MTODOS ELCTRICOS DE PROSPECCIN

CALICATAS ELCTRICAS

CALICATAS ELCTRICAS
Son mtodos que permiten investigar variaciones laterales de la resistividad. Las
mediciones se realizan mediante cualesquiera de los dispositivos electrdicos conocidos a lo
largo de perfiles marcados en el terreno, paralelos o no y hasta una profundidad ms o menos
constante. Se obtienen as una especie de mapas elctricos de la porcin superior del subsuelo,
que permiten analizar en planta la distribucin areal de alguno de los parmetros relacionados
con la resistividad.
CLASIFICACIN DE LAS CALICATAS ELCTRICAS
La clasificacin ms general es aquella que distingue entre dispositivos que analizan
un campo elctrico invariable a lo largo de las mediciones (o mtodos de campo fijo en los
que los electrodos de corriente permanecen fijos) y aquellos en los que el campo elctrico
vara de un punto a otro (o de dispositivo mvil en los que los electrodos de corriente
acompaan los desplazamientos de los electrodos de potencial)
MTODOS DE CAMPO FIJO
Mtodo de gradientes
Mtodo Racom
Calicata Schlumberger
Mtodo de bloques

MTODOS DE DISPOSITIVO MVIL

Calicatas dipolares axiles
Calicatas trielectrdicas
Calicatas de dispositivo simtrico
Calicatas de dispositivo apantallado y de cero
Calicatas circulares

MTODOS DE CAMPO FIJO

MTODO DE GRADIENTES
Se mide la resistividad aparente con un
medio Schlumberger en el que A queda
fijo, B est en infinito y M y N se desplazan
juntos y alineados con A.
La penetracin aumenta con la distancia
x= AO (fig. 124).

B
M

Fig. 124: Dispositivo de gradiente

MTODO "RACOM"
Dispositivo similar al anterior con adicin
de un electrodo P entre M y N.
Se mide VMP/ VPN, independiente de I y
por lo general directamente con un
instrumento basado
en
un
circuito
denominado Ratio compensator (RACOM).
Suele emplearse ca de baja frecuencia.

B
A

Fig. 125: Dispositivo del mtodo RACOM

11

CALICATA SCHLUMBERGER
Es una modificacin de mtodo de
gradientes trayendo B a distancia finita y
alineado con AMN
MN se desplaza sobre el tercio central de
AB donde el campo es ms uniforme
La profundidad de investigacin tampoco
es constante, siendo mxima en el centro de
AB (fig. 126)

M
x

zona a
investigar

Fig. 126: Calicata Schlumberger

MTODO DE BLOQUES
Es una calicata Schlumberger en la que se
miden perfiles paralelos al principal, tambin
denominado rectngulo de resistividad" fig.
127).
La zona investigada es un rectngulo de
AB/3*AB/2, con MN de AB/50 a AB/25 y
distancia entre perfiles de AB/8 a AB/40.
Si la zona es muy grande, puede
estudiarse con varios rectngulos sucesivos.
Es muy adecuado para investigaciones
tectnicas profundas, con AB de varios km.

M1 N1

AB/2

A
x

vista en planta

AB/3

Fig. 127: Mtodo de bloques

MTODOS DE DISPOSITIVO VARIABLE

Las separaciones interelectrdicas no varan durante la medicin, mantenindose casi
constante, para un dispositivo dado, la profundidad de investigacin.
CALICATAS
DIPOLARES
Es frecuente que se utilicen dispositivos
bilaterales, con dos dipolos de emisin (fig.
128), las dos curvas de resistividad aparente
que se obtienen se dibujan en un mismo
grfico, lo que facilita grandemente la
interpretacin.

M
na

Fig. 128: Dispositivo dipolar bilateral

CALICATAS TRIELECTRDICAS
Con un electrodo de corriente en infinito
las restantes separaciones interelectrdicas
son constantes
Es frecuente el uso de dispositivos
bilaterales (fig. 129), obteniendose dos curvas
de resistividad aparente, una con AMNC
(dispositivo directo) y otra con BMNC
(dispositivo inverso).

C
A

M
L

Fig. 129: Dispositivo trielectrdico bilateral

CALICATAS TRIELECTRDICAS COMBINADAS

Si se aaden dos electrodos ms (A y
B, fig. 130) se obtendrn dos curvas ms de
resistividad aparente con informacin de
mayor profundidad que las anteriores,
pudiendo aadirse incluso un tercer par de
electrodos de corriente, buscando mayor
penetracin
dispositivo.

costa

de

complicar

L
L

Fig. 130: Dispositivo trelectrdico bilateral

combinado

el

CALICATAS SIMTRICAS
Se usan dispositivos simtricos Wenner
o Schlumberger (fig. 131)
A

Pueden utilizarse dos o tres distancias

para lograr curvas con otras tantas
penetraciones

Tienen la ventaja, frente a las

trielectrdicas combinadas, de no tener que
instalar el electrodo de "infinito"

El dispositivo, que puede ser un semiSchlumberger, dipolar o simtrico, gira

alrededor de un punto que puede ser el
centro de MN (fig. 132) la variable en
funcin de la que se representa a es el
azimut del dispositivo.
se

