Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81

ISSN 1405-7743 FI-UNAM

(artculo arbitrado)

La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar

eventos nacientes; circuito electrnico, programas y
aplicaciones a seales de diversos campos
The Tendency of the Crest Factor Helps Detect Nascent Events; Electronic Circuit,
Software and Applications to Signals from Diverse Fields

Nez-Prez Ricardo Francisco

Electrnica y Telecomunicaciones
Centro de Investigacin Cientfica y de Educacin Superior de Ensenada, CICESE
Correo: rnunez@cicese.mx

Informacin del artculo: recibido: abril de 2012, aceptado: marzo de 2013

Resumen

Dentro de las tcnicas de anlisis de seales en el dominio del tiempo, el

factor de cresta (FC) es sin duda una de las ms simples y rpidas de imple-
Descriptores:
mentar por medio de circuitos electrnicos o programas de cmputo. Es por
 IDFWRUGHFUHVWD
  WHQGHQFLD
  FLUFXLWRVFDyWLFRV
 FXLGDGRGHPDTXLQDULD
-  GLVWRUVLyQHOpFWULFD

-
pos del conocimiento; ya sea generndolo por medio de un circuito electr-
nico que se desarrolla o calculndolo por medio de rutinas que se realizan
-

-

-
can diferencias entre la caosidad de circuitos con esas dinmicas, detectan
-
-
 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

laciones y mediciones realizadas para cada uno de los 4 casos estudiados.

Otras aplicaciones originales del FC que se proponen son: a) controlar el

-
pla a mediano plazo estudiar y utilizar un FC que considere la seal mxima

Abstract

Within the signal analysis techniques in the time domain, the crest factor (CF) is
undoubtedly one of the most simple and fast to implement using electronic circuits
Keywords:
and/or software. Thats why it has been used reliably to care for machinery and to
evaluate the quality of supply. One of the major manufacturers of instruments for crest factor
 trend
current signal as the ratio of the peak level and its rms value during a certain period chaotic circuits
 care of machinery
electrical distortion
either by generating it with a developed electronic circuit, or with calculations,
through routines that are performed with the programs DADISP and LabVIEW.
The results are validated and checked for all the above factors and trends through a

were acceptable so that the tools were applied to detect early faults in electrical ma-

detect abnormal respiratory distress or rales in patients and to detect harmful distor-
tions in the electrical current, all this based on simulations and measurements for
each of the 4 cases studied. Other CF original applications proposed are: a) control

power factor of non-linear and inductive loads. A medium-term study and use a CF

that it can improve event detection.

Introduccin ridicas, pulsantes peridicas, aperidicas, entre otras.

Por ello, cuando las sintomticas pulsantes se incre-
Dentro de las tcnicas de anlisis de seales en el domi-
   
 la frecuencia fundamental aumenta, con respecto al res-
ms simples y rpidas de implementar por medio de to de las seales, el factor mencionado disminuye; estas
 -
- cial interesante de aplicacin. Aunque en ese sentido, se
gramas para el cuidado de maquinaria, ya que miden conocen contadas aplicaciones de este factor en otros

propone utilizarlo en el de los circuitos con dinmica
distorsin de la corriente en la carga (Fluke, 1990; Cce- -
rio, como se sealar ms adelante.
-
  

factor resulta apropiado para la deteccin temprana del
-
  -
- 

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 Nez-Prez Ricardo Francisco

- -
tor de potencia, entre otras.
- En las conclusiones se menciona que el FC y su ten-

-
decisin de pasar a un anlisis y diagnstico con equipo
- ms especializado. Se plantea estudiar el factor mencio-
niente tomar las medidas apropiadas, ya que el factor nado considerando ahora la diferencia entre los picos
- -
trico en la seal de informacin. ciones en otros campos del conocimiento. Finalmente se
- presentan los agradecimientos y las referencias.
mente el potencial del FC y de su tendencia en la detec-

El factor de cresta; circuito electrnico,
circuito electrnico sencillo que lo genera, como por los
programas y validacin
 
-  -
- 

-
et al.,    
-
-
 -
adquirida, aplicar los mismos procedimientos en los
campos de la medicin de la dinmica de los circuitos 
 - 
- -
 et al.,  
- -
toreo permanente de pacientes.  -
En la siguiente seccin de explicacin del FC, se dientes que indican la relacin que existen entre cada
- 
et al-
 
   tendencia, es decir, si aumenta
o disminuye y con qu tasa lo hace indica que algo im-
 - -
   -

 diagnstico ms especializado, como los que se utilizan
- en el dominio de la frecuencia (Flix, 1992).

