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Unidad 6:
Principios de Electrnica de Potencia
Regulacin de potencia
Dispositivo
carga Terminal
de control
de control
Fuente
Terminal Dispositivo
carga
de control de control
I Control
Conduccin I
P=V.I
V
Bloqueo
Llave real (diodo, transistor, tiristor etc)
Cada de voltaje durante la conduccin, del orden de 1 2 volts en dispositivos bipolares, o por
efecto de una resistencia de conduccin del orden de miliohms en dispositivos unipolares.
Corrientes de fuga durante bloqueo, encendido inducido por excesiva dV/dt.
Tiempo de conmutacin finito, de ns a decenas/cientos de s (particularmente el Toff), que
produce prdidas en el dispositivo, consecuentemente prdida de rendimiento y calentamiento.
Lmites de potencia, corriente y tensin.
Efectos que dificultan el bloqueo o producen oscilaciones en la conmutacin.
Efectos que producen la destruccin durante el bloqueo o la conduccin.
Necesidad de circuitos de control de diversa complejidad.
I Control
Conduccin I
I fuga P=V.I
V cada V
Bloqueo
Problemas (temas de estudio)
de la Electrnica de Potencia
Topologa del control (esquema circuital) dada la aplicacin.
Encapsulados, Montajes y tcnicas para disipacin del calor, robustez frente a ciclos
trmicos, aislacin elctrica.
Inversores CC/CA
4) Dispositivos de conmutacin de potencia PSD
NO CONTROLADOS PSD: Power switching devices
I PCT: Phase Controlled Thyristor
Diodos GTO: Gate Turn Off Thyristor
P-N IGCT: Integrated Gate Controlled Thyristor
IGBT: Insulated Gate Bipolar Transistor
P-I-N (alta tensin) V HV IGBT: High Voltage IGBT
Schottky (alta velocidad) SJ MOS: Super Junction MOSFET
A
Tiristores / PCT Mnima prdida en conduccin Baja frecuencia de trabajo.
Alta confiabilidad Necesidad de circuitos para bloqueo
Sensible a dV/dt (requiere snubber) G
K
GTO
104
SJ MOS
MOSFET
102
Smbolos
A A A
PN Schottky Zener/avalancha
Encapsulados
Diodos de potencia
I de Pico nico
I de Pico repetitivo
Valores mximos de
corriente en conduccin
Imedia
Cada Vd
en directo
Valores mximos de
tensin en bloqueo
Diodo PN
Encapsulados
Tiristores: Tiristor estndar
Proceso de disparo Curva de salida
Modelo
Estructura fsica
Pastilla
Tiristor/GTO (apagado por puerta)
GTO
Para apagarlo por puerta debe drenarse un 20% de la corriente principal A-K
IGCT (Tiristor controlado por puerta integrada)
IGCT
Circuito de
puerta
Transistores
Smbolos
Bipolar NPN
MOSFET de IGBT
enriquecimiento
Encapsulados
Transistor Bipolar de Potencia
Estructura
Transistor Bipolar de Potencia: Curvas de salida - SOA
MJ14001
FBSOA
Vgs>Vth
MOSFET: SOA (FBSOA SSOA)
BIPOLAR MOSFET
RW
CGD
CDS
RD
Parmetro Descripcin
Cgs Capacitancia puerta- Solapamiento dIndependiente de Vds
fuente e la metalizacin entre G y S.
Cds Capacitancia drenaje- Capacitancia de juntura entre la zona N de
fuente deplexin y la zona P. Disminuye a mayor Vds
Cgd Capacitancia puerta- Capacitancia de Miller por solapamiento entre CISS=CGS+CGD C de entrada
drenaje la puerta y la zona de deplexin.
Rg Resistencia interna de Resistencia del silicio de puerta.
CRSS=CGD C reversa
puerta
Rd Resistencia de Resistencia de la regin N, parte central de la
Drenaje Rdson
COSS=CDS+CGD C de salida
Rw Resistencia lateral de Resistencia Base-Emisor del NPN parsito.
la zona P.
Application Note AN-1084 - Power MOSFET Basics International Rectifier
MOSFET de potencia en conmutacin
CM = (1+Av). CDG
MOSFET de potencia: Encendido por corriente
Encendido:
t0-t1: La VGS no llega a VG(TH) del MOSFET, ID=0
t1-t2: ID comienza a aumentar pero VD no cae porque el diodo D, durante su recuperacin inversa, es
prcticamente un cortocircuito y puentea a la carga.
t2-t3: Una vez bloqueado el diodo D, Una gran dVDS/dt negativa se acopla por CGD (capacitancia de Miller)
impidiendo aumentar la VGS (IG debe cargar la CGD)
t3: IG termina de cargar las capacitancias CGD y CGS y prosigue el aumento de VG hasta la plena conduccin
(aunque en la grfica no se refleja, una mayor VGS produce una RDS(on) menor, y en consecuencia menores
prdidas de conduccin.
