UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE

SANTANDER

ESTRUCTURA Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES

MICROSCOPA

ELECTRNICA

DE TRANSMISIN

(TEM)

PRESENTADO

A:

ING. MS.c OSCAR REY CASTELLANOS

PRESENTADO

POR:

OMAR ANDRS LOPEZ HERNANDEZ JAVIER FERNANDO MENDOZA MOLINA

Bucaramanga - 02/08/2012 INTRODUCCIN

La Microscopa Electrnica es una herramienta fundamental en la evaluacin de diferentes materiales, obtenindose una informacin nica en cuanto a microestructura, composicin y anlisis cristalogrfico, con muy alta resolucin espacial. Un haz de electrones acelerados puede tener una alta potencia de resolucin, cuando los electrones inciden como paquetes de ondas sobre los tomos de una muestra, las colisiones pueden representarse, y a veces con gran precisin como colisiones del tipo bola de billar. Sin embargo, Si la muestra contiene un cristal en una cierta orientacin, los electrones debern representarse por ondas para dar cuenta de las reflexiones.

OBJETIVOS

Conocer los fundamentos que conforman la microscopia electrnica y su evolucin.

Establecer los conceptos de microscopia electrnica de transmisin, y una completa caracterizacin del equipo empleado.

Identificar aplicaciones de la MET en diferentes campos.

MICROSCOPIA ELECTRONICA - RESEA HISTRICA

Las ideas que se llevaron a cabo para el desarrollo del microscopio electrnico de alta resolucin tuvieron su origen en muy diversos estudios, el descubrimiento del electrn como partcula cargada con masa en reposo; los haces de estas partculas se pueden desviar y concentrar mediante campos elctricos y magnticos con este principio se construyo el primer oscilgrafo y dio pie para que Luis de Broglie en 1924 lanzara su extraordinaria hiptesis segn la cual haba de asociar una naturaleza ondulatoria a cada partcula material, Y en particular a los electrones, dedujo la frmula para la longitud de onda de dichas ondas materiales. Si se sustituyen valores de esta ecuacin para un electrn acelerado por un potencial de 60.000 voltios, resulta una longitud de onda de solo 0,05 , lo que representa 1/100.000 de la luz visible. Poco despus, en 1926, E. Schrdinger comenz el desarrollo de la mecnica ondulatoria haciendo uso de las analogas mecnico-pticas demostradas por W.R. Hamilton en 1830, y combinndolas con las ideas de De Broglie. En 1927 La hiptesis de De Broglie fue confirmada experimentalmente con haces electrnicos por Davisson y y Germer en los Estados Unidos y por Thomson y Reid en Inglaterra. Los primeros en desarrollar el microscopio electrnico fueron Ersr Ruska y Max Knoll, hacia la dcada de 1930 (Bozzula y Bartlerr, 1997). Con el desarrollo del microscopio electrnico se lleg al territorio celular desconocido hasta el nivel del nanmetro, pero el escaso poder de penetracin del haz de electrones hizo necesario el desarrollo de tcnicas que dejaran las muestras a examinar de extraordinaria finura (una millonsima de centmetro) y su examen debe realizarse bajo intenso vaco. Adems de la construccin de instrumentos necesarios para reducir las muestras a cortes ultra finos (Duve, 1988). En 1926 despus de 15 aos de estudio sobre la trayectoria de los electrones en campos magnticos, H. Busch publico un artculo en el que mostraba que un campo elctrico o magntico con simetra axial era capaz de actuar como una lente para los electrones u otras partculas cargadas. El trabajo de Busch atrajo la atencin de los fsicos del momento hacia una consecuencia prctica importante de las teoras de De Broglie y Schrdinger, y dio origen a una nueva ciencia de instrumentacin que se conoce desde entonces como ptica electrnica, ciencia que busco el desarrollo de la microscopia electrnica ( Electron Microscopy, EM).

