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Muestreo de seales
5.1. Introduccin
En los captulos anteriores se han tratado diferentes aspectos de las seales discretas, sin
importar su origen. En este captulo se considera que las seales discretas estn relacionadas con una seal de tiempo continuo; en otras palabras, las sucesiones discretas
sern consideradas como la representacin de una seal continua. Es notable que, bajo
ciertas restricciones, una seal continua en el tiempo pueda ser representada solamente
por algunos de sus valores, correspondientes a determinados instantes (discretos) de
tiempo, y tambin que pueda ser recuperada a partir de ellos. Esta propiedad sorprendente es consecuencia de un resultado bsico que se conoce como teorema del muestreo.
Este teorema es extremadamente importante y muy til, y sus resultados se explotan en
infinidad de aplicaciones. Por ejemplo, una pelcula de cine est formada por un conjunto
de cuadros fijos, cada uno de los cuales representa una vista instantnea (una muestra) de
una escena animada. Cuando estos cuadros fijos se miran como una sucesin temporal, a
una velocidad suficiente, se percibe una representacin fiel de la escena animada orig-inal.
Otro ejemplo (fuera del campo de la ingeniera electrnica) es una foto impresa en un
diario. Estas imgenes suelen estar formadas por pequeos puntos aislados, de tres o
cuatro colores que corresmponden a muestras espaciales de la imagen a representar. Si la
separacin espacial de los puntos (las muestras) es suficientemente pequea, desde una
cierta distancia dan la impresin de una imagen continua; solo el exmen con una lupa
revela la naturaleza discreta.
La importancia del teorema del muestreo radica en que establece un puente entre las
seales de tiempo continuo y las de tiempo discreto. Como se discutir en detalle, la
posibilidad de representar completamente una seal continua por una sucesin de muestras instantneas (bajo ciertas condiciones) establece una manera de representar seales
continuas por seales discretas. En muchos contextos, el procesamiento de las seales
discretas permite mayor flexibilidad y a menudo es preferible al tratamiento de seales
continuas, en parte debido a la existencia de hardware digital poderoso, programable y
bajo costo. Esta tecnologa ofrece la posibilidad de explotar el concepto de muestreo para
convertir una seal continua a una discreta, y luegor de procesarla ustilizando un sistema
discreto, volver a convertirla para tener nuevamente una seal de tiempo continuo. En
otras palabras, el procesamiento de seales continuas puede implementarse como la cas1

5. Muestreo de seales

Fig. 5.1. Diagrama bloque de un conversor continuo a discreto (C/D) ideal.

cada de tres sistemas: un muestreador, un sistema discreto, y un reconstructor que


permite obtener una seal continua a partir de las muestras. Esta forma de trabajo es
habitual en los sistemas actuales de comunicaciones, entretenimiento, etc.

5.2. Muestreo peridico


Aunque existen otras posibilidades (Steiglitz, 195; Oppenheim y Johnson, 1972) la
manera habitual de obtener una representacin discreta en el tiempo de una seal
continua en tiempo es tomado muestras cada determinado perodo de tiempo T. En
otras palabras, la seal discreta x[n] se obtiene al tomar muestras cada T segundos de
una seal continua xc(t), de acuerdo a la relacin
(5.1)

x[n] = xc(t)jt=nT , < n < .

En la ecuacin (5.1) T es el perodo de muestreo, y su recproca f s = 1/T es la


frecuencia de muestreo, que se mide en muestras por segundo. A veces es
conveniente expresar la frecuencia de muestreo en radianes por segundo, y en este
caso se indicar como Ws = 2p fs = 2p/T.
El sistema que implementa la operacin indicada en la ecuacin (5.1) es un conversor
continuo a discreto ideal, abreviado C/D, y representado por el diagrama bloque de la
Fig. 5.1. Como ejemplo de la relacin entre x c(t) y x[n] se puede observar en la Fig. 2.2
la forma de onda de una seal de voz y la sucesin de muestras asociada.
En la prctica la operacin de muestreo se lleva a cabo por un conversor analgico digi-tal,
notado A/D. Este sistema puede pensarse como una aproximacin al conversor C/D ideal,
pero tiene algunas diferencias que no es conveniente dejar de lado. Algunas consideraciones importantes en la implementacin o seleccin de un conversor A/D son la

Fig. 5.2. Tres seales de tiempo continuo que toman idnticos valores en los enteros
mltiplos de T.

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5.2. Muestreo peridico

Fig. 5.3. Muestreo con un tren de impulsos peridico seguido por una conversin a una sucesin
discreta. Modelo matemtico (a); la seal xs(t) para dos perodos de muestreo T = T1 y T
= T2 (b); sucesin de salida para dos perodos de muestreo distintos (c).

resolucin en bits, la linealidad de los pasos de cuantizacin, la necesidad de circuitos


mantenedores, y la frecuencia de muestreo mxima. Los efectos de cuantizacin se
dis-cuten en las secciones 5.11.2 y 5.11.3. Otros aspectos importantes de la
conversin A/D estn vinculados a la implementacin electrnica de tales circuitos, y
un detalle somero se presenta en la Seccin ZZZ.
En general, la operacin de muestreo no es invertible: dada la salida x[n] del muestreador
no es posible reconstruir la seal continua original x c(t), ya que muchas funciones continuas en tiempo pueden producir la misma sucesin de muestras. En la Fig. 5.2 se muestran
tres seales continuas que tienen el mismo valor en mltiplos enteros de T, es decir

x1(nT) = x2(nT) = x3(nT).


La ambigedad inherente al proceso de muestreo es una caracterstica fundamental en
el procesamiento de seales. Afortunadamente es posible remover esta ambigedad
re-stringiendo la clase de seales aplicadas al muestreador.
Para estudiar el proceso de muestreo es conveniente adoptar la representacin
matemti-ca que se muestra en la Fig. 5.3(a) que est compuesta por dos etapas:
una multiplicacin por un tren de impulsos peridicos;
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la conversin del tren de impulsos a una sucesin de nmeros.


En la Fig. 5.3(b) se muestra una seal continua xc(t), y el resultado de multiplicarla por
dos trenes de impulsos peridicos de distinto perodo. Las sucesiones de salida
respec-tivas se muestran en la Fig. 5.3(c) . La diferencia principal entre x s(t) y x[n] es
que xs(t) es una funcion continua (especficamente, un tren de impulsos modulado
por xc(t)) que se anula para todo t que no sea mltiplo de T. Por otro lado, la sucesin
x[n] est indizada por la variable entera n: la sucesin x[n] no contiene informacin
explcita so-bre el perodo de muestreo T. Adems, las muestras de xc(t) estn
representados por los nmeros finitos que componen la sucesin x[n] y no por las
reas de los impulsos, como ocurre con xs(t).
El esquema de la Fig. 5.3(a) es solamente un modelo matemtico que resulta
conveniente para comprender el proceso de muestreo tanto en el dominio tiempo
como en el dominio frecuencia, y no es una representacin de un circuito o sistema
fsico que implemente la operacin de muestreo. En general, los circuitos encargados
de convertir una seal analgica en una discreta no siguen la estructura de este
diagrama en bloques, y existen muchas maneras distintas de llevar a cabo tal
conversin. La ventaja de la representacin de la Fig. 5.3(a) es que permite derivar de
manera sencilla un resultado fundamental, y facilita la obtencin de muchos resultados
que seran complicados de derivar utilizan-do un planteo ms formal basado en la
manipulacin de ecuaciones que involucren la transformada de Fourier.

5.3. Representacin frecuencial del muestreo


Para obtener la relacin entre la entrada y la salida de un conversor continuo/discreto
(C/D) ideal en el dominio frecuencial, es conveniente considerar primero la conversin
de la seal continua xc(t) en un tren de impulsos continuos x s(t), como se muestra en
la Fig. 5.3(a) . Esto se puede conseguir modulando el tren de impulsos
pT (t) = d(t

nT),

(donde d(t) es el delta de Dirac estudiado en el Captulo 2) con la seal continua xc(t):
xs(t)

= xc(t)pT (t)
= xc(t) d(t nT).

(5.2)

Aplicando la propiedad de colador del impulso, xs(t) se puede expresar como


xs(t) = xc(nT)d(t nT).

(5.3)

representada en la Fig. 5.3(b) . La transformada de Fourier de x s(t) puede calcularse fcilmente aplicando propiedades. La seal x s(t) es el producto de la seal continua x c(t) y
del tren de impulsos pT (t); por lo tanto, la transformada de Fourier X s( f ) de xs(t) es la
convolucin entre las transformadas de Fourier Xc( f ) de xc(t) y PT ( f ) de pT (t):

Xs( f ) = Xc( f ) PT ( f ),
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5.3. Representacin frecuencial del muestreo

Fig. 5.4. Efectos en el dominio frecuencia del muestreo en el dominio tiempo. Espectro
de la seal original (a); espectro del tren de impulsos (b); espectro de la seal
muestreada con Fs > 2 fN (sin aliasing ) (c).

donde indica la convolucin lineal,

Xs( f ) =

Xc(n)PT ( f n)dn.

Recordando los resultados del Captulo 2, especficamente el par transformado

p ( t) =
T

d(t nT)

() PT ( f ) =

k d

se tiene que

k
T

d f
Xs( f ) =

Xc( f ) 1

Xc f k
T

(5.4)

T
1

(5.5)

= k Xc ( f kFs) .
T

Es interesante notar la diferencia entre el pasaje de la ecuacin (5.2) a la (5.3), y de la


ecuacin (5.4) a la (5.5). En la ecuacin (5.2) se utiliza la propiedad de multiplicacin
de una funcin continua por un impulso
xc(t)d(t

nT) = xc(nT)d(t

nT)

que expresa que mutiplicar una funcin continua por un impulso es lo mismo que
escalar el impulso por el valor de la funcin continua en el lugar donde est aplicado el
impulso. En cambion, en la ecuacin (5.4) se aplica la propiedad de convolucin de
una funcin continua por un impulso
k = Xc f
k
Xc( f ) d f
T
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5. Muestreo de seales

Fig. 5.5. Efectos en el dominio frecuencia del muestreo en el dominio tiempo. Espectro
de la seal original (a); espectro del tren de impulsos (b); espectro de la seal
muestreada con Fs < 2 fN (con aliasing ) (c).

cuyo resultado es el de desplazar la funcin continua al lugar donde est aplicado el


impulso.
La ecuacin (5.5) establece la relacin entre los espectros de la seal continua Xc( f ) y
la salida Xs( f ) del modulador del tren de impulsos de la Fig. 5.3(a) . Esta ecuacin
muestra que la transformada de Fourier de x s(t) est formada por rplicas repetidas
cada Fs = 1/T de la transformada de Fourier de la seal continua xc(t), escaladas por
un factor 1/T. Las copias de Xc( f ) estn desplazadas en mltiplos enteros de la
frecuencia de muestreo Fs = 1/T, y se superponen para producir la transformada de
Fourier peridica correspondiente a un tren de impulsos.
La representacin frecuencial del muestreo por un tren de impulsos se ilustra en la Fig. 5.4. La
transformada de Fourier Xc( f ) de una seal xc(t) limitada en banda cuya mxima componente
frecuencial no nula es fN se muestra en la Fig. 5.4(a), y la transformada de Fourier P T ( f ) del
tren de impulsos peridicos p T (t) se representa en la Fig. 5.4(b) . La con-volucin de estas dos
transformadas, expresada en las ecuaciones (5.4)-(5.5) es el espectro de X s( f ), graficado en la
Fig. 5.4(c) , que est formado por las rplicas cada Fs = 1/T de

Xc( f ).
Esta ltima figura permite apreciar que si la frecuencia de muestreo F s y la mxima
com-ponente frecuencial fN de la seal satisfacen la relacin
(5.6)
fN < Fs fN , o Fs > 2 fN
las rplicas de Xc( f ) desplazadas en mltiplos de Fs no se superponen cuando se
suman segn expresa la ecuacin (5.5). Es decir, en cada mltiplo entero de F s se
tiene una copia fiel del espectro original.
Si la desigualdad (5.6) no se satisface, es decir, si Fs 2 fN las rplicas desplazadas de
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5.3. Representacin frecuencial del muestreo

Xc( f ) se superponen como se representa en la Fig. 5.5. En la Fig. 5.5(a) se muestra nuevamente la transformada de Fourier de una seal de banda limitada con mxima componente frecuencial fN , que en este caso es mayor que F s/2. En la Fig. 5.5(b) se representa
la transformada de Fourier del tren de impulsos peridicos, que son impulsos separados F s
entre s; comparando estas dos figuras se observa que f N > Fs/2. La convolucin de estas
dos seales resulta en la seal xs(t) cuyo espectro Xs( f ) se grafica en la Fig. 5.5(c) . En
lneas de trazo se grafican las rplicas cada F s del espectro Xc( f ). La suma de estar
rplicas da como resultado el espectro representado por un trazo continuo grueso. En este
caso, en cada mltiplo de F s no queda centrada una copia fiel del espectro original X c( f ),
sino que aparece un espectro distorsionado.

Esta discusin es la base del Teorema del Muestreo de Nyquist, desarrollado por
Kotel-nikov en Rusia en 1933 (pero desconocido en occidente), por Nyquist en 1928, y
refor-mualdo por Shannon en 1949 en un marco ligeramente diferente, que se puede
enunciar de la siguiente manera:
Teorema del muestreo: Sea xc(t) una seal de banda limitada, cuya
transfor-mada de Fourier satisface
Xc( f ) = 0 para j f j > fN .

(5.7)

Entonces xc(t) puede determinarse de manera nica a partir de sus


muestras x[n] = xc(nT), n 2 N, si
(5.8)
Fs = 1/T > 2 fN .

La frecuencia fN se conoce como frecuencia de Nyquist, y la frecuencia 2 f N que debe


ser menor que la frecuencia de muestreo Fs se denomina tasa de Nyquist.
Si la seal muestreada satisface las hiptesis del teorema del muestreo, como ocurre con
el espectro de la Fig. 5.3, es posible recuperar el espectro original filtrando la seal x s(t)
con un filtro pasabajos de ancho de banda adecuado. En el caso representado en la Fig.
5.5 no es posible recuperar el espectro Xc( f ) de la seal original filtrando el espectro
Xs( f ) de xs(t) con cualquier tipo de filtro. Se dice en este caso que el espectro est
alterado por las rplicas o que sufre distorsin por aliasing (rplica en ingls).
en el primer caso, la seal continua x c(t) puede recuperarse a partir de x s(t) utilizando un filtro
pasabajos ideal, conocido como filtro reconstructor, como se muestra en la Fig. 5.6(a) .

El tren de impulsos xs(t) modulado por xc(t) se aplica a un sistema lineal e invariante
en el tiempo con respuesta en frecuencia Hr( f ). Si Xc( f ) tiene la transformada de
Fourier que se muestra en la Fig, 5.6(b) , y si se supone que F s > 2 f N , el espectro de
Xs( f ) es el que se representa en la Fig. 5.6(c) . El espectro de la seal x t(t) a la salida
del filtro tiene un espectro Xr( f ) dado por
Xr( f ) = Hr( f )Xs( f ).
Si Hr( f ) es un filtro pasabajos ideal con ganancia T = 1/Fs y frecuencia de corte fc
(
H r( f ) =
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T, j f j < fc,
0, en caso contrario,
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Fig. 5.6. Recuperacin exacta de una seal continua a partir de sus muestras usando un
ltro pasabajos ideal Hr( f ).

como se muestra en la Fig. 5.6(c) , tal que


fN < fc < Fs

fN

entonces
Xr( f ) = Xc( f ),
como se muestra en la Fig. 5.6(e) .
La Fig. 5.7 muestra el fenmeno de aliasing en el dominio frecuencial para el caso de
una seal senoidal de frecuencia f0. La frecuencia de muestreo es F s, y en las Figs.
5.7(a)-(d) se estudia el caso en que f0 < Fs/2; es decir, se cumple la desigualdad (5.6)
del teorema del muestreo. En las Figs. 5.7(e)-(h) se analiza qu ocurre si F s > f0 >
Fs/2, cuando no se cumple esta condicin.
En la Fig. 5.7(a) se muestra el espectro Xc( f ) de la seal
xc(t) = A cos(2p f0t),
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5.3. Representacin frecuencial del muestreo

Fig. 5.7. Muestreo de una seal cosenoidal que satisface las condiciones del Teorema de
Nyquist (a)-(d), y de otra que no las cumple (e)-(h).

que es
A

X ( f ) = d( f
c
2

f )+
0

d( f f ).
0

cuando f0 < Fs/2, y en la Fig. 5.7(e) cuando f0 > Fs/2. Para facilitar la lectura del
grfico, se han diferenciado las componentes de frecuencia positiva y negativa (lnea
continua y lnea de puntos, respectivamente). La transformada de Fourier de x s(t) se
representa en la Fig. 5.7(b) para el caso f0 < Fs/2, y Fig. 5.7( f ) para f0 > Fs/2. Mientras
que en el primer caso las rplicas de frecuencia f 0 + kFs, con k 2 Z, aparecen a
frecuencias mayores que f0 (y menores que f0), en el segundo ( f0 > Fs/2) algunas
rplicas tienen frecuencia menor que f 0, por ejemplo, la componente de frecuencia F s
f0 a la derecha del origen en la Fig. 5.7( f ) . En las Fig. 5.7(c) y (g) se muestra la
respuesta en frecuencia del filtro reconstructor con frecuencia de corte f c = Fs/2.
Finalmente, la seal xr(t) recuperada a la salida del filtro reconstructor tiene el espectro
que se muestra en la Fig. 5.7(c) cuando f0 < Fs/2, y en la Fig. 5.7(e) para f0 > Fs/2.
El caso representado en la columna derecha de la Fig. 5.7 est afectados por aliasing.
Si no hay aliasing, la seal obtenida a la salida del filtro reconstructor es
xr(t) = A cos(2p f0t)
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xc(t),

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como se muestra en la Fig. 5.7(d) , mientras que si se produce aliasing la salida


reconstru-ida, que se representa en la Fig. 5.7(h) es
f0)t] 6= xc(t).

xr(t) = A cos[2p(Fs

Esta expresin muestra que la seal xc(t) = A cos(2p f0t) ha tomado la identidad
(alias) de la seal de frecuencia menor A cos[2p(Fs f0)t] como consecuencia del proceso de muestreo y reconstruccin.

5.3.1. Relacin con la transformada de Fourier de tiempo discreto (TFTD)


En el anlisis desarrollado hasta el momento, del diagrama de la Fig. 5.6(a) slo se consider el efecto de modular el tren de impulsos por la seal continua x c(t). El objetivo final
jw
es relacionar la transformada de Fourier de tiempo discreto X(e ) de la seal disc-reta x[n]
con las transformadas Xs( f ) de xs(t) y Xc( f ) de xc(t). Para ello es conveniente considerar
una expresin alternativa de Xs( f ), que resulta de aplicar las propiedades de la
transformada de Fourier a la expresin (5.3). Teniendo en cuenta el par transformado
d(t t)

()e 2pt f ,

la espresin (5.3), repetida aqu por comodidad


xs(t) = xc(nT)d(t nT)
n

tiene transformada de Fourier


Xs( f ) = xc(nT)e

2pT f n

jw

Como x[n] = xc(nT), y X(e ) = n x[n]e

jwn

, resulta que

X ( f ) = X(ejw)
s

w=2pT f =2p

(5.9)

Fs

Combinando las ecuaciones (5.5) y (5.9),

jw

X(e ) w=2pT f =2p


1

o bien
X(e

jw
)=

f
Fs

1
= T

Xc ( f kFs)

k X c ( f

2p

f =w

(5.10)

kFs)

s
2p

(5.11)

kFs

jw

De las ecuaciones (5.9) a (5.11) se observa que X(e ) es una versin escalada en
frecuen-cia de Xs( f ), segn w = (2p/Fs) f . Este escalado puede pensarse tambin como
una normalizacin del eje de frecuencias de manera que la frecuencia f = F s en Xs( f ) se
jw
nor-maliza a w = 2p en X(e ). Este escalado frecuencial o normalizacin en la transformajw
cin de Xs( f ) a X(e ) est asociado a una normalizacin por T en el dominio temporal de
xs(t) a x[n], tal como se pone de manifiesto en la Fig. 5.3. En esta figura x s(t) tiene un
espaciado entre muestras igual a un perodo de muestreo T, mientras que el espaciado
entre muestras de x[n] es siempre la unidad. Si el eje de tiempos est normalizado por un
factor T, el eje de frecuencias se normaliza por un factor 2pT = 2pFs.
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5.3. Representacin frecuencial del muestreo

Fig. 5.8. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta x[n]
(b) que resultan de muestrear una seal continua x c(t) = A cos(2p2000t) a una
frecuen-cia de muestreo Fs = 6 kHz (Ejemplo 5.1).

EJEMPLO 5.1. Muestreo y reconstruccin de una seal cosenoidal


Si la seal continua xc(t) = A cos(2p f0t) de frecuencia f0 = 2 kHz se muestrea a una
frecuencia Fs = 1/T = 6 kHz, se obtiene la seal discreta x[n] = xc(t)jt=nT=n/Fs dada por
= A cos 2 pn = A cos(w n), (5.12)
x[n] = A cos 2p f n = A cos 2p2000 n
0

6000

Fs

donde w0 = 2p f0/Fs = 2p/3. En este caso Fs = 6 kHz y la mxima componente frecuencial de x c(t) es
f0 = 2 kHz, de modo que f 0 < Fs/2: se satisfacen las condiciones del teorema del muestreo, y no habr
distorsin por solapamiento (aliasing ). La transformada de Fourier de xc(t) es

X ( f ) = d( f + f ) + d( f
c
0
2
2

f ),
0

y de acuerdo con (5.5)


1

Xs( f ) =

(5.13)

Xc( f + kFs)

A d( f + kF + f ) + A
s
0

2T

2T

d( f + kFs

f0).

En este caso, Xc( f ) es un par de impulsos ubicados en f = f 0 = 2 kHz, y Xs( f ) queda


formada por rplicas de esta transformada de Fourier centradas en F s, 2Fs, etc., como se
jw
muestra en la Fig. 5.8(a) . El espectro X(e ) de x[n] est dado por la ecuacin (5.9):
jw

X(e ) = Xs( f )jf =w

Fs
2p

= 2AT d( f + kFs + f0) + 2AT d( f + kFs

f0)

f =w
2p

Fs

2T d w 2p + kFs + f0 + 2T d

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Fs

w 2p

+ kFs

f0
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5. Muestreo de seales

Fig. 5.9. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta x[n]
(b) que resultan de muestrear una seal continua xc(t) = A cos(2p8000t) a una
frecuencia de muestreo Fs = 6 kHz (Ejemplo 5.2).
s
=
d 2ps
f
+ f0 Fs
w + kF
+
d 2p w + kFs Fs 0
k 2T
s

A
A

Fs

F
2p
F (w + 2pk + w )
0

k 2T d

2T

2p
A

2p

2T

Fs

AF
F
d

2p

(w

2p

2p

,
+ 2pk w0)

donde se utiliz el reemplazo 2p f0/Fs = w0. Aplicando ahora la propiedad de escalado del
impulso, d(aw) = (1/jaj)d(w) se tiene que
jw
X(e ) = A 2p
d (w + 2pk + w0) + A 2p
d (w + 2pk w0) ,
2T Fs
2T Fs
k

y teniendo en cuenta que Fs = 1/T,


jw

X(e ) = pAd (w + 2pk + w0) + pAd (w + 2pk

w0 ) .

jw

En otras palabras, el espectro X(e ) de x[n] est formado por un par de impulsos de rea
pA ubicados en la frecuencia w = w0, replicados cada 2p, que efectivamente corresponde al
espectro de una seal discreta de tipo coseno, de amplitud A, como se estudi en el
Captulo 3. El espectro de esta seal se graca en la Fig. 5.8(b) . Se observa que la
frecuencia original f0 = 2 kHz corresponde a la frecuencia normalizada w0 = ( f0/Fs)2p =
2p/3, que satisface la desigualdad w0 < p, que corresponde a que f0 < Fs/2. En la Fig. 5.8(a)
se muestra tambin la respuesta en frecuencia del ltro reconstructor ideal H r( f ) para la
frecuencia de muestreo de Fs = 6 kHz. Es evidente de la gura que la seal x r(t) obtenida a
la salida del ltro reconstructor ser idntica a la seal continua x c(t), es decir, la seal de
salida ser un coseno de la misma frecuencia que la seal de entrada, f 0 = 2 kHz.

EJEMPLO 5.2. Distorsin en la reconstruccin de una seal mal muestreada


La seal continua
xc(t) = A cos(2p8000t)
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(5.14)
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5.3. Representacin frecuencial del muestreo

se muestrea a la misma frecuencia de muestreo que en el ejemplo anterior (F s = 6 kHz). Como la


frecuencia de la seal es f 0 = 8 kHz no se satisfacen las hiptesis del teorema del muestreo,
porque Fs/2 = 3 kHz es menor que f 0 (la frecuencia de muestreo correcta debera ser mayor que
2 f0 = 16 kHz), as que existe distorsin por solapamiento (aliasing ). Sin embargo, ocurre un
fenmeno interesante. La transformada de Fourier X s( f ) de la seal x s(t) modulada por el tren
de impulsos que se muestra en la Fig. 5.9(a) es idntica a la de la Fig. 5.8(a) , pero el impulso
ubicado en f = 2 kHz se debe al trmino X c( f Fs) en la ecuacin (5.13), con k = 1, y no a X s( f ),
con k = 0. Algo similar ocurre con el impulso ubicado en f = 2 kHz, que aparece por el trmino X c(
jw
f + Fs) en (5.13), con k = 1. El grco del espectro X(e ) de x[n] representado en la Fig. 5.9(b)
es idntico al de la Fig. 5.8(b) . Esto no es sorprendente porque las seales discretas x[n] que
resultan de muestrear las seales xc(t) del Ejemplo 5.1 y la de este ejemplo son las mismas:
x[n] = A cos 2p f0 Fs
= A cos 2p8000 6000
= A cos 3 pn
= A cos
3 + 2 pn

n
A
cos
2pn
+
2pn
=

= A cos

n
2pn ,

que coincide con la x[n] dada por (5.12) (se puede agregar cualquier mltiplo de 2p al
argumento del coseno sin cambiar su valor). En otras palabras, se obtiene la misma
sucesin discreta x[n] = A cos(2pn/3) al muestrar dos seales continuas diferentes con la
misma frecuencia de muestreo. En un caso (Ejemplo 5.1) la frecuencia de muestreo
satisface el criterio de Nyquist, y en el otro no (este ejemplo).
En la Fig. 5.9(a) se representa tambin la respuesta en frecuencia H r( f ) del ltro
reconstructor ideal para la frecuencia de muestreo F s = 6 kHz. Se desprende de esta gura
que la seal xr (t) a la salida del ltro reconstructor ideal es
xr (t) = A cos(2p2000t)
es decir, es una seal de frecuencia f0 = 2 kHz, que no es la frecuencia de 8 kHz de la seal original
xc(t) dada por (5.14).

Los Ejemplos 5.1 y 5.2 revelan que dos seales distintas pueden resultar en la misma
seal discreta x[n] usando al misma frecuencia de muestreo. Este fenmeno se puede
comprender mejor con la ayuda de la Fig. 5.10. La seal de frecuencia f 0 = 2 kHz se
muestra en la Fig. 5.10(a) con trazo continuo. Las muestras, tomadas cada T = 1/F s = 1/6
ms, estn superpuestas en el mismo grfico. En este caso, se toman tres muestras por
cada perodo de la seal, lo que muestra que la frecuencia de muestreo es mayor que el
doble de la frecuencia del coseno (en el caso lmite, en que T = 1/F s = 2 f0 habra
exactamente dos muestras por perodo). En la Fig. 5.10(b) se muestra la seal del Ejemplo
5.2, de frecuencia f0 = 8 kHz, muestreada a la misma frecuencia F s = 6 kHz. Aqu es
evidente que se toma menos de una muestra por ciclo de las seal continua x c(t), y por lo
tanto no se cumple el teorema del muestreo. Sin embargo, el patrn de las muestras se
repite cada cuatro ciclos de la seal. Las Figs. 5.10(a) y 5.10(b) ponen de manifiesto que
las seales continuas son de diferente frecuencia, pero que muestras de la seal x c(t)
tomadas cada T segundos del Ejemplo 5.1 coinciden con las muestras de la seal x c(t) del
Ejemplo 5.2, tambin tomadas cada T segundos, como se muestra en la Fig. 5.10(c) .

EJEMPLO 5.3. Otro ejemplo de distorsin por solapamiento (aliasing)


Sea xc(t) la seal del Ejemplo 5.1, es decir un tono cosenoidal de frecuencia f 0 = 2 kHz,
xc = A cos(2p f0t) = A cos(2p2000t).

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.10. Interpretacin del aliasing en el dominio tiempo. Seal del Ejemplo 5.1, de
frecuencia f0 = 2 kHz muestreada a Fs = 6 kHz y sus muestras (a); seal del
Ejemplo 5.2, de frecuencia f0 = 8 kHz muestreada a la misma frecuencia F s =
6 kHz y sus muestras ( b); detalle de la seal discreta que resulta de muestrar las
seales continuas de ambos ejemplos (c).
Sin embargo, en este ejemplo la frecuencia de muestreo es F s = 1,5 kHz, que no cumple con el criterio
de Nyquist, porque la mayor frecuencia de la seal, que es f0 = 2 kHz no es menor que la mitad de la
frecuencia de muestreo Fs/2 = 750 Hz. Por este motivo, nuevamente ocurrir distorsin

f = 500
= 500 Hz ocurre
) de la seal
por la presencia del trmino Xc( f kFs) con k = 1. El grco del espectro X(e
discreta x[n] se muestra en la Fig. 5.11(b) , que resulta idntico al de la 5.8(b) . Nuevamente, esto
por aliasing. La Fig. 5.11(a) muestra el espectro de xs(t) para este caso. El impulso en

Hz aparece por el trmino

Xc

f kFs

) con

es natural porque el tono xc(t) de frecuencia

en (5.13), y el impulso en

A cos 2p f0 Fs

jw

f0 = 2 kHz cuando se lo muestrea a una frecuencia

Fs = 1,5 kHz resulta en la misma seal discreta x[n] de los Ejemplos 5.1 y 5.2:
x[n] =

= A cos 2p2000 1500 = A cos

3 pn = A cos

3 + 2 pn
2

= A cos pn + 2pn = A cos


3

pn ,

En la Fig. 5.11(a) se muestra la respuesta en frecuencia del ltro reconstructor H r( f )


correspondiente a una frecuencia de muestreo F s = 1,5 kHz. Es claro que la seal que se
obtendra a la salida del ltro reconstructor sera un tono de la forma

xr (t) = A cos(2p500t),
es decir, un tono de frecuencia 500 Hz que es distinto del tono de frecuencia f 0 = 2 kHz de la seal
continua original xc(t).
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5.4. Otra interpretacin del muestreo en el dominio frecuencia

Fig. 5.11. Transformada de Fourier de la seal continua x s(t) (a) y de la seal discreta
x[n] (b) que resultan de muestrear una seal continua xc(t) = A cos(2p2000t) a
una frecuencia de muestreo Fs = 1,5 kHz (Ejemplo 5.3).

Los Ejemplos 5.1 y 5.3 muestran que se puede obtener la misma seal discreta x[n] de
muestrear la misma seal continua xc(t) con dos tasas de muestreo distintas, si una de
ellas no satisface el teorema del muestreo. La interpretacin temporal se muestra en la Fig.
5.12. La seal de frecuencia f 0 = 2 kHz del Ejemplo 5.1 se repite nuevamente en la Fig.
5.12(a) , con una escala de tiempo diferente. Las muestras de la seal ocurren ca-da T =
1/Fs = 1/6 ms, y la figura revela que se toman tres muestras por ciclo de la seal continua,
verificando los requisitos del teorema del muestreo. En la Fig. 5.12(b) se representa la
seal del ejemplo 5.3, de la misma frecuencia f 0 = 2 kHz que en el caso anterior, pero
muestreada a intervalos mayores, de T = 1/F s = 2/3 ms (cuatro veces ms lento). La figura
pone de manifiesto que se viola el teorema del muestreo porque aparecen menos de una
muestra por ciclo de la seal continua. Sin embargo, si se grafi-can las sucesiones
discretas en funcin del nmero de muestras, como en la Fig. 5.12(c) , se obtiene la misma
secuencia temporal en ambos casos. Es decir que an cuando no se cumplen los
requisitos del teorema del muestreo, las muestras de la seal del Ejemplo 5.3 son las
mismas que se obtienen al muestrear la seal correctamente. En otras palabras, an
muestreando mal se obtienen las muestras correctas. Este efecto es aprovechado
ventajosamente en algunas aplicaciones, como en los osciloscopios diseados para visualizar seales peridicas de frecuencias del orden del GHz, o en una clase especial de
muestreo, denominado muestreo pasabanda. La clave en estos casos es saber que la
seal es de banda limitada, y conocer el rango de frecuencias donde est definida.
Los Ejemplos 5.1, 5.2 y 5.3 muestran porqu en las mayora de las aplicaciones es tan
importante cumplir con el Teorema de Nyquist, ya que de esta forma se tiene la certeza
que la seal discreta x[n] est asociada a una nica seal continua xc(t) y viceversa.

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.12. Interpretacin del aliasing en el dominio tiempo. Seal del Ejemplo 5.1, de
frecuencia f0 = 2 kHz muestreada a Fs = 6 kHz y sus muestras (a); seal del
Ejemplo 5.3, de la misma frecuencia f 0 = 2 kHz que la seal del Ejemplo 5.1
pero muestreada a Fs = 1,5 kHz y sus muestras (b); detalle de la seal
discreta que resulta de muestrar las seales continuas de ambos ejemplos (c).

5.4. Otra interpretacin del muestreo en el dominio frecuencia


Otra manera de visualizar los efectos del muestreo en el dominio frecuencial es
imaginar que el espectro Xc( f ) de la seal continua xc(t) se grafica sobre un papel
transparente, como se representa en la Fig. 5.13(a) . En este caso, la seal continua
no cumple con el teorema del muestreo, y por lo tanto se producir distorsin por
solapamiento o aliasing. Para simplificar la presentacin, se supone que el espectro
tiene simetra par, es decir que la seal xc(t) es real.
El efecto de muestrear la seal continua xc(t) es equivalente a doblar el papel transpar-ente
en tramos de longitud Fs en Fs/2, 3Fs/2, 5Fs/2, etc., como sugiere la Fig. 5.13(b) . Al
solapar los distintos pliegues de la hoja los rangos de frecuencia que estaban fuera del
intervalo Fs/2 < f < Fs/2 se mapean dentro de esta zona. El espectro que se obtiene al
agrupar todos los pliegues se representa en la Fig. 5.13(c): ste es el espectro X s( f ) de la
seal xs(t), es decir, del tren de impulsos pT (t) modulado por la seal continua xc(t). Las
porciones del espectro comprendidas entre F s/2 y 3Fs/2, 5Fs/2 y 7Fs/2, etc., y en-tre 3F s/2
y Fs/2, 7Fs/2 y 5Fs/2, etc., se superponen reflejadas sobre las porciones comprendidas
entre Fs/2, mientras que las comprendidas entre 3F s/2 y 5Fs/2, 7Fs/2 y 9Fs/2, etc., y entre
5Fs/2 y 3Fs/2, 9Fs/2 y 7Fs/2, etc., se superponen sin reflexin,
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5.4. Otra interpretacin del muestreo en el dominio frecuencia

Fig. 5.13. Otra interpretacin de los efectos del muestreo en el dominio frecuencial.
Espectro de la seal original (a); efecto del muestreo (b); espectro de la se`nal
muestreada xs(t) (c).

como se muestra en las Fig. 5.14(a) y (b) .


Esta representacin muestra que si la seal no satisface el teorema del muestreo, se puede
perder mucha informacin, porque a partir del espectro de la Fig. 5.14(c) es imposible conocer
en qu pliegue estaba cada porcin del espectro, y por lo tanto, es imposible recuperar el
espectro original representado en la Fig. 5.14(a) . Cualquier componente fre-cuencial que est
fuera de la banda comprendida entre F s/2 se replica dentro de esta banda, ensuciando el
espectro, y aumentando potencialmente el nivel de ruido.

Estos problemas no se producen con seales que tengan ancho de banda finito, y que
satisfagan las hiptesis del teorema del muestreo. No obstante, no siempre se conoce
con certeza si la seal es de ancho de banda limitado o no, o si tiene componentes frecuenciales por encima de Fs/2. Para evitar estos inconvenientes es frecuente utilizar
un filtro, conocido como prefiltro o filtro antialiasing, que se coloca antes del conversor
C/D y que limita el contenido frecuencial de la seal continua x c(t) al intervalo entre
Fs/2, tal como se analiza en la Seccin 5.11.1.

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.14. Representacin del aliasing en el dominio frecuencial.

5.5. Unidades de frecuencia tpicas


La Fig. 5.15 muestra las distintas escalas de frecuencia que suelen utilizarse en el
proce-samiento digital de seales, y los extremos del intervalo de Nyquist. Si el
procesamiento discreto est asociado de alguna manera a una seal continua, como
en el caso de los Ejemplos 5.1, 5.2, 5.3, se prefieren las escalas en Hertz o en
radianes por segundo, como muestran las Fig. 5.15(a) y (b) , respectivamente.
En otros casos suele preferirse una escala adimensional, como la que se usa con los
espec-tros de seales discretas, como se indica en la Fig. 5.15(c). El muestreo de una
j2p f0t
exponencial compleja continua xc(t) = e
cada t = nT segundos, donde T = 1/Fs es
el perodo de muestreo, y Fs la frecuencia de muestreo resulta en la seal discreta
f

j2p f Tn

x[n] = e

j2p

=e

0 n
F s

= e W0

Tn

jw n

=e

donde W0 = 2p f0. Es evidente que


w0 = W0T = W0
Fs

= f0 2p = 2p f0T.

(5.15)

Fs

En el libro de Oppenheim se usa el escalado w0 = W0T. En estos apuntes se prefiere


la forma w0 = f0(2p/Fs) porque:
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5.6. Efectos de la distorsin por solapamiento (aliasing)

Fig. 5.15. Intervalos de frecuencia utilizados habitualmente en el procesamiento de seales.

los espectros continuos se grafican en Hz, como la mayora de los instrumentos


de medicin;
esta forma recuerda el escalado proporcional entre la frecuencia continua f y la
frecuencia discreta w: si f0 = Fs, entonces w0 = 2p.
Tambin es habitual normalizar la frecuencia f con respecto a la frecuencia de
muestreo Fs como se representa en la Fig. 5.15(d), o con respecto de la frecuencia de
Nyquist fN = Fs/2 [Fig. 5.15(e)] que es el estilo adoptado en M ATLAB; en este caso el
intervalo de Nyquist es ( 1, 1]. Con estas dos normalizaciones se evita la aparicin del
smbolo p en los grficos.
En aplicaciones donde se utiliza una nica frecuencia de muestreo las unidades
radianes por muestra (w) o ciclos por muestra ( f /Fs) son las preferidas, mientras que
en el proce-samiento multirate, donde distintas etapas de procesamiento trabajan con
diferentes fre-cuencias de muestreo, es ms conveniente trabajar con unidades
dimensionales (ciclos o radianes por segundo).

5.6. Efectos de la distorsin por solapamiento (aliasing)


En esta seccin se desarrollan dos casos que muestran los efectos de violar las
hipte-sis del teorema del muestreo. En el primero, la seal bajo estudio es de banda
limitada, pero no su frecuencia es mayor que la mitad de la frecuencia de muestreo: es
el efecto estroboscpico que se obtiene al iluminar un objeto que gira con una luz
pulsante (flash). En el segundo caso la seal no es de banda limitada: se estudia qu
es lo que ocurre al muestrear una onda cuadrada.

5.6.1. Movimiento rotacional


Las propiedades del muestreo de seales sinusoidales se pueden comprender de man-era
j2p f0t
ms intuitiva representando una sinusoide compleja x c (t) = e
como una rueda que
rota a razn de f0 revoluciones por segundo (Orfanidis, 1996, pp. 27-29). Esta representacin es conveniente porque permite asociar el signo de la frecuencia con el sentido

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5. Muestreo de seales

de giro del disco: las frecuencias positivas representan rotaciones en sentido


antihorario. La rueda se encuentra en un ambiente oscuro, y se ilumina mediante una
serie de destel-los luminosos (flashes) que ocurren Fs veces por segundo. La
frecuencia de rotacin de la rueda en radianes por segundo es W0 = 2p f 0. Durante el
intervalo T = 1/Fs entre destellos la rueda gira un ngulo
w0 = W0T = 2 f0T =

2p f0

Fs

Esta cantidad no es otra cosa que la frecuencia digital, que se mide en radianes por muestra
(Seccin 5.5). En funcin de la frecuencia digital w, la seal sinusoidal muestreada es
j2p f nT

x[n] = xc (nT) = e

jw n

=e

En esta escala la frecuencia de Nyquist fN = Fs/2 se convierte en wN = p, y el intervalo


[ fN , f N ) en [ p, p). Las rplicas de frecuencia f = f0 + mFs aparecen en las frecuencias
digitales
2p( f + mF ) 2p f
0
s =
0 + 2pm = w0 + 2pm.
Fs

Fs

Como la frecuencia
= Fs corresponde a w = 2p, las rplicas de las frecuencias f > Fs/2
= ((w))
w = 2p f
f aparecen en
= 2p
a
( ) s
2p
Fs

donde (( ))M indica la operacin mdulo M. Esta operacin es una extensin natural de
la operacin definida en el Captulo 4, ya que M puede ser un nmero real, y no
necesari-amente un entero. Se define como

((x))y = x

ny,

con n = bx/yc donde b c es la funcin piso: bxc es el mayor de los enteros menores
que x.
La cantidad f T = f /F s representa el nmero de revoluciones que gira la rueda durante
el intervalo T entre destellos. Si j f0j < Fs/2 en este lapso de tiempo la rotacin es
menor que media revolucin. En cambio, si la rueda gira a una frecuencia superior a la
frecuencia Fs = 1/T, por ejemplo f1 = f0 + mFs, donde f 0 2 [ Fs/2, Fs/2), entonces
durante el tiempo T rotar
f1T = ( f0 + mFs)T = f0T + m
vueltas: habr girado m revoluciones completas ms una fraccin w0 = f0T. Si el disco
est iluminado solamente por los destellos, un observador es incapaz de percibir estas
m revoluciones extras y no puede distinguir si la rueda gira a f 1 rev/s o a f0 rev/s: la
velocidad de rotacin percibida por el observador es siempre
(5.16)
f = (( f )) s .
a

Los siguientes ejemplos ilustran este punto. En todos los casos se supone que el
intervalo de tiempo T entre los destellos es T = 1/4 de segundo, o bien F s = 4 Hz. En
los esquemas frecuenciales, la flecha continua indica la frecuencia real de oscilacin,
la flecha de trazos discontinuos la frecuencia de los destellos, y la flecha hueca las
rplicas de las compo-nentes frecuenciales del espectro discreto. Un par de lneas
punteadas seala el intervalo de Nyquist [ Fs/2, Fs/2) o [ p, p), segn corresponda.
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5.6. Efectos de la distorsin por solapamiento (aliasing)

Fig. 5.16. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 1 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.