- El FC
-

FC para 0 < tt0 (1)
del sistema respiratorio y el grado de distorsin de la 
corriente elctrica impuesta por cargas no-lineales. En
1
la seccin de anlisis se examinan y reportan los resul- Vef
T  Ve(t ) * Ve(t )  dt (2)
-
donde:
procedimiento de anlisis temporal de seales en el
control de caos, el monitoreo continuo y en tiempo t0

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

t

 Una seal cosenoidal ideal que se deforma presenta un

tios) FC mayor a 1.4142, dependiendo del grado de distor-
 sin impuesto.

-
2EWHQFLyQGHO)&SRUPHGLRGHOFLUFXLWR
lla y rpida, en algunos casos es necesario tener cui-
HOHFWUyQLFR&)&
dado, ya que puede alterarse producto del ruido
elctrico que se incorpora a las seales peridicas de CFC, realiza las
informacin. operaciones analgicas mostradas en el diagrama a

clculo del FC (explicado en el segundo punto de esta El CFC es sencillo, contiene tres etapas con operado-
seccin) de tres seales ideales generadas y analizadas
con el programa DADISP (2002). Las seales son: cose- -
  - -
t
 -

- 
    -
 
-
  Coughlin y
  

W1: Ruta al caos

6

6($/&$7,&$
SENAL CAOTICA
max=4.28
4

media=0.5145

rms=1.4818

FC(+)=2.9
FC(-)=-2.6

-2

min=-3.8
-4
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000

)LJXUD:VHxDOFDyWLFD1~xH]PRVWUDQGRDOJXQDVGHVXVFDUDFWHUtVWLFDVPHGLDYDORUSLFRPD[PLQYDORUHILFD]\VXV)&

6HREVHUYDHOLQLFLRGHOFDRVDSDUWLUGHORVPVHJSURGXFWRGHODELIXUFDFLyQYHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPVHJ

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 Nez-Prez Ricardo Francisco

W1: gcos(100,1/100,10) W2: max(W1)/sqrt(partsum(W1*W1))*10

1.5
1: No Units
0.5 100: 1.414214
101:
-0.5 102:
103:
-1.5
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

W3: sqrt(partsum(W1*W1))/10 W4: max(W1)/w3

0.8
10
0.6
Vef 6
0.4 FC

0.2 2
Vef
0 -2
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

W5: Gsqrwave(100, .01, 10.0, 0)-0.5 W6: max(W5)/sqrt(partsum(W5*W5))*10

0.6
1: No Units
0.2 100: 1.000000
101:
-0.2 102:
103:
-0.6
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

W7: curr*1 W8: max(w7)/sqrt(partsum(w7*w7))*10

1 1: No Units
100: 2.000000
0.6
101:
0.2 102:
103:
-0.2
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

)LJXUD6HxDOHVLGHDOHV:FRVHQRLGDO:FXDGUDGD\:FRVHQRLGDOUHFWLILFDGDGHPHGLDRQGD\VXVFRUUHVSRQGLHQWHV)&

JHQHUDGRV\FDOFXODGRVFRQHOSURJUDPD'$',63UHVSHFWLYDPHQWH(Q:VHPXHVWUDODUHODFLyQHQWUH9HI9S\HO)&SDUD:
YHUWLFDOYROWLRV\KRUL]RQWDOVHJXQGRV

