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DETERMINACIN DE EXCENTRI CIDAD DE VARIAS
ORBITAS PARA UN TOMO
Johan Sebastin Acevedo Quiroga, Carlos Rodrigo Bernal Bernal, David Roberto Moreno Moreno
e-mail:jacevedoq1@ucentral.edu.co,cbernalb1@ucentral.edu.co,dmorenom6@ucentral.edu.co
Departamento Ingeniera Electrnica, Universidad Central
Bogot, Colombia
Resumen En este laboratorio se obtuvieron los parmetros
de red de la calcita, para ello fue necesario realizar
mediciones con un equipo especial del laboratorio de
optoelectrnica. En primer lugar la muestra fue expuesta a
rayos x, se utiliz un contador Geiger-Muller que arroja un
dato en CPM (conteo por minuto) dependiendo el ngulo en el
cual se est midiendo. Dicho ngulo se vari de -90 hasta 90 bandas de dicho material ante la exposicin al mismo de los
para tomar datos suficientes que permitieran obtener una
grfica para determinar los parmetros de red de la estructura
cristalina de dicho material.
ndice de Trminos Rayos X, optoelectrnica, cristal,
Geiger Muller, CPM, difraccin.
Abstract In this lab itself obtained parameters Red
calcite, para This was necessary measurements with special
equipment Optoelectronics Laboratory. First, the sample was
exposed by x-rays, the UN Geiger-Mller counter yielding
Dato UN CPM (counts per minute) depending on the angle at
which it is being measured was used. This angle was varied
from -90 to 90 para Take sufficient data to enable a
graphical para Determine Network Parameters of the crystal
structure of the material.
Index Terms Crystal, Diffraction, X-ray,CPM, diffraction
I. INTRODUCCIN
La tcnica de cristalogrfica consiste en hacer pasar un haz de
luz a travs del material a estudiar; En este caso particular
corresponde a una muestra de calcita suministrada por el
docente, posteriormente se realizada un barrido a diferentes
ngulos de incidencia y simultneamente se hace la medicin
con un detector de radiacin ionizante llamado Geiger
Mller que arroja el dato obtenido segun la variacion de
ngulos de la incidencia del haz y con ello determinar las
variables necesarias para el clculo de los parmetros de red,
adicionalmente se busca determinar caractersticas propias del
material y condiciones presentes en el estudio como energa,
iones, distancias entre otros. [1]
A partir de los datos obtenidos por el dispositivo de medida
con relacin a los ngulos de barrido que se realizan para la
incidencia del haz de luz sobre el cristal, se construye una
grfica de CPM (conteos por minuto) contra los ngulos de
barrido y de dicha grafica se toman los picos ms
significativos para la adquisicin de los datos necesarios para
realizar los posteriores clculos matemticos. Ms adelante
mediante la ley de Bragg y de Von Laue se determina los
parmetros de red correspondientes al material analizado en
cuestin tenido como base los indicies de Miller que
corresponden a la estructura de cristal analizado en cuestin.
Una vez obtenidos dichos valores para los parmetros de red,
se hace una simulacin mediante el software de Matlab que
nos permite analizar el comportamiento y la oscilacin de las
rayos x con una longitud de onda especifica. Con ello se
permite determinar propiedades que corresponden al material
y en esencial su piezoelectricidad ante la deformacin del
mismo
Por ltimo se hace un anlisis de error de los parmetros de
red obtenidos experimentalmente contra los suministrados por
la literatura y se hace analizan las causas posibles de los
errores arrojados.
II. MARCO TERICO.
III. MARCO TERICO
Los rayos X comenzaron con experimentos hechos por el
cientfico britnico William Crookes, que investig en el siglo
XIX los efectos de ciertos gases al darles energa. Los rayos X
fueron descubiertos por Rontgen. Estos se definen como una
radiacin electromagntica de longitud de onda corta. El
intervalo de longitudes de onda de los rayos X va desde
aproximadamente 10-5 hasta alrededor de 100 ; sin
embargo, la espectroscopia de rayos X convencional abarca la
regin de aproximadamente 0.1 a 25.
Cuando una radiacin X interacciona con la materia produce
unos procesos. Existen varios sistemas de deteccin para rayos
X: pelculas fotogrficas, dispositivos de ionizacin, cmaras
CCD, etc.
Difraccin de Rayos X: Las relaciones angulares
entre las caras de un cristal no quedan afectadas por la simetra
de traslacin ya que originan desplazamientos tan pequeos
que no pueden observarse morfolgicamente. Slo las tcnicas
de rayos X y difraccin electrnica permiten su deteccin.
La difraccin de rayos X se produce al bombardear un metal
con electrones de alta energa. Cuando los electrones penetran
en el metal se desaceleran y emiten radiacin en un intervalo
de longitudes de onda, denominndose esta radiacin continua
freno rayo. Sobre esta aparecen superpuestos pocos agudos
de alta intensidad. Estos pocos tienen origen en la interaccin
de electrones incidentes con los electrones de las capas
internas de los tomos: una colisin expulsa un electrn y un
electrn de mayor energa desciende a la vacante, emitiendo el
exceso de energa como un fotn de rayos X. [2]
 2