Fig. 5.17. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 5 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.

EJEMPLO 5.4. Velocidad errnea, sentido correcto


Dos ruedas giran en sentido antihorario, una de ellas a f 1 = 1 Hz y otra a f 2 = 5 Hz, como se
muestra en la Fig. 5.16 y en la Fig. 5.17, respectivamente. Ambas se observan bajo una luz
estroboscpica que destella 4 veces por segundo (F s = 4 Hz); la velocidad de rotacin del
segundo disco es f2 y se verica que f 2 = f1 + Fs.
Durante el intervalo de tiempo entre destellos (T = 1/4 s) la primera rueda recorre f 1T = f1/Fs
= 1/4 de revolucin en sentido horario; el ngulo de rotacin es w1 = 2p f1T = 2p f1/Fs = 2p/4
= p/2 radianes. Una persona que observase el movimiento del disco iluminado con la luz
estroboscpi-ca notara que la rueda se desplaza 1/4 de revolucin con cada destello (cada
T = 1/4 de segundo), por lo que su velocidad de rotacin es

1/4 rev

= 1 rev/s.

1/4 s

En consecuencia el observador percibira la velocidad y el sentido correcto de la rotacin.


La segunda rueda, en cambio, en el mismo lapso de tiempo T = 1/4 s gira f 2T = f2/Fs = 5/4
revoluciones, abarcando un ngulo de rotacin de w2 = 5p/2. Comparada con la primera rueda, gira
una vuelta completa de ms. Sin embargo, un observador que apreciase el movimiento de esta rueda
bajo una luz estroboscpica seguira notando que la rueda se desplaza 1/4 de revolucin en sentido
horario cada T = 1/4 de segundo, de donde concluira (errneamente) que la velocidad de rotacin es
tambin de 1 rev/s. Este resultado coincide con el que resulta de aplicar (5.16)

f2a = (( f2))Fs = ((5))4 = 5

4 = 1.

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.18. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a 9 rev/s (a).
Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces por segundo.

Fig. 5.19. Disco rotante. Posiciones del disco al momento del destello cuando gira a ( 3)
rev/s (a). Espectro de la posicin y de las muestras (b). El destello ocurre 4 veces
por segundo.

En este caso la velocidad percibida es errnea, pero el sentido de giro es correcto. En


el siguiente Ejemplo se analiza otra variante del problema.
EJEMPLO 5.5. Velocidad y sentido incorrectos
En la Fig. 5.18 y en la Fig. 5.19 se muestran otros dos discos, uno de ellos que gira en
sentido antihorario a razn de f 3 = 9 rev/s y el otro en sentido horario a f 4 = 3 rev/s,
respectivamente. El signo negativo indica rotacin en sentido horario.
Durante el perodo T = 1/4 s entre dos destellos, la tercera rueda recorre f 3T = 9/4 = 1/4 + 2
revoluciones, esto es, dos giros completos adicionales al recorrido de la rueda 1 del Ejemplo anterior.
Al igual que lo que sucede con el disco 2 del Ejemplo anterior (Fig. 5.17), una persona que observe las
ruedas bajo la luz estroboscpica concluira (nuevamente de manera equivocada) que la rueda gira a
razn de 1 rev/s; en smbolos, f3a = (( f3))Fs = ((9))4 = 9 2 4 = 1 rev/s.

El caso de la cuarta rueda es ms interesante. Durante el perodo entre dos destellos


recorre f4T = 3/4 revoluciones en sentido antihorario. El observador aprecia que en cada
destello la posicin del disco cambia en 3/4 revolucin en sentido antihorario, o bien 1/4 de
revolucin en sentido horario, como muestra la Fig. 5.19(a) , y concluye que la rueda tiene la
misma velocidad que el disco 1 del Ejemplo anterior. En este caso, tanto la velocidad de
rotacin como el sentido de giro se aprecian de manera incorrecta. Tambin en este caso la
ecuacin (5.16) permite interpretar correctamente el resultado:
f4a = (( f4))Fs = ((

3))4 =

3 + 4 = 1.

En el siguiente ejemplo se muestra que si una rueda gira a una velocidad menor que
1/2 revolucin entre instantes de muestreo, es decir que f T < 1/2 o w = 2p f T < p, el
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5.6. Efectos de la distorsin por solapamiento (aliasing)

Fig. 5.20. Discos girando a diferentes velocidades: f 1 = 1,5 Hz (a); f2 = 2 Hz (b); f3 = 2,5
Hz (c); f4 = 4 Hz (d). En todos los casos la frecuencia de los destellos es F s =
4 Hz.

movimiento percibido coincide con el movimiento real en velocidad y sentido. Las


condi-ciones f T < 1/2 u w < p son equivalentes a la condicin impuesta por el teorema
del muestreo: Fs > 2 f N . Si la rueda se desplaza ms de media vuelta entre dos
destellos con-secutivos de la lmpara, el movimiento se percibir como un giro en
direccin contraria, a una velocidad menor.
EJEMPLO 5.6. Cuatro discos rotando a distintas velocidades
La Fig. 5.20 muestra cuatro ruedas que giran con velocidades f 1 = 1,5 Hz, f2 = 2 Hz, f3 = 2,5 Hz,
f4 = 4 Hz, que se observan bajo una luz estroboscpica que destella a razn de 4 veces por
segundo (Fs = 4 Hz). Los discos 1, 2, y 4 giran en sentido antihorario, mientras que el disco 3
gira en sentido horario, como indican los signos de las velocidades f 1, ..., f4.
La primera rueda [Fig. 5.20(a)] gira f T = 3/8 de vuelta cada T = 1/4 segundos. Por lo tanto, un
observador percibira que en el n-simo instante de tiempo el disco se desplaz 3pn/4 radianes.
La segunda rueda [Fig. 5.20(b)] rota exactamente media vuelta ( f T = 1/2, w = 2p f T = p rad) en
el perodo que transcurre entre los destellos. El observador notara que el punto destacado del
disco oscila alternativamente entre arriba y abajo, y es imposible determinar el sentido de giro.
La tercera rueda [Fig. 5.20(c)] gira ms de media vuelta (en sentido horario) en el intervalo de
tiempo comprendido entre dos destellos, f T = 5/8. El observador notara que en ese lapso de
tiempo el disco rota w3 = 5p/4 rad, y percibe el movimiento en funcin del menor ngulo de
rotacin, y creer que el sentido de giro es contrario al real, cubriendo un ngulo de wa =
((w4))2p = (( 5p/4))2p = 2p 5p/4 = 3p/4, que equivale a 3/8 de vuelta y corresponde a una frecuencia
f3a = (3/8 rev)/(1/4 s) = 1,5 Hz. Es decir que el disco parece girar a la misma velocidad, y en el mismo
sentido que el primer disco, aunque la velocidad real y el sentido de giro real son diferentes.
La cuarta rueda [Fig. 5.20(d)] parece estar quieta, ya que f 4 = Fs = 4, y el movimiento se muestrea
exactamente una vez por revolucin: en el intervalo de tiempo que transcurre entre dos destellos
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5. Muestreo de seales

el disco gira exactamente 1 vuelta, es decir w4

= 2p. La frecuencia de rotacin observada es

f4a = (( f4))Fs = ((4))4 = 4 4 = 0.

5.6.2. Muestreo de una onda cuadrada


Una onda cuadrada de perodo T0 = 1 s, definida en un perodo 0
8
>
1, si 0 < t < 0,5, xc(t)
= 1, si 0,5 << t < 1,

0, si t = 0 o t = 0,5,

t < 1 por

>

donde t se expresa en segundos, se muestrea a F s Hz, y las muestras x[n] = x c(n/Fs)


se filtran con un reconstructor ideal. Se desea determinar la seal continua en el
A
tiempo xr(t) a la salida del filtro reconstructor para dos frecuencias de muestreo: F s =
B
4 Hz y Fs = 8 Hz.
Como la onda cuadrada tiene simetra de media onda, la expansin en series de
Fourier est compuesta solamente por las armnicas impares de la frecuencia
fundamental f0 = 1/T0,

x(t) =

2p kt

bk sen

k impar

bk sen(2p fkt)
k impar

= b1 sen(2pt) + b3 sen(6pt) + b5 sen(10pt) +


donde bk = 4/(pk), fk = k/T0, k = 1, 3, 5, . . . . Como la seal tiene infinitas armni-cas, no es
de banda limitada, y en consecuencia no puede muestrearse adecuadamente. Cuando la
A
frecuencia de muestreo es Fs = 4 Hz, slo la primera armnica de frecuencia f 1 queda
B
dentro del intervalo de Nyquist, que es ( 2, 2] Hz. Para F s = 8 Hz las compo-nentes
frecuenciales comprendidas en el intervalo de Nyquist [ 4, 4) Hz son f 1 = 1 Hz,
y f3 = 3 Hz. El resto de las componentes sufrirn distorsin por solapamiento (aliasing),
y algunas rplicas aparecern dentro del intervalo de Nyquist. La tabla siguiente muestra las frecuencias de las rplicas dentro del intervalo de Nyquist correspondientes a
las armnicas de la seal para las dos frecuencias de muestreo.
frecuencia de

frecuencia de las rplicas para las armnicas

k!

muestreo Fs
A

Fs = 4 Hz wk = (( fk
B

Fs = 8 Hz wk = (( fk

2
2

))FsA

F
s

))FsB

1
1

5
1 1

fk = k/T

11 13 15

1 11

31

331

En este ejemplo, las frecuencias que yacen fuera del intervalo de Nyquist aparecen replicadas dentro de la banda con un patrn bien definido. De esta forma se puede encontrar
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25

5.6. Efectos de la distorsin por solapamiento (aliasing)


una forma cerrada para la seal discreta
x[n] =

bk sen

2p fk n
Fs

k impar

2p
= b sen
1
Fs

2
p

bk sen
m impar

Fs

2p
w1n + b3 sen F
A

2p

w3n + b5 sen F w5n

que para la frecuencia de muestreo F

wk n

= 4 Hz resulta
s

2p
xA[n] = (b1 b3 + b5 b7 + b9 b11 + ) sen

donde
A=

4
(b

1+4k

3+4k

Fs

)=

2p
A
sen
A
w1n =
Fs w1n

k=0

+ 4k

p k=0 1 + 4k 3

(5.17)

De manera similar, para F = 8 Hz se encuentra que


s

xB[n] = (b1 b7 +b9 b15 + ) sen


2p

= B sen

Fs

2p

2p

B
Fs w1n+(b3 b5 +b11 b13 + ) sen

Fs

w3n

2p
w1n + C sen

B
Fs w3n ,

donde

B =
C =

(
b1+8r

)=

7+8r

r=0

(
b3+8r
r=0

r=0

)=

5+8r

r=0

1 + 8r

7 +8r
1

3 + 8r

5 +8r

(5.18)
(5.19)

Los coeficientes A, B, y C se pueden determinar de dos maneras:


Evaluando las sumatorias de las ecuaciones (5.17)-(5.19). Las tres expresiones
son casos especiales de la sumatoria ms general
4

b(m, M) =

r=0

donde M > m > 0. Notando que


1
1
m + Mk

(5.20)

m + Mr M m + Mr
=

Z
0

M m + Mk

(e mx e (M

m)x

)e

Mkxdx,

(5.21)

cada uno de los trminos de (5.20) se puede reemplazar por la integral de (5.21). In
tercambiando el orden de la sumatoria y la integracin, y recordando que k=0 e
Mkx
Mx
= 1/(1 e ) para xb(m,>M)0,
resulta 1
= Z 0
Mx
dx = cot
M
.
4
4
mp
e mx
e (M m)x
p

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26

5. Muestreo de seales

Fig. 5.21. Muestreo de una onda cuadrada: Fs = 4/T0 (a); Fs = 8/T0 (b).

El ltimo paso se obtiene de una tabla de integrales (Gradshtein y Ryzhik, 1980).


Los coeficientes A, B, y C son entonces
A = b(1, 4) = cot p = 1,
4
1
p2 + 1
p
= 2 ,
B = b(1, 8) = 2 cot 8
1
3p
p2 1
=
=
C
b(3, 8) = 2 cot 8
2 .
Imponiendo que la seal recuperada xr(t) y la seal de entrada x(t) coincidan en
los instantes de muestreo (justificado en la seccin siguiente), es decir
x(n/ fs) = xr(n/ fs).
A

Para la frecuencia de muestreo F = 4 Hz,


s

x (n/FA) = x
r

[n] = A sen[(2p/F )w
s

n] = A sen(pn/2).

Evaluando en n = 1, x(1/F ) = 1 y entonces


s

A = 1.
B

Para el segundo caso, donde F = 8 Hz, se tiene que


B

(n/F ) = x
r

s
B [n ]

Imponiendo que x(n/F ) = xr

= B sen(pn/4) + C sen(3pn/4).
B

(n/F ) en n = 1, 2, se obtienen dos ecuaciones

B sen(p/4) + C sen(3p/4)
B sen(p/2) + C sen(3p/2)
de donde resulta B = (

2 + 1)/2, C = (

= 1,
= 1,

1)/2.

La Fig. 5.21(a) muestra la seal x(t), xr(t) y sus muestras para la frecuencia de
A
B
muestreo Fs = 4 Hz, y la Fig. 5.21(b) para el caso de Fs = 8 Hz.
Los resultados anteriores se pueden generalizar para cualquier frecuencia de muestreo
M

F = MF . Por ejemplo, si M = 3 (F = 12 Hz), se obtiene


s

xr(t) = b(1, 12) sen(2pt) + b(3, 12) sen(6pt) + b(5, 12) sen(10pt),
y de manera ms general,
xr(t) =

b(k, M) sen(2pkt).

(5.22)

k=1,3,...(M/2 1)
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5.7. Reconstruccin de una seal de banda limitada a partir de sus muestras

Tabla 5.1: Variacin de los coeficientes de (5.22) en funcin de la frecuencia de


muestreo.
coecientes
b
1
b

frecuencia de muestreo
4 Hz

8 Hz

12 Hz

16 Hz

1,000

1,207
0,207

1,244
0,333
0,089

1,257
0,374
0,167
0,050

1,273
0,424
0,255
0,182

b5

A medida que M ! , los coeficientes b(k, M) tienden a b k, los coeficientes de la serie de


Fourier. Utilizando la aproximacin cot(x) 1/x, vlida para x pequeo, se obtiene el
lmite
lm b(k, M) = 4 1
= 4 = bk.
M
pk/M
pk
M!
La Tabla 5.1 muestra las mejoras sucesivas de los valores de los coeficientes de los
ar-mnicos a medida que se incrementa la frecuencia de muestreo.
En este ejemplo, las frecuencias de muestreo se eligieron de manera que la frecuencia
de las rplicas coincidiesen con armnicas de las frecuencias de la seal. En otras
palabras, la frecuencia de muestreo es un mltiplo de la frecuencia fundamental f 0 =
1/T0. Para otras frecuencias de muestreo, las rplicas pueden no coincidir con las
armnicas contenidas dentro del intervalo de Nyquist, cambiando no slo el balance de
las armnicas, sino tambin las componentes frecuenciales.

5.7. Reconstruccin de una seal de banda limitada a partir


de sus muestras
De acuerdo con el teorema del muestreo, o de Kotelnikov-Nyquist-Shannon, una seal
de tiempo continuo se puede representar exactamente por un conjunto de valores
discretos (las muestras de la seal), si stos son tomados suficientemente prximos.
Esto significa que es posible recuperar la seal original a partir de los valores de las
muestras, y del conocimiento de la frecuencia de muestreo, es decir, cada cunto
fueron tomadas esas muestras. Este proceso de reconstruccin puede comprenderse
a partir de la modulacin de un tren de impulsos, de manera similar a la utilizada para
derivar los formalismos matemticos de la conversin continuo a discreto (C/D).
En la Seccin 5.3 se estudi que si se verifican las condiciones del teorema del
muestreo, y si el tren de impulsos se filtra con un filtro pasabajos de ancho de banda
adecuado, la transformada de Fourier a la salida del filtro ser idntica a la
transformada de Fourier de la seal continua de entrada x c(t), y por lo tanto, la seal
de salida del filtro reconstructor xr(t) ser igual a xc(t).
Si se parte de una sucesin discreta x[n] se puede obtener un tren de impulsos x s(t) en el

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28

5. Muestreo de seales

Fig. 5.22. Diagrama bloque de un sistema reconstructor ideal (a).Respuesta impulsiva


hr(t) (b) y respuesta en frecuencia Hr( f ) (c) del ltro reconstructor ideal.

cual el rea del impulso n-simo sea igual al valor de la muestra n-sima x[n]:
xs(t) = x[n]d(t nT).

(5.23)

Esa expresin indica que el valor de la muestra n-sima est asociada al rea del
impul-so en t = nT, donde T = 1/Fs es el perodo de muestreo. Si este tren de impulsos
es la entrada a un filtro pasabajos continuo con respuesta en frecuencia Hr( f ) y
respuesta impulsiva hr(t), la salida del filtro ser la seal xr(t) dada por
xr(t) = hr(t) xs(t)
= hr(t) x[n]d(t nT)
n

x[n]hr(t

nT).

(5.24)

En la Fig. 5.22 se muestra un diagrama bloque del proceso de reconstruccin. El filtro


reconstructor ideal tiene una ganancia T = 1/Fs en la banda de paso para compensar el
factor 1/T que aparece durante el proceso de muestreo, como indican las ecuaciones
(5.10) o (5.11), es decir
(

H r( f ) =

T, si j f j < fc.
0, si j f j fc.

La frecuencia de corte fc debe quedar comprendida entre fN (la mayor componente de


frecuencia de la seal original xc(t)) y Fs fN :
fN < fc < Fs
fN .

Una eleccin conveniente y habitual es elegir la frecuencia de corte del filtro


reconstructor como la mitad de la frecuencia de muestreo, es decir
fc = Fs/2.
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29

5.7. Reconstruccin de una seal de banda limitada a partir de sus muestras

Esta eleccin es apropiada para cualquier valor de fN y Fs, siempre que Fs > 2 fN .
La respuesta impulsiva hr(t) del filtro reconstructor se puede calcular a partir de la
trans-formada de Fourier inversa de Hr( f ), y resulta ser
hr(t) = 2 fc T sinc (2 fct) = 2 fc T sen(2p fct)
2p fct
que para fc = Fs/2 se puede escribir como
F
F
s

sen(pt/T)

hr(t) = 2 2 T sinc 2 2 t = sinc(Fst) = sinc(t/T) =

pt/T

(5.25)

Esta respuesta impulsiva se representa en la Fig. 5.22(b) . Sustituyendo (5.25) en


(5.24) se tiene que
sen[p(t nT)/T] .
(5.26)
xr(t) = x[n]
n
p(t nT)/T
A partir del punto de vista frecuencial estudiado en la Seccin 5.3, se observa que si
x[n] = xc(nT) con Xc( f ) = 0 para j f j > Fs/2, entonces x r(t) es igual a x c(t). Esta igualdad no es evidente de la ecuacin (5.26), aunque pueden destacarse algunas
propiedades. En primer lugar, la respuesta impulsiva del filtro reconstructor dada por la
ecuacin (5.25) se nota que
h (t) = 1,
(5.27)
r
jt=0
que resulta de aplicar la regla de lHpital. Adems,
para n = 1, 2, . . . .
(5.28)
= 0,
h (t)
r
jt=nT
A partir de (5.27), (5.28) y (5.24), se encuentra que, si x[n] = xc(nT),
(5.29)

xr(mT) = xc(mT)

para todo m 2 Z. La ecuacin (5.29) muestra que la seal resultante es una reconstruccin
exacta de xc(t) en los instantes de muestreo (cuando t = nT), como indica la expresin
(5.26). Pero qu pasa en el resto del tiempo? Un anlisis grfico de este fenmeno se
muestra en la Fig. 5.23, donde se representa la seal continua x c(t), y el tren de impulsos
modulado xs(t). En la Fig. 5.23(c) se muestran varios de los trminos

x[n]sen[p(t nT)/T] p(t


nT)/T

y la seal reconstruida xr(t), revelando que la respuesta impulsiva del filtro


reconstructor ideal interpola entre los impulsos de xs(t) para construir la seal de
tiempo continuo xr(t). El hecho que el filtro pasabajo ideal interpola correctamente
entre las muestras de xs(t) para obtener exactamente xc(t) para todo (n 1)T < t < nT, n
2 Z, queda asegurado por el argumento frecuencial desarrollado en la Seccin 5.3.
Este es uno de los casos en que el anlisis del problema en un dominio (frecuencial en
este caso) es mucho ms sencillo que en el otro dominio (temporal). La idea es que si dos
seales tienen exactamente el mismo espectro, entonces estas seales deben ser iguales:
si Xr( f ) = Xc( f ), entonces xr(t) = xc(t) para todo t. El desarrollo de esta demostracin

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30

5. Muestreo de seales

Fig. 5.23. Interpolacin ideal de una seal de banda limitada.

enteramente en el domino temporal es muy engorrosa. Algunos casos especiales, para


seales particulares, se discuten en la Seccin 5.8.
El proceso de reconstruccin explicado en esta seccin puede ser formalizado definiendo
un sistema ideal que reconstruya una seal de banda limitada a partir de un conjunto de
muestras x[n]. Este sistema se denomina conversor discreto a continuo ideal (D/C), y su
diagrama bloque se muestra en la Fig. 5.24. Como se ha explicado ms arriba, el proceso
de reconstruccin ideal puede ser representado como la conversin de una sucesin a un
tren de impulsos, como se indica en (5.23), seguido de un filtrado con un filtro pasabajos
ideal, resultando en la salida xr(t) dada por la expresin (5.26). El paso intermedio, de
pasar de una sucesin a un tren de impulsos, es una conveniencia matemtica til para
derivar la ecuacin (5.26) y para entender el proceso de reconstruccin. Una vez que estos
pasos han sido comprendidos cabalmente es conveniente utilizar una representacin ms
compacta, como se muestra en la Fig. 5.24, donde la entrada es la sucesin x[n] y la salida
es la seal reconstruida xr(t) de la ecuacin (5.26).

Las propiedades del conversor discreto a continuo ideal se ven ms fcilmente en el


do-minio frecuencia. Para derivar una relacin entrada/salida en este dominio, basta
cal-cular la transformada de Fourier de (5.24) o (5.26) teniendo en cuenta la propiedad
de desplazamiento temporal: si
xr(t) = x[n]hr(t

nT)

n
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5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Fig. 5.24. Tres representaciones esquemticas del conversor discreto a continuo (D/C).

la transformada de Fourier de hr(t

nT) es Hr( f )e

Xr( f ) = x[n]Hr( f )e

j2p(nT) f

j2p(nT) f

, y entonces

= Hr( f ) x[n]e

j2p(nT) f

donde el tercer trmino resulta de observar que como H r( f ) no depende de n, se


puede escribir afuera de la sumatoria. Por lo tanto,
jw
jw
, si j f j < Fs/2,
TX(e )
w= f 2Fps

Xr( f ) = Hr( f )X(e )

w=2pT f = f

2p

Fs

= 0,

en caso contrario.

(5.30)

La ecuacin (5.30) es una representacin frecuencial del conversor D/C ideal. Segn es-ta
jw
expresin, X(e ) se escala en frecuencia (es decir, se reemplaza w por f (2p/Fs)). El filtro
pasabajos ideal Hr( f ) selecciona el perodo centrado en f = 0 de esta respuesta en
frecuencia (peridica y escalada), y compensa por el factor de ganancia 1/T que aparece
por el proceso de muestreo. En definitiva, si la sucesin x[n] se ha obtenido por muestreo
peridico de una seal continua x c(t) de banda limitada a una tasa de Nyquist o superior,
entonces la seal reconstruida xr(t) ser idntica a la seal continua original: x r(t) = xc(t)
para todo t. La ecuacin (5.30) muestra tambin que la salida de un conversor D/C ideal es
de banda limitada por efecto del filtro reconstructor ideal. Es decir que la respuesta en
frecuencia es nula para cualquier frecuencia j f j > fc, donde la frecuencia de corte fc del
filtro es, tpicamente, la mitad de la frecuencia de muestreo, fc = Fs/2.

5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*


En la seccin anterior se ha demostrado es posible recuperar una seal xc(t) de banda
lim-itada a partir de las muestras x[n] = x c(nT) obtenidas al muestrear xc(t) a una
frecuencia mayor al doble de su mxima componente frecuencial. La demostracin se
efecta en el dominio frecuencia, buscando que el espectro Xr( f ) de la seal xr(t) a la
salida del filtro reconstructor coincida con el espectro Xc( f ) de la seal continua xc(t).
En esta Seccin se obtiene este resultado para cierta clase de seales trabajando enteramente en el dominio temporal. El desarrollo es muy engorroso, y uno de los propsitos que
se persiguen es mostrar que trabajando en el dominio temporal es posible recuperar la
seal original a partir de sus muestras. El otro objetivo es poner en evidencia que el clculo
es mucho ms complicado que cuando se desarrolla en el dominio frecuencial.

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5. Muestreo de seales

5.8.1. Reconstruccin de una seal sinusoidal


La seal continua
(5.31)

xc(t) = A sen(2p f0t + f)


se muestrea con una frecuencia Fs = 1/T. La seal discreta resultante es
x[n] = xc(t)jt=nT = A sen(2p f0Tn + f) = A sen(w0n + f),
donde w0 est dada por la ecuacin (5.15) (repetida aqu por comodidad)
w0 = 2p f0 = 2p f0T

(5.32)

Fs

que es la frecuencia discreta en rad/muestra. Esta seal discreta se aplica a un


conversor continuo/discreto (C/D) como el de la Fig. 5.24; su salida est dada por las
ecuaciones (5.24) o (5.26), que en este caso toman la forma
xr(t) = A sen(w0n + f) sinc(t/T

n) = A sen(w0n + f) sinc(Fst

n).

(5.33)

Se desea probar que la salida del conversor C/D coincide exactamente con la seal
con-tinua original (5.31). Esto es, se busca probar que
(5.34)

sen(2p f0t + f) = sen(w0n + f) sinc(Fst n)


n

donde w0 y f0 estn relacionados por (5.32).


Desarrollo en el dominio tiempo
El procedimiento es largo pero no presenta dificultades. Teniendo en cuenta que sen a sen
b = (1/2)[cos(a b) cos(a + b)], el trmino dentro de la sumatoria puede escribirse como
sen(w n+f) sinc(F t
s

n) =sen(w n+f) sen(pF t pn)


0
s
p(Fst n)
= cos(w0n+f pFst+np)
2p(Fst n)
= cos[(w0 +p)n+(f pFst)]
2p(Fst n)
= cos[(w0 +p)n] cos(f pFst)
2p(Fst n)

cos(w0n+f+pFst np)
2p(Fst n)
cos[(w0 p)n+(f+pFst)]
2p(Fst n)
sen[(w0 +p)n] sen(f pFst)

2p(Fst n)

cos[(w0 p)n] cos(f+pFst)

+ sen[(w0 p)n] sen(f+pFst) ,

2p(Fst n)

2p(Fst n)

de modo que
A
xr(t)

= 2p

cos[(w0 +p)n]
cos(f pFst)

A cos(f+pF t)
2p

Ft

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cos[(w0 p)n]
Ft
s

sen[(w0 +p)n]

2p sen(f pFst)

+ A sen(f+pF t)
2p

Ft

sen[(w0
n

Ft

p)n] .

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5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Adems, como cos[(w0 p)n] = cos[(w0+p)n] y sen[(w0 p)n] = sen[(w0+p)n], resulta


A
cos[(w +p)n]
2p [cos(f pFst) cos(f+pFst)]

xr(t) =

Ft

+ A [ sen(f pFst) + sen(f+pFst)]


2p

sen[(w0 +p)n]
Ft n

sen f sen(pFst)

cos[(w +p)n]
0

cos f sen(pFst)

sen[(w +p)n]
0

p n Fs t n p n Fs t n

De una tabla de series se encuentra que

sen nq =

p sen a(p q) ,y

a n

sen ap

cos nq

= p cos a(p q) ,

a n

sen ap

< p). Adoptando a = t/T y

que valen para 0 < q < 2p (es decir, para p < w0

q = p + w0, xr(t) se puede expresar como


x (t) =
A sen f sen(pt/T) p cos[(t/T)( w0)]
A cos f sen(pt/T)
r
p
sen(t/Tp)
p
= A sen f cos(w0t/T) + TA cos f sen(w0t/T)
= A sen(w0 Fst + f),

p sen[(t/T)( w0)]
sen(t/Tp)

y teniendo en cuenta que w0 = 2p f0/Fs resulta Fsw0 = 2p f0, de modo que


xr(t) = A sen(2p f0t + f)
Este resultado, junto con las ecuaciones (5.31) y (5.33) prueban la igualdad (5.34).
Desarrollo en el dominio frecuencia
La demostracin de la igualdad (5.34) en el dominio frecuencial es mucho ms sencilla.

j(2p f t+f)

La seal continua xc(t) se puede escribir como

jf

x ( t) =
c

A sen(2p f t + f) =
0

A j(2p
2je

f t+f)
0

+ je

2j
j(2p f t+f)
0

y su espectro Xc( f ) est dado por


Xc( f ) =

A
2

ejfd( f

f0) + j

d( f + f0).

j(2p f t+f)
0

jw

El espectro de la seal muestreada X(e ) est relacionado con Xc( f ) segn


jw
Fs
,
X(e ) = 1 X ( f kF )

c
s
j
f
=w
T
2p
k

y en este caso resulta


jw

X(e ) =

jf

jf

2 e d( f kFs f0) + j 2 e d( f kFs + f0)

f =w 2Fps

(5.35)

T
k

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5. Muestreo de seales

Como
d( f kF

= d 2p kFs f0 = d

2p w k2p Fs 2p

Fs

d(w w0 2pk),

f )

0 jf =w 2Fps

wFs

Fs

2p

y teniendo en cuenta que Fs T = 1, la expresin (5.35) se puede escribir como


1
jw

X(e ) =

2p A

Fs

jpAejfd(w

2p A
jf

2e

d(w w0 2pk) + j
2pk) + jpAe

w0

jf

2e

Fs

d(w+w0

jf

d(w +w0 2pk)

2pk).

Este es el espectro de una seal discreta x[n] = A sen(w0n + f). Cuando esta seal se
aplica al conversor C/D, se tiene que el espectro de la seal de salida xr(t) es
Xr( f ) = Hr( f )Xs( f ),
donde
X ( f ) = X (e jw)
s

w= f 2Fps

Operando, se encuentra que

X ( f ) = H ( f )X ( f ) = H ( f ) X(ejw)
r

= H ( f )pA

je

jf

d(w +
w= f 2Fps

d(w w0 2pk) + je

jf

w0 2pk)

w= f 2Fps

Teniendo en cuenta que


d(w w0 2pk)jw= f

2p

Fs

d f 2 w 2pk
0
p

= d

Fs

f w0 2ps

2p

2pk

2p
F

Fs

d ( f f0 kFs)

2p
resulta que

jf

jf

Hr( f )pA Fs je d ( f f0 kFs) + je d ( f + f0


2p
k
A d ( f f0) + jejf A d ( f + f0)
= Fs T
je jf 2
2

X c( f ) =

kFs)

y antitransformando,
xr(t) = A sen(2p f0t + f)
que es idntica a xc(t). El desarrollo en el dominio frecuencial es considerablemente
ms simple que la derivacin en el dominio temporal efectuada ms arriba.
La igualdad (5.34) vale nicamente si se cumplen las condiciones del teorema del
muestreo, esto es cuando f0 < Fs/2. Los siguientes ejemplos muestran que cuando se
viola el Teo-rema la seal recuperada a partir de las muestras puede ser distinta de la
seal continua original.
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5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Fig. 5.25. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) cos(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] = [1+ (
n
1) ]/2 (b) que resulta de muestrear xc(t) al doble de la frecuencia mxima (a Fs =
f0 Hz).

EJEMPLO 5.7. Muestreo crtico de una seal coseno elevado ( fs = 2 f0): parte 1.
La seal continua

1 +1
cos(2p f0t)
2 2
que se graca en la Fig. 5.25(a) se muestrea exactamente al doble de la frecuencia de la seal,
xc(t) =

Fs = 2 f0, T = 1/(2 f0) obtenindose la seal discreta


x[n] = x (t) j
= 1 + 1 cos(2p f 0 Tn) = 1 + 1 cos(pn) =
c

t=nT

es decir

1 + ( 1)
2

1, si n es par,

x[n] = 0,

si n es impar,

(5.36)

como se muestra en la Fig. 5.25(b) . En este caso se dice que el muestreo es crtico porque
frecuencias de muestreo menores (o perodos de muestreo mayores) violaran el criterio de Nyquist.

Para aplicar la identidad (5.34) se supone la seal x[n] compuesta por dos tonos, uno de
frecuencia w0 = 0, amplitud A0 = 1/2, y fase f0 = +p/2, y otro de frecuencia w1 = p, amplitud
A1 = 1/2 y fase f1 = +p/2. Se tiene entonces que xr(t) = xr0(t) + xr1(t), donde
xr0(t) = A0sen(w0n+f0) sinc(Fst

n) = A0 sen(w0 Fst+f0)

= 1 sen(0+p/2) = 1,
2
2
xr1(t) = A1sen(w1n+f1) sinc(Fst n) = A1 sen(w1 Fst+f1)
n

= 1 sen(p2 f t+p/2) = 1 cos(2p f t),


0
0
2
2
de modo que la seal recuperada a la salida del conversor discreto/continuo es
xr (t) = xr0(t) + xr1(t) = 1 + 1 cos(2p f0t),
2

que coincide con xc(t).

En este caso, como el muestreo es exactamente el doble de la frecuencia de la seal,


se podra dudar de la aplicacin del la identidad (5.34). A continuacin se reconstruye
la seal continua directamente a partir de las muestras.
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36

5. Muestreo de seales

=0

=1

sinc (Fst

2`) .

EJEMPLO 5.8. Muestreo crtico de una seal coseno elevado (Fs = 2 f0): parte 2.
Como x[n] en la ecuacin (5.36) se anula en las muestras impares, es conveniente expresar la
seal reconstruida (5.26) destacando los trminos pares n = 2` y los impares n = 2` + 1, es decir

x ( t) =
r

` |{z}

(2`)
T

x[2`] sinc

t T

(2 ` + 1 )
T T

[2` + 1] sinc t
+ ` |x
{z }

Para resolver la sumatoria se separan los trminos correspondientes a ` = 0, ` < 0 y ` > 0,


+

xr (t) = sinc (Fst) + [sinc (Fst 2`) + sinc (Fst + 2`)]


`=1
+

sen (pFst 2p`)

= sinc (Fst) +

`=1

sen (pFst + 2p`)

(5.37)

p (Fst + 2`)

p (Fst 2`)

Teniendo en cuenta que


(5.38)

sen (pFst 2p`) = sen(pFst)cos(2p`) sen(2p`) cos(pFst) = sen(pFst)


=
|
}
{z1 } | {z0
=

la ecuacin (5.37) puede escribirse como


1
xr(t) = sinc (Fst) +

Observando que
+
1

`=1

p
+

Fst+2`

`=1
+

=
`=1

la ecuacin (5.39) se puede expresar como


1
xr(t)

sen (pFst)

Fst 2`

=
+

`=1

Fst

2`

1
Fst + 2`

Notando que

Fst 2`+Fst+2`

(Fst 2`) (Fst+2`)


2F t
Ft
!= s
2
2
(F t)
(2`)
2
s

con a = Fst/2, la ecuacin (5.


+

`=1

Fst

1
(Fst/2)

sinc (Fst) + p sen (Fst) 2 `=1 (Fst/2)2 `2


+
1
sen(pFst) 1
2
(Fst)
= sinc (Fst) +
`=1
pFst 2
(Fst/2)2 `2
+

xr(t) =

sinc

1 se
2

(5.39)
(5.41)

(5.40)

(5.42)
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37

5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Fig. 5.26. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) sen(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] = 1/2

(b) que resulta de muestrear xc(t) a Fs = 2 f0 Hz.


Aplicando la identidad trigonomtrica
(5.43)

sen (pt/T) = sen(2pFst/2) = 2 sen(pFst/2) cos(pFst/2),


se puede expresar (5.42) como
xr (t) = 1 [2 sen(pFst/2) cos(pFst/2)]
2

cos(pFst/2) = cos (pFst/2) =

1 + 1 cos (pF t) . (5.44)


s

sen(pFst/2)

Finalmente, recordando que Fs = 2 f0, la expresin (5.44) resulta


1

xr (t) = 2 + 2 cos(2p f0t)


xc(t).
que es vlida para todo t 2 R, y muestra que es posible recuperar exactamente la seal x c(t)
a partir de sus muestras x[n] = xc(t)jt=nT .

Aunque en estos ejemplo la sea recuperada coincide con la seal original, el muestreo a
una frecuencia que sea exactamente el doble de la frecuencia mxima (F s = 2 f0) no
asegura que la seal recuperada coincida con la original, como revela el siguiente Ejemplo.

EJEMPLO 5.9. Muestreo crtico de la seal del Ejemplo 5.7 desfasada un cuarto de ciclo
La seal continua

t + 40

xc(t) = 2 + 2 cos 2p f0
1

f0 t + 2

= 2 + 2 cos 2p

= 2 + 2 sen (2p f0t)

que se graca en la Fig. 5.25(a) , es esencialmente la misma seal del ejemplo anterior,
desfasada en T0/4. Si se muestrea al doble de la mxima frecuencia de la seal, T = 1/(2 f 0)
se obtiene la seal discreta

x[n] = xc(t)jt=nT = 2 + 2 sen(2p f0Tn) = 2 + 2 sen(pn) = 2 ,


como se muestra en la Fig. 5.25(b) .
Para aplicar la identidad (5.34) se supone la seal x[n] compuesta por un tono de frecuencia
w0 = 0, amplitud A0 = 1/2, y fase f0 = 0, de donde resulta
xr(t) = A0 sen(w0n) sinc(Fst n) = A0 sen(w0 Fst) =

1 sen(0) = 1 ,
2

que no coincide con xc(t).

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38

5. Muestreo de seales

Nuevamente, como la frecuencia de muestreo es exactamente el doble de la frecuencia de


la seal (muestreo crtico), el teorema del muestreo no es aplicable. Para vericar estos
resultados se calcula la seal de salida del conversor D/C a partir de las muestras x[n] = 1/2.
En este caso la seal recuperada se puede escribir como
1

x (t) =
r

2 n

sinc (F t n)
s

y separando los trminos correspondientes a n = 0, n > 0, y n < 0 se tiene que


1

[sinc (Fst

xr (t) = 2 sinc (Fst) + 2

1
2

sinc (Fst) +

n=1
+

n) + sinc (Fst + n)]

sen (pFst pn)

n=1

p (Fst n)

sen (pFst + pn)

(5.45)

p (Fst + n)

Teniendo en cuenta que


sen (pFst

pn) = sen(pFst)cos(pn)
| {z }
=( 1)

sen(pn) cos(pFst) = (
| {z }

1) sen(pFst)

=0

la ecuacin (5.45) puede escribirse como


1
xr(t) = sinc (Fst) +

1)

sen (pFst) (

1
Fst n

n=1

(5.46)

Fst + n

Observando que
+

1)

n=1

1
Fst n

1)

= (

Ft

n+Ft+n
n) (Fsst + n)

(Fst

n=1

Fst + n

+
(

1)

(Fst)

n=1

= 1 sinc (F t) 1 + 2(F t)2


2
s "
s

1 + 2a

`=1

( 1)k
" a2 `2

"

( 1)

(F t )

"

n2

,
2

( 1)
2

(F t )
s

( 1)
(F t )
s

(Fst)

n=1

n=1

n=1

Notando que

n=1

p(Fst)

2p
s
s
s
2
= 1 sinc (F t) + (F t) sen(pF t) F t
s
s
2

( 1)

= 2F t

la ecuacin (5.46) se puede expresar como


x
(t) = 1 sinc (F t) + 1 1 sen (pF t) 2F t
r

2Fst

.
n2

k
n

(5.47)

pa
# = sen(pa)

con a = Fst, la ecuacin (5.47) se puede escribir como


x (t ) = 1
pFst = 1 .
sinc (Fst)
r
2
2
sen(pFst)
En este caso, la seal recuperada x r (t) es distinta a la seal original x c(t); de hecho, las
muestras de la seal xc(t) coinciden con las muestras de la seal continua x c(t) = 1/2, como
se observa en la Fig. 5.26(b).

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5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

39

Fig. 5.27. Espectros de las seales del Ejemplo 5.7 (a) y del Ejemplo 5.9 (b) para F s = 2 f0.