-


se disea e implementa atendiendo

propuestas, siguiendo las recomen-
-
et al.,

1990). Se seleccionan los componen-

menor a 1%, de la esscala completa, y
)LJXUD'LDJUDPDFXDGURVGHOFLUFXLWRHOHFWUyQLFR&)&SDUDREWHQHUHO)& -
-

cumplir el CFC son: et al
   
t 1990):
t

1
 Vef (c.d.)  Ve(t ) * Ve(t )  dt
d) error en linealidad menor a 2% de la escala completa. T
donde:

t- T

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

t cador-integrador de seguimiento y retencin (Stout y


 -

t) construido con el t-
 -
- 
operacin; los componentes que lo acompaan se eli-
   -

 al FC est dado por:

10Vp(Z2)
 FC Vs  W, Y2  (4)
Vef (X1)

Los componentes que lo integran se eligen conside- -
cionado.
- 
-

)LJXUD&LUFXLWRFRQYHUWLGRUDYDORU
HILFD]YHUGDGHUR$'$-+GHO9HW

)LJXUD&LUFXLWRGHWHFWRUUHWHQHGRUFRQWLQXRGHOQLYHOGHOSLFRPi[LPRGHO9HW/)1

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 Nez-Prez Ricardo Francisco

)LJXUD&LUFXLWRGLYLVRUDQDOyJLFR$'$1TXHREWLHQH

FRQWLQXDPHQWHHOFRFLHQWH9VHQWUHHOQLYHOGHOSLFRPi[LPR9S )LJXUD7DEOLOODGHVLPXODFLyQPRVWUDQGRHO&)&HQSUXHEDVGH
\HO9HIGHODVHxDO9Ht YDOLGDFLyQ

9HWYHQWDQD: 9SPi[LPR 9DORUHILFD] )&FDOFXODGR )&'$',63: 7DEOD/RV)&GHODVVHxDOHVDGTXLULGDV
\SRVDQDOL]DGDVFRQHOSURJUDPD'$',63
6HQRLGDO:    :
&XDGUDGD:    :

&iOFXORGHO)&XWLOL]DQGRORVSURJUDPDV'$',63\ Versin LabVIEW en tiempo real

/DE9,(:
-
Versin DADISP en modo postanlisis   
-
El programa DADISP calcula el factor mencionado por 
-
    
programa y la seal en pantalla e indicadores numri-



-   
creciente) para cada una de las seales estudiadas. sta no est distorsionada su FC es 1.4142.

 9DOLGDFLyQGHO)&REWHQLGRSRUHO&)&\FDOFXODGR
SRUORVSURJUDPDVPHQFLRQDGRV

 
- 
- tiempo real) y DADISP (en posanlisis).
 
 - t
-
y por el programa DADISP para cada una de las seales tor se presenta en la cartula e indicador numrico: FC
- medido (derecha), y su tendencia se despliega en la
 

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

W1: Readt("C:\Program Files\National Instrum W2: sqrt(partsum(w1*w1))/10

1.5 0.8 W3: max(w1)/w2
0.7
1 Vef
0.6 1: No Units
0.5 100: 1.433563
0.5
0.4 101:
0 0.3 102:
0.2 103:
-0.5
0.1 104:
-1 0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

W4: w2 W5: curr/max

1.5 1.2 W6: w8
1 1.5
1 Vef
0.8 1
0.5 0.6 FC 0.5
Vef
0 0.4 0
0.2 -0.5
-0.5
0 -1
FC
-1 -0.2 -1.5
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

W7: Readt("C:\Program Files\National Instrum W8: sqrt(partsum(W7*w7))/10

1.5 1.2
W9: max(w7)/w8
1 1
Vef 1: No Units
0.5 0.8
100: 1.008902
0 0.6 101:
-0.5 0.4 102:
103:
-1 0.2
104:
-1.5 0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

)LJXUD+RMDGHWUDEDMRGHOSURJUDPD'$',63FRQWLHQHODVVHxDOHVPHGLGDV9HW:VHQRLGDO:FXDGUDGD\FiOFXORGHVXV
YDORUHVHILFDFHV::\)&::UHVSHFWLYDPHQWHHQXQHVTXHPDGHSRVDQiOLVLV:\:PXHVWUDQODVHYROXFLRQHVGHO
9HI9HW\)&SDUDFDGDFDVRYHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPVHJ

