UNIVERSIDADE FEDERAL DE SERGIPE

CENTRO DE CINCIAS EXATAS E TECNOLOGIA

NCLEO DE PS-GRADUAO EM FSICA

DATAO ARQUEOLGICA POR TERMOLUMINESCNCIA

A PARTIR DE VESTGIOS CERMICOS DO STIO JUSTINO
DA REGIO DO BAIXO SO FRANCISCO
JOS OSMAN DOS SANTOS

ORIENTADOR: MRIO ERNESTO GIROLDO VALERIO

Dissertao apresentada ao Ncleo de

Ps-graduao em Fsica da Universidade Federal de Sergipe, para obteno
do ttulo de Mestre em Fsica.

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SERGIPE

Cidade Universitria Prof. Jos Alosio de Campos
So Cristvo SE Brasil
2002

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SERGIPE

CENTRO DE CINCIAS EXATAS E TECNOLOGIA
NCLEO DE PS-GRADUAO EM FSICA

DATAO ARQUEOLGICA POR TERMOLUMINESCNCIA

A PARTIR DE VESTGIOS CERMICOS DO STIO JUSTINO
DA REGIO DO BAIXO SO FRANCISCO
JOS OSMAN DOS SANTOS

Dissertao apresentada ao Ncleo de

Ps-graduao em Fsica da Universidade Federal de Sergipe, para obteno
do ttulo de Mestre em Fsica.

ORIENTADOR: MRIO ERNESTO GIROLDO VALERIO

abril de 2002

AGRADECIMENTOS
Ao professor Mrio Ernesto Giroldo Valerio, pelo direcionamento, orientao intensiva e
dedicao aos grupos de pesquisa do LPCM.
Aos professores do Ncleo de Ps-Graduao em Fsica pela assistncia prestada nos
momentos necessrios.
Aos pesquisadores do MAX, especialmente, Prof. Maria Cleonice de S. Vergne pelas
discusses dos resultados, e pela gentileza de ceder as peas cermicas.
CHESF e PETROBRS pelo apoio e pelo financiamento da montagem do Laboratrio
de Datao Arqueolgica por Termoluminescncia da Universidade Federal de Sergipe.
Aos tcnicos do Departamento de Fsica da Universidade Federal de Sergipe; pela colaborao nas horas difceis.
secretria Gineilda Francisca da Silva, pela dedicao, zelo nas atividades desenvolvidas e amizade.
A todos os colegas do LPCM e de curso, pelo apoio e amizade.
Aos familiares e amigos pela, compreenso.

Somos aquilo que fizemos repetidamente (Aristteles).

NDICE
CAPTULO 1 INTRODUO..................................................................................

12

1.1 Apresentao........................................................................................................

13

1.2 Projeto Arqueolgico de Xing.............................................................................

13

1.3 Mtodos de datao...............................................................................................

18

1.3.1 Datao relativa.........................................................................................

18

1.3.2 Datao por carbono 14............................................................................

20

1.3.3 Datao por fisso nuclear........................................................................

21

1.3.4 Datao atravs do decaimento argnio-potassio.....................................

22

1.3.5 Paleomagnetismo......................................................................................

22

1.3.6 Datao por Termoluminescncia.............................................................

23

1.3.7 Datao por EPR........................................................................................

25

1.3.8 Datao por OSL.......................................................................................

27

1.4 Histrico da datao por Termoluminescncia......................................................

28

1.5 Objetivos do trabalho............................................................................................

30

CAPTULO 2 FUNDAMENTOS TERICOS........................................................

31

2.1 Apresentao.......................................................................................................

32

2.2 Luminescncia.....................................................................................................

32

2.3 Introduo ao Estudo da Termoluminescncia....................................................

35

2.4 Modelos Tericos para Termoluminescncia......................................................

39

2.4.1 Modelo de Randall-Wilkins..................................................................

39

2.4.2 Modelo de Garlick-Gibson....................................................................

44

2.4.3 Modelo de Ordem Geral........................................................................

47

2.4.4 Modelo contnuo...................................................................................

49

2.5 Curvas de Emisso...............................................................................................

52

2.6 Espectro de Emisso..........................................................................................

53

2.7 Princpios da Datao por Termoluminescncia...............................................

54

2.8 Fototransferncia...............................................................................................

56

2.9 Efeitos da Pr-dose............................................................................................

56

2.10 Mtodos de Datao por Termoluminescncia...............................................

60

2.10.1 Mtodo da Curva de Calibrao.......................................................

60

2.10.2 Mtodo da Dose Adicional...............................................................

62

2.10.3 Mtodo da Pr-Dose.........................................................................

63

2.10.4 Mtodo da Fototransferncia............................................................

65

2.10.5 Problemas Potencias.........................................................................

67

CAPTULO 3 QUARTZO E SUAS PROPRIEDADES......................................

72

3.1 Apresentao.....................................................................................................

73

3.2 Quartzo...............................................................................................................

73

3.3 Defeitos Estruturais do Quartzo..........................................................................

77

3.4 - Termoluminescncia do Quartzo.........................................................................

82

CAPTULO 4 MATERIAS E MTODOS..............................................................

87

4.1 Apresentao.....................................................................................................

88

4.2 Preparao das amostras......................................................................................

88

4.3 Metodologia..........................................................................................................

91

4.4 Tratamento Trmico.............................................................................................

93

4.5 Fontes de Irradiao............................................................................................

94

4.6 Leitura da Termoluminescncia..........................................................................

95

4.7 Forno ..................................................................................................................

97

4.8 Filtro de Luz.......................................................................................................

98

CAPTULO 5 RESULTADOS E DISCUSSO....................................................

100

5.1 Apresentao....................................................................................................

101

5.2 Curvas de Emisso do Quartzo da Regio de Xing.......................................

101

5.3 Espectro de Emisso do Quartzo de Xing.....................................................

104

5.4 Influncia da Lavagem das Amostras Com cido Fluordrico.........................

109

5.5 Decaimento do Pico de 110 C Temperatura Ambiente..............................

111

5.6 Efeito da Pulverizao das Amostras...............................................................

113

5.7 Teste do Plat..................................................................................................

114

5.8 Taxa Anual de Dose.........................................................................................

115

5.9 Determinao das Idades das Peas Cermicas...............................................

116

5.9.1 Pr-dose.............................................................................................

116

5.9.2 Dose Adicional..................................................................................

117

5.9.3 Fototransferncia...............................................................................

120

5.9.4 Consideraes Sobre os Mtodos Utilizados....................................

121

5.9.5 Calibrao.........................................................................................

123

CAPTULO 6 CONCLUSES ............................................................................

125

SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS..............................

129

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS...............................................

131

APNDICE..............................................................................................................

136

LISTAS DE FIGURAS

Figura 1.1 Mapa de localizao da regio do stio Justino na regio de Xingo-SE...................17

Figura 1.2 Figura representado o aumento da intensidade do pico TL em funo da idade do
vestgio............................................................................................................................................24
Figura 1.3 Diagrama de blocos dos sistema de leitura ESR.....................................................26
Figura 1.4 Curva tpica de decaimento OSL de uma amostra de quartzo..................................27
Figura 2.1 Esquema de nveis de energia para os processos envolvidos nos fenmenos de fluorescncia e fosforescncia...............................................................................................................34
Figura 2.2 Organograma de classificao dos fenmenos de luminescncia.............................35
Figura 2.3 Diagrama de bandas de energia para um slido........................................................36
Figura 2.4

Figura representativa de uma estrutura de bandas para um slido defectivo............37

Figura 2.5 Figura ilustrativa de bandas de energia envolvidas nos processos que geram a termoluminescncia.................................................................................................................................................38
Figura 2.6 Diagrama de nveis de energia envolvidos no modelo de Randall-Wilkins para a
termoluminescncia........................................................................................................................40
Figura 2.7 Curva de emisso obtida de acordo com o modelo de Randall-Wilkins...................43
.

Figura 2.8 Curvas de emisso calculadas de acordo com o modelo de Garlick-Gibson............46

Figura 2.9 Curvas de emisso calculadas de acordo com o modelo de ordem geral.................48
Figura 2.10 Curvas de emisso calculadas segundo o modelo de bandas de energia contnua..51
Figura 2.11 Curva de emisso par uma amostra de quartzo natural e irradiado com 5 Gy........52
Figura 2.12 Diagrama representativo mostrando os centros de recombinao e luminescncia
para um material hipottico............................................................................................................54
Figura 2.13 Figura do processo de sensibilizao do pico TL por efeito de pr-dose...............57
Figura 2.14 Diagrama de nveis de energia para uma estrutura de armadilhas de eltrons e buracos...................................................................................................................................................58
8

Figura 2.15 Curva de calibrao para uma amostra hipottica...................................................61

Figura 2.16 Curva obtida de acordo com o mtodo da dose adicional.......................................63
Figura 2.17 Curvas de emisso TL exibindo o efeito da fototransferncia................................66
Figura 2.18 Curva do teste do plat para uma amostra hipottica.............................................69
Figura 2.19 Correo da extrapolao linear da curva intensidade em funo da dose adicional
para um material hipottico............................................................................................................70
Figura 3.1 Estrutura bsica dos silicatos....................................................................................74
Figura 3.2 Estrutura do quartzo-..............................................................................................75
Figura 3.3 Estrutura da tridimita e da cristobalita......................................................................76
Figura 3.4 Figura representativa dos defeitos Frenkel e Schottky.............................................78
Figura 3.5 Modelo de uma vacncia de oxignio na rede de um silicato...................................79
Figura 3.6 Rompimento de uma ligao de oxignio-silcio no quartzo....................................80
Figura 3.7 Curva tpica de emisso TL do quartzo de Xing.....................................................83
Figura 4.1 Foto de uma pea cermica e dos gros de quartzo extrado da pea.......................89
Figura 4.2 Diagrama da seqncia necessria preparao das amostra para procedimentos de
datao arqueolgica por TL..........................................................................................................92
Figura 4.3 Esquema de irradiao com a fonte de radiao-....................................................94
Figura 4.4 - Esquema de irradiao com a fonte de radiao-.....................................................95
Figura 4.5 Diagrama de blocos do aparato experimental para leitura TL...................................96
Figura 4.6 Diagrama de blocos do forno utilizados nos tratamentos trmicos...........................98
Figura 4.7 Curva de absorbncia do filtro calrico....................................................................99
Figura 5.1 Curvas de emisso TL do quartzo extrado de vestgios cermicos........................102
Figura 5.2 Curva de emisso do quartzo extrado da cermica e tratado termicamente a 500
C....................................................................................................................................................103
Figura 5.3 Espectro de emisso do quartzo natural de Xing..................................................105
9

Figura 5.4 Curva de nvel do espectro de emisso TL do quartzo natural...............................106

Figura 5.5 - Espectro de emisso do quartzo tratado a 550 C durante 2 horas............................107
Figura 5.6 - Curva de nvel do espectro de emisso TL do quartzo tratado a 550 C..................108
Figura 5.7 Curvas de emisso de amostras submetidas a tratamento qumico com HF com diferentes intervalos de tempo............................................................................................................110
Figura 5.8 Curva do decaimento da intensidade do pico TL em funo do tempo de lavagem
em HF...........................................................................................................................................110
Figura 5.9 Decaimento do pico de 110 C temperatura ambiente...........................................112
Figura 5.10 Curva da intensidade do pico TL em funo do tamanho mdio dos gros.........113
Figura 5.11 Curva do teste do plat para o quartzo de Xing..................................................114
Figura 5.12 Curvas de emisso utilizadas para datao por efeito de pr-dose.......................116
Figura5.13 Curvas de emisso TL do quartzo extrado da cermica e irradiado a diferentes
dose de radiao............................................................................................................................117
Figura 5.14 Grfico da intensidade do pico TL de 300 C em funo da dose de radiao adicional para fase 8.............................................................................................................................118
Figura 5.15 Grfico da intensidade do pico TL de 300 C em funo da dose de radiao adicional para fase10............................................................................................................................119
Figura 5.16 Grficos utilizados para datao arqueolgica por fototransferncia...................120
Figura 5.17 Diagrama mostrado o esquema de fases nos stios arqueolgicos de Xing........122
Figura 5.18 Curvas de emisso TL de amostras de quartzo extrados da cermica, tratados termicamente e irradiados com diferentes doses..............................................................................123

10

ABSTRACT

In this work we present the results of the archeological dating of ceramic tracks found at excavations in the area of San Francisco River, Sergipe/Brazil. The thermoluminescence datings were
done using the quartz extracted from the ceramic tracks Additional dose, phototransference and
pr-doses effects were used as the dating methods. It is also presented results concerning the effect of the HF etching, grain sizes of the samples, visible light influence and the effect of the
thermal treatments. It was shown that when the quartz were submitted to a thermal treatment
changes were induced in the luminescence centers . It was observed that the spectrum of emission
of the natural quartz presented two main emissions, one at 270nm and other at 470nm attributed
to the [AlO 4 ]0 and the quartz thermally treated presented a main emission at 370nm attributed to
[H3 O4 ]0 .
The archeological ages determined by thermoluminescence dating in this work are compatible with the results presented by radiocarbon dating in skeletons found in the same phase of
the excavation, very close to the ceramic pieces used in this work. In one of the phases, it was
obtained a 2800 250 years age and the dating of a skeleton in this phase, accomplished in the
Center of Dating by Radiocarbon of the University Claude Bernard Lyon, France, certified a
2530 180 years age. It shows that the methods as presented in this work are efficient in ceramic tracks dating.

11

CAPTULO 1 - INTRODUO

12

1.1- APRESENTAO

Ao longos dos anos os mtodos empregados em Fsica, na caracterizao e estudos das

aplicaes de diversos materiais, tm sidos empregados em vrios campos do conhecimento humano, desde da engenharia at as reas, aparentemente, dissociadas da Fsica como a Arqueologia.
No captulo inicial deste trabalho procura-se fazer uma relao das cincias Fsica com a
Arqueologia, especificamente. So abordados os mtodos empregados na Fsica para auxiliar os
arquelogos na soluo de um dos seus maiores desafios, que a determinao das idades dos
vestgios encontrados.
Na seo 1.2 dado a idia geral do Projeto de Salvamento Arqueolgico de Xing. Para
tal, feito uma pequena abordagem do contexto de surgimento do mesmo, bem como a localizao da rea de estudo do projeto e a importncia de uma alternativa de datao, em relao ao
mtodos de radiocarbono que, neste trabalho, sugere-se que seja os mtodos de Termoluminescncia.
Na seo 1.3 abordar-se-o vrios mtodos de datao arqueolgicas, desde dos mtodos
relativos at os mtodos de datao absoluta. Dar-se nfase aos mtodos de datao baseados no
fenmeno da radiao, seja na medida direta da emisso da mesma por materiais radioativos,
como no caso das tcnicas de radiocarbono; seja na medida indireta dos efeitos interao da matria com a radiao, como no caso das dataes por EPR, OSL ou TL.
Nas duas ltimas sees deste captulo, 1.4 e 1.5, desenvolvido, respectivamente, um
pequeno histrico dos mtodos de datao por termoluminescncia, tendo em vista que neste trabalho as dataes efetuadas esto baseadas neste fenmeno, e a definio dos objetivos gerais
deste trabalho.

1.2- PROJETO ARQUEOLGICO DE XING

O relacionamento da Fsica com outros ramos do conhecimento humano propiciou e tem

propiciado aos povos, ao longo do tempo, subsdios para que os mesmos usufruam de uma melhor qualidade de vida e que possam aproveitar dos recursos presentes no ambiente natural em
que vivem, respeitando-o e preservando-o para as futuras geraes.
13

Dentro desta perspetiva a Fsica tem contribudo e adentrado em vrias reas do conhecimento, inclusive em reas aparentemente descomprometidas com a Fsica; porm, quando analisadas no seu mago, percebe-se uma relao mtua entre a Fsica e estas reas, geralmente, provendo recursos tericos e tecnolgico para desenvolvimento das mesmas. Uma destas reas em
que a Fsica tem dado uma contribuio significativa a arqueologia, tanto na prospeco dos
stios como na caracterizao e, principalmente, dataes dos vestgios encontrados nos stios.
A Arqueologia na tentativa de reconstituir o passado da humanidade cerca-se de uma variedade de informaes, tendo em vista a grande complexidade em relacionar os vestgios encontrados com determinada cultura, ou de relacionar as vrias culturas, no intuito de entender o processo de ocupao do planeta. Para minimizar as dificuldades e dar suporte s suas pesquisas os
arquelogos recorrem s diversas reas do conhecimento humano. No caso da Fsica, especificamente, as maiores contribuies so pertinentes s dataes dos vestgios encontrados nos vrios
stios arqueolgicos distribudos por todo globo terrestre. Dessa forma, a Fsica coloca disposio da arqueologia as mais distintas tcnicas para datar uma ampla gama de materiais (matria
orgnica, cermicas, materiais lticos, etc.), permitindo assim, que a Arqueologia estabelea a
relao entre as vrias culturas, bem como a sua contemporaneidade.
Na atualidade, um dos maiores enigmas encontrado pelos arquelogos entender o processo da ocupao humana do continente americano, antes da chegada dos homens europeus, por
volta do nicio do sculo XV, como resultado do expansionismo martimo, liderado por Portugal,
Espanha e Inglaterra. Segundo as pesquisas efetuadas no continente americano pelos especialistas
do ramo (arquelogos, antroplogos, historiadores, bilogos, etc.), h um consenso majoritrio de
que a ocupao da Amrica se deu atravs do Estreito de Bering, entre a Sibria e o Alasca, por
volta de 35.000 anos atrs (Carvalho;2000); determinando, dessa forma, que a populao do novo
mundo fora constituda, exclusivamente, por ancestrais mongolides, ou seja, admitem uma homogeneidade biolgica dos amerndios. Contudo, outra parte dos estudiosos concorda que a fo rmao do povo americano originou-se a partir de uma miscigenao de grupos de diversas caractersticas somticas, de diversas procedncias (algumas pelo Estreito de Bering, outras atravs
do Oceano Pacfico e da Antrtida ); sustentando assim; uma teoria pluriracial. Portanto, h divergncias muito fortes nos posicionamentos dos especialistas, levando-os a repensar sobre a
ocupao do continente americano. H inclusive uma proposta da antroploga Nide Guidon
(Prous; 1992) admitindo que os primeiros grupos chegaram Amrica a pelo menos 70.000 anos,
14

baseando-se em dataes efetuadas em vestgios encontrados em So Raimundo Nonato, Piau,

mostrando a complexibilidade da ocupao da Amrica.
A reconstruo da pr-histria brasileira emerge de inmeros vestgios encontrados no
espao que ora ocupamos, sendo que os principias artefatos presentes no estudo da pr-histria do
Brasil so as pedras manipuladas para confeco de instrumentos, os fragmentos cermicos, ossos de animais e conchas (sambaquis). Para o estudo da pr-histria brasileira costuma-se dividila em dois perodos: culturas do pleistoceno (anterior a 12.000 anos antes do presente) e culturas
do holoceno (posterior a 12.000 anos antes do presente).
Das culturas pleistocnicas, os artefatos recolhidos so instrumentos lticos de corte (choppers e chopping-toll), batedores, lascas e ncleos trabalhados, fogueiras e ossadas. Com relao
a este perodo, as dataes correspondentes aos primeiros contigentes de caadores-coletores tm
causado controvrsia entre os arquelogos, pois em alguns estados brasileiros h dataes que
apontam a presena humana antes de 12.000 anos (em Minas Gerais, por exemplo, a cultura do
homem Lagoa Santa); porm, h dataes que recuam a presena do homem a mais de 14.000
anos, especificamente, nos stios de Boqueiro da Pedra Furada e do Meio, no estado do Piau,
que apresentam dataes de mais de 50.000 anos antes do presente.
O perodo do holoceno subdividido em duas fases, culturas pr-cermicas, situada entre
12 a 5 mil anos antes do presente, e culturas dos ceramistas, situadas a partir de 5 mil anos do
presente.
Nas culturas pr-cermicas, a pedra era utilizada para fabricar artefatos que englobavam
ferramentas, armas e objetos de adorno. Tendo em vista que neste perodo no existia a presena
de artefatos de origem cermica, as culturas so classificadas, nesta fase, a partir da tipologia
ltica; sendo que no Brasil so consagradas duas tradies: a Umbu, com dataes obtidas no planalto meridional, e a tradio Humait, com dataes prximas de 6.000 anos, tpicas de reas de
baixa altitude. Alm dessas tradies, no litoral destaca-se os importantes stios arqueolgicos
denominados de sambaquis (em Tupi significa amontoado de mariscos ou conchas), com dataes entre oito e dois mil anos antes do presente.
Devido a intensificao das atividades agrcolas, resultando no crescimento vegetativo
dos grupos, com a fixao do homem a um determinado local; surgiram as culturas ceramistas,
cuja atividade teve presena em todas as regies do Brasil. A arqueologia brasileira tipificou v-

15

rias culturas, como as culturas meridionais, tradies Taquara e Itarar e as culturas de Brasil
central e nordeste, tradies UNA e Aratu.
A cermica da tradio Itarar apresenta-se pouco decorada, baixa coco, paredes finas e
base convexa, sendo que o antiplstico utilizado a areia e o quartzo. A Taquara, apresenta-se
com uma pasta fina e homognea e, diferente da primeira, 50% dos fragmentos encontrados so
decorados.
Com relao ao Brasil central e nordeste, as tradies UNA situaram-se nos estados do
Rio de Janeiro, Espirito Santo, Minas Gerais e Gois. A UNA mais antiga (prxima a 4.000 anos
antes do presente) caracterizada pelo uso do antiplstico vegetal, ausncia de decoraes e de
baixa coco. A UNA mais recente caracterizada por uma cermica negra e o uso da prpria
argila como antiplstico.
A tradio Aratu ocupa uma vasta rea do nosso territrio, de So Paulo a Mato Grosso e
Gois e do litoral da Bahia ao Rio Grande do Norte, e neste contexto que esta includo o estudo
da pr-histria sergipana (Prous; 1992).
Em Sergipe, a tradio Aratu a tradio que se apresenta com o maior volume de informaes,
contudo existem evidncias de culturas anteriores a esta, como a cultura Canind, com dataes
obtidas com carbono14 de cerca de 9.000 anos antes do presente. (Carvalho; 2000) Como nosso
trabalho est relacionado com est cultura, teceremos maiores detalhes sobre ela.
O estudo da cultura Canind est fundamentado nas pesquisas efetuadas na regio ribeirinha do Baixo So Francisco, especificamente no municpio de Canind de So Francisco, situado
no noroeste do estado de Sergipe (Figura 1.1). Contudo, a regio estudada compreende desde a
jusante da Hidroeltrica de Paulo Afonso IV at o eixo da barragem da Hidroeltrica de Xing.
O estudo desta cultura iniciou-se recentemente e foi intensificado devido construo do
Hidroeltrica de Xing. Em virtude do alagamento da regio que iria compor a represa da mesma,
foi necessrio implementar um projeto de salvamento arqueolgico, visto que na regio foi detectado uma grande quantidade de vestgios. Este projeto desenvolvido pela Universidade Federal de Sergipe, com apoios da CHESF e Petrobrs.

16

Figura 1.1- Esta figura corresponde ao mapa de localizao da rea estudada. A rea estudada corresponde
parte circulada no mapa (noroeste do estado de Sergipe).

A rea estudada pelo projeto Arqueolgico Xing (PAX) compreende sondagens e escavaes em stios arqueolgicos sediados em terraos e afluentes do rio So Francisco, em canyon,
inundado com o represamento das guas do rio, em Xing. Os stios ocupam os topos ou flancos
do terrao e alguns abrigos em riachos afluentes.
O salvamento arqueolgico da rea que foi inundada pela barragem permitiu a identificao, sondagem e escavao de 28 stios classificados como de acampamento; 11 classificados
como habitao e 2 considerados como de habitao e enterramento (So Jos e Justino), que
17

acabam sendo os mais importantes. De todos esses stios foi recuperada uma expressiva coleo
arqueolgica, disponvel no MAX (Museu Arqueolgico de Xing); entre outros elementos,
7.802 peas lticas, 21.790 peas cermicas, mais de 20.000 restos faunsticos, 49 fogueiras e 191
esqueletos (relatrio final do projeto arqueolgico de Xing).
Tendo em vista a grande quantidade de vestgios cermicos encontrada nos stios escavados, como citado acima, levantou-se a possibilidade de dat-los utilizando as tcnicas termoluminescentes, pois as dataes efetuadas atravs do carbono 14 so bastantes dispendiosas para o
projeto. Pode-se, ento ,perceber a importncia deste trabalho para a Arqueologia em Sergipe,
visto que o conjunto cermico de Xing tem grande expresso; sendo um dos maiores acervos de
cermicas associados a ritos funerrios do Nordeste que correspondem ao Stio arqueolgico Justino. As cronologias obtidas com dataes efetuadas por carbono-14 nos remetem a ocupaes
desde 4340 a 1280 BP 1 no Stio Justino, e as duas dataes oriundas do Stio So Jos II, 3500
110 e 4140 90 BP, corroboram essa ocupao antiga. Com possibilidade de se ter uma seqncia de dataes mais completa, pois existem muitas amostras ainda no datadas, os pesquisadores, em Arqueologia, podero traar o perfil da ocupao humana na regio, inserindo o conjunto
cermico de Xing em todo o contexto das tradies cermicas encontradas no Brasil..

1.3- MTODOS DE DATAO

Uma sucesso de datas, dos vestgios encontrados nos stios arqueolgicos, permite determinar as relaes que as culturas tiveram entre si, bem como a sua durao, ou estabelecer a
sua contemporaneidade. Deve-se desenvolver mtodos eficientes para datar estes vestgios, que
podem ser classificados em mtodos relativos ou absolutos, no entanto, alguns pesquisadores
preferem dividir estes mtodos em trs grupos (FRDRIC, 1980):
Mtodos de datao relativa (paleomagnetismo e estratigrafia);
Mtodos de datao baseados em quantidade de istopos radioativos e seus derivados
(40 Ar/39 Ar, K/Ar, U/Pb, Rb/Sr, Sm/Nd, Re/Os, 230 Th/234 U, Sries do U, 14 C);
mtodos baseados em danos de radiao cumulativos causados no material geolgico (Traos
de Fisso, TL/OSR, ESR).
1

BP (Before Present), da nomenclatura internacional indicando uma idade antes do presente, considerando o ano de
1950 como referncia.
18

De acordo com esta classificao far-se-, neste seco, uma apresentao das bases dos
principais mtodos de datao utilizados atua lmente.