Los Ejemplos 5.7 y 5.9 muestran que si la frecuencia de muestreo es exactamente el


doble de la mxima frecuencia de la seal, la recuperacin exacta parece depender de
la fase entre la seal continua y el tren de impulsos del muestreo.
Estos ejemplos pueden interpretarse de forma ms sencilla en el dominio
transformado. La Fig. 5.27(a) muestra los espectros de las distintas seales del
Ejemplo 5.7. El espectro de la seal xc(t) = (1 + cos 2p f0t)/2 es
1

X( f ) = d( f ) + d( f + f ) + d( f f ).
0
0
2
4
4
jw

De particular inters es el espectro X(e ) de la seal discreta x[n]. Como la seal continua xc(t) de frecuencia mxima f0 se muestrea a Fs = 2 f0, la seal discreta tiene una
componente de frecuencia w0 = 2p f0/Fs = p. De manera que el espectro est dado por
jw
p d(w + w
X(e ) = p d(w 2pk) +
0 2pk) + d(w w0 2pk),
2
k

donde la primera sumatoria corresponde a la componente de continua de x c(t) y la sejw


gunda a la seal (1/2) cos w0n = (1/2) cos pn. La periodicidad inherente de X(e ) hace
que las rplicas w0 2pk = p 2kp se solapen con las rplicas w0 2pk = p 2kp.
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40

5. Muestreo de seales

Para evitar problemas en la reconstruccin, es conveniente considerar que la


frecuencia de la seal es w0 # = p #, con # ! 0, de modo que el espectro resulta
jw
p
X#(e ) = p d(w 2pk) +
d(w + (w0 #) 2pk) + d(w (w0 #) 2pk)
2
k

jw

y las rplicas no se solapan exactamente, como sugiere el grfico de X(e ) en la Fig.


5.27(a) . Finalmente, el filtro reconstructor ideal permite recuperar (con # ! 0) una seal
xr(t) idntica a la original xc(t).
El anlisis espectral para el Ejemplo 5.9 se ilustra en la Fig. 5.27(b). En este caso, el espec-tro
X( f ) tiene componentes complejas debidos al sen 2p f0t, y puede escribirse como

X( f ) = d( f ) + d( f + f )
d( f f ).
0
0
4
2
4
El espectro discreto est formado por las rplicas cada 2p de los impulsos pd(w) correspondientes a la seal de continua, y por las rplicas cada 2p de los impulsos (jp/2)d(w
+ w0) y ( jp/2)d(w w0) con w0 = 2p f0/ f s = p:
jw

p
2

X(e ) = p d(w 2pk) + j


k

d(w + w0

2pk) d(w w0

2pk).

Como w0 = p las rplicas complejas se cancelan entre s, como sugiere el grfico de


jw
X(e ) de la Fig. 5.27(b) . Por lo tanto, el espectro Xr( f ) de la seal reconstruida est
formado por un nico impulso de amplitud 1/2 ubicado en f = 0, que corresponde a una
seal continua xr(t) = 1/2.
La seal continua en estos dos ejemplos es casi la misma: la diferencia es un
desfasaje de T0/4 segundos entre ambas. Sin embargo, las seales recuperadas son
totalmente distin-tas. Para evitar estos problemas la frecuencia de muestreo debe ser
mayor al doble de la frecuencia mxima de la seal.
Los ejemplos siguientes muestran que bajo esta condicin la diferencia de fase no es
un inconveniente para asegurar la recuperacin exacta. Aunque en estos casos se
puede aplicar directamente la interpretacin temporal de la Seccin 5.8.1, se
reconstruyen las seales de salida del conversor D/C paso a paso para enfatizar las
ventajas del clculo en el dominio frecuencia.

EJEMPLO 5.10. Muestreo de la seal del Ejemplo 5.7 a Fs = 4 f0.


La seal continua del Ejemplo 5.7
1

xc(t) =

+ 1 cos(2p f t)
0
2

(5.48)

que se graca en la Fig. 5.28(a) se muestrea ahora cada T = 1/(4 f0) obtenindose la seal discreta

x[n] = x (t)
c

jt=nT

es decir

> 1,
x[n] =

< 0,
8 1/2,
>

:
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1
p
+ cos
n
2 cos(2p f0Tn) = 2
2
2

si n = 0, 4, 8, ..., 4`,
si n es impar, n = 2` + 1,
si n = 2, 6, 10, ..., 4` + 2,

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41

5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Fig. 5.28. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) cos(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] (b)que
resulta de muestrear xc(t) a Fs = 4 f0 Hz.
como se muestra en la Fig. 5.28(b) .
La seal reconstruida (5.26) se puede escribir como
`

>

>
<

xr(t) = 8x[4`] sinc (f t


s

4`)+x[4`+2] sinc[Fst

>|{z}

{z

{z

>
;

=0

=1

=
9
(2`+1)]

(4`+2)]+x[2`+1] sinc [Fst


=1/2

y separando las muestras correspondientes a ` = 0, ` > 0 y ` < 0 en cada uno de los dos
sumandos remanentes, se tiene que

xr(t)

= sinc (Fst) + [sinc (Fst 4`) + sinc (Fst + 4`)] +


`=1
+

1
2

fsinc [Fst

(2` + 1)] + sinc [Fst + (2` + 1)]g

`=0

esto es

sinc (Fst) +

xr (t) =

`=1

sen p (Fst 4`)

`=1

sen p (Fst + 4`)

p (Fst 4`)

sen p (Fst2` 1)

p (Fst + 4`)

+sen p (Fst+2`+1)

p (Fst 2` 1)

(5.49)

p (Fst+2`+1)

Como
sen p (Fst 4`) = sen pFstcos 4`p cos pFstsen 4`p = sen pFst,
Fst

y adems

Fst

sen p[(2`+1)] = sen p

{z

=1

cos(2`+1)p
|
{z
}

cos p

F{zst

=0

sen(2`+1)p =
|
{z
}

= 1

=0

= F t
s

8 (Fst/4)2 `2
Fst + 4`
1
1
+
= 2F t
s
2
2
Fst + 2` + 1
(Fst) (2` + 1)

Fst 4`

Fst 2` 1

Fst

sen p

, (5.50)

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42

5. Muestreo de seales
la expresin (5.49) se puede escribir como

" Fst

1
xr (t) = sinc(Fst)+ p

`=1

"

pFst

sen(pF t)

sen(pFst)

Fst
4

1+2

1
2

(Fst/4)

`=0

(Fst)

(Fst/4)

(Fst)

`=0

2 2Fst

`2

`=1

(2`+1)

1
(Fst)

(2`+1)

#.

(5.51)

Como adems

2a

`=1

1
`

a2

pa
2

`=0

= 1 + tan pa ,

con a = Fst/4, b = Fst, la ecuacin (5.51) resulta


sen (pF t)
pF t/4
=
f 1 1+
xr(t)
pFst
tan(pFst/4)
s

1
b

bp

(2 ` + 1 )

pF t

pF t

4 tan

1
4 sen (pFst) cos(pFst/4)

1
cos(pFst/4) cos(pFst/2) + sen(pFst/4) sen(pFst/2)
4 sen (pFst)

pb

4 tan 2 ,

+ sen(pF t/2)
s
sen(pFst/4)
cos(pFst/2)

sen(pFst/4) cos(pFst/2)

4 sen (pFst)

cos(pFst/4)

(5.52)

sen(pFst/4) cos(pFst/2)
Finalmente, utilizando la igualdad (5.43), y notando que
(5.53)

sen(pFst/2) = sen(2pFst/4) = 2 sen(pFst/4) cos(pFst/4)


resulta, reemplazando (5.43) y (5.53) en (5.52), que
xr(t) = 1 (2 sen(pFst/2) cos(pFst/2))

cos(pFst/4)

4
sen(pFst/4) cos(pFst/2)
= 1 sen(pF t/2) cos(pFst/4) = 1 [2 sen(pF t/4) cos(pF t/4)] cos(pFst/4)
s
s
s
2
sen(pFst/4)
sen(pFst/4)
2
pF t
1
1
pF t
2
+ cos
= cos
4 = 2
2
2
s

Como Fs = 4 f0, se encuentra que

xr(t) = 2 + 2 cos(2p f0t) = xc(t),

que indica que la seal reconstruida xr(t) coincide con la seal continua original (5.48) para todo

t 2 R.

EJEMPLO 5.11. Muestreo de la seal del Ejemplo 5.9 a Fs = 4 f0.


La seal continua del Ejemplo 5.9
xc(t) = 1 + 1 sen(2p f0t)
2

(5.54)

que se graca en la Fig. 5.29(a) se muestrea cada T = 1/(4 f0) obtenindose la seal

discreta x[n] = xc(t)jt=nT = 2 + 2 sen(2p f0Tn) = 2 + 2 sen( 2 n)

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43

5.8. Anlisis temporal de la reconstruccin de seales*

Fig. 5.29. Seal continua xc(t) = (1/2)+(1/2) sen(2p f0t) (a) y seal discreta x[n] (b) que
resulta de muestrear xc(t) a Fs = 4 f0 Hz.
es decir

> 1/2,

si n es par, n = 2`,
si n = 3, 1, 5, 9, . . . , n = 4` + 1,

<0
8 1,
>

x[n] =

si n = 1, 3, 7, 11, . . . , n = 4` + 3,

como se muestra en la Fig. 5.29(b) .


La seal reconstruida (5.26) se puede escribir como
`>
<
xr (t)= 8x[2`] sinc (Fst

>

=
9
(4`+1)] .

2`)+x[4`+1] sinc[Fst

>|{z}

{z

>
;

=1

=1/2

Escribiendo sinc (x) como sen(px)/(px), y separando las muestras correspondientes a ` = 0, `


> 0 y ` < 0 en cada uno de los dos sumandos remanentes, se tiene que
1 sen(pFst)

xr (t) =

2 (pFst)

1
2

sen p (Fst 2`) + sen p (Fst + 2`)


p (Fst 2`)

`=1

sen p [Fst (4`+1)]

`=0

p [Fst (4`+1)]

p (Fst + 2`)

+ sen p [Fst ( 4`+1)]

`=1

(5.55)

p [Fst ( 4`+1)]

La sumatoria de los trminos de la forma sinc[F st (4` + 1)] debe tratarse con cuidado. El
ltimo trmino corresponde a los ndices de x[n] para n < 0, y cuando ` vara entre 1 y + el
ndice ( 4`+1) recorre 3, 7, 11, ... [Fig. 5.29(b)]. Por otra parte, el anteltimo trmino recorre los
ndices positivos: para 0 ` < , (4`+1) vara entre 1, 5, 9, . . .. Para uniformizar los lmites de las
sumatorias, es conveniente escribir
xr (t) =

1 sen(pFst)
2 (pFst)
+

1
+
2

sen p (Fst 2`)

`=1

p (Fst 2`)

sen p (Fst + 2`)

sen p [Fst (4`+1)] + sen p [Fst ( 4`+1)]

`=1

p [Fst (4`+1)]

p (Fst + 2`)

p [Fst ( 4`+1)]

+ sen[p(Fst 1)] , (5.56)


p(Fst 1)

donde el ltimo trmino de (5.56) corresponde al caso ` = 0 de la anteltima sumatoria de (5.55). De


manera que, teniendo en cuenta (5.38) y el equivalente a (5.53) la ecuacin (5.55) puede escribirse

1 sen(pFst)

xr(t) =

+ 2 sen(pF t) p `=1
+
Fst 2`
Fst+2`
s
1
1
1
sen(pFst)
+
.
sen(pFst) p
Fst 4` 1
Fst+4` 1
p(Fst 1)
2

(pFst)

(5.57)

` =1

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44

5. Muestreo de seales
Observando que
1

p `=1
1 +

Fst 2`
1

p `=1
Fst 4` 1

Fst + 2`
1

+
Fst+4` 1

la ecuacin (5.57) se puede escribir como


1
= sen(pF t)
x (t)
r

2pFst
1
4

=
=

sen(pFst)

4 tan(pFst/2)
4

1 tan(pFst/4)

sen(pFst/2)

p(Fst 1)

1/2

1 tan(pFst/4)

1
+2

+
1 tan(pFst/4)

1 cos(pFst/2)

1/2

tan(pFst/2)
1/2

4
1

1/4

p(Fst 1)

tan(pFst/2)

p(Fst 1)

2pFst
1

Simplicando trminos se tiene que


1+
= sen(pF t)
x (t)
r

pFst

1/2

cos(pF t/4)
s

cos(pFst/4) sen(pFst/4)
cos(pFst/4) + sen(pFst/4)

sen(pFst) 4 sen(pFst/2)

cos(pFst/4) sen(pFst/4)

Aplicando la identidad trigonomtrica (5.43),


1

xr(t) = 4 cos(pFst/2)

cos(pFst/4) + sen(pFst/4)

cos(pFst/4) sen(pFst/4)
2

y como cos a = [cos(a/2)] [sen(a/2)] = [cos(a/2) + sen(a/2)][cos(a/2) sen(a/2)] re-sulta


2

xr(t) = 21 [(pFst/4) + sen(pFst/4)]

= 21 h
=

cos(pFst/4) + sen(pFst/4) + 2 cos(pFst/4) sen(pFst/4)


1

+ 2 sen(pFst/2),

usando en el ltimo paso la identidad (5.43). Recordando nalmente que F s = 4 f0, se obtiene

x (t) = + sen(2p f t)
r
0
2 2
que es vlida para todo t 2 R. Nuevamente, la seal recuperada xr(t) coincide exactamente
con la seal original xc(t) dada por la ecuacin (5.54).

Contrariamente a lo que sucede en los Ejemplos 5.7 y 5.9, en los Ejemplos 5.10 y 5.11
se recupera exactamente la seal original, independientemente de cul sea la relacin
de fases entre ella y el tren de impulsos de muestreo. La diferencia entre ambos pares
de ejemplos es que en los dos primeros la frecuencia de muestreo F s = 1/T es justo el
doble de la frecuencia mxima de la seal (caso lmite del teorema de Nyquist),
mientras que en los dos ltimos es superior (Fs = 4 f0).
La interpretacin en el dominio transformado de los Ejemplos 5.10 y 5.11 se ilustra en la
Fig. 5.30(a) y (b) , respectivamente. La frecuencia de la seal discreta es w0 = 2p f0/Fs =

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45

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.30. Espectros de las seales de los Ejemplos 5.10 (a) y 5.11 (b) para F s = 4 f0.
jw

p/2, y por lo tanto las rplicas que forman el espectro X(e ) no se solapan; en
cualquiera de los casos, la seal xr(t) recuperada con un filtro reconstructor ideal
coincide con la seal continua original xc(t).
Los Ejemplos 5.7 y 5.9 muestran que la violacin del teorema del muestreo hace que
la cascada conversor C/D-conversor D/C no slo sea variante al desplazamiento, sino
que tambin pierda la linealidad: en el Ejemplo 5.9 la entrada es una seal de
frecuencia f0, pero la salida es una seal de continua (de frecuencia nula). Estos temas
se tratan con ms detalle en la siguiente seccin.

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo


Una de las aplicaciones ms importantes de los sistemas discretos es el procesamiento de
seales de tiempo continuo. Esto se puede hacer usando un sistema como el que se
muestra en el diagrama bloque de la Fig. 5.31, compuesto por la cascada de un conversor
continuo a discreto (C/D), un sistema discreto, y un conversor discreto a continuo (D/C).
El esquema de la Fig. 5.31 representa una clase grande de sistemas porque la frecuen-

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46

5. Muestreo de seales

Fig. 5.31. Sistema para procesamiento discreto de seales continuas.

cia de muestreo y el sistema discreto pueden elegirse a voluntad. El sistema completo


es equivalente a un sistema de tiempo continuo ya que transforma la seal de tiempo
continuo xc(t) en la salida de tiempo continuo y r(t). Sin embargo, las propiedadesl del
sistema dependen de la eleccin del sistema discreto y del perodo de muestreo. Por
el momento, se supondr que el conversor C/D y el conversor D/C de la Fig. 5.31
tienen la misma frecuencia de muestreo; este requisito no es esencial, y en algunas
secciones pos-teriores se considerarn sistemas donde el tiempo de muestreo de las
seales de entrada y de salida no sea el mismo
En las Secciones 5.2 y 5.7 se han detallado los modelos de los conversores C/D y
D/C, re-spectivamente. Por conveniencia, y como primer paso para comprender el
funcionamien-to del sistema completo, se resumen las representaciones matemticas
de estas opera-ciones.
A partir de una seal continua xc(t), el conversor C/D produce una seal discreta
(5.58)

x[n] = xc(nT),
jw

tomando muestras cada T = 1/Fs de xc(t). La transformada de Fourier X(e ) de la


sucesin x[n] y la transformada de Fourier de la seal continua xc(t) estn relacionadas
por
jw
(5.59)
X(e ) = 1 Xc( f kFs)jf =w Fs .
T

2p

El conversor D/C produce una salida de tiempo continuo de la forma


yr(t) = y[n] sinc[(t nT)/T],

(5.60)

donde la sucesin y[n] es la salida del sistema de tiempo discreto cuando la entrada es
la sucesin x[n]. De la ecuacin (5.30), la transformada de Fourier Yr( f ) de la seal de
jw
tiempo continuo yr(t) y la transformada de Fourier Y(e ) de la sucesin y[n] estn relacionadas por
jw

jw

Yr( f ) = Hr( f )Y(e )

TY(e )
w= f

2p

Fs

w= f 2Fps

en caso contrario.

= 0,
jw

, si j f j < Fs/2,
(5.61)

jw

La relacin entre y[n] y x[n], o entre Y(e ) y X(e ) depende de la naturaleza del sis-tema
discreto. El caso ms sencillo es cuando el sistema discreto es la identidad, es decir y[n] =
x[n], que se ha analizado detalladamente en la Seccin 5.7. Se ha estudiado que si x c(t) es
una seal limitada en banda tal que su transformada de Fourier X c( f ) = 0 para j f j > Fs/2,
y si el sistema de tiempo discreto en la Fig. 5.31 es el sistema identidad tal que

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5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

47

y[n] = x[n] = xc(nT), entonces la salida ser yr(t) = xc(t). Para obtener este resultado, se
utiliz la representacin frecuencial de las seales de tiempo continuo y de tiempo
discreto, ya que la idea de distorsin por solapamiento (aliasing) se entiende ms fcilmente en el dominio frecuencial. Cuando el sistema discreto en el esquema de la Fig.
5.31 es ms complicado que el sistema identidad, es habitual realizar el anlisis
tambin en el dominio frecuencia.
Si el sistema de tiempo discreto es no lineal, o variante en el tiempo, en general no es sencillo encontrar una relacin entre las transformadas de Fourier de las seales de entrada y
salida del sistema de la Fig. 5.31. Sin embargo, se puede obtener un resultado simple y
muy til cuando el sistema discreto es lineal e invariante en el tiempo.

5.9.1. Sistemas discretos lineales e invariantes en el tiempo


Si el sistema discreto en el esquema de la Fig. 5.31 es lineal e invariante en el tiempo,
jw
jw
la relacin entre las transformadas de Fourier Y(e ) y X(e ) de la salida y[n] y de la
entrada x[n] es
jw
jw
jw
(5.62)
Y(e ) = H(e )X(e )
jw

donde H(e ) es la respuesta en frecuencia del sistema discreto (la transformada de Fourier de la respuesta impulsiva h[n]). Combinando las ecuaciones (5.61) y (5.62) se encuentra
que
jw

jw

Yr( f ) = Hr( f ) H(e )X(e ) w= f


y usando (5.59),

2p

jw

Yr( f ) = Hr( f ) H(e )

1
w= f Fs

2p

Fs

kFs)

Xc( f

(5.63)

Como Xc( f ) = 0 para j f j > Fs/2, entonces el filtro reconstructor Hr( f ) cancela el factor 1/T
y selecciona en la sumatiora de la ecuacin (5.63) el trmino que corresponde a k = 0,
jw
es decir
H(e )
X ( f ), si f < F /2,
2p

Y r( f ) =

w= f

0,

en caso

j contrario.

Por lo tanto, si Xc( f ) est limitada en banda y si la frecuencia de muestreo es tal que se
cumplen las condiciones del teorema del muestreo, la salida y la entrada del sistema discreto
de procesamiento de seales continuas de la Fig. 5.31 quedan relacionadas segn

Yr( f ) = He( f )Xc( f ),


donde He( f ) est dada por
jw

H(e )
He( f ) =

0,

2p

w= f
Fs

si f < Fs/2,

en caso

j contrario.

(5.64)

Estas ecuaciones indican que el sistema de la Fig. 5.31 se comporta como un sistema lineal e
invariante en el tiempo cuya respuesta en frecuencia efectiva es la de la ecuacin (5.64).

La linealidad y la invariancia en el tiempo del sistema completo mostrado en la Fig.


5.31 depende de dos factores:
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48

5. Muestreo de seales

Fig. 5.32. Falla de la propiedad de linealidad en un sistema discreto de procesamiento de


datos continuo si no se cumple el teorema de Nyquist.

el sistema de tiempo discreto debe ser lineal e invariante en el tiempo;


la seal de entrada debe ser de banda limitada, y la frecuencia de muestreo debe
ser suficientemente alta de manera que no se produzca aliasing.
Si alguna de estas condiciones no se cumple, el sistema de la Fig. 5.31 no se comporta como un sistema lineal e invariante en el tiempo, como se muestra en los siguientes
ejemplos. En el primero se analiza qu ocurre cuando la seal de entrada es de banda
limitada, pero no se satisface la condicin del teorema del muestreo referida a la
relacin entre la mxima frecuencia de la seal y la frecuencia de muestreo.

EJEMPLO 5.12. Falla de linealidad si la entrada es de banda limitada, pero viola el teorema del
muestreo

La Fig. 5.32 muestra un sistema discreto de procesamiento de datos continuo en el que el


sistema discreto de la Fig. 5.31 es el sistema identidad, por lo que y[n] = x[n]. Si la seal de
entrada es xc1(t) = 1 + cos(2p f1t), como se muestra en la Fig. 5.32(a) y la frecuencia de
muestreo es Fs = 1/T > 2 f1 (en este caso Fs = 4 f1) se satisfacen las condiciones del
teorema del muestreo. La seal discreta es
x1[n] = xc1(nT) = 1 + cos(pn/2).
De acuerdo a lo comentado ms arriba, la salida del sistema completo ser igual a la
entrada, es decir, yr1(t) = x c1(t) como se muestra en la Fig. 5.32(b) .
Si se cambia la frecuencia de la seal de entrada a f 2 = 3 f1, manteniendo la misma
frecuencia de muestreo Fs = 4 f1, como se muestra en Fig. 5.32(c), ya no se cumple el
criferio de Nyquist pues Fs = (4/3) f2 2 f2. En este caso la seal continua de entrada es x c
2(t) = 1 + cos(2p f2t) = 1 + cos[2p(3 f1)t], y la seal discreta resulta
x2[n] = xc2(nT) = 1 + cos(3pn/2) = 1 + cos(pn + pn/2) = 1 + cos(pn/2) = x1[n].
Como la seal discreta es la misma que para la seal anterior, la salida del sistema ser
yr2(t) = yr1(t) = xc1(t), como se indica en la Fig. 5.32(d) .
Sintetizando,
si la entrada es xc1(t) = 1 + cos(2p f1t) la salida es yr1(t) = 1 + cos(2p f1t);
si la entrada es xc2(t) = 1 + cos(2p f2t), con f2 = 3 f1, la salida es yr1(t) = 1 + cos(2p f1t).

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49

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.33. Falla de la invariacin temporal si la seal de entrada no es de banda limitada.

Esto prueba que el sistema no es lineal, pues en un sistema lineal, una entrada del tipo
xc(t) = A cos(2p f0t)
produce una salida
yr (t) = A jHe( f )jjf = f0 cos(2p f0t + f0),
donde f0 = arg( He( f )jf = f0 ). Es decir, la salida es una versin escalada y desfasada de la
entrada, pero de la misma frecuencia. Si la frecuencia de la seal de entrada y la frecuencia de
muestreo no cumplen con las condiciones del teorema del muestreo, las componentes
frecuenciales de la seal de salida son distintas a las componentes frecuenciales de la seal de
entrada, como indican los clculos anteriores y se representa en la Fig. 5.32 s. Por lo tanto, el
sistema dicreto de procesamiento de seales continuas no se comporta como un sistema lineal.

En el siguiente ejemplo se explora lo que ocurre cuando la entrada al sistema discreto


de procesamiento de datos continuos de la Fig. 5.31 no est limitada en banda, y por
lo tanto tampoco cumple con las condiciones del teorema del muestreo.

EJEMPLO 5.13. Falla de la invariacin temporal si la entrada no es de banda limitada


Si ante una entrada x c1(t) un sistema produce una salida y r1(t), se dice que el sistema es
invariante en el tiempo si al excitarlo con una entrada x c2(t) = xc1(t t) produce una salida y r2(t) =
yr1(t t). En este ejemplo se muestra que si la seal de entrada no es de banda limitada, el
sistema de la Fig. 5.32 puede no comportarse como invariante en el tiempo.
Para demostrar esta falla, se supone que la seal de entrada es un pulso rectangular, de
amplitud unitaria y duracin menor al perodo de muestreo, como se muestra en la Fig. 5.33(a) .
El pulso xc1(t) es tal que vale 1 en t = 0. La seal discreta x 1[n] = d[n], pues como el ancho del
pulso es menor a un perodo de muestreo, al muestrear la seal continua slo se ve el valor
unitario de xc1(t) en t = 0. Como y[n] = x[n] = d[n], la salida del conversor D/C est dada por la
ecuacin (5.60) para n = 0. es decir, que yr1(t) es la respuesta impulsiva del ltro reconstructor,

yr1(t) = sinc(Fst)
como se muestra en la Fig. 5.33(b) .
Si la entrada xc2(t) es un desplazamiento temporal de xc1(t), por
ejemplo, xc2(t) = xc1(t t),

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50

5. Muestreo de seales

Fig. 5.34. Respuesta en frecuencia del sistema discreto de la Fig. 5.31 (a). Respuesta en
fre-cuencia efectiva del sistema completo (de tiempo continuo) para seales
limitadas en banda (b).

donde t es tal que el lapso se tiempo en el que el pulso vale 1 queda comprendido en medio
de dos instantes de muestreo, como se muestra en la Fig. 5.33(c) , es evidente que x 2[n] = 0
para todo n. Por lo tanto, y2[n] = 0 para todo n, y de acuerdo con (5.60),
yr2(t) = 0
para todo t, como se muestra en la Fig. 5.33(d). Esto prueba que el sistema no es invariante en
el tiempo, pues si lo fuese, debera haberse encontrado que la salida del sistema ante la nueva
entrada debera haber sido la respuesta ante la entrada x c1(t) desplazada en el tiempo, es decir,
yr2(t) = yr1(t t) = sinc[Fs(t t)]. La falla de la invariacin temporal se debe a que la seal de entrada
es un pulso rectangular que, como se estudi en el Captulo 2, no est limitado en banda pues su
transformada de Fourier tiene componentes de frecuencias que se extienden hasta .

En general, si el sistema discreto del esquema de la Fig. 5.31 es lineal e invariante en el


tiempo, y si la frecuencia de muestreo y el ancho de banda de la seal de entrada x c(t)
satisfacen el teorema del muestreo, entonces se garantiza que el sistema completo ser
equivalente a un sistema de tiempo continuo lineal e invariante en el tiempo, con una
respuesta en frecuencia efectiva dada por (5.64). Ms an, la ecuacin (5.64) es vlida
an cuando se solapen algunas de las rplicas del espectro de la seal a la salida del
jw

conversor C/D, siempre y cuando el sistema discreto H(e ) anule la banda de frecuencias
donde se produce el solapamiento. El siguiente ejemplo ilustra este caso.

EJEMPLO 5.14. Filtrado pasabajos ideal se una seal continua usando un ltro pasabajos ideal
discreto

En el sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig. 5.31 el sistema


discreto es un ltro pasabajos cuya respuesta en frecuencia en un perodo est dada por
jw

H(e ) =

1, jwj < w ,
c
0, w < jwj < p.

(5.65)

La respuesta en frecuencia es, por supuesto, peridica de perodo p, como se muestra en la Fig.
5.34(a) . Para seales de banda limitada muestreadas adecuadamente (es decir, cumpliendo
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51

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

las hiptesis del teorema del muestreo), resulta de la ecuacin (5.64) que el sistema
completo de la Fig. 5.31 se comporta como un sistema de tiempo continuo, lineal e
invariante en el tiempo, cuya respuesta en frecuencia es
2p
, si
(
< F /2,
(
s
jw)
He( f ) =
e
w=
f
si
H
Fs

jfj>

0,
j f j Fs/2.
en
(5.65)
se
tiene
que
Reemplazando w = f (2p)/Fs
1, f 2p < w ,
c
H(ejw)

2p

w=

Fs

2p

< p.
< 0, wc < f
Fs
8

Fs

La primera desigualdad puede escribirse como


f

2p
Fs

< wc

j f j< w

s:

2p

=f ,
c

y la segunda se transforma en

wc <

2
p

<p

de modo que

< jf j < p
s

2p

F
s
2 ,

2p

Fs

jw

H(e )

1, j f j < w
c 2p := fc,

w= f 2Fps

0,

j j

fc = wc

Fs
2p

<

<

Esta ecuacin, junto con (5.64), expresan que la respuesta en frecuencia del sistema completo es
He( f ) =

( 1

sijf j

<w

:= f ,
c

(5.66)
> c 2p.
j f j fc
Esta es la respuesta en frecuencia de un ltro pasabajos ideal de tiempo continuo, como se
representa en la Fig. 5.34(b) . Comparando las Fig. 5.34(a) y (b) , se observa que la
respuesta en frecuencia del sistema equivalente de jw
tiempo continuo H e( f ) es un perodo de
la respuesta en frecuencia del sistema discreto H(e ) escalada segn w = f (2p)/Fs, para el
rango Fs/2 < f < Fs/2, y cero para las frecuencias por encima de Fs o por debajo de ( Fs).
0,

El proceso de ltrado de una seal de banda limitada arbitraria xc(t) con respuesta en frecuencia Xc( f
) se representa en la Fig. 5.35. La mxima componente de frecuencia de x c(t) es fN , como se nota en
la grca del espectro Xc( f ) de xc(t) representado en la Fig. 5.35(a) . El muestreo satisface los
requisitos del teorema de Nyquist porque fN < Fs/2.
En la Fig. 5.35(b) se muestra el espectro de la seal intermedia xs(t) que resulta de modular un tren de
impulsos espaciados cada T = 1/Fs con la seal de entrada xc(t). Esta respuesta en frecuencia es
peridica y su perodo es Fs, como se indica en la gura, y coincide con la respuesta en frecuencia
jw
X(e ) de la seal discreta x[n] = xc(nT) cuando se evala en w = f (2p)/Fs.
jw
jw

En la Fig. 5.35(c) el espectro X(e ) y la respuesta en frecuencia del ltro discreto H(e ) se
gracan en funcin de la frecuencia discreta w. Si bien fN y wN son nmeros distintos, la
forma de representar las Fig. 5.35(b) y (c) pone de maniesto que la representacin en el
dominio frecuencial continuo o discreto slo se diferencian por un cambio de escalas en el
eje de frecuencias (al menos en el rango j f j < Fs/2, u jwj < p).
jw
jw
jw
El espectro Y(e ) = H(e )X(e ) de la salida y[n] = h[n] x[n] del ltro discreto se ilustra en
la Fig. 5.35(d) , donde se aprecia que la mayor componente de frecuencia ha quedado
reducida a wc por la accin del ltro.

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52

5. Muestreo de seales

En la Fig. 5.35(e) se representa la transformada de Fourier de la salida del ltro discreto en


funcin de la variable frecuencial continua f . (Este espectro corresponde a la seal intermedia
xs(t) en el esquema del conversor D/C de la Fig. 5.24). En la misma gura se representa la
respuesta en frecuencia del ltro (continuo) reconstructor ideal H r ( f ) del conversor D/C.

Finalmente, en la Fig. 5.35( f ) se muestra la transformada de Fourier Y r( f ) de la salida y r(t)


del ltro reconstructor ideal. Comparando las Fig. 5.35(a) y ( f ) se observa que el sistema
completo se comporta como un sistema continuo lineal e invariante en el tiempo con
respuesta en frecuencia dada por (5.66), y representada en la Fig. 5.34(b) .

El ejemplo 5.14 permite destacar dos conclusiones importantes:


El filtro pasabajos ideal discreto con frecuencia de corte (discreta) wc se compor-ta
como un filtro pasabajos ideal continuo con frecuencia de corte (continua) f c = wc Fs/
(2p) cuando se utiliza en la configuracin de la Fig. 5.31. La frecuencia de corte del
filtro equivalente depende tanto de wc como de la frecuencia de muestreo Fs. En
particular, utilizando un filtro discreto determinado, y variando la frecuencia de
muestreo, es posible implementar un filtro continuo con frecuencia de corte continuamente variable. No es para nada trivial disear un filtro analgico que tenga esta
caracterstica. Por otra parte, los filtros de capacitores conmutados explotan es-ta
caracterstica. En la Fog. 5.36 se muestran un par de pginas de las hojas de datos
del filtro de capacitores conmutados LMF100 de National Semiconductor, donde se
han resaltado los prrafos donde se especifica que la frecuencia de corte del filtro es
funcin de la frecuencia de reloj f CLK. Otros parmetros del filtro (Q, ancho de banda,
etc.) se controlan con el valor de una relacin entre dos resistencias.

La ecuacin (5.66) tambin es vlida an cuando se solapen las rplicas del


espectro de la seal original como se muestra en los espectros de la Fig. 5.35(b)
y (c) , siempre y cuando estas componentes de distorsin sean eliminadas por el
jw
filtro H(e ). La Fig. 5.35(c) revela que para que la las rplicas solapadas no
aparezcan en la salida del sistema, es suficiente con que
2p

2p

w = 2p
N

Fs

> w.
c

Esta es la situacin que se muestra en la Fig. 5.37. En la Fig. 5.37(a) se muestra el


espectro de una seal xc(t) limitada en banda, cuya mxima componente frecuencial es
fN . Esta seal se muestrea a Fs, pero en este caso no se cumple que F s > 2 fN . Por lo
tanto, al muestrear la seal xc(t) se producir distorsin por solapamiento. Esto se pone de
jw
man-ifiesto en la Fig. 5.37(b) , que muestra el espectro X(e ) de la seal x[n], pero
graficado en funcin de la variable continua f . En la misma figura se indican con lneas de
puntos las rplicas de Xc( f ) cada Fs. La banda de frecuencias comprendida entre F s fN y
fN (sombreada en la figura) es donde se solapan las rplicas de los espectros de X c( f ). En
la Fig. 5.37(c) se grafica este mismo espectro en funcin de la frecuencia discreta w, junto
jw
con la respuesta en frecuencia del filtro pasabajos discreto H(e ). La banda de frecuencias discretas donde aparece la distorsin por solapamiento es
2p
2p

(Fs

fN )

Fs < w < fN

Fs

es decir
2p
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wN < w < wN ,
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53

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.35. Transformada de Fourier de una seal limitada en banda (a). Transformada de Fourier
de la seal muestreada gracada en funcin de la frecuencia continua f (b). Transjw
formada de Fourier X(e ) de la sucesin discreta x[n] y respuesta en frecuencia del
jw
sistema discreto H(e ) en funcin de la frecuencia discreta w (c). Transformada de
jw
Fourier Y(e ) de la salida y[n] del sistema discreto (d). Trasnformada de Fourier de la
salida del sistema discreto y respuesta en frecuencia del ltro reconstructor ideal H r ( f
) en funcin de la frecuencia continua f (e). Transformada de Fourier Y r( f ) de la salida
de tiempo continuo yr(t) ( f ).

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54

5. Muestreo de seales

Fig. 5.36. Detalle de las hojas de datos del ltro de capacitores conmutados LMF100 de
National Semiconductor.

Procesamiento Digital de Seales

2011

U.N.S.

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

55

Fig. 5.37. Transformada de Fourier de una seal limitada en banda que no satisface el teorema del
muestreo (a). Transformada de Fourier de la seal muestreada gracada en fun-cin
de f ; como no cumple con el teorema del muestreo, las rplicas se solapan (b).
jw
Transformada de Fourier X(e ) de la sucesin discreta x[n] y respuesta en frecuencia
jw
del sistema discreto H(e ) en funcin de w. En este caso, el ltro discreto elimina
jw
completamente la distorsin por aliasing (c). Transformada de Fourier Y(e ) de la
salida y[n] del sistema discreto (d). Transformada de Fourier de y[n] y respuesta en
frecuencia del ltro reconstructor ideal Hr( f ) en funcin de f (e). Transformada de
Fourier Yr( f ) de la salida yr(t) ( f ).

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56

5. Muestreo de seales

Fig. 5.38. Respuesta en frecuencia (mdulo y fase) de integradores de tiempo continuo:


ideal (a); con prdida (b); con prdida y de banda limitada (c).

donde wN = fN (2p)/Fs. Se aprecia que, en este caso, la frecuencia de corte wc del filtro
discreto queda por debajo de la banda donde se produce el solapamiento de las rplicas,

wc < 2p

wN

y que en esa banda la respuesta en frecuencia del filtro tiene mdulo nulo. Por lo
jw
tanto, el espectro Y(e ) de la salida y[n] del filtro discreto no se ve afectada por el
solapamiento, como se muestra en la Fig. 5.37(d) . El espectro de esta seal,
graficado en funcin de la frecuencia continua f se representa en la Fig. 5.37(e) , junto
con la respuesta en frecuencia del filtro reconstructor ideal. Finalmente, el espectro Yr(
f ) de la salida y r(t) del filtro reconstructor ideal se grafica en la Fig. 5.37( f ) .
Comparando los espectros Xc( f ) de la seal continua de entrada xc(t), e Yr( f ) de la
seal continua de salida yr(t), se observa que el sistema de procesamiento discreto de
seales continuas de la Fig. 5.31 se comporta como un filtro pasabajoc continuo con
frecuencia de corte fc = w c(2p/Fs), an cuando el ancho de banda de la seal de
entrada y la frecuencia de muestreo no satisfacen el teorema del muestreo.
Aunque en este caso todo anduvo bien, en ciertas aplicaciones este tipo de comportamiento puede dar lugar a fenmenos no deseados. Por ello en muchas aplicaciones
es habitual limitar el ancho de banda de la seal de entrada antes de procesarla con el
conversor C/D para eliminar todas las componentes de frecuencia que se extiendan
ms all de la frecuencia de muestreo. Este filtro (analgico) se conoce como prefiltro
o filtro antialiasing, y su funcionamiento se discutir ms adelante, al estudiar algunas
consid-eraciones prcticas del proceso de muestreo (Seccin 5.11).
Los siguientes ejemplos de sistemas discretos de procesamiento se seales continuas
es-tudian el caso de un sistema que se comporta como un integrador con prdida o
de banda limitada, y un diferenciador limitado en banda.
EJEMPLO 5.15. Integrador de banda limitada
La respuesta en frecuencia de un integrador continuo ideal es
HI ( f ) =

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1 , < f < ,
j2p f

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57

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.39. Respuesta en frecuencia (mdulo y fase) de un integrador discreto de banda limitada.

tal como se representa en la Fig. 5.38(a) . En aplicaciones es habitual utilizar un integrador


con prdida, que en realidad es un ltro pasabajos. La respuesta en frecuencia de un
integrador de este tipo, ilustrada en la Fig. 5.38(b) , es
( 1/(j2p f ), jf f < f ,
H I p( f ) =
1/(j2p f i), i j j f i .

<

Finalmente, si este integrador desea implementarse como un sistema de procesamiento discreto


de seales continuas es necesario limitarlo en banda a la mitad de la frecuencia de muestreo,
como se representa en la Fig. 5.38(c). Resulta entonces un sistema con funcin transferencia
()=

Hc f

> 1/(j2p f ),
1/(j2p fi),

8
<

f <f,
j

>
>
:

>

jf

<f

jj

< F /2,

en caso contrario.

0,

El sistema con funcin transferencia Hc( f ) se comporta como un integrador para cualquier seal con
contenido frecuencial comprendido en el intervalo [ fi, fs/2).

La versin discreta del integrador resulta de efectuar el cambio de variables f 7!wFs/(2p), y


replicar la funcin resultante cada 2p:
jw

H(e ) = Hc
k

que en el rango jwj < p puede escribirse como

H(ejw) =

(
1/(jw F ) ,
i

(jwFs),

2p

1/

jwj <
2p( fi/
Fs ) =
wi ,

2p( fi/
Fs) <
jfj<
p.

2pk ,

(5.67)

donde wi = 2p fi/Fs. Esta respuesta en frecuencia se representa en la Fig. 5.39.

A continuacin se muestra que el sistema de procesamiento discreto de datos continuos de


la Fig. 5.31 donde el sistema discreto es el integrador discreto de banda limitada del
Ejemplo anterior se comporta efectivamente como un integrador de tiempo continuo.

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

58

5. Muestreo de seales

EJEMPLO 5.16. Respuesta del integrador de banda limitada ante una entrada senoidal
El sistema del ejemplo anterior se excita con una entrada senoidal
xc(t) = A cos(2p f0t),
donde fi < f0 < fs/2, cuyo espectro es
Xc( f ) = A d( f f0) +
2

A d( f f ).
0
2

La seal discreta x[n] se obtiene muestreando al seal continua cada T = 1/F s segundos,
(5.68)

x[n] = xc(t)jt=nT = A cos[2p( f0/Fs)n] = A cos w0n

donde w0 = 2p f0/Fs. El espectro de esta seal puede obtenerse por inspeccin


directamente a partir de la ecuacin (5.68), de donde resulta
jw
(5.69)
X(e ) = pAd(w w 2pk) + pAd(w+w 2pk),
0

o bien a partir del espectro de Xc( f ):


jw
X (f
X(e ) = 1

kF )

1
T

fs
j

f =w

2p

2 d( f kFs f0)+ 2 d( f kFs + f0)

f =w 2Fps

(5.70)

Como

d( f kF f )
s

wFs

= d 2p

0 jf = w

2p

Fs

2p w k2p

kFs f0 = d

f0
Fs

2p
2p =

Fs d(w w0

2pk),

y teniendo en cuenta que Fs T = 1, la expresin (5.70) se puede escribir como


jw
1
2p A
2p A
X(e ) =
Fs 2 d(w+w0 2pk)
T Fs 2 d(w w0 2pk) +
k

pAd(w

w0 2pk) + pAd(w+w0 2pk),

que (naturalmente!) coincide con (5.69).