        D     E

)LJXUD3URJUDPDD\SDQWDOODEHQWLHPSRUHDOGHO)&FDOFXODGRSRUHOSURJUDPD/DE9,(:SDUDHOFDVRGHODVHxDOVHQRLGDOLGHDO

FRPSDUHFRQODYHQWDQD:GHODILJXUD

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)LJXUD3DQWDOODHLQGLFDGRUHVTXHPXHVWUDQHO)&FDOFXODGRSRUHOSURJUDPD/DE9,(:\HOREWHQLGRSRUHO&)&\VX
WHQGHQFLDHQWUHOtPLWHV

- ferentes. La seleccin de seales por estudiar se realiza

- -
t rrollados en el transcurso del tiempo en el Depar-
t) una seal modulada en tamento de Electrnica. Las seales consideradas co-

- -

- tos caticos, del sistema respiratorio y de calidad de la

corriente de la red elctrica.
donde: fm = frecuencia de muestreo).

6HxDOHVGHYLEUDFLyQPHFiQLFDSDUDGLDJQRVWLFDU
t) y su FC calculado por el
URGDPLHQWRV\URWRUHVDYHULDGRVSRUPHGLRGHO)&
 
t) en    

que sufre la seal sintomtica producto del nacimiento y

-

Aplicacin del FC y su tendencia para monitorear
seales y detectar el nacimiento de eventos -
duzca impacto, golpeteo, roce o rayadura, etctera.
- Para ilustrar lo anterior, se propone la comparacin
 de una seal que simula una condicin normal de ope-
procedi a aplicarlos a 4 tipos de seales de campos di-

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

-
 
 
- misma manera, en la pantalla: seal recuperada (dere-
-
 
 
- -
- -

se presenta la misma seal, pero ahora corresponden a 

-
se, el FC de la seal de la chumacera de la mquina,
6HxDOFDyWLFDSURYHQLHQWHGHOFLUFXLWRGH&KXD\VX
-
FDRWL]DFLyQSRUPHGLRGHO)&

 -
la generacin y anlisis se realiza utilizando el progra- 
ma DADISP (2002). uno de los parmetros del circuito, en particular el re-
- -
tados del clculo y despliegue en tiempo real del FC
-
liza la pantalla: seal+ruido (centro), en la cual se mues-
ende el factor mencionado.

W1: curr*1
1

0.5

-0.5

-1
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

W2: sqrt(partsum(W1*W1))/10
0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

W3: max(W1)/W2

1: No Units
100: 2.153369
101:
102:
103:
104:

)LJXUD5HVXOWDGRVVHPHMDQWHVDORVGHODILJXUD:VHxDO9Ht\:)&SHURDKRUDFRQHOSURJUDPD'$',63

YHUWLFDOYROWDMHKRUL]RQWDOPVHJ

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7DEOD&RPSDUDFLyQHQWUHORV)&REWHQLGR&)&YV

FDOFXODGRVSURJUDPDV

 CFC  DADISP


W1: Gimpulse(100, 0.01, 0.35)+Gimpulse(100,1 W2: sqrt(partsum(w1*w1))/10

1.2 0.3
1 W3: max(w1)/w2
0.25
0.8 1: No Units
0.2
0.6 100: 3.976277
0.4 0.15
101:
0.2 102:
0.1
0
103:
-0.2 0.05

-0.4 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

W4: 0.1*gsin(100,1/100,5) +0.3*grandom(100,1/ W5: sqrt(partsum(w4*w4))/10 W6: max(w4)/w5

0.4 0.16 1: No Units

100: 2.405809
0.2 0.12 101:
102:
0 0.08 103:
104:
-0.2 0.04
105:
-0.4 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

