RELATRO DA PRTICA 01: Introduo Plataforma NI-ELVIS

Amanda Barbosa, 201222060299, frances.amanda@gmail.com

Gabriela Rodrigues, 201222060400, gabrielardasilva@hotmail.com
Rodrigo Moreira, 201222060116, costa-rodrigomoreira@hotmail.com

CEFET-MG, Belo Horizonte, Brasil, 26 de Maro de 2015.

Resumo: O propsito principal deste trabalho relatar a Um multmetro digital da Fluke 179
anlise obtida a partir da primeira aula prtica, onde um Plataforma NI-ELVIS
multmetro analgico, um digital e a plataforma NI-ELVIS
foram utilizados para medies e verificao de incertezas. Quatro resistores com valores e tolerncias de (1k

5%, 100k 5%, 560 5%, 56k 1%)

INTRODUO
Um capacitorde 22nF 10%,
Na disciplina de Laboratrio de Sistemas de Medio
busca-se estudar as formas de medio para entendermos
O procedimento utilizado foi de:
como eles afetam os parmetros medidos e quo confiveis
os resultados encontrados so. Esta anlise da incerteza de1. Medir a resistncia das quatro resistncias pelo multmetro
medio muito importante uma vez que varia de digital e a plataforma, indicando o resultado e a incerteza de
instrumento para instrumento e pode afetar cada medio.
consideravelmente o valor medido. Nesta prtica utilizamos2. Obter o modelo matemtico da Fig.1, aplicar a LPU e obter
trs instrumentos de medio para obteno dos parmetros a equao da incerteza combinada.
desejados e anlise dos erros e incertezas envolvidos, sendo
eles o Multmetro de bobina mvel, o multmetro digital da
Fluke e a plataforma NI-ELVIS. Esta plataforma virtual
mostra-se muito til, pois ela auxilia tanto na gerao
quanto nas medies referentes aos circuitos. Ela possui
vrias funes de auxilio, as utilizadas nesta prtica foram Fig. 1 Divisor de Tenso

DMM(utilizadas para medies), Variable Power

Supply(utilizada na alimentaodo circuito), FGEN(Gerador
de funes), Bode Analyzer(determinao do grfico de
bode), alm de possuir a menor incerteza envolvida entre os
trs, de acordo com o manual.
PROPSITO
O propsito desta prtica analisar a resposta fornecida
por cada um dos trs instrumentos de medio (um6.
multmetro analgico, um digital e a plataforma NI-ELVIS),
observando e determinando a incerteza de medio. Alm
disso comentar os resultados ressaltando e explicando as7.
possveis diferenas entre as medidas.
Outro objetivo foi o de praticamos com a plataforma
8.
virtual tanto a montagem do circuito quanto as
possibilidades de medio, uma vez que a utilizao de
medidores virtuais tem aumentado.
MTODOS
Para anlise foi necessrio:
Um multmetro analgico de bobina mvel
3. Considerar que Vf=10V 100mV, R1 = 56 k e R2 = 100
k com as devidas tolerncias aplicar na equao
determinada no item 2 e encontrar o valor esperado de V2
com a incerteza combinada.
4. Montar na plataforma NI-ELVIS o circuito da Fig.1 para
Vf=10V, R1 = 56k e R2 = 100ke medir a tenso V2 com
cada um dos trs instrumentos de medio.
5. Repetir os itens 3 e 4 para R1 = 560 e R2 = 1k.
Ligar o gerador de sinais do NI-ELVIS e verificar em seu
prprio osciloscpio a forma de onda. Ajuste a forma de
onda para 10 kHz e VPP = 5 V.
Medir a capacitncia do capacitor pelo NI-ELVIS e pelo
multmetro, indicando o resultado e a incerteza de cada
medio.
Montar um circuito RC srie para R = 560 e C = 22 nF,
aplicando na entrada o sinal ajustado no item 6. Depois
medir com o osciloscpio do ELVIS as formas de onda da
tenso de entrada e da tenso do capacitor.
9. Utilizar o Bode Analyzer do ELVIS para determinar a
resposta em frequncia do circuito montado no item 8 e
comparar com a resposta esperada que dever ser traada no
MATLAB.
 R2
V2= * Vf (1)
RESULTADOS E DISCUSSES R 1 + R2

1. Para determinar a incerteza da medio consultamos os

Derivando-se a equao (1) em relao entrada
manuais dos respectivos dispositivos. Obtendo para a
obtivemos equao (2) .
plataforma que U r =(70Rmedido + 12Range)/10 6
V2 R
=C1= 2 (2)
0,9Rmedido Vf R1 + R 2
e para o multmetro que U r 2= 100
+ X , onde

X=0.2 para medidas at 600, X=1 para medidas at Derivando-se a equao (1) em relao
R2
6K, X=10 para medidas at 60K e X=100 para
obtivemos equao (3) .
medidas at 600K.

