MUCHAS DE LAS APLICACIONES DE LAS CERMICAS SE BASAN EN SUS

PROPIEDADES FSICAS Y TRMICAS NICAS.

POR EJEMPLO, LAS PLACAS DE PROTECCIN TRMICA DEL TRANSBORDADOR
ESPACIAL REQUIEREN LAS SIGUIENTES CARACTERISTICAS:
-PESO ULTRALIGERO
-RESISTENCIA A ALTAS TEMPERATURAS
-RESISTENCIA AL CHOQUE TRMICO ELEVADA
- CONDUCCIN DE CALOR BAJA
LA DENSIDAD Y LA
TEMPERATURA DE
FUSION SON
PROPIEDADES FSICAS
IMPORTANTES. LA
CONDUCCIN DE CALOR
ES UNA CARACTERSTICA
TERMICA Y LA
RESISTENCIA AL CHOQUE
TRMICO ES UNA
COMBINACIN DE
PROPIEDAD TRMICA Y
MECNICA
PROPIEDADES FSICAS
Ceramic Tiles
The space shuttle is covered with approximately 24,000 ceramic
tiles made from a silica fiber compound.
UN ENFOQUE EMPLEA
MATERIALES ABLATIVOS QUE
DISIPAN EL CALOR, PERO QUE
SE VAN CONSUMIENDO
DESPACIO Y DEBEN SER
SUSTITUIDOS DESPUS DE
CADA MISIN.

EL OTRO ENFOQUE USA
MATERIALES QUE PUEDEN
SOPORTAR LAS
TEMPERATURAS GENERADAS
DURANTE LA REENTRADA Y
QUE SE UTILIZAN EN UNA
NUEVA MISION

ESTE SEGUNDO ENFOQUE ES
EL QUE FUE SELECCIONADO
PARA LA PROTECCIN DEL
TRANSBORDADOR ESPACIAL.
CUANDO UN VEHCULO COMO EL TRANSBORDADOR ESPACIAL ENTRA DE NUEVO EN LA
ATMSFERA, SE PUEDEN ALCANZAR TEMPERATURAS SUPERFICIALES HASTA DE 1650
C (~3000 F) DEBIDO A LA FRICCIN
DOS ENFOQUES DISTINTOS
DE DISEO HAN SIDO
USADOS CON EL FIN DE
PROTEGER SUPERFICIES DE
ENTRADA CRTICAS.
Distribucin de
temperaturas
aproximada que debe
soportar el
transbordador durante
la subida y la reentrada
en la atmosfera.
Nariz del
transbordador.
CSM 2000
Figure 7
Coated LI-900 Tile Cross-Section
0.33 mm
(0.013 in.)
160 X
Magnification
Rigidized Fiberous Silica
(144 Kg/m
3
or 9 lb/ft
3
)
Dense Silica Coating
(1600 Kg/m
3
or 100 lb/ft
3
)
Emittance Control
Mechanical Protection
of Base Material
Waterproofness
Purpose: Insulation Purpose:
CSM 2000
Figure 6
Rigidized Silica Fiberous Insulation
Silica fibers magnified
hundreds of times
White hot at 2300 F (1260 C), the
glow from a cube of LI-900 held in
bare hand provides the only light
in this photo, taken 10 seconds
after removal from the oven.
CSM 2000
Figure 20
Tiles During
Installation
on the Space
Shuttle
Note grouping of
tiles by array
E1.- COMPOSICIN QUMICA.
E2.- COMPOSICIN MINERALGICA. GRADO DE VITRIFICACIN.
E3.- TAMAO DE LOS CRISTALES.
E4.- POROSIDAD Y DENSIDAD. TAMAO Y TIPO DE POROS.
E5.- PERMEABILIDAD (AL AIRE, GASES O VAPORES).
A.- CARACTERISTICAS ESTRUCTURALES
CARACTERISTICAS Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES REFRACTARIOS
B.- CARACTERISTICAS OPERATIVAS

B1.- MECANICAS

OM1.- RESISTENCIA A LA COMPRESIN EN FRO.

OM2.- RESISTENCIA A LA FLEXIN EN FRO. MDULO DE DEFORMACIN.

OM3.- RESISTENCIA AL DESGASTE.

