METODOS INSTRUMENTALES EN LA GEOMETALURGIA

Una de las maneras más sencillas y

adecuadas de reconocer los minerales
es por medio de la determinación de
sus propiedades ópticas mediante un
microscopio petrográfico.

Este reconocimiento se puede realizar
mediante luz transmitida, en ese caso
se usa una lámina delgada, o
mediante luz reflejada, entonces
usamos una probeta pulida.

La manera más precisa de

reconocimiento de un mineral es
por medio de un difractometro de
rayos X.

Nos permite establecer la
estructura reticular del mineral que
estemos analizando y, por
consiguiente, establecer la especie
mineral de que se trata. 1
 La microscopía electrónica y técnicas relacionadas
espectoscopia de energía dispersiva de Rayos X, XEDS (X-
Ray Energy Dispersive Spectroscopy) y pérdida de energía de
electrones, EELS, (electron energy loss spectroscopy) utilizan
cantidades de muestras de alrededor de 10-16 g y
proporcionan información de áreas por debajo de los 10 nm
de diámetro, SEM (scanning electron microscope) , y por debajo
del nanómetro, TEM (Transmission Electron Microscopy)
La espectroscopia IR es sensible a la
presencia de grupos funcionales en una
molécula: metileno, carbonilo, hidroxilo,
etc.
La característica principal es que permite
identificar las especies químicas a través
de la determinación de las frecuencias a la
que los distintos grupos funcionales
presentan bandas de absorción

La intensidad de las bandas puede utilizarse para determinar las

concentraciones de estas especies .
Mediante la comparación de los espectros IR se puede determinar si las muestra
2
tienen o no la misma composición.
 Propiedades de la radiación electromagnética

 La radiación electromagnética es la propagación de energía a través del espacio sin

soporte de materia.
 Esta energía adopta muchas formas: luz, calor, rayos X, rayos gamma, microondas, etc.
Los diferentes tipos de radiación electromagnética se caracterizan por su longitud de
onda, λ, o su frecuencia, ν.

La frecuencia (ν ν) es el número de ondas que pasan por un punto en un segundo,

(Hz = 1 ciclo/s.). Así:
c
λ= 1
v Adicionalmente: numero de onda = v =
λ
Donde “c” es la velocidad de propagación, 2.9979 x 1010cm/s.
La frecuencia, ν es la única característica verdadera, ya que la velocidad y la longitud
3 de
onda dependen de la naturaleza del medio de propagación.
El espectro electromagnético abarca un intervalo enorme de longitudes de onda y de
frecuencias.

La radiación electromagnética se representa como un campo magnético y otro eléctrico

que están en fase con oscilaciones sinusoidales en ángulo recto uno con respecto al
otro.

4
5
Comportamiento de las radiaciones

6
La radiación electromagnética se conceptúa como paquetes de energía, llamados
fotones, que tiene comportamiento de onda y de partícula a la vez
La energía de la radiación electromagnética se emite en cuantos y esta relacionada con
la frecuencia por:
hc
∆ε = hv =
λ
Donde :
∆ɛ es la energía por cuanto de radiación y;
h la constante de Planck = 6.624x10-27 erg.seg
La frecuencia y el número de onda son directamente proporcionales a la energía,
mientras que la longitud de onda lo es inversamente.
 La energía siempre se emite en múltiplos de, hν ν,
La radiación electromagnética interactúa con la materia pudiendo efectuar cambios en
esta última.
El átomo es el bloque básico de materia.
Los electrones que rodean al núcleo tienen cantidades fijas de energía.
 Cuanto más alejado está el electrón con respecto al núcleo, mayor es
la cantidad de energía que tiene; e inversamente, cuanto más cerca está
del núcleo, menor es su cantidad de energía.
 Consecuentemente, para remover un electrón de un nivel interno a una
posición más más alejada del núcleo, se necesitará mayor cantidad de
energía que para un electrón de un nivel externo.
Un electrón puede interactuar con un fotón.
El electrón que absorbe un fotón, gana energía.
Para que el electrón absorba energía, la energía del fotón debe coincidir con 7la del
electrón.
• Los electrones ligados al átomo poseen
cantidades discretas de energía, de modo que
solo los fotones con determinado nivel de
energía puede interaccionar con los electrones
de un átomo.

o La energía del fotón puede interactuar dando

origen a un salto transitorio, lo cual depende
de la diferencia de energía entre los niveles
electrónicos.
o Cada átomo tiene niveles específicos de
energía, consecuentemente, un conjunto de
ondas de fotones con los que puede
interactuar.

