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CURITIBA-PR
04 2014
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CURITIBA-PR
04 2014
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AGRADECIMENTOS
Primeiramente agradeo a Deus pelo dom da vida e a minha famlia pelo incentivo, amizade e
pelo amor incondicional.
Ao Professor Dr. Paulo Csar Borges no somente pela orientao, mas pela confiana,
pacincia, ajuda e principalmente pela oportunidade de realizar este trabalho e por todo o
crescimento e aprendizado que obtive no decorrer desta pesquisa.
Aos professores da UTFPR, Eduardo Nascimento, Carlos Cruz, Carlos Henrique da Silva,
Giuseppe Pintaude, Ossimar Maranho, e novamente aos Professores Paulo Borges e Mrcio
Mafra pelos grandes ensinamentos durante as disciplinas realizadas e ao extenso aprendizado
que me proporcionaram nestes dois anos no curso de Engenharia Mecnica e de Materiais.
Ao colega e amigo Carlos Eduardo Farias por todos os momentos de estudo e discusso, mas
principalmente pela amizade, apoio e pelos excelentes momentos de convivncia neste
perodo.
A Julia Barbieri e ao Felipe Possoli pela amizade e pelas horas de dedicao e auxlio nas
discusses e desenvolvimento da pesquisa.
Ao Professor Dr. Jlio Cesar Klein das Neves e ao Alexandre pelo auxlio na realizao dos
ensaios de Microscopia Eletrnica de Varredura e Microscopia de Difrao de raios-X.
Aos colegas de trabalho Roberto Assumpo e Fernando Bee pelas dvidas esclarecidas no
decorrer da pesquisa.
As grandes amigas, irms e companheiras Ana Heloisa dos Reis, Naiane Naidek, Patrcia de
Andrade e Vanessa de Andrade por todas as horas de descontrao, incentivo, apoio e por
estarem presente em todos os momentos de minha vida. Atravs de vocs eu descobri a
amizade verdadeira.
Meus sinceros agradecimentos a todos aqueles que colaboraram direta ou indiretamente para a
realizao desta pesquisa.
vi
RESUMO
Devido alta resistncia a corroso, os aos inoxidveis possuem uma larga aplicabilidade em
diversos setores industriais, seja indstria qumica, petroqumica ou alimentcia. Buscando
atender solicitaes ainda mais severas, mtodos que melhorem a relao resistncia
corroso e propriedades mecnicas destes aos tem sido objeto de estudo de diversos
pesquisadores. Com o objetivo de aumentar a resistncia mecnica, dureza superficial e
resistncia corroso dos aos inoxidveis props-se a introduo de nitrognio em soluo
slida pelo processo de SHTPN (Solution Heat Treatment after Plasma Nitriding), em
desenvolvimento no GrMaTS/UTFPR. O nitrognio apresenta algumas vantagens como a
reduo da tendncia precipitao, e a estabilizao da camada passiva. Alm disso, o
nitrognio reage na rea andica, o que neutraliza o efeito da acidez melhorando assim a
resistncia a corroso. Neste trabalho avaliou-se a resistncia corroso do ao inoxidvel
ferrtico AISI 409, aps a obteno de uma camada martenstica enriquecida com nitrognio
em soluo solida por meio do processo SHTPN. Em seguida foram avaliados os efeitos da
temperatura de revenimento (200, 400 e 600 C) e da temperatura de austenitizao (950 e
1050 C) na microestrutura, dureza e resistncia corroso da camada martenstica obtida. A
resistncia corroso foi avaliada pela tcnica de polarizao cclica em soluo de NaCl
0,5 mol/L e os perfis de dureza obtidos por medio de dureza Vickers com carga de 0,05 Kgf
(0,49 N). A microestrutura foi avaliada por Microscopia ptica, Eletrnica de Varredura e por
Difrao de Raios-X. Os resultados indicam que o tratamento de SHTPN promoveu a
formao de uma camada martenstica de nitrognio, com consequente acrscimo de dureza
de 160 HV para 580 HV. O tratamento tmpera aps SHTPN no afetou significativamente a
dureza do ao, contudo, refinou e melhorou a distribuio da martensita de nitrognio. Os
resultados de corroso para as condies tratadas e revenidas a 200 C indicam resistncia
corroso superior ou equivalente da ferrita do material no tratado (AISI 409). J as
amostras revenidas nas temperaturas de 400 e 600 C apresentaram um decrscimo na
resistncia corroso, bem como foi observada uma diminuio da dureza da amostra
revenida a 600 C.
vii
ABSTRACT
viii
SUMRIO
RESUMO.................................................................................................................................. vi
ABSTRACT ............................................................................................................................vii
SUMRIO ..............................................................................................................................viii
LISTA DE FIGURAS.............................................................................................................. xi
LISTA DE TABELAS ........................................................................................................... xiv
LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS ........................................................................... xv
LISTA DE SMBOLOS .......................................................................................................xvii
1. INTRODUO .................................................................................................................... 1
2. OBJETIVOS ......................................................................................................................... 4
2.1. OBJETIVO GERAL ............................................................................................................ 4
2.2. OBJETIVOS ESPECFICOS .............................................................................................. 4
3. FUNDAMENTAO TERICA ....................................................................................... 5
3.1. CORROSO ....................................................................................................................... 5
3.1.1. Corroso em Aos Inoxidveis ......................................................................................... 7
3.2. TCNICAS ELETROQUMICAS ................................................................................... 12
3.3. AOS INOXIDVEIS ..................................................................................................... 17
3.3.1. Aos Inoxidveis Ferrticos ............................................................................................ 18
3.3.2. Aos Inoxidveis Martensticos...................................................................................... 18
3.3.3. Caractersticas da Camada Passiva ................................................................................. 21
3.4. DIAGRAMA DE SCHAEFFLER ..................................................................................... 22
3.5. INFLUNCIA DOS ELEMENTOS DE LIGA NOS AOS INOXIDVEIS ................. 24
3.5.1. Cromo (Cr) ..................................................................................................................... 24
3.5.2. Carbono (C) .................................................................................................................... 24
3.5.3. Molibdnio (Mo) ............................................................................................................ 24
3.5.4. Titnio (Ti) e Nibio (Nb) .............................................................................................. 25
