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I.

INTRODUCCIN

En metrologa existen diversos instrumentos de medicin entre los


que se encuentran el Vernier y el micrmetro, que son algunos de los ms
utilizados, ya que brindan resultados de mediciones pequeas.
El calibrador o vernier, conocido tambin como pie de rey o nonio es uno de los
instrumentos mecnicos para medicin lineal ms ampliamente utilizados. Es un
aparato de medicin generalmente de mucha precisin que se utiliza para medir
objetos pequeos De acuerdo a la historia, se adjudica que la escala vernier fue
inventada por Petrus Nonius. Aos ms tarde, el calibrador vernier actual fue
desarrollado por Pierre Vernier. Actualmente el vernier es utilizado para realizar
mediciones de exteriores, interiores y profundidades.
El vernier utiliza un sistema mecnico que funciona en relacin directa con
una escala registrada por un elemento sensor, pero tambin por el
desplazamiento registrado cuando se modifica una resistencia variable a partir
de una referencia. La lectura es presentada en milmetros alfanumrica y puede
ser ajustado de acuerdo al volumen del objeto para presentar sus lecturas.

1.- Objetivos:

Aprender a usar instrumentos de precisin para medir


dimensiones como el: Vernier y Micrmetro.
Aprender el principio en el que se basan los instrumentos de
precisin.
II. FUNDAMENTO TEORICO

Los instrumentos de precisin de manera general, se basan en el


Nonio.

2.1.- Nonio: Consta de una escala principal, en donde se miden las


unidades y de una escala secundaria deslizable sobre la escala principal. La
escala secundaria permite (dependiendo del instrumento). Medir decimos,
centsimos, milsimos, etctera de unidad.

2.2.- Para hacer una lectura: Se debe tomar como punto de


referencia la divisin cero de la escala secundaria, de manera talque a la
izquierda de esta divisin (en la escala principal). Se miden las unidades y a la
derecha de esta divisin (en la escala secundaria). Se miden los dcimos de
unidad, hay que escoger aquella divisin que mejor coincida con una divisin de
la escala principal.

2.2.1.-El Vernier: El calibrador o vernier, conocido tambin como pie


de rey, consiste generalmente en una regla fija de 12 cm con precisin de un
milmetro sobre la cual se desplaza otra regla mvil o reglilla. La reglilla graduada
del vernier 9mm en 20 partes iguales de manera que pueden efectuarse lecturas
con una precisin de un vigsimo de milmetro. Un vernier es un aparato de
medicin generalmente de mucha precisin que se usa para medir objetos
pequeos, Pierre Vernier (Ornans et al 1580) matemtico francs es conocido
por la invencin en 1631 de la escala vernier para medir longitudes con gran
precisin y basado en el de Pedro Nunes.
Vernier con sus partes

2.2.2.-Teora de errores: Especificar los errores de medicin en


ciencia e ingeniera son imprescindibles y gracias a La teora de errores su
clasificacin va de errores de precisin, exactitud, interaccin hasta la falta de
definicin en el objeto sujeto a medicin representados en histogramas. En
ciencia e ingeniera, el error, como veremos en lo que sigue, est ms bien
asociado al concepto de incerteza en la determinacin del resultado de una
medicin

2.3.-El micrmetro : (del griego micros, pequeo, y metros,


medicin), tambin llamado Tornillo de Palmer, es un instrumento de medicin
cuyo funcionamiento est basado en el tornillo micromtrico y que sirve para
medir las dimensiones de un objeto con alta precisin, del orden de centsimas
de milmetros (0,01 mm) y de milsimas de milmetros (0,001mm). Para ello
cuenta con 2 puntas que se aproximan entre s mediante un tornillo de rosca fina,
el cual tiene grabado en su contorno una escala. La escala puede incluir un
nonio. La mxima longitud de medida del micrmetro de exteriores es de 25 mm,
por lo que es necesario disponer de un micrmetro para cada campo de medidas
que se quieran tomar (0-25 mm), (25-50 mm), (50-75 mm), etc. Frecuentemente
el micrmetro tambin incluye una manera de limitar la torsin mxima del
tornillo, dado que la rosca muy fina hace difcil notar fuerzas capaces de causar
deterioro de la precisin del instrumento

Generalidades:

El Francs Jean Palmer patent en 1848 el micrmetro. Basndose


en este instrumento otro ms perfeccionado, el cual constituy los comienzos
de nuestro moderno micrmetro. El segundo micrmetro se dio a conocer en
1877 y fue el primero de este tipo que se vendi en Estados Unidos.
Introducindose posteriormente a todos los pases. [4]