La seal y[n] de salida del ltro discreto puede calcularse como la salida de estado estacionario
del integrador discreto limitado en banda dado por (5.67) cuando se lo excita con la seal (5.68),
jw

o bien calculando el espectro de Y(e ) y antitransformando. En el primer caso,

y[n] = AjH(e
donde f0 = argfjH(e

jw0

jw0

)j cos(w0n + f0),

)jg. En este caso, de la expresin (5.67) se encuentra que

j H (e

jw0

)j =

1 , f = argfjH(ejw0 )jg =
0

w F

0 s

y por lo tanto,

A
y[n] =

p
2

w F cos(w0n p/2) =
0 s

(5.71)

w F sen(w0n).
0 s

jw

Si, en cambio, se calcula y[n] antitransformando el espectro de Y(e ), se tiene que


jw

Y(e )

jw

jw

jw

H(e )X(e ) = H(e ) pA d(w

w0 2pk) + d(w+w0

2pk)

pA H(e

j(w0+2pk)

)d(w w0 2pk) + H(e

( jw0+2pk)

)d(w+w0 2pk).

Procesamiento Digital de Seales

2011

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59

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo


Como
1

H (e

j(w +2pk)

1
y

jw

) = H(e 0 ) =

( jw +2pk)

jw0 Fs
H(e 0
) = H(e
porque la respuesta en frecuencia es 2p peridica, se tiene que
jw
1
1
Y(e ) = pA
0

jw0 Fs d(w

pA

w F

jw0 Fs

w 0 2pk) +

k jd(w

)=

jw0 Fs

d(w+w0 2pk)

j d(w+w

02pk)

w F

w0 Fs

d(w

= pA

w0 2pk)

jw

0 s

w0 2pk) + jd(w+w0 2pk).

0 s

jw

El espectro Y(e ) es la transformada de un seno discreto de amplitud A/(w0 Fs) y frecuencia w0,
que nuevamente coincide con (5.71).

Una vez calculada y[n], se puede determinar yc(t). Para ello hay que calcular ys(t) y
procesarla con el ltro reconstructor ideal. Como
ys(t) = y[n]d(t

nT)

y el ltro reconstructor ideal tiene respuesta impulsiva h r (t) = sinc(t/T), se tiene que

y[n]d(t

yc(t) = hr(t) ys(t) = hr(t)

nT) = y[n]hr (t nT)

A
w F
0

sen(w0n) sinc(t/T n) =

2p f0

sen(w0n) sinc(t/T

n),

pues w0 = 2p f0/Fs. De acuerdo a los resultados de la Seccin 5.8.1, resulta


A

y (t) =
c

2p f0

sen(2p f t),
0

que es la integral de xc(t) = A cos(2p f0t),

Z
yc(t) =

xc(t)dt.

El resultado es el mismo si los clculos se desarrollan en el campo transformado. Partiendo


jw
del espectro de Y(e ) es ms sencillo calcular yc(t). Como Yc( f ) = Hr( f )Ys( f ), y

Y ( f ) = Y(ejw)
s

w= f 2Fps

se tiene que
Yc( f ) = Hr( f )Ys( f ) = Hr( f )
pA
= H(f)
[ jd(w w0
r
Y(ejw)

w F
0

w= f 2Fp s

2pk) + jd(w+w0

2p

2pk)]jw= f

Fs

Teniendo en cuenta que


d(w w

2pk)j

2 p

w= f F s

f w0
= d f Fs w0 2pk = d Fs
2
2p
p

2p 2pk 2p
Fs

Fs

d f f kF

= 2p (
Fs

s)

Procesamiento Digital de Seales

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U.N.S.

60

5. Muestreo de seales

resulta que
Yc( f ) = Hr( f ) pA Fs
w F

0 s

p F
= T
w F p j

2
p
A

0 s

jd ( f f0 kFs) + jd ( f + f0 kFs)
k

Ad ( f + f )
0
( f f0) + j 2

y antitransformando,
1 A sen(2p f t) =
0

yc(t) =

1 A sen(2p f t)
0

w F

2p f0

0 s

que es la integral de xc(t). Nuevamente, el desarrollo muestra cunto ms sencillo es


calcular la respuesta temporal trabajando con los espectros en el dominio frecuencia.

En el prximo ejemplo se estudia la implementacin de un derivador utilizando un sistema de procesamiento discreto de seales continuas. Al igual que con el ejemplo del
integrador, para lograr una implementacin exitosa es necesario limitar el rango de frecuencias donde el sistema se comporta como derivador.

EJEMPLO 5.17. Implementacin discreta de un derivador continuo en el tiempo de banda


limitada

El diferenciador de tiempo continuo ideal est caracterizado por la ecuacin diferencial


d

y (t) =
c

cuya respuesta en frecuencia es

dt

x (t),
c

Hc( f ) = j2p f .
Como se necesita que las entradas al sistema de procesamiento discreto de seales
continuas de la Fig. 5.31 sean de banda limitada, para cumplir con los requisitos del teorema
del muestreo, es sufciente que la respuesta en frecuencia de este sistema sea
( j2p f , f < Fs/2,
He( f ) =
0,
j f j > Fs/2.

jj
cuyo mdulo y fase se muestra en la Fig. 5.40(a) . El sistema de tiempo discreto tiene una
respuesta en frecuencia
jw
Fs ,
Fs = j2pw
H(e ) = H ( f ) j
f =w 2p
e
2p
para jwFs/(2p)j < Fs/2, que se puede escribir como
jw

H(e ) = jFsw,

para jwj < p.

(5.72)

Esta respuesta se repite peridicamente cada 2p, como se representa en la Fig. 5.40(b) . La
respuesta impulsiva es
Z
jwn
h[n] = 2p Z p H(ejw)ejwndw = j 2ps
p we dw
p
p
1
F
= 1 (pn cos pn sen pn)
2

pn T
Procesamiento Digital de Seales

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U.N.S.

61

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.40. Respuesta en frecuencia del diferenciador ideal de tiempo continuo limitado en ban-da
(a). Respuesta en frecuencia del ltro discreto necesario para implementar un
diferenciador continuo limitado en banda usando el esquema de la Fig. 5.31 (b).

que tambin puede expresarse como


h[n] ==

8
cos pn
<0

n = 0,
, n 6= 0.

nT
Por lo tanto, si un sistema de tiempo

discreto con esta respuesta impulsiva se utiliza en la cong-

:
uracin de la Fig. 5.31, la salida de cualquier seal de entrada de banda limitada ser la
derivada temporal de la entrada.

En el ejemplo siguiente se muestra que el sistema de procesamiento discreto de


seales continuas en el que se utiliza como sistema discreto el derivador discreto
analizado ms arriba se comporta efectivamente como un derivador analgico.

EJEMPLO 5.18. Respuesta del derivador ante una entrada sinusoidal


Si la entrada al sistema derivador del Ejemplo 5.17 es
xc(t) = A cos(2p f0t),
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(5.73)
U.N.S.

62

5. Muestreo de seales
con f0 < Fs/2, su espectro es
Xc( f ) = A d( f + f0) + A d( f f0).
2

La seal discreta x[n] est dada por


x[n] = xc(nT) = A cos(2p f0Tn) = A cos(w0n)
donde w0 = 2p f0T = f0(2p/Fs). La transformada de Fourier expresada en funcin de f es
1

jw

X(e ) =

=
=

2T

X ( f kF )

s jf

=w

Fs
2p

2p + f0 kFs + d w

2 f0 kFs
p

k w

pAd(w + w0

2pk) + pAd(w w0 2pk).

En la banda de frecuencias jwj < p (que corresponde a k = 0) se tiene que


para jwj < p.

jw

X(e ) = pAd(w + w0) + pAd(w w0)

jw

Este es el espectro de la seal a la entrada del sistema discreto; el espectro de la salida es Y(e ) =
jw

jw

jw

H(e )X(e ), donde H(e ) est dado por (5.72). Se tiene entonces que, en el intervalo jwj < p,
jw
jw
jw

Y(e )

H(e )X(e )

jFsw [pAd(w + w0) + pAd(w w0)]

jpAFsw0d(w + w0) + jpAFsw0d(w w0),

donde se aplic la propiedad de colador del impulso: wd(w

w0) = w0d(w

w0).
La transformada de Fourier de la salida del conversor D/C en el intervalo j f j < F2/2 es, de
acuerdo a la ecuacin (5.61)
Y r( f ) =

jw

2
p

Hr( f ) Y(e ) w= f
T[

jpAFsw0d(w + w0) + jpAFsw0(w

= T jpAFsw0d

f Fs

2p

= jpAw0d Fs

2p

+ w0 + jpAFsw0d f

f + w0 2p

Fs

w0)]

+ jpAw0d

Fs
2p

w= f
F s w0

2p

Fs f w0 2p
2p
F

Fs

= jpAw0
2p d ( f + f0) + jpAw0 2p d ( f f0)
= j A 2p f d ( f + f ) + j A 2p f d ( f f )
0
0
0
0
2
2

(5.74)

donde se ha utilizado la propiedad de escalado del impulso, y el hecho que w0 Fs/(2p) = f0. La
expresin (5.74) representa un par de impulsos de amplitud j2p f0 A/2 ubicados en f0, y por lo
tanto es la transformada de Fourier de una seal [ sen(2p f0t)] de amplitud 2p f 0 A. Es decir

yr (t) =

2p f0 A sen(2p f0t),

y se verica efectivamente que yr(t) es la derivada temporal de xc(t) dada por (5.73).

En los siguientes ejemplos se analiza el comportamiento de un sistema de procesamiento


discreto de seales continuas cuando la entrada es una seal de banda limitada, pero

Procesamiento Digital de Seales

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63

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.41. Sistema de procesamiento discreto de datos continuos del Ejemplo 5.19.

que no satisface el teorema del muestreo, y tambin cuando la seal no est limitada
en banda.
El primero es una extensin del Ejemplo 5.12, en que el sistema de procesamiento
discreto de seales continuas no se comporta como un sistema lineal cuando la seal
de entrada es de banda limitada, pero cuya mxima frecuencia es mayor que la mitad
de la frecuencia de muestreo. La diferencia con el Ejemplo 5.12 es que en este caso el
filtro discreto no es una constante unitaria, sino un filtro pasaaltos.

EJEMPLO 5.19. Procesamiento discreto de una seal de banda limitada que no satisface el
teorema del muestreo
En el sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig. 5.41, el sistema
discreto lineal e invariante en el tiempo es un ltro pasaalto con respuesta en frecuencia
( 0, w < p/3, < p,
H(ejw) =
1, j j j w j
p /3 <

como se muestra en la Fig. 5.42. La frecuencia de muestreo es Fs = 8 kHz, y la seal de entrada es

(5.75)

xc(t) = 1 + 3 cos(2p f0t) + 4 cos(2p f1t)

con f0 = 2 kHz, y f1 = 5 kHz. El objetivo es calcular la salida continua de estado estacionario


yc(t). La forma ms sencilla de hacerlo es calculando los espectros de las seales en cada
punto de la cascada de la Fig. 5.41.
El espectro Xc( f ) de la seal de entrada es
3

Xc( f ) = d( f ) + 2 d( f f0) + 2 d( f + f0) + 2d( f

f1) + 2d( f + f1),

como se se muestra en la Fig. 5.43(a) .


Para calcular el espectro X s( f ) de la seal xs(t), es conveniente pensar que esta seal
es el resultado de modular un tren de impulsos ideal por la seal de tiempo continua
xc(t). Es decir, xs(t) se puede escribir como
xs(t) = xc(t)pT (t),

Fig. 5.42. Respuesta en frecuencia del sistema discreto del Ejemplo 5.19.

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64

5. Muestreo de seales

donde pT (t) es el tren de impulsos ideal, pT (t) = r d(t rT), cuya transformada es
1

P (f) =
T

d( f

T k

k f ).
s

Aplicando el teorema de convolucin frecuencial, se tiene que


Xs( f ) = Xc( f )

PT ( f )

= Xc( f )

d( f

kFs) =

Xc( f

=T

k d( f

kFs)

kFs)+ 2 d( f f0 kFs)+ 2 d( f + f0 kFs)+2d( f

f1 kFs)+2d( f + f1 kFs)

que se muestra en la Fig. 5.43(b) .


La seal discreta x[n] se obtiene al muestrear xc(t) a Fs = 1/T = 8000 Hz, y entonces
x[n] =
xc(t)jt=nT = 1 + 3 cos(2p f0t) + 4 cos(2p f1t)jt=nT

= 1 + 3 cos(2p f0/Fs n) + 4 cos(2p f1/Fs n)


= 1 + 3 cos 2p 2000 n + 4 cos 2p 5000 n

1 + 3 cos

Como cos 4 pn = cos


escribirse como

8000

+ 4 cos

pn

8000

43

5 pn

= cos 4 pn = cos

4 pn 2pn

4 pn , la seal x[n] puede

x[n] = 1 +
donde las frecuencias discretas son w

2
3 cos

Fs

f0

+ 4 cos

= p(

1a

pn

/ ) = p/2 y w = 3p/4. La frecuencia

discreta original w1 = 2p( f1/Fs) = 5p/4 queda fuera del intervalo ( p, p), pero se puede
representar con una sealjwde frecuencia w1a = 3p/4 que queda dentro de dicho
intervalo. El espectro wX(e ) de la seal discreta x[n] se puede calcular como
jw
Fs
X(e ) = Xs( f )jf =
=T

2p

d( f

kFs)+ 2 d( f f0

kFs)+ 2 d( f

kFs)

+ f0

f=

1
+T

2p

2d( f

Fs

f1 kFs)+2d( f + f1 kFs)

k
(w

k
d

+1
T

1
= T

2p

f=

)+ 3
F kF

2d( 2p Fs

2p

h 2p

F f
s

f1 kFs)+2d(

Fs

kd

(w

i
h
(w 2pk) + 2 d

)+ 3

kF

w
2p

Fs
2p (w

2p

(w

Fs

+ f kF )
0
s

2p s

Fs + f1 kFs)
3

f0

2p

2pk) +

Fs

h 2p (w + 2p
2d

1
Fs
f1
Fs
f1
i
2p (w+ 2p F
+ T 2d h 2p (w 2p Fs 2pk)i+2d h
s 2pk)
k
2p
= TF d(w 2pk)+ 23 d(w w0 2pk)+ 23 d(w+w0 2pk)
s

2p
TFs k 2d(w w1 2pk)+2d(w+w1 2pk)

= 2pd(w

2pk)+3pd(w

w0 2pk)+3pd(w+w0

+ 4pd(w
k

w1 2pk)+4pd(w+w1

2pk)

2pk)

f0
F

2pk)

Procesamiento Digital de Seales

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65

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

donde w0 = 2p( f0/Fs) = p/2 y w1 = 2p( f1/Fs) = 5p/4. Tambin se ha aplicado la


propiedad de escalado del impulso, d(at) = (1/jaj)d(t). De acuerdo a lo indicado ms
arriba, cos(w1n) = cos(w1an), con w1a = 3p/4. De modo que
jw

X(e ) = 2pd(w

2pk)+3pd(w

w0 2pk)+3pd(w+w0

2pk)

+ 4pd(w

w1a 2pk)+4pd(w+w1a

2pk).

Este espectro se muestra en la Fig. 5.43(c) .


La seal y[n] resulta de ltrar x[n] con el ltro pasaaltos con respuesta en frecuencia
jw
H(e ), representado en la Fig. 5.43(d) . El ltro remueve la componente de continua
d(w) y sus rplicas, d(w + 2pr), como se muestra en la Fig. 5.43(e) , de manera que el
espectro de la salida es
jw

jw

jw

Y(e ) = H(e )X(e )

= 3pd(w

w0 2pk)+3pd(w+w0

2pk)

+ 4pd(w

w1a 2pk)+4pd(w+w1a

2pk).

La seal ys(t) se obtiene escalando temporalmente la seal discreta y[n]. Entonces,


Y ( f ) = Y(ejw)
s

w= Ffs 2p

= 3pd(w w0 2pk)+3pd(w+w0
2pk)

w=

2p
F
s

+ 4pd(w w1a 2pk)+4pd(w+w1a


f

2pk)

w= F 2p

= k3pd

2p w0 2pk +3pd

2p+w0 2pk

Fs

Fs
f

+ k4pd
=

k3pd h Fs

Fs

2p w1a 2pk +4pd


i

f w0 2p 2pk 2p +3pd

2p

=2 p

4pd h

Fs

Fs

2p

3
2d

(f

k4pd ( f

2p+w1a 2pk
Fs f +w0

Fs

2p

f w1a 2p 2pk 2p +4pd

k3pd ( f f0

+2 p

Fs

2p

2pk 2p

Fs

Fs

2p

Fs

f +w1a 2p 2pk 2p
F

i
F

kFs)+3pd ( f + f0 kFs)
f1a

kFs)+4pd ( f + f1a

kFs)

de modo que
1

Ys( f ) = T

f0

kFs)+2d ( f + f1a

kFs)+ 2 d ( f + f0 kFs)+2d ( f
kFs) .

f1a

donde f1a = w1a Fs/(2p) = 3p/4 8000/(2p) = 3000 Hz. Este espectro se graca en la
Fig. 5.43( f ) .

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66

5. Muestreo de seales

Fig. 5.43. Espectros de las diferentes seales del Ejemplo 5.19. Las rplicas se indican
con lneas de trazos.

Procesamiento Digital de Seales

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67

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

La respuesta en frecuencia del ltro reconstructor que se representa en la Fig. 5.43(g) es


(
Hr ( f ) =
T, j f j < Fs/2,
0, en caso contrario.
La seal continua de salida yc(t) se obtiene ltrando la seal impulsiva ys(t) por el ltro
reconstructor ideal. Por lo tanto,
Yc( f ) = Hr( f )Ys( f )
=
" 1 k 3
#
3
Hr( f )
2 d ( f f0 kFs)+ 2 d ( f + f0 kFs)+2d ( f f1a kFs)+2d ( f + f1a kFs)
T

3
2 d ( f f0)+ 2 d ( f + f0)+2d ( f f1a)+2d ( f + f1a)

tal como se muestra en la Fig. 5.43(h).


La seal continua de salida yc(t) se puede derivar a partir del espectro Y s( f ) calculado en el
inciso anterior, y resulta
(5.76)

yc(t) = 3 cos(2p f0t) + 4 cos(2p f1at) = 3 cos(2p2000t) + 4 cos(2p3000t).

Como la seal de entrada xc(t) no cumple con el teorema del muestreo (la mayor componente
frecuencial es de frecuencia f 1 = 5 kHz, que es mayor que F s/2 = 4 kHz) el sistema completo no
se comporta como un sistema lineal. Esto se comprueba al comparar la seal de entrada x c(t) en
(5.75) con la salida yc(t) dada por (5.76): en la seal de salida aparece una componente de
frecuencia f1a = 3 kHz que no est presente en la seal de entrada.

Para entradas que satisfagan las hiptesis del teorema del muestreo se puede calcular la
respuesta en frecuencia del sistema continuo, que est dada por
jw

Hc ( f ) =

Xc( f )

H(e )

Yc( f )

=
(

w= Fs 2p

0,

< Fs/2
j j
en caso contrario.

jw

Teniendo en cuenta la expresin de H(e ) se tiene que


p
f
( 1, p Fs < f
1,

3<

F 2p

< p,

Hc( f ) = 0,
en caso s contrario.
que puede escribirse como

3 2p

0,

Hc( f ) =

Fs
<p

en caso contrario.

1, 4 kHz < f

1, F /6 < f < F /2,


s
s

2p

( 0, en caso j

contrario.

< 4 kHz,

0,

en caso contrario.

jj

Como se coment anteriormente, para que todo el sistema de la Fig. 5.41 se comporte
como uno lineal e invariante en el tiempo para cualquier tipo de entrada, se suele colocar un
ltro analgico antes del conversor C/D de manera de cancelar todas las componentes de
frecuencia que estn por encima de Fs/2. Este preltro ser analizado en la Seccin 5.11.

El ejemplo siguiente es una variacin del Ejemplo 5.13, en que el sistema de procesamiento discreto de seales continuas no se comporta como un sistema invariante en el tiempo
porque la seal de entrada no es de banda limitada, y por lo tanto no cumple con las
hiptesis del Teorema del muestreo. La diferencia con el Ejemplo 5.13 es que el filtro
discreto es un filtro pasaaltos, en lugar de uno con funcin transferencia unitaria.

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68

5. Muestreo de seales

EJEMPLO 5.20. Procesamiento discreto de una seal continua que no est limitada en banda
En el sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig. 5.41, el sistema
jw
discreto H(e ) es es el mismo ltro del Ejemplo 5.19. En este caso, la seal de entrada
xc(t) = u(t + T/10)

u(t

T/10)

que se muestra en la Fig. 5.44(a) no es de banda limitada, ya que su espectro es X c( f ) = (T/5) sinc(T f
/5) [Fig. 5.44(b)]. Se desea calcular la seal continua de salida yc(t).

Cuando xc(t) se muestrea con el tren de impulsos p T (t) lo que se obtiene es la seal x s(t) = d(t)
que se representa en la Fig. 5.44(c) . El espectro X s( f ) est formado por las innitas rplicas
(cada Fs) de Xc( f ). Como X c( f ) no es de banda limitada, las rplicas se solapan, de modo que
1
1
Xs( f ) = T Xc( f rFs) = T (T/5) sinc[(T/5)( f
rFs)]
r

sinc(T f /5 r/5).

Aunque esta suma es complicada de resolver, el espectro Xs( f ) se puede calcular transformando
Z

xs(t):

X s( f ) =

xs(t)e

j2p f t

dt =

j2p f t

d(t)e

dt = 1,

que se representa en la Fig. 5.44(d) .


La seal discreta x[n] resulta de convertir los impulsos continuos en impulsos discretos, cuyo
valor es el rea del impulso continuo. En consecuencia, x[n] = d[n] [Fig. 5.44(e)], y su espectro es
jw

X(e ) = x[n]e

jwn

= 1.

jw

como se muestra en la Fig. 5.44( f ) . Aqu se verica que X(e ) = Xs( f )jf =w 2Fps .
La salida y[n] del sistema discreto con respuesta en frecuencia
( 0, w < p/3, < p,

H(ejw) =

1, pj/3j < j w j

es la respuesta impulsiva del sistema discreto, ya que la entrada es un impulso (x[n] = d[n]),
jw
y por lo tanto se puede calcular como la antitransformada de H(e ). Este es un pasaalto con
frecuencia de corte en p/3, como se muestra en la Fig. 5.44(h). Hay varias maneras de
jw
calcular h[n], por ejemplo antitransformando H(e ),
1Zp

h[n] =

H(ejw)ejwndw, 2p

pero una particularmente sencilla es escribir el pasaaltos como la diferencia entre una constante y

un pasabajos, es decir,

jw

jw

H(e ) = 1

HPB(e ),

de donde
h[n] = d[n]

hPB[n],

jw

donde HPB(e ), hPB[n] son la respuesta en frecuencia y la respuesta impulsiva,


respectivamente, de un pasabajo
con
frecuencia de corte en p/3. Es sencillo calcular que
PB
H (e )e dw
1 p
=
Z
jwn
2p
dw = j2pn
p/3 e
ejpn/3 e jpn/3
p/3
1
1
= sen(pn/3) =1 sen(pn/3) = 1 sinc(n/3),
h

[n] =

2p

PB

pn
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jw

jwn

3 pn/3

3
U.N.S.

69

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.44. Seales y espectros vinculados al Ejemplo 5.20.

Procesamiento Digital de Seales

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U.N.S.

70

5. Muestreo de seales
y por lo tanto,

h[n] = d[n] 3 sinc(n/3) =

( 2/3,

n = 0,

(1/3) sinc(n/3),

n = 0.

6
como se representa en la Fig. 5.44(g).
jw

jw

Evidentemente, y[n] = h[n] pues x[n] = d[n], y Y(e ) = H(e ), como se representa en las Fig.
5.44(i)-(j).
jw
Para calcular ys(t), Ys( f ) se debe escalar Y(e ). Se tiene entonces,
jw

Ys( f ) = Y(e ) w=
f

j
1, pj/3 < w < p,

0, j 2pj < p/3,


f
F

<

0, w < p/3,

= (

2p

p/3 <

1,

Fs 2p

0, j f j < F /6,
s

=
j

< p,

1, Fs/6 < j f j < Fs/2,

que se repite peridicamente cada Fs, como se muestra en la Fig. 5.44(l). Por otra parte, la seal
temporal es

ys(t) = y[n]d(t

nT).

es decir, un tren de impulsos discretos modulados por la seal discreta y[n], tal como se
representa en la Fig. 5.44(k).
Finalmente, para obtener yc(t) se debe ltrar ys(t) con el ltro reconstructor ideal con respuesta

en frecuencia

(
1, j f j < Fs/2,
0, en caso contrario,

H r( f ) =

gracada en la Fig. 5.44(n), y cuya respuesta impulsiva es hr (t) = sinc( fst) [Fig. 5.44(m)].
Por lo tanto, el espectro Yc( f ) de la seal continua yc(t) es la cascada de Ys( f ) con Hr( f ),
(
1,

Yc( f ) = Ys( f )Hr( f ) =

Fs/6 < j f j < Fs/2,

0, en caso contrario,

que se muestra en la Fig. 5.44(p), y la seal continua y c(t) es la convolucin entre ys(t) y hr (t)

yc(t) = ys(t)

hr (t)

hr (t)

y[n]fhr(t)
n

y[n]d(t

nT)

d(t nT)g =

y[n]hr(t

nT)

d[n] 3 sinc(n/3)

hr (t nT)

como se representa en la Fig. 5.44(o). Una expresin cerrada para yc(t) se puede calcular fcilmente
antitransformando Yc( f ). Se muestran dos maneras de calcularlo.

El espectro Yc( f ) se puede escribir como la diferencia de dos pasabajos de ganancia


T, uno con frecuencia de corte en Fs/2 y otro con frecuencia de corte en Fs/6:

Y (f) =H
c

PB(Fs /2)

(f)

PB(Fs /6)

( f ).

Como hPB(Fs /2)(t) = T (2 Fs/2) sinc(Fst), y hPB(Fs /6)(t) = T (2 Fs/6) sinc(tFs/3), resulta

yc(t) = sinc(Fst) (1/3) sinc(Fst/3),


que se representa en la Fig. 5.45.
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(5.77)

U.N.S.

71

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.45. Salida yc(t) del sistema del Ejemplo 5.20 ante una entrada xc(t) = u(t + T/10) u(t
T/10).

Fig. 5.46. Otra forma de calcular la antitransformada de Yc( f ).

El espectro Yc( f ) se puede escribir como


(5.78)

Yc( f ) = G( f + fm) + G( f fm) = G( f ) [d( f + fm) + d( f fm)] ,


donde G( f ) est dado por
T, f < D f /2,

jj caso contrario.
(
G( f ) = 0, en
con
fm = 1
2

Fs

+Fs
2=

1 F,
s
3

yD f =

Fs

Fs

6=

Fs ,

como se muestra en la Fig. 5.46. Entonces, de la ecuacin (5.78), aplicando la


propiedad de convolucin en frecuencia, se tiene que
yc(t) = g(t)

2 cos(2p fmt)

donde g(t) es la respuesta impulsiva del pasabajos denido por G( f ), es decir,


g(t) = T

Df

sinc(D f t) = T 3s sinc( 3s t) = (1/3) sinc(Fst/3).

Entonces,
yc(t) = (2/3) sinc(Fst/3) cos(2pFst/3).

(5.79)

La igualdad de (5.77) y (5.79) se puede comprobar aplicando identidades trigonomtricas.

5.9.2. Relacin entre las respuestas impulsivas: invariacin al impulso


En la seccin anterior se mostr que el sistema cascada de la Fig. 5.31 puede comportarse de manera equivalente a un sistema continuo para entradas de banda limitada que
cumplan con el teorema del muestreo. En esta seccin se trata el problema de disear el

Procesamiento Digital de Seales

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72

5. Muestreo de seales

Fig. 5.47. Sistema continuo lineal e invariante en el tiempo (a). Sistema equivalente para
en-tradas de banda limitada (b).

sistema discreto de manera que el esquema de la Fig. 5.31 se comporte como un


sistema continuo dado.
En la Fig. 5.47(a) se muestra un sistema continuo lineal e invariante en el tiempo, con
respuesta en frecuencia Hc( f ) y respuesta impulsiva hc(t), que se desea implementar
con un sistema discreto como el de la Fig. 5.47(b) . La ecuacin (5.64) indica cmo
jw
elegir H(e ) de manera que He( f ) = Hc( f ). Especficamente,
jw
Fs , jwj < p,
(5.80)
H(e ) = H ( f )j
f =w

2p

con el requisito adicional que la frecuencia de muestreo Fs debe elegirse de manera que
(5.81)
H ( f ) = 0para j f j > F /2.
c

Si Hc( f ) no se anula para j f j > Fs/2 es imposible que los dos sistemas sean
equivalentes, ya que el filtro reconstructor del conversor D/C de la Fig. 5.47(a) impone
esta condicin para el sistema de procesamiento discreto de seales continuas.
Bajo las restricciones impuestas por las ecuaciones (5.80) y (5.81), se puede derivar
una relacin entre la respuesta impulsiva h c(t) del sistema continuo, y la respuesta
impulsiva h[n] del sistema discreto. En particular, como se ver a continuacin, la
relacin entre ambas est dada por
(5.82)
h[n] = T h (t)j
= Th (nT),
t=nT

es decir, que la respuesta impulsiva del sistema discreto es una versin muestreada (cada
T) y escalada (por T) de la respuesta impulsiva del sistema continuo. Cuando las respuestas impulsivas discretas h[n] y continuas hc(t) estn relacionadas por la ecuacin (5.82) se
dice que el sistema discreto es una versin invariante al impulso del sistema continuo.

La expresin (5.82) es consecuencia directa de la discusin de la Seccin 5.3. Cuando


x[n] y xc(t) se reemplazan por h[n] y hc(t) en (5.77), es decir
(5.83)
h[n] = h (t)j
= h (nT),
t=nT

la ecuacin (5.11) se puede escribir como


jw
H(e ) = 1 H ( f kF )
c
s jf =w
T

Fs

2p

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73

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo


y si se satisface (5.81)
jw
H(e ) = 1 H ( f )
c
jf =w
T

Fs

, jwj < p.

(5.84)

2p

Comparando la ecuacin (5.80) y (5.84), la diferencia es un factor de escala 1/T.


Modifi-cando las ecuaciones (5.83) y (5.84) para tener en cuenta este factor se tiene
h[n]
jw

H(e )

= jT h (t)j
c
t=nT = Thc(nT),
Fs ,
jwj < p.
= H (f)
c
jf =w 2p

(5.85)
(5.86)

Otra forma de obtener esta relacin es a partir de la antitransformada de la TFTD, que


establece que
Z
jwn
jw jwn
h[n] = 2p p H(e )e dw =
2 Z p Hc( f )jf =w
dw.
2Fps e
p
p
1
1 p
Cambiando las variables w = 2p f /Fs, resulta dw = (2p/Fs)d f , y los extremos de inteH (f)d f.
Z
gracin cambian a ( Fs/2) y Fs/2. Por lo tanto,
h[n] = Fs

2p Z Fs /2

2p 1

Hc( f )ej f Fs nd f =

2p

Fs /2

Fs /2

(5.87)

Fs /2

Teniendo en cuenta que 1/Fs = T, y que Hc( f ) = 0 si j f j < Fs/2, la ecuacin (5.87) puede

escribirse como
h[n] = T
Finalmente, recordando que h (t) =

Hc( f )e

j2p f (nT)

Hc( f )e
df.
H ( f )ej2p f td f , resulta que

(5.88)

j2p f (nTs )

d f = hc(t)jt=nT ,

de manera que (5.88) puede expresarse como


h[n] = T hc(t)jt=nT = Th(nT),
esto es, que la respuesta impulsiva del sistema muestreado son las muestras cada T
se-gundos de la respuesta impulsiva del sistema continuo, escaladas por el factor T.

EJEMPLO 5.21. Respuesta impulsiva para un ltro pasabajos ideal


Se desea que el sistema de la Fig. 5.47(b) se comporte como un ltro de tiempo continuo
tipo pasabajos ideal con frecuencia de corte fc cuya respuesta en frecuencia es
(
Hc( f ) =

1, j f j < fc.
0, en caso contrario.

Como se estudi en el Captulo 2, la respuesta impulsiva de este sistema es

hc(t) = 2 fc sinc(2 fct).

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74

5. Muestreo de seales

De acuerdo con el mtodo de la invariacin al impulso, la respuesta impulsiva del sistema


discreto es
h[n]

Thc(nT)

2T f sinc(2 f Tn)
c

= 2 fc sinc

2 fc n

Fs

Fs

y deniendo wc = 2p fc/Fs, se tiene que


h[n] =

wc

wc

sinc
p

que es la expresin calculada en el Captulo 3 de la respuesta impulsiva de un ltro


discreto pasabajos ideal con respuesta en frecuencia
jw
jj
(
c.
H(e ) =
0, w c
< w < p.
1, w < w

j j
Se verica, adems que

jw

H(e ) = H ( f )
c

Fs

f =w 2p

como postula la ecuacin (5.86).

El inconveniente con los filtros del ejemplo anterior es que no pueden implementarse
porque:
no son causales ya que las respuestas impulsivas no se anulan para t < 0 o para
n < 0, y
la respuesta impulsiva del filtro discreto no puede ser la respuesta impulsiva
prove-niente de una ecuacin a diferencias, como se discuti en el Captulo 3.
En el ejemplo siguiente se investiga la implementacin de un filtro pasabajos no ideal
de primer orden.

EJEMPLO 5.22. Invariacin al impulso de un sistema de tiempo continuo con funcin de sistema
racional

Muchos sistemas de tiempo continuo tienen funciones transferencia de la forma


N

Hc(s) =
n=1

s + sn

donde sn, con 1 n N son los polos del sistema. Para simplicar la presentacin se considera el
caso en que el ltro est formado por un solo trmino, cuya funcin de sistema es

Hc(s) = A

s0

s + s0
donde sin prdida de generalidad, se supone que s 0 = 2p f0

(5.89)

> 0 es real (la condicin s0 > 0


asegura que el sistema es estable). Esta es la funcin transferencia de un ltro pasabajos analgico,
con frecuencia de corte s0 radianes/s o f 0 Hz, y ganancia A. (La expresin (5.89) permite que

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U.N.S.

75

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

la ganancia se mantenga constante an cuando se vare la posicin del polo). La


transformada de Fourier es
2p f0
A
=
=A
.
H ( f ) = H ( s)
c
c
js=j2p f
j2p f + s0
j f / f0 + 1
La respuesta impulsiva de (5.89) es
hc(t) = As0e

s0t

u(t) = 2p f0 Ae

(5.90)

2p f0t

u(t).

Si se aplica el mtodo de invariacin al impulso a este sistema, se encuentra que


h[n] = Thc(nT) = 2p f0Te

2p f0 Tn

u[n],

cuya transformada de Fourier es


jw

H(e ) = h[n]e

jwn

2p f Tn jwn
0 e
2p f0TAe
= 2p f0TA

n=0

2p f0 T

Como por hiptesis f0 > 0, entonces je


sumatoria es convergente y se tiene que
jw

H(e ) =

j = je

=A

2p f0TA
2p f T

jw

n=0

2p f0 T

2p( f /F )

Fs

jw

(5.91)

jw

0 s e
e
1e
Comparando (5.89) con (5.91) se nota que no se verica (5.80), porque
0
A
H (f)
F
A
=
=
c
f =w 2 ps

1e

2p f T

j < 1, de modo que la

2p( f0/Fs)

jw

n
e

(5.92)

Fs 1

j 2p f w + 1
j f / f0 1 f =w 2p
Porqu (5.91) es distinta de (5.92)? Se ha cometido algn error?

El problema con el Ejemplo 5.22 es que la respuesta en frecuencia del sistema (5.89)
no es de banda limitada. Como se mencion ms arriba, en este caso H c( f ) es un
filtro pasabajos, y por lo tanto la respuesta en frecuencia (5.90) del sistema no se anula
en ningn rango de frecuencias. A medida que f crece, el valor de jHc( f )j es cada vez
ms pequeo, pero nunca se anula. Entonces la respuesta impulsiva h[n] no es una
seal de banda limitada, y cuando se la muestrea (para obtener h[n] y disear el
sistema discreto) siempre ocurre distorsin por solapamiento.
Este ser menor cuando la frecuencia esquina del filtro est ms alejada de la
frecuecia de muestreo. En el filtro (5.90) la frecuencia esquina en Hertz es s 0. Por lo
tanto, cuanto ms pequea sea la relacin f 0/Fs = f0T tanto menor deber ser el efecto
del aliasing. Si f0 Fs, entonces f0T 1, y

2p f T
0

1 2p f0T +

1
2

( 2p f0T) +

' 1 2p f0Tsi f0T 1.

1 ( 2p f0T)3 +
3!
(5.93)

Por otra parte, si el anlisis se limita a la regin de bajas frecuencias, es decir que w 1,
tambin puede aproximarse
jw
(5.94)
e
' 1 jw.

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76

5. Muestreo de seales

Reemplazando (5.93) y (5.94) en (5.91), se tiene que


jw

H(e ) =

'

'

2p f0TA
1e

2p f T
0

jw

2p f0TA
1 (1 2p f0T)(1 jw)
(5.95)

2p f0TA
1 1 + 2p f0T + jw
1
= A
j 1 w+1

(5.96)

2p f0 T

Para pasar de (5.95) a (5.96) se despreci el producto de las dos cantidades


pequeas w f0T. Finalmente, se tiene que
jw

H(e ) '

A
+1

w
f 2p

F
j s

,si f0/Fs

1 y w 1.

(5.97)

jw

Bajo estas aproximaciones, la respuesta en frecuencia H(e ) del sistema discreto dada
por (5.97) coincide con (5.92), y por lo tanto satisface la relacin (5.80). Es decir, que
aunque el sistema no es de banda limitada, si la frecuencia de corte es mucho menor que
la frecuencia de muestreo, y para bajas frecuencias (lejos de la frecuencia de muestreo) la
expresin (5.80)
jw

H(e ) = Hc( f )jf =w 2Fps .


es aproximadamente cierta.
jw

La comparacin entre Hc( f )jf =w 2Fps y H(e ) dadas por las ecuaciones (5.91) y (5.92), respectivamente, se ilustra en la Fig. 5.48 para filtros con distintos anchos de banda. El eje
de frecuencia se ha normalizado a Fs o a 2p para poder comparar las respuestas de los
filtros continuo y discreto sobre un mismo grfico. En las curvas de la columna izquierda el
eje de frecuencias es lineal, mientras que en las de la derecha es logartmico para poder
apreciar mejor la variacin del ancho de banda del filtro. En la Tabla 5.2 se indican los
valores del mdulo de la respuesta en frecuencia para ambos filtros en tres frecuencias
destacadas: continua ( f = w = 0), la frecuencia de corte ( f /F s = w/(2p) = f 0/Fs), y a la
mitad de la frecuencia de muestreo ( f /Fs = w/(2p) = 1/2).
En la Fig. 5.48(a) se muestran las respuestas en frecuencia cuando la frecuencia de
corte f0 del filtro analgico Hc( f ) es de un centsimo de la frecuencia de muestreo ( f 0
= 0,01Fs). La respuesta de los filtros es prcticamente idntica para todo el rango de
frecuencias del filtro discreto (en los grficos, hasta 0,5 f /F s). La variacin de la
ganancia es mnima, aunque el filtro discreto tiene una ganancia 1,5 veces mayor a al
mitad de la frecuencia de muestreo.

Si la frecuencia de corte del filtro f 0 es una vigsima parte de la frecuencia de


muestreo ( f0 = 0,05Fs, Fig. 5.48(b)) las respuestas empiezan a diferenciarse. El filtro
discreto tiene una ganancia de continua mayor, y una atenuacin de aproximadamente
la mitad en f /Fs = w/(2p) = 0,5, como se indica en la Tabla 5.2.
Para f0 = Fs/10 (Fig. 5.48(c)) las respuestas son muy distintas. La ganancia en
continua del filtro discreto es un 37 % mayor que la del filtro continuo, y la atenuacin
en f /Fs = w/(2p) = 0,5 es menos de la mitad.
jw

Esta comparacin indica que la relacin H(e ) = Hc( f )jf =w 2Fps que es vlida cuando el
sistema continuo es de banda limitada, deja de serlo para sistemas analgicos comunes,

Procesamiento Digital de Seales

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77

5.9. Procesamiento discreto de seales de tiempo continuo

Fig. 5.48. Mdulo de la respuesta en frecuencia del sistema continuo H c( f ) y del sistema
jw
dis-creto H(e ) derivado por el mtodo de invariacin al impulso, gracados
en funcin de la frecuencia normalizada, en escala lineal (izquierda) y
logartmica (derecha) para distintas frecuencias de corte del ltro pasabajos:
f0 = 0,01Fs (a), f0 = 0,05Fs (b); f0 = 0,1Fs (c). El crculo indica la frecuencia de
corte f0, donde la amplitud cae al 70 % ( 3 dB).

Tabla 5.2: Comparacin de los mdulos de las respuestas en frecuencia del filtro
jw

continuo Hc( f ) y discreto H(e ) para distintos anchos de banda.


f0 = 0,01Fs
jw

f0 = 0,05Fs
jw

f0 = 0,1Fs
jw

f /Fs
0

jHc( f )j
1,000

H(e )
1,031

jHc( f )j
1,000

H(e )
1,165

jHc( f )j
1,000

H(e )
1,374

f0/Fs
1/2

0,707
0,020

0,729
0,032

0,707
0,099

0,827
0,181

0,707
0,196

0,968
0,410

Procesamiento Digital de Seales

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78

5. Muestreo de seales

Fig. 5.49. Sistema de procesamiento en tiempo continuo de seales discretas.

es decir, expresados como funciones transferencia con polos y con ceros. La igualdad
es aproximadamente cierta si las singularidades del sistema continuo (los polos) estn
ubicados en frecuencias mucho menores a la frecuencia de muestreo.