3.5.5. Nitrognio (N) ................................................................................................................ 25
3.6. MTODOS DE INTRODUO DO NITROGNIO NOS AOS ................................. 38
3.6.1. Tratamento Trmico de Solubilizao aps Nitretao a Plasma (SHTPN) .................. 39
3.6.2. Tratamento trmico de Solubilizao (SHT) .................................................................. 40
3.7. INFLUNCIA DOS TRATAMENTOS TRMICOS NOS AOS INOXIDVEIS
MARTENSTICOS .................................................................................................................. 42
ix
xi
LISTA DE FIGURAS
Figura 1: Mecanismo da corroso por pite de um metal genrico (M) exposto a uma soluo
aerada de NaCl (ASM, 1991, vol. 13, pag.592). ........................................................................ 8
Figura 2: Ilustrao do mecanismo de corroso em frestas entre duas chapas rebitadas
(FONTANA, 1986). ................................................................................................................. 11
Figura 3: Curva tpica de metais passivveis com pelculas protetoras instveis (Adaptao de
ASM, 1999). ............................................................................................................................. 14
Figura 4: Curva esquemtica do potencial de circuito aberto. ................................................. 15
Figura 5: Representao do grfico de polarizao cclica para corroso por pites (ASM,
1991, vol.13, pag.593). ............................................................................................................. 16
Figura 6: Diagrama de equilbrio do sistema Fe-Cr (CAMPBELL, 1992). ............................. 20
Figura 7: Processo de passivao do ao inoxidvel (BAROUX, LACOMBE, &
BERANGER, 1993). ................................................................................................................ 21
Figura 8: Diagrama de Schaeffler, mostrando o ponto no qual se encontra o ao AISI 409 no
estado de fornecimento e a possibilidade de obteno de martensita aps o SHTPN
(Adaptao de KAKHOVSKII et al, 1980, apud LIPPOLD et al, 2005). ............................... 23
Figura 9: Variao da resistncia mecnica do ao inoxidvel austentico em funo do teor
de nitrognio (SIMMONS, 1996)............................................................................................. 25
Figura 10: Efeito do teor de nitrognio na dureza do ao austentico UNS S30403 e do ao
dplex UNS S31803 (GARZN & TSCHIPTSCHIN, 2005). ................................................ 26
Figura 11: Curvas de Coffin-Manson para o ao inoxidvel 316L com diversos teores de
nitrognio (VOGT, 2001). ........................................................................................................ 27
Figura 12: Imagens em MET do ao 316L solubilizado em vcuo (a e b) e nitretados a alta
temperatura (c e d). Foram efetuados 5% de deformao antes e aps estiramento nas
amostras em (b) e (d) (NAKANISHI et al., 2007). .................................................................... 28
Figura 13: Curvas de polarizao cclica potenciodinmica em soluo 5,0 % NaCl + 0,5 M
H2SO4 para os aos UNS S31803 e UNS S30403 sem tratamentos e nitretados por HTGN
(Adaptao de GARZN & TSCHIPTSCHIN, 2005). ............................................................ 30
Figura 14: Potencial de corroso por pite dos aos UNS S41000 e S41008 nitretados a por
HTGN (MESA et al., 2003). .................................................................................................... 32
Figura 15: Anlise de Polarizao Cclica do ao AISI 420 aps nitretao por plasma a
350 C, 550 C e sem tratamento em 5% de soluo de NaCl + H2SO3 (pH = 3) (XI et al.,
2008). ........................................................................................................................................ 33
Figura 16: Efeito da adio de elementos de liga no potencial de corroso por pite em
solues diludas contendo ons cloreto para um ao austentico com 18% em peso de Cr
(SPEIDEL, HANDBOOK, 1991). ............................................................................................ 34
Figura 17: Grfico do ensaio de corroso do ao inoxidvel AISI 409 em soluo de H2SO4
(0,1 mol/L) (FORMIGONI E GONTIJO, 2009). ..................................................................... 35
Figura 18: Efeito do teor de nitrognio na taxa de corroso em frestas (em miligramas por
decmetro quadrado de rea exposta por dia) para o ao inoxidvel 316L em NaCl 3,5% com
diferentes valores de potencial de eletrlise (V) (BABA et al., 2002). .................................... 36
xii
Figura 19: Curvas de polarizao potenciodinmica em soluo 3,5 % NaCl + 0,5 M H2SO4 a
25 C para o ao UNS 410S nitretado e o ao UNS 420 temperado (Adaptado de TORO e
TSCHIPTSCHIN et al., 2003).................................................................................................. 37
Figura 20: Efeito da temperatura de austenitizao na dureza de aos inoxidveis
martensticos forjados (ASM, 1991, p.1714). .......................................................................... 44
Figura 21: Efeito da temperatura de revenido (1h) nas propriedades do ao AISI 420 (0,22%
C), ao inoxidvel martenstico. Teste de corroso em soluo 3% NaCl a 20C (adaptado de
UHLIG, 2000, pag.670). ........................................................................................................... 45
Figura 22: Efeito da temperatura de revenimento (tempo, temperatura) na velocidade de
corroso do ao ABNT 420 (resfriado em gua, 980 C) em HNO3, 10% molar, a 20 C
(PANOSSIAN, 1993, pag.403). ............................................................................................... 46
Figura 23: Fluxograma do procedimento experimental. .......................................................... 49
Figura 24: Representao esquemtica do reator de Plasma. As letras M representam
multmetros acoplados aos sensores em questo, para a leitura dos parmetros de trabalho
(Adaptado de REIS, 2006)........................................................................................................ 51
Figura 25: a) Cmara de nitretao. b) Amostras posicionadas no centro da cmera de
nitretao sustentadas por uma base tipo rvore. ..................................................................... 52
Figura 26: Ciclo trmico do tratamento para o processo SHTPN. ........................................... 54
Figura 27: Clula eletroqumica desenvolvida para os ensaios de corroso. ........................... 59
Figura 28: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 no estado de fornecimento (F) (Ataque:
Villela). ..................................................................................................................................... 61
Figura 29: Imagens obtidas por MEV da espessura da camada Nitretada a 510 C por 2 horas.
.................................................................................................................................................. 62
Figura 30: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 aps SHTPN (NS) a 1100 C por 1 hora.
A seta indica o crescimento de martensita nos contornos de gros ferrticos (Ataque: Villela).