MICROSCOPIA ELECTRONICA

El objeto del conjunto de tcnicas que conforman la microscopia electrnica (TEM, SEM) es la interaccin de los electrones con la materia y la forma de obtener informacin tanto estructural como de caracterizacin de defectos. En muchos sentidos, el microscopio electrnico ME ofrece una solucin ideal a los problemas que presentan los microscopios pticos ( ~ 0.5 m) que no pueden obtener resolucin atmica ya que la longitud de onda de la radiacin incidente es demasiado grande. Con el ME se pueden obtener electrones acelerados con asociada bastante menor de 1 , y por tanto se puede obtener, al menos tericamente, resolucin atmica. Con las lentes adecuadas se puede transformar los electrones difractados en la imagen real. Adems de usarse para difraccin e imagen, el ME tiene otros usos. Los electrones en el ME se generan por efecto termo-inico en un filamento (ctodo) que es generalmente wolframio, y se monocromatizan acelerndolos a travs de un potencial (E) en un sistema sometido a vaco. Para un voltaje de 100 kV, la longitud de onda asociada a los electrones es 0.037 (0.01 para 1 MV). Los electrones interaccionan mucho con la materia y por lo que es posible la difraccin de electrones de muestras gaseosas. De hecho, muchas estructuras moleculares (distancias y ngulos de molculas inorgnicas y orgnicas simples) fueron determinadas en la dcada de los aos 1930 a partir de datos de difraccin de electrones en muestras gaseosas.

Sin embargo, la interaccin entre los electrones y la materia es tan fuerte que no se cumple le teora cinemtica (fenmenos de difraccin mltiples) y por tanto interpretar las intensidades de la difraccin de electrones es muy complicado. En casos especiales y con mucho tiempo de estudio ya se estn resolviendo estructuras desconocidas a partir de difraccin de electrones.

La caracterizacin estructural y qumica de la muestra es dada al interpretar las interacciones del haz de electrones con la muestra. Estas interacciones producen varios tipos de seal que se identifican como electrones: retrodispersados, secundarios, absorbidos, Auger, transmitidos y rayos X. Los electrones retrodispersados y secundarios nos dan informacin sobre la superficie de la muestra, permitindonos obtener una imagen topogrfica de la misma. Los electrones absorbidos nos informan sobre la resistividad de la muestra. Los electrones Auger y los rayos X caractersticos dependen de la composicin qumica de la muestra.

Los electrones que atraviesan la muestra se pueden clasificar como: transmitidos (aquellos que pasan la muestra sin sufrir desviacin alguna) y difractados (aquellos que son desviados de su direccin de incidencia). Los haces transmitidos y difractados son los que usa la lente objetiva para formar la imagen de la muestra en un microscopio electrnico de transmisin por ello se requiere que las muestras sean muy delgadas. Al atravesar la muestra estos electrones llevan informacin sobre las caractersticas estructurales de la misma. Si en lugar de enfocar el plano-imagen de la muestra se enfoca el plano focal se observara un arreglo de haces difractados y transmitidos (patrn de difraccin). El anlisis de este patrn permite hacer el estudio de la estructura atmica de la muestra.

MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION

Microscopa electrnica de transmisin. TEM del ingls Transmission Electron Microscopy. Los electrones difractados al pasar a travs de la muestra generan un difractograma que puede ser transformado directamente en imagen mediante lentes magnticas que es la proyeccin de la estructura cristalina a lo largo de la direccin de los electrones. Tanto el difractograma de electrones como la imagen reconstruida se pueden proyectar en una pantalla. El esquema se muestra en la siguiente figura.

Esquema de un TEM.