OM4.-RESISTENCIA A LA ABRASIN.

B2.- MECANICO TERMICAS

OMT1.- REFRACTARIEDAD BAJO CARGA (TA), REBLANDECIMIENTO BAJO
CARGA A TEMPERATURA CRECIENTE.

OMT2.- FLUENCIA BAJO PRESIN (REBLANDECIMIENTO BAJO CARGA A
TEMPERATURA CONSTANTE, DURANTE UN LARGO PERODO DE TIEMPO).

OMT3.- RESISTENCIA A LA FLEXIN EN CALIENTE (MOR).
.

CARACTERISTICAS Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES REFRACTARIOS
B.- CARACTERISTICAS OPERATIVAS
B3.- TERMICAS

OT1.- REFRACTARIEDAD (RESISTENCIA PIROSCPICA, CPE).

OT2.- DILATACIN TRMICA.

OT3.- MODIFICACIN PERMANENTE DE LA LONGITUD (DEFORMACIN
PERMANENTE).

OT4.- CONDUCTIVIDAD TRMICA.

OT4.- CALOR ESPECIFICO.

OT5.- RESISTENCIA AL CHOQUE TRMICO.

B4.- QUIMICAS

OQ1.- RESISTENCIA A ESCORIAS, METALES FUNDIDOS.

OQ2.-RESISTENCIA A GASES Y VAPORES.

OQ3.- RESISTENCIA A LOS CIDOS.

OQ4.- RESISTENCIA A LA HIDRATACIN.
DENTRO DE LAS PROPIEDADES LAS HAY FUNDAMENTALES Y
SIMULADAS.

SE DICE QUE UNA PROPIEDAD ES FUNDAMENTAL CUANDO ES
INTRNSECA AL MATERIAL (PROPIEDAD FSICO-QUMICA DEL
MISMO), POR EJEMPLO: COMPOSICIN QUMICA, DENSIDAD REAL,
CONDUCTIVIDAD TRMICA, ETC

POR SU PARTE, UNA PROPIEDAD ES SIMULADA CUANDO PARA SU
DETERMINACIN SE SIMULA EN EL LABORATORIO UN ENSAYO
QUE SEA LO MS SEMEJANTE POSIBLE A LA CORRESPONDIENTE
CONDICIN O SOLICITACIN EN EL HORNO (MATERIAL
REFRACTARIO EN SERVICIO), POR EJEMPLO: RESISTENCIA AL
ATAQUE POR ESCORIAS, CHOQUE TRMICO, REFRACTARIEDAD
BAJO CARGA, ETC.
COMPOSICIN QUMICA

LA COMPOSICIN QUMICA DE UN MATERIAL REFRACTARIO SIRVE PARA HACER SU
CLASIFICACIN Y DETERMINAR SU CARCTER QUMICO, SIENDO DE GRAN
IMPORTANCIA PARA DECIR CUAL SER SU RESISTENCIA A LOS ATAQUES POR
ESCORIAS, VIDRIO FUNDIDO, GASES Y VAPORES, ETC.
CLASIFICACIN DE LOS LADRILLOS REFRACTARIOS FRENTE A REACCIONES DE CONTACTO.
ADEMS DE LAS REACCIONES QUMICAS DE LOS MATERIALES REFRACTARIOS CON
LAS SUSTANCIAS EXISTENTES EN LA ATMSFERA DEL HORNO O CON LOS
MATERIALES A PROCESAR Y SUS PRODUCTOS DE REACCIN (ESCORIAS, METALES
FUNDIDOS, VIDRIO, ETC.), SE PRODUCEN REACCIONES EN EL CONTACTO DE
LADRILLOS REFRACTARIOS DE DISTINTA COMPOSICIN, EN UNA PARED DE UN
HORNO TRABAJANDO A TEMPERATURAS ALTAS. SE DEBERN TENER
ESPECIALMENTE EN CUENTA A TEMPERATURAS DE UTILIZACIN DE HORNOS POR
ENCIMA DE 1600 C, SI NO SE QUIEREN SORPRESAS DESAGRADABLES.
LOS LADRILLOS DE CADA GRUPO MONTADOS ENTRE S PUEDEN SOPORTAR UNA
TEMPERATURA DE 1600 C Y MS SIN QUE SE LLEGUEN A PRODUCIR REACCIONES
DE CONTACTO SIGNIFICATIVAS. SIN EMBARGO, ES IMPOSIBLE CARGAR A ALTAS
TEMPERATURAS LADRILLOS DEL GRUPO CIDO CON LOS DEL BSICO SIN QUE SE
PRODUZCAN DESTRUCCIONES POR REACCIONES DE CONTACTO.
COMPOSICIN MINERALGICA. GRADO DE VITRIFICACIN