.................................................................................................................................................. 62
Figura 31: Perfil de dureza Vickers das amostras nitretadas por plasma (N) comparadas com o
processo SHTPN (NS) e com o estado de fornecimento (F). ................................................... 63
Figura 32: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 nas condies: a) NST-950 por 30
minutos, b) NST-1050 por 30 minutos. As setas indicam formao de martensita nos
contornos de gros ferrticos (Ataque: Villela). ....................................................................... 65
Figura 33: Perfil de dureza Vickers das amostras tratadas por SHTPN e temperadas a 950 C
(NST-950) e para as amostras tratadas por SHTPN e temperadas a 1050 C (NST-1050)
comparadas com as condies NS e F. ..................................................................................... 66
Figura 34: Dureza final das amostras tratadas por SHTPN (condio NS), NSTR-9502, NSTR9504, NSTR-9506. ..................................................................................................................... 67
Figura 35: Dureza final das amostras tratadas por SHTPN (condio NS), NSTR-10502,
NSTR-10504, STR-10506.......................................................................................................... 68
Figura 36: Relao da temperatura de revenimento com a dureza em diferentes profundidades
(m) para as condies NSTR-9502, NSTR-9504, NSTR-9506. .............................................. 69
Figura 37: Relao da temperatura de revenimento com a dureza em diferentes profundidades
(m), para as condies NSTR-10502, NSTR-10504, STR-10506. .......................................... 70
Figura 38: Difratograma de raios-X do ao AISI 409 para as amostras Nitretadas por plasma
(N) e no estado de fornecimento (F). ........................................................................................ 71
xiii
Figura 39: Difratograma de raios-X do ao AISI 409 para as amostras nas condies F, NS,
NST-950, NST-1050, NSTR-9506 e NSTR-10506. .................................................................. 73
Figura 40: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies F, N e SHTPN, obtidos em
soluo de NaCl 0,5 mol/L. ...................................................................................................... 74
Figura 41: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies F, NS, NST-950 e NST-1050,
obtidos em soluo de NaCl 0,5 mol/L. ................................................................................... 76
Figura 42: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies NSTR-9502, NSTR-9504 e
NSTR-9506 e F medidos em soluo de NaCl 0,5 mol/L. ........................................................ 77
Figura 43: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies NSTR-10502, NSTR-10504,
NSTR-10506 e F medidos em soluo de NaCl 0,5 mol/L. ...................................................... 78
Figura 44: Micrografia obtida por MEV da superfcie da condio F aps ensaios de
polarizao cclica. ................................................................................................................... 80
Figura 45: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9502 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 81
Figura 46: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10502 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 81
Figura 47: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9504 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 82
Figura 48: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10504 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 83
Figura 49: Micrografia obtida por MEV da superfcie de um pite formado aps polarizao
cclica para a condio NSTR-9504. ......................................................................................... 84
Figura 50: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9506 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 85
Figura 51: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10506 aps
ensaios de polarizao cclica. .................................................................................................. 85
xiv
LISTA DE TABELAS
xv
xvi
xvii
LISTA DE SMBOLOS
1. INTRODUO
Alm do mais a aplicao da tcnica SHTPN, que alia bons resultados com um
processo tecnolgico pouco poluente, tem-se apresentado como uma excelente tcnica de
inovao para aplicaes no setor produtivo.
Sendo assim, em continuidade s pesquisas j desenvolvidas na UTFPR, no presente
trabalho realizou-se o estudo da influncia da temperatura de tmpera e de revenimento sobre
a dureza e resistncia corroso da camada martenstica enriquecida com nitrognio obtida na
superfcie do ao inoxidvel ferrtico AISI 409 por meio do processo SHTPN.
2. OBJETIVOS
3. FUNDAMENTAO TERICA
3.1. CORROSO
Mn+(aq.)
(Equao 1)
).
Zn(s) Zn2+(aq.)
2
(Equao 2)
2H2O(l)
(Equao 3)
2H+(aq.) + 2
(Equao 4)
).
Meio Neutro ou levemente Bsico:
O2(g) + 2H2O(l) + 4
4(OH)-(aq.)
(Equao 5)
2H2O(l) + 2
+ 2(OH)-(aq.)
(Equao 6)
De acordo com os estudos de Solomon e Devine (1982), a corroso por pite uma das
formas que mais degradam os aos inoxidveis, pois nem sempre sua identificao pode ser
efetuada por inspeo visual, j que as cavidades podem ser pequenas em dimetro, porm
grandes em relao sua profundidade. A presena de pites pode provocar vazamentos em
tubulaes e recipientes, e levar a outras causas de falha como: corroso sob tenso,
fragilizao por hidrognio ou fadiga associada corroso (ASM, 1998).
A corroso por pite ocorre com a exposio dos aos em ambientes especficos, como
em guas contaminadas com halogenetos, tais como cloretos, fluoretos e brometos, em
condies estagnadas e elevadas temperaturas.
Aps a quebra da camada passiva, ocorre o incio da nucleao do pite no metal, como
demonstra a Figura 1. A rpida dissoluo do metal dentro do pite tende a produzir uma carga
positiva excessiva nessa rea, o que gera a migrao dos ons cloretos (Cl-) para manter o
equilbrio de cargas eltricas.
Figura 1: Mecanismo da corroso por pite de um metal genrico (M) exposto a uma soluo aerada de
NaCl (ASM, 1991, vol. 13, pag.592).
Sendo assim, no pite existe uma alta concentrao Fe+2 (aquoso) e Cl- (aquoso). Na
presena de gua, ocorre hidrlise desses cloretos metlicos ou ctions metlicos (Equao
7), favorecendo o aumento da concentrao de ons de hidrognio (H+), alterando o pH para
valores de at 1 (ROBERGE, 1999). Tanto os ons de hidrognio como os de cloreto
estimulam a dissoluo da maioria das ligas metlicas. Dessa forma a soluo na extremidade
do pite se torna cada vez mais concentrada e cida na medida em que o seu crescimento
progride favorecendo o aumento da taxa de corroso (ASM, 1998).
H2O +
O2 + 2
2(OH)(Equao 8)
10
(Equao 9)
Este tipo de corroso uma forma localizada de ataque que se inicia pela quantidade
extremamente baixa de oxignio em uma fresta. A corroso surge entre duas superfcies
separadas na presena de um lquido, pobre em oxignio e mais concentrado em cido, devido
hidrlise dos ons metlicos (ASM, 1998).
Inicialmente, reaes de oxidao e de reduo ocorrem uniformemente dentro e fora
das superfcies em contato. Conforme o oxignio consumido no interior do pite h um
aumento na concentrao de ons metal e de cloretos dentro da fresta. Ou seja, com o
potencial positivo presente na cavidade, os ons cloretos (Cl-) tem maior facilidade de penetrar
e causar a corroso. Este mecanismo pode ser observado na Figura 2.
11
Figura 2: Ilustrao do mecanismo de corroso em frestas entre duas chapas rebitadas (FONTANA,
1986).
12
Alm dos processos j citados, os aos inoxidveis tambm podem sofrer diversos
outros tipos de corroso, que embora sejam menos comuns, no deixam de comprometer
significativamente a estrutura desses metais.
Entre esses tipos de agresso se destacam a corroso sob tenso que se caracteriza pela
formao e propagao rpida de trincas que levam ruptura do material, devido a uma ao
simultnea de um meio corrosivo especfico e de tenses mecnicas (tenses trativas
aplicadas ou residuais); corroso por placas, quando os produtos da oxidao se formam em
placas que se desprendem progressivamente; corroso alveolar, quando o processo se d de
forma localizada, com aspecto de crateras; corroso intergranular, que se manifesta no
contorno dos gros; corroso-eroso, produto do desgaste mecnico provocado pela abraso
superficial de uma substncia slida, lquida ou gasosa e fragilizao por hidrognio, onde o
hidrognio penetra na rede cristalina do ao provocando o aparecimento de altas presses
internas, que tornam o material mais frgil e propicia o aparecimento de trincas, que podem
propagar-se originando a fratura.