5.10. Procesamiento en tiempo continuo de seales discretas


En la Seccin 5.9 se estudi el empleo de un sistema de tiempo discreto para procesar
seales de tiempo continuo segn el esquema que se muestra en la Fig. 5.31. En esta
sec-cin se considera una situacin complementaria, representada en la Fig. 5.49, que
ilustra un sistema para procesar seales discretas x[n], y[n] utilizando un sistema
continuo con respuesta impulsiva hc(t) y respuesta en frecuencia Hc( f ).
Mientras el esquema de la Fig. 5.31 es ampliamente utilizado en una gran cantidad de
aplicaciones (cualquier telfono celular, reproductor de audio o video, etc., responde a
ese esquema) el diagrama de la Fig. 5.49 slo tiene inters terico, y sirve para
interpretar el funcionamiento de cierta clase de sistemas discretos.
De la definicin del conversor D/C ideal, Xc( f ) es nula para j f j > Fs/2, y por lo tan-to
tambin se anular Yc( f ) en ese rango de frecuencias. Por lo tanto, el conversor C/D
muestrea yc(t) sin aliasing. Las seales continuas xc(t), y c(t) se pueden expresar en
fun-cin de las seales discretas x[n], y[n] como
x[n] sinc
(5.98)
x (t) =
t TnT
c
n
y

y[n] sinc

y (t) =
c

t TnT

(5.99)

donde x[n] = xc(t)jt=nT, e y[n] = yc(t)jt=nT. Las relaciones en el dominio frecuencia para
el esquema de la Fig. 5.49
son = T X(e )
X(f)
,
j f j < F /2,
(5.100)
jw

w= f

2Fps

Yc( f ) = Hc( f )Xc( f ),


Fs ,
= 1 Y (f)
c
j
f
w
=
2p
T

jw

Y(e )

j f j < Fs/2,

(5.101)

jwj < p.

(5.102)

Sustituyendo la ecuacin (5.100) en la (5.101) y el resultado en la (5.102) se encuentra que el


sistema completo se comporta como un sistema discreto cuya respuesta en frecuencia

es
jw

H(e ) = Hc( f )jf =w 2Fps ,


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jwj < p,
U.N.S.

79

5.10. Procesamiento en tiempo continuo de seales discretas

o, en otras palabras, la respuesta en frecuencia del sistema de la Fig. 5.49 ser


jw
equivalente a una dada H(e ) si la respuesa en frecuencia del sistema continuo es
2 p
jw
(5.103)
H ( f ) = H (e ) w= f F s ,
j f j < F /2.
c

Como Xc( f ) = 0 para j f j Fs/2, la respuesta en frecuencia del sistema H c( f ) puede


elegirse arbitrariamente por encima de F s/2. Una eleccin conveniente, pero arbitraria,
es Hc( f ) = 0 para j f j Fs/2.
Con esta representacin de un sistema discreto se puede analizar el efecto que causa
el sistema continuo equivalente en la seal de banda limitada x c(t), como se estudia en
los siguientes ejemplos.

EJEMPLO 5.23. Retardo fraccionario


Sea el sistema discreto lineal e invariante en el tiempo cuya respuesta en frecuencia es
jw

H(e ) = e

jDw

(5.104)

,jwj < p.

Cuando D es un entero, este sistema se puede interpretar como un retardo de D muestras,


porque la antitransformada de Fourier de (5.104) es
h[n] = d[n

D],

que corresponde a un SLIT con ecuacin a diferencias


y[n] = x[n D].

(5.105)

Si D no es un entero, la ecuacin (5.105) no tiene un signicado formal, porque no se puede


retrasar la sucesin x[n] por una cantidad que no sea un nmero entero. Sin embargo, con la
ayuda del sistema de la Fig. 5.49 se puede interpretar en tiempo continuo al sistema denido
por la ecuacin (5.104). Si el sistema Hc( f ) de la Fig. 5.49 se dene como
Hc( f ) = H(ejw)

2p

j2pD

=e

F1s = e

j2pDT f

(5.106)

w= f
Fs

donde T = 1/Fs, de la ecuacin (5.103) resulta que el sistema de tiempo discreto tendr la
respuesta en frecuencia especicada por (5.104), independientemente que D sea entero o no.
Recordando las propiedades de la transformada de Fourier del Captulo 2, se observa que
(5.106) representa un retardo temporal (de tiempo continuo) de DT segundos. Por lo tanto,

yc(t) = xc(t DT).

(5.107)

De acuerdo con el esquema de la Fig. 5.49, xc(t) es una interpolacin de banda limitada de
x[n], e y[n] se obtiene muestreando y c(t). Por ejemplo, si D = 1/2, y[n] estara formada por
las muestras de la interpolacin xc(t) de x[n] tomadas entre medio de las muestras
originales, como se muestra en la Fig. 5.50.
Tambin se puede obtener una interpretacin temporal del sistema denido por la
respuesta en frecuencia (5.104), es decir, encontrar su respuesta impulsiva. Esto se puede
conseguir de dos maneras:

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80

5. Muestreo de seales

Fig. 5.50. El procesamiento en tiempo continuo de seales discretas para la seal (a)
produce una salida retardada media muestra (b).

A partir de la antitransformada de (5.104):


p
1
h[n] = 2 Z H(ejw)ejwndw
p
p
p
1
1 p
Z
Z j(n D)w
jDw jwn
=
e dw = 2p p e
dw
2
pe
p
w=p
1
1

2p

j(n

D)

ej(n

D)w w=

j(n

D)p

j(n

= 2 j(n D) h
e
p
1 sen[p(n D)]
p
(n D)

D)p

que puede escribirse como


h[n] = sinc(n D).
De las ecuaciones (5.107) y (5.98) se obtiene

y[n] = y (t)
c

jt=nT

= x (t
c

x[`] sinc[(t
`

x[`] sinc (n

T)

DT

jt=nT
`T) /T]jt=nT

D `)

que por denicin, es la expresin de la convolucin de x[n] con


h[n] = sinc(n D) < n < .

Es interesante notar que si D es un entero, D = n0 2 Z, se deduce fcilmente que h[n] =


d[n n0], que es la respuesta impulsiva del sistema discreto conocido como retar-

Procesamiento Digital de Seales

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81

5.10. Procesamiento en tiempo continuo de seales discretas

Fig. 5.51. El sistema promediador representado como la cascada de dos sistemas.

do ideal, y estudiado en el Captulo 3. Sin embargo, si D no es un entero, h[n] es un sistema tipo IIR: su respuesta impulsiva tiene longitud infinita. Adems no es causal porque
h[n] 6= 0 para n < 0, y tampoco se puede implementar como una ecuacin a diferencias, tal
como se mostr en el Captulo 3 para los filtros ideales, porque la respuesta impulsiva no
n

es de la forma a u[n]. Este resultado indica que si uno quisiera retardar una suce-sin en
fracciones de muestra, no podra conseguirlo con un sistema lineal e invariante en el
tiempo. En muchsimas aplicaciones es deseable poder retardar una seal discreta un
nmero fraccionario de muestras, por ejemplo, para separar espacialmente distintas
fuentes de sonido, o sumar aditivamente distintas seales que provienen de una fuente
lejana, como es el caso del sonar. En este caso se usan sistemas variantes en el tiempo
conocidos como interpoladores que permiten retardar una seal la cantidad deseada (sea
un nmero entero o fraccionario de muestras) sin necesidad de convertir la seal discreta a
otra seal continua en et tiempo y viceversa. En definitiva, el esquema de la Fig. 5.49
nunca se usa en la prctica.

Los retardos fraccionarios, en particular fracciones de 1/2 muestra, suelen aparecer


fre-cuentemente en la representacin frecuencial de sistemas discretos. Cuando este
tipo de trminos aparece en la respuesta en recuencia de un sistema, su efecto sobre
la respues-ta impulsiva h[n] puede interpretarse bajo la luz del Ejemplo 5.23, como se
muestra a continuacin.

EJEMPLO 5.24. Promediador con retardo fraccionario


El promediador causal de N muestras con respuesta impulsiva
(
h[n] =

1/N,

1,

0,

caso contrario,

tiene respuesta en frecuencia


jw
H(e

)=

1 sen(wN/2)
N sen(w/2)

j
e

N 1

(5.108)

Esta representacin de la respuesta en frecuencia sugiere que el promediador de N muestras se puede


interpretar como la cascada de dos sistemas, tal como se muestra en la Fig. 5.51. El primer sistema modela
la variacin de la ganancia en funcin de la frecuencia, y el segundo sistema representa el
jN 1w
es un entero impar, el trmino de fase

trmino de fase lineal e 2


en la ecuacin (5.108).
Si N lineal corresponde a un retardo unitario:
h i y[n] =
N 1

wn 2

En cambio, si N es par, el trmino de fase lineal corresponde a un retardo no entero, especcamente, un


nmero entero ms media muestra. Este retardo no entero puede interpretarse en funcin del Ejemplo
5.23, es decir, y[n] es equivalente a la interpolacin de banda limitada de w[n], en cascada

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82

5. Muestreo de seales

Fig. 5.52. Respuesta en frecuencia en mdulo y fase del promediador de largo impar con
No = 7 (a) y de largo par con Ne = 6 (b).

Fig. 5.53. Entrada x[n] (a), salida yo[n] del promediador de largo impar con No = 7 (b) y
salida ye[n] del promediador de largo par Ne = 6 (c).

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83

5.10. Procesamiento en tiempo continuo de seales discretas

con un retardo de tiempo continuo D = (N 1)T/2 (donde T es el perodo de muestreo


asociado con la interpolacin de w[n] por el conversor D/C), seguido por un conversor C/D
con perodo de muestreo T.
En la Fig. 5.52(a) se muestra la respuesta en frecuencia del sistema (5.108) para el caso en
que N es impar (N = No = 7), y en la Fig. 5.52(b) para el caso en que N es par (N = N e = 6).
Si ambos sistemas se excitan con una entrada x[n] = sen(wcn) con wc = p/6, representada
en la Fig. 5.53(a) , la salida de estado estacionario es
jw

donde
que:

y[n] = jH(e )j w=wc sen(wc + f),


como se estudi en el Captulo 3. Segn sea

jw

f = argf H(e

par o impar se tiene


N

) w=wc g,

Si N es impar (N = No = 7) se tiene que


1 sen(wNo/2)
jw

jHo (e )j

w=p/6

sen(w/2) ej

No

1 3+1

jw

arg
fo

de modo que

w=p/6

)j

jHo (e

= 7 p3

0,53,

p
3 +1

yo [n] =7 p3 sen p n p
6
2
1

(5.109)

Si N es par (N = Ne = 6) el mdulo y la fase de la respuesta en frecuencia son


jw

jHe(e )j

w=p/6

jw

fe

sen(wNe/2)

sen(w/2)

Ne

arg jH (e
e
=

w=p/6

)j

y entonces la salida de estado estacionario es


1 p
2
ye[n] = p 1
6 3

5p

1w

Ne

= 3 p3
12

sen

6n

0,64

p.

(5.110)

12

Las expresiones (5.109) y (5.110) muestran que tanto el promediador de largo N = N o = 7 como
N = Ne = 6 no slo reducen la amplitud de la seal, sino que introducen un desfasaje ( fo = p/2 o
fe = 5p/12) que se puede expresar en muestras, reescribiendo estas ecuaciones como
p +1

yo[n]
ye[n]

donde

D
o

fo
wc

= 7 p3 1
1 p
=
p 2
6 31

sen p

p/6

(n Do) ,

sen p (n D ) ,
6
e

p/2

= 3,

D
e

fe
wc

5p/12
p/6

5
= .
2

Las formas de onda de las seales de entrada y de salida para cada caso se muestran en la Fig. 5.53
donde se ha gracado en lnea de trazos la seal de tiempo continuo que hubiese sido interpolada
por el conversor D/C ideal tanto para la seal de entrada en la Fig. 5.53(a) como para las seales de
salida del sistema promediador de largo impar y par, en las Fig. 5.53(b) y (c) , respectivamente. Para
el caso del promediador de largo impar N = No = 7, la salida del sistema queda retrasada 3 muestras
respecto a la seal de entrada, como se observa al comparar el pico de la entrada en
Procesamiento Digital de Seales

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84

5. Muestreo de seales
n = 3 con el pico de la salida yo[n] en n = 6 en la Fig. 5.53(b) . Para el promediador de largo par
con N = Ne = 6, la salida del sistema es una seal muestreada que queda desfasada 2,5 muestras

respecto de la seal de entrada, como se muestra en la Fig. 5.53(c) . La diferencia entre el mximo
de la interpolacin de la seal de entrada, por ejemplo el ubicado en n = 15, y el mximo de la
interpolacin de la seal de salida que aparece en n = 17,5 es de 17,5 15 = 2,5 muestras.

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas


Hasta ahora, en la discusin de la representacin de seales de tiempo continuo por
seales discretas se han utilizado modelos ideales para el muestreo peridico y la interpolacin o reconstruccin. Estos procesos se han estudiado haciendo uso de un convertidor continuo a discreto (C/D) ideal, y de un interpolador de banda limitada, tambin
ideal, que denominamos convertidor discreto a continuo (D/C). Estos convertidores idealizados permiten concentrarse en los detalles matemticos escenciales de la relacin entre
una seal de tiempo continuo y de banda limitada y sus muestras. Por ejemplo, en la
Seccin 5.9 se utilizaron los conversores C/D y D/C ideales para demostrar que un sistema discreto lineal e invariante en el tiempo puede utilizarse en la configuracin que se
muestra en la Fig. 5.54(a) para implementar un sistema lineal e invariante en el tiempo de
tiempo continuo, siempre y cuando la entrada sea una seal de banda limitada, y que la
componente frecuencial mxima de esta sea y la frecuencia de muestreo cumplan con los
requisitos del teorema del muestreo.

En la prctica, la seales de tiempo continuo no son exactamente de banda limitada,


los filtros ideales no pueden implementarse (como se mostr en los ejemplos del
Captulo 3) y en lugar de los conversores C/D y D/C ideales se utilizan dispositivos que
se denomi-nan conversores analgico-digitales (A/D) y digitales-analgicos (D/A), que
tienen una funcionalidad similar, pero no idntica. El diagrama bloque de la Fig. 5.54(b)
muestra un modelo ms realista de un sistema que permite procesar seales de
tiempo continuo uti-lizando sistemas discretos, es decir, procesar seales analgicas
por medios digitales. En esta seccin se examinarn algunas de las diferencias entre
los distintos componentes de los sistemas de la Fig. 5.54.
.

5.11.1. Prefiltrado para evitar la distorsin por solapamiento


Cuando se procesan seales analgicas utilizando sistemas de tiempo discreto, es deseable utilizar la menor frecuencia de muestreo posible, ya que el volumen de operaciones aritmticas necesarias para implementar el sistema discreto es proporcional al
nmero de muestras a procesar. Si la seal de entrada no est limitada en banda, o si
su mxima componente frecuencial es muy alta, puede ser necesario filtrar (analgicamente) la seal antes de muestrearla. Por ejemplo, en el procesamiento de seales
vocales para uso telefnico es habitual limitar el ancho de banda entre 300 Hz hasta 3
kHz o 4 kHz, que es suficiente para asegurar la inteligibilidad, an cuando este tipo de
seales puede tener un contenido frecuencial importante en la banda comprendida
entre 4 kHz a 20 kHz.

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85

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

Fig. 5.54. Procesado discreto de seales de tiempo continuo (a) vs. procesado digital de
seales analgicas (b).

Fig. 5.55. Esquema de preltrado para evitar el aliasing.

Adems, an cuando la seal sea de banda limitada, el ruido aditivo de banda ancha
puede tener componentes frecuenciales superiores a Fs/2, y por lo tanto al muestrear
la seal, las componentes de alta frecuencia del ruido quedarn replicadas en baja frecuencia. Si se desea evitar la distorsin por solapamiento, se limita en banda la seal
de entrada filtrndola con un filtro pasabajos previo a la conversin A/D, como se
mues-tra en la Fig. 5.55. Este filtro analgico se conoce como prefiltro o filtro
antialiasing, y su respuesta en frecuencia ideal est dada por
(
1, j f j < Fs/2,
(5.111)
Ha( f ) =
0, j f j > F /2.
s

De la discusin de la Seccin 5.9.1 se desprende que la respuesta en frecuencia del


sis-tema completo, desde la salida del prefiltro xa(t) hasta la salida del filtro
reconstructor compensado yc(t) se comportar siempre como un sistema continuo
lineal e invariante en el tiempo ya que la entrada x a(t) al conversor C/D no tiene
componentes frecuen-ciales superiores a Fs/2 [stas han sido removidas por el prefiltro
Ha( f )]. Por lo tanto, la respuesta en frecuencia efectiva del sistema de la Fig. 5.55
entre la entrada xc(t) y la salida yc(t) se el producto de Ha( f ) y la respuesta en
frecuencia efectiva desde xa(t) a yc(t), que est dada por la ecuacin (5.64); es decir
(5.112)
( H(ejw) w= f 2p , para j f j < Fs /2,
He( f ) =
0,
para
/2.
Fs
>

j f j Fs
Por lo tanto, si se utiliza un filtro antialiasing ideal, el sistema de la Fig. 5.55 se comporta
como un sistema lineal e invariante en el tiempo con respuesta en frecuencia H e( f ) dada
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86

5. Muestreo de seales

Fig. 5.56. El ltro antialiasing permite extender el rango de frecuencias donde el sistema de
procesamiento discreto de seales continuas se comporta como un sistema lineal
e invariante en el tiempo. Sistema sin (a)-(d) y con (e)-(i) ltro antialiasing.

por (5.112), an cuando el espectro Xc( f ) de la seal de entrada x c(t) no est limitado
en banda.
El uso de un prefiltro permite extender el rango de frecuencias donde el sistema de procesamiento discreto de datos continuos se comporta como un sistema lineal e invariante en
el tiempo, como se muestra en la Fig. 5.56. El espectro de una seal de banda limitada,
pero cuya frecuencia mxima fN es menor que la mitad de la frecuencia de muestreo F s/2
se muestra en la Fig. 5.56(a) . Al muestrear esta seal cada T = 1/F s se produce distor-sin
por solapamiento, afectando el espectro Xs( f ) como se representa en la Fig. 5.56(b):

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87

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

el rango de frecuencias alterado queda comprendido entre Fs fN y Fs/2. Si se procesa


esta seal con un filtro reconstructor H r( f ), como se muestra en la Fig. 5.56(c) , se obtiene la seal de salida cuyo espectro Yr( f ) se grafica en la Fig. 5.56(d) . El espectro
Yr( f ) de la seal de salida es muy diferente del de la seal de entrada X c( f ). El rango
de fre-cuencias tiles, es decir, que no quedan afectados por distorsin, es de (F s
fN ), y el rango de frecuencias del espectro de la seal de entrada que se ve afectado
es de fN (Fs fN ) = 2 fN Fs. En otras palabras, el rango de frecuencias en el cual el
sistema de procesamiento discreto de datos continuos es de (Fs fN ) en lugar de Fs/2.
Estos efectos indeseados pueden atenuarse utilizando un prefiltro. En la Fig. 5.56(e)
se muestra el espectro Xc( f ) de la seal de entrada, y la respuesta en frecuencia H a( f
) del prefiltro. La seal de salida del prefiltro tiene el espectro X a( f ) representado en la
Fig. 5.56( f ) . El rango de frecuencias entre F s/2 y f N del espectro de la seal de
entrada se pierde. Sin embargo, al muestrear x a(t) cada T = 1/Fs no se produce
distorsin por solapamiento, como se observa en el espectro de X s( f ) que se grafica
en la Fig. 5.56(g). La comparacin de este espectro con el del la Fig. 5.56(b) revela las
ventajas de utilizar un prefiltro: el rango de frecuencias en que el espectro de la seal a
la entrada del conversor es idntico al espectro de la seal de entrada es mayor.
Al filtrar la seal muestreada con el filtro reconstructor ideal, que tiene la respuesta en
frecuencia Hr( f ) que se muestra en la Fig. 5.56(i) , se obtiene el espectro Y r( f ) de la
seal de salida representado en la Fig. 5.56(i) . En este caso, el rango de frecuencias
donde el espectro de la seal de salida coincide con el espectro de la seal de entrada
se extiende sobre Fs/2, y el rango de frecuencias del espectro de la seal de entrada
que se pierde es de fN Fs/2, que es la mitad del rango 2 f N Fs = 2 ( fN Fs/2) que se
pierde cuando no se usa un prefiltro, como se observa al comparar los espectros de
las Fig. 5.56(d) y Fig. 5.56(i) . En este caso, el rango de frecuencias que se pierde se
debe a la respuesta en frecuencia del prefiltro. En comparacin, cuando no se utiliza
un prefiltro se pierde un rango adicional comprendido entre f N Fs/2 y Fs/2 debido a la
distorsin por sola-pamiento, como se muestra en la Fig. 5.56(d) .
En la prctica, la respuesta en frecuencia del filtro antialiasing H a( f ) no es exactamente de
banda limitada, pero jHa( f )j puede hacerse arbitrariamente pequeo para f > Fs/2, de
manera de minimizar la distorsin por solapamiento. En este caso, la respuesta en
frecuencia del sistema de la Fig. 5.55 ser aproximadamente,

He( f )

jw

Ha( f ) H(e )

(5.113)

w= f

Para que el mdulo de la respuesta en frecuencia del filtro sea arbitrariamente


2
F

pequeo por encima de Fs/2, la frecuencia de corte del filtro debe estar un poco por
debajo de Fs/2; esto significa que la banda de transicin del filtro queda dentro de la
banda de Nyquist. La ecuacin (5.113) sugiere que la atenuacin producida en la
banda de transicin (y otras distorsiones producidas por sistemas lineales e invariantes
jw
en el tiempo) puede compensarse parcialmente con la respuesta H(e ) del filtro
discreto. Esta aproximacin se explora en el Problema 28.
Algunos ejemplos
En los siguientes ejemplos se estudia el efecto de un prefiltrado analgico en el desempeo de un sistema de procesamiento de seales. En los siguientes ejemplos se estudia

Procesamiento Digital de Seales

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88

5. Muestreo de seales

Fig. 5.57. Esquema del sistema de procesamiento discreto de seales continuas con
preltrado analgico para los Ejemplos 5.25 a 5.28.

Fig. 5.58. Espectro Xc( f )de la seal xc(t) de los Ejemplos 5.25 a 5.28.

el efecto que tiene sobre la salida del sistema de procesamiento discreto de seales
con-tinuas representado en la Fig. 5.57 el filtrar una seal xc(t) con un prefiltro
analgico con respuesta en frecuencia Ha( f ). La salida xa(t) del filtro se muestrea a Fs
= 40 kHz, e in-mediatamente se recupera con un filtro reconstructor ideal H r( f ), cuya
salida es la seal xr(t), como se muestra en la Fig. 5.57.
La seal xc(t) a muestrear est compuesta por seis tonos,
xc(t) = 2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt) +2C
cos(2p fCt) + 2D cos(2p fDt) +2E
cos(2p fEt) + 2F cos(2p fFt),
donde fA = 5 kHz, fB = 15 kHz, fC = 25 kHz, fD = 30 kHz, fE = 45 kHz, y fF = 62,5 kHz.
Se supone que todos tienen la misma amplitud, A = B = C = D = E = F = 1. Los nicos
tonos que estn en la banda de audio son los de frecuencia f A y fB, y si la seal xc(t)
se reprodujese por un parlante, el odo slo escuchara la seal
x1(t) = 2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt).
El espectro Xc( f ) de la seal xc(t) se observa en la Fig. 5.58. El proceso de muestreo crear
rplicas de este espectro, centrados en mltiplos de F s = 40 kHz. Las cuatro componentes C,
D, E, y F estn fuera del rango de Nyquist, y por lo tanto aparecern componentes
frecuenciales imgenes dentro del intervalo Fs/2 en las siguientes frecuencias:

fC = 25 kHz
fD = 30 kHz
fE = 45 kHz

fF = 62,5 kHz

) f

C,a

= (( f ))
C

Fs

= fC

Fs = 25 40 = 15 kHz = fB

) fD,a = (( fD))Fs = fD Fs = 30 40 = 10 kHz


) fE,a = (( fE))F
= fE Fs = 45 40 = 5 kHz = fA
) f = (( f )) = fF 2Fs = 62,5 2 40 = 17,5 kHz
F,a
F F

(5.114)

El primer ejemplo muestra cmo es el espectro Xr( f ) de la seal de salida xr(t) cuando
no se utiliza prefiltro, es decir, Ha( f ) = 1 para todo f .

Procesamiento Digital de Seales

2011

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89

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

Fig. 5.59. Espectro Xr( f ) de la seal xr (t) a la salida del reconstructor ideal cuando no
se usa preltro en el esquema de la Fig. 5.57.

EJEMPLO 5.25. Espectro de salida cuando no se usa preltrado analgico


En el caso en que no se coloca un preltro analgico, x a(t) = xc(t), y por lo tanto la seal
reconstruida es
xr(t)

= 2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt)


+2C cos(2p fC,at) + 2D cos(2p fD,at)
+2E cos(2p fE,at) + 2F cos(2p fF,at).

Aplicando las relaciones (5.114) se encuentra que


xr(t) =

2(A + E) cos(2p fAt) + 2(B + C) cos(2p fBt)

+2D cos(2p fD,at) + 2F cos(2p fF,at)

(5.115)

donde cada componente fuera de la banda de Nyquist se ha reemplazado por su imagen; por ejemplo,

2C cos(2p fCt) ! 2C cos(2p fC,at).


La ecuacin (5.115) revela que el proceso de muestreo y reconstruccin cambi la amplitud de las
componentes audibles de 5 kHz y 15 kHz, y adems ha introducido dos nuevas componentes en
fD,a = 10 kHz y fF,a = 17,5 kHz, como se observa en la Fig. 5.59: la seal xr (t) sonar muy

diferente de la seal audible x1(t), y tambin de la seal original xc(t).

En el siguiente ejemplo se analiza el efecto de utilizar un prefiltro ideal, es decir, que


anula las componentes frecuenciales de la entrada que estn fuera del intervalo Fs/2.

EJEMPLO 5.26. Espectro de salida cuando se usa un preltro ideal


Cuando se utiliza un preltro analgico ideal con frecuencia de corte Fs/2 = 20 kHz, la salida coincide
con la parte audible de xc(t), es decir, xa(t) = x1(t). El efecto del preltro sobre el espectro de la seal
de entrada es eliminar todas las componentes frecuenciales que yacen fuera del intervalo de Nyquist,
como se observa en la Fig. 5.60. Como la salida del preltro no contiene componentes de frecuencia
superior a Fs/2, no hay distorsin por solapamiento, y luego de la reconstruccin la seal recuperada
se oir igual que la parte audible de la seal de entrada, xr (t) = xa(t) = x1(t).

En la prctica no se pueden utilizar prefiltros ideales. Cualquier filtro analgico real tiene
diferencias tando en la banda de paso como en la banda de rechazo. Si bien puede

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90

5. Muestreo de seales

conseguirse que la ganancia del filtro real sea aproximadamente igual a la unidad en la
banda de paso, en la banda de rechazo la atenuacin mnima depende de la
caracters-tica (Butterworth, Chebyshev o elptica) del tipo de filtro que se utilice. en el
ejemplo que sigue el prefiltro Ha( f ) tiene la respuesta en frecuencia asinttica que se
muestra en la Fig. 5.61: una banda de paso plana en el rango de audio (entre 0 y 20
kHz), y un decaimiento montono a razn de 60 dB/octava a partir de los 20 kHz (en
40 kHz la atenuacin del filtro ser de 60 dB, o mil veces). Para los propsitos del
ejemplo, no in-teresa la respuesta en fase, y se considera que es nula.

EJEMPLO 5.27. Espectro de salida cuando se usa un preltro real


Cuando la entrada continua se procesa con el preltro analgico cuya respuesta en
frecuencia se muestra en la Fig. 5.61, la salida xa(t) estar dada por
xa(t) = 2A jH( fA)j cos(2p fAt) + 2B jH( fB)j cos(2p fBt)

+2C jH( fC)j cos(2p fC t) + 2D jH( fD)j cos(2p fD t)


(5.116)

+2E jH( fE)j cos(2p fEt) + 2F jH( fF )j cos(2p fF t),

que resulta de aplicar el principio de superposicin a la respuesta de estado estacionario de


un sistema lineal e invariante en el tiempo excitado por una seal sinusoidal. Por ejemplo, el
efecto del ltro H( f ) sobre la componente de frecuencia f A es
ee

xc (t) = 2A cos(2p fAt)

ee

! xa (t) = 2A jH( fA)j cos[2p fAt + q( fA)].

donde q( f ) = arg[H( f )]. En este ejemplo se supone que el preltro tiene desfasaje nulo, de
manera de q( f ) = 0; las conclusiones bsicas no se ven afectadas por esta simplicacin.
La ecuacin (5.116) tambin es vlida para el caso en que no se emplea preltro, en cuyo
caso basta suponer que

jH( fA)j = jH( fB)j = jH( fC)j = jH( fD )j = jH( fE)j = jH( fF)j = 1, y
tambin cuando se utiliza un preltro ideal, para el cual

jH( fA)j = jH( fB)j = 1,

jH( fC )j = jH( fD)j = jH( fE)j = jH( fF )j = 0.

En el caso del ltro de la Fig. 5.61, como las frecuencias f A y fB estn en la banda de paso,
tambin se verica que

jH( fA)j = jH( fB)j = 1.


En cambio, las componentes de frecuencia f C, fD, fE y fF se ven atenuadas. Para determinar la
magnitud de la atenuacin se debe encontrar cuntas octavas estn apartadas respecto a la
frecuencia esquina del ltro fc = Fs/2. El nmero de octavas es el nmero de potencias de 2 entre

Fig. 5.60. Espectro Xa( f ) de la seal xa(t) a la salida del preltro ideal.

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91

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

Fig. 5.61. Respuesta en frecuencia Ha( f ) del preltro analgico.


a

dos frecuencias, esto es, si fy = 2 fx, fy est apartada a = log2( fy/ fx ) de fx (Si la especicacin se da
en dB/dcadas, el nmero de dcadas entre dos frecuencias es a = log10( fy/ fx); en este
a
caso, la relacin entre fx y fy est dada por fy = 10 fx). Se encuentra as que

aC = log2

25 = 0,322,

= log2

20
30 = 0,585,

Fs/2

aD = log2

= log2

20
55 = 1,170,

Fs/2

fE = log2

aE = log2

20
62,5 = 1,644,

Fs/2

fF = log2

aF = log2

20
Fs/2
y por lo tanto, las atenuaciones en cada frecuencia sern
At
= 60 dB 0,322 octavas = 19,3 dB,
fC

octava
dB 0,585 octavas = 35,1 dB,
At fD = 60
octava
dB 1,170 octavas = 70,1 dB,
At fE = 60
octava
dB 1,664 octavas = 98,6 dB.
At fF = 60
octava
At/20

Por denicin, una atenuacin de At dB corresponde a reducir jH( f )j por un factor 10


.
Por ejemplo, la cada relativa de jH( f )j con respecto a la frecuencia esquina f c = Fs/2 de la
banda de paso es de At dB si

jH( f )j

fs/2)j

= 10 At/20. jH(

Suponiendo que la banda de paso est normalizada a 0 dB, i.e. que la ganancia en la banda
de paso es unitaria, jH(Fs/2)j = 1, y en consecuencia

jH( fC)j = 10

19,3/20

= 9,

jH( fD)j = 10

35,1/20

= 57 ,

jH( fE)j = 10

70,1/20

= 3234 ,
1
98,6/20
jH( fF)j = 10
=
.
85114

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.62. Espectro de salida Xa( f ) del preltro analgico cuya respuesta en frecuencia
se mues-tra en la Fig. 5.61, cuando se lo excita con la seal x c(t).

Fig. 5.63. Espectro Xr ( f ) de la salida x r(t) del ltro reconstructor cuando la entrada x c(t)
se ltra con un preltro analgico Ha( f ) con una pendiente de 60 dB/oct en
la banda de transicin.
Por lo tanto, segn (5.116), la salida xa(t) del preltro analgico ser
xa(t)

2A cos(2p fAt) + 2B cos(2p fBt)

+2 9 cos(2p fCt) + 2 57 cos(2p fD t)

+2

3234

cos(2p f t) + 2
E

El espectro de esta seal se muestra en la Fig. 5.62.

85114

cos(2p f t).
F

En la gura se observa que las componentes frecuenciales que estn fuera de la banda de audio han sido
atenuadas por el preltro, de manera que cuando se repliquen dentro de la banda a consecuencia del
proceso de muestreo la distorsin ser mucho menor. Las rplicas de las frecuencias que estn fuera del
intervalo de Nyquist aparecen en las mismas frecuencias calculadas en (5.114), cuando no haba un pre
ltro analgico. Por lo tanto, luego del muestreo y la reconstruccin se tiene

xr(t) = 2(A + E ) cos(2p fAt) + 2(B + C ) cos(2p fBt)


9
D 3234
F
+ 2 cos(2p f t) + 2
D,a
57
85114 cos(2p fF,at).
El espectro de esta seal se muestra en la Fig. 5.63. Se observa que las rplicas tienen mucho menor
magnitud que en el caso en que no se utiliza preltro. La componente frecuencial ms prxima a la
frecuencia de Nyquist, fC, es la que causa mayor distorsin porque no ha sido muy atenuada por el

ltro.

La pendiente de atenuacin de un filtro de orden N es de 6N dB/octava (o de 20N


dB/dcada) de modo que el prefiltro utilizado en este ejemplo, con una pendiente de
60 dB/octava, es de orden N = 10. Este filtro analgico es muy difcil de implementar, y
Procesamiento Digital de Seales

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93

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

por lo tanto muy costoso. En el siguiente ejemplo se estudia cmo desmejora el


desem-peo del sistema de procesamiento discreto de seales continuas de la Fig.
5.57 cuando se utiliza un filtro de orden 5.

EJEMPLO 5.28. Espectro de salida cuando se usa un preltro real de menor orden
Si el orden del preltro es N = 5, la pendiente de atenuacin ser de 30 dB/octava, y las
atenuaciones de las componentes que estn fuera de la banda de paso se reducen a la mitad,
At

At
At
At

fC

fD
fE
fF

dB
= 30 octava
0,322 octavas = 9,7 dB,
= 30 octava
= 30 octava
= 30 octava

dB
dB
dB

0,585 octavas = 17,6 dB,


1,170 octavas = 35,1 dB,
1,664 octavas = 49,3 dB,

y en unidades absolutas,

jH( fC)j = 10

9,7/20

jH( fD)j = 10

17,6/20

= 7,5 ,

jH( fE)j = 10

35,1/20

= 57 ,

jH( fF)j = 10

49,3/20

= 292 .

= 3,

Por lo tanto, la seal recuperada a la salida del ltro reconstructor ser


xr(t) = 2(A + E ) cos(2p fAt) + 2(B + C ) cos(2p fBt)
3
(5.117)
D 57
F
+2
cos(2p fD,at) + 2
cos(2p fF,at).
292
7,5
En este caso las componentes de frecuencia fC y fD no son tan pequeas, y la distorsin por
solapamiento ser ms importante que en el ejemplo anterior.

5.11.2. Conversin analgica-digital (A/D)


Un conversor C/D ideal convierte una seal de tiempo continuo en una seal discreta,
donde cada muestra se conoce con precisin infinita. En la Fig. 5.64 se muestra una representacin de un conversor analgico/digital real, donde la seal analgica (de tiempo
continuo) se transforma en una seal digital, es decir, una sucesin de muestras de precisin finita o cuantizadas. Los dos sistemas de la Fig. 5.64 son modelos de dispositivos
fsicos. El conversor C/D que se ha estudiado hasta ahora es un dispositivo ideal, mien-tras
que el conversor A/D es un modelo de un dispositivo real. Mientras que el primero es til
para derivar las relaciones temporales y frecuenciales entre las seales continuas y
discretas, el segundo permite tener en cuenta otros efectos no estudiados hasta ahora, y
representa con ms fidelidad el comportamiento de un conversor real.

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94

5. Muestreo de seales

Fig. 5.64. Conguracin fsica de un conversor analgico-digital.

El conversor A/D es un circuito que produce una salida x B[n] en cdigo binario que
representa aproximadamente el valor de la amplitud de la seal de tensin o corriente
presente en la entrada. El trmino aproximadamente tiene que ver con que la salida
del conversor tiene precisin finita: en un conversor de B bits, la salida codificada s-lo
B

puede tomar uno de los 2 valores posibles. Usualmente se utiliza una seal de reloj
externa para hacer que el conversor A/D produzca una muestra de salida cada T
segun-dos. La conversin del valor de tensin o corriente a un cdigo binario demanda
cierta cantidad de tiempo que depende del tipo de conversor; por este motivo, en los
sistemas de conversin A/D de altas prestaciones se incluye un mantenedor (sample
and hold, en ingls) que se encarga de aislar las variaciones de la seal de la entrada
del conversor durante todo el tiempo que demande la conversin. La salida del
mantenedor en funcin de la seal de entrada es
x0(t) = xa(nT)h0(t nT) = x[n]h0(t nT),
n

(5.118)

donde x[n] = xa(nT) son las muestras (ideales) de la seal de entrada x a(t) y h0(t) es la
respuesta impulsiva del mantenedor. El caso habitual es utilizar un mantenedor de
orden cero, caracterizado por la respuesta impulsiva
h0 (t) =

1, 0 < t < T,
0, en caso contrario.

(5.119)

El mantenedor de orden cero se encarga de mantener constante la seal de entrada al


conversor duratne todo un perodo de muestreo T. Tambin existen mantenedores de
primer orden, que generan una rampa de tensin cuya pendiende depende del valor
de tensin o corriente muestreado.
La ecuacin (5.118) tambin puede escribirse como
x0(t) = h0(t)

xa(nT)d(t

nT),

lo que indica que el mantenedor ideal es equivalente a la modulacin de un tren de impulsos pT (t) por la seal continua xa(t) seguida por un filtrado lineal por el sistema
mantenedor, como se muestra en la Fig. 5.65(a) . La salida del mantenedor se
mantiene constante en el intervalo de tiempo transcurrido entre instantes de muestreo,
permitien-do que el conversor A/D utilice ese tiempo para obtener una representacin
numrica de ese valor analgico con el mnimo error posible.
Porqu usar un mantenedor
En un sistema de procesamiento de datos, donde el conversor analgico digital (A/D) es-t
precedido de un mantenedor de orden cero la mayor frecuencia de muestreo utilizable

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95

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

Fig. 5.65. Representacin de un muestreador/mantenedor de orden cero ideal (a);


seales de entrada y salida tpicas de un muestreador/mantenedor (b).

Fig. 5.66. Seal de entrada a un sistema de procesamiento de datos sin mantenedor de


orden cero.

depende, en general, del tiempo de conversin. Por ejemplo, la (antigua) serie de conversores de 8 bits ADC0803/4/9 de National Instruments tiene un tiempo de conversin
ligeramente inferior a los 100 ms, de manera que pueden convertir una seal analgica
a una sucesin de nmeros a razn de 10000 muestras por segundo.
El empleo de un mantenedor de orden cero de calidad comparable permite procesar
seales cuya mxima componente frecuencial sea ligeramente menor que 5 kHz. Si no
se coloca un mantenedor de orden cero, el lmite a la mxima frecuencia de la seal a
convertir est determinado por el mximo error de conversin tolerable. Una hiptesis
razonable es que la variacin de la amplitud de la seal en un perodo de muestreo
sea menor que la resolucin D (el paso de cuantizacin) del conversor.
Para determinar la mxima frecuencia admisible de la seal de entrada, se supondr
que la seal a muestrear es una sinusoide de amplitud A, esto es x(t) = A sen(2p f0t).
La amplitud A se elige de manera de explotar al mximo el rango dinmico del
conversor: para un conversor de B bits, la amplitud A debe satisfacer
B

2A = 2 .
La frecuencia f0 se calcula de manera que la mxima variacin dxmax de la seal de entrada durante un perodo de muestreo no exceda el valor D de resolucin del conversor. La
mxima variacin temporal de la seal senoidal ocurre en instante del cruce por cero, y en
esos momentos la pendiente es 2pA f0, como se muestra en la Fig. 5.66, y en el intervalo
de un perodo de muestreo T la variacin total de la seal es dxmax = 2pA f0T.