W7: w4+gsin(100,1/100,5) W8: sqrt(partsum(W7*w7))/10

1.5 0.8
W9: max(w7)/w8
0.7
1
0.6 1: No Units
0.5 0.5 100: 1.813337
0 0.4 101:
0.3 102:
-0.5
0.2 103:
-1
0.1 104:
-1.5 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9

)LJXUD6HxDOHVGHYLEUDFLyQPHFiQLFDTXHUHSUHVHQWDQURGDPLHQWRVDYHULDGRV:GHVEDODQFHH[FHVLYRGHOURWRUGHOPRWRU:
\FRQGLFLyQQRUPDOGHRSHUDFLyQ:\VXV)&FRUUHVSRQGLHQWHV::\:YHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPV

- 6HxDOHVELRPpGLFDVUHSUHVHQWDQGRGHILFLHQFLDV

quirir y posanalizar las dinmicas caticas de las sea- UHVSLUDWRULDVFRPXQHVGHWHFWDGDVSRUHO)&
  
 -
- nado y de su tendencia, se propone que puede utilizar-
mente, y para las cuales se calculan sus FC que apare- se en el monitoreo (es decir, en la auscultacin continua)

-
et al
- 
ducir que: a mayor dinmica catica, o caosidad IAPSER: instrumento para la adquisicin y preprocesa-
 -
 zada (2011) con el cual se adquirieron las seales respi-

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

)LJXUD6HxDOHVDQRUPDOHVGHYLEUDFLyQPHFiQLFD\VXV)&DURGDPLHQWRVDYHULDGRVSDQWDOODGHUHFKDVHxDOUHFXSHUDGDFRQXQ)&

GH\EGHVEDODQFHH[FHVLYRGHOURWRUSDQWDOODFHQWUDOVHxDO+UXLGRFRQXQ)&GH

R6
3.3k
R1
Vx1 2.2k
R4
R2 220
R8 22k
1600
MC3403 U2B
+ MC3403
L1 C2 C1 +
18mH 100nF 10nF
U1
R5
220
R3
)LJXUD(OFLUFXLWRGH&KXD\ODVHxDO
22k FDyWLFD9HVWXGLDGD


que corresponden a tres ciclos respiratorios durante 10 
segundos.
 indican el nacimiento y desarrollo de estertores u otras
la seal respiratoria del adulto sano mencionado y otra


(YDOXDFLyQGHODGLVWRUVLyQGHODFRUULHQWHDQWH

FDUJDVQROLQHDOHVXWLOL]DQGRHO)&
-
ferencia producto de la magnitud del estertor del adul- 
to tosiendo. calidad de la potencia consumida por una carga en ge-
Los resultados indican que para el adulto sano se
et al

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 Nez-Prez Ricardo Francisco

W1: Readt("C:\Program Files\National Instrum W2: sqrt(partsum(w1*w1))/10

3 2.5 W3: max(w1)/w2
2 2 1: No Units
1
1.5 200: 1.236663
0
201:
1
-1 202:
-2 0.5
203:
-3 0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

W4: Readt("C:\Program Files\National Instrum W5: sqrt(partsum(w4*w4))/10 W6: max(w4)/w5

3 2
1: No Units
2
1.5 200: 1.190571
1 201:
1
0 202:
203:
-1 0.5
204:
-2 0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

W7: Readt("C:\Program Files\National Instrum

3 W8: sqrt(partsum(W7*w7))/10 W9: max(w7)/w8
2
1.6 1: No Units
1 1.2 200: 1.231197
0 0.8 201:
0.4 202:
-1
0
-2 0 40 80 120 160
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180

)LJXUD6HxDOHVFDyWLFDV9GHOFLUFXLWR&KXDJHQHUDGDVFRQSDUiPHWURVGLIHUHQWHV\FiOFXORGHVXV)&DVRFLDGRVXWLOL]DQGRHO
SURJUDPD'$',63(QWUHPiVFDRWL]DFLyQPD\RUGLVWRUVLyQ\ODWHQGHQFLDGHO)&WDPELpQDXPHQWDYHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPV

)LJXUD,$36(5DGTXLVLGRU
SUHSURFHVDGRUGHVHxDOHVUHVSLUDWRULDV
4XH]DGD

que acarrea que al medir la corriente con un instrumen- -

tas este factor se puede interpretar como el grado de
- distorsin que sufre la corriente e indica la necesidad
 
- el factor de potencia por medio de capacitores o incor-
porando resistores en paralelo con la carga para dismi-
- 
res) de motores de c.a., fuentes conmutadas, entre otros.
-
ne la corriente en la carga resulta ms grande su FC 

Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81 ISSN 1405-7743 FI-UNAM 75
 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

)LJXUD$GTXLVLFLyQGHORVVRQLGRVUHVSLUDWRULRVFRQHO,$36(5
4XH]DGDFRUUHVSRQGLHQWHVDWUHVFLFORVUHVSLUDWRULRV
LQVSLUDFLyQHVSLUDFLyQGHXQDGXOWRVDQRGXUDQWHVHJXQGRV

W1: curr*1 W2: sqrt(partsum(w1*w1))/10

0.2
0.1 0.08
W3: min(w1)/w2
0
0.06 1: No Units
-0.1
100: -3.251153
-0.2 0.04
101:
-0.3 102:
0.02
-0.4 103:
0
0 2000 4000 6000 8000 10000 0 2000 4000 6000 8000 10000

W4: Readt("C:\Documents and Settings\Fam. W5: sqrt(partsum(w4*w4))/10 W6: max(w4)/w5

0.6 1
1: No Units
0.4
0.8
10784: 0.609586
0.2
0 0.6 10785:

-0.2 10786:
0.4
-0.4 10787:
0.2
-0.6 10788:
0 10789:
-0.8
-0.2
0 2000 4000 6000 8000 10000 0 2000 4000 6000 8000 10000

W7: decimate(w4,108)
0.2 W8: sqrt(partsum(W7*w7))/10 W9: min(w7)/w8
0.1 0.1
0 0.08 1: No Units

-0.1 100: -5.145114

0.06
101:
-0.2 0.04
102:
-0.3 0.02
-0.4 0
0 2000 4000 6000 8000 10000

0 2000 4000 6000 8000 10000

)LJXUD6HxDOHVUHVSLUDWRULDVGHDGXOWRDGTXLULGDV\SRVDQDOL]DGDVFRQHO'$',63FRUUHVSRQGLHQWHVDGRVVtQWRPDVGLIHUHQWHVFRPR
ORLQGLFDQORV)&HQODVYHQWDQDV:DGXOWRVDQR\:DGXOWRFRQGHILFLHQFLDUHVSLUDWRULDRHVWHUWRUYHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPV

-
-
campos magnticos que pueden interferir circuitos y -
 co (Fluke, 1990; Early et al
-
formadores, estatores de motores, etctera. Para el estudio en particular, las mediciones de co-
- rriente se realizan con un instrumento desarrollado,
do de distorsin de la forma de onda de corriente; cuan-  

76 Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81 ISSN 1405-7743 FI-UNAM
 Nez-Prez Ricardo Francisco


slo un transformador toroidal de corriente. 
El medidor mencionado est constituido por un 
 -
mente.
    

- 
- con el programa DADISP (2002).
gura 20, el circuito incorpora algunos contadores/ -
tados del clculo y despliegue en tiempo real del FC
- -
- lla: FC y seal (centro), en la cual se muestra la seal de
 

 -
-
- 
sin armnica total. -
 
alterna instantnea en la carga y su correspondiente FC, 

AC
Adif.
CRMS

)LJXUD%RVTXHMRGHODPHGLFLyQ )LJXUD0DTXHWDGHO:DWWKRUtPHWUR.HQRSHUDFLyQPRVWUDQGRHO
GHFRUULHQWHGH9FDD+] WUDQVIRUPDGRUGHFRUULHQWHDUULEDFHQWUR\ODFDUJDFRPELQDGDSDVLYDGH
XWLOL]DQGRHO:DWWKRUtPHWUR.FRQXQ :DWWVHLQGXFWLYDGH:DWWV
WUDQVIRUPDGRUWRURLGDOGHFRUULHQWHGH
$PSHULRVFRPRVHQVRU

Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81 ISSN 1405-7743 FI-UNAM 77
 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

W1: Readt("C:\Program Files\National Instru W2: sqrt(partsum(w1*w1))/10 W3: max(W1)/w2

0.15 0.1
1: No Units
0.1
0.08 100: 1.265380
0.05
0 0.06 101:
0.05 102:
0.04
-0.1 103:
0.02
0.15 104:
-0.2 0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

W4: Readt("C:\Program Files\National Instru W5: sqrt(partsum(w4*w4))/10 W6: max(W4)/w5

0.2 0.1
1: No Units
0.08 100: 1.517507
0.1
0.06 101:
0
102:
0.04
-0.1 103:
0.02
104:
-0.2 0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

W7: Readt("C:\Program Files\National Instru W8: sqrt(partsum(w7*w7))/10 W9: max(W7)/w8

0.3 0.07
1: No Units
0.2 0.06
0.05 100: 3.109304
0.1
0.04 101:
0
0.03 102:
-0.1 103:
0.02
-0.2 0.01 104:
-0.3 0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90

)LJXUD0HGLFLyQGHODFRUULHQWHDOWHUQDHQXQDFDUJDUHVLVWLYDGH:DWWV:\HQXQDOiPSDUDFRQEDODVWUDHOHFWUyQLFDLQGXFWLYD
GH:DWWV:\:DWWV:XWLOL]DQGRHOSURJUDPD'$',636HPXHVWUDQVXVFRUUHVSRQGLHQWHV)&PDQLIHVWDQGRHOJUDGRGH
GLVWRUVLyQLPSXHVWRSRUODVFDUJDVYHUWLFDOYROWLRVKRUL]RQWDOPV

)LJXUD0HGLFLyQ
HQWLHPSRUHDOGHOD
FRUULHQWHHQXQDFDUJD
FRPELQDGDUHVLVWLYDGH
:DWWVHLQGXFWLYD
GH:DWWVSDUD
9FDXWLOL]DQGRHO
SURJUDPD/DE9,(:
6HPXHVWUDXQ)&
PHGLGRGH
HQODFDUiWXODGH)&
PHGLGR\VXtendencia
HQODSDQWDOODKLVWyULFRV
)&\OtPLWHV

78 Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81 ISSN 1405-7743 FI-UNAM
 Nez-Prez Ricardo Francisco

Anlisis de resultados y recomendaciones -

generales cas simuladas, se muestra claramente cmo la ten-
dencia del factor pasa de una mquina operando
$QiOLVLVGHUHVXOWDGRVGHODVHFFLyQGHGHILQLFLyQ 
GHO)& -

-  
do son prometedores, ya que al comparar sus medi-
-
diferencias fueron menores a 2%, respecto a la escala -
 na en particular, como lo indica claramente la
-
- 2. En el caso de medicin de la dinmica catica o cao-
t) de: a) sidad de la seal del circuito de Chua, se presenta la


tendencia del factor mencionado, de un grado de
 caosidad nominal, generado por un parmetro en

 aumento y disminucin del mismo conforme lo
t) como en las diferen- hace el parmetro. El FC o grado de caosidad pasa
tes etapas del circuito electrnico construido. -
2. La comparacin de los FC de seales medidas de tricas mencionadas. Los resultados de los factores
referencia, calculados por el programa DADISP de 
- 
-


para la seal senoidal y para la cuadrada, respecti-
- -
funciones del sistema respiratorio; condicin que

 
 - caso en particular, los resultados son de carcter

- 4. En el caso de medicin de la distorsin elctrica, uti-

realizaron en forma asincrnica. El circuito y el pro- -

real, mientras que el DADISP los produce en posan-
t) modulada en

-
mente estos resultados con los de la tendencia del
 
 

$QiOLVLVGHUHVXOWDGRVGHODVHFFLyQGHDSOLFDFLRQHV $OJXQDVUHFRPHQGDFLRQHVJHQHUDOHV

- 
 -
tipos de seales de campos diferentes: deteccin de ave- 
ras mecnicas, medicin de la caosidad, - -
ciencias respiratorias y medicin de la distorsin en la cionales y ms si se redisea para utilizarlo con seales
corriente elctrica.

