO
Independente da forma de como o rudo especificado, adotou-se neste trabalho, para
efeito de modelagem, a subdiviso em rudo branco e rudo flicker.
De acordo com o mencionado no item 2.1.7, o rudo branco predominante para a
faixa de freqncia acima de 100 Hz e o rudo flicker para a faixa inferior a 100 Hz.

a) Rudo branco
O modelo adotado neste trabalho para o rudo branco apresentado na Figura 4.7.
Nesse modelo, o valor da tenso do rudo branco dado pela Equao 2.7, entretanto seu
valor instantneo somente pode ser definido em termos de probabilidade. A amplitude
instantnea do rudo branco tem uma distribuio normal, com mdia u=0 e valor dado pela
Equao 2.7 [8]. A funo densidade de probabilidade do rudo mostrada na Figura 4.8.

54

Legenda:
e
n
- Densidade espectral de rudo
f
H
- Limite superior de freqncia
f
L
- Limite inferior de freqncia
V
Rrms
- Valor rms calculado da tenso de rudo
V
Ri
- Valor gerado da tenso de rudo

Figura 4.7 Modelo do rudo branco

Legenda:
p(v)

- Densidade de probabilidade da tenso de rudo

- Desvio padro
V

- Valor da tenso de rudo
V
rms
- Valor rms da tenso de rudo
V
p
- Valor da tenso de pico do rudo

Figura 4.8 Funo densidade de probabilidade do rudo
55
No modelo proposto, a distribuio normal tem desvio padro igual ao valor da tenso
eficaz do rudo e truncada nos pontos de V
p
=3,3.
Se a normal no for truncada, pode-se ter picos de rudo com valores muito alto.
Embora os valores mais provveis estejam prximos da mdia u=0, o truncamento feito em
V
p
=3,3., correspondente ao nvel de confiana de 99,9%, adotado neste trabalho [8].

Rudo Trmico
O valor eficaz da tenso de rudo trmico dado pela Equao 2.8, entretanto seu
valor instantneo somente pode ser definido em termos de probabilidade. Assim sendo, a
amplitude instantnea do rudo trmico modelada por uma distribuio normal com
caractersticas idnticas ao do rudo branco, e funo densidade de probabilidade com desvio
padro igual ao valor eficaz da tenso de rudo.
A Figura 4.9 mostra o modelo implementado para o rudo trmico.

Legenda:
B - Largura de banda
EXP - Experimento
K - Constante de Boltzmann
R - Resistncia
T - Temperatura
Vt - Tenso de rudo trmico
Vt
i
- Tenso de rudo trmico gerado

Figura 4.9 Modelo do rudo trmico

56
O modelo foi testado para as condies: resistncia de 5 k; temperatura de 25C;
largura de banda de 100 Hz. Como resultado a Figura 4.10 mostra o rudo trmico gerado em
funo do nmero de amostras. Pode-se observar que os picos de rudo foram truncados nos
limites escolhidos (3,3 ).

Legenda: - Desvio padro

Figura 4.10 Rudo trmico em funo do nmero de amostras

b) Rudo Flicker (1/f)
O valor do rudo flicker dado pela Equao 2.10, entretanto seu valor instantneo
tambm s pode ser definido em termos de probabilidade. A amplitude instantnea do rudo
flicker tem a mesma forma mostrada para o rudo branco, conforme Figura 4.8.
O valor de Ke no modelo da Figura 4.11, calculado pela Equao 2.9 para a
freqncia de 1 Hz, ou tomado da folha de dados do instrumento, exemplificado pela
Figura 2.5.

57

Legenda:
f
H
- Limite superior de freqncia
f
L
- Limite inferior de freqncia
K
e
- Valor da densidade espectral de rudo para 1 Hz
V
Ri
- Valor da tenso de rudo gerado
V
Rrms
- Valor da tenso rms de rudo

Figura 4.11 Modelo do rudo flicker
4.8 TENSO DE OFFSET
A tenso de offset um parmetro que pode ter variao tanto positiva como negativa.
um parmetro usualmente fornecido em certificados de calibrao do instrumento.
Quando no se tem a calibrao, o valor da tenso de offset de um instrumento pode ser
escolhido de uma distribuio normal de probabilidade cujos valores da mdia e dos limites
de truncamento dependem da forma de especificao do fabricante, apresentadas no item
2.1.8.
No caso do transdutor de presso (Tabela 5.4), o fabricante RS apresenta valores
mnimo, tpico e mximo. Assim sendo, o modelo uma distribuio normal com mdia igual
ao valor tpico, e truncada nos pontos de mnimo e mximo estabelecido pelo fabricante.
Entretanto a especificao mais usual para tenso de offset dada pelos limites
mnimo e mximo. o caso do transdutor de presso da Endevco (Tabela 5.4), e do
amplificador de instrumentao (Tabela 5.5).
Esse tipo de especificao modelada conforme Figura 4.12, sendo que o primeiro
passo estabelecer o sentido de variao do parmetro. Quando positivo, o limite superior de
truncamento o valor mximo fornecido pelo fabricante, e a mdia estimada igual metade
58
do valor mximo.
Se o parmetro tiver uma variao negativa, o limite inferior de truncamento o valor
mnimo fornecido pelo fabricante, e a mdia estimada igual ao dobro do valor mnimo.
O valor estimado para a mdia, como sendo igual metade do limite superior para
variao positiva, e igual ao dobro do limite inferior para variao negativa, foi adotada com
base na anlise das especificaes de outros fabricantes que apresentam o valor mnimo,
tpico e mximo para esse dado. Exemplos podem ser vistos na Tabela 5.5, para tenso de
offset na entrada e na sada (National) e corrente de bias (Burr-Brown).

Legenda:
V
mx
- Valor mximo de tenso especificado
V
min
- Valor mnimo de tenso especificado
V

- Tenso de offset especificada
V
i
- Tenso de offset gerada

Figura 4.12 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da tenso de offset,
corrente de bias e corrente de offset

Todavia, essa atribuio adotada no pode ser considerada como uma regra e foi usada
neste trabalho por falta de informaes do fabricante. Sempre que se obtiver informaes do
fabricante que melhor representem o comportamento metrolgico do instrumento, estas
atribuies devem ser revistas.
59
Vale salientar que, quando a especificao fornecida de forma mais completa, isto
mostrando valores tpico e mximo, ou mnimo e tpico, no h necessidade de se estimar a
mdia como apresentado anteriormente.
A Tabela 3.2 mostra os critrios que foram adotados para essas especificaes.
4.9 CORRENTE DE BIAS
O valor da corrente de bias determinado pelo projeto do circuito interno do
instrumento, podendo ser tanto positiva como negativa. Sua especificao apresentada da
mesma forma que a tenso de offset, tendo portanto o mesmo modelo (Figura 4.12).
4.10 CORRENTE DE OFFSET
O modelo proposto para a corrente de offset o mesmo desenvolvido para a tenso de
offset e corrente de bias, conforme Figura 4.12.
Da anlise comparativa da Tabela 5.5, verifica-se que os dados da corrente de offset e
de bias fornecidos pelos fabricantes Burr-Brown e National mostram valores tpico e
mximo. Exemplificando, a especificao da Burr-Brown para a corrente de offset valor
tpico 2,5 nA, e valor mximo 15 nA. Portanto o modelo proposto o mesmo da
Figura 4.12, onde para variao positiva a distribuio normal tem mdia u= +2,5 nA e
truncada no limite superior V
mx
= +15 nA, cujo truncamento corresponde a 3,3. Da mesma
forma, se a variao for negativa, tem-se a mdia u= -2,5 nA e truncada no limite inferior
V
mn
= -15 nA, cujo truncamento corresponde a 3,3.
4.11 DERIVA TRMICA
A deriva trmica um parmetro especificado por uma faixa de valores compreendida
entre os limites mnimo e mximo. A forma mais usual de apresentao da deriva trmica :
valor mximo de x %/C. O modelo proposto (Figura 4.13) semelhante ao da tenso de
offset, onde primeiro escolhe-se o sentido de variao do parmetro. Uma vez escolhido o
valor intrnseco da deriva trmica do instrumento, este valor ser usado no modelo do
instrumento como fator de compensao devido a variaes de temperatura. O fator de
compensao calculado multiplicando-se a variao de temperatura ambiente em relao
temperatura de referncia, para a qual os dados do fabricante so especificados.
60
comum encontrar-se dados como deriva trmica da sensibilidade, do ganho, da
tenso de offset, e da corrente de bias e offset, exemplificados nos modelos do transdutor de
presso e do amplificador (5.3.3 e 5.4.3) apresentados no Captulo 5.

Legenda:
T - Variao da T
amb
em relao T
ref

EXP Indica informao obtida do experimento em que o modelo for empregado
T
amb
- Temperatura ambiente
T
ref
- Temperatura de referncia dos dados
X
mx
- Valor mximo da deriva trmica
X
min
- Valor mnimo da deriva trmica
X
i
- Deriva trmica gerada
X

- Deriva trmica especificada
X
S
- Valor do erro devido deriva trmica

Figura 4.13 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da deriva trmica

O modelo apresentado acima contempla a grande maioria das especificaes dos
instrumentos (Tabela 5.4 e Tabela 5.5). Entretanto alguns fabricantes apresentam para a
deriva trmica um valor mximo de variao do parmetro (mximo de x mV) para uma
dada faixa de temperatura. Exemplo desse tipo de especificao pode ser visto na Tabela 5.4,
onde o fabricante RS especifica a deriva trmica mxima de 1 mV para a faixa de
61
temperatura de (0 a +50)C.
Neste caso, sugere-se usar o Mtodo da Borboleta (Butterfly Method) [24] [39],
para modelagem do parmetro. Esse mtodo determina a variao da temperatura atravs da
estipulao de trs (ou mais) pontos de medio, geralmente a 25C e nos extremos da faixa
de temperatura [24] [39] especificada.
4.12 RAZO DE REJEIO DE MODO COMUM
A razo de rejeio de modo comum especificada usualmente por um valor mnimo.
Esse dado significa que a capacidade de rejeio do instrumento no mnimo igual ao valor
da RRMC em decibel (dB).
Portanto, esse parmetro tem uma caracterstica sistemtica, devendo o modelo
selecionar um valor intrnseco para cada instrumento. No modelo proposto da Figura 4.14, o
valor da RRMC escolhido de uma distribuio normal com o limite inferior igual ao valor
mnimo especificado (convertido para valor absoluto) e a mdia um valor a ser estimado
(valor absoluto), conforme critrio selecionado da Tabela 3.2.

