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ANLISE DA PRECISO OBTIDA PELO AJUSTAMENTO PELO

MMQ BASEADA NA CONSTRUO DE ELIPSES DE ERRO


Gerardo Felipe Espinoza Prez Eng. Agrnomo
Mtrica Tecnologia Suporte Tcnico e Treinamentos
Daniel Alexandre Janini - Eng. Agrimensor, Mestre em Agronomia
Mtrica Tecnologia Diretor de Desenvolvimento Tcnico
1 - Introduo
Ao fazer levantamentos topogrficos por mtodos
convencionais, as coordenadas resultantes tm como
origem medidas de ngulos e distncias, chamadas
observaes. Estas medidas esto sujeitas a erros que
podem ser minimizados atravs da aplicao de modelos

formado entre a direo positiva do eixo y e a direo do


semi-eixo mximo da elipse.
Sendo assim, ao observar os formatos, tamanhos e
orientaes das elipses, possvel fazer rpidas e
significativas comparaes entre as precises dos
pontos ajustados pelo MMQ.

matemticos de ajustamento, como o Mtodo dos


Mnimos Quadrados (MMQ).
Na anlise das precises das coordenadas obtidas pelo
MMQ, a matriz das covarincias (MVC) deve ser
calculada para se conhecer a correlao entre as
componentes da varivel aleatria, definindo o grau de
dependncia entre elas (Gemael, 2004). Contudo, na
prtica, os objetos matemticos no so diretamente
acessveis percepo e necessitam de representaes
para sua apreenso.
Em topografia e geodsia o sistema de representao
mais utilizado o de figuras geomtricas, pois elas
permitem anlises grficas bidimensionais da preciso
das coordenadas em todas as direes de um plano. A
interseco entre o plano e a superfcie da distribuio
de probabilidade determina uma figura geomtrica
conhecida como elipse padro de erro.
Esta figura delimita a regio onde a densidade de
probabilidade constante, apresenta a direo mxima
e mnima de erros (expressa em valores numricos), e
fornece o desvio padro nas direes x e y (Stringhini,
2005).

2 Anlise das elipses dos erros


Segundo Amorim (2004) os valores presentes na MVC
(Equao1) so os indicadores do comportamento da
elipse de erro em relao ao sistema cartesiano XY.

2x
MVC = xy =
yx

Complementarmente s direes, a orientao da elipse


est diretamente ligada correlao entre as
coordenadas x e y e determinada pelo ngulo horrio

(01)

J o grau de correlao entre as coordenadas x e y,


mostrado na equao 2, pode ser comprovada
visualmente ao analisar a proximidade do eixo maior em
relao a um dos eixos do sistema cartesiano.

xy =

xy
xy

(02)

Desta forma, a correlao e a magnitude das varincias


e covarincias apresentadas na MVC afetam
diretamente o tamanho, formato e a orientao das
elipses como mostrado nas figuras a seguir:

Fig. 2 -

Fig. 1 - Elipse de erro padro (Adaptado de Wolf &


Ghilani,1997).

xy

2y

x = y

Fig. 3 -

x = y

xy = 0

xy 0

= 0
2 = Q1

= 45
2 = Q1

Ao comparar as Figuras 3 e 4 possvel perceber como


a correlao entre as varincias em x e y afetam a forma
da elipse. Quando no existe correlao entre as
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variveis e estas possuem valores idnticos, a elipse


assume uma forma circular. No caso da existncia de
correlao entre as variveis e considerando que seus
valores so idnticos, a elipse assume um formato mais
oblongo, tendo como orientao um ngulo de 45. A
Figura 3 mostra uma situao desejvel pois nesse caso
particular, as varincias contribuem de forma idnticas
para formao da elipse.

Fig. 4 -

x < y

Fig. 5 -

x > y

xy = 0

xy = 0

= 0
2 = Q1

= 0
2 = Q2

As figuras 4 e 5 demonstram a questo do


comportamento das elipses quando as varincias so
diferentes em x e y e estas no possuem correlao
entre si. Pode-se notar que, quando este tipo de situao
ocorre, o eixo maior da elipse alinha-se com o eixo
cartesiano que apresenta a maior varincia e que o
achatamento da elipse varia conforme a magnitude da
menor varincia.
O tamanho das elipses uma maneira de mensurar o
grau de confiana em relao posio das
coordenadas
ajustadas,
pois
elipses
menores
apresentam maior fiabilidade que as elipses maiores.
Sendo assim, pode-se afirmar que, quando analisadas
isoladamente, as dimenses das elipses fornecem uma
medida da acurcia posicional. Quando analisadas em
um contexto geral indicam a rigidez da rede de estaes.
O formato e a orientao das elipses indicam como a
rede pode ser melhorada para que a figura geomtrica
possua maior rigidez (STARPLUS,2004). Uma anlise da
rigidez de figuras geomtricas versus a propagao de
varincias pode ser encontrada no trabalho de Silva et.
al.(2003).
Elipses mais oblongas mostram que h uma maior
incerteza em uma das coordenadas e talvez, naquela
estao, haja a necessidade de observaes. Elipses
grandes e circulares mostram que varincia em X e Y