Tabela 1. Valores resistncia obtidos durante as Medies V2 R

=C2= 1 * Vf
Resistncia e Medies (em ) R2 (R 1 + R 2 )
2 (3)
tolerncia NI-Elvis Mult. Digital
1k 5 0,9813k 80,69 0,982k 9,8
Derivando-se a equao (1) em relao
R1
0 1m 32
100k 5k 98,623k 987, obtivemos equao (4) .
98,7k
8,104 61 V2 - R2
=C3= * Vf
560 559,74 51,20 560 R1 (R 1 + R 2 )2 (4)

28 1m 5,238
56k 56,394k 5,1 56,5k 07,5 A incerteza combinada em relao a tenso V2 dada
pela equao (5), onde U(Vf) a incerteza relativa a
560 48 46
entrada, U(
R2 ) a incerteza relativa a R2 e U(
Como pode-se observar os valores medidos pelo
multmetro e pela plataforma so prximos do valor R1 ) a incerteza relativa a R1
nominal e esto dentro das tolerncias especificadas pelos
2 2 2 2 2 2 2
componentes, entretanto as incertezas so bem diferentes o Uc ( V 2) = C1 U ( Vf ) + C2 U ( R2 ) +C3 U ( R 1 )
que nos mostra que a medida indicada pelo NI-ELVIS
maisprecisa do que a medida do multmetro. (5)
Neste caso importante analisar outros aspectos como a
calibrao dos instrumentos e a quantidade de medies que 560 e R2 = 100
3. Para Vf=10V100mV, R1 = 56 k
foram realizadas. Ao realizar estas medies um dado
desconhecido a rastreabilidade dos instrumentos, ou seja, a 5 k :
k
garantia de que a sua referncia est correta de acordo com
o BIPM. Desta forma impossvel prever se a exatido do C1=0,64, C2=23,01, C3=-41,09,
instrumento est garantida. Assim, como a rastreabilidade
U ( Vf )=100 mV , U ( R2 )=5 K e
no pode ser garantida, a repetitividade tambm no
alcanada, o que significa que ao repetir a medida dos
resistores os valores podem acabar sendo consideravelmente U ( R 1 )=560 ento Uc 2 ( V 2) = 17,875m e
diferentes dos obtidos nesta prtica.

U ( V 2 )=133,7 mV para um desvio padro, para
2. A equao (1) mostra matematicamente a relao entre a

entrada
Vf e a sada
V2 . U ( V2 ) =267,4m V
dois
 Ento V2=6,4102 V 267,4 m V. 6,4102V 6,3688
6,370 2,55
267,4 mV 0,21 150m
25,733m
4. As medies foram realizadas em seguida com o objetivo de 5m
garantir que todas as medies estariam sobre o mesmo
efeito do erro aleatrio. Como pode ser observado o valor de tenso obtido com
Os dados obtidos durante as medies esto presentes na o multmetro analgico completamente fora do esperado.
tabela 2. Isto pode ser por erro de calibrao ou o que o valor da

resistncia
R2 , onde medida a tenso, est muito
Tabela 2. Valores de tenso obtidos durante as Medies
V2 V2 medido (em V) prximo da impedncia de entrada do multmetro, gerando
esperado NI-ELVIS Multmetro Multmetro
um efeito de carga que causa grandes erros na medida. Isto
digital analgico
foi comprovado ao observar que a impedncia de entrada do
multmetro analgico de 4k.

5. Para R1=560 28 e R2=1k 50:

C1=0,64, C2=2,3m e C3=-4,109m,
U ( Vf )=100 mV , U ( R2 )=50 e

U ( R 1 )=28 ento Uc 2 ( V 2 )= 30,56m e

U ( V 2 )=174,8 mV para um desvio padro, para

dois
U ( V 2 )=349,6 mV .

Os valores de tenso encontrados durante as medies

esto na tabela 3. Como e possvel observar agora a medida
com o multmetro analgico est coerente comprovando que
o problema era efeito de carga na medio observada na
tabela 2.

Tabela 3. Valores de tenso obtidos durante as Medies

V2 V2 medido (em V)
esperado NI-ELVIS Multmetro Multmetro
digital analgico
6,4102 6,3876 6,389 6,35
349,6 mV 150m
0,216m 25,75m

As incertezas da tabela 3 foram obtidas a partir dos

manuais, de forma que no ELVIS ela determinada por
U Velvis =(33V medido + 0.5Range)/106 , no

multmetro digital por

9V medido
U VM 1=0, 0 +20.01 e no multmetro
100
 5Fundo de escala obteno dos dados utilizou-se o FGEN da plataforma como
analgico atravs de
U VM 2=0, o sinal de entrada no circuito RC srie, depois as entradas
100
analgicas A0 e A1 foram utilizadas para medir a entrada e a
. sada V2 podendo assim determinar a resposta frequncia
6. A fig. 2 mostra que a forma de onda foi calibrada do circuito uma vez que o Bode Analyzer utiliza vrias
corretamente. frequncias de teste saindo de FGEN.
Os dados foram salvos em arquivo .txt para que
posteriormente fosse possvel plotar os grficos terico e
real e comparar os resultados. Este grfico mostrado na
Fig.4. O algoritmo utilizado na confeco dos grficos est
no Anexo 1.