13
fonte externa, etc. A velocidade das reaes andica e catdica depender das caractersticas
de polarizao do sistema (GENTIL, 1996).
Polarizao Potenciodinmica ou Potenciocintica a principal tcnica utilizada na
obteno de curvas de polarizao, ela visa caracterizar o sistema (metal/meio)
eletroquimicamente na direo andica atravs da varredura contnua do potencial e o
correspondente registro da corrente gerada (GEMELLI, 2001; SEDRIKS, 1996; WOLYNEC,
2003).
A Figura 3 ilustra a curva terica de potencial aplicado versus o logaritmo da
densidade de corrente medida, onde podem ser observadas quatro regies bem definidas: a
primeira definida como regio de imunidade, localizada abaixo da regio ativa, ela
representa a faixa onde o metal no sofre oxidao para o valor de potencial aplicado. Na
segunda regio, denominada ativa, ocorre o aumento da corrente com o aumento do potencial.
No entanto, a partir de determinado valor de potencial, a corrente passa a diminuir at uma
regio de densidade de corrente mais ou menos constante, este potencial conhecido como
potencial de Flade. A explicao para este fenmeno a passivao. De acordo com Uhlig
(1948) a passividade ocorre devido adsoro de O2 na superfcie do metal, sendo tambm
associada formao de um filme tridimensional de outra fase (oxido ou hidrxido do metal).
Este filme de poucos nanmetros parece ser o responsvel pela inertizao do metal.
De forma geral pode se dizer que a passividade deve ser o resultado da competio
cintica de vrias reaes possveis como: dissoluo do metal e reao do metal com o meio
formando compostos protetores e a adsoro de espcies do meio sobre a superfcie.
A regio de transio entre o potencial de Flade e a regio de potencial constante
defina como regio de transio ativo/passivo. Para que atinja a regio passiva uma elevada
densidade de corrente crtica (ICC) deve ser excedida. Na sequncia tem-se a regio de
passivao propriamente dita.
Em alguns casos dependendo do valor do potencial a camada de xido de cromo
(Cr2O3) passa para a forma de on bicromato (Cr2O7--) e a corrente volta a crescer. Este
potencial denominado potencial de transpassivao e a regio acima desta denominada de
regio transpassiva. Nesta regio a pelcula de proteo andica pode ser danificada ou at
mesmo quebrar completamente (ASM, 1999).
14
Figura 3: Curva tpica de metais passivveis com pelculas protetoras instveis (Adaptao de ASM,
1999).
Para metais que apresentam uma pelcula de xido com baixa resistividade eltrica
gerada uma regio de oxidao da gua. Ou seja, ao elevar o potencial de forma a atingir o
valor do potencial de equilbrio do oxignio, a gua oxidada com consequente formao de
gs oxignio. Mesmo com o aumento de corrente notado na parte superior da curva, o metal
continua passivo e age como um eletrodo inerte. A equao dada por (PANOSSIAN, 1993):
2H2O 4
+ 4H+ + O2
(Equao 10)
15
16
Figura 5: Representao do grfico de polarizao cclica para corroso por pites (ASM, 1991,
vol.13, pag.593).
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de
suas
propriedades
mecnicas,
resistncia
corroso,
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21
A camada passiva presente em aos inoxidveis pode ser definida como um filme de
xido estvel e muito aderente, que auxilia a proteo da superfcie. Esta possui apenas alguns
nanmetros de espessura e tem a sua resistncia aumentada medida que se adiciona cromo a
liga (PARDO et al., 2008; MARCUS et al., 1988).
Mesmo quando o ao inoxidvel sofre algum tipo de dano, como arranhes,
amassamentos ou cortes, em condies ideais, o oxignio do ar imediatamente combina-se
com o cromo, formando novamente o filme protetor. O controle na adio dos elementos de
liga ao ao assegura maior estabilidade da camada passiva e das suas propriedades fsicomecnicas.
A presena de halogenetos em soluo, particularmente de ons cloreto, tendem a
desestabilizar o filme passivo. Sendo que em meios cidos ou em meios que apresentam
elevada concentrao destes ons (Cl-) ocorre a dissoluo de sais de cloretos que impedem a
passivao do material (MANTEL, 2000).
A formao da pelcula passiva pode ocorrer de duas formas. A primeira surge de uma
reao espontnea (passivao qumica natural) e a outra depende da adio de um metal mais
nobre que ir funcionar como nodo (passivao por polarizao andica).
A Figura 7 mostra esquematicamente a formao do filme passivo.
22
23
Figura 8: Diagrama de Schaeffler, mostrando o ponto no qual se encontra o ao AISI 409 no estado de
fornecimento e a possibilidade de obteno de martensita aps o SHTPN (Adaptao de KAKHOVSKII et
al, 1980, apud LIPPOLD et al, 2005).
24
25
ons cloretos, visto que a passividade do cromo nesse meio pouco estvel (FONTANA &
GREENE, 1978). Tambm tem a facilidade de combinar com o enxofre (S) formando MoS2,
o que aumenta a resistncia ao desgaste e diminui a fragilizao por S.
26
Figura 10: Efeito do teor de nitrognio na dureza do ao austentico UNS S30403 e do ao dplex UNS
S31803 (GARZN & TSCHIPTSCHIN, 2005).
27
Figura 11: Curvas de Coffin-Manson para o ao inoxidvel 316L com diversos teores de nitrognio
(VOGT, 2001).
28
Devido ao elevado nvel de encruamento presente nos aos austenticos com alto teor
de nitrognio, tm-se uma melhora no limite de escoamento, sem prejuzo na ductilidade, essa
capacidade consequncia do deslocamento preferencial planar das discordncias, facilitando
seu acmulo, como possvel observar na Figura 12, mais especificamente na regio indicada
pelas setas (NAKANISHI et al., 2007).
Figura 12: Imagens em MET do ao 316L solubilizado em vcuo (a e b) e nitretados a alta temperatura (c
e d). Foram efetuados 5% de deformao antes e aps estiramento nas amostras em (b) e (d)
(NAKANISHI et al., 2007).
29
NH4+(aq.)
(Equao 11)
30
Figura 13: Curvas de polarizao cclica potenciodinmica em soluo 5,0 % NaCl + 0,5 M H2SO4 para os
aos UNS S31803 e UNS S30403 sem tratamentos e nitretados por HTGN (Adaptao de GARZN &
TSCHIPTSCHIN, 2005).
31
32
Figura 14: Potencial de corroso por pite dos aos UNS S41000 e S41008 nitretados a por HTGN (MESA
et al., 2003).
