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ISSN 0122-170 37
Purpose and scope of sampling signal locations in the high band of the spectrum
1. INTRODUCCIN
Cuando se tienen seales ubicadas en la parte ms alta
del espectro, tal como se muestra en la Figura 1, cuya
menor frecuencia (F mn), sea mayor que el ancho de
Banda ocupado (BW), definido como la diferencia entre
la Frecuencia ms alta y la ms baja (F mx - F mn), es
posible realizar su muestreo a una frecuencia menor que
la que impondra Nyquist, siempre que se garantice que
las repeticiones espectrales no se superpongan con el
espectro. Figura 1. Seal ubicada en la parte alta del espectro
Sin embargo, el muestreo de estas seales tambin
conocido como muestreo pasabanda tienen gran utilidad
en los sistemas de procesamiento de seales digitales,
tomando como base el desarrollo del teorema del
muestreo de Shannon.
fs = 2 x 20 kHz
fs= 40 kHz
1
http://prof.usb.ve/tperez/docencia/2422/contenido/muestreo/muestreo.
htm. [1]
2
Electrnica General y Aplicada Facultad de Ingeniera
Universidad Nacional de Cuyo [2]
Scientia et Technica Ao XIV, No 39, Septiembre de 2008. Universidad Tecnolgica de Pereira 39
fs = 2 F mx
fs = 2 (13 MHz)
Figura 3. Seal anloga y su seal muestreada
fs = 26 MHz
3.2 Aliasing
El aliasing es el efecto que causa que seales continuas
Frecuencia que es que es demasiado alta para un
distintas se tornen indistinguibles cuando se les muestrea
muestreo tpico.
digitalmente. Cuando esto sucede, la seal original no
puede ser reconstruida de forma unvoca a partir de la
Por el contrario, al aplicar el criterio de Nyquist Shannon,
seal digital3.
sera suficiente con:
El aliasing es un fenmeno propio de la conversin A/D,
fs = 2 BW
en el cual la frecuencia de la seal reconstruida es menor
fs = 2 (F mx - F mn)
que el de la seal original, lo cual ocurre cuando la
fs = 2 (13 MHz - 12 MHz)
frecuencia de muestreo es demasiado baja; estos efectos
fs = 2 MHz
pueden reducirse utilizando filtros4.
Frecuencia de muestreo que puede ser ms sencilla de
3. CRITERIO DE NYQUIST SHANNON
implementar y donde se verifica que:
El criterio de Nyquist-Shannon, tambin denominado
Teorema del Muestreo Pasabanda, establece que la
F mn > BW
frecuencia mnima de muestreo necesaria para evitar el
12 MHz > 1 MHz
aliasing debe ser.
Otros criterios de muestreo mnimo para seales
Fs > 2 BW
pasabanda, se utilizan, teniendo en cuenta la cantidad de
replicas espectrales que se puedan colocar entre las
Con:
densidades espectrales originales, segn [6] y [7], para el
ejemplo presentado, se podra muestrear a una frecuencia
fs: frecuencia de muestreo
de entre dos y cuatro veces el ancho de banda.
BW: ancho de banda de la seal a muestrear
BW = F mx - F mn
4. FILTRO ELECTRNICO
Un filtro elctrico o filtro electrnico es un elemento que
Para seales con F mn = 0, la expresin queda:
discrimina una determinada frecuencia o gama de
frecuencias de una seal elctrica que pasa a travs de l,
fs > 2 F mx
pudiendo modificar tanto su amplitud como su fase.
Que coincide con la aplicacin del Teorema general del
4.1 Tipos de Filtro segn respuesta frecuencia
muestreo.
Filtro pasa bajo: Es aquel que permite el paso de
El criterio de Nyquist Shannon redefine el Teorema del
frecuencias bajas, desde frecuencia 0 o continua directa
muestreo aplicndolo a un Ancho de Banda de inters
especfico, lo que soluciona ciertas dificultades que
3 5
http://es.wikipedia.org/wiki/Aliasing#Criterio_de_Nyquist [3] http://prof.usb.ve/tperez/docencia/2422/contenido/muestreo/
4
http://commons.wikimedia.org/wiki/Aliasing [4] muestreo.htm [5]
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hasta una de valor determinado. Presentan ceros a alta central de 1000 Hz, caracterstica que tambin se aprecia
frecuencia y polos a bajas frecuencia. en la Figura 8. Lo anterior permite verificar el
Filtro pasa alto: Es el que permite el paso de frecuencias cumplimiento del criterio de Nyquist Shannon para
desde una frecuencia de corte determinada hacia arriba, seales ubicadas en la parte ms alta del espectro.
