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4. El chasis mismo puede funcionar como disipador de calor para los diodos de potencia.
5. Los diodos túnel se diferencian en que tienen una región de resistencia negativa a niveles de
voltaje menores que el voltaje de umbral de unión p-n típica. Esta característica es
particularmente útil en osciladores para establecer una forma de onda oscilante con una
fuente de alimentación de cd conmutada. Debido a su región de empobrecimiento reducida,
también se le considera como un dispositivo de alta frecuencia en aplicaciones donde se
requieren tiempos de conmutación de nanosegundos o picosegundos.
9. Las LCD tienen un nivel de absorción de potencia más bajo que los LED, pero su duración es
mucho más corta y requieren una fuente luminosa interna o externa.
10. La celda solar es capaz de convertir energía luminosa en forma de fotones en energía
eléctrica en la forma de una diferencia de potencial o voltaje. El voltaje terminal inicialmente
se incrementará de inmediato con la aplicación de luz, pero luego el aumento ocurrirá a un
ritmo cada vez más lento. En otras palabras, el voltaje terminal alcanzará un nivel de
saturación en algún punto donde cualquier incremento adicional de la luz incidente tendrá un
efecto mínimo en la magnitud del voltaje terminal.
OTROS DISPOSITIVOS
DE DOS TERMINALES
828 11. Un termistor puede tener regiones con coeficientes de temperatura positivos o
negativos determinados por el material de que esté hecho o por la temperatura del material.
El cambio de temperatura puede deberse a efectos internos como los provocados por la
corriente que fluye a través del termistor o por efectos externos de calentamiento o
enfriamiento.
1. Un dispositivo controlado por corriente es aquel en el que una corriente define las
condiciones de operación del dispositivo, mientras que un dispositivo controlado por
voltaje es aquel en el que un voltaje particular define las condiciones de operación.
2. La corriente máxima de cualquier FET se denota por IDSS y ocurre cuando VGS = 0 V.
6. Las características de transferencia (ID en función de VGS) son características propias del
dispositivo y no son sensibles a la red en la cual se utilice el JFET.
8. Las condiciones de operación máximas están determinadas por el producto del voltaje
drenaje-fuente con la corriente del drenaje.
10. El MOSFET de tipo decremental posee las mismas características de transferencia que el
JFET para corrientes del drenaje de un nivel hasta de IDSS. En este punto, las características de
un MOSFET de tipo decremental continúan hasta niveles por arriba de IDSS, mientras que las
del FET terminan ahí. 11. La flecha del símbolo de los JFETs o de los MOSFETs de canal-n,
siempre apuntará hacia el centro del símbolo, mientras que la flecha de un dispositivo de
canal-p siempre apuntará hacia fuera del centro del símbolo.
DIODOS ZENER
En la sección 1.6 analizamos con cierto detalle la región Zener de la figura 1.52. En la que se
aprecia la caída en una forma casi vertical de la característica bajo un potencial de polarización
inversa denotado como VZ. El hecho de que la curva caiga alejada del eje horizontal en lugar
de que se eleve alejada de la región positiva VD indica que la corriente en la región Zener
mantiene una dirección opuesta a aquélla de un diodo en polarización directa.
Esta región de características únicas se utiliza en el diseño de los diodos Zener, los cuales
tienen el símbolo gráfico que aparece en la figura 1.53a. Tanto el diodo semiconductor como el
diodo Zener se presentan juntos en la figura 1.53 para asegurar que se entienda claramente la
dirección de la corriente en cada uno, junto con la polaridad requerida para el voltaje aplicado.
Para el diodo semiconductor, el estado de “encendido” resistirá una corriente en dirección de
la fecha del símbolo. Para el diodo Zener, la dirección de conducción es opuesta a la flecha de
su símbolo como indicamos en la parte introductoria de esta sección. Observe también que la
polaridad de VD y de VZ son las mismas que las que se hubieran obtenido si ambos fueran
elementos resistivos.
Como su nombre lo indica, el diodo emisor de luz (LED) es un diodo que es capaz de emitir luz
visible cuando se energiza. En cualquier unión p-n con polarización directa existe, dentro de la
estructura y principalmente cerca de la unión, una recombinación de huecos y electrones. Esta
recombinación requiere que la energía poseída por el electrón libre sin enlace sea transferida
hacia otro estado. En todas las uniones de semiconductores p-n cierta cantidad de esta
energía se desprenderá en forma de calor y otra en forma de fotones.
En el caso del silicio y del germanio, el porcentaje mayor de energía que se desprende es en
forma de calor y en una medida insignificante, se desprende luz emitida. En otros materiales,
como el fosfuro de arseniuro de galio (GaAsP) o el fosfuro de galio (GaP), el número de fotones
de energía luminosa emitida es suficiente como para crear una fuente de luz altamente visible.
DIODOS DE BARRERA SCHOTTKY
(PORTADORES CALIENTES)
En años recientes, se ha presentado un interés creciente en un dispositivo de dos terminales
conocido como diodo de barrera Schottky, de barrera de superficie o de portadores calientes.