Apagado:
Aparecen fenmenos similares que retrasan el apagado. Al aplicar una Ig negativa Vgs disminuye, pero en cuanto
Vds comienza a aumentar, la dVDS/dt positiva se acopla por Cgd impidiendo bajar Vgs. Una vez descargada Ciss
(Cgd+Cgs). Vgs contina bajando y en consecuencia Id, hasta llegar a Vgsth y de all al bloqueo. En caso de carga
inductiva aparece una sobretensin en Vd, moderada por el diodo de recirculacin D. (ver IGBT)
MOSFET de potencia: Encendido inducido (no deseado)
MOSFET IGBT
IGBT: elementos intrnsecos-circuito equivalente
IGBT: Curvas caractersticas directa/inversa
IGBT: Tipos
IGBT: Generaciones
Efectos durante la conmutacin del IGBT
IC
VCE
VS VGE
t0 t1t2 t3 t4
Encendido por tensin:
t0-t1: La VGE no llega a VGE(T) del IGBT, IC=0
t1-t2: Crece IC y disminuye VCE (y VCG).
t2-t3: IC tiene un sobrepico por la recuperacin inversa del diodo freewheeling , VCE no decae en este
intervalo.
t3-t4: Una gran dVCE/dt negativa se acopla por CGC, impidiendo aumentar la VGE (IG carga la CGC)
t4: Al disminuir la magnitud de dVCE/dt (y dVGC/dt), VGG termina de cargar las capacitancias CGC y CGE.
Efectos en la conmutacin del IGBT: Bloqueo
IC VCE
VS
VGE
t0 t1 t2 t3 t4
Bloqueo:
t0-t1: IG descarga la tensin de puerta hasta el umbral de bloqueo del IGBT VTH.
t1-t2: Una pequea disminucin de Ic inicia un aumento de VC, que se acopla a travs de CGC
aportando carga a G, que la excitacin debe drenar. En este intervalo VGE se mantiene casi
constante.
t2-t3: Terminada de cargar CGC, VGE e IC disminuyen rpidamente, provocando el pico de
tensin en t3 debido a la fem de la carga inductiva.
t3-t4: Desaparece la fem, VCE se equilibra, IC termina de extinguirse (tail current)
5) Conexin en serie y paralelo
Conexin Serie Conexin paralelo
Se utiliza cuando la tensin de bloqueo Se utiliza cuando la corriente de conduccin
requerida por la aplicacin supera las requerida por la aplicacin supera las
especificaciones de bloqueo de los dispositivos. especificaciones de corriente o disipacin de los
Debe utilizarse externamente resistencias y dispositivos.
capacitores en paralelo con cada elemento para En los dispositivos con coeficiente positivo de
equilibrar las tensiones durante el bloqueo y la temperatura para la cada de tensin en
conmutacin. conduccin (EJ MOSFET) la corriente tiende a
Mientras ms estricto deba ser el equilibrio, distribuirse uniformemente (ej 50/50 para 2
menores debern ser los valores de las R y elementos).
mayores los de los C. En dispositivos con coeficiente negativo de
temperatura (Ej tiristores, diodos, IGBTs) es
fundamental emparejar sus caractersticas y
equilibrar trmicamente los elementos. A pesar de
esto la corriente se va a distribuir de manera
despareja, por ejemplo 60/40 para 2 elementos. Se
utilizan mtodos estadsticos para determinar la
distribucin esperable de corrientes en el peor
caso (Monte Carlo: simulacin con variacin
aleatoria de parmetros de dispositivos segn
especificaciones del fabricante)
http://www.ipes.ethz.ch/ipes/2002thermal/parallel/diode1.html
IGBTs en paralelo
Ejemplo:
Se muestra el efecto de desbalances trmicos
de 20 y 100 en la redistribucin de corrientes
durante la conduccin y durante la conmutacin.
Tambin el efecto de oscilacin durante el paso
a bloqueo (Turn-off) por inductancias parsitas
en las mallas del driver.
Tcnicas: Factores:
Soldadura trmica Temperatura
Soldadura ultrasnica (wire bonding) Ciclos trmicos
Sinterizado de plata (diffusion sinthering) Vibracin
Contacto flexible Corrosin
Disipacin del calor Clculo trmico
RTH R : Resistencia trmica ZTHJC Impedancia trmica juntura-carcasa
ZTH Z : Impedancia trmica
ZTHCS Impedancia trmica carcasa-disipador
ZTHSA Impedancia trmica disipador-ambiente
ZTHJA Impedancia trmica juntura-ambiente
Ej: IRF530 MOSFET Encapsulado TO-262
calor RthJC= 2.15 C/W
P RthJA= 40 C/W
T1 T2 RthCS(Tpica)= 2 C/W
RthSA =3C/W (ejemplo de disipador)
Phase arm for combination of Diodes, Thyristors Base for isolated Diode/Thyristor and IGBT
& Fuses packs.
Nom. Thermal resistance = 0.012C/W @ 6L/min. Nom. Thermal resistance = 0.024C/W @
4L/min.
Driver de MOSFETs e IGBTs IR2110 (International Rectifier)
Driver de MOSFETs e IGBTs 2ED020I12-FI (Infineon)
SiC
La resistencia ON se baja en un
factor de 1/300
Permite temperaturas de
funcionamiento de hasta 500C
La tensin umbral de juntura es
incrementada a 2,5
Las capacitancias de juntura son
mucho mayores.
No se pueden aplicar tecnologas
de difusin de impurezas.