Cuando un Cristal difracta rayos X, las ondas dispersadas

electromagnticas re emitidas interfieren entre si n = numero entero
constructivamente slo en algunas direcciones, es decir, se =longitud de onda de los rayos x
refuerzan anulndose en el resto. Los rayos 1 y 2 estarn en d =distancia entre los planos de la red cristalina.
fase y por tanto se producir difraccin cuando la distancia AB = Angulo entre los rayos incidentes y los planos de
represente un nmero entero de longitud de onda, esto cuando dispersin.
siendo un numero entero (0, 1, 2, 3n).

Para que la difraccin tenga lugar en las tres dimensiones de

Se encuentra en la teora los parmetros de red
un cristal es necesario que se satisfagan las siguientes tres
asociados al tomo de calcita y se tiene que para una
ecuaciones, conocidas como las ecuaciones de Lave:
celda unitaria de la calcita sus parmetros de red
Donde , y c son distancias reticulares en las tres dimensiones, correspondientes son a = b = 4.99 y, c = 17.06 ,
llamados tambin parmetros de red; son nmeros enteros y = = 90 y = 120.[5][6]
llamados ndices de Miller; el nmero 1 representa el ngulo
incidente y la fila de tomos y el nmero 2 entre sta y el haz
difractado en cada una de las dimensiones. Tomando como soluciones la forma de ondas vibracionales
Dosimetra: La dosimetra de radiacin es el clculo viajeras e i (kxwt) , ahora con diferentes amplitudes de
de la dosis absorbida en tejidos y materia como resultado de la vibracin A y B en planos alternos.
exposicin a la radiacin ionizante, tanto de manera directa Representando la coordenada x del tomo de acuerdo con su
como indirecta. Es una subespecialidad cientfica, en el campo posicin a lo largo de la red:
de la fsica de la salud y la fsica mdica, la cual se enfoca en
el clculo de las dosis internas y externas de la radiacin
ionizante. Casi desde el descubrimiento de los rayos-x y la
un= A ei (kna w t ) 1

radioactividad, surgi la metrologa de la radiacin ionizante.

No poda ser de otro modo pues los estudios sobre la
naturaleza y propiedades de las radiaciones y los radionclidos un+ 2=un e2 ika
que las emiten, requieren cuantificar y medir estas propiedades
y sobre todo sus efectos. [3]
v n +1=B ei ( k (n+1 )a 2 t )
Ley de Bragg: Bragg se dio cuenta que los rayos X
dispersados por todos los puntos de la red en un plano deban v n1=v n+1 e2ika
estar en fase para que las ecuaciones de Lave se vieran En este momento no se puede saber si las frecuencias de
satisfechas y an ms, la dispersin a partir de sucesivos vibracin son iguales, aunque esto ocurre en este caso.
planos deban estar as mismo en fase. Para una diferencia de
fase igual a cero las leyes de la simple reflexin deben
mantenerse para un plano sencillo y la diferencia de camino
para reflexiones de planos sucesivos debe ser un nmero Sustituyendo La ecuacin se obtiene:
entero de longitudes de onda. [3]
Como se observa en la figura 2, un haz incidente se difracta
por dos planos sucesivos con espaciado entre planos. 2
d Un
m 2
=( A e j (k (n +1) awt )+ A e j( k (n1 )a wt )2( A e j (knawt ) ))
Bragg encontr que las trayectorias de difraccin de rayos X t
en los cristales podan explicarse como si hubieran producido 2
d Un
por reflexin de rayos-x por planos, pero slo cuando la m 2
=A[e j ( k (n+1 ) awt ) +e j ( k (n1) awt ) 2 e j (knawt )]
ecuacin se cumple. [4] t
2
d U
Un haz incidente se difracta por dos planos sucesivos h kl m 2 n =A {e jkna e jka e jwt +e jkna e jka e jwt2 ( e jka e jwt ) }
con espaciado entre planos h kl . La diferencia de camino t
recorrido por los dos haces de planos sucesivos viene dada por
la ecuacin: La solucin satisface la ecuacin de movimiento si la
frecuencia w est relacionada con la constante de
AB+CD=2d hkl ( sen ()) propagacin k por una correlacin de dispersin, w ( k ) .