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96

5. Muestreo de seales

Tabla 5.3: Mxima frecuencia de una seal sinusoidal que puede aplicarse a un
conversor ADC0800 para mantener la precisin de 8 bits con/sin mantenedor.
Frecuencia mxima de la seal de entrada
con mantenedor
sin mantenedor

5000.0 Hz
12.4 Hz

De acuerdo con la hiptesis, debe verificarse entonces que

2 A

2pA f0T < D = 2 B

de donde

f <
0

p2B

F,
s

que muestra que la mxima frecuencia admisible de la seal de entrada es p2 veces


menor que la frecuencia de muestreo. Para el caso de la familia de conversores de 8
B
bits ADC0800 citada ms arriba, 1/(p2 ) 0,00125, y por lo tanto la mxima frecuencia
de la seal es de aproximadamente 12.4 Hz. En la Tabla 5.3 se sintetizan las mximas
frecuen-cias admisibles de la seal de entrada con/sin el mantenedor, de manera de
preservar la resolucin del conversor.
La relacin entre las transformadas de Fourier de x 0(t) y xa(t) pueden calcularse sigu-iendo
el estilo de anlisis de la Seccin 5.3, y por el momento se pospondr hasta el tratamiendo
del conversor D/A. Sin embargo, el anlisis es innecesario en este punto porque todo lo
que es necesario conocer acerca del comportamiento del sistema puede derivarse a partir
de las expresiones temporales. Especficamente, la salida del mantene-dor de orden ero
es una forma de ona tipo escalera, en los cuales los valores de las muestras se
mantienen constantes durante el perodo de muestreo T, como se muestra en la Fig.
5.65(b) . Los muestreadores/mantenedores reales estn diseados para que la variacin
de la tensin en el tiempo, que se debe a corrientes de fuga, sea lo ms pequea posible;
para el AD783 de Analog Devices es de apenas 0.02 mV/ms (Fig. 5.67). Tambin es
necesario que el mantenedor copie el valor de x a(t) en el instante t = nT tan rpido como
sea posible; este parmetro se conoce como tiempo de adquisisicin, y es de 250 nS para
el AD783. El propsito del mantenedor es evitar variaciones de tensin o corriente en la
entrada del conversor A/D, y preservar su resolucin.
La gran variedad de tipos de muestreadores y conversores A/D, y las distintas variantes de
implementacin escapan a los contenidos de este curso. Posiblemente, estos disposi-tivos
sean los de diseo ms complejo, no slo porque mezclan electrnica analgica con
electrnica digital, sino porque la parte analgica debe ser muy veloz y de gran pre-cisin.
Hay muchos detalles de diseo que deben tenerse en cuenta para conseguir un
muestrador que adquiera una muestra de la seal tan rpido como sea posible, y que
mantenga el valor adquirido constante, sin decaer en el tiempo y sin que se contamine con
pulsos (glitches) causados por la lgica digital. Lo mismo ocurre con el diseo de los
conversores A/D: existe una amplia variedad de configuraciones que permiten lograr
diferentes requerimientos de velocidad y precisin.

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97

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

Fig. 5.67. Portada de la hoja de datos de muestreador/mantenedor AD783 de Analog


Devices. Se destacan su reducido tiempo de adquisicin (acquisition time) y
la baja cada (droop).

Fig. 5.68. Representacin matemtica del sistema de la Fig. 5.65.

Una de las caractersticas tpicas de un conversor A/D es su resolucin, que es el menor


cambio de tensin que causa el cambio deun cdigo de salida al cdigo siguiente.

Cuantizacin de la seal
El mantenedor de la Fig. 5.64 representa el proceso de muestrear la seal de entrada,
y mantener el valor muestreado para que sea cuantizado por el conversor A/D. Un
mode-lo de este sistema se muestra en la Fig. 5.68, donde el conversor C/D ideal
representa el muestreo efectuado por el muestreador/mantenedor y el
cuantizador/codificador mod-ela la operacin del conversor A/D.
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98

5. Muestreo de seales

Fig. 5.69. Cuantizador de 3 bits.

El cuantizador es un sistema no lineal cuyo propsito es transformar la muestra de


entra-da x[n] en uno de un conjunto finito de valores especificados. Se puede
representar esta operacin como
x[n] = Q(x[n])
(5.120)
donde x[n] representa el valor cuantizado de la muestra. La distribucin de los niveles
de cuantizacin puede ser uniforme o no. En aplicaciones donde sea necesario operar
matemticamente con los valores de las muestras, los pasos de cuantizacin suelen
ser uniformes. En la Fig. 5.69 se muestra la caractersticas entrada-salida de un
cuantizador uniforme (tambin llamado lineal, por la progresin lineal de los pasos de
cuantizacin), en el cual los valores de las muestras de entrada se redondean al nivel
de cuantizacin ms prximo.
La Fig. 5.69 revela algunas caractersticas interesantes. Este cuantizador sera apropiado
para una seal analgica cuyas muestras fuesen positivas y negativas (es decir, para una
seal de entrada bipolar). Si las muestras de entrada fuesen slo positivas (o negativas), la
seal de salida quedara codificada con 2 bits. Para aprovechar totalmente el rango del
conversor, los pasos de cuantizacin deben distribuirse de manera compatible con la seal
de entrada, o adecuar la seal de entrada al rango admisible del conversor.
El cuantizador de la Fig. 5.69 tiene un nmero par de niveles de cuantizacin, lo que
impide asignar un nivel de cuantizacin al cero, y tener la misma cantidad de niveles
positivos y negativos. En general, el nmero de niveles de cuantizacin es potencia de 2,
pero mucho mayor que 8, de manera que esta diferencia habitualmente es despreciable.
En la Fig. 5.69 tambin se muestra la codificacin de los niveles de cuantizacin. Como
hay 8 niveles de cuantizacin, se pueden utilizar 3 bits para identificarlos. En un codiB +1

ficador lineal, se pueden identificar 2


niveles con B bits. En principio, los smbolos
asignados a cada nivel son arbitrarios, pero de acuerdo a la aplicacin algunos son ms
convenientes que otros. Por ejemplo, la columna de la derecha de la Fig. 5.69 muestra el
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99

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

esquema de codificacin conocido como offset binario, en el cual los smbolos binarios se
asignan en orden numrico, comenzando con el nivel de cuantizacin ms negativo.
En procesamiento de seales se prefiere un cdigo que permita realizar operaciones aritmticas sobre las palabras de cdigo interpretndolas como una versin escalada de las
muestras cuantizadas. La columna de la izquierda muestra una asignacin conocida co-mo
complemento a 2, que es el sistema utilizado para representar valores signados en la
mayora de los microprocesadores. La representacin offset binario puede convertirse a la
representacin complemento a 2 complementando el bit ms significativo.
En el sistema complemento a 2 el bit ms significativo se considera el bit de signo y el
resto se interpreta como un entero o como fracciones. Esta ltima forma es conveniente
para trabajar con variables normalizadas. Implcitamente, se asume que hay un punto
decimal entre los dos bits ms significativos. Por ejemplo, para una palabra de 3 bits (B =
2), los smbolos binarios tienen el siguiente significado en complemento a 2:
smbolo binario

valor numrico xB

0 11

3/4

0 10
0 01
0 00
1 11
1 10
1 01
1 00

1/2
1/4
0
1/4
1/2
3/4
1

Para un codificador lineal, el valor de una representacin binaria de B + 1 bits de la forma

a0 a1a2 . . . aB
es
0

a02 + a12

+ a22

+ aB2 .

El smbolo separa la parte entera de la parte fraccionaria del nmero. La relacin


entre la palabra de cdigo y los niveles de la seal cuantizada dependen del parmetro
Xm en la Fig. 5.69, que se conoce como nivel de entrada de escala completa del
conversor A/D. Los valores tpicos pueden ser 10 V, 5 V o 1 V, y actualmente 3 V o 3.3
V. De la Fig. 5.69 se observa que el paso de cuantizacin ser
D = 2Xm

= Xm

(5.121)

2
Los niveles de cuantizacin ms pequeos ( D) corresponden al bit menos significativo de la palabra binaria. La relacin numrica entre el cdigo y el valor de la muestra
cuantizada es
(5.122)
x[n] = X x [n],

2B+1

ya que se ha supuesto que xB[n] es un nmero binario comprendido entre 1 en el forma-to


complemento a 2. En este esquema, las muestras codificadas x B[n] son directamente
proporcionales al valor de las muestras cuantizadas, y por lo tanto se pueden utilizar como
una representacin numrica de la amplitud de las muestras. Frecuentemente es

Procesamiento Digital de Seales

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100

5. Muestreo de seales

Fig. 5.70. Muestreo, cuantizacin, codicacin y conversin D/A de un cuantizador de 3 bits.

conveniente suponer que la seal de entrada est normalizada, de modo que los
valores numriocos de x[n] y xB[n] son idnticos, y entonces no hay necesidad de
distinguir entre las muestras cuantizadas x[n] y las muestras codificadas xB[n].
En la Fig. 5.70 se muestra un ejemplo de cuantizacin y codificacin de una seal sinusoidal utilizando un cuantizador de 3 bits. Las muestras x[n] sin cuantizar se indican con un
crculo vaco, y las muestras cuantizadas x[n] con un crculo lleno. Tambin se mues-tra la
salida de un manetendor de orden cero ideal (con lnea llena). Las lneas punteadas
indican la salida del conversor D/A, que se discutir ms adelante. En la figura se listan
tambin las palabras de 3 bits utilizadas para representar cada muestra. Como la seal
analgica xa(t) excede el rango de escala completa del conversor, algunas de las muestras
positivas resultan recortadas (por ejemplo, en t = 0, t = T, t = 8T, t = 9T, etc.)
Aunque la discusin precedente enfatiza la codificacin tipo complemento a dos de los
niveles de cuantizacin, los principios bsicos de cuantizacin y codificacin en la conversin A/D son los mismos sin importar qu tipo de cdigo binario se utilice para representar las muestras. Una discusin ms detallada de los sistemas de aritmtica binaria
utilizados en sistemas de cmputos digitales se puede encontrar en textos clsicos como
The art of computer programming de Knuth (1997).

Codificadores con distribucin no uniforme


En aplicaciones de telefona es habitual utilizar una distribucin no uniforme de los
pasos de cuantizacin. Una de ellas, utilizada en Japn y Estados Unidos, conocida
como ley m, convierte un cdigo lineal de 14 bits (13 bits de magnitud, mas un bit de
signo) en un cdigo comprimido de 8 bits (7 bits de magnitud, mas un bit de signo) a la
salida. La ley de compresin continua es
f (x) = sgn(x)

ln(1 + mjxj)

,
ln(1 + m)
donde la entrada x y la salida f (x) estn normalizadas entre 1, y m es el parmetro de
compresin (m = 255 para Estados Unidos y Japn). En la Tabla 5.4 se muestra la
traduccin de una variable entera de 13 bits codificada linealmente en una variable entera

Procesamiento Digital de Seales

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101

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

de 8 bits comprimida segn la ley m. El bit de polaridad (1 para valores positivos, en el


bit 13 para la entrada, y en el bit 8 para la salida) no se muestran en la tabla. En la Fig.
5.71 se muestra la caracterstica de compresin para una entrada x normalizada, y la
salida expresada como un valor entero.
En Europa se utiliza una ley de compresin denominada Ley A que convierte 12 bis de
magnitud en 7 bits comprimidos, de acuerdo a la ley continua
1
Ax
8
sgn(x)
j j
0 jxj
1 + ln A ,
( )=
A ,
fx

>

<
donde
A

es el parmetro de compresin (

1 + ln(A x )

>

jj

sgn(x)

>

1 + ln A

>

xj

,
A

= 87,6 en Europa), y

1,
es el valor normalizado
x

:
del entero a comprimir. La forma de la caractersitica entrada/salida es muy similar a la
de la ley m (Fig. 5.71). A fines de implementacin en sistemas digitales, la ley se
aproxima por una funcin lineal a tramos. Las diferencias entre la ley m y la ley A son
menores. Por utilizar menor cantidad de bits, la ley A genera seales de menor
amplitud y menor calidad que la ley m. Sin embargo, el rango dinmico de la ley A es
mayor que el de la ley m (48.7 dB versus 48.4 dB).

5.11.3. Anlisis de los errores de cuantizacin


Las Fig. 5.69 y 5.70 muestran que los valores cuantizadados x[n] sern diferentes de los
de las muestras x[n]. La diferencia entre ellas es el error de cuantizacin, definido como

e[n] = x[n]

x[n].

Por ejemplo, para el cuantizador de 3 bits de la Fig. 5.69, si D/2 < x[n] < 3D/2, entonces
x[n] = D, y resulta que
D/2 < e[n] < D/2.
(5.123)
En el caso de la Fig. 5.69, esta ecuacin se satisface para cualquier muestra x[n] cuyo
valor est comprendido dentro del rango
9D/2 < x[n]

7D/2.

En general, en el caso de un cuantizador de (B + 1) bits, donde D est dado por la


ecuacin (5.121), el error de cuantizacin queda comprendido entre D/2 [ecuacin
(5.123)] siempre que el valor de la muestra x[n] quede dentro del intervalo
Xm

D/2 < x[n]

Xm

D/2.

Si x[n] est fuera de este rango, como para en t = 0 en la Fig. 5.70, entonces el error
de cuantizacin es de mayor magnitud que D/2, y se suele decir que estas muestras
estn recortadas (clipped).
Un modelo simplificado pero til del cuantizador se muestra en la Fig. 5.72, en el cual
las muestras del error de cuantizacin se piensan como una seal de ruido aditivo. El
modelo es exactamente equivalente al cuantizador si se conoce e[n] ; sin embargo, en
la mayora de los casos e[n] no se conoce y resulta ms til utilizar un modelo
estadstico basado en la estructura de la Fig. 5.72 para representar los efectos de la
cuantizacin en los algoritimos de procesamiento de seales. La representacin
estadstica del error de cuantizacin est basada en las siguientes hiptesis:

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

102

5. Muestreo de seales

Tabla 5.4: Conversin de cdigo lineal a cdigo comprimido segn ley m.


bits de entrada

bits de salida

12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0

6 5 4 3 2 1

0
0
0
0
0
0
0
1

0
0
0
0
1
1
1
1

0
0
0
0
0
0
1

0
0
0
0
0
1

0
0
0
0
1

0 00 1
ab c dx
0 01
ab c dxx
0 1
abcdx xx
1
axxxx x xx
a bxxxx x xx
ab c xxxx x xx
a b c dxxxx x xx
a b cdxxxxx x xx

0
0
1
1
0
0
1
1

0
1
0
1
0
1
0
1

abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd
abcd

Fig. 5.71. Curva de compresin de la ley m.

Tabla 5.5: Conversin de cdigo lineal a cdigo comprimido segn ley A.


bits de entrada

bits de salida

11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0

6 5 43 2 1 0

0
0
0
0
0
0
0
1

0
0
0
0
1
1
1
1

0
0
0
0
0
0
1

0
0
0
0
0
1

Procesamiento Digital de Seales

2011

0
0
0
0
1

0 0 0 a b c dx
0 0 1 a b c dx
0 1
a b c dxx
1
a b c dx xx
a b c dx x xx
ab c dx x x xx
ab c dx x x x xx
a bcdx x x x x xx

0
0
1
1
0
0
1
1

0abcd
1abcd
0abcd
1abcd
0abcd
1abcd
0abcd
1abcd

U.N.S.

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

103

Fig. 5.72. Modelo de ruido aditivo del cuantizador.

1. La sucesin e[n] es un proceso aleatorio estacionario.


2. La sucesin error e[n] no est correlacionada con la seal x[n].
3. Las muestras de la seal error e[n] no estn correlacionadas entre s; es decir,
e[n] es un proceso tipo ruido blanco.
4. La distribucin de probabilidad del proceso e[n] es uniforme sobre el rango del
error de cuantizacin.
Como se ver ms adelante, estas hiptesis permiten analizar de manera muy simple
los efectos de la cuantizacin. Es sencillo encontrar situaciones donde alguna de las
hipte-sis precedentes no se cumple: por ejemplo, si xa(t) es un escaln, las hiptesis
no son justificables. Sin embargo, para el caso de seales complicadas, como la voz o
la msica, donde la seal flucta rpidamente de una manera casi impredecible, estas
hiptesis son ms realistas. Se han realizado experiencias que muestran que a medida
que las seales se complican, la correlacin entre la seal x[n] y el error de
cuantizacin e[n] dismin-uye, y el error tambin se vuelve no correlado (Bennet, 1948;
Widrow, 1956, 1961.) En un sentido heurstico, las hiptesis sobre el modelo
estadstico parecen ser vlidas si la seal es lo suficientemente complicada, y si el
paso de cuantizacin D es bastante pequeo, de manera que la amplitud de la seal
pase por varios pasos de cuantizacin de una muestra a otra.

EJEMPLO 5.29. Error de cuantizacin para una seal sinusoidal


Las muestras (sin cuantizar) de la seal x[n] = 0,99 cos(n/10) se gracan en la Fig. 5.73(a) . Esta
seal se procesa con un cuantizador de 3 bits (B + 1 = 3), resultando en la seal x[n] = Q fx[n]g, que
se representa en la Fig. 5.73(b) asumiendo que X m = 1. Las lneas de trazos indican los niveles de
cuantizacin. El error de cuantizacin e[n] = x[n] x[n] se muestra en la Fig. 5.73(c) , donde las lneas
de trazos limitan el intervalo D/2. En este caso, el error e[n] est altamente correlacionado con la seal
x[n] sin cuantizar. Por ejemplo, en un entorno de los picos positivos y negativos del coseno la seal
cuantizada x[n] permanece constante durante varias muestras consecutivas, y por lo tanto el error
tiene la forma de la seal de entrada en esos intervalos. Adems, en los intervalos correspondientes a
los picos positivos, el error es de magnitud mayor que D/2 porque la seal de entrada es muy grande
de acuerdo a los parmetros de este cuantizador.
En la Fig. 5.73(d) se muestra el error cuando se utiliza un cuantizador de B + 1 = 8 bits. Nueva-mente
las lneas de trazos indican el intervalo D/2. En este caso, no se advierte ningn patron o periodicidad.
Si la seal x[n] hubiese sido un coseno peridico, es decir, un coseno cuya frecuencia fuera una
fraccin racional de 2p, el error tambin hubiese sido peridico; para evitar este caso en el ejemplo se
utiliz la frecuencia w0 = 1/10. La observacin de la Fig. 5.73 tiende a conrmar la armacin
precedente sobre las propiedades del ruido de cuantizacin de una seal cuantizada con un paso D
sucientemente no: las muestras de la seal error parecen variar aleatoriamente sin correlacin
con la seal original sin cuantizar, y quedan comprendidas en el rango D/2.

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

104

5. Muestreo de seales

Fig. 5.73. Ejemplo del ruido de cuantizacin. Muestras de la seal x[n] = 0,99 cos(n/10)
(a); muestras cuantizadas a 3 bits de la seal x[n] (b); error de cuantizacin de
la seal x[n] cuantizada a 3 bits (c); error de cuantizacin de la seal x[n]
cuantizada a 8 bits (d).

Fig. 5.74. Funcin densidad de probabilidad del error de cuantizacin para un


cuantizador por rendondeo como el de la Fig. 5.69.

Para cuantizadores que redondean el valor de la muestra al nivel de cuantizacin ms


prximo, como el que se muestra en la Fig. 5.69, la amplitud del ruido de cuantizacin
queda comprendida en el rango
D/2 < e[n] < D/2.
Para D pequeos, es razonable asumir que e[n] es una variable aleatoria con distribucin
uniforme entre D/2 y D/2, con la funcin de densidad de probabilidad p en (e) que se
muestra en la Fig. 5.74. Si en lugar de redondeo se hubiese aproximado por truncacin,
Procesamiento Digital de Seales

2011

U.N.S.

105

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

entonces el error siempre hubiese sido negativo, y se hubiese tenido una funcin de
den-sidad de probabilidad definida sobre el intervalo desde D a 0. Para completar el
modelo estadstico del ruido de cuantizacin, se supone que las muestras de ruido no
estn cor-relacionadas entre s, y tambin que e[n] no est correlacionado con x[n].
Por lo tanto, se asume que el ruido de cuantizacin e[n] es una sucesin de ruido
blanco con distribucin uniforme. El valor medio de e[n] es nulo, y su varianza es

D/2
1
D2
de =
.
Z 2
Z
2
2
s e = e pen (e)de = D/2 e D
12
Para un cuantizador de
(B + 1) bits, con un rango a fonde de escala de X m, el paso de
B
cuantizacin es D = 2 Xm, de modo que la varianza del ruido (su potencia) es
2 2B X2

s e=

12

Una medida comn de la degradacin de una seal contaminada por ruido aditivo es la
relacin seal a ruido (SNR), definida como el cociente entre las varianzas (potencias)
de la seal y del ruido. La SNR de un cuantizador de (B + 1) bits, expresada en
decibeles (dB) es
2

SNR = 10 log

10

= 10 log

s2e

= 10 log10 12 + 10 log10(2

12

10
2B

22B
Xm

2
2sx

) + 10 log10

sx
Xm

= 10,8 + 6,02B + 20 log10

sx

(5.124)

La expresin (5.124) muestra que la relacin seal a ruido se incrementa aproximadamente 6 dB por cada bit B que se agrega a la longitud de palabra de la muestra
cuantiza-da, es decir, por cada duplicacin del nmero de niveles de cuantizacin. Sin
embargo, debe prestarse especial atencin al trmino
sx .
20 log10 Xm

(5.125)

El parmetro Xm es propio del cuantizador, y en cualquier sistema real est fijo: es el rango
de tensiones mximas y mnimas aceptado por el conversor A/D. La cantidad sx es el valor
medio cuadrtico (RMS) de la amplitud de la seal, y necesariamente es menor
p
que el valor pico de la seal. Por ejemplo si x[n] es una sinusoidal con amplitud pico X , p

entonces sx = Xp/ 2. Si sx es muy grande, la amplitud de pico de la seal exceder el


rango de escala completa Xm del conversor A/D. En este caso, se produce una fuerte
distorsin, y la ecuacin (5.124) deja de ser vlida. Si, por otra parte, sx es muy
pequeo, el trmino indicado por (5.125) ser grande y negativo, disminuyendo la
relacin seal a ruido dada por (5.124): cuando sx se reduce a la mitad, la SNR se
reduce en 6 dB. Estas consideraciones indican que es muy importante ajustar el nivel
de la seal de entrada al conversor A/D de manera de evitar que sature, pero
asegurndose de que la seal quede representada por un nmero adecuado de bits.
Para seales analgicas tales como la voz o la msica, la distribucin de las amplitudes
tiende a estar concentrada alrededor de cero, y decrece rpidamente con amplitudes crecientes. En tal caso, la probabilidad que el valor de una muestra exceda 3 o 4 veces el
Procesamiento Digital de Seales

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106

5. Muestreo de seales

Fig. 5.75. Diagrama bloque de un conversor D/A (a); representacin usando un


mantenedor de orden cero (b).

valor RMS es extremadamente baja. Por ejemplo, si la amplitud de la seal tiene una
distribucin Gaussiana, slo el 0.064 % de las muestras tendr una amplitud superior
a 4sx. Entonces, para evitar recortar los picos de la seal se debe ajustar la ganancia
de los filtros y amplificadores que preceden al conversor A/D de manera que sx = Xm/4.
Reemplazando este valor de sx en (5.124) se encuentra que
SNR

6B

1,25 dB.

Por ejemplo, para obtener una relacin seal a ruido de alrededor de 90 a 96 dB como
se necesita para grabacin y reproduccin musical de alta fidelidad se requieren 16
bits de cuantizacin; sin embargo, tal desempeo slo se puede alcanzar si la amplitud
de la seal de entrada se ajusta apropiadamente al rango del conversor A/D.

5.11.4. Conversin Digital-Analgica (D/A)


En la Seccin 5.7 se discuti el proceso de reconstruccin de una seal limitada en banda
a partir de una sucesin de muestras utilizando un filtro pasabajos ideal. En trminos de la
transformada de Fourier, el proceso de reconstruccin se representa como
jw

Xr( f ) = X(e )jw= f 2Fps Hr( f ),


jw

donde X(e ) es la transformada de Fourier de tiempo discreto (TFTD) de la sucesin


de muestras x[n], y Xr( f ) es la trasnformada de Fourier de la seal de tiempo continuo
reconstruida. El filtro reconstructor ideal tiene respuesta en frecuencia
T, jj f < Fs/2,
H r( f ) =
0,

fj

j > F /2.
s

(5.126)

Para esta eleccin de Hr( f ), la relacin entre xr(t) y x[n] es

xr(t) = x[n]hr(t
n

nT) = x[n] sinc[(t

nT)/T]

donde hr(t) = sinc(t/T). El sistema que tiene como entrada la sucesin de muestras x[n] y
como salida la seal de tiempo continuo reconstruida se denomina conversor D/C ideal.
Sin embargo, este no es un dispositivo fsico (circuito integrado); la contraparte real de
este modelo idealizado es el conversor digital analgico (D/A), seguido por un filtro

Procesamiento Digital de Seales

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107

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

pasabajos apropiado. Como se muestra en la Fig. 5.75(a), el conversor D/A toma una
sucesin de nmeros binarios como entrada, y produce una salida de tiempo continuo
de la forma

Xm xB[n]h0(t

xDA(t) =

nT)

x[n]h0(t

(5.127)

nT)

donde h0(t) es la respuesta impulsiva del mantenedor de orden cero dada por la
ecuacin (5.119). Las lneas de trazos en la Fig. 5.70 (en la pgina 99) muestran la
salida del con-versor D/A para las muestras cuantizadas de la seal sinusoidal. El
conversor D/A mantiene el valor de la muestra cuantizada durante un perodo de
muestreo, de la misma manera que el mantenedor de orden cero mantiene el valor (no
cuantizado) de la muestra de entrada. En general este no es un dispositivo adicional,
sino que est formado por el latch interno del conversor D/A.
Utilizando el modelo de ruido aditivo para representar los efectos de la cuantizacin, la
salida xDA(t) del conversor D/A dada por la ecuacin (5.127) es
(5.128)
x (t) = x[n]h (t nT) + e[n]h (t nT).
DA

Para simplificar la notacin, se definen

x (t)
0

e0(t)

x[n]h0(t

(5.129)

nT),

e[n]h0(t

(5.130)

nT),

de manera que (5.128) se puede escribir como


xDA(t) = x0(t) + e0(t).
La componente de seal x0(t) est relacionada con la seal de entrada xa(t), ya que
x[n] = xa(t)jt=nT. La componente de ruido e0(t) depende de las muestras del ruido de
cuantizacin e[n] de la misma manera que x 0(t) depende de las muestras sin cuantizar
x[n]. Las trasformada de Fourier X0( f ) de x0(t) dada por (5.129) es
j2p f nT
!
X0( f ) = n x[n]H0( f )e
= n

x[n]e

= X(ejw)j
w= f

2p

j2p f nT

H0 ( f )

H0( f ).

Fs

Como

se encuentra que

X(ejw)j

w= f

2 p
F s

= 1
X ( f kF ),
s
T k a

" 1
#

k
T
X0( f ) =
Xa( f kFs) H0( f ).

(5.131)

Si Xa( f ) est limitada en banda a frecuencias menores que Fs/2, las rplicas de Xa( f ) no
se solapan en la ecuacin (5.131). Si se define un filtro de reconstruccin compensado

H(f) ,
r

Hr( f ) = H0( f )
Procesamiento Digital de Seales

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108

5. Muestreo de seales

Fig. 5.76. Respuesta en frecuencia de un mantenedor de orden cero, comparada con la


del ltro reconstructor ideal (a); ltro reconstructor compensado para usar
con un conversor D/A con mantenedor de orden cero (latch) (b).

la salida del fitro ser xa(t) cuando la entrada es x0(t). Como la respuesta impulsiva del
mantenedor de orden cero es un pulso de altura unitaria y ancho T,
h0(t) = u(t)
su transformada de Laplace es

u(t
1

T),
e Ts

,
H0(s) = s
s
y por lo tanto su transformada de Fourier est dada por
H(f) =
jpT f
1 e j2pT f = e
(ejpT f e jpT f ) = e
0
j2p f
j2p f
= e jpT f T sinc(T f ).

jpT f

sen(pT f )
pf
(5.132)

Por lo tanto, la funcin transferencia del filtro reconstructor compensado es


8
ejpT f

H r( f ) =

<

sinc(T f )
0,

, j f j < F /2,
s
j j > F /2.
s
f

(5.133)

En la Fig. 5.76(a) se muestra el mdulo de la respuesta en frecuencia de H 0( f ) dado por


(5.132), comparado con la respuesta del filtro reconstructor ideal H r( f ) [ecuacin (5.126)].
Ambos filtros tienen una ganacia T en f = 0, pero el mantenedor de orden cero, aunque
tambin es de naturaleza pasabajo, no presenta un corte abrupto en f c = Fs/2. La Fig.
5.76(b) representa el mdulo de la respuesta en frecuencia del filtro reconstructor
compensado

r(

) queH debe
colocarse a la salida de un conversor D/A. La respuesta de
f

fase sera idealmente un adelanto de fase de medio perodo de muestreo (T/2), para compensar el retardo causado por el mantenedor de orden cero (5.132). Como este avance de

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

109

5.11. Procesamiento digital de seales analgicas

fase no puede implementarse de manera prctica en un sistema real, normalmente


slo se compensa el mdulo de la respuesta en frecuencia del mantenedor de orden
cero. En muchas aplicaciones tambin esta compensacin suele omitirse, porque la
ganancia del mantenedor de orden cero es 2/p (aproximadamente 4 dB) en f = Fs/2.
La Fig. 5.77 muestra un conversor D/A seguido de un filtro reconstructor compensado.
De la discusin precedente, la seal de salida reconstruida ser

x[n] sinc[(t

xr(t) =

nT)/T]

x[n] sinc[(t

nT)/T] +

e[n] sinc[(t

nT)/T]

que puede escribirse como


xr(t) = xa(t) + ea(t),
donde ea(t) es una seal de ruido blanco limitada en banda al rango Fs/2.
Con todos estos elementos es posible completar el anlisis del sistema discreto para
procesamiento de seales continuas representado en la Fig. 5.54(b) , repetida en la Fig. 5.78.

Si se supone que tanto el prefiltro a( ) como el filtro reconstructor compensado r( )


H f H f tienen respuesta en frecuencia nula fuera del rango Fs/2
< f < Fs/2, y que el sistema discreto es lineal e invariante en el tiempo, la salida del sistema completo ser

(5.134)

yr(t) = ya(t) + ea(t),


con
jw

)j
(
f
)
H
(
e
Ya( f ) = Hr( f )H0
w= f

2p

Ha( f )Xc( f ),

(5.135)

Fs

), 0( ) y r( ) son las respuestas en frecuencia del filtro antialiasing, del


mantenedor de orden cero del conversor D/A y del filtro reconstructor compensado, redonde

a(

2
F

es la respuesta en frecuencia del sistema discreto

spectivamente. El trmino H(ejw)jw= f

expresada en las unidades de frecuencia del sistema continuo.


Suponiendo que el ruido de cuantizacin introducido por el conversor A/D es ruido
2
2
blanco con varianza s e = D /12, se puede demostrar que el espectro de potencia del
ruido de salida es
2 2
jw

( f )H(e
(5.136)
Pen ( f ) =

)j

Hr( f )H0

w= f

2 p
F s

se .

En otras palabras, el ruido de cuantizacin agregado por el conversor A/D queda


afecta-do por las distintas etapas de filtrado en tiempo continuo y discreto. La ecuacin
(5.135) muestra que, bajo la hiptesis de que la distorsin por solapamiento es
despreciable, la respuesta en frecuencia global desde xc(t) hasta yr(t) es

jw

He( f ) = Hr( f )H0 ( f )H(e )jw= f

2p

Ha( f ).

Fig. 5.77. Conguracin fsica para la conversin digital-analgica.

(5.137)

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

110

5. Muestreo de seales

Fig. 5.78. Esquema de un sistema de procesamiento digital de seales analgicas..

Si el filtro antialiasing es ideal, como el indicado en la ecuacin (5.111), y si la compensacin del filtro reconstructor tambin es ideal [ecuacin (5.133)], entonces la respuesta en
frecuencia efectiva del sistema global tiene la forma dada por la ecuacin (5.112):

He( f ) =

( H(ejw)

w= f

2p

0,

para j f j < Fs /2,


para
> /2.

j f j Fs
En caso contrario, la ecuacin (5.137) es un mejor modelo. Esta expresin muestra
que la compensacin por imperfecciones en cualquiera de los cuatro trminos puede
ser in-cluido en alguno de los restantes. Por ejemplo, la compensacin de la respuesta
en fre-cuencia del prefiltro o del efecto del mantenedor de orden cero del conversor
D/A, o ambas, pueden incluirse en la implementacin del sistema discreto lineal e
invariante en el tiempo.
Adems del efecto de filtrado indicado por (5.137), la ecuacin (5.134) muestra que la salida del sistema de procesamiento discreto de datos continuos representado en la Fig. 5.78
tambin queda contaminada por el ruido de cuantizacin filtrado, segn se indica en
(5.136). Ms adelante se estudiar que tambin se puede generar ruido en la implementacin del sistema discreto, causado por la cuantizacin de los coeficientes y la precisin finita que resulta de efectuar las operaciones matemticas con aritmtica de punto
fijo. En general, este ruido interno quedar filtrado por el mismo sistema discreto, por el
mantenedor de orden cero asociado al conversor D/A, y por el filtro reconstructor.

5.12. El cubo de Fourier-Poisson


Las aplicaciones clsicas delZ anlisis de Fourier se basan en el uso de la integral (TF)
x(t) =

X( f )ej2p f td f ,

X( f ) = Z x(t)e j2p f tdt,

< t < ,

(5.138)

< f < ,

(5.139)

o la serie de Fourier para seales de tiempo continuo (SF)

2
p

x(t) = X[k]ej T kt,


j 2 p kt

X[k] = k=
x(t)e T dt,
1
0
T

0 t < T,
< k < ,

(5.140)
(5.141)

Procesamiento Digital de Seales

2011

U.N.S.

111

5.12. El cubo de Fourier-Poisson

(donde, para uniformizar la notacin, se ha indicado c k = X[k]) o bien la transformada


de Fourier para seales de tiempo
discreto
(TFTD)
jw
jwn
x[n] = 2p Z0
X(e )e
dw,
< n < ,
(5.142)
1 2p
N 1
0 w < 2p.
jw

x[n]e

X(e ) =

jwn

(5.143)

n=0

Las computadoras digitales pueden ser programadas para evaluar las sumas finitas
(SDF, TDF)
j2 p
x[n] = 1
N kn
,
0 n N 1,
(5.144)
N

N 1

X[k]e

k=0

N 1

X [k] =

2p

x[n]e

n=0

0 k N 1,

kn

(5.145)

con gran eficiencia. En las expresiones (5.144)-(5.145) las seales se notan como
peridi-cas para facilitar la comparacin con el resto de las transformadas, aunque el
clculo se indica nicamente para las N muestras significativas. En esta seccin se
derivan algu-nas identidades que conectan estas formas aparentemente no
relacionadas del anlisis de Fourier.
Las ecuaciones de sntesis y anlisis (5.138)-(5.139), (5.140)-(5.141), (5.142)-(5.143) y
jw
(5.144)-(5.145) establecen mapas bidireccionales x(t) $ X( f ), x(t) $ X[k], x[n] $ X(e ),

con
x[n] $ X[k]
que vinculan funciones razonablemente regulares en R, RT, Z, ZN
sus transformadas. En esta seccin RT (ZN ) indica que el argumento de la funcin en
cuestin puede restringirse al rango [0, T) ([0, N 1]) porque la funcin es peridica de
perodo T (N). El propsito de esta seccin, inspirada en Kammler (2000), es establecer
ciertas conexiones entre estos cuatro tipos de anlisis de Fourier de seales de una variable. Se establecen ocho vnculos o mapas unidireccionales x(t)
! x(t), x(t) ! x[n],
jw
jw

x(t) ! x[n], x[n] ! x[n], X( f ) ! X[k], X( f ) ! X(e


), X[k] ! X[k], X(e

) ! X[k] que

sirven para vincular las esquinas adyacentes del cubo incompleto que se muestra en la
Fig. 5.79. De esta forma se unifican las diferentes representaciones de la transformada
de Fourier, y se derivan algunas herramientas computacionales muy valiosas.

5.12.1. Discretizacin por muestreo


Dada una funcin x( ) definida sobre R y una unidad de muestra Ts, se genera una
funcin discreta x[ ] sobre Z definiendo
x[n] = x(nTs),

n = 0,

1,

2, . . .

Se dice que x[ ] se construye muestreando x( ) cada T s. La misma idea puede aplicarse


para construir una funcin discreta N-peridica x[ ] definida sobre ZN a partir de una
funcin peridica continua T-peridica x( ) sobre RT. En este caso, Ts no se elige arbitrariamente, sino que se debe tomar Ts = T/N, de modo que N pasos de Ts igualen el
perodo T de la seal. Con esta idea se define
T

x[n] = x N n .
Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

112

5. Muestreo de seales

Fig. 5.79. Funciones de los cuatro pares transformados de Fourier (5.138)-(5.139), (5.140)(5.141), (5.142)-(5.142) y (5.144)-(5.145) dispuestos como vrtices de un cubo.

Estas discretizaciones (mapeos x(t) ! x[n], x(t) ! x[n]) se muestran en la Fig. 5.80. Las
funciones discretas x[ ], x[ ] son buenas representaciones de las funciones contin-uas
x( ), x( ) siempre que las funciones x( ), x( ) no varen apreciablemente sobre
cualquier intervalo de longitud Ts.

5.12.2. Periodizacin por replicacin


Sea x( ) una funcin continua definida sobre R tal que x(t) tiende rpidamente a 0
cuan-do t ! . Si la funcin se traslada un nmero entero arbitrario de veces T unidades
de tiempo,
. . . , x(t + 2T), x(t + T), x(t), x(t
T), x(t 2T), . . .
se puede obtener una funcin x( ) T-peridica sumando las rplicas,

x(t) =

x(t

mT),

< t < ,

m=

donde T > 0. Se dice que la funcin x(t), definida sobre RT se obtiene por replicacin cada
T de la funcin x(t). Otra manera de describir una funcin peridica x(t) es mediante la
convolucin de la seal aperidica x(t) con un tren de impulsos p T (t) = m d(t mT):

x(t) = x(t) pT (t) = x(t)

d(t

mT) = x(t) =

m=
Procesamiento Digital de Seales

2011

x(t

mT),

< t < .

m=

U.N.S.

113

5.12. El cubo de Fourier-Poisson

Fig. 5.80. Construccin de x[n] sobre Z y de x[n] sobre ZN por T/N-muestreo de x(t)
sobre R y de x(t) sobre RT, respectivamente.

De manera similar, cuando x[ ] es una funcin discreta definida sobre Z, y tal que x[n]
tiende rpidamente a 0 cuando n ! , se puede construir una funcin x[ ] discreta y Nperidica sobre ZN definiendo

x[n

x[n] =

(5.146)

mN], n = 0, 1, 2, . . .

m=

En este caso tambin puede construirse x[ ] como la convolucin entre x[n] y un tren
de impulsos N peridico pN [n] = m d[n mN]:

x[n] = x[n] pN [n] = x[n]

d[n

x[n

mN] =

m=

mN], n = 0, 1, 2, . . .

m=

Estas periodizaciones (mapeos x(t) ! x(t), x[n] ! x[n]) se ilustran en la Fig. 5.81. Las
funciones peridicas x( ), x[ ] son buenas representaciones de las funciones
aperidicas x( ), x[ ] cuando estas funciones estn concentradas en intervalos de
longitud T o N, respectivamente.

5.12.3. Las relaciones de Poisson


Sea x[ ] una funcin discreta definida sobre Z. Si x[ ] es absolutamente sumable,

jx[n]j <

m=

de modo que la suma (5.146) que define a x[ ] sea convergente, se puede utilizar la

[]
ecuacin de anlisis (5.145) para obtener la transformada discreta de Fourier X[k] de x
N
1

obtenida a partir de x[ ] por N-replicacin

N 1

X [k] = x[n]e

2p
j

n=0

Procesamiento Digital de Seales

kn

n=0 m=

x[n mN]e

2p
N

kn

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114

5. Muestreo de seales

Fig. 5.81. Construccin de x(t) sobre RT por T-replicacin de x(t) sobre R y de x[n]
sobre ZN por N-replicacin de x[n] sobre Z.
j

Como e

2Np

kn

es N-peridica en n, y como cada entero ` tiene una representacin nica

` = n mN,

con

= 0, 1, . . . , N 1,
2, . . .
m = 0, 1,

se puede escribir
N 1

X [k] =

x[n

mN]e

2p
j

k(n mN)

n=0 m=

x[`]e
`=

2p

k`

Si se observa la ecuacin de anlisis (5.143), se nota que


jw

X(e )
X[k] =
2p
w= k , k = 0, 1, 2, . . .

En otras palabras, si x[
] se obtiene a partir de x[ ]
por N-replicacin, entonces X [k]
N

jw

se obtiene de X(e ) muestrendola con 1/N. En este caso, es conveniente pensar que
jw
X(e ) est definida sobre R2p. De manera similar cuando x( ) es una funcin razonablemente regular sobre R, se pueden hallar los coeficientes de la funcin T-peridica

x(t) =
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x(t

m=

nT)
U.N.S.

115

5.12. El cubo de Fourier-Poisson


escribiendo

X[k] =

T Z0
1

kt

dt =

T m=
1

j 2p

x(t)e

x(t

nT)e

2p

x(t

1
T

Tk

ktdt

0 m=

2
p
T k(t nT)dt =

X( f )jf =

nT)e

x(x)e

2p
T

kx dx

x=

Por supuesto, deben imponerse algunas condiciones de regularidad sobres x( ) para


asegurar que las funciones x( ), X[k] queden bien definidas, y tambin que sea posible
intercambiar el orden de la integracin y la sumatoria en el tercer paso. En este caso,
si x( ) se genera por T-replicacin de x( ), entonces X[ ] se obtiene escalando X( ) por
1/T y muestreando X( ) cada 1/T.
De esta forma, las ecuaciones de anlisis (5.139) y (5.141), (5.143) y (5.145) han
permitido obtener los pares transformados de Fourier

1
k
x(t) = x(t mT),
X[k] =
,
(5.147)
T X( f )jf = T
m=

x[n] =
donde x ( )

x[n

mN],

X(e jw )

X[k] =

m=

w=

2p
N

(5.148)

R Z , con transformadas
[ ]
, x son funciones razonablemente regulares sobre ,
jw

de Fourier X( f ), X(e ) sobre R, R2p.


Se pueden utilizar argumentos similares, a partir de las ecuaciones de sntesis (5.138)
y (5.142), (5.140) y (5.144) para obtener los pares transformados de Fourier

T
N
N
jw
x[n] = x
n
,
X(e ) =
X f r f =w
,
(5.149)
T
N
T
r=
N

T
2pT

x[n] = x

n ,

X[k] = N

r=

X[k rN],

(5.150)

donde x( ), x( ) son funciones razonablemente regulares sobre R, RT con transfor-madas


de Fourier X( ), X[ ] definidas sobre R, Z, respectivamente. En la ecuacin (5.149) se ha
tomado Ts = T/N para resaltar las similitudes con (5.150). Las relaciones (5.147)-(5.150)
se denominan relaciones de Poisson, y revelan la relacin dual entre el muestreo y la
replicacin en los dominios tiempo y frecuencia, respectivamente.
Por ejemplo, partiendo del T/N muestreo de x(t), se tiene que

x[n] = x

Tn
N

y por lo tanto,
X(ejw) =

n=

x[n]e

jwn

= n= x

T
N

ne

jwn.