1.3.1- DATAO RELATIVA

Os mtodos de datao relativa determinam a ordem que os eventos pr-histricos ocorreram, porm no trazem informaes sobre a durao do acontecimento, pois, neste caso, definese evento como um padro, e a partir deste , na maioria das vezes, determinar os eventos anteriores e posteriores (FRDRIC; 1980). Dentre os mtodos de datao relativas destaca-se o mtodo estratigrfico.
A estratigrafia de um stio est baseada no fato de que, nas estruturas que se sobrepem, a
estrutura inferior a mais antiga. Tudo o que possui uma durao, tudo que d lugar a uma sucesso, a uma sobreposio, determina uma estratigrafia. Toda histria do universo, do homem,
uma estratigrafia, porm deve-se ressaltar que a estratigrafia realizada em um determinado estudo
no vlida universalmente. Em Arqueologia, uma estratigrafia s vlida para o lugar em que
se estuda; assim , preciso distinguir, nas estratigrafias, os lugares onde estas se encontram. Pela
comparao das estratigrafias pode-se estabelecer certos laos, quer histricos quer culturais,
visto que o ser humano, objeto principal do nosso interesse, no s se desloca, como possui uma
grande variedade de culturas. Estas ltimas podem estar sobrepostas no tempo, mas esto tambm, para cada perodo, disseminadas no espao. Ao estudar uma estratigrafia de um dado ponto,
deves-se levar em conta que ela apenas d uma indicao relativa, somente vlida para um espao
muito limitado.
Geralmente, nas dataes relativas, h uma possibilidade de associar a arte rupestre a um
determinado grupo, ou grupos humanos; pois atravs da anlise dos elementos grficos das cermicas e pinturas corporais, pode-se estabelecer o nvel de desenvolvimento tecnolgico empregados pelo grupo. Quando possvel fazer um paralelo entre o nvel de desenvolvimento cultural e
tecnolgico com um determinado grupo, pode-se fazer uma prospeco prximo da regio e inferir uma data para a arte encontrada em um determinado stio. Contudo, devido s limitaes dos
mtodos de datao relativa, h uma necessidade de se recorrer a laboratrios especializados a
fim de se estabelecer uma idade mais precisa, recorrendo-se assim, aos mtodos absolutos.

19

1.3.2- DATAO POR CARBONO-14

O carbono-14 presente nos organismos vivo s formado nas camadas superiores da atmosfera pelo bombardeamento do azoto com nutrons lentos provenientes dos raios csmicos, num
processo em que a reao predominante
14
6

N + 01 n146 C +11H

(1.1)

Este carbono 14 combina-se com o oxignio atmosfrico para formar o CO2 radioativo,
com meia-vida de 5 730 anos, e espalhado pela atmosfera sendo absorvido pelos organismos vivos. Quando os organismos morrem, terminam-se as trocas de CO2 com a atmosfera e, em virtude disso, a concentrao de carbono 14 presente no organismo comea a diminuir ( a desintegrase ) enquanto que a quantidade de carbono 12 permanece constante. A desintegrao desse radionucldeo segue uma cintica exponencial de 1 ordem, ou seja a cada meia vida a atividade radioativa da pea cai pela metade, de forma que a idade da pea a ser datada dada pela equao
(1.2)
t = 8035 ln

A0
A

(1.2)

Onde A0 representa a atividade no momento da morte do organismo e A representa a atividade

atual.
Portanto, a determinao da idade t (expressa em anos) limita-se determinao de A0 e
A . Porm, na prtica, o problema no to simples, devido ao fato de a radiao correspondente
atividade A ser inferior radiao de fundo, e com isso, a medida da mesma apresenta srias
dificuldades. Alm dessas dificuldades podemos citar diversos problemas quando empregamos
este mtodo de datao. Citaremos alguns desses problemas:
a) Neste mtodo necessrio admitir que a concentrao de 14 C constante no tempo e no espao e que o teor de carbono-14 o mesmo para qualquer ser vivo, pois s assim possvel determinar A0. Porm, de acordo com os estudos baseados na dendrocronologia, no possvel
admitir a constncia da concentrao de carbono 14 na atmosfera e nos seres vivos, pois estes
estudos indicam que a concentrao de carbono 14 variam em funo da atividade solar
(FRDRIC; 1980);
b) No possvel precisar se a percentagem de carbono 14 que foi absorvida, outrora, pela organismo a mesma que hoje para as espcies conhecidas nos dias atuais.
20

c) A amostra pode ser ter sido contaminada com razes ou cido hmico;
d) Devido fraca atividade do carbono 14, a determinao de idades por esse mtodo limitada,
sendo o limite superior de cerca de 50 000 anos, alm disso deve-se ressaltar que quanto menor a atividade maior o percentual de erro.
Alm dessas dificuldades, devemos citar que a meia-vida do carbono 14 ainda no est absolutamente determinada., O congresso de Viena fixou que a meia vida est no intervalo de 5 720
40 anos; atualmente aceita-se 5 730 50 anos, mas o verdadeiro valor da meia-vida do carbono
14 est para ser determinado.
Apesar das dificuldades apresentadas, este o mtodo de datao absoluta mais utilizado,
pois pode ser aplicado a espcimes provenientes de qualquer parte do globo terrestre e no tem
ligao com fenmenos geolgicos necessariamente localizados.

1.3.3- DATAO POR FISSO NUCLEAR

Sempre que existem traos de urnio 238 numa determinada rocha ou areia, e at mesmo
em alguns corpos orgnicos, temos disposio um mtodo eficiente para se determinar a idade
do material encontrado; pois diferentemente do urnio 235, o urnio 238 um istopo instvel de
meia-vida em torno de 1016 . O processo qual este istopo fica sujeito denominado de fisso
nuclear, de forma que este elemento divide-se em elementos mais leves e, devido aos princpios
de conservao de energia e quantidade de movimento, o material resultante da fisso adquire
energia suficiente para causar danos estrutura cristalina do material. Utilizando-se um microscpio eletrnico, pode-se identificar os traos causados pela fisso do urnio 238. Aps o mapeamento desses traos produz-se, artificialmente, a fisso do urnio 235 na mesma amostra e,
comparando estes traos, possvel estabelecer um modelo matemtico para se determinar a concentrao de urnio 238 presente na amostra, e assim, determinar a idade da mesma.
O mtodo da fisso de urnio 238 apresenta algumas caractersticas importantes, visto que
pode ser aplicado a materiais no orgnicos, diferentemente do mtodo do carbono 14, e pode ser
aplicado para se determinar idades de at 4 a 5 bilhes de anos, que seria impossvel pelo mtodo
do carbono14. Graas a este mtodo , a General Electric Research pode datar com exatido a idade de um esqueleto de homindeo encontrado na Tanznia, na garganta de Olduvai (FRDRIC,
1980).
21

1.3.4- DATAO ATRAVS DO DECAIMENTO ARGNIO POTSSIO

De acordo com a literatura, o potssio encontrado na natureza composto de uma mistura

de istopos

39

K (93,26%),

41

K (6,73%) e

40

K (0,0117%), sendo que o istopo

40

K radioativo

(BROWN;1977, pag. 68-77). Baseando-se nas propriedades radioativas deste istopo pode-se
desenvolver um metodologia para datao arqueolgica e geolgica, pois conhecido que
89,52% dos tomos de

40

K emitem um eltron (radiao ) transformando-se em

40

Ca com uma

constante de desintegrao igual a 4,962.10-10 tomo/ano; sendo que os 10,48% restantes capturam um eltron transformando-se em

40

Ar com uma constante de desintegrao equivalente a

0,581.10-10 tomo/ano.
Uma vez que a taxa de desintegrao total a soma das taxas de desintegrao dos dois
tomos, e levando em considerao que a amostra a ser datada continha potssio e inicialmente
nenhum argnio, pode-se estabelecer a relao entre a concentrao de

40

Ar (argnio-filho) e de

40

K (potssio-pai) para determinar a idade da amostra.

Deve-se citar que o mtodo do potssio- argnio s utilizvel em objetos cuja formao

, no mnimo, de 100.000 anos, pois abaixo desse limite extremamente complexo se determinar
concentrao dos istopos resultante do decaimento. Sendo assim, este mtodo de pouca utilidade em datao arqueolgica, porm de muita utilidade em datao geolgica.

1.3.5- PALEOMAGNETISMO

Alm dos mtodos de datao fundamentados nas propriedades radioativas dos materiais
constituintes da peas, pode-se, tambm, utilizar as propriedades magnticas para complementar
os estudos da cronologia de um determinado stio. Este campo de estudo denominado de paleomagnetismo (FRDRIC, 1980).
A argila em seu estado natural possui na sua constituio diversos elementos minerais
sensveis ao campo magntico local que, quando aquecido, as partculas adquirem mobilidade
suficiente e orientam-se no sentido do campo (sentido do Norte magntico local) e, quando se d
o arrefecimento, estas partculas so congeladas, de forma que esta partculas praticamente no
podem mudar de orientao. Se so conhecidas as variaes do campo magntico (declinao,
inclinao) de um dado local em todas as pocas, fcil comparar este quadro com o de uma ce22

rmica da qual se tenha determinado com preciso a orientao da molculas e realizar uma datao magntica, desde que a cermica no tenha sido mudada de posio aps a cozedura. Esta
condio reduz consideravelmente o campo de aplicao do mtodo, porm ele de muita utilidade na datao de revestimentos e paredes dos fornos.
Este mtodo tambm muito til para que se possa estudar o momento de dipolo geomagntico em funo do tempo, bem como estudar a variao temporal dos fluxos de raios csmicos que atingem a superfcie terrestre. A interao destes raios com a atmosfera terrestre um
dos fatores responsveis pela produo do carbono-14 na atmosfera, e a quantidade deste elemento na atmosfera a base do mtodo de datao por carbono-14.

1.3.6- DATAO POR TERMOLUMINESCNCIA

A termoluminescncia o fenmeno caracterizado pela emisso de luz a partir de um

isolante ou semicondutor quando este aquecido, porm, esta emisso de luz no pode ser confundida com a emisso espontnea de luz de uma substncia quando aquecida at a incandescncia (MCKEVER, 1985). A termoluminescncia a emisso termicamente estimulada de luz seguida previamente de absoro de energia a partir das radiaes (alfa, beta, gama e radiao csmica).Considerando que este trabalho est fundamentado nas potencialidades de se datar peas
cermicas utilizando-se desse fenmeno, abordar-se-o os fundamentos tericos do fenmeno em
outro captulo; sendo que ainda, nessa seco, ser abordado o princpio da datao por termoluminescncia.
O princpio da datao por termoluminescncia est fundamentado no fato de que a curva
da intensidade luminosa em funo da temperatura(fig.1.2) emitida pela amostra, curva denominada de curva de emisso, caracterizada por picos, sendo que as alturas desses picos esto relacionados com a quantidade de radiao absorvida pela amostra, e esta quantidade de radiao
absorvida proporcional ao tempo em que esta amostra esteve exposta radiao amb iente.

23

Figura 1.2- curvas arbitrrias representando que a altura do pico cresce com a idade Arqueolgica da amostra.

Neste mtodo, a idade zero corresponde ao momento em que o arteso leva ao fogo a pea
cermica moldada para que a mesma adquira a consistncia desejada. Com o aquecimento a
energia absorvida pelo material at aquele momento liberada e, a partir desse momento, a pea
comea a absorver a radiao do ambiente. Essa radiao acumulada ao longo dos anos pelos
cristais de quartzo guarda a relao de proporcionalidade entre o sinal TL e a idade da pea cermica. Contudo, como ser abordado no captulo 3, referente a materiais e mtodos, o crescimento do sinal TL e linear apenas para uma determinada faixa de doses, porm o fato da no linearidade da TL, em funo da dose, no impede a aplicao do mtodo.
Na datao de uma pea cermica arqueolgica faz-se, inicialmente, a medida da TL
acumulada dos gros de quartzo extrados da mesma, de forma a se determinar a TL da amostra
natural. Em seguida, utilizando-se de outra parcela da amostra, faz-se a leitura da TL induzida
por radiao artificial. Comparando-se as duas intensidades, em tese, possvel determinar a dose
natural acumulada pelo material, denominada de dose arqueolgica(DA). Se for determinada a
taxa anual da dose (D) com que a cermica foi irradiada pela radioatividade natural e raios cs-

24

micos, pode-se determinar a idade da pea estabelecendo a razo entre estas grandezas (Equao
1.3).
Idade =

DA
D'

(1.3)

Embora a relao para a obteno da idade seja bastante simples, na prtica observar-se diversas
dificuldades para se determinar as idades da peas, pois, como ser abordado no captulo referente aos mtodos, vrios fatores podem alteraram o sinal medido da TL armazenada pela amostra. Estas alteraes podem ser introduzidas desde a preparao da amostra, como a influncia da
luz visvel, tratamento trmico, tamanho dos gros, supralinearidade e superlinearidade do sinal
TL em um determinado intervalo de dose, entre outros, at a anlise dos resultados . Deve-se ressaltar, tambm, que este mtodo apresenta srias dificuldades experimentais no que se refere a
leitura do sinal TL, uma vez que o sinal normalmente baixo e acaba sobrepondo-se com sinais
esprios.
O mtodo de datao por termoluminescncia destaca-se em relao ao do carbono 14
devido a sua grande faixa de aplicabilidade, pois, como conhecido, a datao por carbono 14
limitada devido reduo da radioatividade da amostra com o tempo. Todavia, o mesmo no
acontece com a datao por termoluminescncia, pois o sinal TL cresce com a idade da amostra;
Porm, existem, limites devido saturao do sinal TL (preenchimento total das armadilhas).
Enquanto a datao por carbono 14 tem sua limitao em torno de 5.104 anos o mtodo da termoluminescncia vai de 102 at 108 anos, idades que dificilmente so datadas por outros mtodos. Alm de outras vantagens, a datao por termoluminescncia de baixo custo em relao a
outros mtodos e aplicvel a materiais no orgnicos, da se explica o grande avano no estudo e
aplicao do fenmeno da termoluminescncia.

1.3.7- DATAO POR RESSONNCIA SPIN ELETRNICO ( ESR)

A Ressonncia Spin Eletrnico um fenmeno apresentado por materiais paramagnticos

(materiais que apresentam estruturas com eltrons desemparelhados e de momento angular orbital
diferente de zero), caracterizado pela absoro de energia de uma onda eletromagntica quando o
mesmo colocado na presena de um campo magntico esttico.

25

O fenmeno apresentado por espcies paramagnticas quando colocados num campo

esttico , pois este campo provoca o desdobramento dos nveis de energia dos estados eletrnicos,
efeito denominado de efeito Zeeman e, se incidimos sobre a espcie uma onda eletromagntica de
comprimento de onda adequado, na faixa de microonda, ocorre absoro de energia da onda inc idente. Devemos, contudo, observar que s ocorre absoro de energia da onda eletromagntica se
a energia do fton da onda incidente coincide com a diferena de energia entre os nveis eletrnicos desdobrados , ou seja, deve ocorrer ressonncia entre a energia do fton incidente e a separao de energia entre os nveis que sofreram efeito Zeeman.
As medidas de ESR so realizadas com o auxlio de um espectrmetro, que composto de
uma fonte de radiao (Klytron gerador de microondas), uma cavidade ressonante e um detector que mede a intensidade de radiao transmitida (fig 1.3).

Figura 1.3- Diagrama de blocos do sistema de leitura do ESR.

Neste mtodo de datao substitudo a intensidade de TL por intensidade do sinal de ESR, porm o procedimento experimental semelhante ao do mtodo de TL, pois os centros responsveis
pela emisso TL a partir da amostra, de uma forma geral, apresentam estados de spin que os tornam paramagnticos e, dessa forma, os centros responsveis pela emisso TL so praticamente os
mesmos responsveis pela absoro EPR.
A vantagem do mtodo, em relao ao mtodo da TL, que podemos reutilizar a amostra
para outros estudos, pois o mesmo no um mtodo destrutivo, no sentido de que a medida de

26

EPR para uma determinada amostra pode ser realizada diversas vezes, visto que a realizao da
medida no elimina o sinal EPR.

1.3.8- DATAO PTICA (OSL)

A Luminescncia Opticamente Estimulada (OSL) um fenmeno caracterizado pela

emisso de luz a partir de alguns cristais, quando o mesmo excitado por uma fonte luminosa de
comprimento de onda adequada. Esta luminescncia originada a partir da recombinao de cargas eltricas liberadas a partir das armadilhas de eltrons, quando estes absorvem energia dos
ftons incidentes no material. Como a populao de eltrons armadilhadas um resultado da irradiao do material por radiao ionizante, a intensidade OSL guardar uma relao de proporcionalidade com o dose de radiao absorvida.
Para medir convenientemente o sinal OSL emitido durante a recombinao das cargas
armadilhadas, deve-se medir em uma regio espectral diferente da dos ftons excitadores. Enquanto o sinal TL, durante o aquecimento, apresenta-se com picos a diferentes temperaturas, relacionadas com os nveis de energia das armadilhas, o sinal OSL apresenta um decrscimo no
sinal, durante a exposio luz de intensidade luminosa constante, (figura 1.4).

Figura 1.4- Curva tpica de decaimento OSL de uma amostra de quartzo, estimulada por luz de comprimento de
onda prximo do infravermelho (IR), mostrando o aumento da intensidade do sinal com a dose absorvida (N
representa a dose natural).
27

O potencial para datao por OSL foi observada, inicialmente, por Huntley et tal (1985),
quando usou luz verde (514 nm) a partir de um laser de argnio para estimular cristais de quartzo. Contudo, s recentemente, com a intensificao dos estudos das caractersticas das propriedades OSL do quartzo, tm sido propostos vrios aspectos dessas propriedades no intuito de estabelecer tcnicas de dosimetria luminescentes por OSL ,e de datao arqueolgica e geolgica
(Aitken and Smitth, 1998; Aitken, 1990; Godfrey-Smith et tal., 1998.)
Os minerais mais utilizados no estudo luminescente por OSL so o Quartzo e o feldspato.
A datao est baseada no fato de que, quando os minerais so soterrados, livrando-os da luminosidade ambiente, estes comeam a acumular cargas em suas armadilhas, como resultado da radiao ionizante emitida por radionucldeos presentes no ambiente e a radiao csmica. Ultimamente tem sido bastante utilizada para determinar a geocronologia de depsitos sedimentares e na
retrospectiva de acidentes nucleares, ou seja, na reconstruo das doses de radiao recebidas
pela populao aps um acidente nuclear.
Segundo Huntley e colaboradores (1998), a principal vantagem da OSL sobre o termoluminescncia est no fato de que o sinal ptico mais efetivamente eliminado que no caso da TL,
isto , o processo de excitao por luz (OSL) mais eficiente que o estmulo trmico (TL). Devese citar, porm, que uma outra vantagem muito importante que normalmente a medida de OSL
realizada a temperatura ambiente e isto implica em dizer que o cristal sofre menor alterao.

1.4- HISTRICO DA DATAO POR TERMOLUMINESCNCIA

O primeiro relato de carter cientfico do fenmeno da termoluminescncia foi feito na

Royal Society de Londres, em outubro de 1663, por Robert Boyle, aps observar uma emisso
estranha de luz transitria, quando um cristal de diamante era submetido a um processo de aquecimento. Contudo, at 1940, ano em que foi inventada a fotomultiplicadora, o fenmeno da TL
era utilizado, apenas, como ferramenta na identificao de minerais. Estimulado pelos trabalhos
de Farington Daniels na universidade de Wisconsin, em 1950, o fenmeno da termoluminescncia passou a ser utilizado para realizar medidas de exposio radiao nuclear, alm de outras
aplicaes. Iniciou-se por volta deste perodo, tambm, o estudo do mecanismo envolvido com a
termoluminescncia, principalmente pelos trabalhos de Randall e Wilkins, 1945, quando formularam um modelo terico para a curva de emisso.
28

Todavia, a possibilidade do uso da termoluminescncia na datao arqueolgica e geolgica s surgiu em 1953, sugerida por Daniels et tal, e logo aps com o trabalho apresentado por
Kennedy e Knopf, em 1960, no Meeting of American Association for the Advance of Science,
relatando resultados de datao por TL de amostras arqueolgicas e de lava. Neste mesmo ano
Grgler et al (Tatumi; 1987)detectou que amostras cermicas apresentavam o fenmeno da termoluminescncia, levantando assim, o potencial de utilizao destes materiais para datao arqueolgica.
Em 1961, os trabalhos de datao de amostras geolgicas por termoluminescncia, tomou
um grande pulso com os trabalhos de Johnson (Aitken; 1985), datando rochas presentes nas proximidades da intruso da lava, a fim de determinar a poca em que a mesma flui pela regio. Porm, nesta poca, os pesquisadores encontravam diversas dificuldades na utilizao da termoluminescncia para datao arqueolgica e geolgica, pois a quantidade de impurezas presentes nas
amostras j era um fato bastante conhecido, mas no havia sido feito um estudo do papel das impurezas na TL.
Subsequentemente, com o estudo do mecanismo e do papel da impurezas na TL (McDo ugall, 1968), a termoluminescncia passou a ser utilizada para datao arqueolgica em diversos
laboratrios pelo mundo, como em Oxford (Aitken, Tite and Reid, 1964; Aitken, Zimmerman
and Fleming, 1968), Kyoto (Ichkawa, 1965), Wisconsin (Mazess and Zimmerman, 1966), Philadelphia (Ralph and Han, 1966), e Roskilde (Mejdahl, 1969). Na atualidade, no mundo, existem
mais de 40 laboratrios envolvidos na aplicao da termoluminescncia na datao arqueolgica
e geolgica, ou realizando testes de autenticidade de vasos cermicos.
Imediatamente, aps o incio da dcada de 70, surgiram extenses do uso da datao por
Termoluminescncia para diversos materiais, como argila queimada, que potencialmente apresenta-se como uma ferramenta para o estudo da paleontologia onde o mtodo do carbono 14
limitado; a calcita para datao de estalagmite e lava vulcnica para estudo em geologia, etc.
No Brasil, as primeiras dataes por TL foram feitas no Instituto de Fsica da USP, por
Szmuk e Watabe, em 1971, quando dataram vasos cermicos e urnas funerrias encontradas no
interior de So Paulo, dando seqncia a diversos trabalhos em vrios stios arqueolgico pelo
Brasil, como no Parque Nacional do Xing (Miyamoto e Watabe, 1974), Araripe no Norte do
Brasil (Matsuoka, Takatohi e Watabe, 1984). Atualmente, tm sido feitas diversas dataes por

29

TL de materiais provenientes de diversos locais do Brasil, realizadas pelo Laboratrio de Vidros

da FATEC/SP, sob liderana de Snia Hatsue Tatumi e no Instituto de Fsica da USP.
Em Sergipe, o potencial para datao arqueolgica foi levantado, aps a implantao do
Laboratrio de Caracterizao de Materiais, posteriormente, Laboratrio de Preparao e Caracterizao de Materiais (LPCM), em 1992, no Departamento de Fsica da Universidade Federal de
Sergipe (UFS), e com a implantao do Projeto Arqueolgico de Xing, pois nos stios escavados
na regio foi encontrado uma grande quantidade de materiais cermicos, levantando a possibilidade de formao de um grupo de datao Arqueolgica por TL no LPCM.

1.5- OBJETIVOS DO TRABALHO

Neste trabalho almeja-se alcanar os objetivos que esto expostos a seguir:

Estudar o comportamento TL do quartzo da regio dos Stios arqueolgicos de Xing, tendo
em vista aplicao deste material, quando extrado de vestgios cermicos, para procedimentos de datao. Para tal, observaremos as caractersticas da emisso TL aps a quartzo ser
submetido a tratamento trmico, lavagem com HF, pulverizao, bem como observar o decaimento dos picos de baixa temperatura temperatura ambiente;
Estabelecer uma metodologia para determinao das idades de peas cermicas do Stio Justino na regio de Canind do So Francisco SE, atravs da tcnica de Termoluminescncia
usando os mtodos da dose adicional, curva de calibrao, pr-dose e fototransferncia, comparando com as idades obtidas por tcnicas de radiocarbono efetuadas nas stios estudados.

30

CAPTULO 2 FUNDAMENTOS TERICOS

31

2.1- APRESENTAO

Neste captulo ser feito uma abordagem teoria de emisso termoluminescente de um

material fsforo. Inicialmente, na seo 2.2, ser feita uma distino entre os vrios processos de
emisso de luz a partir de um material, para tal far-se- uma diferenciao dos processos de
emisso fluorescente do fenmeno de emisso fosforescente.
Na sees 2.3 e 2.4, ser feita uma explicao detalhada a respeito da emisso termoluminescente, segundo a teoria da interao da matria com a radiao e a teoria de bandas de energia
da fsica do estado slido. Desta forma, ser exposto os modelos de Randall-Wilkins, GarlickGibson, modelo de ordem geral e o modelo contnuo.
Seguindo este captulo de fundamentos tericos, nas sees 2.5 e 2.6 abordar-se-o os
conceitos de curvas de emisso e espectro de emisso para um fsforo. Na seo 2.7, ser feita
uma considerao a respeito dos princpio de datao por termoluminescncia.
Nas sees 2.8 e 2.9, ser feita uma descrio terica dos fenmenos da fototrasferncia e
do efeito da pr-dose, pois neste trabalho utilizaremos estes efeitos, presentes em amostras de
quartzo, a fim de determinar as idades arqueolgicas de vestgios de origem cermica.
Finalizando este captulo, na seo 2.10 feita uma abordagem s tcnicas de datao arqueolgica por termoluminescncia. Ser feita ainda, nas sees 2.10.1, 2.10.2, 2.10.3 e 2.10.4,
respectivamente, uma reviso detalhada na literatura referente aos mtodos da dose adicional,
curva de calibrao, pr-dose e fototrasferncia. Aps estas sees, o captulo ser finalizado, na
seo 2.10.5, com um levantamento dos principais fatores que influenciam na determinao das
idades das peas cermicas.