Legenda:
EXP - Experimento
G - Ganho
RRMC

- Razo de rejeio de modo comum
RRMC
i
- Razo de rejeio de modo comum gerado
V
MC
- Tenso de modo comum
G - Ganho

Figura 4.14 Mtodo de criao dos parmetros caractersticos da RRMC
62
Para se estimar o valor da RRMC sugere-se uma consulta ao fabricante, ou a anlise
das especificaes de outros fabricantes que fornecem valores mnimos e tpicos (Tabela 5.5).
Exemplificando, no caso do amplificador da Analog Devices fornecido um valor
mnimo de 70 dB, e estimou-se para a mdia um valor de 82 dB. Essa estimativa tem base nas
especificaes da Burr Brown onde atribudo um valor mnimo de 80 dB, e um valor tpico
de 94 dB (Tabela 5.5). O resultado da implementao do modelo da RRMC para o
amplificador da Analog Devices mostrado na Figura 4.14.
O valor intrnseco da RRMC escolhido para cada instrumento, usado na
Equao 2.12 para se calcular a variao da tenso de sada.
A modelagem da RRMC como funo da freqncia do sinal de entrada tratada na
referncia [78].
4.13 ERRO MXIMO ADMISSVEL
O erro mximo um parmetro que s modelado quando no se tem informaes
sobre os parmetros sistemticos e aleatrios do instrumento. O modelo proposto para essa
caracterstica uma distribuio retangular conforme Figura 4.15.

Legenda:
E
mx
- Erro mximo
E
mx i
- Erro mximo gerado
f(x) - Funo densidade de probabilidade de x
u - Mdia
X - Varivel aleatria

Figura 4.15 Modelo do erro mximo

Caso haja informaes sobre as caractersticas sistemticas e aleatrias do
instrumento, essas prevalecem em relao ao modelo do erro mximo.

Captulo 5
INSTRUMENTOS MODELADOS NESTE
TRABALHO
A ttulo de ilustrao da estrutura geral desenvolvida para modelar um instrumento de
medio foram implementados modelos de quatro instrumentos: termistor, termorresistor,
transdutor de presso e amplificador de instrumentao.
apresentado para cada instrumento:
uma breve caracterizao do instrumento baseada na sua caracterstica de reposta
nominal;
consideraes acerca de normas e outros documentos tcnicos relacionados ao
instrumento;
as especificaes fornecidas por diferentes fabricantes selecionados;
o modelo desenvolvido para um tipo especfico;
recomendaes para implementao de modelos a partir de diferentes formas de
especificao de uma mesma caracterstica;
anlise do modelo.
Os modelos implementados so particularizados para o instrumento de um
determinado fabricante, isto , foram parametrizados com valores tpicos de um tipo de
instrumento. Entretanto, apresentada a especificao de trs fabricantes visando a ilustrao
das diferentes formas de apresentao das especificaes. A seleo dos fabricantes foi feita
considerando aqueles que apresentam as especificaes da forma mais completa e
diferenciada dentre os fabricantes com maior renome internacional.
Captulo 5: INSTRUMENTOS MODELADOS NESTE TRABALHO
64
Embora o modelo tenha sido desenvolvido para um instrumento especfico, procurou-
se comparar os dados e recomendar alteraes no modelo apresentado, visando possibilitar a
modelagem futura dos instrumentos dos demais fabricantes.
5.1 TERMISTOR
5.1.1 Caractersticas do Termistor
Termistores so resistores sensveis temperatura compostos por ligas de xidos de
nquel, mangans e outros metais, sinterizados a temperaturas acima de 1000C [13]. Os
termistores podem ser classificados em duas categorias: termistores com coeficiente de
temperatura positivo (positive resistance temperature coefficient - PTC) e termistores com
coeficientes de temperatura negativo (negative resistance temperature coefficient - NTC),
sendo quase que exclusivamente os NTC utilizados para termometria [13] [39].
So geralmente empregados na faixa de medio de (-50 a 150)C sendo usual que se
consiga incertezas da ordem de 1C para essa faixa.
Entretanto, os termistores apresentam uma alta no linearidade, com grande
dependncia dos parmetros do processo de fabricao, o que dificulta o estabelecimento de
padres para tolerncia e para erro de intercambialidade. No foram identificadas normas
aplicveis, como ocorre com termopares e com termorresistores.
A caracterstica de resposta de um termistor NTC dada por [55]:
| | | |
n
n
R A R A R A A
T
) ln( . ... ) ln( . ) ln( .
1
2
2 1 0
+ + + + = (5.1)

m
m
3
3
2
2 1
0
T
B
...
T
B
T
B
T
B
B ) R ln( + + + + + = (5.2)
onde: T temperatura (K);
R resistncia do termistor ();
A
0
,...,A
n
e B
0
,...,B
m
constantes de ajuste da curva.
As constantes de ajuste da curva so obtidas atravs de regresso de n pontos de
temperatura e resistncia [55].
Na prtica as equaes acima podem ser aproximadas pelas equaes de Steinhart-
Hart [21]:
65

3
)] .[ln( ) ln( .
1
R c R b a
T
+ + = (5.3)
onde: T temperatura (K);
R resistncia do termistor ();
a,b,c constantes caractersticas do termistor a serem determinadas.
As constantes so determinadas pela resoluo de um sistema de trs equaes, gerado
a partir de trs pontos selecionados, de resistncia e de temperatura do termistor [21].
O erro de interpolao introduzido pela aproximao da Equao 5.3 no excede
0,003C para uma faixa de temperatura de 50C tomada entre (0 a +260)C; e no excede
0,02C para uma faixa de temperatura de 50C tomada entre (-80 a 0)C [55].
A Figura 5.1 apresenta as curvas caracterstica de trs materiais comumente usados na
fabricao de termistores, onde relacionado o logaritmo da resistncia nominal em relao
resistncia a 25C, versus o inverso da temperatura absoluta. A relao entre a resistncia e
temperatura para esses materiais so especificados na norma MIL-PRF-23648 [55].

Figura 5.1 Curva caracterstica de um termistor

Alguns fabricantes [54] [57] apresentam suas especificaes em relao constante
do material do termistor (), relacionada pela equao [54]:
]
T . T
) T T (
.[ R R
0
0
0 T

=

(5.4)
66
onde: R
T
resistncia do termistor ();
R
0
resistncia nominal do termistor, usualmente especificada a 25C ();
constante do material do termistor (K);
T
0
temperatura (K);
T temperatura de referncia (K).
Entretanto, a Equao 5.4 vlida para qualquer faixa de temperatura especificada,
em que a inclinao da curva caracterstica do termistor, aproxima-se de uma reta. Usando-se
a Equao 5.4 para temperaturas acima de 0C tem-se uma incerteza de 0,3C para uma faixa
de temperatura de 50C, e uma incerteza de 0,04C para uma faixa de temperatura de 20C
[55].
As principais fontes de incerteza na medio com termistor so: erro mximo entre
transdutores ou erro de intercambialidade, erro devido a equao de ajuste de no linearidade,
auto aquecimento, e rudo trmico [39] [96].
5.1.2 Especificaes de Fabricantes
A Tabela 5.1 apresenta a especificao dos trs fabricantes de termistores
selecionados dentre: Omega [47], Thermometrics [54], Honeywell [45], Quality [56],
Ametherm [57] e U.S. Sensor [59].
Da anlise e comparao dessas especificaes, verifica-se que o fabricante Omega
apresenta a caracterstica de resposta de seus termistores atravs de uma tabela, relacionando
diretamente a resistncia do termistor com a temperatura para toda a faixa de medio, e para
variaes de 1C. Neste caso, no foi dada a constante do material do termistor (), pois
apresentada uma tabela para cada tipo de termistor fabricado. A Omega sugere em seu
catlogo [47] o uso da Equao 5.3, como boa aproximao para os dados da tabela, sem
mencionar o erro devido a esse ajuste.
A Thermometrics e a Ametherm tambm apresentam a caracterstica de resposta
atravs de uma tabela, embora relacionando R
T
/R
0
temperatura, para toda a faixa de
medio, com intervalos de 5C e de 10C, respectivamente. As especificaes dessa tabela
so relacionadas ao tipo de material do termistor. A cada tipo de material do termistor est
associado um parmetro , conforme Equao 5.4.
Os fabricantes Omega e Thermometrics apresentam o valor atribudo para a constante
67
de tempo do termistor tanto no ar como no leo, embora somente a Omega atribua um valor
mximo para o dado. J a especificao da Ametherm no estabelece se o valor mximo ou
tpico, nem as condies de contorno de utilizao do transdutor que se referem constante
de tempo apresentada.
Os fabricantes especificam que seus termistores possuem alta estabilidade no tempo,
embora somente a Omega tenha fornecido dados relativos deriva trmica no tempo.

Tabela 5.1 Especificaes de fabricantes de termistores
FABRICANTE OMEGA AMETHERM THERMOMETRICS
MODELO 44007 NT03 50291 TK95F302W
Tipo

Encapsulado com
resina epoxy
Encapsulado com
silicone
Encapsulado com
resina epoxy
Resistncia Nominal
(25C)

5 k 5 k 3 k
Tolerncia da
Temperatura (
1
)
Temperatura: 0,2C
Resistncia: 2%
(0 a +75)C
5%
(-40 a +150)C
0,2C
(0 a +100)C
Beta

3950 K (curva L) (
2
) curva F (
3
)
Faixa nominal (-80 a +150)C (-40 a +150)C (0 a +100)C
Faixa de operao 150C (-40 a +150)C (-80 a +150)C
Constante de tempo

10 s mx (ar parado)
25 s mx (ar parado, teflon)
1 s mx (leo)
2,5 s mx (leo, teflon)
10 s
10 s (ar)
10 s (leo)
Constante de
dissipao
1 mW/C (ar parado)
8 mW/C (leo)
3,5 mW/C
1 mW/C (ar parado)
8 mW/C (leo)
Deriva trmica no
tempo
0C

25C

100C

150C

10 meses 100 meses

< 0,01C < 0,01C
< 0,01C 0,02C
0,2C 0,32C
1,5C NA
alta estabilidade

(
1
) Tolerncia erro mximo ou intercambialidade do termistor a menos que seja feita calibrao.
(
2
) Constante do material do termistor a 25C, e curva do termistor associada a esse material.
(
3
) Curva especificada pelo fabricante de acordo com o valor da constante do material do termistor.
5.1.3 Modelo do Termistor
O instrumento modelado na Figura 5.2 o termistor 44007 do fabricante Omega,
escolhido por apresentar como caracterstica de resposta, uma tabela para variaes de
temperatura de 1C, enquanto os outros apresentaram-na para variaes de 5C e 10C. Alm
disso, tambm por ser um instrumento disponvel no Labmetro para futuras comparaes
entre o comportamento do modelo e do instrumento real.
68
Um dado considerado relevante na generalizao do modelo que a curva de
tolerncia apresentada para toda a faixa nominal do instrumento, de acordo com a
Figura 5.3, enquanto os outros fabricantes forneceram apenas um valor para toda a faixa
nominal do instrumento.
O modelo do termistor mostrado na Figura 5.2, tem como entrada o mensurando
temperatura (T
M
), e como sada a resistncia equivalente a tal temperatura (R
T
). Para facilitar
a aplicao do modelo na simulao de experimentos reais, o modelo do termistor incorpora
uma entrada para a corrente de alimentao (I) e uma sada em tenso (V
S
).