Tomando en cuenta la ecuacin de sntesis (5.138),

X(ejw) =

X( f )ej2p f td f

n=

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jwn =

j2p f

X( f ) e

NT ne

jwn

d f .(5.151)

t= NT n

n=

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116

5. Muestreo de seales

Sabiendo que n e

n=

ej2p

wn

j(2p f

= n= e

ne jwn

2p f

= 2p r d(w 2pr),

w + 2pr

)n = 2p

d f+

r=

2pr w N ,

T r=

2p

y reemplazando en (5.151) se obtiene


2p T
Z
T

r=

jw
N
2pr w N
X(e ) =
X( f )
d f+

T r= 2p T T

w N
N
N
df=
X
r

que justifica el par transformado (5.149), asumiendo, como en los casos anteriores,
que las funciones involucradas son lo suficientemente regulares como para permitir el
inter-cambio de orden de integracin y suma.
Finalmente, el par transformado (5.150) se obtiene de manera similar, notando que
T
x N n ,

x[n] =

y de acuerdo a la ecuacin de anlisis (5.145),


N 1

N 1

2p

X [k] = x[n]e

kn

n=0

2p

T
n e

= x

n=0

kn

Aplicando la ecuacin de sntesis (5.140),


N 1

X [k] =

2p

X[q]ej

qt

n=0 q

q=

T
t=

2p

N n

j kn
N

N1

= X[q]
q

2p T2p

ej T q N ne

kn

n=0

2p

X[q] e

(q k)n
N

n=0

y sabiendo que
N 1
j

2
p
N

(q k)n

= N d[q k + rN],

n=0

se tiene que

X[k] = N

X[k

rN],

r=

como especifica (5.150).

La relacin dual entre la replicacin en un dominio y el muestreo en el otro tambin


puede interpretarse con la convolucin en un dominio o multiplicacin en el otro, respectivamente, de la seal (o su transformada) con un tren de impulsos. Las
relaciones entre los trenes de impulsos y sus transformadas son
pT (t) = d(t
m

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mT)

PT ( f ) = 1

()

d f

T
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117

5.12. El cubo de Fourier-Poisson


para el caso continuo, y

() PT (ejw) = 1

mM]

pN [n] = d[n

d w

2pk
N

para el caso discreto. La aplicacin de estas relaciones, junto con el teorema de


convolu-cin en tiempo o en frecuencia, permiten obtener los pares transformados
(5.147)-(5.150) de manera casi trivial.

5.12.4. El cubo de Poisson


Las relaciones de Poisson, junto con las ecuaciones de anlisis y sntesis, se pueden com-binar
para producir el cubo de Fourier-Poisson, que se muestra en la Fig. 5.82. Las funciones x( ),
x( ), x[ ], x[ ], definidas sobre R, RT, Z, ZN respectivamente, y que cumplen con algunas
condiciones de regularidad, se ubican sobre las esquinas del lateral izquierdo del

[ ], ( j ), [ ], definidas
sobre R, Z, R2p, ZN , yacen sobre los vrtices del lateral derecho. En este diagrama
coex-isten tres tipos de periodicidad:
cubo, y las trasformadas de Fourier correspondientes ( ),
X

Xe

funciones T-peridicas, como x( ), definida sobre RT;

funciones -peridicas,
como [ ], [ ], definidas
ambas sobre ZN ; X
N
x

funciones 2p-peridicas, como X(e ), definida sobre R2p.


Las ecuaciones de sntesis-anlisis (5.138)-(5.145) permiten la conversin funcin $ transformada. El proceso de Ts-muestreo y T-replicacin son mapas unvocos (de un solo sentido) que permiten conectar esquinas adyacentes en el lateral izquierdo del cubo (cara de
las funciones), y las frmulas de Poisson (5.147)-(5.150) inducen mapeos unvocos correspondientes en el lateral derecho del cubo (cara de las transformadas).

Es posible desplazarse de una esquina a otra del cubo siguiendo diferentes caminos.
Por ejemplo, se puede ir desde la esquina de x( ) a la de x[ ] por el camino x( ) ! x( ) !
x[ ] o bien por el camino x( ) ! x[ ] ! x[ ]. Las relaciones de Poisson permiten verificar
que cualquiera de estos dos caminos conducen a la misma funcin x[ ] :
(5.150)

x[n] =
(5.148)
x[n] =

(5.148) m=
T

x[n

m=

x
(5.149)

mN] =

n mT ,
T

m=

[n

mN] .

Se pueden utilizar argumentos similares para verificar que dos caminos cualesquiera
que unan sendas esquinas del cubo, de manera consistente con las flechas,
corresponden al mismo mapa compuesto. Se dice que el cubo de Fourier-Poisson es
un diagrama conmuta-tivo.

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

118

5. Muestreo de seales

Fig. 5.82. El cubo de Fourier-Poisson es un diagrama conmutativo formado por las 8 ecuaciones
de sntesis-anlisis (5.138)-(5.145) y las 8 relaciones de Poisson (5.147)-(5.150).

5.13. El cubo discreto de Fourier-Poisson

Para las seales peridicas discretas x[n] con transformada discreta de Fourier X[k], rela-

cionadas entre s por las ecuaciones de sntesis y anlisis


j 2Np kn ,
x[n] = 1
0 n N 1,
N 1

(5.152)

X[k]e

k=0

X [k] =

2p

N 1

x[n]e

n=0

0 k N 1,

kn

(5.153)

respectivamente, los procesos de replicacin y de compresin permiten construir un


dia-grama conmutativo similar al cubo de Fourier-Poisson presentado en la seccin
anterior, donde todas las funciones intervinientes son discretas y peridicas.

5.13.1. N-Replicacin o M-Suma

Si [ ], [ ] son funciones definidas sobre ZN M, el proceso de

-replicacin
N

nx

M 1

y[n] = x[n

rN]

r=0

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2011

U.N.S.

119

5.13. El cubo discreto de Fourier-Poisson

Fig. 5.83. Proceso de N-replicacin o M-suma.

permite definir una funcin y[n] sobre ZN , que est formada por M sumas
desplazadas x[n]. Por ello este proceso tambin suele denominarse de M-suma.

La TDF Y[k] tambin queda definida sobre ZN , y est dada por

Y[k] = X[kM].
La demostracin es sencilla. Partiendo de la definicin,
2p

N 1

Y [k] = y[n]e

kn

N 1 M 1
n=0

y teniendo en cuenta la N-periodicidad de e


periodicidad de x[n], se tiene que
N 1 M 1
n=0

r=0

x[n

e
!

2Np

kn

kn

, y asumiendo implcitamente la NN 1M 1

2p

rN]e

x[n

N k(n rN) =

2p
N

k(n rN)

n=0 r=0

2p

NM 1

rN] e
!

Y [k] = x[n

2p

r=0

n=0

rN]

x[m]e
m=0

N km
,

que tambin puede escribirse como


NM 1

Y [k] =

NM 1

2p M

x[n]e

kn

n=0

x[n]e

2p

n=0

NM

(Mk)n

= X[kM].

EJEMPLO 5.30. Replicacin de una sucesin temporal


Sea x[n] una sucesin denida sobre Z6 (es decir que N M = 6), x[n] = f3, 2, 1, 0, 1, 2g. Su TDF

X[k], tambin denida sobre Z6

, es

X[k] = f9, 4, 0, 1, 0, 4g.

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(5.154)
U.N.S. 2011

120

5. Muestreo de seales

La M-replicacin de x[n], con M = 2 (N = 3) es


M 1

y[n] = x[n rN] = x[n] + x[n 3] = f3, 2, 1g + f0, 1, 2g = f3, 3, 3g.


r=0

Es sencillo vericar que la TDF de y[n] es

(5.155)

Y[k] = f9, 0, 0g.

Comparando (5.154) con (5.154) se observa que Y[k] = X[kM], como se ilustra en la Fig. 5.83.

5.13.2. Compresin

Si x[n], X[k] son funciones definidas sobre ZN M, el proceso de M-compresin y[n] =

x[nM] permite definir una funcin y[n] sobre ZN , cuya TDF Y[k] tambin queda definida

sobre ZN , y est dada por

1 M 1
Y[k] = M X[k

`N]

`=0

como se comprueba a partir de la ecuacin de sntesis (5.152)


1
y[n] = N

N 1

2 p

1 N 1 1 M 1
=N M X[k

j N kn

Y[k]e

k=0

2 p
N

kn
2p

1N
y[n] = N

1M 1

j
M X [k `N]e

k=0
`=0
1 NM 1

NM

r=0

X[r]e

2p

`N]e

`=0

k=0

Teniendo en cuenta la N-periodicidad e

2 p

j N kn

NM 1

NM

(k `N)n =

2p

X [r]e

N rn

r=0

r(nM)

NM

= x[nM].

5.13.3. Cubo discreto de Poisson


La N-replicacin o M-suma y la M-compresin permiten establecer los pares
transforma-dos de Fourier
M 1

y[n] = x[n rM]

Y[k] =

(5.156)
X[kM],

r=0

y[n] = x[nM]

Y[k] =

M 1

X[k
`=0

`M],

(5.157)

donde x[n], X[k] estn definidas sobre ZN M, e y[n], Y[k] sobre ZN . Estos pares, junto con

las ecuaciones de sntesis (5.152) y de anlisis (5.153) para los distintos dominios
permiten recrear el cubo discreto de Fourier-Poisson que se muestra en la Fig. 5.84.

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2011

U.N.S.

5.14. Experiencias de laboratorio

121

Fig. 5.84. Cubo discreto de Fourier-Poisson.

5.14. Experiencias de laboratorio


Se comentan en esta seccin tres experiencias de laboratorio. En ambas se muestrean
seales continuas con un muestreador muy simple formado por un par de llaves analgi-cas
CMOS tipo CD4066, y algunos operacionales que actan como amplificadores/aisladores,
como se representa en la Fig. 5.85. El muestreador no es de buena calidad, pero sirve para
mostrar los efectos ms destacados del muestreo de seales.

En primer lugar se muestrea una onda sinusoidal cuya frecuencia se vara desde poco
menos de un dcimo de la frecuencia de muestreo F s hasta casi la mitad de Fs, de
modo que no se produce aliasing. En la segunda experiencia se trata con una seal
que no es de ancho de banda limitada: una onda cuadrada. Este caso es interesante
porque algunas componentes del espectro de la seal continua se replican dentro de la
banda de Nyquist, entre Fs/2 y Fs/2. Finalmente se estudia el espectro de una seal
cuadrada de frecuencia fija y ciclo de trabajo variando entre el 20 % y el 50 %.
En todos los casos se muestran las formas de onda temporales continuas y discretas, a la
entrada y salida del muestreador, respectivamente, en la columan de la izquierda, y los
espectros de la seal discreta medidos con el analizador Lab-Volt 9405 reseado en el
Captulo 2, en la columna de la derecha de las figuras. La frecuencia de muestreo es F s =
5 kHz, y el eje de frecuencias abarca desde F s hasta Fs. El pico centrado en f = 0 indica el
origen del eje de frecuencias, y no representa ninguna componente armnica de la seal.
La banda de Nyquist, comprendida entre Fs/2 y Fs/2 = fN , se indica con lnea

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122

5. Muestreo de seales

de trazos.

5.14.1. Muestreo de una onda senoidal


La Fig. 5.86 muestra los resultados de muestrear una seal sinosoidal cuya frecuencia
se vara entre 300 Hz y 2300 Hz, y por lo tanto no hay posibilidades de aliasing, es
decir que aparezcan rplicas de las componentes frecuenciales de la seal dentro de
la banda de Nyquist. En los espectros se destacan las componentes ubicadas en f0, y
las rplicas en (Fs f0). Se observa tambin que a medida que aumenta la frecuencia de la
seal estas componentes se aproximan, y eventualmente se superponen cuando la
frecuencia f0 de la seal se aproxima a la frecuencia de Nyquist, i.e., cuando f0 ! Fs/2.

5.14.2. Muestreo de una onda cuadrada


En la Fig. 5.87 se grafican los resultados de muestrear ondas cuadradas de distintas
fre-cuencias. Este caso es interesante pues al no ser una seal de ancho de banda
limitada, aparecen rplicas de las componentes frecuenciales dentro de la banda de
Nyquist. En estas condiciones no se puede asegurar una reconstruccin perfecta de la
seal contin-ua a partir de sus muestras. En algunas de las figuras, por ejemplo la que
corresponde a una frecuencia f0 = 1500 Hz, estas componentes espurias son
fcilmente detectables, como los dos picos de pequea amplitud ubicados cerca de
750 Hz. Adems aparecen componentes en frecuencias que no son mltiplos de la
componente fundamental. La am-plitud y distribucin de estas componentes dependen
de la relacin entre la frecuencia fundamental de la seal y la frecuencia de muestreo.
En la Fig. 5.88 se estudia una onda cuadrada cuya frecuencia fundamental es f 0 = 500
Hz, y con ciclos de trabajo que varan entre un 25 % y un 50 %. El espectro de la seal
con-tinua de estas caractersticas mostrara la variacin de amplitud de algunas
componentes frecuenciales, como se estudi en el Captulo 2. Sin embargo, para una
seal discreta no slo vara la amplitud sino la frecuencia de las componentes
espectrales, como se aprecia en la columna derecha de la Fig. 5.88.

Fig. 5.85. Esquema circuital de un muestreador sencillo, y las principales formas de onda.

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5.14. Experiencias de laboratorio

123

Fig. 5.86. Muestreo de ondas sinusoidales de distintas frecuencias.

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124

5. Muestreo de seales

Fig. 5.87. Muestreo de ondas cuadradas de distintas frecuencias.

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125

5.14. Experiencias de laboratorio

Fig. 5.88. Muestreo de ondas cuadradas con distintos ciclos de trabajo.

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126

5. Muestreo de seales

5.15. Los osciloscopios digitales como sistemas discretos de


proce-samiento de seales continuas
El primer osciloscopio digital fue ideado en 1971 por Hiro Moriyasu, un ingeniero japons
que en ese entonces trabajaba en Tektronix, y patentado recin en 1980 (Fig.5.89). Desde
entonces el diseo pretende emular el de los osciloscopios analgicos. En un oscilosco-pio
digital no solo se simplifica la implementacin de algunas funcionalidades como el barrido
nico o el barrido demorado, sino que se pueden agregar otras caractersticas no
disponibles en los equipos analgicos (al menos, en los de costo similar), como la visualizacin de la seal previa al disparo, mediciones de distintos parmetros de la seal,
almacenamiento de formas de onda y datos para anlisis posterior, reduccin de ruido,
promediacin, magnificacin, operaciones matemticas sobre la seal, etc.

5.15.1. Principio de funcionamiento


En la Fig. 5.90 se representa el diagrama en bloques simplificado de un osciloscopio
dig-ital. El amplificador, junto con los atenuadores, escalan las seales de entrada de
mo-do de ajustarlas al rango de tensiones admisibles del convertidor analgico/digital.
El muestreador toma muestras de la seal de entrada a la frecuencia determinada por
la base de tiempos. El conversor A/D transforma el nivel de tensin de cada muestra
en un nmero binario, que se almacenan en la memoria. Esta es barrida por otro reloj
a una velocidad adecuada para la representacin en la pantalla.
En estos osciloscopios es habitual especificar el ancho de banda analgico, que
depende de los atenuadores de entrada, amplificador vertical, muestreador, etc. y
tambin la mxima frecuencia de muestreo. Como se explica ms adelante, lo que
importa realmente es la frecuencia efectiva de muestreo, que depende tanto de la
frecuencia de muestreo como de la capacidad de memoria del osciloscopio. Aunque
muchas veces se deja de lado, tambin es importante el ancho de banda del canal de
disparo, que debe ser similar al ancho de banda del canal vertical.

5.15.2. Algunos problemas


Los avances en la tecnologa han permitido el desarrollo de mejores instrumentos,
pero todava hay algunas variables de diseo cuya eleccin resulta de un compromiso
entre costo y prestacin. Algunas de estas desventajas son:
bajas frecuencias de muestreo;
pequea capacidad de memoria;
tiempos ms lentos de actualizacin de la informacin representada en la pantalla.
errores de cuantizacin.
A continuacin se tratan brevemente cada una de ellas.

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5.15. Osciloscopios digitales

127

Fig. 5.89. Patente de un sistema osciloscopio para adquirir, procesar y mostrar


informacin, presentada en 1978 y otorgada en 1980.

Procesamiento Digital de Seales

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128

5. Muestreo de seales

Fig. 5.90. Diagrama en bloques simplicado de un osciloscopio digital.

Bajas frecuencias de muestreo


Los primeros osciloscopios digitales estaban pensados para registrar seales repetitivas, y
por lo tanto su frecuencia de muestreo estaba muy por debajo del ancho de banda del
canal vertical. Para representar adecuadamente seales comprendidas dentro del an-cho
de banda del osciloscopio se utilizaba el denominado muestreo equivalente, por el cual
cada muestra de desplazaba en tiempo una cantidad precisa. De este modo la seal
peridica queda muestreada en distintos puntos a lo largo de varios ciclos, y es posible
obtener una representacin fiel de la seal en la pantalla. Sin embargo, una baja frecuencia de muestreo aumenta las posibilidades de que ocurra distorsin por solapamiento
(aliasing) de las componentes de alta frecuencia de una seal; adems esta aproximacin
es inviable para seales no peridicas, lo que limita el modo de disparo nico a seales de
muy baja frecuencia. A medida que se dispuso de conversores ms veloces y econmi-cos
la frecuencia de muestreo se increment a tres o cuatro veces el ancho de banda del
amplificador vertical del osciloscopio (ms detalles en la Seccin 5.15.2), y en la actualidad, salvo para osciloscopios diseados para analizar seales de muy alta frecuencia (del
orden del gigahertz), el muestreo equivalente casi no se utiliza.

Pequea capacidad de memoria


Una reducida capacidad de memoria limita la cantidad de muestras que se pueden almacenar en el modo de disparo nico, y reduce el tiempo de muestreo efectivo (y por
lo tanto el ancho de banda) sobre todo en las escalas de tiempo de ms bajas (altos
s/div). La poca memoria restringe el intervalo de tiempo que puede registrarse cuando
se dis-para la adquisicin, y al haber pocas muestras la separacin entre ellas debe
ser mayor para cubrir un determinado lapso de tiempo. Esta restriccin se debe en
parte al costo de la memoria de alta velocidad, y en parte a las limitaciones de diseo
del sistema de adquisicin.
Capacidad de memoria y frecuencia de muestreo La base de tiempos de los osciloscopios digitales no slo ajusta la escala del eje horizontal en unidades de tiempo por
divisin, sino que tambin selecciona la frecuencia de muestreo con que se adquiere la
seal analgica. En el caso de los osciloscopios Agilent DSO3102A disponibles en los
Procesamiento Digital de Seales

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129

5.15. Osciloscopios digitales

laboratorios, la mxima frecuencia de muestreo es de 1000 millones de muestras por segundo (1 Gs/s). De acuerdo al ajuste de la base de tiempo, se selecciona la frecuencia de
muestreo de modo de mostrar Ns/d = 100 s/div (muestras por divisin), que es suficientemente denso como para mostrar formas de onda con buena resolucin. Hay un total de
Nd = 12 divisiones en el eje temporal, de modo que cada pantalla est formada por N s =
Ns/d Nd = 1200 muestras. De modo que la frecuencia de muestreo resulta
=N muestras,
F = N
s

NT

d BT

s/d

BT

donde TBT es el ajuste de la base de tiempo en unidades de tiempo por divisin. Por
ejemplo, si la base de tiempos se ajusta a T BT = 20 ms/div, la frecuencia de muestreo
3
es Fs = Nm/(Nd TBT ) = Nm/d/TBT = 100/20 10 = 5 ks/s (kilo-muestras por segundo).
La distorsin por solapamiento se pone de manifiesto en seales formadas por componentes armnicas de frecuencias muy distintas entre s, como se muestran en estos
ejem-plos.

EJEMPLO 5.31. Oscilogramas de seales de 20 Hz y 100 Hz


En la Fig. 5.91 se muestra una seal compuesta por una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico
sumada a una sinusoidal de 100 Hz y 1 V de pico. En la Fig. 5.91(a) se representa la seal que se
observa en la pantalla del osciloscopio cuando se ajusta la base de tiempos a 20 ms/div, lo que resulta
en una frecuencia de muestreo de 5 ks/s. En la Fig. 5.91(b) se muestra un detalle del tramo central de
la seal, obtenida con una base de tiempos 10 veces ms rpida (2 ms/div). Se observa que un ciclo
de la seal senoidal ocupa 5 divisiones, y por lo tanto su frecuencia es de 100 Hz.

EJEMPLO 5.32. Oscilogramas de seales de 20 Hz y 5100 Hz


La Fig. 5.92 muestra los resultados de aplicar una seal similar a la del ejemplo anterior,
compuesta por una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico sumada a una sinusoidal de 1 V de
pico, pero con una frecuencia de 5100 Hz. En la Fig. 5.92(a) se muestra la pantalla del
osciloscopio cuando la base de tiempos se ajusta a 20 ms/div. La forma de onda es idntica a la
de la Fig. 5.91(a)! En la gura se aprecia que hay 5 ciclos de la onda sinusoidal por cada ciclo
de la onda cuadrada, de donde se deduce que la seal senoidal tiene una frecuencia 5 veces
mayor que la de la onda cuadrada, es decir, 100 Hz. Sin embargo, si se cambia la base de
tiempos a 2 ms/div, se observa la pantalla de la Fig. 5.92(b), que revela que la frecuencia de la
seal senoidal es mucho mayor. Con buena voluntad se pueden contar 10 ciclos de la onda
senoidal por cada divisin, lo que indica una frecuencia de aproximadamente 5 kHz. Una pantalla
con una base de tiempos menor, de 200 ms/div que corresponde a una frecuencia de muestreo
de 500 ks/s, se muestra en la Fig. 5.93. En esta grca se puede calcular que la frecuencia de
la seal senoidal es aproximadamente 5 kHz (para determinar la frecuencia correcta de 5100 Hz
deberan contarse 12.24 ciclos de la onda senoidal en la pantalla).

Aunque los ejemplos pueden parecer caprichosos, este fenmeno ocurre cuando se estudian seales complejas que combinan eventos con diferentes escalas de tiempo. Tal es el
caso de seales de audio que modulan en amplitud una portadora de alta frecuencia, o
cuando se desea observar el tiempo de respuesta de fuentes conmutadas ante variaciones
en la carga o en la lnea de alimentacin. Como estas variaciones son de frecuencia muy

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5. Muestreo de seales

Fig. 5.91. Una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico sumada a una sinusoidal de 100
Hz y 1 V de pico. (a): Escala de tiempos: 20 ms/div. En cada ciclo de la onda
cuadrada hay 5 perodos de la onda senoidal. (b): La misma seal con una
escala de tiempo de 2 ms/div. Un ciclo de la seal senoidal ocupa 5 divisiones.

Fig. 5.92. Una onda cuadrada de 20 Hz y 9 V de pico sumada a una sinusoidal de 5100 Hz y
1 V de pico. (a): Escala de tiempos: 20 ms/div. En cada ciclo de la onda cuadrada
hay 5 perodos de la onda senoidal. (b): La misma seal con una escala de tiempo
de 2 ms/div. En una divisin hay 10.2 perodos de la seal senoidal.

Fig. 5.93. Detalle de la seal de la Fig. 5.92 con una base de tiempos de 200 ms/div.

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131

5.15. Osciloscopios digitales

Fig. 5.94. Respuesta en frecuencia del canal vertical del osciloscopio: respuesta tipo
ideal (a), Gaussiana (b) y Butterworth (c) .

inferior a la frecuencia de conmutacin de la fuente, en el estudio del transitorio


pueden aparecer rplicas de la ondulacin (ripple) que dificultan la medicin.
La clave para evitar posibles confusiones es observar la frecuencia efectiva de
muestreo, indicada en este caso en el extremo inferior derecho de las pantallas. En el
caso de la Fig. 5.91(a) y de la Fig. 5.92(a) , la frecuencia de muestreo es F s = 5 ks/s, lo
que justifica que la seal senoidal de 5100 Hz de frecuencia tenga rplicas en 100 Hz,
produciendo sobre la pantalla del osciloscopio el mismo efecto que una onda senoidal
de 100 Hz de frecuencia. En caso de duda, lo ms prudente es verificar la forma de
onda con distintos ajustes de la base de tiempo, o utilizar un osciloscopio analgico.
En sntesis, como demuestran los ejemplos anteriores, la baja capacidad de memoria
re-duce el ancho de banda efectivo del osciloscopio. Aunque en la actualidad la
capacidad de almacenamiento es mayor, este defecto sigue estando presente en los
instrumentos sencillos y de bajo costo.
El ancho de banda del amplificador vertical
En general, el ancho de banda del amplificador vertical del osciloscopio no coincide con la
frecuencia de Nyquist (la mitad de la frecuencia de muestreo), que indica la frecuen-cia
mxima de las componentes frecuenciales de una seal para evitar el fenmeno de
aliasing. Como se coment ms arriba, la frecuencia de muestreo depende del ajuste de la
base de tiempos del osciloscopio, mientras que el ancho de banda del canal vertical est
fijo por construccin (aunque en algunos instrumentos puede limitarse para dis-minuir la
captacin de ruido). Idealmente, el control de la base de tiempos podra ajustar el ancho de
banda de un filtro antialiasing ideal, por ejemplo del tipo que se muestra en la Fig. 5.94(a) ,
ubicado antes del amplificador vertical. Sin embargo, tal caracterstica es imposible de
construir en la prctica, y la mayora de los osciloscopios con ancho de banda menores a 1
GHz tienen lo que se conoce como una respuesta en frecuencia gaus-siana, representada
en la Fig. 5.94(b) , que decae ms lentamente que una respuesta tipo Butterworth 5.94(c).
El ancho de banda de un osciloscopio (60 MHz, 100 MHz, 1 GHz, etc.) es habitualmente el
ancho de banda de ,3 dB del canal vertical, aunque algunos fab-ricantes (por ejemplo,
LeCroy) lo especifican como la frecuencia de Nyquist (la mitad de la mxima frecuencia de
muestreo).
Es importante conocer de qu manera se especifica el ancho de banda, porque permite
evitar mediciones errneas. La Fig. 5.95 muestra el ejemplo de un osciloscopio de 500

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5. Muestreo de seales

MHz que muestrea exactamente a 1 GHz, mientras adquiere tres o cuatro canales.
Aunque la frecuencia fundamental de la seal es menor a 500 MHz, tiene componentes
frecuen-ciales que se extienden por encima de esta frecuencia. Cuando se observa en
el oscilo-scopio los flancos de la seal parecen variar en el tiempo, con diferentes
sobrepicos y velocidades de trepada. Esto es una evidencia del aliasing: una relacin
entre mxima frecuencia de muestreo y ancho de banda igual a 2, como se muestra en
la Fig. 5.96(a) no es suficiente para hacer mediciones confiables de seales digitales.
Para minimizar el muestreo de componentes frecuenciales por encima de la frecuencia
de Nyquist, otros fabricantes (Agilent, Tektronix) especifican el ancho de banda de sus
osciloscopios como el punto de 3 dB de la respuesta en frecuencia gaussiana del
canal vertical, que es 1/4 o 1/5 de la frecuencia de muestreo mxima, como se
muestra en la Fig. 5.96(b). Aunque la frecuencia de muestreo podra aumentarse an
ms, una relacin entre la frecuencia de muestreo y el ancho de banda de 4 a 1 es
suficiente para medir seales digitales con precisin.
La Fig. 5.97 muestra cmo se visualiza en la pantalla de un osciloscopio de 500 MHz
de ancho de banda una seal cuadrada con tiempos de trepada en el orden del
nanosegundo. Un ancho de banda de 500 MHz es el mnimo recomendado para
capturar una seal de estas caractersticas. Este osciloscopio es capaz de muestrear
la seal de entrada a 4 Gs/s cuando se opera en modo de 2 canales, o a 2Gs/s
cuando se opera en modo de 4 canales. La Fig. 5.97(a) muestra la operacin a 2 Gs/s,
que es el doble de la frecuencia de Nyquist, y 4 veces el ancho de banda del canal
vertical. Esta figura indica que una relacin frecuencia muestreo-ancho de banda de 4
a 1 produce una representacin estable y precisa de la seal de entrada. La diferencia
en precisin y estabilidad es significativa con el osciloscopio mostrado en la Fig. 5.95).
Si la frecuencia de muestreo se lleva al doble (4 Gs/s), de modo que la relacin entre
la frecuencia de muestreo y el ancho de banda del canal vertical es de 8 a 1, se
aprecian algunas mejoras, aunque mnimas, como se observa en la Fig. 5.97(b) . Se
aprecia que el sobrepico es ligeramente menor, pero el tiempo de trepada que se mide
es el mismo en ambos casos.

Aliasing

Fig. 5.95. Osciloscopio de 500 MHz de ancho de banda muestreando a 1 Gs/s: el aliasing es
evidente. (El ancho de banda de 500 MHz es la mitad de la frecuencia de
muestreo, y no necesarimente el ancho de banda analgico del canal vertical.)

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5.15. Osciloscopios digitales

133

Fig. 5.96. Relacin entre la frecuencia de muestreo y el ancho de banda de un


osciloscopio digital: 2 a 1 (a) y 4 a 1 (b) .

En los osciloscopios con anchos de banda del orden de 2 GHz o superiores la


respuesta en frecuencia del canal vertical tiene un corte ms abrupto, y se parece ms
a la respuesta en frecuencia de un filtro ideal que a la respuesta gaussiana. De esta
forma, aumenta la atenuacin de las componentes frecuenciales que exceden la
frecuencia de Nyquist, lo que permite bajar la relacin entre la frecuencia de muestreo
y el ancho de banda, que es del orden de 2.5 a 1 o 3 a 1.
Bajos tiempos de actualizacin de pantalla
El tiempo de actualizacin de los osciloscopios digitales caracteriza su habilidad para
efectuar mediciones repetitivas con mnimo tiempo muerto entre muestras. Una gran
cantidad de memoria de almacenamiento es til, pero impone nuevos desafos, en particular al sistema de pantalla.
En los primeros osciloscopios digitales el tiempo de actualizacin era bajo, lo que deja-ba
lapsos de tiempo sin mediciones entre medio de cada bloque de muestras. Este bajo ciclo
de trabajo, junto con la baja persistencia de las pantallas reduca la utilidad del osciloscopio
para detectar anomalas intermitentes o espordicas. Los usuarios deban confiar en las
habilidades de disparo para poder registrar esos transitorios elusivos, co-mo los glitches
(seales anmalas de muy corta duracin). El empleo de procesadores

Fig. 5.97. Onda cuadrada con tiempo de trepada de 1 ns medida con un osciloscopio de 500
MHz de ancho de banda muestreando a 2 Gs/s (a) y a 4 Gs/s (b) . La medicin es
correcta en ambos casos, con mnima mejora cuando se muestrea a 4 Gs/s.

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134

5. Muestreo de seales

Fig. 5.98. La visualizacin de varias seales con escalas reducidas disminuye el nmero
de bits con que se digitaliza la seal.

y unidades de visualizacin ms veloces han permitido aumentar la tasa de refresco


(un valor tpico en la actualidad es de 50000 formas de onda por segundo). El ciclo de
trabajo sigue siendo pequeo si la base de tiempos se ajusta para barridos muy
veloces, pero es lo suficientemente alto para la mayora de las aplicaciones.
Errores de cuantizacin
Los canales verticales de la mayora de los osciloscopios digitales tienen un amplificador o
atenuador antes del conversor analgico a digital, que usualmente es de 8 bits. Estos 256
niveles de cuantizacin estn distribuidos de manera uniforme sobre la parte visible de la
escala vertical de la pantalla. Por lo tanto, el paso de cuantizacin no es fijo, sino que
depende del ajuste (V/div) del amplificador del canal vertical.
La amplitud de la seal debe ajustarse de modo que cubra el rango completo del conversor A/D. Habitualmente, esto significa que los controles de atenuacin deben seleccionarse de modo que la seal ocupe la totalidad del rango vertical de la pantalla. Si la
amplitud de la seal es menor, el error de cuantizacin crece. Por ejemplo, si la seal
ocupa slo media pantalla, la adquisicin slo se realiza con 7 bits de precisin. Esto introduce errores en las mediciones autom ticas que suelen estar disponibles en estos instrumentos. Este error se incrementa cuando se muestran en la pantalla dos o tres seales
simultneamente, como se muestra en la Fig. 5.98. en este caso, la resolucin vertical es
de slo 6 bits, pero es posible visualizar todas las trazas y sus relaciones temporales.

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135

5.16. Resea histrica

5.15.3. Comentarios finales


Las funciones ofrecidas por los osciloscopios digitales modernos permiten obtener rpidamente la informacin relevante contenida en las seales medidas. Sin embargo,
para obtener resultados correctos es necesario que el operador conozca los principios
bsicos de funcionamiento del instrumento, y principalmente las diferencias con su par
analgi-co. En particular, los efectos de la frecuencia de muestreo (el muestreo
efectivo) y el tamao de la memoria de datos, junto con los niveles de cuantizacin de
las seales, deben tenerse en cuenta en el momento de analizar los resultados.

5.16. Resea histrica


Segn algunos autores, los orgenes de la teora del muestreo pueden rastrearse hasta
el trabajo de Cauchy, Borel, Lagrange, Laplace y Fourier, si no ms atrs. Como
muchos otros teoremas fundamentales, fue desarrollado gradualmente por varios
cientficos, y no es sencillo determinar la fecha exacta de su aparicin. Shannon, en su
clebre trabajo de 1949, comenta acerca de esta imprecisin que:
this is a fact of common knowledge in the communication art [...] but in
spite of its importance [it] seems not to have appeared explicitly in the
literature of communication theory.
Para Kluvnek (1965), el origen de este teorema difcilmente puede rastrearse, pero
Higgins (1985) mostr que esta afirmacin era un poco pesimista. En un artculo de 1999,
H. D. Lke observa que matemticos, tericos e ingenieros de comunicaciones apreciaron
los efectos del muestreo independientemente unos de otros, y los vnculos entre los distintos desarrollos no se hicieron evidentes sino ms adelante en el tiempo. Los principales
hitos en la historia del teorema del muestreo se resumen en la Tabla 5.6.

Higgins (1985) resalta que el teorema del muestreo debe en realidad considerarse en
dos partes:
la primera donde se demuestra que es posible recuperar exactamente una seal
de ancho de banda limitada a partir de sus muestras;
la segunda, que describe cmo reconstruir la funcin utilizando estas muestras
(prob-lema de interpolacin).
Ambos aspectos del teorema del muestreo fueron enunciados en una manera
ligeramente distinta por J. M. Whittaker (1925), y antes que l por el matemtico
japons K. Ogu-ra (1920); probablemente ninguno de los dos haba advertido que la
primera parte del teorema haba sido establecida en 1897 por Borel, quien para 1920
utiliz la frmula de interpolacin (que ms adelante se conocera como serie cardinal)
pero no parece haberse percatado del vnculo entre ambas partes del teorema. De
hecho, todo parece indicar que Ogura fue el primero en enunciar el teorema del
muestreo e indicar una demostracin en 1920; sin embargo, al parecer errneamente,
atribuy este resultado a un trabajo publi-cado en 1915 por E. T Whittaker (el padre de
J. M), que trataba sobre la interpolacin de funciones, y donde se investigaban las
propiedades de la funcin cardinal y se mostraba que era de banda limitada.
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136

5. Muestreo de seales

Tabla 5.6: Hitos en el desarrollo de la serie cardinal.


1841 Cauchy descubre la primera versin conocida del teorema del muestreo.
1897 Borel reconoce la posibilidad de recuperar una seal de banda limitada a
partir de sus muestras.
1915 E. T. Whittaker publica un artculo muy citado sobre la serie cardinal.
1920 K. Ogura enuncia por primera vez el teorema del muestreo, y cita como
fuente el artculo de Whittaker de 1915.
1928 H. Nyquist establece una cota sobre la velocidad de transmisin de una seal
telegrfica.
1928 K .Kpfmller establece cotas sobre la velocidad de variacin de seales
para mantener la estabilidad de un proceso de control a lazo cerrado.
1929 A. M. Whitakker acua el trmino serie cardinal.
1933 A. Kotelnikov (Rusia) publica su teorema del muestreo.
1939 H. Raabe (alemania) enuncia una versin del teorema en su tesis doctoral.
1941 W. R. Bennet publica un trabajo sobre telefona mltiplex donde cita el
artculo de Raabe.
1948 C. E. Shannon publica un artculo que inventa la teora de informacin, donde
incluye el teorema del muestreo, y cita como fuente el trabajo de Bennett.
1949 I. Someya y J. D. Weston producen independientemente versiones del
teorema en Japn e Inglaterra, respectivamente.
1959 H. P. Kramer generaliza el teorema del muestreo para funciones limitadas
en banda de forma en forma menos convencional.
1962 D. P. Peterson y D. Middleton extienden el teorema de muestreo a
mayor cantidad de dimensiones
1968 A. Papoulis publica una generalizacin del teorema del muestreo, y muestra
que un nmero de generalizaciones previas son casos particulares.
La primera formulacin clara y distintiva del teorema del muestreo se debe a Shannon
en dos trabajos publicados en 1948 y 1949; sin embargo Nyquist (1928) discuti temas
similares, vinculados a la velocidad de trasmisin de seales telegrficas, unos veinte
aos antes. Debido a que la cota encontrada por Nyquist coincide numricamente con
la mnima frecuencia de muestreo para una seal de ancho de banda limitada, con el
paso del tiempo las contribuciones de Nyquist y Shannon frecuentemente se han
confundido. Sin embargo, Nyquist nunca consider explcitamente el muestreo de una
seal en el dominio temporal.
Hay pocas dudas que el artculo de Kotelnikov publicado en Rusia en 1933 (unos quince
aos antes que Shannon) fue el primero en tratar el problema de muestrear una seal
continua de ancho de banda limitado en un contexto ingenieril, an cuando las bases
tericas del muestreo ya haban sido consideradas por un puado de matemticos. Por
motivos polticos, este trabajo no fue conocido fuera de la Unin Sovitica, mientras que el
artculo de Shannon se difundi rpidamente por todo el mundo. De manera ms verbal y
menos explcita, el teorema tambin haba sido descrito en la literatura germana
Procesamiento Digital de Seales

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5.16. Resea histrica

137

Fig. 5.99. Detalle de la patente de W. M. Miller (1903) de un circuito multiplexcuya nalidad es


permitir que un cierto nmero de comunicaciones telefnicas tengan lugar sobre una
lnea o circuito sin interferirse unas a otras: una de las primeras aplicaciones prcticas
del muestreo, an antes que se hubiese desarrollado la teora.

en la tesis de doctorado de Raabe (1939). Otros autores han destacado que I. Someya
(1949) en Japn y J. D. Weston en Inglaterra introdujeron el teorema casi simultneamente
con Shannon. Posteriormente se han publicado varias extensiones y generalizaciones del
teorema del muestreo, actividad que se contina hasta el presente.

5.16.1. Las experiencias


Los intentos de transmitir ms de una seal simultneamente sobre una lnea nica
comenzaron apenas despus que la telegrafa obtuvo sus primeros xitos comerciales
alrededor de 1840. Las primeras experiencias se basaron en la multiplexacin por di-visin
de tiempo (TDM), y las primeras propuestas, utilizando conmutadores rotativos
sincronizados se deben a F. C. Blackwell (1848), A. V. Newton (1851), y M. B. Farmer
(1853). B. Meyer (1870), J. M. E. Baudot (1874), perfeccionaron esto mtodos, y tambin
P. Lacour y P. B. Delany (1878). Es significativo no slo que estas tcnicas ubicaran las
seales de diferentes transmisores en orden cronolgico (como en el sistema de Bau-dot)
sino tambin que ciertos sistemas estuviesen equipados con conmutadores suficientemente rpidos de modo de transmitir dos muestras de cada seal elemental (el sis-tema
de Delany), haciendo innecesaria la sincronizacin adicional entre el transmisor y el
muestreador. Uno de estos conmutadores, el distribuidor del sistema de telegrafa de F. J.
Patten (de alrededor de 1891) fue utilizado para la primera demostracin de TDM de

Procesamiento Digital de Seales

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138

5. Muestreo de seales

seales telefnicas por William M. Miner, quien patent su invencin en 1903 despus
de muchos aos de experimentacin. La Fig. 5.99 muestra el esquema circuital,
0
incluyendo el distribuidor de Patten (los nmeros 3 y 3 en la figura). Miner determin
la frecuencia de muestreo (la velocidad de giro del rotor) de manera experimental:
Se entender entonces que el aparato diseado por Mr. Miner, aunque en forma
general es el mismo que se utiliza para telegrafa multiplex, debe op-erarse a
mayor velocidad de manera que la frecuencia de activacin de los contactos sobre
las diferentes ramas o sub-circuitos sea prxima en mayor o menor medida a la
frecuencia de las vibraciones que caracterizan la voz. Una tasa de conmutacin de
1000 o 2000 por segundo no servir a estos fines, pero a medida que la frecuencia
de conmutacin se incrementa por encima de los 3000, los mejores resultados se
hacen evidentes, y son mucho mejores cuan-do se alcanza una tasa de 3500 o
3600 por segundo; los resultados ptimos se obtienen para frecuencias de
conmutacin de cerca de 4300 por segundo.