2.2- LUMINESCNCIA

A luminescncia um fenmeno caracterizado pela emisso de luz a partir de um material, quando o mesmo absorve, previamente, energia de uma fonte de radiao externa. O comprimento de onda da luz emitida caracterstico da substncia luminescente e no da radiao incidente. Usualmente, os estudos do fenmeno luminescente esto relacionados com a emisso de
luz na regio do visvel, porm outros comprimentos de onda podem estar presentes no espectro
de emisso da substncia.
32

O fenmeno da luminescncia pode ser caracterizado pelo intervalo de tempo entre a excitao (absoro de energia) e a emisso de luz (), sendo que para < 10-8 s o fenmeno classificado como fluorescncia e para > 10-8 s o fenmeno denominado de fosforescncia. Contudo, esta classificao no muita clara, ento pode-se distinguir os fenmenos de fluorescncia
e fosforescncia quando usamos a dependncia de com a temperatura. Para isso consideremos
um nvel de energia referente ao estado fundamental de um eltron ( g ) e um nvel de energia
referente ao estado excitado ( e ), como ilustra a figura 2.1(a). Na fluorescncia a emisso de luz
se d quando o eltron excitado a partir do estado fundamental g at o estado excitado e, e subseqentemente este eltron retorna ao nvel fundamental de energia g. O tempo de vida do eltron no estado excitado muito curto , mas se a transio envolver mudana de paridade ou spin
proibidos, o eltron pode permanecer no estado excitado por alguns milisegundos (McKeever e
Chen, 1997).
Todavia, se a transio do estado excitado para o estado fundamental no ocorre diretamente, ou seja, o eltron estaciona em um estado intermedirio metaestvel ( m ), o tempo decorrido entre a excitao e o retorno do eltron ao estado fundamental ser relativamente longo (Fig.
2.1(b) ), e neste caso, o processo denominado de fosforescncia. Se a transio no nvel m ocorre a uma temperatura absoluta T, e a separao de energia entre os nveis m e dado por E, tal
que E >> kT (k a constante de Boltzmann), o eltron permanece no estado m por um longo perodo. Neste caso, assumindo que a distribuio de energia Maxwelliana, a probabilidade p por
unidade de tempo de que um eltron escape do nvel metaestvel ( armadilha ) a uma dada temperatura dada por:
p = s exp{ E / kT }

(2.1)

onde s uma constante denominada de fator de freqncia e possui uma fraca dependncia com a
temperatura. Dessa forma fica claro que o processo ir depender sensivelmente da temperatura
em virtude da funo exponencial (equao 2.1), e isto nos d uma melhor maneira de distinguir
a fluorescncia, que depende fracamente da temperatura, da fosforescncia, que depende fortemente da temperatura.

33

Fig. 2.1- (a) A figura mostra o esquema do processo envolvido com a fluorescncia, onde (i) indica a absoro de
energia do eltron e (ii) a transio para o estado fundamental com emisso de luz. (b) esta figura representa, esquematicamente, o fosforescncia, com excitao para o estado e seguido do decaimento at o estado m ( metaestvel), e novamente excitao e decaimento at o estado fundamental g, com emisso de luz.

De acordo com a forma que se d a excitao para posterior emisso de luz a partir de um
material, a luminescncia recebe uma variedade de nomes. Temos a fotoluminescncia ( excitao por luz visvel ou ultravioleta), radioluminescncia (excitao por radiao nuclear ), catodoluminescncia (excitao a partir de um feixe de eltrons), quimioluminescncia ( excitao
por energia qumica ), triboliminescncia (excitao por energia mecnica), eletroluminescncia (
excitao por energia eltrica ), bioluminescncia (excitao por fatores biolgicos) e sonoluminescncia (excitao por ondas de som). Em todos estes casos a emisso pode ocorrer diretamente com o decaimento eletrnico do estado excitado para o estado fundamental, ou com a participao do estado metaestvel m.
Contudo, neste trabalho, nos reservaremos ao fenmeno onde a excitao se d com a
energia trmica, fenmeno este denominado de termoluminescncia, tendo em vista que os mtodos utilizados para datao neste trabalho esto fundamentados na teoria termoluminescente, que
ser abordada na seo seguinte. Portanto, a termoluminescncia um fenmeno luminescente,
enquadrado entre os fenmenos fosforescentes (fig. 2..2).

34

LUMINESCENCIA
FLUORESCNCIA

FOSFORESCNCIA

CURTO PERODO

LONGO PERODO
TERMOLUMINESCNCIA

Fig. 2..2- A figura representa um organograma mostrando que a termoluminescncia enquadra-se na luminescncia classificada como fosforescncia de longo perodo ( > 10-4 s ), especificamente a termoluminescncia que
apresenta um tempo de vida situada no intervalo minutos < < 4,6 . 109 anos.

2.3- INTRODUO AO ESTUDO DA TERMOLUMINESCNCIA

A termoluminescncia caracterizada pela emisso de luz a partir de um material semicondutor ou isolante, quando o mesmo submetido, previamente, radiao ionizante armazenando energia. Como o fenmeno est relacionado com transies eletrnicas, podemos explicar
o fenmeno utilizando-se da teoria de bandas de energia de um slido.
De acordo com a Mecnica Quntica, a soluo da equao de Schrdinger para eltrons
sujeitos a um potencial peridico, revela que os nveis de energia permitidos para os eltrons esto distribudos em zonas, denominadas de bandas de energia; sendo que outros valores de energia, fora destas bandas, constituem as denominadas bandas proibidas. Esta a situao em que os
tomos de um slido geram um potencial peridico na forma de poo potenc ial.
A ocupao de cada zona, ou banda, descrita pela funo de densidade de estados, dada
por,
N (E) = Z( E) f ( E)

(2.2)

onde f(E) a funo de distribuio de Fermi-Dirac dada por

f ( E ) = 1 / (exp

35

[(E

)/

kT

]+ 1 )

(2.3)

Nestas equaes, N(E) a densidade de nveis de energia ocupados, Z(E) a densidade de

estados disponveis e Ef o nvel de Fermi, ou potencial qumico. temperatura absoluta zero,
esses nveis de energia abaixo de Ef esto completamente ocupados e acima desse nvel completamente vazios, de forma que podemos definir duas bandas de energia, denominadas de banda de
valncia e banda de conduo. Para materiais dieltricos a separao entre estas bandas da ordem de 10 eV, para semicondutores a separao da magnitude de 1 eV e para os materiais condutores estas bandas se superpem (figura 2.3.) Com isso podemos observar que para haver conduo eletrnica nos semicondutores (o mesmo se aplica aos isolantes), eltrons devem sofrer
excitao por alguma forma de ene rgia.

Figura 2.3- (a) esta figura representa a estrutura de bandas para um dieltrico. Neste caso, devemos observar que
o gap entre a banda de valncia e banda de conduo relativamente grande em relao aos semicondutores. (b)
estrutura de bandas para um semicondutor. (c) estrutura de bandas para um metal. observe que h uma superposio entre as bandas de valncia e conduo.

Entretanto, esta estrutura presente em semicondutores ou isolantes cristalinos ideais.

Porm, devido presena de defeitos estruturais que ocorrem na rede cristalina, como vacncias,
impurezas substitucionais ou intersticiais e defeitos induzidos por radiao ionizante, ocorre uma
quebra na periodicidade da rede cristalina e, devido a este fator, os eltrons podem ocupar nveis
de energia at ento proibidos (armadilhas), ou seja, nveis que no existem para um material
36

perfeitamente cristalino (figura 2..4). Um resultado disto a gerao de bandas de absoro ptica, algumas vezes dando ao cristal uma nova cor, que depende da impureza presente (nos deteremos ao estudo dos defeitos em outra seo).

Figura 2.4-- ( a ) Representao esquemtica de uma estrutura de bandas de energia para um slido cristalino
perfeito ( isolante ). (b) Representao de estrutura de bandas para um cristal contendo defeitos estruturais. Podese observar nveis proibidos ( armadilhas ) para uma estrutura cristalina perfeita, onde a esfera cheia representa
armadilha de eltrons e esferas vazias representa armadilhas de buracos.

Dessa forma, podemos explicar a mecanismo pelo qual se induza termoluminescncia da

seguinte forma: quando a radiao ionizante incide sobre o material, transfere eltrons da banda
de valncia para banda de conduo por efeito tipo fotoeltrico ou efeito Compton, onde se movem livremente. Na tentativa de retornar para a banda de valncia, uma parte dos eltrons fica
retido nas bandas proibidas, em armadilhas que so caracterizadas pela distncia E, medida em
eV, a partir do fundo da banda de conduo. A estabilidade da carga armadilhada depende da
profundidade da armadilha. Com a sada do eltron da banda de valncia, produz-se um buraco
que, como o eltron na banda de conduo torna-se mvel e se no se recombinar com um eltron
pode ser capturado por uma armadilha de buracos, cuja profundidade medida a partir do topo da
banda de valncia. Se as profundidades das armadilhas de eltrons ou de buracos, forem pequenas, o eltron ou buraco aprisionado, tem uma probabilidade considervel de escapar, na temperatura ambiente, mas se a profundidade relativamente grande, a meia-vida da carga armadilhada
37

torna-se suficientemente grande para manter a carga presa por um longo tempo. Com a excitao
trmica, o eltron recebe suficientemente energia para voltar banda de conduo, onde se move
at se recombinar com um buraco armadilhado, emitindo luz TL. Fenmeno similar pode ocorrer
para os buracos mas neste caso a banda de valncia que recebe o buraco desarmadilhado que
caminha at encontrar os eltrons e se recombinarem emitindo luz. O centro onde ocorre o encontro entre o eltron e o buraco chamado de centro de recombinao e o centro responsvel
pela emisso de luz chama-se centro de luminescncia. Na grande maioria dos casos os centros
de recomb inao e luminescncia so os mesmos.
Portanto, podemos ordenar o processo em quatro etapas distintas (ver figura 2..5): (a) Gerao de cargas livres, devido a absoro de radiao ionizante; (b) Armadilhamento destas cargas, devido s imperfeies da rede cristalina; (c) Liberao das cargas a partir das armadilhas,
devido ao aquecimento do cristal; (d) Recombinao e emisso de luz TL.

Figura 2.5- ( i ) O efeito da radiao ionizante retirar eltrons da banda de valncia para o mesmo difundir-se
pelo cristal ( banda de conduo ) at ser armadilhado em T ( armadilhas de eltrons ), da mesma forma os buracos ir difundi-se pela banda de valncia, at ficar armadilhado em L ( armadilha de buracos ). ( ii ) A meia-vida
dos eltrons (buracos) depende da profundidade E das armadilhas. ( iii ) Se a amostra aquecida at uma certa
temperatura a qual a vibrao trmica suficiente para que os eltrons escapem da armadilhas T, haver difuso
do eltron at a banda de conduo e poder haver recombinao em um centro de luminescncia L com emisso
de luz TL.
38

Devemos enfatizar, ainda, que h uma distino entre a termoluminescncia e uma outra
forma de emisso luminosa devido ao aquecimento de um material, fenmeno denominado de
incandescncia. A principal diferena que a ltima ocorre, geralmente, em temperaturas elevadas, sendo que no h necessidade de excitao prvia e o processo pode ocorrer novamente aps
o resfriamento e reaquecimento; diferentemente da termoluminescncia que aps o resfriamento
do material no possvel obter emisso luminosa, a no ser que o material seja irradiado novamente. Outra diferena importante que, ao contrrio da incandescncia, na qual a temperatura
do corpo tem relao com o espectro da luz emitida, na termoluminescncia as caractersticas
espectroscpicas do centro de luminescncia so que definem o espectro da luz emitida, no havendo relao direta com a temp eratura da amostra.
Durante o aquecimento do material termoluminescente (fsforo) a grandeza monitorada
a luz emitida, que transformada em corrente eltrica, e dessa forma pode ser estabelecida uma
relao da intensidade luminosa com a dose de radiao.. Esta grandeza, geralmente, monitorada, em funo da temperatura ou do comprimento de onda. No primeiro caso a curva obtida da
intensidade TL x T denominada curva de emisso e, no segundo caso, intensidade TL x , o
espectro de emisso.

2.4- MODELOS TERICOS PARA A TERMOLUMONESCNCIA

2.4.1- MODELO DE RANDALL-WILLKINS

Uma curva de emisso TL tpica caracterizada pela presena de dive rsos picos, cuja posio em temperatura e altura depende de diversos fatores, tais como a profundidade E das armadilhas, taxa de aquecimento, intensidade da irradiao prvia medida, histria trmica da amostra, entre outros. Diversos modelos tm sido propostos para o fenmeno.
O modelo mais simples foi proposto por Randall-Wilkins em 1945, o qual prope um
modelo matemtico para explicar o comportamento de um determinado pico da curva de emisso
TL a partir de um material. Contudo, deve-se ressaltar que os picos presentes na curva de emisso
TL, so compostos, geralmente, pela superposio de dois ou mais picos; porm, a fim de facilitar o entendimento, considera-se, na maioria das vezes, um nico pico. Esta analise consider-

39

vel quando os picos presentes na emisso esto suficientemente separados, um do outro, ou dispomos de mtodos eficientes para separ-los.
O modelo de Randall-Wilkins supe que existe uma concentrao total N de armadilhas responsveis pela captura de eltrons e em cada instante t, n armadilhas preenchidas. A concentrao
total de centros de armadilhas de buracos M, dos quais m(t) esto ocupados. Neste modelo,
apenas um dos portadores pode ser desarmadilhado e ser considerado que os eltrons so os
portadores mveis. Os centros de armadilhamento de buracos funcionaro, ento, como centros
de recombinao e luminescncia (figura 2.6). O modelo assume que, ao final do processo de
excitao, n0 (em m-3) eltrons esto acumulados nas armadilhas de eltrons e a mesma concentrao de buracos esto presentes nas armadilhas de buracos (centros de recombinao), preservando a neutralidade de cargas do material. temperatura T, a taxa de esvaziamento de eltrons
armadilhados proporcional ao fator de Boltzmann exp(-E/kT), onde E a energia de ativao
(em eV) e k a constante de Boltzmann (em eV/k). Quando a temperatura aumenta, este fator
cresce rapidamente.

Figura 2.6- Modelo simples de nveis de energia, onde n e N so as concentraes de estados ocupados e total,
respectivamente. No modelo de Randall-Wilkins, o rearmadilhamento de eltrons desprezvel.

O modelo de Randall-Wilkins pressupe ainda que a probabilidade de rearmadilhamento

desprezvel e que o tempo de vida na banda de conduo pequeno e, como conseqncia, os
eltrons encontram-se rapidamente com os centros de luminescncia emitindo luz TL.
40

Desse modo, definimos a probabilidade de escape de um eltron armadilhado por unidade

de tempo, a uma temperatura T ( em Kelvin ), sendo dada por:
p = s exp( E / kT)

(2.4)

onde E a profundidade da armadilha, k constante de Boltzmann e s o fator de freqncia, que,

na maioria da vezes, independente da temperatura do cristal (fsforo); sendo que a ordem de
grandeza prxima da freqncia de vibrao da rede cristalina (108 a 1015 Hz).
No modelo de Randall-Wilkins, a taxa de produo de ftons, ou seja, a intensidade de
emisso luminosa, diretamente proporcional taxa de desarmadilhamento, visto que a taxa de
rearmadilhamento desprezvel e todo eltron desarmadilhado encontra um centro de luminescncia disponvel. Considerando que n o nmero de armadilhas ocupadas num determinado
instante t, a intensidade luminosa dada por:

I =

dn
dt

(2.5)

onde uma constante de proporcionalidade que mede a eficincia do sistema de deteco da

emisso TL.
Como a taxa de desarmadilhamento proporcional quantidade de eltrons armadilhados,
isto implica em:
dn
dt

= pn

(2.6)

Considerando que a taxa de aquecimento q um parmetro experimental e pode ser escolhida de forma a ser constante, decorre que
=

: T

qt

(2.7)

onde a taxa de aquecimento dada por

q =

41

dT
dt

(2.8)

Para o instante inicial (t = 0) a temperatura T0, ou seja, T (t = 0) = T0 , onde, substituindo dT/q

na equao 2.6, temos:

dn
dT

p
n
q

(2.9)

A soluo dessa equao diferencial, ordinria e de 1 ordem, encontrada integrando-se os dois

membros da equao, de forma que a soluo dada por:

n = n 0 exp

T0

s E / kT
e
dT
q

(2.10)

Substituindo este resultado na equao 2.5, resulta que a intensidade luminosa durante o aquecimento de um cristal termoluminescente dado por:

I =

dn
= ( pn ) = pn
dt

I (T ) = N0 se

E / kT

T s E / kT
exp e
dT
T0 q

(2.11)

(2.12)

Normalizando a equao, podemos considerar a constante igual unidade, sem perda de generalidade.
Este modelo uma simplificao das situaes mais complexas presentes nos materiais
termoluminescente, pois assume-se que existe apenas um estado de armadilhamento, que h apenas um tipo de centro de recombinao e que o rearmadilhamento dos eltron livres desprezvel. As principais caractersticas dos picos, seguindo este modelo, so dadas pela equao 2.12. A
primeira exponencial cresce rapidamente com a temperatura enquanto a segunda decresce lentamente. Em altas temperaturas, o decrscimo da segunda exponencial acontece mais rapidamente
que o crescimento da primeira exponencial e, portanto, a curva atinge um valor mximo e decresce at que o sinal cai para um valor nulo a altas temperaturas. Como resultado da equao 2.12, a
taxa de desarmadilhamento de eltrons cresce, inicialmente, com a temperatura at a uma temp e42

ratura onde a intensidade TL mxima; e aps esta temperatura, devido ao decrscimo de eltrons armadilhados, a curva inicia um decaimento at a tingir um valor aproximadamente nulo.
Ainda, de acordo com a equao 2.12, a forma do pico assimtrica e, a primeira metade da curva maior que a segunda metade, em relao posio da mxima intensidade (figura 2.7). Este
modelo considerado de primeira ordem (cintica de primeira ordem), pois a taxa de desarmadilhamento proporcional primeira potncia da concentrao dos eltrons armadilhados (Equao
2.6).

Figura 2.7- A figura mostra uma curva de emisso TL calculada usando-se o modelo de Randall-Wilkins , representando um pico de cintica de 1 ordem . No clculo considerou-se E = 0,42 eV e s = 1010 s-1. Nesta figura notvel a assimetria da curva , com um deslocamento caracterstico para direita da intensidade mxima.

Podemos observar que no caso da cintica de 1 ordem, a concentrao inicial ( n0 ) eltrons armadilhados no afeta na forma da curva de emisso, pois este valor aparece na equao
2.10 como uma constante multiplicativa e, portanto a temperatura onde ocorre a mxima intens idade no depende de n0 (concentrao inicial de portadores). No entanto, a rea sob a curva
proporcional ao nmero inicial de eltrons armadilhados.
A temperatura correspondente intensidade mxima, em funo da profundidade da armadilha (E), do fator de freqncia (s) e da taxa de aquecimento (q), encontrada maximizando a
equao 2.12, de forma a obter a seguinte expresso:

E
kT
43

2
m

s
e
q

E / kT

(2.13)

onde Tm corresponde temperatura para obter-se a intensidade mxima. De acordo com este resultado, podemos observar que o termo, Tm exp ( -E/kTm ) monoticamente crescente com Tm,
indicando que um aumento na taxa de aquecimento provoca um deslocamento do pico para temperaturas maiores.

2.4.2- MODELO DE GARLICK-GIBSON

No modelo de Randall-Wilkins o rearmadilhamento de eltrons desconsiderado, uma

vez que este modelo leva em considerao que os eltrons aps, escapar das armadilhas, recombinam-se praticamente instantaneamente com centros de recombinao.
No modelo de Garlick e Gibson (1948) esta probabilidade de recaptura dos eltrons no
desprezvel, alm disso, considera-se que a probabilidade de recaptura igual probabilidade de
recombinao com os centros de luminescncia. Garlick e Gibson consideraram ainda que o nmero de eltrons presos nas armadilhas (n), do total de N armadilhas presentes na estrutura cristalina, igual ao nmero de buracos (m) presentes nas armadilhas de buracos. Para este caso,
tem-se ainda que N>>n e n = m . Fazendo estas consideraes, a probabilidade de que um eltron
que escapou da armadilha seja recapturado e venha a se recombinar com um centro de luminescncia dada por:
' =

n
N

(2.14)

dessa maneira, a intensidade termoluminescente proporcional s probabilidades de recombinao e rearmadilhamento, respectivamente, ao nmero de eltrons armadilhados e, considerando
que para o caso que N>>n e que n =m, o que implica em dm/dt = dn/dt. Ento:

dn
n2
'
I =
= n =
dt
N

44

(2.15)

por conseqncia a intensidade luminosa, proporcional a n, a cintica denominada de 2 ordem. Substituindo (2.14) em (2.15), e levando em cons iderao que = s exp( -E/kT ), que:
s
I = n2
exp ( E / kT
N

(2.16)

considerando que a taxa de aquecimento constante q = dT/dt, e resolvendo a equao 2.16, encontramos:

2
n0 T s

n0
I(T ) =
s exp(E / kT)1+ exp(E / kT)dT
N
n T0 q

(2.17)

Esta equao (2.17) a equao para o fenmeno TL de Garlick e Gibson para a cintica de 2
ordem.
Podemos observar na figura 2.8 a alterao do pico em funo de n0 , para E (profundidade da
armadilha) e q constante. Uma diferena bsica entre o comportamento da curva de emisso TL
calculada com o modelo de Garlick-Gibson, em relao curva calculada com o modelo de
Randall-Wilkins, reside no fato de que o crescimento do pico , aproximadamente, proporcional a
n0; porm, no modelo de Garlick-Gibson a posio do pico depende do n0 . Uma outra caracterstica do pico de 2 ordem que o mesmo mais simtrico que o pico de 1ordem. Isto pode ser
explicado a partir do fato de que no pico de 2 ordem a concentrao de eltrons desarmadilhados
so rearmadilhados antes de recombinarem-se, resultando em uma diminuio relativa na intens idade de emisso ao mesmo tempo que a extino das armadilhas dos eltrons demora mais tempo
para ocorrer.

45

Figura 2.8- Figura representando a variao da altura do pico em relao a n0 , utilizando o modelo de GarlickGibson. Podemos observar que as curvas so mais simtricas de que quando utiliza-se o modelo de Randall- Wilkins.

Nos dois modelos ( cintica de 1ordem e de 2ordem ) podemos observar que a baixas
temperaturas os picos so caracterizados pela funo exp(-E/kT), e a altas temperaturas, a curva
decai com a temperatura de acordo com a funo

exp ( a ' / q ) exp

T0

{ E

/ kT }dT

(2.18)

para os pico de primeira ordem, sendo que para os picos de segunda ordem o decaimento se d de
acordo com a funo

c
+
(
d
/
q
)

t exp

{ E / kT }dT

onde a, a, c e d so constantes.

46

(2.19)

Para determinar a temperatura onde ocorre a mxima intensidade, maximizamos a equao 2.17, onde encontramos:

Tm

n 0 s'

exp(

E / kT ) dT + 1 = ( 2 kT m 2 n 0 s ' / qE ) exp( E / kT m ) (2.20)

T0

Onde s na equao 2.20 denominado de fator pr-exponencial, dado por s=s/N cujo significado no o mesmo do fator de freqncia s. Numericamente, pode-se mostrar que a reduo no
valor de n0 provoca o deslocamento de Tm para valores mais altos.
2.4.3- MODELO DE ORDEM GERAL

As formas de Randall-Wilkins e Garlick-Gibson para a curva de emisso TL tm sido

encontrada fazendo suposies especficas relativas s medidas da probabilidade de rearmadilhamento e recombinao. Levando em considerao as equaes resultantes para a intensidade
termoluminescente nos modelos de Randall-Wilkins, May e Partridge (1964) propuseram uma
expresso emprica para uma cintica de ordem geral, que dada pela relao abaixo:

I = n b s exp

kT

(2.21)

onde s tem a dimenso de m3( b 1 ) s-1 e b definido como um parmetro de ordem geral, e no,
necessariamente, igual a 1 ou 2. Integrando a equao 2.21 para b

s
E
E
I = s n 0 exp
1 + (b 1) exp
dT
q T0
kT
kT
T

1, temos:

b
b 1

(2.22)

onde s = sn0 ( b 1 ) . May e Partridge desenvolveram estas expresses no sentido de aplic-las no

caso em que as cinticas de 1 ordem e 2 ordem no so satisfatria para explicar o comportamento das curvas de emisso TL (figura 2.9).

47

Figura 2.9- Esta figura mostra curvas de emisso para uma cintica de ordem geral, para b = 1 ( cintica de 1
ordem ), b = 2 ( cintica de 2 ordem ), e para valores intermedirios b = 1,3 e 1,6, usando E = 1 eV.

A dificuldade com o desenvolvimento emprico para a equao de ordem geral, reside na dificuldade de dar um significado para o parmetro s, cuja dimenso altera de acordo
com a ordem da cintica envolvida. Para superar este problema Rasheedy props uma nova forma
para o modelo, partindo da equao 2.21:

nb
dn
I =
=
b1
dt
N

E
s exp

kT

(2.23)

que se reduz s cinticas de primeira e Segunda ordens para b = 1 e 2, respectivamente. Integrando a equao 2.23, obtemos:
s (b 1)( n 0 / N )
E
I = n 0b s exp N (1 b ) 1 +
q
kT

48

( b 1 ) T

exp kT dT

T0

b
b 1

(2.24)

esta expresso remove a dificuldade na interpretao de s. Nota-se que a equao 2.24 no

vlida para b = 1 , no entanto, pode-se observar facilmente que a mesma reduz-se equao do
modelo de Randall-Wilkins para b 1.
Com o tratamento dado pela equao 2.24, pode-se dar uma interpretao aos significados
de s e do parmetro da ordem da cintica b na equao de May e Partridge. Esta interpretao foi
proposta por Christodoulides (1990), quando considerou o caso de uma nica energia de ativao,
uma nica ordem de cintica e uma distribuio de fatores de freqncia s. Nesta interpretao
assume-se que se s dada por uma funo de distribuio gama ( ) ( atuando em ln ( s ) ) e a
mesma aplicada ao caso da cintica de 1 ordem, pode-se obter a equao de ordem geral. Com
esta interpretao, s e b so parmetros caractersticos da funo de distribuio para s.