Legenda:
T - Variao de temperatura (C) R

- Resistncia ()
- Constante de dissipao (mW/K) R
T
- Resistncia do termistor temperatura T
M
()

- Constante de tempo especificada (s) T - Temperatura (C)
i
- Constante de tempo escolhida (s) T
ol
- Tolerncia especificada pelo fabricante (C)
B - Largura de banda (Hz) T
M
- Temperatura a medir (mensurando) (C)
NT - Distribuio Normal Truncada T
ol i
- Tolerncia escolhida para o modelo (C)
CR
n
- Caracterstica de resposta nominal T
S
- Temperatura do sensor (C)
EXP - Experimento U - Distribuio U
I - Corrente de alimentao (A) V
S
- Tenso de sada (V)
K - Constante de Boltzmann [1,38 x

10
-23
J/K]

Figura 5.2 Modelo do termistor Omega 44007

69
Tem-se ainda na entrada os parmetros sistemticos, como a constante de tempo e a
tolerncia do termistor, e dados que devero ser fornecidos quando da utilizao do
instrumento em um experimento: constante de dissipao () e largura de banda (B). De
acordo com o modelo geral proposto no item 3.1, Figura 3.1, esses parmetros esto
identificados no modelo com a sigla EXP.
Conforme a Figura 5.2 o modelo implementado atravs da caracterstica de resposta
nominal do termistor (mdulo 3), do modelo da tolerncia (mdulo 2), do modelo dinmico
(mdulo 1) e das fontes de erro relativas ao auto-aquecimento (mdulo 4) e rudo trmico
(mdulo 5).
O modelo dinmico simula a constante de tempo do termistor atravs de um sistema
de primeira ordem, modelado na referncia [78].
Apresenta-se a seguir os detalhes da implementao de cada parmetro.
Tolerncia (ou intercambialidade) um limite para afastamento da CR
n
de
diferentes termistores. A cada temperatura de entrada do modelo corresponde uma tolerncia,
que deve estar dentro dos limites estabelecidos escolhidos para a tolerncia.
A curva de tolerncia, ou intercambialidade, apresentada pelo fabricante Omega
conforme Figura 5.3, especifica o erro mximo da resistncia e da temperatura para os
termistores 44005 e 44007.

Figura 5.3 Tolerncia do termistor modelos 44005 e 44007 fabricante Omega [47]
70
Esses erros so expressos como percentual da resistncia e erro mximo de
intercambialidade em funo da temperatura. Observa-se que a tolerncia constante para a
faixa de (0 a 75)C e igual a 0,2C. O modelo foi implementado para essa faixa de
temperatura, devendo ser considerados os dados da curva, para a implementao fora dessa
faixa de medio.
Para a criao de um valor especfico de tolerncia para cada instrumento gerado pelo
modelo (Figura 5.2), a tolerncia do termistor escolhida de uma distribuio U, representada
por U na coluna CRIA do modelo. Como no existem informaes a respeito do tipo de
distribuio que melhor representa os dados de tolerncia, prope-se a utilizao de uma
distribuio U truncada nos valores T
ol
, objetivando que os valores da tolerncia tenham
maior probabilidade de ocorrncia, prximo dos limites mximos especificados pelo
fabricante.
Desta distribuio escolhido um valor nominal para cada instrumento de um lote de
instrumentos a ser modelado. O valor escolhido, representado no modelo por T
ol i
, estabelece
os limites mximos para a tolerncia.
Outras distribuies podero ser empregadas em situaes especficas. Por exemplo,
pretendendo-se considerar igual probabilidade de ocorrncia em toda a faixa especificada
para a tolerncia, a distribuio retangular, com a = T
ol
a mais adequada (Tabela 3.1).
Como para cada temperatura do mensurando corresponde um valor de tolerncia, o
mdulo 2 implementa esta caracterstica atravs de uma funo polinomial, implementada da
mesma forma que a funo de linearidade (item 4.2).

Caracterstica de resposta nominal (CR
n
) foi implementada pela tabela de
variao da resistncia com a temperatura para variaes de 1C, fornecida pelo fabricante
Omega na referncia [21], para a faixa de medio de (0 a 75)C.
Entretanto, os demais fabricantes considerados na Tabela 5.1 apresentam a tabela de
caracterstica de resposta nominal para intervalos maiores (5C e 10C). Nesses casos sugere-
se implementar a CR
n
atravs da Equao 5.2, onde as constantes da equao so
determinadas pela seleo de pontos de resistncia e de temperatura da curva de caracterstica
de resposta do instrumento. Desta forma obtm-se uma melhor aproximao na
implementao do modelo, se comparado com a forma adotada para o modelo da CR
n
do
71
termistor da Omega.

Auto-aquecimento o termistor um instrumento resistivo e como tal apresenta uma
fonte de erro devida ao auto-aquecimento, que funo da corrente de alimentao. O
modelo do auto-aquecimento foi implementado no item 4.6, tendo como entrada: a corrente
de alimentao (I) e a largura de banda (B) provenientes de um experimento, e a constante de
dissipao do termistor, especificado de acordo com o meio de utilizao do instrumento.
No foi previsto realimentao no modelo do auto-aquecimento, o que seria
necessrio para simular a curva de variao na temperatura do termistor provocada pelo auto-
aquecimento. O modelo contempla somente os casos: transdutor sem alimentao; transdutor
com alimentao, porm com a variao da temperatura decorrente do auto-aquecimento j
estabilizada.

Rudo trmico as especificaes dos fabricantes no apresentam dados relativo ao
rudo do termistor. Entretanto, como o termistor um instrumento resistivo, apresenta rudo
trmico que modelado conforme item 4.7. A tenso de rudo trmico somada tenso
equivalente a temperatura T do mensurando, resultando na tenso de sada V
S
do termistor.

Para o clculo da tenso de rudo trmico do termistor deve-se tomar a resistncia
equivalente ao mensurando, j considerados os erros devido tolerncia e ao auto-
aquecimento. Para isso converte-se novamente a temperatura em resistncia atravs da CR
n

do termistor, no caso da Omega uma tabela (T R). Esta resistncia multiplicada pela
corrente de alimentao para se obter a sada em tenso, qual ser adicionada a parcela
relativa ao rudo trmico, resultando assim o valor da tenso de sada V
S
do termistor para
cada entrada T do mensurando.
Todas as caractersticas especificadas na folha de dados do fabricante foram
consideradas, a menos da deriva trmica no tempo. Essa caracterstica s foi especificada pelo
fabricante Omega. Para modelar a deriva trmica com base nas especificaes dos fabricantes
necessrio um levantamento do histrico de calibrao do instrumento ao longo do tempo
de uso. Considerando que os valores apresentados para a deriva trmica no tempo so
bastante inferiores aos da tolerncia [20], essa caracterstica foi desconsiderada no modelo.
O termistor um instrumento cujo modelo relativamente simples de ser
72
implementado a partir dos mdulos desenvolvidos no Captulo 4. A maior dificuldade recai
no no conhecimento do tipo de distribuio que melhor representa a tolerncia desse
instrumento. O mesmo ocorre com a especificao da constante de tempo utilizado no modelo
dinmico, em que apenas um valor mximo fornecido, e no se tem o comportamento da
distribuio que representa esse parmetro.
Nesses casos, j que no se obteve maiores informaes do fabricante, seria necessrio
levantar o comportamento da distribuio atravs de ensaios de lotes desses instrumentos.
Entretanto esse tipo de estudo foge ao objetivo deste trabalho.
Para a implementao do modelo, alm de se ter os mdulos desenvolvidos
previamente so necessrios conhecimentos adicionais para a interligao desses mdulos.
necessrio o conhecimento do instrumento para que se possa considerar todas as
caractersticas pertinentes, como o caso do auto-aquecimento e do rudo trmico.

5.2 TERMORRESISTOR
5.2.1 Caractersticas do Termorresistor
Um termorresistor (resistance temperature detector RTD) um transdutor de
temperatura baseado na variao da resistncia de um resistor metlico, cujo valor aumenta
com a temperatura. Um RTD pode ser feito de diferentes metais e ter diferentes resistncias.
O mais popular o RTD de platina com resistncia nominal de 100 a 0C, tambm
conhecido como Pt 100 [35] [36].
Quanto ao processo de fabricao, o termorresistor pode ser obtido atravs de fio
encapsulado ou atravs de filme metlico depositado sobre um substrato [21] [37]. Os
termorresistores so conhecidos por apresentarem baixa incerteza sobre uma grande faixa de
temperatura e excelente estabilidade. Alguns apresentam incerteza de 0,01 (0,026C) em
0C.
A variao da resistncia com a temperatura de um termorresistor expressa atravs
de seu coeficiente de temperatura ou sensibilidade nominal () (Tabela 5.3), e depende das
propriedades fsicas e eltricas do material que feito.

73
A resistncia do termorresistor dada pela equao [1] [38]:

=
+ =
n
i
i
i
T a R T R
1
0
) 1 ( ) ( (5.5)
onde: a
i
coeficiente do polinmio de ajuste [/C];
T temperatura [C];
R
0
resistncia temperatura de referncia (geralmente a 0C) [];
n grau do polinmio utilizado.

O termorresistor apresenta valores que definem os erros mximos admissveis entre os
valores nominais do transdutor aps fabricao. Estes desvios so definidos por norma, ou
pelo fabricante do componente. A norma IEC 751 [94] define duas classes: A e B. Os
fabricantes propem extenses dessas classes [36] [98] permitindo abranger outras faixas de
medio, mostradas na Tabela 5.2.

Tabela 5.2 Classes tolerncia para termorresistores de platina
Referncia Descrio Faixa de medio Tolerncia*
IEC [94] Classe A (-200 a 650)C (0,15 + 0,002.T)
IEC [94] Classe B (-200 a 850)C (0,30 + 0,005.T)
Fabricante [36] 1/3 Classe B (0 a 200)C (0,10 + 0,005.T)
Fabricante [36] 2 Classe B (0 a 200)C (0,60 + 0,005.T)
Fabricante [36] 0,5 (-200 a 850)C (0,50 + 0,008.T)
Fabricante [36] 0,8 (-50 a 650)C (0,60 + 0,008.T)
(*) A tolerncia apresentada em funo da temperatura (T)

Em 1983 a IEC (International Electrotechnical Commission) adotou a norma DIN EN
60751 que tem como padro o termorresistor de platina com resistncia nominal de 100 a 0
C, e coeficiente de temperatura = 0,00385 (/)/C. Segundo essa norma, a resistncia em
funo da temperatura dada por:
Para T 0C:
) . . 1 .( ) (
2
0
T B T A R T R + + = (5.6)
onde: A = 3,9083 . 10
-3
C
-1
;
B = -5,775 . 10
-7
C
-2
;
R
0
= 100 .
74
Para T < 0C:
) T ). 100 T .( C T . B T . A 1 .( R ) T ( R
3 2
0
+ + + = (5.7)
onde: A = 3,9083 . 10
-3
C
-1
;
B = -5,775 . 10
-7
C
-2
;
C = -4,183 . 10
-13
C
-3
;
R
0
= 100 .
E as tolerncias para a classe A e B so:
Classe A ) . 002 , 0 15 , 0 ( T T
ol
+ = (5.8)

Classe B ) . 005 , 0 3 , 0 ( T T
ol
+ = (5.9)

onde: T temperatura (C).