Caractersticas:
El micrmetro es un instrumento de gran precisin que
permite medidas de longitud. Su rango o capacidad de medida puede
variar de 0 a 1500 mm o su equivalente en pulgadas de 0 60. [4]
Los modelos menores varan de 0 300 mm y se escalonan de 25
en 25 mm o bien en pulgadas de 0 12 variando de 1 en 1. [4]

Su resolucin puede ser de:

0,01 mm
0,002 mm
0,001 mm
0,001
0,0001
Micrmetro con sus partes

En el cuerpo del micrmetro existe la graduacin en milmetros y medios


milmetros. Esta graduacin puede alternar su posicin, es decir los milmetros
pueden estar marcados en la parte inferior y los medios milmetros en la parte
superior o viceversa.
El tambor muestra una graduacin de 50 divisiones, lo que permite leer en 0,01
mm. [4]
La figura 4(a) nos da la lectura de 10,50 mm, para ello es necesario hacer
coincidir el borde del tambor con la lnea siguiente al 10 (o sea + 0,5 mm), pero
teniendo presente que la lnea 0 del tambor graduado, coincide con la lnea
central de la regla fija. [4]

Para leer medidas en centsimas de milmetros, se hace coincidir el borde del


tambor graduado con la lnea del milmetro 13, cuidando que el cero del tambor
graduado quede una lnea debajo de la lnea central de la regla fija.
Para realizar lecturas en milsimas de pulgadas, se sigue la misma analoga
anterior pero con referencia del pie de metro con igual tipo de resolucin o
precisin.

Imagen de un nonio

CONDICIONES PARA SU USO:

Para ser usado, es necesario que el micrmetro est perfectamente


ajustado y comprobado con un patrn. [3]

Micromtrico que se desplaza axialmente longitudes pequeas al girar el mismo


dentro de una tuerca. Dichos desplazamientos pueden ser de mm y de 1 mm
para giros completos en los milimtricos y por lo general de 0,025^en los de
pulgadas
III. MATERIALES Y METODOS

3.1.- Lugar y Fecha:

La prctica se realiz en el laboratorio de fsica a horas de 7pm a


9pm de la Universidad Nacional Agraria de la Selva de la ciudad de Tingo Mara.
Ubicado en el centro norte del Per del distrito de Rupa-Rupa, provincia de
Leoncio Prado, departamento de Hunuco con altitud de 660 msnm.

3.2.- Materiales:

01 nonio de madera.
02 vernier metlicos, marca stainless hardenea.
08 micrmetros metlicos marcas: somer y sttarret.
08 muestras metlicas: Fe, Cu, Zinc, Al.

3.3.- Metodologa:

3.3.1.- Vernier o Pie de Rey: Es el ms vertical de todos los instrumentos


de precisin para medir dimensiones permite medir longitudes, espesores,
dimetros (externos e internos) y profundidades. Generalmente vienen con dos
sistemas de unidades:
Sistema ingls (parte superior).
Sistema internacional (parte superior).
Durante la prctica se comenz tomando los siguientes pasos:
Se tom cuatro muestras de Fe, Cu, Zinc, Al, con un vernier se midi sus lado
de cada y la altura de cada muestra metlica.
3.3.2.- Micrmetro: Este instrumento de precisin sirve principalmente
para medir espesores y dimetros muy pequeos. Su escala principal tiene forma
de cilindro en donde se leen las unidades y medias unidades (milmetros). La
escala secundaria, se desliza sobre la escala principal en forma de tornillo aqu
se leen los centsimos de unidad cuando se hace una lectura en el micrmetro
se pueden presentar los siguientes tres casos:

Previa indicacin y direccin por parte del profesor con los tres instrumentos de
medicin, los cuales eran el nonio, vernier y micrmetro. Se procedi a medir el
espesor de cada uno de las muestras metlicas, para obtener las 8 medidas
diferentes con el instrumento de medida Vernier cuya unidad de medida es el
milmetro.

Para comenzar se procedi la medida de las muestras metlicas, se continu


con la medida de su espesor, siguiendo el mismo proceso de rotacin, con el
mismo instrumento de medida, el Vernier.
Para finalizar se procedi a medir el espesor de las muestras metlicas, pero
esta vez con instrumento de medida Micrmetro.
Para finalizar, se construy una tabla con 4 columnas y de 8 filas con los datos
recogidos de haber medido las muestras metlicas, con ello se proceder a
estimar el valor aproximado (en porcentaje) de error.
IV. RESULTADOS

Datos experimentales obtenidos del clculo de su espesor con los instrumentos


de medicin (vernier y micrmetro)

4.1 VERNIER.

Tabla N1: Zinc (Zn)