2.4.4- MODELO CONTNUO

Os modelos considerados nas trs sees anteriores, propem que as armadilhas esto
associadas a um estado energtico localizado, ou seja, que as armadilhas esto associadas a nveis
de energia discretos. Isto ocorre para materiais altamente cristalino, porm, este comportamento
no esperado para materiais vtreos ou amorfos, cujas armadilhas distribuem-se em certas faixas
de energia, ou seja, esto distribudas continuamente em certas faixas de energia. Nestes materiais, a estrutura da rede, nas proximidades do defeito, apresentam alteraes no ngulo e no comprimento das ligaes, de forma que a energia de ativao (profundidade das armadilhas) tende a
se distribuir em uma faixa.
Vrias formas tm sido assumidas para a distribuio de energia para os mesmos, entre
elas citaremos:
a) Distribuio uniforme do tipo N (E < EA ) = N ( E > EB ) = 0 e N ( EA < E < EB ) = Nt = densidade uniforme de armadilhas ( em m/eV ) entre EA e EB.
E EA
b) Distribuio linear da forma N ( E ) = N m
EB EA

onde N ( E ) =0 a EA, e Nm a densi

dade mxima de cargas armadilhadas a uma energia EB.

E
, onde Ne uma constante ( em m/eV
c) Distribuio exponencial, com N ( E ) = N e exp
kTC
) e TC uma temperatura caracterstica para a distribuio.
49

d) Distribuio Gaussiana, cuja distribuio assume a forma n = N 0 exp a (E E 0 )

} com N

sendo a densidade mxima ,e a energia E0 a energia mdia da distribuio e a uma constante relacionada com a seo de choque de captura de um eltron ou buraco.
A termoluminescncia tem sido observada e analisada para diversos materiais, sob o
ponto de vista de uma distribuio de armadilhas continuas, utilizando-se das diversas distribuio, porm, nesta seo, ser analisado o caso de uma distribuio Gaussiana em torno de um
determinado valor de energia.
Seja dN um elemento de armadilha, de forma que a densidade de armadilhas dada por

n ( E, t a ) =

dN
dE

(2.25)

onde n(E,ta) o nmero de armadilhas num instante ta para uma energia E.

Desconsiderando o rearmadilhamento de cargas (cintica de 1 ordem), a taxa de esvaziamento dada pela equao abaixo:
d ( dN )
E
= dN .s. exp

dt
kT

(2.26)

Ao integrar a equao 2.26,de t = 0 at t = ta , obtemos:

dN = dN 0 exp [ st a exp ( E / kTa )]

(2.27)

considerando que a densidade de armadilhas em torno de uma dada energia E, dada por
dN 0
= n( E ,0) dN 0 = n( E ,0) dE
dE

(2.28)

e integrando 2.28 em energia, obteremos que a distribuio total de energia dada atravs da
equao
N ( E, t a ) = n ( E,0). exp [ s.t a . exp( E / kT ) ]dE

50

(2.29)

Considerando, ainda, que n ( E,0 ) representada por uma funo de distribuio Gaussiana de
energia em torno de E0 , ento:

n ( E,0) =

(E E 0 ) 2

exp

st
exp
(

E
/
kT
)

a
dE
2 2
2 E1

N0

E2

A intensidade TL ser dada por I =

(2.30)

d ( dN )
= dN .s. exp( E / kT ) , e tomando-se esta
dt

derivada, teremos:

I (E, t a ,T ) =

(E Eo ) 2
E

exp
s.ta . exp(E / kT) exp
s.t a . exp( E / kT)dE (2.31)

2
kT
2
2 E

N0

E2

Logo, a expresso acima d a intensidade de emisso TL (figura 2.10) para o caso em que
as armadilhas esto distribudas continuamente, em uma faixa de energia em torno de uma energia E0.

Figura 2.10- Esta figura exemplifica as curvas de emisso obtidas assumindo uma distribuio Gaussiana
de armadilhas para E0 = 0,7 eV, taxa de aquecimento 10 K/s, s = 10-12 s-1 e o intervalo de variao de energia ,em
funo do parmetro , assumindo valores 0,1, 0,5 , e 0,01 eV.

Podemos observar na figura 2.10 que para um intervalo de energia pequeno, conseque ntemente pequeno, que a curva similar curva obtida ut ilizando-se o modelo de Randall51

Wilkins para cintica de 1ordem. Porm, a medida que o intervalo de energia cresce, a curva
toma uma forma mais larga e a intensidade da curva decresce, assumindo uma forma que lembra
a curva para cintica de 2ordem.

2.5- CURVA DE EMISSO TL

A curva de emisso uma curva que d a intensidade termoluminescente, em funo da

temperatura ou do tempo, quando aquecemos um cristal a uma dada taxa. Esta curva, em geral,
caracterizada por diversos picos, sendo que cada um deles est associado a uma determinada armadilha, que pode ser de eltrons ou buracos, caracterizadas por uma profundidade E e por uma
temperatura onde ocorre o mximo da emisso (figura 2.11). Cada material termoluminescente
apresenta uma curva de emisso que caracterstica do mesmo, logo, podemos citar que a curva
de emisso dependente dos defe itos apresentados por cada fsforo.

10
10

2,0

INTENSIDADE TL (u.a)

1,5
6

1,0
4

0,5

0,0

0
0

50

100

150

200

250

300

350

400

450

TEMPERATURA (C)

Figura 2.11- Grfico da curva de emisso para uma amostra de quartzo natural e irradiado com uma dose equivalente a 5 Gy, por uma fonte de radiao beta taxa de 0,45 Gy/min. Devemos observar na figura que a curva
composta, principalmente, por dois picos; um em torno de 180 C e outro em torno de 350 C. Cada pico corresponde a um conjunto de armadilhas de diferentes profundidades.

A formao de um pico de emisso TL relaciona-se com a probabilidade de escape do

eltron a partir da armadilha que por sua vez, dependente da temperatura (Equao 2.4). Isto
52

implica que para uma temperatura mais baixa do que a do pico considerado, poucos portadores de
cargas so liberados de suas respectivas armadilhas e a luz emitida relativamente fraca. Ao
aquecer o cristal termoluminescente, a probabilidade de escape aumenta exponencialmente coma
temperatura, causando um aumento na emisso, que mxima na temperatura do pico. Aps a
intensidade mxima, inicia-se um decrescimento na curva, devido reduo de portadores de
cargas.
Um fato que merece destaque que a curva de emisso depende, como j foi citado, dos
tipos de armadilhas e dos centros de luminescncia presentes no cristal, porm, depende de outros
fatores como a taxa de aquecimento e da sensibilidade do instrumento detetor utilizado. Outro
fator importante que a presena de mais de um pico revela que o cristal apresenta mais de um
tipo de armadilha, consequentemente vrias energia de ativao.

2.6- ESPECTRO DE EMISSO TL

A medida mais convencional efetuada na emisso TL a que registra a intensidade em

funo da temperatura ou do tempo, que por sua vez est relacionada com a profundidade das
armadilhas. Todavia, pode-se efetuar a medida da intensidade luminescente em funo do comprimento de onda da luz emitida, que est relacionada com as transies especficas nos centros
de emisso, no sentido de realizar um estudo dos centros de luminescncia presentes no material .
Durante o aquecimento do material termoluminescente, nota-se que devido ao acrscimo
de temperatura, a probabilidade de escape do eltron, a partir das armadilhas, aumenta expone ncialmente com a temperatura e, devido a presena de diversos centros de luminescncia, com
profundidades diferentes, a emisso caracterizada por vrios comprimentos de onda. A profundidade do centro de luminescncia determina o comprimento de onda da luz emitida numa determinada faixa de temperatura, dessa forma, podemos esperar que cada pico de emisso TL esteja associado a uma banda espectral de um conjunto de centros de luminescncia (Figura 2.10).
As medidas da intensidade TL em funo do comprimento de onda, a uma determinada temperatura, revelam bandas espectrais denominadas de espectro de emisso.
O registro da intensidade TL em funo do comprimento de onda exige filtros apropriados, pois as fotomultiplicadoras utilizadas na obteno da emisso TL, em geral, fazem o registro
em uma banda larga, ou seja, detectam a emisso como uma contribuio da luz emitida nos di53

versos comprimentos de onda. Geralmente, para a obteno do espectro de emisso, utiliza-se um

instrumento denominado monocromador, o qual permite realizar as medidas da TL, escolhendo
um determinado comprimento de onda.

Figura 2.12- A figura representa a estrutura de bandas de energia para um material hipottico, mostrando os
centros de armadilhamento ( A, B e C ) e os centros de luminescncia ( A e B ). Nesta figura podemos visualizar
que, devido as vrias profundidades dos centros de luminescncia, a emisso termoluminescente ser composta
de diversos comprimentos de onda ( 1 e 2 ).

As medidas espectrais so de fundamental importncia quando se quer alguma informao

acerca dos vrios defeitos estruturais que um material termoluminescente apresenta, pois com o
espectro obtm-se informaes a respeito dos centros de luminescncia, como estrutura dos defeitos apresentada pelos cristais, informaes sobre as bandas de absoro ptica dos materiais,
dentre outras informaes;

2.7- PRINCPIOS DA DATAO DE CERMICAS POR TERMOLUMINESCNCIA

Dentre os artefatos de interesse arqueolgico, os vestgios cermicos so os que se apresentam com caractersticas mais seguras para datao por termoluminescncia, e se apresentam
em grande quantidade nos diversos stios arqueolgicos distribudos pelo mundo. Alm dos artefatos cermicos os materiais como terra queimada, pedras de fogueira, tijolos podem, tambm,
ser utilizados para datao por TL.

54

Para compreender o fato de que os artefatos cermicos so convenientes para datao por
TL, devemos lembrar que o homem quando fabrica estes artefatos (vasos ornamentais, urnas funerrias, utenslios domsticos, ferramentas, etc.), utilizam, geralmente, a argila que, de uma
forma geral, encontra-se impregnada de cristais de diversos materiais, com predominncia do
quartzo e do feldspato, que so materiais termoluminescentes.
Para obter a consistncia necessria de uma cermica a partir dos artefatos argilosos mo ldados, fundamental uma queima dos mesmos a mais de 500 C. Com essa queima a TL acumulada at aquele momento eliminada completamente, estabelecendo o marco zero para a pea.
A partir do resfriamento destes artefatos, contendo incluses de cristais termoluminescentes, os
mesmos comeam a acumular energia da radiao natural do ambiente, ou seja comeam a acumular o sinal TL, que cresce com a idade da amostra como j foi citado (figura 1.1).
Podemos com isso, estabelecer os princpios da datao de materiais cermicos seqencialmente
da seguinte forma:
1. A argila utilizada para obteno do artefato cermico deve conter cristais de material termoluminescente.
2. Com a queima da argila moldada para a consistncia de uma cermica, elimina-se a TL acumulada pelos cristais at aquele momento, estabelecendo o marco zero.
3. Aps o resfriamento, os cristais absorvem radiao do ambiente, acumulando energia, ou
seja, repopulando as armadilhas existentes.
4. O sinal TL aumenta proporcionalmente com o tempo que os cristais ficaram expostos radiao.
5. Comparando-se a intensidade TL acumulada pelo material desde da queima at o momento da
datao com a intensidade TL, induzida por radiao artificial em laboratrio, pode-se determinar a dose de radiao recebida pelo material ( D ), tambm denominada de dose acumulada ou arqueolgica, desde da queima at aquele momento e, conhecendo-se a taxa anual da
dose ( D ) com que a cermica foi irradiada, pode-se determinar a idade da pea utilizando-se
a relao:
Idade =

D
D'

(2.32)

Deve-se ressaltar que a relao apresentada pela equao est sujeita a diversas correes,
pois deve-se levar em considerao as diferentes eficincias das formas de radiao incidente

55

sobre o material (radiaes alfa, gama, beta e radiao csmica). Alm deste fator, existem dive rsos outros fatores que podem influenciar na datao de peas cermicas, como ser visto na seo 2.10.5.
2.8- FOTOTRANSFERNCIA

A fototransferncia um fenmeno caracterizado pela alterao nas intensidades das curvas de emisso TL, quando a amostra submetida a irradiao por luz de um comprimento de
onda adequado, geralmente na regio do ultravioleta. Este fenmeno pode ser explicado como o
resultado da transferncia de cargas eltricas das armadilhas mais profundas, que so muito estveis, para as armadilhas mais rasas. A fototransferncia ( PTTL ) tem sido observada e estudada
em diversos materiais e tem surgido como uma ferramenta til para procedimentos de dosimetria
das radiaes e para procedimentos de datao de materiais cermicos ( Bailiff et tal, 1997 ).
O sistema experimental utilizado nas medidas da fototransferncia, geralmente consiste de
um criostato no qual a temperatura pode variar de 80 a 500 K. Neste criostato inserida uma
fonte de radiao que pode ser mais comumente

137

Cs ou

60

Co. A iluminao da amostra feita,

comumente, com uma lmpada de Xe e um monocromador que seleciona o comprimento de

onda adequado. A luz direcionada ao longo de uma fibra ptica de silcio para a amostra e dessa forma feita a exposio luminosa. A medida PTTL realizada aps a amostra ter sido submetida irradiao e exposio a luz UV, sendo que, de uma forma geral, a intensidade da PTTL
cresce inicialmente com o tempo de exposio luz e; aps um valor mximo, ocorre o decrscimo desta intensidade. Este comportamento pode ser explicado, inicialmente, considerando que,
devido ao aumento do tempo de exposio luz UV, as armadilhas receptoras sero completamente preenchidas. Dessa forma, ocorrer uma saturao das mesmas e, a luz UV incidente, inicia um processo de desarmadilhamento das armadilhas receptoras. Alm do desarmadilhamento
provocado pelo processo de saturao das armadilhas mais rasas (armadilhas receptoras), com
aumento do tempo de exposio do material luz UV, tem-se uma reduo na intensidade devido
instabilidade trmica.

2.9- EFEITOS DA PR-DOSE

Como ser visto no captulo 3, o quartzo extrado da cermica ou o quartzo natural no
apresenta emisso TL abaixo dos 250 C, pois, abaixo desta temperatura as armadilhas, so rasas
56

o suficientes para serem esvaziados temperatura ambiente. Contudo, o pico a 110 C pode ser
evidenciado se tratarmos a amostra de forma conveniente. Este efeito denominado de pr-dose,
que tem sido utilizado para dosimetria das radiaes e datao arqueolgica.
O efeito da pr-dose pode ser estabelecido em uma amostra de quartzo quando tomamos
os seguintes procedimentos:
1. Na amostra natural de quartzo aplica-se uma dose teste, tipicamente da ordem de 10 a 100
mGy e medimos a emisso TL de intensidade S0 ;
2. Aquecemos a amostra at 500 C;
3. Resfriamos a amostra at a temperatura ambiente e aplicamos a mesma dose teste e medimos
a resposta TL de intensidade Sn ;
4. Aplica-se uma dose de laboratrio, muita vezes maior que a dose teste (esta dose denominada de dose de calibrao);
5. Aquecemos a amostra at 500 C;
6. Resfriamos a amostra temperatura ambiente, aplicamos a dose teste e mede-se a emisso TL
de intensidade Sn+ ;
Devido a estes procedimentos a emisso TL da amostra em 110 C tem um crescimento,
como mostra a figura 2.13.

Figura 2.13- A figura mostra as etapas necessrias para que ocorra o fenmeno da pr-dose. S0 a medida TL
aps a irradiao da amostra natural ( dose teste ), SN e SN aps o aquecimento e reaquecimento com aplicao
da dose teste, e SN+ a medida aps a dose alta de laboratrio, aquecimento a 500 C e dose teste.

57

A partir de estudos da radioluminescncia associada, da emisso exoeletrnica e do efeito

da luz ultravioleta, Zimmerman (1971) apresentou uma explicao para o efeito da pr-dose em
termos da teoria de bandas, como mostra a figura 2.14.

Figura 2.14- Esta figura representa um modelo de bandas para um slido, onde T1 e T2 so armadilhas de eltrons, e L e K so armadilhas de buracos.

Neste modelo, Zimmerman considerou que a armadilha T1 suficientemente rasa, de forma que
os eltrons que escapam da mesma geram o pico de 110 C, porm a armadilha T2 to profunda
que no esvaziada com a aquecimento a 500C. Sua presena garante a neutralidade global de
cargas no cristal. Uma condio para que ocorra a recombinao dos eltrons liberados da armadilha T1 e emisso TL em 110 C, que devero existir buracos armadilhados nas armadilhas de
buracos L.
Na etapa 1 (dose teste na amostra natural), as armadilhas de eltrons T1 e armadilhas de
buracos L so povoadas dando origem ao sinal S0 na curva de emisso. No segundo estgio
(aquecimento at 500 C) o calor libera buracos de K que migraram at as armadilhas de buracos
L em nmero que depende da dose prvia, da mesma forma os eltrons so liberados de T2. Sendo assim, o sinal Sn no estgio 3 proporcional populao inicial K de buracos armadilhados e
de eltrons em T2. Se reaquercermos a amostra a 500 C obteremos Sn que idealmente ser
igual a Sn, pois o fenmeno envolvido o mesmo; porm, na prtica, nota-se alguma diferena
nestes valores. No estgio 4 (irradiao com dose alta de laboratrio), h uma grande produo de
58

pares eltron-buraco que migram para as respectivas armadilhas. Com o aquecimento a 500 C h
uma transferncia de buracos de K para L em nmero que depende da dose de laboratrio, alm
de ocorrer desarmadilhamento das armadilhas mais rasas, obtendo-se assim o sinal Sn+.. Dessa
forma pode-se estabelecer, como ser visto na seo 2.10.3, uma rotina para datao arqueolgica.
No sentido de explicar o fenmeno da pr-dose, Itoh et tal (2000), interpretaram o fenmeno como o resultado de um processo atmico, assumindo que o fenmeno deve-se presena
de impurezas no cristal, comumente, Al, Ge, H e Na. Em particular, sabido que a concentrao
de alumnio elevada (Ohta, 2000). Deve-se lembrar que o alumnio, que trivalente, quando
presente na estrutura do quartzo, substitucionalmente ao Si, pode ser compensado ou por um ion
alcalino ou por um hidrognio prximo ao Al3+ ou ainda formando o centro [AlO 4 ]0 com a captura de um buraco extra (Halliburton et tal, 1981). Com o tratamento para produzir a sensibilizao
do pico de 110C ocorrem os processos sugeridos pela tabela 2.1.

Procedime nto
Dose acumulada
(D)

Reao
[AlM+] + e- + h+
-

[Q] + [R] + e + h
e- + h+

Ativao()
Dose teste

[Qe ] + [Rh ]

recombinao

[X] + [M+]

[XM + ]

Requisitos

Condies

a1 D

a1 = cons-

a1 <<a2 +a3

a2 D

tante

a3 D

a1 D

[XM+]+[Al]+e-

b1

+h+ [MX+ ]+[Alh+]

b2

[Q]+[R]+e-+h+ [Qe-]+[Rh+ ]

b3

e-+h+
Medida TL

[Al] + [M+]

Rendimento

b1 D

b1 <<b2 +b3

b1

b2 <<b1

recombinao

[MX+e-] [MX + ]+e-

b1

[Alh+ ]+e- [Al]+fton de 380 nm

b1b1 /(b1 +b2 )

[Rh ]+e

[R]

b1b2 /(b1 +b2 )

Tabela 2.1- Modelo de Itoh et al (2000.) para o efeito da pr-dose no quartzo. Q representa uma armadilha de eltrons desconhecida e R uma armadilha de buracos. Normalmente existe um grande nmero de armadilhas de eltrons e buracos que competem no processo de captura. A luz emitida proporcional dose teste e a dose acumulada. As constantes ai e b i so constantes que determinam as taxas em cada estgio. Neste processo M representa um
metal alcalino.
59

Neste processo atmico o principal efeito da radiao produzir eltrons e buracos, cuja produo proporcional energia absorvida por unidade de volume. A dose acumulada (associada a
idade do material) induz a reao [AlM+ ] + e- + h+

[Al]+[M +], cujos produtos vo agir como

armadilhas de eltrons e buracos, porm no muito eficientes. Por isso, quando dada uma dose
teste, gerando pares de eltrons-buracos e povoando as armadilhas, o sinal baixo S0. Contudo,
com o aquecimento at 500 C o metal [M+ ], o qual age como armadilha de eltrons, torna-se
altamente mvel e permite uma associao do alcalino com um estabilizador X, que sugere ser o
Ge; dessa forma induzindo a reao [X] + [M+]

[XM + ], cujo produto se apresenta como uma

armadilha eficiente de eltrons. A armadilha de eltrons poder ser do tipo [GeNa+e-], gerando
um sinal muito maior Sn, e as etapas posteriores seguem o mesmo processo.

2.10- MTODOS DE DATAO POR TERMOLUMINESCNCIA

2.10.1- MTODO DA CURVA DE CALIBRAO

Este mtodo de datao por TL est fundamentado no fato de que a intensidade da emisso TL aumenta com a dose de radiao absorvida pela material. Neste mtodo, a amostra natural
de quartzo dividido, basicamente, em duas partes. Uma das partes utilizada para se determinar
a intensidade do pico da amostra natural, geralmente acima de 300 C, ou seja, a primeira parte
do trabalho a determinao do sinal da amostra natural de quartzo extrado da cermica (SN).
Com a segunda parcela da amostra realiza-se um tratamento trmico. Neste trabalho foi utilizado
o tratamento trmico a uma temperatura de 500 C durante 1 hora com resfriamento rpido. Este
tratamento tem a finalidade de eliminar o sinal TL natural da amostra de quartzo. Aps o tratamento trmico a amostra dividida em vrios lotes que so submetidos a diferentes dose de radiao. Aps a irradiao efetuada a leitura TL de cada poro e verifica-se a intensidade do pico
da curva de emisso. Com esses dados construdo o grfico da intensidade da TL versus a dose
de radiao de laboratrio (Figura 2.15).

60

16

14

12

Intensidade TL (u.a)

SN
10

00

DA6

10

12

Dose de Laboratrio (GY)

Figura 2.15- A figura representa a curva de calibrao, para uma amostra hipottica. Nesta curva podemos determinar o dose absorvida pela amostra ( DN ) determinando-se o abscissa da ordenada SN, que representa a intensidade do sinal natural.

Atravs da curva de calibrao possvel determinar a dose arqueolgica (DA) absorvida

pela amostra a ser datada. A obteno de DA feita comparando-se o sinal da amostra natural
com os sinais da amostra irradiadas em laboratrio, expressas na curva de calibrao; dessa forma
a dose arqueolgica obtida determinando-se a abscissa da ordenada SN na curva de calibrao.
A idade da amostra obtida desde que a taxa de radiao anual seja conhecida pela relao:

I=

DA
D'

(2.33)

onde D a taxa anual de radiao recebida pela amostra. Embora a relao seja bastante simples,
o processo est sujeito a diversas interferncias que podem ocasionar erros significativos nas idades das amostras,.
Contudo, importante citar que devido aos diversos fatores que podem interferir na datao por termoluminescncia, as tcnicas de datao por TL esto dividas em tcnica da incluso
de quartzo, com gros de quartzo extrados da cermica com dimetro acima de 10 m (Fleming,

61

1979), tcnica de gros finos, com gros de dimetros abaixo de 10 m (Zimmerman, 1971), ou a
combinao dos dois mtodos, denominado mtodo da subtrao (Fleming e Stoneham, 1973).
No caso da tcnica da incluso de quartzo, a correo na idade da amostra efetuada pela
troca da relao 2.33, pela equao abaixo, pois neste mtodo o efeito da radiao alfa desprezado.

I=

DA
(D + D + DC )

(2.34)

onde D, D e DC so as componentes anuais de radiao devido s fontes beta., gama e raios

csmicos, respectivamente.
Quando utilizada a tcnica dos gros finos levamos em considerao a componente anual devida radiao alfa, e a correo na idade dada pela expresso abaixo:

I=

DA
(kD + D + D + DC )

(2.35)

onde D a componente devido radiao alfa e k o fator de eficincia obtido usando-se uma
fonte alfa de 210 Po para irradiao em laboratrio.
Na tcnica da subtrao subtramos a TL dos gros finos da TL dos gros maiores, eliminando assim os efeitos da radiao gama e csmica, pois a segunda de difcil determinao.
Na datao por TL, pelo mtodo da calibrao podemos utilizar qualquer das tcnicas citadas acima, porm deve-se realizar alguns testes para verificar a linearidade na resposta com a
dose e a estabilidade do pico temperatura ambiente em todos os casos e, especificamente, no
caso da tcnica da incluso de quartzo; devemos verificar se as amostras contm grande concentrao de radionucldeos em seu interior, pois a presena dos mesmos altera a idade da amostra.

2.10.2- MTODO DA DOSE ADICIONAL

No mtodo da dose adicional utilizamos o mesmo princpio do mtodo da curva de calibrao, ou seja, utilizamos o fato de que a intensidade da TL tem um aumento sistemtico conforme a dose de laboratrio aplicada sobre a amostra.

62

Novamente a amostra separada em duas partes; a primeira utilizada para a obteno da

TL natural da amostra (SN) e, com a outra parcela fazemos a diviso em vrios lotes; adicionamos
uma dose conhecida de laboratrio, diferente para cada lote. Com estas amostras medimos a TL e

Intensidade TL ( u.a )

construmos o grfico intensidade TL em funo da dose (figura 2.16.).

32
30
28
26
24
22
20
18
16
14
12
10
N8
6
4
2
0
-2 0
-4

-6

-4

-2

DA

10

12

Dose adicional ( Gy )

Figura 2.16- A figura obtida para uma amostra hipottica quando adicionamos um dose de laboratrio conhecida
amostra de quartzo extrada da cermica. A extrapolao do grfico at o eixo das abscissas nos fornece a dose
arqueolgica.

Neste mtodo, para obtermos a dose acumulada pela amostra ao longo dos anos, a dose
arqueolgica, temos que fazer uma extrapolao da curva at o eixo das doses de radiao. Para a
obteno da idade da pea, procedemos da mesma forma que feita quando da utilizao do mtodo da curva de calibrao.
No entanto, ao aplicar este mtodo deve-se verificar qual o comportamento da curva da
intensidade TL em funo da dose, principalmente na regio de doses baixas. Pois, a curva da
intensidade em funo da dose pode no apresentar um comportamento linear, e ao fazer a extrapolao, segundo uma reta, pode-se cometer um erro bastante significativo na idade da pea em
estudo.