A classe A aplica-se para intervalos de temperatura de (200 a 650)C, e somente para
RTDs com configurao em trs ou quatro fios. A classe B cobre toda a faixa de (200 a
850)C [38] [46].
Outras normas freqentemente referidas pelos fabricantes so: JIS (C1604-1981) [47],
ANSI [47] ( =0,00392 (/)/C) e a escala internacional de temperatura (ITS-90) [47], que
se aplica a RTD de fio de platina encapsulado (=0,00395 (/)/C).
A Figura 5.4 mostra a curva de tolerncia para RTDs de Pt 100 a 0C, segundo
diferentes normas [47].
Os principais fatores a considerar na avaliao da incerteza na medio com
termorresistores so: erro mximo admissvel, auto aquecimento, rudo trmico e influncia
da resistncia dos fios de ligao [37] [47].
A influncia do fio devida baixa sensibilidade do termorresistor, podendo causar
erros considerveis no valor da temperatura [21] [38] [67]. Para evitar esta fonte de incerteza,
alguns fabricantes, como por exemplo a Omega, fornecem a opo do termorresistor nas
configuraes de trs fios e de quatro fios [21].

75

Figura 5.4 Tolerncia dos termorresistores de platina segundo vrias normas

A Tabela 5.3 mostra as especificaes de trs fabricantes de termorresistores. Dentre
esses, selecionou-se para modelagem o 1Pt100K4515 do fabricante Omega, por apresentar as
especificaes da forma mais completa. Por exemplo, dados relativos constante de tempo e
constante de dissipao do termorresistor, no so especificados pelos demais fabricantes
76
selecionados na Tabela 5.3.

Tabela 5.3 Especificaes de fabricantes de termorresistores
FABRICANTE OMEGA THERMOMETRICS RTD COMPANY
MODELO 1Pt100K4515 PTRB101BXXX R31-02-PB
Tipo Fio Filme Filme
Encapsulamento cermico cermico cermico
Resistncia nominal
(0C)
100 0,15% (
1
) 100 0,12% (
1
) 100 0,12% (
1
)
Norma DIN EN 60751 [94] DIN EN 60751 [94]
Faixa nominal de
temperatura
(-200 a +750)C (-50 a +600)C (-50 a +450)C
Classe de incerteza Classe A Classe B 0,30+0,005 ITI
Sensibilidade
nominal ()
= 0,00385 (/)/C = 0,00385(/)/C = 0,00385 (/)/C
Constante de tempo
0,2 s (50% resposta), gua v =0,4 m/s
0,6 s (90% resposta), gua v =0,4 m/s
6,0 s (50% resposta), ar v =1 m/s
20,0 s (90% resposta), ar v =1 m/s
Rpido (
2
) (
2
)
Constante de
dissipao
0,06C/mW ar v =1m/s
0,24C/mW ar parado
(
2
) (
2
)
Configurao cabos (3 fios) (
3
) (2 fios) (2 fios)
Comprimento 45 mm 13 mm 10 mm
Dimetro 1,5 mm 2,8 mm 2,0 mm

(
1
) A incerteza refere-se tolerncia da resistncia nominal a 0C (R
0
).
(
2
) No se encontrou especificao relativa constante de tempo e constante de dissipao desses fabricantes.
(
3
) A configurao 3 fios a padro, podendo-se optar por 2 ou 4 fios.

Analisando-se as especificaes desses fabricantes observa-se uma grande semelhana
com as especificaes de termistores.
A resistncia nominal refere-se resistncia apresentada quando o termorresistor
submetido a uma temperatura de referncia. Os termorresistores selecionados so de platina
com resistncia de 100 a 0C. Os fabricantes especificam a tolerncia da resistncia a 0C.
No caso da RTD Company e Thermometrics 0,12%, e da Omega 0,15%. Tambm so
apresentados dados relativos norma que se aplica ao instrumento e classe de incerteza
desse.
A sensibilidade nominal () compreende a variao de resistncia encontrada entre
0C e 100C; e depende do grau de pureza do transdutor.
77
5.2.3 Modelo do Termorresistor
O modelo do termorresistor apresentado na Figura 5.5. composto por mdulos
funcionais semelhantes ao modelo do termistor.
Esses mdulos so: modelo dinmico (que implementa a constante de tempo) (mdulo
1), modelo da tolerncia (mdulo 2), da caracterstica de resposta (mdulo 3), do auto-
aquecimento (mdulo 4) e do rudo trmico (mdulo 5). Comparando-se com o termistor, os
mdulos referentes ao modelo dinmico, auto-aquecimento e rudo trmico so idnticos. A
diferena ocorre nos mdulos da caracterstica de resposta e da tolerncia.
Assim sendo apresenta-se a seguir os mdulos implementados de forma diferenciada
em relao ao termistor.

Caracterstica de resposta a caracterstica de reposta de um termorresistor
modelada conforme a Equao 5.5. Entretanto como o termorresistor da Omega
especificado pela norma DIN EN 60751 [94], essa equao pode ser aproximada segundo os
dados apresentados no item 5.2.1 para essa norma.

Tolerncia A tolerncia funo da temperatura, portanto seu modelo deve
respeitar os limites estabelecidos por norma para a classe de incerteza do instrumento. Se por
exemplo for adotado a norma DIN EN 60751 [94], os limites de tolerncia para classe A e B
so dados pela Equao 5.8 e Equao 5.9 respectivamente.
Portanto para cada temperatura de entrada (mensurando) tem-se um valor de
tolerncia, de forma que o modelo deve gerar uma funo intrnseca para cada instrumento,
dentro dos limites especificados pela norma (Equao 5.6 e Equao 5.6).
A funo que gera uma curva de tolerncia para cada termorresistor poderia, por
exemplo, ser implementada por um polinmio.
As Figura 5.6 e Figura 5.7, mostram as curvas de tolerncia do termorresistor
1Pt100K4515 para as classe A e classe B respectivamente, geradas a partir de um polinmio
de quinto grau, cujos coeficientes foram gerados aleatoriamente, respeitando os limites
estabelecidos pela norma DIN 60751 classe A e classe B.

78

Legenda:
T - Variao de temperatura (C) R
- Resistncia ()
- Constante de dissipao (mW/K) R
T - Resistncia do termistor temperatura T
M
()

- Constante de tempo especificada (s) T - Temperatura (C)
i
- Constante de tempo escolhida (s) T - Temperatura (C)
B - Largura de banda (Hz) T
ol - Tolerncia especificada pelo fabricante (C)
NT

- Distribuio Normal Truncada T
M - Temperatura a medir (mensurando) (C)
CR
n
- Caracterstica de resposta nominal T
ol i - Tolerncia escolhida para o modelo (C)
EXP - Experimento T
S - Temperatura do sensor (C)
I - Corrente de alimentao (A) V
S
- Tenso de sada (V)
K - Constante de Boltzmann [1,38 x

10
-23
J/K]

Figura 5.5 Modelo do termorresistor

A maior dificuldade de implementao do modelo do termorresistor est no no
conhecimento do comportamento da tolerncia dentro dos limites especificados por norma.
Para se obter esse comportamento seria necessrio a calibrao do instrumento para toda a
faixa nominal.
O modelo do termorresistor, embora muito semelhante ao do termistor, foi escolhido
para exemplificar a importncia da anlise da caracterstica de resposta, e para ilustrar
diferentes formas de especificao da tolerncia baseada em normas aplicadas ao
instrumento.
79

Figura 5.6 Tolerncia do termorresistor 1Pt100K4515 (DIN 60751 classe A)

Figura 5.7 Tolerncia do termorresistor 1Pt100K4515 (DIN 60751 classe B)

Com esse modelo visa-se tambm ilustrar a praticidade de implementao de novos
modelos, utilizando a estrutura modular proposta, com a qual possvel a reutilizao de
modelos de caractersticas, previamente desenvolvidos.
80
5.3 TRANSDUTOR DE PRESSO
5.3.1 Caractersticas do Transdutor de Presso
Um transdutor de presso converte presso em um sinal eltrico. O sensor
usualmente um elemento elstico e se deforma sob condio de presso. Dentre os elementos
elsticos comumente usados esto o tubo de Bourdon, fole e diafragma, que atuam como
elementos sensitivos [1].
Atualmente uma forma bastante empregada na fabricao de transdutores de presso
so os extensmetros (strain-gages) difusos diretamente no diafragma e configurados em
ponte de Wheatstone, facilitando compensao de temperatura [2].
Os parmetros usualmente especificados para um transdutor de presso so: faixa
nominal, sensibilidade, tenso de offset, linearidade, repetitividade, histerese, estabilidade no
tempo, deriva trmica da sensibilidade e da tenso de offset, tempo de resposta, freqncia
natural ou de ressonncia, resistncia de entrada, resistncia de sada, presso mxima
admissvel, mxima tenso de sada e tenso de alimentao.
Um transdutor em geral, pode ser classificado como: autogerador (no requer
alimentao) e transdutor que requer alimentao [12].
usual encontrarmos a especificao da sensibilidade de um transdutor relacionada
tenso de alimentao [1] [2] [22], conforme modelo mostrado no item 4.1. Os fabricantes
que adotam uma tenso de alimentao tpica para seus transdutores, o fazem para todas as
especificaes apresentadas na folha de dados do instrumento.
Considerando todos os parmetros citados acima, a tenso de sada de um transdutor
de presso dada por:

Transdutor autogerador:
DT R H L OSE S
E E E E P S V V + + + + + = . (5.10)

Transdutor que requer alimentao:
DT R H L al OSE S
E E E E P V S V V + + + + + = . . (5.11)

onde: V
OSE
tenso de offset;
S sensibilidade do transdutor de presso;
P presso;
81
E
H
erro de histerese;
E
L
erro de linearidade;
E
R
erro de repetitividade;
E
DT
erro de deriva trmica;
V
al
tenso de alimentao.
A Tabela 5.4 apresenta a especificao de quatro fabricantes de transdutores de
presso selecionados dentre: Endevco [48], Sensotec [49], HBM [50], Druck [51], Schaevitz
[52], e RS [53]. Essa seleo foi feita baseada nas diferentes formas de apresentao das
especificaes. Para retratar fielmente a forma de especificao encontrada na folha de dados
dos fabricantes, algumas das informaes apresentadas no esto respeitando o estabelecido
pelo Sistema Internacional de Unidades (SI).
A classe de exatido geralmente o primeiro parmetro a ser considerado na seleo
de um instrumento, pois ele fornece um indicativo do valor do erro mximo, que um
parmetro de aceitao. Entretanto ele s foi fornecido pela HBM e pela Sensotec.
A faixa nominal fornecida pelos quatro fabricantes, assim como a presso mxima
admissvel, embora somente a HBM os apresente em unidades do sistema internacional.
A sensibilidade apresentada por alguns fabricantes em funo da tenso de
alimentao do transdutor (HBM [50] e Sensotec [49]). Na especificao da Endevco [48] a
sensibilidade no dada em funo da tenso de alimentao, uma vez que esta fixa em
10 V. Neste caso, as especificaes da folha de dados, tem como referncia a tenso de
alimentao de 10 V e a temperatura de +24C. Nota-se que embora a maioria dos fabricantes
considerem a temperatura de referncia igual a +25C, no existe uma padronizao entre
eles.
A sensibilidade tem uma tolerncia especificada de 0,15% HBM [50] a 30% Endevco
[48], de acordo com os dados retirados dos catlogos dos fabricantes e apresentados na
Tabela 5.4.
Uma tolerncia da ordem de 30% serve apenas como referncia para a mxima tenso
de sada do transdutor. Neste caso usual a sensibilidade estar gravada no transdutor ou ser
fornecida no certificado que algumas vezes acompanha o transdutor.
82
O fabricante RS no apresentou diretamente a tolerncia da sensibilidade, entretanto
esse dado aparece na mxima tenso de sada onde apresentado o valor mnimo, tpico e
mximo, representando uma variao de 3%.