Miner asumi que la frecuencia de muestreo deba coincidir aproximadamente con la


mayores componentes frecuenciales de la voz. En realidad, el aparato telefnico que
l usaba tena una frecuencia de corte de poco ms de 2 kHz, lo que alcanza para
cumplir los requerimientos del teorema del muestreo.
Como todava no haba una explicacin terica del proceso de muestreo, las
afirmaciones acerca de la frecuencia de conmutacin apropiada para sistemas de
TDM en telefona fueron particularmente vagas hasta alrededor de 1930. Por ejemplo.
L. von Kramolin en 1923 escribe en su patente sobre TDM:
...por lo tanto es posible trabajar con una frecuencia de conmutacin que
est ms all de los lmites de audibilidad, en donde se evita el ruido de
con-mutacin de los diferentes telfonos y haciendo posible una
comunicacin exenta de ruidos.
Para 1930 se haban desarrollado varios sistemas TDM para telefona; sin embargo
(Cat-termole, 1969)
la situacin hacia 1936 era que el muestro y la telefona TDM eran
conocidos empricamente, aunque la teora era rudimentaria.
Algunos autores, como M. Marro en 1938, justificaban velocidades de muestreo demasiado bajas para transmisin de voz, utilizando para el muestreo un tren de pulsos con un
ciclo de trabajo grande (y no un tren de impulsos) para un sistema TDM dplex. Lo que
ocurre es que por efectos psicoacsticos, al aumentar el ciclo de trabajo de la seal de
muestreo es posible reducir la velocidad de muestreo y conseguir el mismo nivel de inteligibilidad. Esta dependencia fue examinada cuantitativamente por G. A. Miller y J. C.
Licklider en 1959. Sus resultados, ilustrados en la Fig. 5.100, muestran que para seales
de muestreo con ciclos de trabajo pequeos (menores al 6 %) la inteligibilidad del mensaje
vocal se reduce montonamente a medida que aumenta el ciclo de trabajo (curva sobre la
derecha de la Fig. 5.100). Para pulsos de muestreo con mayor ciclo de trabajo la inteligibilidad se incrementa nuevamente para frecuencias de muestreo comprendidas entre 10
Hz y 100 Hz. En estos rangos la duracin temporal del ciclo de trabajo es comparable a la
duracin de los fonemas, y el cerebro es capaz de distinguir la palabra articulada aunque
desde un punto de vista tcnico estuviese mal muestreada.

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139

5.16. Resea histrica

Fig. 5.100. Articulacin de la palabra en funcin de la frecuencia de muestreo, con el ciclo de


trabajo como parmetro (el muestreo ideal corresponde a un ciclo de trabajo nulo).

5.16.2. La teora
Los ingenieros en comunicaciones comenzaron a trabajar en el problema de muestreo
mucho tiempo despus. H. Nyquist prob en 1928 que el nmero de seales telegrficas que puede transmitirse por una lnea es proporcional al producto del tiempo de
transmisin por el ancho de banda. El inters estaba centrado en calcular la mxima
ve-locidad de transmisin de smbolos en un canal de ancho de banda limitado, y
estaba pensado especialmente para seales telegrficas. En 1928 R. V. L. Hartley
generaliz este resultado para transmisin multinivel, y en ese mismo ao Nyquist
deriv su famoso teorema sobre la transmisin sin distorsin de seales telegrficas
(digitales o de dos niveles). Pero la transmisin sin distorsin de Nyquist y la
interpolacin libre de errores de muestras de una seal analgica son problemas
diferentes, an cuando haya algunas similitudes matemticas. Tambin en 1928 K.
Kpfmller obtuvo cotas sobre la veloci-dad de variacin de seales que aseguraban la
estabilidad de un sistema de control de lazo cerrado para controles automticos de
ganancia; pero tampoco trataba con seales muestreadas. En consecuencia, estos
trabajos no pueden considerarse como antecesores del teorema del muestreo.
El primer cientfico en formular el teorema del muestreo de manera precisa y de
aplicarlo a problemas de comunicaciones fue probablemente el ruso V. A. Kotelnikov.
En su traba-jo On the transmission capacity of the ether and wire in electrical
communications, publicado en 1933, prob el teorema del muestreo para seales tipo
pasabajo y pasaban-da. En el mismo artculo aplic el teorema para mostrar que el
ancho de banda de una seal no puede reducirse por modulacin.
El trabajo de los soviticos entre 1939 y 1940 permaneci desconocido en Occidente, y slo despus de la Segunda Guerra Mundial y en el contexto de la guerra fra se efectuaron
traducciones de investigaciones rusas de dominio pblico en ciencias e ingeniera. Antes e
inmediatamente despus de la revolucin rusa, los cientficos publicaban sus trabajos en
revistas rusas, pero especialmente en publicaciones francesas y alemanas, y muy raramente en medios ingleses. A fines de 1930 el estado sovitico desaconsej esta prctica, y
se favorecieron las publicaciones de carcter local. Este hecho, junto con la tendencia

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140

5. Muestreo de seales

a efectuar reclamos espurios sobre la prioridad rusa en ciencia y tecnologa durante la


poca de Stalin, hicieron que las recopilaciones en idioma ingls del siglo XX no
siempre reconocieran la importancia de las contribuciones soviticas.
La formulacin de Kotelnikov del teorema del muestreo es la siguiente:
Teorema I: Cualquier funcin F(t) que abarque frecuencias desde 0 hasta
f1 perodos por segundo se puede representar por la serie

F(t) =

Dk
k=

sen w (t
1

(t

2 f1

k
2 f1

(5.158)

donde k es un entero, w1 = 2p f1, y las Dk son constantes que dependen de


F(t).
Anlogamente, cualquier funcin F(t) representada por la serie de la
ecuacin (5.158) slo contiene componentes frecuencias de 0 hasta f1
perodos por se-gundo.
Teorema II: Cualquier funcin F(t) que est formada por componentes frecuenciales contenidas en el rango de 0 a f1 se puede trasmitir de manera
con-tinua con cualquier grado de precisin deseado usando nmeros
espaciados 1/(2 f1) segundos entre s. De la medicin del valor de F(t) en t
= n/(2 f1), donde n es un entero, se encuentra que

2 f1

= Dnw1

porque todos los trminos de la serie (5.158) para este valor de t tienden a
cero, con la excepcin del trmino con k = n que vale D nw1, lo que puede
establecerse fcilmente al calcular el valor del punto indefinido [aplicando
lHopital] (...) Si se trasmiten estos D k separados cada 1/(2 f1) segundos, es
posible reconstruir F(t) de acuerdo con la expresin (5.158) con cualquier
gra-do de precisin deseado.
Como este trabajo no fue publicado en revistas cientficas de fcil acceso, todos los
traba-jos tericos sobre muestreo de seales fueron surgiendo de manera
independiente. Por ejemplo, Raabe dedujo el teorema del muestreo en su tesis
doctoral de 1939. Esta publi-cacin es especialmente relevante para las aplicaciones
prcticas, ya que tiene en cuenta el efecto de utilizar pulsos de muestreo con ciclo de
trabajo finito (y no impulsos). Raabe sintetiza sus hallazgos:
Para las condiciones de transmisin demostradas, la frecuencia de
muestreo se determina por el rango de frecuencias que abarca la seal de
inters. Si este se mantiene por debajo de la mitad de la frecuencia de
muestreo, todas las componentes frecuenciales del ruido permanecen
afuera de este lmite y puede evitarse que alcancen el receptor usando un
filtro pasabajos. La trans-misin de la seal estar entonces completamente
libre de distorsin, si la fre-cuencia de muestreo es el doble de la mxima
frecuencia de la seal. El lmite superior de las frecuencias presentes en
una seal es una condicin vital para la transmisin sin distorsin de
seales en sistemas multiplex con divisin de tiempo.
Procesamiento Digital de Seales

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141

5.16. Resea histrica

Este trabajo contiene una versin especial del teorema del muestreo para seales
pasa-banda. El artculo de Raabe est citado por W. R. Bennett en un trabajo sobre
telefona multiplex de 1941, y esta publicacin a su vez, es citada por Shannon en
1949 como una de las fuentes del teorema del muestreo.
El teorema se deriva tambin en el texto japons Hakei Denso (Transmisin de
seales) de I. Someya. En Inglaterra, J. D. Weston (1949) public resultados similares
en la misma poca. Todos estos desarrollos parecen haberse obtenido de manera
independiente, y con total desconocimiento de las otras versiones.

5.16.3. Los matemticos


Para los matemticos el teorema del muestreo es un teorema particular en el campo
de la teora de aproximacin, que se ocupa de temas tales como qu funciones
pueden repre-sentarse por una suma lineal de funciones base (como funciones
algebraicas o polinomios trigonomtricos) y con qu error de aproximacin. Una de los
enfoques es determinar es-tas sumas lineales de modo que en puntos definidos tomen
los mismos valores que la funcin que se desea aproximar. El teorema del muestreo
permite resolver este proble-ma de aproximacin, con error arbitrariamente pequeo,
especialmente para funciones acotadas en el dominio frecuencia.
Una primera aproximacin fue descrita en 1765 por J. L. Lagrange, quien encuentra
una manera de hacer que una suma de funciones sinusoidales armnicas coincidas
con la funcin que debe aproximarse en n puntos equidistantes. Generalizando este
enfoque, se puede establecer que el conocimiento de 2n + 1 valores de la funcin a
aproximar, equidistantes en un perodo, son suficientes para representar una funcin
peridica de-scripta por una serie trigonomtrica, con n trminos sinusoidales, n
trminos cosinu-soidales, y una constante. Esa descomposicin de Fourier puede
pensarse como un teo-rema del muestreo para funciones peridicas de banda limitada.
H. S. Black, en su libro Modulation Theory de 1953, explica que Cauchy reconoci la
mecni-ca del muestreo de seales de ancho de banda limitada ya en 1841, y ofrece la
siguiente traduccin del texto original en francs:
Si una seal es una funcin que depende del tiempo, y el tiempo se divide
en intervalos iguales tal que cada subdivisin comprende un intervalo de T
segundos de longitud, donde T es menor que la mitad del perodo de la
mayor componente frecuencial significativa la seal, y si una muestra
instantnea se toma en cada intervalo de cualquier manera, entonces el
conocimiento de la magnitud instantnea de cada muestra junto con el
conocimiento del instante dentro de cada subintervalo en el cual la muestra
fue tomada contiene toda la informacin de la seal original
Sin embargo, Higgins (1985) nota que esta cita no figura en el artculo de Cauchy mencionado por Black, y en cambio, acredita a Borel el reconocimiento inicial sobre la serie cardinal en un trabajo de 1897, citando el siguiente pasaje traducido del original en
francs:
Considere
f (z) =

Zp
p

Procesamiento Digital de Seales

jzx

Y(x)e dx
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142

5. Muestreo de seales

y suponga que la funcin Y(z) satisface las condiciones de Dirichlet. Si se


conocen los valores de la funcin f (z) en los puntos z = 0, 1, 2, . . . , entonces la funcin Y(x) queda completamente determinada y por lo tanto la
funcin entera f (z) se conoce sin ambigedad.
Esta conexin de la serie de Fourier con el teorema de muestreo fue la base de la
expli-cacin utilizada por Shannon en su artculo clsico de 1949.
La primera propuesta para la interpolacin de funciones a partir de un conjunto de val-ores
equidistantes utilizando la funcin sen x/x fue publicada en 1908 por C. J. de la Valle
Poussin en el Bulletin Academie Royale de Belgique, aunque en este trabajo no se explora
el caso especial de la interpolacin de funciones de ancho de banda limitado.
Posiblemente el primer trabajo donde se aborda el problema de interpolacin para funciones de ancho de banda limitado es el artculo de E. T. Whittaker de 1915, Sobre las
funciones que son representables por las expansiones de la teora de interpolacin. Trata
sobre el problema de conseguir la interpolacin ms suave posible, sin singularidades y sin
oscilaciones rpidas para un conjunto dado de valores tabuladas de una funcin f (x). En
este trabajo, se define que dos funciones son cotabulares si ambas comparten las mismas
muestras uniformemente espaciadas. Whittaker demostr que bajo ciertas condi-ciones es
posible interpolar una seal a partir de valores separados no ms de w unidades siempre
que la transformada de Fourier de esa funcin no contenga ningn trmino con perodo
menor que 2w. Esta interpolacin hace uso de una funcin, denominada funcin cardinal
por Whittaker, y tiene la forma

C(x) =

r=

p
f (a + rw) sen[ w (x a rw)] ,

w (x

(5.159)

a rw)

donde a es un desplazamiento arbitrario, con las siguientes caractersticas:


La definimos originariamente como la nica funcin del conjunto cotabu-lar
que no tiene singularidades en la parte finita del plano y no tiene constituyentes cuyo perodo sea menor que el doble del intervalo tabular w.
En el prrafo anterior, el intervalo tabular es el perodo de muestreo. Whittaker
demostr tambin que la funcin cardinal es la nica funcin interpoladora que posee
estas carac-tersticas. Implcitamente postula que cada funcin cuya transformada de
Fourier est limitada a un rango de frecuencias menor que 1/(2w) (esto es, de banda
limitada) puede describirse por valores separados cada w unidades, y que puede ser
interpolada de man-era nica utilizando la funcin cardinal. La expresin (5.159) fue
denominada serie cardi-nal por J. M. Whittaker (el hijo de E. T.) en su artculo de 1925.
W. L. Ferrar destac en 1925 que el muestreo e interpolacin de la funcin cardinal
resulta nuevamente en la misma funcin, independientemente de cmo se desplacen
en tiempo los instantes de muestreo, y denomin a esta importante propiedad de
invariacin como consistencia.
Los dos artculos revolucionarios de Shannon, publicados en 1948 y 1949, fundaron la
teora de la informacin. En el trabajo de 1948, el teorema del muestreo se enuncia
como el Teorema 13:
Sea f (t) [una funcin que] no contiene frecuencias por encima de W. EnProcesamiento Digital de Seales

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143

5.17. Referencias

tonces
f (t) =

n=

donde

sen p(2Wt n)
Xn

p(2Wt n)
n

Xn = f (2 W )
El teorema se conoci como teorema de Shannon inmediatamente despus de la
pub-licacin de estos trabajos, al menos en Occidente.
Una de las formas ms tiles de este teorema se debe a Linvill (1949), quien la desarroll en su tesis doctoral en el MIT. Deriv expresiones para la transformada biltera de
Laplace, y para la transformada de Fourier de la salida de un muestreador en funcin
de la transformada de Laplace y de Fourier de la seal de entrada al dispositivo.
Mostr que el proceso de muestreo puede pensarse como una modulacin de amplitud
de un tren de impulsos. Adems, explic la interpolacin como un filtrado en el dominio
frecuen-cial con un filtro pasabajos ideal. Un notable artculo suyo publicado en 1951
discuta la aplicacin de la teora del muestreo a sistemas de control realimentados;
este trabajo fue extendido por Regazzini y Zadeh en 1952.
Casi la totalidad de los libros de procesamiento de seales siguen en enfoque de Linvill
al tratar el muestreo de seales. Aunque muchos desarrollos son previos a su trabajo,
sus ideas arraigaron fuertemente en los campos de procesamiento digital de seales y
control digital, y hoy en da parece el enfoque natural para estos temas.

5.16.4. Conclusin
El teorema del muestreo para funciones tipo pasabajos es vital en la ingeniera de
comu-nicaciones, vinculando las seales continuas con las discretas. Los distintos
nombres que el teorema ha recibido Shannon, Nyquist, Kotelnikov, Whittaker,
Someya, etc. indica la independencia de los diferentes enfoques. Esta historia
tambin pone de manifiesto un proceso muchas veces aparente en los problemas
tericos en fsica o tecnologa: en primer lugar los experimentadores establecen un
conjunto de reglas empricas, luego los teri-cos desarrollan la solucin general, y
finalmente alguien descubre que los matemticos haban resuelto el problema
matemtico subyacente con anterioridad, pero en magnfica soledad.

5.17. Referencias
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5. Muestreo de seales

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5.18. Ejercicios

5.18. Ejercicios
Ejercicio 1. Para la seal analgica xa(t) = 3 sen(100pt),
1. Dibuje la seal xa(t) para 0 t 30 ms.
2. Determine la frecuencia de la seal discreta x [n] que resulta de muestrear x a(t)
con una frecuencia de muestreo Fs =300 muestras/segundo, y muestre que es
peridi-ca. Cul es el perodo en muestras? Cul es el perodo de la seal
discreta en milisegundos?
3. Calcule los valores de las muestras de un perodo de x[n]. Dibuje x[n] en un
mismo diagrama junto con xa(t).
4. Puede encontrar una frecuencia de muestreo Fs tal que alguna de las muestras
de la seal x[n] alcance el valor pico de xa (t)? Cul es la mnima Fs apropiada
para este fin?
Ejercicio 2. Una seal analgica contiene frecuencias de hasta 10 kHz.
1. Qu rango de frecuencias de muestreo permitirn una reconstruccin exacta de
esta seal a partir de las muestras?
2. Si la seal se muestrea a Fs = 8 kHz, cul es la frecuencia w1 (discreta)
asociada a las componentes de frecuencia (analgica) f1 = 5 kHz?
3. Repita el inciso anterior para las componentes de frecuencia f2 = 9 kHz.
Ejercicio 3. La seal analgica xa (t) = sen (2p f0t) , < t < se muestrea cada T =
1/Fs segundos, donde Fs es la frecuencia de muestreo. La seal muestreada es x[n] =
xa (nT) = sen (2p f0Tn) = sen [2p ( f0/Fs) n] , < n < .
1. Grafique la seal x[n], 0 n 30 para Fs = 5 kHz y f0 = 0,5, 2, 3, y 4,5 kHz.
2. Dibuje (a mano alzada) el espectro en frecuencia de la seal analgica y el de la
seal muestreada en cada uno de los casos.
3. Repita los incisos 1 y 2 para la seal analgica xa (t) = cos (2p f0t) .
4. Explique las similitudes y las diferencias entre las diferentes grficas de las
seales muestreadas de los incisos 1 y 3, ayudndose con los espectros de las
seales corre-spondientes.
Ejercicio 4. Una seal analgica xa(t) = sen(480pt) + 3 sen(720pt) se muestrea a
razn de 600 veces por segundo (Fs = 600 Hz).
1. La frecuencia de muestreo cumple con el Teorema de Nyquist? Si la respuesta
es negativa, determine la frecuencia de muestreo apropiada para la seal.
2. A qu frecuencias aparecen las rplicas del espectro de la seal mal muestreada?

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5. Muestreo de seales

3. Cules son las frecuencias wi de la seal discreta x[n] que resulta del muestreo?
4. Si la seal x[n] se convierte en una seal continua utilizando un conversor D/A
ideal, escriba explcitamente la expresin de la seal reconstruida ya(t).

Ejercicio 5. La seal de tiempo continuo x(t) = 10 sen(2pt) + 10 sen(8pt) + 5 sen(12pt)


se muestrea a una frecuencia fs = 5 Hz. Encuentre una seal xa(t) tal que sus
muestras coincidan con las de x(t) es decir, x(n/ fs) = xa(n/ fs) pero cuyo contenido
espectral sea nulo para j f j > fs/2.
0,02t

2
I
Ejercicio 6. La seal x (t) = e
sinc(t) se muestrea cada T segundos. Se encuentra
que la transformada de Fourier X
ejw de la seal muestreada x[n] = x (t) t=nT verifica
X e
1. Cul es el mnimo
T
es
T
, explique porqu.
imposible para cualquier
jw

valor de

para el cual es posible tal resultado?. Si esto

I Ejercicio 7. Se conoce que una seal x (t) es de la forma x (t) = cos (2p f0t + f0) , con f0 =
p/4. Pedro muestrea la seal con Fs1 = 150 Hz, y encuentra que f0 = 50 Hz. Pablo
muestrea la misma seal, pero con Fs2 = 240 Hz, y encuentra que f0 = 20 Hz.
1. Es posible determinar el verdadero valor de la frecuencia f 0 en base a esta
infor-macin? Si no es posible, cules son todos los posibles valores de f0?
2. Si se sabe que f0 < 1000 Hz, es posible determinar el verdadero valor de f0?
Ejercicio 8. Un sistema lineal e invariante en el tiempo tiene la funcin transferencia H
jw
j(a/2)w
e =e
, jwj < p. Determine, justificando su respuesta, si el sistema es causal o
no cuando (a) a es par, y (b) a es impar.
Ejercicio 9. En el sistema de procesamiento digital que se muestra en la figura, el perodo

= 1 ms,

de muestreo del conversor C/D es de = 5 ms y el del conversor D/C es


en segundos).

T T respectivamente. La entrada es x(t) = 3 cos(100pt) + 2 sen(250pt) (t

1. Dibuje la forma del espectro de x[n].


2. Dibuje la forma del espectro de y(t).

3. Determine la salida c( ) si la frecuencia de corte del filtro es c = 1/(2 ). y t f T

4. Repita el inciso anterior si la frecuencia de corte es fc = 1/(2T).

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5.18. Ejercicios

149

Ejercicio 10. Una cmara de cine sensa la imagen de una marca sobre una rueda que gira
a W revoluciones por segundo. La cmara toma una imagen cada T segundos. Determine
el mximo perodo Tmax para el cual las imgenes representan el movimiento de la rueda.
Discutir que sucede si (i) T = Tmax, (ii) T > Tmax, o (iii) T < Tmax.

Ejercicio 11. La figura muestra el espectro en frecuencia de una seal analgica. Se


desea discretizar esta seal.

1. Determine la frecuencia de muestreo.


2. Se requiere filtro antialiasing? Por qu?
3. Dibuje el mdulo del espectro en frecuencia de la seal muestreada.
4. Dibuje la respuesta en frecuencia G(W) (mdulo y fase) de un mantenedor de
orden cero que trabaja a la frecuencia de muestreo determinada en el inciso 1.
5. Si el mantenedor del inciso anterior se utiliza como filtro de reconstruccin,
grafique el mdulo del espectro de la seal resultante. En base a estos
resultados, consid-era que el mantenedor de orden cero es un buen filtro
reconstructor? Proponga una solucin si la respuesta es negativa.
6. (interesante) El espectro de la figura puede pensarse como el resultado de
modular una seal y (t) con una seal m (t) = cos (2p 20 t), Cul es el espectro
de y (t)? Puede determinar una frecuencia de muestreo que permita recuperar y
(t) a partir de x(t)?

I Ejercicio 12. Una seal continua xc (t) se muestrea con un tren de pulsos p (t) de ancho t,
perodo T, y amplitud 1/t de modo que el rea bajo el pulso es unitaria.
Especficamente, xm (t)Z= xc (t) p (t) , y
xn
T nT
xc t p t
dtT
t
xc (nT) + xc (nT + t)
.
[ ] = 1 nT+t
() ( )
=1
1. Dibuje el espectro de xc (t) , xm (t) , x[n].
2. Es posible recuperar exactamente xc (t) a partir de x[n]? Si la respuesta es
afirmati-va, indique de qu manera. En caso contrario, justifique por qu no.

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

150

5. Muestreo de seales

Ejercicio 13. Para un valor apropiado de T, el sistema de la figura


1. es lineal?
2. es invariante en el tiempo?
Para cada inciso, esboce una demostracin si la respuesta es afirmativa o de un
contrae-jemplo en caso contrario.

Ejercicio 14. El sistema continuo de la figura es un elevador al cuadrado, s(t) = xc (t) y


2

Xc (jW) = 0 para jWj 2p 1000. Cul es el mayor valor de T para el cual yc(t) = xc (t)?

Ejercicio 15. El sistema discreto de la figura es un elevador al cuadrado, y[n] = x [n]


2

y Xc (jW) = 0 para jWj 2p 1000. Cul es el mayor valor de T tal que yc(t) = xc (t)?

Ejercicio 16. Para un sistema cuyo diagrama en bloques es similar al de la figura del
Ejercicio 13, el sistema continuo obedece la ecuacin diferencial lineal a coeficientes
con-stantes
2
d yc (t) + 4 d yc (t) + 3yc (t) = xc (t) .
2
dt
dt
Determine la respuesta en frecuencia H ejw del sistema discreto cuando T = 0,1 s.

at

j2p f t

0
Ejercicio 17. La seal x(t) = e e
u(t), a > 0, que no es de banda limitada, se
muestrea a una frecuencia fs = 1/T. Compruebe que:
1. La magnitud del espectro se la seal continua es:

jX( f )j =

1
2

a + [2p ( f f0)]

.
2

2. La magnitud del espectro de la seal muestreada es:


2
X(e

jw
)

Procesamiento Digital de Seales

2011

1
1 2e a T cos[w 2p f 0T)] + e 2 aT

U.N.S.

151

5.18. Ejercicios
3. La magnitud del espectro de N muestras de la seal muestreada es
X (ejw)

aTN
2aTN
cos(w 2p f0T)N + e
.
= 1 2e

1 2e

aT

cos(w 2p f0T) + e

2aT

M Ejercicio 18. Usando MATLAB, grafique los espectros del Ejercicio 17. Para facilitar la
comparacin, grafique la amplitud en dB de los tres espectros de potencia, normalizando el
mximo de cada espectro a 0 dB. Dibuje las tres respuestas en un nico grfico uti-lizando
2

jw 2

un eje de frecuencias normalizado: f / f s para jX( f )j , y w/(2p) para X(e )

jw 2

XN (e ) . Utilice los siguientes valores de los parmetros: a = 100, fs = 1000. Calcule


A
B
los espectros para dos valores de f 0, f0 = 50 Hz, f0 = 400 Hz, y tres valores de N: N 1
= 10, N2 = 20, N3 = 50.
N=10

N=50

N=20

10

10

15

15

20

20

20

25

25

25

30
35

5
10
15

30

X(f)

30

X(f)
j

X(e )
j

X(f)

X(e )
N

35

35

X(e )

40

X(e )

0.2

0.4

X(e )

X(e )

40

0.6

0.8

0.8

f0/fs,/(2)

40

0.2

0.4

0.6

0.8

0.2

0.4

f0/fs,/(2)

0.6

0.8

f0/fs,/(2)

Espectros de la seal con frecuencia portadora


N=10

f0 = 50 Hz.

N=20

N=50

10

10

10

15

15

15

20

20

20

25

X(f)

25

X(f)

25

X(f)

30

X(e )

30

X(e )

30

X(e )

X(e )

X(e )

35

35

0.2

X(e )

0.4

0.6

0.8

35

f0/fs,/(2)

0.2

0.4

0.6

0.8

0.2

f0/fs,/(2)

0.4

0.6

f0/fs,/(2)

Espectros de la seal con frecuencia portadora f0 = 400 Hz.

Comentario: En este ejemplo, como la seal se conoce analticamente, es posible


jw
calcular tanto el espectro continuo X ( f ) como el espectro discreto X(e ). Sin
embargo, para una seal arbitraria, el nico espectro de que puede conocer es X N
jw
(e ), que se calcula con la TDF de las N muestras adquiridas, con el agregado
eventual de ceros para obtener un grfico continuo.
Ejercicio 19. La figura (a) muestra un sistema de procesamiento continuo de seales
discretas. El sistema continuo con respuesta impulsiva hc(t) es un filtro pasabajos ideal
cuya respuesta en frecuencia es
1, f < 10 kHz,
Hc( f ) =
0, jj caso contrario.
en

Procesamiento Digital de Seales

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152

5. Muestreo de seales

Exprese y[n] en funcin de x[n] si:


4

1. T1 = T2 = 10 , y x[n] es arbitraria.
4

jw

2. T1 = 0,25 10 , T2 = 10 , y x[n] = [sinc(n/2)] . X(e ) se muestra en la Fig. (b).

Ejercicio 20. El osciloscopio Agilent DS03102 tiene un ancho de banda analgico de 60


MHz, y una velocidad de muestreo mxima de 1 Gs/s. La memoria de adquisin es de
4000 puntos, pero en pantalla slo se muestran 1200, a razn de 100 puntos por divisin.

1. Cul es el mximo tiempo de adquisicin cuando se utiliza la mxima


frecuencia de muestreo?
2. Cul es el menor ajuste posible de la base de tiempos?
3. Para una seal senoidal de 60 MHz (frecuencia igual al ancho de banda del
oscilo-scopio) cuntos perodos se observan en la pantalla cuando la base de
tiempos se ajusta en el valor del inciso anterior (es decir, cuando se muestrea a
la mxima frecuencia posible)?
4. El osciloscopio se conecta a un generador que entrega una onda senoidal de
1.003 kHz. cul es la frecuencia de muestreo mnima para evitar el aliasing?
Cual es el ajuste de la base de tiempos, en unidades de tiempo por divisin,
que corresponde a esta frecuencia?
5. Teniendo en cuenta que las escalas (tanto de la base de tiempos como de los
atenu-adores de entrada) siguen la proporcin 1:2:5, cul es el verdadero valor
de la base de tiempos que debe elegise en el inciso anterior? Cuntos perodos
de la seal se observan en la pantalla con la base de tiempos en esta posicin?
6. Cul debe ser el ajuste de la base de tiempos para observar en la pantalla poco
ms de un ciclo de la seal?
7. Si la base de tiempos se ajusta a 100 ms/div, cul es la frecuencia de
muestreo? Hay aliasing? Grafique la forma de onda que se observa en la
pantalla, y estime la frecuencia de la misma a partir de esta medicin.
8. Para este ajuste de la base de tiempos, grafique el espectro de la seal
analgica, el espectro de la seal muestreada, y el espectro de la seal
reconstruida, que se observa en la pantalla del osciloscopio. Compare sus
resultados con los obtenidos en el inciso anterior.

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2011

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153

5.18. Ejercicios

Ejercicio 21. Las figuras (a), (b) (c) muestran tres seales definidas en el intervalo [0,
2T] como
x(t) =
A cos 2p f0t, 0 t T = 2/ f0,
0,
en caso contrario,
y(t) =
z(t) =

A cos 2p(2 f0)t, 0 t T = 2/ f0,


0,
en caso contrario,
x(t) + y(t
T).

1. Calcular y graficar los espectros X( f ), Y( f ), Z( f ).


jw

jw

jw

2. Determinar y graficar los espectros X(e ), Y(e ), y Z(e ) de las seales de longitud finita x[n], y[n] y z[n] que resultan de muestrear x(t), y(t) y z(t) con una
frecuencia fs (la misma para las tres seales) durante 2T = 4/ f0 segundos. Cul
es el mnimo valor posible de fs? Cul es la longitud M (en muestras) de las
seales discretas?
3. Se desea distinguir la ocurrencia o no de las seales (a) , (b) o (c) usando la
TDF. De-terminar el orden N de la TDF que permite detectar fcilmente sin
ambigedades cualquiera de los casos.
4. El nmero N de muestras requeridas para la TDF, coincide con el nmero M del
inciso (2)? Es conveniente muestrear a una frecuencia mayor o menor que la
cal-culada en ese inciso? Por qu?
5. Graficar los espectros X[k], Y[k], Z[k] que resultan de calcular las TDF del inciso
anterior.
6. Cules muestras ki de X[k] (o Y[k], Z[k]) deben observarse para distinguir los casos
(a) , (b) o (c)?

Ejercicio 22. El ancho de banda de inters de una seal se extiende desde 0 hasta fM
Hz, y desde all el mdulo de su espectro decae a razn de a dB/dcada. Se dispone
de un prefiltro analgico que tiene una banda de paso plana desde 0 hasta f M Hz, y a
partir de esa frecuencia la atenuacin crece a razn de b dB/dcada. Se necesita que
en el rango entre 0 y f M las rplicas frecuenciales debidas al muestreo queden
atenuadas ms de A dB. Demuestre que la mnima frecuencia de muestreo que debe
utilizarse para cumplir este requisito es A
fs = fM
1 + 10 a+b .

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U.N.S.

154

5. Muestreo de seales

Ejercicio 23. El mdulo del espectro de la seal de entrada a un sistema es

jX( f )j =

1
p

1 + (10 f )

La mayor frecuencia de inters es de 20 kHz, y la seal se muestrea a f s Hz. Se necesita


que las rplicas ocasionadas por el muestreo queden atenuadas en ms de 60 dB relativos
a la amplitud de la seal, esto es, deben ser al menos 60 dB menores que la amplitud de
las componentes de la seal en el rango de frecuencias de inters entre 0 y 20 kHz.

1. Determine la menor frecuencia de muestreo fs que se debe adoptar si no se


coloca un prefiltro analgico.
2. Se dispone de un prefiltro analgico tipo Butterworth de tercer orden, cuya
respues-ta en frecuencia tiene magnitud
1

jH( f )j =

1 + ( f / f0)
Es necesario que la atenuacin del prefiltro en el rango de frecuencias de inters sea
menor a 1 dB. Cul es el valor de la frecuencia de normalizacin f 0 en este caso?
Cul es la mnima frecuencia de muestreo fs que debe utilizarse? Compare este
clculo exacto con el mtodo aproximado detallado en el Ejercicio 22.
Ejercicio 24. Para el sistema de procesamiento del Ejercicio 23, se fija la frecuencia
de muestreo a un valor prefijado que es menor al mnimo determinado en ese
ejercicio, pero mayor que 2 fM. Para lograr la atenuacin deseada de las rplicas
causadas por el muestreo, se utiliza un filtro Butterworth de mayor orden, con una
banda de transicin ms abrupta. El mdulo de la respuesta en frecuencia de un filtro
Butterworth de orden N es
.
1
jH( f )j =
p

2N

1 + ( f / f0)
Dada fs, determine el mnimo orden N del filtro de modo que la atenuacin en la banda de
paso sea menor que AP = 1 dB, y tal que la atenuacin de las rplicas sea superior a
A = 60 dB.
C Ejercicio 25. La figura ilustra el esquema bsico de un oscilador digital sinusoidal implementado segn la tcnica de look-up table. Las muestras de un ciclo de la seal
x[n] = cos(2pn/N), n = 0, 1, . . . , N se almacenan consecutivamente en el espacio de
memoria. La seal de salida se genera direccionando secuencialmente las distintas
posi-ciones de memoria, volviendo al principio cuando el argumento supera el valor 2p.
Es-to puede lograrse utilizando direccionamiento mdulo N (una opcin habitual en
los procesadores dedicados), es decir, implementando un buffer circular. Las muestras
de x[n] se envan al conversor D/A cada T segundos.

Procesamiento Digital de Seales

2011

U.N.S.

155

5.18. Ejercicios

1. Muestre que la frecuencia f0 de la seal de salida puede ajustarse cambiando T.


2. Si T se deja fijo, determine cuntas seales analgicas distintas pueden
generarse con la misma tabla.

Ejercicio 26. En el sistema de la figura, x[n] = xc(nT) e y[n] = x[2n].

1. Si xc(t) tiene una transformada de Fourier tal que Xc(jW) = 0, jWj > 2p 100, cul
jw

es el valor de T que asegura que X e

= 0, p/2 < jwj < p?

2. Calcule T de modo que yc(t) = xc(t).


C Ejercicio 27. El mtodo BPSK (binary phase shift keying) es una de las manera ms simples de transmitir informacin digital. Para una sucesin de bits b[n], que ocurren cada
T segundos, se genera una seal x (t) de tipo NRZ (non return to zero) haciendo
x (t) =

1,

si b[n] = 0,

1,

si b[n] = 1,

para nT

t < (n + 1)T.

donde T es el intervalo de bit de la seal. Una forma de onda tpica de este tipo de
seales se muestra en la figura.

Una seal NRZ x (t) con intervalo de bit T = 5 10


j2p f0t
compleja e
, generando la seal compleja
y(t) = x (t) e

segundos modula una portadora

j2p f0t

Se sabe que la frecuencia de la portadora est en el rango j f0j < 1000 Hz, y se desea
estimar f0 a partir de un intervalo de medicin finito de la seal BPSK modulada.
1. Explique porqu ser dificultoso estimar f0 a partir del mdulo de la TDF de y(t)
(utilizando ventanas o no). En caso de duda, experimente con MATLAB.
2. Para estimar f0 se propone el procedimiento que se detalla a continuacin.
Explique porqu este mtodo da resultados correctos, y determine el intervalo de
muestreo necesario para determinar f0 sin ambigedades.
a) Muestrear la seal y elevar el resultado al cuadrado. Es decir, calcular z[n] =
2

y (nT).
Procesamiento Digital de Seales

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156

5. Muestreo de seales

b) Estimar f0 a partir de la magnitud de la TDF de z[n].

Ejercicio 28. En la Seccin 5.11.1 se estudia el uso de un prefiltro para evitar el aliasing.
En la prctica, el filtro antialiasing no es ideal, pero las caractersticas no ideales
(atenuacin en la banda de paso, zona de transicin, etc.) se pueden compensar al menos
parcialmente con un sistema de tiempo discreto ubicado a la salida del conversor C/D. En
la figura se muestran dos sistemas de procesamiento de datos, uno de ellos con un filtro
antialiasing ideal (Sistema 1), y otro con un filtro antialiasing real (Sistema 2); las
i

jw

jw

respuestas en frecuencia del filtro ideal Ha (e ) y del filtro real Ha (e ) tambin se


jw

muestran en la figura, donde fc = Fs/2, y fp = 3Fs/8. Disear el sistema discreto H(e ) del
Sistema 2 para que las sucesiones x[n] e y[n] sean iguales.

Procesamiento Digital de Seales

2011

U.N.S.

157

5.19. Tablas tiles

5.19. Tablas tiles


Muestreo

dominio frecuencial ( f )

dominio temporal

Xc ( f )

xc(t)

PT ( f ) =1
T

d( f

Xc(W)
2p
PT (W) =
d(W kWs)
T

pT (t) = d(t nT)

kFs)

Xs( f ) = Xc( f ) PT ( f )
=1 X ( f kF )
T

dominio frecuencial (W)

xs(t) = xc(t) pT (t)

Xs(W)

= xc(nT)d(t nT)

= T k

jw

1
=T Xc

hF

2p

(w 2pk)

Xc(W) PT (W)
X(
k )
W

Ws

X( )

X(e ) = Xs( f )jf =w 2pFs 2pT


Fs
=1T Xc(w 2p
kFs)

1
=2p
1

W jW=w W2ps = wT

= 1T Xc(w 2Wps

x[n] = xc(t)jt=nT

kWs)

=T X
1

(w 2pk)

Reconstruccin

dominio frecuencial ( f )

dominio temporal

jw

w= f

jw

y[n]

Y(e )

Y ( f ) = Y(ejw)j

dominio frecuencial (W)

Fs
Hr( f ) = 0, j j
s2
T, f < 2
>

hr(t) =

w= f

= y[n] sinc
= f 2pT

si j f j < 2

Procesamiento Digital de Seales

t nT
T

2p
s =WT

Ws

jj
T, W

W2 T
<2 =T

jW j

yr(t) = n y[n]hr(t nT)


Fs

w= W W

sen T

Hr(W) = 0,

= sinc

pt

2
p

= TY(e )

pt
T

Yr( f ) = Hr( f )Ys( f )


jw

Y ( ) = Y(ejw)j

ys(t) = y[n]d(t nT)

2 p
F s = f 2pT

j fj

Y(e )

>

Yr(W) = Hr(W)Ys(W)
jw

2p

= TY(e )
j

Ws

w=W W

=WT

si Wj< 2 = T

U.N.S. 2011

158

5. Muestreo de seales

Procesamiento discreto de seales continuas

dominio frecuencial ( f )
1

jw

X(e ) =

dominio temporal

Xc( f )
k Xch Fs (w 2pk)i

xc(t)

jw

y[n] = h[n] x[n]

jw

w= f

jw

X(e ) =

x[n] = xc(t)jt=nT

Y(e ) = H(e )X(e )

Y ( f ) = Y(ejw)j

Xc(W)
1

2p

jw

dominio frecuencial (W)

jw

Xc T (w 2pk)

jw

jw

Y(e ) = H(e )X(e )

Y ( ) = Y(ejw)j

ys(t) = y[n]d(t nT)

2 p
F s = f 2pT

w =W W

2p

s =WT

yr(t) = ny[n]hr(t nT) Yr(W) = Hr(W)Ys(W)


jw
jw
= y[n] sinc t nT
= TH(e )X(e )

Yr( f ) = Hr( f )Ys( f )


jw

jw

w= f

= TH(e )X(e )
j

8
jw

He

Hc (

0,

)=

F s

jw

>
>

= f 2pT
Fs

>

>

si f >

si W < 2s
j

>

>
>
>
:

>

Ws

=WT

<

>

>
>
:

2p

0,

Hc (W) = >

w=W W

H(e )jw=W

>

>

=f2 p T

si f <

>

2p

w= f

>

>

2p
j

>
>

<

2p

si W >

Ws

Procesamiento continuo de seales discretas

dominio frecuencial ( f )
jw

Xc( f ) = TX(e )jw= f

2p

dominio temporal

dominio frecuencial (W)


jw

xc(t) = n x[n]hr(t nT) Xc(W) = TX(e )jw=WT

Fs

Yc( f ) = Hc( f )Xc( f )


jw

Y(e ) =
jw

1
T

Y ( f )j
c

yc(t) = hr(t) xc(t)


Fs

f =w 2p

H(e ) =Hc( f )jf =w

Fs

, jwj<p

2p

Procesamiento Digital de Seales

2011

y[n] = yc(t)jt=nT

Yc(W) = Hc(W)Xc(W)
jw

Y(e ) =

Y ( )j
c

W W=w W2ps = wT

jw

H(e ) = Hc(W)jW= wT , jwj<p

U.N.S.

=WT

159

5.19. Tablas tiles

Decimacin

x f [n] = x[n] hPB[n]

x[`]hPB[n `]

X ejw

, X f ejw = HPB ejw


1 M 1

[n]

=x

[nM]

ejw

M r=0

w 2pr

Interpolacin

xe[n] =

( x[n/L],
0,

si n = 0, L, 2L, . . .

, Xe

x hn

e jwL

=X

en caso contrario.

xi[n] = xe [n] hI [n] = xi[`]h[n `]

e jw

[`] [

`]

LX e

Xi e

jw

= HI
=

e jw
jwL

p/L

e jw

Xe

j<

Cambio de la frecuencia de muestreo por un factor no entero

Intercambio de filtrado y sub/sobre muestreo

Procesamiento Digital de Seales

U.N.S. 2011

160

Procesamiento Digital de Seales

5. Muestreo de seales

U.N.S. 2011

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