Fig. 131: Dispositivo simtrico combinado

CALICATAS CIRCULARES

Los resultados
coordenadas polares

expresan

A2

M2

A1
M1

en

N1
N2

Fig. 132: Calicata circular

OTROS TIPOS DE CALICATA

Tripotencial Lineal (Dispositivo Wenner) (Carpenter y Habberjam):
En cada estacin se miden tres
valores de la resistividad aparente alterando
el carcter de emisor o receptor de los
electrodos segn el grfico de la fig. 133.

a:

a:
a:

A
x
A
x

B
x
M

B
x

Tripotencial Cuadrado (Habberjam y

A
x

A
A
B que en
Watkins):
Igual
el
x
x

anterior, en cada
estacin se miden tres valores
de la resistividad aparente alterando
el carcter de

Fig. 133: Dispositivo tripotencial lineal.

emisor o receptor de los electrodos ubicados

en los vrtices de un cuadrado (fig. 134).

x
B

N
a

N
a

x
B

N
a

Fig. 134: Dispositivo tripotencial cuadrado

NOTACIN Y NOMENCLATURA
Salvo en el mtodo Racom, las observaciones se traducen en resistividades aparentes
aplicando las frmulas del dispositivo correspondiente. Los valores obtenidos se representan
grficamente en funcin de la distancia del centro O de MN al origen del perfil.
En calicatas combinadas las distintas curvas obtenidas deben trazarse en el mismo
grfico con lneas diferentes, en color o traza (ver fig. 144, 145, 146, 147). Conviene dibujar
en la misma escala el o los dispositivos utilizados.
Si bien la escala horizontal debe ser lineal y de mdulo adecuado. La vertical
conviene sea logartmica, igual que la de los diagramas polares en las calicatas circulares. Un
mdulo muy adecuado para esta escala es el de 62,5 mm y su origen de coordenadas debe ser
menor que el valor observado ms bajo.
PUNTOS CARACTERSTICOS
En terreno homogneo la curva
de resistividades es una recta horizontal.
En terreno heterogneo el pasaje de un
electrodo sobre una heterogeneidad
produce una anomala, para cuya
identificacin conviene utilizar una
nomenclatura adecuada, como la
mostrada en la fig. 135, adaptada de la
utilizada por Blokh (Orellana, 1982)

P
I
M

Fig. 135: Nomenclatura de puntos caractersticos

En las calicatas trielectrdicas

combinadas y en las dipolares
bilaterales se suelen diferenciar cruces y
zonas de divergencia. Los cruces son
directos cuando a la izquierda del cruce
es mayor la resistividad del dispositivo
directo (fig. 136).

P: Mximo cuspidal
(punta o pico)
S: Mnimo cuspidal (sima)
M: Mximo normal
m: Mnimo normal
E: Escaln
I: Punto de inflexin

C: Cruce
C

D: Divergencia

Fig. 136: Punto de cruce y zonas de divergencia

CUANTIFICACIN DE LAS ANOMALAS

Se hace mediante el uso de ndices que comparan las resistividades mxima y mnima
observadas en una anomala, un ndice muy difundido resulta de dividir la diferencia entre las
resistividades mxima y mnima por
M
m
el valor medio de la resistividad
(166)
I1
fuera de la anomala (ec. 166)
0
Las dificultades en la determinacin de 0 indujeron a Blokh al uso de un nuevo ndice dado
por la razn entre M y m y que
M
(167)
I2
denomin "amplitud de la anomala
m
Un tercer ndice (Tarkhov) resulta de dividir la diferencia de resistividades por el
promedio de estas y dividir el resultado por 2, quedando:
M
m
(168)
I3
ndice de Tarkhov
M

que al variar entre 0 y 1 es poco expresivo, por lo que Orellana (1982) propone expresarlo en
%
m
(169)
I 4 100 * M
ndice de Orellana
M
m

ALGUNAS CONSIDERACIONES TERICAS

La variedad de los tipos de calicata hace a la variedad de sus aplicaciones. Por lo
general la interpretacin de las curvas de resistividad aparente obtenidas mediante calicatas se
hace de modo cualitativo. No obstante, hay modelos simples que conviene analizar
tericamente para que sus resultados puedan servir de referencia en la interpretacin de casos
complejos.
En este sentido se analizar el caso de un contacto vertical entre dos medios de
diferente resistividad (fig. 137) y sus resultados se extendern al caso de diques anchos y
angostos.
A

En ausencia del segundo medio, vale la

ec. 31, que aptada al caso queda:

x
1

X0

X0

UM
Fig 137: Contacto vertical

1I

2 x

(31)

El efecto del segundo medio se puede calcular por el Mtodo de las Imgenes,
considerando un electrodo ficticio A, simtrico de A respecto del contacto y de emisividad
e. El potencial en el segundo medio se obtiene dando a la emisividad un valor e, los que se
podrn calcular tomando en consideracin las condiciones de borde.
En el medio 1: (x x )
0
e
e
U1
(170)
x 2x 0 x
En el medio 2: (x

x 0)

e
x

U2

(171)

CONDICIONES DE CONTORNO Y CLCULO DE E Y E

Por continuidad del potencial, en x = xo, donde U1 = U2
e
e
e
lim
(
) xlim
x x0
x0
x 2x 0 x
x

e + e= e"

resultando que
Adems, por continuidad de J

(172)

x 0)

en(x
1 U1
x
1

1
2

U2
x

Derivando U1 y U2 para x = xo y reemplazando:

1 e
2
1 x0
2

x 20

1 e
2
2 x0

(e e )

(173)

y resolviendo el sistema de ecuaciones conformado por sta y la Ec. 172, resulta:

e

Ke

(174)

e" 2

2
2

(1 K)

(175)

donde K es el coeficiente de reflexin.