Tabela 5.4 Especificaes de transdutor de presso
FABRICANTE RS SENSOTEC ENDEVCO HBM
MODELO 286709 AP14150psi 8510B200 1P3MB/500 bar
CONDIES +24C,10,00 V
dc
alim. +23C
Tipo presso Manomtrica Manomtrica Manomtrica Absoluta
Classe de exatido 0,5% 0,1%
Erro mximo 0,25 psi 0,5 bar
Faixa nominal (0 a 30) psi (0 a 50) psi (0 a 200) psi (0 a 500) bar
Mxima tenso
de sada - FSO
(97/100/103) mV
(mn/tp/mx)
30 mV (Val=10V) (300100) mV
Tenso de offset
(-1,5/ 0 /+1,5) mV
(mn/tp/mx)
10 mV mx
Sensibilidade 3,33 mV/psi 3 mV/Val
(1,50,5) mV/psi
2
20,15% mV/Val
2

Linearidade 1% FSO mx 0,25% FS 0,25% FSO tp
Histerese 0,13% FS 0,1% FSO tp
0,1% FS
Repetitividade
0,2% FSO tp
0,07% FS 0,1% FSO tp 0,05% FS
Estabilidade no
tempo (1 ano)
0,5% FSO tp
Deriva trmica da
sensibilidade
1% FSO mx
(0 a +50)C
0,018% leitura/C
4% mx
(-18 a +93)C
0,01%/K T
nom

0,02%/K T
oper
Deriva trmica da
tenso de offset
1 mV mx
(0 a +50)C
0,0135% FS/C
3% mx
(-18 a +93)C
0,01%/K T
nom

0,015%/K T
oper

Tempo de resposta 1,0 ms mx 1,0 ms (warmup)
Resistncia de
entrada
7,5 k 2x350 (2000800) (3505) na T
ref
Resistncia de
sada
7,5 k (1600500) (3501,5) na T
ref

Resistncia
isolao
- 5000 M / 50V 100 M mn / 50V 5 G / 100 Vac
Tenso alimentao (10/16) V (tp/mx) (10/12) V (tp/mx) 10,0 V (0,5 a 12) V rms
Presso mxima
admissvel
60 psi mx 75 psi 300 psi 750 bar
Faixa de operao (0 a +50)C (-54 a +121)C (-54 a +121)C (-40 a +100)C
Temperatura
nominal
(+16 a +71)C (-18 a +93)C (-10 a +80)C
Freqncia natural
ou de ressonncia
320 kHz > 100 kHz
Resposta
transiente
trmico
0,02 psi/C
Rudo
(5/50) uV rms
(tp/mx)
dc a 50 kHz

(
1
) O FSO definido como a sada do transdutor de zero at a mxima faixa de presso especificada.
(
2
) Fabricantes que apresentam a tolerncia da sensibilidade.
83
A tenso de offset conforme Tabela 5.4, aparece especificada apenas nos dados da RS
e Endevco, entretanto esse um erro sistemtico que pode ser corrigido, desde que
conhecidos dados de calibrao do instrumento.
Os erros de linearidade, histerese e repetitividade so especificados algumas vezes por
valores tpicos, outras por valores mximos. Entretanto alguns fabricantes no fornecem o
valor desses erros separadamente, como caso da HBM (soma da linearidade e histerese) e
da RS (soma da repetitividade e histerese), de acordo com as especificaes da Tabela 5.4.
Especificao relativa estabilidade no tempo raramente encontrada na folha de
dados de transdutores de presso, entretanto um erro que pode ser eliminado com
calibraes peridicas. Dentre os fabricantes listados na Tabela 5.4 somente a RS fornece a
estabilidade do transdutor no perodo de um ano.
A deriva trmica usualmente fornecida por todos os fabricantes, e no caso de
transdutores de presso ela est relacionada com a sensibilidade e com a tenso de offset.
Alguns fabricantes fornecem a deriva trmica como uma variao relativa variao de
temperatura (HBM e Sensotec), enquanto outros apresentam-na como um percentual mximo
de variao para uma faixa especfica de temperatura (Sensotec e Endevco).
Parmetros como resistncia de entrada e resistncia de sada so usualmente
fornecidos por todos os fabricantes, e algumas vezes acompanhados da respectiva tolerncia.
As faixas de temperatura nominal, de operao, e de referncia dos dados so usados
no clculo de fatores de compensao das caractersticas que variam com a temperatura.
Verifica-se na Tabela 5.4, que parmetros como tempo de resposta e freqncia
natural ou de ressonncia no so especificados por todos os fabricantes, entretanto so dados
necessrios para a modelagem do comportamento dinmico do instrumento. Tambm dados
relativos ao rudo dificilmente so encontrados nas folhas de dados de transdutores de
presso.
5.3.3 Modelo do Transdutor de Presso
Dentre os transdutores mostrados na Tabela 5.4, selecionou-se o 1-P3MB/500 bar da
HBM por apresentar as especificaes de forma bastante completa, e tambm por estar
disponvel no Labmetro, onde foi possvel obter as curvas de calibrao do instrumento. O
fato de se ter o instrumento real em laboratrio, permite a comparao futura entre o
comportamento do modelo desenvolvido e do instrumento real.
84
Como o objetivo deste trabalho apresentar a forma de modelagem de instrumentos
de medio, procurou-se implementar o modelo de modo a atender as especificaes dos
demais fabricantes. Entretanto para a modelagem de um instrumento especfico, deve-se
analisar quais erros efetivamente esto contidos no erro mximo do instrumento, e eliminar os
blocos referentes aos demais erros.
O modelo geral de um transdutor de presso mostrado na Figura 5.8, e tem como
mensurando a presso (P) e como sada a tenso (V
S
) equivalente ao mensurando P.
Tem-se ainda na entrada parmetros sistemticos como a tolerncia da sensibilidade, a
tenso de offset, a deriva trmica da sensibilidade e da tenso de offset. A tenso de
alimentao um parmetro fornecido na configurao de um experimento e identificado no
modelo pela sigla EXP, assim como a temperatura ambiente em que o transdutor est sendo
utilizado.
O modelo implementado pela caracterstica de resposta nominal do instrumento
representada por uma relao linear entre a tenso de sada do transdutor de presso e o
mensurando (P) atravs do parmetro sensibilidade. A essa caracterstica de resposta
nominal do transdutor so adicionadas as fontes de erro apresentadas na Equao 5.11, por
ser um transdutor cuja sensibilidade funo da tenso de alimentao.
O modelo do transdutor de presso composto por mdulos funcionais que
implementam as caractersticas do transdutor conforme modelos j desenvolvidos e
apresentados no Captulo 4.

O mdulo 1 o modelo da sensibilidade. O transdutor de presso um instrumento
nominalmente linear, portanto sua sada dada por:

V = (S/P
F
).V
al
. P (5.12)
onde: S sensibilidade do transdutor de presso [mV/ V];
P presso (mensurando) [bar];
P
F
presso fiducial [bar];
V
al
tenso de alimentao [V].

A sensibilidade especificada pelo fabricante acrescida do valor da tolerncia da
sensibilidade. Esse um valor intrnseco para cada instrumento escolhido atravs de uma
85
distribuio normal truncada. Quando a sensibilidade relacionada tenso de alimentao,
esta deve ser considerada, de acordo com a Equao 5.12.

O mdulo 2 contem o modelo do erro aleatrio de repetitividade e das fontes de erros
devido a tenso de offset, deriva trmica da tenso de offset, deriva trmica da sensibilidade,
linearidade e histerese.

Repetitividade o erro de repetitividade implementado atravs do modelo
desenvolvido no item 4.4. Corresponde parcela do erro aleatrio desse instrumento.

Tenso de offset uma caracterstica sistemtica e implementada pelo modelo
desenvolvido no item 4.8. Contudo nem todos os fabricantes apresentam esse dado para o
transdutor de presso (Tabela 5.4). Na prtica o valor correspondente tenso de offset pode
ser facilmente corrigido por software, de acordo com o valor do certificado de calibrao do
instrumento. Entretanto o modelo da Figura 5.8 geral e incorpora o modelo da tenso de
offset, podendo ser aplicado para os dados dos demais fabricantes.

Deriva trmica da tenso de offset e da sensibilidade essa caracterstica
apresentada por todos os fabricantes da (Tabela 5.4). A HBM apresentou a especificao da
deriva trmica da forma mais usual encontrada, e este modelo foi desenvolvido no item 4.11,
onde gerado um valor intrnseco para cada instrumento. A especificao da HBM fornece
um valor para a deriva trmica na faixa de temperatura de operao do instrumento e outro na
faixa de temperatura nominal. Portanto necessrio comparar a temperatura ambiente com
esses dados para se escolher o valor da deriva trmica a ser considerado.
O modelo desenvolvido para a deriva trmica est de acordo com a forma mais usual
de apresentao dos dados que x% da faixa nominal/C. Entretanto, a especificao da RS
[53] e da Sensotec [49] fornecem um valor percentual mximo para uma faixa de
temperatura. Nesses casos sugere-se usar o mtodo da borboleta, de acordo com a modelagem
da deriva trmica (4.11).

Linearidade o erro de linearidade modelado no item 4.2. Conforme dados da
86
HBM (Tabela 5.4) o erro de linearidade o dobro da repetitividade, e inclui a contribuio de
erro devido histerese.

Legenda:
A
1
,A
2
,...A
n
- Coeficientes da funo f (P) P
mx
- Mxima presso
- Amortecimento S - Sensibilidade
DTs - Deriva trmica da sensibilidade T
amb
DT
VOSE
- Deriva trmica tenso de offset T
olS
- Tolerncia da sensibilidade
E
H
- Erro de histerese T
ref
- Temperatura de referncia
E
L
- Erro de linearidade V
al
- Tenso de alimentao
E
R
- Erro repetitividade V
al mx
- Tenso alimentao mxima
NT - Distribuio normal truncada V
OSE
- Tenso de offset
P - Presso V
S
- Tenso de sada
P
F
- Presso fiducial
n
- Freqncia natural ou de ressonncia

Figura 5.8 Modelo do transdutor de presso
87
Histerese esse dado no foi especificado para o transdutor da HBM separadamente,
e sim a soma do erro de linearidade e histerese. Entretanto o modelo do transdutor de presso
da geral e prev a especificao em separado do erro da histerese, a ser modelado conforme
item 2.1.3.

Presso mxima admissvel e tenso de alimentao mxima so dados
usualmente especificados pelos fabricantes (Tabela 5.4), e cujos valores so monitorados no
modelo. O valor da presso mxima admissvel comparado com o valor da presso
(mensurando), e se for excedida fornece um alarme 1, ou seja, uma mensagem de que a
presso ultrapassou o valor mximo especificado. Da mesma forma, a tenso de alimentao
do transdutor comparada com o mximo valor especificado, e o modelo fornece um alarme
2 caso esta seja excedida.

