AFM GENERALIDADES Es un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewton.

sistema de anlisis superficial de ms resolucin (nivel de ) La microscopia AFM sondea la superficie de una muestra con una punta muy aguda, de un par de micras de largo y menos de 100 de dimetro. La punta se localiza al final del brazo del cantilever de 100 a 200 micras de largo.

El AFM est formado por un cantilever (palanca) con una punta muy afilada en su extremo (de un par de micras de largo y menos de 100 de dimetro. La punta se localiza al final del brazo del cantilever de 100 a 200 micras de largo) , que es la encargada de escanear la superficie de la muestra. Cuando la punta se acerca a la superficie de la muestra se produce una deflexin en el cantilever debido a las fuerzas que aparecen entre la punta y la muestra. Esa deflexin sigue la ley de Hooke, y para medirla existen varios mtodos. Lo ms comn es usar un lser y fotodiodos o cantilevers piezorresistivos (varan su resistencia al deformarse). El cantilever suele ser de Silicio o Si3N4, con una punta en su extremo cuyo radio de curvatura es del orden de los nm. Al principio eran de metal con un tamao de varios mm, pero segn se quiso aumentar la velocidad de escaneo sin perder resolucin, se necesit el uso de cantilevers de menor masa y frecuencias de resonancia mayores. Para ello se usa la microfabricacin de cantilevers. Las puntas suelen crearse mediante deposiciones de vapor del material elegido, o ms usualmente, mediante tcnicas de grabado anistropo cuando se usa Silicio.

Los escneres de los AFM estn hechos de materiales piezoelctricos, materiales que se expanden o contraen segn apliquemos un voltaje en una u otra direccin. Los escneres se construyen mediante piezoelectrodos independientes en cada uno de los 3 ejes, de manera que se puedan manipular las muestras con extrema precisin en las 3 dimensiones. La sensibilidad del escner viene dada por el cociente entre el piezomovimiento y el piezovoltaje, es decir, cuanto se contrae o expande el material cada vez que aplicamos 1 V.
Este tipo de medida puede ser aplicada tanto a materiales aislantes, semiconductores o conductores. Varias son las fuerzas que contribuyen a la flexin del cantilever siendo la ms comn la fuerza de van der Waals.
Mide propiedades: mecnicas, adhesivas, magnticas, elctricas y trmicas. Muestras slidas o secas con un tamao preferentemente de 50x50x15 mm para el uso de la base de traslacin. Es posible trabajar a escala nanomtrica, 0'000000001 m, eso nos permite ver estructuras 1000 veces ms pequeas que una bacteria, y 10000 veces ms pequeas que las

clulas del epitelio bucal. Esto supone poder ver las molculas, incluso los tomos, y ms sorprendente an "pescar" molculas en una muestra y extraerlas de su entorno Las aplicaciones del AFM en las biociencias incluyen anlisis de ADN y ARN, complejos de cidos proteinucleicos, cromosomas, membranas celulares, protenas y pptidos, cristales moleculares, biomateriales, enlaces ligante-receptor, glbulos blancos y rojos, bacterias, miocitos cardacos, clulas epiteliales, etc.

FUNCIONAMIENTO AFM de contacto. En este modo de aplicacin de la tcnica AFM la punta mantiene un contacto fsico suave con la muestra. La punta se une al final del cantilever con una baja constante de resorte, menor que la constante de resorte efectiva que mantienen los tomos de la muestra. Conforme la punta barre la superficie, la fuerza de contacto origina la flexin del cantilever de modo que ste se adapta a la superficie topogrfica de la muestra. Como resultado, en el modo de AFM de contacto, la fuerza de van der Waals se equilibra con cualquier otra fuerza que intente mantener juntos a los tomos. Por tanto, cuando el cantilever empuja a la punta contra la muestra, este se flexiona forzando a los tomos de la punta y muestra a permanecer juntos. Otras dos fuerzas han de considerarse tambin en la AFM de contacto: i) La fuerza de capilaridad ejercida sobre una delgada lmina de agua que a menudo est presente en el medio ambiente. ii) La fuerza ejercida por el mismo cantilever. La fuerza total que ejerce la punta sobre la muestra es la suma de las fuerzas de capilaridad y del cantilever, y debe equilibrar a la fuerza repulsiva de van der Waals. La magnitud de la fuerza total que se ejerce sobre la muestra vara entre 10-8 N y 10-7 10-6 N. Para obtener una imagen grfica de la superficie, se detecta la posicin del cantilever, mediante el empleo de tcnicas pticas. Una radiacin lser incide sobre el dorso especular del cantilever, y de ah se refleje sobre un fotodetector sensible a la posicin. La relacin entre la longitud del camino recorrido por la radiacin lser entre el cantilever y el detector, y la longitud propia del cantilever origina una amplificacin mecnica. Como resultado el sistema puede detectar movimientos verticales de la punta del cantilever inferiores a los . Se puede trabajar en modo de fuerza constante o modo de altura constante. Entre las ventajas y desventajas de la tcnica AFM de contacto, se encuentran:

- Ventajas: amplia gama de muestras a analizar; se pueden realizar medidas de elasticidad; se pueden realizar medidas in situ en una celda lquida o en la celda electroqumica; las resoluciones verticales y horizontales son muy elevadas. - Desventajas: la punta est en contacto con la superficie; problemas de destruccin de la punta o modificacin de la superficie, arrastre de partculas, las capas de agua absorbida generan problemas de importantes fuerzas de capilaridad; carga electrostticas de superficie.

AFM de no-contacto (NC-AFM). En esta tcnica se excita cantilever cerca de su frecuencia de resonancia de modo que vibre cerca de la superficie de la muestra, a una distancia comprendida entre 10 y 100 . La tcnica NC-AFM se utiliza cuando no se quiere deteriorar la superficie a medir. La fuerza que ejerce la punta sobre la muestra es muy baja, 10-12 N. El trabajo con fuerzas tan dbiles hace imposible usar el modo de fuerza constante, y adems estas son difciles de medir. La sensibilidad de la tcnica proviene de la frecuencia de resonancia del cantilever. El cantilever vibra a frecuencias de 100 a 400 kHz y amplitudes de 10 a 100 , y conforme se acerca la punta a la superficie se detectan cambios en la frecuencia de resonancia o en la amplitud, con una resolucin vertical por debajo de los . Ventajas: no existe modificacin ni contaminacin de la superficie de la muestra; se pueden medir diferentes gradientes de fuerza (magntica, electrosttica, etc.). Desventajas: resoluciones altas requieren que la punta se site muy cerca de la superficie; el barrido ha de ser muy lento para no perder el contacto con la superficie; la oscilacin de la punta se puede ver frenada por la existencia de capas de agua/contaminacin; las gotas de agua se confunden con la topografa de la muestra. AFM de contacto intermitente (Tapping Mode). Uno de los problemas que presenta la tcnica AFM es el deterioro que ocasiona en algunas muestras por el arrastre continuo de la punta sobre la superficie de la muestra. Para solventar este problema se utiliza una variante de la tcnica AFM conocida popularmente como Tapping Mode. En esta aplicacin, la punta est en intermitente contacto con la superficie a la vez que la barre. La variacin de la amplitud de oscilacin de la punta, debida a la amortiguacin sobre la superficie es lo que se utiliza como seal de control.

 Esta tcnica evita las fuerzas de laterales y de friccin que ocurren en la AFM, y en general solventa algunas de las limitaciones de la tcnicas AFM y NC-AFM. Ventajas: medida muy estable; fuerza de presin muy dbil; resolucin elevada; proporciona las mejores prestaciones para la medida topogrfica de alta resolucin; evita imgenes artificiales que ocurren en AFM. Desventajas: no puede trabajar en medio lquido; no se llega a resolucin atmica; barridos ms lentos.

VENTAJAS Y DESVENTAJAS - Ventajas: amplia gama de muestras a analizar; se pueden realizar medidas de elasticidad; se pueden realizar medidas in situ en una celda lquida o en la celda electroqumica; las resoluciones verticales y horizontales son muy elevadas. - Desventajas: la punta est en contacto con la superficie; problemas de destruccin de la punta o modificacin de la superficie, arrastre de partculas, las capas de agua absorbida generan problemas de importantes fuerzas de capilaridad; carga electrostticas de superficie.