CLCULO DE U1 Y DE U2
Reemplazando estos valores en las ecuaciones 170 y 171, se tendr:
(176)

I 1 1
K

2 x 2x 0 x

U1

U
2

1 K

(177)

Si se aade un electrodo N prximo a M, y siendo:

V
MN

E
se puede calcular (Ec. 44):

(44)

E
2 x
I
2

previo clculo de los valores de E a partir de U1 y U2

E

2 x 2

I
2

E2

(2x 0

x)

(178)

1 K
2
x

(179)

Y FINALMENTE, CLCULO DE
A

En el primer medio, ser:

(1)
a

x2

1 1 K

(2x 0 x)

(180)

2 (1

(181)

mientras que en el segundo:

( 2)
a

K)

2
1

1 2
2

Expresiones mediante las cuales se obtienen las curvas sobre un contacto vertical (para
un dispositivo trielectrdico Schlumberger) en los dos casos posibles (figs. 138 y 139).
2

1 K
1

M N

1 K

M N

7
77

x
1

X0

Fig 138: Curva sobre un contacto con

1<

X0

Fig 139: Curva sobre un contacto con

1>

8
88

Igualmente, se puede deducir la expresin correspondiente a un dispositivo en el que

el electrodo de corriente A se desplaza solidario con los de potencial M y N, con slo cambiar
en las ecuaciones (180) y (181) x por L y x0 por x (fig. 140), en cuyo caso:
(1)
K
(182)
a

L2
'

mientras x > L

1 1 K
1 1 (2x
1) 2
(2x L) 2

cuando MN cruza el contacto (0<x<L)

(183)
2 1 2
2 (1 K)
(1, 2)

2
a

cuando A y MN pasan al segundo

medio, vale la Ec. 182 considerando
que K cambia de signo y L y x tienen

el dispositivo es el de calicata
trielectrdica (campo mvil)

K
(2x

'

1) 2

A
M N

signos distintos, en tal caso:

( 2)
a

(184)
L
1

Fig 140: Curva sobre un contacto con

1<

Logn (1954) obtiene los mismos resultados conseguidos por el mtodo de las
imgenes resolviendo la ecuacin de Laplace, de manera similar a cmo Stefanescu calcula el
potencial sobre un medio horizontalmente estratificado.
En base a clculos de este tipo se han confeccionado catlogos, como el de Blokh de
1962 que presenta curvas para los siguientes dispositivos:
A

dipolar axil (bilateral),

trielectrdico (combinado) y
simtrico

M N

Fig 141 Calicata trielectrdica sobre dique ancho

Para los siguientes cortes:

Contacto entre medios de distinta resistividad (figs. 137, 138, 139, 140, 142, 143)
Dique ancho (L < h < 3L) (figs. 141, 144, 145)
Dique angosto (h < L), pudiendo ser h < MN o h > MN (fig. 146).
En todos los casos las superficies entre las heterogeneidades son planas y
perpendiculares al perfil de medicin y con ngulos de 30, 60, 90, 120 y 150 respecto al
terreno. El contraste entre medios es 7 o 1/7 y presenta adems los efectos de un
recubrimiento L/5, 2L/5 y L (L es la longitud del dispositivo). Las distancias horizontales en
escala lineal y las de resistividad en escala logartmica con mdulo de 26 mm.
Una alternativa es obtener curvas patrn mediante clculo, con base en desarrollos
parecidos a los de Logn mencionados antes, con los que pueden calcularse los efectos debidos
a heterogeneidades asimilables a cilindros horizontales de longitud infinita, profundidad z0,
radio R y resistividad diferente a la del medio encajante o a esferas (ver Orellana, 1982), lo
que no es matemticamente sencillo, salvo casos muy simples. O recurrir al clculo por
mtodos de aproximacin como el de elementos finitos o de diferencias finitas. En casos de
heterogeneidades tridimensionales (prismas, cilindros, esferas, etc) pueden consultarse los
clculos con resultados conocidos de obras como la de Grant y West (1965).
Disponindose del instrumental y el software adecuados, una alternativa de reciente
desarrollo es la conocida como Tomografa Elctrica (pg. 107).

EFECTOS TOPOGRFICOS
Igual a como ocurre en el mtodo SEV, los efectos de las irregularidades topogrficas
son difciles de corregir, dado que los clculos de las anomalas topogrficas presentan las
mismas dificultades que las heterogeneidades del subsuelo, puesto que las depresiones son
asimilables a cuerpos aislantes y las elevaciones a cuerpos conductores.
PRUEBAS SOBRE MODELOS REDUCIDOS
Y cualquiera sea el caso, una muy buena alternativa es la de obtener las referencias
necesarias trabajando sobre modelos reducidos.
Los complicados clculos que requieren los estudios de las anomalas producidas por
heterogeneidades, de forma an muy simple, hace que muchas veces se prefiera realizar
pruebas auxiliares sobre modelos reducidos, ya sean estos construidos en el suelo, mediante
zanjas y cuerpos enterrados, en una cuba electroltica o sobre un tablero con papeles
conductores. Los valores medidos se llevan luego a condiciones reales por semejanza
geomtrica.
LOS DISPOSITIVOS BSICOS
Las ms fciles de medir son las calicatas de campo fijo y las ms complicadas las de
dispositivo compuesto. Respecto al dispositivo bsico a utilizar, Wenner o Schlumberger,
debe considerarse que el primero presenta anomalas ms complicadas y menos intensas que
el segundo (figs. 142 y 143) debido a la mayor separacin, en el Wenner, de los electrodos de
potencial.
Por otra parte, son tres los tipos
de calicata elctrica que deben
a
considerarse bsicos:
4
-