• Es por ello que cada elemento químico posee

su propio espectro de emisión.

8
Espectros de absorción

 El proceso de absorción puede representarse de modo sencillo por:

X + hνν → X*
 Para que ello ocurra, se debe cumplir:
• Que exista interacción entre el campo eléctrico de la radiación y alguna
carga eléctrica de la sustancia.
• La energía de la radiación incidente debe ser exactamente igual a la
energía cuantizada que requiere la sustancia.
 Si la radiación incidente tiene demasiada o poca energía para satisfacer
una transición entre niveles de energía, no se producirá la absorción.
 La energía que debe tener el fotón incidente para ser absorbido, debe
cumplir:
ν
Ef - Ei = hν
Donde Ei es la energía de X y Ef la energía de X*.

La vida media de un átomo o molécula excitados, X* se estima en 10-8 s.

9
Espectros de emisión

Se deben a un proceso que es exactamente inverso al de la absorción:

ν
X* → X + hν
Se distingue tres diferentes procesos de emisión:

Emisión de núcleo radiactivo: por desintegración de los núcleos de sustancia
radiactivas.

Emisión después de la absorción de radiación electromagnética: la emisión o
desactivación se puede producir por resonancia, fluorescencia o fosforescencia.
• Resonancia: Cuando un átomo o molécula vuelve a su estado fundamental
emitiendo radiación de la misma frecuencia que la absorbida. Fenómeno poco
frecuente.
• Fluorescencia y fosforescencia: son emisiones de radiación de mayor longitud de
onda (menor energía) que la absorbida. Parte de la energía se pierde por otros
medios de desactivación (p. ej. vibración de especies vecinas). La emisión por
fluorescencia es inmediata a la absorción y la fosforescencia toma más tiempo en
la emisión.

Emisión a partir de excitación no-electromagnética: La excitación se efectúa
básicamente bombardeando la materia con electrones de elevada energía. Esto se
produce por ejemplo en los tubos de rayos X, de donde se emiten justamente los
rayos X.
Los rayos X se generan bombardeando con electrones de gran velocidad metales de
número atómico elevado, (Mo, W).
Estos electrones interaccionan con los electrones de niveles energéticos internos del
metal y los electrones de los niveles energéticos superiores caen a los niveles 10
que han
quedado vacios, dando lugar a un Rayo X.
Difracción

Cuando las ondas electromagnéticas atraviesan una rendija se propagan en diferente

grado, fenómeno que es conocido como difracción.
Si la abertura de la rendija es
grande comparada con la
longitud de onda, la difracción
es insignificante.

Si la abertura de la rendija es

pequeña comparada con la
longitud de onda, se forman
ondas circulares.

11
 En una pantalla se observa una serie de bandas alternas luminosas y obscuras llamada
franjas.

 La banda central presenta el máximo de intensidad debido a que las interferencias entre
12
las ondas obtenidas a partir de la rendija es constructiva, mientras que la interferencia
destructiva entre las ondas da lugar a mínimos de intensidad.
13
 En los métodos de difracción de rayos X se utiliza un haz monocromático de rayos X para
irradiar un sólido cristalino cuyos átomos son capaces de dispersar el haz de rayos X.

 La suma de todas las ondas dispersadas da una figura de

difracción que es característica de cada sustancia cristalina .

El método de difracción de rayos X de polvo

cristalino es el único método analítico que
proporciona información cualitativa y
cuantitativa sobre compuestos presentes en
una muestra sólida.

El método de rayos X de polvo cristalino se basa en el hecho de que cada sustancia
cristalina da una única figura de difracción.

