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Muestreo de seales
5.1. Introduccin
En los captulos anteriores se han tratado diferentes aspectos de las seales discretas, sin
importar su origen. En este captulo se considera que las seales discretas estn relacionadas con una seal de tiempo continuo; en otras palabras, las sucesiones discretas
sern consideradas como la representacin de una seal continua. Es notable que, bajo
ciertas restricciones, una seal continua en el tiempo pueda ser representada solamente
por algunos de sus valores, correspondientes a determinados instantes (discretos) de
tiempo, y tambin que pueda ser recuperada a partir de ellos. Esta propiedad sorprendente es consecuencia de un resultado bsico que se conoce como teorema del muestreo.
Este teorema es extremadamente importante y muy til, y sus resultados se explotan en
infinidad de aplicaciones. Por ejemplo, una pelcula de cine est formada por un conjunto
de cuadros fijos, cada uno de los cuales representa una vista instantnea (una muestra) de
una escena animada. Cuando estos cuadros fijos se miran como una sucesin temporal, a
una velocidad suficiente, se percibe una representacin fiel de la escena animada orig-inal.
Otro ejemplo (fuera del campo de la ingeniera electrnica) es una foto impresa en un
diario. Estas imgenes suelen estar formadas por pequeos puntos aislados, de tres o
cuatro colores que corresmponden a muestras espaciales de la imagen a representar. Si la
separacin espacial de los puntos (las muestras) es suficientemente pequea, desde una
cierta distancia dan la impresin de una imagen continua; solo el exmen con una lupa
revela la naturaleza discreta.
La importancia del teorema del muestreo radica en que establece un puente entre las
seales de tiempo continuo y las de tiempo discreto. Como se discutir en detalle, la
posibilidad de representar completamente una seal continua por una sucesin de muestras instantneas (bajo ciertas condiciones) establece una manera de representar seales
continuas por seales discretas. En muchos contextos, el procesamiento de las seales
discretas permite mayor flexibilidad y a menudo es preferible al tratamiento de seales
continuas, en parte debido a la existencia de hardware digital poderoso, programable y
bajo costo. Esta tecnologa ofrece la posibilidad de explotar el concepto de muestreo para
convertir una seal continua a una discreta, y luegor de procesarla ustilizando un sistema
discreto, volver a convertirla para tener nuevamente una seal de tiempo continuo. En
otras palabras, el procesamiento de seales continuas puede implementarse como la cas1
5. Muestreo de seales
Fig. 5.2. Tres seales de tiempo continuo que toman idnticos valores en los enteros
mltiplos de T.
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Fig. 5.3. Muestreo con un tren de impulsos peridico seguido por una conversin a una sucesin
discreta. Modelo matemtico (a); la seal xs(t) para dos perodos de muestreo T = T1 y T
= T2 (b); sucesin de salida para dos perodos de muestreo distintos (c).
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5. Muestreo de seales
nT),
(donde d(t) es el delta de Dirac estudiado en el Captulo 2) con la seal continua xc(t):
xs(t)
= xc(t)pT (t)
= xc(t) d(t nT).
(5.2)
(5.3)
representada en la Fig. 5.3(b) . La transformada de Fourier de x s(t) puede calcularse fcilmente aplicando propiedades. La seal x s(t) es el producto de la seal continua x c(t) y
del tren de impulsos pT (t); por lo tanto, la transformada de Fourier X s( f ) de xs(t) es la
convolucin entre las transformadas de Fourier Xc( f ) de xc(t) y PT ( f ) de pT (t):
Xs( f ) = Xc( f ) PT ( f ),
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Fig. 5.4. Efectos en el dominio frecuencia del muestreo en el dominio tiempo. Espectro
de la seal original (a); espectro del tren de impulsos (b); espectro de la seal
muestreada con Fs > 2 fN (sin aliasing ) (c).
Xs( f ) =
Xc(n)PT ( f n)dn.
p ( t) =
T
d(t nT)
() PT ( f ) =
k d
se tiene que
k
T
d f
Xs( f ) =
Xc( f ) 1
Xc f k
T
(5.4)
T
1
(5.5)
= k Xc ( f kFs) .
T
nT) = xc(nT)d(t
nT)
que expresa que mutiplicar una funcin continua por un impulso es lo mismo que
escalar el impulso por el valor de la funcin continua en el lugar donde est aplicado el
impulso. En cambion, en la ecuacin (5.4) se aplica la propiedad de convolucin de
una funcin continua por un impulso
k = Xc f
k
Xc( f ) d f
T
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.5. Efectos en el dominio frecuencia del muestreo en el dominio tiempo. Espectro
de la seal original (a); espectro del tren de impulsos (b); espectro de la seal
muestreada con Fs < 2 fN (con aliasing ) (c).
Xc( f ).
Esta ltima figura permite apreciar que si la frecuencia de muestreo F s y la mxima
com-ponente frecuencial fN de la seal satisfacen la relacin
(5.6)
fN < Fs fN , o Fs > 2 fN
las rplicas de Xc( f ) desplazadas en mltiplos de Fs no se superponen cuando se
suman segn expresa la ecuacin (5.5). Es decir, en cada mltiplo entero de F s se
tiene una copia fiel del espectro original.
Si la desigualdad (5.6) no se satisface, es decir, si Fs 2 fN las rplicas desplazadas de
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Xc( f ) se superponen como se representa en la Fig. 5.5. En la Fig. 5.5(a) se muestra nuevamente la transformada de Fourier de una seal de banda limitada con mxima componente frecuencial fN , que en este caso es mayor que F s/2. En la Fig. 5.5(b) se representa
la transformada de Fourier del tren de impulsos peridicos, que son impulsos separados F s
entre s; comparando estas dos figuras se observa que f N > Fs/2. La convolucin de estas
dos seales resulta en la seal xs(t) cuyo espectro Xs( f ) se grafica en la Fig. 5.5(c) . En
lneas de trazo se grafican las rplicas cada F s del espectro Xc( f ). La suma de estar
rplicas da como resultado el espectro representado por un trazo continuo grueso. En este
caso, en cada mltiplo de F s no queda centrada una copia fiel del espectro original X c( f ),
sino que aparece un espectro distorsionado.
Esta discusin es la base del Teorema del Muestreo de Nyquist, desarrollado por
Kotel-nikov en Rusia en 1933 (pero desconocido en occidente), por Nyquist en 1928, y
refor-mualdo por Shannon en 1949 en un marco ligeramente diferente, que se puede
enunciar de la siguiente manera:
Teorema del muestreo: Sea xc(t) una seal de banda limitada, cuya
transfor-mada de Fourier satisface
Xc( f ) = 0 para j f j > fN .
(5.7)
El tren de impulsos xs(t) modulado por xc(t) se aplica a un sistema lineal e invariante
en el tiempo con respuesta en frecuencia Hr( f ). Si Xc( f ) tiene la transformada de
Fourier que se muestra en la Fig, 5.6(b) , y si se supone que F s > 2 f N , el espectro de
Xs( f ) es el que se representa en la Fig. 5.6(c) . El espectro de la seal x t(t) a la salida
del filtro tiene un espectro Xr( f ) dado por
Xr( f ) = Hr( f )Xs( f ).
Si Hr( f ) es un filtro pasabajos ideal con ganancia T = 1/Fs y frecuencia de corte fc
(
H r( f ) =
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T, j f j < fc,
0, en caso contrario,
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.6. Recuperacin exacta de una seal continua a partir de sus muestras usando un
ltro pasabajos ideal Hr( f ).
fN
entonces
Xr( f ) = Xc( f ),
como se muestra en la Fig. 5.6(e) .
La Fig. 5.7 muestra el fenmeno de aliasing en el dominio frecuencial para el caso de
una seal senoidal de frecuencia f0. La frecuencia de muestreo es F s, y en las Figs.
5.7(a)-(d) se estudia el caso en que f0 < Fs/2; es decir, se cumple la desigualdad (5.6)
del teorema del muestreo. En las Figs. 5.7(e)-(h) se analiza qu ocurre si F s > f0 >
Fs/2, cuando no se cumple esta condicin.
En la Fig. 5.7(a) se muestra el espectro Xc( f ) de la seal
xc(t) = A cos(2p f0t),
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Fig. 5.7. Muestreo de una seal cosenoidal que satisface las condiciones del Teorema de
Nyquist (a)-(d), y de otra que no las cumple (e)-(h).
que es
A
X ( f ) = d( f
c
2
f )+
0
d( f f ).
0
cuando f0 < Fs/2, y en la Fig. 5.7(e) cuando f0 > Fs/2. Para facilitar la lectura del
grfico, se han diferenciado las componentes de frecuencia positiva y negativa (lnea
continua y lnea de puntos, respectivamente). La transformada de Fourier de x s(t) se
representa en la Fig. 5.7(b) para el caso f0 < Fs/2, y Fig. 5.7( f ) para f0 > Fs/2. Mientras
que en el primer caso las rplicas de frecuencia f 0 + kFs, con k 2 Z, aparecen a
frecuencias mayores que f0 (y menores que f0), en el segundo ( f0 > Fs/2) algunas
rplicas tienen frecuencia menor que f 0, por ejemplo, la componente de frecuencia F s
f0 a la derecha del origen en la Fig. 5.7( f ) . En las Fig. 5.7(c) y (g) se muestra la
respuesta en frecuencia del filtro reconstructor con frecuencia de corte f c = Fs/2.
Finalmente, la seal xr(t) recuperada a la salida del filtro reconstructor tiene el espectro
que se muestra en la Fig. 5.7(c) cuando f0 < Fs/2, y en la Fig. 5.7(e) para f0 > Fs/2.
El caso representado en la columna derecha de la Fig. 5.7 est afectados por aliasing.
Si no hay aliasing, la seal obtenida a la salida del filtro reconstructor es
xr(t) = A cos(2p f0t)
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xc(t),
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5. Muestreo de seales
xr(t) = A cos[2p(Fs
Esta expresin muestra que la seal xc(t) = A cos(2p f0t) ha tomado la identidad
(alias) de la seal de frecuencia menor A cos[2p(Fs f0)t] como consecuencia del proceso de muestreo y reconstruccin.
()e 2pt f ,
2pT f n
jw
jwn
, resulta que
X ( f ) = X(ejw)
s
w=2pT f =2p
(5.9)
Fs
jw
o bien
X(e
jw
)=
f
Fs
1
= T
Xc ( f kFs)
k X c ( f
2p
f =w
(5.10)
kFs)
s
2p
(5.11)
kFs
jw
De las ecuaciones (5.9) a (5.11) se observa que X(e ) es una versin escalada en
frecuen-cia de Xs( f ), segn w = (2p/Fs) f . Este escalado puede pensarse tambin como
una normalizacin del eje de frecuencias de manera que la frecuencia f = F s en Xs( f ) se
jw
nor-maliza a w = 2p en X(e ). Este escalado frecuencial o normalizacin en la transformajw
cin de Xs( f ) a X(e ) est asociado a una normalizacin por T en el dominio temporal de
xs(t) a x[n], tal como se pone de manifiesto en la Fig. 5.3. En esta figura x s(t) tiene un
espaciado entre muestras igual a un perodo de muestreo T, mientras que el espaciado
entre muestras de x[n] es siempre la unidad. Si el eje de tiempos est normalizado por un
factor T, el eje de frecuencias se normaliza por un factor 2pT = 2pFs.
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Fig. 5.8. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta x[n]
(b) que resultan de muestrear una seal continua x c(t) = A cos(2p2000t) a una
frecuen-cia de muestreo Fs = 6 kHz (Ejemplo 5.1).
6000
Fs
donde w0 = 2p f0/Fs = 2p/3. En este caso Fs = 6 kHz y la mxima componente frecuencial de x c(t) es
f0 = 2 kHz, de modo que f 0 < Fs/2: se satisfacen las condiciones del teorema del muestreo, y no habr
distorsin por solapamiento (aliasing ). La transformada de Fourier de xc(t) es
X ( f ) = d( f + f ) + d( f
c
0
2
2
f ),
0
Xs( f ) =
(5.13)
Xc( f + kFs)
A d( f + kF + f ) + A
s
0
2T
2T
d( f + kFs
f0).
Fs
2p
f0)
f =w
2p
Fs
2T d w 2p + kFs + f0 + 2T d
Fs
w 2p
+ kFs
f0
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.9. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta x[n]
(b) que resultan de muestrear una seal continua xc(t) = A cos(2p8000t) a una
frecuencia de muestreo Fs = 6 kHz (Ejemplo 5.2).
s
=
d 2ps
f
+ f0 Fs
w + kF
+
d 2p w + kFs Fs 0
k 2T
s
A
A
Fs
F
2p
F (w + 2pk + w )
0
k 2T d
2T
2p
A
2p
2T
Fs
AF
F
d
2p
(w
2p
2p
,
+ 2pk w0)
donde se utiliz el reemplazo 2p f0/Fs = w0. Aplicando ahora la propiedad de escalado del
impulso, d(aw) = (1/jaj)d(w) se tiene que
jw
X(e ) = A 2p
d (w + 2pk + w0) + A 2p
d (w + 2pk w0) ,
2T Fs
2T Fs
k
w0 ) .
jw
En otras palabras, el espectro X(e ) de x[n] est formado por un par de impulsos de rea
pA ubicados en la frecuencia w = w0, replicados cada 2p, que efectivamente corresponde al
espectro de una seal discreta de tipo coseno, de amplitud A, como se estudi en el
Captulo 3. El espectro de esta seal se graca en la Fig. 5.8(b) . Se observa que la
frecuencia original f0 = 2 kHz corresponde a la frecuencia normalizada w0 = ( f0/Fs)2p =
2p/3, que satisface la desigualdad w0 < p, que corresponde a que f0 < Fs/2. En la Fig. 5.8(a)
se muestra tambin la respuesta en frecuencia del ltro reconstructor ideal H r( f ) para la
frecuencia de muestreo de Fs = 6 kHz. Es evidente de la gura que la seal x r(t) obtenida a
la salida del ltro reconstructor ser idntica a la seal continua x c(t), es decir, la seal de
salida ser un coseno de la misma frecuencia que la seal de entrada, f 0 = 2 kHz.
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(5.14)
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n
A
cos
2pn
+
2pn
=
= A cos
n
2pn ,
que coincide con la x[n] dada por (5.12) (se puede agregar cualquier mltiplo de 2p al
argumento del coseno sin cambiar su valor). En otras palabras, se obtiene la misma
sucesin discreta x[n] = A cos(2pn/3) al muestrar dos seales continuas diferentes con la
misma frecuencia de muestreo. En un caso (Ejemplo 5.1) la frecuencia de muestreo
satisface el criterio de Nyquist, y en el otro no (este ejemplo).
En la Fig. 5.9(a) se representa tambin la respuesta en frecuencia H r( f ) del ltro
reconstructor ideal para la frecuencia de muestreo F s = 6 kHz. Se desprende de esta gura
que la seal xr (t) a la salida del ltro reconstructor ideal es
xr (t) = A cos(2p2000t)
es decir, es una seal de frecuencia f0 = 2 kHz, que no es la frecuencia de 8 kHz de la seal original
xc(t) dada por (5.14).
Los Ejemplos 5.1 y 5.2 revelan que dos seales distintas pueden resultar en la misma
seal discreta x[n] usando al misma frecuencia de muestreo. Este fenmeno se puede
comprender mejor con la ayuda de la Fig. 5.10. La seal de frecuencia f 0 = 2 kHz se
muestra en la Fig. 5.10(a) con trazo continuo. Las muestras, tomadas cada T = 1/F s = 1/6
ms, estn superpuestas en el mismo grfico. En este caso, se toman tres muestras por
cada perodo de la seal, lo que muestra que la frecuencia de muestreo es mayor que el
doble de la frecuencia del coseno (en el caso lmite, en que T = 1/F s = 2 f0 habra
exactamente dos muestras por perodo). En la Fig. 5.10(b) se muestra la seal del Ejemplo
5.2, de frecuencia f0 = 8 kHz, muestreada a la misma frecuencia F s = 6 kHz. Aqu es
evidente que se toma menos de una muestra por ciclo de las seal continua x c(t), y por lo
tanto no se cumple el teorema del muestreo. Sin embargo, el patrn de las muestras se
repite cada cuatro ciclos de la seal. Las Figs. 5.10(a) y 5.10(b) ponen de manifiesto que
las seales continuas son de diferente frecuencia, pero que muestras de la seal x c(t)
tomadas cada T segundos del Ejemplo 5.1 coinciden con las muestras de la seal x c(t) del
Ejemplo 5.2, tambin tomadas cada T segundos, como se muestra en la Fig. 5.10(c) .
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.10. Interpretacin del aliasing en el dominio tiempo. Seal del Ejemplo 5.1, de
frecuencia f0 = 2 kHz muestreada a Fs = 6 kHz y sus muestras (a); seal del
Ejemplo 5.2, de frecuencia f0 = 8 kHz muestreada a la misma frecuencia F s =
6 kHz y sus muestras ( b); detalle de la seal discreta que resulta de muestrar las
seales continuas de ambos ejemplos (c).
Sin embargo, en este ejemplo la frecuencia de muestreo es F s = 1,5 kHz, que no cumple con el criterio
de Nyquist, porque la mayor frecuencia de la seal, que es f0 = 2 kHz no es menor que la mitad de la
frecuencia de muestreo Fs/2 = 750 Hz. Por este motivo, nuevamente ocurrir distorsin
f = 500
= 500 Hz ocurre
) de la seal
por la presencia del trmino Xc( f kFs) con k = 1. El grco del espectro X(e
discreta x[n] se muestra en la Fig. 5.11(b) , que resulta idntico al de la 5.8(b) . Nuevamente, esto
por aliasing. La Fig. 5.11(a) muestra el espectro de xs(t) para este caso. El impulso en
Xc
f kFs
) con
en (5.13), y el impulso en
A cos 2p f0 Fs
jw
Fs = 1,5 kHz resulta en la misma seal discreta x[n] de los Ejemplos 5.1 y 5.2:
x[n] =
3 pn = A cos
3 + 2 pn
2
pn ,
xr (t) = A cos(2p500t),
es decir, un tono de frecuencia 500 Hz que es distinto del tono de frecuencia f 0 = 2 kHz de la seal
continua original xc(t).
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Fig. 5.11. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta
x[n] (b) que resultan de muestrear una seal continua xc(t) = A cos(2p2000t) a
una frecuencia de muestreo Fs = 1,5 kHz (Ejemplo 5.3).
Los Ejemplos 5.1 y 5.3 muestran que se puede obtener la misma seal discreta x[n] de
muestrear la misma seal continua xc(t) con dos tasas de muestreo distintas, si una de
ellas no satisface el teorema del muestreo. La interpretacin temporal se muestra en la Fig.
5.12. La seal de frecuencia f 0 = 2 kHz del Ejemplo 5.1 se repite nuevamente en la Fig.
5.12(a) , con una escala de tiempo diferente. Las muestras de la seal ocurren ca-da T =
1/Fs = 1/6 ms, y la figura revela que se toman tres muestras por ciclo de la seal continua,
verificando los requisitos del teorema del muestreo. En la Fig. 5.12(b) se representa la
seal del ejemplo 5.3, de la misma frecuencia f 0 = 2 kHz que en el caso anterior, pero
muestreada a intervalos mayores, de T = 1/F s = 2/3 ms (cuatro veces ms lento). La figura
pone de manifiesto que se viola el teorema del muestreo porque aparecen menos de una
muestra por ciclo de la seal continua. Sin embargo, si se grafi-can las sucesiones
discretas en funcin del nmero de muestras, como en la Fig. 5.12(c) , se obtiene la misma
secuencia temporal en ambos casos. Es decir que an cuando no se cumplen los
requisitos del teorema del muestreo, las muestras de la seal del Ejemplo 5.3 son las
mismas que se obtienen al muestrear la seal correctamente. En otras palabras, an
muestreando mal se obtienen las muestras correctas. Este efecto es aprovechado
ventajosamente en algunas aplicaciones, como en los osciloscopios diseados para visualizar seales peridicas de frecuencias del orden del GHz, o en una clase especial de
muestreo, denominado muestreo pasabanda. La clave en estos casos es saber que la
seal es de banda limitada, y conocer el rango de frecuencias donde est definida.
Los Ejemplos 5.1, 5.2 y 5.3 muestran porqu en las mayora de las aplicaciones es tan
importante cumplir con el Teorema de Nyquist, ya que de esta forma se tiene la certeza
que la seal discreta x[n] est asociada a una nica seal continua xc(t) y viceversa.
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.12. Interpretacin del aliasing en el dominio tiempo. Seal del Ejemplo 5.1, de
frecuencia f0 = 2 kHz muestreada a Fs = 6 kHz y sus muestras (a); seal del
Ejemplo 5.3, de la misma frecuencia f 0 = 2 kHz que la seal del Ejemplo 5.1
pero muestreada a Fs = 1,5 kHz y sus muestras (b); detalle de la seal
discreta que resulta de muestrar las seales continuas de ambos ejemplos (c).
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Fig. 5.13. Otra interpretacin de los efectos del muestreo en el dominio frecuencial.
Espectro de la seal original (a); efecto del muestreo (b); espectro de la se`nal
muestreada xs(t) (c).
Estos problemas no se producen con seales que tengan ancho de banda finito, y que
satisfagan las hiptesis del teorema del muestreo. No obstante, no siempre se conoce
con certeza si la seal es de ancho de banda limitado o no, o si tiene componentes frecuenciales por encima de Fs/2. Para evitar estos inconvenientes es frecuente utilizar
un filtro, conocido como prefiltro o filtro antialiasing, que se coloca antes del conversor
C/D y que limita el contenido frecuencial de la seal continua x c(t) al intervalo entre
Fs/2, tal como se analiza en la Seccin 5.11.1.
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5. Muestreo de seales
j2p f Tn
x[n] = e
j2p
=e
0 n
F s
= e W0
Tn
jw n
=e
= f0 2p = 2p f0T.
