UNIVERSIDAD NACIONAL DEL SANTA

FACULTAD DE INGENIERÍA

E.A.P : INGENIERÍA EN ENERGÍA

ASIGNATURA : FÍSICA IV

TEMA : INTERFERÓMETRO DE MICHELSON

DOCENTE : ………………………

ESTUDIANTES :

 Rodríguez Trujillo Johann

 Mundaca Custodio Jeancarlos

CICLO :V
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LABORATORIO N° 2
INTERFEROMETRO

1. OBJETIVOS:
 Determinar la longitud de onda de la luz emitida por un láser He-ne
 Manipular el interferómetro para obtener las diferentes distancias a un
número de franjas de interferencia determinada.

 Observar el patrón de interferencia de haz de luz emitido por un láser He-

ne.

2. FUNDAMENTO TEORICO:

- El interferómetro de Michelson es un interferómetro simple, que puede

presentarse en diversas variantes, permitiendo el estudio de la interferencia y
la implementación de diversas aplicaciones. Este interferómetro es el más
simple y más conocido de los interferómetros de división de amplitud que
utilizan espejos y divisores de haz. El uso de estos componentes tiene la
ventaja de los haces superpuestos están claramente separados antes de la
recombinación, por lo que uno de ellos puede sujetarse, aisladamente, a las
alteraciones de los controles.

- La Fig. 1 muestra un diagrama del interferómetro diseñado originalmente por

Michelson para probar la existencia del éter, medio hipotético en el cual se
suponía que se propagaba la luz.1,2

FIGURA N° 01

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- Diagrama del interferómetro de Michelson. El haz luminoso emitido por el

láser de He-Ne incide sobre el separador de haces, el cual refleja el 50% de la
onda incidente y transmite el otro 50%. Uno de los haces se transmite hacia el
espejo móvil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2. Ambos espejos
reflejan la luz hacia el separador de haces, de forma que los haces transmitido
y reflejado por este último se recombinan sobre la pantalla de observación.
Como los dos haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma
fuente luminosa, la diferencia de fase se mantiene constante y depende sólo de
la diferencia de camino óptico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas
generadas por el interferómetro se pueden visualizar sobre la pantalla
mediante la colocación de una lente convergente de corta distancia focal entre
el laser y el separador de haces. El sistema de franjas de interferencia
producido es similar al que se muestra en la Fig. 2. El camino óptico de uno de
los haces se puede variar desplazando el espejo M1. Si dicho espejo se desplaza
en λ/4 alejándose del separador de haces, el camino óptico de ese haz
aumentará en λ/2. Las franjas de interferencia cambiarán de modo que el
radio de los máximos aumentará y ocupará la posición de los mínimos
iniciales. Si el espejo M1 se desplaza en una distancia adicional de λ/4, el
nuevo sistema de franjas producido será indistinguible del original.

FIGURA N° 02
Franjas de interferencia producidas
por el interferómetro de Michelson.

- Por lo tanto, desplazando lentamente el espejo en una distancia d y contando

el número m de franjas que van pasando por un punto fijo de la pantalla, la
longitud de onda λ de la luz se puede calcular como

𝟐𝒅
𝝀=
𝒎

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3. Materiales y Equipos

N° Materia y equipo Imagen

01 Diodo laser
He-Ne

01 lente + 100 mm

01 banco óptico.

01 interferómetro
de Michelson

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4. Procedimiento
o Paso N°1:
Pasamos a prender el Diodo laser He-Ne y se pasa a calibrar el
interferómetro que los puntos coincida exactamente en el banco óptico
para que los dos puntos reflejados del interferómetro reflejen en el
blanco óptico con solo un punto.
o Paso N°2:
Antes de empezar con la medición tenemos que darnos cuenta que el
láser refleje bien el todos los espejos.
o Paso N°3:
Ahora que ya está todo listo pasaremos a marcar en punto más brillante
del as de luz reflejado en el blanco óptico, pasaremos a marcar los
extremos de la luz más brillante
o Paso N°4:
Una vez todo listo pasaremos a contabilizar todas las luces, primero
hasta el 30 luego pasaremos a medir a que distancia que avanzó el
interferómetro de Michelson, aremos la medición hasta 30 luces 3 veces
para luego procedimos a sacar el promedio.
o Paso N°5:
Una vez terminado el contabilizado por el 30, iremos a hacer el mismos
resultado con 60 y 90 sacando sus promedios de distancia
respectivamente, el margen del dispositivo de interferómetro de
Michleson es de 0,1.

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5. RESULTADOS:

n d1 d2 d3 ̅
𝒅 𝞴 𝝀̅
µm µm µm µm nm nm
25 0,05 0,05 0,05 0,05 0,4
50 0,095 0,1 0,095 3x0082x10−3 3,8 2,7789

75 0,152 0,16 0,154 0.1463 4,106

 Hallamos las “𝞴”:

 Cuando n=25:
𝟐𝒅𝒆
𝞴=
𝒏

2(0,05µm)
𝞴= = 0,0004 µ𝑚
25
𝞴 = 0,4 𝑛𝑚

 Cuando n=50:

𝟐𝒅𝒆
𝞴=
𝒏

2(0,095µm)
𝞴= = 0,0038 µ𝑚
50
𝞴 = 3,8 𝑛𝑚
 Cuando n=75
𝟐𝒅𝒆
𝞴=
𝒏

2(0,154µm)
𝞴= = 0.41067 µ𝑚
75
𝞴 = 4,106 𝑛𝑚

 Hallamos la “𝝀̅ 𝒆𝒙𝒑”:

0,4𝑛𝑚 + 3,8𝑛𝑚 + 4,106 𝑛𝑚

̅ 𝒆𝒙𝒑 =
𝞴
3
̅ 𝒆𝒙𝒑 = 2,7789 𝑛𝑚
𝞴

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6. Cuestionario
6.1 ¿Cuáles son las fuentes de error que has podido
determinar?
o Una de las fuentes de error más importante fue poder
encajar las dos luces del láser en un mismo punto, tuvimos
que calibrarlo bien para poder avanzar con nuestra práctica.
o Otra fuente de error fue encontrar el punto de luz más
intenso para así considerarlo como punto medio y con el
cual de ahí iniciar en conteo.
o Otras fuentes de error pero mínima fue la de la medición de
la distancia recorrida por cada luz emitida por el láser.
o Una fuente de error que siempre existirá será la del
dispositivo interferómetro de Michelson como la del espejo
que se encuentran a 45° para transferir la luz del laser
o
6.2 Calcula el error experimental cometido en la práctica.

𝑬𝒓𝒓𝒐𝒓 𝒆𝒙𝒑𝒆𝒓𝒊𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍
𝒗𝒂𝒍𝒐𝒓 𝒕𝒆ó𝒓𝒊𝒄𝒐 − 𝒗𝒂𝒍𝒐𝒓 𝒆𝒙𝒑𝒆𝒓𝒊𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍
=
𝒗𝒂𝒍𝒐𝒓 𝒕𝒆ó𝒓𝒊𝒄𝒐

𝑬𝒓𝒓𝒐𝒓 𝒆𝒙𝒑𝒆𝒓𝒊𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍
𝜆𝑡𝑒𝑜𝑟𝑖𝑐𝑜 − 𝜆𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙
=
𝜆𝑡𝑒ó𝑟𝑖𝑐𝑜

𝑬𝒓𝒓𝒐𝒓 𝒆𝒙𝒑𝒆𝒓𝒊𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍
632.8 𝑛𝑚 − 2.7789 𝑛𝑚
=
632.8 𝑛𝑚

𝑬𝒓𝒓𝒐𝒓 𝒆𝒙𝒑𝒆𝒓𝒊𝒎𝒆𝒏𝒕𝒂𝒍
= 0.995

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6.3 ¿Por qué se observan franjas oscuras y brillantes

alternadas?. Explique
 Porque los dos haces de luz que salen del interferómetro
llegan a coincidir en un solo punto, estos haces al tener la
misma amplitud y fase se superimponen generando un
patrón de interferencia lo que da lugar a esas zonas de
iluminación máxima y zonas de iluminación cero, o mejor
dicho da lugar a las franjas brillantes y oscuras.

6.4 Determinar el uso que presenta el interferómetro dentro de

la medición.
 El interferómetro gracias al divisor de haz con el que
cuenta divide el haz que salió de la fuente en dos haces los
cuales al pasar por una serie de espejos finalmente
coincidirán en un punto en la pantalla en donde se
generará un patrón de interferencia o de franja, dicho
patrón no se puede apreciar a simple vista para poder
apreciar dicho patrón de interferencia es necesario usar
un lente que magnifique el fenómeno, esto es muy
importante pues gracias a esto podemos contar los
números de franjas, observar las longitud marcada por el
tornillo micrómetro y finalmente hallar la longitud de
onda.

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7. CONCLUSIONES
 Que una de las principales características del yunque de diamante que a medidas que
está en bajo altas presiones nos puede dar la posibilidad de obtener las propiedades
físico-químicas de los siguientes materiales.

 La importancia es que permite simular las presiones que de otro modo no volvería a
ver, que nos da acceso a un mundo de materiales que de otro modo sería
inobservable.

 El sistema criogénico produce y almacena oxígeno en un estado líquido a bajas

temperaturas y tiene que convertirse en gas antes de su aplicación.

 La aplicación de P proporciona un medio importante para explorar la

superconductividad no convencional, principalmente en el límite del magnetismo en
los sistemas de fermiones pesados. sin duda cabe destacar que P juega un papel
importante en el ajuste del estado normal y las propiedades superconductoras de
estos compuestos los cuales aún no conocemos y que probablemente sean mejores.

 La aplicación de P sobre nanopartículas también crea nuevos materiales. como es el

caso del descubrimiento de alótropos de carbono super duros que pueden marcar el
diamante Este tipo de descubrimiento crea una nueva categoría de material cuyas
aplicaciones pueden llegar Aser prometedoras.

 El avance principal en la física y la tecnología de alta P indudablemente tiene un gran

impacto en todas las ciencias de la materia. Los entornos extremos de P-T presentan
un vasto, inexplorado y fértil terreno para buscar materiales y fenómenos
transformadores. Los estudios de física de alta P brindan una nueva ruta para
descubrir materiales estructurales avanzados y nuevos materiales con rendimiento
mejorado para la transformación y trasmisión de energía.

 Los experimentos que realizaron se lograron grandes descubrimientos como los

aislantes topológicos que sirven para la fabricación de computadoras.

 Los superconductores son los conductores más raros por que presenta la ausencia
total de resistividad eléctrica por lo tanto son los elementos perfectos para transportar
energía eléctrica porque no presentan perdidas de calor.

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REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

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Reverté.
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Sci.Instrum. 66, 2595-2598.
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thomson
 Zemansky, M.W. (1968). Heat and Thermodynamics, McGraw-Hill.,
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 Schroeder, Daniel V. (2000). Thermal Physics, Addison Wesley
Longman., p.142
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