Tese Mario J Santos PDF

Universidade de Coimbra
Faculdade de Cincias e Tecnologia

Departamento de Engenharia Electrotcnica e Computadores

Ondas ultra-sonoras guiadas na caracterizao e
controlo no destrutivo de materiais

Dissertao submetida para obteno do grau de Doutor em
Engenharia Electrotcnica, na especialidade de Materiais e
Campo Electromagntico.

Mrio Joo Simes Ferreira dos Santos

Coimbra Portugal
2004

Dissertao realizada sob a orientao de

Joo Manuel Domingues Perdigo
Professor Catedrtico do Departamento de Engenharia Electrotcnica e
Computadores da Faculdade de Cincias e Tecnologia da

e com a co-orientao de

Antnio Jos Ribeiro Ferreira
Professor Associado do Departamento de Engenharia Electrotcnica e
Computadores da Faculdade de Cincias e Tecnologia da

Aos meus filhos Afonso e Toms
e minha esposa Lcia

Unio Europeia

Fundo Social Europeu

Agradecimentos
O trabalho apresentado foi realizado no Laboratrio de Tecnologia de Materiais Electrnicos e
Ultra-sons (LTMEU) do Departamento de Engenharia Electrotcnica e de Computadores, no
mbito das actividades do Instituto de Cincias e Engenharia de Materiais e Superfcies
(ICEMS), contando com o apoio e colaborao de vrias pessoas e entidades, s quais apresento
desde j os meus sinceros agradecimentos.
Em particular queria agradecer:
Ao Professor Doutor Joo M. D. Perdigo, orientador cientfico deste trabalho, pela
oportunidade concebida, apoio na resoluo de problemas surgidos e pela confiana depositada.
Ao Professor Doutor Antnio J. R. Ferreira, co-orientador deste trabalho, pela sua constante
disponibilidade sempre que solicitado.
Aos colaboradores do LTMEU, em particular ao Professor Doutor S Furtado, Professor Doutor
Pedro Faia e Professor Doutor Jos Certo por todos os incentivos e apoios no decurso do
trabalho.
Ao Engenheiro Nuno Santos, pela sua colaborao no desenvolvimento do prottipo do sistema
de caracterizao de papel.
Ao Professor Doutor Jos Domingues pelo auxlio na execuo dos ensaios destrutivos das
colagens, e ao Engenheiro Rui Leal pela cedncia das soldaduras para anlise, ambos do
Departamento de Engenharia Mecnica.
Lcia, pela preciosa ajuda na correco ortogrfica do texto.
Ao Departamento de Engenharia Electrotcnica e Computadores e a todos os funcionrios, em
especial ao Sr. Silva e Sr. Dias, pela colaborao na construo de vrias peas utilizadas no
trabalho experimental.
Agradeo, ainda, o financiamento concedido pelo programa PRODEP III no mbito do concurso
n 4/5.3/PRODEP/2000 (Formao Avanada de Docentes do Ensino Superior).
Resumo
Ondas ultra-sonoras guiadas na caracterizao e controlo no
destrutivo de materiais

As ondas ultra-sonoras guiadas, contrariamente s ondas de volume utilizadas nos mtodos
convencionais, necessitam de fronteiras para a sua propagao. Os exemplos mais conhecidos
so as ondas de superfcie, se o meio de propagao tiver uma s fronteira (meio semi-infinito) e
as ondas de Lamb, quando passamos a ter duas fronteiras (placa). Das suas grandes vantagens
destacam-se a possibilidade de anlise de grandes distncias sem deslocamento dos
transdutores, a capacidade de inspeco de zonas inacessveis ou a hiptese de sintonizao de
um determinado modo de propagao de forma a garantir melhor deteco e menores perdas.
Estas caractersticas conduzem, normalmente, concepo de sistemas de anlise mais rpidos
e de baixo custo. O facto de uma grande parte das estruturas e materiais correntes apresentar a
forma de colagens, soldaduras ou sistemas multicamada, aliado s vantagens enumeradas, so
motivos suficientes para o seu desenvolvimento no presente trabalho.
Inicialmente so apresentados os conceitos bsicos e teoria subjacente propagao de ondas
ultra-sonoras e feita a reviso do estado dos conhecimentos das tcnicas usadas em controlo
no destrutivo por ultra-sons. De forma a possibilitar a compreenso dos fenmenos associados
propagao das ondas ultra-sonoras guiadas, so efectuadas implementaes computacionais
e trabalho experimental, que permitem a determinao de parmetros tais como: velocidade de
fase, velocidade de grupo, deslocamentos e atenuao.
Vrias aplicaes das ondas guiadas, que vo desde a deteco e caracterizao de defeitos em
placas de alumnio, inspeco de soldaduras, at anlise da integridade de colagens so
estudadas, sendo obtidos, de uma forma geral, bons resultados. No ltimo ponto descrito e
apresentado um sistema original, destinado caracterizao de algumas propriedades do papel,
que vem demonstrar mais uma das potencialidades associadas ao uso das ondas guiadas em
controlo no destrutivo.
Abstract
Ultrasonic guided waves in the characterization and non destructive
testing of materials

Ultrasonic guided waves, in opposition to bulk waves used in conventional methods, require
boundaries for propagation. Well known examples are surface waves, when the propagation
media has only one boundary (semi-infinite media) and Lamb waves, when we have two
boundaries (plate). The major benefits of guided waves are the possibility of testing materials
over long distances from a single probe position, inspection of difficult to access areas or
propagation mode tuning to guarantee better detection and low losses. These benefits give rise to
cost effectiveness due to testing simplicity and speed. By the fact that a lot of current structures
and materials present a shape of bonding, welding or multi-layer, together with the advantages
mentioned, are the main reasons of the development of the present work.
In the beginning the basic concepts and theory of ultrasonic guided wave propagation are
presented and a revision of the techniques used in ultrasonic nondestructive testing is done. As a
way of understanding the phenomena associated with ultrasonic guided waves some
computational implementations and experimental work are developed, that allow important
parameter determination, such as: phase velocity, group velocity, displacements and
attenuation.
Several applications of guided waves like detection and classification of defects in aluminium
plates, welding inspections or analysis of bonding integrity are studied, in a general way with
good results. In the last point an original system for paper properties characterization is
described and presented, which shows once again the potentialities of guided waves in
nondestructive testing.

ndice
Agradecimentos ix
Resumo xi
Abstract xiii
ndice xv
Abreviaturas xix
1 INTRODUO 1
2 PROPAGAO DE ONDAS ULTRA-SONORAS 7
2.1 Conceitos elementares associados teoria da elasticidade 7
2.1.1 Deslocamento e deformao 7
2.1.2 Presso 8
2.1.3 Equao do movimento 10
2.2 Constantes elsticas 11
2.2.1 Materiais isotrpicos 12
2.3 Equao de onda em meios ilimitados e isotrpicos 13
2.4 Materiais anisotrpicos: Equao de Christoffel 16
2.5 Atenuao de ondas ultra-sonoras 17
2.5.1 Absoro 17
2.5.2 Disperso 18
2.5.3 Coeficiente de atenuao 20
2.5.4 Atenuao em meios homogneos viscoelsticos: Modelos de Maxwell e Kelvin-Voight 20
2.5.4.1 Modelo de Maxwell 21
2.5.4.2 Modelo de Kelvin-Voight 22
2.6 Resumo 23
xvi NDICE
3 TCNICAS ULTRA-SONORAS NA CARACTERIZAO DE MATERIAIS 25
3.1 Introduo 25
3.2 Tcnicas convencionais 26
3.2.1 Mtodo pulso-eco 26
3.2.2 Mtodo por transmisso 28
3.3 Tcnicas dedicadas 29
3.3.1 Imagiologia ultra-sonora 29
3.3.2 Gerao e deteco de ultra-sons por meios pticos 31
3.3.3 Transmisso no ar 32
3.3.4 Gerao e deteco de ultra-sons usando transdutores electromagnticos 33
3.3.5 Mtodo pitch and catch 34
3.3.6 Mtodos envolvendo transdutores mltiplos 35
3.4 Caracterizao ultra-sonora de quartzitos 36
3.4.1 Trabalho experimental 36
3.4.1.1 Determinao das propriedades fsicas e ultra-sonoras 38
3.4.1.2 Fissuras internas 39
3.4.1.3 Anlise da isotropia 40
3.4.1.4 Atenuao e anlise espectral 43
3.5 Resumo 46
4 ONDAS ULTRA-SONORAS GUIADAS 49
4.1 Introduo 49
4.2 Ondas de Lamb 53
4.2.1 Soluo numrica das equaes de Rayleigh-Lamb 55
4.2.2 Deslocamentos 61
4.2.3 Gerao de ondas de Lamb 65
4.2.4 Identificao dos modos de propagao 72
4.3 Ondas de Lamb de fugas (leaky Lamb waves) 80
4.3.1 Equaes de disperso para uma placa imersa num fluido 81
4.3.2 Atenuao devido a perdas para o fluido 83
4.4 Deteco e caracterizao de defeitos em placas de alumnio 89
4.4.1 Seleco do sistema experimental 90
4.4.1.1 Versatilidade e reprodutibilidade 91
4.4.1.2 Perdas 91
4.4.2 Anlise de defeitos simulados com profundidades variveis 94
4.4.3 Anlise de defeitos simulados com larguras variveis 97
NDICE xvii

4.5 Anlise de soldaduras por frico linear em alumnio 102
4.5.1 Soldadura por frico linear (SFL) 103
4.5.2 Trabalho experimental 104
4.6 Estudo da integridade de colagens 111
4.6.1 Modelo de propagao de ondas guiadas numa estrutura colada tipo junta sobreposta 112
4.6.1.1 Mtodo da matriz de transferncia 114
4.6.1.2 Implementao prtica do mtodo da matriz de transferncia 116
4.6.1.3 Solues modais 117
4.6.1.4 Deslocamentos 118
4.6.1.5 Mtodo da matriz global 120
4.6.2 Anlise experimental de uma colagem em alumnio 120
4.6.3 Caracterizao de colagens com defeitos 124
4.6.3.1 Construo das amostras 125
4.6.3.2 Teste preliminar numa placa colada com um defeito 128
4.6.3.3 Teoria clssica da difraco 129
4.6.3.4 Influncia do bordo das placas 132
4.6.3.5 Anlise de defeitos simulados 135
4.6.3.6 Ensaios destrutivos 147
4.6.4 Anlise de colagens tratadas termicamente 149
4.6.4.1 Aproximao quasi-esttica (QSA Quasi-static approximation) na modelao de interfaces
imperfeitas 150
4.6.4.2 Curvas de disperso da velocidade de fase em funo das constantes de rigidez 151
4.6.4.3 Trabalho experimental 151
4.7 Concepo de um sistema de caracterizao de papel 154
4.7.1 Propagao de ondas guiadas em papel 155
4.7.2 Cermicas bimorfas e unimorfas 158
4.7.3 Construo e caracterizao dos transdutores 158
4.7.4 Seleco da frequncia de trabalho 161
4.7.5 Cabea de medida 163
4.7.6 Sistema de controlo e medida 163
4.7.6.1 Hardware 164
4.7.6.2 Software 165
4.7.7 Resultados experimentais 168
4.8 Resumo 169
5 CONCLUSES 173
6 TRABALHOS FUTUROS 177
REFERNCIAS 179
xviii NDICE
APNDICE A Aplicao da equao de Christoffel em meios anisotrpicos 191
APNDICE B Mtodos para obteno dos modos de propagao de ondas de Lamb
numa placa no vazio 195
B.1 Mtodo dos potenciais 195
B.2 Mtodo da ressonncia transversa ou onda parcial 200
APNDICE C Determinao experimental da atenuao usando o mtodo pulso-
eco 205
APNDICE D Deslocamentos num sistema multicamada 207
Abreviaturas

2DFFT - Transformada de Fourier Bidimensional (2 Dimensions Fast Fourier Transform);
ngulo TSO - Tensile Stiffness Orientation Angle;
CD - Cross Direction;
CNDU - Controlo No Destrutivo por Ultra-sons;
FFT - Transformada de Fourier Rpida (Fast Fourier Transform);
IQ - ndice de Qualidade;
LLW - Ondas de Lamb de Fugas (Leaky Lamb Waves);
MC - Mtodo por Contacto;
MD - Machine Direction;
MI - Mtodo por Imerso;
MIL - Mtodo por Imerso Local;
MIME - Mtodo por Imerso em Meio Espao;
PZT - Lead Titatane Zirconate Piezoelectric;
QSA - Aproximao Quasi-Esttica (Quasi-Static Approximation);
Relao S/R - Relao Sinal/Rudo;
SEM - Scanning Electronic Microscopy;
SFL - Soldadura por Frico Linear (Friction Stir Welding FSW);
TSI - ndice de Rigidez Traco (Tensile Stiffness Index);

1 INTRODUO
A acstica pode ser definida como um ramo da cincia que estuda os fenmenos associados
gerao, transmisso e recepo de energia na matria sob a forma de vibraes. O deslocamento
dos tomos ou de molculas da sua configurao original d origem ao aparecimento de foras
internas. So exemplos a tenso que uma mola produz quando sujeita a traco ou o incremento
da presso quando um fluido comprimido. Estas foras elsticas, em conjunto com a inrcia do
sistema, permitem que a matria funcione como meio de transmisso dos movimentos
vibratrios.
No vcuo, devido ausncia de matria, no existe este tipo de vibraes, em contraste, por
exemplo, com a luz ou qualquer tipo de ondas electromagnticas, onde as oscilaes coincidem
com alternncias do estado elctrico e magntico dos pontos do espao livre. No ar, uma onda
acstica d origem ao movimento das partculas em torno das suas posies originais, no sentido
da propagao, enquanto que uma onda de luz no tem qualquer influncia no seu movimento.
Se as vibraes provocadas pelas ondas mecnicas se repetem periodicamente e durante um
determinado espao de tempo, so classificadas de acordo com o seu nmero de ciclos por
segundo, ou seja, pela sua frequncia. O ouvido humano serve como detector e define as gamas
desses tipos de ondas. O som audvel se chega ao ouvido pelo ar ou atravs de um corpo.
Frequncias abaixo de 10 Hz e acima de 20 kHz so inaudveis para o ouvido humano. Como no
caso da luz, onde as altas frequncias, que so invisveis aos nossos olhos so chamadas
ultravioletas, tambm as ondas acsticas acima de 20 kHz so referidas como ultra-sons, ou
ondas ultra-sonoras. A gama dos ultra-sons estende-se at 1 GHz, sendo a partir da comum
dizer-se que estamos no regime hipersnico. Para frequncias abaixo de 10 Hz temos as
chamadas ondas subsnicas ou infra-snicas.
Os ultra-sons manifestam-se de uma forma variada na natureza e no nosso dia-a-dia. Os
exemplos mais conhecidos so talvez a sua utilizao, como sistema de navegao, por parte dos
morcegos, permitindo-lhes evitar os obstculos nos seus voos nocturnos ou como sistema de
2 1 INTRODUO
comunicao das baleias e golfinhos. Noutras situaes, adicionalmente ao rudo audvel, os
ultra-sons so produzidos com grande intensidade, sendo felizmente ignorados pelos nossos
ouvidos.
As numerosas aplicaes tcnicas dos ultra-sons podem ser divididas em dois grandes grupos:
testes destrutivos e no destrutivos. Como na medicina, onde os raios-X so usados com duas
finalidades perfeitamente diferentes, terapeuticamente na aco em tecidos (tratamento
cancergeno) ou como meio de diagnstico (radiografias), tambm os ultra-sons podem ser
usados para agir fisicamente num determinado material, ou para explorar as suas condies ou
caractersticas. No primeiro grupo a energia usada, por exemplo, para limpar pequenas
partculas de superfcies, para mistura de fluidos, destruio de pequenas formaes calcrias e
noutras aplicaes que digam respeito ao uso de fora mecnica como vibrao. No segundo
grupo a energia transmitida utilizada para deteco (barcos no mar, cardumes, sondagem de
profundidades) e localizao de defeitos e determinao de propriedades em materiais. neste
segundo grupo de aplicaes que se insere o presente trabalho.
Para determinar as propriedades mecnicas de um dado material, um ensaio destrutivo apresenta-
se como sendo o mtodo mais directo e mais rpido. Para determinar, por exemplo, a resistncia
mecnica de um material basta sujeit-lo a uma fora de traco at atingir a sua rotura.
Infelizmente o teste destrutivo. Por outro lado, os ultra-sons permitem o mesmo tipo de teste,
que basicamente usa o mesmo tipo de foras (traco, compresso, corte, etc.), mas com
intensidades muito inferiores, para que o material no seja destrudo.
Os testes usando frequncias audveis, vulgarmente designadas por udio frequncias so, talvez,
os mais antigos testes no destrutivos conhecidos sendo, alguns deles, ainda hoje utilizados. Uma
situao clssica a anlise do som que emite uma pea cermica, quando atingida por um
martelo. Qualquer um de ns j teve esse tipo de experincia, verificando que o som que emite
uma pea com um defeito diferente de uma pea sem qualquer tipo de defeito.
Inicialmente, os testes no destrutivos por ultra-sons foram usados na deteco de defeitos. A
onda ultra-sonora ao encontrar um defeito num material d origem a uma onda reflectida, que
pode ser usada para identificao e classificao desse defeito. No entanto, as mesmas ondas
ultra-sonoras podem ser usadas na caracterizao de materiais, sendo obtidas, indirectamente,
grandezas como os mdulos de elasticidade, tamanho de gro, porosidade ou propriedades
mecnicas.
A fcil propagao das ondas ultra-sonoras no interior dos materiais contribuiu de forma
decisiva, para que as tcnicas ultra-sonoras se tornassem numas das mais importantes no campo
do controlo no destrutivo. As duas tcnicas mais utilizadas so o mtodo pulso-eco, em que um
1 INTRODUO 3

nico transdutor ultra-sonoro usado como emissor e receptor e o mtodo por transmisso que
requer dois transdutores, necessitando, para o efeito, do acesso a duas faces opostas do material a
examinar. Estas tcnicas, actualmente designadas por convencionais apresentam, contudo,
grandes limitaes quando se pretende ir mais alm do que a simples deteco da presena de
uma descontinuidade na estrutura de um dado material, nomeadamente, quando o objectivo a
caracterizao do material e, eventualmente, do prprio defeito. Perante tais dificuldades, e
atendendo crescente necessidade de uma mais completa e rpida caracterizao de materiais,
foram desenvolvidas novas tcnicas, onde sobressaem pela sua importncia, as que envolvem
ondas ultra-sonoras guiadas, s quais vamos dar mais nfase no decurso deste trabalho.
Os mtodos convencionais anteriores baseiam-se, essencialmente, na utilizao de ondas de
volume, ou seja, ondas que existem em meios considerados pelas suas dimenses como
ilimitados. Quando as fronteiras dos meios comeam a interferir na propagao podemos ter, em
certas circunstncias, ondas guiadas como so exemplos disso as ondas de Rayleigh (propagao
num slido semi-infinito), Lamb (propagao numa placa) ou de Stoneley (propagao ao longo
da interface entre dois slidos), entre outras.
As ondas guiadas, nomeadamente as ondas de Lamb, existentes numa placa no vazio, ou as
ondas de Lamb de fugas (leaky Lamb waves - LLW), existentes numa placa imersa num fluido
so potencialmente interessantes para a anlise de materiais que apresentem este tipo de
estrutura, como o caso das situaes estudadas neste trabalho. Uma das grandes vantagens das
ondas Lamb, relativamente s ondas de volume, prende-se com a sua capacidade de inspeco de
grandes distncias sem deslocamento dos transdutores; outra tem a ver com o facto de ser
possvel gerar uma variedade de modos de propagao, que esto relacionados com alguns
parmetros, como a frequncia, a espessura da placa ou o ngulo de incidncia, podendo a sua
atenuao ser controlada atravs da correcta seleco do modo a usar, dando origem a perdas
baixas, mesmo para uma placa imersa num fluido. Como consequncia vamos ter sistemas de
anlise muito mais rpidos e de mais baixo custo, quando comparados com os sistemas
convencionais.
As razes apontadas deram origem motivao do autor para a realizao deste trabalho de
investigao, onde se pretende mostrar as potencialidades da utilizao das ondas guiadas em
vrios campos, que vo desde a deteco e caracterizao de defeitos, at determinao da
anisotropia.
Para alm do presente captulo introdutrio, onde dada uma perspectiva genrica sobre os
aspectos mais importantes focados neste trabalho, o capitulo 2 pretende apresentar os conceitos e
a teoria subjacente propagao das ondas ultra-sonoras. O captulo 3 faz essencialmente a
4 1 INTRODUO
reviso do estado dos conhecimentos das tcnicas ultra-sonoras utilizadas na caracterizao de
materiais. O captulo 4 contm a maior parte do trabalho desenvolvido nesta dissertao, tanto do
ponto de vista terico como experimental, relativo s ondas guiadas. Finalmente, nos ltimos
dois captulos temos as concluses e as sugestes para trabalhos futuros.
O captulo 2 pretende familiarizar o leitor com os conceitos mais importantes relacionados com a
propagao das ondas ultra-sonoras, como sejam o deslocamento, deformao, presso,
constantes elsticas ou a equao do movimento. Usando essas noes vai ser deduzida a
equao de onda para meios ilimitados e isotrpicos e, muito sumariamente, introduzem-se
tambm alguns conceitos relacionados com a propagao em meios anisotrpicos. Finalmente
so observados os mecanismos de perdas de energia por absoro e disperso, bem como os
modelos clssicos de atenuao de Maxwell e de Kelvin-Voight.
O captulo 3 descreve inicialmente os conhecidos mtodos convencionais: pulso-eco e por
transmisso, sendo depois estabelecida uma classificao das inmeras tcnicas descritas na
literatura, que vamos designar por tcnicas dedicadas. O autor chama a ateno para o grau de
subjectividade desta classificao, onde o critrio utilizado se baseia no tipo de onda usado,
grandeza a medir, tipo de informao recolhida e instrumentao envolvida. feita ento a
reviso do estado dos conhecimentos das diversas tcnicas descritas. Na parte final deste captulo
apresentado um trabalho original, que visa efectuar a caracterizao ultra-sonora de quartzitos,
provenientes de duas regies geograficamente diferentes, usando o mtodo por transmisso.
O captulo 4 tem como objectivos iniciais a introduo dos conceitos relacionados com ondas de
Lamb e LLW tais como velocidade de fase, velocidade de grupo, deslocamentos ou atenuao,
entre outros, fundamentais para a compreenso dos fenmenos associados propagao ultra-
sonora guiada. So efectuadas implementaes computacionais, nomeadamente para
determinao das curvas de disperso e dos deslocamentos, devido sua importncia prtica no
decurso do trabalho. focada a importncia da propagao monomodo e a influncia da largura
de banda e da abertura de feixe dos transdutores quando usamos incidncia oblqua. Para
identificao de um determinado modo de propagao so apresentadas as tcnicas da fase do
espectro e da amplitude do espectro, para o caso da propagao monomodo, e a transformada de
Fourier bidimensional para sinais multmodo. Com base no modelo de Kelvin-Voight
estabelecida a atenuao devido a fugas para o fluido de uma placa imersa.
As seces seguintes deste captulo vo ser dedicadas anlise de problemas concretos, onde as
ondas guiadas podem potencialmente ser usadas. A primeira situao a deteco e
caracterizao de defeitos em placas de alumnio usando os modos fundamentais A0 e S0. Para
tal vai ser usado um sistema experimental construdo para o efeito e um mtodo que designamos
1 INTRODUO 5

por mtodo de imerso em meio espao (MIME). A situao seguinte consiste na anlise de
soldaduras por frico linear (SFL) e na tentativa de corroborar atravs das ondas guiadas, dados
obtidos por intermdio de outros meios de diagnstico, como a radiografia ou o C-scan acstico.
Outro ponto abordado neste captulo o estudo da integridade de colagens, tipo junta sobreposta.
Usando o modelo da matriz de transferncia, que considera a colagem como um sistema
multicamada vo ser determinados os parmetros de propagao, de uma forma anloga a uma
nica placa isolada. As colagens a analisar por intermdio de LLW so divididas em dois grupos:
um com degradaes circulares localizadas, com dimenses variveis, que simulam eventuais
defeitos que surjam durante o processo de concepo das colagens e o outro com diferentes graus
de adeso em toda a zona da colagem. Para o primeiro grupo vamos usar modelos de difraco,
de forma a podermos prever as dimenses dos defeitos. Para o segundo grupo de colagens vai ser
analisada a influncia dos diferentes graus de adeso nos parmetros das ondas guiadas, como
por exemplo na velocidade de fase, usando, para o efeito, uma modelao de interfaces
imperfeitas. Ambos os grupos de colagens vo ser sujeitos posteriormente a ensaios destrutivos
para corroborar os valores obtidos com as tcnicas ultra-sonoras.
Finalmente, no ltimo ponto deste captulo, vai ser construdo um sistema de caracterizao de
papel. Com base na medio da velocidade de propagao de pseudo ondas de Lamb na
superfcie do papel construdo o designado diagrama TSI, de onde podem ser retirados diversos
tipos de informao de grande importncia para os fabricantes de papel. O sistema em causa foi
completamente desenvolvido, desde a construo dos transdutores at ao hardware perifrico,
passando pelo respectivo software de controlo.
Nos captulos 5 e 6 so apresentadas as concluses gerais do trabalho desenvolvido e as
sugestes para trabalhos futuros, respectivamente.

2 PROPAGAO DE ONDAS ULTRA-
SONORAS
2.1 Conceitos elementares associados teoria da
elasticidade
2.1.1 Deslocamento e deformao
Quando as partculas de um determinado material sofrem um deslocamento do seu ponto de
equilbrio surgem foras internas, que combinadas com a inrcia das partculas do origem ao
movimento oscilatrio do meio.
O vector deslocamento u uma grandeza que depende do tempo, pois o movimento das
partculas no instantneo, logo pode ser definida a velocidade instantnea de deslocamento ou
velocidade das partculas como

t
u
v
= . (2.1)
Um corpo considerado elstico se regressa ao seu estado inicial aps ter sofrido uma
deformao provocada por uma fora. A comparao entre dois pontos prximos, antes e depois
da deformao, mostra que os resultados das distncias diferem de uma quantidade que inclui o
termo
ij

que o tensor deformao dado por (Auld, 1990a; Graff, 1975 e Rose, 1999)

|
|
.
|
\
|
=
j
k
i
k
i
j
j
i
ij
x
u
x
u
x
u
x
u
2
1
. (2.2)
A deformao um parmetro que em alguns materiais, como por exemplo a borracha, pode
facilmente atingir valores maiores do que a unidade. No entanto, para materiais mais rgidos, os
valores da deformao devem ser mantidos abaixo de uma gama de 10
-3
a 10
-4
para evitar
8 2 PROPAGAO DE ONDAS ULTRA-SONORAS

deformaes permanentes ou roturas. Logo, os termos de 2 ordem em (2.2) podem ser
desprezados, dando origem a

|
|
.
|
\
|
=
i
j
j
i
ij
x
u
x
u
2
1
, z y x j i , , , = . (2.3)
Atendendo a questes de simetria (
ji ij
= ), dada por um tensor de 2 ordem com nove
componentes, das quais apenas seis so independentes. Usando a seguinte notao simplificada:
6 ; 5 ; 4 ; 3 ; 2 ; 1 = = = = = = = = = yx xy zx xz zy yz zz yy xx , a deformao ento dada por

(
(
(
=
(
(
(
=
3 4 5
4 2 6
5 6 1

zz zy zx
yz yy yx
xz xy xx
. (2.4)
Podendo tambm ser escrita na forma de coluna com seis elementos

(
(
(
(
(
(
(
(
=
6
5
4
3
2
1
. (2.5)
2.1.2 Presso
A vibrao das partculas de um corpo em relao sua posio de equilbrio d origem a foras
internas desenvolvidas entre as partculas vizinhas. O conjunto destas foras caracterizado pelo
tensor das presses.
Na figura 2.1 est representado um volume elementar v d , limitado pelas superfcies
j
s d ,
ortogonais aos eixos do sistema de coordenadas. Cada uma das trs superfcies do volume
elementar est sujeita a uma fora
i
F d (a ttulo de exemplo apenas est representada
y
F d ). A
matriz de presses ento formada por nove componentes, devido s trs superfcies e s foras
com trs componentes, sendo dada por
2.1 Conceitos elementares associados teoria da elasticidade 9

z y x j i
s d
F d
j
i
ij
, , , , = = . (2.6)
De acordo com esta definio, em
ij
o ndice i define a componente da fora e o ndice j a
superfcie sob a qual essa fora exercida.
y
z
x
ds
x
ds
z
ds
y
dF
y

Figura 2.1. Volume elementar.
Para o caso de uma superfcie arbitrria, a fora exercida pelo meio exterior sobre esta superfcie
de orientao indeterminada dada por

(
(
(
(
(
(
=
(
(
(
z
y
x
zz zy zx
yz yy yx
xz xy xx
z
y
x
ds
ds
ds
dF
dF
dF

. (2.7)
Usando consideraes relacionadas com o binrio associado a um volume elementar, prova-se
que a matriz tambm simtrica, analogamente matriz (Auld, 1990a), sendo dada por

(
(
(
=
3 4 5
4 2 6
5 6 1

, (2.8)
ou na forma de coluna por

(
(
(
(
(
(
(
(
=
6
5
4
3
2
1
. (2.9)
2.1.3 Equao do movimento
Consideremos novamente um volume elementar v d limitado por uma superfcie s d . Associadas
a este volume esto as foras externas e as foras internas aplicadas devido influncia de
volumes elementares na sua vizinhana, ou seja
s d v d F F
ds
i
dv
e i

+ = , (2.10)
admitindo a ausncia de foras externas (F
e
=0) e usando o teorema de Green (Gauss)
v d s d F
dv
i
ds
i i
) .(

= = , (2.11)
onde . o operador diferencial divergncia dado por
z y x
= . .
Usando a 2 lei de Newton
a m F = , (2.12)
e (2.11) obtemos
v d
t
u
v d
dv dv
i

=
2
2
) .( , (2.13)
sendo a massa especfica do meio. Finalmente, a equao (2.13) pode ser simplificada dando
origem equao do movimento

2
2
.
t
u
= . (2.14)
2.2 Constantes elsticas 11
Para aplicarmos a expresso anterior a um problema especfico temos de usar o operador
divergncia num sistema de coordenadas adequado. Partindo das expresses que nos do as
presses exercidas em cada uma das faces ds
x
,

ds
y
e ds
z
do elemento de volume considerado na
figura 2.1, que so respectivamente

,
,
,
z y x
z y x
z y x
zz yz xz z
zy yy xy y
zx yx xx x

+ + =
+ + =
+ + =
(2.15)
aplicando o operador divergncia e reagrupando vamos obter
z
z y x
y
z y x
x
z y x
zz zy zx yz yy yx xz xy xx
.
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
=
, (2.16)
que pode ser apresentado de uma forma compacta como
( )
ij
j
i
x

= . , (2.17)
dando origem a que a equao do movimento apresente a seguinte forma

2
2
t
u
x
i
ij
j

. (2.18)
2.2 Constantes elsticas
Para pequenas deformaes de um meio verifica-se, experimentalmente, que existe uma relao
linear entre a deformao e a presso aplicada (lei de Hooke). Com o aumento da presso, essa
relao deixa de ser linear mas o corpo regressa, ainda, ao seu estado original quando a presso
removida. Estamos nas chamadas regies elstica linear e no linear. Se, no entanto, a presso
atinge determinado valor (limite elstico), a deformao deixa de ser elstica e passa a
deformao plstica, ou seja, o meio deforma-se permanentemente e em ltima instncia
fractura.
Na propagao acstica as deformaes plsticas no tm interesse prtico e, consequentemente,
admite-se uma relao linear entre a presso e a deformao.
Genericamente, a relao entre presso e deformao num meio, dada da seguinte forma
(Graff, 1975)

z y x l k j i C
kl ijkl ij
, , , , , , = = , (2.19)
onde
ijkl
C um tensor de quarta ordem, designado por tensor de rigidez elstica ou constante
elstica, que caracteriza o meio quanto sua deformao.
Como temos nove possibilidades para cada um dos tensores de presso e de deformao, a
equao (2.19) d origem a 81 constantes elsticas. No entanto, graas simetria de e , o
nmero de constantes independentes reduzido a 36, pois

jilk ijlk jikl ijkl
C C C C = = = , (2.20)
pelo que as constantes elsticas se podero representar, usando o mesmo tipo de notao que em
(2.4), por uma matriz
IJ
C de 6x6 elementos. Consideraes de ordem energtica mostram, ainda,
que esta matriz simtrica
JI IJ
C C = , pelo que o nmero de constantes elsticas se reduz a 21
nos casos mais desfavorveis. Normalmente este valor muito inferior devido a restries
impostas pela microestrutura do meio.
2.2.1 Materiais isotrpicos
Os materiais isotrpicos, por definio, apresentam as mesmas propriedades independentemente
da direco considerada. Por esse facto, a matriz de constantes elsticas C vai ser bastante
simplificada dando origem a (Auld, 1990a)

(
(
(
(
(
(
(
(
=
44
44
44
11 12 12
12 11 12
12 12 11
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0
0 0 0
0 0 0
C
C
C
C C C
C C C
C C C
C , (2.21)
verificando-se ainda a seguinte condio

44 11 12
2C C C = . (2.22)
Atravs de (2.21) e (2.22) conclui-se que num meio isotrpico apenas existem duas constantes
elsticas independentes. Essas constantes so vulgarmente chamadas constantes de Lam e ,
definidas como

.
,
44
12
C
C
=
=
(2.23)
A expresso (2.19) toma ento a seguinte forma

ij ij ij
2 + = , (2.24)
conhecida como a relao presso-deformao para meios isotrpicos, onde a dilatao
dada por
u .
3 2 1
= + + = , (2.25)
e
ij
o operador de Kronecker definido como

.
, 0
, 1
=
=
j i
j i
ij
(2.26)
2.3 Equao de onda em meios ilimitados e isotrpicos
O desenvolvimento da equao do movimento num slido elstico e isotrpico um assunto
abordado por vrios autores (Graff, 1975 e Rose, 1999). Partindo das equaes (2.18) e (2.24)
obtm-se as conhecidas equaes de Navier em coordenadas cartesianas
( ) z y x i
t
u
F u
z
u
y
u
x
u
x
i
ei i
z
y
x
i
, , ,
2
2
2
=
= + +
|
|
.
|
\
|
+ . (2.27)
Introduzindo os operadores diferenciais gradiente e laplaciano, dados respectivamente por
z
z
y
y
x
x

= e
2
2
2
2
2
2
2
z y x
= e na ausncia de foras externas, a equao

(2.27) pode ser dada por

2
2
2
. ) (
t
u
u u
= + + . (2.28)
Usando a relao
u u u = .
2
, (2.29)

onde o operador diferencial rotacional dado por
,

z y x
u u u
z y x
z y x
u
=
e substituindo em (2.28) obtemos

2
2
. ) 2 (
t
u
u u
= + . (2.30)
A equao de onda pode ainda ser apresentada de uma forma mais simplificada. O vector
deslocamento u pode ser dado atravs de uma decomposio de Helmholtz, como a soma do
gradiente de um escalar e do rotacional de um vector com divergncia nula
+ = u , 0 . = , (2.31)
onde e so, respectivamente, os potenciais escalar e vector. Substituindo (2.31) em (2.28)
obtemos
) ( ) ( ) .( ) (
2
2
2
2
t t

+

= + + + + , (2.32)
usando (2.29), a equao (2.32) pode ser reagrupada da seguinte forma

+
|
|
.
|
\
|

+
2
2
) .( ) 2 (
t

0 . ) (
2
2
2
=
|
|
.
|
\
|

+ + +
t
. (2.33)

Considerando as seguintes relaes entre os vrios operadores diferenciais
=
2
. , 0 = , 0 . = , (2.34)
obtemos

0 ) 2 (
2
2
2
2
2
2
=
|
|
.
|
\
|

+
|
|
.
|
\
|

+
t t
, (2.35)

que satisfeita quando os dois termos da equao se anulam, conduzindo a

2
2
2
2
1
t V
L

= e
2
2
2
2
1
t V
T

= , (2.36)
onde

2
2
+
=
L
V e
=
2
T
V . (2.37)
Conclumos, ento, que a equao de onda (2.28) pode ser dada de uma forma mais simples por
(2.36).
Admitindo que em (2.31) nulo e, consequentemente, = u , a equao (2.32) d
origem a

2
2
2
2
1
t
u
V
u
L

= , (2.38)
que indica uma onda dilatacional (longitudinal) a propagar-se com velocidade V
L
.
De forma similar, considerando que deslocamento em (2.31) apenas composto por uma parte
rotacional = u , com 0 . = , a equao de onda toma a seguinte forma

2
2
2
2
1
t
u
V
u
T

= , (2.39)
que indica uma onda rotacional (transversal) com velocidade de propagao V
T
.
As equaes (2.38) e (2.39) so independentes uma da outra, o que implica que, num meio
infinito (sem interferncia de fronteiras) se propagam, sem interaco, uma onda longitudinal e
uma onda transversal. O acoplamento entre estes dois tipos de ondas apenas se verifica nas
fronteiras de um material elstico, como consequncia da obedincia s condies fronteiras.


2.4 Materiais anisotrpicos: Equao de Christoffel
Vamos considerar uma onda plana propagando-se em regime sinusoidal dada por
) ( exp( t x k i A u
j j i i
= , z y x i , , = , (2.40)
onde k
j
considerado por comodidade como unitrio.
Substituindo na equao do movimento (2.18), vamos obter, usando a relao
presso/deformao (2.19), a chamada equao de Christoffel dada por (Rose, 1999)
0 ) (
2
=
m l k iklm im
u k k C , (2.41)
sendo
im
o operador de Kronecker e k
k
e k
l
as constantes de propagao para as direces k e l.
Considerando o tensor de Christoffel dado por

l k iklm im
n n C = , (2.42)
onde os termos n
k
e n
l
so os versores das respectivas direces de propagao (k
k
=kn
k
e k
l
=kn
l
),
podemos obter, simplificando (2.41)
0 ) ( ) (
2 2 2
= =
m im im m im im
u V u k , (2.43)
sendo V a velocidade de propagao.
A equao de Christoffel d-nos trs equaes homogneas e trs razes reais, a que
correspondem trs velocidades. Para a soluo no trivial o determinante dos coeficientes da
matriz definida por (2.43) tem de ser nulo
0
2
=
im im
V , (2.44)
ou seja
0
) (
) (
) (
2
33 32 31
23
2
22 21
13 12
2
11
=

V
V
V
, (2.45)
em que
11
,
12
,
13
,...so obtidos pela expresso do tensor de Christoffel (2.42).
Tambm aqui se pode usar a notao simplificada utilizada anteriormente para C
iklm
. A ttulo de
exemplo para o primeiro valor de
im
temos

2
55 65 15 56
2
66 16 15 16
2
11 11 z z y z x y z y y x x z x y x
n C n n C n n C n n C n C n n C n n C n n C n C + + + + + + + + = .
(2.46)

Podemos ento, sabendo a matriz de constantes elsticas para um determinado meio, verificar
quais as velocidades e que tipo de ondas esto envolvidas (longitudinais, quasi-longitudinais,
transversais ou quasi-transversais), para uma dada direco de propagao. No apndice A,
temos um exemplo prtico onde so determinadas as velocidades e classificados os tipos de
ondas numa direco, para um material com um dado nvel de anisotropia.
2.5 Atenuao de ondas ultra-sonoras
Uma onda acstica ao propagar-se num determinado meio sofre um decaimento que est
relacionado com diversos tipos de mecanismos fsicos. Esses mecanismos podem, no entanto, ser
divididos em duas categorias: absoro (perdas no meio) e disperso (perdas em fronteiras).
A atenuao devido a fenmenos de absoro (
a
) mais importante quando o volume do meio
de transmisso grande, como acontece na transmisso no ar ou na gua (deteco de
obstculos, medio de distncias, etc.). Por outro lado, a atenuao devido a disperso
(scattering) (
s
), destaca-se quando pretendemos estudar pequenos volumes, como na anlise de
materiais por ultra-sons (caracterizao, deteco de defeitos, etc.).
2.5.1 Absoro
As perdas por absoro podem ser divididas em trs tipos: conduo trmica ou termoelsticas,
histerese ou trocas de estados e de origem viscosa (Ristic, 1983 e Kinsler, 1982).
A propagao de uma onda acstica d origem a deformaes do meio e, consequentemente, a
zonas onde existe um aumento de temperatura (zonas de compresso) e a outras onde existe uma
diminuio (zonas de expanso). Este facto vai dar origem a perdas por conduo trmica. Estas
perdas so proporcionais ao quadrado da frequncia, ocorrem na propagao de ondas
longitudinais e no nas ondas transversais, pois estas ltimas no do origem a alteraes dos
volumes elementares durante a propagao.
As perdas por histerese ou trocas de estados, devem-se ao facto de alguns lquidos, vidros e
polmeros possurem grandes cadeias moleculares, que sob a influncia de ondas acsticas, se
reorientam de forma irreversvel causando perdas. Este tipo de perdas proporcional
frequncia.

O principal mecanismo responsvel pela atenuao por absoro em slidos e em lquidos a
viscosidade. O seu aparecimento deve-se ao movimento de partculas vizinhas com velocidades
diferentes, quando da propagao de uma onda acstica. Estas perdas podem ser quantificadas
por

3
2
2 V
v
= , (2.47)
onde o coeficiente de viscosidade dado em Ns/m
2
, a frequncia angular, V a velocidade de
propagao e massa especfica. De notar que
v
directamente proporcional ao quadrado da
frequncia e inversamente proporcional ao cubo da velocidade. Como, tipicamente, na maior
parte dos materiais, o valor da velocidade das ondas transversais de cerca metade do valor da
velocidade das ondas longitudinais, vamos ter perdas de origem viscosa oito vezes superiores.
2.5.2 Disperso
Os efeitos de disperso resultam do facto dos materiais no serem perfeitamente homogneos.
As variaes na sua estrutura podem ser provocadas por incluses, poros ou pela prpria
natureza do material (por exemplo a estrutura de gro em metais ou ligas de diferentes
elementos). Mesmo um material que seja composto por um nico tipo de cristal pode apresentar
disperso, quando atravessado por ondas acsticas. Caso os seus gros estejam orientados de
forma a originar diferentes propriedades elsticas e diferentes velocidades de propagao em
diferentes direces, temos um fenmeno de anisotropia.
A disperso pode ser interpretada imaginando um material com estrutura de gro de dimenso
comparvel ao comprimento de onda de uma onda acstica que o percorre. Ao atingir uma
fronteira oblqua (fronteira de gro), a onda vai dar origem a uma onda reflectida e outra
transmitida, com orientaes arbitrrias, sendo o processo repetido sucessivamente para as
prximas fronteiras de gro. A onda original ento constantemente dividida ao longo do seu
percurso e parcialmente convertida em calor, devido aos efeitos de absoro mencionados
anteriormente.
O actual estado de conhecimentos reconhece trs regimes de atenuao por disperso (tabela 2.1)
(Vary, 1991). Os coeficientes dependem do tamanho de gro D, do comprimento de onda
(aqui representado por um lambda maisculo para no existir confuso com a constante de

Lam), da frequncia f e das constantes C
r
, C
p
e C
d
que esto relacionadas com o material em
causa. As relaes so vlidas para as seguintes condies:
- gros preenchendo a totalidade do volume do meio;
- tamanho de gro uniforme;
- gros com configurao esfrica;
- no existncia de orientao preferencial dos eixos.
Tabela 2.1. Coeficientes de atenuao por disperso para slidos policristalinos
Comprimento de onda Tipo de disperso Coeficiente de atenuao
>>D Rayleigh
r
=C
r
D
3
f
4
D Fase
p
=C
p
Df
2

<<D Difusiva
d
=C
d
D
-1

Para materiais heterogneos a relao entre a disperso e a frequncia toma a seguinte forma

m
f c = , (2.48)
onde c e m so constantes dentro de uma gama de frequncias onde predomine um determinado
tipo de disperso.
Ambos os tipos de atenuao mencionados anteriormente (absoro e disperso) do origem a
limitaes quando pretendemos analisar determinados materiais. A absoro atenua a energia do
sinal transmitido e dos vrios ecos provenientes do material. No entanto, este efeito pode ser
contrariado com o aumento do sinal emitido, com a amplificao no sistema de recepo ou
ainda com a utilizao de uma frequncia mais baixa.
Mais problemticos so os efeitos provocados pela disperso, pois quando queremos detectar um
eco proveniente de um defeito no interior de um material ou da face oposta, este pode confundir-
se, por exemplo, com os ecos provenientes das fronteiras de gro, levando introduo de rudo
e, consequentemente, impossibilidade de recuperao do sinal pretendido. Este problema no
pode ser resolvido como anteriormente, recorrendo ao aumento do sinal emitido ou da
amplificao na recepo, pois conduziria, tambm, ao aumento do rudo. Nesta situao, a nica
soluo a diminuio da frequncia de trabalho. Este fenmeno pode ser comparado com o
efeito do nevoeiro no condutor de um automvel, que leva a que ele perca a visibilidade devido
luz dos seus prprios faris, de nada valendo o aumento da intensidade luminosa.

