INDICE

CRISTALOGRFIA.3

PLANOS CRISTALOGRFICOS..3

NDICES DE MILLER..5

DIRECCIONES DE CELDA...7

NOTACIN DE PLANOS...8

LEY DE SCHMIDT....11

DIFUSION...12

PRIMERA Y SEGUNDA LEY DE FICK..13

CRISTALOGRFIA La cristalografa es la ciencia que se dedica al estudio y resolucin de estructuras cristalinas. La mayora de los minerales adoptan formas cristalinas cuando se forman en condiciones favorables. La cristalografa es el estudio del crecimiento, la forma y la geometra de estos cristales. La disposicin de los tomos en un cristal puede conocerse por difraccin de los rayos X. La qumica cristalogrfica estudia la relacin entre la composicin qumica, la disposicin de los tomos y las fuerzas de enlace entre stos. Esta relacin determina las propiedades fsicas y qumicas de los minerales. Cuando las condiciones son favorables, cada elemento o compuesto qumico tiende a cristalizarse en una forma definida y caracterstica. As, la sal tiende a formar cristales cbicos, mientras que el granate, que a veces forma tambin cubos, se encuentra con ms frecuencia en dodecaedros o triaquisoctaedros. A pesar de sus diferentes formas de cristalizacin, la sal y el granate cristalizan siempre en la misma clase y sistema. En teora son posibles treinta y dos clases cristalinas, pero slo una docena incluye prcticamente a todos los minerales comunes y algunas clases nunca se han observado.

PLANOS CRISTALOGRFICOS

Direccin en la celda a menudo, es necesario referirnos a posiciones especficas en las redes cristalinas. Esto es especialmente importante para metales y aleaciones con propiedades que varan con la orientacin cristalogrfica. Para cristales cbicos los ndices de las direcciones cristalogrficas son los componentes vectoriales de las direcciones resueltos a lo largo de cada eje coordenado y reducido a los enteros ms pequeos.

Para indicar en un diagrama la direccin en una celda cbica unitaria dibujamos un vector de direccin desde el origen (que es normalmente una esquina de la celda cbica) hasta que sale la superficie del cubo. Las coordenadas de posicin de la celda unidad donde el vector de posicin sale de la superficie del cubo despus de ser convertidas a enteros son los ndices de direccin. Los ndices de direccin se encierran entre corchetes sin separacin por comas.

Planos en una celda unitaria Las superficies cristalinas en celdillas unidad HCP pueden ser identificadas comnmente utilizando cuatro ndices en lugar de tres. Los ndices para los planos cristalinos HCP, llamados ndices Miller-Bravais, son designados por las letras h , k , i , l y encerrados entre parentesis ( hkil ) . estos indices hexagonales de 4indices estan basados en un sistema coordenado de 4 ejes .

Existen 3 ejes basicos , a1 , a2 , a3, que forman 1200 entre si. El cuarto eje o eje c es el eje vertical y esta localizado en el centro de la celdilla unidad. La unidad a de medida a lo largo de los ejes a1 a2 a3 es la distancia entre los tomos a lo largo de estos ejes. la unidad de medida a lo largo del eje es la altura de la celdilla unidad . Los recprocos de las intersecciones que un plano cristalino determina con los ejes , a1 , a2 , a3 proporciona los indices h , k e i mientras el recproco de la interseccin con el eje c da el ndice l