Fig.2 Foto do software de controle do NI-Elvis

7. O capacitor foi medido pelos dois instrumentos e os valores

anotados na tabela 4.

Tabela 3. Valores de capacitncia obtidos durante as Medies

Capacitncia Medies (em F)

e tolerncia Plataforma NI- Multmetro
Elvis Digital
22nF 22,38n 23n
2.2nF 0,224n 2,268n

8. Fig.3 Grfico com a resposta real e resposta terica

Ao observar a Fig. possvel observar que os valores
reais so bem discrepantes do resultado esperado. Isto
ocorre porque no plano dos componentes ideais, capacitores
e resistores so puramente capacitivos e resistivos,
respectivamente, porm no plano dos componentes reais
ambos possuem caractersticas resistivas, capacitivas e
indutivas sendo que as reatncias so profundamente
afetadas pelo aumento da frequncia, alm de que, como foi
medido os valores nominais dos componentes so diferentes
dos valores reais.

CONCLUSO

Ao realizar medies importante conhecer os

Fig.3 Foto do software referente ao osciloscpio do ELVIS
Como possvel observar na Fig. 3 a tenso no capacitor
(forma de onda em vermelho) menor e defasada da tenso
de entrada (forma de onda em rosa). Estes acontecimentos
condizem com o esperado uma vez que parte da tenso fica
no resistor e o defasamento est entre 0 (caso o circuito
fosse puramente resistivo) e 90 (caso o circuito fosse
puramente capacitivo).
9. Utilizando a funo Bode Analyzer do ELVIS foi possvel
obter a informao de resposta a frequncia do circuito. Para
instrumentos utilizados. preciso saber se o instrumento
possui uma escala adequada para medir o resultado
esperado, se a incerteza envolvida ser considervel ou no
e principalmente se o instrumento est calibrado, podendo
ser considervel rastrevel.
Outra coisa que os instrumentos de medio so
projetados para possurem pequenos erros de medida
entretanto eles no so equipamentos ideais e como
observado na prtica eles podem ser fontes de efeito de
carga e com o tempo ou temperatura perder a exatido da
medida, sendo importante recalibra-lo de tempos em
tempos.
 Nesta prtica tambm foi possvel observar e concluir Ganho=A(1:44,2);
que a plataforma NI-ELVIS possui uma incerteza associada Fase=A(1:44,3);
baixa, alm de que o seu controle, monitoramento e medio G=tf(1,[560*22e-9 1]);%Funo de transferencia esperada
%Aqui as informaes de frequencia, ganho e fase da
por software facilitam o trabalho do operador.
funo G so tratados
%para podermos plotar num mesmo grfico a resposta
REFERNCIAS esperada e a medida
[1] Alpo, Rafael Silva, Notas de aula Sistema [mag1,phase1] = bode(G,Freq);
internacional de unidades. Agosto 2014. for i=1:44
[2] Alpo, Rafael Silva, Notas de aula Conceitos e mag(i)=20*log10(mag1(i));
unidades bsicas. Agosto 2014. phase(i)=phase1(i);
[3] Santos,Guilherme Vianna, Prtica 01: Introduo end
Plataforma NI ELVIS. Maro 2015. mag=mag';
phase=phase';
ANEXO 1 figure(1)% Plot dos valores medidos e do esperado
subplot(2,1,1);
% Este programa plota um grtico de bode a partir de uma semilogx(Freq, Ganho,Freq,mag,'r')
tabela .txt legend('Grafico de magnitude real','Grafico de magnitude
% produzida pela plataforma NI-ELVIS. Ele tambem plota esperado')
um grafico de bode a ylabel('Magnitude(dB)')
% partir da funo de transferencia do circuito. Assim xlabel('Frequencia (Hz)')
possivel observar title('Diagrama de Bode')
% o comportamento esperado e o comportamento real do subplot(2,1,2);
circuito semilogx(Freq, Fase,Freq, phase,'r')
clear all legend('Grafico de fase real','Grafico de fase esperado')
clc ylabel('Fase()')
% Nesta parte o arquivo aberto e armazenado na varivel xlabel('Frequencia (Hz)')
A
arquivo = fopen('DIAGRAMA-DE-BODE.txt');
figure(2)%Plote do diagrama de bode completo
A = fscanf(arquivo,'%f',[3 Inf]);
bode(G)
fclose(arquivo);
title('Diagrama de Bode esperado - Completo')
A=A';%Transposta de A. Agora A tem 3 colunas.
%Separa a matriz A em 3 vetores referentes a Frequencia,
Ganho e Fase do sinal
Freq=A(1:44,1);