2.5.3 Coeficiente de atenuao
A presso acstica de uma onda plana, que diminui de amplitude apenas devido atenuao
pode ser dada da seguinte forma
) exp(
0
d = , (2.49)
onde
0
e so as presses acsticas no incio e no final de um percurso d de um material com
coeficiente de atenuao .
Por vezes, na literatura, o coeficiente de atenuao aparece, no referenciado presso, mas sim
intensidade acstica I. Neste caso temos da mesma forma que anteriormente
) exp(
0
d I I
I
= , (2.50)
e como a intensidade proporcional ao quadrado da presso, temos que
2 =
I
. (2.51)
Aplicando logaritmo natural a (2.49), vamos obter

0
ln
1
d
= , (2.52)
que nos d o coeficiente de atenuao expresso em Np/m (neper por metro). Outra unidade em
que a atenuao aparece expressa o dB/m (decibel por metro). Neste caso temos
) log( 20
1
0
d
= . (2.53)
Atravs de (2.52) e (2.53) facilmente se obtm a relao

| | | | m Np m dB / /
686 . 8 = . (2.54)
2.5.4 Atenuao em meios homogneos viscoelsticos: Modelos de
Maxwell e Kelvin-Voight
Na teoria geral da elasticidade assume-se que, durante uma deformao, o material armazena
energia sem qualquer tipo de perdas. Na realidade, especialmente em materiais mais modernos

como alguns compsitos e polmeros, existe uma grande quantidade de energia dissipada durante
a deformao. O comportamento desses materiais combina o comportamento dos materiais
elsticos (armazenamento de energia) com o de lquidos viscosos (dissipao de energia), sendo
por isso chamados materiais viscoelsticos. A presso para este tipo de materiais funo da
deformao e das derivadas da deformao em relao ao tempo. Se a presso e a deformao e
as suas derivadas estiverem relacionadas de uma forma linear, o material considera-se
linearmente viscoelstico. Vamos ento descrever os conhecidos modelos para presses
uniaxiais: Maxwell e Kelvin-Voight.
2.5.4.1 Modelo de Maxwell
A lei de Hooke descreve uma relao linear entre presso e deformao dada por
C = . (2.55)
A lei de Newton para um lquido viscoso dada por

dt
d
= , (2.56)
onde o coeficiente de viscosidade. Os materiais viscoelsticos combinam as caractersticas
dos lquidos e slidos elsticos representados na figura 2.2. Como a mola e o amortecedor esto
em srie, a deformao total dada por
2

1
Amortecedor
Mola

Figura 2.2. Modelo de Maxwell.

2 1
+ = , (2.57)
as suas derivadas so dadas por

dt
d
dt
d
dt
d
2 1

+ = , (2.58)

substituindo (2.55) e (2.56) em (2.58) obtemos

+ =
C dt
d
dt
d 1
. (2.59)
Vamos considerar propagao em regime sinusoidal, ou seja,
) exp( t i = e ) exp( t i = . (2.60)
A expresso (2.55) dever ser ento dada por
) (
C = , (2.61)
onde

2 1

) (
C i C C + = , (2.62)
a constante elstica na sua forma complexa.
Substituindo (2.60) em (2.59) e aps alguma manipulao vamos obter a parte real e imaginria
de C dadas por

2 2 2
2 2
1

+
=
C
C
C e
2 2 2
2
2
+
=
C
C
C . (2.63)
2.5.4.2 Modelo de Kelvin-Voight
Na figura 2.3 est representado o modelo de Kelvin-Voight. Neste caso, o amortecedor est em
paralelo com a mola. A presso total dividida entre
1
, aplicada ao amortecedor e
2
,
aplicada mola, sendo a deformao a mesma para ambos os elementos.
Temos ento

2 1
+ = , (2.64)
ou seja, usando (2.55) e (2.56)

dt
d
C

+ = . (2.65)
2.6 Resumo 23

Repetindo o processo usado para o modelo anterior, vamos obter para a constante elstica
complexa

+ =
2 1
) ( iC C C . (2.66)
Sendo que para regime sinusoidal

.
,
2
1
=
=
C
C C
(2.67)
2

Figura 2.3. Modelo de Kelvin-Voight.
Os dois modelos apresentados demonstram que as relaes presso/deformao em regime
sinusoidal para meios viscoelsticos tm um aspecto semelhante ao observado na teoria da
elasticidade, exceptuando o facto das grandezas envolvidas (constantes elstica, velocidades,
etc.) serem complexas e dependerem da frequncia. A parte real dessas grandezas representa a
capacidade de armazenamento de energia, enquanto que a parte imaginria representa as perdas
de energia.
2.6 Resumo
Este captulo tem por objectivo a introduo de noes bsicas relacionadas com a teoria da
propagao de ondas ultra-sonoras, necessrias para a compreenso do trabalho apresentado
nesta tese. So apresentados os conceitos de deslocamento, deformao e presso para a vibrao
das partculas de um corpo e definida a equao do movimento para coordenadas cartesianas.
Em conjunto com outras noes, tais como as constantes elsticas e a expresso presso-

deformao para meios isotrpicos foram deduzidas as expresses da equao de onda para
meios ilimitados e isotrpicos.
Partindo da equao de Christoffel foi apresentada, resumidamente, a forma de verificao do
grau de pureza de uma onda longitudinal ou transversal, partindo da matriz das constantes
elsticas para uma propagao em meios anisotrpicos. No apndice A descrito em detalhe um
exemplo prtico.
Finalmente foram analisados os mecanismos de perdas de energia associados s ondas ultra-
sonoras. Esses mecanismos so divididos em dois tipos: absoro, relacionada com perdas no
meio e disperso, relacionada com perdas em fronteiras. Foram, ainda, apresentados os dois
modelos clssicos de atenuao em meios homogneos viscoelsticos: modelo de Maxwell e
modelo de Kelvin-Voight.

3 TCNICAS ULTRA-SONORAS NA
CARACTERIZAO DE MATERIAIS
3.1 Introduo
Os ultra-sons so, provavelmente, a tcnica no destrutiva com maior aplicao no campo da
inspeco de materiais em vrios domnios, que vo desde a indstria medicina. Devido
facilidade com que as ondas acsticas se propagam na maioria dos materiais, os ultra-sons
podem ser usados com grandes vantagens relativamente a outros mtodos, tanto na deteco de
defeitos internos como superficiais. A reduzida instrumentao associada aos mtodos
convencionais e a facilidade de operao so tambm outras das razes que os tornam bastante
populares.
Devido grande diversidade de tcnicas ultra-sonoras usadas nos mais diversos campos, no
existe, na literatura, uma classificao que seja adoptada de forma generalizada, aparecendo uma
designao para cada uma das aplicaes especficas. No nosso trabalho vamos chamar tcnicas
convencionais, quelas que envolvem apenas um ou dois transdutores e cuja instrumentao
associada se resume a um emissor (circuito de excitao) e a um sistema de visualizao (no
caso mais simples um osciloscpio). Os tipos de ondas envolvidos so as ondas de volume
(longitudinais ou transversais). A informao recolhida limita-se medio da amplitude dos
sinais recolhidos ou do tempo de propagao desses mesmos sinais no material.
Dentro dessas tcnicas convencionais temos dois tipos: o mtodo pulso-eco e o mtodo por
transmisso. No mtodo pulso-eco o sinal injectado no material atravs de um transdutor
(emissor) ao encontrar um defeito d origem a um eco que posteriormente recolhido pelo
mesmo transdutor, ou por outro transdutor colocado na mesma face do material em teste. O
mtodo por transmisso usa dois transdutores (um como emissor outro como receptor),
normalmente colocados em faces opostas do material a analisar, recolhendo informao do seu
interior.
26 3 TCNICAS ULTRA-SONORAS NA CARACTERIZAO DE MATERIAIS

3.2 Tcnicas convencionais
3.2.1 Mtodo pulso-eco
Os primeiros sistemas de controlo no destrutivos por ultra-sons usavam emisso contnua,
sendo a deteco de descontinuidades obtida custa da variao da intensidade do sinal ultra-
sonoro. Estes sistemas eram algo limitados devido a vrios factores, tais como o aparecimento de
ondas estacionrias, baixa definio espacial e sensibilidade e, ainda, necessidade de acesso a
ambas as faces do material.
O conceito de sistema pulso-eco foi desenvolvido inicialmente na dcada de 30 para o uso na
deteco de submarinos (sonar) e, posteriormente, no radar, ambos funcionando em regime
pulsado. Usando este conceito, Firestone foi pioneiro no estudo em laboratrio de sistemas ultra-
sonoros baseados no mtodo pulso-eco atravs do seu reflectoscpio. Este equipamento
eliminava algumas das dificuldades inerentes aos anteriores sistemas contnuos, especialmente a
sensibilidade, j que, agora, uma descontinuidade era mostrada atravs da presena de um sinal
reflectido, em vez de uma pequena variao no nvel do sinal contnuo. Na sequncia desta ideia,
Firestone em conjunto com Sproule introduzem no mercado, em 1943, o primeiro equipamento
comercial usando o mtodo pulso-eco por ultra-sons (Graff, 1991).
Actualmente, um sistema pulso-eco convencional composto por trs componentes: um
transdutor ultra-sonoro, um osciloscpio para visualizao dos sinais e um equipamento
designado por emissor/receptor. Este ltimo integra o circuito de excitao do transdutor e o
andar de recepo, permitindo algum tratamento dos sinais, como por exemplo seleco de nvel
do sinal aplicado ao transdutor, amortecimento, amplificao, filtragem, etc.
Os transdutores mais frequentemente usados so os piezoelctricos. O fenmeno da
piezoelectricidade traduz-se no aparecimento de cargas elctricas na superfcie de um material,
quando este est sujeito a foras mecnicas externas. Quando esse material colocado sobre a
influncia de um campo elctrico verifica-se o chamado efeito piezoelctrico inverso, originando
uma variao da sua forma. Atendendo s suas caractersticas, das quais se destacam o elevado
coeficiente de acoplamento (converso de energia elctrica em acstica e vice-versa), o baixo
custo, a facilidade de construo e a baixa complexidade da instrumentao associada, os
transdutores piezoelctricos so, por excelncia, os mais usados nas mais diversas aplicaes
relacionadas com o controlo no destrutivo.
Na figura 3.1, est representado um sistema de deteco de defeitos usando o mtodo pulso-eco,
onde o material a testar est imerso em gua. Neste sistema, o transdutor excitado com um
3.2 Tcnicas convencionais 27

pulso elctrico que o faz vibrar por um curto espao de tempo. As ondas mecnicas geradas
propagam-se no interior do material a testar e sofrem reflexes quando encontram
descontinuidades, que tanto podem ser defeitos como variaes das suas propriedades. O mesmo
transdutor recebe os sinais (ecos) provenientes dessas fronteiras e converte-os em sinais
elctricos. Esses sinais so ento amplificados e filtrados pelo emissor/receptor de pulsos, sendo
posteriormente visualizados num osciloscpio. A figura 3.2 apresenta o aspecto tpico de um
sinal recolhido de um material com um defeito no seu interior, como o caso da pea da figura
3.1. O primeiro sinal provm da superfcie da pea, o segundo do defeito no seu interior e o
terceiro da face inferior.
Emissor/Receptor
Trigger T/R Output
Osciloscpio
gua
Ch1 Ch2

Figura 3.1 Sistema de deteco de defeitos usando o sistema pulso-eco por imerso.
Nos sistemas convencionais, o acoplamento entre o transdutor e o objecto a testar, pode ser
realizado por contacto directo, atravs de uma fina camada de lquido de acoplamento (teste por
contacto), ou ento, como anteriormente, colocando o material a testar mergulhado numa tina
com gua, de modo a que o meio de acoplamento entre o transdutor e o objecto a testar seja a
prpria gua (teste por imerso).
Quando se pretende realizar uma inspeco minuciosa, em que o operador deseja conhecer
exactamente o tipo de anomalia apresentada pelo material, o teste normalmente executado de
forma manual, pelo que o acoplamento por contacto prefervel. O teste por imerso, por outro
lado, proporciona um acoplamento uniforme, possibilitando assim, a realizao de um
varrimento mecnico, quaisquer que sejam as superfcies apresentadas pelos objectos.

0 5 10 15 20
-100
-50
0
50
100
150
Tempo(s)
(mV)
Superficie
Fundo Defeito

Figura 3.2 Sinal recolhido de uma pea com um defeito no seu interior.
3.2.2 Mtodo por transmisso
A utilizao dos ultra-sons na deteco de descontinuidades deve-se ao facto destas criarem
obstculos propagao normal das ondas ultra-sonoras. Este efeito pode ser verificado usando
o mtodo por transmisso (trough-transmission) apresentado na figura 3.3, que consiste na
colocao de um transdutor emissor de um dos lados do objecto a testar e um receptor na face
oposta. Assegurando um bom acoplamento entre os transdutores e o material a testar e mantendo
um perfeito alinhamento entre eles, procede-se medio da amplitude do sinal recebido. Se
surgir algum defeito no percurso das ondas ultra-sonoras, o sinal recebido sofre uma reduo
acentuada em amplitude, podendo mesmo desaparecer para descontinuidades com dimenses
prximas ou superiores largura do feixe acstico (shadow method) (Krautkramer, 1990).
O mtodo por transmisso pode tambm ser usado com outras finalidades, como por exemplo a
medio de espessuras ou a determinao da atenuao ultra-sonora. Habitualmente usado
quando temos materiais com elevada atenuao, pois o trajecto do sinal recuperado pelo receptor
corresponde apenas espessura, enquanto no mtodo pulso-eco o dobro da espessura.
Apesar de ter sido historicamente o mtodo mais utilizado, actualmente apenas usado quando
impossvel usar o mtodo pulso-eco. Para alm de exigir um bom alinhamento dos transdutores,
o que nem sempre fcil, necessita de dois transdutores, ao contrrio do pulso-eco que apenas
usa um, para alm de necessitar do acesso face oposta da pea.

Emissor
Receptor

Figura 3.3 Mtodo por transmisso.
3.3 Tcnicas dedicadas
Todas as tcnicas usadas no controlo no destrutivo por ultra-sons (CNDU) tm por base as
tcnicas convencionais apresentadas anteriormente. Qualquer que seja a configurao usada
existe sempre a injeco de uma onda ultra-sonora no material a testar e posterior recolha para
processamento. A classificao das inmeras tcnicas usadas em CNDU est, normalmente,
relacionada com vrios factores, sendo os principais: o tipo de ondas usado, a grandeza medida,
o tipo de informao fornecida ao utilizador e a instrumentao associada aos sistemas de
excitao e recepo. Tendo em conta a grande diversidade destas tcnicas vamos apenas
abordar aquelas que so usadas mais frequentemente.
3.3.1 Imagiologia ultra-sonora
Depois de um defeito ter sido localizado num dado material , por vezes, importante ter
informao sobre o seu formato e tamanho, para ento tomar decises sobre a sua integridade.
Tambm no campo mdico, como sabido, a obteno de imagens como meio de diagnstico
fundamental para avaliar inmeras situaes. Estes dois campos, s por si, tornam a imagiologia
ultra-sonora numa das mais importantes aplicaes dentro do CNDU.
O mtodo pulso-eco apresentado anteriormente , geralmente, usado quando pretendemos obter
imagens do interior dos mais diversos meios. Podemos ter trs tipos de inspeco: A, B e C-scan,
representados na figura 3.4.
O mtodo A-scan apresenta informao unidimensional, referente ao trajecto do feixe ultra-
sonoro no interior do material. A profundidade a que se encontra um defeito, eventualmente

situado no interior do material indicada pelo tempo de propagao medido num osciloscpio. O
tamanho desse defeito pode ser estimado pela anlise da amplitude do sinal recebido.
Com o B-scan, o material inspeccionado ao longo de um eixo atravs do movimento mecnico
do transdutor, sendo produzido um corte paralelo direco de propagao. A localizao ao
longo da direco de inspeco mostrada no eixo horizontal e os valores do tempo de
propagao no eixo vertical. Como a informao produzida se refere a um corte, normalmente
este tipo de inspeco no usado em CNDU de materiais, pela necessidade de anlise de
grandes reas. Pelo contrrio, para diagnstico mdico, o B-scan o mtodo mais usual devido
importncia da visualizao de seces longitudinais.
No caso do C-scan, um sistema mecnico de varrimento perpendicular direco de propagao
recolhe selectivamente os vrios sinais referentes a cada ponto de um plano predeterminado,
permitindo a construo de uma imagem. Os sistemas actuais usam um computador para
controlo da excitao e do movimento do transdutor, aquisio dos sinais e apresentao da
imagem pretendida.
Superficie
Defeito
Fundo
A B
C

Figura 3.4 Comparao da informao obtida pelos mtodos A, B e C-scan e princpio de funcionamento.
As principais tcnicas de imagiologia ultra-sonora usadas actualmente tm por base os princpios
de funcionamento dos mtodos B e C-scan.
No caso do B-scan, o movimento mecnico efectuado pelo transdutor , geralmente, substitudo
por um varrimento electrnico do feixe, efectuado por um agregado linear de transdutores, sendo
esta tcnica designada por ecografia (Macovski, 1979 e Von Ramm, 1983). O varrimento
electrnico obtido custa da excitao de cada um dos elementos do agregado com sinais
desfasados entre si.

O C-scan um mtodo clssico usado em CNDU, sendo a gua o tipo de acoplamento mais
vulgarmente utilizado (pulso-eco por imerso). A gama de frequncias tpica varia entre 500 kHz
e 25 MHz, sendo usado para deteco de defeitos ou para mapeamento de variaes das
propriedades de materiais (Vary, 1991). Para sistemas em que a frequncia de trabalho superior
a 25 MHz, podendo atingir valores de 1 GHz passamos a ter a chamada microscopia ultra-
sonora, por analogia com a microscopia ptica. Quate foi pioneiro, em 1974, na introduo do
sistema de microscopia ultra-sonora, usando o mtodo C-scan e um transdutor piezoelctrico a
funcionar em pulso-eco. A imagem formada custa da codificao da amplitude do sinal ultra-
sonoro recolhido numa escala de cor. Este sistema ficou conhecido por microscopia ultra-sonora
de varrimento SAM (Scanning Acoustic Microscopie) (Quate, 1974). Adicionalmente, outros
sistemas foram desenvolvidos, sendo de destacar pela sua importncia, a microscopia ultra-
sonora de varrimento laser SLAM (Scanning Laser Acoustic Microscopie) (Kessler, 1972) e a
microscopia de varrimento foto-acstico PAM (Photo Acoustic Microscopie) (Busse, 1985).
3.3.2 Gerao e deteco de ultra-sons por meios pticos
Quando uma determinada zona de um material irradiada por uma fonte luminosa, d-se uma
expanso trmica que pode produzir uma onda ultra-sonora. Este fenmeno usado quando
pretendemos efectuar um controlo de um material, onde o acoplamento crtico, no podendo
ser efectuado por imerso nem por contacto. Como a transformao de energia luminosa em
energia acstica se d no interior do material no existe necessidade de nenhum meio de
acoplamento.
O mtodo de excitao usado , por excelncia, o laser, devido sua elevada resoluo espacial e
temporal. Valores usuais de resoluo espacial rondam os 10 m e cerca de 2 ns de resoluo
temporal. Na deteco utilizado um interfermetro, que usa a interferncia entre o sinal de
referncia proveniente do laser responsvel pela excitao e o sinal proveniente do material a
analisar (Scruby, 1990).
As limitaes associadas a estes sistemas esto relacionadas com a grande quantidade e
complexidade da sua instrumentao, com o facto do material a testar ter de ser um reflector
ptico e ainda com a sua baixa sensibilidade, quando comparados com os que usam transdutores
piezoelctricos (Johnson, 1996).

3.3.3 Transmisso no ar
Analogamente tcnica anterior, a transmisso no ar usada quando os materiais a analisar no
permitem o uso dos mtodos de acoplamento convencionais por contacto ou imerso. Duas
situaes tpicas so a anlise de materiais porosos ou quando a sua temperatura muito elevada.
As primeiras aplicaes, envolvendo transmisso de ultra-sons no ar foram desenvolvidas para a
deteco de obstculos. A frequncia de trabalho normalmente usada neste tipo de aplicaes
inferior a 100 kHz, devido a problemas de atenuao no ar.
Para aplicaes em CNDU, onde geralmente estamos interessados em analisar o interior do
material coloca-se um problema adicional. Devido diferena entre as propriedades do material
a analisar e do ar, as suas impedncias acsticas vo ser tambm muito diferentes. A impedncia
acstica de um material dada por
V Z = , (3.1)
sendo a massa especifica e V a velocidade de propagao. As suas unidades so o Rayleigh [R]
ou o Ns/m
3
.
Para a maior parte dos materiais temos valores 10
5
a 10
6
vezes superiores impedncia acstica
do ar, logo o coeficiente de transmisso na interface ar/material extremamente reduzido e,
consequentemente, o coeficiente de reflexo quase unitrio. A ttulo de exemplo o coeficiente de
transmisso entre o ar e o alumnio de cerca de 97.10
-6
. Este facto faz com que a amplitude do
sinal transmitido para o interior do material seja extremamente reduzida. Como posteriormente
vamos recolher o sinal transmitido, ele ter novamente que atravessar outra interface material/ar,
com uma adicional diminuio de amplitude.
Para resolver esta questo, relacionada com a desadaptao de impedncias entre o ar e o
material, so actualmente utilizados dois tipos de transdutores: electrostticos (ou capacitivos) e
piezoelctricos optimizados para transmisso no ar. Os transdutores electrostticos so os mais
frequentes e tambm aqueles que tm sofrido maior evoluo (Kuhl, 1954, Carr, 1993 e
Anderson, 1995). Apresentam uma largura de banda considervel, mas com baixas amplitudes
dos sinais obtidos. Mais recentemente, Schindel desenvolveu um transdutor capacitivo
micromaquinado (Capacitive Micromachined Ultrasonic Transducer cMUT) com melhorias
significativas, tanto ao nvel da largura de banda como da sensibilidade (Schindel, 1995a).
Vrias aplicaes tais como: medio de espessuras e determinao de mdulos elsticos em
slidos (Schindel, 1995b e Hosten, 1996), imagens e caracterizao de descolagens e

delaminaes em compsitos (Schindel, 1999) e imagens superficiais de alta resoluo
(Schindel, 1998), foram j efectuadas em laboratrio com sucesso.
Os transdutores piezocermicos optimizados para transmisso no ar tm largura de banda
bastante estreita, logo a sua resposta a impulso mais longa. Isto uma limitao quando
pretendemos usar ondas de volume, com separao de ecos provenientes das diferentes interfaces
do material a analisar. A grande discrepncia entre as amplitudes dos sinais provenientes da
superfcie do material e do seu interior, este ltimo com informao relevante sobre a sua
integridade, outro dos factores que torna difcil um teste convencional em pulso-eco, devido
saturao do sistema de amplificao na recepo (Farlow, 1994). A soluo, neste caso, usar
incidncia oblqua e excitar outro tipo de ondas no material a analisar, como por exemplo ondas
de Lamb (Strycek, 1997 e Banks, 1997). A grande vantagem deste tipo de transdutores a
obteno de elevados nveis de sinal, graas sua banda estreita, que permite uma grande
profundidade de penetrao. Uma aplicao tpica a obteno de imagens acsticas de
estruturas de grande dimenso usando um sistema SAM em transmisso, muito usado na
indstria aeronutica (Kelly, 1996).
3.3.4 Gerao e deteco de ultra-sons usando transdutores
electromagnticos
Uma corrente elctrica, ao percorrer um fio na vizinhana de um material condutor, vai dar
origem ao aparecimento de correntes induzidas nesse condutor. Se, por sua vez, estivermos na
presena de um campo magntico, as partculas que constituem a corrente vo ficar sujeitas s
chamadas foras de Lorentz. Estas foras so transmitidas ao material atravs de colises com a
sua rede cristalina, com a frequncia da corrente que as originam, provocando o aparecimento de
uma onda ultra-sonora. este o princpio fsico de funcionamento dos transdutores
electromagnticos (Electromagnetic Acoustic Transducers EMAT), tambm conhecidos como
magneto-indutivos. Na prtica, estes transdutores so constitudos por uma bobine que induz a
corrente desejada no material e por um man permanente que produz o campo magntico. A
configurao destes dois componentes vai condicionar as foras produzidas no material, de
forma a produzir o tipo de onda ultra-sonora desejado, que poder ser uma onda de volume
(longitudinal ou transversal), de superfcie ou de Lamb (Frost, 1979).
As vantagens relativas ao facto de no existir contacto fsico com a material a analisar, foram j
mencionadas anteriormente. No entanto, este tipo de transdutor no muito usado em CNDU
quando se pretende efectuar deteco de defeitos. A razo principal tem a ver com o facto do

material a analisar ter de ser, necessariamente, condutor. As outras razes so a sua fraca
eficincia e a baixa directividade do seu diagrama de radiao.
As principais aplicaes esto relacionadas com medidas em ambiente a altas temperaturas
(Burns, 1988), como por exemplo em processos de fabrico de ligas metlicas (Alers, 1987).
Outras aplicaes envolvendo materiais muito extensos, como carris (Alers, 1988) ou gasodutos
(Thompson, 1972), so encontradas tambm de forma frequente na literatura.
A deteco de anomalias em placas (Rose, 2001a) ou em tubos (Wang, 1999a) usando ondas de
Lamb ou ondas de volume com transdutores com focalizao optimizada (Ogi, 1999), so
exemplos das mais recentes utilizaes de EMAT/s.
3.3.5 Mtodo pitch and catch
O mtodo pitch and catch uma tcnica de CNDU que usa um transdutor para a emisso e outro
para recepo, inclinados relativamente superfcie do material a analisar. Contrariamente ao
mtodo por transmisso, o trajecto de propagao entre os dois transdutores no uma linha
recta, mas sim um trajecto mais complicado (o feixe pode sofrer uma ou vrias reflexes antes de
chegar ao receptor). Dependendo da aplicao, assim os transdutores podem ser colocados na
mesma face do material, ou em faces opostas. Os transdutores tm de estar perfeitamente
alinhados e com inclinaes bem definidas, sendo para isso normalmente usados suportes de
fixao.
Este mtodo tem inmeras variantes e aplicaes, dependendo do tipo de informao que o
utilizador pretende recolher. Vrios exemplos como a deteco de defeitos (Singh, 1991),
inspeco de carris ferrovirios (Bray, 1991) ou de soldaduras (Krautkramer, 1990) por
intermdio de ondas de volume podem ser encontradas na literatura.
No entanto, na inspeco e caracterizao de materiais por intermdio de ondas guiadas,
especialmente ondas de Lamb, que este mtodo usado com mais frequncia. A grande
vantagem deve-se ao facto de podermos seleccionar o modo de propagao pretendido, apenas
custa da alterao da orientao dos transdutores. O mtodo pitch and catch usando ondas de
Lamb, tambm conhecidas por ondas de placa (plate waves), est vocacionado especialmente
para inspeco de grandes reas de materiais com espessuras inferiores ou da mesma ordem de
grandeza do comprimento de onda dos sinais envolvidos. Devido s perdas reduzidas, as ondas
de Lamb podem atingir grandes distncias de propagao com elevadas relaes sinal/rudo
(S/R).

Como aplicaes mais comuns deste mtodo temos a deteco e classificao de defeitos
(Alleyne, 1992; Rose, 2000 e Lowe, 2002), inspeco de colagens, (Teller, 1989; Adler, 1990;
Rokhlin, 1991 e Lowe, 1992), monitorizao de espessuras (Cho, 2003) ou a inspeco de
materiais com grandes dimenses como carris ou tubos (Rose, 2001b e Alleyne, 2001).
3.3.6 Mtodos envolvendo transdutores mltiplos
O uso dos ultra-sons em testes no destrutivos tem dois propsitos fundamentais: a
deteco/caracterizao de defeitos e a determinao de propriedades dos materiais. Os testes
que usam um ou dois transdutores (pulso-eco ou por transmisso) tm vrias limitaes, sendo
de destacar: baixas relaes S/R para materiais com elevada atenuao, pouca informao
fornecida ao utilizador, incapacidade de deteco de todas as descontinuidades devido
geometria do material e tambm a sua grande morosidade.
O agrupamento de vrios transdutores conhecido como agregado (phased array) vai minorar
estas limitaes. Existem basicamente trs tipos de agregados: lineares, planares e anulares. Num
agregado, os sinais de excitao individual dos seus elementos so controlados electronicamente.
A custa de um determinado desfasamento entre esses vrios sinais (da a origem do nome phased
array), o feixe do agregado pode ser orientado de forma a produzir uma focalizao, com o
respectivo aumento da relao S/R, ou um varrimento dinmico (Gebhardt, 1983). Esta ltima
capacidade de extrema importncia nos sistemas que usam o mtodo B-scan, pois permite a
formao de uma imagem em tempo real.
Os agregados eram, at h bem pouco tempo, exclusivamente usados de uma forma generalizada
na imagiologia mdica, sendo a sua aplicao bastante limitada na indstria devido,
essencialmente, sua complexidade e custo proibitivo. Actualmente, graas grande
massificao e miniaturizao dos sistemas de aquisio de dados com velocidades de
processamento elevadas, vrias aplicaes esto em desenvolvimento para uso em laboratrio,
bem como sistemas comerciais para uso na indstria.
A maior parte das aplicaes onde esto envolvidos agregados, relacionam-se com a formao
de imagens. A ttulo de exemplo, temos sistemas para deteco e anlise de corroso em
materiais metlicos ou delaminaes em materiais compsitos (Willsher, 1998) ou deteco de
efeitos de fadiga em materiais a alta temperatura utilizando agregados lineares (Kirk, 1996).
Outras aplicaes usam agregados planares flexveis, obtidos atravs da combinao de um
material cermico e de um polmero num substrato flexvel, dedicados a inspeces em
superfcies no uniformes (Reynolds, 1998) ou agregados planares de grande densidade, obtidos

por processo de deposio (Lasser, 1998). Uma das reas em grande destaque ultimamente a
obteno de imagens tridimensionais em tempo real, custa do processamento de informao
proveniente de imagens a duas dimenses (Austeng, 2002).
3.4 Caracterizao ultra-sonora de quartzitos
A medio das velocidades das ondas longitudinais e transversais e a determinao dos mdulos
elsticos em rochas um assunto j abordado por alguns autores (Gregory, 1970). No entanto,
quando se pretende uma completa caracterizao ultra-sonora, com o estabelecimento de
correlaes entre os diversos parmetros fsicos e ultra-sonoros, outros tipos de anlises tm de
ser efectuados. Exemplos mais recentes so a anlise do comportamento da atenuao ultra-
sonora com a frequncia, anlise espectral (Santos, 1999 e Ferreira, 2001) ou o uso de mtodos
no convencionais como a excitao por laser (Bernal, 2000).
Os quartzitos so rochas metamrficas que resultam do metamorfismo de arenitos quartzosos. As
suas principais caractersticas, como a estrutura, friabilidade, cor ou pureza dependem de vrios
factores: natureza do arenito original, tamanho do gro, composio mineral e do grau de
metamorfismo. Devido grande utilizao, nomeadamente na construo civil e na construo
de paredes e molhes de proteco costeiros muito importante a obteno das suas
propriedades fsicas, qumicas e mecnicas.
O principal objectivo deste trabalho a caracterizao petrofsica e ultra-sonora de dois tipos de
quartzitos com o mesmo tipo de composio mineral, provenientes de duas zonas
geograficamente distintas. Um grupo proveniente da zona de Penacova (Coimbra), sendo as
suas amostras designadas amostras P e o outro grupo proveniente de Mouquim (Aveiro), sendo
as suas amostras designadas como amostras M.
A influncia da porosidade, fissuras, tamanho de gro e anisotropia na velocidade e atenuao
ultra-sonoras, vai ser analisada, usando anlise espectral em conjunto com o mtodo
convencional por transmisso.
3.4.1 Trabalho experimental
Na figura 3.5 apresentado o sistema experimental de teste, baseado no mtodo por transmisso,
que vai servir para medio dos parmetros ultra-sonoros. O mtodo por transmisso foi usado
em detrimento do mtodo pulso-eco atendendo, essencialmente, aos elevados valores de
atenuao introduzidos pelos meios rochosos. O sistema composto por um emissor/receptor

(pulser/receiver), que excita o transdutor emissor e recebe o sinal do transdutor receptor, aps
este se ter propagado na amostra. Seguidamente, o sinal filtrado, amplificado e enviado para
um osciloscpio digital. No osciloscpio feita a correcta visualizao do sinal pretendido,
sendo posteriormente adquirido pelo computador atravs do seu porto srie. Foram usados dois
pares de transdutores (um par de ondas longitudinais e outro de ondas transversais), ambos com
frequncia central de 2.25 MHz e com 3 MHz de largura de banda (500 kHz a 3.5 MHz).

Figura 3.5 Sistema experimental.
O acoplamento entre as amostras e os transdutores efectuado atravs de dois tipos de gel com
diferentes densidades, um para medies que envolvem ondas longitudinais, outro para medies
que envolvem ondas transversais. Para as ondas transversais, o gel tem de ter necessariamente
uma densidade mais elevada, assemelhando-se praticamente a uma pasta, devido
impossibilidade de transmisso deste tipo de ondas em fluidos. Para garantir um perfeito
alinhamento dos transdutores, usada uma pea de suporte, que permite ainda ser actuada por
uma chave dinamomtrica de forma a manter uma presso constante para todas as medidas, entre
as faces das amostras e os transdutores.
Pulser/receiver
Transdutores
e
amostra

As amostras usadas tm uma forma cbica com cerca de 30 mm de aresta. Cada conjunto de
amostras tipo P e M foi cortado de um bloco original de quartzito, sendo garantida a orientao
relativa estratificao original.
3.4.1.1 Determinao das propriedades fsicas e ultra-sonoras
A determinao das velocidades longitudinal e transversal feita de uma forma imediata pelo
cociente entre a distncia percorrida (d), que coincide com a espessura da amostra e o respectivo
tempo de propagao (t), medido no osciloscpio

t
d
V = . (3.2)
Foram utilizadas nove amostras de cada tipo. Para cada amostra foram efectuadas trs medidas,
correspondentes a cada um dos seus eixos. O desvio padro obtido para cada grupo de medidas
(velocidades longitudinais e transversais para as amostras P e M) varia entre 1% e 4%, o que
indica uma boa homogeneidade das amostras.
Os mdulos elsticos para slidos isotrpicos podem ser determinados usando as relaes
apresentadas na tabela 3.1 (Vary, 1980), sendo V
L
a velocidade longitudinal, V
T
a velocidade
transversal e a massa especfica. Para materiais anisotrpicos como os quartzitos, estas
relaes deixam de ser exactas, continuando, no entanto, a dar uma boa estimativa do seu valor
real.
Tabela 3.1 Relaes entre constantes elsticas e velocidades ultra-sonoras em slidos isotrpicos.
Mdulo
longitudinal
Mdulo
transversal
Mdulo
volumtrico
Mdulo de
Young
Relao de
Poisson
2
L
V L =
2
T
V S =
S L K
3
4
=
S L
S L S
E
=
) 4 3 (
) ( 2
2
S L
S L
=

Na determinao da massa especfica e da porosidade das amostras so usados mtodos
clssicos, que relacionam o seu peso em seco, o peso saturado com gua, o peso submerso da
amostra saturada e o seu volume (ISRM, 1979).
Na tabela 3.2 apresentado o resumo das caractersticas fsicas e ultra-sonoras das amostras
analisadas. Os valores das velocidades longitudinais e transversais e, consequentemente os
mdulos elsticos das amostras P, so inferiores aos das amostras M. Numa primeira anlise,

poderamos atribuir essa variao aos diferentes nveis de porosidade dos dois tipos de amostras.
No entanto, a diferena de porosidade entre os dois tipos de amostras inferior a 1%, sendo as
diferenas nas velocidades da ordem dos 20%, o que est em contradio com resultados
publicados por vrios autores (Panakkal, 1990; Hirose, 1997 e Santos, 1997), logo outros
parmetros, tais como, as fissuras internas e a anisotropia, que iremos analisar seguidamente,
podero ser responsveis pelas variaes das velocidades.
Tabela 3.2 Propriedades fsicas e ultra-sonoras dos quartzitos tipo P e M.
Propriedade P M
Massa especifica (Kg/dm
3
) 2.62 2.67
Porosidade (%) 1.26 0.56
Vel. Longitudinal (m/s) 4472 5758
Vel. Transversal (m/s) 3093 3842
Mdulo Longitudinal (GPa) 52.4 88.5
Mdulo Transversal (GPa) 25.1 39.4
Mdulo Volumtrico (GPa) 18.9 35.0
Mdulo de Young (GPa) 52.2 86.6

3.4.1.2 Fissuras internas
Um critrio prtico muito usado em petrologia, para classificao de rochas segundo o seu estado
de fissurao, dado por (ISRM, 1978)

. 7 . 0
, 7 . 0 6 . 0
, 6 . 0
fissurada muito rocha
V
V
fissurada rocha
V
V
fissurada pouco rocha
V
V
L
T
L
T
L
T

< <

(3.3)
Para as amostras P a relao V
T
/V
L
tem o valor de 0.691 e para as amostras M de 0.667, ou seja,
os valores esto no intervalo central de (3.3), que indica que ambas as rochas so
moderadamente fissuradas.
Para um clculo mais exacto do grau de fissuras (nf) de cada rocha pode ser usada uma expresso
retirada do chamado diagrama de Humbolt (Toureq, 1971 e Fernandes, 1998)

|
.
|
\
|
=
N
IQ nf
41 . 48
) 100 ( , (3.4)
onde N a porosidade total referida na tabela 3.2, que engloba a porosidade por fissuras nf e a
porosidade fechada np. A grandeza IQ, denominada ndice de qualidade, quantifica a aco
global de todas as descontinuidades sobre o comportamento da rocha e calculada em funo de
um valor terico da velocidade longitudinal da rocha pura (sem qualquer tipo de porosidade)
% 100 =
terico V
medido V
IQ
L
L
. (3.5)
No nosso caso o valor de V
L
terico de 6030 m/s (velocidade de propagao no quartzo).
Quando IQ tende para 100%, a rocha aproxima-se do seu modelo perfeito e, inversamente,
quando IQ decresce indica que a rocha tem um maior contedo de fissuras.
Na tabela 3.3 so apresentados os valores dos diferentes tipos de porosidade obtidos usando a
equao (3.4). Os valores demonstram um contedo de fissuras muito superior nas amostras P
relativamente s amostras M (cerca de seis vezes superior), que poder ser responsvel pela
grande variao das velocidades.
Tabela 3.3 Porosidade nas amostras P e M.
Amostra N (%) nf (%) np (%)
P 1.26 0.5 0.76
M 0.56 0.08 0.48

Estes resultados foram ainda qualitativamente comprovados atravs das imagens pticas,
apresentadas nas figuras 3.6 e 3.7. As amostras P apresentam claramente vrias microfissuras por
vezes preenchidas com xido e hidrxido de ferro (zonas em tons alaranjados), enquanto nas
amostras M esse efeito imperceptvel.
3.4.1.3 Anlise da isotropia
A caracterizao petrofsica dos quartzitos usando difraco de raios-X, indica-nos que o seu
contedo quase exclusivamente formado por quartzo. A anlise da figura 3.6 revela-nos que as
amostras P tm uma textura granoblstica, ou seja, o tamanho de gro uniforme e os gros de
quartzo demonstram formas sub-eudricas a andricas (gros com duas faces opostas bem
definidas ou sem nenhuma face bem definida). A figura 3.7 indica-nos que para as amostras M,

os cristais de quartzo so alongados segundo a direco de estiramento da rocha. A maior parte
dos cristais so granoblsticos, mas existem tambm alguns que apresentam caractersticas
profiroblsticas (tamanho de gro no uniforme).

Figura 3.6 Imagem de uma amostra P obtida por microscpio petrogrfico (x10).

Figura 3.7 Imagem de uma amostra M obtida por microscpio petrogrfico (x10).
Na figura 3.8 esto representados os modelos tridimensionais das estruturas de gro e as seces
de gro dos diferentes tipos de amostras, bem como o sistema de eixos de orientao das trs
faces das amostras. Para o clculo da isotropia foram utilizados mtodos clssicos da
caracterizao petrofsica de rochas, assumindo tamanho mdio de gro. Para esse efeito, foi
usada a relao entre a largura dos gros (L) e o seu comprimento (C).
Na tabela 3.4 so apresentadas, para os dois tipos de amostras, as dimenses de gro, as
velocidades longitudinais e a isotropia, segundo as vrias direces consideradas. Para as
amostras P os valores da velocidade so uniformes e as correspondentes isotropias tambm. Para
as amostras M existe, segundo a orientao II, uma diferena mais significativa no valor da
velocidade, a que corresponde uma maior isotropia quando comparada com as restantes
orientaes. Este facto, leva-nos a concluir que a anisotropia contribui para variaes dos valores

da velocidade de propagao, sendo esse contributo menos acentuado do que no caso das
fissuras.
Amostra P
Amostra M
Gros
L
C
L
C
III
II
I

Figura 3.8 Modelos da estrutura de gro das amostras M e P.
Tabela 3.4 Tamanho de gro e isotropia.
Amostra Orientao
Tamanho de
gro (m)
V
L
(m/s) Isotropia
I 207x154 4483 0.74
II 231x172 4458 0.75 P
III 227x175 4475 0.77
I 218x113 5718 0.53
II 185x124 5821 0.68 M
III 208x104 5735 0.49

Outra concluso, bastante interessante, pode ser obtida estabelecendo a relao entre a
porosidade e a velocidade, para as vrias amostras M e P analisadas. Essa representao
mostrada na figura 3.9, onde cada ponto representa a mdia de trs valores obtidos para a mesma

orientao. Verifica-se para ambos os tipos de amostras, que a velocidade tende para o seu valor
terico com o aumento da isotropia, apesar das diferenas j assinaladas na sua estrutura de gro.
4000
4500
5000
5500
6000
6500
0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
Isotropia
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

(
m
/
s
)
P
M

Figura 3.9 Velocidade longitudinal em funo da isotropia para as amostras M e P.
3.4.1.4 Atenuao e anlise espectral
A anlise espectral dos sinais efectuada aplicando a transformada de Fourier rpida (Fast
Fourier Transform FFT) aos sinais adquiridos. Para clculo da atenuao usado o chamado
processo de desconvoluo (Vary, 1987).
A desconvoluo, operao inversa da convoluo, permite obter a resposta espectral de um
determinado material, eliminando toda a influncia do sistema envolvente. Isso conseguido
atravs de uma simples diviso de dois sinais no domnio da frequncia. Um dos sinais o sinal
de referncia (B
1
(f)), que se obtm colocando os transdutores em contacto directo (ausncia da
amostra). O outro corresponde ao sinal obtido aps propagao atravs da amostra (B
2
(f)).
Estes sinais so dados por
) ( ) ( ) (
1
f H f A f B = , (3.6)

L f
e f H f T f T f A f B
) (
2 1 2
) ( ) ( ) ( ) ( ) (

= , (3.7)
sendo A(f) o sinal de entrada, H(f) a resposta espectral associada instrumentao e aos
transdutores, T
1
(f) o coeficiente de transmisso entre o emissor e a amostra, T
2
(f) o coeficiente de
transmisso entre a amostra e o receptor, (f) o coeficiente de atenuao do material e L a
espessura da amostra.

Substituindo (3.6) em (3.7) e resolvendo em ordem ao coeficiente de atenuao, vamos obter

|
|
.
|
\
|
=
) (
) ( ) ( ) (
ln
1
) (
2
1 2 1
f B
f B f T f T
L
f . (3.8)
Os coeficientes de transmisso so obtidos usando a conhecida expresso (Kinsler, 1982)

2 1
2
2
Z Z
Z
T
+
= , (3.9)
onde Z
1
a impedncia acstica do meio de onde a onda provm e Z
2
a impedncia acstica do
meio para onde a onda se est a propagar.
Os coeficientes de transmisso podem ser considerados constantes, pois a variao de velocidade
de propagao praticamente inexistente dentro da gama de frequncia considerada (Sachse,
1978).
Os valores obtidos experimentalmente usando a equao (3.8) englobam todos os fenmenos de
atenuao provocados pelo material que, como vimos em 2.5, se dividem em absoro e
disperso. Como a constituio dos dois tipos de amostras analisadas muito semelhante
(essencialmente formada por quartzo), admite-se que a sua atenuao por efeitos de absoro
idntica. Consequentemente, a disperso devido geometria de gro responsvel pelas
diferenas que forem observadas nos valores da atenuao medidos.
Na figura 3.10 apresentada a atenuao mdia para cada um dos tipos de amostras, medida
segundo as trs orientaes consideradas, verificando-se que o seu comportamento muito
similar.
Atendendo caracterizao petrofsica previamente efectuada, o tamanho mdio de gro de
cerca de 140 m para as amostras M e de 200 m para as amostras P. De acordo com a tabela
2.1 e atendendo a que temos um comprimento de onda de 2.2 mm, poder-se-ia pensar que o
regime predominante de atenuao por disperso deveria estar entre a disperso de Rayleigh e a
disperso de fase, ou seja, deveria estar compreendida, entre um dependncia com o quadrado da
frequncia e uma dependncia com a quarta potncia da frequncia. No entanto, ao fazer o ajuste
das curvas experimentais s curvas tericas que melhor as representam (fitting), verificou-se que
a atenuao tinha uma dependncia da frequncia, sendo o seu expoente inferior unidade, o que
est de acordo com o que foi referido em 2.5.2, pois os quartzitos so algo heterogneos e no
obedecem s condies mencionadas, dando origem a uma dependncia do tipo referido na
equao (2.48).