El método permite determinar distancias intermoleculares e interatómicas, ángulos de

enlace y las dimensiones de la celda unidad.
14
Espectroscopia de  Estos métodos se basan en la medida de la emisión, absorción,
rayos X dispersión, fluorescencia y difracción de esta radiación magnética.

 Los rayos X se definen como una radiación de longitud de onda corta producida por la
desaceleración de electrones de elevada energía o por transiciones electrónicas que
implican electrones de los orbitales internos.
 El intervalo de longitudes de onda de los rayos X va de 10-5 Å hasta 100 Å. 15
La espectroscopia de rayos X convencional abarca la región: 0.1 Å a 25 Å.
 Las líneas del espectro de rayos X corresponden a las denominadas líneas K y L.
Las series K de longitud de onda más corta (mayor energía) provienen cuando los
electrones más externos (de mayor energía) caen a la posición de los electrones más
cercanos al núcleo. Es decir, electrones de elevada energía caen a una posición de baja
energía, la diferencia de energía se emite como rayos X.
Las series L se producen cuando se pierde un electrón del segundo nivel y electrones de
nivel superior caen a este nivel.
 Las líneas características de rayos X
son independientes del estado químico;
así, la línea K será la misma si el
elemento esta como sulfuro, óxido o
metal puro.

16
El proceso de Fluorescencia de Rayos X

 Un electrón de la capa K se desprende del

átomo causado por una radiación de rayos X
creando un espacio libre.

 Un electrón de la capa L o M “salta” para

llenar el espacio vacío:
En el proceso, se emite un rayo X
característico, único para cada elemento.
A su vez, se produce una vacante en la capa L
oM.

17
El proceso de Fluorescencia de Rayos X

 Cuando se crea una vacante en la capa L ,

bien sea por excitación con rayos X o por el
evento anterior, un electrón de la capa M o N
“salta” para ocupar la vacante.
En el proceso se emite un rayo X
característico, único para cada elemento.
Esto a su vez produce una vacante en la capa
M o N.

18
 Espectroscopia de rayos X: Fluorescencia de Rayos X
 En la excitación atómica se utiliza rayos X de un tubo de rayos X o una fuente radiactiva.
En estas condiciones, los elementos de la muestra son excitados por absorción del haz
primario de rayos X; así la muestra, a su vez, emite sus propios rayos X fluorescentes
característicos.
Este procedimientos se llama FLUORESCENCIA O EMISIÓN DE RAYOS X, (XRF).
Este método se utiliza para identificación cualitativa de elementos que tienen números
atómicos mayores que el oxígeno (NA > 8).
También se utiliza a menudo para análisis elemental semicuantitativo o cuantitativo.

 La información cualitativa que se

muestra en la figura se puede
convertir en datos semi
cuantitativos midiendo
cuidadosamente la altura de los
picos.
Los instrumentos modernos de
XRF son capaces de
proporcionar análisis
cuantitativos de materiales
complejos con una precisión que
iguala o supera la de los métodos
clásicos.
Para esto se requiere disponer de
estándares de calibrado 19
 Espectroscopia de rayos X: Fluorescencia de Rayos X

El método de XRF:

Es un método no destructivo, por lo que el análisis no daña a la muestra.

El análisis se puede hacer con muy poca cantidad de muestra (partículas apenas
visibles), hasta objetos enormes
Es muy veloz, permite análisis multicomponentes en muy pocos minutos.
Su exactitud y precisión iguala o supera a otros métodos.
No es tan sensible como otros métodos; en el mejor de los casos se puede medir
unas cuantas partes por millón: normalmente mide de 0.01 al 100%.
No es adecuado para los elementos ligeros.
La instrumentación es muy costosa.