dipolar axil (CED) (fig. 128 y 145)

trielectrdica combinada (CETC)
(figs. 130, 144 y 146),
la simtrica (CES) (figs. 131, 142
y 143),

que son de dificultad intermedia

aunque entre ellos las ms simples son
las CES, que son a su vez las menos

3
2

M N

B
N

1
1

=4

sensibles
a
las
variaciones Fig. 142: Comparacin entre Wenner y Schlumberger
en un contacto vertical
topogrficas, pero inaptas para
detectar capas conductoras delgadas.
El dispositivo ms aconsejable, en general, es el de CETC, pese a su lnea de infinito.
Son ms manejables que las CED con las que proporcionan anomalas de amplitud
equivalente y de mejor separacin, y siempre superiores a las de las CES
PROGRAMACIN DEL TRABAJO DE CAMPO
Planteado un objetivo, se comienza por elegir el dispositivo a utilizar y su tamao, es
decir, la separacin entre electrodos. Ello implica definir AB en las CES, AO=OB en las
CETC y OQ en las CED, que deben ser tales que las resistividades obtenidas estn poco
influenciadas por el recubrimiento. En tal caso el tamao del dispositivo debe ser mayor
cuando el recubrimiento es ms conductor respecto a la roca de caja en la que estn ubicadas
las heterogeneidades de inters que cuando el recubrimiento es ms resistivo.

Conocidas estas relaciones de

resistividad y los rangos de variacin
de espesor del recubrimiento puede
calcularse
el
tamao
ms
conveniente del dispositivo. Cuando
no es as tendrn que medirse
algunos SEV esparcidos en la zona
de trabajo y decidir con base en ellos.
En este caso puede ser conveniente
medir por lo menos un SEV en cada
uno de los perfiles programados, lo
que
ayudar
mucho
en
la
interpretacin de los resultados.

7
6

PM

E3

5
4

mA
E2

3
2

MB
E1

-2

-1

S
N

D/l

2
A

=7

M N
1

B
D

Fig. 143: CES en un contacto vertical

Entre los mtodos de campo constante, Calicata Schlumberger (fig. 126) o Mtodo de
Bloques (fig. 127), los dispositivos no deben ser menores a los que permitirn obtener las
resistividades requeridas en el tercio central. En el dispositivo de gradiente (fig. 124) la
penetracin prctica crece con el alejamiento de MN del electrodo de energizacin.
En las CED, en principio, debera ser AB=MN, salvo que las lecturas de V sean muy
pequeas, en cuyo caso hay que agrandar AB.
Definido el dispositivo, sobre un mapa de la zona de trabajo se ubica la posicin y
longitud de los perfiles y, de acuerdo a la distancia entre mediciones adoptada, la ubicacin
aproximada de aquellos. Para ello debe cuidarse que la orientacin de los perfiles sea
compatible entre la necesidad de su perpendicularidad con el rumbo de las formaciones o
cuerpos de inters y que los desniveles sean mnimos, siguiendo en lo posible curvas de nivel.
Respecto a la separacin entre perfiles, debe considerarse el concepto de escala y tener
presente el consejo de Orellana (1982) de establecer la distancia mxima entre perfiles (en
metros) dividiendo por 20 el nmero del denominador del cociente que expresa la escala. Lo
que implica una distancia de representacin en el mapa de 5 cm (cualquiera sea la escala).
El paso (la distancia entre dos mediciones consecutivas) depende del ancho de las
anomalas previstas, en principio puede tomarse un tercio de esta anchura, pero es muy til
adems que sea compatible con los valores de AB y MN, siendo conveniente que sea sub
mltiplo de AB y a su vez, mltiplo o a lo sumo igual que MN. Salvo cuando se trata de capas
muy delgadas y prximas entre s, en los que se puede medir con un paso mitad de MN.
EL TRABAJO DE CAMPO
Vale prcticamente todo lo asentado al tratar el mtodo SEV (pg. 73). Cuando MN es
pequeo pueden emplearse electrodos de potencial metlicos, y si la profundidad es reducida
y el recubrimiento no es muy conductivo, puede emplearse corriente alterna de baja
frecuencia (no ms de 20 Hz), en cuyo caso no se requieren electrodos impolarizables ni
operaciones de compensacin, lo que simplifica las mediciones. En este caso es conveniente
que el milivoltmetro est sintonizado a la frecuencia del generador (de no ms de 50 vatios) y
evitarse en las mediciones los acoples inductivos entre circuitos.
En las calicatas de campo fijo y en las CETC (con electrodo en infinito) no es
necesario mover el generador desplazndose solo el milivoltmetro.
Para la correcta ubicacin de las estaciones, lo mejor es el estacado previo de los
puntos correspondientes al centro del dispositivo, midiendo las distancias entre electrodos con
cuerdas o los mismos cables.