1.2 1.4 1.6 1.8 2 2.2 2.4 2.6 2.8
0
20
40
60
80
100
120
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
/
m
]
M
P

Figura 3.10 Atenuao mdia das amostras M e P.
Na figura 3.11 (a) est representado o comportamento da atenuao das amostras P para as
orientaes consideradas. Para a frequncia central as variaes relativamente ao valor mdio
so de cerca de 10 a 20%. Na figura 3.11 (b) temos a resposta espectral dos sinais recolhidos nas
faces consideradas e a sua comparao com um sinal de referncia. Podem verificar-se alguns
efeitos de filtragem, especialmente para as altas frequncias, que uma situao normal na maior
parte dos materiais. Existe tambm um deslocamento da frequncia central de 1.7 MHz para 1
MHz para o sinal referente face I.
Para as amostras M, como vemos na figura 3.12 (a), verificaram-se variaes muito superiores
dos valores da atenuao para cada uma das faces. Relativamente ao valor mdio temos
variaes da ordem dos 40% para a face II e de 70% para a face III. A resposta espectral das
amostras M (figura 3.12 (b)), apresenta para duas das faces (I e III) comportamento similar ao
das amostras P. Existe uma filtragem das altas frequncias, mantendo-se o valor da frequncia
central. Para a face II, a resposta bastante filtrada, apresentado oscilaes significativas e uma
diminuio da frequncia central.
Pelo exposto, verifica-se que apesar dos valores de atenuao mdia, medida segundo todas as
orientaes para ambos os tipos de amostras serem da mesma ordem de grandeza, os seus
valores particulares, para cada uma das orientaes tm grandes discrepncias. Nas amostras P as
variaes em relao ao valor mdio so pouco acentuadas, enquanto nas amostras M essa
variao maior. Este facto pode ser explicado pelos diferentes graus de isotropia. Enquanto nas
amostras M a isotropia tem valores prximos entre si, nas amostras P existe para uma das
orientaes (II) um valor substancialmente mais elevado do que para as restantes. Analogamente,
nas respostas espectrais ntida a alterao de comportamento para essa orientao. Podemos

ento concluir que a isotropia o fenmeno que mais contribui para as variaes da atenuao e
da resposta espectral.
1.5 2 2.5 3
0
20
40
60
80
100
120
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
/
m
]
I
II
III
Mdia

0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
I
II
III
Referncia

(a) (b)
Figura 3.11 Amostras P: (a) atenuao; (b) resposta espectral.
1.5 2 2.5 3
0
20
40
60
80
100
120
140
160
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
/
m
]
I
II
III
Mdia

0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
I
II
III
Referncia

(a) (b)
Figura 3.12 Amostras M: (a) atenuao; (b) resposta espectral.
3.5 Resumo
Neste captulo feita a descrio dos mtodos convencionais pulso-eco e por transmisso,
usados de uma forma generalizada em CNDU. As tcnicas que derivam destes mtodos foram
designadas por tcnicas dedicadas. A grande diversidade dos parmetros envolvidos, como
sejam, o tipo de onda usado, a grandeza a medir, o tipo de informao recolhida pelo utilizador,
ou mesmo a instrumentao utilizada faz com que a sua classificao seja algo subjectiva.
Optou-se por dividir essas tcnicas em seis grupos: imagiologia ultrassonora, gerao e deteco
3.5 Resumo 47

de ultra-sons por meios pticos, transmisso no ar, gerao e deteco de ultra-sons por
intermdio de transdutores electromagnticos, pitch and catch e mtodos que envolvem
transdutores mltiplos. ento descrito o estado dos conhecimentos atravs de referncias aos
trabalhos mais recentes nestas reas.
Na parte final deste captulo apresentado um trabalho original, onde usado o mtodo por
transmisso para efectuar a caracterizao ultra-sonora de rochas, que atendendo ao facto da sua
composio ser quase exclusivamente formada por quartzo, so designadas por quartzitos. So
analisados dois tipos de quartzitos (M e P) provenientes de duas regies geograficamente
distintas, que apesar da sua composio mineral idntica apresentam diferenas significativas ao
nvel da porosidade, contedo de fissuras e isotropia do seu gro. Verificou-se entre os dois
tipos de amostras uma significativa variao dos valores da velocidade de propagao das ondas
longitudinais, que atribuda maioritariamente ao seu contedo de fissuras, sendo a anisotropia
tambm responsvel por essas diferenas, mas de uma forma muito inferior. Por outro lado,
atendendo aos resultados obtidos para os dois tipos de amostras, conclumos que a anisotropia
o factor que contribui de forma mais significativa, para as variaes observadas no
comportamento da atenuao e nas respostas espectrais.

4 ONDAS ULTRA-SONORAS GUIADAS
4.1 Introduo
As ondas guiadas transportam energia essencialmente ao longo do meio onde esto confinadas,
que vulgarmente designamos guia de ondas. Numa das reas do electromagnetismo aplicado,
como o caso das comunicaes por micro-ondas, esses guias tm sido frequentemente usados
durante vrias dcadas, associados a outros componentes como os atenuadores, os acopladores
direccionais, desfasadores, etc. Para o campo acstico, de um modo geral, os problemas de
propagao guiada tm solues mais complexas, que advm da prpria natureza do campo. No
entanto, os mtodos analticos usados, e mesmo algumas das solues, so bastante similares.
As ondas ultra-sonoras guiadas, contrariamente s ondas de volume, necessitam de fronteiras
para a sua propagao. Exemplos clssicos de ondas ultra-sonoras guiadas so as ondas de
Rayleigh ou de superfcie, onde o meio de propagao um slido semi-infinito, as ondas de
Lamb ou de placa, onde a propagao est confinada a um placa (anlogo propagao
electromagntica num guia de ondas) ou as ondas de Stoneley, que se propagam ao longo da
superfcie de contacto entre dois slidos. Por causa do efeito das fronteiras, para as ondas de
Lamb, vamos obter um nmero infinito de modos de propagao com velocidades variveis. A
sua representao d origem s chamadas curvas de disperso, que resultam da resoluo de um
problema que envolve as condies fronteiras para uma estrutura especfica.
A principal vantagem do uso das ondas guiadas prende-se com a capacidade de inspeco de
grandes distncias sem deslocamento do transdutor ou transdutores utilizados. Se o receptor
estiver posicionado num ponto remoto de um material pode obter informao sobre a linha que
une o transmissor ao receptor, que pode ser relacionada, por exemplo, com defeitos na superfcie
ou no interior do material. Outras vantagens que tm levado vrios autores a utiliz-las so: a
possibilidade de sintonizao de um determinado modo e frequncia que garantam melhor
capacidade de deteco, a melhoria de sensibilidade relativamente s ondas de volume, a
50 4 ONDAS ULTRA-SONORAS GUIADAS

capacidade de inspeco de zonas inacessveis e a rapidez e baixo custo, quando feita
comparao com sistemas que envolvem ondas de volume (Rose, 2002).
Um dos principais problemas em CNDU usando ondas de Lamb, o seu carcter dispersivo.
Quando um modo de propagao excitado atravs de um sinal com uma determinada largura de
banda, as suas diferentes componentes espectrais vo propagar-se com diferentes velocidades,
dando origem a uma deformao do sinal no receptor. Este facto pode dar origem a dificuldades
de interpretao do sinal recebido e diminuio da relao S/R, pois a amplitude mxima da
envolvente de um sinal baixa rapidamente se a sua disperso elevada. Outro problema prende-
se com a dificuldade de gerao e utilizao de apenas um modo de propagao. Em qualquer
das circunstncias, mesmo para as baixas frequncias existem sempre dois modos. Com o
aumento da frequncia, o nmero de modos existente tambm aumenta, o que pode dar origem a
problemas na interpretao da informao recolhida no receptor. Mesmo quando garantida uma
gerao monomodo, a presena de fronteiras irregulares, defeitos ou outras variaes da
impedncia acstica pode dar origem a vrios sinais no receptor, devido converso de modos.
Apesar destes constrangimentos, um grande nmero de autores tem usado as ondas de Lamb,
essencialmente pela sua capacidade de inspeco de grandes reas de uma forma rpida.
Os primeiros estudos relacionados com a propagao guiada de ondas acsticas remontam ao
sculo XIX. Em 1885, Rayleigh publicou um artigo sobre a propagao ao longo de uma
superfcie plana de um meio slido elstico e infinito (Rayleigh, 1885), e em 1889, um outro
sobre a vibrao livre de uma placa de dimenses infinitas (Rayleigh, 1889). No seguimento
deste trabalho, Lamb fez o estudo da vibrao de uma placa sujeita a foras externas (Lamb,
1889). O resultado destes trabalhos deu origem s conhecidas equaes de Rayleigh-Lamb, para
deformao plana de uma placa isotrpica no vazio. Estas equaes relacionam as constantes de
propagao dos vrios modos com a frequncia, para uma placa com espessura e constantes
elsticas conhecidas. Pela grande importncia destas descobertas, as ondas na superfcie de um
meio slido semi-infinito, e as ondas guiadas numa placa fina, ficaram conhecidas como ondas
de Rayleigh e de Lamb, respectivamente.
Outros tipos de estruturas foram tambm estudados durante esta poca. Usando a teoria elstica
linear, Pochammer e Chree estabeleceram os conceitos relacionados com a propagao em
regime harmnico num varo de comprimento infinito (Pochammer, 1876 e Chree, 1886).
Posteriormente, foi estabelecida a equao caracterstica para vares ocos usando os potenciais
de Helmholtz (Ghosh, 1923). Solues numricas dessa equao caracterstica para os modos de
propagao simtricos e assimtricos, que conduziram s curvas de disperso, foram obtidas
mais tarde (Gazis, 1958).
4.1 Introduo 51

Em 1967, Viktorov publicou um extenso estudo sobre a propagao ultra-sonora de ondas
guiadas, nomeadamente as ondas de Rayleigh e de Lamb, e suas aplicaes no CNDU, sendo
considerado, ainda hoje, uma referncia dentro desse campo (Viktorov, 1967).
A propagao guiada em meios estratificados outra das reas de estudo intensivamente
abordada por inmeros autores. Os primeiros trabalhos foram efectuados para anlise do
comportamento sismolgico da crosta terrestre (Thomson, 1950 e Haskell, 1953). Nessa
abordagem foi desenvolvida uma formulao matricial, que relaciona a presso e o deslocamento
na superfcie de uma das camadas, com a presso e deslocamento da superfcie adjacente. Esta
abordagem designada como mtodo da matriz de transferncia (tranfer matrix) ou da matriz de
propagao (propagator matrix). A grande utilidade desta tcnica reside no facto das condies
fronteiras duma superfcie de um sistema multi-camada poderem ser transferidas para a
superfcie adjacente e para as camadas seguintes, atravs de simples multiplicaes de matrizes.
De facto, o comportamento elstico de todo o sistema multi-camada pode ser representado pela
multiplicao sequencial das matrizes de transferncia de cada uma das camadas. Finalmente
feito o desenvolvimento da equao caracterstica que rege todo o sistema, atravs da aplicao
das condies fronteiras nas superfcies externas. Na sequncia deste trabalho, tambm
designado por mtodo Thompson-Haskell, vrios autores investigaram o problema da resoluo
da equao caracterstica, com as limitaes inerentes capacidade computacional disponvel
na poca (Press, 1961 e Watson, 1970). Alguns problemas, relacionados essencialmente com
erros de truncatura, que provocavam instabilidade da soluo para valores de frequncia elevada
ou para sistemas com muitas camadas foram analisados por outros autores (Dunkin, 1965).
Uma soluo alternativa para anlise da propagao em sistemas multi-camada o chamado
mtodo da matriz global (global matrix) (Knopoff, 1964). Novamente a presso e o
deslocamento de cada uma das camadas so representados por uma matriz. A diferena
relativamente ao mtodo anterior consiste no facto das vrias sub-matrizes, que descrevem as
condies fronteiras e a continuidade entre as vrias camadas serem reunidas numa s matriz.
Esta tcnica mais robusta e pode ser implementada facilmente, no entanto, pode tornar-se lenta
quando temos muitas camadas e, consequentemente, uma matriz de ordem elevada. Um resumo
das tcnicas matriciais para modelao de estruturas multi-camada foi recentemente apresentado
por Lowe, onde dada relevncia obteno da soluo numrica complexa da equao de
disperso, usando minimizao de funes (Lowe, 1995).
Vrias estruturas podem ser consideradas como guias de ondas ultra-sonoras naturais, logo
potencialmente indicadas para anlise por intermdio deste tipo de ondas. Exemplos disso so:
- vares cilndricos, quadrados e com outro tipo de perfis;

- tubos;
- estruturas em forma de placa;
- estruturas multicamada;
- deposio de um material noutro considerado semi-infinito;
- interfaces entre dois materiais.
Actualmente, inmeras aplicaes das ondas guiadas podem ser encontradas na literatura.
A deteco de fracturas em carris ferrovirios usando ondas guiadas rea de estudo bastante
interessante, pois, pelas suas grandes dimenses, a anlise por mtodos convencionais torna-se
bastante morosa (Rose, 2001b e Cawley, 2003). Pelas mesmas razes feita a anlise de cabos
de ao (usados por exemplo em pontes), atravs de transdutores ultra-sonoros magnetoestritivos
(Kwun, 2003). O estudo de tubagens tambm, por excelncia, um dos campos onde as ondas
guiadas tm tido bastantes aplicaes, devido forma generalizada com que so usadas em
gasodutos, na indstria qumica e petroqumica, na gerao elctrica, etc., (Thompson, 1972;
Rose, 1996; Quarry, 1999 e Rose, 1999). Associado anlise de tubos, outras aplicaes tm
surgido, como o uso de agregados lineares, onde os elementos so dispostos
circunferencialmente na superfcie do tubo (Li, 2001; Wooh, 2001 e Rose, 2003) ou outras
tcnicas, como o uso de espectrogramas em conjunto com ondas circunferenciais, para
caracterizao de defeitos em estruturas anulares (Qu, 2003).
Relativamente ao estudo da propagao em placas, inmeros trabalhos foram at hoje
publicados. A interaco de ondas de Lamb, com uma grande variedade de defeitos simulados
em placas de alumnio foi analisada experimentalmente por Alleyne. Os resultados foram
confirmados numericamente, atravs de elementos finitos e da transformada de Fourier
bidimensional (2DFFT - 2 Dimensions Fast Fourier Transform) (Allyne, 1992). Outros estudos
foram feitos envolvendo defeitos em placas de ao, usando ondas guiadas SH (shear horizontal)
e EMAT/s com bons resultados na classificao de defeitos (Rose, 2001a). Song apresenta um
estudo terico e experimental de um sistema, que permite, usando vrios transdutores, detectar e
medir as dimenses de defeitos em cascos de navios (Song, 2003). O uso de agregados de
transdutores para ondas de Lamb mostra-se, tambm, uma tcnica promissora na anlise de
grandes reas de placas com uma s medio, existindo j prottipos laboratoriais em
funcionamento (Wilcox, 2000).
Do ponto de vista de simulao, os mtodos tradicionalmente usados so os elementos finitos e
os elementos de fronteira. Usando estes dois mtodos, grande quantidade de trabalho tem sido
desenvolvida na caracterizao de defeitos em placas com diversas geometrias (Cho, 1995 e

Alleyne, 1992), simulao e visualizao de modos de propagao (Hayashi, 2003) e
monitorizao da espessura de filmes finos (Cho, 2003), entre outros.
A caracterizao de colagens de materiais outra das reas onde as ondas guiadas tm sido
bastante usadas devido sua grande importncia prtica, especialmente na indstria aeronutica
e, mais recentemente, na indstria automvel. Geralmente a colagem pode ser considerada um
sistema multicamada, onde usado o formalismo matricial descrito anteriormente. Exemplos de
alguns trabalhos podem ser encontrados na literatura, onde evidenciada a maior rapidez na
deteco de defeitos em zonas coladas, relativamente aos sistemas que usam ondas de volume
(Rose, 1992). A utilizao de deteco por interfermetro ptico possibilita medies de
velocidade de propagao com elevada preciso, dando origem ao estabelecimento de
correlaes satisfatrias com o grau qualitativo de colagens em alumnio (Shinger, 1997a e
Shinger, 1997b). A 2DFFT, em conjunto com excitao laser, foi usada por Heller, para verificar
o desaparecimento de modos de propagao de ordem mais elevada, em colagens sujeitas a
envelhecimento (Heller, 2000). Usando elementos finitos podem ser estimadas as dimenses das
zonas de uma colagem em termos de espessura e comprimento (Lowe, 2000), tambm as redes
neuronais, associadas propagao dos modos fundamentais e ao seu comportamento no
domnio da frequncia foram usadas na estimao de parmetros de colagens (Todd, 1999).
Outras aplicaes relacionadas com a anlise de materiais no homogneos so, tambm,
frequentemente encontradas em artigos mais recentes. Exemplos disso so o uso de ondas
guiadas na deteco de anomalias em compsitos de fibra de carbono (Percival, 1997 e Birt,
1998), na inspeco de placas de beto (Jung, 2001) ou ainda na determinao da anisotropia em
papel de escrita (Santos, 2003).
4.2 Ondas de Lamb
As ondas de Lamb so ondas elsticas de deformao plana, que surgem em placas isotrpicas
situadas no vazio. Essas placas, que funcionam como guias de ondas, do origem ao
aparecimento de um nmero infinito de modos de propagao, cada um deles com caractersticas
bem definidas como a velocidade de fase, a velocidade de grupo, o deslocamento das partculas,
etc. Atendendo ao seu deslocamento, os vrios modos so designados como simtricos e anti-
simtricos.
A geometria do nosso problema est representada na figura 4.1. Existem vrios mtodos para
obter os modos guiados existentes na placa. O mais popular talvez o mtodo dos potenciais
(Viktorov, 1967 e Achenbach, 1993), que parte das equaes dos potenciais escalar e vectorial

(2.36), e considerando as condies fronteiras nas faces da placa ( h z = ), obtm as expresses
que regem os modos de propagao. Outro mtodo bastante conhecido o chamado mtodo da
ressonncia transversa ou das ondas parciais (Auld, 1990b). A sua grande vantagem,
relativamente ao anterior, que pode tambm ser usado quando estamos na presena de placas
anisotrpicas. Ambos os mtodos so apresentados em detalhe no apndice B. Outras tcnicas
mais vocacionadas para estruturas multicamada, como o caso da matriz de transferncia e da
matriz global, podem tambm ser usadas para placas isoladas, como veremos mais frente.
z
x
h
-h

Figura 4.1 Placa no vazio.
As duas primeiras tcnicas vo conduzir-nos s conhecidas equaes de Rayleigh-Lamb dadas
por
Modos simtricos

2 2 2
2
) (
4
) tan(
) tan(
k q
pq k
ph
qh
= , (4.1)
Modos anti-simtricos

pq k
k q
ph
qh
2
2 2 2
4
) (
) tan(
) tan(
= , (4.2)
com p e q definidos como

2
2
2
k
V
p
L
=

, (4.3)

2
2
2
k
V
q
T
=

. (4.4)
As equaes (4.1) e (4.2) podem ser usadas para determinar a velocidade a que um modo se
propaga para uma determinada frequncia. So conhecidas por relaes de disperso, pois como
veremos, permitem verificar o carcter dispersivo das velocidades (variao com a frequncia).
Apesar do seu aspecto simples, para um valor fixo da frequncia, as equaes so transcendentes
e o conjunto das suas solues formado por um nmero infinito de valores reais, imaginrios
puros e complexos da velocidade. As solues reais representam modos de propagao no
amortecidos, enquanto as solues imaginrias puras e complexas representam modos que tm
um decaimento exponencial.
4.2.1 Soluo numrica das equaes de Rayleigh-Lamb
O factor chave para compreender o significado fsico das curvas de disperso est associado ao
carcter harmnico da propagao, traduzido por )) ( exp( t kx i . As relaes de disperso so
funes de k e de , podendo k tomar valores complexos da forma k =k
r
+ik
i
, ou seja, a
exponencial anterior agora dada por
) exp( )) ( exp( x k t k i
i r
. (4.5)
Existem trs possibilidades para o sinal de k
i
, correspondendo a cada um deles

um diferente
significado fsico:
k
i
<0, a amplitude das ondas cresce exponencialmente com a distncia;
k
i
=0, propagao sem amortecimento;
k
i
>0, a amplitude das ondas diminui exponencialmente com a distncia.
As ondas com decaimento exponencial so chamadas evanescentes, pelo facto de serem
fortemente atenuadas relativamente sua fonte. As ondas com crescimento exponencial no so
fisicamente observveis. Resta-nos a propagao sem amortecimento dada pelos valores reais de
k, que corresponde s solues para uma placa no vazio. frente veremos, que para uma placa
imersa num fluido, se verifica a propagao de ondas guiadas com decaimento com a distncia,
sendo esse decaimento devido s perdas para o fluido.
As equaes (4.1) e (4.2), podem exprimir uma relao entre a frequncia f e a constante de
propagao k, ou entre a frequncia f e a velocidade de fase V
F
, sendo a constante de propagao

k dada numericamente pela relao /V
F
. A forma mais comum de apresentao das curvas de
disperso considerando nas abcissas o produto da frequncia pela espessura da placa (fd), com
d=2h e nas ordenadas a velocidade de fase V
F
. Vamos ento reescrever as equaes de forma a
separar essas variveis. Para os modos simtricos vamos ter

2 2 2 2
2 2 2 2
2 2
2 2
) ) ((
) ) ( ) ( 4
) ( tan
) ( tan
k k
V
k
V
k
V
k
h k
V
h k
V
T
T L
L
T

=
|
|
.
|
\
|
|
|
.
|
\
|
, (4.6)
aps algumas simplificaes, e usando =2f ficamos com

2 2
2 2
2 2
2 2
) 2 ) ((
1 ) ( 1 ) ( 4
)
1
( )
1
( tan
)
1
( )
1
( tan

=
|
|
.
|
\
|
|
|
.
|
\
|
T
F
T
F
L
F
F L
F T
V
V
V
V
V
V
fd
V V
fd
V V
. (4.7)
Vamos rescrever a equao anterior de forma a simplificar o algoritmo de clculo
0
4
) 2 ) ((
2 2
= +
G F
V
V
T
F
, (4.8)
com F e G definidos da seguinte forma

.
1 ) (
)
1
( )
1
( tan
, 1 ) ( )
1
( )
1
( tan
2
2 2
2 2 2
|
|
.
|
\
|
|
|
.
|
\
|
=
T
F
F T
L
F
F L
V
V
fd
V V
G
V
V
fd
V V
F
(4.9)
As solues so ento dadas pelas razes da equao (4.8).
A estratgia usada na determinao do traado da velocidade de fase, para os vrios modos de
propagao foi a seguinte:

1 Para o modo fundamental, admite-se que o valor inicial da velocidade de fase dado,
usando a teoria clssica de ondas em placas para baixas frequncias (quando f tende para zero),
pela expresso (Rose, 1999)
.
) 1 (
2

=
E
V (4.10)
Sabendo as velocidades longitudinal e transversal e a massa especfica do material, este valor
pode ser determinado usando as expresses da tabela 3.1.
2 O prximo ponto e os seguintes, referentes ao modo em causa, so determinados
fazendo um incremento em fd, e usando o mtodo de Newton para determinar a raiz de (4.8) na
vizinhana do valor anteriormente obtido (Mathematica 4.0, 1999).
3 Para determinar os valores iniciais correspondentes a cada um dos restantes modos de
propagao efectuado um varrimento inicial em fd, admitindo constante o valor V
F
, que vai
coincidir com o limite superior do traado. Os valores obtidos para as razes de (4.8) so ento os
nossos valores iniciais usados no traado de cada um dos restantes modos. O procedimento
seguinte anlogo ao usado no ponto anterior.
Na determinao das razes pode verificar-se que, para valores de V
F
inferiores a V
L
em F e para
valores de V
F
inferiores a V
T
em G vamos ter tangentes de valores imaginrios que multiplicam
ou dividem por valores imaginrios, originando problemas na rotina usada. Outro problema
prende-se com a singularidade da funo G para V
F
=V
T
.
A primeira situao foi resolvida usando a relao
) tanh( ) tan( x i ix = , (4.11)
e passando para fora nos restantes radicais o termo i. Ficamos ento, aps simplificao, com
expresses reais, dadas por

.
) ( 1
)
1
( )
1
( tanh
, ) ( 1 )
1
( )
1
( tanh
2
2 2
2 2 2
T
F
F T
L
F
F L
V
V
fd
V V
G
V
V
fd
V V
F
|
|
.
|
\
|
|
|
.
|
\
|
=
(4.12)

A questo da singularidade foi resolvida usando a relao x x ) tan( , quando x tende para zero.
Dando origem nessa situao a

T
V
fd
G

= . (4.13)
Para os modos anti-simtricos o procedimento idntico ao usado para os modos simtricos,
exceptuando que, para o modo fundamental A0, se considera o valor zero para o ponto inicial do
traado.
Na figura 4.2 esto representadas as curvas de disperso da velocidade de fase, referentes aos
quatro primeiros modos simtricos e anti-simtricos, para uma placa de alumnio, com espessura
de 3 mm, com V
L
=6300 m/s e V
T
=3130 m/s, no vazio, obtidas usando o algoritmo descrito
anteriormente.
0.5 1 1.5 2 2.5 3
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
A0
S0
S1 S2 A1 A2 A3 S3

Figura 4.2 Curvas de disperso da velocidade de fase para uma placa de alumnio com 3 mm de espessura
no vazio.
A velocidade de fase definida fisicamente como a velocidade de uma frente de onda com fase
constante. Se fosse possvel transmitir uma onda com uma s componente espectral, numa placa
com uma espessura conhecida teramos valores constantes da velocidade de fase para os modos
existentes. Como, na prtica, um sinal ultra-sonoro tem uma determinada largura de banda, s
suas diferentes componentes espectrais vo corresponder diferentes velocidades de fase. Este
facto d origem ao conhecido efeito de espalhamento do sinal, ou seja, ao aumento da sua
largura com a distncia de propagao.

O conceito de velocidade de grupo est associado velocidade de propagao de um grupo de
ondas com frequncias prximas. Tipicamente, diz-se que corresponde velocidade da
envolvente de um pacote de ondas (wave packet). Na propagao ultra-sonora, os sinais podem
ser considerados como pacotes de ondas. Ao medirmos a sua velocidade, usando o mtodo do
tempo de voo, temos de usar um ponto de referncia, que pode ser, por exemplo, o incio do
sinal, ou o ponto onde atinge o seu valor mximo. Na prtica estamos a medir a velocidade da
sua envolvente, ou seja, a velocidade de grupo. Quando estamos na presena de sinais no
dispersivos, como o caso das ondas de volume, os sinais no sofrem distoro durante o seu
percurso, sendo o valor da velocidade medido, coincidente com a velocidade de fase, pois ambos
so constantes. Para sinais dispersivos, como por exemplo as ondas de Lamb, no possvel usar
este mtodo, pois ambas as velocidades so variveis para cada componente espectral. Os
valores obtidos podem, quando muito, ser considerados uma estimativa grosseira da velocidade
de grupo.
Uma simples explicao analtica pode ser feita considerando a propagao harmnica de duas
ondas com igual amplitude, mas com frequncias ligeiramente diferentes (Cheeke, 2002)
) cos( ) cos(
2 2 1 1
t x k A t x k A u + = . (4.14)
Usando a igualdade trigonomtrica
))
2
cos( )
2
(cos( 2 ) cos (cos

+
= + A A ,
podemos reescrever (4.14) como
) ) (
2
1
) (
2
1
cos( ) ) (
2
1
) (
2
1
cos( 2
1 2 1 2 1 2 1 2
t x k k t x k k A u + + = , (4.15)
atendendo que a funo cos par. Fazendo as seguintes substituies: =
2
-
1
; k=k
2
-k
1
;
) (
2
1
1 2
+ = ; ) (
2
1
1 2
k k k + = , vamos obter
) cos( )
2
1
2
1
cos( 2 t kx t k A u = , (4.16)
que representa duas ondas a propagarem-se com diferentes velocidades.

O nosso conjunto inicial de dois sinais pode ento ser representado por um pacote de ondas, com
um primeiro termo de baixa frequncia e um segundo de alta frequncia. Este fenmeno
semelhante modulao por amplitude, onde a portadora representada pela alta frequncia e a
envolvente pela baixa frequncia. Temos ento que a velocidade de grupo dada por /k, que
no limite d origem a

dk
d
V
G

= . (4.17)
A velocidade do termo de alta frequncia representa a velocidade de fase, dada como j vimos
anteriormente por /k.
Podemos tambm obter a velocidade de grupo partindo da velocidade de fase. Substituindo
k=/V
F
em (4.17), vamos obter
1
) (

|
|
.
|
\
|
=
F
G
V d
d
V

,

1
2
|
|
|
|
.
|
\
|

=
F
F
F
V
d
dV
V
,
.
1
d
dV
V
V
F
F
F
=

Usando f 2 = , e introduzindo, por convenincia, o factor d (espessura da placa), a terceira
igualdade pode ser escrita como

) ( 1
F
fd F
F
G
V
d
d
V
fd
V
V
= . (4.18)
Como se pode observar pela expresso (4.18), as curvas de disperso da velocidade de grupo
podem ser obtidas usando as velocidades de fase previamente determinadas. A figura 4.3
representa essas curvas para a placa anteriormente mencionada.

0 0.5 1 1.5 2 2.5 3
0
1
2
3
4
5
6
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

g
r
u
p
o

[
K
m
/
s
]
A0
S0
S1
S2
S3
A1
A2
A3

Figura 4.3 Curvas de disperso da velocidade de grupo para uma placa de alumnio no vazio.
4.2.2 Deslocamentos
O estudo do comportamento do deslocamento das partculas com a variao do parmetro fd,
para um modo em particular muito importante quando trabalhamos com ondas de Lamb. Por
exemplo, numa placa imersa num fluido, se queremos uma propagao a grandes distncias,
temos que garantir que o deslocamento perpendicular placa (out-of-plane) minimizado pois,
caso contrrio as perdas devido a fugas para o fluido sero elevadas. Do ponto de vista terico,
quando um modo de propagao, para um determinado valor de fd, apenas tem deslocamento no
sentido de propagao (in-plane) equivale tentativa de transmisso de uma onda transversal
para o fluido que, como sabemos, no possvel.
As expresses para a determinao dos deslocamentos podem ser obtidas usando o mtodo dos
potenciais, analisado em detalhe no apndice B. Com as condies fronteiras para uma placa no
vazio podemos encontrar uma relao entre as constantes contidas nas expresses (B.18) e
(B.19) e, considerando uma delas unitria pode ser feito um traado em unidades arbitrrias dos
deslocamentos. Para os modos simtricos temos

), sin( ) sin(
) sin(
) sin(
2
), cos( ) cos(
) sin(
) sin(
2
2 2
2 2
qz k pz
ph
qh
k
k q
u
qz q pz
ph
qh
p
k q
u
z
x
+
=
(4.19)
e para os modos anti-simtricos

), cos( ) cos(
) cos(
) cos(
2
), sin( ) sin(
) cos(
) cos(
2
2 2
2 2
qz k pz
ph
qh
k
k q
u
qz q pz
ph
qh
p
k q
u
z
x
+
=
+
=
(4.20)
Para determinar os deslocamentos de um determinado modo de propagao usando (4.19) ou
(4.20), temos de conhecer previamente a velocidade de fase correspondente obtida da figura 4.2.
Com esse valor, e com V
L
e V
T
que j eram conhecidos podemos ento fazer o traado dos
deslocamentos em funo da espessura da placa. Nas figuras 4.4 e 4.5 esto representados, a
ttulo de exemplo, os deslocamentos do modo simtrico S0 e do modo anti-simtrico A2, para a
placa de alumnio considerada anteriormente, para quatro diferentes valores de f.
0.5 0 0.5 1 1.5
0.5
0
0.5
Deslocamentos [Unidades arbitrrias]
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=0.25 MHz
uz
ux

1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=0.75 MHz
uz
ux

5 2.5 0 2.5 5
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=1.5 MHz
uz
ux

40 20 0 20 40
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=2.5 MHz
uz
ux

Figura 4.4 Deslocamentos referentes ao modo S0 em quatro diferentes pontos da sua curva de disperso.

4 2 0 2 4
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=1.75 MHz
uz
ux

6 4 2 0 2 4 6
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=2 MHz
uz
ux

6 4 2 0 2 4 6
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=2.5 MHz
uz
ux

5 0 5
0.5
0
0.5
E
s
p
e
s
s
u
r
a

[
d
]
f=3 MHz
uz
ux

Figura 4.5 Deslocamentos referentes ao modo A2 em quatro diferentes pontos da sua curva de disperso.
Como se pode observar existem grandes variaes no comportamento dos deslocamentos,
tornando-se cada vez mais complexos conforme avanamos na frequncia. Um dos parmetros
mais importante no uso de ondas de Lamb em CNDU , como j referimos, o deslocamento na
superfcie da placa. Atravs da variao da frequncia, esse parmetro pode ser facilmente
controlado. Na figura 4.4 para uma frequncia de 0.25 MHz o deslocamento in-plane
praticamente constante e dominante em relao ao deslocamento out-of-plane. Quando
avanamos para f=0.75 MHz verifica-se que existe uma alterao radical, pois, o deslocamento
in-plane passou a estar mais concentrado no centro da placa, com um valor quase nulo nas suas
faces, passando por outro lado, o deslocamento out-of-plane, nas faces da placa, a ser dominante.
Para cada ponto da placa o deslocamento genericamente elipsoidal, pois composto por dois
tipos de vibrao nas direces in-plane e out-of-plane, transformando-se num movimento
unidireccional para os casos particulares em que o deslocamento num sentido se anula.

Na figura 4.6 temos dois exemplos desta situao para o modo S0 e para A2, para frequncias de
0.25 MHz e 2 MHz respectivamente, para a placa de alumnio com 3 mm de espessura. Para
cada modo foi feita a normalizao relativamente ao valor mximo de deslocamento. Pode
observar-se com o aumento de profundidade a alterao do sentido da vibrao elipsoidal das
partculas.
Para o modo S0, na metade superior da placa, o sentido contrrio ao verificado na metade
inferior devido alterao de sinal de um dos deslocamentos.
Para o modo A2, atendendo maior complexidade dos seus deslocamentos vo aparecer mais
alteraes no sentido da vibrao das partculas. Apesar de na figura 4.6 para cada uma das
metades da placa a vibrao dos pontos representados ter o mesmo sentido, vamos ter alteraes
de sentido entre pontos consecutivos, conforme se pode confirmar analisando a figura 4.5. Para
no sobrecarregar a figura, esses pontos intermdios no foram representados.
Na figura 4.7, temos um instantneo da representao do deslocamento superfcie de uma
placa, para os modos simtricos e anti-simtricos, considerando o sentido da propagao da
esquerda para a direita (Krautkramer, 1990). Os deslocamentos representados so constitudos
pelo vector soma do movimento in-plane e out-of-plane.

h
0.5
0.25
0
-0.25
-0.5
(a)
(b)

Figura 4.6 Representao do deslocamento para cinco valores de profundidade da placa: (a) S0 (f=0.25
MHz); (b) A2 (f=2 MHz).

Figura 4.7 Representao do deslocamento: modos simtricos (a); modos anti-simtricos (b).
4.2.3 Gerao de ondas de Lamb
Existem vrias formas de gerao de ondas de Lamb, estando provavelmente as mais comuns
ilustradas na figura 4.8. A forma clssica mais simples usa um feixe com a inclinao
apropriada, que pode ser produzido por um transdutor de ondas longitudinais ou de ondas
transversais, e um bloco de acoplamento. Devido converso de modos (L em T e T em L) vo
aparecer no interior da placa ondas longitudinais e transversais. A sua interferncia, em certas
circunstancias, d origem formao de um pacote de ondas que se propaga ao longo da placa.
L T
Transdutor (ondas L)
(a)
(b)

Figura 4.8 Tcnicas de gerao de ondas de Lamb: (a) incidncia oblqua; (b) transdutor comb.

Outra tcnica introduzida ultimamente usa um conjunto de transdutores, cujo funcionamento
anlogo aos agregados para ondas de volume. So os chamados transdutores comb (comb
transducer) (Rose, 1998a). Atravs de um correcto espaamento entre os seus vrios elementos e
do controlo do atraso temporal dos sinais de excitao consegue-se excitar o modo de
propagao desejado na placa. Como vamos usar o primeiro mtodo no decurso deste trabalho,
analis-lo-emos mais em detalhe.
Analogamente aos fenmenos pticos, quando uma onda ultra-sonora atinge uma interface entre
dois meios diferentes com uma determinada inclinao ocorre um fenmeno de refraco, sendo
a onda transmitida para o segundo meio com um inclinao diferente. Os ngulos da onda
incidente (
1
) e transmitida (
2
), formados com a normal, esto relacionados pela conhecida lei
de Snell, dada por

1 2 2 1
sin sin V V = , (4.21)
onde V
1
e V
2
so as velocidades de propagao nos dois meios.
O princpio de funcionamento do mtodo de excitao de ondas de Lamb por intermdio de um
feixe inclinado est relacionado com esta lei. Na prtica, quando pretendemos excitar um modo
de propagao numa placa partimos da sua velocidade de fase, retirada das curvas de disperso,
conhecendo previamente a frequncia utilizada e a espessura da placa. Esse valor da velocidade
de fase (V
F
) vai ser coincidente com V
2
em (4.21), sendo neste caso
2
=90, pois a propagao
efectua-se ao longo da placa. Conhecendo ento o valor de V
1
, que corresponde velocidade de
propagao no bloco de acoplamento (V
A
), pode facilmente ser obtido o ngulo de incidncia ,
de forma a ser gerado o modo de propagao pretendido
) arcsin(
F
A
V
V
= . (4.22)
Do ponto de vista fsico, o fenmeno anterior pode ser entendido atravs da observao da figura
4.9, onde podemos ver o bloco de acoplamento em detalhe. O comprimento de onda no bloco
dado por
A
e o comprimento de onda do modo gerado na placa por
F
. A relao entre eles
dada por

sin
A
F

= , (4.23)

que representa o conhecido princpio da coincidncia. Aps alguma manipulao a expresso
anterior d origem a (4.22).
Conclumos ento que usando a inclinao adequada pode ser gerado numa placa, o modo de
propagao pretendido.
A

Figura 4.9 Princpio da coincidncia.
Em termos prticos, a gerao de ondas de Lamb, usando o princpio da coincidncia vai
depender de dois factores: largura de banda do sinal e divergncia do feixe do transdutor. A
largura de banda do sinal est essencialmente relacionada com o tipo de transdutor utilizado na
excitao e com os seus aspectos construtivos.
A divergncia do feixe definida da seguinte forma
)
22 . 1
arcsin(
D
= , (4.24)
onde o comprimento de onda no meio de propagao considerado e D o dimetro do cristal
activo do transdutor. O ngulo de divergncia medido para cada um dos lados, relativamente
s linhas que delimitam o feixe do transdutor, na figura 4.9. O ngulo de incidncia vai ento
ser substitudo por dois ngulos (+) e (-), que vo originar dois valores para
F
em (4.23) e
consequentemente para V
F
em (4.22).
Vamos analisar uma situao experimental em que pretendemos gerar o modo S0 numa placa de
alumnio com 2 mm de espessura, usando o mtodo de excitao mencionado anteriormente,
com um bloco de acoplamento de acrlico. O primeiro passo o traado das curvas de disperso
da velocidade de fase para o material em causa. Para o mesmo material, as curvas de disperso
mantm o mesmo aspecto com a variao da espessura d, havendo apenas um deslocamento no

eixo das frequncias. Com o aumento de d o deslocamento para a direita e com a sua
diminuio para a esquerda. O traado pode ser feito em funo da frequncia (f) ou do produto
da frequncia pela espessura (fd). Neste caso a figura 4.2 pode ser utilizada com um ajuste no
eixo da frequncia do factor 2/3, referente relao das espessuras. Como queremos gerar
apenas o modo S0 vamos usar a zona da curva que garanta o maior afastamento dos restantes
modos, utilizando um transdutor com frequncia central de 750 kHz. A este valor de frequncia
corresponde, pela curva de disperso, uma velocidade de fase de 5184 m/s. Com a velocidade de
propagao do acrlico de 2760 m/s, vamos obter usando (4.22)

0
1 . 32 )
5184
2760
arcsin( = = . (4.25)
Sabendo que o transdutor tem um dimetro de 25 mm e o comprimento de onda no acrlico para
a frequncia usada de 3.68 mm (=V
A
/f), a divergncia de feixe dada por (4.24)

0
3 . 10 )
25
68 . 3 22 . 1
arcsin( =
= . (4.26)
Os ngulos de incidncia so ento dados por (+)=42.4 e (-)=21.8. Introduzindo estes
valores em (4.22) e resolvendo em ordem a V
F
vamos obter V
F1
=4093 m/s e V
F2
=7431 m/s.
Para determinao do espectro do sinal produzido na placa vamos utilizar o sistema experimental
representado esquematicamente na figura 4.10, onde temos dois transdutores, um emissor, outro
receptor, a funcionarem na configurao pitch and catch. O sistema composto por um
emissor/receptor, que excita o transdutor emissor e recebe a onda de Lamb proveniente do
transdutor receptor, aps esta se ter propagado na placa. Seguidamente, o sinal filtrado,
amplificado e enviado para um osciloscpio digital. No osciloscpio feita a correcta
visualizao do sinal pretendido, sendo posteriormente adquirido pelo computador atravs do seu
porto srie.
Na figura 4.11 est representado o modo S0 no domnio do tempo e frequncia obtido
experimentalmente usando um ngulo de incidncia =32.1. Os limites inferior e superior da
largura de banda so de 0.2 MHz e 1.1 MHz, respectivamente, considerando que -40 dB o
limiar de rudo nesta situao. Vamos ento obter dois pontos que formam uma gama de
frequncias de excitao, em vez de uma s frequncia de excitao. Este facto, associado aos
dois valores de V
F
originados devido disperso de feixe vai conduzir a uma zona de excitao
delimitada por f1 e f2 nas abcissas, e por V
F1
e V
F2
nas ordenadas, representada na figura 4.12.

Emissor
Receptor
Emissor/Receptor
Osciloscpio Computador

Figura 4.10 Representao esquemtica do sistema experimental para gerao de ondas de Lamb numa
placa usando a configurao pitch and catch.
0 10 20 30 40
0.2
0.15
0.1
0.05
0
0.05
0.1
0.15
0.2
Tempo [ s]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]

0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
70
60
50
40
30
20
10
0
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
d
B
]

(a) (b)
Figura 4.11 Modo S0 numa placa de alumnio com 2 mm de espessura: (a) domnio do tempo; (b)
domnio de frequncia.
0.5 1 1.5 2 2.5 3
0
1
2
3
4
5
6
7
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
VF1
VF2
f1
f2
Zona de
excitao

Figura 4.12 Zona de excitao obtida numa placa de alumnio com espessura de 2mm, usando um
transdutor com frequncia central de 750 kHz e um bloco de acoplamento de acrlico.