Para que la difraccin sea mxima: ECUACIONES TEORICAS

n=2 dsen Masa atmica de

 3

C O3=1.661 02340.68=6.752881023
C a=1.66102460=9.961023
El valor de la masa de la red Diatmica se calcula como:
mM
= (1) Aplicando
m+ M
23 23
(6.752881 0 9.961 0 )
=
9.961023+6.752881 023

=4.0251 023
La velocidad del sonido en el respectivo cristal est dada como:
V s=
a
2
(2) despejando el coeficiente de
elasticidad

V Figura. 1 Grafica obtenida de la simulacin en Matlab para las

( s2 4 2 ) iteraciones de las bandas
(3)
a2
=
III. DESARROLLO DE LA PRCTICA

En este caso la estructura tiene un coeficiente de elasticidad Para poder hacer una descripcin detallada del
mximo y mnimo y se calcularon tomando el rango de la comportamiento de una estructura cristalina frente a la
velocidad del sonido radiacin electromagntica, es necesario tener en cuenta que
los tomos forman enlaces de diferente tipo; inico, covalente,
polar y otros. Esta y otras caractersticas hacen posible la
1200 24 2( 4.0254103 ) organizacin de los tomos en una estructura cristalina o
2
=9152.67 amorfa. Para poder determinar experimentalmente el tipo de
( 5105 ) estructura de una configuracin atmica, se utiliza un equipo
min= de rayos X, un sistema lser o un sistema de espectroscopia
atmica. En el montaje propuesto para la presente prctica
experimental, los enlaces atmicos se simulan como un
5000 24 2( 4.0254103 ) sistema masa resorte cuya frecuencia de oscilacin depende
2
=158900.63
( 5105 ) de la clase de tomos enlazados en la red. En la figura 1, se
muestra esquemticamente el montaje experimental asociado
max= al comportamiento de una estructura cristalina bajo la accin
de una fuente de radiacin electromagntica (Rayos X).
Finalmente el rango que se obtiene para el coeficiente de
elasticidad
[ 91615890 ]10
El modelo simulado para la red del cristal de la calcita es :
 4

55 80 8000
50 90 9000
45 160 16000
40 300 30000
35 400 40000
30 500 50000

Tabla 1. Relacin de grados Vs CPM de Calcita

CPM
60000

50000

40000

30000

20000

Figura 2. Equipo de rayos X 10000

0
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100

ANGULO EN GRADOS (2)

Despus de tener todo el montaje listo se procedi a tomar Figura 6. Grfico de mximos y mnimos correspondiente a la
mediciones variando el ngulo del Geiger-Mller y este arrojo tabla 1
unos datos que se observan en la siguiente tabla:
Para el clculo de la distancia de red se utiliza la ley de Bragg
que plantea que para la incidencia de un Rayo X a la
RELACION ENTRE GRADOS
estructura se cumple con la ecuacin: n=2 d sin
Y CPM
Dnde:
2 CPM CPM n es el nmero de los picos de absorcin en el diagrama de
-90 280 28000 refraccin de los rayos
-85 290 29000 es la longitud de onda del Rayo X. Dato tomado del
equipo de Rayos X.
-80 270 27000
es el ngulo de incidencia.
-75 260 26000
-70 280 28000
-65 320 32000 De esta manera obtenemos nuestros valores de d terico:
-60 400 40000
-55 500 50000 n=2 dSen
90 200 20000
85 200 20000 n
d= (4)
80 160 16000 2 sen
75 140 14000 Los resultados obtenidos se muestran la tabla de resultados
70 100 10000 que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
65 90 9000
60 80 8000