2.10.3- MTODO DA PR-DOSE

Uma grande desvantagem quando utilizamos os mtodos acima a instabilidade apresentada pelo pico de baixas temperaturas, fazendo com que a datao seja feita utilizando-se os pico
63

acima de 300 C. Nesta faixa de temperatura aparece um outro grande problema que a superposio do sinal TL da amostra com a incandescncia do porta amostras. Para resolver este problema, geralmente, utilizam-se filtros especiais de luz para remover a radiao infravermelha que
acompanhado pela reduo no sinal TL. Em muitos casos recorremos a mtodos onde utilizam-se
os picos apresentadas pela amostra de quartzo a uma temperatura mais baixa.
Como foi citado na seo 2.9 o quartzo extrado da cermica ou natural encontrado na
natureza, no apresenta picos abaixo de 250 C, mas quando irradiado, apresenta um pico intenso
em 110 C e outros dois em 175 C e a 230 C. Um fato peculiar ao pico de 110 C que o mesmo est sujeito a uma alterao na sua sensibilidade. Quando uma amostra tratada termicamente
a uma temperatura entre 400 C e 500 C e posteriormente irradiada, a sensibilidade aumenta
proporcionalmente com a dose prvia recebida. Podemos usar esse fenmeno para desenvolver
um mtodo de datao; pois conhecido que, para a obteno da consistncia de uma cermica a
partir da argila, a mesma tem que ser queimada. Com a queima da argila os gros de quartzo,
contidos nas mesmas sofrem um tratamento trmico e, aps o resfriamento, a mesma recebe radiao do ambiente (dose arqueolgica).
No mtodo da pr-dose para a obteno da dose acumulada pela amostra ao longo dos
anos, ou seja, desde queima da argila at o momento da datao, realizam-se as medidas confo rme os procedimentos citados na seo 2.9.
1. A amostra do quartzo extrado da cermica dividida em quatro partes ;
2. A primeira poro submetida a uma dose teste ( de 10 at 100 mGy ) e efetuado o aquecimento da amostra a fim de obter o sinal S0 ;
3. Aps efetuar a leitura S0 , tomamos uma segunda parcela da amostra de quartzo, e a submetemos a um tratamento trmico, a 500 C durante 2 horas. Aps o resfriamento da amostra,
aplicamos a mesma dose teste e medimos a intensidade do pico ( SN ) que, como j mencionado na seo 2.9, deve ser maior que S0 , pois o incremento no sinal se deve ao efeito da prdose;
4. Com o mesmo material utilizado na etapa 3, realizamos um outro tratamento trmico, me sma temperatura do primeiro tratamento quando, resfriamos a amostra temperatura ambiente
e aplicamos a dose teste. Aps estes procedimentos feito o aquecimento da amostra com a
finalidade de obter o sinal TL SN. Neste momento, esperado que o sinal SN seja igual ao
sinal SN, pois conhecido que somente o processo de ativao no modifica a sensibilidade.
64

Esta medida necessria para se verificar que o processo de ativao do efeito da pr-dose
foi efetuado completamente;
5. Tomamos uma outra parte da amostra, parcela 3, e aplicamos uma dose de laboratrio A1 , em
geral de 1,5 Gy rad a 2,0 Gy, e conhecendo a dose em que ocorre a saturao, podemos aplicar dose bem maiores, desde que no ultrapasse a dose de saturao. Aps aplicao da dose
de laboratrio submetemos a amostra a um tratamento trmico, a 500 C durante 2 horas, e
com o resfriamento da amostra temperatura ambiente submetemos a amostra dose teste e
feita a leitura da TL SN+A1;
6. Na ltima parcela aplica-se uma dose de laboratrio menor que a dose anterior, em torno de
0,70 Gy, e procedemos da mesma forma que o item 5, obtendo assim o sinal SN+A2.
Para verificar a linearidade do incremento na sensibilidade, determinam-se as relaes:

P1 =

S N + A1 S N
A1

(2.36)

P2 =

S N + A2 S N
A2

(2.37)

Para o caso que P1 =P2 , observada a linearidade no incremento da sens ibilidade.

No caso da datao arqueolgica utilizando o efeito da pr-dose, a dose absorvida pela
amostra, dose arqueolgica, calculada atravs da seguinte relao:
DA =

S N S0
A1
S N + A S N'

(2.38)

Quando usado corretamente, o mtodo da pr-dose pode ser utilizado para calcular idades
de at 100 anos, devido a alta eficincia do mecanismo de sensibilizao. Isto torna esta tcnica
atrativa para testar a autenticidade de artefatos cermicos (Fleming, 1975) e realizao de trabalhos de dosimetria de eventos recentes.

2.10.4- MTODO DA FOTOTRANSFERNCIA

Devido s diversas dificuldades quando aplicamos os mtodos de datao termoluminescncia, como a TL espria, supralinearidade e superlinearidade do sinal, e outros fatores que es65

tudaremos mais profundamente na seo seguinte, h necessidade de utilizarmos tcnicas alternativas a fim de reduzirmos os erros nas idades determinadas. Dentro dessa viso tem sido proposto (Bailiff et tal, 1977; Bowman, 1979) um mtodo que utiliza a transferncia de cargas de
armadilhas mais profundas para as mais rasas, que o mtodo denominado datao por fototransferncia.
O princpio deste mtodo baseia-se no fato de que, quando se ilumina uma amostra de
quartzo com luz, ocorre transferncia de cargas das armadilhas mais profundas (doadoras) para as
armadilhas mais rasas (receptoras). A eficincia da fototransferncia depende do comprimento de
onda da luz utilizada para iluminar a amostra e as atuais pesquisas apontam que na faixa de 260
nm a 320 nm tem-se a eficincia mxima. A fototransferncia caracterstica de um espcime de
quartzo arqueolgico mostrada na figura 2.17.
Na datao por fototransferncia, a intensidade do pico de 110 C, para um dado tempo de
exposio luz UV, uma medida direta da frao de cargas transferidas das armadilhas mais
profundas para as armadilhas mais rasas. Em outras palavras, podemos dizer que a intensidade do
pico de 110 C proporcional quantidade de cargas armadilhadas, inicialmente, nas armadilhas
mais profundas, que por sua vez est relacionado com a dose arqueolgica.

Figura 2.17- A figura mostra a curva de emisso tpica do quartzo natural Nesta figura exibido os picos correspondentes aos nveis doadores e receptores usados no processo da fototransferncia

Considerando o exposto nesta seo podemos determinar a dose natural absorvida por
uma amostra de quartzo ao longo dos anos, dose arqueolgica, desde que conheamos a dose de

66

calibrao dada na amostra. Os procedimentos adotados, geralmente, para a datao arqueolgica

por fototransferncia a partir de uma amostra de quartzo so os seguintes:
1. A amostra aquecida a 210 C durante 1 ou 2 minutos;
2. Aplica-se uma dose teste na amostra, de 1 a 10 rad, temperatura ambiente;
3. Aquece-se a amostra a 210 C e mede-se a intensidade do pico de 100 C ( X0 );
4. Ilumina-se a amostra com luz UV monocromtica por 1 a 5 min temperatura ambiente;
5. Aquece-se a amostra a 210 C e mede-se a intensidade do pico de 110 C ( XN );
6. Drena-se os nveis doadores por um tempo muito grande de irradiao com luz UV, ou aquece-se a amostra a 500 C durante um tempo prolongado;
7. Repete-se o procedimento 2;
8. Repete-se o procedimento 3 e medimos X 0 ;
9. Aplica-se uma dose de calibrao temperatura ambiente;
10. Ilumina-se a amostra novamente com luz UV por 1 min temperatura ambiente;
11. Aquece-se a amostra at 210 C e mede-se a intensidade do pico X.
A dose arqueolgica DA ento calculada de acordo com a relao

DA =

X N X 0
XX0

(2.39)

Naturalmente, espera-se que X 0 = X 0 , porm, ocasionalmente, isto no encontrado;

possivelmente devido ao efeito parcial de ativao da pr-dose durante o aquecimento a 210 C.
O propsito do aquecimento a 210 C de remover os picos de 110 C e 210 C. Como a temperatura deste tratamento trmico muito baixa o mesmo no afeta ao armadilhas mais profundas
(doadoras), mas remove a interferncia da superposio do pico de 210 C. Um fato importante
nos processos de datao por termoluminescncia e por fototransferncia quando ~ N, pois
neste caso verifica-se um comportamento no linear das cargas armadilhadas nos nveis doadores
com a dose N e a dose de calibrao.
A grande vantagem de utilizarmos a fototransferncia para datao arqueolgica que
podemos reduzir significativamente os efeitos, devido s impurezas presentes nas amostras de
quartzo, e sobretudo a possibilidade de realizar diversas medidas com a mesma amostra. Pode-

67

mos repetir os procedimentos vrias vezes porque a cada aquecimento, a 210 C, ou irradiao
com luz UV, apenas, uma pequena parcela das armadilhas profundas presentes no material esvaziada.

2.10.5- PROBLEMAS POTENCIAS DEVIDO APLICAO DOS MTODOS DE DATAO POR TERMOLUMINESCNCIA

De uma forma geral podemos determinar a idade das peas cermicas atravs da determinao da dose absorvida pelos gros de quartzo incluso nas peas; desde que seja conhecido a
taxa anual de radiao natural que a pea foi sujeita. A idade pode ser determinada atravs da
razo entre a dose absorvida pela pea e a taxa de radiao natural (Equao 2.33), Porm, na
prtica, vrios fatores dificultam a determinao desta dose acumulada. Citaremos abaixo alguns
destes fatores (Mckeever, 1985):

A) Decaimento espontneo (Fading) - Quando datamos artefatos cermicos por termoluminescncia devemos incluir algumas correes devido ao desarmadilhamento de cargas capturadas
por influncia de diversos fatores tais como temperatura, iluminao, umidade e outros fatores
ambientais. No caso da datao, que apresenta perodos longos de irradiao, estes fatores so
mais difceis de monitorar. e, como conseqncia, somente em alguns casos podemos corrigir o
sinal TL emitido pela amostra. Este efeito de diminuio do sinal TL conhecido por "fading".
Dos fatores que causam o efeito de fading, provavelmente, a temperatura seja o mais importante ( Thermal fading ), causando uma instabilidade dos picos de baixa temperatura. Logo,
para realizar a datao necessrio selecionar os picos de grande estabilidades, para tal, lanamos mo de um teste denominado de teste do plat.
Neste teste a curva de emisso do quartzo natural comparado com a curva de emisso do
quartzo irradiado e feito o grfico da razo da TL natural e TL da amostra irradiada contra a
temperatura (figura 2.18). Consideramos que a temperatura das armadilhas mais estveis reside
na regio indicada por uma razo constante ou plat.

68

Figura 2.18- Nesta figura a curva N representa a emisso TL de amostra de quartzo natural e a curva N+ representa a curva de emisso de uma amostra de quartzo irradiada com radiao beta. A curva tracejada representa a
razo entre as duas curvas. Podemos verificar na figura que os picos que apresentam maiores estabilidade esto
acima de 300 C.

A figura 2.18 representa a forma ideal para o teste do plat de uma amostra de quartzo,
contudo podemos encontrar vrias outras formas para esta curva , devido a combinao de vrios
efeitos como a supralinearidade, TL espria, etc.
Quando o efeito fading pode comprometer a determinao correta da idade da pea,
contorna-se o problema utilizando-se o mtodo de datao por fototransferncia, ao invs de aplicar os mtodos mais convencionais.
B) Termoluminescncia espria- A TL espria um dos fatores responsveis pela alterao na
idade da amostra, geralmente aumenta a idade da amostra e, em virtude disso devemos ter muitas
precaues durante a preparao da amostra, pois a TL espria pode ser causada por presso,
frico, reaes qumicas e ao da luz UV; fatores que podem estar presentes durante a preparao da amostra. A TL espria pode ser minimizada pela substituio da atmosfera ambiente pela
atmosfera de nitrognio, durante a realizao da medida da TL. Outro fator que pode reduzir a
termoluminescncia espria o uso de tcnicas que utilizam gros finos, pois o efeito da TL espria de carter superficial.
C) Supralinearidade- Quando realizamos o teste do plat para definir os picos de maior estabilidade para datao, geralmente este teste revela que os picos de 325 C ou o de 375 C so os
69

mais estveis, porm estes picos podem apresentar o fenmeno da supralinearidade, que o aumento na sensibilidade TL do cristal durante as primeiras centenas de rad da dose natural (figura
2.19) , sendo assim devemos verificar este efeito quando utilizamos os mtodos da curva de calibrao e da dose adicional.

Figura 2.19- A figura mostra que para dose muito baixa a resposta TL em funo da dose no linear.

Na datao arqueolgica por termoluminescncia pelo mtodo da dose adicional, o procedimento normal dar diversas doses adicionais amostra natural e traar o grfico intensidade
versus dose, e a dose absorvida pela amostra obtida extrapolando a reta obtida at a ordenada
nula, ou seja, at a intensidade termoluminescente nula, no caso em que a amostra apresenta um
comportamento linear. Contudo, se a intensidade da curva de emisso no apresenta um comportamento linear, ou seja, supralinear, ocorrer um erro na estimativa da idade da amostra e, ao
invs da dose natural apresentar um valor I0 apresenta-se como um valor N; dessa forma o problema se resume ao clculo de I0 . O procedimento normal para a correo deste problema de
construir uma segunda curva de emisso TL para o material, isto , a amostra submetida a um
tratamento trmico para eliminar a TL natural e irradiada novamente, obtendo assim a curva
TLA. Se no houve nenhuma alterao nas propriedades supralineares da amostra durante a irradiao ou leitura TL, esta segunda emisso apresentar o mesmo grau de supralinearidade da
primeira emisso, isto , as curvas A e B sero paralelas. Sob estas circunstncias, podemos estimar corretamente a dose absorvida I0 a partir da interseo da segunda curva de emisso IN, onde
IN = I0 ( figura 2.19 ). Assim, a dose absorvida pela amostra natural estimada de acordo com a
relao:
70

N = N '+ I N

(2.40)

Outro fato relacionado com a resposta no linear da amostra com a dose de laboratrio,
que na regio de dose muito alta (102 Gy a 103 Gy) a resposta Tl atinge uma regio de saturao.
Este comportamento no interfere na datao arqueolgica, porm, estabelece um limite superior
( cerca de algumas centenas de milhes de anos) para a datao geolgica.

D) Diferentes resposta TL irradiao com fontes de radiao , e - Devido s diferentes

formas de interaes da radiao com a matria, a resposta TL obtida com fontes de diferentes
naturezas no so as mesmas. Portanto, preciso introduzir uma correo, pois conhecido que
as amostras de quartzo arqueolgico so submetidas a diferentes tipos de radiao, como radiao
, , e raios csmicos. sabido que a eficincia da radiao alfa menor que as demais, devido
elevada ionizao produzida pela mesma na superfcie da amostra que indica que ela menos
penetrante e ocasionar uma rpida saturao das armadilhas de eltrons. Para fazer a correo
deste problema, introduzimos uma fator de eficincia que o quociente entre a eficincia TL da
radiao alfa pela eficincia da radiao beta ou gama, indicada neste trabalho pela letra K. A
taxa anual de radiao D da dose de radiao natural igual soma KD + K D + KD,
onde os ndices correspondem os trs tipos de radiao mais importante, alfa, beta e gama, respectivamente. Dessa forma a equao para determinao da idade da pea passa a ser :

Idade =

D
KD + D' + D'
'

(2.41)

E) Erro na determinao da taxa de radiao natural- Para determinao da dose absorvida D na

amostra, da taxa de radiao natural D e dos fatores K, so necessrias fontes de radiao muito
bem calibradas. Porm, a dosimetria das fontes utilizadas uma tarefa difcil, pois depende de
muitos parmetros como o tipo, o tamanho e a atividade da mesma, a geometria de irradiao, a
natureza e a espessura do alvo. No caso da determinao da taxa anual as dificuldades so caus adas pela falta de distribuio homognea da radioatividade natural. Como conseqncia, deve-se
realizar uma estudo sistemtico para a distribuio dos dosmetros ao longo da regio onde se
encontram os stios arqueolgicos.
71

CAPTULO 3 QUARTZO E SUAS PROPRIEDADES

72

3.1- APRESENTAO

Este captulo refere-se aos materiais e mtodos utilizados neste trabalho, especificamente,
ser feita uma exaustiva abordagem estrutura do quartzo, tendo em vista que o mesmo o material termoluminescente usado para o trabalho de datao nos stios estudados.
Na seo 3.2, feita uma apresentao da estrutura do quartzo. Apresentaremos a estrutura bsica dos cristais de quartzo, bem como as diversas formas que o mesmo pode apresentar,
quartzo-, quartzo-, tridimita e cristobalita.
Dando continuidade ao captulo, na seo 3.3, ser feita uma caracterizao dos defeitos
estruturais apresentados pelos cristais de quartzo, pois a emisso termoluminescente um resultado da interao da matria com a radiao ionizante e logo com os defeitos causados por esta
radiao na estrutura do quartzo. Nesta seo sero definidos os principais defeitos apresentados
pelos materiais, como os defeitos Schottky e Frenkel, alm disso ser feita uma abordagem a respeito dos principais defeitos presentes nos cristais de quartzo que so os centros E.
Aps est apresentao das variedades de quartzo, na seo 3.4, trataremos de expor as
caractersticas das curvas de emisso TL para o quartzo, para este fim ser feito um resumo das
temperaturas dos picos apresentados pelo material, assim como sero apresentados outras caractersticas da emisso TL do quartzo como energia de ativao dos picos, fator de freqncia, mtodo empregado para determinao da cintica dos picos e pesquisador que encontrou estas caractersticas.
3.2- QUARTZO
O material utilizado neste trabalho o quartzo extrado da cermica. Tendo em vista que
este quartzo, que pertence famlia dos Silicatos, foi submetido a um tratamento trmico durante
o fabrico do artefatos cermicos, devemos tecer algumas caractersticas a respeito de sua estrutura, a fim de conhecer os fatores que influenc iam na datao arqueolgica.
O termo slica refere-se aos compostos de dixido de silcio, SiO 2 , nas suas vrias formas,
incluindo slicas cristalinas, vtreas e amorfas. O SiO 2 o composto binrio de oxignio e silcio
mais comum e abundantes na crosta terrestre, pois a slica e seus compostos constituem cerca de
60 % em peso da crosta terrestre (Leite et tal, 1992). Os depsitos de slica so encontrados universalmente e so provenientes de vrias eras geolgicas, sendo que a maior parte so minerados
73

para obteno de areias slicas que so constitudas de quartzo livres, quartizitos e depsitos sedimentares como os arenitos. Comercialmente, a slica a fonte do elemento silcio e usada em
grande quantidade como constituinte de materiais de construo. Contudo, devido s suas propriedades qumicas e fsicas, possui numerosas aplicaes especializadas, como cristais piezoelctricos, na indstria de vidros, cermicas e refratrios e como componentes pticos.
Na natureza podemos encontrar a slica cristalina e amorfa. A slica cristalina refere-se a
um grupo mineral no qual esta estrutura se repete regularmente por toda estrutura interna do material. Na natureza podemos encontrar uma variedade de arranjos de estruturais do SiO 2 , dentre
eles o quartzo-, cristobalita, tridimita, keatita, coesita, stisshovita, etc. Destes o quartzo o mais
comum; a tridimita e a cristobalita so encontradas amplamente distribudas nas rochas vulcnicas e o restante de ocorrncia relativamente rara.
Os silicatos apresentam como estrutura bsica o grupo (SiO 4 )4- (figura 3.1), que tem estrutura tetradrica, que por sua vez ligado com tetraedros vizinhos, produzindo uma estrutura
tridimensionalmente contnua, fortemente unida. Apesar da estrutura bsica ser comum a todos os
silicatos, cada mineral formado tem suas propriedades fsicas e qumicas e estvel em determinadas condies de temperatura e presso.
Dentre as formas estveis dos silicatos nos deteremos s caractersticas do quartzo, devido
a sua importncia econmica, abundncia e aplicabilidade na arqueologia e geologia.
O quartzo est presente em grande parte das rochas vulcnicas cidas e muitas das rochas
metarmrficas e sedimentares; resistente ao intemperismo e muito comum nas camadas sedimentares, formando arenitos; e nas rochas metarmorfoseadas, formando os quartizitos . A areia
um produto da desagregao do quartzo; o arenito, por sua vez, formada pela aglomerao dos
gros de areia, e o quartzito uma rocha similar a arenitos, porm, a mesma sofreu metamorfismo atravs de uma agregao com um ligante .

Figura 3.1- Estrutura bsica dos silicatos, podemos visualizar na figura que o arranjo espacial tetradrica com
um tomo de silcio no centro e quatro tomos de oxignio, um em cada vrtice.

74

O quartzo e seus polimorfos, tridimita e cristobalita, ocorrem naturalmente na faixa de

temperatura menor que 870 C, entre 870 C e 1 470 C e maior que 1 470 C, respectivamente
(Mckeeever, 1985). A tridimita e a cristobalita so metaestveis temperatura ambiente e ocorrem na forma natural. Os trs minerais citados acima tm forma modificada, denominas de e ,
sendo que o quartzo- estvel a uma temperatura abaixo de 573 C e a forma de quartzo- estvel entre 573C e 870 C. As transies das duas fases, e , envolvem pequenos ajustes das
posies dos tomos sem qualquer modificao nas ligaes dos mesmos. Devido a isto, as transies de fases so muito rpidas e completamente reversveis, porm as transformaes quartzo
tridimita cristobalita so lentas e requerem as transformaes reconstrutivas (quebra das
ligaes Si-O), um processo que requer muita energia.
O quartzo- tem estrutura rombodrica, enquanto que o quartzo-

hexagonal-

trapezodrica. Em ambas as formas, os grupos tetradico de quatro tomos de oxignio esto rodeando o tomo de silcio, um em cada vrtice; sendo que sua estrutura bastante compacta onde
os tetraedros de SiO 4 compartilham vrtices para formar anis hexagonais em forma de hlice
(Figura. 3.2).

Figura 3.2- Estrutura do -quartzo com tetraedros arranjados em forma de hlice.

O quartzo apresenta uma ampla variedade de tipos, os quais resumiremos na tabela abaixo
(tabela 3.1).

75

Cristal de ro- Quartzo incolor, transparente e na forma de cristal

cha
Ametista

Vrias tonalidades de violeta devido a presena de traos de Fe

Quartzo rosa

Colorao rsea devido ao Ti4+

Quartzo fum

Amarelo fum, marrom a quase preto presena de Al3+

Quartzo leitoso Cor branco leitoso devido presena de uma grande quantidade de incluses
fluidas.
Calcednia

Variedade microcristalina que preenche cavidades de rochas vulcnicas; gata

quando se apresenta em camadas concntricas com diferentes coloraes.

Opala

Estrutura desordenada e com quantidade varivel de H2 O.

Tabela 3.1- A tabela mostra algumas variedades do quartzo encontrado naturalmente, dando algumas propriedades
fsicas.

A diferena de eletronegatividade entre o tomo de silcio e de oxignio, d origem a uma

ligao que aproximadamente 40% inica e 60% covalente. A natureza covalente d ao quartzo
uma estrutura bastante rgida, prevenindo difuses macroscpicas de tomos pela rede. Essa
mistura de natureza inica e covalente na ligao dos tomos do quartzo, resulta em dois mecanismos bsicos para os danos de radiao: a ruptura na ligao Si-O e a criao de vacncias de
oxignio e interstcios atravs de colises por partculas nucleares. O primeiro processo requer
que o material seja submetido radiao ionizante e o segundo ao bombardeamento por partculas altamente energticas ( McKeever, 1985).
Diferentemente do quartzo que tem uma estrutura muito compacta, a tridimita e cristobalita, estveis a temperaturas mais altas, 870-1470C e 1470-1728C, respectivamente, apresentam
estruturas bem mais abertas que a do quartzo (Figura 3.3.).
(a)

(b)

Figura .3.3.- A figura mostra as estruturas da tridimita (a) e cristobalita (b). Podemos observar que ambas as estruturas so mais abertas em relao estrutura do quartzo.
76

Devido a este novo arranjo estrutural, a tridimita e a cristobalita apresentam propriedades fsicas
e qumica diferentes das do quartzo.
Muitos dos defeitos causados por radiao ionizante no quartzo, como ser estudado na
seo 3.3.3, aparecem devido s imperfeies existentes na estrutura cristalina do mesmo, predominantemente impurezas. Os eltrons e buracos liberados pela radiao ionizante podem ser
armadilhados gerando vrios fenmenos, como absoro ptica, luminescncia e vrios outros
fenmenos de origem magntica e eltrica.
Neste trabalho estamos interessados nas propriedades luminescentes do quartzo quando o
mesmo submetido a um aumento de temperatura. Esta propriedade, denominadas termoluminescente, esto relacionadas com uma srie de defeitos presentes na estrutura cristalina do mesmo; da a necessidade de dedicarmos uma seo a este tpico.

3.3- DEFEITOS ESTRUTURAIS DO QUARTZO

Qualquer alterao da estrutura da rede peridica de um cristal constitui uma imperfeio

ou defeito estrutural. Nos cristais encontrados na natureza existe uma ampla variedade de defeitos, que por simplicidade so classificados em defeitos pontuais ou extensos. As imperfeies ou
defeitos mais comuns so impurezas qumicas (defeitos extrnsecos), stios vazios da rede
(vacncias) e tomos extras situados em posies no regulares da rede (intersticiais) (Kittel,
1978). Os defeitos extensos ocupam grandes volumes do material, como deslocaes ,incluses
de diferentes fases, contorno de gro, etc.
Muitas propriedades apresentadas pelos materiais esto relacionadas com os defeitos estruturais presentes nos cristais. Podemos citar como exemplos que a condutividade de alguns semicondutores est inteiramente relacionada com as impurezas presentes na estrutura e que a cor
apresentada por muitos cristais se deve presena de impurezas. Outra propriedade muito importante relacionadas com os defeitos apresentados pelos cristais o fenmeno da luminescncia,
que seria impossvel sem a presena de impurezas.
O defeito pont ual mais simples a vacncia da rede, a qual corresponde a um tomo ou
on ausente, dando origem aos defeitos Schottky ou Frenkel (figura 3.4).

77

Figura 3.4- A figura representa defeitos Frenkel (a) e Schottky (b) num cristal inico. As setas indicam os deslocamentos dos ons, no defeitos Schottky o on migra para superfcie, enquanto que no defeito Frenkel o on est numa
posio intersticial.