Esta zona de excitao de importncia fundamental, especialmente quando queremos
propagao monomodo, pois ela que vai definir os modos introduzidos na placa.
Outro aspecto importante, relacionado com a gerao de ondas de Lamb atravs do mtodo da
coincidncia, tem a ver com a variao do grau de excitabilidade de cada modo, dentro da zona
de excitao determinada anteriormente, a que vamos chamar funo F
G
. Para isso vo
contribuir dois factores: o contedo espectral do sinal e a variao da presso acstica
relativamente ao eixo do transdutor, ou seja, o seu diagrama de radiao. Para a nossa situao
prtica, o contedo espectral foi j analisado e est representado na figura 4.11 (b). Para a
determinao do diagrama de radiao do transdutor vamos usar a conhecida expresso
(Krautkramer, 1990)

X
X J ) (
2 ) (
1
0
= , (4.27)
onde () a presso acstica,
0
a presso acstica no eixo do transdutor, J
1
a funo de Bessel
de 1 ordem e X dado por
sin
=
D
X , (4.28)
com D o dimetro do transdutor, o comprimento de onda no meio de propagao e o ngulo
medido relativamente ao eixo do transdutor. Para o nosso transdutor de 750 kHz, a radiar no
acrlico, os traados rectangular e polar esto representados na figura 4.13. No traado
rectangular verifica-se que os zeros da funo adjacentes ao seu mximo, que definem o lobo
principal do diagrama de radiao vo coincidir, como era de esperar, com o valor da
divergncia de feixe obtido em (4.26). Os lobos secundrios geralmente no so considerados,
devido sua baixa amplitude relativamente ao lobo principal. Neste exemplo, o mximo do
primeiro lobo secundrio vale cerca de 10% do mximo do lobo principal, ou seja, considerando
transdutores iguais na emisso e recepo, o valor da amplitude obtida na recepo para essa
direco de cerca de 1% do valor mximo, o que pode ser perfeitamente desprezvel.
Conjugando os andamentos do diagrama de radiao e do contedo espectral do sinal gerado
vamos obter, ento, um traado tridimensional dentro da zona de excitao dado pela figura 4.14.
Outro tipo de visualizao interessante o traado das suas curvas de nvel apresentado na figura
4.15. Comparando com a curva de disperso 4.12 podemos verificar que, efectivamente, o

mximo de F
G
coincide com o modo S0, conforme pretendido, no sendo excitado mais nenhum
modo adicional.
50 0 50
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
[Graus]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

d
a

p
r
e
s
s
o

a
c
s
t
i
c
a

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a

=0

(a) (b)
Figura 4.13 Diagrama de radiao do transdutor: (a) traado rectangular; (b) traado polar.
Pelo exposto, podemos constatar que, quando usamos o mtodo da coincidncia para gerao de
ondas de Lamb e queremos garantir propagao monomodo de extrema importncia a definio
da zona de excitao e a da funo F
G
.
0.2
0.4
0.6
0.8
1
4
5
6
7
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
F
re
q
u
n
c
ia
[M
H
z
]
V
e
lo
c
id
a
d
e

d
e

fa
s
e
[
K
m
/s
]

Figura 4.14 Funo F
G
dentro da zona de excitao.

0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1 1.1
4.5
5
5.5
6
6.5
7
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]

Figura 4.15 Curvas de nvel representando F
G
e curva de disperso do modo S0.
4.2.4 Identificao dos modos de propagao
De uma forma geral, a medio da velocidade de sinais ultra-sonoros possvel usando o mtodo
do tempo de voo. Considerando a diferena temporal entre dois sinais recolhidos em diferentes
localizaes, facilmente obtemos a velocidade de propagao se a forma do sinal no se alterar.
Para sinais dispersivos, como o caso das ondas de Lamb, esse tipo de anlise no domnio
temporal no possvel. ento necessrio utilizar mtodos no domnio da frequncia para uma
correcta determinao da velocidade de fase e, consequente, identificao do modo de
propagao em causa. Um dos mtodos mais usados o da fase do espectro (phase spectrum)
(Sachse, 1978), onde a velocidade de fase dada por

=
L f
V
F
2
, (4.29)
sendo f a frequncia e a diferena de fase entre dois sinais recolhidos em dois pontos que
diferem entre si a distncia L.
Outro mtodo o da amplitude do espectro (amplitude spectrum) (Pialucha, 1989), onde os dois
sinais utilizados no mtodo anterior so somados e aplicada a transformada de Fourier ao seu
conjunto. Neste caso a velocidade de fase dada por

n
f L
V
n
F
= , (4.30)
S0

onde f
n
a frequncia do pico na ensima ressonncia e n o ordinal dessa mesma ressonncia.
Se for efectuada uma subtraco dos sinais em lugar de uma soma aparecem vales a substituir os
picos no espectro obtido.
A diferena entre estes dois mtodos reside no facto de um fornecer o resultado em termos de
pontos discretos (amplitude do espectro) e o outro originar uma funo contnua (fase do
espectro).
Para exemplificar a aplicao destes dois mtodos vamos continuar com a anlise da placa de
alumnio de 2 mm de espessura, usada no ponto anterior, utilizando o modo S0. Na figura 4.16
podemos ver os transdutores utilizados e os respectivos blocos de acoplamento para recolha dos
dois sinais. Os sinais, designados por a
1
e a
2
so recolhidos pelo transdutor receptor, a 100 e 120
mm do emissor, respectivamente.
No mtodo da fase do espectro necessrio determinar a diferena de fase entre os dois sinais
envolvidos, e para isso, temos de conhecer a fase de cada um deles.
A transformada de Fourier aplicada a um sinal no domnio do tempo u(t) d origem, como
sabido, a uma grandeza complexa U =U
1
+iU
2
. O contedo espectral de u(t) dado pelo mdulo
dessa grandeza

2
2
2
1
) ( U U f G + = , (4.31)
enquanto a fase dada por
) ( tan ) (
1
2 1
U
U
f

= . (4.32)

Figura 4.16 Transdutores e blocos de acoplamento.

Na figura 4.17 temos representadas as fases de a
1
e a
2
obtidas directamente usando a expresso
(4.32). O algoritmo de clculo limita o traado entre - e radianos (reduo ao primeiro e
quarto quadrante), o que d origem a descontinuidades na frequncia para mltiplos de 2 na
fase. Para resolver este problema necessrio desembrulhar a funo (unwrap), que consiste na
subtraco de 2 no valor da fase em cada uma dessas descontinuidades, para que a funo se
torne contnua. O resultado apresentado na figura 4.18 (a).
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
4
3
2
1
0
1
2
3
4
Frequncia [MHz]
F
a
s
e

[
R
a
d
]

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
4
3
2
1
0
1
2
3
4
Frequncia [MHz]
F
a
s
e

[
R
a
d
]

(a) (b)
Figura 4.17 Fase dos sinais envolvidos na determinao da velocidade de fase: (a) a
1
; (b) a
2

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
160
140
120
100
80
60
40
20
0
Frequncia [MHz]
F
a
s
e

[
R
a
d
]
sinal a1
sinal a2

0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
140
120
100
80
60
40
20
0
Frequncia [MHz]
F
a
s
e

[
R
a
d
]
sinal a1
sinal a2

(a) (b)
Figura 4.18 Fase dos sinais envolvidos na determinao da velocidade de fase depois de aplicado o
algoritmo de unwrap: (a) traado original; (b) traado corrigido.
Como se pode observar pela figura 4.17, fora da banda passante, o traado da fase tem um
aspecto bastante irregular devido baixa relao S/R. Particularmente nas baixas frequncias,
esse facto vai dar origem a problemas quando da aplicao do algoritmo de unwrap. As

variaes da fase por influncia do rudo fazem com que seja introduzido um maior nmero de
mltiplos de 2 do que na realidade deveria, dando origem a valores errados quando do clculo
das diferenas de fase. Para resolver essa situao temos de estimar, para cada um dos sinais, o
intervalo de frequncia entre duas descontinuidades na banda passante, admitindo que esses
intervalos so constantes dentro dessa banda. Como a diferena de fase e, consequentemente, a
velocidade de fase vo ser determinadas apenas dentro da banda passante vamos verificar
quantas descontinuidades deveriam existir at f=0 Hz, partindo do ponto inicial da banda
passante, que no nosso caso 0.2 MHz.
Para o sinal a
1
temos um intervalo entre descontinuidades de cerca de 0.15 MHz, o que d
origem a apenas uma descontinuidade desde 0.2 MHz a 0 Hz. Para o sinal a
2
, o intervalo de de
cerca de 0.1 MHz, conduzindo a duas descontinuidades. Temos ento que, para f=0.2 MHz, as
fases corrigidas so dadas por

, 4 '
, 2 '
2 2
1 1

=
=
(4.33)
estando representadas na figura 4.18 (b). A diferena de fase corrigida dada ento por
2 '
2 1
'
2
1
'
+ = = . (4.34)
Para aplicar o mtodo da amplitude do espectro subtramos os sinais a
1
e a
2
e, posteriormente,
calculamos o espectro do seu conjunto. O resultado apresentado na figura 4.19.
0 10 20 30 40
0.2
0.1
0
0.1
0.2
0.3
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
Tempo [ s]

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
1
2
3
4
5

(a) (b)
Figura 4.19 Subtraco dos sinais a
1
e a
2
: (a) domnio do tempo; (b) domnio da frequncia.

Usando depois (4.30) vamos obter, para cada um dos pontos assinalados (de 1 a 5), os
correspondentes valores da velocidade de fase.
Na figura 4.20 temos, finalmente, a comparao entre o traado da velocidade de fase obtido
pelos dois mtodos experimentais analisados e a correspondente curva terica. Como pode
observar-se os resultados obtidos pelos dois mtodos so coincidentes. A concordncia com os
valores tericos tambm muito boa, sendo as discrepncias inferiores a 2% devido,
essencialmente, a variaes locais das propriedades da placa de alumnio, nomeadamente das
suas velocidades volumtricas.
0.2 0.4 0.6 0.8 1
4
4.5
5
5.5
6
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]

Fase do espectro
Amp. do espectro
Teoria

Figura 4.20 Traado da experimental da velocidade de fase usando os mtodos da fase e amplitude de
espectro em comparao com o traado terico.
Devido localizao da zona de excitao ou outros factores, como por exemplo, a converso de
modos em defeitos ou em interfaces podemos ter vrios modos a propagarem-se em simultneo
numa placa. Nesta situao, os mtodos descritos anteriormente para medio da velocidade de
fase no podem ser usados, sendo necessrio recorrer transformada de Fourier bidimensional
(2DFFT) (Alleyne, 1991).
Para a aplicao desta transformada vamos partir da expresso genrica de uma onda de Lamb,
que pode ser definida como
) ( exp( ) ( ) , ( = kx t i A t x u , (4.35)
onde A() uma constante dependente da frequncia angular . Pela equao (4.35) podemos
verificar que o seu comportamento sinusoidal no domnio do tempo e do espao (ao longo da
direco de propagao). Se tivermos um conjunto de sinais recolhidos em pontos equidistantes

da placa, podemos estabelecer uma transformao de Fourier do domnio do tempo para a
frequncia e, seguidamente, uma transformao do domnio do espao para o seu domnio
inverso, que corresponde constante de propagao k. Como veremos frente, com este tipo de
grfico f/k possvel medir, individualmente, a amplitude de cada um dos modos de propagao.
Na prtica temos ento que a 2DFFT dada por
dt dx t kx i t x u f k H )) ( exp( ) , ( ) , ( + =

+

+

. (4.36)
Em termos computacionais vamos aplicar a 2DFFT a uma matriz com m por n pontos, em que m
representa o nmero de pontos de cada um dos sinais e n o nmero de sinais recolhidos.
Inicialmente aplicada a transformada de Fourier aos sinais no domnio do tempo, ficando as
colunas da matriz com a informao espectral dos vrios sinais. Seguidamente aplicada a
transformada de Fourier s linhas da matriz anterior, dando origem a uma matriz que relaciona o
espectro dos vrios sinais com a sua constante de propagao (f/k).
A transformada de Fourier de um sinal amostrado com uma frequncia f
a
tem um aspecto
simtrico, relativamente a f
a
/2 (funo tipo espelho). Este facto, vai dar origem a que na
transformada bidimensional, como a operao efectuada sobre dois eixos perpendiculares, essa
simetria aparea em relao a um ponto que tem como abcissa e ordenada, metade das
respectivas frequncias de amostragem (temporal e espacial). Para resolver esse problema temos
que aplicar um algoritmo de inverso dos dados obtidos, para haver concordncia com o traado
terico.
Finalmente, para melhor evidenciar a zona de interesse do nosso traado conveniente aplicar
janelas de Hanning aos dados da matriz.
Para exemplificar a aplicao da 2DFFT vamos usar uma placa de alumnio com 3 mm de
espessura (V
L
=6300 m/s, V
T
=3130 m/s) e um sistema experimental similar ao usado
anteriormente para gerar o modo S0 (figura 4.10). Como necessrio efectuar a recolha de
vrios sinais, para garantir o mesmo acoplamento os blocos de acrlico foram substitudos por
pequenos recipientes estanques, sendo agora o acoplamento efectuado por intermdio de gua.
Os transdutores usados tm uma frequncia central de 500 kHz. Para estes valores de frequncia
e espessura, usando as curvas de disperso, vamos obter para a velocidade de fase V
F
=5214 m/s.
Introduzindo este valor em (4.22), sendo agora o material de acoplamento a gua com V
A
=1500
m/s, o ngulo de incidncia obtido de 16.7.
Seguidamente foram recolhidos 32 sinais com espaamento de 1 mm entre si. Cada um dos
sinais adquirido com 2500 pontos. Para melhorar a definio do traado foram acrescentados

zeros (zero padding) matriz original. No domnio do tempo passmos a ter 5120 pontos e no
domnio espacial 128. Depois de aplicado o algoritmo descrito vamos obter a figura 4.21, onde
podemos ver o traado 3D normalizado da 2DFFT.
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
0
500
1000
1500
2000
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
F
re
q
u
n
c
ia
[M
H
z
]
C
o
n
s
t
a
n
te
d
e
p
r
o
p
a
g
a
o
[
1
/m
]

Figura 4.21 Traado da 2DFFT do modo S0 obtido experimentalmente.
Para validar os dados experimentais temos de resolver as equaes de Rayleigh-Lamb dadas por
(4.1) e (4.2), de forma a obter um traado que relacione a constante de propagao k com a
frequncia f. O procedimento anlogo ao do ponto 4.2.1, sendo o resultado apresentado para os
trs primeiros modos na figura 4.22 (a). A comparao entre o comportamento terico do modo
S0 e as curvas de nvel obtidas a partir da 2DFFT mostrado na figura 4.22 (b). Como se pode
observar a concordncia perfeita.
No exemplo apresentado, como ambos os transdutores estavam sintonizados na emisso e na
recepo para o modo S0, a possvel existncia de outros modos no era detectvel. Nesta
situao, o uso dos mtodos da amplitude ou da fase do espectro descritos anteriormente
poderiam, tambm, ser usados para a identificao do modo em causa.
Vamos agora analisar uma situao onde temos os modos S0 e A0 em simultneo. Atendendo
frequncia central do transdutor e espessura da placa usadas neste exemplo, 500 kHz e 3 mm
respectivamente, as curvas de disperso vo ser anlogas, pois o produto fd mantm-se (no
exemplo anterior a frequncia era de 750 kHz e a espessura de 2 mm). Pelas curvas de disperso
verificamos que A0 tem uma velocidade de fase V
F
=2566 m/s para a frequncia central. Usando
(4.22) determinamos o ngulo de incidncia para excitao de A0, que de 35.8. A diferena
entre este ngulo e o ngulo de excitao ptima de S0, determinado anteriormente, 35.8-

16.7=19.1, ou seja, em termos prticos, ao excitar o modo S0 com o valor mximo do lobo
principal do diagrama de radiao estamos tambm a excitar o modo A0 com um valor residual
correspondente a um lobo secundrio.
0 0.2 0.4 0.6 0.8
0
400
800
1200
1600
2000
Frequncia [MHz]
C
o
n
s
t
a
n
t
e

d
e

p
r
o
p
a
g
a
a
o

[
1
/
m
]
A0
S0
A1

0.2 0.4 0.6 0.8
0
400
800
1200
1600
2000
Frequncia [MHz]
C
o
n
s
t
a
n
t
e

d
e

p
r
o
p
a
g
a
o

[
1
/
m
]

(a) (b)
Figura 4.22 Curvas de disperso f/k para uma placa de alumnio com 3 mm de espessura: (a) traado
terico; (b) comparao entre os dados experimentais obtidos pela 2DFFT e curva terica referente a S0.
Na figura 4.23 temos representado o diagrama de radiao normalizado, referente aos
transdutores usados, onde podemos ver que para um ngulo, relativo ao centro do transdutor, de
19.1 a amplitude de presso acstica vale cerca de 6.4% do seu valor mximo. Se no receptor
tivermos a mesma inclinao, a amplitude detectada de A0 ser igual ao produto dos dois
factores 0.064, ou seja, cerca de 0.4% do valor de S0, sendo por esse facto indetectvel. Se, pelo
contrrio, o receptor for sintonizado para a recepo de A0 vamos obter um fenmeno inverso do
anterior, ou seja, aplicamos o factor 0.064 ao valor unitrio de S0 e um valor unitrio ao factor
0.064 referente a A0, dando origem a uma representao dos dois modos, devendo-se as
diferenas das suas amplitudes apenas a fenmenos de propagao.
Na figura 4.24 temos a representao tridimensional da 2DFFT e a comparao com o traado
terico. Como tnhamos previsto existem, efectivamente, na placa os dois modos mencionados,
estando os resultados perfeitamente de acordo com a teoria. A tcnica apresentada revela-se
bastante precisa, tanto na correcta identificao dos diferentes modos, como nas suas medidas
quantitativas.

80 60 40 20 0 20 40 60 80
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
[Graus]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

d
a

p
r
e
s
s
o

a
c
s
t
i
c
a

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a

Figura 4.23 Diagrama de radiao do transdutor.
0
0.5
1
0
500
1000
1500
2000
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
F
re
q
u
n
cia
[M
H
z
]
C
o
n
s
ta
n
te
d
e
p
ro
p
a
g
a
o
[1
/m
]

0.2 0.4 0.6 0.8
0
400
800
1200
1600
2000
Frequncia [MHz]
C
o
n
s
t
a
n
t
e

d
e

p
r
o
p
a
g
a
o

[
1
/
m
]

(a) (b)
Figura 4.24 Traado da 2DFFT com emissor sintonizado para S0 e o receptor para A0: (a) tridimensional;
(b) curvas de nvel comparadas com curvas tericas.
4.3 Ondas de Lamb de fugas (leaky Lamb waves)
Se uma placa estiver imersa num fluido, as ondas de Lamb produzidas no seu interior do origem
a perdas de energia radiada atravs do prprio fluido. As ondas formadas no fluido, atendendo
sua origem, so chamadas ondas de Lamb de fugas (leaky Lamb waves - LLW). A direco da
radiao destas ondas obtida pela aplicao da lei de Snell de forma anloga ao ponto 4.2.3, ou
seja, aplicando o princpio da coincidncia dado por (4.22), sendo agora o material de
acoplamento o fluido. Usando o mesmo princpio podemos injectar uma onda de Lamb na placa,
atravs de uma onda longitudinal no fluido.
S0
A0

Para a maior parte das aplicaes, como a impedncia acstica do fluido muito menor do que a
do material a analisar, as variaes do comportamento da velocidade de fase so bastante
pequenas, quando comparadas com os valores obtidos numa placa do vazio. J no que diz
respeito atenuao devido s fugas para o fluido, esta fortemente dependente da relao entre
os deslocamentos existentes nas faces da placa. Normalmente maximizada se o valor do
deslocamento out-of-plane mximo e tende para zero quando o deslocamento tem um valor
mnimo. Na prtica, para garantir propagao de um determinado modo a grandes distncias
temos de minimizar a relao entre o deslocamento out-of-plane e o deslocamento in-plane.
A grande vantagem no uso de LLW, relativamente s ondas de Lamb, tem a ver com o facto de
garantirmos o mesmo acoplamento para diferentes medidas, o que nos permite relacionar
quantitativamente essas mesmas medidas.
4.3.1 Equaes de disperso para uma placa imersa num fluido
Para determinar as equaes de disperso de uma placa imersa num fluido vamos usar a
metodologia do apndice B.1, que parte da existncia de um potencial escalar e um potencial
vector e do estabelecimento das condies fronteiras (mtodo dos potenciais).
O fluido que envolve a placa, atendendo a que no pode suportar ondas transversais, pode ser
modelado por dois potenciais escalares, correspondentes aos semi-espaos superior e inferior,
dados respectivamente por

)), ( ( exp ) exp((
)), ( ( exp ) ( exp(
2 2
1 1
t x k i z i C
t x k i z i C
f F
f F

=
=
(4.37)
onde C
1
e C
2
so constantes, k
f
constante de propagao no fluido e definido como

2
2
2
f
f
k
V
=

, (4.38)
sendo V
f
a velocidade das ondas longitudinais no fluido.
Para ) ( h z = vamos obter usando (B.17) o deslocamento e a presso, que aps algumas
simplificaes so dados por

, ) exp(
), exp(
1
2
1
h i C
h i C i u
f zz
z

=
=
) ( h z + = (4.39)

, ) exp(
), exp(
2
2
2
h i C
h i C i u
f zz
z

=
=
) ( h z = (4.40)
onde
f
a massa especfica do fluido e por convenincia omitido o termo exp(i(k
f
x-t) em
todas as expresses.
As condies fronteiras impem continuidade de u
z
,
xx
e
xz
. Aplicando novamente (B.17),
vamos obter para h z + = e para h z = , respectivamente
, 0 ) cos( ) ( ) sin( ) ( ) sin( 2 ) cos( 2
, 0 ) exp( ) sin( 2 ) cos( 2
) cos( ) ( ) sin( ) (
, 0 ) exp( ) cos( ) sin( ) sin( ) cos(
2
2 2
1
2 2
2 1
1
2
2 1
2
2 2
1
2 2
1 2 1 2 1
= + +
= + +
+
= + + +
B qh k q B qh k q A ph ikp A ph ikp
h i C B qh ikq B qh ikq
A ph k q A ph k q
h i C i B qh k i B qh k i A ph p A ph p
f

(4.41)
. 0 ) cos( ) ( ) sin( ) ( ) sin( 2 ) cos( 2
, 0 ) exp( ) sin( 2 ) cos( 2
) cos( ) ( ) sin( ) (
, 0 ) exp( ) cos( ) sin( ) sin( ) cos(
2
2 2
1
2 2
2 1
2
2
2 1
2
2 2
1
2 2
2 2 1 2 1
= + +
= + + +
+
= + +
B qh k q B qh k q A ph ikp A ph ikp
h i C B qh ikq B qh ikq
A ph k q A ph k q
h i C i B qh k i B qh k i A ph p A ph p
f

(4.42)
As equaes anteriores formam um sistema homogneo com seis equaes e seis constantes
desconhecidas (A
1
, A
2
, B
1
, B
2
, C
1
e C
2
). Para esse sistema ter soluo diferente da trivial, o
determinante da matriz dos coeficientes tem de ser nulo. Aps alguma manipulao dos termos
da matriz, nomeadamente da diviso das duas ltimas colunas pelo termo exp(-ih) e pela
separao entre modos simtricos e anti-simtricos, vamos obter as equaes de disperso dadas
por

. 0 ) cot( 4
) tan(
) tan(
) (
, 0 ) tan( 4
) tan(
) tan(
) (
4
4
2 2 2 2
4
4
2 2 2 2
= + +
= +
qh
V
p i
pq k
qh
ph
k q
qh
V
p i
pq k
ph
qh
k q
T
f
T
f

(4.43)
Comparando com as equaes de disperso de uma placa no vazio dadas por (4.1) e (4.2)
verificamos a existncia de um terceiro termo, que est relacionado com as perdas de energia
para o fluido circundante. Resolvendo as equaes em ordem velocidade de fase, as suas
solues aparecem genericamente sob a forma complexa.

Assumindo que as perdas para o fluido, para a maior parte dos materiais homogneos, podem ser
modeladas pelo modelo viscoelstico de Kelvin-Voight (Bernard, 2001), a parte real das solues
coincide com a velocidade de fase e a parte imaginria est relacionada com a atenuao, que por
sua vez linearmente proporcional frequncia.
Na figura 4.25 temos o traado comparativo da velocidade de fase do modo S0 para a placa
analisada no ponto anterior, no vazio e imersa em gua. Como se pode observar o andamento das
duas curvas muito similar, sendo as discrepncias mximas inferiores a 1%. Para os outros
modos verificou-se que as diferenas entre o comportamento das velocidades era da mesma
ordem de grandeza, podendo, ento, concluir-se, que do ponto de vista qualitativo, o mtodo de
imerso pode ser usado, desde que a atenuao devido a fugas para o fluido no seja limitativa.
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
3
3.5
4
4.5
5
5.5
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
Vazio
Imerso

Figura 4.25 Velocidade de fase do modo S0 para uma placa de alumnio com 3 mm de espessura no vazio
e imersa em gua.
4.3.2 Atenuao devido a perdas para o fluido
Os efeitos da atenuao sejam eles devido s caractersticas do meio, ou como anteriormente,
devido a perdas de energia para o meio circundante, podem ser analisados considerando a
propagao genrica de uma onda em termos do seu deslocamento
)) ( exp( t kx i A u = . (4.44)
Separando a constante de propagao k em parte real k
r
, e imaginria k
i
, a equao toma a
seguinte forma

) exp( )) ( exp( x k t x k i A u
i r
= , (4.45)
onde o primeiro termo exponencial representa a propagao harmnica e o segundo um
decaimento exponencial da onda. Como estamos interessados em resolver as equaes (4.43) em
ordem s velocidades complexas, podemos exprimir k como

i r
iV V V
k
+
= =

. (4.46)
A expresso anterior pode ser simplificada de forma a obter

2
) ( 1
1
r
i
r
i
r
V
V
V
V
i
V
k
+
=

, (4.47)
como geralmente V
i
V
r
temos que
2
) ( 1
r
i
V
V
, ou seja, o denominador aproximadamente unitrio,
logo k dado por

2
r
i
r
V
V
i
V
k

= , (4.48)
ou seja

.
,
2
r
i
i
r
r
V
V
k
V
k
= =
=
(4.49)
Verifica-se ento, que a parte real da velocidade V
r
coincide com a velocidade de fase V
F
, como
tinha sido mencionado anteriormente. O coeficiente de atenuao k
i
, tambm conhecido como
dado pela relao apresentada, que envolve a frequncia angular e as partes real e imaginaria
da velocidade, com as suas unidades dadas em Np/m.
Podemos confirmar que o coeficiente de atenuao proporcional frequncia, sendo a
expresso (4.49), aps simplificao, equivalente a

2
r
i
V
V
= , (4.50)
com as unidades em Np/(comprimento de onda).
Na figura 4.26 temos o andamento da atenuao devido a fugas, referente aos modos
fundamentais S0 e A0, na placa de alumnio com 3 mm de espessura imersa em gua, referida
em 4.2.4. Como podemos verificar existem grandes variaes dos valores da atenuao com a
frequncia, sendo de extrema importncia um conhecimento prvio da sua evoluo, para uma
correcta seleco da frequncia e do modo a usar em testes com LLW. De notar, que o modo A0
s existe a partir de um valor de frequncia aproximadamente igual a 0.15 MHz, pois para
valores inferiores a essa frequncia, a sua velocidade de fase inferior velocidade de
propagao na gua, o que contraria o princpio da coincidncia que nos diz, segundo (4.22), que
V
F
>V
A
.
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
0
50
100
150
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
/
m
]
A0
S0

Figura 4.26 Atenuao dos modos fundamentais devido a perdas para o fluido numa placa de alumnio
imersa em gua.
Outra das formas para verificar a maior ou menor capacidade de um modo se propagar numa
placa imersa atravs da anlise dos deslocamentos nas suas faces. A figura 4.27 mostra a
relao entre esses deslocamentos (out-of-plane e in-plane) obtidos de forma anloga ao ponto
4.2.2, em funo da frequncia, para o modo S0. Como seria de esperar, o aspecto da curva
bastante similar curva de atenuao do modo S0 representado na figura 4.26, pois as perdas
para o fluido esto directamente relacionadas com o tipo de deslocamento das partculas em
contacto com esse fluido.

A influncia do fluido nos deslocamentos na placa pode ser determinada da mesma forma que
para uma placa no vazio, usando os valores das velocidades complexas, obtidos das curvas de
disperso. Os deslocamentos so agora complexos, sendo a sua parte real praticamente
coincidente com os valores para uma placa no vazio. Nas situaes analisadas (S0 e A0) as
diferenas so inferiores a 1%. Do ponto de vista fsico, a existncia destes valores complexos
representa uma rotao dos eixos das elipses formadas pelos deslocamentos visualizados na
figura 4.6, relativamente ao referencial do sistema.
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2
0
1
2
3
4
5
6
Frequncia [MHz]
U
z
/
U
x

[
U
n
i
d
a
d
e
s

a
r
b
i
t
r
r
i
a
s
]

Figura 4.27 Relao entre deslocamentos out-of-plane e in-plane nas faces da placa para o modo S0.
Para testes experimentais usando LLW foi concebido o sistema visualizado na figura 4.28. Do
ponto de vista da instrumentao, o sistema anlogo ao usado em 4.2.3 para gerao de ondas
de Lamb numa placa no vazio por contacto. Adicionalmente, temos agora um tanque, onde so
colocadas as placas que pretendemos testar e um sistema mecnico que permite movimentos de
ambos os transdutores em relao aos trs eixos x, y e z. Acoplado a cada um dos transdutores
temos ainda andares de rotao, que permitem seleccionar a inclinao adequada para gerao e
recepo do modo de propagao pretendido usando o mtodo pitch and catch.
No modelo terico anterior no tida em conta a atenuao intrnseca na placa provocada pelos
factores mencionados em 2.5 (absoro e disperso). O efeito desses valores na atenuao total,
quando comparados com a atenuao devido a fugas para o fluido, no muito significativo. A
estratgia para a sua determinao passa pela obteno da atenuao das ondas longitudinais (
L
)
e transversais (
T
), e com estes valores, substituindo na segunda equao de (4.49) e resolvendo
em ordem V
i
, obter dois valores que representam a parte imaginria das novas velocidades

longitudinal e transversal complexas. Substituindo as velocidades nas equaes de disperso
(4.43) vamos obter as novas velocidades de fase complexas, que conduzem atenuao total.

Figura 4.28 Sistema experimental para testes usando LLW.
A determinao experimental de
L
e
T
feita usando o mtodo pulso-eco por contacto em
incidncia perpendicular (apndice C). Para este mtodo a atenuao dada por
) ( ln
2
1
1
n
n
A
A
R
L
+
= , (4.51)
onde L a espessura do material, R o coeficiente de reflexo entre o transdutor e o material e
A
n+1
e A
n
so dois sinais consecutivos do fundo do material. As suas unidades so dadas em
Np/m.
O coeficiente de reflexo obtido por

1 2
1 2
Z Z
Z Z
R
+
= , (4.52)
Transdutores
Placa a
testar
Eixos de translao
xyz
Eixos de
rotao

em que Z
1
e Z
2
so as impedncias acsticas dos meios considerados.
Para a placa de alumnio de 3 mm de espessura, usando um transdutor com frequncia central de
500 kHz foram obtidos, experimentalmente, valores para a atenuao de
L
=0.5 Np/m e
T
=2
Np/m. Substituindo estes valores em (4.49) vamos obter as partes imaginrias das velocidades, o
que d origem aos valores das velocidades complexas V
L
*
=6300-i6.7 m/s e V
T
*
=3130-i6.3 m/s,
cujas partes reais vo coincidir com as velocidades longitudinal e transversal caractersticas do
material.
Para determinar experimentalmente a atenuao total das LLW na placa imersa vamos utilizar o
sistema apresentado na figura 4.28. Recolhendo dois sinais a
1
e a
2
, com amplitudes A
1
e A
2
,
respectivamente, espaados de uma distncia L, a atenuao em Np/m dada por
) ( ln
1
2
1
A
A
L
LLW
= . (4.53)
Se em vez das amplitudes dos sinais forem usados os seus espectros, vamos obter, de uma forma
anloga a 3.4.1.4, o andamento da atenuao em funo da frequncia. Na figura 4.29 temos os
espectros dos dois sinais considerados e a atenuao obtida aplicando (4.53) dentro da banda
passante dos transdutores.
0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
a
1
a
2

0.3 0.4 0.5 0.6
0
5
10
15
20
25
30
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
a
o

[
N
p
/
m
]

(a) (b)
Figura 4.29 (a) Espectros dos sinais a
1
e a
2
; (b) Atenuao em funo da frequncia.
Finalmente, temos na figura 4.30, a comparao entre os valores tericos da atenuao e os
valores obtidos experimentalmente. A atenuao terica, como j foi referido, obtida
substituindo os valores das velocidades nas equaes de disperso (4.49). Para V
L
e V
T
vamos
obter a atenuao devido a fugas, e para V
L
*
e V
T
*
a atenuao total, que inclui tambm os efeitos

de amortecimento do prprio material. Como se pode constatar, a concordncia entre a atenuao
terica total e experimental muito boa, podendo verificar-se, tambm, a importncia relativa de
cada um dos tipos de atenuao.
0.3 0.35 0.4 0.45 0.5 0.55 0.6
0
5
10
15
20
25
30
Frequncia [MHz]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
/
m
]
Experimental
Terico (fugas)
Terico (total)

Figura 4.30 Valores tericos e experimentais da atenuao do modo S0 para uma placa imersa.
4.4 Deteco e caracterizao de defeitos em placas de
alumnio
Em vrias reas da engenharia industrial como a petroqumica, aeronutica ou naval existem
estruturas de grandes dimenses, como por exemplo: tanques e tubagens para armazenamento e
transporte de produtos qumicos, estruturas de avies ou cascos de navios. As inspeces destas
grandes reas, na tentativa de deteco de fendas ou corroso muito morosa e, por
consequncia, economicamente dispendiosa, devido ao facto dos mtodos convencionais
requererem uma inspeco bidimensional ponto a ponto de toda a estrutura. O uso de ondas de
Lamb potencialmente uma soluo bastante atractiva para este problema, pois estas podem ser
produzidas num determinado ponto da estrutura e propagarem-se a distncias considerveis com
perdas reduzidas, sendo reflectidas em qualquer defeito existente no material.
Para comprovar as potencialidades das ondas de Lamb no campo da deteco e caracterizao de
defeitos em placas vamos, neste ponto do trabalho, fazer a anlise experimental de vrios tipos
de defeitos simulados artificialmente em placas de alumnio com 3 mm de espessura. So
utilizados os modos fundamentais S0 e A0, devido essencialmente sua melhor discriminao
para valores da baixa frequncia, conforme se pode verificar pelas curvas de disperso analisadas
em 4.2.1, o que implica a utilizao de transdutores com frequncia central de 500 kHz.

4.4.1 Seleco do sistema experimental
O sistema experimental para gerao de ondas nas placas similar ao das figuras 4.10 ou 4.28
(contacto ou imerso) que usam uma configurao pitch and catch, podendo, igualmente, usar
apenas um transdutor a funcionar como emissor e receptor (pulso-eco). Na figura 4.31 temos as
suas variantes, em funo do tipo de acoplamento usado.
Pulser / Receiver Osciloscpio Computador
Subsistema
placa/transdutores
Emissor Receptor
(a)
(b)
(c)
(d)

Figura 4.31 Sistemas experimentais para gerao de ondas de Lamb.
Em (a) e (b) temos os mtodos j mencionados anteriormente por contacto (MC) e por imerso
(MI). Em (c) temos o chamado mtodo por imerso em meio espao (MIME), que uma variante
do MI estando, neste caso, apenas uma das superfcies da placa em contacto com a gua. Para o
efeito usa-se um tanque sem fundo, com comprimento aproximadamente igual mxima
distncia possvel entre os transdutores. Finalmente, em (d), apresentado um mtodo j usado
em 4.2.4, aquando da obteno da 2DFFT, a que vamos chamar de mtodo por imerso local
(MIL). Neste caso usamos dois pequenos tanques com gua onde vai ser feito o acoplamento
com a placa, sendo o contacto da placa com o fluido quase inexistente. Nas duas ltimas
situaes a parte inferior das paredes laterais dos tanques tem de ser vedada com uma substncia
pastosa (massa lubrificante ou vaselina) de forma a evitar fugas de gua. Exceptuando MC, todos
os outros mtodos contm acoplados aos transdutores andares de rotao que permitem a
seleco dos ngulos de incidncia.
Alguns aspectos prticos que veremos seguidamente tm de ser tomados em considerao, de
forma a seleccionar correctamente o sistema mais adequado (Santos, 2004).

4.4.1.1 Versatilidade e reprodutibilidade
A versatilidade um parmetro importante relacionado com a escolha de determinado sistema
experimental quando queremos efectuar diferentes tipos de medidas. Se pretendemos efectuar a
anlise do efeito de diferentes modos de propagao numa placa, o MC altamente limitativo,
pois ambos os transdutores necessitam de inclinaes diferentes, o que no permitido pelos
blocos de acoplamento. Todos os outros mtodos tm a possibilidade de alterao desses
ngulos. Outra situao testada foi o uso de blocos de acoplamento com inclinao varivel para
usar no MC, em que uma pea onde o transdutor est colado roda sobre um semicilindro, de
forma a originar a inclinao desejada. Esta soluo conduziu a elevadas redues da relao S/R
quando comparada com a inclinao fixa.
Resultados experimentais revelaram que a reprodutibilidade apenas pode ser garantida se o
acoplamento for igual em todas as medidas. Como esperado, no MC no possvel manter as
mesmas condies de acoplamento entre a placa e o bloco. Os vrios testes efectuados deram
origem a desvios padro superiores a 10% para MC, enquanto para os restantes sistemas foram
sempre inferiores a 2%.
4.4.1.2 Perdas
As perdas nos sistemas referidos podem estar relacionadas com as fugas para o lquido
circundante, atenuao do material e perdas por acoplamento.
Tanto do ponto de vista terico como experimental as perdas do modo S0 no MI foram j
analisadas anteriormente (figura 4.30). Para o MIME a determinao terica da atenuao devido
a fugas foi efectuada pelo mtodo da matriz de transferncia (que analisaremos em 4.6.1.1), pelo
facto de o sistema no ser simtrico. Como era espectvel, e uma vez que o contacto com o
fluido se verifica apenas numa das faces da placa, os valores obtidos para a atenuao so
metade dos obtidos no MI. Para o MIL usou-se a mesma estratgia, considerando que o contacto
com fluido existe apenas numa das faces em cerca de 40% do trajecto total que separa os dois
transdutores, correspondendo zona dos pequenos tanques que influencia o feixe. Para o MC
apenas se considerou a atenuao do material, que era j conhecida de 4.3.2.
Os valores experimentais da atenuao foram obtidos usando (4.53) para vrios pares de medidas
de amplitude, separadas entre si 4 cm, sendo feita depois uma mdia para diminuir eventuais
erros de medida. Como era de esperar, os valores obtidos para o MC apresentavam grandes
variaes entre si, muito superiores aos obtidos pelos restantes mtodos.

Na tabela 4.1 temos o resumo dos valores de atenuao experimentais e tericos, obtidos para os
diferentes sistemas experimentais e para a frequncia central dos transdutores usados.
De notar, que nos valores tericos, existe sempre includa a componente da atenuao devido ao
material, que tem o valor de 1.6 Np/m (figura 4.30).
Para os trs primeiros mtodos existe boa concordncia entre os resultados. Para o MC, como j
foi referido, as diferenas observadas devem-se essencialmente incapacidade de manuteno
do mesmo acoplamento em diferentes medies.
Tabela 4.1 Valores da atenuao para os diferentes sistemas experimentais (Np/m).
MI MIME MIL MC
Terico 14.8 8.3 4.2 1.6
Experimental 14.6 9.0 4.4 3

Um outro factor importante que deve ser analisado, quando se estuda as perdas neste tipo de
sistemas tem a ver com as perdas por acoplamento entre o transdutor e a placa. At agora, na
anlise da atenuao efectuada, apenas so comparados valores referentes placa propriamente
dita (fugas e amortecimento do material), pois so efectuadas comparaes entre sinais obtidos
nas mesmas circunstncias, depois de efectuarem trajectos diferentes. Como os trs primeiros
mtodos tm acoplamentos idnticos vamos comparar um deles com o MC.
Para estimar a diferena entre as perdas por acoplamento efectuaram-se duas medidas de
amplitude para o MI e para o MC para uma distncia entre os transdutores de 16 cm. O valor
obtido para o MI foi de 2.15 Np superior ao MC. As perdas por fugas no MI so de 13.2 Np/m
(14.8-1.6), o que origina, para a referida distncia, perdas de 2.11 Np (13.2x0.16). Como as
perdas por amortecimento do material so comuns ao MI e ao MC, as perdas por acoplamento
correspondem soma de 2.15 com 2.11 o que perfaz um valor de 4.26 Np. Este valor representa
uma reduo de cerca de 70 vezes na amplitude do sinal, ou seja, a passagem para 1.46% do seu
valor inicial. Esta reduo est essencialmente relacionada com as perdas nas interfaces
transdutor/bloco e bloco/placa. De notar que nesta estimao se admite que a eficincia do
transdutor, em ambas as configuraes (num caso transdutores de imerso e noutro de contacto)
idntica, do ponto de vista de converso da energia elctrica fornecida em energia mecnica
produzida.
Atendendo aos valores obtidos est representado na figura 4.32 o comportamento relativo da
atenuao total em todos os sistemas, referenciado s perdas por acoplamento na gua.

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
0
5
10
15
Distncia entre os transdutores [m]
A
t
e
n
u
a
o

[
N
p
]
MI
MIME
MIL
MC

Figura 4.32 Atenuao do modo S0 para os diversos mtodos em funo da distncia entre os
transdutores.
Podemos observar pela figura, que a seleco do mtodo a usar est directamente relacionada
com as distncias entre transdutores. Para pequenas distncias evidente que qualquer um dos
mtodos que usa acoplamento por gua prefervel ao MC, devido s suas elevadas perdas fixas
de acoplamento. No entanto, quando as distncias aumentam o uso, nomeadamente do MI, e
tambm do MIME comeam a ser proibitivos. Em resumo, podemos dizer que tendo em conta a
atenuao o MIL o mtodo mais indicado na generalidade das situaes.
No nosso caso, como as distncias de propagao so curtas e os valores de atenuao do modo
S0 baixos poderamos optar pelo MI, pois apresenta uma maior versatilidade, especialmente no
que diz respeito movimentao dos transdutores, permitindo uma maior agilidade, quando se
pretendem efectuar vrias medidas em diferentes localizaes da placa. No entanto, verificou-se,
experimentalmente, (comprovando os valores da figura 4.26) que mesmo para essas pequenas
distncias, o modo A0 apresentava valores de atenuao muito elevados, o que torna indesejvel
a utilizao deste mtodo para a sua deteco.
Para o MIL, as diferentes medidas implicam uma movimentao dos tanques de acoplamento,
com a respectiva aplicao da massa lubrificante, o que se revelou um processo muito moroso.
Como soluo de compromisso, optou-se pela utilizao do MIME, pois d origem deteco de
sinais com relaes S/R razoveis tanto para o modo S0 como para A0.

4.4.2 Anlise de defeitos simulados com profundidades variveis
Os vrios defeitos a analisar foram concebidos atravs da abertura de sulcos rectangulares numa
das faces das placas, usando para o efeito uma fresa mecnica e ferramentas de corte com
diferentes seces. O seu comprimento de 6 cm, o que permite garantir que sejam atravessados
pela totalidade do feixe. A figura 4.33 mostra uma placa com um conjunto de defeitos com
profundidade (h) de 1 mm e com uma largura (w) varivel de 3 a 8 mm.

Figura 4.33 Conjunto de defeitos simulados com larguras variveis e profundidade constante.
O primeiro teste consiste na anlise da variao de amplitude dos sinais do modo S0 recebidos
em transmisso e em pulso-eco para diferentes profundidades. A distncia entre os transdutores
de 16 cm, estando os defeitos equidistantes dos dois transdutores. Os resultados esto
representados na figura 4.34. Seguidamente foi usado o mesmo procedimento para o modo A0,
estando os resultados representados na figura 4.35.
Como se pode observar, a correlao linear entre os sinais medidos e a profundidade dos defeitos
muito boa, quando usado o modo S0 em transmisso, apresentando valores mais baixos para
o modo A0. Com o aumento da profundidade do defeito temos uma diminuio da seco til de
propagao, com a consequente diminuio de energia que chega ao receptor. Em pulso-eco,
como o mesmo transdutor funciona como emissor e receptor, ao aumento da profundidade dos
defeitos corresponde um aumento da seco da placa onde existe reflexo do sinal, com o
consequente aumento da energia recolhida.
Como resultado de vrios estudos experimentais e tericos, sabido que as ondas guiadas ao
encontrarem um defeito do origem a fenmenos de disperso (scattering) e, consequentemente,
a converso de modos (Hongerholt, 1995 e Cho, 1997). Factores como o modo de propagao

incidente, frequncia ou a geometria desse defeito podem dar origem a diferentes fenmenos. No
nosso caso vamos analisar a eventual converso do modo S0 no modo A0 por influncia dos
defeitos.
0.5 1 1.5 2 2.5
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
Profundidade do defeito [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
R=0.9715
2

0.5 1 1.5 2 2.5
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
R=0.9499
2

(a) (b)
Figura 4.34 Amplitude do modo S0 em funo da profundidade dos defeitos: (a) transmisso; (b) pulso-
eco.
0.5 1 1.5 2 2.5
0.3
0.35
0.4
0.45
0.5
0.55
0.6
0.65
0.7
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
R=0.8642
2

0.5 1 1.5 2 2.5
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
R=0.952
2

(a) (b)
Figura 4.35 Amplitude do modo A0 em funo da profundidade dos defeitos: (a) transmisso; (b) pulso-
eco.
Como j tnhamos verificado em 4.2.4, colocando o receptor com a inclinao adequada,
verifica-se, usando a 2DFFT, a existncia do modo A0 na placa a propagar-se em simultneo
com o modo S0. Usando a mesma estratgia foi efectuado o mesmo teste para uma placa com
um defeito com 2 mm de profundidade. O resultado apresentado na figura 4.36 (a). Como se
pode verificar, comparando com uma placa sem defeitos apresentada na figura 4.36 (b), verifica-

se um aumento de cerca de um factor de dez do sinal referente ao modo A0 sendo, neste caso, S0
camuflado devido ao seu baixo valor relativo.
Para os restantes defeitos aplicmos a 2DFFT, tendo sido medido posteriormente o seu valor
mximo e os resultados em funo da profundidade dos defeitos so apresentados na figura 4.37.
Todos os resultados apresentados, usando S0 ou A0 para uma largura de defeito w=5 mm,
demonstram que, potencialmente, podemos usar qualquer uma destas tcnicas para estimar a
profundidade de defeitos em placas. No entanto, como veremos no ponto seguinte, quando
tentmos generalizar estes resultados a defeitos arbitrrios, em que a sua extenso tambm
varivel, verificmos que nas medies envolvendo o modo A0 no pode ser estabelecida uma
relao linear entre a amplitude de sinal e a profundidade dos defeitos.
0
0.5
1
0
500
1000
1500
2000
0
500
1000
1500
2000
F
re
q
u
n
cia
[M
H
z
]
C
o
n
s
ta
n
te
d
e
p
ro
p
a
g
a
o
[1
/m
]
A0

0
0.5
1
0
500
1000
1500
2000
0
50
100
150
200
F
re
q
u
n
cia
[M
H
z
]
C
o
n
s
ta
n
te
d
e
p
ro
p
a
g
a
o
[1
/m
]
A0
S0

(a) (b)
Figura 4.36 Traado da 2DFFT com o emissor orientado para S0 e o receptor para A0: (a) placa com
defeito h=2 mm; (b) placa sem defeito.
0.5 1 1.5 2 2.5
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
0.5
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
R=0.8453
2

Figura 4.37 Amplitude de A0 devido a converso de modos em funo da profundidade dos defeitos.