33
Figura 15: Anlise de Polarizao Cclica do ao AISI 420 aps nitretao por plasma a 350 C, 550 C e
sem tratamento em 5% de soluo de NaCl + H2SO3 (pH = 3) (XI et al., 2008).
34
Figura 16: Efeito da adio de elementos de liga no potencial de corroso por pite em solues diludas
contendo ons cloreto para um ao austentico com 18% em peso de Cr (SPEIDEL, HANDBOOK, 1991).
35
Figura 17: Grfico do ensaio de corroso do ao inoxidvel AISI 409 em soluo de H 2SO4 (0,1 mol/L)
(FORMIGONI E GONTIJO, 2009).
No trabalho realizado por Baba et al. (2002), para o ao inoxidvel 316L em NaCl
3,5% com diferentes valores de potencial de eletrlise (V) a taxa de corroso por frestas
tambm apresentou influencia com a adio de nitrognio. A Figura 18 mostra uma
diminuio dos valores da taxa de corroso (para os potenciais de 0,3; 0,4 e 0,5 V) conforme
aumenta a porcentagens de nitrognio no ao.
36
Figura 18: Efeito do teor de nitrognio na taxa de corroso em frestas (em miligramas por decmetro
quadrado de rea exposta por dia) para o ao inoxidvel 316L em NaCl 3,5% com diferentes valores de
potencial de eletrlise (V) (BABA et al., 2002).
37
ser observado na Figura 19. Contudo a resistncia eroso de ambos os aos bastante
similar.
Figura 19: Curvas de polarizao potenciodinmica em soluo 3,5 % NaCl + 0,5 M H2SO4 a 25 C
para o ao UNS 410S nitretado e o ao UNS 420 temperado (Adaptado de TORO e TSCHIPTSCHIN et
al., 2003).
38
39
Tendo em vista que as caractersticas superficiais dos aos contribuem tanto para as
propriedades qumicas (tenso superficial e corroso), mecnicas (dureza, ductilidade,
tenacidade, fluncia e elasticidade) e tribolgicas (desgaste adesivo, abrasivo e erosivo),
mudanas estruturais ou na composio superficial dos materiais podem alterar estas
propriedades (LIANG, 2003; CHYOU & SHIH, 1990).
O processo SHTPN (Solution Heat Treatment after Plasma Nitriding) uma tcnica
utilizada para inserir nitrognio em soluo slida na superfcie de peas metlicas. Nos aos
inoxidveis este processo pode ser aplicado com a finalidade de aumentar a resistncia
corroso e acarretar a melhora nas propriedades mecnicas. Esse processo visa principalmente
40
obter uma camada enriquecida com nitrognio na superfcie dos aos e com maior
profundidade do que a obtida somente por nitretao a plasma.
O SHTPN consiste em duas etapas principais: primeiramente realizado a Nitretao
por Plasma (PN), com o objetivo de produzir camadas nitretadas na superfcie do material.
Em seguida realiza-se o Tratamento Trmico de Solubilizao (SHT), que tem como
finalidade dissolver os nitretos formados e permitir a difuso do nitrognio na matriz com
posterior formao de uma camada rica de nitrognio em soluo slida intersticial (BORGES
et al, 2011; REIS et al, 2011).
41
42
43
44
Elementos (% wt)
Anlise
C
Cr
1
0,15
11,5-13
403
0,006
10,9
4092
0,140 11,95
4102
0,15 11,5-13,5
4141
0,13
12-14
4161
0,360 12,89
4202
1Dados
Cu
0,022
0,13
0,07
Mn
Mo
Ni
1 mx.
0,21 0,038
0,21
0,62
0,11
0,62
1 mx.
1,25-2,5
1,25 mx.
0,36
0,09
0,57
P
0,04 mx.
0,029
0,04
0,04 mx.
0,06 mx.
0,04
Si
0,5 mx.
0,500
0,440
1,0 mx.
1,0 mx.
0,360
N
0,0120
0,0165
Tabela 2: Parmetros de tmpera e revenido de alguns aos inoxidveis para cada faixa de
durezas.
Tipo
Tmpera
Temperatura
C
F
403,
410
925-1010
1700-1850
414
925-1050
1700-1925
416
925-1010
1700-1850
420
980-1065
1800-1950
Temperatura de Revenido
C
F
Meio
min. max. min. max.
565 605 1050 1125
Ar ou leo
205 370 400
700
595 650 1100 1200
Ar ou leo
230 370 450
700
565 605 1050 1125
leo
230 370 450
700
Ar ou leo 205 370 400
700
Fonte: Adaptado ASM, 1991, pag.1724.
Limite de Resistncia
Dureza
a Trao
HRC
MPa
ksi
760-965
110-140 25-31
1105-1515 160-220 38-47
760-965
110-140 25-31
1105-1515 160-220 38-49
760-965
110-140 25-31
1105-1515 160-220 35-45
1550-1930 225-280 48-56
Figura 20: Efeito da temperatura de austenitizao na dureza de aos inoxidveis martensticos forjados
(ASM, 1991, p.1714).
45
Figura 21: Efeito da temperatura de revenido (1h) nas propriedades do ao AISI 420 (0,22% C), ao
inoxidvel martenstico. Teste de corroso em soluo 3% NaCl a 20C (adaptado de UHLIG, 2000,
pag.670).
46
47
possvel verificar que quanto menor a temperatura de revenido, maior ser o tempo
crtico, ocorrendo o deslocamento da faixa crtica para a direita (Figura 22).
Com a adio do nitrognio no ao inoxidvel ferrtico e o subsequente tratamento
trmico de solubilizao, viabiliza-se a formao de uma microestrutura austentica (conforme
apresentado na Figura 8), porm com o resfriamento rpido subsequente (tratamento trmico
de tmpera) a austenita presente transforma-se em martensita (devido ao alto teor de
nitrognio na superfcie), conferindo assim, melhor dureza e resistncia mecnica.
Aps a aplicao do processo de SHTPN obtm-se nitrognio em soluo slida
intersticial. Isto promove a melhoria de diversas propriedades como: maior endurecimento,
tendncia de estabilizao da austenita (para aplicaes em que isso desejado), reduzindo a
quantidade de nquel necessria para este fim e a tendncia de precipitao, aumento da
tenso de escoamento e tenso de ruptura sem perda da tenacidade do material, assim como,
maior resistncia corroso (SIMMONS, 1996).
48
4. MATERIAIS E MTODOS
Para a identificao dos experimentos foi criado um cdigo para cada condio
estudada com a finalidade de diferenciar as amostras do estado de fornecimento (F), das
amostras Nitretadas por Plasma (N), aps o processo de SHTPN (Nitretada e Solubilizada NS), e das amostras Nitretadas, Solubilizadas e temperadas realizadas em duas diferentes
temperaturas, para 950 C (NST-950) e para 1050 C (NST-1050). J para as condies de
revenido adicionou-se um nmero subscrito referente temperatura de tratamento, como pode
ser observado na Tabela 3:
F
N
NS
NST- 950
NST- 1050
NSTR -9502
NSTR -9504
NSTR -9506
NSTR -10502
NSTR -10504
NSTR -10506
CONDIES
Fornecimento
Nitretada
SHTPN Nitretada e Solubilizada
Nitretada, Solubilizada e Retemperada a 950 C.