EL COMPORTAMIENTO DE LOS LADRILLOS REFRACTARIOS DE UNA
MISMA COMPOSICIN QUMICA DEPENDE DE LAS MATERIAS PRIMAS
UTILIZADAS Y DE LAS REACCIONES QUE SE HAYAN PRODUCIDO
DURANTE EL PROCESO DE COCCIN, ES DECIR DE LOS COMPUESTOS
FINALMENTE PRESENTES EN EL MATERIAL REFRACTARIO.

A LA VISTA DEL ANLISIS MINERALGICO, SE PUEDE RESPONDER A LOS
INTERROGANTES PLANTEADOS A LA VISTA DE LOS RESULTADOS DEL
ANLISIS QUMICO DEL MATERIAL REFRACTARIO. AS, PARA UN
REFRACTARIO SILICO-ALUMINOSO, SE PUEDE RESPONDER A LOS
SIGUIENTES INTERROGANTES:

1.- QU PROPORCIN DE SiO
2
SE ENCUENTRA LIBRE?.

2.- BAJO QUE FORMA CRISTALINA (CUARZO, TRIDIMITA, CRISTOBALITA)
SE ENCUENTRA EL SiO2 LIBRE?.

3.-QU PARTE DEL SiO2 SE ENCUENTRA EN LA MATERIA AMORFA
INTERGRANULAR (CONSTITUYENTE MATRIZ)?.
COMPOSICIN MINERALGICA. GRADO DE VITRIFICACIN

EL COMPORTAMIENTO DE LOS LADRILLOS REFRACTARIOS DE UNA
MISMA COMPOSICIN QUMICA DEPENDE DE LAS MATERIAS PRIMAS
UTILIZADAS Y DE LAS REACCIONES QUE SE HAYAN PRODUCIDO
DURANTE EL PROCESO DE COCCIN, ES DECIR DE LOS COMPUESTOS
FINALMENTE PRESENTES EN EL MATERIAL REFRACTARIO.

A LA VISTA DEL ANLISIS MINERALGICO, SE PUEDE RESPONDER A LOS
INTERROGANTES PLANTEADOS A LA VISTA DE LOS RESULTADOS DEL
ANLISIS QUMICO DEL MATERIAL REFRACTARIO. AS, PARA UN
REFRACTARIO SILICO-ALUMINOSO, SE PUEDE RESPONDER A LOS
SIGUIENTES INTERROGANTES:

1.- QU PROPORCIN DE SiO
2
SE ENCUENTRA LIBRE?.

2.- BAJO QUE FORMA CRISTALINA (CUARZO, TRIDIMITA, CRISTOBALITA)
SE ENCUENTRA EL SiO
2
LIBRE?.

3.-QU PARTE DEL SiO
2
SE ENCUENTRA EN LA MATERIA AMORFA
INTERGRANULAR (CONSTITUYENTE MATRIZ)?.
La cantidad de fase con estructura no cristalina (Fase vtrea), o lo que es lo
mismo el grado de vitrificacin es difcil de determinar, pudiendo
detectarse su presencia mediante la difraccin de Rayos X , pues en el
difractograma debe de aparecer una banda difusa debida a la fase vtrea
Difractograma con
una banda difusa.
EL GRADO DE VITRIFICACIN TIENE SU IMPORTANCIA, YA QUE LA FASE
VTREA ES MUCHO MS VULNERABLE, POR LO GENERAL, AL ATAQUE
DE ESCORIAS QUE EL FIELTRO DE CRISTALES BIEN ENTRELAZADOS.
AS MISMO, EL AUMENTO DEL GRADO DE VITRIFICACIN PRODUCE UNA
DISMINUCIN DE LA RESISTENCIA MECNICA Y DE LA
REFRACTARIEDAD