(5.15)
Fs
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5. Muestreo de seales
2p f0
Fs
Esta cantidad no es otra cosa que la frecuencia digital, que se mide en radianes por muestra
(Seccin 5.5). En funcin de la frecuencia digital w, la seal sinusoidal muestreada es
j2p f nT
x[n] = xc (nT) = e
jw n
=e
Fs
Como la frecuencia
= Fs corresponde a w = 2p, las rplicas de las frecuencias f > Fs/2
= ((w))
w = 2p f
f aparecen en
= 2p
a
( ) s
2p
Fs
donde (( ))M indica la operacin mdulo M. Esta operacin es una extensin natural de
la operacin definida en el Captulo 4, ya que M puede ser un nmero real, y no
necesari-amente un entero. Se define como
((x))y = x
ny,
con n = bx/yc donde b c es la funcin piso: bxc es el mayor de los enteros menores
que x.
La cantidad f T = f /F s representa el nmero de revoluciones que gira la rueda durante
el intervalo T entre destellos. Si j f0j < Fs/2 en este lapso de tiempo la rotacin es
menor que media revolucin. En cambio, si la rueda gira a una frecuencia superior a la
frecuencia Fs = 1/T, por ejemplo f1 = f0 + mFs, donde f 0 2 [ Fs/2, Fs/2), entonces
durante el tiempo T rotar
f1T = ( f0 + mFs)T = f0T + m
vueltas: habr girado m revoluciones completas ms una fraccin w0 = f0T. Si el disco
est iluminado solamente por los destellos, un observador es incapaz de percibir estas
m revoluciones extras y no puede distinguir si la rueda gira a f 1 rev/s o a f0 rev/s: la
velocidad de rotacin percibida por el observador es siempre
(5.16)
f = (( f )) s .
a
Los siguientes ejemplos ilustran este punto. En todos los casos se supone que el
intervalo de tiempo T entre los destellos es T = 1/4 de segundo, o bien F s = 4 Hz. En
los esquemas frecuenciales, la flecha continua indica la frecuencia real de oscilacin,
la flecha de trazos discontinuos la frecuencia de los destellos, y la flecha hueca las
rplicas de las compo-nentes frecuenciales del espectro discreto. Un par de lneas
punteadas seala el intervalo de Nyquist [ Fs/2, Fs/2) o [ p, p), segn corresponda.
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Fig. 5.16. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 1 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.
Fig. 5.17. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 5 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.
1/4 rev
= 1 rev/s.
1/4 s
4 = 1.
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5. Muestreo de seales
Fig. 5.18. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 9 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.
Fig. 5.19. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a ( 3)
rev/s (a). Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces
por segundo.
3))4 =
3 + 4 = 1.
En el siguiente ejemplo se muestra que si una rueda gira a una velocidad menor que
1/2 revolucin entre instantes de muestreo, es decir que f T < 1/2 o w = 2p f T < p, el
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23
Fig. 5.20. Discos girando a diferentes velocidades: f 1 = 1,5 Hz (a); f2 = 2 Hz (b); f3 = 2,5
Hz (c); f4 = 4 Hz (d). En todos los casos la frecuencia de los destellos es F s =
4 Hz.
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24
5. Muestreo de seales
0, si t = 0 o t = 0,5,
t < 1 por
>
x(t) =
2p kt
bk sen
k impar
bk sen(2p fkt)
k impar
k!
muestreo Fs
A
Fs = 4 Hz wk = (( fk
B
Fs = 8 Hz wk = (( fk
2
2
))FsA
F
s
))FsB
1
1
5
1 1
fk = k/T
11 13 15
1 11
31
331
En este ejemplo, las frecuencias que yacen fuera del intervalo de Nyquist aparecen replicadas dentro de la banda con un patrn bien definido. De esta forma se puede encontrar
Procesamiento Digital de Seales
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2011
25
bk sen
2p fk n
Fs
k impar
2p
= b sen
1
Fs
2
p
bk sen
m impar
Fs
2p
w1n + b3 sen F
A
2p
wk n
= 4 Hz resulta
s
2p
xA[n] = (b1 b3 + b5 b7 + b9 b11 + ) sen
donde
A=
4
(b
1+4k
3+4k
Fs
)=
2p
A
sen
A
w1n =
Fs w1n
k=0
+ 4k
p k=0 1 + 4k 3
(5.17)
= B sen
Fs
2p
2p
B
Fs w1n+(b3 b5 +b11 b13 + ) sen
Fs
w3n
2p
w1n + C sen
B
Fs w3n ,
donde
B =
C =
(
b1+8r
)=
7+8r
r=0
(
b3+8r
r=0
r=0
)=
5+8r
r=0
1 + 8r
7 +8r
1
3 + 8r
5 +8r
(5.18)
(5.19)
b(m, M) =
r=0
(5.20)
m + Mr M m + Mr
=
Z
0
M m + Mk
(e mx e (M
m)x
)e
Mkxdx,
(5.21)
cada uno de los trminos de (5.20) se puede reemplazar por la integral de (5.21). In
tercambiando el orden de la sumatoria y la integracin, y recordando que k=0 e
Mkx
Mx
= 1/(1 e ) para xb(m,>M)0,
resulta 1
= Z 0
Mx
dx = cot
M
.
4
4
mp
e mx
e (M m)x
p
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26
5. Muestreo de seales
Fig. 5.21. Muestreo de una onda cuadrada: Fs = 4/T0 (a); Fs = 8/T0 (b).
x (n/FA) = x
r
[n] = A sen[(2p/F )w
s
n] = A sen(pn/2).
A = 1.
B
(n/F ) = x
r
s
B [n ]
= B sen(pn/4) + C sen(3pn/4).
B
B sen(p/4) + C sen(3p/4)
B sen(p/2) + C sen(3p/2)
de donde resulta B = (
2 + 1)/2, C = (
= 1,
= 1,
1)/2.
La Fig. 5.21(a) muestra la seal x(t), xr(t) y sus muestras para la frecuencia de
A
B
muestreo Fs = 4 Hz, y la Fig. 5.21(b) para el caso de Fs = 8 Hz.
Los resultados anteriores se pueden generalizar para cualquier frecuencia de muestreo
M
xr(t) = b(1, 12) sen(2pt) + b(3, 12) sen(6pt) + b(5, 12) sen(10pt),
y de manera ms general,
xr(t) =
b(k, M) sen(2pkt).
(5.22)
k=1,3,...(M/2 1)
Procesamiento Digital de Seales
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27
frecuencia de muestreo
4 Hz
8 Hz
12 Hz
16 Hz
1,000
1,207
0,207
1,244
0,333
0,089
1,257
0,374
0,167
0,050
1,273
0,424
0,255
0,182
b5
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28
5. Muestreo de seales
cual el rea del impulso n-simo sea igual al valor de la muestra n-sima x[n]:
xs(t) = x[n]d(t nT).
(5.23)
Esa expresin indica que el valor de la muestra n-sima est asociada al rea del
impul-so en t = nT, donde T = 1/Fs es el perodo de muestreo. Si este tren de impulsos
es la entrada a un filtro pasabajos continuo con respuesta en frecuencia Hr( f ) y
respuesta impulsiva hr(t), la salida del filtro ser la seal xr(t) dada por
xr(t) = hr(t) xs(t)
= hr(t) x[n]d(t nT)
n
x[n]hr(t
nT).
(5.24)
H r( f ) =
T, si j f j < fc.
0, si j f j fc.
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29
Esta eleccin es apropiada para cualquier valor de fN y Fs, siempre que Fs > 2 fN .
La respuesta impulsiva hr(t) del filtro reconstructor se puede calcular a partir de la
trans-formada de Fourier inversa de Hr( f ), y resulta ser
hr(t) = 2 fc T sinc (2 fct) = 2 fc T sen(2p fct)
2p fct
que para fc = Fs/2 se puede escribir como
F
F
s
sen(pt/T)
pt/T
(5.25)
xr(mT) = xc(mT)
para todo m 2 Z. La ecuacin (5.29) muestra que la seal resultante es una reconstruccin
exacta de xc(t) en los instantes de muestreo (cuando t = nT), como indica la expresin
(5.26). Pero qu pasa en el resto del tiempo? Un anlisis grfico de este fenmeno se
muestra en la Fig. 5.23, donde se representa la seal continua x c(t), y el tren de impulsos
modulado xs(t). En la Fig. 5.23(c) se muestran varios de los trminos
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30
5. Muestreo de seales
nT)
n
Procesamiento Digital de Seales
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31
Fig. 5.24. Tres representaciones esquemticas del conversor discreto a continuo (D/C).
nT) es Hr( f )e
Xr( f ) = x[n]Hr( f )e
j2p(nT) f
j2p(nT) f
, y entonces
= Hr( f ) x[n]e
j2p(nT) f
w=2pT f = f
2p
Fs
= 0,
en caso contrario.
(5.30)
La ecuacin (5.30) es una representacin frecuencial del conversor D/C ideal. Segn es-ta
jw
expresin, X(e ) se escala en frecuencia (es decir, se reemplaza w por f (2p/Fs)). El filtro
pasabajos ideal Hr( f ) selecciona el perodo centrado en f = 0 de esta respuesta en
frecuencia (peridica y escalada), y compensa por el factor de ganancia 1/T que aparece
por el proceso de muestreo. En definitiva, si la sucesin x[n] se ha obtenido por muestreo
peridico de una seal continua x c(t) de banda limitada a una tasa de Nyquist o superior,
entonces la seal reconstruida xr(t) ser idntica a la seal continua original: x r(t) = xc(t)
para todo t. La ecuacin (5.30) muestra tambin que la salida de un conversor D/C ideal es
de banda limitada por efecto del filtro reconstructor ideal. Es decir que la respuesta en
frecuencia es nula para cualquier frecuencia j f j > fc, donde la frecuencia de corte fc del
filtro es, tpicamente, la mitad de la frecuencia de muestreo, fc = Fs/2.
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32
5. Muestreo de seales
(5.32)
Fs
n) = A sen(w0n + f) sinc(Fst
n).
(5.33)
Se desea probar que la salida del conversor C/D coincide exactamente con la seal
con-tinua original (5.31). Esto es, se busca probar que
(5.34)
cos(w0n+f+pFst np)
2p(Fst n)
cos[(w0 p)n+(f+pFst)]
2p(Fst n)
sen[(w0 +p)n] sen(f pFst)
2p(Fst n)
2p(Fst n)
2p(Fst n)
de modo que
A
xr(t)
= 2p
cos[(w0 +p)n]
cos(f pFst)
A cos(f+pF t)
2p
Ft
cos[(w0 p)n]
Ft
s
sen[(w0 +p)n]
2p sen(f pFst)
+ A sen(f+pF t)
2p
Ft
sen[(w0
n
Ft
p)n] .
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33
xr(t) =
Ft
sen[(w0 +p)n]
Ft n
sen f sen(pFst)
cos[(w +p)n]
0
cos f sen(pFst)
sen[(w +p)n]
0
p n Fs t n p n Fs t n
sen nq =
p sen a(p q) ,y
a n
sen ap
cos nq
= p cos a(p q) ,
a n
sen ap
p sen[(t/T)( w0)]
sen(t/Tp)
j(2p f t+f)
jf
x ( t) =
c
A sen(2p f t + f) =
0
A j(2p
2je
f t+f)
0
+ je
2j
j(2p f t+f)
0
A
2
ejfd( f
f0) + j
d( f + f0).
j(2p f t+f)
0
jw
c
s
j
f
=w
T
2p
k
X(e ) =
jf
jf
f =w 2Fps
(5.35)
T
k
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34
5. Muestreo de seales
Como
d( f kF
= d 2p kFs f0 = d
2p w k2p Fs 2p
Fs
d(w w0 2pk),
f )
0 jf =w 2Fps
wFs
Fs
2p
X(e ) =
2p A
Fs
jpAejfd(w
2p A
jf
2e
d(w w0 2pk) + j
2pk) + jpAe
w0
jf
2e
Fs
d(w+w0
jf
2pk).
Este es el espectro de una seal discreta x[n] = A sen(w0n + f). Cuando esta seal se
aplica al conversor C/D, se tiene que el espectro de la seal de salida xr(t) es
Xr( f ) = Hr( f )Xs( f ),
donde
X ( f ) = X (e jw)
s
w= f 2Fps
X ( f ) = H ( f )X ( f ) = H ( f ) X(ejw)
r
= H ( f )pA
je
jf
d(w +
w= f 2Fps
d(w w0 2pk) + je
jf
w0 2pk)
w= f 2Fps
2p
Fs
d f 2 w 2pk
0
p
= d
Fs
f w0 2ps
2p
2pk
2p
F
Fs
d ( f f0 kFs)
2p
resulta que
jf
jf
X c( f ) =
kFs)
y antitransformando,
xr(t) = A sen(2p f0t + f)
que es idntica a xc(t). El desarrollo en el dominio frecuencial es considerablemente
ms simple que la derivacin en el dominio temporal efectuada ms arriba.
La igualdad (5.34) vale nicamente si se cumplen las condiciones del teorema del
muestreo, esto es cuando f0 < Fs/2. Los siguientes ejemplos muestran que cuando se
viola el Teo-rema la seal recuperada a partir de las muestras puede ser distinta de la
seal continua original.
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35
Fig. 5.25. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) cos(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] = [1+ (
n
1) ]/2 (b) que resulta de muestrear xc(t) al doble de la frecuencia mxima (a Fs =
f0 Hz).
EJEMPLO 5.7. Muestreo crtico de una seal coseno elevado ( fs = 2 f0): parte 1.
La seal continua
1 +1
cos(2p f0t)
2 2
que se graca en la Fig. 5.25(a) se muestrea exactamente al doble de la frecuencia de la seal,
xc(t) =
t=nT
es decir
1 + ( 1)
2
1, si n es par,
x[n] = 0,
si n es impar,
(5.36)
como se muestra en la Fig. 5.25(b) . En este caso se dice que el muestreo es crtico porque
frecuencias de muestreo menores (o perodos de muestreo mayores) violaran el criterio de Nyquist.
Para aplicar la identidad (5.34) se supone la seal x[n] compuesta por dos tonos, uno de
frecuencia w0 = 0, amplitud A0 = 1/2, y fase f0 = +p/2, y otro de frecuencia w1 = p, amplitud
A1 = 1/2 y fase f1 = +p/2. Se tiene entonces que xr(t) = xr0(t) + xr1(t), donde
xr0(t) = A0sen(w0n+f0) sinc(Fst
n) = A0 sen(w0 Fst+f0)
= 1 sen(0+p/2) = 1,
2
2
xr1(t) = A1sen(w1n+f1) sinc(Fst n) = A1 sen(w1 Fst+f1)
n
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36
5. Muestreo de seales
=0
=1
sinc (Fst
2`) .
EJEMPLO 5.8. Muestreo crtico de una seal coseno elevado (Fs = 2 f0): parte 2.
Como x[n] en la ecuacin (5.36) se anula en las muestras impares, es conveniente expresar la
seal reconstruida (5.26) destacando los trminos pares n = 2` y los impares n = 2` + 1, es decir
x ( t) =
r
` |{z}
(2`)
T
x[2`] sinc
t T
(2 ` + 1 )
T T
[2` + 1] sinc t
+ ` |x
{z }
= sinc (Fst) +
`=1
(5.37)
p (Fst + 2`)
p (Fst 2`)
Observando que
+
1
`=1
p
+
Fst+2`
`=1
+
=
`=1
sen (pFst)
Fst 2`
=
+
`=1
Fst
2`
1
Fst + 2`
Notando que
Fst 2`+Fst+2`
`=1
Fst
1
(Fst/2)
xr(t) =
sinc
1 se
2
(5.39)
(5.41)
(5.40)
(5.42)
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37
Fig. 5.26. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) sen(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] = 1/2
sen(pFst/2)
Aunque en estos ejemplo la sea recuperada coincide con la seal original, el muestreo a
una frecuencia que sea exactamente el doble de la frecuencia mxima (F s = 2 f0) no
asegura que la seal recuperada coincida con la original, como revela el siguiente Ejemplo.
EJEMPLO 5.9. Muestreo crtico de la seal del Ejemplo 5.7 desfasada un cuarto de ciclo
La seal continua
t + 40
xc(t) = 2 + 2 cos 2p f0
1
f0 t + 2
= 2 + 2 cos 2p
que se graca en la Fig. 5.25(a) , es esencialmente la misma seal del ejemplo anterior,
desfasada en T0/4. Si se muestrea al doble de la mxima frecuencia de la seal, T = 1/(2 f 0)
se obtiene la seal discreta
1 sen(0) = 1 ,
2
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38
5. Muestreo de seales
x (t) =
r
2 n
sinc (F t n)
s
[sinc (Fst
1
2
sinc (Fst) +
n=1
+
n=1
p (Fst n)
(5.45)
p (Fst + n)
pn) = sen(pFst)cos(pn)
| {z }
=( 1)
sen(pn) cos(pFst) = (
| {z }
1) sen(pFst)
=0
1)
sen (pFst) (
1
Fst n
n=1
(5.46)
Fst + n
Observando que
+
1)
n=1
1
Fst n
1)
= (
Ft
n+Ft+n
n) (Fsst + n)
(Fst
n=1
Fst + n
+
(
1)
(Fst)
n=1
1 + 2a
`=1
( 1)k
" a2 `2
"
( 1)
(F t )
"
n2
,
2
( 1)
2
(F t )
s
( 1)
(F t )
s
(Fst)
n=1
n=1
n=1
Notando que
n=1
p(Fst)
2p
s
s
s
2
= 1 sinc (F t) + (F t) sen(pF t) F t
s
s
2
( 1)
= 2F t
2Fst
.
n2
k
n
(5.47)
pa
# = sen(pa)
2011
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39
Fig. 5.27. Espectros de las seales del Ejemplo 5.7 (a) y del Ejemplo 5.9 (b) para F s = 2 f0.
X( f ) = d( f ) + d( f + f ) + d( f f ).
0
0
2
4
4
jw
De particular inters es el espectro X(e ) de la seal discreta x[n]. Como la seal continua xc(t) de frecuencia mxima f0 se muestrea a Fs = 2 f0, la seal discreta tiene una
componente de frecuencia w0 = 2p f0/Fs = p. De manera que el espectro est dado por
jw
p d(w + w
X(e ) = p d(w 2pk) +
0 2pk) + d(w w0 2pk),
2
k
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40
5. Muestreo de seales
jw
X( f ) = d( f ) + d( f + f )
d( f f ).
0
0
4
2
4
El espectro discreto est formado por las rplicas cada 2p de los impulsos pd(w) correspondientes a la seal de continua, y por las rplicas cada 2p de los impulsos (jp/2)d(w
+ w0) y ( jp/2)d(w w0) con w0 = 2p f0/ f s = p:
jw
p
2
d(w + w0
2pk) d(w w0
2pk).
xc(t) =
+ 1 cos(2p f t)
0
2
(5.48)
que se graca en la Fig. 5.28(a) se muestrea ahora cada T = 1/(4 f0) obtenindose la seal discreta
x[n] = x (t)
c
jt=nT
es decir
> 1,
x[n] =
< 0,
8 1/2,
>
:
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2011
1
p
+ cos
n
2 cos(2p f0Tn) = 2
2
2
si n = 0, 4, 8, ..., 4`,
si n es impar, n = 2` + 1,
si n = 2, 6, 10, ..., 4` + 2,
U.N.S.
41
Fig. 5.28. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) cos(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] (b)que
resulta de muestrear xc(t) a Fs = 4 f0 Hz.
como se muestra en la Fig. 5.28(b) .
La seal reconstruida (5.26) se puede escribir como
`
>
>
<
4`)+x[4`+2] sinc[Fst
>|{z}
{z
{z
>
;
=0
=1
=
9
(2`+1)]
y separando las muestras correspondientes a ` = 0, ` > 0 y ` < 0 en cada uno de los dos
sumandos remanentes, se tiene que
xr(t)
1
2
fsinc [Fst
`=0
esto es
sinc (Fst) +
xr (t) =
`=1
`=1
p (Fst 4`)
sen p (Fst2` 1)
p (Fst + 4`)
+sen p (Fst+2`+1)
p (Fst 2` 1)
(5.49)
p (Fst+2`+1)
Como
sen p (Fst 4`) = sen pFstcos 4`p cos pFstsen 4`p = sen pFst,
Fst
y adems
Fst
{z
=1
cos(2`+1)p
|
{z
}
cos p
F{zst
=0
sen(2`+1)p =
|
{z
}
= 1
=0
= F t
s
8 (Fst/4)2 `2
Fst + 4`
1
1
+
= 2F t
s
2
2
Fst + 2` + 1
(Fst) (2` + 1)
Fst 4`
Fst 2` 1
Fst
sen p
, (5.50)
2011
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42
5. Muestreo de seales
la expresin (5.49) se puede escribir como
" Fst
1
xr (t) = sinc(Fst)+ p
`=1
"
pFst
sen(pF t)
sen(pFst)
Fst
4
1+2
1
2
(Fst/4)
`=0
(Fst)
(Fst/4)
(Fst)
`=0
2 2Fst
`2
`=1
(2`+1)
1
(Fst)
(2`+1)
#.
(5.51)
Como adems
2a
`=1
1
`
a2
pa
2
`=0
= 1 + tan pa ,
1
b
bp
(2 ` + 1 )
pF t
pF t
4 tan
1
4 sen (pFst) cos(pFst/4)
1
cos(pFst/4) cos(pFst/2) + sen(pFst/4) sen(pFst/2)
4 sen (pFst)
pb
4 tan 2 ,
+ sen(pF t/2)
s
sen(pFst/4)
cos(pFst/2)
sen(pFst/4) cos(pFst/2)
4 sen (pFst)
cos(pFst/4)
(5.52)
sen(pFst/4) cos(pFst/2)
Finalmente, utilizando la igualdad (5.43), y notando que
(5.53)
cos(pFst/4)
4
sen(pFst/4) cos(pFst/2)
= 1 sen(pF t/2) cos(pFst/4) = 1 [2 sen(pF t/4) cos(pF t/4)] cos(pFst/4)
s
s
s
2
sen(pFst/4)
sen(pFst/4)
2
pF t
1
1
pF t
2
+ cos
= cos
4 = 2
2
2
s
que indica que la seal reconstruida xr(t) coincide con la seal continua original (5.48) para todo
t 2 R.
