TALLER DE CRISTALOGRAFA

Johan Sebastin Acevedo Quiroga, Carlos Rodrigo Bernal Bernal, David Roberto Moreno Moreno
e-mail:jacevedoq1@ucentral.edu.co,cbernalb1@ucentral.edu.co,dmorenom6@ucentral.edu.co

Departamento Ingeniera Electrnica, Universidad Central

Bogot, Colombia

Determinacin de la organizacin estructural de un elemento en una red

cristalina o amorfa. Rubidio

Grfica N 1
Grfica N 2

LEY DE BRAGG

= 2 [1]

En el grafico #2 se observan 5 picos relevantes que corresponden a los elementos xido de hierro,
potasio titanio, rutenio, manganeso, rubidio
Grfica N3

Segn el grafico N 3 se obtiene el nmero de picos en el siguiente orden:

Potasio, Titanio, Manganeso, Hierro, Rubidio

Para obtener la distancia entre planos de la ley de Bragg obtenemos:

0
=
2
Para el Potasio se tiene 0 = 1 2 = 40.42 = 20.21 = 0.138

1 0.138 109
= = 0.2
2 sin(20.21)

Para el Titanio se tiene 0 = 2 2 = 55.96 = 27.98

2 0.138 109
= = 0.294
2 sin(27.98)

Para el Manganeso se tiene 0 = 3 2 = 73,26 = 36.63

3 0.138 109
= = 0.346
2 sin(36.63)

Para el Hierro se tiene 0 = 4 2 = 80,84 = 40.42

4 0.138 109
= = 0.4256
2 sin(40.42)

Para el Rubidio se tiene 0 = 5 2 = 168 = 84

5 0.138 109
= = 0.3469
2 sin(84)

Con la ley de VON LAUE despejamos los parmetros de red e ndices de Miller:

= =


=

Despejando los parmetros de red e ndices de miller

Para la direccin x Si sustituimos se obtiene:

0.2
= = 0.2131
cos(20.21)

Para la direccin Y Si sustituimos se obtiene:

0.294
= = 0.332
cos(27.98)

Para la direccin Z Si sustituimos se obtiene:

0.346
= = 0.4311
cos(36.63)

Para la direccin diagonal 1 Si sustituimos se obtiene:

1 0.4256
= = 0.56
cos(40,42)

Para la direccin diagonal 2 Si sustituimos se obtiene:

1 0.3469
= = 3.32
cos(84)

CONCLUSIONES

Es posible modelar la estructura atmica de un material cristalino a partir de la difraccin de

rayos X con mecnica clsica aplicada.
Los ndices bajos corresponden a distancias interplanares grandes con alta densidad reticular,
mientras que valores grandes de ndices indican distancias interplanares pequeas con
densidad reticulares bajas.
Es muy posible que con ayuda de un simulador, podra ser para este caso, Matlab, ya que
debido a las herramientas que provee, sera posible observar a determinados valores de
frecuencia la oscilacin de los tomos.
 REFERENCIAS

[1] Cartilla curso Optoelectrnica, Profesor Omar Rodrigez.

http://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/8250/4/T6rayosX.pdf
http://www.upct.es/~dimgc/webjoseperez/DOCENCIA_archivos/Aplicaciones_DRX_Apunt
es_y_ejercicios.pdf
http://books.google.com.co/books?id=PTY0zdTKFXgC&printsec=frontcover&dq=cristalo
grafia&hl=es&sa=X&ei=ZINmT9rhL4j2gAf3_OScAg&ved=0CDgQ6AEwAA#v=onepage
&q=cristalografia&f=false
http://www.uned.es/cristamine/cristal/drx_ec.ht
http://www.telefonica.net/web2/marodgar/trigonometriaescaleno.htm
http://www.sees.cinvestav.mx/coord_academica/cursos/Curso%20de%20Fisica%20de%2
0semiconductores%202010/Sem-Fis-Tema2-presenta-fig2010.pdf
 ANEXOS

28,5 360

3,2

X= 40.42

Titanio

4.43cm------x

X=55.96

Manganeso 5.8

5.8cm---x

X=73,26

Hierro

6.4cm----x

X=80,84

Rubidio

13,3cm----x

X=168