ESCUELA SUPERIOR POLITCNICA DEL LITORAL

FACULTAD DE INGENIERIA MECNICA Y CIENCIAS DE LA

PRODUCCIN
PROFESOR:
Ing. Grace Vera
Materia:
Laboratorio de Ciencias de Materiales

PRACTICA N 5: DETERMINACION DE ESTRUCTURAS

CRISTALINAS POR DIFRACCIN DE RAYOS X
NOMBRE:
Juan Andrs Castro Montoya
FECHA DE LA PRCTICA:
27 de enero
FECHA DE ENTREGA DEL INFORME:
9 de febrero
PARALELO:
103
AO LECTIVO:
2015-2016

DETERMINACION DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS POR DIFRACCIN DE RAYOS X

Resumen
Para estudios de difraccin de rayos X, la muestra cristalina se muele hasta obtener un
polvo fino homogneo. De esta manera, el enorme nmero de pequeos cristales est
orientado en todas las direcciones posibles; y por tanto, cuando un haz de rayos X
atraviesa el material, se puede esperar que un nmero significativo de partculas est
orientado de tal manera que cumpla la condicin de Bragg para la reflexin de todos los
espaciados interplanares posibles.
Este polvo se lo coloca en un recipiente circular que consiste de dos tapas en las cuales
una de ellas tiene una rendija en la cual se podr ver el material compactado luego de
ejercerle cierta presin con una base para este tipo de recipientes, se limpi la superficie
del exceso del polvo sobre la cara que posee la rendija para posteriormente ponerla en
el portamuestra del Difractometro de rayos x Xpert Pro asegurndose siempre que el
Chiller este encendido.
Este equipo posee un software llamado Xpert data collector con el cual se obtienen los
diferentes picos en el diagrama de difraccin los cuales se guardaron para luego ser
analizados con otro software llamado Xhighscore plus el cual arroja graficas similares
con las que pudimos comparar y conocer que el material desconocido realmente era
aluminio.
Enfoque experimental

Imagen 1Difractometro Xpert

El difractmetro de rayos X funciona

en base a la ley de BRAGG, la cual
nos dice que el ngulo de incidencia
de la longitud de onda debe ser igual
al ngulo de difraccin. Los
estructura interna que poseen los
cristales tiene ciertas caractersticas
especficas,
poseen
una
estructura molecular ordenada y
tienen patrones de repeticin
formando una especie de planos en
el espacio, el difractmetro se ha
diseado de tal manera que hace
incidir sobre las muestras un haz de
rayos X, estos rayos chocan contra
los diferentes planos formados
dentro de la muestra y debido a que
algunos planos no cumplen con la

ley de BRAGG esto no nos otorga

ningn dato sobre el cristal, por tal
razn el diseo esta hecho de tal
manera que el ngulo de incidencia
del haz vari respecto a la familia de
planos y as todos cumplan con esta
ley. Para esto es aconsejable hacer
polvo la muestra a analizar, lo que
produce pequesimos cristales del
mismo
material
pero
diferentemente orientados, al
incidir los rayos X se produce un
estado de excitacin en los tomos
de la muestra lo que hace que se
libere energa debido a la perdida de
electrones
produciendo
una
Imagen 2 Cabina Difractometro Xpert
descarga de rayos X difractndose
nicamente aquellos que cumplan
con la ley de BRAGG, el resto de fragmentos que no lo cumplen no otorgan nada acerca
de la estructura de nuestra muestra. El detector de rayos X capta la intensidad de luz
que llega a diferentes ngulos y en base a esto genera una grfica caracterizada por
presentar muchos picos lo cual nos permite identificar en que ngulos se obtuvo mayor
intensidad de luz difractada.
Equipo

Difractmetro de Rayos X Panalytical

Modelo

Xpert PRO

Serie

12NC943003040601

Cdigo

EM-001-00

Materiales
Metal desconocido
Condiciones de prueba:
Temperatura:
Tambiente (25C)
nodo:

Cobre
Posicin inicial:
25
Posicin final:
100
Paso 2
0.017
ANALISIS DE RESULTADO

Ilustracin 1Difractograma del metal desconocido

Ilustracin 2 Difractograma delCooper zinc selenide

Ilustracin 3 Difractograma del Aluminio

Ilustracin 4 Difractograma del Chromferide

Ilustracin 5 Difractograma de Colombium

Ilustracin 6 Difractograma Aluminio Cobalto

Gracias a la ayuda de la biblioteca del software que nos dio las diferentes graficas
anteriores se puede analizar mediante la ubicacin y la amplitud de los picos de que
material se puede tratar nuestra muestra y el difractograma que se acerca ms a la de
nuestra muestra es la del aluminio ya que los valores de la ubicacin de los picos son
los mismos y su amplitud es muy cercana a la del difractograma que arrojo el software
Xpert data collector.
Conclusin
Se ha cumplido con el objetivo de conocer la interaccin de rayos X con la materia, se
logr conocer que al incidir rayos X sobre la estructura interna de un material, se
puede determinar que si la intensidad es alta entonces se dice que este material tiene
una estructura molecular interna con propiedades cristalinas.

Se ha logrado una mayor comprensin acerca del funcionamiento del difractmetro de

rayos X, y las aplicaciones para las cuales los rayos X son tiles como la identificacin del
tipo de materiales, mediante la ionizacin de los tomos que componen a la muestra
produciendo un estado de excitacin lo que produce emisiones de energa en forma de
haces de luz con diferentes frecuencias y longitudes de onda.

CUESTINARIO
1. Para qu tipo de materiales sirve esta tcnica?
Para materiales con redes cristalinas.
2. Puede utilizar esta caracterizacin para polmeros?
No sera lo indicado, ya que el difractometro produce calor y los polmeros se pueden
subir su temperatura, y no dejara que el equipo trabaje con normalidad y stos se
fundiran.
3. Que otra aplicaciones adicionales a las de identificar compuestos se utiliza?
Fue diseado slo para realizar el patrn de interferencia y reconocer materiales.

4. Esta tcnica permite determinar si un material es alotrpico?

Si, ya que cambia sus propiedades ciertos materiales alotrpicos absorbiendo la energa
que generan los rayos X, debido a la configuraciones de redes cristalinas, absorben dicha
energa y lo podemos observar en su grfica I vs 2.