Notacin para planos Los planos basales de la celdilla unidad HCP son muy importantes para esta celdilla unidad puesto que el plano basal de la celdilla HCP es paralelo a los ejes, a1, a2 , a3 las intersecciones de este plano con estos ejes sern todas de valor infinito . As, a1 = , a2 = a3 = El eje c, sin embargo, es nico puesto que el plano basal superior intersecciona con el eje c a una distancia unidad . Tomando los recprocos de estas intersecciones tenemos los ndices de Miller-Bravais para el plano Basal HCP. As , H =0 K=0 I = 0 y L=1. El plano basal es , por tanto un plano cero-cero-cero-uno o plano (0001) .
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Importancia del ndice de Milller A veces es necesario referirnos a planos reticulares especficos de tomos dentro de una estructura cristalina o puede ser interesante conocer la orientacin cristalogrfica de un plano o grupo de planos en una red cristalina. Para identificar planos cristalinos es estructuras cristalinas cbicas se usa la notacin de Miller. Los ndices de Miller de un plano cristalino estn definidos como los recprocos de las intersecciones, que el plano determina con los ejes x , y , z de los tres lados no paralelos del cubo unitario .Las aristas de una celda cbica unitaria presentan longitudes unitarias y las intersecciones de los planos de una red se miden en base a estas longitudes unitarias .El procedimiento de determinacin de los ndices de Miller para un plano de un cristal cbico es el siguiente: Escoger un plano que no pase por el origen en (0,0,0) Determinar las interacciones del plano en base a los ejes x,y,z cristalogrficos para un cubo unitario , estas interacciones pueden ser fraccionarias Construir los recprocos de estas intersecciones Despejar fracciones y determinar el conjunto ms pequeo de nmeros esteros que estn en la misma razn que las intersecciones. Esos nmeros enteros son los ndices de Miller de un plano cristalogrfico y se encierran entre parntesis sin usar comas. La notacin (hkl) se usa para indicar ndices de Miller en sentido general, donde h, k, y l son los ndices de Miller para un plano de un cristal cbico de ejes x, y, z respectivamente.

NDICES DE MILLER

Para poder identificar unvocamente un sistema de planos cristalogrficos se les asigna un juego de tres nmeros que reciben el nombre de ndices de Miller. Los ndices de un sistema de planos se indican genricamente con las letras (h k l).

Los ndices de Miller son nmeros enteros, que pueden ser negativos o positivos, y son primos entre s. El signo negativo de un ndice de Miller debe ser colocado sobre dicho nmero.

Obtencin de los ndices de Miller 1.- Se determinan las intersecciones del plano con los ejes cristalogrficos. Para poder determinarlas se utiliza como unidad de medida la magnitud del parmetro de red sobre cada eje. 2.- Se consiguen los recprocos de las intersecciones. 3.- Se determinan los enteros primos entre s que cumplan con las mismas relaciones. 4.- tienen que ser enteros.

Supongamos una red con parmetros de red: a b c

Tenemos un plano que se interseca con los ejes x, y, z -estos ejes tambin se pueden designar con las letras a, b y c- en los puntos 1a 1/2b 2c. Entonces realizamos el recproco de las intersecciones 1a, 1/2b, 2c y obtenemos 1/a, 2/b, 1/2c y de ahora en adelante trabajamos slo con los nmeros, es decir: 1, 2, 1/2. Determinamos los enteros primos entre s que cumplan las mismas relaciones: Esto lo logramos multiplicando por el m.c.m. (mnimo comn mltiplo) es decir(1 2 1/2) = (2 4 1) (Ntese que cumplen con las caractersticas de los ndices de Miller: Enteros y primos entre s) Entonces los ndices de Miller para el sistema de planos del ejemplo es: (2 4 1)

DIRECCIONES DE CELDA

Se define como celda unitaria, la porcin ms simple de la estructura cristalina que al repetirse mediante traslacin reproduce todo el cristal. Todos los materiales cristalinos adoptan una distribucin regular de tomos o iones en el espacio. Se trata de un arreglo espacial de tomos que se repite en el espacio tridimensional definiendo la estructura del cristal. Se caracteriza por tres vectores que definen las tres direcciones independientes del sistema de coordenadas de la celda. Esto se traduce en seis parmetros de red, que son los mdulos, , y , de los tres vectores, y los ngulos , y que forman entre s. Estos tres vectores forman una base del espacio tridimensional, de tal manera que las coordenadas de cada uno de los puntos de la red se pueden obtener a partir de ellos por combinacin lineal con los coeficientes enteros. La posicin de un tomo dentro de la celda unidad se describe normalmente usando coordenadas fraccionarias. La simetra traslacional de una estructura cristalina se caracteriza mediante la red de Bravais, existen 14 redes de Bravais diferentes y todas las estructuras cristalinas minerales conocidas encajan en una de esas 14 disposiciones. Estas redes pueden ser: Tipo P: Se denomina primitiva y tiene puntos de red en los vrtices de la celda.