(5.54)
que se graca en la Fig. 5.29(a) se muestrea cada T = 1/(4 f0) obtenindose la seal
2011
U.N.S.
43
Fig. 5.29. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) sen(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] (b) que
resulta de muestrear xc(t) a Fs = 4 f0 Hz.
es decir
> 1/2,
si n es par, n = 2`,
si n = 3, 1, 5, 9, . . . , n = 4` + 1,
<0
8 1,
>
x[n] =
si n = 1, 3, 7, 11, . . . , n = 4` + 3,
>
=
9
(4`+1)] .
2`)+x[4`+1] sinc[Fst
>|{z}
{z
>
;
=1
=1/2
xr (t) =
2 (pFst)
1
2
`=1
`=0
p [Fst (4`+1)]
p (Fst + 2`)
`=1
(5.55)
p [Fst ( 4`+1)]
La sumatoria de los trminos de la forma sinc[F st (4` + 1)] debe tratarse con cuidado. El
ltimo trmino corresponde a los ndices de x[n] para n < 0, y cuando ` vara entre 1 y + el
ndice ( 4`+1) recorre 3, 7, 11, ... [Fig. 5.29(b)]. Por otra parte, el anteltimo trmino recorre los
ndices positivos: para 0 ` < , (4`+1) vara entre 1, 5, 9, . . .. Para uniformizar los lmites de las
sumatorias, es conveniente escribir
xr (t) =
1 sen(pFst)
2 (pFst)
+
1
+
2
`=1
p (Fst 2`)
`=1
p [Fst (4`+1)]
p (Fst + 2`)
p [Fst ( 4`+1)]
1 sen(pFst)
xr(t) =
+ 2 sen(pF t) p `=1
+
Fst 2`
Fst+2`
s
1
1
1
sen(pFst)
+
.
sen(pFst) p
Fst 4` 1
Fst+4` 1
p(Fst 1)
2
(pFst)
(5.57)
` =1
2011
U.N.S.
44
5. Muestreo de seales
Observando que
1
p `=1
1 +
Fst 2`
1
p `=1
Fst 4` 1
Fst + 2`
1
+
Fst+4` 1
2pFst
1
4
=
=
sen(pFst)
4 tan(pFst/2)
4
1 tan(pFst/4)
sen(pFst/2)
p(Fst 1)
1/2
1 tan(pFst/4)
1
+2
+
1 tan(pFst/4)
1 cos(pFst/2)
1/2
tan(pFst/2)
1/2
4
1
1/4
p(Fst 1)
tan(pFst/2)
p(Fst 1)
2pFst
1
pFst
1/2
cos(pF t/4)
s
cos(pFst/4) sen(pFst/4)
cos(pFst/4) + sen(pFst/4)
sen(pFst) 4 sen(pFst/2)
cos(pFst/4) sen(pFst/4)
xr(t) = 4 cos(pFst/2)
cos(pFst/4) + sen(pFst/4)
cos(pFst/4) sen(pFst/4)
2
= 21 h
=
+ 2 sen(pFst/2),
usando en el ltimo paso la identidad (5.43). Recordando nalmente que F s = 4 f0, se obtiene
x (t) = + sen(2p f t)
r
0
2 2
que es vlida para todo t 2 R. Nuevamente, la seal recuperada xr(t) coincide exactamente
con la seal original xc(t) dada por la ecuacin (5.54).
Contrariamente a lo que sucede en los Ejemplos 5.7 y 5.9, en los Ejemplos 5.10 y 5.11
se recupera exactamente la seal original, independientemente de cul sea la relacin
de fases entre ella y el tren de impulsos de muestreo. La diferencia entre ambos pares
de ejemplos es que en los dos primeros la frecuencia de muestreo F s = 1/T es justo el
doble de la frecuencia mxima de la seal (caso lmite del teorema de Nyquist),
mientras que en los dos ltimos es superior (Fs = 4 f0).
La interpretacin en el dominio transformado de los Ejemplos 5.10 y 5.11 se ilustra en la
Fig. 5.30(a) y (b) , respectivamente. La frecuencia de la seal discreta es w0 = 2p f0/Fs =
U.N.S. 2011
45
Fig. 5.30. Espectros de las seales de los Ejemplos 5.10 (a) y 5.11 (b) para F s = 4 f0.
jw
p/2, y por lo tanto las rplicas que forman el espectro X(e ) no se solapan; en
cualquiera de los casos, la seal xr(t) recuperada con un filtro reconstructor ideal
coincide con la seal continua original xc(t).
Los Ejemplos 5.7 y 5.9 muestran que la violacin del teorema del muestreo hace que
la cascada conversor C/D-conversor D/C no slo sea variante al desplazamiento, sino
que tambin pierda la linealidad: en el Ejemplo 5.9 la entrada es una seal de
frecuencia f0, pero la salida es una seal de continua (de frecuencia nula). Estos temas
se tratan con ms detalle en la siguiente seccin.
U.N.S. 2011
46
5. Muestreo de seales
x[n] = xc(nT),
jw
2p
(5.60)
donde la sucesin y[n] es la salida del sistema de tiempo discreto cuando la entrada es
la sucesin x[n]. De la ecuacin (5.30), la transformada de Fourier Yr( f ) de la seal de
jw
tiempo continuo yr(t) y la transformada de Fourier Y(e ) de la sucesin y[n] estn relacionadas por
jw
jw
TY(e )
w= f
2p
Fs
w= f 2Fps
en caso contrario.
= 0,
jw
, si j f j < Fs/2,
(5.61)
jw
La relacin entre y[n] y x[n], o entre Y(e ) y X(e ) depende de la naturaleza del sis-tema
discreto. El caso ms sencillo es cuando el sistema discreto es la identidad, es decir y[n] =
x[n], que se ha analizado detalladamente en la Seccin 5.7. Se ha estudiado que si x c(t) es
una seal limitada en banda tal que su transformada de Fourier X c( f ) = 0 para j f j > Fs/2,
y si el sistema de tiempo discreto en la Fig. 5.31 es el sistema identidad tal que
U.N.S. 2011
47
y[n] = x[n] = xc(nT), entonces la salida ser yr(t) = xc(t). Para obtener este resultado, se
utiliz la representacin frecuencial de las seales de tiempo continuo y de tiempo
discreto, ya que la idea de distorsin por solapamiento (aliasing) se entiende ms fcilmente en el dominio frecuencial. Cuando el sistema discreto en el esquema de la Fig.
5.31 es ms complicado que el sistema identidad, es habitual realizar el anlisis
tambin en el dominio frecuencia.
Si el sistema de tiempo discreto es no lineal, o variante en el tiempo, en general no es sencillo encontrar una relacin entre las transformadas de Fourier de las seales de entrada y
salida del sistema de la Fig. 5.31. Sin embargo, se puede obtener un resultado simple y
muy til cuando el sistema discreto es lineal e invariante en el tiempo.
donde H(e ) es la respuesta en frecuencia del sistema discreto (la transformada de Fourier de la respuesta impulsiva h[n]). Combinando las ecuaciones (5.61) y (5.62) se encuentra
que
jw
jw
2p
jw
1
w= f Fs
2p
Fs
kFs)
Xc( f
(5.63)
Como Xc( f ) = 0 para j f j > Fs/2, entonces el filtro reconstructor Hr( f ) cancela el factor 1/T
y selecciona en la sumatiora de la ecuacin (5.63) el trmino que corresponde a k = 0,
jw
es decir
H(e )
X ( f ), si f < F /2,
2p
Y r( f ) =
w= f
0,
en caso
j contrario.
Por lo tanto, si Xc( f ) est limitada en banda y si la frecuencia de muestreo es tal que se
cumplen las condiciones del teorema del muestreo, la salida y la entrada del sistema discreto
de procesamiento de seales continuas de la Fig. 5.31 quedan relacionadas segn
H(e )
He( f ) =
0,
2p
w= f
Fs
si f < Fs/2,
en caso
j contrario.
(5.64)
Estas ecuaciones indican que el sistema de la Fig. 5.31 se comporta como un sistema lineal e
invariante en el tiempo cuya respuesta en frecuencia efectiva es la de la ecuacin (5.64).
U.N.S. 2011
48
5. Muestreo de seales
EJEMPLO 5.12. Falla de linealidad si la entrada es de banda limitada, pero viola el teorema del
muestreo
2011
U.N.S.
49
Esto prueba que el sistema no es lineal, pues en un sistema lineal, una entrada del tipo
xc(t) = A cos(2p f0t)
produce una salida
yr (t) = A jHe( f )jjf = f0 cos(2p f0t + f0),
donde f0 = arg( He( f )jf = f0 ). Es decir, la salida es una versin escalada y desfasada de la
entrada, pero de la misma frecuencia. Si la frecuencia de la seal de entrada y la frecuencia de
muestreo no cumplen con las condiciones del teorema del muestreo, las componentes
frecuenciales de la seal de salida son distintas a las componentes frecuenciales de la seal de
entrada, como indican los clculos anteriores y se representa en la Fig. 5.32 s. Por lo tanto, el
sistema dicreto de procesamiento de seales continuas no se comporta como un sistema lineal.
yr1(t) = sinc(Fst)
como se muestra en la Fig. 5.33(b) .
Si la entrada xc2(t) es un desplazamiento temporal de xc1(t), por
ejemplo, xc2(t) = xc1(t t),
U.N.S. 2011
50
5. Muestreo de seales
Fig. 5.34. Respuesta en frecuencia del sistema discreto de la Fig. 5.31 (a). Respuesta en
fre-cuencia efectiva del sistema completo (de tiempo continuo) para seales
limitadas en banda (b).
donde t es tal que el lapso se tiempo en el que el pulso vale 1 queda comprendido en medio
de dos instantes de muestreo, como se muestra en la Fig. 5.33(c) , es evidente que x 2[n] = 0
para todo n. Por lo tanto, y2[n] = 0 para todo n, y de acuerdo con (5.60),
yr2(t) = 0
para todo t, como se muestra en la Fig. 5.33(d). Esto prueba que el sistema no es invariante en
el tiempo, pues si lo fuese, debera haberse encontrado que la salida del sistema ante la nueva
entrada debera haber sido la respuesta ante la entrada x c1(t) desplazada en el tiempo, es decir,
yr2(t) = yr1(t t) = sinc[Fs(t t)]. La falla de la invariacin temporal se debe a que la seal de entrada
es un pulso rectangular que, como se estudi en el Captulo 2, no est limitado en banda pues su
transformada de Fourier tiene componentes de frecuencias que se extienden hasta .
conversor C/D, siempre y cuando el sistema discreto H(e ) anule la banda de frecuencias
donde se produce el solapamiento. El siguiente ejemplo ilustra este caso.
EJEMPLO 5.14. Filtrado pasabajos ideal se una seal continua usando un ltro pasabajos ideal
discreto
H(e ) =
1, jwj < w ,
c
0, w < jwj < p.
(5.65)
La respuesta en frecuencia es, por supuesto, peridica de perodo p, como se muestra en la Fig.
5.34(a) . Para seales de banda limitada muestreadas adecuadamente (es decir, cumpliendo
Procesamiento Digital de Seales
2011
U.N.S.
51
las hiptesis del teorema del muestreo), resulta de la ecuacin (5.64) que el sistema
completo de la Fig. 5.31 se comporta como un sistema de tiempo continuo, lineal e
invariante en el tiempo, cuya respuesta en frecuencia es
2p
, si
(
< F /2,
(
s
jw)
He( f ) =
e
w=
f
si
H
Fs
jfj>
0,
j f j Fs/2.
en
(5.65)
se
tiene
que
Reemplazando w = f (2p)/Fs
1, f 2p < w ,
c
H(ejw)
2p
w=
Fs
2p
< p.
< 0, wc < f
Fs
8
Fs
2p
Fs
< wc
j f j< w
s:
2p
=f ,
c
y la segunda se transforma en
wc <
2
p
<p
de modo que
< jf j < p
s
2p
F
s
2 ,
2p
Fs
jw
H(e )
1, j f j < w
c 2p := fc,
w= f 2Fps
0,
j j
fc = wc
Fs
2p
<
<
Esta ecuacin, junto con (5.64), expresan que la respuesta en frecuencia del sistema completo es
He( f ) =
( 1
sijf j
<w
:= f ,
c
(5.66)
> c 2p.
j f j fc
Esta es la respuesta en frecuencia de un ltro pasabajos ideal de tiempo continuo, como se
representa en la Fig. 5.34(b) . Comparando las Fig. 5.34(a) y (b) , se observa que la
respuesta en frecuencia del sistema equivalente de jw
tiempo continuo H e( f ) es un perodo de
la respuesta en frecuencia del sistema discreto H(e ) escalada segn w = f (2p)/Fs, para el
rango Fs/2 < f < Fs/2, y cero para las frecuencias por encima de Fs o por debajo de ( Fs).
0,
El proceso de ltrado de una seal de banda limitada arbitraria xc(t) con respuesta en frecuencia Xc( f
) se representa en la Fig. 5.35. La mxima componente de frecuencia de x c(t) es fN , como se nota en
la grca del espectro Xc( f ) de xc(t) representado en la Fig. 5.35(a) . El muestreo satisface los
requisitos del teorema de Nyquist porque fN < Fs/2.
En la Fig. 5.35(b) se muestra el espectro de la seal intermedia xs(t) que resulta de modular un tren de
impulsos espaciados cada T = 1/Fs con la seal de entrada xc(t). Esta respuesta en frecuencia es
peridica y su perodo es Fs, como se indica en la gura, y coincide con la respuesta en frecuencia
jw
X(e ) de la seal discreta x[n] = xc(nT) cuando se evala en w = f (2p)/Fs.
jw
jw
En la Fig. 5.35(c) el espectro X(e ) y la respuesta en frecuencia del ltro discreto H(e ) se
gracan en funcin de la frecuencia discreta w. Si bien fN y wN son nmeros distintos, la
forma de representar las Fig. 5.35(b) y (c) pone de maniesto que la representacin en el
dominio frecuencial continuo o discreto slo se diferencian por un cambio de escalas en el
eje de frecuencias (al menos en el rango j f j < Fs/2, u jwj < p).
jw
jw
jw
El espectro Y(e ) = H(e )X(e ) de la salida y[n] = h[n] x[n] del ltro discreto se ilustra en
la Fig. 5.35(d) , donde se aprecia que la mayor componente de frecuencia ha quedado
reducida a wc por la accin del ltro.
U.N.S. 2011
52
5. Muestreo de seales
2p
w = 2p
N
Fs
> w.
c
(Fs
fN )
Fs < w < fN
Fs
es decir
2p
Procesamiento Digital de Seales
2011
wN < w < wN ,
U.N.S.
53
Fig. 5.35. Transformada de Fourier de una seal limitada en banda (a). Transformada de Fourier
de la seal muestreada gracada en funcin de la frecuencia continua f (b). Transjw
formada de Fourier X(e ) de la sucesin discreta x[n] y respuesta en frecuencia del
jw
sistema discreto H(e ) en funcin de la frecuencia discreta w (c). Transformada de
jw
Fourier Y(e ) de la salida y[n] del sistema discreto (d). Trasnformada de Fourier de la
salida del sistema discreto y respuesta en frecuencia del ltro reconstructor ideal H r ( f
) en funcin de la frecuencia continua f (e). Transformada de Fourier Y r( f ) de la salida
de tiempo continuo yr(t) ( f ).
U.N.S. 2011
54
5. Muestreo de seales
Fig. 5.36. Detalle de las hojas de datos del ltro de capacitores conmutados LMF100 de
National Semiconductor.
2011
U.N.S.
55
Fig. 5.37. Transformada de Fourier de una seal limitada en banda que no satisface el teorema del
muestreo (a). Transformada de Fourier de la seal muestreada gracada en fun-cin
de f ; como no cumple con el teorema del muestreo, las rplicas se solapan (b).
jw
Transformada de Fourier X(e ) de la sucesin discreta x[n] y respuesta en frecuencia
jw
del sistema discreto H(e ) en funcin de w. En este caso, el ltro discreto elimina
jw
completamente la distorsin por aliasing (c). Transformada de Fourier Y(e ) de la
salida y[n] del sistema discreto (d). Transformada de Fourier de y[n] y respuesta en
frecuencia del ltro reconstructor ideal Hr( f ) en funcin de f (e). Transformada de
Fourier Yr( f ) de la salida yr(t) ( f ).
U.N.S. 2011
56
5. Muestreo de seales
donde wN = fN (2p)/Fs. Se aprecia que, en este caso, la frecuencia de corte wc del filtro
discreto queda por debajo de la banda donde se produce el solapamiento de las rplicas,
wc < 2p
wN
y que en esa banda la respuesta en frecuencia del filtro tiene mdulo nulo. Por lo
jw
tanto, el espectro Y(e ) de la salida y[n] del filtro discreto no se ve afectada por el
solapamiento, como se muestra en la Fig. 5.37(d) . El espectro de esta seal,
graficado en funcin de la frecuencia continua f se representa en la Fig. 5.37(e) , junto
con la respuesta en frecuencia del filtro reconstructor ideal. Finalmente, el espectro Yr(
f ) de la salida y r(t) del filtro reconstructor ideal se grafica en la Fig. 5.37( f ) .
Comparando los espectros Xc( f ) de la seal continua de entrada xc(t), e Yr( f ) de la
seal continua de salida yr(t), se observa que el sistema de procesamiento discreto de
seales continuas de la Fig. 5.31 se comporta como un filtro pasabajoc continuo con
frecuencia de corte fc = w c(2p/Fs), an cuando el ancho de banda de la seal de
entrada y la frecuencia de muestreo no satisfacen el teorema del muestreo.
Aunque en este caso todo anduvo bien, en ciertas aplicaciones este tipo de comportamiento puede dar lugar a fenmenos no deseados. Por ello en muchas aplicaciones
es habitual limitar el ancho de banda de la seal de entrada antes de procesarla con el
conversor C/D para eliminar todas las componentes de frecuencia que se extiendan
ms all de la frecuencia de muestreo. Este filtro (analgico) se conoce como prefiltro
o filtro antialiasing, y su funcionamiento se discutir ms adelante, al estudiar algunas
consid-eraciones prcticas del proceso de muestreo (Seccin 5.11).
Los siguientes ejemplos de sistemas discretos de procesamiento se seales continuas
es-tudian el caso de un sistema que se comporta como un integrador con prdida o
de banda limitada, y un diferenciador limitado en banda.
EJEMPLO 5.15. Integrador de banda limitada
La respuesta en frecuencia de un integrador continuo ideal es
HI ( f ) =
2011
1 , < f < ,
j2p f
U.N.S.
57
Fig. 5.39. Respuesta en frecuencia (mdulo y fase) de un integrador discreto de banda limitada.
<
Hc f
> 1/(j2p f ),
1/(j2p fi),
8
<
f <f,
j
>
>
:
>
jf
<f
jj
< F /2,
en caso contrario.
0,
El sistema con funcin transferencia Hc( f ) se comporta como un integrador para cualquier seal con
contenido frecuencial comprendido en el intervalo [ fi, fs/2).
H(e ) = Hc
k
H(ejw) =
(
1/(jw F ) ,
i
(jwFs),
2p
1/
jwj <
2p( fi/
Fs ) =
wi ,
2p( fi/
Fs) <
jfj<
p.
2pk ,
(5.67)
U.N.S. 2011
58
5. Muestreo de seales
EJEMPLO 5.16. Respuesta del integrador de banda limitada ante una entrada senoidal
El sistema del ejemplo anterior se excita con una entrada senoidal
xc(t) = A cos(2p f0t),
donde fi < f0 < fs/2, cuyo espectro es
Xc( f ) = A d( f f0) +
2
A d( f f ).
0
2
La seal discreta x[n] se obtiene muestreando al seal continua cada T = 1/F s segundos,
(5.68)
kF )
1
T
fs
j
f =w
2p
f =w 2Fps
(5.70)
Como
d( f kF f )
s
wFs
= d 2p
0 jf = w
2p
Fs
2p w k2p
kFs f0 = d
f0
Fs
2p
2p =
Fs d(w w0
2pk),
pAd(w
y[n] = AjH(e
donde f0 = argfjH(e
jw0
jw0
)j cos(w0n + f0),
j H (e
jw0
)j =
1 , f = argfjH(ejw0 )jg =
0
w F
0 s
y por lo tanto,
A
y[n] =
p
2
w F cos(w0n p/2) =
0 s
(5.71)
w F sen(w0n).
0 s
jw
Y(e )
jw
jw
jw
w0 2pk) + d(w+w0
2pk)
pA H(e
j(w0+2pk)
( jw0+2pk)
)d(w+w0 2pk).
2011
U.N.S.
59
H (e
j(w +2pk)
1
y
jw
) = H(e 0 ) =
( jw +2pk)
jw0 Fs
H(e 0
) = H(e
porque la respuesta en frecuencia es 2p peridica, se tiene que
jw
1
1
Y(e ) = pA
0
jw0 Fs d(w
pA
w F
jw0 Fs
w 0 2pk) +
k jd(w
)=
jw0 Fs
d(w+w0 2pk)
j d(w+w
02pk)
w F
w0 Fs
d(w
= pA
w0 2pk)
jw
0 s
0 s
jw
El espectro Y(e ) es la transformada de un seno discreto de amplitud A/(w0 Fs) y frecuencia w0,
que nuevamente coincide con (5.71).