Nitretada, Solubilizada e Retemperada a 1050 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 950 C e Revenida a 200 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 950 C e Revenida a 400 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 950 C e Revenida a 600 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 1050 C e Revenida a 200 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 1050 C e Revenida a 400 C.
Nitretada, Solubilizada, Temperada a 1050 C e Revenida a 600 C.
49
Medida
Certificado
C
0,00
0,006
Cr
10,8
10,9
Co
0,041
0,017
Elementos (% massa)
Cu
Mn
Mo
0,023 0,20 0,053
0,022 0,21 0,038
Ni
0,32
0,21
P
0,033
0,029
S
0,000
0,001
Ti
0,215
0,172
50
4.4. PROCESSAMENTO
4.4.1. SHTPN
51
52
Base utilizada
para sustentao
das amostras.
Suporte para
distribuio
dos gases.
53
Para a entrada dos gases utilizou-se uma vlvula diafragma (ou vlvula de membrana),
localizada na base inferior da cmara de nitretao. Aps a passagem por esta vlvula, os
gases chegam a um dispositivo de distribuio dos mesmos, como mostrado na Figura 25.
O controle da mistura gasosa foi feito atravs de medidores/controladores de fluxo
(fluxmetros) da marca Edwards, modelo 825 series B, que controlam a entrada de H2 e N2,
sendo que os fluxmetros utilizados so de 500 SCCM (standard cubic centimeter per minute
centmetro cbico por minuto). Os gases para a nitretao possuem grau analtico de
99,999% de pureza e esto contidos em cilindros separados e conectados cmara de
nitretao por meios de tubos de cobre.
Antes da aplicao do tratamento termoqumico, posicionou-se dentro do reator de
plasma uma base que serviu de sustentao para as amostras (Figura 25b), facilitando assim
nitretao em ambos os lados da pea e permitindo tambm uma melhor homogeneidade no
tratamento. As amostras foram colocadas a uma distncia mnima entre elas, a fim de evitar a
formao de ctodos ocos e arcos.
Aps realizar vcuo no reator a uma presso de 10-3 Torr, com a finalidade de remover
os gases contaminantes (O2, H2O, CO2, etc.) da atmosfera, as amostras foram submetidas,
primeiramente, a um ciclo de limpeza superficial na temperatura de 160 C por uma hora com
fluxo de hidrognio (H2), utilizando os parmetros apresentados na Tabela 5. Estes
parmetros foram os mesmos empregados no estudo realizado por Ital (2008). Neste processo
h o bombardeamento da superfcie do ao inoxidvel pelos ons do gs.
Tabela 5: Parmetros utilizados para o tratamento de nitretao por plasma (adaptao de Ital,
2008).
Parmetros
Temperatura (C)
Tenso (V)
Presso (Torr)
Tempo (horas)
Atmosfera gasosa
Ton(s)
Toff(s)
Limpeza superficial
160 10
400
1,5 0,2
1
H2
220 -250
250
Aps a limpeza, as amostras foram nitretadas por plasma. Para isto adiciona-se
nitrognio na mistura gasosa seguindo as condies de tratamento apresentadas na Tabela 5.
Nesse processo elevou-se a temperatura at atingir 510 C a partir do qual foi considerado o
54
incio da nitretao. As amostras foram mantidas, nesse patamar, por um perodo de duas
horas.
Em seguida, foram resfriadas por conveco de H2 e N2 e por radiao, at abaixo da
temperatura de limpeza superficial. O resfriamento foi realizado at a temperatura ambiente
dentro do reator, para no ocorrer oxidao da superfcie. Uma representao esquemtica do
tempo versus temperatura do ciclo SHTPN pode ser observado na Figura 26.
4.4.1.2. Solubilizao
2.
no vacumetro);
3.
55
4.
A retirada das amostras do forno foi feita manualmente para realizar o tratamento
trmico de tmpera com resfriamento imediato em leo (25 C). O resfriamento rpido
necessrio para evitar a precipitao de nitretos e transformar a camada austentica em
martenstica.
56
marca Struers, modelo Knuth-rotor-3, utilizando lixas 220, 320, 400 e 600 e 1200. Todo o
processo de lixamento foi feito com fluxo de gua.
Para revelar a microestrutura dos corpos de prova, foi feito um ataque qumico
57
58
59
prprios corpos de prova apresentado nas condies listadas na Tabela 3. Foram realizados 5
ensaios para cada uma das condies apresentadas.
As medidas foram programadas para iniciarem aps 1 hora de estabilizao no
potencial de circuito aberto (OCP). Este potencial de incio das medidas foi definido como
potencial de corroso, Ecorr. As curvas de polarizao cclica foram obtidas atravs da
varredura de potenciais no sentido andico e velocidades de 1 mV/s, partindo de um potencial
de -0,100 V abaixo do potencial de corroso at 1,5000 V onde o potencial foi revertido at o
potencial inicial ou quando a corrente atinge 1677,00 .
A clula eletroqumica foi desenvolvida para anlise da resistncia corroso por pite,
seguindo a norma ASTM G-150. O material utilizado para confeco da clula acrlico com
5 mm de espessura. Na Figura 27 pode-se visualizar um desenho esquemtico da montagem
da clula (fixao da amostra e posio dos eletrodos).
60
61
5. RESULTADO E DISCUSSES
Figura 28: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 no estado de fornecimento (F) (Ataque: Villela).
5.2. SHTPN
62
Figura 29: Imagens obtidas por MEV da espessura da camada Nitretada a 510 C por 2 horas.
Figura 30: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 aps SHTPN (NS) a 1100 C por 1 hora. A seta indica
o crescimento de martensita nos contornos de gros ferrticos (Ataque: Villela).
63
Figura 31: Perfil de dureza Vickers das amostras nitretadas por plasma (N) comparadas com o processo
SHTPN (NS) e com o estado de fornecimento (F).
64
65
Figura 32: Micrografia do ao inoxidvel AISI 409 nas condies: a) NST-950 por 30 minutos, b) NST1050 por 30 minutos. As setas indicam formao de martensita nos contornos de gros ferrticos (Ataque:
Villela).
66
Figura 33: Perfil de dureza Vickers das amostras tratadas por SHTPN e temperadas a 950 C (NST-950) e
para as amostras tratadas por SHTPN e temperadas a 1050 C (NST-1050) comparadas com as condies
NS e F.