Tipo I: Red centrada en el interior. Esta presenta puntos de red en los vrtices de la celda y en el centro de la celda.

Tipo F: Red centrada en todas las caras. Presenta puntos de red en los centros de todas las caras, as como en los vrtices.

Tipo C: Red centrada en la base. Una red tipo C se refiere al caso en el que la simetra traslacional coloca puntos de red en los centros de las caras delimitados por las direcciones a y b as como en el origen.

Adems de la simetra traslacional descrita en una red cristalina existen elementos de simetra. Estos elementos son: Centro de inversin. Plano de reflexin. Ejes de rotacin de orden 2, 3, 4 y 6. Ejes de rotacin-inversin de orden 3, 4 y 6.

Los elementos de simetra anteriores pueden coexistir en una estructura cristalina dando lugar a lo que se conoce como grupo puntual de simetra. Existen 32 grupos puntuales de simetra y el nombre alude a que las operaciones asociadas forman un grupo matemtico y los elementos tienen un punto en comn que no se mueve al realizar las operaciones. Cuando se acoplan traslacin con los ejes de rotacin y planos de simetra surgen nuevos elementos de simetra: ejes helicoidales y planos de deslizamiento. Cuando se combinan los 32 grupos puntuales de simetra con los elementos de simetra traslacional y las 14 redes de Bravais se obtienen los 230 grupos espaciales de simetra posibles. Estos grupos determinan los tipos y posiciones de los elementos de simetra que son posibles para una estructura cristalina. Los puntos de red que muestran la simetra traslacional de una estructura pueden ser conectados mediante los planos de red. Cada plano pertenece a un conjunto de planos equiespaciados que contienen todos los puntos de red. Estos planos se nombran usando los ndices de Miller. Estos ndices se designan

convencionalmente h, k, y l, se escriben entre parntesis (h,k,l) y son enteros positivos, negativos o cero. La separacin de los planos se conoce con el trmino
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de espaciado dhkl. La relacin entre el espaciado d y los parmetros de red puede determinarse geomtricamente y depende del sistema cristalino.

NOTACIN DE PLANOS

Ejem1: Consideremos una celda elemental cbica. Paso 1: Considerar un plano cualquiera de la serie y medir las longitudes de los segmentos que sus intersecciones con los ejes determinan sobre ellos, a partir del origen, empleando como mdulo para cada medida la longitud de la arista correspondiente. En este caso la interseccin con el eje x tiene lugar en x=a y la superficie es paralela a los ejes y, z (consideramos que los corta en ). Los cortes son a, , Paso 2: Calcular los recprocos de esas longitudes. Son 1/a, 0, 0. Paso 3: Buscar los tres menores nmeros enteros que estn en la misma relacin que esos recprocos. Encerrados entre parntesis constituyen los ndices de la serie correspondiente. Por tanto el plano del dibujo es el (100) del cristal cbico.

Notacin de los planos cristalogrficos Los ndices de Miller encerrados entre parntesis designan solamente a una serie de planos paralelos. Ejem:(100) = (100) + (200) + (300) + ( 100) + Encerrados entre llaves representan todas las series de planos que son cristalogrficamente equivalentes (permutando h, k y l con todos los ndices positivos y con uno, dos o los tres ndices negativos). El smbolo { } representa el conjunto de las tres series:

Ejem:{100} = (100) + (010) + (001) {110} = (110) + (101) + (011) + (11 0) + (101 ) + (011 ) Los ndices negativos se nombran en la direccin -x, -y, -z.