Una vez calculada y[n], se puede determinar yc(t). Para ello hay que calcular ys(t) y
procesarla con el ltro reconstructor ideal. Como
ys(t) = y[n]d(t
nT)
y el ltro reconstructor ideal tiene respuesta impulsiva h r (t) = sinc(t/T), se tiene que
y[n]d(t
A
w F
0
sen(w0n) sinc(t/T n) =
2p f0
sen(w0n) sinc(t/T
n),
y (t) =
c
2p f0
sen(2p f t),
0
Z
yc(t) =
xc(t)dt.
Y ( f ) = Y(ejw)
s
w= f 2Fps
se tiene que
Yc( f ) = Hr( f )Ys( f ) = Hr( f )
pA
= H(f)
[ jd(w w0
r
Y(ejw)
w F
0
w= f 2Fp s
2pk) + jd(w+w0
2p
2pk)]jw= f
Fs
2pk)j
2 p
w= f F s
f w0
= d f Fs w0 2pk = d Fs
2
2p
p
2p 2pk 2p
Fs
Fs
d f f kF
= 2p (
Fs
s)
2011
U.N.S.
60
5. Muestreo de seales
resulta que
Yc( f ) = Hr( f ) pA Fs
w F
0 s
p F
= T
w F p j
2
p
A
0 s
jd ( f f0 kFs) + jd ( f + f0 kFs)
k
Ad ( f + f )
0
( f f0) + j 2
y antitransformando,
1 A sen(2p f t) =
0
yc(t) =
1 A sen(2p f t)
0
w F
2p f0
0 s
En el prximo ejemplo se estudia la implementacin de un derivador utilizando un sistema de procesamiento discreto de seales continuas. Al igual que con el ejemplo del
integrador, para lograr una implementacin exitosa es necesario limitar el rango de frecuencias donde el sistema se comporta como derivador.
y (t) =
c
dt
x (t),
c
Hc( f ) = j2p f .
Como se necesita que las entradas al sistema de procesamiento discreto de seales
continuas de la Fig. 5.31 sean de banda limitada, para cumplir con los requisitos del teorema
del muestreo, es sufciente que la respuesta en frecuencia de este sistema sea
( j2p f , f < Fs/2,
He( f ) =
0,
j f j > Fs/2.
jj
cuyo mdulo y fase se muestra en la Fig. 5.40(a) . El sistema de tiempo discreto tiene una
respuesta en frecuencia
jw
Fs ,
Fs = j2pw
H(e ) = H ( f ) j
f =w 2p
e
2p
para jwFs/(2p)j < Fs/2, que se puede escribir como
jw
H(e ) = jFsw,
(5.72)
Esta respuesta se repite peridicamente cada 2p, como se representa en la Fig. 5.40(b) . La
respuesta impulsiva es
Z
jwn
h[n] = 2p Z p H(ejw)ejwndw = j 2ps
p we dw
p
p
1
F
= 1 (pn cos pn sen pn)
2
pn T
Procesamiento Digital de Seales
2011
U.N.S.
61
Fig. 5.40. Respuesta en frecuencia del diferenciador ideal de tiempo continuo limitado en ban-da
(a). Respuesta en frecuencia del ltro discreto necesario para implementar un
diferenciador continuo limitado en banda usando el esquema de la Fig. 5.31 (b).
8
cos pn
<0
n = 0,
, n 6= 0.
nT
Por lo tanto, si un sistema de tiempo
:
uracin de la Fig. 5.31, la salida de cualquier seal de entrada de banda limitada ser la
derivada temporal de la entrada.
2011
(5.73)
U.N.S.
62
5. Muestreo de seales
con f0 < Fs/2, su espectro es
Xc( f ) = A d( f + f0) + A d( f f0).
2
jw
X(e ) =
=
=
2T
X ( f kF )
s jf
=w
Fs
2p
2p + f0 kFs + d w
2 f0 kFs
p
k w
pAd(w + w0
jw
jw
Este es el espectro de la seal a la entrada del sistema discreto; el espectro de la salida es Y(e ) =
jw
jw
jw
H(e )X(e ), donde H(e ) est dado por (5.72). Se tiene entonces que, en el intervalo jwj < p,
jw
jw
jw
Y(e )
H(e )X(e )
w0) = w0d(w
w0).
La transformada de Fourier de la salida del conversor D/C en el intervalo j f j < F2/2 es, de
acuerdo a la ecuacin (5.61)
Y r( f ) =
jw
2
p
Hr( f ) Y(e ) w= f
T[
= T jpAFsw0d
f Fs
2p
= jpAw0d Fs
2p
+ w0 + jpAFsw0d f
f + w0 2p
Fs
w0)]
+ jpAw0d
Fs
2p
w= f
F s w0
2p
Fs f w0 2p
2p
F
Fs
= jpAw0
2p d ( f + f0) + jpAw0 2p d ( f f0)
= j A 2p f d ( f + f ) + j A 2p f d ( f f )
0
0
0
0
2
2
(5.74)
donde se ha utilizado la propiedad de escalado del impulso, y el hecho que w0 Fs/(2p) = f0. La
expresin (5.74) representa un par de impulsos de amplitud j2p f0 A/2 ubicados en f0, y por lo
tanto es la transformada de Fourier de una seal [ sen(2p f0t)] de amplitud 2p f 0 A. Es decir
yr (t) =
2p f0 A sen(2p f0t),
y se verica efectivamente que yr(t) es la derivada temporal de xc(t) dada por (5.73).
U.N.S. 2011
63
Fig. 5.41. Sistema de procesamiento discreto de datos continuos del Ejemplo 5.19.
que no satisface el teorema del muestreo, y tambin cuando la seal no est limitada
en banda.
El primero es una extensin del Ejemplo 5.12, en que el sistema de procesamiento
discreto de seales continuas no se comporta como un sistema lineal cuando la seal
de entrada es de banda limitada, pero cuya mxima frecuencia es mayor que la mitad
de la frecuencia de muestreo. La diferencia con el Ejemplo 5.12 es que en este caso el
filtro discreto no es una constante unitaria, sino un filtro pasaaltos.
EJEMPLO 5.19. Procesamiento discreto de una seal de banda limitada que no satisface el
teorema del muestreo
En el sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig. 5.41, el sistema
discreto lineal e invariante en el tiempo es un ltro pasaalto con respuesta en frecuencia
( 0, w < p/3, < p,
H(ejw) =
1, j j j w j
p /3 <
(5.75)
Fig. 5.42. Respuesta en frecuencia del sistema discreto del Ejemplo 5.19.
U.N.S. 2011
64
5. Muestreo de seales
donde pT (t) es el tren de impulsos ideal, pT (t) = r d(t rT), cuya transformada es
1
P (f) =
T
d( f
T k
k f ).
s
PT ( f )
= Xc( f )
d( f
kFs) =
Xc( f
=T
k d( f
kFs)
f1 kFs)+2d( f + f1 kFs)
1 + 3 cos
8000
+ 4 cos
pn
8000
43
5 pn
= cos 4 pn = cos
4 pn 2pn
x[n] = 1 +
donde las frecuencias discretas son w
2
3 cos
Fs
f0
+ 4 cos
= p(
1a
pn
discreta original w1 = 2p( f1/Fs) = 5p/4 queda fuera del intervalo ( p, p), pero se puede
representar con una sealjwde frecuencia w1a = 3p/4 que queda dentro de dicho
intervalo. El espectro wX(e ) de la seal discreta x[n] se puede calcular como
jw
Fs
X(e ) = Xs( f )jf =
=T
2p
d( f
kFs)+ 2 d( f f0
kFs)+ 2 d( f
kFs)
+ f0
f=
1
+T
2p
2d( f
Fs
f1 kFs)+2d( f + f1 kFs)
k
(w
k
d
+1
T
1
= T
2p
f=
)+ 3
F kF
2d( 2p Fs
2p
h 2p
F f
s
f1 kFs)+2d(
Fs
kd
(w
i
h
(w 2pk) + 2 d
)+ 3
kF
w
2p
Fs
2p (w
2p
(w
Fs
+ f kF )
0
s
2p s
Fs + f1 kFs)
3
f0
2p
2pk) +
Fs
h 2p (w + 2p
2d
1
Fs
f1
Fs
f1
i
2p (w+ 2p F
+ T 2d h 2p (w 2p Fs 2pk)i+2d h
s 2pk)
k
2p
= TF d(w 2pk)+ 23 d(w w0 2pk)+ 23 d(w+w0 2pk)
s
2p
TFs k 2d(w w1 2pk)+2d(w+w1 2pk)
= 2pd(w
2pk)+3pd(w
w0 2pk)+3pd(w+w0
+ 4pd(w
k
w1 2pk)+4pd(w+w1
2pk)
2pk)
f0
F
2pk)
2011
U.N.S.
65
X(e ) = 2pd(w
2pk)+3pd(w
w0 2pk)+3pd(w+w0
2pk)
+ 4pd(w
w1a 2pk)+4pd(w+w1a
2pk).
jw
jw
= 3pd(w
w0 2pk)+3pd(w+w0
2pk)
+ 4pd(w
w1a 2pk)+4pd(w+w1a
2pk).
w= Ffs 2p
= 3pd(w w0 2pk)+3pd(w+w0
2pk)
w=
2p
F
s
2pk)
w= F 2p
= k3pd
2p w0 2pk +3pd
2p+w0 2pk
Fs
Fs
f
+ k4pd
=
k3pd h Fs
Fs
f w0 2p 2pk 2p +3pd
2p
=2 p
4pd h
Fs
Fs
2p
3
2d
(f
k4pd ( f
2p+w1a 2pk
Fs f +w0
Fs
2p
k3pd ( f f0
+2 p
Fs
2p
2pk 2p
Fs
Fs
2p
Fs
f +w1a 2p 2pk 2p
F
i
F
kFs)+3pd ( f + f0 kFs)
f1a
kFs)+4pd ( f + f1a
kFs)
de modo que
1
Ys( f ) = T
f0
kFs)+2d ( f + f1a
kFs)+ 2 d ( f + f0 kFs)+2d ( f
kFs) .
f1a
donde f1a = w1a Fs/(2p) = 3p/4 8000/(2p) = 3000 Hz. Este espectro se graca en la
Fig. 5.43( f ) .
U.N.S. 2011
66
5. Muestreo de seales
Fig. 5.43. Espectros de las diferentes seales del Ejemplo 5.19. Las rplicas se indican
con lneas de trazos.
2011
U.N.S.
67
3
2 d ( f f0)+ 2 d ( f + f0)+2d ( f f1a)+2d ( f + f1a)
Como la seal de entrada xc(t) no cumple con el teorema del muestreo (la mayor componente
frecuencial es de frecuencia f 1 = 5 kHz, que es mayor que F s/2 = 4 kHz) el sistema completo no
se comporta como un sistema lineal. Esto se comprueba al comparar la seal de entrada x c(t) en
(5.75) con la salida yc(t) dada por (5.76): en la seal de salida aparece una componente de
frecuencia f1a = 3 kHz que no est presente en la seal de entrada.
Para entradas que satisfagan las hiptesis del teorema del muestreo se puede calcular la
respuesta en frecuencia del sistema continuo, que est dada por
jw
Hc ( f ) =
Xc( f )
H(e )
Yc( f )
=
(
w= Fs 2p
0,
< Fs/2
j j
en caso contrario.
jw
3<
F 2p
< p,
Hc( f ) = 0,
en caso s contrario.
que puede escribirse como
3 2p
0,
Hc( f ) =
Fs
<p
en caso contrario.
1, 4 kHz < f
2p
( 0, en caso j
contrario.
< 4 kHz,
0,
en caso contrario.
jj
Como se coment anteriormente, para que todo el sistema de la Fig. 5.41 se comporte
como uno lineal e invariante en el tiempo para cualquier tipo de entrada, se suele colocar un
ltro analgico antes del conversor C/D de manera de cancelar todas las componentes de
frecuencia que estn por encima de Fs/2. Este preltro ser analizado en la Seccin 5.11.
El ejemplo siguiente es una variacin del Ejemplo 5.13, en que el sistema de procesamiento discreto de seales continuas no se comporta como un sistema invariante en el tiempo
porque la seal de entrada no es de banda limitada, y por lo tanto no cumple con las
hiptesis del Teorema del muestreo. La diferencia con el Ejemplo 5.13 es que el filtro
discreto es un filtro pasaaltos, en lugar de uno con funcin transferencia unitaria.
U.N.S. 2011
68
5. Muestreo de seales
EJEMPLO 5.20. Procesamiento discreto de una seal continua que no est limitada en banda
En el sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig. 5.41, el sistema
jw
discreto H(e ) es es el mismo ltro del Ejemplo 5.19. En este caso, la seal de entrada
xc(t) = u(t + T/10)
u(t
T/10)
que se muestra en la Fig. 5.44(a) no es de banda limitada, ya que su espectro es X c( f ) = (T/5) sinc(T f
/5) [Fig. 5.44(b)]. Se desea calcular la seal continua de salida yc(t).
Cuando xc(t) se muestrea con el tren de impulsos p T (t) lo que se obtiene es la seal x s(t) = d(t)
que se representa en la Fig. 5.44(c) . El espectro X s( f ) est formado por las innitas rplicas
(cada Fs) de Xc( f ). Como X c( f ) no es de banda limitada, las rplicas se solapan, de modo que
1
1
Xs( f ) = T Xc( f rFs) = T (T/5) sinc[(T/5)( f
rFs)]
r
sinc(T f /5 r/5).
Aunque esta suma es complicada de resolver, el espectro Xs( f ) se puede calcular transformando
Z
xs(t):
X s( f ) =
xs(t)e
j2p f t
dt =
j2p f t
d(t)e
dt = 1,
X(e ) = x[n]e
jwn
= 1.
jw
como se muestra en la Fig. 5.44( f ) . Aqu se verica que X(e ) = Xs( f )jf =w 2Fps .
La salida y[n] del sistema discreto con respuesta en frecuencia
( 0, w < p/3, < p,
H(ejw) =
1, pj/3j < j w j
es la respuesta impulsiva del sistema discreto, ya que la entrada es un impulso (x[n] = d[n]),
jw
y por lo tanto se puede calcular como la antitransformada de H(e ). Este es un pasaalto con
frecuencia de corte en p/3, como se muestra en la Fig. 5.44(h). Hay varias maneras de
jw
calcular h[n], por ejemplo antitransformando H(e ),
1Zp
h[n] =
H(ejw)ejwndw, 2p
pero una particularmente sencilla es escribir el pasaaltos como la diferencia entre una constante y
un pasabajos, es decir,
jw
jw
H(e ) = 1
HPB(e ),
de donde
h[n] = d[n]
hPB[n],
jw
[n] =
2p
PB
pn
Procesamiento Digital de Seales
2011
jw
jwn
3 pn/3
3
U.N.S.
69
2011
U.N.S.
70
5. Muestreo de seales
y por lo tanto,
( 2/3,
n = 0,
(1/3) sinc(n/3),
n = 0.
6
como se representa en la Fig. 5.44(g).
jw
jw
Evidentemente, y[n] = h[n] pues x[n] = d[n], y Y(e ) = H(e ), como se representa en las Fig.
5.44(i)-(j).
jw
Para calcular ys(t), Ys( f ) se debe escalar Y(e ). Se tiene entonces,
jw
Ys( f ) = Y(e ) w=
f
j
1, pj/3 < w < p,
<
0, w < p/3,
= (
2p
p/3 <
1,
Fs 2p
0, j f j < F /6,
s
=
j
< p,
que se repite peridicamente cada Fs, como se muestra en la Fig. 5.44(l). Por otra parte, la seal
temporal es
ys(t) = y[n]d(t
nT).
es decir, un tren de impulsos discretos modulados por la seal discreta y[n], tal como se
representa en la Fig. 5.44(k).
Finalmente, para obtener yc(t) se debe ltrar ys(t) con el ltro reconstructor ideal con respuesta
en frecuencia
(
1, j f j < Fs/2,
0, en caso contrario,
H r( f ) =
gracada en la Fig. 5.44(n), y cuya respuesta impulsiva es hr (t) = sinc( fst) [Fig. 5.44(m)].
Por lo tanto, el espectro Yc( f ) de la seal continua yc(t) es la cascada de Ys( f ) con Hr( f ),
(
1,
0, en caso contrario,
que se muestra en la Fig. 5.44(p), y la seal continua y c(t) es la convolucin entre ys(t) y hr (t)
yc(t) = ys(t)
hr (t)
hr (t)
y[n]fhr(t)
n
y[n]d(t
nT)
d(t nT)g =
y[n]hr(t
nT)
d[n] 3 sinc(n/3)
hr (t nT)
como se representa en la Fig. 5.44(o). Una expresin cerrada para yc(t) se puede calcular fcilmente
antitransformando Yc( f ). Se muestran dos maneras de calcularlo.
Y (f) =H
c
PB(Fs /2)
(f)
PB(Fs /6)
( f ).
Como hPB(Fs /2)(t) = T (2 Fs/2) sinc(Fst), y hPB(Fs /6)(t) = T (2 Fs/6) sinc(tFs/3), resulta
2011
(5.77)
U.N.S.
71
Fig. 5.45. Salida yc(t) del sistema del Ejemplo 5.20 ante una entrada xc(t) = u(t + T/10) u(t
T/10).
jj caso contrario.
(
G( f ) = 0, en
con
fm = 1
2
Fs
+Fs
2=
1 F,
s
3
yD f =
Fs
Fs
6=
Fs ,
2 cos(2p fmt)
Df
Entonces,
yc(t) = (2/3) sinc(Fst/3) cos(2pFst/3).
(5.79)
U.N.S. 2011
72
5. Muestreo de seales
Fig. 5.47. Sistema continuo lineal e invariante en el tiempo (a). Sistema equivalente para
en-tradas de banda limitada (b).
2p
con el requisito adicional que la frecuencia de muestreo Fs debe elegirse de manera que
(5.81)
H ( f ) = 0para j f j > F /2.
c
Si Hc( f ) no se anula para j f j > Fs/2 es imposible que los dos sistemas sean
equivalentes, ya que el filtro reconstructor del conversor D/C de la Fig. 5.47(a) impone
esta condicin para el sistema de procesamiento discreto de seales continuas.
Bajo las restricciones impuestas por las ecuaciones (5.80) y (5.81), se puede derivar
una relacin entre la respuesta impulsiva h c(t) del sistema continuo, y la respuesta
impulsiva h[n] del sistema discreto. En particular, como se ver a continuacin, la
relacin entre ambas est dada por
(5.82)
h[n] = T h (t)j
= Th (nT),
t=nT
es decir, que la respuesta impulsiva del sistema discreto es una versin muestreada (cada
T) y escalada (por T) de la respuesta impulsiva del sistema continuo. Cuando las respuestas impulsivas discretas h[n] y continuas hc(t) estn relacionadas por la ecuacin (5.82) se
dice que el sistema discreto es una versin invariante al impulso del sistema continuo.
Fs
2p
U.N.S. 2011
73
Fs
, jwj < p.
(5.84)
2p
H(e )
= jT h (t)j
c
t=nT = Thc(nT),
Fs ,
jwj < p.
= H (f)
c
jf =w 2p
(5.85)
(5.86)
2p Z Fs /2
2p 1
Hc( f )ej f Fs nd f =
2p
Fs /2
Fs /2
(5.87)
Fs /2
Teniendo en cuenta que 1/Fs = T, y que Hc( f ) = 0 si j f j < Fs/2, la ecuacin (5.87) puede
escribirse como
h[n] = T
Finalmente, recordando que h (t) =
Hc( f )e
j2p f (nT)
Hc( f )e
df.
H ( f )ej2p f td f , resulta que
(5.88)
j2p f (nTs )
d f = hc(t)jt=nT ,
1, j f j < fc.
0, en caso contrario.
U.N.S. 2011
74
5. Muestreo de seales
Thc(nT)
2T f sinc(2 f Tn)
c
= 2 fc sinc
2 fc n
Fs
Fs
wc
wc
sinc
p
j j
Se verica, adems que
jw
H(e ) = H ( f )
c
Fs
f =w 2p
El inconveniente con los filtros del ejemplo anterior es que no pueden implementarse
porque:
no son causales ya que las respuestas impulsivas no se anulan para t < 0 o para
n < 0, y
la respuesta impulsiva del filtro discreto no puede ser la respuesta impulsiva
prove-niente de una ecuacin a diferencias, como se discuti en el Captulo 3.
En el ejemplo siguiente se investiga la implementacin de un filtro pasabajos no ideal
de primer orden.
EJEMPLO 5.22. Invariacin al impulso de un sistema de tiempo continuo con funcin de sistema
racional
Hc(s) =
n=1
s + sn
donde sn, con 1 n N son los polos del sistema. Para simplicar la presentacin se considera el
caso en que el ltro est formado por un solo trmino, cuya funcin de sistema es
Hc(s) = A
s0
s + s0
donde sin prdida de generalidad, se supone que s 0 = 2p f0
(5.89)
2011
U.N.S.
75
s0t
u(t) = 2p f0 Ae
(5.90)
2p f0t
u(t).
2p f0 Tn
u[n],
H(e ) = h[n]e
jwn
2p f Tn jwn
0 e
2p f0TAe
= 2p f0TA
n=0
2p f0 T
H(e ) =
j = je
=A
2p f0TA
2p f T
jw
n=0
2p f0 T
2p( f /F )
Fs
jw
(5.91)
jw
0 s e
e
1e
Comparando (5.89) con (5.91) se nota que no se verica (5.80), porque
0
A
H (f)
F
A
=
=
c
f =w 2 ps
1e
2p f T
2p( f0/Fs)
jw
n
e
(5.92)
Fs 1
j 2p f w + 1
j f / f0 1 f =w 2p
Porqu (5.91) es distinta de (5.92)? Se ha cometido algn error?
El problema con el Ejemplo 5.22 es que la respuesta en frecuencia del sistema (5.89)
no es de banda limitada. Como se mencion ms arriba, en este caso H c( f ) es un
filtro pasabajos, y por lo tanto la respuesta en frecuencia (5.90) del sistema no se anula
en ningn rango de frecuencias. A medida que f crece, el valor de jHc( f )j es cada vez
ms pequeo, pero nunca se anula. Entonces la respuesta impulsiva h[n] no es una
seal de banda limitada, y cuando se la muestrea (para obtener h[n] y disear el
sistema discreto) siempre ocurre distorsin por solapamiento.