Es importante anotar en la planilla de campo el dispositivo empleado con sus

dimensiones, el paso y si el dispositivo es bilateral, la orientacin del dispositivo para cada
medicin.
ANOMALAS TPICAS
La fig. 143 muestra la curva que se obtendra con un dispositivo simtrico de
Schlumberger sobre un contacto vertical entre dos medios ( 2 = 7 1). Tiene tres escalones,
el mayor de ellos (E2) corresponde al paso del dipolo MN sobre el contacto. En la figura 142,
se ve que si se aumenta la longitud de MN (dispositivo de Wenner) las anomalas son menos
marcadas.
Cuando la distancia entre dos
contrastes subverticales sucesivos est
entre el doble y el triple de la longitud
del dispositivo, se la considera como
una sola heterogeneidad denominada
capa ancha. En tal caso las anomalas
obtenidas con CETC (fig. 144) son
ms anchas que el dispositivo y
pueden tener hasta 6 puntos
caractersticos. Las curvas para los
dispositivos directo e inverso son
asimtricas.
Algo parecido ocurre en las
CED que pueden tener hasta 8 puntos
caractersticos (fig. 145), las curvas
obtenidas con los dispositivos directo
e inverso son tambin asimtricas.

PNi

1
-1

1
0,9

PMd

0,7

IMi

D/l

IBi

0,5

INd

IAd

0,3

SMi

SNd
l

0,1
2

<

MN

A
1

CATLOGO DE BLOKH

Fig. 144: CETC sobre un dique conductor ancho

a

PMi

PBd PAi

PNd

7
5
3
2

IBi

-1

IMi
0

IAi IBd

INd

IAd

No
obstante,
en
ambos
casos

1
2
3

D/l

cuando los contactos son verticales, el

conjunto de ambas curvas es
simtrico, con un cruce directo para
capa conductora (fig. 144) e inverso si
es resistiva (fig. 145).

SBi

SNi

SMd

SAd
l

>

A A

MN

MN
1

B B
D

CATLOGO DE BLOKH

Fig. 145: CED sobre un dique resistivo ancho

La presencia de recubrimiento suaviza las curvas y los puntos caractersticos se hacen

menos evidentes, tanto ms cuanto ms grueso y conductor sea aquel. Cuando el
recubrimiento es del orden de la longitud del dispositivo, la anomala se reduce a una zona de
divergencia muy extendida que dificulta la localizacin del contacto.
Los puntos que mejor se conservan son los que corresponden a los electrodos de
potencial y los cruces, por lo que en las CES, que constan siempre de una sola curva, la
presencia del contacto puede resultar prcticamente inobservable.
Cuando la separacin entre los contrastes subverticales es inferior a la longitud del
dispositivo se trata como capa delgada.

En tal caso, si la capa delgada

es conductora, en las CETC las zonas
destacadas son de baja resistividad y
cruce directo sobre el centro de la
capa, ms dos mnimos laterales.
En cambio, si la capa es

PNd

PMi

PBi

2
1

-2

PAd

-1

D/l

I
S
S
2
resistiva (fig. 146) se observan dos
1
1
I
zonas
de
resistividad
alta,
l
prcticamente superpuestas y con
MN
B
>
cruce inverso ms dos mximos
2
1
A
laterales.
1
2
D
Si la capa delgada es vertical CATLOGO DE BLOKH
las anomalas son simtricas, y
Fig. 146: CETC sobre un dique resistivo delgado
asimtricas si la capa est inclinada.
El recubrimiento atena las anomalas y el ltimo rasgo en desaparecer es el cruce,
directo si la capa es conductora e inverso si es resistiva.
Las anomalas de CES sobre capas delgadas de ancho mayor que MN tienen tres
partes separadas con la central de resisividad alta si la capa es resistiva y baja si es
conductiva, pero, cuando el espesor de la capa es menor que MN, dan anomala muy dbiles,
que en caso de recubrimiento an delgado, pueden invertir las anomalas.
Bd

Ni

Md

Ai

HETEROGENEIDADES DE TAMAO FINITO

Los perfiles que pasan sobre heterogeneidades de tamao finito presentan la misma
forma, nmero y distribucin de puntos caractersticos que las heterogeneidades sub verticales
de extensin lateral indefinida (punto anterior) aunque con amplitudes menores y atenuacin
ms acentuada por recubrimiento. Con la diferencia de que los cruces son al revs: inversos
para cuerpos conductores y directos para cuerpos resistivos. Adems los perfiles deben pasar
sobre los cuerpos heterogneos, puesto que a distancias de la heterogeneidad superiores a la
longitud del dispositivo, las anomalas son imperceptibles
ANOMALAS EN LOS DISPOSITIVOS DE GRADIENTE
Son esencialmente iguales a las de los dispositivos de campo variable, pero ms
sencillas por la ausencia de los puntos caractersticos debidos a los electrodos de corriente.
Adems, la penetracin aumenta conforme aumenta la separacin entre los electrodos de
potencial respecto de los de energizacin, y a lo largo del perfil pueden reflejar las variaciones
de la resistividad con la profundidad.
ANOMALAS POR VARIACIONES DEL RELIEVE
En general, valles y depresiones producen anomalas positivas, pero con cruce directo
y en lomadas y elevaciones las anomalas son negativas con cruce inverso. Blokh considera
distintas posibilidades segn la relacin del tamao del dispositivo y las dimensiones de las
anomalas (ancho de cresta o vaguada, longitud de taludes, etc). Las perturbaciones ms
significativas ocurren cuando el cuerpo buscado se encuentra precisamente en una cresta o
una lomada, aminorando su intensidad o reforzndola, pero siempre con el riesgo de que se la
atribuya exclusivamente al accidente topogrfico.
INTERPRETACIN
La interpretacin se comienza efectuando una anlisis cualitativo de las curvas o
perfiles levantados y dibujados en escala semilogartmica, separando anomalas de origen