La teora nos dice que para una estructura Rombodrica sus
ndices de Miller se pueden tomar como (111). De acuerdo a
esto se hallaron los parmetros de red (a,b,c) utilizando la ley
de De Von Laue definida como:
a (CaCO3) y con aplicacin de las leyes de Bragg y
d= cos
h
b Para un red diatmica sin presencia de campo
d= cos
k elasticidad que va permitir obtener una frecuencia de
c Con ayuda de simulacin en Matlab se observa a
d= cos Los resultados obtenidos se muestran la tabla
l determinados valores de frecuencia la oscilacin de
de resultados que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
Porcentajes de error:
Los resultados obtenidos se muestran la tabla de resultados
que se encuentra en la seccin de los ANEXOS
IV. ANALISIS DE RESULTADOS
Se comprob que se puede determinar la conformacin de una
estructura atmica sobre un material cristalino a partir de la
difraccin de Rayos X y aplicaciones de la mecnica clsica
como las leyes de la elasticidad en resortes.
Con ayuda de la simulacin en Matlab fue posible observar
como oscilaban los tomos expuestos a una frecuencia; este
efecto provocado por la exposicin de rayos X, es decir, como
la red del carbono sufra una deformacin mecnica.
Se pretende determinar la propiedad de piezoelectricidad del
material analizado, mediante la vibracin de sus bandas.
V. CONCLUSIONES
El porcentaje de error ms bajo de acuerdo a los
parmetros de red tericos y prcticos que se obtuvo
5
fue del 14% , dicho error es debido a que se tom el
mismo parmetro de red terico para contrarrestar ls
mediciones experimentales, y no se tomaron los
valores reales correspondientes.
De acuerdo al comportamiento de la grfica de
difraccin de los Rayos X, a travs de la calcita
Von Laue, se determin que la estructura de la calcita
es ROMBOEDRICA.
elctrico se puede determinar el coeficiente de
oscilacin de la red
los tomos. Generando as el efecto por los rayos X,
es decir, una deformacin.
A travs de la simulacin de Matlab se puede
determinar la conductividad del material expuesto a
los r rayos X haciendo un anlisis del GAP que se
forma entre las bandas
Mediante el anlisis de la banda de conduccin y la
banda de valencia respectivas, es posible determinar
propiedades conductivas, resistivas y magnticas del
material expuesto
A travs de la simulacin de Matlab , se puede
analizar el comportamiento de vibracin de la celda
atmica cuando es expuesta a los rayos x y con ello
determinar propiedades especificas del material,
como por ejemplo su Piezoeletricidad
Se concluye que los materiales piezoelctricos
generan curvas de histresis, y dicha propiedad puede
ser usada en la implementacin de actuadores
elctricos o magnticos.
VI.REFERENCIAS
1. http://hps.org/publicinformation/ate/q4148.html
2. http://www.fcnym.unlp.edu.ar/catedras/fisica_taller/T
esisPetrucci/Tesis_Petrucci.pdf
3. https://es.wikipedia.org/wiki/Ley_de_Bragg
4. http://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/8250/4/T6ray
osX.pdf
5. http://www.geociencias.unam.mx/~bole/eboletin/Tesi
sHaydar1005.pdf
6. http://www.asturnatura.com/mineral/calcita/1256.htm
l
 6

ANEXOS

CDIGO EN MATLAB PARA EL MUESTREO GRFICO DE RED DIATMICA CALCITA

clear all;
close all;
clc;
m1=(((1.66*10^(-24))*(60))); %Masa atmia de Ca
m2=(((1.66*10^(-24))*(40.68))); %Masa atmica CO3
a=(4.99*10^(-10)); %Parmetro de red Carbonato de Calcio
k=linspace(-(1/3)*pi/a,(1/3)*pi/a,20); %Vector nmero de onda

for c=(700:1000:5000) %Iteraciones constante de elasticidad

%Soluciones a la ecuacion de dispersin para una red diatmica unidimensional

W=((sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))+(sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-(2*((c^2)/
(m1*m2))*(1-cos(k*a))))))))*100;
r=(abs(sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))-((sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-(2*((c^2)/
(m1*m2))*(1-cos(k*a)))))))))*100;
p=abs(-((sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))+(sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-(2*((c^2)/
(m1*m2))*(1-cos(k*a)))))))))*100;
y=abs(-(abs(sqrt(((2*c)/2)*((1/m1)+(1/m2))-((sqrt(((c+(c)^2)/4)*(((1/m1)+(1/m2))^2)-(2*((c^2)/
(m1*m2))*(1-cos(k*a))))))))))*100;
colormap(copper(64));
figure;
plot(k,y,'og',k,p,'xr',k,r,k,W);
title('RELACIN DE DISPERSIN RED DIATMICA 1D');ylabel('Frecuencia w');
end

Matlab donde se simula la red calculando la frecuencia de oscilacin de la red y se determina el valor de ka .

2
ka= a

ka
a=
2

ka
( )
2
sin


4
mw 2
=

REPRESENTACIN GRFICA POR ITERACIONES DE LAS BANDAS SUPERIOR E INFERIOR RED DIATOMICA
CALCITA
 7

TABLA DE DATOS TOMADOS EN EL LABORATORIO Y RESULTADOS OBTENIDOS

RELACION ENTRE GRADOS Y CPM DISTANCIA

2 CPM CPM
d (-1.073)^(10)
-90 280 28000
-85 290 29000
d (-2.988x10)^(-10)
-80 270 27000
-75 260 26000
d ( 6.052x10)^(-10)
-70 280 28000
-65 320 32000
d (4.533x10)^(-10)
-60 400 40000
-55 500 50000
d (5.106x10)^(-10)
90 200 20000
85 200 20000 PARMETROS DE RED
80 160 16000 a (-1,4x10)^(-10)
75 140 14000 b (-3,368x10)^(-10)
70 100 10000 c (6,44x10)^(-10)
65 90 9000 d (5,713x10)^(-10)
60 80 8000 e (6,925X10)^(-10)
55 80 8000 PORCENTAJE DE ERROR
50 90 9000 E 72%
45 160 16000 E 32%
40 300 30000 E 14.6%
35 400 40000 E 38.4%
30 500 50000 E 29%