ZINC(Zn)
xi
2
N e i x
i
1 12.7 0.03 0.0009
2 12.65 0.08 0.0064
3 12.7 0.03 0.0009
4 12.7 0.03 0.0009
5 12.7 0.03 0.0009
6 12.95 0.22 0.0484
7 12.7 0.03 0.0009
12.73 0.0593

VALOR MEDIO O PROMEDIO (x)


n

x i
x i 1
n
12.7 12.65 12.7 12.7 12.7 12.95 12.7
x
7
89.1
x
7
x 12.72857143
x 12.73
DESVIACIN ESTNDAR ()


2
x i
i 1
n 1
0.0593

7 1
0.09941495528
0.10

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.10)
00 x100 0 0
12.73
00 0.7855459544
00 0.79 0 0
Tabla N2: Hierro (Fe)

FIERRO(Fe)
xi
2
N e i xi
1 12.7 0.04 0.0016
2 12.6 0.06 0.0036
3 12.6 0.06 0.0036
4 12.65 0.01 0.0001
5 12.75 0.09 0.0081
6 12.7 0.04 0.0016
7 12.6 0.06 0.0036
12.66 0.0222

VALOR MEDIO O PROMEDIO (x )

x i
x i 1
n
12.7 12.6 12.6 12.65 12.75 12.7 12.6
x
7
88.6
x
7
x 12.65714286
x 12.66

DESVIACIN ESTNDAR ()
n

x
2
i
i 1
n 1
0.0222

7 1
0.0608276253
0.06

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


0
0 x100 0 0
X
(0.06)
00 x100 0 0
12.66
0 0 0.4739336493
0 0 0.47 0 0

Tabla N3: Aluminio (Al)


ALUMINIO(Al)

2
N ei x
i x i

1 12.6 0.1 0.01


2 12.65 0.05 0.0025
3 12.65 0.05 0.0025
4 12.7 0 0
5 12.8 0.1 0.01
6 12.8 0.1 0.01
7 12.7 0 0
12.7 0.04

VALOR MEDIO O PROMEDIO (x)


n

x i
x i 1
n
12.6 12.65 12.65 12.7 12.8 12.8 12.7
x
7
88.9
x
7
x 12.7

DESVIACIN ESTNDAR ()
n

x
2
i
i 1
n 1
0.04

7 1
0.08164965809
0.08

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.08)
00 x100 0 0
12.7
0 0 0.6299212598
0 0 0.63 0 0

Tabla N4: Cobre (Cu)


COBRE(Cu)

2
N ei x
i x i

1 12.5 0.12 0.0144


2 12.65 0.03 0.0009
3 12.7 0.08 0.0064
4 12.5 0.12 0.0144
5 12.65 0.03 0.0009
6 12.65 0.03 0.0009
7 12.7 0.08 0.0064
12.62 0.0443

VALOR MEDIO PROMEDIO (x )


n

x i
x i 1
n
12.5 12.65 12.7 12.5 12.65 12.65 12.7
x
7
88.35
x
7
x 12.62142857
x 12.62
DESVIACIN ESTNDAR ()

x
2
i
i 1
n 1
0.0443

7 1
0.0859263250
0.09

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.09)
00 x100 0 0
12.62
00 0.7131537242
00 0.71 0 0

4.2 MICROMETRO.
Tabla N1: Aluminio (Al)

ALUMINIO (Al)

2
N e i x i x i

1 12.62 0.02 0.0004


2 12.61 0.03 0.0009
3 12.59 0.05 0.0025
4 12.66 0.02 0.0004
5 12.68 0.04 0.0016
6 12.68 0.04 0.0016
7 12.66 0.02 0.0004
8 12.61 0.03 0.0009
x 12.64 0.0087

VALOR MEDIO PROMEDIO (x)

x i
x i 1
n
12.62 12.61 12.59 12.66 12.68 12.68 12.66 12.61
x
8
101.11
x
8
x 12.63875
x 12.64
DESVIACIN ESTNDAR ()

x
2
i
i 1
n 1
0.0087

8 1
0.03525417908
0.04

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.03)
0
0 x100 0 0
12.68
0 0 0.2365930599
0 0 0.24 0 0
Tabla N2: Zinc (Zn)

ZINC (Zn)

2
N ei x
i x i

1 12.63 0.05 0.0025


2 12.69 0.01 0.0001
3 12.68 0 0
4 12.69 0.01 0.0001
5 12.71 0.03 0.0009
6 12.66 0.02 0.0004
7 12.715 0.035 0.001225
8 12.65 0.03 0.0009
x 12.68 0.006125