20
 Espectroscopia de rayos X: La microsonda de electrones
(Electron microprobe analysis EMPA)

 Es una técnica analítica que se usa para determinar la composición de

pequeñas volúmenes de muestra, típicamente entre uno y nueve micrones
cúbicos. Básicamente superficial.
Con este proceso se estimula la emisión de rayos X en la superficie de la
muestra por medio de un haz estrecho y enfocado de electrones acelerados.
 El haz de electrones se enfoca a la superficie de la muestra con el uso de una
serie de lentes electromagnéticos.
 La emisión de rayos X característicos se detectan por su longitud de onda y sus
intensidades medidas para determinar concentraciones.
 Todos los elementos (excepto el hidrógeno, helio y litio) pueden ser detectados.
Adicionalmente, la microsonda funciona como un microscopio electrónico de
barrido, (SEM) para obtener gran amplificación de las imágenes.
 La fuente de electrones es frecuentemente un filamento de tungsteno.
Una serie de lentes electromagnéticos ubicados en la columna del instrumento
se usan para condensar y enfocar el haz de electrones.
El receptáculo de muestra con desplazamientos X-Y- Z se encuentra al vacio
para prevenir interferencias de moléculas de gases o vapores.
Una variedad de detectores se disponen alrededor de la muestra para la
colección de rayos X y electrones de la muestra.
21
 Espectroscopia de electrones

 Los microscopios electrónicos fueron desarrollados debido a las limitaciones de los

microscopios ópticos, limitados por la física de la luz.
En la espectroscopia de electrones, la señal producida por la excitación de la muestra
es un haz de electrones .
La excitación de la muestra se produce bien por su irradiación con un haz de rayos
X, o por electrones o por una radiación ultravioleta.
Se mide la potencia de ese haz de electrones en función se su energía o frecuencia.
Tipos de espectroscopia de electrones:
o Irradiación con radiación monocromática de rayos X: espectroscopia de electrones
para análisis químico, (ESCA, electron spectroscpy for chemical analysis o X-ray
Photoelectron Spectroscopy XPS).
o Espectroscopia de electrones Auger (AES, Auger electron spectroscopy).
o Espectroscopia fotoeléctrica ultravioleta, un haz de luz ultravioleta produce la
expulsión de electrones.
 La espectroscopia de electrones permite la identificación de todos los elementos de
la tabla periódica (excepto el H y He).
Además permite determinar su estado de oxidación y las especies unidas al
elemento.
También proporciona información sobre la estructura electrónica de las moléculas.

22
 En la espectroscopia ESCA un fotón de un haz monocromático
de rayos X de energía conocida hv desplaza un electrón e- de
un orbital K:
A + hv → A+ * + e- (A = átomo)
 La energía cinética del electrón emitido se mide en un
espectrómetro de electrones.

La espectroscopia Auger implica la formación de un ion A+ * ,

bien por exposición a un haz de rayos X o de electrones:
A + ei- → A+ * + ei’- + eA-
Donde ei- ei’- representa el electrón antes y después de
reaccionar con A (pierde parte de su energía) y eA- representa el
electrón expulsado (electrón Auger) de los orbitales internos de
A.

Un espectro ESCA de amplio barrido sirve como base para la determinación de la
composición elemental de muestras.
La espectroscopia Auger proporciona información sobre la composición de la
materia, similar a la proporcionada por los rayos X, pero presenta mayor sensibilidad
para átomos de bajo número atómico.

23
La microsonda y microscopio de barrido de electrones

Un instrumento combinado, utiliza una misma fuente

de electrones y su sistema de focalización.
El microscopio de barrido (SEM) utiliza un detector
de electrones, mientras que la microsonda utiliza un
detector de rayos X.

 La superficie es barrida por un haz de electrones

(según un modelo raster, con funcionamiento
semejante al tubo de rayos catódicos de aparatos de
TV).
 Al barrer la superficie con una pistola de electrones
de energía elevada, se producen diversos tipos de
señales.

 Estas señales incluyen:

o Electrones retrodispersados.
o Electrones secundarios.
o Electrones Auger.
o Fluorescencia de rayos X
o Otros fotones de diversas energías

24
La microsonda y microscopio de barrido de electrones
Las interacciones de un sólido con un haz de electrones pueden ser de tipo elástica e
inelástica.
En la dispersión elástica el electrón solo se desvía pero mantiene la
misma cantidad de energía (misma velocidad). Corresponde a los
electrones retro dispersados.
En las interacciones inelásticas parte de la energía de los electrones
se transfiere al sólido. El sólido excitado emite electrones
secundarios, electrones Auger, rayos X y a veces fotones de
longitudes de onda largas.
Los electrones que se desprenden de la muestra, son los que permiten formar las
imágenes.