est bem distribuda, porm, talvez sejam necessrias


tcnicas de medio mais acuradas ou observaes
adicionais nas outras estaes. Se a maioria das elipses
oblonga e possui orientaes semelhantes,
provavelmente h um desbalanceamento ao longo da
poligonal, no sentido da orientao das elipses, devido a
alguma deficincia nos azimutes. Isto poderia ser
solucionado atravs do injuncionamento da poligonal
com pontos de controle. (STARPLUS, 2004).
Alm da questo posicional, importante ressaltar
tambm a questo da adoo das escalas durante a
construo das elipses. Geralmente os desvios-padro
das estaes ajustadas so apresentados em
milmetros, o que dificulta a representao e visualizao
grfica das elipses quando desenhadas juntamente
poligonal topogrfica calculada. Sendo assim, comum
que as elipses sejam desenhadas em uma escala maior
que a da poligonal, para uma melhor visualizao grfica
dos resultados, conforme mostrado na Figura 6.

Fig. 6 - Poligonal simulada ajustada pelo MMQ e


representao grfica da preciso por meio das elipses
dos erros (Adaptado de Carvalho et al.,2007).

3 Aplicao prtica
No mercado de softwares para topografia existem vrias
opes. No entanto somente alguns possuem algoritmos
para ajustamento de poligonais topogrficas pelo Mtodo
dos Mnimos Quadrados. Neste exemplo prtico ser
utilizado o TopoEVN 6, pois um dos softwares que
efetua o ajustamento pelo MMQ e permite gerar
relatrios com os resultados dos processamento e
construo das elipses dos erros.
Para exemplificar a interpretao das elipses construdas
a partir dos resultados obtidos no ajustamento pelo
MMQ, ser utilizada uma planilha de campo,
disponibilizada no arquivo de exemplos do prprio
software.

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construir as elipses dos erros pois possuir os valores


das precises de cada estao ajustada. Uma vez
construdas as elipses possvel interpreta-las e
rapidamente obter concluses sobre a preciso das
estaes da poligonal topogrfica ajsutada.
Fig. 9 Ajustamento finalizado com as respectivas
correes.
No exemplo utilizado, pode-se concluir, atravs da
comparao do tamanho das elipses, que as estaes
prximas aos pontos de apoio da poligonal so mais
precisas que as mais afastadas dos mesmos. Percebese tambm que, de modo geral, as elipses so oblongas,
o que indica uma forte correlao entre as variveis.
Fig. 7 Planilha de campo com 3 seqncias de leituras
conjugadas (CE e CD).
Esta planilha contm dados de campo reais, sendo que
a minimizao de erros sistemticos e randmicos no
levantamento de campo foi realizada atravs de 3
seqncias de leituras conjugadas (CE e CD). Aps
efetuar o processamento e testar estatisticamente o
clculo, o software exibe as coordenadas ajustadas com
suas respectivas correes e o numero de iteraes
necessrias para finalizar o ajustamento.

Outro concluso que pode ser obtida a partir da anlise


das elipses dos erros que a partir da estao E6,
provavelmente, h um desbalanceamento ao longo da
poligonal devido a alguma deficincia nos azimutes, pois
a partir desta estao as elipses possuem orientaes
semelhantes.
Com relao ao software, nota-se que alm de construir
as elipses grficas o mesmo fornece os valores dos
elementos das elipses e a escala em que elas foram
apresentadas graficamente, simplesmente posicionando
o mouse na figura desejada. O valores podem ser
exibidos em forma de relatrio ao executar o comando
Relatrio das Elipses.

Fig. 8 Ajustamento finalizado com as respectivas


correes.
Ao finalizar o ajustamento o software ter condies de
Fig. 9 Elementos da elipse de erro e escala utilziada
para represent-las graficamente.
Maiores detalhe sobre a obteno das elipses de erro
podem ser encontrados em recente trabalho publicado
pelos autores deste artigo (Prez et al., 2008)
BIBLIOGRAFIA CONSULTADA

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