geolgico y dejando de lado las que pueden atribuirse a accidentes del terreno, a las que las
calicatas son sensibles. Las anomalas resaltadas se contrastan con la informacin geolgica
de la zona (mapa geolgico, perforaciones y trabajos mineros) y se trata de identificar sus
causas. Se correlacionan las anomalas de los diferentes perfiles, siguiendo la marcha de
aquellas indudablemente relacionadas con algn accidente geolgico. Cuando se observa un
atenuamiento gradual de las anomalas de un perfil a otro, debe suponerse un aumento del
espesor del recubrimiento y si desaparecen bruscamente, un acuamiento o hundimiento en
bloque.
M N
B
A
Una alternativa muy til 1000a
P
puede ser el trazado de mapas de
700
resistividad aparente, para el que se
500
prestan
especialmente
los
I
400
P
dispositivos simtricos y que adems
D
D
es la mejor manera de interpretar los
300
I
C
datos en el mtodo de bloques.
Md

Ad

Ni

Bi

Una vez completada la

interpretacin
cualitativa
puede
pasarse a la cuantitativa, cuya
finalidad es determinar la posicin
exacta,
ancho
y
buzamiento
aproximado de las heterogeneidades.

200

SMi

100 20

30

SNd

40

TECNHYDROS

Fig. 147: Ejemplo de interpretacin cuantitativa

(Orellana, 1982)

Cuando es posible, se comparan, con curvas calculadas en funcin de un modelo afn

con el esperado, identificando puntos caractersticos y asignndoles electrodo y rasgo de la
anomala atribuida.
Los casos ms sencillos son los de un solo contacto vertical entre dos medios, en caso
de capa ancha se observarn dos contactos y cuando la anomala es de capa delgada slo
puede determinarse la posicin de ambos contactos cuando el ancho de la capa es mayor que
MN.
Un ejemplo de interpretacin cuantitativa es dado por Orellana (fig. 147), tomado de
una investigacin para localizar zonas de rotura en una formacin grantica.
CALICATAS CIRCULARES
En las CEC (fig. 132) la resistividad se mide
en funcin del azimut del dispositivo y los valores
obtenidos se grafican en diagramas polares, con la
resistividad preferentemente en escala logartmica y
con origen en una resistividad menor a la mnima
B
representable.
Una calicata circular (obtenida con cualquier
dispositivo) sobre un contraste subvertical, dar una
anomala cuya amplitud depende del ngulo que
forma con el perfil, el diagrama polar tendr
R
resistividad mxima o mnima en la direccin de la
capa, por lo que puede utilizarse para determinar su
R: rumbo; B: buzamiento
rumbo y atendiendo a la asimetra de la anomala, su Fig. 148: CEC (disp. asimtrico) sobre
buzamiento (fig. 148). Cuando el contraste es
una capa inclinada.
vertical, el diagrama ser simtrico.

Puede utilizarse un dispositivo trielectrdico o un tetraelectrdico asimtrico. La

longitud del dispositivo debe ser lo suficientemente grande como para superar el efecto del
recubrimiento.
Tambin son tiles para evaluar la
esquistosidad o
fisuracin en
formaciones
recubiertas, para lo que se utilizan dispositivos
simtricos (fig. 149), como a sentidos opuestos de
una direccin les corresponde el mismo valor, el
diagrama tendr forma aproximadamente elptica y el
eje mayor indicar la direccin de mayor
conductividad (paradoja de la anisotropa), que es la
de diaclasado o fisuracin predominante.

Fig. 149: CEC con dispositivo

simtrico.