Difractogramas de monocristal (microcristal) similares en apariencia a los de nivel-cero, fotografas de precesin de R-X, se pueden obtener orientando los microcristales de pequeo espesor (< 1m). Uno puede seleccionar un microcristal de la muestra y obtener el difractograma de ese microcristal embebido dentro de la muestra lo cual es una ventaja al estudiar muestras polifsicas ya que la difraccin de neutrones y de R-X no permiten seleccionar la fase deseada sino que siempre se obtiene la superposicin de los

difractogramas de todas las fases presentes en la muestra. Con cuidado y un buen ME, es posible obtener imgenes con resolucin atmica permitiendo que el nmero adecuado de haces difractados contribuyan a la imagen.

El poder de resolucin depende de la longitud de onda y de la calidad de las lentes del objetivo (la que producen la primera imagen) siendo dminCs 1/32/3, donde Cs es el coeficiente de aberracin esfrico de las lentes del objetivo. En las mejores condiciones con aparatos buenos se puede obtener una resolucin de aproximadamente 1.5 . Las imgenes se pueden producir a partir de los electrones difractados (imgenes de campo oscuro) o a partir de los electrones directos que han atravesado la muestra sin interaccin (imgenes de campo claro/brillante). Hay que tener en cuenta el espesor de la muestra y de las condiciones de focalizacin. Microcristales muy delgados son los ideales (espesor < 500 ) y se deben tomar varias fotos con diferentes condiciones de focalizacin. Las imgenes se pueden comparar con las generadas/calculadas a partir de una estructura modelo y de unas condiciones de focalizacin determinadas. La imagen viene dominada por la presencia de tomos pesados ya que el factor de dispersin de los electrones vara mucho con el nmero atmico.

Tambin es importante recordar que la imagen que se graba es la proyeccin de la estructura a lo largo de la direccin del haz lo que conlleva problemas a la hora de la interpretacin de las imgenes. No hay una forma directa de reconstruir la estructura tridimensional de un material a partir de una proyeccin determinada a lo largo de un eje. Por esto, los mtodos para obtener las estructuras de compuestos a partir de imgenes TEM se basan en la comparacin entre las imgenes observadas y las calculadas mediante un modelo estructural, para unos tamaos/espesores de cristal y condiciones de focalizacin dadas. Se debe partir de un modelo estructural bastante aproximado y la optimizacin de las coordenadas atmicas dan errores mucho mayores que los mtodos basados en difraccin de R-X y de neutrones. El contraste que se observa en las microfotografas TEM se debe a las diferencias en el potencial electrosttico en el cristal. Un ejemplo de microfotografa TEM se da en la figura que se observa ms adelante, la cordierita es un silicato, (Fe,Mg)2Si4Al5O18 que tiene canales amplios constituidos por anillos de seis tetraedros. La estructura ha sido determinada con datos de rayos-X de monocristal.

Los agujeros son claramente visibles en la foto que se observa a continuacin.

TEM de la cordierita con una proyeccin de la estructura superpuesta.

Otra limitacin de la tcnica TEM es que muchos materiales no sobreviven a las condiciones que existen en la cmara del microscpico: a) alto vaco y b) impacto de electrones acelerados. Muchas muestras se transforman ya que pueden perder el agua de hidratacin o las molculas orgnicas se pueden volatilizar o reaccionar. Sin embargo, esta tcnica tiene una ventaja fundamental ya que permite mostrar los defectos en los materiales lo que es muy difcil de estudiar con otras tcnicas, algunos electrones que atraviesan la muestra son dispersados elsticamente (difractados).

En la siguiente figura se representan los difractogramas de electrones de un cristalito de MgO enfocando el haz de electrones desde tres direcciones diferentes. Esto se consigue experimentalmente, porque la muestra en el microscopio TEM se sita en un gonimetro que se puede girar dentro de unos lmites. As se consiguen difractogramas que pueden ser muy tiles para indexar celdas desconocidas ya que se pueden hacer los difractogramas de cristalitos seleccionados dentro de una matriz que puede ser polifsica.

Difraccin de electrones de un cristalito de MgO (estructura cbica centrado en las caras tipo NaCl) desde tres direcciones dif.).