67
consequentemente diminuindo a possibilidade de pontos moles. Isto ocorre devido ao alto teor
de nitrognio que estabiliza a austenita impedindo a transformao de austenita para ferrita,
ou ao baixo teor de nitrognio que no estabiliza a austenita na temperatura de solubilizao
impedindo assim a transformao gama martensita.
Na Figura 33 observa-se que a difuso de nitrognio tende a estabilizar ao longo do
tempo. A curva verde (NST-950) representa o perfil de dureza para a condio temperada a
950 C e tem valor mximo de 620 HV na superfcie, o qual decai com a profundidade. J a
curva em rosa apresenta os resultados para temperatura de tmpera a 1050 C (NST-1050) e
possui valor mximo de 587 HV. O perfil em preto representa a condio NS com 580 HV.
Esses valores, para as condies apresentadas, so muito similares e podem estatisticamente
serem consideradas iguais.
5.4. Tratamento Trmico de Revenimento (NSTR)
Figura 34: Dureza final das amostras tratadas por SHTPN (condio NS), NSTR-9502, NSTR-9504,
NSTR-9506.
68
Figura 35: Dureza final das amostras tratadas por SHTPN (condio NS), NSTR-10502, NSTR-10504,
STR-10506.
69
dureza. Estes resultados apresentam-se coerentes com os estudos realizados por Assumpo et
al (2012).
Esse decrscimo da resistncia mecnica a altas temperaturas de revenido tambm foi
observado na Tabela 2 (Pgina 43) para diferentes aos martensticos (ASM, 1991). Observase na Tabela que temperaturas de revenido, acima de 500 C, a dureza diminui
consideravelmente. Sendo assim, analisando e comparando os aos martensticos temperado e
revenido
com
dureza
entre
25
56
HRC,
com
dureza
obtida
aps
Figura 36: Relao da temperatura de revenimento com a dureza em diferentes profundidades (m)
para as condies NSTR-9502, NSTR-9504, NSTR-9506.
70
Figura 37: Relao da temperatura de revenimento com a dureza em diferentes profundidades (m),
para as condies NSTR-10502, NSTR-10504, STR-10506.
71
Figura 38: Difratograma de raios-X do ao AISI 409 para as amostras Nitretadas por plasma (N) e no
estado de fornecimento (F).
A identificao destes picos permite concluir que a fase presente para a condio F a
fase ferro alfa (-Fe), relacionados ao substrato do ao AISI 409 e aps o SHTPN os picos
apresentados corresponde a fase martensita.
No caso da amostra nitretada (N) podem ser vistos vrios picos de nitretos
(Fe2-3N) e
' (Fe4N) no difratograma. Picos associados com a fase nitretos de cromo (CrN) tambm so
observados. A presena da fase (CrN) pressupe um pssimo comportamento do ao frente a
corroso, ou seja, a resistncia corroso do material decai consideravelmente com a reduo
do cromo em soluo slida, o qual est de acordo com os resultados obtidos nos testes de
polarizao cclica do ao AISI 409 nitretado por plasma.
Pode-se perceber que no h picos referentes fase ferro alfa (-Fe) para a amostra
nitretada, isto indica que a nitretao foi efetiva em toda a superfcie. A presena de diferentes
tipos de nitretos (Fe2-3N e Fe4N) resultante da temperatura de nitretao utilizada
(BORGIOLI et al., 2005).
A posio e intensidade dos picos difratados, bem como sua correlao com os
padres de difrao retirada das cartas de cada composto qumico so apresentados na Tabela
6.
72
Referncia
do Pico
ngulo
2 ()
Intensidade
do Pico (cps)
d (distncia
Interplanar, )
Coincide com
Fase
-Fe
(h, k, l)
(1 1 0)
(2 0 0)
(2 1 1)
(2 2 0)
(3 1 0)
44.54
64.72
82.04
98.7
115.78
3808
682
502
156
320
2.026
1.433
1.170
1.013
0.906
38,46
41.18
43.36
57.68
76.9
248
194
280
618
58
2.380
2.190
2.090
1.610
1.240
43.84
63.52
76.22
618
54
46
2.068
1.463
1.249
CrN
(2 0 0)
(2 2 0)
(3 1 1)
41.16
47.84
69,76
84.02
214
114
118
120
2.191
1.897
1.342
1.144
' - Fe4N
(1 1 1)
(2 0 0)
(2 2 0)
(3 1 1)
- Fe2-3N (1 0 0)
(0 0 2)
(1 0 1)
(1 0 2)
(1 0 3)
* Informao retirada das cartas de cada composto qumico: (1) Carta do composto -Fe - Referencia
06-0696. (2) Carta do composto - Fe2-3N - Referencia 01-1236. (3) Carta do composto CrN - Referencia 110065. (4) Carta do composto ' - Fe4N - Referencia 06-0627.
73
Figura 39: Difratograma de raios-X do ao AISI 409 para as amostras nas condies F, NS, NST-950,
NST-1050, NSTR-9506 e NSTR-10506.
Tabela 7: Valor do ngulo e da intensidade dos picos para a mesma faixa de ngulo.
Referncia do
Pico
ngulo
2 ()
Intensidade
do Pico (cps)
Identificao
1 ( Fe)
64,78
64,78
280
274
NSTR-10506
NSTR-9506
1 ( Fe)
64,36
64,36
214
204
NST-1050
NST-950
1 ( Fe)
1 ( Fe)
64,5
64,72
116
682
NS
F
74
Figura 40: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies F, N e SHTPN, obtidos em soluo de
NaCl 0,5 mol/L.
75
curva apresentada para amostra N se deslocada para cima, ou seja, para maiores densidades de
corrente. Isto ocorre devido formao de nitretos de cromo, que elimina o cromo da soluo
slida dificultando a formao de uma camada passiva estvel no ao nitretado, o qual
diminui a resistncia corroso do material apresentando-se ativa em uma maior faixa de
potencial.
Este aspecto tambm foi relatado nos estudos realizados por Xi et al. (2008) para o ao
martenstico AISI 420 nitretado a 550 C e nos estudos relatados por Fossati et al. (2005) para
o ao austentico AISI 316L, no qual ambos os autores apresentam que aps a nitretao por
plasma ocorre aumento na dureza superficial, porm tm-se uma diminuio das propriedades
de resistncia a corroso, devido grande precipitao de CrN.
Gontijo et al (2005), Liang et al (2001), Collins et al, (1995) tambm relataram a
precipitao de nitretos de cromo na camada nitretada, no qual leva o empobrecimento de
cromo na matriz.
