Controle de

Processo
Plano de Controle
Controle Estatstico de Processo
Anlise de Capabilidade de Processo

Plano de Controle

Plano de Controle
O Plano de Controle derivado do FMEA;
O Plano de Controle inclui todos controles previstos em cada
operao listada no Fluxograma de Processo;
Tcnicas Prova de Erro (Poka Yoke / Mistake Proofing)
devem ser preferidas a controles convencionais;
Estabelecer as caractersticas a serem verificadas, os
mtodos e o plano de reao em cada etapa aplicvel do
processo;
Pode ser incorporado s Folhas de Processos.

Formulrio
Cabealho

Formulrio
Identificao da
Etapa do
Processo onde o
controle
aplicado

Formulrio
Descrio das
caractersticas
controladas

Caractersticas Especiais
Controle Robusto
Dispositivo Prova
de Erro
Poka Yoke /
Mistake Proofing
Controle Estatstico de
Processo
Cartas de Controle e Anlise de
Capabilidade

Inspeo 100%

Preferencial
Recomendvel
Conteno (85% eficaz)

Formulrio
Detalhes sobre o
mtodo de
controle

Formulrio
Plano de Reao

Exemplos

Exemplos

Fluxograma de Processo
Op. 30
Colocar
gua na
cuia
Cevar a
erva
Queimar a
erva
Gosto
amargo
Chiado
da
chaleira
Experiment
ar
chimarro
gua muito
quente
PFMEA
Plano de Controle
Interface com outros documentos
Folhas
de
Processo

Controle Estatstico de Processos -
CEP
Controle Estatstico de Processo (Statistical Process Control
SPC).
Definio: mtodo preventivo de se comparar, continuamente,
os resultados de um processo com referenciais, identificando a
partir de dados estatsticos as tendncias para variaes
significativas, a fim de eliminar ou controlar essas variaes;
Objetivo: reduzir a variabilidade de um processo atravs da
eliminao das causas especiais de variao.

Conceitos Bsicos
Variao;
Distribuio Normal;
Causas Especiais e Causas Comuns;
Controle estatstico.


Variao (Disperso)

Medidas de Variao
Amplitude (A ou R):
R = Maior leitura menor leitura
Desvio padro (s):informa quanto os dados
esto dispersos em torno da mdia. Para
variaes pequenas o desvio padro
pequeno.
( )
|
|
.
|

\
|

n
x
x
n
S
i
i
2
2
1
1

Distribuio Normal
Mdia
Desvio
Padro

Tipos de Variao
Aleatria:
Inerentes ao processo;
Podem ser eliminadas
somente atravs de
melhorias no
processo;
Tipicamente 15% dos
problemas;
Causas comuns.
No Aleatria:
Devido a razes
identificveis
(assinalveis);
Podem ser eliminadas
atravs de aes do
operador ou da
gerncia;
Tipicamente 85% dos
problemas;
Causas especiais.

Causas comuns x Causas especiais

Variabilidade e Previsibilidade
Todos os processos
tm variao... Mas
somente variao
devido a causas
comuns previsvel.
Um processo est sob
controle estatstico
quando somente
causas comuns esto
presentes.

Processo sob ao de
causas especiais
Processo sob ao de
causas comuns

Controle de Processo
Processo fora de controle:
Presena de causas especiais
Processo instvel
Processo no previsvel
Processo sob controle:
Causas especiais eliminadas
Presena somente de causas comuns de variao
Processo estvel
Processo previsvel

Implementao de
Controle de Processo

Grfico de Controle
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Nmero da Amostra
LSC
Mdia
LIC
LSE
LIE
Causa
Especial
Grficos de
controle mostram
a variao do
processo ao
longo do tempo

Cartas de Controle: objetivo
Identificar causas especiais
de variao.

Principais Tipos de Cartas de Controle
Dados Tipo Atributos
Para itens defeituosos (carta p)
Para defeitos (carta c)
Dados Tipo Variveis
X e AM (individuais e amplitude mvel)
X e R (mdia e amplitude)
Cartas: apresentao
Composta de dois grficos:
Grfico das mdias (X) ou dos valores
individuais (I)
Mostram a localizao do processo
Tipicamente possuem Limites Inferiores e
Superiores de Controle (LIC / LSC)
Grfico das amplitudes (R) ou amplitude
mvel (mR)
Mostram a variao (dispero) do processo
Possuem somente Limite Superior de
Controle (LSC)
Processo Estvel = Sob Controle
Histograma: fotografia
do processo
Carta de controle:
comportamento ao longo
do tempo
Determinao dos Limites de Controle
x =
x
1
+ x
2
+ ... x
k

k
=
LSC = x + A
2
R LIC = x - A
2
R
= =
Onde:

x = mdia das mdias das amostras
=
Limites para grfico Xbar
Aproximadamente igual a 3
Desvios Padro