Sus áreas de aplicación se limitaron originalmente al rango de frecuencias muy altas debido a
su tiempo de respuesta veloz (especialmente importante en altas frecuencias) y a un bajo
factor de ruido (una cantidad de real importancia en aplicaciones de alta frecuencia). Sin
embargo, en años recientes, este dispositivo se presenta de manera cada vez más frecuente en
fuentes de alimentación de alto y bajo voltajes así como en convertidores ac-dc. Otras áreas de
aplicación del dispositivo incluyen a los sistemas de radar, lógica TTL Schottky para
computadoras, mezcladores y detectores para equipo de comunicaciones, instrumentación y
convertidores analógico digitales.
Su construcción es muy distinta de la unión p-n convencional, en cuanto a que se crea una
unión metal-semiconductor como la mostrada en la figura 19.1. El semiconductor empleado es
por lo general, silicio de tipo n (aunque en ocasiones se utiliza silicio de tipo p).
DIODOS TÚNEL
El diodo túnel fue presentado por primera vez por Leo Esaki en 1958; sus características, que
se muestran en la figura 19.13, son diferentes a las de cualquier otro diodo analizado hasta
ahora
en el sentido de que cuenta con una región de resistencia negativa, en la cual, el incremento
en el voltaje terminal ocasiona una reducción en la corriente del diodo.
El diodo túnel se fabrica mediante el dopaje de los materiales semiconductores que darán
forma a la unión p-n a un nivel de cientos o varios miles de veces el nivel de dopaje de un
diodo
semiconductor típico. Esto ocasiona una región de agotamiento muy reducida, del orden de
magnitud de 10–6 cm, típicamente cercana a del ancho de esta región para un diodo
semiconductor
típico. En esta delgada región de agotamiento, los portadores pueden atravesarla como
un “túnel” en lugar de intentar superarla, a bajos potenciales de polarización directa que son
responsables del pico en la curva de la figura 19.13. Para propósitos de comparación, se
sobrepuso
una característica típica de un diodo semiconductor sobre la característica del diodo túnel
de la figura 19.13.
Esta reducida región de agotamiento da por resultado portadores que “atraviesan perforando”
a velocidades que exceden por mucho la de los diodos convencionales. El diodo túnel puede,
por tanto, utilizarse en aplicaciones de alta velocidad como en computadoras, donde se
buscan
tiempos de conmutación en el orden de los nanosegundos o picosegundos.
Los materiales semiconductores que se utilizan con mayor frecuencia en la fabricación de los
diodos túnel son el germanio y el arseniuro de galio. La relación IP/IV es muy importante para
aplicaciones de cómputo.
FOTODIODOS
El interés en dispositivos sensibles a la luz se ha incrementado de manera casi exponencial en
años recientes. El campo resultante de la optoelectrónica recibirá un gran interés por parte de
investigadores a medida que se realicen esfuerzos para mejorar los niveles de eficiencia.
CELDAS SOLARES
En años recientes, ha aumentado el interés en la celda solar como una fuente alternativa de
energía.
Cuando se considera que la densidad de potencia recibida del sol al nivel del mar es de
aproximadamente
100 mW/cm2 (1 kW/m2), ciertamente es una fuente de energía que requiere mayor
investigación y desarrollo para maximizar la eficiencia de conversión de energía solar a
energía eléctrica.
El selenio y el silicio son los materiales que se utilizan más ampliamente para las celdas
solares, aunque también se utilizan el arseniuro de galio, el arseniuro de indio y el sulfuro de
cadmio entre otros. La longitud de onda de la luz incidente afectará la respuesta de la unión
p-n a los fotones incidentes.
CONSTRUCCIÓN Y CARACTERÍSTICAS
DE LOS JFETs
Como se indicó anteriormente, el JFET es un dispositivo de tres terminales, con una terminal
capaz de controlar la corriente entre las otras dos. En el análisis del transistor BJT, se utilizó
el transistor npn para la mayoría de las secciones de análisis y diseño, y luego se dedicó sólo
una sección al impacto del uso del transistor pnp. Para el caso del transistor JFET, el dispositivo
de canal-n aparecerá como el dispositivo principal y se dedicarán párrafos y secciones al
impacto del uso de un JFET de canal-p.
La construcción básica del JFET de canal-n se muestra en la figura 5.2. Observe que la
mayor parte de la estructura es el material de tipo n que forma el canal entre las capas
integradas
de material de tipo p. La parte superior del canal de tipo n se encuentra conectada por
medio de un contacto óhmico a una terminal referida como drenaje (D), mientras que el
extremo
inferior del mismo material se conecta por medio de un contacto óhmico a una terminal
referida como fuente (S). Los dos materiales de tipo p se encuentran conectados entre sí y
también
con la terminal de compuerta (G). Por tanto, el drenaje y la fuente se encuentran conectados
a los extremos del canal de tipo n y la compuerta a las dos capas de material tipo p. En
ausencia
de potencial alguno aplicado, el JFET cuenta con dos uniones p-n bajo condiciones sin
polarización. El resultado es una región de agotamiento en cada unión como se muestra en la
figura 5.2, la cual se asemeja a la misma región de un diodo bajo condiciones sin polarización.
Recuerde también que una región de agotamiento es aquella región que no presenta
portadores
libres y es, por tanto, incapaz de soportar la conducción a través de ella.
Adicionalmente:
Es debido a la capa aislante del SiO2 en la construcción del MOSFET que se explica
la muy deseable alta impedancia de entrada del dispositivo