4.4.3 Anlise de defeitos simulados com larguras variveis
Para a anlise dos efeitos provocados pela variao da largura na propagao de S0 e A0 foram
concebidos vrios tipos de defeitos. O primeiro conjunto, com larguras de maior dimenso (3, 4,
5, 6, 8, 10, 12, 16, 20 e 25 mm), que se assemelham mais a um fenmeno de corroso foi feito
usando o mtodo do ponto anterior. Um segundo conjunto, com larguras mais pequenas (0.5, 1,
1.5 e 2 mm), que podero ser considerados mais prximos de fracturas foi elaborado usando
serras circulares com diferentes espessuras. Para todos eles foram usadas as cinco diferentes
profundidades perfazendo um total de 70 defeitos diferentes.
Na figura 4.38 so apresentados os resultados obtidos para o modo S0 em transmisso, sendo
observada uma diminuio gradual do nvel do sinal recebido com o aumento da profundidade
do defeito, que j tinha sido detectada anteriormente para w=5 mm. Para os vrios valores de w
analisados foram estabelecidas correlaes entre h e o nvel do sinal, analogamente ao que foi
feito na figura 4.34 (a), dando origem a valores do quadrado do coeficiente de correlao (R
2
)
prximos da unidade. O valor mais baixo foi de 0.9621 e o mais elevado 0.9988, sendo o valor
mdio de 0.9843. Com a variao de w e h constante (figura 4.34 (b)), as flutuaes do sinal
recebido so pequenas, tornando-se mais significativas para valores de w da ordem de grandeza
do comprimento de onda, que neste caso de sensivelmente 10 mm. Podemos ento afirmar que
o modo S0 em transmisso permite, de uma forma inequvoca, a caracterizao dos defeitos em
termos da sua profundidade revelando-se, no entanto, insensvel s variaes da sua extenso.
0.5 1 1.5 2 2.5
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
w=0.5mm
w=1mm
w=1.5mm
w=2mm
w=3mm
w=4mm
w=5mm
w=6mm
w=8mm
w=10mm
w=12mm
w=16mm
w=20mm
w=25mm

0 5 10 15 20 25
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
Largura do defeito [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
h=0.5mm
h=1mm
h=1.5mm
h=2mm
h=2.5mm

(a) (b)
Figura 4.38 Modo S0 em transmisso: (a) w constante e h varivel; (b) w varivel e h constante.
Para o modo A0 em transmisso (figura 4.39 (a)), os resultados obtidos para os vrios valores de
w contrariam, em parte, a tentativa de estabelecimento de uma relao linear entre o sinal

recebido e h. De facto, pode constatar-se que os sinais baixam desde h=0.5 mm at h=1.5 mm,
verificando-se seguidamente um aumento at h=2.5 mm. Como referimos anteriormente, apesar
de o transdutor emissor estar inclinado de forma a gerar o modo A0, por influncia do lobo
secundrio do diagrama de radiao vamos ter tambm, de forma residual, o modo S0 na placa.
Para alm disso, em ambos os vrtices dos defeitos vamos ter fenmenos de converso de modos
de A0 em S0, e de S0 em A0. Logo, o sinal recebido o resultado da combinao do sinal
gerado inicialmente e dos sinais gerados devido s converses de modos, dando origem ao
andamento com h apresentado.
0.5 1 1.5 2 2.5
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
w=0.5mm
w=1mm
w=1.5mm
w=2mm
w=3mm
w=4mm
w=5mm
w=6mm
w=8mm
w=10mm
w=12mm
w=16mm
w=20mm
w=25mm

0 5 10 15 20 25
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
h=0.5mm
h=1mm
h=1.5mm
h=2mm
h=2.5mm

(a) (b)
Figura 4.39 Modo A0 em transmisso: (a) w constante e h varivel; (b) w varivel e h constante.
A figura 4.40 (a) mostra a anlise dos sinais obtidos por converso de modos. Neste caso o
emissor est sintonizado para S0 e o receptor para A0. O comportamento com o aumento de h
contrrio ao anterior: aumento na generalidade da amplitude dos sinais at 1.5 mm e diminuio
at 2.5 mm. Para melhor compreender este fenmeno alterou-se a configurao para A0 no
emissor e para S0 no receptor, o que equivale a trocar o emissor com o receptor, ou seja, na
prtica estamos a recolher o sinal obtido por converso de A0 em S0. Como era de esperar, os
resultados obtidos foram exactamente iguais, pois do ponto de vista fsico nada foi alterado.
Podemos ento comparar as figuras 4.39 (a) e 4.40 (a) e verificar que os resultados esto
coerentes do ponto de vista qualitativo. A partir de h=1.5mm os fenmenos de converso de
modos comeam a ser importantes e um aumento de A0 acompanhado por uma diminuio de
S0.

0.5 1 1.5 2 2.5
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
w=0.5mm
w=1mm
w=1.5mm
w=2mm
w=3mm
w=4mm
w=5mm
w=6mm
w=8mm
w=10mm
w=12mm
w=16mm
w=20mm
w=25mm

0 5 10 15 20 25
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
h=0.5mm
h=1mm
h=1.5mm
h=2mm
h=2.5mm

(a) (b)
Figura 4.40 Modo S0 no emissor e A0 no receptor (transmisso): (a) w constante e h varivel; (b) w
varivel e h constante.
Relativamente s variaes da largura dos defeitos (figuras 4.39 (b) e 4.40 (b)), os resultados so
novamente inconclusivos, no podendo ser verificada nenhuma correlao entre a amplitude dos
sinais recebidos e as suas dimenses.
Na figura 4.41 esto representados os resultados obtidos usando o modo S0 em pulso-eco. Tal
como em transmisso existe uma boa correlao linear entre a amplitude dos sinais e h para
todos os valores de w (figura 4.41 (a)). O valor mdio obtido para R
2
foi de 0.9776. Os resultados
obtidos para os vrios valores de w com h constante so apresentados na figura 4.41 (b). Neste
caso podemos detectar um padro formado por picos e vales mais ou menos constante em todas
as curvas. A razo destas variaes est relacionada com a interferncia existente entre os dois
sinais reflectidos no defeito, um no seu incio e o outro no seu final. A reflexo no final do
defeito obviamente retardada relativamente ao sinal reflectido no seu incio, logo, a sua
sobreposio vai dar origem a um fenmeno construtivo ou destrutivo, dependendo do seu atraso
relativo. Para procurar justificar o andamento das curvas vamos considerar que, do ponto de vista
geomtrico, no incio do defeito temos uma diminuio de impedncia (diminuio da seco) e
no seu final um aumento de impedncia (aumento da seco), o que d origem, usando a equao
(4.52), ao aparecimento de uma inverso de fase no final do defeito relativamente ao seu incio.
Com este pressuposto, a interferncia construtiva dever ocorrer para uma largura de defeito de
um quarto de comprimento de onda, pois corresponde a um trajecto adicional da onda reflectida
no final do defeito de meio comprimento de onda, dando origem a uma inverso de fase que,
aliada inverso de fase referida anteriormente, faz com que o sinal fique em fase. Se a este
valor for somado meio comprimento de onda, ou um seu mltiplo verifica-se, igualmente, uma

reconstruo no sinal recebido, ou seja, para valores de w igual a 3/4, 5/4, do comprimento de
onda. Usando o mesmo raciocnio, facilmente se constata que a interferncia destrutiva ocorre
para valores de w iguais aos mltiplos de meio comprimento de onda.
0.5 1 1.5 2 2.5
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
w=0.5mm
w=1mm
w=1.5mm
w=2mm
w=3mm
w=4mm
w=5mm
w=6mm
w=8mm
w=10mm
w=12mm
w=16mm
w=20mm
w=25mm

0 5 10 15 20 25
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
h=0.5mm
h=1mm
h=1.5mm
h=2mm
h=2.5mm

(a) (b)
Figura 4.41 Modo S0 em pulso-eco: (a) w constante e h varivel; (b) w varivel e h constante.
De uma forma geral, os valores experimentais esto de acordo com estes pressupostos. Para
todas as profundidades de defeito existe uma diminuio da amplitude do sinal provocada pela
interferncia destrutiva nas proximidades de w igual a 5 e 10 mm, valores esses, que
correspondem a meio e um comprimento de onda, respectivamente. O aumento dos valores da
amplitude, correspondentes a interferncias construtivas, verifica-se para w igual a 1/4 e 3/4 do
comprimento de onda (2.5 e 7.5 mm). As discrepncias observadas prendem-se com a eventual
influncia de A0, que pode existir devido converso de modos, bem como pelo facto de
estarmos a efectuar medies para valores de w discretos com a correspondente falta de
informao relativa aos pontos intermdios.
Outra das discrepncias verifica-se quando w tende para zero, partindo do mximo relativo em
w=2.5 mm, que na prtica ocorre para w aproximadamente igual a 2 mm. Do ponto de vista
terico deveramos ter uma diminuio gradual de amplitude, no entanto, experimentalmente
existe uma pequena diminuio de 2 mm para 1.5 mm, seguida de um aumento at ao valor de w
mais baixo utilizado, que foi de 0.5 mm. Isto pode ser justificado pelo facto de comear a existir
radiao atravs da gua nas paredes dos defeitos, atendendo s pequenas larguras em jogo,
dando origem a um fortalecimento do sinal recolhido.
Para valores de w superiores ao comprimento de onda os fenmenos de interferncia deixam,
aparentemente, de ocorrer devido ao aumento da atenuao dos sinais provocada pelo aumento

da distncia percorrida, ou, a existirem, poderem estar camuflados pelo facto dos valores
experimentais estarem mais espaados, conduzindo a uma perda de definio espacial.
Finalmente, temos na figura 4.42 os resultados para o modo A0, tambm em pulso-eco. Com a
variao de h (figura 4.42 (b)) podemos verificar facilmente que existem dois grupos de curvas
com comportamentos distintos. Para valores de w pequenos (de 0.5 mm a 2 mm) os traados tm
um andamento bastante irregular, enquanto para os restantes valores praticamente no existe
variao da amplitude do sinal. Novamente aqui devero existir fenmenos associados a
converso de modos que se sobrepem ao modo original e que esto relacionados com os baixos
valores de w. No possvel, ento, estabelecer uma correlao linear entre as amplitudes dos
sinais e h para defeitos com valores de w conhecidos.
0.5 1 1.5 2 2.5
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
w=0.5mm
w=1mm
w=1.5mm
w=2mm
w=3mm
w=4mm
w=5mm
w=6mm
w=8mm
w=10mm
w=12mm
w=16mm
w=20mm
w=25mm

0 5 10 15 20 25
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
V
]
h=0.5mm
h=1mm
h=1.5mm
h=2mm
h=2.5mm

(a) (b)
Figura 4.42 Modo A0 em pulso-eco: (a) w constante e h varivel; (b) w varivel e h constante.
A anlise da variao de w com h constante tambm no d origem a nenhum tipo de padro que
seja conclusivo do ponto de vista da sua identificao. De notar que os valores das amplitudes
em jogo so, neste caso, bastante inferiores ao caso anterior em que foi usado S0, essencialmente
devido atenuao. Logo perfeitamente normal que as converses de modos sejam, agora,
mais importantes e perturbem mais as medies do modo original.
De forma a validar os resultados obtidos para os diversos defeitos analisados foram construdas,
adicionalmente, novas placas com defeitos com h=1.5 mm e com w varivel de 3 a 25 mm.
Usando o modo S0 em transmisso foram medidas as amplitudes dos sinais recebidos para os
vrios defeitos. Na figura 4.43 esto representados esses valores, normalizados em relao a um
valor de referncia obtido numa placa sem qualquer defeito, em conjunto com os valores
relativos ao primeiro conjunto de placas. Conforme se observa, a coerncia entre as duas sries

de medidas muito boa, sendo as diferenas detectadas da ordem de 1%, o que valida o nosso
mtodo, tanto no que diz respeito ao mtodo de construo dos defeitos, como
reprodutibilidade das medidas.
5 10 15 20 25
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
Placa 1
Placa 2

Figura 4.43 Amplitudes normalizadas em funo de w para defeitos com h=1.5 mm, efectuadas em duas
placas diferentes usando S0 em transmisso.
Em termos conclusivos podemos afirmar que quando pretendemos caracterizar defeitos em
placas com espessuras da ordem de grandeza do exemplo analisado devemos usar o modo S0 em
detrimento do modo A0. De uma forma geral, possvel estabelecer uma boa correlao linear
entre a amplitude dos sinais recebidos, quer em transmisso quer em pulso-eco, com a
profundidade dos defeitos. Em relao anlise da extenso (largura) dos defeitos, o mtodo
pulso-eco usando S0 permite, com algumas limitaes, avaliar as suas dimenses.
4.5 Anlise de soldaduras por frico linear em alumnio
A soldadura, sem dvida, o mtodo mais usado quando pretendemos proceder unio de
materiais metlicos. Devido s suas caractersticas, nomeadamente ao eventual aparecimento de
defeitos quando da sua formao, um potencial domnio para o uso de testes no destrutivos
por ultra-sons. A outra tcnica no destrutiva tambm usada para a anlise de soldaduras baseia-
se na utilizao dos raios-X. As grandes vantagens das tcnicas ultra-sonoras sobre as
radiogrficas prendem-se, essencialmente, com a maior simplicidade da instrumentao
associada e com a sua inocuidade. Existem, na literatura, inmeros trabalhos publicados sobre a
anlise de soldaduras convencionais usando tcnicas ultra-sonoras. So exemplos, o uso de
ondas directas ou inclinadas em conjunto com blocos de calibrao (ASTM, 1986), inspeco de

soldaduras em aos austenticos (IIW, 1984) ou de soldaduras por pontos (Rokhlin, 1984).
Ultimamente, outras motivaes para alm da simples deteco de defeitos tm levado alguns
autores anlise mais aprofundada deste assunto. O desenvolvimento de equipamentos portteis
para aplicaes industriais (Rabinovich, 2000), o uso de agregados (Ithurralde, 2000) ou a
obteno de imagens tridimensionais (Shoef, 2000) so alguns desses exemplos.
Neste ponto do nosso trabalho vamos introduzir uma tcnica de soldadura em alumnio
denominada soldadura por frico linear (friction stir welding FSW), que pode ser considerada
como a mais importante e til inovao tcnica na ultima dcada do sculo XX, no mbito da
tecnologia de ligao metlica por soldadura (Quintino, 2001). Apesar desta tcnica ser
relativamente recente podem ser encontrados alguns trabalhos onde feito o estudo da sua
integridade usando tcnicas ultra-sonoras, nomeadamente por mtodos convencionais (Capitani,
2002) e outros associados a agregados (Lamarr, 2000).
O nosso estudo vai incidir sobre a anlise de defeitos formados neste tipo de soldaduras, que
esto relacionados com as condies de cada soldadura e com a natureza dos materiais
envolvidos. Vo ser usados mtodos clssicos de diagnstico para a obteno de imagens das
soldaduras, como o caso dos raios-X, e tambm do C-scan ultra-sonoro. Finalmente so
utilizadas ondas guiadas, que se afiguram como um mtodo inovador neste campo, de forma a
corroborar os resultados obtidos pelos mtodos clssicos.
4.5.1 Soldadura por frico linear (SFL)
A soldadura por frico linear (SFL) foi inicialmente desenvolvida para a soldadura de ligas de
alumnio, tendo-se conseguido resultados notveis em aplicaes com espessuras da ordem de 1
a 10 mm, elevada produtividade e evitando-se problemas normais na soldadura destes materiais,
como a porosidade e fissurao (Dawes, 1996).
A SFL estende-se numa fase mais recente para a soldadura de outros materiais, igualmente
complexos de soldar pelas restantes tcnicas de soldadura, como por exemplo, as ligas de titnio,
cobre ou magnsio.
Esta tcnica, inventada e patenteada pelo TWI (The Welding Institute) apresenta as caractersticas
de um processo autogneo (sem adio de material) e de ligao no estado slido. A ligao
metlica realiza-se, portanto, a temperaturas inferiores temperatura de fuso dos materiais
envolvidos, o que em comparao com o processo de soldadura por fuso, resulta numa garantia
de reprodutibilidade dos nveis de qualidade definidos, menores distores e tenses residuais,
como consequncia directa da menor quantidade de energia trmica envolvida.

Na figura 4.44 temos representado o processo de formao de uma SFL. ferramenta cilndrica
rotativa, que tem na sua extremidade um pino com comprimento ligeiramente inferior
penetrao de soldadura requerida, aplicada uma carga compressiva. As peas a soldar esto
colocadas topo a topo ou sobrepostas e firmemente constrangidas.
S aps a base da ferramenta se encontrar em contacto com a superfcie de trabalho, o que
acontece depois do pino ter penetrado em toda a sua extenso na junta de soldadura que entre a
ferramenta e a mesa desenvolvido um movimento relativo linear (de translao).
Durante o movimento da ferramenta ao longo da junta gera-se calor, devido ao atrito
desenvolvido na base da ferramenta e na parte da frente do pino, sendo o material transportado,
por fluxo plstico, para a parte de trs do pino, evitando a formao de poros e resultando no
cordo de soldadura. Este processo estacionrio decorre sob uma fora de forjagem aplicada pela
base da ferramenta.
Presso axial
Avano linear
Pino da ferramenta
Movimento de rotao
Base da ferramenta

Figura 4.44 Processo de formao de uma soldadura por frico linear.
4.5.2 Trabalho experimental
As soldaduras analisadas foram efectuadas em placas de liga de alumnio 5083-O com 3 mm de
espessura, por intermdio uma mquina de SFL equipada com um pino com 6 mm de dimetro e
2.8 mm de comprimento. Na figura 4.45 temos um exemplo de uma soldadura obtida por este
processo, onde se observa que a sua largura de cerca de 15 mm, o que coincide praticamente
com a dimenso da base da ferramenta.

Figura 4.45 Soldadura por frico linear em placas de alumnio com 3 mm de espessura.
Os parmetros mais importantes neste tipo de soldadura so a velocidade de rotao da
ferramenta, a presso axial exercida, a velocidade de avano da ferramenta e o tempo de
penetrao no material (Leal, 2003). Neste caso foi verificada a influncia da velocidade de
avano da ferramenta na formao de defeitos, mantendo os restantes parmetros constantes. Os
valores usados variaram desde 150 a 400 mm/min.
Para a obteno das imagens ecogrficas C-scan foi usado um sistema pulso-eco por imerso
com um transdutor com frequncia central de 10 MHz. Como para este valor de frequncia
vamos ter no alumnio um comprimento de onda de cerca de 0.6 mm, considerando a velocidade
das ondas longitudinais no alumnio de 6300 m/s, verificmos no ser possvel recolher uma
imagem referente ao plano que continha os defeitos que, como veremos frente, esto situados
sensivelmente a meio da espessura das placas. Isto deve-se ao facto de o transdutor usado ser
pouco amortecido (durao temporal do sinal recolhido elevada), dando origem a que a cauda do
sinal da superfcie camufle o sinal proveniente do defeito. Para resolver este problema optmos
por recolher o sinal proveniente do fundo das placas, que sofre duas vezes a influncia do
defeito, no trajecto descendente e ascendente e est bem descriminado, temporalmente, em
relao ao sinal da superfcie. A figura 4.46 ilustra esta situao.
Para o valor inicial de velocidade (150 mm/min) no foram visualizados quaisquer defeitos nas
soldaduras atravs das radiografias e do C-scan. Ao aumentarmos o valor da velocidade para 300
mm/min verificou-se o aparecimento de defeitos, especialmente no incio e no final da soldadura,
como podemos ver pela figura 4.47 (soldadura A). Devido ao facto da soldadura ter um
comprimento de aproximadamente 20 cm verificou-se para o C-scan, que ligeiras discrepncias
existentes no paralelismo do sistema utilizado, davam origem a problemas na formao da

imagem, quando o transdutor efectuava o varrimento segundo essa direco. Resolvemos ento
seccionar a imagem em duas como se v em 4.47 (a). A concordncia entre as duas imagens
produzidas (final da primeira e incio da segunda) no perfeita, o que est relacionado com a
movimentao da pea aps a obteno da primeira imagem, com a consequente perda do
referencial inicial. A delimitao da zona da soldadura bem visvel atravs das linhas em tom
azul. Dentro dessa zona, ligeiramente deslocada para cima, em relao ao centro da soldadura
(seta) aparece uma outra linha que corresponde a defeitos produzidos pelo processo de
soldadura. Como veremos noutros exemplos este deslocamento verificado para todas as placas
analisadas. A linha vai diminuindo de intensidade at zona central da placa voltando
novamente a aumentar at ao final. As manchas a azul dentro na zona da soldadura devem-se
rugosidade provocada pelo processo de soldadura, que vai dar origem a perturbaes no sinal
recolhido (exemplo no interior do crculo). Na radiografia (figura 4.47 (b)) a zona de defeitos
inicial bem visvel sendo, no entanto, mais difcil detectar os defeitos no final da placa devido
falta de contraste.
Defeito
Sinal recolhido

Figura 4.46 Sinais provenientes de uma placa com um defeito.

(a)

(b)
Figura 4.47 Soldadura A obtida com velocidade de 300 mm/min: (a) C-scan; (b) radiografia.

Na situao seguinte foi utilizada uma velocidade de 400 mm/ min. Os resultados do C-scan e da
radiografia esto representados na figura 4.48 (soldadura B). Podemos constatar por ambos os
mtodos que existe um aumento dos defeitos detectados, relativamente situao anterior.
Outro tipo de situao testada foi a passagem da mquina vrias vezes na mesma soldadura. Os
resultados obtidos foram curiosos, pois verificou-se que repetindo as condies anteriores para a
segunda e terceira passagens apareceram defeitos com dimenses apreciveis (figuras 4.49
(soldadura C) e 4.50 (soldadura D)) e nas passagens seguintes (quarta e quinta passagens) esses
defeitos praticamente desaparecem (figuras 4.51 e 4.52 (soldaduras E e F, respectivamente)).
Nestes casos, o C-scan formado apenas por uma imagem pois a soldadura original tinha uma
dimenso menor, no sendo necessrio fazer a sua diviso.

(a)

(b)
Figura 4.48 Soldadura B obtida com velocidade de 400 mm/min: (a) C-scan; (b) radiografia.

(a) (b)
Figura 4.49 Soldadura C obtida com velocidade de 400 mm/min e duas passagens: (a) C-scan; (b)
radiografia.

(a) (b)
Figura 4.50 Soldadura D obtida com velocidade de 400 mm/min e trs passagens: (a) C-scan; (b)
radiografia.

(a) (b)
Figura 4.51 Soldadura E obtida com velocidade de 400 mm/min e quatro passagens: (a) C-scan; (b)
radiografia.

(a) (b)
Figura 4.52 Soldadura F obtida com velocidade de 400mm/min e cinco passagens: (a) C-scan; (b)
radiografia.
Outra forma utilizada para confirmar a existncia de defeitos nas soldaduras foi recorrendo sua
observao ao microscpio. Na figura 4.53 temos a fotografia de um corte efectuado numa zona
da soldadura B, onde evidente a existncia de vrios defeitos com dimenses mdias da ordem
do 30 m. A figura 4.54 mostra fotografias referentes soldadura C, sendo perfeitamente visvel,
mesmo na fotografia macro, a existncia de um defeito com dimenses bastante maiores do que
os anteriores (cerca de 300 m). Estes resultados esto perfeitamente de acordo com as
radiografias e com os C-scan obtidos anteriormente.
Finalmente vamos analisar as soldaduras com defeitos (A, B, C e D) usando ondas guiadas. Pelas
razes referidas em 4.4.1.2 vamos utilizar o modo S0 por imerso com a configurao pitch and
catch em transmisso (sistema experimental da figura 4.28). Num plano perpendicular a cada
uma das soldaduras vo ser injectados sinais de um dos seus lados e recolhidos no lado oposto,

com espaamento entre si de 1 cm. A inclinao dos transdutores apropriada para sintonizar
S0. Devido s dimenses dos transdutores e para garantir que todo o feixe atravesse a soldadura,
no possvel analisar as extremidades das placas, assim, os sinais recolhidos referem-se apenas
s zonas das soldaduras delimitadas pelos traos verticais assinalados nas imagens C-scan.

Figura 4.53 Fotografia dos defeitos formados na soldadura B (x150).

(a) (b)
Figura 4.54 Fotografias dos defeitos formados na soldadura C: (a) (x10); (b) (x66).
Na figura 4.55 podemos ver as amplitudes dos sinais recolhidos ao longo das soldaduras,
normalizadas relativamente a uma placa sem defeitos. As dimenses teis analisadas foram de
15 cm para A e B e de 9 cm para C e D, pelas razes j apontadas. Para a soldadura A verifica-se
que no seu incio no existe grande variao relativamente ao valor de referncia, notando-se um
decaimento a partir do primeiro tero do seu comprimento, que se acentua na sua parte final.
Este resultado est de acordo com o C-scan apresentado na figura 4.47 (a), onde se observa a
existncia de defeitos pouco significativos na zona inicial que vo aumentando at ao seu final.

0 5 10 15
0.85
0.9
0.95
1
1.05
Distncia relativa ao incio da soldadura [cm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
A
B
C
D

Figura 4.55 Amplitude normalizada do modo S0 ao longo da soldadura.
A soldadura B apresenta valores inferiores para os sinais recolhidos e um decaimento medida
que nos afastamos do seu incio. O C-scan apresentado na figura 4.48 (a) confirma,
efectivamente, que os defeitos vo aumentando da esquerda para a direita e que apresentam
aspecto mais significativo do que para a soldadura A. Para as soldaduras C e D, que tm defeitos
com maiores dimenses, as amplitudes so inferiores em cerca de 15% relativamente ao valor de
referncia, mantendo-se sensivelmente constantes ao longo das soldaduras. Novamente este facto
evidente nos C-scan (figuras 4.49 e 4.50).
Como se pode verificar, os resultados obtidos demonstram que as ondas guiadas, mais
concretamente atravs da utilizao do modo fundamental S0, podem ser usadas para uma
caracterizao essencialmente qualitativa de soldaduras por frico linear em alumnio. As suas
grandes vantagens, relativamente a outros mtodos, como os raios-X ou o C-scan ultra-sonoro
prendem-se com a simplicidade da instrumentao usada e com a rapidez na obteno da
informao. No caso dos raios-X so bem conhecidos os problemas associados ao seu uso,
especialmente a necessidade de um grande isolamento dos operadores. No C-scan temos de ter
um sistema de emisso, uma placa de aquisio de dados, outra de controlo de posicionamento e
ainda o sistema mecnico de movimento XY, tudo isto integrado num computador pessoal. No
caso das ondas guiadas, se pretendemos analisar a variao de amplitude de um sinal ao longo de
uma linha (neste caso a soldadura) basta-nos, para isso, um gerador de pulsos (excitao) e um
simples osciloscpio, onde possamos medir os sinais recolhidos. Essa tarefa pode demorar
alguns segundos, enquanto que a produo de uma imagem por C-scan consome alguns minutos,
dependendo da sua rea. Resumindo, podemos afirmar que as ondas guiadas, apesar de terem

algumas limitaes, podem de certa forma servir para avaliar este tipo de soldaduras e
estabelecer critrios de aceitao/rejeio.
4.6 Estudo da integridade de colagens
Os adesivos estruturais foram desenvolvidos inicialmente na indstria aeronutica e aeroespacial,
por permitirem a obteno de boas relaes resistncia/peso, tanto em estruturas de avies
comerciais como em naves espaciais, msseis ou foguetes. Atendendo sua resistncia
mecnica e fcil aplicao podem ser usados para ligar quase todos os materiais e nas mais
diversas aplicaes. Assim, os adesivos estruturais assumem-se, cada vez mais, como um
mtodo de ligao alternativo soldadura por pontos e rebitagem.
A crescente utilizao deste tipo de juntas coladas, nomeadamente em placas metlicas, deu
origem necessidade do aparecimento de tcnicas de caracterizao no destrutiva. A
espectroscopia ultra-sonora, atravs da anlise dos fenmenos de interferncia construtiva e
destrutiva, que conduzem a variaes no espectro do sinal recolhido foi o mtodo mais utilizado
durante bastante tempo (Chang, 1976 e Guyott, 1986). Este mtodo, analogamente ao C-scan,
para alm de necessitar de acesso zona da colagem, propriamente dita, bastante moroso, pois
a inspeco da referida zona feita ponto a ponto.
Por outro lado, os mtodos que utilizam ondas guiadas so potencialmente mais atraentes pois,
para alm de no necessitarem de acesso directo zona colada permitem um tempo de inspeco
bastante inferior, quando comparados com os mtodos que utilizam ondas de volume. As ondas
guiadas podem ser injectadas numa das placas que formam a colagem, propagarem-se na zona da
colagem e serem recebidas na outra placa.
Geralmente os problemas existentes nas colagens esto relacionados com imperfeies
localizadas, que aparecem durante a sua formao (por exemplo formao de bolhas de ar) ou
com ms adeses generalizadas em toda a zona de colagem, que se podem dever, por exemplo, a
sujidade nas placas a colar, ou ao uso de um adesivo inadequado para os materiais em causa.
Nesta seco vamos fazer a anlise de colagens tipo junta sobreposta (lap joint) de placas de
alumnio da srie 5083, que usam como adesivo resina epxi. Vamos simular defeitos
localizados no seu interior e verificar o seu efeito difractivo no feixe das ondas guiadas, numa
tentativa de estabelecer relaes quantitativas entre os sinais obtidos e a dimenso dos defeitos.
Outro grupo de amostras vai ser sujeito a tratamento trmico para alterao da qualidade das
colagens e posterior anlise de eventuais variaes de parmetros das ondas guiadas. Em ambos
os casos as amostras vo tambm ser sujeitas a ensaios destrutivos.

4.6.1 Modelo de propagao de ondas guiadas numa estrutura colada
tipo junta sobreposta
A propagao das ondas guiadas numa colagem, tipo junta sobreposta (lap joint), pode ser
considerada como um caso particular da propagao em meios multicamada. As formas de
anlise deste tipo de problemas baseiam-se no mtodo da matriz de transferncia, tambm
conhecido como Thompson-Haskell, em homenagem aos seus autores ou no mtodo da matriz
global. Em ambos os mtodos so estabelecidas as condies fronteiras entre as interfaces dos
diversos meios, dando origem a uma matriz que descreve as relaes entre as amplitudes das
ondas envolvidas e os deslocamentos e presses em qualquer ponto da estrutura.
Na abordagem do problema vamos partir do princpio que a sua soluo dada atravs de uma
decomposio de Helmholtz, analogamente ao mtodo dos potenciais descrito no apndice B.1.
Ou seja, as ondas longitudinais (L) so regidas por uma funo escalar , e as ondas
transversais (T) por uma funo vectorial , cuja direco normal direco de propagao e
vibrao das partculas. Estas funes (potenciais) so dadas por

, )) ( ( exp ) ( exp
)), ( ( exp ) ( exp
t kx i iqz A
t kx i ipz A
T
L
=
=
(4.54)
onde A
L
e A
T
so as amplitudes das ondas longitudinais e transversais, e as grandezas p e q so
definidas no apndice B.1. Tal como no mtodo dos potenciais vamos admitir deformao plana
e que a propagao se d no plano xz, implicando que dependa de x e z, e que dependa de
y.
No prximo passo do desenvolvimento do modelo de propagao vamos considerar a existncia
de oito ondas genricas em cada interface: ondas longitudinais e transversais que chegam da
camada de cima e partem para a camada de baixo (L+,T+) e ondas longitudinais e
transversais que partem da camada de baixo e chegam camada de cima (L-,T-). Ou seja,
existem quatro ondas em cada camada. Na figura 4.56 temos ilustrada esta situao para um
sistema com cinco camadas (trs placas e dois semi-espaos), que coincide com o modelo de
uma colagem.
Usando a expresso (B.15) e (B.16) em (4.54) vamos obter os deslocamentos e presses para as
ondas longitudinais. As componentes com interesse prtico no desenvolvimento do modelo so
aquelas que tm continuidade nas interfaces: u
x
, u
z
,
zz
e
xz
dadas por

), exp(
), exp(
pz i A p u
pz i A k u
L z
L x
=
=
(4.55)

). exp( 2
), exp( ) 2 (
2
2 2 2
pz i A i p k V
pz i A i k V
L T xz
L T zz
=
=

(4.56)
De forma anloga para as ondas transversais temos

), exp(
), exp(
qz i A k u
qz i A q u
T z
T x
=
=
(4.57)

). exp( ) 2 (
), exp( 2
2 2 2
2
qz i A i k V
qz i A i q k V
T T xz
T T zz
=
=

(4.58)
Em todas as expresses omitido o factor comum exp(i(kx-t).
Camada 1
Camada 2
Camada 3
Camada 4
Camada 5
Interface 1
Interface 2
Interface 3
Interface 4
T+
L+
T-
L-
T+
L+
T+
L+
T+
L+
T+
L+
T-
L-
T-
L-
T-
L-
T-
L-
Topo
Topo
Topo
Topo
Topo
Fundo
Fundo
Fundo
Semi-espao
Semi-espao

Figura 4.56 Sistema com trs camadas embebido em meios semi-infinitos.
Usando, por convenincia, as seguintes substituies

), 2 (
), exp(
), exp(
2 2 2
k V B
qz i G
pz i G
T
q
p
=
=
=
(4.59)
podemos condensar as expresses (4.55) a (4.58) na forma matricial como

.
2
2
2
2
2
2
2
2
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
+
T
T
L
L
q
q
p
T
p T
q
T
q T
p
p
q
q
p
p
q
q
p
p
xz
zz
z
x
A
A
A
A
G
B i
BG i
G
p kV i
pG kV i
G
q kV i
qG kV i
G
B i
BG i
G
k
kG
G
p
pG
G
q
qG
G
k
kG
u
u
(4.60)
A matriz anterior, que vamos denominar como [D], descreve a relao existente entre as
amplitudes das ondas numa camada arbitrria em funo dos deslocamentos e presses.
4.6.1.1 Mtodo da matriz de transferncia
O mtodo da matriz de transferncia consiste na condensao do sistema multicamada num
conjunto de quatro equaes, que relacionam as condies fronteiras na primeira interface, com
as condies fronteiras da ltima interface. No processo, as equaes referentes s interfaces
intermdias so eliminadas, o que implica que a propagao em todas as camadas seja descrita
somente em termos das condies fronteiras externas. O princpio bsico da matriz de
transferncia para meios estratificados deve ser atribudo a Thomson, que mostrou que as
matrizes podem ser usadas para descrever a transmisso atravs de um nmero arbitrrio de
meios dispostos em camadas (Thomson, 1950). Mais tarde, Haskell corrigiu um erro existente
nesse trabalho, tendo demonstrado que o mtodo podia tambm ser usado para determinar
solues modais para ondas de superfcie (Haskell, 1953).
No exemplo da figura 4.56 vamos referenciar as diversas camadas de l
1
a l
5
e as interfaces de i
1
a
i
4
. Cada uma das camadas tem a sua prpria origem localizada no seu topo (crescendo no sentido
descendente), excepto para l
1
que tem a sua origem na interface com l
2
de forma a evitar o
aparecimento de z=.
Assumindo que os deslocamentos e presses so conhecidos na primeira interface i
1
, as
amplitudes das quatro ondas no topo da camada l
2
podem ser determinadas usando (4.60)
| | .
, 2
1
2
, 2
topo l
xz
zz
z
x
l
T
T
L
L
u
u
D
A
A
A
A
topo l
(4.61)

Na segunda interface i
2
, os deslocamentos e as presses no fundo da camada l
2
so dados por
| | ,
2 , 2
, 2
l
T
T
L
L
fundo l
xz
zz
z
x
A
A
A
A
D
u
u
fundo l
(4.62)
substituindo (4.61) em (4.62) vamos obter
| | | | .
, 2
1
, 2
, 2 , 2
topo l
xz
zz
z
x
fundo l
xz
zz
z
x
u
u
D D
u
u
topo l fundo l
(4.63)
O produto das matrizes [D] nesta equao relaciona os deslocamentos e presses entre o topo e o
fundo de uma camada e denominada matriz da camada [L] que, para a camada l
2
dada por
| | | | | |
1
2
, 2 , 2
=
topo l fundo l
D D L
l
. (4.64)
A matriz | |
1
, 2
topo l
D obtida fazendo para z=0 a inverso da matriz [D] contida na equao (4.60)
(pois cada camada tem uma referncia prpria). Os coeficientes da matriz [L] so ento dados
explicitamente por
. ,
, ,
1
2
1 2
, ,
,
1 2 1
2
,
1 1
, ,
1
2
1
2
,
1 1
2
,
1
2
1
,
1
2
1
2
,
1 1
2
,
1 1
2
,
1
2
1
11 44 21 43
31 42
2
2
2
2 4
41
12 34 22 33
2
2 4
2
2
32
2
2
31
13 24
2
2
2
23
2
2 2
2
22
2 2
2
21
2 2
2
14
2
13
2
2
2
12
2 2
2 2
11
L L L L
L L
G
G
q
B i
G
G
p k V i
L
L L L L
G
G
q k V i
G
G
p
B i
L
G
G
G
G
k BV i
L
L L
G
G
q i
k
G
G
i
p
L
G
G
k V
G
G
B
L
G
G
q
Bk
G
G
k pV
L
G
G
i
q
G
G
p i
k
L
G
G
G
G
i
k
L
G
G
q kV
G
G
p
Bk
L
G
G
B
G
G
k V
L
q
q
p
p
T
q
q
T
p
p
q
q
p
p
T
q
q
p
p
q
q
T
p
p
q
q
p
p
T
q
q
p
p
q
q
p
p
q
q
T
p
p
q
q
p
p
T
= =
=
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
=
= =
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
+ =
=
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
+ +
|
|
.
|
\
|
+ =
|
|
.
|
\
|
+ +
|
|
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
+
|
|
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
+ =
|
|
.
|
\
|
+ +
|
|
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
+ +
|
|
.
|
\
|
+ =

(4.65)

Para a interface seguinte (i
2
) mantm-se a continuidade nos deslocamentos e presses, ou seja

| | .
,
, 2
2
, 2 , 3
topo l
xz
zz
z
x
l
fundo l
xz
zz
z
x
topo l
xz
zz
z
x
u
u
L
u
u
u
u
(4.66)
Claramente, este processo pode continuar a ser aplicado camada a camada para todas as camadas
do sistema, resultando a equao
| | ,
, 2 ln, topo l
xz
zz
z
x
topo
xz
zz
z
x
u
u
S
u
u
(4.67)
onde n o nmero da camadas do sistema (no nosso caso n=5) e [S] a matriz do sistema
formada pelo produto das matrizes das vrias camadas, dada por
| | | | | | | |
) 1 (
...
3 2

=
n l
L L L S
l l
. (4.68)
Se os semi-espaos considerados no forem o vcuo poder ser til descrever a propagao
nesses mesmos semi-espaos, no em termos de deslocamentos e presses, mas sim em termos
de amplitudes. Nesse caso teremos ento
| | | || | .
) 0 ( , 1
1
ln,
ln

+
=
+
T
T
L
L
z l topo
T
T
L
L
A
A
A
A
D S D
A
A
A
A
(4.69)
4.6.1.2 Implementao prtica do mtodo da matriz de transferncia
Para determinao da resposta de um sistema embebido num slido, quatro das oito amplitudes
contidas em (4.69) tm de ser conhecidas, de forma a permitir a determinao das restantes

amplitudes atravs de manipulao da equao. Tipicamente admite-se que uma das ondas que
chega placa tem amplitude unitria e que as restantes so nulas (excitao numa das faces do
sistema com uma onda inclinada).
Se o sistema est imerso, ou semi-imerso num fluido, as equaes tm de ser reescritas para que
no seja possvel a existncia de ondas transversais no meio circundante. Uma abordagem
prtica desta situao feita considerando uma velocidade transversal para o fluido muito baixa,
por exemplo, vrias ordens de grandeza abaixo da velocidade longitudinal (Lowe, 1995).
4.6.1.3 Solues modais
Se ambos os semi-espaos considerados no nosso sistema forem o vcuo, uma soluo modal
obriga a que as presses sejam nulas nas interfaces externas i
1
e i
n-1
. Ou seja, a equao (4.67)
pode agora ser escrita como
| | .
0
0
0
0
, 2 ln, topo l
z
x
topo
z
x
u
u
S
u
u
(4.70)
expandindo esta equao em relao aos termos do lado esquerdo, correspondentes presso
nula, obtemos
,
0
0
42 41
32 31
)
`
=
)
`
y
x
u
u
S S
S S
(4.71)
onde a matriz dois por dois uma submatriz de [S] (linhas 3 e 4 e colunas 1 e 2). Para a equao
(4.71) ser satisfeita, o determinante desta submatriz tem de ser nulo. Definindo o determinante
como a equao caracterstica (f) do sistema temos que
. 0
32 41 42 31
= = S S S S f (4.72)
Se os semi-espaos do sistema no forem o vcuo, as presses nas interfaces externas no so
necessariamente nulas e temos de usar (4.69). Admitindo na figura 4.56 que as ondas que
chegam ao sistema, L+ e T+ na camada l
1
e L- e T- na camada l
5
so nulas, vamos ter

| | ,
0
0
'
0
0
1 ln l
T
L
T
L
A
A
S
A
A
+
+
(4.73)
com [S] definida como
| | | | | || | . '
) 0 ( , 1
1
ln, =
=
z l topo
D S D S (4.74)
Tal como que anteriormente, vamos obter a equao caracterstica do sistema, dada agora por
. 0 ' ' ' ' '
24 42 44 22
= = S S S S f (4.75)
4.6.1.4 Deslocamentos
A determinao dos deslocamentos para um sistema multicamada anloga ao de uma placa
isolada analisada em 4.2.2. Enquanto na placa isolada (no vazio) tnhamos apenas quatro
incgnitas resultantes de outras tantas equaes definidas pelas condies fronteiras (presses
nulas na faces da placa), no caso da figura 4.56 vamos ter quatro incgnitas adicionais por cada
interface. O nmero total de incgnitas ento de doze que correspondem s amplitudes L+, T+,
L- e T- nas camadas l
2
, l
3
, e l
4
, admitindo que o sistema est no vazio. Se o sistema estivesse
embebido num fluido iramos ter mais duas incgnitas correspondentes a L- na superfcie externa
superior e L+ na superfcie externa inferior, dado no ser possvel a existncia de ondas
transversais. Como o andamento dos deslocamentos no sofre grande influncia devido ao
fluido, vamos analisar, seguidamente, a situao em que o sistema est no vazio.
As condies fronteiras so as seguintes:
Interface i
1
:
, 0 = =
xz zz
(4.76)
Interface i
2
:
| | | | ,
3
, 3
2
, 2
, 3 , 2 l
T
T
L
L
topo l
l
T
T
L
L
fundo l
topo l
xz
zz
z
x
fundo l
xz
zz
z
x
A
A
A
A
D
A
A
A
A
D
u
u
u
u
(4.77)

Interface i
3
:
| | | | ,
4
, 4
3
, 3
l
T
T
L
L
topo l
l
T
T
L
L
fundo l
A
A
A
A
D
A
A
A
A
D
+
(4.78)
Interface i4:
. 0 = =
xz zz
(4.79)
O conjunto das equaes (4.76) a (4.79) pode ser integrado numa mesma matriz [G] de 12x12
elementos dando origem a
| | 0
4
4
4
4
3
3
3
3
2
2
2
2
=
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
+
T
T
L
L
T
T
L
L
T
T
L
L
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
G , (4.80)
onde os ndices das amplitudes esto relacionados com a respectiva camada.
Como inicialmente imposto que o determinante de [G] seja nulo (soluo modal), a equao
(4.80) vai dar origem a um sistema indeterminado. Para resolver esse problema, tal como
fizemos para uma placa isolada, vamos considerar uma amplitude unitria, podendo ignorar uma
das equaes e reduzir o sistema a 11 equaes e 11 incgnitas. Depois de conhecidas todas as
amplitudes pode ser feito o traado dos deslocamentos em termos de unidades arbitrrias. No
apndice D descrito este mtodo em detalhe.