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION

Un Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM), utiliza electrones de alta energa para proporcionar informacin morfolgica, composicional y cristalogrfica de las muestras. En una ampliacin mxima de potencial de 1 nanmetro, TEM son los microscopios ms potentes. TEM producen imgenes en dos dimensiones en alta resolucin, lo que permite una amplia gama de aplicaciones en la educacin, la ciencia y la industria.

Informacin que suministra

-Imgenes directas de la estructura de secciones muy delgadas de material (100 200 ) -Diagramas de difraccin orientados de electrones

Muestras y porta-muestras

-Debe ser transparente a los electrones (espesor entre 10 y 500 nm) -Muestra sobre rejilla o anillo circular perpendicular al eje ptico del microscopio y cerca del foco de la lente objetivo -Las partculas pequeas, microorganismos, virus y macromolculas necesitan una pelcula que acte de soporte. -La muestra puede desplazarse lateralmente 1mm -La muestra se puede girar 360 -La muestra se puede inclinar 60 -Algunos porta-muestras se pueden calentar

Elementos que conforman un TEM

Fuente de electrones Condensador Sistema ptico Lentes electromagnticas Platina Pantalla y cmara fotogrfica Sistema de vacio

Fuente de electrones

Al igual que en el microscopio fotnico, la fuente de irradiacin es pequea, a partir de la cual se genera un estrecho haz de electrones. El haz de electrones de alta energa puede obtenerse de varias maneras: - Por emisin termoinica: Es la forma ms comn y se realiza a partir de un delgado filamento de tungsteno dispuesto en forma de V. El metal debe calentarse a una muy alta temperatura mediante una corriente elctrica (muy alto voltaje) para acelerar a un nmero importante de electrones que se desprendern de la punta de la V. Los electrones que se liberan tienden a formar una nube prxima a la superficie del metal y con la aplicacin de un campo elctrico entre el filamento (ctodo) y una porcin de la columna (nodo) los electrones son acelerados. Otros materiales pueden ser empleados en la confeccin del ctodo, tales como oxido de bario, platino, lantano, entre otros (fig. 5-2). -Por emisin de campo: Se aplica un fuerte campo elctrico (109 Vm) para extraer los electrones del filamento de metal (tungsteno). La temperatura es mucho menor que en la emisin termoinica. Se obtiene un haz de electrones de mayor intensidad y se requiere de un vaco absoluto.

Filamento de hexaboride de lantano LaB6. Tomada de The Electron Gun. Electron Microscopy.

Condensador

Con la introduccin del condensador, conformado por una lente electromagntica, el haz de electrones puede ser enfocado de manera ms precisa en el espcimen. La lente est colocada aproximadamente a media distancia entre el ctodo y el plano del objeto (equivalente a la platina en el microscopio fotnico). En algunos microscopios se coloca un doble condensador con la finalidad de lograr mayor resolucin y aumento; de esta manera se reduce el riesgo de dao trmico y contaminacin del espcimen. En la bsqueda de un mayor aumento, es necesario emplear un haz de electrones ms potente e intenso, lo cual literalmente quema el espcimen, de all que la observacin deba hacerse rpidamente para que el tiempo de exposicin a los electrones sea corto.

Sistema ptico

Un microscopio electrnico de transmisin funciona de manera anloga al microscopio de luz. En lugar de un haz de fotones, se emplea un haz de electrones aumentado y enfocado ya sea por lentes elctricas (electrostticas) o magnticas (electromagnticas). Un electrn al moverse por un campo magntico cambia su direccin y se desplaza en ngulo recto con respecto a la direccin del campo magntico. El grado de desviacin es inversamente proporcional a la fuerza del campo y a la carga del electrn. De igual manera, un electrn que se mueve en un campo elctrico tambin cambia su direccin. Como resultado de la atraccin entre una placa de carga positiva y la carga negativa del electrn, ste ltimo es desviado hacia la placa. En consecuencia,

