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Resumo
Atravs do emprego de diferentes equipamentos e aliado a modernas tcnicas, pode-se
analisar pequenas e microscpicas estruturas.
O aprimoramento das tcnicas de caracterizao microestrutural necessrio, pois o
desenvolvimento de bons produtos requer, cada vez mais, o real domnio das relaes
entre os parmetros dos seus processos de obteno e suas caractersticas
microestruturais.
A metalografia quantitativa vem sendo beneficiada pelas tcnicas de processamento
digital de imagens, no que se refere a medies como, tamanho de gro, frao
volumtrica de fases e microdureza, devido a um considervel aumento na confiabilidade
estatstica dos resultados e na velocidade de anlise.
Introduo
O conhecimento da composio microestrutural de um material de fundamental
importncia nas suas propriedades mecnicas. A quantificao dessas microestruturas
permite um melhor controle de qualidade do material.
Atualmente com a possibilidade da utilizao de uma placa de digitalizao targa
adaptada a um microcomputador e com o programa exclusivo do analizador de imagem
que se processa em ambiente Windows, obtm-se as quantificaes das microestruturas
com preciso e rapidez.
Uma imagem torna visvel para o olho humano tal como uma srie contnua de
brilho e cor. Basicamente, o procedimento para a anlise de imagens realiza
transformaes sobre trs tipos de imagem : a) imagem de vdeo, que um conjunto de
sinais eletrnicos; b) imagem digitalizada, que uma traduo padronizada e congelada da
imagem de vdeo ou analgica; c) imagem binria, a partir da qual a informao desejada
poder ser extrada.
Quando uma imagem digitalizada esta convertida em valores numricos, isto ,
transformada em um padro de elemento de imagem, ou pixel. Cada pixel tem um valor
numrico correspondente a sua posio, brilho e/ou cor. Usando esses valores, a imagem
pode ser medida e analisada matematicamente, modificada e armazenada como um arquivo
de imagem. O processo baseado em modificaes da localizao do pixel e brilho.
A passagem da imagem digitalizada para imagem binria se faz atravs de uma
discriminao : os valores dos pixels, que podem variar de 0 a 255, so reduzidos para dois
nicos valores : ( 0 e 1 ou preto e branco ). Esta resduo feita atravs de algortimos de
segmentao. Geralmente, as regies brancas correspondem aos objetos e as regies pretas
ao fundo, podendo ser tambm o inverso.
Metalografia Quantitativa
A metalografia quantitativa uma ferramenta extremamente til no estudo de
fenmenos metalrgicos, gerando informaes que eventualmente podem embasar o
correto dimensionamento de processos industriais. A seguir, alguns exemplos da aplicao
desta tcnica no estudo de fenmenos metalrgicos.
L 3 = d = VV / NL (cm)
onde L 3 se caracteriza como o tamanho mdio dos gros ou partculas da fase a qual se
deseja estudar, em centmetros, que tambm corresponde ao dimetro mdio destes, d ,
obtidos a partir da frao volumtrica da fase em questo sobre o nmero de configuraes
por unidade de comprimento da linha de ensaio. Para materiais monofsicos, em que VV
assume o valor de 1, a equao se resume a :
L 3 = d = 1 / NL (cm)
O valor de d, pode tambm ser obtido por :
d = LT / P . M (cm)
onde LT o comprimento total da linha teste, P o nmero de intersees com contornos e
M o aumento.
Tamanho de Gro A implementao do tamanho mdio de gro tambm se realiza de
forma anloga metalografia quantitativa, seguindo a norma ASTM E 112 . Utiliza-se a
anlise do nmero de configuraes, com a sobreposio imagem de certa quantidade de
linhas. Sendo assim, efetuada uma verificao ao longo da linha a qual a reta ocupa para
determinar-se as transies entre branco e preto e vice-versa, ou seja, as intersees da reta
de medida com os aspectos a serem quantificados. Desta forma, obtm-se NL e a partir da
Este tipo de medida envolve uma calibrao que permita relacionar um certo
nmero de pixels com uma distncia real (1m = 1,06667 pixels para distncias na
horizontal e aumento de 50x, para um aumento de 20x, a relao pixel/m ser de 0,4228
pixel/m). Para isso utiliza-se uma micro-rgua de 1mm dividido em 100 partes cuja
imagem digitalizada em diversos aumentos. Em seguida, utiliza-se um recurso do
programa denominado corte em linha, que permite medir o nmero de pixels entre dois
pontos horizontais ou verticais quaisquer da imagem. Estas medidas fornecem os seguintes
padres : 100 m = 24 pixels na horizontal (100x) , 100 m = 30 pixels na vertical (100x)
e proporcionalmente para outros aumentos. Estes valores esto de acordo com a razo de
aspecto esperada entre distncias horizontais e verticais (0,8 0,9). Isto indica que as
distores geradas pelo sistema no so substnciais.