LA EXTENSIN DEL GRADO DE VITRIFICACIN SE PUEDE REDUCIR
MEDIANTE UN RECOCIDO A ALTA TEMPERATURA. SIN EMBARGO, ESTE
TRATAMIENTO INFLUYE DESFAVORABLEMENTE SOBRE LA
RESISTENCIA AL CHOQUE TRMICO (LO QUE NO QUIERE DECIR QUE
UNA ALTA RESISTENCIA A LA COMPRESIN SUPONGA SIEMPRE UNA
BAJA RESISTENCIA AL CHOQUE TRMICO).
TAMAO DE LOS CRISTALES

LOS AGREGADOS DE PEQUEOS CRISTALES PUEDEN
DISOLVERSE Y TRANSFORMARSE POR INFILTRACIN DE
SUBSTANCIAS MS RPIDAMENTE QUE UNA ESTRUCTURA
CRISTALINA GRUESA (GRANDES CRISTALES).
La densidad de un material se define como la masa del
mismo por unidad de volumen, es decir:
M
V
=
.
Varios factores influyen en la
densidad:

- Tamao y peso atmico de
los elementos
-Factor de empaquetamiento
de los tomos en la estructura
cristalina
- Cantidad de porosidad en la
microestructura.
DENSIDADES. POROSIDADES. COMPACIDAD
El trmino densidad puede usarse de varios modos, cada uno de
ellos con un significado diferente. Para estar seguro del significado
correcto, tenemos que usar palabras para diferenciarlas:
DENSIDAD CRISTALOGRAFICA: ES LA DENSIDAD IDEAL DE UNA
ESTRUCTURA CRISTALINA ESPECFICA DETERMINADA A PARTIR DE DATOS
DE COMPOSICIN QUMICA Y DE DATOS DEL ESPACIADO INTERATMICO
OBTENIDOS POR DIFRACCIN DE RAYOS X.

DENSIDAD TERICA O REAL: LA DENSIDAD DE UN MATERIAL QUE CONTIENE
UNA POROSIDAD MICROESTRUCTURAL NULA, TENIENDO EN CUENTA LAS
FASES MLTIPLES, LOS DEFECTOS EN LA ESTRUCTURA Y LAS SOLUCIONES
SLIDAS).

DENSIDAD GLOBAL: LA DENSIDAD DE UNA PIEZA CERMICA, INCLUYENDO
TODA LA POROSIDAD, LOS DEFECTOS DE RED Y LAS DISTINTAS FASES).

DENSIDAD ESPECFICA: LA DENSIDAD DE UN MATERIAL EN RELACIN CON
LA DENSIDAD DE UN VOLUMEN IGUAL DE AGUA A 4 C (POR LO GENERAL,
BASADA EN LA DENSIDAD CRISTALOGRAFICA O TERICA). AS, UN
MATERIAL CON UNA DENSIDAD ESPECFICA DE 4.5 TIENE UNA DENSIDAD 4.5
VECES LA DENSIDAD DEL AGUA A 4 C. ASIMISMO, UN VOLUMEN IGUAL
PESA 4.5 VECES QUE EL DE AGUA.
ESTRUCTURA DE LA FLUORITA
3
1 0.225
2
i
s
r
r
= =
Cbica Tetragonal Monoclnica
O = 16, Zr = 91.22, Si = 28, M
ZrO2
= 123.22 , M
ZrSiO4
=183.22
Celda unidad circn
Factor de empaquetamiento = 34 %
DIAMANTE GRAFITO
LA POROSIDAD DE UN MATERIAL CONFORMADO INCIDE DIRECTAMENTE EN SU
RESISTENCIA MECNICA (QUE DISMINUYE AL AUMENTAR LA POROSIDAD).