Critrios para identificao de causas especiais nas
cartas de controle
8 ou mais pontos acima ou abaixo
da Linha Central
Possveis causas:
Mudana no ajuste de mquina
Processo, mtodo ou material diferente
Avaria de um componente na mquina
Quebra de mquina
Grande variao no material recebido
6 ou mais pontos Subindo ou
Descendo
Possveis causas:
Desgaste de Ferramenta
Gradual desgaste do equipamento
Desgaste relacionado ao
instrumento de medio

Pontos fora dos Limites de Controle
Possveis causas:
Erro na medio ou digitao
Quebra de ferramenta
Instrumento de medio desregulado
Operador no consegue identificar a medida

Periodicidade dos Pontos
Possveis causas:
No-uniformidade na matria-prima recebida
Rodzio de Operadores, Gabaritos e
instrumentos
Diferena entre turnos
Deslocamento da Mdia
Possveis causas:
Novo Mtodo
Nova Mquina
Melhoria de Qualidade
Novo Lote de Material

Processo Instvel = Fora de Controle
Presena de causas
especiais
Presena de causas
especiais

Exemplos
Criao de uma carta:
Virtual Machine
Formulrio Carta de Controle
Exemplo 1
Exemplo 2

Seleo de Cartas de Controle

Capabilidade de Processo - Conceitos
Tolerncias: especificaes de engenharia que representam requisitos do
produto.
Capabilidade do Processo: representa o melhor desempenho do processo e
determinada pela variao das causas comuns. Isso demonstrado quando o
processo est sendo operado sob controle estatstico.
A capabilidade potencial do processo (Cp) a entre tolerncia e a
variabilidade do processo.
A capabilidade efetiva do processo (Cpk) mede a localizao da variao do
processo com relao aos limites de especificao. a condio real de
operao do processo. Considera a variao dentro dos subgrupos o
c
(desvio
padro estimado por Rbar/d2) estudo de curto prazo.
Desempenho do Processo: representa o desempenho geral do processo
considerando todas as variaes presentes.
O desempenho potencial e efetivo do processo (Pp/Ppk) tem conceito similar
ao da capabilidade, porm utiliza a variao entre os subgrupos o
p
, que a
variao total do processo (desvio padro amostral s) longo prazo.

ndice de Capabilidade Potencial
do Processo
C
p
=
Amplitude da tolerncia
Amplitude do processo
LSE LIE

6o
c
C
p
=
Clculo da Capabilidade do Processo
Onde:
o
c
= R
d
2
_

Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5
LSE LIE

6o
c
C
p
=
9.5 - 8.5
6 (0,33/2,326)
C
p
= = 1,17
Calculando Cp
Onde:
o
c
= R
d
2
_

ndice de Capabilidade efetiva
do Processo
C
pk
= mnimo
x - LIE
3o
c
LSE - x
3o
c
;
_ _
Clculo da Capabilidade do Processo
Onde:
o
c
= R
d
2
_

8.80 - 8.50
3 (0,33/2,326)
9.50 - 8.80
3 (0,33/2,326)
C
pk
= mnimo
;
0,70
1,64
= 0,70
Exemplo:
Dimenso = 9,0mm 0.5mm
Mdia do processo = 8,80 mm
Amplitude mdia = 0,33 mm
Tamanho da amostra = 5
Calculando Cpk
C
pk
= mnimo
x - LIE
3o
c
LSE - x
3o
c
;
_ _
Representao da Capabilidade
LIE LSE
Cp = 1,17
Cpk = 0,70
8,5 9,5 9,0 X
_
(b) Limites de especificao e
variao natural so iguais;
processo capaz de atender
as especificaes a maior
parte do tempo.
Limites de
Especificao
Processo
(a) Variao natural
excede os limites de
especificao; processo
no capaz de atender
as especificaes o tempo
todo.
Limites de
Especificao
Processo
Processos capazes e no capazes
Processos capazes e no capazes
(c) Limites de especificao
maiores que a variao
natural do processo; o
processo capaz de
atender a especificao
ao longo do tempo.
(d) Limites de especificao
maiores que a a variao natural
do processo, mas o processo
est descentralizado. Processo
capaz mas alguns resultados
no vo atender o limite
superior de especificao.
Limites de
Especificao
Processo
Limites de
Especificao
Processo
Cp < 1: a capabilidade do
processo inadequada
tolerncia exigida.
1 Cp 1,33: a
capabilidade do processo
est em torno da diferena
entre as especificaes.
Cp > 1,33: a capacidade do
processo adequada
tolerncia exigida (resta 30%
de folga na tolerncia).
Anlise da capabilidade
ndice de Desempenho Potencial
do Processo
P
p
=
Amplitude da tolerncia
Amplitude do processo
LSE LIE

6o
p
P
p
=
Desempenho do Processo
Onde: o
p
= s

Resultados da Anlise de Capabilidade
Exemplos
Clculo de Capabilidade
Virtual Machine
Formulrio Estudo de Capabilidade
Exemplo 1
Exemplo 2