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LEY DE SCHMIDT

Se puede entender las diferencias en el comportamiento de los metales que tienen diferentes estructuras, examinando la fuerza requerida para iniciar el proceso de deslizamiento. Supongamos que se aplica una fuerza unidireccional F a un cilindro de metal que es un cristal. Simple o mono cristal. Es posible ubicar el plano de deslizamiento y la direccin del desplazamiento al aplicar la fuerza, definiendo los ngulos y . es el ngulo entre la direccin del desplazamiento y la fuerza aplicada, y es el ngulo entre la normal al plano de desplazamiento y la fuerza aplicada. Para que la dislocacin se mueva en el sistema de deslizamiento, se necesita que acte una fuerza de en la direccin del desplazamiento, producida por la fuerza aplicada F.

DIFUSION

Es el movimiento de los tomos, iones o molculas, dentro de un material. Estos se mueven de manera predecible, tratando de eliminar diferencias de concentracin y producir una composicin homognea y uniforme. Observar la evolucin de una gota de tinta en un vaso de agua, o de un cristal de alguna sustancia coloreada en el solvente adecuado, los olores que llegan a nosotros, son experiencias diarias de fenmenos de difusin en gases y lquidos, estados en los que por su misma situacin de movilidad, los tomos difunden con rapidez. Sin embargo este fenmeno es una tendencia general en la naturaleza, y aunque ms lento, es igualmente observable en slidos. Las imperfecciones. Se han definido como slidos a aquellos materiales cuyos tomos, iones o molculas estn ordenados en una forma fija y regular de mnima energa, llamada red cristalina. Aun siendo regulares, las redes cristalinas naturales pocas veces son perfectas: la descripcin y el control de las imperfecciones existentes, y aun la creacin de imperfecciones en una red cristalina perfecta, son un aspecto importante de la ingeniera de los materiales .Las imperfecciones de la red pueden consistir en la ausencia de uno o ms tomos en los puntos correspondientes de
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la misma (vacancias) en la aparicin de un tomo diferente (de mayor o menor radio) lo que provoca tensiones y distorsiones en la red. Los tomos ms pequeos pueden acomodarse tambin en los huecos dejados por los tomos de la red (sitios intersticiales) constituyendo otro tipo de imperfeccin. Y an los mismos, los tomos, iones o molculas ordenados en la red tienen energa como para desplazarse de un punto a otro, intercambiando posiciones con otro tomo idntico, siguiendo las tendencias homogneas . Puesto que no todos los tomos tienen la misma energa, se podr aplicar un criterio estadstico.

PRIMERA Y SEGUNDA LEY DE FICK

La ley de Fick es una ley cuantitativa en forma de ecuacin diferencial que describe diversos casos de difusin de materia o energa en un medio en el que inicialmente no existe equilibrio qumico o trmico. Recibe su nombre de Adolf Fick, que las deriv en 1855. En situaciones en las que existen gradientes de concentracin de una sustancia, o de temperatura, se produce un flujo de partculas o de calor que tiende a homogeneizar la disolucin y uniformizar la concentracin o la temperatura. El flujo homogeneizador es una consecuencia estadstica del movimiento azaroso de las partculas que da lugar al segundo principio de la termodinmica, conocido tambin como movimiento trmico casual de las partculas. As los procesos fsicos de difusin pueden ser vistos como procesos fsicos o termodinmicos irreversibles. Criterios La Ley de Difusin de Fick toma en cuenta ciertos criterios para determinar que tan fcil es que difunda una sustancia dada dependiendo de las siguientes caractersticas: - Magnitud de gradiente - rea de superficie - Liposolubilidad de la sustancia (entre ms liposoluble, ms rpido difunde) - Peso molecular (entre menos peso, pasa ms rpido) - Distancia de difusin

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