Este ser menor cuando la frecuencia esquina del filtro est ms alejada de la
frecuecia de muestreo. En el filtro (5.90) la frecuencia esquina en Hertz es s 0. Por lo
tanto, cuanto ms pequea sea la relacin f 0/Fs = f0T tanto menor deber ser el efecto
del aliasing. Si f0 Fs, entonces f0T 1, y
2p f T
0
1 2p f0T +
1
2
( 2p f0T) +
1 ( 2p f0T)3 +
3!
(5.93)
Por otra parte, si el anlisis se limita a la regin de bajas frecuencias, es decir que w 1,
tambin puede aproximarse
jw
(5.94)
e
' 1 jw.
2011
U.N.S.
76
5. Muestreo de seales
H(e ) =
'
'
2p f0TA
1e
2p f T
0
jw
2p f0TA
1 (1 2p f0T)(1 jw)
(5.95)
2p f0TA
1 1 + 2p f0T + jw
1
= A
j 1 w+1
(5.96)
2p f0 T
H(e ) '
A
+1
w
f 2p
F
j s
,si f0/Fs
1 y w 1.
(5.97)
jw
Bajo estas aproximaciones, la respuesta en frecuencia H(e ) del sistema discreto dada
por (5.97) coincide con (5.92), y por lo tanto satisface la relacin (5.80). Es decir, que
aunque el sistema no es de banda limitada, si la frecuencia de corte es mucho menor que
la frecuencia de muestreo, y para bajas frecuencias (lejos de la frecuencia de muestreo) la
expresin (5.80)
jw
La comparacin entre Hc( f )jf =w 2Fps y H(e ) dadas por las ecuaciones (5.91) y (5.92), respectivamente, se ilustra en la Fig. 5.48 para filtros con distintos anchos de banda. El eje
de frecuencia se ha normalizado a Fs o a 2p para poder comparar las respuestas de los
filtros continuo y discreto sobre un mismo grfico. En las curvas de la columna izquierda el
eje de frecuencias es lineal, mientras que en las de la derecha es logartmico para poder
apreciar mejor la variacin del ancho de banda del filtro. En la Tabla 5.2 se indican los
valores del mdulo de la respuesta en frecuencia para ambos filtros en tres frecuencias
destacadas: continua ( f = w = 0), la frecuencia de corte ( f /F s = w/(2p) = f 0/Fs), y a la
mitad de la frecuencia de muestreo ( f /Fs = w/(2p) = 1/2).
En la Fig. 5.48(a) se muestran las respuestas en frecuencia cuando la frecuencia de
corte f0 del filtro analgico Hc( f ) es de un centsimo de la frecuencia de muestreo ( f 0
= 0,01Fs). La respuesta de los filtros es prcticamente idntica para todo el rango de
frecuencias del filtro discreto (en los grficos, hasta 0,5 f /F s). La variacin de la
ganancia es mnima, aunque el filtro discreto tiene una ganancia 1,5 veces mayor a al
mitad de la frecuencia de muestreo.
Esta comparacin indica que la relacin H(e ) = Hc( f )jf =w 2Fps que es vlida cuando el
sistema continuo es de banda limitada, deja de serlo para sistemas analgicos comunes,
U.N.S. 2011
77
Fig. 5.48. Mdulo de la respuesta en frecuencia del sistema continuo H c( f ) y del sistema
jw
dis-creto H(e ) derivado por el mtodo de invariacin al impulso, gracados
en funcin de la frecuencia normalizada, en escala lineal (izquierda) y
logartmica (derecha) para distintas frecuencias de corte del ltro pasabajos:
f0 = 0,01Fs (a), f0 = 0,05Fs (b); f0 = 0,1Fs (c). El crculo indica la frecuencia de
corte f0, donde la amplitud cae al 70 % ( 3 dB).
Tabla 5.2: Comparacin de los mdulos de las respuestas en frecuencia del filtro
jw
f0 = 0,05Fs
jw
f0 = 0,1Fs
jw
f /Fs
0
jHc( f )j
1,000
H(e )
1,031
jHc( f )j
1,000
H(e )
1,165
jHc( f )j
1,000
H(e )
1,374
f0/Fs
1/2
0,707
0,020
0,729
0,032
0,707
0,099
0,827
0,181
0,707
0,196
0,968
0,410
U.N.S. 2011
78
5. Muestreo de seales
es decir, expresados como funciones transferencia con polos y con ceros. La igualdad
es aproximadamente cierta si las singularidades del sistema continuo (los polos) estn
ubicados en frecuencias mucho menores a la frecuencia de muestreo.
y[n] sinc
y (t) =
c
t TnT
(5.99)
donde x[n] = xc(t)jt=nT, e y[n] = yc(t)jt=nT. Las relaciones en el dominio frecuencia para
el esquema de la Fig. 5.49
son = T X(e )
X(f)
,
j f j < F /2,
(5.100)
jw
w= f
2Fps
jw
Y(e )
j f j < Fs/2,
(5.101)
jwj < p.
(5.102)
es
jw
2011
jwj < p,
U.N.S.
79
H(e ) = e
jDw
(5.104)
,jwj < p.
D],
(5.105)
2p
j2pD
=e
F1s = e
j2pDT f
(5.106)
w= f
Fs
donde T = 1/Fs, de la ecuacin (5.103) resulta que el sistema de tiempo discreto tendr la
respuesta en frecuencia especicada por (5.104), independientemente que D sea entero o no.
Recordando las propiedades de la transformada de Fourier del Captulo 2, se observa que
(5.106) representa un retardo temporal (de tiempo continuo) de DT segundos. Por lo tanto,
(5.107)
De acuerdo con el esquema de la Fig. 5.49, xc(t) es una interpolacin de banda limitada de
x[n], e y[n] se obtiene muestreando y c(t). Por ejemplo, si D = 1/2, y[n] estara formada por
las muestras de la interpolacin xc(t) de x[n] tomadas entre medio de las muestras
originales, como se muestra en la Fig. 5.50.
Tambin se puede obtener una interpretacin temporal del sistema denido por la
respuesta en frecuencia (5.104), es decir, encontrar su respuesta impulsiva. Esto se puede
conseguir de dos maneras:
U.N.S. 2011
80
5. Muestreo de seales
Fig. 5.50. El procesamiento en tiempo continuo de seales discretas para la seal (a)
produce una salida retardada media muestra (b).
2p
j(n
D)
ej(n
D)w w=
j(n
D)p
j(n
= 2 j(n D) h
e
p
1 sen[p(n D)]
p
(n D)
D)p
y[n] = y (t)
c
jt=nT
= x (t
c
x[`] sinc[(t
`
x[`] sinc (n
T)
DT
jt=nT
`T) /T]jt=nT
D `)
U.N.S. 2011
81
do ideal, y estudiado en el Captulo 3. Sin embargo, si D no es un entero, h[n] es un sistema tipo IIR: su respuesta impulsiva tiene longitud infinita. Adems no es causal porque
h[n] 6= 0 para n < 0, y tampoco se puede implementar como una ecuacin a diferencias, tal
como se mostr en el Captulo 3 para los filtros ideales, porque la respuesta impulsiva no
n
es de la forma a u[n]. Este resultado indica que si uno quisiera retardar una suce-sin en
fracciones de muestra, no podra conseguirlo con un sistema lineal e invariante en el
tiempo. En muchsimas aplicaciones es deseable poder retardar una seal discreta un
nmero fraccionario de muestras, por ejemplo, para separar espacialmente distintas
fuentes de sonido, o sumar aditivamente distintas seales que provienen de una fuente
lejana, como es el caso del sonar. En este caso se usan sistemas variantes en el tiempo
conocidos como interpoladores que permiten retardar una seal la cantidad deseada (sea
un nmero entero o fraccionario de muestras) sin necesidad de convertir la seal discreta a
otra seal continua en et tiempo y viceversa. En definitiva, el esquema de la Fig. 5.49
nunca se usa en la prctica.
1/N,
1,
0,
caso contrario,
)=
1 sen(wN/2)
N sen(w/2)
j
e
N 1
(5.108)
wn 2
U.N.S. 2011
82
5. Muestreo de seales
Fig. 5.52. Respuesta en frecuencia en mdulo y fase del promediador de largo impar con
No = 7 (a) y de largo par con Ne = 6 (b).
Fig. 5.53. Entrada x[n] (a), salida yo[n] del promediador de largo impar con No = 7 (b) y
salida ye[n] del promediador de largo par Ne = 6 (c).
2011
U.N.S.
83
donde
que:
jw
f = argf H(e
) w=wc g,
jHo (e )j
w=p/6
sen(w/2) ej
No
1 3+1
jw
arg
fo
de modo que
w=p/6
)j
jHo (e
= 7 p3
0,53,
p
3 +1
yo [n] =7 p3 sen p n p
6
2
1
(5.109)
jHe(e )j
w=p/6
jw
fe
sen(wNe/2)
sen(w/2)
Ne
arg jH (e
e
=
w=p/6
)j
5p
1w
Ne
= 3 p3
12
sen
6n
0,64
p.
(5.110)
12
Las expresiones (5.109) y (5.110) muestran que tanto el promediador de largo N = N o = 7 como
N = Ne = 6 no slo reducen la amplitud de la seal, sino que introducen un desfasaje ( fo = p/2 o
fe = 5p/12) que se puede expresar en muestras, reescribiendo estas ecuaciones como
p +1
yo[n]
ye[n]
donde
D
o
fo
wc
= 7 p3 1
1 p
=
p 2
6 31
sen p
p/6
(n Do) ,
sen p (n D ) ,
6
e
p/2
= 3,
D
e
fe
wc
5p/12
p/6
5
= .
2
Las formas de onda de las seales de entrada y de salida para cada caso se muestran en la Fig. 5.53
donde se ha gracado en lnea de trazos la seal de tiempo continuo que hubiese sido interpolada
por el conversor D/C ideal tanto para la seal de entrada en la Fig. 5.53(a) como para las seales de
salida del sistema promediador de largo impar y par, en las Fig. 5.53(b) y (c) , respectivamente. Para
el caso del promediador de largo impar N = No = 7, la salida del sistema queda retrasada 3 muestras
respecto a la seal de entrada, como se observa al comparar el pico de la entrada en
Procesamiento Digital de Seales
2011
U.N.S.
84
5. Muestreo de seales
n = 3 con el pico de la salida yo[n] en n = 6 en la Fig. 5.53(b) . Para el promediador de largo par
con N = Ne = 6, la salida del sistema es una seal muestreada que queda desfasada 2,5 muestras
respecto de la seal de entrada, como se muestra en la Fig. 5.53(c) . La diferencia entre el mximo
de la interpolacin de la seal de entrada, por ejemplo el ubicado en n = 15, y el mximo de la
interpolacin de la seal de salida que aparece en n = 17,5 es de 17,5 15 = 2,5 muestras.
2011
U.N.S.
85
Fig. 5.54. Procesado discreto de seales de tiempo continuo (a) vs. procesado digital de
seales analgicas (b).
Adems, an cuando la seal sea de banda limitada, el ruido aditivo de banda ancha
puede tener componentes frecuenciales superiores a Fs/2, y por lo tanto al muestrear
la seal, las componentes de alta frecuencia del ruido quedarn replicadas en baja frecuencia. Si se desea evitar la distorsin por solapamiento, se limita en banda la seal
de entrada filtrndola con un filtro pasabajos previo a la conversin A/D, como se
mues-tra en la Fig. 5.55. Este filtro analgico se conoce como prefiltro o filtro
antialiasing, y su respuesta en frecuencia ideal est dada por
(
1, j f j < Fs/2,
(5.111)
Ha( f ) =
0, j f j > F /2.
s
j f j Fs
Por lo tanto, si se utiliza un filtro antialiasing ideal, el sistema de la Fig. 5.55 se comporta
como un sistema lineal e invariante en el tiempo con respuesta en frecuencia H e( f ) dada
Procesamiento Digital de Seales
U.N.S. 2011
86
5. Muestreo de seales
Fig. 5.56. El ltro antialiasing permite extender el rango de frecuencias donde el sistema de
procesamiento discreto de seales continuas se comporta como un sistema lineal
e invariante en el tiempo. Sistema sin (a)-(d) y con (e)-(i) ltro antialiasing.
por (5.112), an cuando el espectro Xc( f ) de la seal de entrada x c(t) no est limitado
en banda.
El uso de un prefiltro permite extender el rango de frecuencias donde el sistema de procesamiento discreto de datos continuos se comporta como un sistema lineal e invariante en
el tiempo, como se muestra en la Fig. 5.56. El espectro de una seal de banda limitada,
pero cuya frecuencia mxima fN es menor que la mitad de la frecuencia de muestreo F s/2
se muestra en la Fig. 5.56(a) . Al muestrear esta seal cada T = 1/F s se produce distor-sin
por solapamiento, afectando el espectro Xs( f ) como se representa en la Fig. 5.56(b):
U.N.S. 2011
87
He( f )
jw
Ha( f ) H(e )
(5.113)
w= f
pequeo por encima de Fs/2, la frecuencia de corte del filtro debe estar un poco por
debajo de Fs/2; esto significa que la banda de transicin del filtro queda dentro de la
banda de Nyquist. La ecuacin (5.113) sugiere que la atenuacin producida en la
banda de transicin (y otras distorsiones producidas por sistemas lineales e invariantes
jw
en el tiempo) puede compensarse parcialmente con la respuesta H(e ) del filtro
discreto. Esta aproximacin se explora en el Problema 28.
Algunos ejemplos
En los siguientes ejemplos se estudia el efecto de un prefiltrado analgico en el desempeo de un sistema de procesamiento de seales. En los siguientes ejemplos se estudia
U.N.S. 2011
88
5. Muestreo de seales
Fig. 5.57. Esquema del sistema de procesamiento discreto de seales continuas con
preltrado analgico para los Ejemplos 5.25 a 5.28.
Fig. 5.58. Espectro Xc( f )de la seal xc(t) de los Ejemplos 5.25 a 5.28.
el efecto que tiene sobre la salida del sistema de procesamiento discreto de seales
con-tinuas representado en la Fig. 5.57 el filtrar una seal xc(t) con un prefiltro
analgico con respuesta en frecuencia Ha( f ). La salida xa(t) del filtro se muestrea a Fs
= 40 kHz, e in-mediatamente se recupera con un filtro reconstructor ideal H r( f ), cuya
salida es la seal xr(t), como se muestra en la Fig. 5.57.
La seal xc(t) a muestrear est compuesta por seis tonos,
xc(t) = 2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt) +2C
cos(2p fCt) + 2D cos(2p fDt) +2E
cos(2p fEt) + 2F cos(2p fFt),
donde fA = 5 kHz, fB = 15 kHz, fC = 25 kHz, fD = 30 kHz, fE = 45 kHz, y fF = 62,5 kHz.
Se supone que todos tienen la misma amplitud, A = B = C = D = E = F = 1. Los nicos
tonos que estn en la banda de audio son los de frecuencia f A y fB, y si la seal xc(t)
se reprodujese por un parlante, el odo slo escuchara la seal
x1(t) = 2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt).
El espectro Xc( f ) de la seal xc(t) se observa en la Fig. 5.58. El proceso de muestreo crear
rplicas de este espectro, centrados en mltiplos de F s = 40 kHz. Las cuatro componentes C,
D, E, y F estn fuera del rango de Nyquist, y por lo tanto aparecern componentes
frecuenciales imgenes dentro del intervalo Fs/2 en las siguientes frecuencias:
fC = 25 kHz
fD = 30 kHz
fE = 45 kHz
fF = 62,5 kHz
) f
C,a
= (( f ))
C
Fs
= fC
Fs = 25 40 = 15 kHz = fB
(5.114)
El primer ejemplo muestra cmo es el espectro Xr( f ) de la seal de salida xr(t) cuando
no se utiliza prefiltro, es decir, Ha( f ) = 1 para todo f .
2011
U.N.S.
89
Fig. 5.59. Espectro Xr( f ) de la seal xr (t) a la salida del reconstructor ideal cuando no
se usa preltro en el esquema de la Fig. 5.57.
(5.115)
donde cada componente fuera de la banda de Nyquist se ha reemplazado por su imagen; por ejemplo,
En la prctica no se pueden utilizar prefiltros ideales. Cualquier filtro analgico real tiene
diferencias tando en la banda de paso como en la banda de rechazo. Si bien puede
U.N.S. 2011
90
5. Muestreo de seales
conseguirse que la ganancia del filtro real sea aproximadamente igual a la unidad en la
banda de paso, en la banda de rechazo la atenuacin mnima depende de la
caracters-tica (Butterworth, Chebyshev o elptica) del tipo de filtro que se utilice. en el
ejemplo que sigue el prefiltro Ha( f ) tiene la respuesta en frecuencia asinttica que se
muestra en la Fig. 5.61: una banda de paso plana en el rango de audio (entre 0 y 20
kHz), y un decaimiento montono a razn de 60 dB/octava a partir de los 20 kHz (en
40 kHz la atenuacin del filtro ser de 60 dB, o mil veces). Para los propsitos del
ejemplo, no in-teresa la respuesta en fase, y se considera que es nula.
ee
donde q( f ) = arg[H( f )]. En este ejemplo se supone que el preltro tiene desfasaje nulo, de
manera de q( f ) = 0; las conclusiones bsicas no se ven afectadas por esta simplicacin.
La ecuacin (5.116) tambin es vlida para el caso en que no se emplea preltro, en cuyo
caso basta suponer que
jH( fA)j = jH( fB)j = jH( fC)j = jH( fD )j = jH( fE)j = jH( fF)j = 1, y
tambin cuando se utiliza un preltro ideal, para el cual
En el caso del ltro de la Fig. 5.61, como las frecuencias f A y fB estn en la banda de paso,
tambin se verica que
Fig. 5.60. Espectro Xa( f ) de la seal xa(t) a la salida del preltro ideal.
2011
U.N.S.
91
dos frecuencias, esto es, si fy = 2 fx, fy est apartada a = log2( fy/ fx ) de fx (Si la especicacin se da
en dB/dcadas, el nmero de dcadas entre dos frecuencias es a = log10( fy/ fx); en este
a
caso, la relacin entre fx y fy est dada por fy = 10 fx). Se encuentra as que
aC = log2
25 = 0,322,
= log2
20
30 = 0,585,
Fs/2
aD = log2
= log2
20
55 = 1,170,
Fs/2
fE = log2
aE = log2
20
62,5 = 1,644,
Fs/2
fF = log2
aF = log2
20
Fs/2
y por lo tanto, las atenuaciones en cada frecuencia sern
At
= 60 dB 0,322 octavas = 19,3 dB,
fC
octava
dB 0,585 octavas = 35,1 dB,
At fD = 60
octava
dB 1,170 octavas = 70,1 dB,
At fE = 60
octava
dB 1,664 octavas = 98,6 dB.
At fF = 60
octava
At/20
jH( f )j
fs/2)j
= 10 At/20. jH(
Suponiendo que la banda de paso est normalizada a 0 dB, i.e. que la ganancia en la banda
de paso es unitaria, jH(Fs/2)j = 1, y en consecuencia
jH( fC)j = 10
19,3/20
= 9,
jH( fD)j = 10
35,1/20
= 57 ,
jH( fE)j = 10
70,1/20
= 3234 ,
1
98,6/20
jH( fF)j = 10
=
.
85114
U.N.S. 2011
92
5. Muestreo de seales
Fig. 5.62. Espectro de salida Xa( f ) del preltro analgico cuya respuesta en frecuencia
se mues-tra en la Fig. 5.61, cuando se lo excita con la seal x c(t).
Fig. 5.63. Espectro Xr ( f ) de la salida x r(t) del ltro reconstructor cuando la entrada x c(t)
se ltra con un preltro analgico Ha( f ) con una pendiente de 60 dB/oct en
la banda de transicin.
Por lo tanto, segn (5.116), la salida xa(t) del preltro analgico ser
xa(t)
+2
3234
cos(2p f t) + 2
E
85114
cos(2p f t).
F
En la gura se observa que las componentes frecuenciales que estn fuera de la banda de audio han sido
atenuadas por el preltro, de manera que cuando se repliquen dentro de la banda a consecuencia del
proceso de muestreo la distorsin ser mucho menor. Las rplicas de las frecuencias que estn fuera del
intervalo de Nyquist aparecen en las mismas frecuencias calculadas en (5.114), cuando no haba un pre
ltro analgico. Por lo tanto, luego del muestreo y la reconstruccin se tiene
ltro.
U.N.S. 2011
93
EJEMPLO 5.28. Espectro de salida cuando se usa un preltro real de menor orden
Si el orden del preltro es N = 5, la pendiente de atenuacin ser de 30 dB/octava, y las
atenuaciones de las componentes que estn fuera de la banda de paso se reducen a la mitad,
At
At
At
At
fC
fD
fE
fF
dB
= 30 octava
0,322 octavas = 9,7 dB,
= 30 octava
= 30 octava
= 30 octava
dB
dB
dB
y en unidades absolutas,
jH( fC)j = 10
9,7/20
jH( fD)j = 10
17,6/20
= 7,5 ,
jH( fE)j = 10
35,1/20
= 57 ,
jH( fF)j = 10
49,3/20
= 292 .