J com o processo de SHTPN o nitrognio presente na camada de compostos
difundido e se mantm em soluo slida, eliminando os nitretos de cromo estabilizando a
fase gama na temperatura de solubilizao e possibilitando a formao de martensita com teor
elevado de nitrognio (BORGES et al, 2011; MAFTOUN et al, 2011; REIS, MALISKA E
BORGES, 2011). Isto faz com que o a resistncia corroso do ao aps o processo de
SHTPN apresente resistncia corroso maior que a condio apenas nitretada. Este resultado
est de acordo com a literatura apresentada por Borges et al (2011). Contudo o potencial de
nucleao de pite (Ep) aps SHTPN (NS) inferior ao obtido para a amostra no estado de
fornecimento. Isto pode estar associado a heterogeneidades e tenses residuais elevadas na
camada.
A Figura 41 apresenta a comparao entre as amostras F, NS e aps os tratamentos
trmicos de tmpera (NST-950 e NST-1050). Em relao a condio no tratada (F), os
processos aps NST-1050 e NST-950 apresentaram um Ecorr mais deslocado para a direita, o
que indica potenciais mais nobres. Verifica-se tambm que a condio NST-1050 iniciou a
nucleao de pite com rpida repassivao em aproximadamente 305,09 mV. Contudo a
nucleao de pite s ocorreu em 372,09 mV, apresentando um comportamento prximo com a
condio F, que possui Ep de 380,64 mV.
Para ambas as condies de tmpera observam-se melhoras no potencial de nucleao
de pite se comparado com a condio SHTPN, contudo os valores para NST-1050 e NST-950
so similares aos encontrados para o estado de fornecimento (F). Verifica-se tambm que as
densidades de corrente da regio passiva so inferiores aos valores obtidos para as demais
76
condies aqui apresentadas. Isto deve estar associado a maior homogeneidade obtida no
segundo ciclo de aquecimento, bem como ao refinamento da microestrutura com possvel
reduo das tenses residuais. Alm disto, deve se considerar o efeito do nitrognio, pois este
reage na rea andica, neutralizando o efeito da acidez, o que leva a um aumento dos
potenciais de corroso e de passivao e consequentemente uma melhora na resistncia
corroso do ao (ZHU e LEI, 2000).
Figura 41: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies F, NS, NST-950 e NST-1050, obtidos em
soluo de NaCl 0,5 mol/L.
77
Figura 42: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies NSTR-9502, NSTR-9504 e NSTR-9506 e F
medidos em soluo de NaCl 0,5 mol/L.
78
Figura 43: Curvas potenciodinmicas cclicas para as condies NSTR-10502, NSTR-10504, NSTR-10506 e
F medidos em soluo de NaCl 0,5 mol/L.
79
Amostra
F
N
NS
NST-950
NST-1050
NSTR -9502
NSTR -9504
NSTR -9506
NSTR -10502
NSTR -10504
NSTR -10506
Ecorr (mV)
58,6
-208,47
58,6
87,3
117,09
55,85
36,08
23,96
74,34
3,59
-43,57
Ep (mV)
380,64
270,64
345,28
372,09
419,85
190,96
250,96
422,34
60,1
303,43
Er (mV)
83,85
104,64
-
A Figura 44 mostra o aspecto final da superfcie, por MEV, para a amostra em estado
de fornecimento aps os ensaios de polarizao cclica.
80
Figura 44: Micrografia obtida por MEV da superfcie da condio F aps ensaios de polarizao cclica.
Pode-se observar por esta figura a presena de poucos pites sendo estes rasos e largos,
como possvel observar no detalhe.
As Figuras 45 e 46 apresentam as imagens por MEV para as amostras na condio
NSTR-9502 e NSTR-10502, respectivamente. Observa-se que a micrografia apresentada na
Figura 45 (NSTR-9502) encontra-se praticamente idntica condio NSTR-10502 (Figura
46). Um aspecto semelhante foi observado para as outras temperaturas de revenido, ou seja,
no foram observadas diferenas significativas nas imagens obtidas por MEV para as
temperaturas de tmpera a 950 C e 1050 C nas mesmas condies de revenido. A diferena
apenas se concentrou na intensidade do ataque com o aumento da temperatura de revenido.
81
Figura 45: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9502 aps ensaios de
polarizao cclica.
Figura 46: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10502 aps ensaios de
polarizao cclica.
82
Figura 47: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9504 aps ensaios de
polarizao cclica.
83
Figura 48: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10504 aps ensaios de
polarizao cclica.
Com base nas imagens obtidas por MEV, apresentadas nas Figuras, pode se verificar
que o mecanismo de corroso muda com as condies estudadas. As amostras no estado de
fornecimento (F) e nas condies NSTR-9502 e NSTR-10502 apresentam formao de pites
aleatrios com formao de pequenas reas andicas e grandes reas catdicas. J para as
amostras revenidas a 400 C (NSTR-9504 e NSTR-10504) identifica-se regies com ataque
mais intenso em contorno de gro. Esta mudana de mecanismo se deve a precipitao de
nitretos de cromo nos contornos de gro, com consequente maior intensidade do ataque na
superfcie do ao como possvel observar no detalhe das Figuras 47 e 48.
A Figura 49 apresenta, em ampliao maior, um dos pites formado na superfcie do
ao AISI 409 aps ensaio de corroso para a condio NSTR-9504. Na Figura possvel
observar claramente a corroso em contorno de gro indicando uma possvel precipitao de
nitretos de cromo (indicado pela seta).
84
Figura 49: Micrografia obtida por MEV da superfcie de um pite formado aps polarizao cclica para a
condio NSTR-9504.
Na Figura 49 possvel identificar claramente que a corroso por pite ocorre mais em
profundidade do que sobre a superfcie. Aspecto este, j confirmado em diversos estudos
(SOLOMON E DEVINE, 1982), que as cavidades podem ser pequenas em dimetro, porm
grandes em relao sua profundidade.
Tendo em vista as imagens obtidas por MEV e as curvas de corroso, no qual o
potencial de Ecorr para NSTR-9502 e NSTR-10502 maior, acredita-se que o para o tratamento
trmico de revenimento a baixa temperatura, as camadas sejam mais nobres que o substrato,
apresentando poucos defeitos superficiais e reas com menor depleo em cromo. Ou seja,
como as regies no corrodas indicam as regies mais nobres do material, tm-se para
menores temperaturas de revenido, poucas regies com fases menos nobres, o que resulta em
uma corroso localizada apenas em alguns pontos da superfcie, conforme foi observado para
as condies NSTR-9502 e NSTR-10502 nas Figuras 45 e 46.
As Figuras 48 e 49 apresentam as micrografias da superfcie, obtida por MEV, para a
condio NSTR-9506 e NSTR-10506 aps ensaios de polarizao cclica.
85
Figura 50: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-9506 aps ensaios de
polarizao cclica.
Figura 51: Micrografia obtida por MEV da superfcie para a condio NSTR-10506 aps ensaios de
polarizao cclica.
86
87
6. CONCLUSES
88
89
8. PRODUO CIENTFICA
90
9. REFNCIAS BIBLIOGRFICAS
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