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Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Nmero de defectuosos
0
2
1
2
3
7
8
5
3
7
Grfica P de Defectos
0,010
LCS=0,00999
Proporcin
0,008
0,006
_
P=0,004
0,004
0,002
0,000
LCI=0
1
9
11
Muestra
13
15
17
19
c) Si las especificaciones sealan que la proporcin de defectuosos debe ser menor de 0.005, Cul
es el ndice de capacidad real del proceso?, es un proceso habilitado para cumplir
especificaciones?
Capacidad de proceso de P
LES
Dentro de
General
Procesar datos
LEI
*
Objetivo
*
LES
0,005
Media de la muestra 0,004
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,002053
Desv.Est. (General)
0,00277204
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 300000,00
PPM Total
300000,00
*
*
0,12
0,12
*
Proceso inhbil
Se calcula mediante la desviacin estndar general
d) Cules son las partes por milln defectuosa observada?
Capacidad de proceso de P
LES
Dentro de
General
Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,005
Media de la muestra 0,004
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,002053
Desv.Est. (General)
0,00277204
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 300000,00
PPM Total
300000,00
20 :1' 000,000
6: X
'
6 000,000
X=
=300,000
20
*
*
0,12
0,12
*
e) Qu valor de
cpk =1
1=
0.005p
3 ( 0.0028 )
1
8
2
11
3
6
4
9
5
14
6
15
7
16
8
15
9
23
10
8
210
160
210
180
190
190
180
180
210
160
11
9
12
4
13
6
14
12
15
24
16
8
17
12
18
2
19
18
20
9
160
160
160
180
210
120
180
100
210
120
LCS=0,1340
0,12
Proporcin
0,10
0,08
_
P=0,0660
0,06
0,04
0,02
0,00
LCI=0
1
9
11
Muestra
13
15
17
19
c) Si las especificaciones indican que se puede recibir hasta una fraccin defectuosa de 0.05, calcule
el ndice Cpk, el proceso es hbil?
Capacidad de proceso de P1
LES
Dentro de
General
Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,05
Media de la muestra 0,0641772
Nmero de muestra
20
Desv.Est. (Dentro)
0,0242591
Desv.Est. (General)
0,0262426
*
*
-0,18
-0,18
*
d) Qu valor de
1.33=
0.050.03
3( )
0.050.03
=0.00501
3(1.33)
3. S est utilizando un grfico de control c para controlar la calidad de un producto, con una prueba
especialmente severa, los lotes se producen en cantidades de 500 piezas en los ltimos 20
inspeccionados los resultados son:
Lote
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Nmero de
defectuoso
s
5
7
2
4
8
5
1
1
3
2
Lote
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Nmero de
defectuoso
s
2
2
8
5
7
8
6
9
1
2
Grfica C de No de defectos
12
LCS=10.69
Conteo de muestras
10
8
6
_
C=4.4
4
2
0
LCI=0
1
11
Muestra
13
15
17
19
Conteo de muestras
10
+2SL=8,60
8
6
_
C=4,4
4
2
-2SL=0,20
-3SL=0
0
1
9
11
Muestra
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15
17
19
c) Si no est bajo control estadstico, adems de las 4 reglas de los grficos de atributos se considera
tambin que si dos puntos consecutivos estn fuera de los lmites de precaucin Cules son las
causas?
Estas bajo control no hay causas
d) Si las especificaciones sealan que un lote debe de tener cuando mucho 10 defectos en cada lote
de 500 piezas, Cules el ndice de capacidad real del proceso?, es un proceso habilitado para
cumplir especificaciones?
Procesar datos
LEI
O bjetivo
LES
Media de la muestra
Nmero de muestra
Desv.Est. (Dentro)
Desv.Est. (General)
*
*
10
4,4
20
2,77779
2,74149
-2
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total
0,00
*
*
0,68
0,68
*
10
Proceso inhabil
e) Cules son las partes por milln defectuosa observada?
No hay partes por milln defectuosas
f) Qu valor de
1.333=
10c
3(1)
Procesar datos
LEI
O bjetivo
LES
Media de la muestra
Nmero de muestra
Desv.Est. (Dentro)
Desv.Est. (General)
*
*
10
6
20
1
2,74149
0
Desempeo observado
PPM < LEI
*
PPM > LES 0,00
PPM Total
0,00
10
*
*
0,49
0,49
*
12
g) Qu nuevos lmites propone para cumplir con la especificacin del inciso anterior?
Grfica C de Defectuosos
14
+3SL=13,35
12
Conteo de muestras
+2SL=10,90
10
8
_
C=6
6
4
2
-2SL=1,10
0
-3SL=0
1
9
11
Muestra
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4. Se est estudiando la pureza de una substancia en un proceso qumico, se midieron las impurezas
por cada metro cubico, encontrando, encontrando los siguientes datos:
No
.
Metros
Cbicos
1
2
3
4
5
6
7
8
860
750
480
900
750
480
860
860
Nmero
de
impureza
s
38
32
21
58
34
23
42
31
No.
Metros
Cbicos
9
10
11
12
13
14
15
16
480
750
860
750
480
860
900
750
Nmerod
e
impureza
s
18
25
39
31
20
30
42
28
No.
Metros
Cbicos
17
18
19
20
21
22
23
24
750
860
900
750
900
860
750
480
Nmero
de
impureza
s
28
29
35
34
60
40
26
23
0.08
0.07
LCS=0.07229
0.06
0.05
_
U=0.04367
0.04
0.03
0.02
LCI=0.01506
0.01
1
11 13 15
Muestra
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19
21
23
Grfica U de No de impurezas
LCS=0,07068
0,07
0,06
0,05
_
U=0,04246
0,04
0,03
0,02
LCI=0,01425
0,01
1
11 13
Muestra
15
17
19
21
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c) Si las especificaciones indican que se espera 0.1 impureza por metro cubico, cul es el valor del
cpk?.
Capacidad de proceso de u
LES
Dentro de
General
Procesar datos
LEI
*
O bjetivo
*
LES
0,1
Media de la muestra 0,0434285
Nmero de muestra
24
Desv.Est. (Dentro)
0,00721638
Desv.Est. (General)
0,00839615
*
*
2,25
2,25
*
Proceso hbil
d) Qu valor de
establece en 0.01?
1.333=
0.1u
3(0.01)
u =0.11.333 ( 3 ) 0.01=0.0601
Grfica U de No de impurezas
0,10
LCS=0,09367
0,09
0,08
0,07
_
U=0,0601
0,06
0,05
0,04
1
0,03
LCI=0,02653
0,02
1
11 13
Muestra
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19
21
23
e) Qu nuevos lmites se proponen, para cumplir con la especificacin del inciso d)?
Grfica U de No de impurezas
0.10
LCS=0.09367
0.09
0.08
0.07
_
U=0.0601
0.06
0.05
0.04
1
0.03
LCI=0.02653
0.02
1
11 13 15
Muestra
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19
21
23