hay dos vas para desviar los electrones con la finalidad de utilizarlos de manera anloga a un rayo de luz y producir una imagen aumentada de un objeto. Esto se logra mediante un campo elctrico o mediante un campo electromagntico. Ambos tipos de campos seran empleados como lentes. Los tipos de lentes empleadas en el microscopio electrnico obedecen entonces a dos modelos, las lentes electrostticas y las lentes electromagnticas. Durante aos los fabricantes se han debatido entre ambos tipos de lentes, con la finalidad de demostrar cual lente era la ms eficiente y daba mejores resultados.

Lentes electromagnticas
De manera simplificada se puede decir que las lentes electromagnticas son electroimanes que estn formados por un solenoide o bobina muy bien comprimida, constituida por un material conductor filamentoso, por el cual pasa una corriente elctrica constante. El solenoide est alojado dentro de un contenedor de metal en forma de anillo, el cual posee una hendidura o ranura en su cara interna. El flujo magntico y las lneas de fuerza se concentran en la ranura y en el centro del anillo.

Comparacin entre una lente electromagntica y una lente de cristal. En la primera (izquierda) en corte longitudinal, una bobina de cobre (material conductor) est aislada en una cubierta de metal que posee una ranura en la cara interna (N-S). En la parte superior, la lnea azul representa el objeto y en la parte inferior, la imagen del mismo obtenida por la lente. En amarillo se muestra el trayecto de electrones y fotones, dependiendo del tipo de lente. Modificado de Matter. Electromagnetic Lenses

Las propiedades de las lentes son: Cada campo magntico posee una simetra axial y acta como una lente para los

electrones. Todas las lentes electromagnticas son positivas. La velocidad de los electrones no se ve afectada. La imagen formada est rotada e invertida en relacin al objeto.

Platina
Cumple una funcin similar a la platina en el microscopio fotnico garantizando el intercambio de especmenes y el movimiento preciso del mismo durante la observacin. En el microscopio electrnico de transmisin la platina es un dispositivo extrable en el cual se coloca la rejilla de cobre sobre la cual se ha depositado el corte ultrafino del tejido. La platina debe conservarse muy limpia, de lo contrario se ver afectado el movimiento de la muestra, entorpeciendo la observacin.

Platina

Pantalla y cmara fotogrfica

La imagen se proyecta en una pantalla fluorescente en la cual la energa cintica de los electrones se transforma en luz gracias a la fluorescencia. La pantalla consiste en una superficie revestida de una capa de cristales de sulfato de zinc. Cada cristal es una unidad que emana luz cuando sobre ella inciden electrones y en consecuencia la resolucin de la pantalla depender de la talla de los cristales. Las imgenes pueden grabarse en una pelcula fotogrfica. Al igual que los fotones, los electrones al incidir sobre la emulsin fotogrfica producen cambios en los cristales de bromuro de plata, obtenindose un negativo en blanco y negro, que una vez revelado por mtodos clsicos fotogrficos puede ser copiado en papel. De esta manera se obtiene la microfotografa (micrografa) electrnica.

Sistema de imagen

Sistema de vacio Los electrones al chocar con las molculas de aire se dispersan y luego de repetidas colisiones son detenidos. El haz de electrones empleado en la microscopia electrnica debe viajar en un espacio al vaco, es decir, bien evacuado y sin molculas de aire. La diferencia de alto voltaje entre el ctodo y el nodo podra ocasionar descargas si existiera un nmero suficiente de molculas de gas que facilitaran la ionizacin en este espacio. De all que es necesario mantener una baja presin de gas en la cmara donde se encuentra el filamento emisor de electrones, lo cual a su vez alarga el tiempo de vida til del mismo al prevenir la oxidacin del filamento de tungsteno. La presin del aire en la columna del microscopio debe estar entre 10-4 a 10-5 mm Hg. Esto es considerado como alto vaco y se produce mediante el uso de bombas mecnicas que extraen el aire del interior de la columna del microscopio. Las bombas pueden ser de difusin en las cuales las molculas de aire difunden en vapor de aceite y de mercurio