25
La microsonda y microscopio de barrido de electrones

En un microscopio electrónico de barrido, el haz pasa a través de las lentes

condenadoras y de objetivo y es barrido a lo largo de la muestra por las bobinas de
barrido, mientras que un detector cuenta el número de electrones secundarios de baja
energía emitidos por el material.
La señal procedente del detector de electrones secundarios (o retrodispersados) se usa
para modular la intensidad de haz de electrones del monitor, lo que da origen a la
imagen de la muestra.
Dentro de los fenómenos que tienen lugar en la muestra bajo el impacto de los
electrones, el mas importante en el SEM es la emisión de electrones secundarios (con
energías de unas cuantas decenas de eV, seguido por la emisión de electrones
retrodispersados (con mayores energías).
Hay detectores adecuados que discriminan los electrones en función de su energía,
permitiendo formar imágenes tanto con electrones secundarios como retrodispersados.
Los electrones secundarios son emitidos por la muestra en procesos inelasticos de
ionización debido a la colisión con el haz incidente, altamente energético. Estos
electrones de baja intensidad , (hasta 50 eV) vuelven a ser absorbidos por los atomos
adyacentes, pudiendo escapar de la muestra solo los electrones secundarios generados
cerca de la superficie.
Una fracción de los electrones del haz incidente pueden abandonar la muestra como
electrones retrodispersados (BSE) con su energía reducida por interacciones
inelstáticas con el material de análisis. La intensidad de estos electrones depende del
número atómico promedio de la muestra (los elementos más pesados producen más
BSE). 26
27
28
Microscopio de Barrido

29
• La señal de electrones secundarios proporciona una imagen de la
morfología superficial de la muestra.

30
• La señal de electrones retrodispersados (BSE) se presenta como
una imagen cualitativa de zonas con distinto número atómico
medio.

31
• De la señal de rayos X puede obtenerse espectros y/o imágenes de la
composición química elemental en la muestra.

32
Quantitative Evaluation of Minerals Using Scanning Electron
Microscopy, QEMSCAN

• Es un microscopio electrónico de barrido con capacidad analítica

de 4 EDS (Espectrómetros Dispersión de Energía de Rayos X).

33
 QEMSCAN
Tipos de Muestras

Haz de Electrones

BSE
(Back-Scattered
Electrons)
4 Detectores
Crushed ore product

Rayos X
High-quality polished sections

Muestras
Carbon-coated - SEM-Ready

Contenedor
10 cm
34
35
 Oxide Comp.
Chalcopyrite
Bornite
Cuprite
0.00% Chalcopyrite Covellite
28.95%
Chalcocite
Enargite/Tennantite
Malachite/Azurite

Bornite Cuprite
3.95% Distribución de Cu
Covellite
0.68%
por Mineral
Malachite/Azurite Chalcocite
62.93% 3.50%
Enargite/Tennantite
0.00%

100
90
80
xxx

70
% Elemental Cu in Sample

60
50
40
30
20
10
0
Oxide Comp. -600/+150 -150/+75 -75/+38 -38/+20 -20
Cuprite 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
Malachite/Azurite 62.93 66.86 61.03 56.63 66.08 66.43
Enargite/Tennantite 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
Chalcocite 3.50 0.00 7.98 0.26 7.96 0.80
Covellite 0.68 0.00 1.51 0.36 0.79 0.26
Bornite 3.95 4.02 4.09 1.91 4.88 5.01
Chalcopyrite 28.95 29.12 25.40 40.84 20.28 27.50
Sample: Fraction 36
 QEMSCAN
Distribución de Cu por Mineral