No defeito Schottky os ons se difundem at superfcie do material, formando vacncias,

porm no defeito Frenkel o tomo se transfere de um stio da rede at uma posio intersticial,
posio que normalmente no ocupada.
Como regra geral, os defeitos estruturais presentes nos cristais so, tipicamente, produzidos durante o crescimento e preparao dos mesmos, devido a tratamentos trmicos, a deformaes plsticas, implantao de ons ou devido aos efe itos da radiao.
No caso dos cristais derivados do SiO 2 podemos citar uma quantidade numerosa de defeitos relacionados com as vacncias de oxignio, o qual so denominados de centros E. Estes
centros so os mais importantes para podermos explicar muitas das propriedades fsicas, pticas e
magnticas apresentadas pelos cristais de Silica. Estes centros tm sido encontrados em todas as
formas do SiO 2 , incluindo o quartzo-, slica e filmes finos de SiO 2.
O centro E1 pode ser entendido como uma vacncia de oxignio com um eltron desemparelhado, no orbital sp3 localizado no stio Si(I) (figura 3.5), o qual resulta em uma distoro na
rede em torno da vacncia.

78

Figura 3.5- Nesta figura podemos observar um modelo para o centro E1 ,o qual consiste de uma vacncia de oxignio (crculo tracejado) com um eltron desemparelhado localizado no stio de Si(I). A seta indica a relaxao
assimtrica dos tomos de silcio de sua posio normal na rede (Mcveer,1985).

O centro E2 consiste, tambm, de uma vacncia de oxignio, porm com um prton associado, sendo que neste centro o eltron est localizado no stio Si(II). Os dados disponveis referentes ressonncia do spin eletrnico e absoro ptica mostram que as bandas de absoro
em 215 nm (5,8 eV) e em 235 nm (5,3 eV) esto relacionadas com os centros E1 e E2 , respectivamente.
Outros defeitos importantes nos silicatos so associados ao rompimento na ligao entre o
silcio e o oxignio. Uma quebra na ligao do oxignio no quartzo ou na silica resultar em uma
ligao oscilante (dangling bond) que, potencialmente, ser uma armadilha de buracos e o orbital vazio de Si poder formar uma armadilha de eltrons. A quebra nestas ligaes de oxignio
aparece durante o crescimento do material, particularmente na silica, mas pode ser facilmente
criado por radiao ionizante (Mckeever, 1985).
A introduo de impurezas na rede do SiO 2 d origem a novas caractersticas na absoro
ptica, relaxao dieltrica e a ressonncia do spin eletrnico, e ao mesmo tempo influenciando
79

as propriedades dos defeitos intrnsecos. ons alcalinos monovalentes agem como modificadores
de rede por induo de rompimentos na ligao do Si com o oxignio, sem a ao da radiao
(figura. 3.6). A absoro na regio das bandas E dependente da concentrao destes ons alcalinos.

Figura 3.6- Rompimento na ligao de oxignio como resultado da incorporao de um on alcalino M+ em um stio
intersticial no SiO2 .

conhecido que a introduo de alumnio no quartzo e silica ,contendo impurezas alcalinas, faz decrescer a absoro ptica relacionada com o rompimento da ligao de oxignio. A
interpretao para este fenmeno que o Al trivalente quando substitui um Si+4 , precisa ser compensado eletricamente pela presena de on monovalente. Assim , o on alcalino, que pode difundir-se facilmente atravs do eixo-c, associa-se ao Al+3 e age, portanto, como modificadores da
rede (Mckeever, 1985).
Nos derivados do SiO 2 podem existir vrios tipos diferentes de centros de Al, dependendo
do on compensador e da posio ocupada pelo mesmo.
Portanto, apesar da variedade de defeitos que o quartzo pode apresentar, para o estudo da
termoluminescncia os mais importantes so os centros de eltrons (centros E) e os centros de
impurezas (centros de eltrons ou centros de buracos), sendo que os centros, possivelmente, mais
importante para os fenmenos de luminescncia so os centros E (Tabela 3.2).

80

Nome

Spin

Absoro (eV)

Comentrios

Modelo

E1

5,8

Optical bleaching (UV, 5,6

Vacncia de oxignio com um

eV)

eltron desemparelhado localizado no orbital hbrido sp3 estendida na vacncia a partir de

um silcio adja cente.

E2

5.3

Thermal bleaching(100-

Modelo no definido.

400C). aparece sob condio

de irradiao prvia.
E4

5.3

Mostra a separao hiperfina

Mesmo modelo do centro E1 .

de prton
E

5.3

Produzido por raios-X de

Processo radioltico

energia de 100 keV ou menos

temperatura T 77 K
E1

5.3

Optical bleaching

Dois centros E1 com vrias

possibilidades geomtricas

E2

5.3

Instvel termicamente (30-

---

100C)
E3

5.0

Pode ser reativado por ioniza-

---

o se recozido T<120C
B2

Nome

Spin

B2

A1

2.65 (

Optical bleaching (245nm).

Modelo no definido

Absoro (eV)

Comentrios

Modelo

4.3 ( > 10ns)

Correlacionado com defici n-

Produzido pela quebra da liga-

cia de oxignio

o Si-Si

Radiation annealing

Ocorre apenas temperatura

2.0

10ms)

bastante alta (T
A2

2.7

Optical bleaching (5.8 eV)

200K)

Buraco armadilhado em um
orbital p no ligado de um on
de oxignio localizado na adjacncia de um alumnio substitucional (AlO 4 )0

Tabela 3.2- Centros de vacncia-oxignio (E e B) e impurezas (A) para o quartzo cristalino ( Townsend et tal,
1988).
81

Nome
E

Spin

Absoro (eV)
5.8

5.8

B2

A1

2.3

A2

2.9

5.0

Comentrios
Crescido concomitante com decaimento radioltico
H0

Modelo
Hidrognio atmico
mvel reagindo
com silcio carregado positivamente(
Si+H0 Si+H +)
Causado por coliBuraco armadilhases, algumas vezes do em um stio de
referido como E1
vacncia de oxignio neutro.
Produzida em slica Sugerida com Al+3
impura irradiada
substituindo Si+4
com uma vacncia
de oxignio adjacente
Cresce intensivaDesconhecido
mente com a quantidade de alumnio,
sendo que a posio
do pico varia com o
tipo de impureza
presente
Optical bleaching Desconhecido
(5.8 eV)

Tabela 3.3- Centros de vacncia-oxignio (E e B) e impurezas (A) para slica (Townsend et al, 1988).

3.4- TERMOLUMINESCNCIA DO QUARTZO

A curva de emisso termoluminescente para o quartzo ainda no totalmente entendida,

devido ao fato de que a termoluminescncia fortemente influenciada pelas impurezas presentes
no material, ou seja, depende da variedade do quartzo (figura 3.7), e do prvio tratamento trmico
ao qual a amostra foi submetida.

82

Intensidade TL ( u.a )

1,5

1,0

0,5

0,0
0

100

200

300

400

Temperatura (C)

Figura 3.7- Curva de TL tpica emisso para uma amostra de quartzo transparente, encontrado na regio do Baixo
So Francisco. A amostra natural foi tratada termicamente a 500 C, durante 2 horas, e irradiada com dose de 4 Gy
com radiao . Podemos observar os picos de 110 C,230 C e 350 C.

Os picos presentes nas curvas de emisso do quartzo, assim como em outros materiais,
geralmente esto superpostos, o que sugere uma estrutura de armadilhas muito complexa. Como
resultado, os pesquisadores tm apontado diversas posies para os picos (tabela 3.4), contudo,
em sua grande maioria, concordam que o quartzo apresenta picos termoluminescentes em 110 C,
325 C e 375 C, pois os mesmos esto presentes na maioria das amostras de quartzo.

83

Temperatura do
pico (C)

Profundidade da
armadilha (eV)

Fator de freqncia (s -1)

Mtodo de obteno dos parmetros

Vida mdia 15
C (picos de 1
ordem) (s)

Referncias

75

AC

Navarro (1998)

85

0,84

100

110

11

1,98x10

-3

SI

0,13X10

Aitken(1985 )

AC

Santos et
al(2000)

0,80

2,7x109

SI

1,2x10-3

Aitken (1985 )

110

0,98

12

-3

110

0,99

125

8,0x10

11

180

1,19

1,8x10

190

1,42

230

Vrios

0,8x10

Fleming(1979)

Vrios

Wintle (1975 )

AC

Navarro (1998)
3

AC

0,1x10

Levy (1979)

3,4x1014

SI

0,7x103

Aitken(1985)

1,79

5x1018

MPT

130x103

Aitken(1985)

230

1,10

SI

Wintle(1977)

240

1,60

9,2x1014

SI

340x103

1,18

250

1,8x10

AC

Aitken(1985)

Levy(1979)

Htt et tal(1979)

7,6x10

280

1,45

SI

>3x10

310

1,68

1,8x1013

SI

450x106

320

1,61

11

5,1x10

325

1,69

1x1014

1,70

14

DI

160x10

Wintle (1977_)

325

1x10

Aitken(1985)

AC

880x10

Levy(1979)

MPT

100x106

Wintle (1977)

325

1,05

1x10

SI

Wintle (1977)

325

1,26

4x1010

SI

8,5x103

330

1,85

4,1x1014

DI

170x108

370

1,51

4x1010

AC

200x106

Aitken e Fleming(1971)
Htt e Smirnov
(1983)
Schwartz et tal
(1983)

370

DI

*6,3x108

13

375

1,66

1,5x10

375

1,65

400

430

Hwang(1972)

SI

>10

Fleming (1979)

1,3x1013

AC

Spooner et
al(2002)

DI

*6,3x107

DI

12

*3x10

Hwang(1972)
Hwang (1972)

Tabela 3.4- Os picos foram obtidos taxa de 2 a 10C/s. nesta tabela SI-subida inicial, DI-decaimento isotrmico, MPTmudana do pico com a taxa , AC-ajuste da curva. * Meia vida aps popular as armadilhas originais (Prokein.1994).

Para realizar a datao arqueolgica utilizando-se o quartzo extrado da cermica e para

obter idades confiveis deve-se, inicialmente, fazer um estudo a respeito da emisso do quartzo
presente nas cermicas e os fatores que influenciam as propriedades TL do mesmo.
84

Um fato notvel que auxilia na elucidao dos processos relacionados com emisso TL do
quartzo que a intensidade da emisso cresce com a temperatura da irradiao (Durrani et al,
1977), isto sugere que a termoluminescncia do quartzo, acima da temperatura ambiente, est
relacionado com os centros (Al+3 )0 , pois com o aumento da temperatura a difuso dos ons alcalinos a partir dos stios de alumnio cresce, resultando na produo de um maior nmero de centros
(Al+3 )0 , que agem como stios de recombinao para os eltrons liberados das armadilhas (Itoh et
tal, 2000).
Diversos pesquisadores tm apontado a relao entre outras impurezas e a curva de emisso TL. Medlin, 1963, relaciona o pico a 165 K a impurezas de Ti+4 ; Hensler, 1959, associou o
pico de 280 C com o Al e o ltio; Arnold, 1973, associa o pico de 180 C presena de Ge; entre
outros.
Vrias curvas apresentadas nos trabalhos cientficos so de origem geolgica ou extradas
de cermicas e apresentam uma ampla variedade de formas, pois os materiais utilizados nos trabalhos so submetidos a diferentes taxas de aquecimento e tratamentos trmicos, alm de apresentarem diferentes impurezas e condies de formao. Todos estes fatores afetam seriamente a
curva de emisso.
Portanto, a correlao entre os defeitos especficos com um pico ou determinada curva de
emisso particular no SiO 2 apresenta imensas dificuldades. Os problemas encontrados so resultados da complexidade das estruturas dos defeitos que ainda tm sido apenas caracterizados parcialmente.
Nos trabalhos de datao arqueolgica e geolgica a escolha do pico depende do mtodo a
ser utilizado para realizao de tal datao. Geralmente, para os mtodos onde empregado o
aumento da intensidade da curva de emisso com a dose de laboratrio (mtodo da curva de calibrao ou da dose adicional) so utilizados os picos de altas temperaturas, e acima de 300 C,
pois os mesmos apresentam uma estabilidade bem maior que os demais picos. Contudo, para os
mtodos de sensibilizao (mtodo da pr-dose e fototransferncia) utiliza-se o pico de 110 C,
pois o mesmo apresentam a sensibilizao de acordo com o tratamento trmico efetuado.
Assim como a curva de emisso depende do tipo de impureza presente no material, pois
estas impurezas determinam os centros de armadilhamento de eltrons e buracos, o espectro de
emisso da amostra depende dos centros de luminescncia presentes no material. A principal diferena entre os centros de armadilhamento e centros de recombinao, que no primeiro o tem85

po de vida dos portadores diminui com o aquecimento provocando desarmadilhamento, j no

segundo, o tempo de vida permanece inalterado durante o aquecimento na faixa de temperatura
considerada (Melo, 1998). Quando os centros de recombinao de eltrons e buracos se do com
a emisso de ftons, estes centros so denominados de centros de luminescncia.
O quartzo apresenta um espectro de emisso bastante complexo, pois o mesmo emite em
uma ampla faixa de comprimento de onda (250-800 nm), este fato provoca uma dificuldade na
caracterizao dos centros de luminescncia.
Segundo Townsend et al, 1994, o espectro detalhado do quartzo ainda no foi possvel
devido s diferentes calibraes dos espectrmetros e a superposio de vrias bandas de emisso. Contudo, encontrado na literatura algumas bandas de emisso caractersticas do quartzo (
tabela 3.5).

Comprimento de onda (nm)

Modelo

280

Vacncia de oxignio

350

Quebra da ligao prximo a um centro E

380 390

Variante do centro E ou E beta primo

400

Impureza de germnio

580 590

Variante do centro E

640

Vacncia de oxignio e impureza de Na

740 760

Ferro

Tabela 3.5- Modelo de defeitos para explicar as bandas de emisses do quartzo (Mckeever, 1985).

Especificamente para o pico TL de 110C, a recombinao com o centro de buraco

[AlO 4 ]0 produz um banda entre 470 nm e 620 nm, enquanto que a recombinao com uma vacncia de silcio ocupada por trs tomos de hidrognio e um buraco armadilhado, tambm chamada
de centro [H3 O4 ]0 , origina uma banda centrada em 370 nm (Zimmerman, 1971; Akber e colaboradores, 1988; Mckeever e Yang, 1990).

86

CAPTULO 4 MATERIAIS E MTODOS

87

4.1- APRESENTA0

Neste captulo ser abordado toda a fase de preparao dos materiais utilizados para datao, bem como sero apresentados os mtodos utilizados para datao e os equipamentos necessrios para tal.
Nas sees 4.2 e 4.3, respectivamente, ser apresentado toda a metodologia de preparao
das amostras e a mtodo para datao. Dando seqncia fase de preparao, na seo 4.4, abordar-se-o as caractersticas dos tratamentos trmicos a que as amostras foram submetidas.
Finalizando este captulo, nas sees 4.5, 4.6, 4.7 e 4.8 sero apresentadas as caractersticas das fontes de radiao, aparato para leitura da TL, forno e caractersticas do filtro de luz utilizado no trabalho.

4.2- PREPARAO DAS AMOSTRAS

As peas arqueolgicas utilizadas neste trabalho so fragmentos de objetos cermicos

recolhidos nas escavaes efetuadas por arquelogos do Museu Arqueolgico de Xing, escavaes estas realizadas no stio Justino, localizado em Canind do So Francisco, Sergipe. No momento da coleta, realizada para a efetivao deste trabalho, o material cermico encontrava-se em
um dos laboratrios de estudos antropolgicos, sediado no prprio museu; pois aps a coleta de
campo, realizada pelos arquelogos, o material cermico levado para este laboratrio, onde
catalogado, acondicionado em sacos plsticos transparentes e, finalmente, estes sacos so postos
em caixas de papel, de acordo com a camada de onde foi recolhida a amostra no stio. No laboratrio estas caixas de papel, onde est inseridos o material cermico, so acondicionadas de forma a proteg-las da umidade, calor e da luminosidade.
No museu procurou-se selecionar as amostras que apresentavam, visivelmente, a maior
quantidade de quartzo possvel; alm disso buscamos identificar peas que, no momento da coleta de campo, estivessem prximas de esqueleto ou fogueira, cujas idades j foram determinadas
pelo mtodo do carbono14 (ver mapas anexos). Outro ponto importante que foi considerado
durante a escolha do material foi de selecionar as peas que apresentassem um pequeno volume

88

(ver figura 4.1), pois como o mtodo utilizado neste trabalho destrutivo, teramos que escolher
peas que no comprometessem a reconstituio de alguns vasos.
Dentro dos critrios citados acima, foram recolhidas no museu, para a realizao deste
trabalho, fragmentos de cermicos das fases 8 e 10. Cada fase corresponde a uma espessura de 15
cm, sendo que a primeira fase contada a partir de cerca de 10 cm abaixo da superfcie. Dessa
forma as amostras utilizadas neste trabalho foram encontras no Stio Justino a cerca de 1m abaixo
da superfcie. Aps a seleo dos fragmentos, estes foram transportados, em sacos plsticos protegidos de umidade, fonte de calor e luz, at o laboratrio de datao arqueolgica, sediado no
departamento de Fsica da Universidade Federal de Sergipe.

Figura 4.1 - A figura apresenta uma das amostras de material cermico utilizadas neste trabalho. Podemos perceber na figura, que a amostra apresenta um dimetro de cerca de 3 cm, e apresenta incrustaes visveis de quartzo.

Ao chegar no laboratrio (LPCM), as amostras foram devidamente acondicionadas, para

proteg-las de luz, calor, umidade e outros agentes que possam alterar as propriedades originais
do material. O acondicionamento da peas feito de forma similar ao efetuado no museu. Aps a

89

devida identificao da peas, as mesmas so submetidas seguinte rotina, para a aplicao das
tcnicas de datao termoluminescente:
1. As peas so escovadas com escova de cerdas de ao, a fim de eliminar as impurezas que
esto presas superfcie das mesmas;
2. Aps escovar as peas cermicas, estas so trituradas num almofariz constitudo de porcelana.
Nesta fase do trabalho devemos golpear a amostra com uma certa uniformidade, tendo o cuidado de no quebrar os gros maiores e reduzindo a TL espria. Paralelamente ao trabalho de
triturao da amostra, executamos um peneiramento primrio, no intuito de separar os gros
maiores da argila e, para tal, utilizamos as peneiras de malha entre 63 e 150 m
3. Com os gros maiores, executamos uma lavagem com cido fluordico ( 50 % ) durante 5
min, com o propsito de remover a argila, e outras impurezas, que ficaram presas superfcie
dos gros. A lavagem por um tempo maior no recomendvel, pois como ser vista na seo
5.4, esta reduz o sinal TL. Aps a lavagem com HF fizemos uma lavagem dos gros com
gua destilada. Devemos enfatizar que a lavagem com HF deve ser feita em um recipiente de
plstico, pois o mesmo resistente ao cido;
4. Terminada a lavagem em cido fluordico, damos nicio a uma outra lavagem com cido clordrico durante 5 min, evitando assim a formao de fluoretos na superfcie do gros, quando
da lavagem com HF. Aps a lavagem em HCl, fazemos uma lavagem com gua destilada;
5. Com estes tratamentos, obtivemos gros de quartzo bastantes livres de impurezas e transparentes. Damos, e ento, origem a um segundo peneiramento, com a finalidade de obter cristais
de quartzo com uma granulao prpria para a realizao da medida de TL. Nesta fase, separamos o material que ficou retido entre as peneiras 75 e 150 m;
6. Em seguida a amostra separada, de acordo com o mtodo que ser utilizado. No caso de
utilizarmos os mtodos da dose adicional ou de calibrao, separamos a amostra em vrios
lotes, para tal realizamos uma pesagem e separemos as amostra em lotes de 0,008 0,001
mg. Estes lotes so colocados em saquinhos plsticos pretos, de tamanho 4 X 4 cm e postos
para irradiar, enquanto que outros lotes so submetidos a um tratamento trmico.
Tomando este procedimento como padro (ver figura 4.2), todas as amostras utilizadas
neste trabalho foram separadas da cermica da mesma forma, sendo que para cada 15 g de material cermico conseguimos obter cerca de 510 mg de quartzo com um excelente grau de pureza.
Devemos citar, ainda, que durante todo o processo de preparao das amostras, tomamos o cui90

dado de expor o mnimo possvel as amostras luz, de forma que as amostras foram trituradas e
peneiradas na cmara escura. Alm do cuidado com a luz do ambiente, outro ponto que ficamos
bastante atentos foi com as fontes de calor. Aps a lavagem, as amostras foram secadas por ve ntilao natural, mantendo as amostras livre da luz ambiente, vale salientar que este cuidado necessrio, pois com o aumento de temperatura ocorre o decaimento dos picos.

ESCOVAO
TRITURAO
PENEIRAMENTO PRIMRIO
LAVAGEM COM CIDO FLUORDRICO
LAVAGEM COM CIDO CLORDRICO
IRRADIAO

TRITURAO PARA OBTENO

DOS CRISTAIS PARA MEDIDA TL

MEDIDA DE AMOSTRA DA TL DA IRRADIADA

TRATAMENTO TRMICO

MEDIDA DA TL NATURAL

IRRADIAO

ILUMINAO COM UV

MEDIDA DA TL DA AMOSTRA TRATADA E IRRADIADA

LEITURA TL DA AMOSTRA NATURAL E IRRAD. UV

Figura 4.2- A figura mostra um organograma com a seqncia necessria para preparao da amostra para datao de cermica. O ramo esquerdo representa o seqncia quando utilizamos o mtodo da dose adicional. O
ramo central quando utilizamos os mtodos da pr-dose, fototransferncia e curva de calibrao. o ramo direito
um passo necessrio a todos os mtodos.

4.3- MTODOS DE DATAO

Aps a preparao das amostras foram executados os procedimentos de datao conforme

a seo 2.10 deste trabalho. Neste trabalho optou-se em datar as peas pelos mtodos da dose
adicional e pelos mtodos de sensibilizao dos picos (pr-dose e fototransferncia).
91

Para a escolha da mtodos especficos, foi levado em conta que as etapas de procedimento
do mtodo escolhido no deveria induzir alterao possvel na estrutura do material, pois como
ser discutido no prximo captulo, os tratamentos trmicos produzem uma alterao nos centros
de luminescncia do quartzo, ora causando instabilidade nas curvas de emisso, ora alterando
significativamente as idades das amo stras.
A tcnica de datao TL da dose adicional foi aplicada aos vestgios das fases 8 e 10, seguido o exposto na seo 2.10; de forma que aps a preparao das amostras, uma parcela foi
separada para leitura da TL natural e outra parcela dividida em vrios lotes, sendo que cada lote
foi irradiado com dose de radiao diferente. Assim, obteve-se uma curva da intensidade TL em
funo da dose de radiao e, extrapolando linearmente o grfico, obteve-se a dose absorvida
pela amostra ao longo dos anos. Deve-se citar que na obteno da emisso TL das amostras, estas
foram aquecidas taxa de 5C/s em todos os casos.
Tambm na fase 8, foi utilizada a tcnica da pr-dose, de acordo com o exposto na seo
2.10, no sentido de sensibilizar o pico de emisso TL de 110C. Aps a preparao da amostra,
dividimos a mesma em trs partes. A primeira parte irradiamos com uma dose teste, com radiao- e medimos o sinal TL denominado S0 . O segundo lote foi aquecido a 550 C durante 2
horas, resfriado lentamente, irradiado com dose teste dando o sinal SN. Com a mesma amostra
procedemos um novo aquecimento com as mesmas caractersticas que o tratamento anterior, obtendo-se o sinal SN. A terceira foi submetida irradiao em fonte de radiao-, com uma dose
de cerca de algumas dezenas de vezes maior que a dose teste. Aps a irradiao a amostra foi
submetida a um tratamento trmico, com as mesmas caractersticas que nos caos anteriores, dada
uma dose teste e finalmente medido o sinal SN+a.
Na fase 10, optou-se tambm pelo mtodo da sensibilizao do pico 110 C, contudo utilizando-se da sensibilizao por luz UV. Assim, utilizou-se nesta fase o mtodo da fototransferncia e, neste caso, procedeu-se com o que est colocado na seo 2.10.
Neste trabalho no optamos pelo mtodo da curva de calibrao, pois com ser discutido
no prximo captulo, o tratamento trmico utilizado para retirar a TL natural da amostra alterou
significativamente a estrutura do material.

92

4.4- TRATAMENTO TRMICO

Neste trabalho os cristais de quartzo foram submetidos a tratamentos trmicos para diversas finalidades, dentre estas destacamos:
O tratamento trmico efetuado para eliminar a TL acumulada pelo material ao longo dos
anos; TL natural da amostra, pois a utilizao do mtodo da curva de calibrao exige que
seja feita uma medida da TL da amostra natural, e em seguida seja efetuada a leitura da TL
acumulada pela amostras tratadas e irradiadas com radiao artificial;
Tratamento realizado para ativar termicamente as armadilhas mais rasas como descritas nas
tcnicas da pr-dose e da fototransferncia;
O tratamento efetuado para induzir em amostras de quartzo encontrados na natureza, as condies similares s encontradas quando o quartzo extrado da cermica. Este tratamento foi
efetuado no sentido de levantar alguns dos fatores que influenciam na utilizao de uma determinada tcnica.
No primeiro caso o tratamento trmico foi realizado a uma temperatura de 500 C durante
1h em um forno de atmosfera aberta (ver seo 4.7). Aps o tratamento, o resfriamento efetuado
era feito de forma rpida, ou seja, aps uma hora a amostra era retirada do forno e o cadinho de
porcelana, onde a amostra estava inserida, era posto sobre uma base de cermica temperatura
ambiente de cerca de 30 C.
No segundo caso efetuamos tratamento para ativao do efeito da pr-dose a 500 C durante uma hora, com resfriamento rpido. Contudo, o tratamento efetuado quando utilizamos o
mtodo da fototransferncia foi realizado, inicialmente, a 210 C durante 2 minutos, para evitar o
superposio do pico TL nesta temperatura com o pico TL de 110 C; e a 500 C durante 1 hora,
para eliminar a TL acumulada pela amostra antes de aplicar, na mesma, a dose de calibrao. Nos
dois casos o resfriamento foi rpido.
No ltimo caso as amostras foram tratadas a 500 C, durante 4 horas, temperatura necessria para se obter a coco das peas cermicas no passado, pois a obteno de temperaturas
maiores que 500 C era muito difcil tendo em vista que a coco era efetuada, geralmente, em
grandes fogueiras. Neste, caso o resfriamento executado foi lento, pois na coco as peas eram,
provavelmente, expostas ao calor e retiradas quando o combustvel da fogueira exauria comple-

93

tamente; dessa forma o resfriamento foi efetuado no laboratrio com o cadinho inserido no prprio forno.
Em todos os casos o tratamento foi efetuado em atmosfera aberta, com a amostra inserida
em cadinho de porcelana, em forno de temperatura controlvel e a uma temperatura abaixo da
temperatura de transio de fase do quartzo.