Frao em rea O levantamento dos parmetros para frao volumtrica realizado de
forma anloga a da metodologia utilizada em metalografia quantitativa para obteno de PP
por rede de pontos, seguindo a norma ASTM E 562 .
P / V x 100
P = mdia das fases contadas, V = nmero de ns da grade de medio
Uma grade quadrada de medida superposta imagem e as intersees entre os ns
da grade e a fase de interesse so contabilizadas. Esta rede de pontos gerada por
algortimos de imagens pode conter at 52900 pontos (230 X 230). O nmero total de
pontos da imagem (244 x 256 = 62464) no utilizado para evitar problemas adivindos de
defeitos das bordas da imagem. Esta rede colocada de forma a conhecer-se as
coordenadas dos pontos de interseo (ou ns) das retas horizontais e verticais da rede.
Com isto, realiza-se uma verificao sobre estes ns, checando-se a intensidade deste
ponto, ou seja, se este ponto possui o tom = 63 (branco), tom = 0 (preto) ou tom
intermedirio (cinza). A frao pontual ento calculada pela razo entre a quantidade de
pontos pretos, brancos ou cinza, sobre a quantidade total de pontos da rede. Como PP = VV,
obtem-se facilmente as fraes volumtricas das fases presentes. A capacidade do sistema
produzir resultados satisfatrios dentro de um intervalo de confiana, est associado ao
nvel de contraste entre as fases que se deseja medir. Aps a imagem ser digitalizada e
filtrada as fases em destaque so separadas, remapeando-se as intensidades de pixel e
ajustando-se o histograma da imagem rescalonando seus nveis de cinza, de tal forma que a
imagem fique exclusivamente em preto e branco.
b) Microdureza ASTM E 384 A microdureza a medida da dureza de formaes
microscpicas ou cristais de metais e sees extremamente delgadas. O processo consiste
em trazer a superfcie do material altamente polida e/ou atacada para baixo de uma ponta
de diamante, lapidada com preciso, em trs factas, formando entre si um ngulo slido,
reto, sendo o ponto de interseo a ponta de trabalho, sob a presso determinada de 3
gramas, para os casos comuns, e 9 gramas para materiais duros, durante um tempo de 15
segundos.
Para se obter o resultado, mede-se com preciso a largura da impresso, pelo uso de
um microscpio ptico perfeitamente calibrado. Assim se verifica que a dureza
inversamente proporcional ao quadrado da largura do corte. Matematicamente, isto
expresso pela frmula :
K = -2 . 104
na qual K representa a microdureza e a medida da largura da impresso, em microns.
A frmula multiplicada por 10 elevado quarta potncia para evitar decimais longas.
O ensaio de dureza um controle indispensvel no exame e seleo de materiais. O
mtodo de microdureza Vickers o mais usado para o estudo das fases de uma estrutura,
geralmente trabalhando com cargas que oscilam entre 0,005 a 0,2 Kg. Este mtodo est
baseado na resistncia que um material oferece penetrao de uma pirmide de diamante
de base quadrada e ngulo entre faces de 136, sob uma determinada carga. O valor da
dureza Vickers (HV) o quociente da carga aplicada F pela rea de impresso S :
HV = F / S
Para a medio da microdureza a amostra preparada colocada na platina do
microscpio, a carga de ensaio selecionada e ento aplicada sobre a rea de medio por
cerca de 10 a 30 segundos. O penetrador retirado, fazendo-se ento a medio das
diagonais da penetrao. O resultado obtido desta medio plotado na frmula seguinte
ou lido diretamente em tabelas.
HP =
2 P . sen Q
2
2 Kg / mm 2
1854 x P
kg/mm 2
d2
onde :
P carga aplicada em Kg
d mdia do comprimento da diagonal em mm
Considerando o aspecto matemtico deve-se tambm computar o valor de Z , que
definido como uma diminuta aresta no maior que 1 micron localizada no vrtice da
pirmide de diamante. Quando este valor considerado, o resultado da medio da
microdureza obtida difere ligeiramente da expresso simplificada. A frmula incluindo o
valor de Z dada como :
HV =
1854 x P
Kg/mm 2
( d2 - Z2 )
Concluso
A metalografia quantitativa automtica uma ferramenta simples e rpida que vem
se firmando cada vez mais como uma tcnica experimental de grande utilidade tanto no
estudo de fenmenos metalrgicos como na caracterizao das microestruturas e sua
correlao com as propriedades mecnicas.
Bibliografia
[1] CHERMANT, J.L. Les memoires el etudes scientifiques de la revue de metallurgie,
Janvier 1986, 15 34.
[2] EXNER, H.E. Acta stereologica, 1987, 6/III, 1023 1028.