sin que exista un lmite superior especificado. Presentan
ceros a bajas frecuencias y polos a altas frecuencias. A continuacin se presenta el programa construido y las
Filtro pasa banda: Es aquel que permite el paso de graficas obtenidas para la aplicacin descrita, vale la
componentes frecuenciales contenidos en un determinado pena anotar que primero se incluye el cdigo e
rango de frecuencias, comprendido entre una frecuencia inmediatamente despus el correspondiente resultado en
de corte superior y otra inferior. forma grafica.
Filtro elimina banda: Tambin llamado filtro rechaza
banda, es el que dificulta el paso de componentes % Se crea la seal a muestrear
frecuenciales contenidos en un determinado rango de npuntos=16384;
frecuencias, comprendido entre una frecuencia de corte t1 = 0:1/npuntos:1; % Intervalo de Muestreo
superior y otra inferior. t = 0:1/npuntos:1;
Filtro multibanda: Es que presenta varios rangos de A = 1; % Amplitud de la Seal
frecuencias en los cuales hay un comportamiento fn =10; % Frecuencia de la Seal
diferente. fp= 1000.0; % Frecuencia de la Seal portadora
Filtro variable: Es aquel que puede cambiar sus Sig=A*(sin(2*pi*fn*t)+sin(2*pi*3*fn*t)+cos(2*pi*5*fn
mrgenes de frecuencia. *t)); % Seal a Muestrear
subplot(2,2,1)
5. VERIFICACIN A TRAVS DE UNA plot(t,Sig);
APLICACIN DEL MUESTREO PASABANDA axis([0,0.25,-4,4])
xlabel('Tiempo (s)');
Utilizando Matlab, se presenta el programa y las graficas ylabel('Amplitud de la Seal')
construidas para una aplicacin del muestreo Pasabanda, title('Seal a Modular');
empleado para seales en las bandas ms altas del grid;
espectro. esp1=fft(Sig);
subplot(2,2,2)
En este ejemplo se construye una seal inicial, cuyo plot(abs(esp1))
contenido espectral incluye diferentes valores de xlabel('Frecuencia [Hz]');
frecuencia (10 Hz, 30 Hz y 50 Hz), como se aprecia en la title('Espectro seal a Modular');
Figura 4; la cual, a travs de una seal portadora (de axis([0,80,0,5000]);
valor 1000 Hz) como se observa en la Figura 5, se grid on;
modula con el fin de trasladar en el espectro la seal
inicial, esta modulacin se muestra en la Figura 6.
A1 = 1;
fs=200;
w = 2*pi*fs; Figura 8. Seal pasabanda muestreada y su espectro
%t2 = 0:1/63535:(0.25-1/65535);
t2=t1; El siguiente paso en el procesamiento de este tipo de
sq = A1*square(w*t1); seales es la reconstruccin de la seal muestreada, que
subplot(2,2,3); para este caso se realizara, por ejemplo, utilizando un
plot(t2,sq); filtro pasabanda como al que se hace referencia en el
xlabel('Tiempo (s)'); numeral 4 del artculo y cuyas frecuencias de corte se
ylabel('Amplitud de la Seal Muestreadora') pueden definir entre 100 y 300 Hz.
title('Seal Muestreadora');
axis([0,0.05,-2,2]); 6. CONCLUSIONES
grid on;
Los resultados obtenidos al muestrear seales pasabanda,
esp4=fft(sq); que en la aplicacin representan seales ubicadas en la
subplot(2,2,4); parte alta del espectro, verifican claramente el criterio de
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7. BIBLIOGRAFA
[1] http://prof.usb.ve/tperez/docencia/2422/contenido/mu
estreo/muestreo.htm
[3] http://es.wikipedia.org/wiki/Aliasing#Criterio_de_Ny
quist
[4] http://commons.wikimedia.org/wiki/Aliasing
[5] http://prof.usb.ve/tperez/docencia/2422/contenido/
muestreo/muestreo.htm