4.6.1.5 Mtodo da matriz global
O mtodo da matriz global, inicialmente desenvolvido por Knopoff, para aplicaes relacionadas
com a sismologia (Knopoff, 1964) pode ser usado como alternativa ao mtodo da matriz de
transferncia. A grande vantagem deste mtodo a sua robustez, especialmente para valores
elevados de fd e o facto da mesma matriz poder ser usada para todas as categorias de soluo
(sistema embebido num slido ou no vcuo). A desvantagem tem a ver com a dimenso da
matriz, que conduz a uma grande diminuio de velocidade na obteno das solues.
Nesta abordagem uma nica matriz representa todo o sistema. O nmero total de equaes de
4(n-1), onde n representa o nmero de camadas existentes, que coincide com a ordem da matriz.
O conjunto total das equaes do sistema formado com base em conjuntos de quatro equaes,
que satisfazem as condies fronteiras em cada uma das camadas, da mesma forma que no
mtodo da matriz de transferncia.
No nosso trabalho, apesar deste mtodo ter sido testado com sucesso, foi usado o mtodo da
matriz da transferncia em detrimento da matriz global, pois revelou-se bastante mais rpido e
estvel, para a gama de fd utilizada. Atendendo a esse factor, no nos vamos alongar mais na sua
explicao, remetendo os interessados para alguns dos vrios trabalhos existentes na literatura
(Mal, 1988 e Lowe, 1992).
4.6.2 Anlise experimental de uma colagem em alumnio
Por razes j apontadas anteriormente, como sejam a baixa atenuao e boa discriminao
espacial para as baixas frequncias vamos, neste ponto, utilizar novamente o modo de
propagao S0 por imerso na configurao pitch and catch (sistema experimental da figura
4.28) com os mesmos transdutores de 500 kHz.
A liga de alumnio utilizada nas colagens a 5083-O, com 4 mm de espessura, bastante utilizada,
por exemplo, na indstria nutica. O adesivo do tipo epxi da Vantico (Araldite 2014) com
dois componentes. As placas tm um comprimento de 20 cm e largura de 12.5 cm, sendo a
colagem efectuada em toda a largura com uma extenso de 6 cm, ficando uma zona til em cada
uma das placas de 14 cm. Depois de aplicar a cola na zona referida exercida uma presso
uniforme de 0.1 Kg/cm
2
em toda a sua rea, de forma a obter uma espessura de
aproximadamente 0.15 mm, que segundo o fabricante garante uma resistncia mxima de rotura.
Na figura 4.57 apresentado um exemplo de uma dessas colagens.

Figura 4.57 Exemplo de uma colagem tipo junta sobreposta em alumnio.
As velocidades volumtricas (longitudinal e transversal), nesta liga de alumnio, foram
determinadas experimentalmente atravs do mtodo pulso-eco por contacto sendo, para esse
efeito, efectuadas medies em cerca de dez pontos diferentes e posteriormente feita uma mdia
desses valores.
Para este tipo de ligas, os fabricantes fornecem dados que nos permitem, tambm, fazer a sua
determinao terica. Esses dados so o mdulo transversal e o mdulo de Young ou de
elasticidade. Usando a tabela 3.1, a velocidade transversal imediatamente obtida do mdulo
transversal, enquanto que para determinar a velocidade longitudinal temos de calcular o mdulo
longitudinal, usando a expresso do mdulo de Young, e depois calcular a velocidade
longitudinal. As diferenas entre os valores experimentais e tericos foram inferiores a 0.5%, o
que podemos considerar como bastante aceitvel.
O primeiro teste consistiu na identificao do modo S0 numa placa isolada, que vamos designar
como placa de referncia, com dimenses idnticas s placas coladas que pretendemos analisar.
Para isso, tal como em 4.2.3, foi determinada a velocidade de fase do modo S0 para a frequncia
central, usando a equao de disperso, considerando V
L
=6300 m/s e V
T
=3130 m/s (V
F
=4822
m/s). Com a expresso (4.22) foi obtido o ngulo de incidncia de forma a sintonizar o emissor e
receptor (=18.1). Na figura 4.58 temos o espectro do sinal obtido nas condies anteriores.
Verifica-se, que o valor central do espectro aproximadamente 0.41 MHz, situando-se abaixo do
valor obtido para as placas de 3 mm analisadas anteriormente, o que est de acordo com
resultados de outros autores (Rose, 1998b), podendo ser explicado como um fenmeno similar
ressonncia em incidncia perpendicular. Para optimizao de emisso e recepo foram ento

recalculados os ngulos para o novo valor de V
F
(5125 m/s) calculado para f=0.41 MHz, dando
origem a =17.1.
0.2 0.3 0.4 0.5 0.6
70
60
50
40
30
20
10
0
Frequncia [MHz]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

[
d
B
]

Figura 4.58 Espectro do modo S0 numa placa de alumnio com 4 mm de espessura.
Com estes ngulos de incidncia foram medidas as amplitudes dos sinais recebidos para a placa
colada e para a placa de referncia, para uma distncia entre os transdutores de 14 cm. O sinal
obtido para a placa colada foi cerca de 0.427 Np superior ao da placa de referncia, o que indica
que na zona de colagem, os modos dominantes devem ter uma atenuao devido influncia do
fluido inferior ao modo S0 originalmente injectado.
Para determinar a perdas intrnsecas na colagem, relativamente s da placa de referncia, foi
efectuado um teste usando o mtodo de imerso local (inexistncia de fugas para o fluido) nas
duas placas, e verificou-se para a placa colada uma diminuio do sinal de 0.392 Np.
Conjugando as duas situaes podemos concluir que, na zona colada, as perdas devido a fugas
para fluido so inferiores em 0.819 Np, relativamente a uma placa isolada (0.427+0.392). As
perdas na placa isolada podem ser determinadas tanto experimentalmente, atravs da medio da
amplitude em dois pontos da placa, como teoricamente pelo mtodo descrito em 4.3.2. O valor
obtido experimentalmente foi de 14.79 Np/m, o que conduz, para uma distncia de 6 cm
(equivalente zona colada), a perdas de 0.8874 Np. As perdas por fugas na zona colada so
ento dadas pela diferena entre este ltimo valor e o valor para a placa de referncia, ou seja,
0.0684 Np, o que equivale a uma reduo de 7% do nvel inicial do sinal.
Para validar as medidas experimentais necessrio conhecer os modos de propagao existentes
na zona colada e o seu comportamento, os quais so determinados pelas curvas de disperso,
sabendo as propriedades dos materiais que formam essa zona colada (adesivo e aderentes). As

propriedades da cola (V
Lc
, V
Tc
e
c
) foram determinadas, experimentalmente, num cilindro
construdo para o efeito, sendo obtidos os seguintes valores: V
Lc
=2540 m/s; V
Tc
=1055 m/s e
c
=1.077 g/cm
3
. Com estes elementos e com as propriedades j conhecidas do alumnio foram
determinadas as curvas de disperso da velocidade de fase, usando a expresso (4.75) e uma
aplicao computacional que permite manipulao de variveis simblicas (Mathematica, 1999).
Essas curvas esto representadas na figura 4.59.
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
A0
S0
A1 S1 S2 A2

Figura 4.59 Curvas de disperso da velocidade de fase para uma colagem de duas placas de alumnio
imersas em gua (espessura das placas de alumnio 4 mm e espessura da cola 0.15 mm).
Como podemos observar, para a frequncia central (f=0.41 MHz) vo coexistir na zona colada da
placa quatro modos de propagao: A0, S0, A1 e S1. Na realidade, esta designao (modos
simtricos e anti-simtricos) no est formalmente correcta, pois s devem ser consideradas
ondas de Lamb aquelas que se propagam numa placa isolada. No entanto, devido s semelhanas
do seu comportamento, vamos manter esta terminologia.
Na prtica, o modo S0 inicialmente emitido num dos lados da colagem vai dar origem por
converso de modos no incio da colagem, aos modos A0, S0, A1 e S1. Por sua vez, os quatro
modos existentes na zona colada vo, novamente, ser convertidos em S0 no final da colagem.
Para uma placa no vazio, a maior ou menor relao de converso entre estes modos depende
essencialmente, da similaridade entre os seus deslocamentos (Lowe, 2000). Para uma placa
imersa, como o nosso caso, a atenuao o parmetro fundamental que vai determinar qual ou
quais, os modos dominantes.
Na tabela 4.2 so apresentados os valores da atenuao por fugas para a gua dos quatro modos
existentes na zona colada e o correspondente factor de reduo para um percurso de 6 cm

admitindo amplitude inicial unitria. Para sua determinao utilizada a expresso (4.49), depois
de serem obtidas, previamente, as velocidades complexas, usando o mtodo da matriz de
transferncia. Como tnhamos verificado anteriormente que a atenuao total na colagem d
origem a uma de reduo de 7%, o modo dominante na colagem tem de ser, necessariamente, S1
como se depreende facilmente da tabela 4.2 pois, caso contrrio, qualquer um dos outros modos
conduziria a uma reduo bem mais acentuada do nvel do sinal.
Tabela 4.2 Atenuao devido a fugas para o fluido dos modos de propagao existentes na zona colada, e
correspondentes factores de reduo, relativos a uma amplitude inicial unitria para uma distncia de 6
cm.
A0 S0 A1 S1
Atenuao (Np/m) 22.7 37.5 10.5 0.1
Factor de reduo 0.256 0.105 0.53 0.994

A anlise dos deslocamentos na zona colada permite confirmar os resultados anteriores. O seu
comportamento para cada um dos modos, obtido pelo mtodo descrito em 4.6.1.4 est
representado na figura 4.60. As grandes diferenas nas atenuaes podem ser justificadas pelo
andamento dos deslocamentos in-plane e out-of-plane na face externa da colagem. Por exemplo,
para S1 constatamos que o deslocamento essencialmente in-plane, dando origem a valores de
atenuao extremamente baixos. Para A1, os dois tipos de deslocamento so similares, dando
origem a valores de atenuao j assinalveis. Finalmente, para A0 e S0, os deslocamentos out-
of-plane so superiores aos deslocamentos in-plane conduzindo a atenuaes mais elevadas.
4.6.3 Caracterizao de colagens com defeitos
Um dos problemas mais frequentes durante o processo de elaborao de uma colagem o
aparecimento de bolhas de ar na zona do adesivo ou a ausncia do prprio adesivo. Os mtodos
tpicos para a sua localizao e caracterizao baseiam-se na espectroscopia ultra-sonora e na
imagiologia por C-scan, com a consequente morosidade associada. Como veremos, as ondas
guiadas podem tambm ser usadas na deteco e, de certa forma, na caracterizao desse tipo de
defeitos. Para esse efeito, vamos analisar colagens com defeitos simulados de geometria circular,
que a forma mais frequentemente detectada.

4 2 0 2 4 6
0
1
2
3
4
5
6
7
8
E
s
p
e
s
s
u
r
a

d
a

z
o
n
a

c
o
l
a
d
a

[
m
m
]
A0
uz
ux

8 6 4 2 0 2 4 6 8
0
1
2
3
4
5
6
7
8
E
s
p
e
s
s
u
r
a

d
a

z
o
n
a

c
o
l
a
d
a

[
m
m
]
S0
uz
ux

15 10 5 0 5 10 15
0
1
2
3
4
5
6
7
8
E
s
p
e
s
s
u
r
a

d
a

z
o
n
a

c
o
l
a
d
a

[
m
m
]
A1
uz
ux

5 0 5 10 15
0
1
2
3
4
5
6
7
8
E
s
p
e
s
s
u
r
a

d
a

z
o
n
a

c
o
l
a
d
a

[
m
m
]
S1
uz
ux

Figura 4.60 Deslocamentos dos quatro modos existentes na zona colada.
4.6.3.1 Construo das amostras
O parmetro mais importante quando da caracterizao de defeitos em colagens , sem dvida, a
sua dimenso, por isso, vamos tentar conceber defeitos com dimenses conhecidas, de forma a
estabelecer relaes dessas dimenses com outras grandezas observadas.
Na primeira fase da concepo das amostras com defeitos foram efectuados alguns testes em
placas de acrlico coladas em alumnio, pelo facto de poder ser feita uma inspeco visual e,
posteriormente, uma confirmao atravs de uma imagem obtida por intermdio do sistema de
C-scan acstico usado em 4.5.2.
Na figura 4.61 podemos ver uma fotografia de uma dessas colagens e a correspondente imagem
C-scan. As dimenses do defeito produzido so de aproximadamente 4x7 mm. Para originar o
defeito limitamo-nos a usar cola, apenas na pea de acrlico e a deixar uma pequena zona central
sem cola, exercendo, depois, uma presso uniforme sobre a pea. A concordncia entre as duas

imagens excelente, indicando que o C-scan pode ser usado na deteco de defeitos em
colagens.

(a) (b)
Figura 4.61 Colagem de teste em acrlico: (a) fotografia; (b) C-scan.
O prximo passo consistiu na formao de defeitos em placas de alumnio. Usando a estratgia
anterior foi deixado um crculo com cerca de 3 cm de dimetro, sem cola, em quatro amostras
diferentes, sendo seguidamente exercida uma presso uniforme de forma a obter a espessura de
cola pretendida. Na figura 4.62 so apresentados detalhes das imagens C-scan para as quatro
amostras, relativas zona dos defeitos. Como se pode observar, as dimenses so bastante
irregulares entre si devido dificuldade em conseguir uma camada uniforme de cola para todas
as amostras, que pelo efeito da presso, vai dar origem s irregularidades observadas. Por esse
facto, este mtodo no pode ser usado quando se pretende conceber defeitos com dimenses
conhecidas.

Figura 4.62 Defeitos obtidos em quatro diferentes colagens.

Um outro mtodo de simulao de defeitos em colagens muito usado, nomeadamente quando se
quer verificar a influncia desses defeitos na resistncia de uma colagem, utiliza uma fita adesiva
colada num dos aderentes. A zona da fita funciona, na prtica, como uma no colagem, ou seja,
um defeito. No nosso caso como pretendemos efectuar a anlise com ondas guiadas, o efeito da
fita adesiva no feixe ultra-sonoro no o mesmo do que a ausncia de colagem, logo, este
mtodo inadequado.
Uma tcnica muito usada em CNDU consiste na comparao entre o tipo de sinal obtido do
material a testar e um outro sinal obtido de um padro. Em algumas situaes, esse padro
consiste num material sem qualquer problema (colagem, soldadura, bloco, etc.) sendo, nesse
caso, desejvel que o sinal proveniente do material a testar seja o mais semelhante possvel ao do
padro. Noutras situaes, esses padres contm problemas, procurando o utilizador comparar as
suas respostas com os eventuais problemas existentes no material a analisar. Um dos mtodos
mais utilizado na concepo de colagens padro com defeitos, para posterior comparao com
outras colagens a testar, consiste na preparao de uma camada de cola no curada, qual
cortada uma rea correspondente rea do defeito pretendido. Nessas reas inserido um outro
material no adesivo, de forma a simular uma no colagem, sendo finalmente sobrepostos os
aderentes (Hagemaier, 1991). Devido s dificuldades associadas, especialmente manipulao
do adesivo semi-curado, no foi possvel implementar esta tcnica sendo, no entanto, tambm
duvidoso que o efeito do material no adesivo colocado na cola fosse idntico aos efeitos de uma
no colagem, quando da anlise com ondas guiadas.
Finalmente, foi usada com sucesso, uma tcnica de simulao de defeitos que consiste na
retirada de uma espessura de material de um dos aderentes, correspondente espessura da cola.
Seguidamente, essa zona coberta por fita adesiva de forma a produzir uma zona de no
colagem. Como a fita adesiva tem uma espessura de cerca de 25 m, que pequena quando
comparada com a espessura da cola, a sua presena no vai alterar significativamente o
comportamento do defeito simulado. Para comprovar este facto foi construdo, usando este
processo, um defeito com dimenses similares ao quarto defeito apresentado na figura 4.62, que
aproximadamente circular. Os resultados dos testes efectuados nestes dois defeitos foram
praticamente coincidentes, no que diz respeito sua influncia num feixe de ondas guiadas, o
que nos permite concluir que este mtodo adequado para a concepo de defeitos simulados.
Na figura 4.63 apresentada, a ttulo de exemplo, uma imagem C-scan de um defeito produzido
com 7 mm de dimetro. A diferena de cor na zona dos defeitos, relativamente s imagens
anteriores, est relacionada com alteraes da sua impedncia acstica provocada pela
introduo da fita adesiva.

Figura 4.63 Defeito com 7 mm de dimetro obtido com a tcnica descrita.
4.6.3.2 Teste preliminar numa placa colada com um defeito
O primeiro teste foi efectuado numa colagem com um defeito com 20 mm de dimetro. O sinal
injectando numa das placas coladas e recebido na outra do lado oposto da colagem,
analogamente seco anterior, sendo feito um varrimento ao longo de toda a sua extenso com
espaamento de 5 mm entre cada ponto. Para o primeiro e ltimo ponto os transdutores esto
encostados aos bordos da placa. Os valores de amplitude, normalizados relativamente a uma
placa sem defeitos, esto apresentados na figura 4.64, em funo do deslocamento dos
transdutores. As variaes de amplitude observadas so bastante elevadas, chegando a atingir
valores superiores a 100%. Numa abordagem inicial poderamos pensar, que estas variaes
estariam relacionadas com a atenuao, pois a zona da descolagem pode ser interpretada
fisicamente como duas placas semi-imersas, com diferentes valores de atenuao em relao
placa colada. Essa hiptese no nos parece, no entanto, credvel, pois a acontecer esses
fenmenos deveriam ter uma influncia sempre crescente, conforme nos afastamos ou
aproximamos do centro do defeito. Na realidade, o que acontece um decaimento da amplitude
do sinal quando o feixe comea a interceptar o defeito, minimizando-se quando o centro do
transdutor coincide com o bordo do defeito (3 cm). Seguidamente o valor aumenta,
maximizando-se quando o centro do transdutor coincide com o centro do defeito (4.5 cm). Para a
segunda metade da placa, o comportamento , a menos de pequenas diferenas, anlogo ao da
primeira metade. Este comportamento tem de estar necessariamente relacionado com fenmenos
de difraco das ondas guiadas ao interceptarem a zona descolada.
No incio e final da placa temos, tambm, variaes acentuadas do nvel dos sinais medidos, que
devem estar relacionadas com a interferncia de sinais reflectidos do bordo da placa, que se
devem divergncia de feixe do diagrama de radiao das ondas guiadas. Para a justificao

destes fenmenos vamos introduzir no ponto seguinte alguns conceitos relacionados com a teoria
clssica da difraco (Ristic, 1983).
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
1.1
1.2
1.3
Posiao horizontal [cm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a

Figura 4.64 Amplitude normalizada em funo da posio na colagem.
4.6.3.3 Teoria clssica da difraco
Na figura 4.65 temos uma onda acstica, plana e uniforme, a incidir num obstculo considerado
idealmente rgido, ou seja, que no permite a transmisso de energia. Todos os pontos ao longo
do eixo dos yy/s considerados fontes pontuais, vo dar origem, de acordo com o princpio de
Huygens, a novas fontes esfricas. A presso no ponto B ento dada por

=
=
a y
d B ) ( , (4.81)
onde d a presso no ponto B devido fonte pontual dy. Admitindo propagao harmnica
sabido que a soluo para ondas esfricas dada por
dy q r k i
r
d )) ( exp(
0
+ =

, (4.82)
sendo, neste caso, feita uma simplificao no denominador ) ( q r r + , pois como r muito
maior do que q podemos admitir que apenas vai influenciar o valor da fase, o que
perfeitamente vlido para a geometria do nosso problema. Substituindo (4.82) em (4.81) vamos
obter

=
=
a y
dy q k i
r
r k i
B ) exp(
) exp(
) (
0
. (4.83)
Observando a figura 4.65 podemos estabelecer a seguinte relao

2 2 2
) ( y r q r + = + , (4.84)
considerando a relao entre r e q mencionada anteriormente vamos ter, aps algumas
simplificaes

r
y
q
2
2
= . (4.85)
x
Onda plana incidente
B
r
r
q
dx
0
a

Figura 4.65 Onda plana incidente num obstculo com comprimento (-, a).
Vamos agora considerar uma mudana de varivel dada por u=my, com m
2
=2/(r), onde o
comprimento de onda. A varivel de integrao agora u, dando origem a que dy=du/m,
passando o limite de integrao inferior para ma. Substituindo em (4.83) vamos obter

=
=
ma y
du
u i
r m
r k i
B )
2
exp(
) exp(
) (
2
0

, (4.86)

que contm o integral complexo de Fresnel, que vamos designar por Z
~
(Tuma, 1987). Este
integral pode ser decomposto como
) ( ) ( ) (
~
u S i u C u Z + = , (4.87)
onde C(u) e S(u) so os cos e sin integrais de Fresnel, provenientes da decomposio da
exponencial complexa, definidos como

. )
2
sin( ) (
, )
2
cos( ) (
0
2
0
2

d u S
d u C
u
u
=
=
(4.88)
O integral da expresso (4.86) ento dado por
| | | | ) ( ) ( ) ( ) ( ) (
~
) (
~
ma S S i ma C C ma Z Z + = . (4.89)
Como C()=S()=0.5 (Tuma, 1987) a expresso (4.86) dada por
| | )) ( 5 . 0 ( ) ( 5 . 0
) exp(
) (
0
ma S i ma C
r m
r k i
B + =

. (4.90)
A intensidade de radiao dada pela parte real do vector de Poynting, que traduz a potncia
mdia radiada atravs de uma determinada superfcie e relaciona-se com a presso de uma forma
quadrtica (Krautkramer, 1990)

Z
I
2
*

= , (4.91)
onde
*
representa o conjugado da presso e Z a impedncia acstica do meio. Usando a
expresso (4.90) a intensidade dada por
| |
2 2 0
)) ( 5 . 0 ( )) ( 5 . 0 (
2
ma S ma C
I
I + = , (4.92)
onde I
0
uma constante dada por
0
2
/(2Zr).
Na figura 4.66 est representado um exemplo do comportamento da intensidade de radiao no
ponto B, normalizada em relao a I
0,
em funo do deslocamento do extremo do obstculo

definido pelo ponto a. Neste caso a onda tem uma velocidade de propagao de 5100 m/s e
frequncia de 400 kHz. A distncia r do ponto B ao obstculo de 20 cm. Quando o obstculo se
desloca para a direita, a intensidade de radiao no ponto B vai decrescendo gradualmente, pois
vamos entrar na chamada zona de sombra. Quando o deslocamento no sentido oposto vamos
obter oscilaes na intensidade da onda observada no ponto B, provocadas pelos fenmenos de
difraco, tendendo para o valor unitrio, quando o obstculo se afasta at -. Se estes
fenmenos no fossem considerados, no intervalo ]-,0], a intensidade seria unitria e no
intervalo [0,+[ seria nula.
20 15 10 5 0 5 10 15 20
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
a [cm]
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a

Figura 4.66 Intensidade da onda difractada em funo do deslocamento do obstculo.
4.6.3.4 Influncia do bordo das placas
Para analisar, com mais detalhe, a influncia do bordo das placas nas amplitudes dos sinais
recolhidos foi efectuado um teste experimental numa placa isolada com dimenses laterais
superiores s de uma colagem, de forma que haja garantia que o bordo oposto no interfere nas
medidas. Partindo do ponto inicial, que coincide com incio da interseco do feixe com a placa,
deslocaram-se os transdutores com passo de 1 mm at a um ponto onde apenas existe o efeito da
incidncia directa do feixe. O resultado normalizado em relao ao valor de amplitude devido a
incidncia directa pode ver-se na figura 4.67. Desde o incio da interseco do feixe com a placa
at sua completa interseco, que corresponde a uma posio horizontal de 25 mm, existe um
aumento gradual da amplitude do sinal, que justificvel pelo aumento da seco de
transmisso. A partir desse valor observa-se uma flutuao do sinal recebido, pois passamos a ter
um sinal directo sobreposto a um outro sinal reflectido no bordo, provocado pela divergncia do

feixe das ondas guiadas. Como a distncia ao bordo vai variar, a fase correspondente do sinal
tambm varia surgindo, assim, as oscilaes observadas. Para uma distncia superior a 66 mm
esse efeito deixa de ser visvel.
0 10 20 30 40 50 60 70
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
Posio horizontal [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a

Figura 4.67 Efeito do bordo da placa na amplitude do sinal medido (medidas experimentais).
A evoluo da parte inicial da curva da figura 4.67 pode ser justificada pelo formato circular dos
transdutores, pois a rea resultante da sua interseco com a placa no uma funo linear com o
deslocamento, necessitando de ser calculada para afectao do valor da intensidade recolhida,
admitindo que a presso emitida e recolhida variam, linearmente, com a rea dos transdutores.
A expresso da rea de um segmento de circulo dada por (Tuma, 1987)
) 4 3 (
6
2 2
s h
s
h
A + = , (4.93)
estando as grandezas h e s apresentadas na figura 4.68 relacionadas com o raio r da seguinte
forma

h
s h
r
8 2
2
+ = . (4.94)
Como temos um transdutor emissor e outro receptor, a evoluo da rea de interseco vai dar
origem a um factor quadrtico. Na figura 4.69 temos a sua comparao com os valores
experimentais, sendo muito boa a concordncia obtida. As pequenas discrepncias observadas,
especialmente na parte final do traado, esto relacionadas com os efeitos de difraco do feixe,
que originam uma onda reflectida no bordo, que por sua vez interfere com a onda directa.

r
s
h

Figura 4.68 Segmento de um circulo com raio r.
0 5 10 15 20 25
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Posio horizontal [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
Experimental
Terico

Figura 4.69 Intensidade normalizada em funo da penetrao do feixe na placa.
Quando passa a existir total interseco do feixe com a placa, a onda reflectida no bordo est
relacionada com o comportamento do diagrama de radiao do transdutor. Devido s suas
dimenses finitas, os transdutores vo ter um diagrama de radiao que rege o comportamento da
presso em funo do ngulo medido em relao ao seu eixo. Em 4.2.3 foi analisada essa
situao, no plano que contm o eixo do transdutor e perpendicular placa onde se pretendem
gerar as ondas guiadas. Se a anlise for feita num plano que contm o eixo do transdutor e que,
por sua vez, faz um ngulo com a placa igual ao ngulo de incidncia do transdutor podemos
analisar a divergncia das ondas guiadas na placa.
A verificao experimental do diagrama de radiao foi efectuada para uma placa isolada com
dimenses superiores s placas coladas. Usando o transdutor emissor numa posio fixa, o
receptor rodou desde 0 a 90 com um passo de 5, sendo registados os respectivos valores da
amplitude. O resultado, em conjunto com o traado terico obtido por (4.27), est representado
na figura 4.70. A concordncia dos dois traados muito boa, havendo apenas pequenas

diferenas em relao aos lobos secundrios, podendo a expresso (4.27) ser usada, de uma
forma geral, para descrever a evoluo do diagrama de radiao de ondas guiadas.

Figura 4.70 Traado terico e experimental do diagrama de radiao das ondas guiadas.
O sinal recebido (figura 4.67) ento resultante da onda directa, adicionada onda reflectida no
bordo, que determinada pelos diversos contributos relativos do feixe, multiplicados pelo valor
do diagrama de radiao ao quadrado, pois tanto o emissor como o receptor tm o mesmo
diagrama de radiao.
Em resumo, o clculo terico exacto da evoluo da curva na figura 4.67 pode revelar-se um
processo algo complexo, que sai do mbito deste nosso trabalho.
4.6.3.5 Anlise de defeitos simulados
Como vimos anteriormente, os fenmenos de propagao das ondas guiadas numa colagem,
podem ser descritos usando uma modelao multicamada. Para as dimenses das placas
consideradas vo coexistir na zona colada vrios modos de propagao que, ao encontrarem
descontinuidades no seu trajecto, do origem a processos complexos de difraco. Neste ponto
vamos usar um modelo simplificado para tentar justificar o comportamento das ondas guiadas.
Antes da efectuar a anlise dos defeitos nas colagens, optmos por testar o modelo de difraco
apresentado em 4.6.3.3 em geometrias mais simples. Para isso, foram usadas placas isoladas,
contendo buracos com diferentes dimenses da mesma ordem de grandeza dos defeitos
simulados. Os resultados experimentais normalizados, obtidos para incrementos de 5 mm no
deslocamento dos transdutores esto representados na figura 4.71. Os pontos iniciais e finais dos
traados so recolhidos, quando a face exterior dos transdutores coincide com o bordo da placa,
Terico
Experimental

sendo visveis os efeitos de difraco. Como o dimetro do transdutor de cerca de 3 cm (2.5 cm
do cristal e 0.5 cm do encapsulamento) ficamos com um deslocamento til de 9.5 cm. A zona de
interesse, onde no se verifica influncia dos bordos situa-se entre 3 e 6.5 cm. Nesta zona, para o
buraco com dimetro mais pequeno (0.5 cm), praticamente no existem perturbaes na
amplitude do sinal, o que justificado pelo facto da sua dimenso ser aproximadamente igual a
metade do comprimento de onda, tornando-o indetectvel.
0 2 4 6 8
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
Deslocamento [cm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
5mm
10mm
16mm
21mm
44mm

Figura 4.71 Valores experimentais da amplitude normalizada em funo do deslocamento dos
transdutores para placas com buracos de diferentes dimetros.
Para as restantes dimenses dos buracos verifica-se uma diminuio da amplitude do sinal com o
aumento do dimetro, o que perfeitamente compreensvel, pois a zona de sombra, onde no
existe transmisso directa, vai tambm aumentar. No entanto, se fosse esse o nico fenmeno
existente, teramos para cada uma das curvas um decaimento, quando o feixe comea a
intersectar o buraco, seguido de um aumento da amplitude, quando a seco do feixe obstruda
pelo buraco diminui. Na realidade, para cada um dos dimetros analisados verifica-se a
existncia de um mximo local, quando os transdutores esto alinhados com os buracos,
analogamente ao verificado na colagem inspeccionada em 4.6.3.2, apesar de agora a amplitude
relativa ser muito inferior. Vamos ento verificar se o modelo clssico de difraco pode explicar
este comportamento.
Vamos considerar algumas simplificaes, nomeadamente que o campo radiado pelo transdutor
emissor uniforme e que o obstculo plano com largura igual ao dimetro do buraco. Nestas
circunstncias, quando deslocamos os transdutores para que o feixe comece a interceptar um
buraco, d-se um fenmeno anlogo ao deslocamento para a esquerda do obstculo representado

na figura 4.65. O feixe da onda incidente tem agora largura definida, que vai diminuindo com o
deslocamento dos transdutores, at eventualmente se anular, caso o buraco tenha um dimetro
superior ao do feixe. Se o buraco tiver um dimetro inferior ao feixe, com o deslocamento lateral
passamos a ter, a dada altura, um feixe que diminui de largura e por sua vez um outro do lado
oposto cuja largura vai aumentando.
Para determinar os efeitos destes feixes com largura varivel vamos considerar a figura 4.72. Se
admitirmos que o feixe tem uma largura d e est centrado em y=0, os limites de integrao em
(4.86) passam agora a ser dados por md/2 e md/2. Considerando que os obstculos esto agora
fixos e o ponto de observao B se move paralelamente a y, I(d) representa uma famlia de
curvas de intensidade de radiao para os diferentes valores de d, dada por

+ +
(
+ =
2 2
0
))
2
( ( )
2
( ( ))
2
( ( ))
2
( (
2
) (
d
y m S
d
y m S
d
y m C
d
y m C
I
d I . (4.95)
Na figura 4.73 temos a sua representao em funo do deslocamento horizontal, para uma onda
com os mesmos parmetros da figura 4.66 e para trs diferentes valores de d.
y
B
-d/2
d/2
x
r
0

Figura 4.72 Onda plana com largura definida.
Para a determinao da intensidade que , efectivamente, recolhida pelo transdutor receptor
temos, ento, de fazer a integrao da funo I(d), obtida para cada valor de d, ao longo da sua
largura, tendo em ateno o que mencionmos anteriormente. Quando o dimetro do buraco
inferior largura de feixe temos um contributo para a intensidade total que vai diminuindo com
o deslocamento e um outro que vai surgir do lado oposto do defeito, que vai aumentando com
esse deslocamento. Na figura 4.74 esto representados os valores normalizados obtidos para um
defeito com 20 mm de dimetro, depois de extrada a sua raiz quadrada, de forma a existir
coerncia com os valores experimentais (admite-se que a presso directamente proporcional
amplitude medida). Em conjunto com essa curva temos representada uma outra obtida admitindo

a no existncia de efeitos de difraco, ou seja, a presso recebida depende apenas da incidncia
directa e proporcional seco irradiada. Como podemos observar, os valores obtidos quando
comparados com os valores experimentais da figura 4.71 demonstram que este modelo de
difraco no adequado para a geometria deste problema. Apesar de, relativamente zona de
decaimento, a concordncia ser melhor do que para o modelo sem difraco (decaimento de
cerca de 50 % para um deslocamento de cerca de 1 cm) continuamos sem explicao para o seu
aumento na zona central. Para os outros buracos o comportamento similar.
20 15 10 5 0 5 10 15 20
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
y [cm]
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
d=25mm
d=15mm
d=5mm

Figura 4.73 Intensidade de radiao em funo do deslocamento horizontal para diferentes larguras de
feixe.
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
Deslocamento [mm]
Com difraco
Sem difraco

Figura 4.74 Valores normalizados de presso acstica em funo dos deslocamento para um buraco com
20 mm de dimetro usando modelos com e sem difraco.

Atendendo ao exposto, tudo leva a crer, que o aumento da amplitude quando os transdutores
esto perfeitamente alinhados com os buracos, tem de estar relacionado com o seu formato
circular, no podendo ser feita a simplificao anterior, que os transforma num obstculo plano.
O tratamento deste tipo de problemas em que as fontes de difraco tm formatos conhecidos
tem sido feito por vrios autores (Graff, 1975 e Malecki, 1993). Basicamente, o obstculo pode
ser visto como uma fonte de uma onda de perturbao, que vai ser sobreposta ao campo
existente, ou seja, ao campo que existiria caso o obstculo no estivesse presente. A perturbao
vai depender do campo incidente e das condies fronteiras na superfcie do obstculo.
Mais recentemente foram desenvolvidos modelos para a anlise da difraco de ondas guiadas
provocada por buracos em placas (Fromme, 2002) ou por descontinuidades cilndricas (Shinger,
1995 e Norris, 1995). Qualquer um dos modelos utilizados nestas abordagens bastante
complexo, pois tem em considerao as componentes longitudinal e transversal das ondas
guiadas e a sua interligao.
No nosso caso vamos usar um modelo simplificado em que consideramos as ondas guiadas como
ondas planas a propagarem-se no plano da placa (xy).
Partindo da expresso do potencial da onda incidente no obstculo dado por
) ( exp(
max 1 1
kx t i = , (4.96)
e usando por convenincia coordenadas polares r e , conforme ilustrado na figura 4.75 vamos
obter
) cos ( exp(
max 1 1
kr t i = . (4.97)
y
x
r

Figura 4.75 Geometria do problema usando coordenadas polares.
De forma a comparar as condies fronteiras, a exponencial que rege o comportamento da onda
plana pode ser expandida numa srie de Fourier de ordem m (Malecki, 1993)

=
=
0
cos ) cos exp(
m
m
m C ikr , (4.98)
com

2
cos ) cos exp(
2
o
m
d m ikr C , (4.99)
onde =1 para m=0, e =2 para m=1,2,3,.
Os coeficientes Cm so dados pelas funes de Bessel de ordem m, ou seja, ignorando o termo
relativo ao seu carcter harmnico, o potencial da onda incidente dado por
m kr J i
m
m
m
cos ) ( ) (
0
max 1 1
=
= . (4.100)
Para a determinao do potencial da onda de disperso vamos admitir, por convenincia, e
atendendo nossa geometria, que temos uma onda cilndrica cuja fonte est situada no centro do
buraco. como se o nosso obstculo fosse um cilindro com altura infinita, situado
perpendicularmente ao plano de propagao.
A onda cilndrica caracteriza-se pelo facto de as suas fontes serem quasi-pontuais e idnticas,
distribudas ao longo de uma linha. Ao longo dessa linha ento produzida uma onda com
comportamento que funo de e no depende de z. A forma de tal onda cilndrica pode ser
encontrada em vrias publicaes, sendo o seu potencial dado por
m kr H A
m
m
m d
cos ) (
) 2 (
0
max 1
=
= , (4.101)
onde
) 2 (
m
H uma funo de Hankel de segunda espcie e de ordem m, e A
m
so constantes a
determinar pelas condies fronteiras.
No bordo do buraco em que r=a, sendo a o seu raio, as condies fronteiras dizem-nos que os
deslocamentos radiais devido onda incidente e difractada tm de ser idnticos, ou seja

d
r r

1
, (4.102)
que d origem a

0 cos ) ( ) ( ) (
0
) 2 (
max 1
=
(
=
m ka H
r
A ka J
r
i
m
m m m
m
. (4.103)
As constantes A
m
so ento dadas por

) (
) ( ) (
) 2 (
ka H
r
A
ka J
r
i
A
m m
m
m
m
=

. (4.104)
Para determinar as derivadas na expresso anterior temos de recorrer s seguintes relaes
(Tuma, 1987)

| | | |
| | | |
| |
| | ), ( ) (
, ) ( ) (
, ) ( ) (
2
1
) (
, ) ( ) (
2
1
) (
) 2 (
1
) 2 (
0
1 0
) 2 (
1
) 2 (
1
) 2 (
1 1
z H z H
z
z J z J
z
z H z H z H
z
z J z J z J
z
m m m
m m m
=
+
+
(4.105)
o que nos conduz s expresses finais das constantes A
m

) (
) (
) 2 (
1
1
0
ka H
ka J
A = , (4.106)

) ( ) (
) ( ) (
) ( 2
) 2 (
1
) 2 (
1
1 1
ka H ka H
ka J ka J
i A
m m
m m m
m
+
+
= . (4.107)
O potencial referente ao campo difractado ento dado de uma forma explcita por
m kr H
ka H ka H
ka J ka J
i kr H
ka H
ka J
m
m
m m
m m m
d
cos ) (
) ( ) (
) ( ) (
) ( 2 ) (
) (
) (
) 2 (
1
) 2 (
1
) 2 (
1
1 1 ) 2 (
0
) 2 (
1
1
max 1 (
+ =

=
+
+
. (4.108)
Na expresso anterior foram apenas considerados os termos at m=30, pois verificou-se
numericamente que os termos de ordem superior no influenciavam o resultado final. Admitindo
que o campo incide nos buracos da esquerda para a direita temos na figura 4.76 a representao
dos diagramas de difraco para as dimenses indicadas, obtidos pela expresso (4.108), para o
modo S0 (k=/V=2..410.10
3
/5100=505 m
-1
). O diagrama respeitante ao buraco com dimetro

de 44 mm no est representado, porque as suas dimenses so superiores largura do feixe. Por
comodidade
1max
considerado unitrio. Em todas as situaes o seu mximo dado para =0,
ou seja, numa direco paralela ao campo incidente, sendo esse valor crescente com a dimenso
dos buracos.
Para determinar o campo designado por
r
, recolhido pelo receptor para os vrios valores de a,
vamos considerar que quando no existe nenhum obstculo, o campo recebido dado apenas por
1
, que multiplica pelo dimetro do transdutor. Quando o feixe comea a ser interceptado pelos
buracos o campo recebido reduz-se na razo directa da largura do feixe interceptado, comeando
ento a ser somado
d
, que atinge um valor mximo para =0, ou seja, quando os transdutores
esto alinhados com o buraco. precisamente para esse valor que existe interesse prtico na sua
anlise quantitativa.
0.05
0.1
0.15
30
210
60
240
90
270
120
300
150
330
180 0

0.1
0.2
0.3
30
210
60
240
90
270
120
300
150
330
180 0

(a) (b)
0.1
0.2
0.3
0.4
30
210
60
240
90
270
120
300
150
330
180 0

0.2
0.4
0.6
30
210
60
240
90
270
120
300
150
330
180 0

(c) (d)
Figura 4.76 Diagramas de difraco de buracos com diferentes dimetros: (a) 5 mm; (b) 10 mm; (c) 16
mm; (d) 21 mm.

Genericamente no receptor temos

+ =
D
d
l
r
dl dl
1
1
, (4.109)
em que l
1
seco do feixe no obstrudo pelo buraco e D o dimetro do transdutor. Como o
transdutor receptor, que tem um dimetro de 2.5 cm, est situado a 14 cm do centro dos buracos
(origem do nosso referencial), quando os transdutores esto alinhados com os buracos, o ngulo
que o extremo do transdutor faz com a origem de cerca de 5.1 (
1
=arctan(1.25/14)). Como se
verificou que para este ngulo nos diagramas de difraco, no existiam variaes significativas,
relativamente ao valor mximo considerou-se como aproximao, que o campo difractado
constante ao longo da superfcie do transdutor receptor, ou seja, a expresso (4.109) pode ser
simplificada considerando os dois campos constantes, sendo dada por
D l
d r
+ =
1 1
. (4.110)
Na figura 4.77 temos representados os valores tericos obtidos por (4.110) e os valores
experimentais j apresentados anteriormente na figura 4.71, para a situao em que os
transdutores esto alinhados com os buracos, em funo da variao dos seus dimetros. Foi
efectuada uma normalizao relativamente aos seus valores mximos.
4 6 8 10 12 14 16 18 20 22
0.65
0.7
0.75
0.8
0.85
0.9
0.95
1
1.05
Dimetro dos buracos [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
Valores tericos
Valores experimentais

Figura 4.77 Valores tericos e experimentais das amplitudes normalizadas, obtidas com os transdutores
alinhados com buracos.
Como podemos ver, a concordncia entre valores tericos e experimentais muito boa, sendo
possvel afirmar, apesar das simplificaes efectuadas, nomeadamente considerando a onda

guiada como uma onda plana, que este modelo adequado para anlise quantitativa das
dimenses de buracos circulares em placas.
Vamos ento verificar se este modelo utilizado na propagao em placas com buracos pode ser
usado na anlise de defeitos em colagens. Atravs do mtodo descrito em 4.6.3.1 foram
concebidos defeitos circulares com 3, 7, 10, 12 e 20 mm de dimetro. Estas dimenses so da
ordem de grandeza dos defeitos reais em colagens, para alm de serem inferiores ao dimetro do
feixe, o que garante a aplicabilidade do modelo de difraco. Os resultados experimentais,
normalizados em relao ao valor central do menor defeito, obtidos como anteriormente, em
funo do deslocamento dos transdutores, esto apresentados na figura 4.78. Neste caso foram
ignorados os pontos que sofrem influncia dos bordos da placa. Podemos verificar para o ponto
central (transdutores alinhados com o defeito), que existe um aumento da amplitude com o
aumento da dimenso dos defeitos. Este fenmeno anlogo ao verificado para o campo
difractado nos buracos, com a diferena que agora na zona do defeito, a onda directa se divide e
continua a propagar-se nas duas placas descoladas, enquanto que para os buracos era
interrompida.
2.5 3 3.5 4 4.5 5 5.5 6 6.5
0.9
0.95
1
1.05
1.1
1.15
1.2
1.25
1.3
1.35
1.4
Deslocamento [cm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
3mm
7mm
10mm
12mm
20mm

Figura 4.78 Valores experimentais da amplitude normalizada em funo do deslocamento dos
transdutores para placas coladas com defeitos de diferentes dimetros.
Como vimos em 4.6.2, o modo dominante na colagem S1. Quando temos uma zona descolada,
em termos da propagao das ondas guiadas, esta equivale a duas placas semelhantes, semi-
imersas, com caractersticas idnticas a uma placa isolada. Atendendo s suas dimenses e
frequncia usada, os nicos modos admissveis so A0 e S0, ou seja, nessa zona o modo S1 vai
dar origem por converso de modos a A0 e S0. A figura 4.79 ilustra essa situao.