= 3,
U.N.S. 2011
94
5. Muestreo de seales
El conversor A/D es un circuito que produce una salida x B[n] en cdigo binario que
representa aproximadamente el valor de la amplitud de la seal de tensin o corriente
presente en la entrada. El trmino aproximadamente tiene que ver con que la salida
del conversor tiene precisin finita: en un conversor de B bits, la salida codificada s-lo
B
puede tomar uno de los 2 valores posibles. Usualmente se utiliza una seal de reloj
externa para hacer que el conversor A/D produzca una muestra de salida cada T
segun-dos. La conversin del valor de tensin o corriente a un cdigo binario demanda
cierta cantidad de tiempo que depende del tipo de conversor; por este motivo, en los
sistemas de conversin A/D de altas prestaciones se incluye un mantenedor (sample
and hold, en ingls) que se encarga de aislar las variaciones de la seal de la entrada
del conversor durante todo el tiempo que demande la conversin. La salida del
mantenedor en funcin de la seal de entrada es
x0(t) = xa(nT)h0(t nT) = x[n]h0(t nT),
n
(5.118)
donde x[n] = xa(nT) son las muestras (ideales) de la seal de entrada x a(t) y h0(t) es la
respuesta impulsiva del mantenedor. El caso habitual es utilizar un mantenedor de
orden cero, caracterizado por la respuesta impulsiva
h0 (t) =
1, 0 < t < T,
0, en caso contrario.
(5.119)
xa(nT)d(t
nT),
lo que indica que el mantenedor ideal es equivalente a la modulacin de un tren de impulsos pT (t) por la seal continua xa(t) seguida por un filtrado lineal por el sistema
mantenedor, como se muestra en la Fig. 5.65(a) . La salida del mantenedor se
mantiene constante en el intervalo de tiempo transcurrido entre instantes de muestreo,
permitien-do que el conversor A/D utilice ese tiempo para obtener una representacin
numrica de ese valor analgico con el mnimo error posible.
Porqu usar un mantenedor
En un sistema de procesamiento de datos, donde el conversor analgico digital (A/D) es-t
precedido de un mantenedor de orden cero la mayor frecuencia de muestreo utilizable
U.N.S. 2011
95
depende, en general, del tiempo de conversin. Por ejemplo, la (antigua) serie de conversores de 8 bits ADC0803/4/9 de National Instruments tiene un tiempo de conversin
ligeramente inferior a los 100 ms, de manera que pueden convertir una seal analgica
a una sucesin de nmeros a razn de 10000 muestras por segundo.
El empleo de un mantenedor de orden cero de calidad comparable permite procesar
seales cuya mxima componente frecuencial sea ligeramente menor que 5 kHz. Si no
se coloca un mantenedor de orden cero, el lmite a la mxima frecuencia de la seal a
convertir est determinado por el mximo error de conversin tolerable. Una hiptesis
razonable es que la variacin de la amplitud de la seal en un perodo de muestreo
sea menor que la resolucin D (el paso de cuantizacin) del conversor.
Para determinar la mxima frecuencia admisible de la seal de entrada, se supondr
que la seal a muestrear es una sinusoide de amplitud A, esto es x(t) = A sen(2p f0t).
La amplitud A se elige de manera de explotar al mximo el rango dinmico del
conversor: para un conversor de B bits, la amplitud A debe satisfacer
B
2A = 2 .
La frecuencia f0 se calcula de manera que la mxima variacin dxmax de la seal de entrada durante un perodo de muestreo no exceda el valor D de resolucin del conversor. La
mxima variacin temporal de la seal senoidal ocurre en instante del cruce por cero, y en
esos momentos la pendiente es 2pA f0, como se muestra en la Fig. 5.66, y en el intervalo
de un perodo de muestreo T la variacin total de la seal es dxmax = 2pA f0T.
U.N.S. 2011
96
5. Muestreo de seales
Tabla 5.3: Mxima frecuencia de una seal sinusoidal que puede aplicarse a un
conversor ADC0800 para mantener la precisin de 8 bits con/sin mantenedor.
Frecuencia mxima de la seal de entrada
con mantenedor
sin mantenedor
5000.0 Hz
12.4 Hz
2 A
de donde
f <
0
p2B
F,
s
2011
U.N.S.
97
Cuantizacin de la seal
El mantenedor de la Fig. 5.64 representa el proceso de muestrear la seal de entrada,
y mantener el valor muestreado para que sea cuantizado por el conversor A/D. Un
mode-lo de este sistema se muestra en la Fig. 5.68, donde el conversor C/D ideal
representa el muestreo efectuado por el muestreador/mantenedor y el
cuantizador/codificador mod-ela la operacin del conversor A/D.
Procesamiento Digital de Seales
U.N.S. 2011
98
5. Muestreo de seales
2011
U.N.S.
99
esquema de codificacin conocido como offset binario, en el cual los smbolos binarios se
asignan en orden numrico, comenzando con el nivel de cuantizacin ms negativo.
En procesamiento de seales se prefiere un cdigo que permita realizar operaciones aritmticas sobre las palabras de cdigo interpretndolas como una versin escalada de las
muestras cuantizadas. La columna de la izquierda muestra una asignacin conocida co-mo
complemento a 2, que es el sistema utilizado para representar valores signados en la
mayora de los microprocesadores. La representacin offset binario puede convertirse a la
representacin complemento a 2 complementando el bit ms significativo.
En el sistema complemento a 2 el bit ms significativo se considera el bit de signo y el
resto se interpreta como un entero o como fracciones. Esta ltima forma es conveniente
para trabajar con variables normalizadas. Implcitamente, se asume que hay un punto
decimal entre los dos bits ms significativos. Por ejemplo, para una palabra de 3 bits (B =
2), los smbolos binarios tienen el siguiente significado en complemento a 2:
smbolo binario
valor numrico xB
0 11
3/4
0 10
0 01
0 00
1 11
1 10
1 01
1 00
1/2
1/4
0
1/4
1/2
3/4
1
a0 a1a2 . . . aB
es
0
a02 + a12
+ a22
+ aB2 .
= Xm
(5.121)
2
Los niveles de cuantizacin ms pequeos ( D) corresponden al bit menos significativo de la palabra binaria. La relacin numrica entre el cdigo y el valor de la muestra
cuantizada es
(5.122)
x[n] = X x [n],
2B+1
U.N.S. 2011
100
5. Muestreo de seales
conveniente suponer que la seal de entrada est normalizada, de modo que los
valores numriocos de x[n] y xB[n] son idnticos, y entonces no hay necesidad de
distinguir entre las muestras cuantizadas x[n] y las muestras codificadas xB[n].
En la Fig. 5.70 se muestra un ejemplo de cuantizacin y codificacin de una seal sinusoidal utilizando un cuantizador de 3 bits. Las muestras x[n] sin cuantizar se indican con un
crculo vaco, y las muestras cuantizadas x[n] con un crculo lleno. Tambin se mues-tra la
salida de un manetendor de orden cero ideal (con lnea llena). Las lneas punteadas
indican la salida del conversor D/A, que se discutir ms adelante. En la figura se listan
tambin las palabras de 3 bits utilizadas para representar cada muestra. Como la seal
analgica xa(t) excede el rango de escala completa del conversor, algunas de las muestras
positivas resultan recortadas (por ejemplo, en t = 0, t = T, t = 8T, t = 9T, etc.)
Aunque la discusin precedente enfatiza la codificacin tipo complemento a dos de los
niveles de cuantizacin, los principios bsicos de cuantizacin y codificacin en la conversin A/D son los mismos sin importar qu tipo de cdigo binario se utilice para representar las muestras. Una discusin ms detallada de los sistemas de aritmtica binaria
utilizados en sistemas de cmputos digitales se puede encontrar en textos clsicos como
The art of computer programming de Knuth (1997).
ln(1 + mjxj)
,
ln(1 + m)
donde la entrada x y la salida f (x) estn normalizadas entre 1, y m es el parmetro de
compresin (m = 255 para Estados Unidos y Japn). En la Tabla 5.4 se muestra la
traduccin de una variable entera de 13 bits codificada linealmente en una variable entera
U.N.S. 2011
101
>
<
donde
A
es el parmetro de compresin (
1 + ln(A x )
>
jj
sgn(x)
>
1 + ln A
>
xj
,
A
= 87,6 en Europa), y
1,
es el valor normalizado
x
:
del entero a comprimir. La forma de la caractersitica entrada/salida es muy similar a la
de la ley m (Fig. 5.71). A fines de implementacin en sistemas digitales, la ley se
aproxima por una funcin lineal a tramos. Las diferencias entre la ley m y la ley A son
menores. Por utilizar menor cantidad de bits, la ley A genera seales de menor
amplitud y menor calidad que la ley m. Sin embargo, el rango dinmico de la ley A es
mayor que el de la ley m (48.7 dB versus 48.4 dB).
e[n] = x[n]
x[n].
Por ejemplo, para el cuantizador de 3 bits de la Fig. 5.69, si D/2 < x[n] < 3D/2, entonces
x[n] = D, y resulta que
D/2 < e[n] < D/2.
(5.123)
En el caso de la Fig. 5.69, esta ecuacin se satisface para cualquier muestra x[n] cuyo
valor est comprendido dentro del rango
9D/2 < x[n]
7D/2.
Xm
D/2.
Si x[n] est fuera de este rango, como para en t = 0 en la Fig. 5.70, entonces el error
de cuantizacin es de mayor magnitud que D/2, y se suele decir que estas muestras
estn recortadas (clipped).
Un modelo simplificado pero til del cuantizador se muestra en la Fig. 5.72, en el cual
las muestras del error de cuantizacin se piensan como una seal de ruido aditivo. El
modelo es exactamente equivalente al cuantizador si se conoce e[n] ; sin embargo, en
la mayora de los casos e[n] no se conoce y resulta ms til utilizar un modelo
estadstico basado en la estructura de la Fig. 5.72 para representar los efectos de la
cuantizacin en los algoritimos de procesamiento de seales. La representacin
estadstica del error de cuantizacin est basada en las siguientes hiptesis:
U.N.S. 2011
102
5. Muestreo de seales
bits de salida
12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
6 5 4 3 2 1
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
1
1
1
1
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
1
0 00 1
ab c dx
0 01
ab c dxx
0 1
abcdx xx
1
axxxx x xx
a bxxxx x xx
ab c xxxx x xx
a b c dxxxx x xx
a b cdxxxxx x xx
0
0
1
1
0
0
1
1
0
1
0
1
0
1
0
1
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
bits de salida
11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0
6 5 43 2 1 0
0
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
1
1
1
1
0
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
1
2011
0
0
0
0
1
0 0 0 a b c dx
0 0 1 a b c dx
0 1
a b c dxx
1
a b c dx xx
a b c dx x xx
ab c dx x x xx
ab c dx x x x xx
a bcdx x x x x xx
0
0
1
1
0
0
1
1
0abcd
1abcd
0abcd
1abcd
0abcd
1abcd
0abcd
1abcd
U.N.S.
103
U.N.S. 2011
104
5. Muestreo de seales
Fig. 5.73. Ejemplo del ruido de cuantizacin. Muestras de la seal x[n] = 0,99 cos(n/10)
(a); muestras cuantizadas a 3 bits de la seal x[n] (b); error de cuantizacin de
la seal x[n] cuantizada a 3 bits (c); error de cuantizacin de la seal x[n]
cuantizada a 8 bits (d).
2011
U.N.S.
105
entonces el error siempre hubiese sido negativo, y se hubiese tenido una funcin de
den-sidad de probabilidad definida sobre el intervalo desde D a 0. Para completar el
modelo estadstico del ruido de cuantizacin, se supone que las muestras de ruido no
estn cor-relacionadas entre s, y tambin que e[n] no est correlacionado con x[n].
Por lo tanto, se asume que el ruido de cuantizacin e[n] es una sucesin de ruido
blanco con distribucin uniforme. El valor medio de e[n] es nulo, y su varianza es
D/2
1
D2
de =
.
Z 2
Z
2
2
s e = e pen (e)de = D/2 e D
12
Para un cuantizador de
(B + 1) bits, con un rango a fonde de escala de X m, el paso de
B
cuantizacin es D = 2 Xm, de modo que la varianza del ruido (su potencia) es
2 2B X2
s e=
12
Una medida comn de la degradacin de una seal contaminada por ruido aditivo es la
relacin seal a ruido (SNR), definida como el cociente entre las varianzas (potencias)
de la seal y del ruido. La SNR de un cuantizador de (B + 1) bits, expresada en
decibeles (dB) es
2
SNR = 10 log
10
= 10 log
s2e
= 10 log10 12 + 10 log10(2
12
10
2B
22B
Xm
2
2sx
) + 10 log10
sx
Xm
sx
(5.124)
La expresin (5.124) muestra que la relacin seal a ruido se incrementa aproximadamente 6 dB por cada bit B que se agrega a la longitud de palabra de la muestra
cuantiza-da, es decir, por cada duplicacin del nmero de niveles de cuantizacin. Sin
embargo, debe prestarse especial atencin al trmino
sx .
20 log10 Xm
(5.125)
El parmetro Xm es propio del cuantizador, y en cualquier sistema real est fijo: es el rango
de tensiones mximas y mnimas aceptado por el conversor A/D. La cantidad sx es el valor
medio cuadrtico (RMS) de la amplitud de la seal, y necesariamente es menor
p
que el valor pico de la seal. Por ejemplo si x[n] es una sinusoidal con amplitud pico X , p
U.N.S. 2011
106
5. Muestreo de seales
valor RMS es extremadamente baja. Por ejemplo, si la amplitud de la seal tiene una
distribucin Gaussiana, slo el 0.064 % de las muestras tendr una amplitud superior
a 4sx. Entonces, para evitar recortar los picos de la seal se debe ajustar la ganancia
de los filtros y amplificadores que preceden al conversor A/D de manera que sx = Xm/4.
Reemplazando este valor de sx en (5.124) se encuentra que
SNR
6B
1,25 dB.
Por ejemplo, para obtener una relacin seal a ruido de alrededor de 90 a 96 dB como
se necesita para grabacin y reproduccin musical de alta fidelidad se requieren 16
bits de cuantizacin; sin embargo, tal desempeo slo se puede alcanzar si la amplitud
de la seal de entrada se ajusta apropiadamente al rango del conversor A/D.
fj
j > F /2.
s
(5.126)
xr(t) = x[n]hr(t
n
nT)/T]
donde hr(t) = sinc(t/T). El sistema que tiene como entrada la sucesin de muestras x[n] y
como salida la seal de tiempo continuo reconstruida se denomina conversor D/C ideal.
Sin embargo, este no es un dispositivo fsico (circuito integrado); la contraparte real de
este modelo idealizado es el conversor digital analgico (D/A), seguido por un filtro
U.N.S. 2011
107
pasabajos apropiado. Como se muestra en la Fig. 5.75(a), el conversor D/A toma una
sucesin de nmeros binarios como entrada, y produce una salida de tiempo continuo
de la forma
Xm xB[n]h0(t
xDA(t) =
nT)
x[n]h0(t
(5.127)
nT)
donde h0(t) es la respuesta impulsiva del mantenedor de orden cero dada por la
ecuacin (5.119). Las lneas de trazos en la Fig. 5.70 (en la pgina 99) muestran la
salida del con-versor D/A para las muestras cuantizadas de la seal sinusoidal. El
conversor D/A mantiene el valor de la muestra cuantizada durante un perodo de
muestreo, de la misma manera que el mantenedor de orden cero mantiene el valor (no
cuantizado) de la muestra de entrada. En general este no es un dispositivo adicional,
sino que est formado por el latch interno del conversor D/A.
Utilizando el modelo de ruido aditivo para representar los efectos de la cuantizacin, la
salida xDA(t) del conversor D/A dada por la ecuacin (5.127) es
(5.128)
x (t) = x[n]h (t nT) + e[n]h (t nT).
DA
x (t)
0
e0(t)
x[n]h0(t
(5.129)
nT),
e[n]h0(t
(5.130)
nT),
x[n]e
= X(ejw)j
w= f
2p
j2p f nT
H0 ( f )
H0( f ).
Fs
Como
se encuentra que
X(ejw)j
w= f
2 p
F s
= 1
X ( f kF ),
s
T k a
" 1
#
k
T
X0( f ) =
Xa( f kFs) H0( f ).
(5.131)
Si Xa( f ) est limitada en banda a frecuencias menores que Fs/2, las rplicas de Xa( f ) no
se solapan en la ecuacin (5.131). Si se define un filtro de reconstruccin compensado
H(f) ,
r
Hr( f ) = H0( f )
Procesamiento Digital de Seales
U.N.S. 2011
108
5. Muestreo de seales
la salida del fitro ser xa(t) cuando la entrada es x0(t). Como la respuesta impulsiva del
mantenedor de orden cero es un pulso de altura unitaria y ancho T,
h0(t) = u(t)
su transformada de Laplace es
u(t
1
T),
e Ts
,
H0(s) = s
s
y por lo tanto su transformada de Fourier est dada por
H(f) =
jpT f
1 e j2pT f = e
(ejpT f e jpT f ) = e
0
j2p f
j2p f
= e jpT f T sinc(T f ).
jpT f
sen(pT f )
pf
(5.132)
H r( f ) =
<
sinc(T f )
0,
, j f j < F /2,
s
j j > F /2.
s
f
(5.133)
r(
) queH debe
colocarse a la salida de un conversor D/A. La respuesta de
f
fase sera idealmente un adelanto de fase de medio perodo de muestreo (T/2), para compensar el retardo causado por el mantenedor de orden cero (5.132). Como este avance de
U.N.S. 2011
109
x[n] sinc[(t
xr(t) =
nT)/T]
x[n] sinc[(t
nT)/T] +
e[n] sinc[(t
nT)/T]
(5.134)
)j
(
f
)
H
(
e
Ya( f ) = Hr( f )H0
w= f
2p
Ha( f )Xc( f ),
(5.135)
Fs
a(
2
F
( f )H(e
(5.136)
Pen ( f ) =
)j
Hr( f )H0
w= f
2 p
F s
se .
jw
2p
Ha( f ).
(5.137)
U.N.S. 2011
110
5. Muestreo de seales
Si el filtro antialiasing es ideal, como el indicado en la ecuacin (5.111), y si la compensacin del filtro reconstructor tambin es ideal [ecuacin (5.133)], entonces la respuesta en
frecuencia efectiva del sistema global tiene la forma dada por la ecuacin (5.112):
He( f ) =
( H(ejw)
w= f
2p
0,
j f j Fs
En caso contrario, la ecuacin (5.137) es un mejor modelo. Esta expresin muestra
que la compensacin por imperfecciones en cualquiera de los cuatro trminos puede
ser in-cluido en alguno de los restantes. Por ejemplo, la compensacin de la respuesta
en fre-cuencia del prefiltro o del efecto del mantenedor de orden cero del conversor
D/A, o ambas, pueden incluirse en la implementacin del sistema discreto lineal e
invariante en el tiempo.
Adems del efecto de filtrado indicado por (5.137), la ecuacin (5.134) muestra que la salida del sistema de procesamiento discreto de datos continuos representado en la Fig. 5.78
tambin queda contaminada por el ruido de cuantizacin filtrado, segn se indica en
(5.136). Ms adelante se estudiar que tambin se puede generar ruido en la implementacin del sistema discreto, causado por la cuantizacin de los coeficientes y la precisin finita que resulta de efectuar las operaciones matemticas con aritmtica de punto
fijo. En general, este ruido interno quedar filtrado por el mismo sistema discreto, por el
mantenedor de orden cero asociado al conversor D/A, y por el filtro reconstructor.
X( f )ej2p f td f ,
< t < ,
(5.138)
< f < ,
(5.139)
2
p
X[k] = k=
x(t)e T dt,
1
0
T
0 t < T,
< k < ,
(5.140)
(5.141)
2011
U.N.S.
111
x[n]e
X(e ) =
jwn
(5.143)
n=0
Las computadoras digitales pueden ser programadas para evaluar las sumas finitas
(SDF, TDF)
j2 p
x[n] = 1
N kn
,
0 n N 1,
(5.144)
N
N 1
X[k]e
k=0
N 1
X [k] =
2p
x[n]e
n=0
0 k N 1,
kn
(5.145)
con gran eficiencia. En las expresiones (5.144)-(5.145) las seales se notan como
peridi-cas para facilitar la comparacin con el resto de las transformadas, aunque el
clculo se indica nicamente para las N muestras significativas. En esta seccin se
derivan algu-nas identidades que conectan estas formas aparentemente no
relacionadas del anlisis de Fourier.
Las ecuaciones de sntesis y anlisis (5.138)-(5.139), (5.140)-(5.141), (5.142)-(5.143) y
jw
(5.144)-(5.145) establecen mapas bidireccionales x(t) $ X( f ), x(t) $ X[k], x[n] $ X(e ),
con
x[n] $ X[k]
que vinculan funciones razonablemente regulares en R, RT, Z, ZN
sus transformadas. En esta seccin RT (ZN ) indica que el argumento de la funcin en
cuestin puede restringirse al rango [0, T) ([0, N 1]) porque la funcin es peridica de
perodo T (N). El propsito de esta seccin, inspirada en Kammler (2000), es establecer
ciertas conexiones entre estos cuatro tipos de anlisis de Fourier de seales de una variable. Se establecen ocho vnculos o mapas unidireccionales x(t)
! x(t), x(t) ! x[n],
jw
jw
) ! X[k] que
sirven para vincular las esquinas adyacentes del cubo incompleto que se muestra en la
Fig. 5.79. De esta forma se unifican las diferentes representaciones de la transformada
de Fourier, y se derivan algunas herramientas computacionales muy valiosas.
n = 0,
1,
2, . . .
x[n] = x N n .
Procesamiento Digital de Seales
U.N.S. 2011
112
5. Muestreo de seales
Fig. 5.79. Funciones de los cuatro pares transformados de Fourier (5.138)-(5.139), (5.140)(5.141), (5.142)-(5.142) y (5.144)-(5.145) dispuestos como vrtices de un cubo.
Estas discretizaciones (mapeos x(t) ! x[n], x(t) ! x[n]) se muestran en la Fig. 5.80. Las
funciones discretas x[ ], x[ ] son buenas representaciones de las funciones contin-uas
x( ), x( ) siempre que las funciones x( ), x( ) no varen apreciablemente sobre
cualquier intervalo de longitud Ts.
x(t) =
x(t
mT),
< t < ,
m=
donde T > 0. Se dice que la funcin x(t), definida sobre RT se obtiene por replicacin cada
T de la funcin x(t). Otra manera de describir una funcin peridica x(t) es mediante la
convolucin de la seal aperidica x(t) con un tren de impulsos p T (t) = m d(t mT):
d(t
mT) = x(t) =
m=
Procesamiento Digital de Seales
2011
x(t
mT),
< t < .
m=
U.N.S.