µ
30

25

20

15

10

5
M-1282
0 M1336
M1340
M-820
average

M-677

M-1393

M-998
M-764

Calcopirita
M-664

Cu º/Cuprita/Ox Cu M-837
M-1072

M-749

Bornita
M-1302

M-838
M-630

M-686

Enargita/Tetra
M-729

M-729
M-838

Covelina
M-837

M-686
M-998

Calcosina/Digenita
M-820

M-630
M1340

M1336

M-1302
M-1282

M-749
M-1072
M-664
M-764
M-1393
M-677
average

0% 10% 20% 30% 40% 50% 60% 70% 80% 90% 100%

Calcosina/Digenita Enargita/Tetra
Covelina Bornita
Calcopirita
37
Cobre Nativo/Cuprita/Ox Cu
 QEMSCAN
Aplicaciones y Usos
• Para uso de
Geólogos
Metalurgistas
Científicos medioambientalistas

• Ventajas
Es seguro, automático y estadísticamente robusto
Determina la forma, textura y química de los minerales. Estos
parámetros entregan antecedentes para la exploración,
procesos de extracción o permite mejoras en estos
procesos.
Conocimiento de características físicas (textura, tamaño) de
minerales ayuda a determinar los parámetros óptimos para
la extracción del mineral.

38
 QEMSCAN
Aporte en la Geología

• Mapea mineralogía y alteración para las

fases de exploración y desarrollo.
• Ayuda a la creación de geodominios
basados en:
• Abundancia de Minerales
• Asociaciones de Alteración
• Dominios Texturales
• Soporta la creación de modelos 3D del
yacimiento.
• Mapea variabilidad
• Soporta la predicción de parámetros
operacionales.
• En geometalurgia apoya los otros
parámetros que integran y soportan el
proceso de modelamiento metalúrgico.

39
 QEMSCAN
Exploración Geológica: halos de alteración en pórfidos y vectores de
exploración
Mineralogía en zonas de alteración
Porfido

Zona Potásica
Potásica: cuarzo + biotita + ortoclasa + sulfuros
Zona fílica

Zona propilítica
fílica: cuarzo + sericita

Mineralogía de Porfido

Propilítica: clorita + calcita + epidota

cuarzo ortoclasq sulfuros calcita sericita biotita cuarzo + ortoclasa + sulfuros 40

 QEMSCAN
Aporte en la Metalurgia
• Herramienta Predictiva en molienda
Con capacidad para predicir tamaño de
molienda basado en liberación de
minerales vs. tamaño de ártículas

• Herramienta Predictiva para flotación

Trazabilidad de la distribución de
elementos recuperables y no
recuperables eg. Cu en sulfuros vs
cu en arcillas
Soporte al modelamineto del vínculo
entre asociaciones minerales y
respuesta a la flotación (típicamente
un aspecto fundamental para la
Geometalurgia)

• Diagnóstico para Hidrometalurgia

Determina la distribución de elementos
de interés y en consecuencia permite
estimar lixiviabilidad (Cu en fosfatos,
en sulfatos y silicatos) 41
 QEMSCAN
Aporte en la Metalurgia

Pirometalurgia

Mapeo de fases en matas y escorias

42
cobre
 QEMSCAN
Aplicaciones y Usos
Control y planificación minera
Molienda /
Liberación

Flotación

Impurezas

43
 QEMSCAN
Aplicaciones para Ciencias Ambientales

• Controles que impactan el drenaje ácido

• Textura, abundancia & distribución espacial
de
• Minerales en rocas de caja
• Minerales de alteración
• Minerales metálicos
• Proporción entre minerales formadores de
ácido (minerales sulfurados) y
neutralizadores
• Métodos mineros y reactivos de procesos
• Identificar, cuantificar o predecir potencial de
contaminación; asistir en actividades de
remediación:
• Botaderos en mineas
• Potencial de drenaje ácido
• Potencial de contaminación por metales
pesados
• Contaminantes en el particulado atmosférico

44
 Absorción de la Radiación

• Espectroscopia de Infrarrojo
⇒ Utiliza radiación de 2 a 15 micrómetros de longitud de onda
⇒ Moléculas orgánicas absorben la radiación produciendo
vibraciones
⇒ Grupos orgánicos absorben energía de determinada longitud
de onda del infrarrojo.

