Analizador XRD/XRF de sobremesa

BTX-II

BTX-II
Analizador XRD/XRF de sobremesa

Difractmetro de rayos X de polvo:

segunda generacin de analizadores
de difraccin de rayos X para
laboratorios.
 Tecnologas patentadas por la NASA y Olympus
Concebido para efectuar estudios qumicos y mineralgicos en el marco de la misin Mars Science Laboratory (MSL)
dirigida por la NASA, el BTX II de Olympus es un analizador robusto de sobremesa que se beneficia de dos tec-
nologas avanzadas la difraccin de rayos X (XRD) y la fluorescencia de rayos X (XRF), las cuales permiten su uso
en aplicaciones terrestres. Combinando ambas innovaciones tecnolgicas de Olympus y de la NASA, el BTX II da vida a
una nueva forma de efectuar mediciones por XRD y XRF.

Gracias a su detector de carga acoplada (CCD, por sus siglas en ingls), desarrollado especficamente para producir
una excitacin atmica directa en el material, el analizador BTX II permite reunir simultneamente los datos provenientes
de los fotones de rayos X para ambas tcnicas XRD y XRF. Esto es posible mediante el funcionamiento de la cmara
integrada, que detecta la posicin de ambos fotones de energa al mismo tiempo. Con una resolucin de energa de
~200 eV (5,9 keV), el analizador BTX II hace que su experiencia analtica sea tan simple como al visualizar el anlisis
espectral en la pantalla de su PC.

Fcil preparacin de muestras

BTX II TM simplifica de manera radical el procedimiento de
preparacin de las muestras recolectadas para los experi-
mentos por difraccin de rayos X. Usualmente, unamues-
tra deba ser molida o pulida finamente y comprimida
hasta formar un pellet o una bolita para asegurar que
loscristales asuman orientaciones aleatorias.

Sin embargo, con las casillas (o cmaras) vibrantes,

patentadas BTX II, la etapa previamente mencionada
se elimina automticamente. Las casillas alojan las
muestras. Para ello, se requiere solo la cantidad de 15 mg
de muestra; ya que, mediante el proceso de conveccin
por agitacin de las casillas, el analizador obtendr una
ptica de orientaciones mltiples de la estructura cristalina
del mineral. Este proceso brindar un excelente patrn de
difraccin de rayos X, sin ser afectado por la problemtica
de preferencia de orientacin que normalmente se en-
cuentra al emplear mtodos de preparacin de muestras
convencionales.

Debido a su sistema superior de manipulacin de mate-

rial pulverizado, a sus gonimetros no mecanizados, y a
la ausencia de dificultad al desplazar sus piezas mviles,
BTX II es ideal para aplicaciones en donde portabilidad y
fcil uso son aspectos primordiales.

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Datos de difraccin de rayos X Datos de fluorescencia de rayos X

Software de anlisis cuantitativo XRD y Search/Match (es. Bsqueda/Corres-

pondencia) includo.

Software XPowder
BTX II es enviado junto con su til y prctico software
XPowder para procesar los datos de difraccin de rayosX
adquiridos. Este incluye la base de datos mineralgica
AMSCD de la Sociedad Estadounidense de Matemticas.
De ser necesario, el software XPowder brinda la capaci-
dad de utilizar los archivos ICDD Powder Diffraction en
formato PDF.
Para anlisis cuantitativos, el software XPowder consta de
mtodos de anlisis cuantitativos completos, dotados de
un ratio de intensidad de referencia (RIR), y herramientas
completas de anlisis para cada uno de estos mtodos.
Adems, el BTX II brinda los datos de los patrones XRD
en una numerosa variedad de formatos, permitiendo su
anlisis e interpretacin ms fcil y accesible en program-
as terciarios.

Conectividad
El analizador BTX II puede ser operado gracias a su software auxiliar integrado. Es posible acceder a este ltimo me-
diante una conexin inalmbrica de 802.11b/g. Esta operacin a distancia permite ampliar el rango de flexibilidad para
controlar el analizador y efectuar el tratamiento subsecuente de datos.

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Especificaciones

Resolucin XRD 0,25, en funcin del ngulo 2; medida de anchura de media altura (FWHM).
Rango XRD 5-55, en funcin del ngulo 2.
1024 256pxeles con sensor de carga acoplada (CCD o charge-coupled device) a efecto Peltier
Tipo de detector
bidimensional.
Resolucin de energa XRF 250 eV a 5,9 keV.
Rango de energa XRF De 3 keV a 25 keV.
Tamao de molido/pulido de Pulido de <150 m (tamiz de 100).
muestras
Cantidad de muestra ~15mg
nodo de tubo de rayos X Cobre (Cu) o cobalto (Co) [cobre de serie).
Tensin (voltaje) deltubo de 30kV
rayosX
Potencia de tubo de rayosX 20W
Almacenamiento de datos Disco duro interno reforzado 40GB
Conexin inalmbrica 802.11b/g (permite el control a distancia desde el navegador web)
Temperatura de funcionamiento -10C a 35C
Dimensiones 30cm 17cm 47cm
Peso 12,5kg

cuenta con la certificacin ISO 9001 y 14001.

Todas las especificaciones estn sujetas a modificaciones sin previo aviso.

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