Microscopio de Fuerza Atmica (AFM)

AFM JEOL JSPM-5200

http://www.linan-ipicyt.mx/Microscopio_HR-TEM.html

Principio bsico de la tcnica

El microscopio de fuerza atmica es un instrumento mecano-ptico que forma imgenes de las

superficies utilizando una sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploracin
lnea por lnea, es decir escanea la muestra en funcin de la posicin generando una imagen. Esta
tcnica nos permite obtener imgenes topogrficas en 3D, hacer mediciones del orden de los nm,
detectar fuerzas de nN, hacer mediciones de visco-elasticidad y dureza de la muestra, entre otras.

La punta de AFM se encuentra montada en una micropalanca, a la cual se le hace incidir un lser
(como se muestra en la figura), as, cada vez que la punta sube o baja debido a la interaccin con
la superficie que se encuentra analizando, la micropalanca reflecta la desviacin del lser a un
fotodetector y es interpretada por el software generando una imagen.

Beneficios

Esta tcnica es ampliamente utilizada en el anlisis de nano-materiales, ya que, a diferencia de un

microscopio electrnico no requiere trabajar en condiciones de vaco, la muestra no requiere una
preparacin sofisticada y tampoco es necesario que la muestra a analizar sea conductora o se
encuentre recubierta, estas caractersticas amplan el rango de muestras que es posible analizar.
Se utiliza en campos como biologa, materiales, ciencias ambientales, etc.

Se pueden llevar a cabo anlisis sobre muestras slidas, polvos, pelculas delgadas, muestras
biolgicas, etc, sin embargo la muestra debe ser lo ms plana y homognea posible, sin importar si
es conductora. No es posible hacer anlisis de gases y/o lquidos.
Equipos especializados que emplean esta tcnica en LINAN

JEOL JSPM-5200. Se cuenta con 2 scanner, el ms grande (WZD) capaz de analizar una rea de
50 nm2 para (x, y) y 10 nm para z, por lo que la resolucin es menor y el scanner STD o estndar el
cual tiene un rango de 10 nm2 para (x, y) y 3 nm para z, por lo que en general se usa para muestras
con tamao menor a los 5nm.

Detalles ms importantes

El anlisis por AFM requiere varios minutos para una exploracin tpica, es decir la
obtencin de imgenes es del orden de minutos.
El xito del anlisis depende en gran medida de la preparacin de la muestra.
Las muestras no deben ser mayores a 1x1 cm con un grosor mximo de 3mm.
Si la muestra presenta una gran topografa se corre el riesgo de no obtener imgenes y
hasta de romper la punta de trabajo.
La cantidad de puntas presentes en el mercado es muy variada, presentando diversas
caractersticas, que van desde la forma de la punta, la forma del cantilver, hasta la
constante de fuerza y resonancia, entre otras. Motivo por el cual en el IPICYT cuenta con
puntas de uso general.
Servicios

Se solicita contactar directamente al tcnico, de esta manera este podr conocer las
caractersticas propias de la muestra.

Aplicaciones
AA2000 Atomic Force Microscope (AFM)

Fsica Aplicada
Biosensor y Bioelectrnica
Qumica
Nanotecnologa

Observacin de pelcula de alta resistencia

Mediciones voltamtricas amperomtricas y cclicas
Observacin de la microestructura
Medidas de impedancia electroqumica

AA7000 SEM Scanning Electron Microscope

Biomaterial
Comunicaciones electrnicas
Ingeniera Qumica y de los Materiales
Bioqumica Analtica

Estudio caracterstico
Morfologa superficial de las pelculas
Medir la conductividad
Deteccin electroqumica