45
 Absorción de la Radiación

• Espectroscopia de infrarrojo: Áreas de absorción de radiación

infrarroja por diversos enlaces.

46
• Espectroscopia de infrarrojo:

47
 Absorción de la Radiación

• Espectroscopia de infrarrojo:
• Espectros de absorción en Infrarrojo.

48
 EL MICROSCOPIO ÓPTICO
El microscopio compuesto es un
instrumento óptico que se emplea para
aumentar o ampliar las imágenes de
objetos no visibles a simple vista.
El microscopio óptico común está
conformado por tres sistemas:

El sistema mecánico está constituido por

una serie de piezas en las que van
instaladas las lentes que permiten el
movimiento para el enfoque.
El sistema óptico comprende un conjunto
de lentes dispuestas de tal manera que
produce el aumento de las imágenes que
se observan a través de ellas
El sistema de iluminación comprende las
partes del microscopio que reflejan,
transmiten y regulan la cantidad de luz
necesaria para efectuar la observación a
través del microscopio. 49
EL MICROSCOPIO ÓPTICO

50
EL MICROSCOPIO ÓPTICO

51
 EL MICROSCOPIO ÓPTICO

El sistema óptico es el encargado de reproducir y aumentar las imágenes mediante el

conjunto de lentes que lo componen. Está formado por los oculares y los objetivos.
Los oculares: Están constituidos generalmente por dos lentes, dispuestas sobre un
tubo corto. Los oculares generalmente más utilizados son los de: 8X, 10X, 12.5X, 15X.
Los objetivos: Producen aumento de las imágenes de los objetos y, por tanto, se
hallan cerca de la preparación que se examina. Los objetivos utilizados
corrientemente son de dos tipos: objetivos secos y objetivos de inmersión.
Los objetivos secos se utilizan sin necesidad de colocar sustancia alguna entre ellos
y la preparación. En la cara externa llevan una serie de índices que indican el
aumento que producen, la abertura numérica y otros datos.
Así por ejemplo, si un objetivo tiene estos datos: plan 40/0,65 y 160/0,17, significa que
el aumento es 40 y su abertura numérica 0,65, calculada para una longitud de tubo de
160 mm.
El número de objetivos varía con el tipo de microscopio y el uso a que se destina. Los
aumentos de los objetivos secos más frecuentemente utilizados son: 6X, 10X, 20X,
45X y 60X.

52
 EL MICROSCOPIO ÓPTICO

El objetivo de inmersión está compuesto por un complicado sistema de lentes.

Para observar a través de este objetivo es necesario colocar una gota de aceite
de cedro entre el objetivo y la preparación, de manera que la lente frontal entre
en contacto con el aceite de cedro. Generalmente, estos objetivos son de 100X.

Para calcular el aumento que está proporcionando un microscopio, basta

multiplicar los aumentos respectivos debidos al objetivo y el ocular empleados.

Por ejemplo, si se utiliza un objetivo de 45X y un ocular de 10X, la ampliación

con que estamos viendo la muestra será: 45X x 10X = 450X, lo cual quiere decir
que la imagen del objeto está ampliada 450 veces, también expresado como 450
diámetros.
 Microscopio estereoscópico

El microscopio estereoscópico hace posible la visión tridimensional de los objetos.