S1 S1
S0
A0
S0
A0
Defeito

Figura 4.79 Modos de propagao dominantes na zona colada com e sem defeitos.
Enquanto que a atenuao de S1 praticamente desprezvel, para A0 e S0 os valores so
substancialmente mais elevados.
Do ponto de vista prtico, quando pretendemos determinar as dimenses de um defeito na
colagem temos que entrar em considerao com os efeitos de difraco de S1, e com a atenuao
adicional de A0 e S0 para o seu ponto central (valores mximos da figura 4.78).
Para determinar os efeitos de difraco vamos admitir como aproximao, que a zona de
descolagem ocupa toda a espessura da colagem, ou seja, a colagem reduzida a uma estrutura
simplificada a duas dimenses, anloga geometria representada na figura 4.75.
O efeito da atenuao adicional provocada por A0 e S0 na zona descolada contabilizado,
admitindo que o factor de converso idntico para ambos os modos, logo dado pela mdia
das suas atenuaes. A atenuao de A0 e S0, obtida usando o mtodo apresentado em 4.3.2,
de 6.5 e 20.8 Np/m, respectivamente, dando origem a uma atenuao mdia de 13.65 Np/m, que
para os 6 cm de comprimento da nossa colagem representa uma atenuao de 0.819 Np. Para
cada defeito temos ento que aplicar onda directa um factor de reduo (), dado pela relao
entre a rea de descolagem e a rea total do feixe, que multiplica pela atenuao. A expresso
(4.110) toma ento agora a seguinte forma
D
d r
) (
1
+ = , (4.111)
pois, neste caso, tanto a onda directa como a difractada so totalmente captadas pelo receptor. Os
resultados tericos e experimentais normalizados em relao ao defeito de 3 mm, obtidos para o
centro dos defeitos, esto representados na figura 4.80.
Qualitativamente existe uma coerncia razovel entre os valores tericos e experimentais. As
discrepncias so inferiores a 10% e podem ser atribudas, principalmente ao facto, de no
modelo usado, considerarmos que a perturbao do campo provocada por um obstculo que
ocupa toda a seco de propagao e tambm por no termos a garantia que a converso de
modos nos defeitos seja da mesma ordem de grandeza para A0 e S0. Outros factores, como por

exemplo, pequenas alteraes na geometria do defeito pretendido durante o processo de
concepo podem, tambm, estar na origem das discrepncias analisadas. Apesar de tudo,
podemos dizer que o modelo em causa pode ser usado quando se pretende uma estimativa das
dimenses de defeitos em colagens.
5 10 15 20
1
1.05
1.1
1.15
1.2
1.25
1.3
1.35
1.4
1.45
1.5
Dimetro dos defeitos [mm]
A
m
p
l
i
t
u
d
e

n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
Valores tericos
Valores experimentais

Figura 4.80 Valores tericos e experimentais das amplitudes normalizadas, obtidas com os transdutores
alinhados com os defeitos.
Analisando novamente a figura 4.78 verifica-se, como dissemos, um aumento gradual da
amplitude com a dimenso do defeito, quando este est alinhado com os transdutores. Quando o
feixe das ondas guiadas est a interceptar parcialmente o defeito, de uma forma geral, os valores
observados de amplitude diminuem com o aumento da dimenso do defeito. Nesta zona da
colagem os fenmenos de difraco no podem ser analisados com o modelo apresentado, pois o
obstculo no est completamente imerso no campo incidente. Foi ento estabelecida uma
relao emprica, usando o valor mximo obtido para o centro dos defeitos (A
max
) e os valores
mnimos obtidos na situao de interseco parcial (A
min1
e A
min2
). Estes valores mnimos,
deveriam, teoricamente, ser iguais, no entanto, devido a eventuais problemas de paralelismo nas
placas ou falta de simetria nos defeitos verificaram-se algumas disparidades entre eles. Para
minimizar os eventuais erros experimentais foi usado o seu valor mdio. O parmetro designado
por
a
, ento dado pela expresso

2 / ) (
2 min 1 min
max
A A
A
a
+
= . (4.112)

Considerando tambm um defeito com dimetro de 30 mm foi estabelecida a relao entre o
parmetro anterior
a
e o dimetro dos defeito, que est representada na figura 4.81.
A correlao verificada excelente, o que nos indica que o parmetro
a
pode servir para
determinao da dimenso de defeitos circulares em colagens, com elevado grau de preciso.
Obviamente que para outras configuraes, nomeadamente com placas de diferente espessura,
esta correlao ter de ser validada devido ao seu carcter emprico.
5 10 15 20 25 30
1
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
a
R =0.9934
2

Figura 4.81 Parmetro
a
em funo do dimetro dos defeitos.
4.6.3.6 Ensaios destrutivos
Para efectuar os ensaios destrutivos das placas coladas foi necessrio proceder ao seu corte, para
que a sua largura no ultrapassasse 5 cm, por limitaes fsicas das amarras disponveis na
mquina de traco utilizada. Os valores da tenso de rotura para as colagens com os diferentes
dimetros de defeitos esto representados na figura 4.82. Os resultados obtidos foram algo
diferentes do que inicialmente poderamos supor. Aparentemente no existe relao directa entre
a rea do defeito e a tenso de rotura. Os valores obtidos so todos da mesma ordem de
grandeza, apesar de termos para o defeito mais pequeno uma relao entre a rea do defeito e a
rea total da colagem de cerca de 0.2 %, e para o defeito maior 41.8%. Este facto tem, ento, que
estar relacionado com uma distribuio no uniforme das tenses ao longo das colagens e, por
conseguinte, a zona dos defeitos deve corresponder a tenses mnimas, quando dos testes de
rotura.

Neste tipo de junta colada, segundo a norma ASTM D 1002 (ASTM, 1996), a tenso de rotura
pode ser definida como sendo o cociente entre a carga para a qual ocorre o colapso (P) e a rea
de colagem

l b
P
= , (4.113)
onde b e l so a largura e o comprimento da junta, respectivamente.
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
T
e
n
s
o

d
e

r
o
t
u
r
a

[
M
P
a
]

Figura 4.82 Tenso de rotura em funo do dimetro dos defeitos nas colagens.
No entanto, esta anlise, ao assumir que os aderentes so rgidos (devido ao seu mdulo de
elasticidade ser muito superior ao da cola) e que as juntas apenas se deformam ao corte do
origem a simplificaes que no traduzem a realidade. Deste modo, a tenso de corte apresenta
um valor mdio constante ao longo da junta, a qual no corresponde sua verdadeira
distribuio de tenses. Dada a simplicidade do seu clculo, este valor pode ser entendido como
uma primeira aproximao, existindo, no entanto, outros mtodos capazes de modelar
matematicamente com uma maior exactido o estado de tenses na junta. Estes modelos
matemticos envolvem vrios parmetros, como as propriedades dos materiais, e a sua resoluo
passa pela aplicao de mtodos analticos e/ou numricos (Goland, 1944; Hart-Smith, 1973;
Zhao, 1990 e Oplinger, 1991). Verifica-se, no entanto, que a via analtica se torna impraticvel
na resoluo de geometrias e condies fronteiras complexas, pelo que vulgar, nestas situaes,
utilizar tcnicas numricas, sendo o mtodo dos elementos finitos o mais utilizado (Harris, 1994;
Yadagiri, 1987 e Lin, 1993).

Utilizando o critrio de cedncia de Von Mises (Mori, 1990) temos na figura 4.83, os resultados
obtidos por Reis usando simulao por elementos finitos, para as tenses na linha mdia da cola
ao longo de uma colagem com 6 cm de comprimento e 2 cm de largura (Reis, 2001). A carga
aplicada de 1000 N. As tenses de Von Mises representam a resultante de todas as tenses
existentes numa junta sobreposta.
Como o modelo utiliza geometria bidimensional, os resultados obtidos no dependem da largura
da colagem e podem ser extrapolados para o nosso caso. Como podemos verificar, os valores das
tenses nas extremidades da colagem so cerca de uma ordem de grandeza superiores,
relativamente aos valores mnimos, que so observados na zona central. Como os defeitos foram
introduzidos nessa zona central das colagens, o seu contributo para a diminuio da tenso de
rotura baixo, quando comparado com eventuais imperfeies da colagem nos seus extremos,
que devem contribuir de uma forma crtica para o seu colapso. Mesmo para a colagem com o
maior defeito, com dimetro de 4 cm, a sua zona de no colagem apresenta sempre o valor
mnimo de tenso. Podemos ento concluir que os resultados experimentais esto de acordo com
a teoria, estando a variao dos valores de tenso de rotura observada, relacionada com a falta de
homogeneidade do processo de concepo das colagens e no com as dimenses dos defeitos
introduzidos.
0 10 20 30 40 50 60
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
Distncia na colagem [mm]
T
e
n
s
e
s

d
e

V
o
n

M
i
s
e
s

[
M
P
a
]

Figura 4.83 Tenses de Von Mises ao longo da colagem.
4.6.4 Anlise de colagens tratadas termicamente
A possibilidade de utilizao de ondas guiadas para determinao do grau de adeso entre
materiais colados tem sido um assunto abordado por vrios autores (Pilarski, 1985; Nagy, 1989;

Adler, 1990 e Shinger, 1997a). Neste ponto vamos, atravs de tratamento trmico, tentar obter
diferentes graus de adeso em colagens e verificar a sua influncia na propagao das ondas
guiadas.
4.6.4.1 Aproximao quasi-esttica (QSA Quasi-static approximation) na
modelao de interfaces imperfeitas
Nas ltimas duas dcadas, o modelo QSA tem sido frequentemente usado para descrever a
interaco de ondas ultra-sonoras com interfaces imperfeitas. Este modelo uma aproximao
para baixas frequncias e pode ser usado quando a espessura da interface muito menor que o
comprimento de onda, como o caso de uma colagem.
De acordo com o modelo QSA, as imperfeies da interface vo dar origem a uma
descontinuidade no deslocamento que proporcional presso. Admite-se, tambm, que as
componentes da presso so contnuas em toda a interface. Temos ento que as presses so
dadas por (Pecorari, 1999 e Baltazar, 1999)

), (
), (
+
+
=
=
n
z
n
z
n
N
n
zz
n
x
n
x
n
T
n
xz
u u K
u u K
(4.114)
onde
n
T
K e
n
N
K so as constantes normal e transversa de rigidez da interface imperfeita n.
Podemos, ento, usar o mtodo da matriz de transferncia apresentado em 4.6.1.1 para
determinar a influncia da degradao das condies fronteiras nas curvas de disperso de fase.
Resolvendo (4.114) em relao ao deslocamento num dos lados da interfaces vamos obter

.
,
n
N
n
zz n
z
n
z
n
T
n
xz n
x
n
x
K
u u
K
u u
=
=
+
+
(4.115)
Em termos matriciais, as condies fronteiras para uma interface arbitrria so ento dadas por
| | ,
+

n
xz
zz
z
x
n
xz
zz
z
x
u
u
K
u
u
(4.116)
sendo a matriz [K] dada por

| | .
1 0 0 0
0 1 0 0
0
1
1 0
1
0 0 1
(
(
(
(
(
(
(
=
N
T
K
K
K (4.117)
Usando (4.66) e (4.67), a matriz do sistema para a colagem degradada ento dada por
| | | | | || | | || |
4 3 2
L K L K L S
d
= , (4.118)
podendo as curvas de disperso ser obtidas, tal como anteriormente, fazendo o determinante de
[S
d
] nulo.
4.6.4.2 Curvas de disperso da velocidade de fase em funo das constantes
de rigidez
Para obter as curvas de disperso da velocidade de fase temos de encontrar as solues modais
do sistema. Tal como em 4.6.1.3, o determinante da matriz do sistema tem de ser nulo.
Admitindo que as constantes de rigidez representam o grau de colagem entre as interfaces, e
atendendo a (4.115), teoricamente temos, para K
N
e K
T
nulos, uma descolagem completa e para
K
N
e K
T
infinitos, uma colagem perfeita. De forma a simplificar o modelo e tendo em conta
resultados experimentais obtidos por vrios autores (Baltazar, 1999 e Rose, 1999), bem como a
relao tpica entre velocidades longitudinal e transversal vamos admitir a seguinte relao

T N
K K 2 = . (4.119)
Usando ento (4.118) verificmos que o andamento das curvas da velocidade de fase apenas
sofre alteraes para o intervalo
14 12
10 10 < <
T
K . Para valores de K
T
superiores a 10
14
o
comportamento idntico ao de uma colagem perfeita e para valores inferiores a 10
12
ao de uma
descolagem completa. Na figura 4.84 temos, a ttulo de exemplo, o comportamento do modo A1
para o referido intervalo de valores de K
T
.
4.6.4.3 Trabalho experimental
Para o estudo do grau de adeso foram concebidas 16 colagens com dimenses idnticas s do
ponto 4.6.2. Seguidamente foram divididas em quatro grupos, sendo cada um dos grupos sujeito

a diferentes temperaturas (25, 75,100 e 200), que vamos designar por grupos A
25
, A
75
, A
100
e
A
200
, respectivamente.
O mtodo de anlise por ondas guiadas tambm o mesmo que utilizmos em 4.6.2. O primeiro
teste foi efectuado atravs da medio da amplitude e da velocidade de fase do modo S0 para as
vrias amostras, na zona livre das colagens. No foram obtidas quaisquer variaes nos seus
valores. Como o sinal S0 recolhido fruto de converso dos modos dominantes na zona colada,
aparentemente, esses fenmenos no so sensveis degradao do nvel de colagem aqui
analisada.
0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8
3
3.5
4
4.5
5
5.5
6
6.5
7
7.5
8
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
10
14
2.10
13
10
13
8.10
12
5.10
12 10
12

Figura 4.84 Variao do comportamento da velocidade de fase do modo A1 para diferentes valores da
constante de rigidez K
T
(K
N
=2K
T
).
No segundo conjunto de testes tentmos observar variaes da velocidade de fase sobre a zona
colada. Como tnhamos constatado anteriormente, na zona da colagem, o modo dominante S1,
devido, essencialmente, atenuao e s caractersticas do seu deslocamento. Pelo facto do seu
deslocamento out-of-plane na face externa da colagem ser muito baixo, quando comparado com
o deslocamento in-plane, faz com que a sua deteco seja praticamente impossvel, uma vez que
no existe radiao para a gua. Este facto levou-nos a tentar detectar A1, pois neste caso os
deslocamentos in-plane e out-of-plane so da mesma ordem de grandeza. Usando ento a
orientao adequada dos transdutores foram recolhidos sinais separados entre si de apenas 1 cm
por causa das limitaes fsicas das placas e foi determinada a velocidade de fase, usando o
mtodo da fase do espectro. Na figura 4.85 temos os valores experimentais para as colagens A
25

e A
200
em conjunto com os valores tericos de A1 e S1. Os valores experimentais so obtidos
fazendo uma mdia de valores adquiridos em vrios pontos de uma mesma placa e, por sua vez,

fazendo uma mdia entre as colagens do mesmo grupo, de forma a minimizar os erros de
medida. Optmos por representar A
25
e A
200
, porque teoricamente seriam aqueles onde existiriam
maiores diferenas. O andamento da velocidade de fase para esses dois tipos de amostras no
entanto muito similar.
0.3 0.35 0.4 0.45 0.5 0.55
4
5
6
7
8
9
10
Frequncia [MHz]
V
e
l
o
c
i
d
a
d
e

d
e

f
a
s
e

[
K
m
/
s
]
A200 (Experimental)
A25 (Experimental)
A1 (Terico)
S1 (Terico)

Figura 4.85 Valores experimentais da velocidade de fase do modo A1 para as colagens A
25
e A
200
e
valores tericos de A1 e S1.
De forma a podermos justificar este comportamento procedemos aos ensaios destrutivos das
colagens para verificar o seu grau de adeso. A metodologia foi idntica usada em 4.6.3.6.
Neste caso, de cada um dos grupos A
25
a A
200
, foi retirada uma colagem e transformada em duas
amostras, para garantir maior fiabilidade dos testes. Os resultados esto representados na figura
4.86. Verifica-se, que com o aumento da temperatura existe um aumento da tenso de rotura,
mantendo-se uma boa coerncia entre os pares de medidas efectuadas para cada temperatura. O
valor mximo de tenso de rotura sensivelmente duplo do valor mnimo.
Se admitirmos que, analogamente, a relao entre as constantes de rigidez das amostras A
200
e
A
25
tambm dupla, podemos justificar o facto da variao da velocidade de fase do modo A1
ser to pequena. Na figura 4.84 podemos ver que para variaes de K
T
em torno de 10
13
temos
grandes variaes da velocidade de fase, no entanto quando K
T
aumenta, essas variaes deixam
de ser significativas. Por exemplo, quando K
T
varia entre 10
14
e 5.10
13
temos uma variao
inferior a 0.5% do valor da velocidade de fase. Com o aumento de K
T
acima de 10
14
as variaes
comeam a ser praticamente inexistentes.
Na prtica, as nossas colagens, apesar de terem diferentes graus de adeso, apresentam valores
de constantes de rigidez elevados, dando origem a variaes muito baixas na velocidade de fase,

no sendo possvel fazer a sua discriminao. Conclui-se ento, que o mtodo de anlise e o
modelo apresentados no so os mais indicados para a caracterizao deste tipo de adeso,
podendo, no entanto, ser aplicado quando se pretender analisar interfaces com nveis de adeso
mais baixos.
50 100 150 200
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
5.5
6
Temperatura [C]
T
e
n
s
o

d
e

r
o
t
u
r
a

[
M
P
a
]

Figura 4.86 Tenso de rotura em funo do tratamento trmico.
4.7 Concepo de um sistema de caracterizao de papel
Nas ltimas duas dcadas tem havido um crescente interesse no uso de tcnicas no destrutivas,
nomeadamente ultra-sonoras, na caracterizao de propriedades mecnicas do papel. Vrios
autores tm efectuado trabalhos, tanto do ponto de vista terico como experimental, numa
tentativa de estabelecer correlaes entre parmetros mecnicos e ultra-sonoros.
A estrutura do papel pode ser considerada como uma placa ortotrpica, ou seja, que tem simetria
em relao a trs planos ortogonais. Atendendo a esse facto, Habeger estabeleceu as suas
equaes caractersticas para as ondas guiadas e as respectivas curvas de disperso da velocidade
de fase, bem como a aproximao para baixas frequncias (Habeger, 1979).
Aos mtodos que no envolvem contacto directo com o papel, como a transmisso no ar ou por
intermdio de meios pticos, tem sido dado grande relevo, pela possibilidade da sua utilizao
on-line, durante o processo de fabrico do papel (McIntyre, 2001; Kazys, 2001 e Johnson, 1996).
No nosso trabalho foi desenvolvido um sistema controlado por um computador pessoal, que
permite efectuar medies das velocidades no plano do papel, que podem ser relacionadas com
algumas das suas propriedades mecnicas. Devido s suas caractersticas, no papel no podem
ser usadas as tcnicas clssicas por imerso ou por contacto usando uma fina camada de lquido

de acoplamento. Foram ento desenvolvidos transdutores baseados em cermicas piezoelctricas
de titanato zirconato de chumbo (PZT - Lead Titatane Zirconate Piezoelectric Ceramics). Estas
cermicas so montadas numa configurao conhecida como bimorfa, muito usada em
aplicaes como o controlo de posicionamento, amortecimento de vibraes ou como sensores
para pequenas vibraes (Wang, 1999b). Os transdutores, dispostos circunferencialmente, vo
ser integrados numa cabea de medida que, em conjunto com hardware especfico, vo formar o
nosso sistema de caracterizao de papel.
A grande vantagem deste sistema, relativamente a outros que usam apenas um par de
transdutores acoplados a sistemas de rotao, reside no facto de permitir efectuar medies em
todas as direces do plano do papel em tempo real.
4.7.1 Propagao de ondas guiadas em papel
Como referimos anteriormente, a estrutura do papel pode ser considerada como uma placa
ortotrpica, sendo os seus eixos de simetria ao longo da machine direction (MD), cross-direction
(CD) e da espessura. As designaes MD e CD esto relacionadas com o processo de fabrico,
sendo que MD coincide com a direco do enrolamento do papel no sistema de produo e CD
perpendicular a MD. Como o papel essencialmente formado por fibras de celulose com formato
longilneo, o movimento durante o processo de fabrico leva a que essas fibras fiquem
tendencialmente alinhadas com MD, dando origem a um fenmeno de anisotropia. Na figura
4.87 temos uma imagem obtida por SEM (Scanning Electronic Microscopy), onde esse tipo de
estrutura bem visvel.

Figura 4.87 Imagem da microestrutura do papel obtida por SEM.

O estabelecimento das equaes de disperso das ondas guiadas em placas ortotrpicas
bastante mais complexo do que para os materiais isotrpicos, que analismos em 4.2. No
entanto, para regimes de baixa frequncia, o modo fundamental S0 pode ser considerado como
independente da frequncia, sendo a sua velocidade dada por (Habeger, 1979 e Khoury, 1999)

) 1 (
2
0
yx xy
S
E
V

= , (4.120)
onde E o mdulo de Young, a massa especfica e
xy
e
yx
so as relaes de Poisson no
plano do papel (plano xy). Experimentalmente verifica-se, para a maior parte dos papis, que o
termo (1-
xy
yx
) aproximadamente unitrio, logo, a relao anterior pode ser simplificada,
tomando a forma

E
V
S
=
2
0
. (4.121)
O mdulo de Young normalizado em relao massa especfica, que coincide com o quadrado
da velocidade designado por ndice de rigidez traco (TSI Tensile Stiffness Index), sendo
um parmetro aceite como uma boa estimativa para a resistncia mecnica do papel numa dada
direco

2
0 S
V TSI = . (4.122)
Ou seja, atravs da medio da velocidade de propagao em baixas frequncias podemos
estimar, de uma forma aceitvel, a resistncia mecnica do papel. Variaes de TSI superiores a
10% em MD normalmente so indicadoras de problemas no processo de fabrico. Por outro lado,
como este parmetro est relacionado com a elasticidade do papel, a sua no uniformidade ao
longo de um rolo pode dar origem a quebras em sistemas de impresso de alta velocidade
(Lindblad, 2001).
Outro dos parmetros fundamentais para os fabricantes de papel a monitorizao de
anisotropia, pois esta fornece, tambm, informao sobre eventuais problemas existentes no
processo de fabrico. Tipicamente, a velocidade de propagao mxima para MD e mnima para
CD, devido ao alinhamento das fibras. Esta caracterstica est relacionada com os diferentes
graus de compressibilidade que as fibras apresentam com a variao da direco propagao.
Efectuando, ento, medidas de velocidade em diferentes direces no plano do papel podemos

determinar a orientao das fibras, e consequentemente, a anisotropia. Este conjunto de medidas
efectuado em todas as direces conhecido por diagrama TSI.
Como referimos, em condies ptimas de fabrico, o valor mximo do diagrama TSI coincide
com MD, no entanto, esse valor mximo pode, por vezes, apresentar um desvio angular de MD,
que designado por ngulo TSO (Tensile Stiffness Orientation Angle). O controlo deste
parmetro de extrema importncia para os fabricantes de papel, sendo desejvel que mantenha
o valor mais baixo possvel, caso contrrio, necessrio introduzir alteraes nos parmetros de
fabrico. Para papis comuns, o ngulo TSO deve ser inferior a 5 e para papis de cpia ou
impresso inferior a 3. Para valores superiores, o principal problema, especialmente em papel de
impresso, o aparecimento de irregularidades na sua textura e o consequente encravamento
quando sujeito a variaes de temperatura, como por exemplo no processo de impresso laser.
Este fenmeno est relacionado com o retirar da humidade que geralmente existe no papel
(Lindblad, 2001). Para alm deste problema, como o armazenamento efectuado em grandes
pilhas pode existir o risco de queda devido sua no uniformidade.
Na figura 4.88 temos o aspecto de um diagrama TSI com os parmetros de interesse assinalados.
O valor do ngulo TSO est propositadamente exagerado para uma melhor visualizao.
CD
ngulo TSO
TSI
max
TSI
CD
TSI
min
TSI
MD
TSI
rea

Figura 4.88 Diagrama TSI.
Para alm dos parmetros mencionados, o diagrama TSI pode dar mais informaes, que sero
ou no relevantes, mediante o tipo de papel a analisar. Exemplos disso so a relao TSI
MD/CD
ou
o valor de TSI
rea
.

4.7.2 Cermicas bimorfas e unimorfas
A estrutura de cermicas unimorfas e bimorfas extremamente simples. Na figura 4.89 esto
representadas as suas configuraes. No caso das cermicas bimorfas temos duas possveis
configuraes: srie ou paralelo. Na configurao srie (figura 4.89 (a)), as duas cermicas com
polarizao inversa so coladas, sendo aplicada uma tenso elctrica ao conjunto. Na
configurao paralela (figura 4.89 (b)), as duas cermicas tm o mesmo tipo de polarizao,
sendo aplicadas duas tenses, uma face superior e a outra face inferior, relativamente ao
elctrodo central. Em ambos os casos uma das cermicas sobre uma expanso e a outra uma
contraco, dando origem a um movimento de flexo na extremidade livre do bimorfo. No caso
da estrutura unimorfa a cermica piezoelctrica colada a um material elstico, que pode ser por
exemplo um metal. Quando excitada por uma tenso elctrica d origem a uma expanso ou
contraco. Uma vez que o material elstico tende a resistir a essa deformao origina, tambm,
um movimento de flexo. Qualquer bimorfo pode ser usado como unimorfo se no for aplicada
nenhuma tenso a uma das cermicas. Uma das grandes vantagens dos bimorfos e unimorfos o
facto de serem, dentro dos sensores piezoelctricos, aqueles que permitem as maiores amplitudes
de deslocamento. Dependendo da sua geometria podem gerar deslocamentos desde a dezena de
mcrones at alguns milmetros.
V
V
V
Cermica
Placa metlica
Polarizao
(a)
(b)
(c)

Figura 4.89 Configurao esquemtica de cermicas: (a) e (b) bimorfas e (c) unimorfas.
4.7.3 Construo e caracterizao dos transdutores
Na construo dos transdutores foram usadas cermicas bimorfas, compostas por finas camadas
de material piezoelctrico, isoladas entre si. Este tipo de bimorfo permite elevados valores de
campo elctrico (3 MV/m), dando origem a deslocamentos de elevada amplitude, mesmo para
baixos valores da tenso aplicada (Ferroperm, 2000). Num dos seus topos temos elctrodos para
ligao ao sistema de excitao/recepo.

A cermica PZT seleccionada do tipo Pz29 (designao comercial) devido, essencialmente, ao
facto de ser a que origina maiores deslocamentos quando comparada com outros tipos e,
tambm, por ter menos efeitos de histerese. Por questes de ergonomia e tendo em conta as
dimenses standard produzidas pelo fabricante, foram seleccionadas cermicas com as
dimenses de 21x7.8x1.8 mm (comprimento/largura/espessura).
O encapsulamento dos transdutores feito por intermdio de duas peas em alumnio que
envolvem a cermica, sendo unidas por intermdio de quatro parafusos, para que seja fcil
controlar o comprimento livre da cermica aquando dos testes experimentais.
Do ponto de vista terico, a frequncia de ressonncia do modo fundamental de um bimorfo
PZT, fixo numa das suas extremidades (figura 4.90), dada por (Yao, 1999)

3 4
52 . 3
2
E
l
t
f
r
= , (4.123)
onde t a espessura, l o comprimento livre, E o mdulo de Young e a massa especfica. Como
se pode ver pela expresso anterior, a frequncia de ressonncia pode ser controlada atravs do
comprimento livre do bimorfo.
w
t
l
Figura 4.90 Estrutura de um bimorfo fixa numa das suas extremidades.
Para a caracterizao dos transdutores, do ponto de vista elctrico, foi usando um analisador de
impedncias. Na figura 4.91 temos a resposta em frequncia obtida para um teste preliminar num
transdutor com l=16 mm. O parmetro representado em funo da frequncia a parte real da
impedncia, pois ele quem vai condicionar a eficincia da entrega de potncia por parte do
circuito de excitao. Podemos verificar a existncia de trs picos de ressonncia (A, B e C). O
ponto A corresponde ao valor terico dado por (4.123), enquanto os pontos B e C so
harmnicos de ordem superior.

0 20 40 60 80 100
0
5
10
15
20
25
30
Frequncia [kHz]
R

[
O
h
m
]
A
B
C

Figura 4.91 Resposta em frequncia de um transdutor com um comprimento livre de 16 mm.
Variando l entre 4 e 16 mm foi analisado o comportamento das ressonncias observadas
anteriormente. Como normalmente, devido a aspectos construtivos, os parmetros das cermicas
tm grandes variaes, a anlise foi efectuada para oito transdutores diferentes, de forma a
minimizar eventuais erros. Os valores mdios esto representados na figura 4.92 (a).
4 6 8 10 12 14 16
0
20
40
60
80
100
Comprimento livre [mm]
F
r
e
q
u
n
c
i
a

d
e

r
e
s
s
o
n
n
c
i
a

[
k
H
z
]
A
B
C
Teoria

4 6 8 10 12 14 16
5
10
15
20
25
30
35
40
Comprimento livre [mm]
P
a
r
t
e

r
e
a
l

d
a

i
m
p
e
d
n
c
i
a

[
O
h
m
]
A
B
C

(a) (b)
Figura 4.92 Comportamento do transdutor com a variao de l: (a) frequncia de ressonncia; (b) parte
real da impedncia.
Os valores tericos foram obtidos usando as caractersticas do material fornecidas pelo
fabricante. Verifica-se que para valores mais elevados de l existe uma boa concordncia entre os
valores tericos e experimentais para o modo fundamental, comeando a existir diferenas, cada
vez mais significativas com a sua diminuio, que devem estar relacionadas com imperfeies
no encapsulamento. A ressonncia B apenas existe para valores de l entre 12 e 16 mm. A

ressonncia C mantm-se sempre para os valores de l analisados, sendo o seu valor
aproximadamente constante em torno de 85 kHz.
Na figura 4.92 (b) esto representados os valores da parte real da impedncia, para cada uma das
ressonncias, verificando-se um aumento generalizado com o aumento de l.
4.7.4 Seleco da frequncia de trabalho
A frequncia de trabalho dos transdutores um dos parmetros mais importantes do nosso
sistema de medida. Numa primeira abordagem deste problema podemos considerar quatro
factores a ter em considerao para a sua escolha:
a) garantir uma propagao eficaz da onda acstica no papel para que no receptor
exista uma boa relao S/R;
b) deve situar-se acima do limite superior da banda udio para que o sistema seja
acusticamente menos ruidoso;
c) como pretendemos efectuar medies de velocidade, as frequncias mais
elevadas permitem melhor preciso na deteco;
d) preferencialmente coincidir com um dos pontos de ressonncia para optimizar a
transferncia de energia.
O factor a) sem dvida o mais importante, pois s uma boa relao S/R na recepo permite
uma medio da velocidade com elevado grau de preciso. Os factores b) e c) indicam que a
frequncia utilizada deve ser o mais elevada possvel. Finalmente, para anlise do factor d),
devemos ter em considerao os resultados obtidos na seco anterior.
A propagao no papel vai, no entanto, depender de outros parmetros que no foram analisados
at agora, como sejam, por exemplo, o comportamento da atenuao ou a variao do
acoplamento cermica/papel com a frequncia. Logo, a correcta seleco da frequncia a usar,
ter de ser feita por intermdio de testes experimentais, para que os sinais na recepo sejam
maximizados.
Foram ento feitos vrios testes usando dois transdutores, um como emissor e outro como
receptor, separados 14 cm e em contacto com uma folha de papel. Como vemos pela figura 4.91,
fora das zonas de ressonncia a impedncia apresentada pelos transdutores extremamente baixa
(cerca de 3 ). Como pretendemos fazer a anlise do comportamento dos transdutores com a
variao da frequncia, para esses pontos, torna-se problemtica uma entrega de energia
eficiente, quando um transdutor funciona como emissor. Foi ento concebido um circuito push-

pull para integrar entre o circuito emissor e o transdutor de forma a melhorar a adaptao de
impedncias.
Na figura 4.93 podemos ver, a ttulo de exemplo, a influncia da adaptao de impedncias na
amplitude do sinal recebido, quando a excitao feita por um burst.

(a) (b)
Figura 4.93 Influncia da adaptao de impedncias: (a) sem adaptao impedncias; (b) com adaptao
de impedncias.
Um primeiro conjunto de testes foi efectuado usando como sinal de excitao um pulso negativo
com cerca de 100 V de amplitude. Alterando a sua largura, de forma a alterar a o seu contedo
espectral, foi efectuado um varrimento da frequncia central desde 85 a 20 kHz, no tendo sido
obtido qualquer tipo de sinal no receptor. Este resultado foi verificado para diferentes valores de
l. Conclui-se, ento, que este tipo de excitao no adequado para o sistema.
No segundo conjunto de testes foi usada uma outra forma de excitao, custa de um burst com
8 V de amplitude (figura 4.93 (b)). Como anteriormente, foi efectuado um varrimento
descendente na frequncia desde 85 kHz. Para valores prximos de 35 kHz comeamos a
detectar a existncia de sinal no receptor. Continuando com o varrimento descendente verificou-
se, que o nvel do sinal foi aumentando at atingirmos cerca de 18 dB de relao S/R para uma
frequncia de 21 kHz, mantendo-se aproximadamente constante at cerca de 16 kHz. Para
frequncias inferiores e valores de l baixos comeamos a entrar em zonas de ressonncia, como
podemos ver pela figura 4.92 (a), dando origem a melhorias na relao S/R. No entanto,
verificou-se que o sistema comeava a tornar-se bastante ruidoso, devido entrada na banda
udio, o que torna estas frequncias impraticveis.
Em resumo, aps vrios testes experimentais, optmos pelo uso de um burst, com uma
frequncia de excitao de 21 kHz e com um comprimento livre do bimorfo l=5 mm. Apesar
Emisso
Recepo
Emisso
Recepo

desta configurao no conduzir a nenhum dos modos ressonantes a que apresenta melhor
compromisso entre os factores de seleco apresentados.
4.7.5 Cabea de medida
A cabea de medida do nosso sistema composta por 8 pares de transdutores
emissores/receptores, dispostos circunferencialmente, dando origem a 8 diferentes medidas de
velocidade na superfcie do papel. Na construo do diagrama TSI vamos ter 16 pontos, pois a
cada medida de velocidade correspondem dois pontos, devido simetria do diagrama em relao
ao seu ponto central. Entre os transdutores e o suporte da cabea de medida, formado por uma
placa cilndrica em alumnio, foi necessrio introduzir um isolamento acstico, feito custa de
um anel de borracha, uma vez que se verificou a existncia sinais parasitas, que se propagavam
pelo corpo do suporte, adulterando as medidas pretendidas. Na figura 4.94 podemos ver o
aspecto inferior da cabea de medida.

Figura 4.94 Cabea de medida.
4.7.6 Sistema de controlo e medida
Para a construo do diagrama TSI, o nosso sistema vai ter que excitar, sequencialmente, os 8
transdutores que funcionam como emissores e medir os tempos de propagao das ondas
acsticas produzidas por cada um deles no papel, at atingirem os transdutores receptores

diametralmente opostos. Para determinar as velocidades basta dividir os tempos de propagao
obtidos, pela distncia entre os transdutores.
Todo o sistema controlado por uma placa de aquisio e por software desenvolvido em
ambiente LabView (National, 2002).
4.7.6.1 Hardware
Na figura 4.95 est representado o diagrama de blocos do sistema de controlo e medida.
Atendendo aos resultados obtidos em 4.7.4 a excitao efectuada por intermdio de um burst
com frequncia de 21 kHz. Como pretendemos efectuar 8 medidas sequenciais, associadas a
cada um dos pares emissor/receptor, vamos usar desmultiplexagem no subsistema de emisso,
para que o mesmo circuito de excitao possa ser usado para todos os emissores. Na recepo
temos um multiplexer, para permitir a utilizao de apenas um andar de filtragem e de
amplificao para todas as medidas.
Comparador
Gerador de
burst
Amplificador Demux
Push
pull
Emissores
Receptores Amplificador Mux Filtro
Placa de
aquisio
PC
Emisso
Recepo
Cabea de
medida

Figura 4.95 Diagrama de blocos do sistema de controlo e medida.
No circuito de emisso introduzido um comparador pelo facto de a sada digital da placa ter
nveis de tenso de 0 e 5 V e o circuito gerador do burst necessitar de tenses de
inibio/desinibio de +/- 12 V. O sinal na sada do gerador de burst tem uma amplitude baixa,
logo necessrio fazer a sua amplificao para os nveis referidos em 4.7.4. Atendendo s
caractersticas do sinal de entrada torna-se necessrio usar um amplificador operacional com
elevados valores de slew-rate. Neste caso, o amplificador usado tem 20 V/s. Depois de
amplificado feita a desmultiplexagem do sinal, para que se possam excitar todos os emissores
sequencialmente. Para isso usmos 3 sadas digitais da placa de aquisio nas entradas de
seleco do desmultiplexer para seleccionar o canal pretendido. Finalmente, antes dos sinais

excitarem os emissores passam pelos andares push-pull responsveis pela adaptao de
impedncias.
Depois da propagao no papel, os sinais so recolhidos pelos elementos receptores da cabea de
medida, sendo feita a sua multiplexagem usando como sinais de seleco as mesmas 3 sadas
digitais da emisso. sada do multiplexer os nveis dos sinais so relativamente baixos,
apresentando relaes S/R inferiores a 20 dB, o que se revelou insuficiente para os nossos
objectivos. ento necessrio proceder filtragem desses sinais e posterior amplificao.
Para alm do seu baixo nvel verificmos que a frequncia dos sinais era bastante inferior
frequncia do sinal de excitao. Os valores variam entre 12 e 13 kHz. Este facto justificado
atendendo figura 4.92 (a), onde podemos ver que para o comprimento livre usado (l=5mm), a
frequncia de ressonncia do modo fundamental est prxima destes valores, ou seja, na prtica,
os transdutores emissores so excitados com um sinal de 21 kHz e os transdutores receptores
produzem um sinal com uma frequncia varivel entre si, referente sua ressonncia natural.
Para combater esta situao necessitmos de construir um filtro com uma banda passante mais
larga, para que a sua influncia nos diversos sinais fosse anloga. Para alm disso, foi
desenvolvido um filtro digital por software na placa de aquisio, que ajusta a sua frequncia
central dinamicamente para cada uma das diferentes medidas. Desta forma conseguimos
aumentar a relao S/R dos sinais adquiridos para uma gama de valores que varia entre 55 e 60
dB.
Devido a problemas provocados por interferncias, surgidas atravs das massas dos circuitos de
emisso e recepo, foi necessrio usar fontes de alimentao independentes e isolamento por
intermdio de optoacopladores dos sinais de controlo da placa. Para alm disso, por causa das
grandes diferenas de amplitude entre os sinais de excitao dos transdutores e os sinais sada
dos receptores foi tambm necessrio isol-los fisicamente, usando para o efeito cabos diferentes
entre o hardware de controlo e a cabea de medida. Como os sinais provenientes do sistema de
recepo so flutuantes em relao massa da placa, a aquisio ter de ser feita em modo
diferencial.
4.7.6.2 Software
Neste ponto vamos designar como canal cada par de transdutores emissor/receptor e leitura de
um canal ao processo que vai desde a excitao do emissor aquisio do sinal proveniente do
receptor.

Cada canal lido sequencialmente, uma ou mais vezes, consoante se pretenda ou no obter a
mdia de vrias leituras. Atravs do sinal adquirido determinada a velocidade de propagao
nas 8 direces, dando origem a 16 pontos na sua forma polar (amplitude e fase), sendo a
referncia a fase do canal 1. Finalmente, usando um desenvolvimento em srie de Fourier
construdo o diagrama polar.
O sistema permite que o utilizador efectue, caso pretenda, mdias para as leituras do mesmo
canal, o que conduz ao aumento da relao S/R e a uma maior preciso nas medies das
velocidades. Em contrapartida o tempo de execuo de um ciclo de leitura directamente
proporcional ao nmero de mdias a executar, logo, mediante a aplicao, ter de existir uma
soluo de compromisso entre a preciso e rapidez das medidas.
A implementao de um filtro por software surge com o intuito de minimizar o facto de os
transdutores no terem todos a mesma frequncia de ressonncia, devido a estarem inseridos
num suporte. Experincias demonstram que uma pequena variao no espao livre do transdutor
ou no prprio aperto do suporte resultam em diferenas significativas da frequncia de
ressonncia. Assim, possvel adquirir o sinal, calcular a sua frequncia fundamental, ajustar o
filtro para essa frequncia e proceder-se, ento, filtragem do sinal com um filtro perfeitamente
sintonizado. A utilizao deste filtro minimiza a importncia das mdias na reduo de rudo do
sinal uma vez que bastante mais rpido. No entanto, a utilizao das mdias permite uma maior
uniformizao e preciso nas medidas. A utilizao dos dois mtodos, em conjunto, uma mais
valia para o resultado final.
Como pretendemos calcular as velocidades de propagao temos de medir com o mximo de
exactido o tempo que o sinal leva a percorrer a distncia entre os transdutores. O parmetro
crtico vai ser, ento, a deteco do incio do sinal que, como j referimos, varia tanto em
amplitude como na sua forma, com aspectos fsicos dos transdutores. O algoritmo de deteco de
incio do sinal faz, em primeiro lugar, a anlise de uma poro inicial do sinal em que apenas
existe rudo. Desta anlise, resulta uma estimativa para o nvel mximo de rudo existente, qual
adicionada uma margem de segurana de 5 mV. a partir deste nvel mximo de rudo que se
vo procurar picos no sinal sendo considerado apenas o primeiro. De seguida, ento detectado
o zero imediatamente antes deste primeiro pico. A posio deste zero indica o incio de sinal. Na
figura 4.96 temos ilustrado o aspecto de um sinal genrico adquirido pelo sistema.

