Libro Sistemas de Medicion

FUNDAMENTOS DE INSTRUMENTACIN
Luis Enrique Avendao M. Sc.
UNIVERSIDAD TECNOLGICA DE PEREIRA
ii
Contenido
I Sensrica
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3 3 5 5 6 6 7 8 10 10 11 13 15 17 19 19 19 27 28 28 34 36 37 38
1 Medidas en sistemas fsicos 1.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.2 Naturaleza de los Datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.2.1 Datos Estticos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.2.2 Datos transitorios . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.2.3 Datos dinmicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.2.4 Datos aleatorios . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.3 Informacin analgica e informacin digital . . . . . . . . 1.4 Sensores primarios . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1.4.1 Aspectos Generales de los Sensores . . . . . . . . . 1.5 Estructura de un transductor . . . . . . . . . . . . . . . . 1.5.1 Transductores en lazo abierto . . . . . . . . . . . . 1.5.2 Transductores de lazo cerrado o servotransductores 1.6 Clasicacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2 Caractersticas estticas de un sistema de medida 2.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.2 Caractersticas Sistemticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.3 Modelo generalizado de un elemento . . . . . . . . . . . . . . . 2.4 Identicacin de caractersticas estticas. Calibracin . . . . . 2.4.1 Patrones de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.5 Medidas experimentales y evaluacin de resultados . . . . . . . 2.6 Precisin de los sistemas de medida en estado estacionario . . . 2.6.1 Error en la medida de un sistema con elementos ideales 2.6.2 Tcnicas de reduccin de error . . . . . . . . . . . . . .
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3 Caractersticas dinmicas de los sistemas de medida 47 3.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 3.2 Funcin de transferencia para elementos tpicos del sistema . . . . . . . . . . . . 47 iii
iv
CONTENIDO 3.2.1 Elementos de primer orden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.2.2 Elementos de segundo orden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Identicacin de la dinmica de un elemento . . . . . . . . . . . . . . . . 3.3.1 Respuesta a un escaln de los elementos de primero y de segundo 3.3.2 Respuesta sinusoidal de elementos de primero y segundo orden . Errores dinmicos en sistemas de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . Tcnicas de compensacin dinmica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Determinacin experimental de los parmetros de un sistema de medida Efectos de la carga en sistemas de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.7.1 Carga elctrica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.7.2 Circuito equivalente Thvenin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.7.3 Ejemplo del clculo de un circuito equivalente Thvenin . . . . . 3.7.4 Circuito equivalente Norton . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.7.5 Carga Generalizada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.7.6 Efectos de la carga bajo condiciones dinmicas . . . . . . . . . . Seales y ruido en los sistemas de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.8.1 Efectos del ruido y la interferencia en los circuitos de medida . . 3.8.2 Fuentes de ruido y mecanismos de acople . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . orden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47 50 53 54 58 61 67 70 76 77 77 80 81 83 85 88 89 91 93 93 93 94 94 96 98 99 100 102 103 103 108 110 110 114 114 115 117 118 121
3.3
3.4 3.5 3.6 3.7
3.8
4 Anlisis Estadstico de Datos Experimentales 4.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.2 Conceptos Generales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.2.1 Medidas de Tendencia Central . . . . . . . . . . . . . . 4.2.2 Medidas de Dispersin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.3 Probabilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.3.1 Funcin Densidad de Probabilidad . . . . . . . . . . . . 4.3.2 Funcin de Distribucin Acumulativa . . . . . . . . . . 4.3.3 Funcin de Distribucin Binomial . . . . . . . . . . . . . 4.3.4 Funcin de distribucin de Poisson . . . . . . . . . . . . 4.3.5 Funcin de Distribucin Gaussiana . . . . . . . . . . . . 4.3.6 Propiedades de la distribucin normal . . . . . . . . . . 4.3.7 La funcin de distribucin Gamma . . . . . . . . . . . . 4.3.8 Propiedades de la funcin gamma . . . . . . . . . . . . . 4.3.9 Funcin de distribucin t . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.4 Estimacin de Parmetros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.4.1 Estimacin del Intervalo de la Media de la Poblacin . . 4.4.2 Estimacin del Intervalo de la Varianza de la Poblacin 4.4.3 Criterio para el rechazo de datos dudosos . . . . . . . . 4.5 Correlacin de los Datos Experimentales . . . . . . . . . . . . . 4.6 Ajuste de Curvas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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CONTENIDO 4.6.1 4.6.2 4.6.3 4.6.4 4.6.5 Regresin lineal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Ajuste a una funcin potencia y = AxM . . . . . . . . . . . Ajuste aproximado a una curva . . . . . . . . . . . . . . . . Ajuste polinomial . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Software para Anlisis Estadstico de Datos Experimentales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
v 121 126 127 128 131 133 133 133 138 143 143 143 145 145 146 147 148 156 160 161 163 168 172 173 176 177 180 180 184 185 194 194 194 194 194 194 200 201
5 Incertidumbre Experimental 5.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5.2 Propagacin de las Incertidumbres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5.2.1 Consideraciones de sesgo y precisin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 Sensores de parmetro variable 6.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.2 Transductores potenciomtricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.2.1 Potencimetro de funcin lineal . . . . . . . . . . . . . . . 6.2.2 Potencimetros logartmicos y antilogartmicos . . . . . . . . . 6.2.3 Potencimetros trigonomtricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.2.4 Potencimetros Funcionales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.2.5 El potencimetro como elemento del circuito . . . . . . . . . . 6.2.6 Potencimetros Digitales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.3 Transductores termorresistivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.3.1 Circuitos de medida con sondas de resistencia metlica . . . . . 6.3.2 Detectores de temperatura resistivos (RTD) . . . . . . . . . . . 6.3.3 Termistores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.3.4 Curvas caractersticas de las resistencias NTC . . . . . . . . . . 6.3.5 Aplicaciones de las resistencias NTC a la termometra . . . . . 6.3.6 Otras aplicaciones de las resistencias NTC . . . . . . . . . . . . 6.3.7 Resistencias de coeciente PTC . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.4 Transductores fotorresistivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.4.1 La clula fotorresistiva . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.4.2 El fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.5 Transductores extensomtricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.6 Elementos Capacitivos e Inductivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.6.1 Elementos Capacitivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.6.2 Elementos Inductivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.7 Elementos con transformador, Electrodinmicos, Servos y Resonantes 6.7.1 Elementos con transformador . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.8 Transformador diferencial de variacin lineal (LVDT ) . . . . . . . . . 6.8.1 Transformadores variables . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.9 Transductores electroqumicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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vi 7 Sensores generadores de seal 7.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.2 Termopares . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.2.1 Efectos termoelctricos . . . . . . . . . . . . . . . . 7.2.2 Compensacin de la unin de referencia . . . . . . 7.3 Sensores piezoelctricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.3.1 Captadores Piezoelctricos . . . . . . . . . . . . . 7.3.2 Materiales piezoelctricos . . . . . . . . . . . . . . 7.3.3 Base Terica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.3.4 Circuito Equivalente de un cristal piezoelctrico . . 7.3.5 Respuesta esttica . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.3.6 Respuesta dinmica . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.3.7 Problemas especcos relacionados con las medidas 7.3.8 Aplicaciones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 Medida de presin y humedad 8.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . 8.2 Medida de presin . . . . . . . . . 8.3 Dispositivos de medida de presin 8.3.1 Manmetros . . . . . . . . . 8.3.2 Tubo Bourdon . . . . . . . 8.3.3 Probador de peso muerto . 8.3.4 Transductores de presin . 8.3.5 Medida del Vaco . . . . . . 8.4 Medida de Temperatura . . . . . .