4.5- FONTES DE IRRADIAO

Para a irradiao das amostras nos laboratrios, necessrios aos mtodos de dosimetria
termoluminescente, os cristais de quartzo foram colocados em sacos plsticos de cor preta, com
dimenses aproximadas de 4 X 4 cm, e em seguida as amostras so expostas radiao. Neste
trabalho as amostras foram irradiadas, a depender do mtodo, em duas fontes: uma emissora de
radiao gama e outra de radiao beta.
A fonte emissora de radiao gama constituda pelo elemento

137

Cs, que atualmente

emite com uma taxa de 0,215 Gy/h uma distncia de 1 cm e 0,127 Gy/h distncia de 2 cm;
distncias estas utilizadas durante este trabalho. A carga radioativa est inserida em um invlucro
cilndrico de chumbo, de dimetro aproximado de 10 cm e altura 15 cm. Para irradiar as amostras
colocamos os saquinhos, onde as amostras esto inseridas, fixos a um suporte de acrlico de espessura 4 mm, o qual apresenta um vazado retangular onde deve ficar a amostra alvo. Deve-se
atentar que a taxa citada acima possvel desde de que utilizemos duas fontes eqidistantes da
amostra (figura 4.3).

Figura 4.3 - A figura mostra o esquema do aparato necessrio para irradiao das amostras de quartzo com irradiao . Nota-se que entre as fontes radioativas temos uma placa de acrlico com um retngulo vazado onde as
amostras so afixadas.

94

A fonte de radiao beta utilizada formada pelos elementos

90

Sr/90 Y, apresentando uma

taxa de 0,4518 Gy/min quando colocamos a carga radioativa diretamente sobre o material a ser
irradiado. Neste caso dispensamos a utilizao dos saquinhos plsticos, uma vez que a amostra
colocada dentro de um recipiente constitudo de bronze, dotado de um orifcio para introduo do
material radioativo, e a fonte radioativa colocada em cima da amostra (figura 4.4).

Figura 4.4- Arranjo experimental para irradiao de amostra com radiao beta

Alm destas fontes radioativas, quando foi utilizado a tcnica da fototransferncia, a iluminao da amostra com luz UV foi realizada com uma lmpada de mercrio, emitindo ftons
com vrios comprimentos de onda. Como a lmpada aquece bastante, tivemos que manter as
amostras no gelo. Para tal colocamos a amostra em um recipiente plstico, aberto para passagem
de luz UV, e o inserimos em um recipiente de alumnio que por sua vez era imerso no gelo, evitando assim que houvesse condensao de vapor dgua na amostra.
Devemos citar que, quando foi utilizado o mtodo da pr-dose, tivemos que fazer o transporte das amostras em gelo, pois neste mtodo utilizamos o pico TL de 110 C cujo decaimento
muito rpido com o aumento de temperatura, e a fonte gama fica a cerca de 8 min do laboratrio,
onde feita a leitura TL.

4.6- LEITURA DA TERMOLUMINESCNCIA

O sistema bsico para medir a intensidade luminosa emitida por um material termoluminescente, consiste de um porta amostra metlico para aquecimento do material, um dispositivo
para captar a luz emitida, um sistema para transformar o sinal luminoso em corrente eltrica, um
95

amplificador de sinal e um dispositivo para correlacionar a intensidade de corrente eltrica com a

intensidade luminosa.
Neste trabalho o sistema para leitura do sinal TL foi montado no Laboratrio de Preparao e Caracterizao de Materiais (LPCM DFI/UFS), conforme a figura 4.5. Este sistema
composto de uma placa de platina, com dimenses de 1 mm X 12 mm X 70 mm, cuja funo
armazenar a amostra para o aquecimento (porta amostra). Esta placa est contida dentro de uma
caixa de madeira de 50 mm por 40 mm por 230 mm, de forma que a amostra fica praticamente
isenta da presena de luz externa.
A placa por sua vez est conectada sada de um transformador, que est conectado a um
mdulo de potncia. Esse mdulo de potncia est conectado a um conversor de sinais, com dois
canais, duas entradas AD e uma DA, assim o sinal enviado a um PC. Com o auxlio de um
software controlamos a corrente enviada para a placa de platina, definindo, por efeito Joule, uma
taxa de aquecimento constante durante a medida TL.

Figura 4.5 - Esta figura mostra o esquema do sistema de leitura TL montado no laboratrio ( LPCM ).

96

Sob taxa de aquecimento controlada, constante e monitorada atravs de um termopar de

Chromel Alumel que envia o sinal de tenso ao computador, via conversor de sinal, o material
emite luz que captada por uma fotomultiplicadora EMI 9789 B. Esta fotomultiplicadora
alimentada por uma fonte de alta tenso varivel (0 3000 KV). O sinal enviado pela fotomultiplicadora captado e amplificado por um eletrmetro que opera na faixa de 10-7 a 10-11 A . Aps
amplificar o sinal eltrico, este enviado ao conversor de sinais e, finalmente, enviado para um
computador.
O software utilizado nas rotinas de aquisio e controle de dados do sistema conversor de
sinais/computador foi confeccionado em linguagem Basic.
Este sistema de leitura TL nos possibilita medir a emisso TL desde a temperatura amb iente at 450 C, em atmosfera aberta ou em uma atmosfera de nitrognio. Contudo, para temperaturas acima de 350 C o sistema detecta uma forte emisso, devido incandescncia do porta
amostra; Com isso, temos a necessidade de utilizar em todas as medidas um filtro calrico, cujas
caractersticas sero descritas na seo 4.8.
A emisso TL captada por este sistema policromtica, e nas medidas efetuadas para
construo do espectro de emisso do material estudado, tivemos que acoplar ao sistema um monocromador FUMBEC UNITRON com resoluo de 10 nm e remover o filtro calrico.

4.7- FORNO

No presente trabalho o forno utilizado para os tratamentos trmicos necessrios s tcnicas de datao termoluminescente um forno do tipo industrial, porm adaptado para as exig ncias do laboratrio (figura 4.6). Neste forno uma determinada temperatura mantida por um
controlador de voltagem, e monitorada por um termopar de chromel alumel.

97

Figura 4 6 - A figura representa um diagrama de blocos do forno utilizado no trabalho. O controlador de temperatura exerce este papel pelo controle da tenso aplicada sobre o conjunto de espiras que aquecem por efeito
Joule.

O forno constitudo por paredes de cermica de espessura de aproximadamente 3 cm,

sendo que o aquecimento feito por efeito Joule por um conjunto de resistores espiralados. A
temperatura do forno definida de acordo com a voltagem aplicada sobre este conjunto de resistores que apesar de ser mantida constante pelo controlador de voltagem, oscila em um certo intervalo durante o tratamento trmico. Devido a isto, a temperatura do forno varia, porm esta
variao no crtica para o presente trabalho, pois o tratamento efetuado por ns, neste trabalho,
foi geralmente, acima de 500 C para uma oscilao de no mximo 10 C.

4.8- FILTRO DE LUZ

Na emisso TL registrada pelo sistema de leitura TL para altas temperaturas, acima de

300 C, o grande problema encontrado a emisso de radiao infravermelha da panelinha que
contm a amostra. Pois a radiao de corpo negro muito intensa em altas temperaturas e superpe o sinal TL emitido pelo fsforo.
Para reduzir a interferncia da radiao de corpo negro, durante as medidas acoplamos ao
sistema TL um filtro de luz cuja absorbncia dada pelo grfico 4.7. Este filtro constitudo por
um disco de vidro de 2 mm de espessura e de dimetro 1,5 cm, que acoplado ao sistema na
porta de entrada da fotomultiplicadora.
98

absorbncia X comprimento de onda

absorbncia (%)

10

0,6

10

0,5

0,4
6

0,3
4

0,2
2
0,1

400

450

500

550

600

650

700

750

800

0
850

comprimento de onda (nm)

Figura 4.7 - Este grfico mostra o comportamento do filtro calrico utilizado no trabalho.

Para este filtro a eficincia da absorbncia em funo do comprimento de onda foi conseguida atravs de um espectrofotmetro de duplo feixe que opera na regio de IR e, de modelo
CG-UV 8000 da Instrumentos Cientficos Ltda, pertencente ao DQI da UFS, est colocada no
grfico 4.7. Notamos que a partir de 650 nm a absorbncia do filtro passa a ser significante, e
para comprimentos de onda acima de 600 nm, praticamente no observamos emisso TL das
amostras utilizadas neste trabalho; indicando assim que este filtro de luz infravermelha suficiente para o trabalho proposto aqui.

99

CAPTULO 5 RESULTADOS E DISCUSSES

100

5.1- APRESENTAO

Neste captulo apresentaremos e discutiremos os principais resultados encontrados neste

trabalho. Iniciando pela seo 5.2, so apresentadas as curvas de emisso para o quartzo encontrado na regio dos stios arqueolgicos de Xing, identificando os principais picos apresentados
pelo material. Tendo em vista a importncia de conhecer os centros ( defeitos ) responsveis pela
emisso TL do quartzo, na seo 5.3, so apresentados os espectros de emisso para o quartzo
natural irradiado e para o quartzo tratado termicamente a 550 C por 2 horas e irradiado, sendo
que nos dois casos a irradiao foi realizada com radiao- taxa de 0,45 Gy/min.
Nas sees 5.4, 5.5, 5.6 e 5.7 faremos uma descrio a respeito dos diversos fatores que
podem influenciar na determinao correta das idades das peas. Na seo 5.4 estudamos a influencia da lavagem das amostras com HF, tendo em vista que esta necessria para remoo das
impurezas nas superfcies dos cristais de quartzo retirados dos vestgios de origem cermica.
Aps isto, na seo 5.5, discutiremos o decaimento do pico de 110C temperatura ambiente,
pois este fator interfere fortemente nas idades das pea, quando so utilizadas as tcnicas da prdose e da fototransferncia; uma vez que estas tcnicas esto baseadas na sensibilizao do pico
de 110 C. Na seo 5.6 dada uma importncia ao efeito da pulverizao das amostras na intensidade da curvas de emisso TL do quartzo. E, finalmente, na seo 5.7, procuraremos identificar
os picos da curva de emisso que apresentam estabilidade suficiente para a realizao dos procedimentos de datao por TL; para tal feito, o teste padro que o teste do plat.
Nas trs ltimas sees, 5.8, 5.9 e5.10, apresentaremos, respectivamente, uma discusso a
respeito da taxa anual de radiao utilizada para a datao das peas e os principais resultados das
dataes efetuadas no Stio Justino, bem como discutiremos as peculiaridades e potencialidades
das tcnicas ( pr-dose, fototransferncia, dose adicional e curva de calibrao ) utilizadas para
este fim.

5.2- CURVAS DE EMISSO DO QUARTZO DA REGIO DE XING

Nesta trabalho foram utilizados amostras de cristais de quartzo extrados de vestgios cermicos, provenientes do stio Justino, localizado em Canind do So Francisco, na regio do
101

Baixo So Francisco. Contudo, para caracterizar o quartzo da regio foram utilizados cristais de
quartzo de um fragmento de rocha recolhido nas adjacncias do stio em estudo.
Podemos verificar no grfico 5.1, que o quartzo natural extrado da cermica apresenta trs picos,
um pico muito intenso em 250C e outros dois em 325C e 380C. Contudo, o mesmo quartzo,
quando irradiado com uma dose de 2 Gy, de radiao- de uma fonte de

137

Cs taxa de 0,215

Gy/h, apresentou dois picos muito intensos, um temperatura de 135C e um outro em torno de
310C. Estes dois picos, na verdade, resultam de uma superposio de vrios picos, como pode
ser visto nesta figura, comparando-se os sinais TL da amostra de quartzo da cermica antes e depois de irradiar. O pico de 135 C deve-se a superposio de vrios picos na regio de 110 C,
provavelmente se deve superposio do mesmo com outros picos conhecidos da literatura (Navarro, 1998) do quartzo, tais como o pico de 110 C e 175 C. O mesmo efeito acontece com o
pico largo, centrado em 310C ,que na verdade resulta da superposio de vrios picos.

Quartzo natural da cermica

Quartzo natural da cermica + 2 Gy

1,8

Quartzo de rocha + 5 Gy

1,6
Intensidade TL ( u.a )

1,4
1,2
1,0
0,8
0,6
0,4
0,2
0,0
0

100

200

300

400

Temperatura ( C )

Figura 5.1 - Curvas de emisso do quartzo natural extrado da cermica, do quartzo extrado da cermica e irradiado com 2 Gy e do quartzo de rocha irradiado com 5 Gy.

Ainda na figura 5.1, apresentada a curva de emisso de cristais de quartzo extrados do

fragmento de rocha recolhido na regio do stio estudado e irradiados com radiao com uma
dose de 5Gy, utilizando as mesmas condies de irradiao. Nesta curva de emisso, podemos
verificar as presenas dos picos de 180 C e um muito intenso centrado em 350C. Comparando102

se as trs curvas de emisso podemos perceber um fato marcante: tanto o quartzo natural extrado
da cermica quanto o quartzo de fragmento rochoso, praticamente no apresentam picos abaixo
de 250 C, pois os mesmos apresentam um tempo de vida muito baixo. Porm, quando irradiados, estes picos esto presentes, tendo em vista que as armadilhas mais rasas so preenchidas.
Na figura 5.2, podemos verificar a curva de emisso do quartzo extrado da cermica tratadas termicamente a 550 C durante 3 horas, e irradiadas com dose de 2 Gy. A amostra foi irradiada utilizando-se as mesmas condies da irradiao anterior. Nesta curva de emisso nota-se
que os picos de baixa temperatura, em torno de 110 C, passam a apresentarem intensidades ma iores que os picos de alta temperatura, picos na regio superior a 300 C.

Intensidade TL (u.a)

100

200

300

400

0,6

0,6

0,4

0,4

0,2

0,2

0,0

0,0
0

50

100

150

200

250

300

350

400

450

Temperatura(C)
Figura 5.2 - Curva de emisso para o quartzo extrado da cermica tratado termicamente e irradiado com radiao .

Na figura 5.2, pode-se verificar um comportamento geral apresentado pelo quartzo qua ndo tratado termicamente (Wintle, 1997), que o do surgimento de um pico bastante intenso em
torno de 75 C e outro em 130 C, picos estes que no aparecem no quartzo no tratado. Pode-se
observar, ainda, que este comportamento no apresentado nem mesmo no quartzo extrado da
cermica ( Figura 5.1 ). A explicao para este fato que possivelmente o tratamento trmico
sofrido pelo material responsvel pelo surgimento novos centros de emisso, como discutire103

mos na prxima seo. Este comportamento, porem, j aponta para uma aplicao interessante
que a possibilidade de identificar materiais de slica que foram submetidos a tratamento trmico
no passado.
Para datao arqueolgica por TL geralmente so utilizados os picos de altas temperaturas, pois estes so mais estveis e tm uma meia vida muito longa em relao aos picos de baixa
temperatura (Wintle, 1997). Na maioria dos casos usa-se o pico de 375C (Wintle, 1998), contudo, no caso do quartzo das cermicas do stio Justino, em Xing, preferiu-se utilizar o pico de
300C, uma vez que o mesmo aparece freqentemente nas curvas de emisso do quartzo da regio, e conforme ser visto na seo 5.7 bastante estvel temperatura ambiente.

5.3- ESPECTRO DE EMISSO DO QUARTZO DE XING

Os resultados preliminares apresentados at o presente momento, comparados com resultados da literatura (Navarro, 1998) indicam que o espectro de emisso do quartzo apresenta alteraes conforme os tratamentos trmicos. Como durante os procedimentos de datao por TL
normalmente so efetuados tratamentos trmicos, foi feito um estudo prvio das possveis alteraes induzidas por tratamentos trmicos no espectro de emisso do quartzo a fim de levantar as
possveis conseqncias na determinao das idades das amostras. Para este estudo utilizamos
cristais de quartzo, obtido de um fragmento de rocha recolhido no stio em estudo.
Para construo do espectro da amostra sem tratamento trmico empregamos o quartzo
natural irradiado com uma dose de 10 Gy de radiao- de uma fonte de

90

Sr-90 Y, taxa de 0,415

Gy/min. Para o espectro da amostra tratada, foram utilizadas amostras do quartzo tratado termicamente a 550C durante 2 horas e irradiado com dose de 10Gy mesma taxa do caso anterior. A
temperatura de tratamento foi escolhida de forma a reproduzir condies similares quelas que o
homem pr-histrico queimou os utenslios de cermica da regio (Carvalho, 2000). Nos dois
casos a leitura TL foi executada, fixando-se o comprimento de onda da luz captada pelo sistema
de medida com o auxlio de um monocromador UNICRON adaptado a fotomultiplicadora com
passos de 10 nm no intervalo de 200 nm a 550 nm e aquecendo a amostra desde a temperatura
ambiente at 400 C, taxa de 5C/s. Durante as medidas tomamos o cuidado de manter as
amostras a serem lidas mantidas no gelo, evitando assim o decaimento dos picos de baixa temperatura. Para construo dos espectros de emisso , inicialmente foi corrigido a intensidade TL em
104

cada medida devido queda de sensibilidade do sistema, como resultado do uso do monocromador. Aps este procedimento foram traadas as curvas de emisso para cada comprimento de
onda com o auxlio de um programa especfico. De posse das curvas de emisso para cada comprimento de onda foram montados os espectros TL em, funo da temperatura e do comprimento
de onda, com o auxlio de um programa especfico.
No grfico 5.3, temos o espectro de emisso do quartzo natural irradiado. Neste espectro
podemos observar a presena de dois picos bastantes intensos em torno de 180C e em 370C,
com bandas de emisso centradas em 280 (Mckeever, 1985)e em 530 nm (figura 5.4), respecti-

TL

vamente..

(nm)
Temp.(C)

Figura 5.3 - Espectro de emisso do quartzo natural irradiado com radiao- com dose de 10 Gy temperatura
ambiente.

105

550
500
450
400
350
300
250
200
50

100

150

200

250

300

350

400

Figura 5.4 - Curva de nvel( X Tem(C) ) para quartzo natural irradiado com 10 Gy de radiao beta

Na figura 5.5 temos o espectro de emisso do quartzo natural tratado a 550C durante 2
horas, resfriado rapidamente e irradiado com dose de 10 Gy, com radiao . Neste espectro observamos um pico muito intenso centrado em 75 C, abrangendo uma banda larga de 300 nm at
420 nm, com intensidade mxima para um comprimento de onda equivalente a 370 nm. Neste
espectro de emisso no foi possvel observar o pico de 380 C, provavelmente, devido ao fato de
que o pico em 75o C muito mais intenso e na escala utilizada, o pico de alta temperatura se confunde com o sinal de fundo. Dessa forma, podemos observar que o tratamento trmico a esta

106

temperatura faz surgir uma nova banda de emisso em torno de 370 nm, caracterizada por uma

TL

forte emisso na temperatura de 75 C.

(nm)
Temp.(C)

Figura 5.5 - Espectro de emisso do quartzo tratado termicamente a 550 C durante 2 horas , resfriado rapidamente e irradiado com dose de 10 Gy com radiao-.

107

550
500
450
400
350
300
250
200
50

100

150

200

250

300

350

400

Figura 5.6 - Curva de nvel ( X Temp.(C) ) para o quartzo tratado teoricamente a 550 C, durante 2 horas, e
irradiado com dose de 10 Gy, atravs de uma fonte de radiao beta.

Podemos observar que o tratamento trmico produz duas alteraes importantes: i- cria e
redistribui os centros de armadilhamento, j que a intensidades dos picos TL mudam e novos
picos em temperaturas diferentes so produzidos; e ii- faz surgir novos centros de emisso para o
quartzo, pois quando a amostra virgem ( natural ) temos duas emisses intensas: uma de intensidade mxima em 280 nm atribuda a uma vacncia de oxignio (Mckeever, 1985) e, outra cuja
emisso principal em 470nm atribudas ao [AlO 4 ]0 (Navarro, 1998), enquanto que o quartzo
tratado a 550 C apresenta uma emisso intensa com emisso principal em 370 nm atribuda,
provavelmente, ao [H3 O4 ]0 (Navarro et al, 2002). Dessa forma, como veremos nas prximas se108

es, o tratamento trmico utilizado para os procedimentos de datao, quando empregamos o

mtodo da curva de calibrao, comprometeu significativamente os resultados, tendo em vista
que o tratamento trmico do material alterou as propriedades TL das amostras, porm no foi
significativo quando utilizamos o mtodo da pr-dose, pois este mtodo baseado na sensibilizao dos picos de baixa temperatura, e no no crescimento linear da intensidade TL em funo da
dose.

5.4- INFLUNCIA DA LAVAGEM DAS AMOSTRAS COM CIDO FLUORDICO

Com a finalidade de verificar os efeitos da lavagem com cido fluordico, para remoo
de impurezas da superfcie dos cristais, pulverizamos fragmentos de quartzo de rocha da regio,
selecionamos a amostra com granulao entre 75 e 150m e submetemos estes gros a um trat amento trmico a 500 C durante 2 horas. O tratamento trmico tem a finalidade de submeter as
amostras de quartzo natural s condies similares do quartzo extrado da cermica. Aps esta
seleo granulomtrica, dividimos as amostras em 6 partes, cada parte com cerca de 10 g, e as
mergulhamos em soluo de cido fluordico (50 %), deixando-as no cido por tempos diferentes,
de 10 min a 60 min, com intervalos de 10 min. Imediatamente, aps a lavagem com cido, as
amostras foram lavadas com gua destilada, secas por ventilao e irradiadas com dose de 1 Gy
com radiao e realizadas as leituras TL.
Realizadas as medidas TL construmos os grficos 5.7 e 5.8. No primeiro caso construmos as curvas de emisso para os vrios tempos de lavagem e, no segundo, construmos a intensidade do pico de 110 C em funo do tempo de lavagem. A opo do estudo do impacto da
lavagem com HF, na intensidade termoluminescente do pico de 110C, deve-se ao fato de que
este pico est mais susceptvel a mudana de comportamento diante de tal procedimento (Yukimitu, 1985).

109

10

0,7

10

0 min

0,6

8
0,5

10 min

TL ( u.a )

6
0,4

20 min
30 min

0,3

40 min
0,2

50 min
2

0,1

0,0

0
40

60

80

100

120

140

160

Temparatura ( C )

Figura 5.7 - Grfico mostrando as curva de emisso para o quartzo virgem lavado com cido fluordico por diferentes intervalos de tempo.

1,0

TLlavado / TLnatural

0,8

0,6

0,4

0,2

0,0
0

10

20

30

40

50

Tempo ( min )

Figura 5.8 - Nesta curva traada a razo entre as TL das amostras lavadas e no lavadas com cido fluordico em
funo do tempo de lavagem.

110

De acordo com estes grficos, notamos que a lavagem em soluo de cido fluordico
induz queda na intensidade do pico de 110 C e, aps 10 min, a queda j de cerca de 20% em
relao emisso para a amostra no lavada. O fato de concentrarmos na influncia da lavagem
em HF, na intensidade da emisso em 110C, que este pico utilizado para aplicao dos mtodos da pr-dose e da fototransferncia, que esto fundamentados na sensibilizao do pico.
Dessa forma, observamos que para aplicao dos mtodos da pr-dose e da fototransferncia, no
recomendvel lavagem em HF por tempo superior a 10 min, especificamente, neste trabalho,
optamos em fazer a lavagem por um tempo de 5 min, resultando em uma queda inferior a 10%.
Tendo em vista que as razes que alteram a sensibilidade do pico de 110C ainda no so
totalmente conhecidas, possivelmente se deve remoo da influncia da radiao alfa e, um
pouco de beta, que tem carter superficial; reduzimos o tempo de lavagem para aplicao dos
mtodos que se baseiam neste fenmeno, contudo fizemos o mesmo para a datao por todos os
mtodos, mesmo aqueles que so pouco influenciados pela lavagem, ou seja, os picos de alta
temperatura. Nesse caso, importante observar que devido a lavagem com HF, a corroso na
superfcie dos cristais remove a influncia da radiao-.

5.5- DECAIMENTO DO PICO DE 110C TEMPERATURA AMBIENTE

Levando-se em conta que os picos TL de baixa temperatura tm um decaimento muito

rpido temperatura ambiente, optamos em realizar um estudo referente ao decaimento do pico
de 110C temperatura ambiente que, na cidade de Aracaju, em mdia 30C. Para este estudo, utilizamos cristais de quartzo tratados termicamente a 550C durante 2 horas, resfriado rapidamente e irradiado com radiao- com dose equivalente a 2Gy. Aps a irradiao, foi feita
imediatamente a leitura TL e realizamos as medidas posteriores com intervalos de tempo de
aproximadamente 10 min, entre uma medida e outra.
De acordo com o grfico 5.9, verificou-se que o pico TL de 110C do quartzo de Xing
apresentou um decaimento muito rpido, com meia-vida de cerca de 30 min temperatura amb iente; contudo a literatura aponta (Yukimitu, 1985) que este pico apresenta uma meia-vida de cerca de 2 horas. O fato do decaimento do pico de 110C leva a uma dificuldade na deteco deste,
principalmente nos casos em que a fonte de radiao est a uma distncia considervel do laboratrio onde ser executada a leitura TL.
111

20

40

60

80
10

120

100

TL0/TLt(%)

80
6
60
4
40

20

0
0
0

20

40

60

80

Tempo(min)
Figura 5.9 -Nesta figura apresentada a razo percentual entre a intensidade do pico de 110C aps o momento
de irradiao e a intensidade aps um intervalo de tempo, em funo do tempo. A curva contnua representa o
ajuste terico ao modelo de decaimento exponencial representado por uma cintica de primeira ordem (Equao
2.12).