113
Fig. 5.80. Construccin de x[n] sobre Z y de x[n] sobre ZN por T/N-muestreo de x(t)
sobre R y de x(t) sobre RT, respectivamente.
De manera similar, cuando x[ ] es una funcin discreta definida sobre Z, y tal que x[n]
tiende rpidamente a 0 cuando n ! , se puede construir una funcin x[ ] discreta y Nperidica sobre ZN definiendo
x[n
x[n] =
(5.146)
mN], n = 0, 1, 2, . . .
m=
En este caso tambin puede construirse x[ ] como la convolucin entre x[n] y un tren
de impulsos N peridico pN [n] = m d[n mN]:
d[n
x[n
mN] =
m=
mN], n = 0, 1, 2, . . .
m=
Estas periodizaciones (mapeos x(t) ! x(t), x[n] ! x[n]) se ilustran en la Fig. 5.81. Las
funciones peridicas x( ), x[ ] son buenas representaciones de las funciones
aperidicas x( ), x[ ] cuando estas funciones estn concentradas en intervalos de
longitud T o N, respectivamente.
jx[n]j <
m=
de modo que la suma (5.146) que define a x[ ] sea convergente, se puede utilizar la
[]
ecuacin de anlisis (5.145) para obtener la transformada discreta de Fourier X[k] de x
N
1
N 1
X [k] = x[n]e
2p
j
n=0
kn
n=0 m=
x[n mN]e
2p
N
kn
U.N.S. 2011
114
5. Muestreo de seales
Fig. 5.81. Construccin de x(t) sobre RT por T-replicacin de x(t) sobre R y de x[n]
sobre ZN por N-replicacin de x[n] sobre Z.
j
Como e
2Np
kn
` = n mN,
con
= 0, 1, . . . , N 1,
2, . . .
m = 0, 1,
se puede escribir
N 1
X [k] =
x[n
mN]e
2p
j
k(n mN)
n=0 m=
x[`]e
`=
2p
k`
X(e )
X[k] =
2p
w= k , k = 0, 1, 2, . . .
En otras palabras, si x[
] se obtiene a partir de x[ ]
por N-replicacin, entonces X [k]
N
jw
se obtiene de X(e ) muestrendola con 1/N. En este caso, es conveniente pensar que
jw
X(e ) est definida sobre R2p. De manera similar cuando x( ) es una funcin razonablemente regular sobre R, se pueden hallar los coeficientes de la funcin T-peridica
x(t) =
Procesamiento Digital de Seales
2011
x(t
m=
nT)
U.N.S.
115
X[k] =
T Z0
1
kt
dt =
T m=
1
j 2p
x(t)e
x(t
nT)e
2p
x(t
1
T
Tk
ktdt
0 m=
2
p
T k(t nT)dt =
X( f )jf =
nT)e
x(x)e
2p
T
kx dx
x=
1
k
x(t) = x(t mT),
X[k] =
,
(5.147)
T X( f )jf = T
m=
x[n] =
donde x ( )
x[n
mN],
X(e jw )
X[k] =
m=
w=
2p
N
(5.148)
R Z , con transformadas
[ ]
, x son funciones razonablemente regulares sobre ,
jw
T
N
N
jw
x[n] = x
n
,
X(e ) =
X f r f =w
,
(5.149)
T
N
T
r=
N
T
2pT
x[n] = x
n ,
X[k] = N
r=
X[k rN],
(5.150)
x[n] = x
Tn
N
y por lo tanto,
X(ejw) =
n=
x[n]e
jwn
= n= x
T
N
ne
jwn.
X(ejw) =
X( f )ej2p f td f
n=
jwn =
j2p f
X( f ) e
NT ne
jwn
d f .(5.151)
t= NT n
n=
U.N.S. 2011
116
5. Muestreo de seales
Sabiendo que n e
n=
ej2p
wn
j(2p f
= n= e
ne jwn
2p f
= 2p r d(w 2pr),
w + 2pr
)n = 2p
d f+
r=
2pr w N ,
T r=
2p
r=
jw
N
2pr w N
X(e ) =
X( f )
d f+
T r= 2p T T
w N
N
N
df=
X
r
que justifica el par transformado (5.149), asumiendo, como en los casos anteriores,
que las funciones involucradas son lo suficientemente regulares como para permitir el
inter-cambio de orden de integracin y suma.
Finalmente, el par transformado (5.150) se obtiene de manera similar, notando que
T
x N n ,
x[n] =
N 1
2p
X [k] = x[n]e
kn
n=0
2p
T
n e
= x
n=0
kn
X [k] =
2p
X[q]ej
qt
n=0 q
q=
T
t=
2p
N n
j kn
N
N1
= X[q]
q
2p T2p
ej T q N ne
kn
n=0
2p
X[q] e
(q k)n
N
n=0
y sabiendo que
N 1
j
2
p
N
(q k)n
= N d[q k + rN],
n=0
se tiene que
X[k] = N
X[k
rN],
r=
mT)
PT ( f ) = 1
()
d f
T
U.N.S. 2011
117
() PT (ejw) = 1
mM]
pN [n] = d[n
d w
2pk
N
[ ], ( j ), [ ], definidas
sobre R, Z, R2p, ZN , yacen sobre los vrtices del lateral derecho. En este diagrama
coex-isten tres tipos de periodicidad:
cubo, y las trasformadas de Fourier correspondientes ( ),
X
Xe
funciones -peridicas,
como [ ], [ ], definidas
ambas sobre ZN ; X
N
x
Es posible desplazarse de una esquina a otra del cubo siguiendo diferentes caminos.
Por ejemplo, se puede ir desde la esquina de x( ) a la de x[ ] por el camino x( ) ! x( ) !
x[ ] o bien por el camino x( ) ! x[ ] ! x[ ]. Las relaciones de Poisson permiten verificar
que cualquiera de estos dos caminos conducen a la misma funcin x[ ] :
(5.150)
x[n] =
(5.148)
x[n] =
(5.148) m=
T
x[n
m=
x
(5.149)
mN] =
n mT ,
T
m=
[n
mN] .
Se pueden utilizar argumentos similares para verificar que dos caminos cualesquiera
que unan sendas esquinas del cubo, de manera consistente con las flechas,
corresponden al mismo mapa compuesto. Se dice que el cubo de Fourier-Poisson es
un diagrama conmuta-tivo.
U.N.S. 2011
118
5. Muestreo de seales
Fig. 5.82. El cubo de Fourier-Poisson es un diagrama conmutativo formado por las 8 ecuaciones
de sntesis-anlisis (5.138)-(5.145) y las 8 relaciones de Poisson (5.147)-(5.150).
Para las seales peridicas discretas x[n] con transformada discreta de Fourier X[k], rela-
(5.152)
X[k]e
k=0
X [k] =
2p
N 1
x[n]e
n=0
0 k N 1,
kn
(5.153)
-replicacin
N
nx
M 1
y[n] = x[n
rN]
r=0
2011
U.N.S.
119
permite definir una funcin y[n] sobre ZN , que est formada por M sumas
desplazadas x[n]. Por ello este proceso tambin suele denominarse de M-suma.
Y[k] = X[kM].
La demostracin es sencilla. Partiendo de la definicin,
2p
N 1
Y [k] = y[n]e
kn
N 1 M 1
n=0
r=0
x[n
e
!
2Np
kn
kn
, y asumiendo implcitamente la NN 1M 1
2p
rN]e
x[n
N k(n rN) =
2p
N
k(n rN)
n=0 r=0
2p
NM 1
rN] e
!
Y [k] = x[n
2p
r=0
n=0
rN]
x[m]e
m=0
N km
,
Y [k] =
NM 1
2p M
x[n]e
kn
n=0
x[n]e
2p
n=0
NM
(Mk)n
= X[kM].
, es
(5.154)
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120
5. Muestreo de seales
(5.155)
Comparando (5.154) con (5.154) se observa que Y[k] = X[kM], como se ilustra en la Fig. 5.83.
5.13.2. Compresin
x[nM] permite definir una funcin y[n] sobre ZN , cuya TDF Y[k] tambin queda definida
1 M 1
Y[k] = M X[k
`N]
`=0
N 1
2 p
1 N 1 1 M 1
=N M X[k
j N kn
Y[k]e
k=0
2 p
N
kn
2p
1N
y[n] = N
1M 1
j
M X [k `N]e
k=0
`=0
1 NM 1
NM
r=0
X[r]e
2p
`N]e
`=0
k=0
2 p
j N kn
NM 1
NM
(k `N)n =
2p
X [r]e
N rn
r=0
r(nM)
NM
= x[nM].
Y[k] =
(5.156)
X[kM],
r=0
y[n] = x[nM]
Y[k] =
M 1
X[k
`=0
`M],
(5.157)
donde x[n], X[k] estn definidas sobre ZN M, e y[n], Y[k] sobre ZN . Estos pares, junto con
las ecuaciones de sntesis (5.152) y de anlisis (5.153) para los distintos dominios
permiten recrear el cubo discreto de Fourier-Poisson que se muestra en la Fig. 5.84.
2011
U.N.S.
121
En primer lugar se muestrea una onda sinusoidal cuya frecuencia se vara desde poco
menos de un dcimo de la frecuencia de muestreo F s hasta casi la mitad de Fs, de
modo que no se produce aliasing. En la segunda experiencia se trata con una seal
que no es de ancho de banda limitada: una onda cuadrada. Este caso es interesante
porque algunas componentes del espectro de la seal continua se replican dentro de la
banda de Nyquist, entre Fs/2 y Fs/2. Finalmente se estudia el espectro de una seal
cuadrada de frecuencia fija y ciclo de trabajo variando entre el 20 % y el 50 %.
En todos los casos se muestran las formas de onda temporales continuas y discretas, a la
entrada y salida del muestreador, respectivamente, en la columan de la izquierda, y los
espectros de la seal discreta medidos con el analizador Lab-Volt 9405 reseado en el
Captulo 2, en la columna de la derecha de las figuras. La frecuencia de muestreo es F s =
5 kHz, y el eje de frecuencias abarca desde F s hasta Fs. El pico centrado en f = 0 indica el
origen del eje de frecuencias, y no representa ninguna componente armnica de la seal.
La banda de Nyquist, comprendida entre Fs/2 y Fs/2 = fN , se indica con lnea
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122
5. Muestreo de seales
de trazos.
Fig. 5.85. Esquema circuital de un muestreador sencillo, y las principales formas de onda.
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5. Muestreo de seales
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129
laboratorios, la mxima frecuencia de muestreo es de 1000 millones de muestras por segundo (1 Gs/s). De acuerdo al ajuste de la base de tiempo, se selecciona la frecuencia de
muestreo de modo de mostrar Ns/d = 100 s/div (muestras por divisin), que es suficientemente denso como para mostrar formas de onda con buena resolucin. Hay un total de
Nd = 12 divisiones en el eje temporal, de modo que cada pantalla est formada por N s =
Ns/d Nd = 1200 muestras. De modo que la frecuencia de muestreo resulta
=N muestras,
F = N
s
NT
d BT
s/d
BT
donde TBT es el ajuste de la base de tiempo en unidades de tiempo por divisin. Por
ejemplo, si la base de tiempos se ajusta a T BT = 20 ms/div, la frecuencia de muestreo
3
es Fs = Nm/(Nd TBT ) = Nm/d/TBT = 100/20 10 = 5 ks/s (kilo-muestras por segundo).
La distorsin por solapamiento se pone de manifiesto en seales formadas por componentes armnicas de frecuencias muy distintas entre s, como se muestran en estos
ejem-plos.
Aunque los ejemplos pueden parecer caprichosos, este fenmeno ocurre cuando se estudian seales complejas que combinan eventos con diferentes escalas de tiempo. Tal es el
caso de seales de audio que modulan en amplitud una portadora de alta frecuencia, o
cuando se desea observar el tiempo de respuesta de fuentes conmutadas ante variaciones
en la carga o en la lnea de alimentacin. Como estas variaciones son de frecuencia muy
U.N.S. 2011
130
5. Muestreo de seales
Fig. 5.91. Una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico sumada a una sinusoidal de 100
Hz y 1 V de pico. (a): Escala de tiempos: 20 ms/div. En cada ciclo de la onda
cuadrada hay 5 perodos de la onda senoidal. (b): La misma seal con una
escala de tiempo de 2 ms/div. Un ciclo de la seal senoidal ocupa 5 divisiones.
Fig. 5.92. Una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico sumada a una sinusoidal de 5100 Hz y
1 V de pico. (a): Escala de tiempos: 20 ms/div. En cada ciclo de la onda cuadrada
hay 5 perodos de la onda senoidal. (b): La misma seal con una escala de tiempo
de 2 ms/div. En una divisin hay 10.2 perodos de la seal senoidal.
Fig. 5.93. Detalle de la seal de la Fig. 5.92 con una base de tiempos de 200 ms/div.
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131
Fig. 5.94. Respuesta en frecuencia del canal vertical del osciloscopio: respuesta tipo
ideal (a), Gaussiana (b) y Butterworth (c) .
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132
5. Muestreo de seales
MHz que muestrea exactamente a 1 GHz, mientras adquiere tres o cuatro canales.
Aunque la frecuencia fundamental de la seal es menor a 500 MHz, tiene componentes
frecuen-ciales que se extienden por encima de esta frecuencia. Cuando se observa en
el oscilo-scopio los flancos de la seal parecen variar en el tiempo, con diferentes
sobrepicos y velocidades de trepada. Esto es una evidencia del aliasing: una relacin
entre mxima frecuencia de muestreo y ancho de banda igual a 2, como se muestra en
la Fig. 5.96(a) no es suficiente para hacer mediciones confiables de seales digitales.
Para minimizar el muestreo de componentes frecuenciales por encima de la frecuencia
de Nyquist, otros fabricantes (Agilent, Tektronix) especifican el ancho de banda de sus
osciloscopios como el punto de 3 dB de la respuesta en frecuencia gaussiana del
canal vertical, que es 1/4 o 1/5 de la frecuencia de muestreo mxima, como se
muestra en la Fig. 5.96(b). Aunque la frecuencia de muestreo podra aumentarse an
ms, una relacin entre la frecuencia de muestreo y el ancho de banda de 4 a 1 es
suficiente para medir seales digitales con precisin.
La Fig. 5.97 muestra cmo se visualiza en la pantalla de un osciloscopio de 500 MHz
de ancho de banda una seal cuadrada con tiempos de trepada en el orden del
nanosegundo. Un ancho de banda de 500 MHz es el mnimo recomendado para
capturar una seal de estas caractersticas. Este osciloscopio es capaz de muestrear
la seal de entrada a 4 Gs/s cuando se opera en modo de 2 canales, o a 2Gs/s
cuando se opera en modo de 4 canales. La Fig. 5.97(a) muestra la operacin a 2 Gs/s,
que es el doble de la frecuencia de Nyquist, y 4 veces el ancho de banda del canal
vertical. Esta figura indica que una relacin frecuencia muestreo-ancho de banda de 4
a 1 produce una representacin estable y precisa de la seal de entrada. La diferencia
en precisin y estabilidad es significativa con el osciloscopio mostrado en la Fig. 5.95).
Si la frecuencia de muestreo se lleva al doble (4 Gs/s), de modo que la relacin entre
la frecuencia de muestreo y el ancho de banda del canal vertical es de 8 a 1, se
aprecian algunas mejoras, aunque mnimas, como se observa en la Fig. 5.97(b) . Se
aprecia que el sobrepico es ligeramente menor, pero el tiempo de trepada que se mide
es el mismo en ambos casos.
Aliasing
Fig. 5.95. Osciloscopio de 500 MHz de ancho de banda muestreando a 1 Gs/s: el aliasing es
evidente. (El ancho de banda de 500 MHz es la mitad de la frecuencia de
muestreo, y no necesarimente el ancho de banda analgico del canal vertical.)
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133
Fig. 5.97. Onda cuadrada con tiempo de trepada de 1 ns medida con un osciloscopio de 500
MHz de ancho de banda muestreando a 2 Gs/s (a) y a 4 Gs/s (b) . La medicin es
correcta en ambos casos, con mnima mejora cuando se muestrea a 4 Gs/s.
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134
5. Muestreo de seales
Fig. 5.98. La visualizacin de varias seales con escalas reducidas disminuye el nmero
de bits con que se digitaliza la seal.
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135
Higgins (1985) resalta que el teorema del muestreo debe en realidad considerarse en
dos partes:
la primera donde se demuestra que es posible recuperar exactamente una seal
de ancho de banda limitada a partir de sus muestras;
la segunda, que describe cmo reconstruir la funcin utilizando estas muestras
(prob-lema de interpolacin).
Ambos aspectos del teorema del muestreo fueron enunciados en una manera
ligeramente distinta por J. M. Whittaker (1925), y antes que l por el matemtico
japons K. Ogu-ra (1920); probablemente ninguno de los dos haba advertido que la
primera parte del teorema haba sido establecida en 1897 por Borel, quien para 1920
utiliz la frmula de interpolacin (que ms adelante se conocera como serie cardinal)
pero no parece haberse percatado del vnculo entre ambas partes del teorema. De
hecho, todo parece indicar que Ogura fue el primero en enunciar el teorema del
muestreo e indicar una demostracin en 1920; sin embargo, al parecer errneamente,
atribuy este resultado a un trabajo publi-cado en 1915 por E. T Whittaker (el padre de
J. M), que trataba sobre la interpolacin de funciones, y donde se investigaban las
propiedades de la funcin cardinal y se mostraba que era de banda limitada.
Procesamiento Digital de Seales
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136
5. Muestreo de seales
2011
U.N.S.
137
en la tesis de doctorado de Raabe (1939). Otros autores han destacado que I. Someya
(1949) en Japn y J. D. Weston en Inglaterra introdujeron el teorema casi simultneamente
con Shannon. Posteriormente se han publicado varias extensiones y generalizaciones del
teorema del muestreo, actividad que se contina hasta el presente.
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138
5. Muestreo de seales
seales telefnicas por William M. Miner, quien patent su invencin en 1903 despus
de muchos aos de experimentacin. La Fig. 5.99 muestra el esquema circuital,
0
incluyendo el distribuidor de Patten (los nmeros 3 y 3 en la figura). Miner determin
la frecuencia de muestreo (la velocidad de giro del rotor) de manera experimental:
Se entender entonces que el aparato diseado por Mr. Miner, aunque en forma
general es el mismo que se utiliza para telegrafa multiplex, debe op-erarse a
mayor velocidad de manera que la frecuencia de activacin de los contactos sobre
las diferentes ramas o sub-circuitos sea prxima en mayor o menor medida a la
frecuencia de las vibraciones que caracterizan la voz. Una tasa de conmutacin de
1000 o 2000 por segundo no servir a estos fines, pero a medida que la frecuencia
de conmutacin se incrementa por encima de los 3000, los mejores resultados se
hacen evidentes, y son mucho mejores cuan-do se alcanza una tasa de 3500 o
3600 por segundo; los resultados ptimos se obtienen para frecuencias de
conmutacin de cerca de 4300 por segundo.
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139
5.16.2. La teora
Los ingenieros en comunicaciones comenzaron a trabajar en el problema de muestreo
mucho tiempo despus. H. Nyquist prob en 1928 que el nmero de seales telegrficas que puede transmitirse por una lnea es proporcional al producto del tiempo de
transmisin por el ancho de banda. El inters estaba centrado en calcular la mxima
ve-locidad de transmisin de smbolos en un canal de ancho de banda limitado, y
estaba pensado especialmente para seales telegrficas. En 1928 R. V. L. Hartley
generaliz este resultado para transmisin multinivel, y en ese mismo ao Nyquist
deriv su famoso teorema sobre la transmisin sin distorsin de seales telegrficas
(digitales o de dos niveles). Pero la transmisin sin distorsin de Nyquist y la
interpolacin libre de errores de muestras de una seal analgica son problemas
diferentes, an cuando haya algunas similitudes matemticas. Tambin en 1928 K.
Kpfmller obtuvo cotas sobre la veloci-dad de variacin de seales que aseguraban la
estabilidad de un sistema de control de lazo cerrado para controles automticos de
ganancia; pero tampoco trataba con seales muestreadas. En consecuencia, estos
trabajos no pueden considerarse como antecesores del teorema del muestreo.
El primer cientfico en formular el teorema del muestreo de manera precisa y de
aplicarlo a problemas de comunicaciones fue probablemente el ruso V. A. Kotelnikov.
En su traba-jo On the transmission capacity of the ether and wire in electrical
communications, publicado en 1933, prob el teorema del muestreo para seales tipo
pasabajo y pasaban-da. En el mismo artculo aplic el teorema para mostrar que el
ancho de banda de una seal no puede reducirse por modulacin.
El trabajo de los soviticos entre 1939 y 1940 permaneci desconocido en Occidente, y slo despus de la Segunda Guerra Mundial y en el contexto de la guerra fra se efectuaron
traducciones de investigaciones rusas de dominio pblico en ciencias e ingeniera. Antes e
inmediatamente despus de la revolucin rusa, los cientficos publicaban sus trabajos en
revistas rusas, pero especialmente en publicaciones francesas y alemanas, y muy raramente en medios ingleses. A fines de 1930 el estado sovitico desaconsej esta prctica, y
se favorecieron las publicaciones de carcter local. Este hecho, junto con la tendencia
U.N.S. 2011
140
5. Muestreo de seales
F(t) =
Dk
k=
sen w (t
1
(t
2 f1
k
2 f1
(5.158)
2 f1
= Dnw1
porque todos los trminos de la serie (5.158) para este valor de t tienden a
cero, con la excepcin del trmino con k = n que vale D nw1, lo que puede
establecerse fcilmente al calcular el valor del punto indefinido [aplicando
lHopital] (...) Si se trasmiten estos D k separados cada 1/(2 f1) segundos, es
posible reconstruir F(t) de acuerdo con la expresin (5.158) con cualquier
gra-do de precisin deseado.