O mdulo 3 implementa a caracterstica dinmica do transdutor atravs de um sistema
de segunda ordem. Como entrada desse mdulo tem-se o mensurando (P), a sensibilidade
esttica, a freqncia de ressonncia e o amortecimento. O modelo do comportamento
dinmico pode ser encontrado na referncia [78].
A tenso de sada V
S
do transdutor de presso a tenso correspondente
caracterstica de resposta nominal do instrumento, acrescida das contribuies devido s
fontes de erros estabelecidas pela Equao 5.11, e tambm do comportamento dinmico do
instrumento.
importante salientar que o modelo desenvolvido para cada caracterstica deve ter
como sada a mesma unidade de sada do transdutor de presso, para que a parcela
correspondente a contribuio de cada fonte de erro possa ser somada. Quando uma
determinada caracterstica especificada em relao faixa nominal do instrumento, deve-se
converte-la para a unidade da faixa nominal da sada.
Pode-se salientar aqui, que as dificuldades para a implementao do modelo do
transdutor de presso so as mesmas especificadas por ocasio do desenvolvimento do
modelo de cada caracterstica, ou seja, a falta de dados relativos distribuio que melhor
representa a tolerncia da sensibilidade, e o comportamento da histerese e da linearidade do
transdutor.
88
5.4 AMPLIFICADOR
Neste trabalho foi estudado e modelado o amplificador de instrumentao como
representante da categoria amplificador, porque foi o elemento para o qual se conseguiu as
mais detalhadas especificaes.
5.4.1 Caractersticas do Amplificador de Instrumentao
A maioria dos sinais eltricos produzidos por transdutores corresponde a uma tenso
de baixa intensidade, sendo necessrio amplific-los.
A caracterstica de resposta de um amplificador de instrumentao ideal :

ED S
V G V . =
(5.13)
onde: G ganho diferencial;
V
ED
tenso da entrada diferencial;
V
S
tenso de sada.
As caractersticas de um amplificador ideal incluem: ganho diferencial infinito,
largura de banda infinita, resistncia de entrada infinita, resistncia de sada zero, tenso de
offset zero, e insensibilidade s variaes de temperatura, fonte de alimentao, e sinais de
entrada de modo comum [65].
importante salientar que o efeito de determinadas fontes de erros pode variar de
aplicao para aplicao. Assim sendo, dados de entrada relativos ao experimento, como
impedncia da fonte, impedncia de desbalanceamento, tenso de modo comum e banda de
freqncia, so dados importantes a serem considerados no modelo. Esses dados tero que ser
fornecidos pelo usurio no momento de utilizao do modelo em um experimento.
A Tabela 5.5 mostra as especificaes de trs amplificadores de instrumentao, de
fabricantes bastante conhecidos. Para retratar fielmente a forma de especificao encontrada
na folha de dados dos fabricantes, algumas das informaes apresentadas no esto
respeitando o estabelecido pelo Sistema Internacional de Unidades (SI).
O modelo foi desenvolvido para o amplificador AD624A da Analog Devices, por
apresentar as especificaes da forma mais completa.
89
Verifica-se na Tabela 5.5 que todos os fabricantes especificam as condies em que
foram levantados os dados. Dentre essas condies, a temperatura e a tenso de alimentao
so comuns aos trs fabricantes e a resistncia de carga fornecida pela Analog Devices e Burr
Brown.
Nota-se nas especificaes que os dados so agrupados por caractersticas, como:
ganho, tenso de offset relativo entrada e sada, dados relativos entrada, resposta
dinmica e rudo.

Comparando-se as folhas de dados, tem-se:
Ganho: para o erro do ganho, linearidade do ganho e deriva trmica do ganho so
fornecidos valores mximos para alguns ganhos selecionados. A Burr-Brown alm de
apresentar um valor para a temperatura de 25C, tambm o faz para a faixa de (-25 a 85)C.
Diferentemente dos outros fabricantes, a National fornece um nico valor para o erro do
ganho e linearidade independente do ganho selecionado. Essa especificao atribui um valor
tpico e outro mximo para o erro de ganho, e no considera a deriva trmica para este
parmetro.

Tenso de offset: a especificao contempla a tenso de offset relativa entrada e a
tenso de offset relativa sada. Tanto para a tenso de offset como para a deriva trmica
associada, so fornecidos valores mximos. No caso da Burr-Brown no fornecido o valor
da tenso de offset de sada, e so atribudos valores diferentes para o ganho especificado pelo
fabricante e para ganho ajustvel pelo usurio. A National apresenta o valor tpico e o valor
mximo para a tenso de offset na entrada e na sada para uma temperatura de 25C, e valor
mximo para a faixa de temperatura de (-25 a 85)C. So tambm dados os valores tpicos da
deriva trmica da tenso de offset na entrada e na sada.

Deriva no tempo e deriva com a alimentao: somente a Burr Brown apresentou
dados relativos a essas caractersticas. A deriva no tempo foi especificada em relao ao
ganho selecionado, e a deriva com a alimentao especificada em valores mximos com
relao ao ganho especificado pelo fabricante e um outro valor para o ganho selecionado.

90
Tabela 5.5 Especificaes de amplificador de instrumentao
ESPECIFICAES
ANALOG DEVICES
AD624A
BURR BROWN
INA102AG
NATIONAL
LM0036C
Condies
T=25C, R
L
=2 k,
V
al
=15 V
T=25C, R
L
=10 k,
V
al
=15 V
T=(-25 a +85)C,
V
al
=15 V
Ganho

Equao ganho
20 1
40000
+
G
R
% 20 1
40000
+
G
R
%
+1
50000
G
R

Erro do ganho
G=1
G=100
G=200/500
G=1000

0,05% mx
0,25% mx
0,5% mx
1,0% mx
25C
G=1 0,1% mx
G=10 0,1% mx
G=100 0,25% mx
G=1000 0,75% mx

G=1 a 1000
1% tp , 3% mx
(-25 a +85)C
G=1 0,16% mx
G=10 0,19% mx
G=100 0,37% mx
G=1000 0,93% mx

Erro linearidade ganho
G=1
G=100/200
G=500/1000

0,005% mx
0,005% mx
0,005% mx
25C
G=1 0,03% FS mx
G=10 0,03% FS mx
G=100 0,05% FS mx
G=1000 0,1% FS mx

0,03% tp

(-25 a +85)C
G=1 0,045 %FS mx
G=10 0,045 %FS mx
G=100 0,075 %FS mx
G=1000 0,15 %FS mx

Deriva trmica ganho
G=1
G=100/200
G=500/1000

5 ppm/C mx
10 ppm/C mx
25 ppm/C mx

G=1 10 ppm/C mx
G=10 15 ppm/C mx
G=100 20 ppm/C mx
G=1000 30 ppm/C mx

Tenso de offset
Entrada
Tenso de offset (V
OSE
)

200 uV mx

25C
300 uV mx
1

300/G uV mx
2

25C, R
F
=1 k
(1,0/2,0) mV (tp/mx)
(-25 a +85)C 3 mV mx

Deriva trmica V
OSE

2 uV/C mx 5 uV/C mx
1

10/G uV/C mx
2

10 uV/C tp
Sada
Tenso de offset (V
OSS
)

5 mV mx
25C, R
F
=2 k
(5/10) mV (tp/mx)
(-25 a +85)C 12 mV mx

Deriva trmica V
OSS
50 uV/C mx 15 uV/C tp
Offset ref. Entrada
x alimentao
G=1
G=100/200
G=500/1000

70 dB mn
95 dB mn
100 dB mn

Deriva no tempo

+
G
30
20 uV/ms

Deriva alimentao

40 uV/V
al
mx
1

50/G uV/V
al
mx
2

91
ESPECIFICAES
ANALOG DEVICES
AD624A
BURR BROWN
INA102AG
NATIONAL
LM0036C
Corrente na entrada
Corrente de bias (I
bias
)

50 nA mx
(-25 a +85)C
(25/50) nA (tp/mx)

(50/125) nA (tp/mx) 25C
200 nA mx
Deriva trmica I
bias
50 pA/C tp 0,1 nA/C tp
Corrente offset (I
OSE
)

Deriva trmica I
OSE

35 nA mx

20 pA/C tp
(2,5/15) nA (tp/mx)

0,1 nA/C tp
(20/50) nA (tp/mx) 25C
100 nA max
Deriva alimentao I
bias
0,1 nA/V tp
Entrada
Impedncia de entrada
R
ent.Dif
C
ent.Dif

R
MC
C
MC

10
9
tp
10 pF tp
10
9
tp
10 pF tp

10
10
tp
3

2 pF tp
3

10
10
tp
3

2 pF tp
3

300 M

300 M (estimado)

Faixa mxima da
tenso de entrada V
ED

10 V mn
(-25 a +85)C

(|V
al
|-4,5) V mn

(10/12) V (mn/tp)
Mxima V
MC

) *
2
( 12
ED
V
G
V

(10/12) V (mn/tp)

RRMC
G=1
G=100/200
G=500/1000

Dc a 60 Hz, Z
desb
= 1k
70 dB mn
100 dB mn
110 dB mn

Dc a 60 Hz, Z
desb
= 1k
G=1 80/94 dB (mn/tp)
G=10 80/100 dB (mn/tp)
G=10 a 1000 80/100 dB
(mn/tp)

Dc a 100 Hz, Z
desb
= 1k

G=1 2,5 mV/V tp
5 mV/V mx
G=10 0,25 mV/V tp
0,50 mV/V mx
G=100 50 V/V tp
100 V/V mx
Resposta dinmica
Pequenos sinais 3db
G=1
G=100
G=200
G=500
G=1000

1 MHz tp
150 kHz tp
100 kHz tp
50 kHz tp
25 kHz tp

G=1 30 kHz tp
G=10 3 kHz tp
G=100 0,3 kHz tp
G=1000 0,03 kHz tp

R
L
=10 k

G=1 350 kHz tp
G=10 35 kHz tp
G=100 3,5 kHz tp
G=1000 350 Hz tp
Largura de banda total
G=1a100,Vs=10V,R
L
=10k
(1,7/2,5) kHz (mn/tp)
G=1, V
ED
=10 V, R
L
=10 k
5,0 kHz tp
Slew rate 5,0 V/us tp
G=1a100,Vs=10V,R
L
=10k
(0,1/0,15) V/us (mn/tp)
G=1, V
ED
=10 V, R
L
=10 k
0,3 V/us tp

Settling time
G=1 a 200
G=500
G=1000

0,01%, 20V
step

15 us tp
35 us tp
75 us tp

0,1%, 10 V
step
G=1 50 us tp
G=100 360 us tp
G=1000 3300 us tp

V
S
=1.0V, 10 mV,
R
L
=10k
G=1 3,8 us tp
G=100 180 us tp

0,01%, 10 V
step
G=1 60 us tp
G=100 500 us tp
G=1000 4500 us tp

Tabela 5.5 Especificaes de amplificador de instrumentao (continuao)
92
ESPECIFICAES
ANALOG DEVICES
AD624A
BURR BROWN
INA102AG
NATIONAL
LM0036C
Rudo
Rudo em tenso,1kHz

RTI
RTO

4 nV/Hz tp
75 nV/Hz tp

G=1000
F=10 Hz 30 nV/Hz tp
F=100 Hz 25 nV/Hz tp
F=1 kHz 25 nV/Hz tp

RTI (0,1 A 10) Hz
G=1
G=100
G=200/500/1000

10 uV
PP
tp
0,3 uV
PP
tp
0,2 uV
PP
tp

(0,01 a 10) Hz
1,0 uV
PP
tp

R
F
< 50
RTI 0,1 Hz a 10 kHz

20 uV
PP
tp

Rudo em corrente
(0,1 10) Hz

60 pA
PP
tp

(0,01 a 10) Hz
25 pA
PP
tp
F=10 Hz 0,30 pA/Hz tp
F=100 Hz 0,20 pA/Hz tp
F=1 kHz 0,15 pA/Hz tp

Temperatura de
operao

(-25 a +85)C
R
L
> 50 k
(-25 a +85)C
4

(-25 a +85)C
Temperatura de
armazenagem
(-65 a +150)C (-65 a +150)C

Tenso de alimentao

(6/15/18) V (mn/tp/mx)
V
E
= 0 V
(3,5/15/18) V
(mn/tp/mx)

18 V

I
quiescente
(3,5/5) mA (tp/mx) (500/750) uA (tp,mx) (400/600) uA (tp/mx)

1
Ganho especificado pelo fabricante.
2
Para qualquer ganho ajustvel pelo usurio.
3
R em paralelo com C.
4
Em altas temperaturas a corrente de sada limitada.