Figura 4.96 Aspecto de um sinal genrico adquirido pelo sistema.
A frequncia de amostragem mxima da placa de 1.25 Ma/s (mega-amostras por segundo), o
que corresponde a um perodo de amostragem de 0.8 s. Ou seja, admitindo uma correcta
identificao do incio do sinal, o erro cometido na medio do tempo de propagao de
0.8/2=0.4 s. Como os valores mximos da velocidade no papel so da ordem dos 3800 m/s,
para a distncia entre transdutores do sistema de 14 cm, vamos obter tempos de propagao
inferiores a 37 s, logo, os erros de medida so inferiores a 1%.
O tempo de incio de sinal assinalado no o tempo real da propagao. Existem atrasos, como
o caso dos tempos de setup da placa de aquisio, de activao dos optoacopladores,
multiplexers e restante hardware associado. Os prprios transdutores tambm introduzem algum
atraso. Por isso, foram realizadas algumas medidas em papis com velocidades conhecidas de
modo a estimar a totalidade destes atrasos. Este parmetro pode ser ajustado, encontrando-se
num ficheiro acessvel ao utilizador.
Uma vez conhecidos os tempos de propagao podemos, finalmente, construir o nosso diagrama
polar TSI. Pelo facto de termos poucos pontos foi necessrio fazer uma interpolao para
efectuar um traado mais aproximado da realidade. Atendendo periodicidade em T=2 da
funo inicial, a funo desejada foi aproximada pela sua srie de Fourier definida por
)
2
sin
2
cos (
2
) (
1
0
T
t n
b
T
t n
a
a
t f
n
n
n

+ + =

=
, (4.124)
sendo os coeficientes a
n
e b
n
dados por
1 pico
Incio do sinal

.
2
sin ) (
2
,
2
cos ) (
2
2 /
2 /
2 /
2 /
dt
T
t n
t f
T
b
dt
T
t n
t f
T
a
T
T
n
T
T
n
=
=
(4.125)
Aps alguns testes verificmos que o desenvolvimento at 3 ordem era suficiente para a
obteno de um traado coerente. Na figura 4.97 temos um exemplo onde podemos ver os dados
experimentais e o traado obtido pela aproximao pela srie de Fourier.
1000
2000
3000
4000
30
210
60
240
90
270
120
300
150
330
180 0

Figura 4.97 Valores experimentais e traado aproximado por srie de Fourier.
4.7.7 Resultados experimentais
Na figura 4.98 podemos ver o aspecto da interface grfica com o utilizador do nosso sistema.
Neste exemplo foi determinado o diagrama TSI de um papel comercial, estando MD
propositadamente desalinhado com a origem polar da cabea de medida para evidenciar o ngulo
TSO. Na zona inferior direita temos os valores de TSI mximo e do respectivo ngulo TSO e o
TSI mnimo e o seu ngulo. As unidades de TSI so o Nm/g que derivam da expresso (4.121).
Na zona superior direita temos dois botes, que nos permitem seleccionar uma execuo do
traado com ou sem mdias, ou ainda em termos simplesmente das velocidades. Para alm disso,
o sistema tem outras possibilidades acessveis pelo menu, como sejam a anlise de cada um dos
canais para deteco de eventuais problemas que surjam nas medidas ou a configurao de
parmetros da placa de aquisio.
O sistema foi aferido usando para o efeito papis com diagramas TSI conhecidos, tendo sido
obtidas precises mdias da ordem dos 2%.
4.8 Resumo 169

Figura 4.98 Interface grfica com o utilizador do sistema.
4.8 Resumo
Na parte inicial deste captulo so estabelecidas as equaes de Rayleigh-Lamb para uma placa
no vazio, sendo implementado, com sucesso, um algoritmo para determinao das curvas de
disperso da velocidade de fase e velocidade de grupo, caractersticas dos seus vrios modos de
propagao. O clculo dos deslocamentos ao longo da espessura da placa tambm um
parmetro determinante, especialmente quando pretendemos efectuar testes em placas imersas.
Usando a mesma metodologia que anteriormente, ou seja, partindo das condies fronteiras,
foram determinadas as expresses que regem o seu andamento, sendo apresentados exemplos
para uma melhor compreenso fsica do fenmeno. Do ponto de vista prtico foram introduzidos
os mtodos mais usuais utilizados na gerao e deteco de ondas de Lamb: incidncia oblqua e
transdutor comb. Como o primeiro mtodo, que baseado no princpio da coincidncia foi usado
ao longo deste trabalho, a sua anlise foi feita mais em detalhe. Aspectos relacionados com a
largura de banda do transdutor e com a abertura de feixe foram analisados, estando os resultados
experimentais em perfeita consonncia com clculos tericos. Para a correcta identificao de
um determinado modo de propagao foram utilizados dois mtodos documentados na literatura:
fase do espectro e amplitude do espectro. Os resultados obtidos foram coincidentes, existindo
discrepncias para os valores tericos inferiores a 2%, devido a variaes de parmetros fsicos
das placas utilizadas. Quando coexistem vrios modos de propagao em simultneo numa

placa, os mtodos anteriores mostram-se ineficazes para a sua identificao. Para solucionar essa
situao foi usada uma transformada de Fourier bidimensional (2DFFT), que permite um traado
tridimensional em funo da frequncia e do nmero de onda.
Seguidamente analismos uma placa imersa num fluido. As ondas de Lamb que se propagam no
seu interior do origem a radiao atravs desse mesmo fluido, sendo os efeitos dessa radiao
conhecidos como ondas de Lamb de fugas (leaky Lamb waves - LLW). Neste caso, as condies
fronteiras nas faces da placa so diferentes, dando origem a solues complexas, estando a parte
imaginria relacionada com as perdas para o fluido e a parte real com a velocidade de fase. No
entanto, verificou-se que no caso do alumnio imerso em gua, como a relao entre as
impedncias grande, as velocidades de fase obtidas diferem em menos de 1%. Usando o
modelo de Kelvin-Voight foi determinada a atenuao na placa devido a fugas para o fluido. Na
determinao experimental da atenuao foi usado um sistema construdo para efectuar testes
com LLW usando o mtodo pitch and catch. A concordncia entre os resultados tericos e
experimentais foi muito boa, o que nos permite afirmar que o modelo usado apropriado para
prever o comportamento da atenuao devido a fugas.
Na seco seguinte deste captulo foi efectuada a deteco e caracterizao de defeitos em placas
de alumnio. Numa primeira fase, efectumos um estudo comparativo entre as vrias
possibilidades disponveis para o sistema experimental, concluindo como soluo de
compromisso, que o mtodo mais indicado era o MIME (mtodo de imerso em meio espao).
Usando esse mtodo foram testados defeitos com diferentes geometria (profundidade e largura)
usando os modos de propagao fundamentais S0 e A0. Verificou-se, para todas as geometrias,
que a amplitude do modo S0, tanto em pulso-eco como em transmisso, apresenta muito boa
correlao com a profundidade dos defeitos. O mesmo no se pode dizer para o modo A0 que,
devido a fenmenos de converso de modos e valores de atenuao mais elevada, no apresenta
uma variao conclusiva. Para as variaes da largura dos defeitos, apenas o modo S0 permite
justificar, parcialmente, o andamento das curvas de amplitude, podendo, ainda que com
limitaes ser utilizado para avaliao das dimenses dos defeitos em termos de largura.
Outro assunto abordado neste captulo foi a possibilidade do uso de LLW na anlise de
soldaduras por frico linear em alumnio (SFL). Atendendo ao facto deste tipo de soldaduras ser
muito utilizado em placas, as ondas guiadas apresentam-se como potencialmente indicadas na
deteco de defeitos que surjam durante o processo de concepo. Os resultados obtidos pelas
imagens radiogrficas e por C-scan ultra-sonoro foram confirmados, posteriormente, com a
medio de amplitude do modo S0, verificando-se um decaimento de amplitude com o aumento
das dimenses dos defeitos.
4.8 Resumo 171

A colagem tipo junta sobreposta (lap joint) em placas de alumnio foi o assunto analisado na
seco seguinte deste captulo. Inicialmente foi desenvolvido o modelo de propagao na
estrutura colada, com base no mtodo da matriz de transferncia, que consiste na condensao
do sistema constitudo pela cola e respectivos aderente, num conjunto descrito por quatro
equaes, onde se relacionam as condies fronteiras no primeiro interface, com as condies
fronteiras do ltimo interface A partir da, determinaram-se as solues modais impondo, para
tal, que a matriz do sistema tenha o seu determinante nulo, sendo para o efeito usada uma
ferramenta computacional com possibilidade de manipulao de variveis simblicas. Os
deslocamentos foram determinados, admitindo que uma das amplitudes das ondas desconhecidas
unitria, conduzindo resoluo de um sistema com 11 incgnitas, sendo os traados obtidos
em termos de unidades arbitrrias. Os resultados experimentais obtidos usando LLW numa
colagem prottipo confirmam a teoria.
Seguidamente foram construdas colagens com defeitos de dimenses conhecidas criados
artificialmente. Inicialmente foi justificado o comportamento da amplitude da onda recebida
devido influncia do bordo da placa. Aps a confirmao das dimenses dos defeitos por
intermdio de C-scan ultra-sonoro, as colagens foram sujeitas a testes por ondas guiadas em
transmisso (pitch and catch), tendo-se verificado a influncia difractiva dos defeitos no feixe.
Numa tentativa de quantificar essa influncia, relativamente s dimenses dos defeitos, foi
desenvolvido um modelo bidimensional aproximado, baseado na teoria clssica da difraco,
tendo sido inicialmente aplicado a placas isoladas com buracos. Mesmo para essa situao, o
modelo verificou-se inadequado. Partiu-se, ento, para um outro modelo que tem em
considerao a geometria do defeito, sendo este considerado como fonte de uma onda de
perturbao que vai ser sobreposta ao campo incidente. Neste caso, o campo incidente
decomposto num somatrio de funes de Bessel e o campo difractado num somatrio de
funes de Hankel, continuando a placa a ser considerada como um sistema a duas dimenses. A
concordncia obtida entre valores experimentais e tericos para os buracos foi excelente,
verificando-se que para as colagens existem algumas discrepncias. Atravs dos resultados
experimentais foi criado um parmetro emprico, que se verificou ter uma muito boa correlao
com as dimenses dos defeitos, e que, aparentemente, pode ser utilizado para a sua estimao.
Finalmente estas placas com defeitos foram submetidas a ensaios destrutivos, sendo o seu
comportamento justificado pela distribuio de tenses neste tipo de junta, quando sujeitas a
esforos de traco.
Para finalizar este ponto referente anlise de colagens, foi efectuado um tratamento trmico
num grupo de amostras, de forma a alterar o seu grau de adeso e verificar a influncia na

propagao das ondas guiadas. Do ponto de vista terico desenvolveu-se o modelo QSA, usado
para descrever interfaces imperfeitas, analisando-se a influncia da variao dos seus parmetros
na velocidade de fase. Com o tratamento trmico das colagens obtivemos um aumento
generalizado do grau de adeso com a temperatura, comprovado, posteriori, atravs de ensaios
destrutivos. No entanto, as medidas da velocidade de fase na zona colada no apresentam
variaes que nos permitam concluir sobre a validade do mtodo para os nveis de adeso
testados.
O ltimo assunto abordado neste captulo e na presente dissertao consistiu no projecto e
concepo de um sistema de caracterizao de papel usando ondas guiadas. O principal objectivo
deste sistema a construo do chamado diagrama TSI, partindo da medio das velocidade de
propagao no plano do papel. Os transdutores utilizados foram construdos partindo de
cermicas PZT a funcionarem numa configurao bimorfa. Aps alguns testes experimentais
optou-se por utilizar uma excitao tipo burst com uma frequncia de 21 kHz. Os 16
transdutores utilizados, 8 emissores e 8 receptores, so dispostos circunferencialmente numa
chamada cabea de medida. Atravs de multiplexagem, tanto no andar emissor como receptor,
conseguiu-se uma reduo substancial dos circuitos a utilizar. Os outros factores a realar
prendem-se com os algoritmos de deteco do incio de sinal, bem como do traado do diagrama
pretendido, que se demonstraram bastante eficientes, conduzindo a precises assinalveis. O
sistema vai excitar sequencialmente os emissores e medir os tempos de propagao de forma a
determinar as velocidades. O controlo e medida baseado numa placa de aquisio de dados e
hardware especfico, controlados via PC, por software desenvolvido em ambiente Lab-View. Os
resultados obtidos demonstram, nomeadamente pelo seu grau de preciso, que o sistema
desenvolvido se apresenta como uma alternativa vivel, comparativamente aos sistemas
convencionais, que usam apenas um par de transdutores associados a sistemas de rotao do
papel.

5 CONCLUSES
Os objectivos do presente trabalho eram a compreenso dos fenmenos associadas propagao
de ondas ultra-sonoras guiadas, nomeadamente ondas de Lamb e ondas de Lamb de fugas (LLW)
e o estudo de potenciais aplicaes na caracterizao e controlo de materiais.
Os resultados obtidos foram de certa forma encorajadores, levando a crer que as tcnicas que
utilizam ondas ultra-sonoras guiadas se apresentam como bastante interessantes para o uso em
CNDU, especialmente quando comparadas com outros mtodos que utilizam ondas de volume.
Neste captulo vamos ento apresentar as concluses gerais do trabalho desenvolvido.

Apesar de no envolver directamente a utilizao de ondas guiadas, no captulo 3 foi
apresentado um trabalho original, que serviu para ilustrar um exemplo de aplicao do
mtodo convencional por transmisso. A foram analisados dois tipos de quartzitos com
diferentes nveis de porosidade, fissuras e geometria do seu gro, tendo-se verificado a
existncia de diferenas nas suas velocidades ultra-sonoras, atribudas, essencialmente s
fissuras, sendo tambm ligeiramente influenciadas pela isotropia do gro. Por outro lado,
constatmos tambm, que a isotropia a principal responsvel pelas variaes no
andamento da resposta espectral e atenuao. Os resultados permitem-nos concluir que
esta tcnica se revela atractiva para caracterizao de materiais rochosos, podendo ser
usada complementarmente aos mtodos petrofsicos tradicionais;

O algoritmo desenvolvido para determinao das curvas de disperso das velocidades de
fase e de grupo das ondas de Lamb mostrou-se robusto e bastante rpido;

Foi verificado tanto do ponto de vista terico como experimental que a largura de banda e
a abertura de feixe do transdutor so fundamentais, quando usada incidncia oblqua na
gerao de ondas de Lamb;
174 5 CONCLUSES

Foram implementados dois mtodos de medio da velocidade de fase: fase do espectro e
amplitude do espectro sendo os resultados coincidentes. Para analisar situaes em que
temos propagao multmodo foi desenvolvido o algoritmo da 2DFFT, tendo-se
verificado concordncia com a teoria;

Relativamente s LLW e atendendo aos resultados obtidos, podemos afirmar que o
modelo de Kelvin-Voight adequado para modelar as perdas para o fluido;

A medio da amplitude do modo fundamental S0, quer em transmisso ou em pulso-
eco, mostrou uma boa correlao linear com a profundidade de defeitos criados
artificialmente, em placas de alumnio. Para variaes da largura dos defeitos, a
amplitude do sinal recebido em pulso-eco obedece a um padro de certa forma
justificvel. Podemos ento afirmar que a utilizao do modo S0 se revela como uma
forma eficiente de deteco e caracterizao de defeitos em placas que, em situaes
reais, podem ir desde fendas localizadas at fenmenos de corroso mais generalizada;

Na anlise de soldaduras por frico linear, os resultados obtidos mais uma vez com o
modo S0 em transmisso, confirmam a informao previamente obtida por intermdio de
raios-X e C-scan. Verifica-se uma diminuio da amplitude dos sinais recebidos com o
aumento da dimenso dos defeitos. Apesar de no fornecer informao do ponto de vista
qualitativo, comparvel com outros meios de diagnstico, pode ser usado para
estabelecimento de critrios de aceitao/rejeio de uma forma muito mais rpida e
econmica;

Usando o mtodo da matriz de transferncia, em detrimento do mtodo da matriz global
devido a questes de convergncia e rapidez, foram feitas implementaes de forma a
determinar o comportamento dos modos de propagao de LLW numa colagem,
nomeadamente, em termos das velocidades de fase e deslocamento. Testes experimentais
comprovaram a validade do modelo;

Um dos problemas frequentes, durante a concepo de colagens, o aparecimento de
bolhas de ar no adesivo. Para analisar o comportamento difractivo, e posterior deteco e
5 CONCLUSES 175

quantificao desse tipo de defeitos em colagens em alumnio, tipo junta sobreposta,
foram criados artificialmente defeitos circulares com dimenses variveis em vrias
colagens. Devido sua fcil discriminao foi novamente usado o modo S0. Numa
primeira fase foram analisadas estruturas mais simples, que consistiam em placas de
alumnio isoladas com buracos de dimenses variveis. O modelo de difraco
simplificado usado considera a onda guiada como uma onda plana a duas dimenses
(plano da placa) e o obstculo como uma fonte de uma onda de perturbao que se vai
sobrepor ao campo incidente. Os resultados obtidos para os pontos de amplitude mxima
foram excelentes permitindo-nos concluir que esta aproximao vlida, para
determinao do campo difractado pelos buracos.
Para as colagens com defeitos, utilizando o mesmo modelo, constatmos a existncia de
apenas alguma coerncia do ponto de vista qualitativo. As discrepncias so da ordem
dos 10% justificadas, essencialmente, pelo facto de os defeitos no ocuparem toda a
espessura da zona de propagao, ao contrrio das placas com buracos. Outros factores,
tais como pequenas alteraes na geometria dos defeitos ou a incerteza relacionada com a
quantificao da converso de modos podem, tambm, contribuir para estas
discrepncias.
Foi, no entanto, estabelecido um parmetro emprico que, relacionando os valores
mximos e mnimos medidos experimentalmente para cada um dos defeitos, apresenta
uma correlao linear com a dimenso dos defeitos muito boa e que, aparentemente, pode
servir para a sua determinao.
Destaca-se o carcter inovador do trabalho efectuado neste ponto, que se insere num
campo onde geralmente existe apenas a preocupao na deteco dos defeitos e no na
sua anlise qualitativa;

De forma a analisar o grau de adeso no mesmo tipo de colagens consideradas
anteriormente, agora sujeitas a tratamento trmico, foi usado o modelo QSA, que de uma
forma geral usado na modelao de interfaces imperfeitas, em conjunto com o mtodo
da matriz de transferncia. Do ponto de vista terico apresentada a influncia do grau
de adeso no andamento da velocidade de fase dos modos de propagao. O modo
analisado em detalhe A1, pelo ao facto de ser este o de mais fcil deteco experimental
na zona da colagem. No entanto, verificou-se que os diferentes graus de adeso no
deram origem, na prtica, a variaes detectveis. A justificao deve-se ao facto do
mtodo no ser sensvel a variaes dos nveis de adeso como os que analismos e que
176 5 CONCLUSES

tinham valores duplos entre a melhor e a pior adeso. Podemos ento concluir que o
modelo em causa pode ser usado apenas para anlise de nveis de degradao de colagens
superiores aos apresentados;

No sistema de caracterizao de papel desenvolvido verificou-se que as cermicas
bimorfas se apresentam como uma boa soluo para a gerao e a deteco de ondas
ultra-sonoras guiadas, resolvendo os problemas tpicos ligados ao acoplamento entre os
transdutores e o papel. Atravs de uma excitao de banda estreita (burst), com
amplitudes relativamente baixas, conseguimos obter relaes S/R aceitveis. Usando 16
transdutores foi construda uma cabea de medida, que associada a hardware e software
de controlo e medida, permite a construo do diagrama TSI em tempo real.
Usando multiplexagem analgica conseguiu-se uma substancial reduo de componentes,
tanto no andar de emisso como de recepo. Salienta-se, tambm, os algoritmos de
deteco de sinal e de construo do diagrama que, pela sua eficincia, e apesar da baixa
frequncia utilizada (21 kHz) do origem a precises da ordem dos 2%.
Na prtica, o sistema concebido substancialmente mais econmico e mais rpido,
quando comparado com os sistemas tradicionais, que usam apenas um par de transdutores
associados a um movimento da rotao do papel.

6 TRABALHOS FUTUROS
A utilizao dos diversos tipos de ondas ultra-sonoras guiadas apresenta-se como indicada para a
anlise de materiais, especialmente quando as suas estruturas tm grandes dimenses e permitem
um confinamento da propagao. Para alm das aplicaes que foram estudadas neste trabalho,
qualquer outro material que se apresente como um guia de ondas natural pode, potencialmente
ser analisado, usando este tipo de ondas. Em nosso redor existem inmeras estruturas tais como
tubos, vares, interfaces entre materiais ou deposies de camadas finas em substratos, que
podem constituir assuntos a abordar em trabalhos futuros.
Relativamente ao trabalho desenvolvido nesta dissertao existem tambm algumas sugestes a
ter em considerao, que podero ser teis para a confirmao dos resultados obtidos e para
obter informao mais detalhada e precisa sobre alguns dos fenmenos observados.

Na deteco e caracterizao de defeitos em placas podem ser usados defeitos simulados
mais prximos da realidade, em complemento da anlise que foi feita, utilizando defeitos
com formato quadrangular. Os fenmenos reais, como por exemplo, a corroso podem
ser mais bem simulados usando defeitos elipsoidais com excentricidades variveis;

Para melhor compreender a propagao nas colagens com defeitos, novos modelos mais
completos so necessrios, atendendo complexidade dos fenmenos envolvidos.
Pensamos, no entanto, que este ponto s por si uma vasta rea de estudo;

Os efeitos difractivos dos defeitos nas colagens, apesar dos resultados obtidos com o
modelo apresentado serem razoveis, devem ser confirmados para colagens com uma
geometria diferente, nomeadamente espessura das placas aderentes, bem como para
outras frequncias de trabalho. Tambm a relao emprica obtida entre amplitude dos
178 6 TRABALHOS FUTUROS

sinais e a dimenso dos defeitos requer validao experimental noutras condies de
teste;

Para aferir a relao entre as dimenses dos defeitos e as tenses de rotura das colagens
so necessrios outros tipos de testes destrutivos, em que a fora aplicada seja
perpendicular ao plano das placas, contrariamente aos testes efectuados que, como
verificmos, do origem a uma distribuio no uniforme de tenses ao longo da
colagem;

Para garantir, de uma forma inequvoca, que o modelo QSA utilizado para modelar
interfaces imperfeitos tem validade, necessrio efectuar testes em colagens com nveis
de degradao relativos, superiores s colagens analisadas;

Para corroborar os resultados apresentados nesta dissertao, a simulao por intermdio
de elementos finitos seria, sem sombra de dvida, uma ferramenta de enorme
importncia;

Em relao ao trabalho efectuado na caracterizao do papel, para alm dos resultados
obtidos, o sistema pode evoluir no sentido de medio de outros parmetros ultra-
sonoros, como por exemplo a atenuao, de forma a determinar outras propriedades
fsicas do papel. Tambm o desenvolvimento de novos transdutores que utilizem outro
tipo de acoplamento pode ser considerado, de forma a permitir a medio de outras
grandezas, nomeadamente, a velocidade na direco da espessura papel;

De um modo geral, para os meios anisotrpicos, como o caso dos quartzitos e do papel
podem ser usados outros mtodos para uma mais completa caracterizao, utilizando os
conceitos associados equao de Christoffel.

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APNDICE A Aplicao da equao de
Christoffel em meios
anisotrpicos
A propagao de ondas planas em meios anisotrpicos pode ser caracterizada, usando a equao
de Christoffel (2.41). Para isso, temos que achar uma relao de disperso (variao da
velocidade com a direco de propagao), obtida atravs da resoluo da equao (2.45). Essa
equao d origem a trs diferentes valores de velocidades (um longitudinal e dois transversais),
sendo posteriormente obtido para cada um deles a chamada superfcie de velocidade inversa
(slowness surface), que descreve o comportamento do inverso da velocidade com a direco de
propagao.
Outro tipo de anlise que pode, igualmente, ser feito a verificao, para um determinado tipo
de onda, se esta puramente longitudinal ou transversal. Para isso teremos de verificar qual a
relao entre o seu deslocamento e a direco de propagao. Seguidamente vamos exemplificar
este tipo de anlise.
Vamos considerar, a ttulo de exemplo, um material com anisotropia cbica que tem a seguinte
matriz de constantes elsticas (Auld, 1990a):

(
(
(
(
(
(
(
(
=
44
44
44
11 12 12
12 11 12
12 12 11
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0
0 0 0
0 0 0
C
C
C
C C C
C C C
C C C
C . (A.1)
Vamos admitir uma propagao segundo a direco: 2 / 1 =
x
n ; 2 / 1 =
y
n e 0 =
z
n , sendo o
versor da direco de propagao unitrio, conforme representado na figura A.1. Usando (2.42)
vamos obter para os valores do tensor de Christoffel
192 APNDICE A

, ) (
2
1
16 66 11 11
C C C + + =
), (
2
1
66 12 26 16 12 21
C C C C + + + = =
), (
2
1
46 41 56 51 13 31
C C C C + + + = = (A.2)
), (
2
1
24 25 64 65 23 32
C C C C + + + = =
, ) (
2
1
26 22 66 22
C C C + + =
. ) (
2
1
54 44 55 33
C C C + + =
x
z
y

Figura A.1 Onda plana a propagar-se na direco (1,1,0).
Atendendo a A.1 podemos, aps simplificao, obter
), (
2
1
44 11 11
C C + =
), (
2
1
44 12 12 21
C C + = =
), (
2
1
44 11 22
C C + = (A.3)
,
2
1
44 33
C =
. 0
23 32 13 31
= = = =

Aplicao da equao de Christoffel em meios anisotrpicos 193

Substituindo em (2.45) vamos obter
0
2
1
0 0
0 ) (
2
1
) (
2
1
0 ) (
2
1
) (
2
1
2
44
2
44 11 44 12
44 12
2
44 11
=
+
+
V C
V C C C C
C C V C C
. (A.4)
Resolvendo em ordem velocidade V, as solues so

2
2
44 12 11
1
C C C
V
+ +
= ,
2
44
2
C
V = , (A.5)

2
12 11
3
C C
V

= ,

que correspondem s trs diferentes ondas a propagarem-se nas referidas direces.
Para verificar o tipo de cada uma das ondas consideradas temos de resolver o seguinte sistema de
equaes, para cada uma das velocidades obtidas
0
2
1
0 0
0 ) (
2
1
) (
2
1
0 ) (
2
1
) (
2
1
2
44
2
44 11 44 12
44 12
2
44 11
=
(
(
(
(
(
(
(
(
(
+
+
z
y
x
u
u
u
V C
V C C C C
C C V C C
. (A.6)
A matriz principal em (A.6) pode ter o seguinte aspecto simplificado

(
(
(
c
a b
b a
0 0
0
0
, (A.7)
que aps alguma manipulao d origem a

(
(
(
c
b a
b a
0 0
0 0
0
2 2
. (A.8)
194 APNDICE A

Substituindo por V
1
, o sistema de equaes (A.6) fica
0
) (
2
1
0 0
0 0 0
0 ) (
2
1
) (
2
1
44 11 12
12 44 12 44
=
(
(
(
(
(
(
(
(

+ +
z
y
x
u
u
u
C C C
C C C C
. (A.9)
Pela terceira linha conclumos que u
z
=0 e pela primeira, que u
x
=u
y
, o que implica que temos uma
onda longitudinal pura, pois o deslocamento na direco da propagao.
Para V
2
obtemos para o sistema
0
0 0 0
0 ) (
4
1
0
0 ) (
2
1
2
1
44 12
2
12
2
44
2
11
12 44 11
=
(
(
(
(
(
(
(
(
(

+
z
y
x
u
u
u
C C C C C
C C C
. (A.10)
Pela segunda linha temos que u
y
=0 e, consequentemente, pela primeira linha tambm u
x
=0.
Logo, o deslocamento ser exclusivamente em z, sendo a onda puramente transversal.
Para V
3
o sistema fica
0
) (
2
1
0 0
0 0 0
0 ) (
2
1
) (
2
1
11 12 44
12 44 44 12
=
(
(
(
(
(
(
(
(
+
+ +
z
y
x
u
u
u
C C C
C C C C
. (A.11)
Pela terceira linha temos que u
z
=0 e pela primeira linha u
x
=-u
y
, logo, o deslocamento
perpendicular direco de propagao, sendo a onda transversal pura.

APNDICE B Mtodos para obteno dos
modos de propagao de ondas
de Lamb numa placa no vazio
B.1 Mtodo dos potenciais
Para a geometria do nosso problema (figura 4.1), o vector deslocamento u depende das
direces de x e y. Usando a estratgia adoptada em 2.3, as equaes onda que regem a
propagao da onda longitudinal e transversal tomam a seguinte forma

. 0
1
, 0
1
2
2
2 2
2
2
2
2
2
2 2
2
2
2
=

t V y x
t V y x
T
L
(B.1)
Como procuramos a soluo para o regime sinusoidal de (B.1), que represente propagao na
direco de x e ondas estacionrias na direco de z, os potenciais sero da forma

, )) ( ( exp ) (
)), ( ( exp ) (
2
1
t kx i z D
t kx i z D
=
=
(B.2)
com D
1
(z) e D
2
(z) desconhecidos.
Substituindo a primeira equao de (B.2) na primeira equao de (B.1) vamos obter
0 )) ( ( exp ) ( ) (
1
)) ( ( exp
) (
)) ( ( exp ) (
1
2
2 2
1
2
1
2
=
+ t kx i z D
V
t kx i
z
z D
t kx i z D k
L
,
(B.3)
196 APNDICE B

aps simplificao vamos obter uma equao diferencial de segunda ordem homognea, dada
por
0 ) ( ) (
) (
1
2 2
2
1
2
=
z D k k
z
z D
L
, (B.4)
onde k
L
definido como

L
L
V
k

= . (B.5)
A resoluo de (B.4)conduz a duas solues dadas por
) ( exp ) (
2 2
1
z k k A z D
L
= , (B.6)
onde A uma constante. Apenas a soluo que contm a exponencial negativa fisicamente
praticvel pois, caso contrrio, o potencial iria aumentar com a profundidade at um valor
infinito. O potencial escalar ento dado por
)) ( exp( )) ( exp( t kx i ipz A = , (B.7)
onde

2 2 2
2
2
k k k
V
p
L
L
= =

. (B.8)
Analogamente, pode ser usada a mesma estratgia para determinao do potencial vector, dando
origem a
)) ( exp( )) ( exp( t kx i iqz B = , (B.9)
onde B uma constante, e q dado por

2 2 2
2
2
k k k
V
q
T
T
= =

, (B.10)
com k
T
analogamente definido como

T
T
V
k

= . (B.11)
Utilizando a frmula de Euler, as expresses obtidas para os potenciais podem ser representadas
como

, ) cos( ) sin( ) (
), cos( ) sin( ) (
1 1
2 1
qz B qz B z
pz A pz A z
+ =
+ =
(B.12)
onde A
1
, A
2
, B
1
e B
2
so constantes e omitido o termo exp(i(kx-t) em todas as expresses.
Como resultado da decomposio de Helmholtz referida em 2.3, o vector deslocamento dado
por
+ = u , (B.13)
usando as expresses (B.7) e (B.9) em (B.13), atendendo que ambos os potenciais s dependem
de x e de z vamos obter, depois de aplicar o operador gradiente ao potencial escalar e o rotacional
ao potencial vector
z
x
x
z
z
z
x
x
u

= , (B.14)
dividindo o deslocamento u segundo as direces consideradas obtemos

.
,
x z
u
z x
u
z
x

=
(B.15)
Substituindo na relao presso-deformao para materiais isotrpicos (2.24) so obtidas as
presses

). 2 (
), ( 2 ) (
), ( 2 ) (
2
2
2
2 2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
z x z x
z x z z x
z x x z x
xz
zz
x x

+

=

+

=

(B.16)
198 APNDICE B

Para a nossa situao temos, ento, que os deslocamentos e presses so dados por

). 2 (
), ( 2 ) (
,
,
2
2
2
2
2
2
2
2
dz
d
k
dz
d
k i
dz
d
k i
dz
d
dz
d
k
k i
dz
d
u
dx
d
k i u
xz
zz
z
x
+ =
+
=

(B.17)
A presso
xx
no considerada pois, como veremos adiante, no necessria quando do
estabelecimento das condies fronteiras.
Devido ao facto das expresses dos potenciais (B.12) envolverem somente funes sinusoidais,
os deslocamentos e as presses sero tambm necessariamente do mesmo tipo. Como a funo
sin uma funo impar e a funo cos par, vamos dividir as solues em modos simtricos e
anti-simtricos. Para o deslocamento segundo z, a vibrao simtrica (relativamente ao centro
da placa (z=0)) se contm termos em sin, e anti-simtrica se contm termos em cos. O oposto
vlido para a direco x. Da expresso (B.17) vamos ento obter

Modos simtricos

)). sin( ) sin( ) sin( 2 (
)), cos( ) cos( ( 2 ) cos( ) (
), sin( ) sin(
), cos( ) cos(
1
2
1
2
2
1 2
2
2
2 2
1 2
1 2
qz B q qz B k pz kpA i
qz ikqB pz A p pz A p k
qz kB i pz pA u
qz qB pz A k i u
xz
zz
z
x
+ =
+ + + =
+ =
=

(B.18)
Modos anti-simtricos

)). cos( ) cos( ) cos( 2 (
)), sin( ) sin( ( 2 ) sin( ) (
), cos( ) cos(
), sin( ) sin(
2
2
2
2
1
2 1
2
1
2 2
2 1
2 1
qz B q qz B k pz kpA i
qz ikqB pz A p pz A p k
qz kB i pz pA u
qz qB pz A k i u
xz
zz
z
x
+ =
+ + =
+ =
+ =

(B.19)
De notar que esta separao dos modos de propagao em simtricos e anti-simtricos, apenas
vlida para meios isotrpicos. Para meios anisotrpicos, apesar de existirem tambm ondas de
Lamb, esta separao apenas possvel se a propagao se efectuar ao longo de um eixo de
simetria (Auld, 1990b).

Neste momento as constantes A
1
, A
2
, B
1
e B
2
so ainda desconhecidas. Para a sua determinao
vo ser usadas as condies fronteiras
0 = =
xz zz
, (B.20)
numa das faces da placa, ou seja, para h d z = = 2 / .
Os deslocamentos e as presses resultantes vo depender do tipo de modo em causa (simtrico
ou anti-simtrico). No entanto, aplicando as condies fronteiras vamos obter um sistema
homogneo, com duas equaes, que contm as constantes A
2
e B
1
para os modos simtricos, e
um outro para os modos anti-simtricos, que contm A
1
e B
2
. Ou seja, para esses sistemas terem
solues diferentes da trivial, os determinantes das matrizes dos coeficientes tm de ser nulos.
Usando (B.20), vamos ento obter para os modos simtricos as seguintes equaes

( ) ( )
( ) ( ) , 0 ) sin( ) ( ) sin( 2
, 0 ) cos( 2 ) cos( ) 2 ) ( (
2 2
1 2
1
2 2 2
2
= +
= + +
qh k q B ph ikp A
qh kq i B ph p p k A

(B.21)
que d origem aps algumas simplificaes a
.
) )( 2 (
4
) tan(
) tan(
2 2 2 2 2
2
k q p p k
pq k
ph
qh
+ +

=

(B.22)
O denominador de (B.22) pode ainda ser simplificado, usando a definio da velocidade de
propagao das ondas longitudinais, dada por (2.37)
. 2
2
=
L
V (B.23)
Temos ento

2 2 2 2 2 2
2 ) ( 2 p p k p p k + + = + + ,

2 2 2 2
2 ) )( 2 ( p p k V
L
+ + = ,
. 2 ) (
2 2 2 2
k p k V
L
+ = (B.24)

Usando agora a definio da velocidade de propagao das ondas transversais dada tambm por
(2.37)
200 APNDICE B

=
2
T
V , (B.25)
e a equao (B.8), vamos obter para (B.24)

2 2 2
2 k V
T
, (B.26)
o que vai dar origem a
) ( ) ( ) 2 ) ((
2 2 2 2 2 2 2 2
k q k q V k
V
V
T
T
T
= =
, (B.27)
substituindo na equao de disperso (B.22), vamos obter

2 2 2
2
) (
4
) tan(
) tan(
k q
pq k
ph
qh
= . (B.28)
Usando um procedimento anlogo vamos obter para os modos anti-simtricos

pq k
k q
ph
qh
2
2 2 2
4
) (
) tan(
) tan(
= . (B.29)

B.2 Mtodo da ressonncia transversa ou onda parcial
Para meios isotrpicos e com geometrias planares, a aplicao do mtodo de sobreposio de
ondas parciais bastante simples, podendo o problema da propagao guiada ser tratado de uma
forma analtica. A anlise pode ainda ser simplificada, usando o princpio da ressonncia
transversa, que nos diz que, numa placa no vazio sem perdas, as solues modais consistem em
ondas guiadas ao longo da placa e ondas estacionrias na direco transversa (perpendicular
direco de propagao). Por este facto, as ondas parciais devem ter um ngulo de incidncia e
constantes de propagao adequados, para que as suas sucessivas reflexes na face inferior e
superior da placa dem origem uma reconstruo no sentido da propagao.
Na figura B.1 est esquematicamente representada a formao de ondas de Lamb numa placa no
vazio, custa da injeco de uma onda longitudinal inclinada. Devido converso de modos,
cada onda incidente d origem a duas ondas reflectidas, uma longitudinal e outra transversal, que
so as nossas ondas parciais. As condies para que haja reconstruo, no sentido da propagao

e, consequentemente, um modo de propagao com uma velocidade de fase bem definida,
podem ser obtidas analiticamente, sem o estabelecimento das condies fronteiras e apenas
recorrendo s expresses dos coeficientes de reflexo nas faces da placa.
h
-h
L T

Figura B.1 Ondas parciais numa placa isotrpica no vazio.
Temos ento que as condies de ressonncia transversa so dadas por

), exp( ) exp( ) exp(
), exp( ) exp( ) exp(
qh i R A ph i R A qh i A
qh i R A ph i R A ph i A
TT T TL L T
LT T LL L L
+ =
+ =
(B.30)
onde A
L
e A
T
so as amplitudes das ondas parciais longitudinal e transversal respectivamente, R
representa o coeficiente de reflexo, onde o primeiro ndice indica o tipo de onda incidente e o
segundo ndice o tipo de onda reflectida (L para longitudinal e T para transversal) e, finalmente,
p e q so grandezas j definidas anteriormente. O facto de ambas as expresses conterem est
relacionado com carcter simtrico ou anti-simtrico da vibrao da placa.
Para uma melhor compreenso fsica do problema temos, na figura B.2, a representao
geomtrica da relao entre as grandezas envolvidas na propagao de ondas de Lamb.
k
p
k
L
k
q
k
T

Figura B.2 Relao entre grandezas envolvidas na propagao de ondas de Lamb.
O sistema de equaes (B.30) pode ser dado matricialmente como
.
0
0
) exp( ) exp( ) exp(
) exp( ) exp( ) exp(
(
=
(

T
L
TT TL
LT LL
A
A
qh i qh i R ph i R
qh i R ph i ph i R
m
m
(B.31)
202 APNDICE B

Para existir propagao modal temos ento de garantir que o determinante da primeira matriz
nulo, ou seja

. 0 ) ) ( exp( ) ) ( exp(
) ) ( exp( ) ) ( exp( ) ) ( exp(
= + + +
+ +
h q p i R R h q p i
h p q i R h q p i R h q p i R R
LT TL
TT LL TT LL
m m
(B.32)
Usando as relaes entre os coeficientes de reflexo dadas por (Auld, 1990a)

,
1
,
2
TL
LL
LT
LL TT
R
R
R
R R
=
=
(B.33)
vamos obter, aps algumas simplificaes, nomeadamente a converso das exponenciais
complexas em funes sinusoidais, a seguinte expresso

) ) sin((
) ) sin((
h q p
h q p
R
LL
+
= . (B.34)
Usando a relao trigonomtrica
b a b a b a sin cos cos sin ) sin( = , (B.35)
podemos desenvolver o membro direito de (B.34) de forma a obter

) tan(
) tan(
1
) tan(
) tan(
1
ph
qh
ph
qh
R
LL
+
= , (B.36)
que equivale a termos

LL
LL
R
R
ph
qh
+
=
1
1
) tan(
) tan(
, (B.37)
para os modos simtricos e

LL
LL
R
R
ph
qh
+
=
1
1
) tan(
) tan(
, (B.38)
para os modos anti-simtricos.

O coeficiente de reflexo R
LL
dado por (Auld,1990a)

) 2 ( cos ) ( ) 2 sin( ) 2 sin(
) 2 ( cos ) ( ) 2 sin( ) 2 sin(
2 2
2 2
T
T
L
L T
T
T
L
L T
LL
V
V
V
V
R

+
= , (B.39)
onde
L
e
T
so os ngulos formados com a normal pela onda longitudinal e transversal,
respectivamente, (figura B.2). Usando a expresso anterior, o segundo membro de (B.37) d
origem a

) 2 ( cos ) (
) 2 sin( ) 2 sin(
2 2
T
T
L
L T
V
V

, (B.40)
aplicando as expresses trigonomtricas

, sin 2 1 ) 2 cos(
, cos sin 2 ) 2 sin(
2
a a
a a a
=
=
(B.41)
vamos obter para (B.40)

2 2 2
) sin 2 1 ( ) (
cos sin 2 cos sin 4
T
T
L
L L T T
V
V

. (B.42)
Substituindo os ngulos
L
e
T
pelas relaes apresentadas na figura B.2 e aps algumas
simplificaes, obtemos

2 2 2
2
) (
4
k q
pq k
, (B.43)
ficando a expresso (B.37) coincidente com a relao de disperso obtida atravs do mtodo dos
potenciais. Para os modos anti-simtricos o procedimento anlogo.

APNDICE C Determinao experimental da
atenuao usando o mtodo
pulso-eco
Na figura C.1 est representado esquematicamente um material com espessura L, sujeito a um
teste usando o mtodo pulso-eco por contacto. Para determinar a atenuao do material temos
que relacionar dois sinais consecutivos provenientes da face oposta ao transdutor, que podem ser
por exemplo A
1
e A
2
.
Transdutor
Material
A
1
A
2
L

Figura C.1 Mtodo pulso-eco por contacto.
Vamos considerar que o sinal imediatamente antes de entrar no material (sada do transdutor)
dado por A
0
. O coeficiente de transmisso transdutor-material dado por T
TM
e o coeficiente de
transmisso material-transdutor por T
MT
. Da mesma forma so definidos os coeficientes de
reflexo como R
TM
e R
MT
. Como a face oposta est em contacto com o ar, cuja impedncia
206 APNDICE C

acstica muito inferior do material podemos considerar que o seu coeficiente de reflexo
unitrio.
O sinal A
1
ento dado por
) 2 exp(
0 1
L T A A
TM
= , (C.1)
e o sinal A
2
por
) 4 exp(
0 2
L T R A A
TM MT
= . (C.2)
Fazendo o cociente entre A
1
e A
2
e simplificando vamos obter
) ln(
2
1
2
1
A
A
R
L
MT
= . (C.3)
De notar que, para casos em que a impedncia do material superior impedncia do transdutor,
R
MT
tem um valor negativo, o que traduzido fisicamente como uma inverso de fase do sinal.
Nesta situao, o valor do coeficiente de reflexo a usar em (C.3) o seu valor absoluto.

APNDICE D Deslocamentos num sistema
multicamada
Para a determinao dos deslocamentos num sistema multicamada, como o da figura 4.56,
admitimos que uma das amplitudes da equao (4.80) unitria, por exemplo 1
2
=
+ L
A . Como
referimos, nesta situao ficamos com 11 incgnitas, o que nos leva a considerar apenas 11
equaes, desprezando por exemplo a que deriva de
xx
=0 na interface i
1
.
Para cada camada temos de conhecer as propriedades do material: velocidade longitudinal V
Ln
,
velocidade longitudinal V
Tn
, massa especifica
n
e espessura d
n
. Tal como em 4.6.1 so definidos
ainda os seguintes parmetros

), 2 (
), exp(
), exp(
,
,
2 2 2
2
2
2
2
2
2
k V B
d q i G
d p i G
k
V
q
k
V
p
Tn n
n n qn
n n pn
Tn
n
Ln
n
=
=
=
=
=
(D.1)
onde n pode ser 2, 3 ou 4. Depois de conhecer a velocidade de fase de um modo de propagao
para uma determinada frequncia, obtida por (4.72), as grandezas definidas em (D.1) podem ser
conhecidas, pois k=/V
F
e =2f.
Temos ento para i
1
pela expresso (4.60), tendo em ateno que z=0
0 2 2
2
2 2
2
2 2
2
2
2
2 2 2
2
2 2
= + + =
+ T T L T T xz
A B i A B i A p kV i p kV i , (D.2)
ou seja
208 APNDICE D

2
2
2 2
2
2 2
2
2 2
2
2
2
2 2
2 2 p kV i A B i A B i A p kV i
T T T L T
= + +
+
. (D.3)
Para i
2
as condies fronteiras esto definidas em (4.77). Para u
x
temos

3
3
3
3
3 3 2
2
2 2
2 2
2
2
2 + + +
+ + = + +
T T L L T
q
T q L
p
p
A q A q kA kA A
G
q
A G q A
G
k
kG , (D.4)
atendendo que no primeiro membro z=d
1
e no segundo z=0. Isolando o termo independente da
amplitude, da mesma forma que anteriormente, obtemos

2
3
3
3
3
3 3 2
2
2 2
2 2
2
2
p T T L L T
q
T q L
p
kG A q A q kA kA A
G
q
A G q A
G
k
= + +
+ + +
. (D.5)
Continuando com este procedimento para as restantes condies fronteiras podemos, ento, obter
as 11 equaes que podem ser condensadas da seguinte forma
| |
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
=
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
4
4
4
4
3
3
3
3
2
2
2
1
Q
Q
Q
Q
Q
Q
Q
Q
Q
Q
Q
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
A
G
T
T
L
L
T
T
L
L
T
T
L
. (D.6)
Invertendo a matriz | |
1
G vamos obter as amplitudes
| | | | | | Q G A
1
1

= . (D.7)
O sistema (D.6) pode ser apresentado de uma forma explcita, em que a matriz | |
1
G dada por
Deslocamentos num sistema multicamada 209

0 0 0 0 0 0
0 0 0 0 0 0
2
2 0 0 0
2 0 0 0
0 0 0
0 0 0
2 2
2
2
2
2
0 0 0 2
3 3 3
3
3
2
3 3
3 3
2
3 3
3 3
2
3 3
3
3 3
3 3 3
3
3
3
3 3
3 3
3
3
3 3 3
2
3 3 3
2
3 3
2
2 2
2 2 2
2
2
2
2 2
3
2
3 3 3 3 3 3
2
2
2
2 2
2 2
2
2 2
2
2 2
3 3
2
2
2
2
3
2
2
2 2
2
2 2 2 2 2
2
2 2
q
p
T
p T
q T
p
p
q
p
p
q
p
p
T T
q
q
p
T
T
q
T
q T
p
q
q
p
q
q
p
T
G B i
G
p kV i
G p kV i
G q kV i
G
B i
G B i
kG
G
p
G p
G q
G
k
kG
B i p kV i p kV i
G
B i
G B i
G
p kV i
q kV i B i B i
G
q kV i
G q kV i
G
B i
k p p
G
k
kG
G
p
q k k
G
q
G q
G
k
B i B i p kV i

,
2
2 0
2
2 0
2 2
2 2
2
0 0 0 0
0 0 0 0 2
0 0 0 0
0 0 0 0
0 0 0 0 0
4
4 4
4 4 4
4
4
2
4 4
4 4
2
4 4
4
4
2
4 4
4 4
2
4 4
4
4 4
4 4 4
4 4 4 4 4
2
4 4 4
2
4 4
3
3 3
4
2
4 4 4
2
4 4 4 4 4 4
3
3
2
3 3
4 4
3
4 4
3
3
3 3
3
2
3 3
3
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
q
q
p
T
p T
q
T
q T
p
p
T T
q
T T
q
T
q
q
T
G
B i
G B i
G
p kV i
G p kV i
G
q kV i
G q kV i
G
B i
G B i
B i B i p kV i p kV i
G
B i
q kV i q kV i B i B i
G
q kV i
k k p p
G
k
q q k k
G
q
B i
q kV i
k
q
(D.8)

e a matriz | | Q por
210 APNDICE D

(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
(
0
0
0
0
0
0
2
2
2 2
2
2 2
2 2 2
2 2
2
2
2
2 2
p T
p
p
p
T
G p kV i
G B i
p G
kG
p kV i
. (D.9)
Depois de conhecidos os valores das amplitudes basta-nos aplicar (4.60) para obtermos os
respectivos deslocamentos e, eventualmente, as presses ao longo das vrias camadas.

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