Principio de funcionamiento

TEM funciona como un proyector de diapositivas que proyectando un haz de luz que transmite a travs de la diapositiva. Los patrones pintados en la diapositiva slo permiten ciertas partes del haz de luz pase a travs. As, el haz transmitido replica los patrones de la diapositiva, formando una imagen ampliada de la diapositiva cuando cae sobre la pantalla. La fuente de electrones est constituida por un hilo de volframio en forma de horquilla, rodeado por una pantalla cilndrica polarizada negativamente respecto al filamento. Despus de atravesar el nodo conectado a tierra, la mayor parte de los electrones del haz se pierden en las paredes y aberturas excepto un estrecho cono que atraviesa el diafragma del condensador. La lente condensadora se usa tanto para controlar la intensidad luminosa, como para variar la abertura de iluminacin relativa en el objeto. Los dimetros de los diafragmas del condensador varan segn el tipo de instrumento, pero suelen estar comprendidos entre 0,1 y 0,5 mm. Despus de atravesar el objeto, donde muchos electrones se esparcen, el haz penetra en el campo de la lente objetivo que produce una imagen aumentada del objeto. En el objetivo se suele colocar un diafragma de 10 a 100 de dimetro para interceptar los electrones esparcidos, pero generalmente esta precaucin se omite en el estudio de

muestras muy delgadas en las que el esparcimiento no es excesivo. Puesto que para las distancias usuales entre lente e imagen, el aumento obtenido con la lente objetivo es del orden de X100 a X300, ser necesario el uso de una o ms lentes protectoras que vuelvan a aumentar la imagen primaria. La imagen final se observa en una pantalla fluorescente, y separando esta pantalla del camino del haz, se impresiona una placa fotogrfica con dicha imagen. Las dimensiones ms usuales para un microscopio de transmisin pueden ser: Del filamento a la lente condensadora 15 cm, y otro tanto de esta ltima al objeto, mientras que del objetivo a la pantalla que recoge la imagen final pueden haber unos 100 cm, el sistema completo deber ser rgido y capaz de alcanzar un vaco de 0.0001 mmHg con ayudas de bombas de difusin rpidas en serie con bombas rotatorias.

Ventajas

Un Microscopio Electrnico de Transmisin es un instrumento impresionante con una serie de ventajas tales como: Los TEM ofrecer el mayor aumento, posiblemente de ms de un milln de veces o ms TEM tienen una amplia gama de aplicaciones-y puede ser utilizado en una variedad de diferentes campos cientficos, educativos e industriales TEM Proporcionar informacin sobre los elementos y estructura del compuesto Las imgenes son de alta calidad y detalladas Los TEM son capaces de proporcionar informacin de las caractersticas de la superficie, forma, tamao y estructura Son fciles de operar con una formacin adecuada

Desventajas Los TEM son grandes y muy costosos Laboriosa preparacin de la muestra Los artefactos potenciales de preparacin de la muestra El funcionamiento y el anlisis requiere una formacin especial Las muestras se limitan a los electrones que son transparentes, capaces de tolerar la cmara de vaco y lo suficientemente pequeo para caber en la cmara Los TEM requieren especial de vivienda y mantenimiento Las imgenes son en blanco y negro

Los

microscopios electrnicos son sensibles a los campos de vibracin y electromagntica y debe ser ubicado en un rea que los asla de la posible exposicin. Un microscopio electrnico de transmisin requiere un mantenimiento constante de tensin, incluyendo el mantenimiento de las corrientes a las bobinas electromagnticas y de agua de enfriamiento.