Legenda:
G - Ganho R
G
- Resistncia do ganho
mx - Valor mximo atribudo ao dado R
L
- Resistncia de carga
mn - Valor mnimo atribudo ao dado V
al
- Tenso de alimentao
tp - Valor tpico atribudo ao dado V
ED
- Tenso da entrada diferencial
R
F
- Resistncia da fonte V
MC

Corrente de bias, corrente de offset e deriva trmica da corrente de bias e de
offset: os trs fabricantes fornecem os valores da corrente de bias e de offset, entretanto a
Analog Devices o faz atravs de um valor mximo e a Burr Brown e National atravs de
valores tpicos e mximos. A deriva trmica no especificada pela National, mas os outros
fabricantes fornecem valores tpicos para esses parmetros.

Tabela 5.5 Especificaes de amplificador de instrumentao (continuao)
93
Impedcia de entrada: dado especificado pelos trs fabricantes em valores tpicos. A
Analog Devices e a Burr Brown fornecem tambm valores tpicos para a capacitncia da
entrada diferencial e a capacitncia de modo comum.

Faixa mxima da tenso de entrada: um parmetro fornecido pelos trs
fabricantes em valores mnimos, ou mnimos e tpicos (National).

Mxima tenso de modo comum: a Analog Devices a especifica em relao ao
ganho selecionado, a Burr Brown no especifica e a National estabelece uma faixa de valores
mnimo e tpico.

Razo de Rejeio de Modo Comum: valor (em dB) especificado para alguns
ganhos selecionados e fornecido em valores mnimos (Analog Devices), mnimo e tpico
(Burr Brown) e tpico e mximo (National).

Resposta dinmica: valores utilizados no modelo dinmico [78].

Rudo: uma especificao que varia bastante de fabricante para fabricante. As
especificaes mais completas so da Analog Devices e Burr Brown. O modelo apresentado
na Figura 5.11, prev a especificao completa de rudo em tenso e em corrente, e para as
faixas onde so predominantes o rudo branco e tambm o rudo flicker. Para modelar essa
caracterstica necessrio identificar dentre os dados apresentados, o rudo que predomina de
acordo com a faixa de freqncia (item 2.1.7 e item 4.7), e aplicar o modelo desenvolvido
(Figura 5.11).

Tenso de alimentao: apresentado em valores mnimo, tpico e mximo pelos
fabricantes.
5.4.3 Modelo do Amplificador de Instrumentao
Devido ao grande nmero de parmetros especificados para o amplificador de
instrumentao, optou-se por mostrar primeiramente um diagrama geral da implementao do
94
modelo. De acordo com o diagrama da Figura 5.9 tem-se:

todas as especificaes fornecida pelo fabricante (coluna Especificao do
Fabricante), retiradas da folha de dados do instrumento [75] e apresentadas na Tabela 5.5
referente aos dados da Analog Devices;

os parmetros que so entradas do modelo, mas cujos valores s so estabelecidos por
ocasio da utilizao do instrumento em um experimento (coluna Experimento). No caso do
amplificador de instrumentao esses parmetros so: tenso diferencial na entrada, tenso de
modo comum, impedncia da fonte, impedncia de desbalanceamento, temperatura ambiente
do experimento, ganho do amplificador, e faixa de freqncia;

o processo de criao de valores intrnsecos do modelo, so mostrados na coluna Cria
do diagrama. No caso do amplificador, todas as caractersticas foram modeladas por uma
distribuio normal de probabilidade. Os valores da mdia e dos limites superior e inferior de
truncamento da distribuio normal foram escolhidos baseado nos dados do fabricante
(valores mnimos, tpicos e mximos) e nos critrios estabelecidos na Tabela 3.2. Uma
aplicao desses critrios para os parmetros do amplificador AD624A so mostrados na ,
assim como o valor escolhido para cada parmetro resultante da simulao com o modelo
implementado.

De acordo com o diagrama da Figura 5.9, o modelo do amplificador AD624A
composto por trs mdulos:
mdulo 1 Entrada (Figura 5.10);
mdulo 2 Rudo (Figura 5.11);
mdulo 3 Sada (Figura 5.12).
Os trs mdulos mostram o modelo completo do amplificador, com caractersticas
estticas e dinmicas. Entretanto, s sero destacadas aqui as caractersticas estticas. A
modelagem das caractersticas dinmicas encontrada na referncia [78].
O diagrama funcional mostra a implementao do modelo a partir do amplificador
ideal, considerando os parmetros que esto relacionados entrada e os relacionados sada.
95
O mdulo 1 contm o modelo dos parmetros de entrada para o ganho, tenso de
offset, corrente de offset, corrente de bias, deriva trmica associada a esses parmetros, e
razo de rejeio de modo comum.

Figura 5.9 Diagrama do amplificador de instrumentao AD624A
96
Legenda:
AI - Amplificador ideal R - Resistncia de entrada
C - Capacitncia de entrada RRMC - Razo de rejeio de modo comum
CD - Caracterstica dinmica RTI - Referido entrada
DT
G
- Deriva trmica do ganho RTO - Referido sada
DT
Ibias
- Deriva trmica da corrente de bias Sat - Saturao
DT
IOSE
- Deriva trmica da corrente de offset entrada SR - Slew rate
DT
VOSE
- Deriva trmica da tenso de offset entrada ST

- Tempo de resposta (settling time)
DT
VOSS
- Deriva trmica da tenso de offset sada T
amb
E
G
- Erro mximo do ganho T
ref
E
LG
- Erro mximo da linearidade do ganho V
ED
EXP - Experimento V
MC
f
cG
- Freqncia de corte do ganho V
OSE
- Tenso de offset entrada
F
cRRMC
- Freqncia de corte da RRMC V
OSS
- Tenso de offset sada
f
H
- Freqncia superior V
R1/fRTI
- Tenso de rudo 1/f RTI (0,1 a 10) Hz
f
L
- Freqncia inferior V
RBrRTI
- Densidade espectral de rudo RTI (1 kHz)
G - Ganho V
RBrRTO
- Densidade espectral de rudo RTO (1 kHz)
I
bias
- Corrente de bias V
S
- Tenso de sada
I
OSE
- Corrente de offset entrada V
mx
- Mxima tenso de sada
I
R1/f
- Corrente de rudo 1/f Z
DESB
- Impedncia de desbalanceamento
I
RBr
- Densidade espectral de rudo branco Z
F
- Impedncia da fonte
NT - Distribuio normal truncada

Figura 5.9 Diagrama do amplificador de instrumentao AD624A (continuao)

O mdulo 2 contm o modelo do rudo do amplificador, e o modlo 3 implementa as
caractersticas dinmicas (Settling Time e Slew-Rate), a tenso de offset na sada do
amplificador e alarmes quando o valor de alguns parmetros estiverem fora da faixa
especificada pelo fabricante.
Tem-se a seguir a descrio do modelo, onde os parmetros de entrada e de sada de
cada mdulo possuem uma numerao entre colchetes, servindo para relacion-lo entrada
dos demais mdulos. Por exemplo, a sada do G [2,3] no mdulo 1, significa que este mesmo
ponto conectado aos mdulos 2 e 3.

No mdulo 1 - modelo da Entrada (Figura 5.10) tem-se:

Tenso da entrada diferencial so somados tenso da entrada diferencial do
amplificador as fontes de erro devidas tenso de offset, deriva trmica da tenso de offset,
corrente de bias, deriva trmica da corrente de bias, corrente de offset e deriva trmica da
corrente de offset. A tenso resultante referenciada no modelo como tenso da entrada
diferencial total (V
EDT
). O modelo de cada um desses parmetros foi mostrado no Captulo 4.
97
Impedncia de entrada os modelos dos instrumentos no contemplam a parte de
interligaes entre os mdulos de uma cadeia de medio. Entretanto os dados do fabricante
especificam a impedncia de entrada atravs da resistncia e capacitncia da entrada
diferencial. O mdulo da impedncia dinmica modelado na referncia [78], considerando a
variao da impedncia com a freqncia.

Ganho so somados ao ganho do amplificador as influncias devidas variaes no
ganho, a deriva trmica do ganho e o erro de linearidade do ganho. Esses modelos so
mostrados no Captulo 4. Entretanto todos esses parmetros so relativos ao comportamento
esttico, e a variao do ganho com a freqncia implementada no modelo dinmico,
desenvolvido na referncia [78]. A sada em tenso V
G
(Figura 5.10) j considera o ganho
corrigido em funo do parmetro caracterstico e das condies do experimento.

Razo de Rejeio de Modo Comum o modelo desenvolvido para a razo de
rejeio de modo comum mostrado no item 4.12.
A modelagem da RRMC como funo da freqncia do sinal de entrada tratada na
referncia [78]. Entretanto, deve-se chamar a ateno para o decrscimo do valor de CMRR
com o aumento da freqncia de entrada (curva apresentada pelo fabricante) [75].
Alarme o modelo prev um alarme caso a tenso diferencial na entrada do
instrumento ultrapasse os limites mximos especificado pelo fabricante.