Consta de dos tubos oculares y dos objetivos pares para cada aumento.
Este microscopio ofrece ventajas para observaciones que requieren pequeños
aumentos.
El óptimo de visión estereoscópica se encuentra entre 2 y 40X o aumento total del
microscopio.
 Sistema de iluminación
Este sistema tiene como finalidad dirigir la luz natural o artificial de tal manera
que ilumine la preparación u objeto que se va a observar en el microscopio de la
manera adecuada. Comprende los siguientes elementos:
Fuente de iluminación: se trata generalmente de una lámpara incandescente de
tungsteno.
Por delante de ella se sitúa un condensador (una lente convergente) e,
idealmente, un diafragma de campo, que permite controlar el diámetro de la
parte de la preparación que queda iluminada, para evitar que exceda el campo
de observación produciendo luces parásitas.
El espejo: necesario si la fuente de iluminación no está construida dentro del
microscopio y ya alineada con el sistema óptico. Suele tener dos caras: una
cóncava y otra plana. Goza de movimientos en todas las direcciones. La cara
cóncava se emplea de preferencia con iluminación artificial, y la plana, para
iluminación natural (luz solar).
Condensador: está formado por un sistema de lentes, cuya finalidad es
concentrar los rayos luminosos sobre el plano de la preparación, formando un
cono de luz con el mismo ángulo que el del campo del objetivo. El condensador
puede deslizarse verticalmente sobre un sistema de cremallera mediante un
tornillo, bajándose para su uso con objetivos de poca potencia.
Diafragma: el condensador está provisto de un diafragma-iris, que regula su
abertura para ajustarla a la del objetivo. Puede emplearse para aumentar el
contraste, lo que se hace cerrándolo más de lo que conviene si se quiere
aprovechar la resolución del sistema óptico. 55
 EL MICROSCOPIO ÓPTICO
El polarizador (en el microscopio de polarización),
situado debajo de la platina, es una placa polarizante,
o prisma de Nicol, que transmite luz polarizada.
El microscopio de polarización se basa en el empleo
de dos filtros polarizadores.
El primero de ellos, el polarizador propiamente dicho,
sirve para generar un haz de ondas luminosas que
oscilan en un solo plano y que se hace incidir en la
muestra.
El segundo, denominado analizador, se encuentra
entre la muestra y el ocular.
Cuando ambos polarizadores se encuentran cruzados,
se extingue la luz generada por el primer polarizador.
Sin embargo, si la muestra contiene sustancias que
presentan anisotropía, se produce birrefringencia y
esta puede detectarse.
 Este tipo de microscopio se usa para poder
identificar mejor sustancias cristalinas.
Un prisma de Nicol es un tipo de prisma óptico
polarizador, es decir, crea un haz de luz polarizada
Anisotropía Característica de una sustancia consistente en que algunas
de sus propiedades dependen de la orientación considerada. P. ej., la Birrefringencia Fenómeno en el cual un rayo que
velocidad de propagación de la luz en el interior de un cristal de cuarzo incide en un cristal anisótropo se desdobla en dos,
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depende de la dirección que los rayos siguen dentro del cristal. En cuyas direcciones son paralelas.
general los cristales son anisótropos.
 Propiedades del microscopio

Poder separador. También llamado poder de resolución, es una cualidad del

microscopio, y se define como la distancia mínima entre dos puntos próximos
que pueden verse separados.
El ojo normal no puede ver separados dos puntos cuando su distancia es menor
a una décima de milímetro.
En el microscopio viene limitado por la longitud de onda de la radiación
empleada; en el microscopio óptico, el poder separador máximo conseguido es
de 0,2 décimas de micrómetro (la mitad de la longitud de onda de la luz azul), (en
el microscopio electrónico, el poder separador llega hasta 10 angstroms).
Poder de definición. Se refiere a la nitidez de las imágenes obtenidas, sobre todo
respecto a sus contornos. Esta propiedad depende de la calidad y de la
corrección de las aberraciones de las lentes utilizadas.
Ampliación del microscopio. Se define como la relación entre el diámetro
aparente de la imagen y el diámetro o longitud del objeto.
Esto quiere decir que si el microscopio aumenta 100 diámetros un objeto, la
imagen que se ve es 100 veces mayor linealmente que el tamaño real del objeto
(la superficie de la imagen será 1002, es decir 10.000 veces mayor).

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Esfalerita con inclusiones tipo emulsión de calcopirita
Menas Polimetálicas
Concentrado Pb – Zn
ORO EN INTERFASES DE PIRITA CON ESFALERITA Y
CALCOPIRITA

pol
py

gn

Au
qz cp
pol

ef
Microscopía de Luz Polarizada