TOMOGRAFA O IMAGEN
ELCTRICA
En los ltimos aos se han desarrollado tcnicas de medicin utilizando un gran
nmero de electrodos (25 o ms, conectados a un cable multincleo) los que conectados a una
unidad electrnica de conmutacin manejada mediante una computadora porttil (laptop)
permiten efectuar mediciones con cualquiera de los dispositivos de campo mvil
seleccionando en forma automtica, de los muchos electrodos ubicados previamente en el
terreno, aquellos que estn activos para cada medicin. Actualmente, estn muy desarrollados
tanto el equipamiento como las tcnicas de campo para realizar mediciones de resistividad
tanto en dos como en tres dimensiones. El instrumental necesario es provisto por varias
compaas internacionales con un costo de 15.000 dlares para arriba, aunque muchas
instituciones han adaptado sus antiguos equipos construyendo conmutadores manuales a bajo
costo y utilizando cable ssmico como cable multincleo.
La fig. 150 muestra una tpica disposicin de los numerosos electrodos (20 en este
caso) a lo largo de una lnea recta para obtener una seccin de resistividad en un estudio en
dos dimensiones. Normalmente los electrodos se colocan separados entre s por un espaciado
constante. La secuencia de las mediciones a realizar, el tipo de dispositivo a utilizar y otros
parmetros (como la corriente a emplear) son normalmente introducidos en un archivo de
texto que puede ser ledo en un programa de la computadora de campo. Despus de leer el
archivo de control, el programa de la computadora selecciona automticamente los electrodos
apropiados para cada medicin. En un estudio tpico, el mayor trabajo de campo es el de
extender el cable y colocar los electrodos. Despus de ello, las mediciones son realizadas
automticamente y guardadas en la computadora. El mayor tiempo de medicin se gasta
esperando que se completen las mediciones de resistividad programadas.
Para dispositivos dipolares, trielectrdicos y simtricos (Wenner y Schlumberger), el
procedimiento es apenas diferente. Como ejemplo, para el dispositivo Wenner (fig. 150), la
serie de mediciones se hace para distintos espaciamientos na, comenzando usualmente con
un espaciamiento 1a entre A-M-N-B, siguiendo con 2a y as sucesivamente hasta
completar las mediciones con un espaciamiento 6a
Mtodo de la pseudoseccin
El procedimiento habitual contina con la asignacin de los valores de resistividad
aparente obtenidos a los puntos de una grilla vertical construida debajo de la representacin
de los puntos de medicin (que en el ejemplo propuesto van de 1 a 20). La ubicacin
horizontal de cada uno de los puntos de la grilla se hace bajo el punto medio del arreglo
electrdico utilizado. La ubicacin vertical de los puntos se hace proporcional a la separacin
interelectrdica. En mediciones de Polarizacin Inducida, y utilizando el dispositivo dipolar,

es habitual ubicar el punto en la interseccin de dos lneas que parten de los puntos medios de
o
los dipolos A-B y M-N con un ngulo de 45 respecto de la horizontal. Aunque lo habitual es
ubicar la posicin vertical del punto en el grfico segn la profundidad media de
investigacin (o pseudoprofundidad) del dispositivo utilizado, obtenindose entonces una
distribucin de valores de la resistividad aparente debajo de la lnea de medicin que se
conoce como pseudoseccin y en la que a continuacin se trazan isolneas de la resistividad
aparente.

Estacin 32
A

3a

Computadora
(Laptop)

3a

3a

Resistivmetro

Estacin 18
A

2a

2a

2a

Estacin 1
A

Nivel
n=
n=
n=
n=
n=
n=

1
2
3
4
5
6

M
a

N
2

Nmero de electrodo

B
3

a4

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

1
18
32
43
51
56

Secuencia de mediciones para obtener una pseudoseccin

Fig 150: Arreglo de electrodos para un estudio elctrico 2-D y secuencia de las mediciones
para obtener una pseudoseccin utilizando el dispositivo Wenner (adaptado de M.H.Loke,
2000)

Tales pseudosecciones constituyen una forma muy conveniente de presentar

grficamente los valores obtenidos de la resistividad aparente y aunque proporcionan un
cuadro aproximado de la distribucin de la resistividad del subsuelo, es un cuadro
distorsionado debido a que las formas de las isolneas dependen del tipo de arreglo utilizado
tanto como de la resistividad verdadera del subsuelo, aunque es un error no infrecuente el de
intentar utilizar la pseudoseccin como el cuadro final de la verdadera resistividad del
subsuelo.
Una aplicacin prctica de las pseudosecciones es la de permitir advertir valores
defectuosos, los que habitualmente resaltan como puntos con valores inusualmente altos o
bajos de la resistividad aparente. Por otra parte, constituyen una referencia para una posterior
interpretacin cuantitativa la que es realizada mediante programas computarizados que, a
partir de un modelo inicial del subsuelo dividido en un gran nmero de pequeas celdas,
calculan los valores de la resistividad aparente (por diferencias finitas o por elementos finitos)
que se comparan con los datos de campo. Por las discrepancias entre ambos se van haciendo
ajustes en el modelo inicial hasta encontrar aquel cuyos valores de resistividad aparente
calculados se ajusten satisfactoriamente con los datos de campo, con lo que se habr
encontrado una seccin de resistividades verdaderas que resuelve el problema.
Los dispositivos habitualmente utilizados en este tipo de estudios son: a) Wenner, b)
Wenner-Schlumberger, c) dipolar, d) bipolar y e) trielectrdico. La eleccin del ms

conveniente para un determinado estudio depende del tipo de estructura a estudiar, del nivel
de ruido y de las caractersticas del dispositivo, entre las que deben considerarse: i) la
sensibilidad del dispositivo ante cambios verticales y horizontales de la resistividad del
subsuelo, ii) la profundidad de investigacin, iii) la cobertura horizontal y iv) la potencia de la
seal.
EJEMPLOS
DE
TRADICIONALES

ESTUDIOS

En el Angosto de Andaluca.-La fig. 151 muestra un ejemplo de calicata simtrica combinada

(fig. 131), realizada como parte de las mediciones geoelctricas en el Angosto de Andaluca
(CALVETTY AMBONI, 1984) con la finalidad de evaluar la profundidad del basamento
cristalino (sustrato resistivo). Tales mediciones fueron parte del estudio de prefactibilidad
para la construccin de un dique que embalse las aguas del ro Abaucn - Colorado, a poco
ms de 30 km de Tinogasta, Prov. de Catamarca.