Devido a este rpido decaimento do pico de 110C, optamos em transportar as amostras,

aps a irradiao, em sacos plsticos contidos no interior de uma caixa isolante e imersos em
gelo. Este procedimento, tambm foi adotada, enquanto era feita a leitura TL, ou seja, enquanto
era feita a leitura TL as outras amostras eram mantidas a uma temperatura de cerca de 0C e, dessa maneira minimizando o decaimento do pico de 110C. Contudo, em alguns casos, optamos em
fazer a correo da intensidade do pico, considerando a figura 5.9, pois quando irradiamos as
amostras na fonte de radiao-, o tempo de transporte da amostra desprezvel, visto que esta
fonte fica no prprio laboratrio onde executada a leitura TL; ento nesse caso basta fazer a
correo devido ao intervalo de tempo entre uma medida e outra.

112

5.6- EFEITO DA PULVERIZAO DAS AMOSTRAS

Na datao por TL podemos empregar as tcnicas da incluso ou do p fino. No primeiro

utilizamos as incluses de cristais de quartzo dos vestgios cermicos, j no segundo caso, necessitamos pulverizar estes cristais para obter o p fino. Para isso, necessrio conhecer o comportamento da emisso termoluminescente diante da pulverizao das amostras.
Nesta fase do trabalho, trituramos um fragmento de rocha de quartzo, selecionamos os
gros utilizando um conjunto de peneiras, recolhendo o material retido entre as peneiras 63 e 150
m, entre 150 e 300 m, entre 300 e 850 m, entre 850 e 2000 m e entre 2000 e 3000 m. Aps
esta separao as amostras foram submetidas a um tratamento trmico a 500C durante 1 hora,
resfriadas rapidamente e irradiadas com radiao- com dose de 2,5 Gy. O comportamento das
emisses TL para os diferentes tamanhos de gros dado na figura 5.10, onde foi considerado,
para efeito de comparao, apenas a intensidade do pico de 375C em funo do tamanho mdio
dos gros.

TL (u.a)

1,0

500

1000

1500

2000

2500

3000

3500
1,0

0,8

0,8

0,6

0,6

0,4

0,4

0,2

0,2

0,0
0

500

1000

1500

2000

2500

3000

0,0
3500

Tamanho mdio (m)

Figura 5.10 - Grfico da intensidade TL do quartzo de Xing em funo do tamanho mdio.

113

Com base no grfico observamos que, devido pulverizao das amostras, devemos introduzir um fator de correo nas intensidades da curva de emisso, pois notamos que para uma
granulao acima de 200 m h uma queda acentuada na curva de emisso, provavelmente devido auto-absoro da luz TL emitida pelos cristais e, problemas de conduo trmica da prpria amostra. Tendo em vista este comportamento, neste trabalho realizamos as medidas TL com
o material retido entre as peneiras de 75 e 150 m, resultando em um tamanho mdio de 112 m.

5.7- TESTE DE ESTABILIDADE DA CURVA DE EMISSO PARA O QUARTZO DE

XING
Devido grande durao de tempo da irradiao das amostras arqueolgicas, os vestgios
so submetidos, ao longo dos anos, a diversas condies de temperatura, umidade e a outros fatores que induzem irregularidade na posio e altura da curva de emisso TL do quartzo arqueolgico. Por isso, antes de realizar as dataes necessrio realizar testes de estabilidade dos picos
da curva de emisso TL e, dentre os diversos testes existentes na literatura, o teste do plat
(Mckeveer, 1985) o mais difundido. Na figura 5.11, dado o teste do plat para o quartzo utilizado neste trabalho.

50

100

150

200

250

300

350

400

450
4

1,0

T LN / (TLN+ T LIrrad.)

0,8

0,6

0,4

0,2

0,0
0

50

100

150

200

250

300

350

400

Temperatura (C)

Figura 5.11- Teste do plat para o quartzo de Xing. Nesta curva traado TLN / (TLN + TL Irrad.) X Temperatura,
podemos observar que a partir de 225C verificada uma constncia na curva.

114

O teste do plat consiste em traar uma curva cujas ordenadas so a razo entre a intens idade da emisso natural ( TLN ) e a soma entre a intensidade da emisso da amostra irradiada e
emisso da amostra natural( TLIrrad. ) e, a abscissa a temperatura. Considera-se que o pico estvel para datao quando este situa-se em uma regio em que esta curva constante, ou seja,
forma um plat. De uma forma geral o quartzo apresenta uma estabilidade para os picos acima de
300 C, contudo o teste do plat para o quartzo de Xing indica uma estabilidade acima de 225
C (figura 5.11). Nas dataes do presente trabalho pelo mtodo da dose adicional, utilizamos o
pico de 300C, pois este foi identificado na maior parte das amostra, tendo em vista que o decaimento do mesmo mais lento que os picos abaixo desta temperatura. Pode-se observar, tambm,
pela curva 5.11 que o plat est formado at a temperatura de aproximadamente 350C, pois
acima desta temperatura a deteco do sinal TL torna-se mais complicada devido forte incandescncia.
Deve-se citar, aqui, que em trabalho de caracterizao da emisso do quartzo de dunas na
regio do Rio So Francisco, uma equipe de pesquisadores, liderada por Watanabe (1997), encontrou para o quartzo na regio o mesmo comportamento das amostra analisadas aqui neste trabalho.
5.8- TAXA ANUAL DE RADIAO NATURAL

A dose anual de radiao recebida pelos vestgios arqueolgicos deve-se ao fato de que as
mesmas so bombardeadas por radiao provenientes de elementos radioativos presentes no ambiente, da radiao csmica e de elementos presentes no interior da prpria amostra.
Para determinar a dose anual de radiao que as amostras recebem, geralmente colocamse dosmetros no local de onde as peas so retiradas por um tempo de cerca de 6 meses e feita
uma extrapolao para a determinao da radiao devido ao ambiente (elementos radiativos do
ambiente e radiao csmica). Contudo, para a determinao do fator correspondente aos elementos radioativos presentes no interior da amostra, realizado um estudo a respeito da concentrao de radioistopos naturais (

238

U, 234 U, 230Th, etc. ) no interior da amostra. No caso de Xin-

g, o elemento radioativo mais provvel o potssio, tendo em vista que o estado de Sergipe est
situado em uma grande jazida deste eleme nto.

115

Neste trabalho, o estudo da dose anual de radiao natural ainda est sendo realizado em
cooperao com pesquisadores da USP. Para datao das amostras dos stios estudados, optamos
em usar uma mdia de vrias dosimetrias efetuadas em diversas regies do pas por vrios pesquisadores (Watanabe, 1975). O valor mdio da dose anual de radiao encontrado para o Brasil
de 2,50 mGy / ano.

5.9- DATAES EFETUADAS NO STIO JUSTINO

5.9.1- PR-DOSE

Para datao das peas pelo mtodo da pr-dose, mtodo baseado na sensibilizao do
pico de 110 C, procedemos conforme o descrito na seo (2.10.3), sendo que o tratamento trmico para ativao das armadilhas foi executado a 550 C durante 1 hora, seguido de resfriamento rpido e a dose teste de 0,15 Gy. Este mtodo foi utilizado para a datao da cermica da
fase 8, sendo que para obteno das amostras para aplicao do mtodo retiramos o quartzo das
peas identificadas com os nmeros de ordem 172570, 35326, 7777, 103292, 15202, 3592253,
11889 e 17113. Aps a separao, os gros de quartzo foram pulverizados para uma granulao
entre 75 m e 150 m. A dose de laboratrio utilizada foi de 1,36 Gy, de forma que, aps os procedimentos expostos na seco (2.10.3) obtivemos as curvas de emisso conforme a figura 5.12.
0

50

100

2,0

150
2,0

So
Sn'
Sn

Intensidade ( u.a )

1,5

1,5

Sn+a
1,0

1,0

0,5

0,5

0,0
0

50

100

0,0
150

Temperatura ( C )

Figura 5.12 - Efeito da pr-dose sobre a amostra. S0 a emisso da amostra natural mais a dose teste, SN a emisso da amostra tratada mais dose teste, Sn emisso da amostra recozida mais dose teste e Sn+a e a emisso da
amostra irradiada com dose de laboratrio ( DL ), tratada termicamente mais a dose teste.
116

De acordo com a figura 5.12, representando as emisses para a sensibilizao do pico de

110 C, obtivemos S0 = 1,2300,003, SN = 1,44880,008, SN = 1,6290,004 e SN+A =
1,68700,006, de forma que conhecendo-se a dose de laboratrio ( 1,360,15 Gy ) e aplicando a
relao (2.38) obtivemos uma idade de 2.020 350 anos .
Nesta etapa do trabalho no foi possvel a obteno de outras dataes para as demais
fases devido a limitao na quantidade de amostra Uma considerao importante para esta fase
que a datao feita em esqueleto encontrados na mesma fase, conforme os laudos que constam no
apndice, registrou uma idade de 2.530 170, mostrando uma certa compatibilidade entre as duas idades.

5.9.2- DOSE ADICIONAL

O mtodo da dose adicional, como citamos na seo (2.10.2), baseia-se no fato de que a
intensidade da curva de emisso aumenta com a dose de radiao absorvida pela amostra. Na
aplicao deste mtodo separamos a amostra em vrias partes e submetemos estas partes doses
de radiao diferentes. As curvas de emisso obtidas com uma taxa de aquecimento de 5 C/s,
desde a temperatura ambiente at 400C e com diversas doses, podem ser vistas na figura 5.13.
De acordo com o teste do plat, a intensidade do pico de maior estabilidade deve ser utilizado
para traar o grfico da intensidade em funo da dose de radiao, e o pico escolhido foi o de
300 C.
0

10

Intensidade TL ( u.a )

3,0

10

2,5

2,0
6

N + 3,5 Gy

1,5

N + 3 Gy 4
N + 2,5 Gy

1,0

0,5
0,0

50

100

150

200 250

300 350

400 450

Temperatura ( C )

Figura 5.13 - Curvas de emisso do quartzo, onde N significa natural. As amostras foram irradiadas com uma
fonte de radiao .

117

Para irradiao das amostras, utilizamos radiao com taxa de 0,45 Gy/min, para as
amostras da fase 8; e de radiao- taxa de 0,215 Gy/h, para as amostras da fase 10.
Para fase 8, o quartzo utilizado foi separado das amostras de nmero de registro 172570,
35326, 7777, 103292, 103092, 15202, 11818-1, 11189 e 1713, de forma que obtivemos o grfico
5.14.

0,9

Intensidade Tl ( u.a )

0,8
0,7
0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
-10

-8

-6

-4

-2

Dose absorvida ( Gy )

10

Dose adicional ( Gy )

Figura 5.14 - Grfico da intensidade do pico de 300C da curva de emisso do quartzo extrado de vestgios cermicos das fase 8 em funo da dose de radiao absorvida pela amostra. De acordo com o grfico a dose absorvida
pela amostra de 4,20,5 Gy.

Observando o comportamento do grfico 5.14, conclumos que a dose arqueolgica, ou

seja a dose absorvida ao longo dos anos pela amostra, de 4,20,5 Gy, e considerando que a taxa
anual de radiao de 0,0025 Gy/ano, a idade estimada para a amostra de 1.680 200 anos.
Na datao de vestgios da fase 10 do Stio Justino, as amostras foram preparadas a partir
dos vestgios de nmero de registro 2999, 12261-1, 15152-1, 1522272, 11069-1, 114806, 15480118

1, 1077022 , 152813,18293 e 18000. Aps a obteno das curvas de emisso e do teste do plat,

IntensidadeTL( u.a )

observamos que o pico mais estvel para datao foi o de 300C.

1,0

0,8

0,6

0,4

0,2

-8

-7

-6

-5

-4

-3

-2

0,0
-1
0

Dose absorvida ( Gy )

Dose adicional ( GY )

.
Figura 5.15 - Grfico da intensidade do pico de 300C em funo da dose de laboratrio absorvida pela amostra
de quartzo extrado da cermica da fase 10 do Stio Justino. De acordo com o grfico a dose arqueolgica abso rvida pela amostra de 5,6 0,8 Gy. Estas amostras foram irradiadas com radiao- taxa de 0,215 Gy/h.

Com base na figura 5.15, identificamos que o quartzo da fase 10, contido em cermica,
apresenta uma idade de 2.240 320 anos, considerando que a taxa anual de radiao natural de
0,0025 Gy/ano.
Destacamos que os resultados destas dataes esto em concordncia com as dataes
feitas em vestgios orgnicos encontrados nos mesmos estratos por carbono-14 ,realizadas no
Centre De Datation Par Radiocarbone da Universidade Claude Bernad Lyon, Frana. Para a fase
8 a datao por

14

C apresentou uma idade de 2.530 170 BP e para fase 10 apresentou 2.650

160 BP. O sufixo BP significa antes do presente ("before present"), tomando como padro de
119

referncia o ano de 1950. Dessa forma as idades encontradas neste trabalho por TL utilizando o
mtodo da dose adicional so 1.630 130 BP e 2.190 160 BP para as cermicas encontradas na
fase 8 e fase 10, respectivamente. Deve-se citar que os esqueletos datados por carbono-14 estavam distribudos ao longo de mais de um extrato, ou seja, os esqueletos ocupavam mias de uma
fase.
5.9.3- FOTOTRANSFERNCIA

Para datao pelo mtodo da fototransferncia procedemos de acordo com o que est descrito na seo (2.40), para o quartzo extrado de cermica da fase 10, de forma que obtivemos os
grficos da figura 5.16.
0

10

0,5

10
10

10

0,5

0,4

0,4

0,3

0,3

0,2

0,2

0,1

0,1

0
160

0,0

(a)

0,0
0

20

40

60

80

100

120

140

(b)

20

40

Temperatura ( C )

80

100

120

140

0
160

Temperatura (C )

10
10

4,0

(c)

3,2

60

2,4

1,2

10
10

(d)

6
0,8

1,6

0,8

4
0,4

0,0
0

20

40

60

80

100

Temperatura ( C )

120

140

0
160

0,0
0

20

40

60

80

100

120

140

0
160

Temperatura ( C )

Figura 5.16 - Figura da emisso TL do quartzo em funo temperatura. (a) Quartzo natural mais dose teste (X 0 ).
(b) Quartzo irradiado com UV (X N ). (c) Quartzo Tratado a 500 C durante 10 min e depois irradiado com dose
teste (Xbarra ). Quartzo irradiado com dose de laboratrio e luz UV (Xbeta).

120

Para obteno da curva (a) o material foi tratado a 210 C por 2 min a fim de eliminar a
influncia do pico de 210 C. Depois este material foi irradiado com dose teste de 80 mGy e
aquecido at 210 C taxa de 5C/s. A curva (b) foi obtida a partir do mesmo material usado na
obteno da curva (a), sendo que o mesmo foi iluminado com luz UV policromtica por um tempo de 1 min. Nesta etapa as armadilhas so preenchidas por fototransferncia. Em seguida a
amostra foi aquecida ate 210 C mesma taxa que na primeira etapa. Na curva (c) o mesmo material foi tratado termicamente a 500 C, dessa forma, esvaziando as armadilhas mais profundas.
Aps isso o material recebeu uma dose teste de 80 mGy e foi aquecido at 210 C utilizando a
mesma taxa de aquecimento. Na ltima etapa (d) o quartzo recebeu uma dose de calibrao de
4,5 Gy de radiao beta taxa de 0,4518 Gy/min e, em seguida, foi irradiado com luz UV por 1
min e aquecido at 210C.
A partir das figuras 5.16 obtivemos X0 = 0,0934, Xbarra = 0,1664, XN = 0,8522 e Xbeta =
1,3927. Estes valores representam as intensidades do pico de 130 C para as curva (a), (b), (c) e
(d), respectivamente. Considerando a equao (2.39) e que a taxa anual de radiao de 0,0025
Gy/ano, a dose absorvida por esta amostra de 4,9 0,4 Gy, o que corresponde a uma idade estimada de 1.910 110 BP.

5.9.4- CONSIDERAES SOBRE OS MTODOS DE DATAO TL APLICADOS

NESTE TRABALHO

De acordo com as trs sees precedentes, podemos reunir os resultados das dataes
efetuadas nos vestgios cermicos no Stio Justino na tabela 5.1.

Mtodo

Fase

Idade

Pr-dose

1970 300 BP

Dose adicional

1.630 150 BP

Dose adicional

10

2.190 270 BP

Fototransferncia

10

1.910 110 BP

Tabela 5.1 - Resumo das dataes no Stio Justino.

121

De posse desde resumo, podemos observar que estas dataes esto em um intervalo
aceitvel diante das dataes efetuadas por carbono -14 nas fases estudadas, como podemos conferir no apndice que se referente aos laudos dos laboratrios onde foram efetuadas estas dataes. Contudo, podemos observar pequenas discrepncias quando comparamos dataes por TL
na mesma fase por mtodos diferentes.
No caso da fase 8 (observar figura 5.17), onde temos dataes pelos mtodos da pr-dose
e dose adicional, a diferena se deve, provavelmente, ao fato de utilizarmos o pico de 300 C para
aplicao do mtodo da dose adicional, visto que neste material no foi possvel detectar picos de
350 C e 375 C nitidimante. Esta uma caracterstica intrnseca da TL dos gros de quartzo da
cermica do stio arqueolgico estudado e que foge ao controle. O pico de 300 C, no entanto,
decai mais rapidamente que os picos acima dessa temperatura, isto pode produzir pequenas interferncias no resultado final, sem comprometer a confiabilidade do mtodo.

Figura 5.17- Nesta figura temos um diagrama do esquemas de fases do stio. A localizao das fases feita, eliminado-se a camada superficial de terra, e a partir deste nvel, a cada 10 cm temos uma fase. Assim, a fase 8 est a
uma profundidade de aproximadamente 80 cm, a partir da superfcie e, a fase 10 est a 1 m de profundidade.

Para fase 10, onde utilizamos os mtodos da dose adicional e fototransferncia, temos
novamente uma pequena discrepncia nas idades encontradas, que acreditamos que se deve ao
dois fatores. O primeiro que a tcnica de fototransferncia aplicada para o pico de 110C, con122

tudo dependendo da histria trmica do material este pico pode aparecer como uma composio
de dois picos, um em torno de 75 C e outro em torno de 130 C, como podemos observar nas
figuras 4.9.4.1. Por isso, optamos em utilizar o pico de 130C, pois o mesmo se apresentou mais
estvel que o primeiro pico. O segundo fator est relacionado como fato de que, infelizmente, no
LPCM no dispomos de fonte de luz UV monocromtica no comprimento de onda adequado para
aplicao do mtodo (260 nm ou 320 nm ), de forma que utilizamos fonte UV policromtica, que
alm de poder produzir fototransferncia de vrios nveis de armadilhas profundas, pode tambm
provocar o desarmadilhamento das armadilhas mais rasas responsveis pelo pico de 130C; reduzindo assim a sensibilidade do pico utilizado para datao. Porm, como as diferenas de idade
no foram muito acentuadas, pode-se concluir que este efeito, apesar de estar presente, no comprometem acentuadamente os resultados.

5.10- MTODO DA CURVA DE CALIBRAO:

Neste trabalho no foi possvel a aplicao do mtodo da curva de calibrao, pois na

aplicao deste mtodo exige-se que seja feita a leitura TL da amostra tratada termicamente a fim
de eliminar o sinal TL. Aps o tratamento, as amostras so submetidas a doses de radiao diferentes, de forma que possibilitem traar uma curva de calibrao para a amostra. A intensidade
TL da amostra natural ento comparada com esta curva e a dose acumulada determinada. Geralmente, o tratamento trmico feito a uma temperatura acima de 500 C. Neste trabalho, este
tratamento trmico foi executado a 550C durante um tempo de 2 horas. Notamos que este tratamento trmico, como citado na seo (5.3), provocou uma alterao na estrutura dos defeitos do
material, causando inverses de intensidade nos picos acima de 300 C, que so aqueles utilizados para aplicao deste mtodo. Como podemos observar na figura 5.18, o comportamento esperado era que os picos aumentassem de intensidade de acordo com a dose de radiao absorvida,
pelo mesmo, e que a intensidade da amostra natural ficasse dentro do intervalo de doses utilizado.
No entanto observamos que para determinadas dose de radiao a intensidade do pico decaia com
a dose de radiao.

123

10

1,4

10

Natural
1,2

Intensidade TL ( u.a )

8
1,0
6

0,8

0,38 Gy
0,45 Gy
0,53 Gy

0,6

0,4

0,9 Gy
1,35 Gy 2
0,2

0,0

0
0

100

200

300

400

Temperatura ( C )

Figura 5.18 - Nesta figura so traadas as curvas de emisso para o quartzo natural e do quartzo tratado a 500 C
durante 2 horas, resfriado rapidamente, e irradiado com radiao gama taxa o,215 Gy/h.

Portanto, no foi possvel a aplicao do mtodo de calibrao devido a alterao do material com o tratamento trmico. Entendemos que necessrio um estudo mais detalhado a respeito das alteraes da curva de emisso TL do quartzo, perante os tratamentos trmicos, para
que esta metodologia se mostre vivel para o quartzo da regio de Xing.

124

CAPTULO 6 CONCLUSES

125

6- CONCLUSO

A partir dos resultados apresentados no captulo anterior, possvel listar as seguintes

concluses:
Os vestgios cermicos dos Stios arqueolgicos de Xing apresentam em sua constituio
uma quantidade de quartzo suficiente para procedimentos de datao por termoluminescncia.
Este quartzo, quando natural, apresenta em sua curva de emisso TL, um pico intenso em
250C e outros dois com menor intensidade em 325C e 380C. Deve ser observado que no
foram encontrados nas curvas de emisso TL, para o quartzo natural extrado da cermica, picos abaixo de 250C, pois as armadilhas responsveis pela emisso nesta temperatura so suficientemente rasas para serem desarmadilhadas temperatura ambie nte.
possvel verificar, ainda, que estes picos crescem com a dose de radiao artificial. Podemos observar, ainda, que o quartzo natural extrado da cermica e irradiado apresenta dois picos intensos, um em 135 C e outro em 300 C; levando-nos a concluir que o pico de 110 C,
caracterstico do quartzo, composto pela superposio de vrios picos em torno dessa regio. Este comportamento se estende para os picos de 325 C e 380 C e, neste caso, a superposio dos picos est em torno de 300C;
Os espectros de emisso do quartzo da regio estudada apresentaram, quando no estado natural, emisses a 180 C e 380 C, sendo que a primeira emisso est contida na banda centrada
em 280 nm e a segunda em 470 nm, sendo que primeira atribuda a uma vacncia de oxignio
e a segunda atribuda ao centro [AlO 4 ]0 . Este quartzo, quando tratado termicamente a 550C
durante 2 horas, apresenta uma forte emisso em 75 C centrado em torno de 370 nm, atribuda ao centro [H3 O4 ]0 . Dessa forma, conclui-se que o tratamento trmico, acima de 500 C, necessria, a alguns dos procedimentos de datao por TL, provoca alteraes na estrutura do
material; sendo que estas alteraes podem ser significativas nas determinaes das idades
das peas, a depender do mtodo empregado.;

126

 O quartzo extrado de vestgios cermicos, quando tratado termicamente a 500 /C durante 2

horas, apresenta fortes emisses em 75 C e 135 C com uma reduo na intensidade do pico
de alta temperatura. Este efeito se deve ao aumento da sensibilidade dos picos de baixa temperatura (75 C, por exemplo), efeito este denominado de pr-dose, que provavelmente est
relacionado com a criao de novos centros de emisso, sugerimos que seja o [H3 O4 ]0 ;
Na aplicao das tcnicas da pr-dose e fototransferncia deve-se fazer uma correo na intensidade do pico de 110 C, pois o mesmo apresenta um rpido decaimento temperatura
ambiente. O mesmo deve ser feito na aplicao de todas as tcnicas de datao por TL, qua ndo o material submetido a lavagem com HF. Contudo, neste trabalho, os fatores de correo
so insignificantes, devido ao fato do intervalo de tempo entre o instante da irradiao e leitura TL ser muito pequeno; no chegando a mais de 1 min. Com relao ao efeito do cido,
tambm no fizemos correes, pois o tempo de lavagem foi muito pequeno, cerca de 5 min
e, desta forma, o decaimento da intensidade TL menor que 10%;
Na aplicao das tcnicas TL de datao, deve-se uniformizar o tamanho dos gros, visto que
o tamanho dos gros influencia na intensidade de emisso TL das amostras;
Os picos de emisso TL do quartzo extrado dos vestgios cermicos que apresentam com
uma melhor estabilidade a temperatura ambiente, so aqueles cuja temperatura de mximo
esto acima de 250 C. Neste trabalho utilizamos o pico de 300C para aplicao da tcnica
de dose adicional;
As dataes efetuadas neste trabalho apresentara uma idade mdia de 1.800 150 BP para a
fase 8, e 2.050 140 BP para a fase 10. As dataes na fase 8 foram realizadas pelas tcnicas
da pr-dose e dose adicional, e na fase 10 utilizou-se as tcnicas da dose adicional e fototrasferncia. Os resultados das vrias tcnicas de datao para cada fase se mostraram coerentes;
No foi possvel a aplicao da tcnica da curva de calibrao, pois aps realizar o tratamento
trmico a 500 C, o material apresentou uma instabilidade dos picos de alta temperatura ou,

127

devido ao tratamento trmico, o material foi modificado de forma que a intensidade TL em

funo da dose deixou de ser sistemtica;
Os resultados das dataes apresentadas neste trabalho esto concordantes com as dataes
efetuadas por radiocarbono nas fases estudadas.

128

SUGESTES PARA FUTUROS TRABALHOS

129

No sentido de dar continuidade nos trabalhos de datao arqueolgica por termoluminescncia,

principalmente, na regio do Baixa So Francisco, sugere-se os seguintes trabalhos:

i)

Estudar o comportamento da emisso do quartzo quando o mesmo submetido a

vrios tratamentos trmicos sucessivos;

ii)

Concluir o trabalho de determinao da taxa de radiao anual da regio de Xing;

iii)

Desenvolver um teste de autenticidade da peas encontradas, baseando-se na mudana do espectro de emisso TL das amostras, sendo assim ser possvel confirmar se um determinado vestgio sofreu algum tipo de queima no passado;

iv)

Traar um perfil de idades obtidas por TL ao longo de vrias camadas de um determinado stio;

v)

Estabelecer dataes por TL em vrias reas da regio para auxiliar a Arqueologia

a definir a dinmica de ocupao da regio no passado.

vi)

Aplicar tcnicas de datao por EPR para dataes de vestgios cermicos e lticos
dos stio da regio de Xing;

vii)

Caracterizar os sedimentos, por fluorescncia de raios-x, no intuito de us-los para

procedimentos de datao.

130

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

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