Aplicaciones

Un microscopio electrnico de transmisin es ideal para una serie de campos diferentes, tales como ciencias de la vida, la nanotecnologa, la investigacin mdica, biolgica y de materiales, anlisis forense, gemologa y la metalurgia, as como la industria y la educacin. TEM ofrece informacin topogrfica, morfolgica, composicional y sobre la cristalinidad. Las imgenes permiten a los investigadores ver muestras en un nivel molecular, lo que es posible analizar la estructura y la textura. Esta informacin es til en el estudio de los cristales y metales, pero tambin tiene aplicaciones industriales. Los TEM se pueden utilizar en el anlisis de los semiconductores y la produccin y la fabricacin de chips de computador y chip de silicio. Las empresas de tecnologa utilizan los TEM para identificar fallas, fracturas y daos a objetos de tamao micro, estos datos pueden ayudar a resolver problemas y / o ayudar a hacer una ms duradera, producto eficiente. Los colegios y universidades pueden utilizar los TEM para la investigacin y los estudios. A pesar de los microscopios electrnicos requiere una formacin especializada, los estudiantes pueden ayudar a los profesores y aprender las tcnicas TEM. Los estudiantes tendrn la oportunidad de observar un mundo de tamao nanomtrico en increble profundidad y detalle.

INQUIETUDES RESUELTAS

Cul es el costo de un equipo? TEM son fabricados por compaas tales como Zeiss, Jeol, Philips e Hitachi y son extremadamente caros. Ejemplos de precios de los modelos nuevos incluyen TEM $ 95,000 para una 1200EXII Jeol, $ 95,000 para un equipo Philips EM10 y $ 100.000 para un 7000 de Hitachi.

Hay alguna limitacin en cuanto al tipo de muestra que puede ser analizada en los microscopios electrnicos? Las muestras deben ser siempre representativas del material que se quiere estudiar. Debe evitarse cualquier tipo de contaminacin previa a la entrega. Es obligado prevenir de cualquier riesgo que pueda derivarse de las muestras (radiactividad, inflamables, riesgo biolgico, etc). Las muestras slidas y secas pueden venir trituradas, en forma de polvo o en disolucin voltil. Si no es posible o no desea molturarla, la muestra necesitar un proceso previo de mecanizado mediante corte, pulido y adelgazamiento para poder ser observada en el microscopio. Es un proceso laborioso pero el laboratorio cuenta con el equipamiento adecuado para dicha preparacin.

Puedo obtener resolucin atmica de cualquier material? Para obtener imgenes con resolucin atmica mediante microscopa de transmisin son necesarios dos requisitos en el material observado: que sus tomos (al menos parte de ellos) estn ordenados regularmente en el espacio (materiales cristalinos), y que sea estable bajo el haz de electrones de alta energa. Por lo tanto quedan descartadas muestras de origen biolgico y materiales blandos en general.

Puedo analizar la composicin qumica de la muestra? Efectivamente, podemos obtener un espectro caracterstico de la composicin de la muestra observada. No obstante, este tipo de anlisis tiene algunas limitaciones. El microscopio electrnico est diseado para obtener imgenes de alta calidad. El analizador EDX acoplado es una herramienta fundamental para descubrir la presencia de determinados elementos qumicos en la muestra y su proporcin aproximada en zonas micro y submicromtricas, pero no est diseado para realizar anlisis qumicos cuantitativos de toda la muestra. Si necesita un anlisis qumico general de la muestra, existen otros laboratorios en el SCAI ms especializados para ese cometido.

CONCLUSIONES

Un Microscopio Electrnico de Transmisin produce imgenes a travs de la interaccin de electrones con una muestra. TEM son costosos, instrumentos grandes y pesados que requieren especial alojamiento y mantenimiento. Tambin son la herramienta ms potente disponible microscpica hasta la fecha, capaz de producir de alta resolucin, imgenes detalladas de un nanmetro de tamao.