OTRAS CARACTERSTICAS IMPORTANTES COMO EL COMPORTAMIENTO FRENTE AL
ATAQUE QUMICO, LA CONDUCTIVIDAD TRMICA Y LA RESISTENCIA AL CHOQUE
TRMICO, QUEDAN TAMBIN INFLUENCIADAS POR EL TAMAO, FORMA, NMERO Y
DISTRIBUCIN DE LOS POROS.
LA POROSIDAD PUEDE PERMITIR LA PERMEABILIDAD A GASES O LQUIDOS, CAMBIAR
LAS CARACTERSTICAS ELCTRICAS O COMPROMETER EL COMPORTAMIENTO PTICO.
POROSIDAD. COMPACIDAD
( )
2
0
1 1.9 0.9 E E P P = +
LA INFLUENCIA DE LA POROSIDAD EN LA RESISTENCIA ES MUCHO MS
DRAMTICA, POR EJEMPLO, NO ES RARO QUE UN 10 % DE POROSIDAD
DISMINUYA EL MDULO DE ROTURA EN UN 50 % DEL VALOR MEDIDO
PARA EL MATERIAL NO POROSO.
LA POROSIDAD ES DESFAVORABLE PARA LA RESISTENCIA A LA
FRACTURA (O MDULO DE ROTURA) POR DOS RAZONES:

(1).- LOS POROS REDUCEN EL REA DE LA SECCIN A TRAVS DE
LA CUAL SE APLICA LA CARGA

(2).- ACTAN COMO CONCENTRADORES DE TENSIN: EN EL
CASO DE UN PORO ESFRICO LA TENSIN ES AMPLIFICADA EN
UN FACTOR 3.
AGUJERO ELIPTICO
EN UNA PLACA PLANA
2
1
A
a
b
o o
| |
= +
|
\ .
La relacin o
A
/o se define como el factor de
concentracin de tensiones, k
t
, Cuando a = b, el
agujero es circular y en este caso k
t
= 3
Cuando el eje mayor a, aumenta respecto a b, el
agujero elptico comienza a tener la apariencia de una
grieta aguda. Para este caso, Inglis encontr ms
conveniente la expresin siguiente:
1 2
A
a
o o

| |
= +
|
|
\ .
2
A
a
o o

=
Si a b
2
b
a
=
Frmula de Balshin:
o o
| |
=
|
\ .
0
1
100
n
t
P

o o

| |
=
|
\ .
0
n
g
r
Frmula de Ryshkevich:
( )
0
exp
mf
nP o o =

o
0
(Mdulo de rotura del material no poroso) y
n son constantes experimentales.
DISTINTOS VOLMENES QUE PRESENTA UN MATERIAL
ap m pc
V V V = +
VOLUMEN TOTAL
VOLUMEN APARENTE
m pc pa
T
V V V V = + +
SATURACIN DE LA PROBETA POR INMERSIN PROGRESIVA EN
AGUA A EBULLICIN
Se introduce la probeta en un
recipiente de manera que no
quede tocando el fondo del
mismo y se aade agua
destilada que se halle a la
temperatura ambiente, hasta que
cubra aproximadamente
1
4
Se continua aadiendo agua cada media hora hasta que al cabo de dos horas
se encuentre completamente sumergida. A continuacin, se hierve durante
dos horas, reponiendo el agua evaporada con agua destilada hervida y
caliente, de tal modo que la probeta est, durante las dos horas, totalmente
cubierta. Se deja enfriar dentro del agua hasta que alcance la temperatura
ambiente.
de su altura y se comienza a calentar
INSTALACIN DE VACO PARA
LA DETERMINACIN DE LA
DENSIDAD APARENTE Y
POROSIDAD ABIERTA
Se hace el vaco hasta que se alcance una
presin, constante de 25 mbar y se mantiene
esta presin durante 15 minutos como
mnimo Para comprobar que se ha
conseguido la desgasificacin total de la
probeta, se desconecta el recipiente de la
bomba de vaco y se comprueba, mediante
el manmetro que no aumenta la presin en
el interior. Se vuelve a conectar el recipiente
a la bomba de vaco y se introduce
progresivamente el lquido de inmersin, de
forma que, al cabo de 3 minutos la probeta
est totalmente recubierta de lquido. Se
mantiene esta presin reducida durante 30
minutos , se desconecta la bomba y se
abre el recipiente.
YA SE PUEDE CALCULAR LA DENSIDAD GLOBAL, LA
DENSIDAD APARENTE Y LA POROSIDAD ABIERTA, ASI
COMO LA CAPACIDAD DE ABSORCIN
ELIMINACIN DE LOS
POROS CERRADOS
POR PULVERIZACIN
CLCULO DE LA DENSIDAD
REAL POR EL MTODO DEL
PICNMETRO
( ) ( )
1
1 2 3
r
l
m m
m m m m