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 La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrnico, programas y aplicaciones a seales de diversos campos

Otro uso del FC es como elemento de retroalimenta- 

cin para el control del caos en sistemas mecnicos me- -
-
caosidad predeterminada por el usuario. cin de operacin de los sistemas.
-
 -
Agradecimientos
formador de corriente para medir la corriente de cargas
 
-
zo analizar y aplicar un FC construido con el cociente 


Conclusiones Referencias
 

est y sigue sucediendo con una seal peridica de in- -
formacin durante un tiempo predeterminado, ante la 
-   
 
- 
ciencias en los diferentes sistemas de los campos del -
conocimiento.
-     

-
 
-  -


 
 
suerte que se utilizan estos procedimientos para de-      

- Cceres R. Factor de utilizacin de la potencia. IEEELATIN AME-
- RICA TRANSACTS
cias respiratorias o estertores anormales en seales  -
     
- Sound Analysis. Eur. Respir. Rev

 Computational Systems Incorporated (CSI), Diagnostic Features
-     
-
Coughlin R. y Driscoll F. ,
Aunque, en algunos casos, es necesario tener cui- 

 Low-Cost Rms/Dc ics ac Measure-
que se incorpora a las seales peridicas de informa- ments
cin. Otras aplicaciones importantes y originales del DADISP-SE Worksheet, DSP Development, Co., Cam-
FC que se proponen son: a) controlar el caos en circui- 
tos electrnicos que agitan/mezclan procesos indus- Desarrollo de un sistema de adquisicin de sonidos respiratorios,

-       The National Electrical Code,
zo estudiar y utilizar un FC que considere la seal

- Flix R. Anlisis y validacin espectrales de vibracin en maquinaria

rotatoria

80 Ingeniera Investigacin y Tecnologa, volumen XV (nmero 1), enero-marzo 2014: 63-81 ISSN 1405-7743 FI-UNAM
 Nez-Prez Ricardo Francisco

  
. Standard Handbook for Electrical Engineers -

nization. IEEELATIN AMERICA TRANSACTIONS
   
  
 -
 
 
Noise Reduction Techniques in Electronic Systems-
 
J. Atmosphere., Sci., Desarrollo de un instrumento adquisidor de seales respira-
torias
   
 
 Design

   Guide to Electronic Measurements and Laboratory Practice,


- 

-

Sistema monitor de vibraciones-SIMOVI Este artculo se cita:

Citacin estilo Chicago
Monitor porttil de vibracin para mantenimiento de maqui-
1~xH]3pUH]5LFDUGR)UDQFLVFR/DWHQGHQFLDGHOIDFWRUGHFUHVWD
naria-
D\XGDDGHWHFWDUHYHQWRVQDFLHQWHVFLUFXLWRHOHFWUyQLFRSURJUD

PDV\DSOLFDFLRQHVDVHxDOHVGHGLYHUVRVFDPSRVIngeniera Inves-

tigacin y Tecnologa;9

- Citacin estilo ISO 690
tamiento catico. - 1~xH]3pUH]5)/DWHQGHQFLDGHOIDFWRUGHFUHVWDD\XGDDGHWHF
WDUHYHQWRVQDFLHQWHVFLUFXLWRHOHFWUyQLFRSURJUDPDV\DSOLFDFLR
      QHV D VHxDOHV GH GLYHUVRV FDPSRV Ingeniera Investigacin y
 TecnologaYROXPHQ;9Q~PHURHQHURPDU]R

Semblanza del autor

Ricardo Francisco Nez-Prez

-





-
  

-
cin son: desarrollo de instrumentacin electrnica industrial, estudios de circuitos


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