PE

1000

.
m)100
a(

AB/2
AB/2
AB/2
AB/2

= 16m
= 25m
= 40m
= 50m

10
0

10

15

20

25

30

35

40

45

50

55

60

65

70

75

80

N de estacin (el paso es de 10

m)
A A

MN

dispositivo empleado

20 m

Fig. 151: Seccin geoelctrica y CES combinada en el Angosto de Andaluca

El estudio geoelctrico incluy la medicin de 9 SEV Schlumberger de entre 160 y

800 m en base a cuya interpretacin, efectuada mediante el programa de Zohdy de 1973, se
obtuvo una seccin aproximadamente transversal al angosto (parte superior de fig. 151),
segn ella los mayores espesores sedimentarios se dan hacia las laderas, tal como se deduce
tambin de las calicatas. En las que adems se observa un aumento de la resistividad aparente
con el agrandamiento del dispositivo, es decir con el aumento de penetracin y por tanto,
mayor influencia del basamento resistivo.

Realizado el estudio geoelctrico, se efectu una perforacin de exploracin en el

punto de mayor profundidad de basamento calculado (65 m) la que se termin a los 72 m de
profundidad, sin tocar basamento. Con base en estos resultados y a los de transporte de
sedimentos por el ro (tambin desfavorables), el proyecto fue desestimado, archivado.
En Santa Sylvina.- En la Regin Chaquea, el escaso relieve y el material sedimentario de
origen principalmente elico, preponderantemente peltico, no favorece la formacin de
reservorios de agua dulce en el subsuelo. Una alternativa para el almacenamiento de agua de
lluvia es la construccin de represas, ubicadas habitualmente en bajos relativos que actan
como colectores temporarios, lo que suele adems favorecer la recarga de la fretica, de muy
baja permeabilidad, disminuyendo su salinidad, la que va en aumento con la profundidad.
Generalmente en la construccin de las represas se realiza una excavacin somera que
aumenta la capacidad de almacenamiento del bajo natural, excavacin que no debe afectar
sectores salinizados de la fretica, lo que podra ser causa de contaminacin y salinizacin del
embalse, inutilizndolo como reservorio de agua potable.
250 1.7

1,6

1,4

1,7 1,8 2,0 1,8 1,8

2,1 1,9 1,9

2,0 1,9

1,9

1,9 1,8

1,3

1,5

1,8 1,4

1,4

1,4 1,5

1,6 1,8

1,6

1,6

MAPA DE RESISTIVIDAD
Dispositivo trielectrdico
AB/2=20m; MN=1m;
p=10m
200 2,3 2,6 2 ,5 2,5 1.7 1,5 4,7 1,6 2,1 2,4 2,7 2,1 3,4 3,3 3,4 3,6 4,0 2,6 2,5 2,5 2,0 1,8 1,8 1,8 1,9 1,5 1,5 1,4 2,0 1,8 1,6

150 2,3 2,5 2 ,3 2,6 1.7 2,7 2,1 2,6 2,8 3,7 3,3 3,6 2,8 3,5 5,3 5,9 4,4 5,1 6,8 5,0 3,7 2,2 2,6 2,4 2,8 2,4 2,0 2,1 2,4 1,5 1,6
Pr
o
gr
es
iv
a
S2,6 3,1 2,5 2,5 3,3 3,0 4,2 3,8 4,7 4,5 5,1 5,4 4,1 4,1 3,5 2,9 2,7 2,2 1,8 2,1 2,4 2,0 1,4 1,8 1,6 1,7
N 100 2,2 2,3 2 ,2 2,4
(

>5 m
5 m> >4 m
50

1,9 1,6 1,7 1,2 1,8 2,4 2,2 1,5 2,2 2,3 2,5 3,1 2,8 2,1 2,9 2,0 3,8
2,4 1,0 1,0

0,9 1,0 2,0 1,6 2,1

1,7 1,0 0,94 1,1m>

1,0

>3 m

3 m> >2 m
A
0

<2 m

MN

1,5 1,8 1,9 1,8 2,2 2,0 2,1 1,7 1,9 2,1 2,0 2,3 1,8 2,0 1,9 2,1 0,6 0,7 1,7 1,9 1,9 1,8 2,0 1,8 1,8 1,9 1,9 1,6 1,8 2,0 1,8
0

50

100

150
Progre s iva O-E (m
)

200

250

300

Fig. 152: Mapa de resistividad obtenido mediante una calicata trielectrdica en Santa Sylvina

Tanto la delimitacin del sector a excavar como su ms conveniente profundidad,

puede hacerse midiendo la resistividad del suelo mediante calicatas elctricas y sondeos
elctricos cortos, tal como se hizo en Santa Sylvina (Prov. del Chaco), a donde pertenece el
mapa de resistividad de la fig. 152 que permiti delimitar el sector superficial de mayor
permeabilidad, en cuyo caso la excavacin efectuada se limit al sector con resistividad
mayor que 4 .m.

19
191