=

CLCULO DE LA DENSIDAD REAL POR EL MTODO
DEL MATRAZ DE REES HUGIL
(MTODO DEL VOLUMENMETRO)
EL LQUIDO UTILIZADO DEBE
DE SER DE BAJA
VOLATILIDAD Y VISCOSIDAD,
CON EL FIN DE QUE NO
MODIFIQUE LA PESADA EN EL
TIEMPO Y PARA QUE SE
INTRODUZCA CON FACILIDAD
EN LOS HUECOS QUE
EXISTEN ENTRE LAS
PARTCULAS DEL POLVO.
i
f
r
i
f
m m
V V

DENSIDAD REAL O TEORICA.

PARA MUCHAS APLICACIONES, ES DESEABLE PRODUCIR UN MATERIAL
CERMICO QUE CONTENGA UNA POROSIDAD ABIERTA Y CERRADA
MNIMA. SI LA CERMICA PUDIESE DENSIFICARSE COMPLETAMENTE PARA
NO CONTENER NINGUNA POROSIDAD ABIERTA Y/O CERRADA, CONSISTIRA
SLO EN UNA MEZCLA DE FASES SLIDAS. ESTA CONDICIN DEL
MATERIAL LIBRE DE POROS REPRESENTARA LA DENSIDAD GLOBAL
MXIMA QUE SE PUEDE LOGRAR PARA LA COMPOSICIN ESPECFICA Y SE
DENOMINA COMO DENSIDAD TERICA O REAL

LA DENSIDAD TERICA A MENUDO SE USA COMO UN ESTNDAR FRENTE
AL CUAL COMPARAR LA DENSIDAD GLOBAL ACTUAL ALCANZADA PARA
UN MATERIAL. POR EJEMPLO, SI UN MATERIAL TIENE UNA POROSIDAD
TOTAL DEL 10 %, TENDRA UNA DENSIDAD IGUAL AL 90 % DE LA TERICA.


LA DENSIDAD TERICA PUEDE SER CALCULADA SI SE CONOCEN LA
DENSIDAD CRISTALOGRFICA Y LA FRACCIN DE VOLUMEN DE CADA UNA
DE LAS FASES SLIDAS QUE COMPONEN LA MICROESTRUCTURA.
EN FUNCIN DE LA IMPORTANCIA FUNCIONAL DE LOS POROS, AL FILTRAR
LQUIDOS (GASES) A TRAVS DE LOS PRODUCTOS REFRACTARIOS, ENTRE
LOS POROS ABIERTOS SE ENCUENTRAN POROS IMPERMEABLES (CIEGOS) Y
PERMEABLES.

LA RESISTENCIA DE LOS MATERIALES REFRACTARIOS QUE TRABAJAN EN
LAS CONDICIONES DE LA ACCIN DE LAS MASAS FUNDIDAS SE ELEVA
CONSIDERABLEMENTE AL DISMINUIR SU POROSIDAD. NO OBSTANTE, SE
CONOCEN CASOS EN LOS QUE PRODUCTOS CERMICOS DE IGUAL
COMPOSICIN QUMICO-MINERALGICA Y DE IGUAL POROSIDAD ABIERTA, Y
EN CONDICIONES APROXIMADAMENTE IGUALES, SE COMPORTAN DE DISTINTA
MANERA.
TAMAO Y TIPO DE POROS.