No mdulo 2 - modelo do Rudo (Figura 5.11) tem-se:
De acordo com as especificaes da Analog Devices, tem-se o valor da densidade
espectral de rudo em tenso para 1kHz referido entrada e tambm referido sada. O
modelo aplicado o desenvolvido no item 4.7 para o rudo branco. Entretanto, antes de
aplicar o modelo divide-se a densidade espectral de rudo referido sada pelo ganho, para
som-la densidade espectral de rudo referido entrada. Assim, o valor de e
n
na entrada do
modelo do rudo branco em tenso inclui as parcelas de rudo branco presentes na entrada e
na sada do amplificador. O valor de n no modelo do rudo refere-se ao fator de
abrangncia, que neste trabalho assumiu-se igual a 3,3. Portanto, o truncamento da
distribuio normal que delimita os picos de tenso de rudo ocorre em 3,3 (intervalo de
confiana de 99,9%).
98

Legenda:
C - Capacitncia de entrada R - Resistncia de entrada
DT
G
- Deriva trmica do ganho RRMC - Razo de rejeio de modo comum
DT
Ibias
- Deriva trmica da corrente de bias T
amb
DT
IOSE
- Deriva trmica da corrente de offset entrada T
ref
DT
VOSE
- Deriva trmica da tenso de offset entrada V
EDmx
- Mxima tenso da entrada diferencial
E
G
- Erro mximo do ganho V
ED
E
LG
- Erro mximo da linearidade do ganho V
EDT
- Tenso de entrada diferencial total
f
cG
- Freqncia de corte do ganho V
G
- Tenso considerando ganho corrigido
f
cRRMC
- Freqncia de corte da RRMC V
MC
G - Ganho V
OSE
- Tenso de offset na entrada
I
bias
- Corrente de bias V
RRMC
I
OSE
- Corrente de offset na entrada Z
Desb
- Impedncia de desbalanceamento
K - Sensibilidade esttica Z
F

Figura 5.10 Mdulo de entrada do modelo do amplificador AD624A
99
Para a faixa de freqncia na qual predomina o rudo flicker (0,1 a 10) Hz,
especificado um valor de tenso de rudo para cada ganho. Para se aplicar o modelo
desenvolvido para o rudo flicker (item 4.7) necessrio antes se calcular o valor da
densidade espectral de rudo para 1 Hz. Este valor tambm pode ser obtido de curvas
usualmente apresentadas pelos fabricantes.

Legenda:
f
H
- Freqncia superior RTI - Referido entrada
f
L
- Freqncia inferior RTO - Referido sada
G - Ganho V
R1/fRTI
- Tenso de rudo 1/f RTI (0,1 a 10) Hz
I
R1/f
- Corrente de rudo 1/f e
nRTI
- Densidade espectral de rudo RTI (1 kHz)
I
n
- Densidade espectral de rudo branco e
nRTO
- Densidade espectral de rudo RTO (1 kHz)
Ke - Valor da tenso de rudo em 1 Hz V
RT
- Tenso de rudo total
Ki - Valor da corrente de rudo em 1 Hz Z
F

Figura 5.11 Mdulo - rudo do modelo do amplificador AD624A
100
Das especificaes apresentadas, possvel tambm se calcular as parcelas de rudos
flicker e branco em corrente. Este ltimo tem valores apresentados em um grfico [75], onde
dada a densidade espectral de rudo em funo da freqncia. Para se somar parcela de
rudo em tenso necessrio multiplicar os valores correspondentes ao rudo branco e rudo
flicker em corrente pela impedncia da fonte.

O somatrio de todas as parcelas de rudo denominado no modelo por tenso de
rudo total (V
RT
)
,
e de acordo com a freqncia do experimento haver predominncia de um
ou de outro. A tenso de rudo total multiplicada pelo ganho (amplificador ideal) e somada
tenso de sada do amplificador (mdulo 3).
Os rudos flicker e branco em corrente so modelados de forma similar aos rudos em
tenso.
O modelo do rudo para o amplificador INA102AG da Burr Brown semelhante ao
desenvolvido para o AD624A da Analog Devices.

No mdulo 3 - modelo de Sada (Figura 5.12), tem-se a implementao de
caractersticas dinmicas como o Settling Time e o Slew Rate a partir da tenso de sada
(V
SA
), o modelo da tenso de offset na sada e a deriva trmica associada a este parmetro.

A tenso V
S1
resultante dessa implementao comparada com os limites mximos
especificados para a tenso de sada do amplificador. Portanto se V
S1
for maior que a mxima
tenso de sada especificada, o modelo prev um alarme indicando saturao do amplificador
(alarme 2).
A essa tenso V
S1
tambm so somadas as contribuies devidas tenso de rudo
total e rejeio de modo comum, para se obter a tenso V
S
de sada do amplificador real.

A partir da tenso V
ED
(mdulo 1) calcula-se a mxima tenso de modo comum
especificada para o AD624A (Tabela 5.5). Comparando-se esses valores, o modelo prev um
alarme caso a mxima tenso de modo comum exceda o valor especificado (alarme 3).

101

Legenda:
AI - Amplificador ideal V
MCmx
- Mxima tenso de modo comum
DT
IOSS
- Deriva trmica da corrente de offset na sada V
OSS
- Tenso de offset na sada
G - Ganho V
RRMC
- Tenso de rejeio de modo comum
SR - Slew-rate V
RT
- Tenso de rudo total
ST

- Tempo de resposta (settling time) V
G
- Tenso considerando ganho corrigido
V
EDT
- Tenso da entrada diferencial total V
S
- Tenso de sada do amplificador
V
MC
- Tenso de modo comum V
Sat
- Tenso de saturao

Figura 5.12 Mdulo de sada do modelo do amplificador AD624A

A Tabela 5.6 mostra o resultado da gerao de valores aleatrios para estabelecimento
dos parmetros caractersticos do amplificador de instrumentao, de acordo com os critrios
estabelecidos na Tabela 3.2.

Tabela 5.6 Dados de ajuste do amplificador AD624A - SN01
102

M
O
D
E
L
O

A
M
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I
F
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Captulo 6
CONCLUSES E SUGESTES PARA
TRABALHOS FUTUROS
6.1 CONCLUSES
O objetivo do presente trabalho foi o de propor um mtodo de modelagem de
caractersticas metrolgicas e operacionais na forma modular, para que pudessem ser
empregadas na modelagem de instrumentos de medio.
Os modelos das caractersticas so baseados nas especificaes do fabricante e na
anlise criteriosa das caractersticas estticas representativas do comportamento do
instrumento.
A estrutura geral do modelo de um instrumento formada pela caracterstica de
resposta nominal do instrumento e pelo encadeamento de mdulos que contm os modelos
das caractersticas metrolgicas modeladas a partir de especificaes do fabricante.
Os modelos das caractersticas implementadas foram integrados no desenvolvimento
do modelo de alguns instrumentos, visando constatar a viabilidade de implementao atravs
de mdulos e tambm a facilidade de integrao desses mdulos para compor um
determinado instrumento.
A partir do modelo geral de um instrumento, foi possvel criar instrumentos com
valores especficos dentro dos limites especificados pelo fabricante.
O processo de criao desses instrumentos utiliza a anlise estatstica dos valores
especificados na folha de dados para cada parmetro.
Captulo 6: CONCLUSES E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS
105
A seguir so apresentadas concluses deste trabalho:

Pde ser constatado que o desenvolvimento dos modelos de forma modular facilita
a implementao de diferentes instrumentos de medio. Entretanto, a falta de
padronizao das especificaes, assim como a no uniformidade da forma de
apresentao dos dados por parte do fabricante, algumas vezes tornou difcil a
generalizao do modelo de uma caracterstica. Nesses casos, procurou-se
exemplificar formas alternativas de modelagem para diferentes especificaes.

Antes de se modelar um instrumento necessria uma anlise detalhada do
princpio de funcionamento, da caracterstica de resposta nominal e de todos os
parmetros que podem influenciar a sua resposta.

O resultado de simulao do modelo, e mesmo a facilidade de implementao
desse, est relacionado qualidade da informao apresentada pelo fabricante. As
tabelas comparativas apresentadas no Captulo 5, contm dados extrados das
especificaes do instrumento e visam auxiliar na exemplificao de formas
alternativas de modelagem de uma determinada caracterstica. Isso foi feito sempre
que o modelo no pde ser generalizado para as diferentes formas de especificao
apresentadas.

Devido a no uniformidade acerca da forma de apresentao dos dados,
estabeleceu-se os critrios apresentados na Tabela 3.1. Conclui-se que uma
especificao considerada completa para efeito de modelagem, quando so
fornecidos:
- valores mnimos, tpicos e mximos;
- a distribuio estatstica que melhor representa a especificao;
- o nvel de confiana atribudo a essa especificao.
No se encontrou resposta dos fabricantes para o tipo de distribuio estatstica
aplicvel e nem para nvel de confiana atribudo. Entretanto, procurou-se analisar
cada caracterstica e verificou-se ser possvel modelar a maioria delas por uma
106
distribuio normal. Para o nvel de confiana foi atribudo o valor de 3,3 para todos
os modelos desenvolvidos.

Verificou-se que para se modelar algumas caractersticas como a linearidade e a
histerese, so necessrios alm dos limites mximos especificados pelo fabricante, o
conhecimento do comportamento do parmetro ao longo da faixa nominal do
instrumento. Nesses casos, para o desenvolvimento do modelo utilizando-se apenas as
especificaes, foi necessrio adotar algumas consideraes e simplificaes. Para que
os modelos de tais parmetros possam simular uma forma mais representativa do
comportamento real do instrumento, so necessrias informaes adicionais do
fabricante, levantamento dos dados de calibrao, ou mesmo levantamento de dados
atravs de anlise experimental minuciosa.

Todos os modelos de caractersticas apresentados foram simulados e testados,
entretanto h necessidade de valid-los atravs da comparao com o comportamento de tais
caractersticas em instrumentos reais.

Com relao ao trabalho como um todo, pode-se concluir que os objetivos propostos
foram atingidos, e que as ferramentas desenvolvidas para a modelagem de caractersticas
estticas, podem contribuir de modo eficiente para a elaborao de novos modelos.

6.2 SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS
Foram identificadas as seguintes oportunidades relativas ao desenvolvimento de
futuros trabalhos:

a) Levantamento do comportamento de determinadas caractersticas atravs de
anlise experimental.
Pde-se concluir deste trabalho, que quanto mais completa e detalhada forem
as especificaes do fabricante, melhor ser o desempenho do modelo. Verificou-se
na prtica que muitas das informaes necessrias para a modelagem no so
107
apresentadas pelo fabricante. Assim sendo, uma pesquisa experimental acerca do
comportamento de determinadas caractersticas como a linearidade e a histerese
poderiam fornecer dados relevantes para o aperfeioamento dos modelos
desenvolvidos.

b) Desenvolvimento do modelo de diferentes instrumentos de medio.
Considerando a diversidade de instrumentos existentes no mercado e os
diferentes princpios de funcionamento, seria desejvel se aplicar as ferramentas
desenvolvidas neste trabalho para o desenvolvimento de novos modelos. Esse
desenvolvimento associado dificuldade de generalizao de determinadas
caractersticas, como por exemplo, o auto-aquecimento, objetiva a sistematizao do
modelo dessa caracterstica aplicvel a diferentes classes de instrumentos de medio.
O desenvolvimento de novos modelos de instrumentos tambm conduziria
possibilidade de simulao das mais diversas cadeias de medio virtuais.

c) Validao dos modelos:
Os modelos desenvolvidos foram testados atravs de simulao. Entretanto
para valid-los, seria necessria uma anlise comparativa do desempenho de tais
caractersticas simuladas com as correspondentes caractersticas em instrumentos
reais. Para isso prope-se tambm adaptar ferramentas j desenvolvidas para a anlise
de incertezas de medio, visando promover o levantamento da incerteza dos
modelos.

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