VALOR MEDIO O PROMEDIO (x )

x i
x i 1
n
12.63 12.69 12.68 12.69 12.71 12.66 12.715 12.65
x
8
101.425
x
8
x 12.678125
x 12.68
DESVIACIN ESTNDAR ()

x
2
i
i 1
n 1
0.006125

8 1
0.02958039892
0.03

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


0
0 x100 0 0
X
(0.03)
00 x100 0 0
12.68
00 0.2365930599
00 0.24 0 0
Tabla N3: Cobre (Cu)

COBRE (Cu)

2
N e
i x
i x i

1 12.68 0.012 0.000144


2 12.735 0.043 0.001849
3 12.695 0.003 0.000009
4 12.65 0.042 0.001764
5 12.655 0.037 0.001369
6 12.73 0.038 0.001444
7 12.695 0.003 0.000009
8 12.695 0.003 0.000009
x 12.69 0.006597

VALOR MEDIO PROMEDIO (x )


n

x i
x i 1
n
12.68 12.735 12.695 12.65 12.655 12.73 12.695 12.695
x
8
101.535
x
8
x 12.691875
x 12.69
DESVIACIN ESTNDAR ()

x
2
i
i 1
n 1
0.006597

7
0.03069899952
0.03

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.03)
00 x100 0 0
12.69
0 0 0.2364066194
0 0 0.24 0 0
Tabla N4: Hierro (Fe)

HIERRO (Fe)

2
N e
i xi x i

1 12.645 0.025 0.000625


2 12.67 0 0.000000
3 12.665 0.005 0.000025
4 12.64 0.03 0.0009
5 12.68 0.01 0.0001
6 12.69 0.02 0.0004
7 12.66 0.01 0.0001
8 12.68 0.01 0.0001
x 12.67 0.0022

VALOR MEDIO O PROMEDIO (X )

x i
x i 1
n
12.645 12.67 12.665 12.64 12.68 12.69 12.66 12.68
x
8
101.33
x
8
x 12.66625
x 12.67

DESVIACIN ESTNDAR ()
n

x
2
i
i 1
n 1
0.0022

8 1
0.01772810521
0.018

DESVIACIN ESTNDAR RELATIVA PORCENTUAL ERROR


PORCENTUAL ()


00 x100 0 0
X
(0.018)
00 x100 0 0
12.67
00 0.14206787769
00 0.14 0 0
V. DISCUSIONES

Los resultados encontrados en la prctica realizada no son


relativamente iguales las investigaciones acerca del vernier, ya que a los grupos
en general les sali con un margen de error de: zinc ( = 0.10, 0 0 = 0.79%),
Hierro ( =0.06 a 0 0 = 0.47%), aluminio ( = 0.08 , 0 0 = 0.63%), cobre ( = 0.09
, 0 0 = 0.71%) y durante la investigacin encontrada fue 0.0625% y el porcentaje
de medicin del vernier fue de 0.4273%.

Los resultados encontrados en la prctica realizada no coincidieron


exactamente con los resultados que investigamos acerca del micrmetro. Ya que
a los grupos en general sali como resultado un error de: aluminio ( = 0.04, 0 0
= 0.24), zinc ( = 0.03, 0 0 = 0.24), cobre ( =0.03, 0 0 = 0.24), hierro ( =0.018,

0 0 = 0.14) Y durante la investigacin encontrada fue de 0.01% y el porcentaje


de error de la medicin con el micrmetro fue de 0.13718%.
VI. CONCLUSIONES

Se ha observado que el vernier es un aparato de medicin


generalmente de mucha precisin que se utiliza para medir objetos menores de
16 cm. Se puede medir longitudes externas, internas y profundidad. El
micrmetro es un aparato de medida del sistema mtrico aplicada a objetos de
menos de un milmetro de largo con este instrumento se ha podido medir el
espesor de las muestras metlicas.
Por lo tanto llegamos a la conclusin que existe una variacin de precisin entre
las mediciones del vernier y micrmetro que se pudo observar durante la prctica
realizada.
VII. REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS

_Gonzales, C. Zeleny, R. (2001). Metrologa. Edit. M.C. Graw Hill.


Mxico, D.F.

_B. L. Worsnop. H. T. Flint. (1964). Curso superior de fsica


prctica. Ed Eudeba, Buenos Aires, Argentina.

_Carlos Gracia Muoz, Enrique Burbano Garca, Santiago Burbano


de Ercilla. (1984).Fsica general.Edit. Tbar, Espaa, Madrid. Pag 749.

_ Alonso M. Finn E. (1995). Fsica. Edit. Addison-Wesley, Mxico,


DF.pag 992.

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