Resultante de las fuerzas de interaccin sobre una molcula en un lquido.
Fuerzas que experimenta una molcula del lquido en las
proximidades de la pared de un recipiente
F
C

ESQUEMA MOSTRANDO LA INTRUSIN DE MERCURIO EN UN PORO DE
DIMETRO 2R. DEBIDO A LAS FUERZAS DE COHESIN ENTRE EL LIQUIDO Y LA
PARED, LA FORMA DE LA SUPERFICIE DEL LIQUIDO TIENE UN NGULO DE
CONTACTO CARACTERISTICO
La ecuacin de Washburn nos indica que a presiones bajas el mercurio penetra o es forzado
a penetrar en los poros grandes (dimetros grandes) y el cambio de volumen suele ser
pequeo y a presiones altas en los pequeos (dimetros pequeos) y el cambio de volumen
es mayor. Por tanto, es posible determinar el radio de los poros usando dicha ecuacin
conociendo la presin a la cual el mercurio comienza a penetrar en los poros. El grado de
intrusin del mercurio depende de la presin aplicada, el dimetro del poro, la tensin
superficial y el ngulo de contacto.
( )
4 cos
d
p
o u
=
Despus de que se alcanza un nivel de vaco bajo (~ 3 kPa) con objeto de desgasificar la
muestra, la celda del penetrmetro se va llenando con mercurio al ir incrementando la
presin de forma continua. Cuando el valor de la presin va aumentando, el mercurio va
penetrando en poros cada vez ms pequeos y ms pequeos y el equipo mide el volumen
intruido por medio de los cambios en el nivel del mercurio.
( )
4 cos
i
i
d
p
o u
=
Si tiene lugar una variacin en el nivel del mercurio cuando la presin aumenta desde el
valor pi-1 a pi se entiende que es una indicacin de que existen en la muestra poros con un
dimetro:
Es importante sealar que la variacin en el nivel del mercurio es proporcional al nmero
de poros existentes en la muestra con dicho dimetro. Por tanto, la presin con la cual el
mercurio penetra en la muestra determina el dimetro del poro y el incremento de volumen
introducido la cantidad relativa de poros con dicho dimetro. La grfica representando el
volumen incremental de mercurio introducido en funcin del dimetro de poro nos da un
mtodo conveniente para determinar el tamao de los poros y su distribucin.
En la prctica, el volumen de mercurio
introducido en el interior de los poros
se determina por la variacin del nivel
de mercurio en un tubo (penetrometro)
conectado al equipo de medida y que
contiene a la muestra objeto de medida.
La figura representa un esquema del
penetrometro.
En los poros en forma de
matraz o con una cmara
al final, el porosmetro nos
mide el radio de acceso al
poro y no el radio de la
cmara final.
La figura muestra un ejemplo del empleo de la porosimetra de mercurio para estudiar la fabricacin
del nitruro de silicio consolidado por reaccin, el cual se fabrica del modo siguiente:
(1).- Formacin de un compacto de partculas de silicio.
(2).- Presinterizacin del compacto en vaco a 1200 C (2190 F) para alcanzar la resistencia adecuada
para el mecanizado en verde
(3).- Conversin lenta de las partculas de silicio a nitruro de silicio por reaccin con el nitrgeno a
temperaturas de hasta 1400 C (2550 F).

El material debe permanecer permeable al gas nitrgeno para permitir la conversin completa del silicio
a nitruro de silicio, teniendo presente que el objetivo es reducir al mnimo el tamao y la cantidad de
porosidad final para maximizar la resistencia mecanica y a la oxidacin.
La porosimetra de mercurio se usa en
cada etapa del proceso de fabricacin
para ayudar a entender los cambios que
ocurren en la cantidad y en el tamao
de los poros. Como puede verse en la
figura, la porosidad es alta en el
compacto de partculas silicio realizado
por prensado en un molde y en gran
parte esta justamente por debajo del
valor de 0.1 m para el dimetro de
canal de poro.

La presinterizacin aumenta
ligeramente el dimetro del canal de
poro, mientras que la nitruracin causa
una gran disminucin en la cantidad de
poros y en el dimetro del canal de los
poros.
A
=
D
K A P
Q
L
P D f
K K q =
q
A
=
P
f
K A P
Q
L
Aparato para determinar el coeficiente de permeabilidad
= =
Volumen V
Q
Tiempo t
q
=
A
f
P
LV
K
At P
LEY DE DARCY
981
q
=
A
VL
PtS
CLCULO DE LOS RESULTADOS
en la cual:

= permeabilidad, en permes.
V = volumen de aire, en centmetros cbicos
L = longitud de la probeta, en centmetros
q = viscosidad dinmica del aire, en poises
P = presin diferencial, en centmetros de columna de agua
t = tiempo, en segundos
S = seccin de la probeta, en centmetros cuadrados.