Como este trabajo no fue publicado en revistas cientficas de fcil acceso, todos los
traba-jos tericos sobre muestreo de seales fueron surgiendo de manera
independiente. Por ejemplo, Raabe dedujo el teorema del muestreo en su tesis
doctoral de 1939. Esta publi-cacin es especialmente relevante para las aplicaciones
prcticas, ya que tiene en cuenta el efecto de utilizar pulsos de muestreo con ciclo de
trabajo finito (y no impulsos). Raabe sintetiza sus hallazgos:
Para las condiciones de transmisin demostradas, la frecuencia de
muestreo se determina por el rango de frecuencias que abarca la seal de
inters. Si este se mantiene por debajo de la mitad de la frecuencia de
muestreo, todas las componentes frecuenciales del ruido permanecen
afuera de este lmite y puede evitarse que alcancen el receptor usando un
filtro pasabajos. La trans-misin de la seal estar entonces completamente
libre de distorsin, si la fre-cuencia de muestreo es el doble de la mxima
frecuencia de la seal. El lmite superior de las frecuencias presentes en
una seal es una condicin vital para la transmisin sin distorsin de
seales en sistemas multiplex con divisin de tiempo.
Procesamiento Digital de Seales
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141
Este trabajo contiene una versin especial del teorema del muestreo para seales
pasa-banda. El artculo de Raabe est citado por W. R. Bennett en un trabajo sobre
telefona multiplex de 1941, y esta publicacin a su vez, es citada por Shannon en
1949 como una de las fuentes del teorema del muestreo.
El teorema se deriva tambin en el texto japons Hakei Denso (Transmisin de
seales) de I. Someya. En Inglaterra, J. D. Weston (1949) public resultados similares
en la misma poca. Todos estos desarrollos parecen haberse obtenido de manera
independiente, y con total desconocimiento de las otras versiones.
Zp
p
jzx
Y(x)e dx
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142
5. Muestreo de seales
C(x) =
r=
p
f (a + rw) sen[ w (x a rw)] ,
w (x
(5.159)
a rw)
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143
5.17. Referencias
tonces
f (t) =
n=
donde
sen p(2Wt n)
Xn
p(2Wt n)
n
Xn = f (2 W )
El teorema se conoci como teorema de Shannon inmediatamente despus de la
pub-licacin de estos trabajos, al menos en Occidente.
Una de las formas ms tiles de este teorema se debe a Linvill (1949), quien la desarroll en su tesis doctoral en el MIT. Deriv expresiones para la transformada biltera de
Laplace, y para la transformada de Fourier de la salida de un muestreador en funcin
de la transformada de Laplace y de Fourier de la seal de entrada al dispositivo.
Mostr que el proceso de muestreo puede pensarse como una modulacin de amplitud
de un tren de impulsos. Adems, explic la interpolacin como un filtrado en el dominio
frecuen-cial con un filtro pasabajos ideal. Un notable artculo suyo publicado en 1951
discuta la aplicacin de la teora del muestreo a sistemas de control realimentados;
este trabajo fue extendido por Regazzini y Zadeh en 1952.
Casi la totalidad de los libros de procesamiento de seales siguen en enfoque de Linvill
al tratar el muestreo de seales. Aunque muchos desarrollos son previos a su trabajo,
sus ideas arraigaron fuertemente en los campos de procesamiento digital de seales y
control digital, y hoy en da parece el enfoque natural para estos temas.
5.16.4. Conclusin
El teorema del muestreo para funciones tipo pasabajos es vital en la ingeniera de
comu-nicaciones, vinculando las seales continuas con las discretas. Los distintos
nombres que el teorema ha recibido Shannon, Nyquist, Kotelnikov, Whittaker,
Someya, etc. indica la independencia de los diferentes enfoques. Esta historia
tambin pone de manifiesto un proceso muchas veces aparente en los problemas
tericos en fsica o tecnologa: en primer lugar los experimentadores establecen un
conjunto de reglas empricas, luego los teri-cos desarrollan la solucin general, y
finalmente alguien descubre que los matemticos haban resuelto el problema
matemtico subyacente con anterioridad, pero en magnfica soledad.
5.17. Referencias
W. R. Bennet, Time Division Multiplex systems, Bell Sys. Tech. J., 20, 1941, pp. 199-221.
W. R. Bennet, Spectra of quantized signals, Bell Sys. Tech. J., 27, 1948, pp. 446-472.
H. S. Black, Modulation theory, Van Nostrand, New York, 1953.
E. Borel, Sur linterpolation, Comptes Rendus des Sciences de lAcademie des
Sciences, 124, 1897, pp. 676, 673.
P. L. Butzer, A survey of the Whittaker-Shannon sampling theorem and some of its
exten-sions, J. Math. Res. Exposition, 3, 1983, pp. 185-212.
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5. Muestreo de seales
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5.17. Referencias
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5. Muestreo de seales
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147
5.18. Ejercicios
5.18. Ejercicios
Ejercicio 1. Para la seal analgica xa(t) = 3 sen(100pt),
1. Dibuje la seal xa(t) para 0 t 30 ms.
2. Determine la frecuencia de la seal discreta x [n] que resulta de muestrear x a(t)
con una frecuencia de muestreo Fs =300 muestras/segundo, y muestre que es
peridi-ca. Cul es el perodo en muestras? Cul es el perodo de la seal
discreta en milisegundos?
3. Calcule los valores de las muestras de un perodo de x[n]. Dibuje x[n] en un
mismo diagrama junto con xa(t).
4. Puede encontrar una frecuencia de muestreo Fs tal que alguna de las muestras
de la seal x[n] alcance el valor pico de xa (t)? Cul es la mnima Fs apropiada
para este fin?
Ejercicio 2. Una seal analgica contiene frecuencias de hasta 10 kHz.
1. Qu rango de frecuencias de muestreo permitirn una reconstruccin exacta de
esta seal a partir de las muestras?
2. Si la seal se muestrea a Fs = 8 kHz, cul es la frecuencia w1 (discreta)
asociada a las componentes de frecuencia (analgica) f1 = 5 kHz?
3. Repita el inciso anterior para las componentes de frecuencia f2 = 9 kHz.
Ejercicio 3. La seal analgica xa (t) = sen (2p f0t) , < t < se muestrea cada T =
1/Fs segundos, donde Fs es la frecuencia de muestreo. La seal muestreada es x[n] =
xa (nT) = sen (2p f0Tn) = sen [2p ( f0/Fs) n] , < n < .
1. Grafique la seal x[n], 0 n 30 para Fs = 5 kHz y f0 = 0,5, 2, 3, y 4,5 kHz.
2. Dibuje (a mano alzada) el espectro en frecuencia de la seal analgica y el de la
seal muestreada en cada uno de los casos.
3. Repita los incisos 1 y 2 para la seal analgica xa (t) = cos (2p f0t) .
4. Explique las similitudes y las diferencias entre las diferentes grficas de las
seales muestreadas de los incisos 1 y 3, ayudndose con los espectros de las
seales corre-spondientes.
Ejercicio 4. Una seal analgica xa(t) = sen(480pt) + 3 sen(720pt) se muestrea a
razn de 600 veces por segundo (Fs = 600 Hz).
1. La frecuencia de muestreo cumple con el Teorema de Nyquist? Si la respuesta
es negativa, determine la frecuencia de muestreo apropiada para la seal.
2. A qu frecuencias aparecen las rplicas del espectro de la seal mal muestreada?
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148
5. Muestreo de seales
3. Cules son las frecuencias wi de la seal discreta x[n] que resulta del muestreo?
4. Si la seal x[n] se convierte en una seal continua utilizando un conversor D/A
ideal, escriba explcitamente la expresin de la seal reconstruida ya(t).
2
I
Ejercicio 6. La seal x (t) = e
sinc(t) se muestrea cada T segundos. Se encuentra
que la transformada de Fourier X
ejw de la seal muestreada x[n] = x (t) t=nT verifica
X e
1. Cul es el mnimo
T
es
T
, explique porqu.
imposible para cualquier
jw
valor de
I Ejercicio 7. Se conoce que una seal x (t) es de la forma x (t) = cos (2p f0t + f0) , con f0 =
p/4. Pedro muestrea la seal con Fs1 = 150 Hz, y encuentra que f0 = 50 Hz. Pablo
muestrea la misma seal, pero con Fs2 = 240 Hz, y encuentra que f0 = 20 Hz.
1. Es posible determinar el verdadero valor de la frecuencia f 0 en base a esta
infor-macin? Si no es posible, cules son todos los posibles valores de f0?
2. Si se sabe que f0 < 1000 Hz, es posible determinar el verdadero valor de f0?
Ejercicio 8. Un sistema lineal e invariante en el tiempo tiene la funcin transferencia H
jw
j(a/2)w
e =e
, jwj < p. Determine, justificando su respuesta, si el sistema es causal o
no cuando (a) a es par, y (b) a es impar.
Ejercicio 9. En el sistema de procesamiento digital que se muestra en la figura, el perodo
= 1 ms,
2011
U.N.S.
5.18. Ejercicios
149
Ejercicio 10. Una cmara de cine sensa la imagen de una marca sobre una rueda que gira
a W revoluciones por segundo. La cmara toma una imagen cada T segundos. Determine
el mximo perodo Tmax para el cual las imgenes representan el movimiento de la rueda.
Discutir que sucede si (i) T = Tmax, (ii) T > Tmax, o (iii) T < Tmax.
I Ejercicio 12. Una seal continua xc (t) se muestrea con un tren de pulsos p (t) de ancho t,
perodo T, y amplitud 1/t de modo que el rea bajo el pulso es unitaria.
Especficamente, xm (t)Z= xc (t) p (t) , y
xn
T nT
xc t p t
dtT
t
xc (nT) + xc (nT + t)
.
[ ] = 1 nT+t
() ( )
=1
1. Dibuje el espectro de xc (t) , xm (t) , x[n].
2. Es posible recuperar exactamente xc (t) a partir de x[n]? Si la respuesta es
afirmati-va, indique de qu manera. En caso contrario, justifique por qu no.
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150
5. Muestreo de seales
Xc (jW) = 0 para jWj 2p 1000. Cul es el mayor valor de T para el cual yc(t) = xc (t)?
y Xc (jW) = 0 para jWj 2p 1000. Cul es el mayor valor de T tal que yc(t) = xc (t)?
Ejercicio 16. Para un sistema cuyo diagrama en bloques es similar al de la figura del
Ejercicio 13, el sistema continuo obedece la ecuacin diferencial lineal a coeficientes
con-stantes
2
d yc (t) + 4 d yc (t) + 3yc (t) = xc (t) .
2
dt
dt
Determine la respuesta en frecuencia H ejw del sistema discreto cuando T = 0,1 s.
at
j2p f t
0
Ejercicio 17. La seal x(t) = e e
u(t), a > 0, que no es de banda limitada, se
muestrea a una frecuencia fs = 1/T. Compruebe que:
1. La magnitud del espectro se la seal continua es:
jX( f )j =
1
2
a + [2p ( f f0)]
.
2
jw
)
2011
1
1 2e a T cos[w 2p f 0T)] + e 2 aT
U.N.S.
151
5.18. Ejercicios
3. La magnitud del espectro de N muestras de la seal muestreada es
X (ejw)
aTN
2aTN
cos(w 2p f0T)N + e
.
= 1 2e
1 2e
aT
cos(w 2p f0T) + e
2aT
M Ejercicio 18. Usando MATLAB, grafique los espectros del Ejercicio 17. Para facilitar la
comparacin, grafique la amplitud en dB de los tres espectros de potencia, normalizando el
mximo de cada espectro a 0 dB. Dibuje las tres respuestas en un nico grfico uti-lizando
2
jw 2
jw 2
N=50
N=20
10
10
15
15
20
20
20
25
25
25
30
35
5
10
15
30
X(f)
30
X(f)
j
X(e )
j
X(f)
X(e )
N
35
35
X(e )
40
X(e )
0.2
0.4
X(e )
X(e )
40
0.6
0.8
0.8
f0/fs,/(2)
40
0.2
0.4
0.6
0.8
0.2
0.4
f0/fs,/(2)
0.6
0.8
f0/fs,/(2)
f0 = 50 Hz.
N=20
N=50
10
10
10
15
15
15
20
20
20
25
X(f)
25
X(f)
25
X(f)
30
X(e )
30
X(e )
30
X(e )
X(e )
X(e )
35
35
0.2
X(e )
0.4
0.6
0.8
35
f0/fs,/(2)
0.2
0.4
0.6
0.8
0.2
f0/fs,/(2)
0.4
0.6
f0/fs,/(2)
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152
5. Muestreo de seales
1. T1 = T2 = 10 , y x[n] es arbitraria.
4
jw
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U.N.S.
153
5.18. Ejercicios
Ejercicio 21. Las figuras (a), (b) (c) muestran tres seales definidas en el intervalo [0,
2T] como
x(t) =
A cos 2p f0t, 0 t T = 2/ f0,
0,
en caso contrario,
y(t) =
z(t) =
jw
jw
2. Determinar y graficar los espectros X(e ), Y(e ), y Z(e ) de las seales de longitud finita x[n], y[n] y z[n] que resultan de muestrear x(t), y(t) y z(t) con una
frecuencia fs (la misma para las tres seales) durante 2T = 4/ f0 segundos. Cul
es el mnimo valor posible de fs? Cul es la longitud M (en muestras) de las
seales discretas?
3. Se desea distinguir la ocurrencia o no de las seales (a) , (b) o (c) usando la
TDF. De-terminar el orden N de la TDF que permite detectar fcilmente sin
ambigedades cualquiera de los casos.
4. El nmero N de muestras requeridas para la TDF, coincide con el nmero M del
inciso (2)? Es conveniente muestrear a una frecuencia mayor o menor que la
cal-culada en ese inciso? Por qu?
5. Graficar los espectros X[k], Y[k], Z[k] que resultan de calcular las TDF del inciso
anterior.
6. Cules muestras ki de X[k] (o Y[k], Z[k]) deben observarse para distinguir los casos
(a) , (b) o (c)?
Ejercicio 22. El ancho de banda de inters de una seal se extiende desde 0 hasta fM
Hz, y desde all el mdulo de su espectro decae a razn de a dB/dcada. Se dispone
de un prefiltro analgico que tiene una banda de paso plana desde 0 hasta f M Hz, y a
partir de esa frecuencia la atenuacin crece a razn de b dB/dcada. Se necesita que
en el rango entre 0 y f M las rplicas frecuenciales debidas al muestreo queden
atenuadas ms de A dB. Demuestre que la mnima frecuencia de muestreo que debe
utilizarse para cumplir este requisito es A
fs = fM
1 + 10 a+b .
2011
U.N.S.
154
5. Muestreo de seales
jX( f )j =
1
p
1 + (10 f )
jH( f )j =
1 + ( f / f0)
Es necesario que la atenuacin del prefiltro en el rango de frecuencias de inters sea
menor a 1 dB. Cul es el valor de la frecuencia de normalizacin f 0 en este caso?
Cul es la mnima frecuencia de muestreo fs que debe utilizarse? Compare este
clculo exacto con el mtodo aproximado detallado en el Ejercicio 22.
Ejercicio 24. Para el sistema de procesamiento del Ejercicio 23, se fija la frecuencia
de muestreo a un valor prefijado que es menor al mnimo determinado en ese
ejercicio, pero mayor que 2 fM. Para lograr la atenuacin deseada de las rplicas
causadas por el muestreo, se utiliza un filtro Butterworth de mayor orden, con una
banda de transicin ms abrupta. El mdulo de la respuesta en frecuencia de un filtro
Butterworth de orden N es
.
1
jH( f )j =
p
2N
1 + ( f / f0)
Dada fs, determine el mnimo orden N del filtro de modo que la atenuacin en la banda de
paso sea menor que AP = 1 dB, y tal que la atenuacin de las rplicas sea superior a
A = 60 dB.
C Ejercicio 25. La figura ilustra el esquema bsico de un oscilador digital sinusoidal implementado segn la tcnica de look-up table. Las muestras de un ciclo de la seal
x[n] = cos(2pn/N), n = 0, 1, . . . , N se almacenan consecutivamente en el espacio de
memoria. La seal de salida se genera direccionando secuencialmente las distintas
posi-ciones de memoria, volviendo al principio cuando el argumento supera el valor 2p.
Es-to puede lograrse utilizando direccionamiento mdulo N (una opcin habitual en
los procesadores dedicados), es decir, implementando un buffer circular. Las muestras
de x[n] se envan al conversor D/A cada T segundos.
2011
U.N.S.
155
5.18. Ejercicios
1. Si xc(t) tiene una transformada de Fourier tal que Xc(jW) = 0, jWj > 2p 100, cul
jw
1,
si b[n] = 0,
1,
si b[n] = 1,
para nT
t < (n + 1)T.
donde T es el intervalo de bit de la seal. Una forma de onda tpica de este tipo de
seales se muestra en la figura.
j2p f0t
Se sabe que la frecuencia de la portadora est en el rango j f0j < 1000 Hz, y se desea
estimar f0 a partir de un intervalo de medicin finito de la seal BPSK modulada.
1. Explique porqu ser dificultoso estimar f0 a partir del mdulo de la TDF de y(t)
(utilizando ventanas o no). En caso de duda, experimente con MATLAB.
2. Para estimar f0 se propone el procedimiento que se detalla a continuacin.
Explique porqu este mtodo da resultados correctos, y determine el intervalo de
muestreo necesario para determinar f0 sin ambigedades.
a) Muestrear la seal y elevar el resultado al cuadrado. Es decir, calcular z[n] =
2
y (nT).
Procesamiento Digital de Seales
U.N.S. 2011
156
5. Muestreo de seales
Ejercicio 28. En la Seccin 5.11.1 se estudia el uso de un prefiltro para evitar el aliasing.
En la prctica, el filtro antialiasing no es ideal, pero las caractersticas no ideales
(atenuacin en la banda de paso, zona de transicin, etc.) se pueden compensar al menos
parcialmente con un sistema de tiempo discreto ubicado a la salida del conversor C/D. En
la figura se muestran dos sistemas de procesamiento de datos, uno de ellos con un filtro
antialiasing ideal (Sistema 1), y otro con un filtro antialiasing real (Sistema 2); las
i
jw
jw
muestran en la figura, donde fc = Fs/2, y fp = 3Fs/8. Disear el sistema discreto H(e ) del
Sistema 2 para que las sucesiones x[n] e y[n] sean iguales.
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157
dominio frecuencial ( f )
dominio temporal
Xc ( f )
xc(t)
PT ( f ) =1
T
d( f
Xc(W)
2p
PT (W) =
d(W kWs)
T
kFs)
Xs( f ) = Xc( f ) PT ( f )
=1 X ( f kF )
T
Xs(W)
= xc(nT)d(t nT)
= T k
jw
1
=T Xc
hF
2p
(w 2pk)
Xc(W) PT (W)
X(
k )
W
Ws
X( )
1
=2p
1
W jW=w W2ps = wT
= 1T Xc(w 2Wps
x[n] = xc(t)jt=nT
kWs)
=T X
1
(w 2pk)
Reconstruccin
dominio frecuencial ( f )
dominio temporal
jw
w= f
jw
y[n]
Y(e )
Y ( f ) = Y(ejw)j
Fs
Hr( f ) = 0, j j
s2
T, f < 2
>
hr(t) =
w= f
= y[n] sinc
= f 2pT
si j f j < 2
t nT
T
2p
s =WT
Ws
jj
T, W
W2 T
<2 =T
jW j
w= W W
sen T
Hr(W) = 0,
= sinc
pt
2
p
= TY(e )
pt
T
Y ( ) = Y(ejw)j
2 p
F s = f 2pT
j fj
Y(e )
>
Yr(W) = Hr(W)Ys(W)
jw
2p
= TY(e )
j
Ws
w=W W
=WT
si Wj< 2 = T
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158
5. Muestreo de seales
dominio frecuencial ( f )
1
jw
X(e ) =
dominio temporal
Xc( f )
k Xch Fs (w 2pk)i
xc(t)
jw
jw
w= f
jw
X(e ) =
x[n] = xc(t)jt=nT
Y ( f ) = Y(ejw)j
Xc(W)
1
2p
jw
jw
Xc T (w 2pk)
jw
jw
Y ( ) = Y(ejw)j
2 p
F s = f 2pT
w =W W
2p
s =WT
jw
w= f
= TH(e )X(e )
j
8
jw
He
Hc (
0,
)=
F s
jw
>
>
= f 2pT
Fs
>
>
si f >
si W < 2s
j
>
>
>
>
:
>
Ws
=WT
<
>
>
>
:
2p
0,
Hc (W) = >
w=W W
H(e )jw=W
>
>
=f2 p T
si f <
>
2p
w= f
>
>
2p
j
>
>
<
2p
si W >
Ws
dominio frecuencial ( f )
jw
2p
dominio temporal
Fs
Y(e ) =
jw
1
T
Y ( f )j
c
f =w 2p
Fs
, jwj<p
2p
2011
y[n] = yc(t)jt=nT
Yc(W) = Hc(W)Xc(W)
jw
Y(e ) =
Y ( )j
c
W W=w W2ps = wT
jw
U.N.S.
=WT
159
Decimacin
x[`]hPB[n `]
X ejw
[n]
=x
[nM]
ejw
M r=0
w 2pr
Interpolacin
xe[n] =
( x[n/L],
0,
si n = 0, L, 2L, . . .
, Xe
x hn
e jwL
=X
en caso contrario.
e jw
[`] [
`]
LX e
Xi e
jw
= HI
=
e jw
jwL
p/L
e jw
Xe
j<
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160
5. Muestreo de seales
U.N.S. 2011