CONTENIDO 203 203 203 203 207 209 211 211 212 214 216 217 218 219 221 221 221 222 222 226 226 228 231 234
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II
Adecuacin de la Seal
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9 El amplicador operacional 237 9.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237 10 Conabilidad 239 10.1 Conabilidad de sitemas de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239 10.1.1 Principios fundamentales de sistemas de medida . . . . . . . . . . . . . . 239 A Clculo de funciones polinmicas para termocuplas 243
B Deniciones de las Unidades Bsicas del SI y del Radian y del Steradian1 249 B.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
1
Los nombres consignados a continuacin se especican en la lengua original
CONTENIDO B.2 B.3 B.4 B.5 B.6 B.7 B.8 B.9 B.10 Meter (17th CGPM, 1983) . . Kilogram (3d CGPM, 1901) . Second (13th CGPM, 1967) . Ampere (9th CGPM, 1948) . Kelvin (13th CGPM, 1967) . Mole (14th CGPM, 1971) . . Candela (16th CGPM, 1979) . Radian . . . . . . . . . . . . . Steradian . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
vii 249 249 249 250 250 250 250 250 250 253
C Prejos del Sistema Internacional
D Enlace de unidades bsicas del SI a constantes atmicas y fundamentales 255 D.1 La Escala de Temperatura Internacional de 1990 (ITS-90) . . . . . . . . . . . . . 255
viii
CONTENIDO
Lista de Figuras
1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 1.7 1.8 1.9 2.1 2.2 2.3 2.4 2.5 2.6 2.7 2.8 2.9 2.10 2.11 2.12 2.13 2.14 2.15 2.16 2.17 Control automtico de un proceso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Seal con evolucin muy lenta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta transitoria de un sistema. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta senoidal en un sistema elctrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta de un ECG. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Proceso con datos seudoaleatorios. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Transductor en lazo abierto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Circuito equivalente para un transductor incluyendo seal de interferencia. . Transductor en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 6 7 8 8 9 13 14 15 21 22 23 23 24 25 25 26 27 27 28 35 37 37 38 39 40 41
Denicin de no linealidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i). . . . . . . . . . . . . . Efectos de las entradas modicadora e interferente (a)Modicadora (b) Interferente. Potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Juego en engranajes. Ejemplo de histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Ejemplo de resolucin y de potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Bandas de error y funcin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Funcin densidad de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Modelo general de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Calibracin de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . (a) Histresis signicativa (b) Histresis no signicativa. . . . . . . . . . . . . . . Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana. Error en la medida. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Sistema simple de medida de la temperatura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Compensacin de un elemento no lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2.18 Transductor de fuerza en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ix
LISTA DE FIGURAS 2.19 Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo inverso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8 3.9 3.10 3.11 3.12 3.13 3.14 3.15 3.16 3.17 3.18 3.19 3.20 3.21 3.22 3.23 3.24 3.25 3.26 3.27 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 Sensor de temperatura en un uido. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Modelo de un elemento para clculo de la dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . . Modelo masaresorteamortiguador para un sensor elstico de fuerza. . . . . . . Circuito serie RLC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta a un escaln de un sistema de primer orden: Rojo, = 2, negro, = 1, azul, = 0.5, . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Determinacin de para un sistema de primer orden. . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1, azul, > 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden. . . . . . Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden: rojo, = 0.1, azul, = 0.3, negro, = 0.7,verde, = 1.0, prpura = 2. . . . . . . . Sistema de medida con dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Sistema de medida de temperatura con dinmica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta de un sistema con dinmica lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica. . . . . . . . . . Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden. . . . . Compensacin dinmica en lazo abierto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Esquema y diagrama de bloques de un acelermetro en lazo cerrado. . . . . . . . Respuesta normalizada a un escaln. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Pueba de la funcin escaln para un sistema de primer orden. . . . . . . . . . . . Prueba de respuesta frecuencial de un sistema de primer orden. . . . . . . . . . . Pruebas de escaln e impulso para sistemas de segundo orden. . . . . . . . . . . . Prueba de la funcin escaln para sistemas de segundo orden. . . . . . . . . . . . Prueba de respuesta en frecuencia de un sistema de segundo orden. . . . . . . . . Circuito equivalente de Thvenin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Circuito equivalente de un amplicador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Equivalente Thvenin para un sistema de medicin de temperatura. . . . . . . . Carga a.c. de un tacogenerador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
46 48 50 51 53 55 56 57 59 60 61 62 63 66 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 88
Funcin distribucin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99 Funcin de distribucin acumulativa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0.104 Funcin de distribucin normal estndar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106 Grco de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y . . . 109 Funcin densidad de probabilidad usando la distribuci n t Student. . . . . . . . 111
LISTA DE FIGURAS 4.7 4.8 4.9 4.10 4.11 4.12 4.13 4.14 4.15 5.1 6.1 6.2 6.3 6.4 6.5 6.6 6.7 6.8 6.9 6.10 6.11 6.12 6.13 6.14 6.15 6.16 6.17 6.18 6.19 6.20 6.21 6.22 Distribucin f (2 ) f (z) para algunos valores de . [ = 1 (lnea continua), = 2 (trazos), = 3 (puntos), = 5 (puntos y trazos)]. . . . . . . . . . . . . . . Intervalo de conanza para la distribucin chicuadrado. . . . . . . . . . . . . . . Valores grcos de los pares temperaturatiempo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea denida con mnimos cuadrados y = Ax + B. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Lnea y = Ax + B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Aproximacin de un conjunto de datos a una lnea recta. . . . . . . . . . . . . . . Puntos de datos transformados {(Xk , Yk )}. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Ajuste exponencial a y = 1. 6.e0.391202x obtenido por el mtodo de linealizacin de los datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Ajuste a una parbola usando mnimos cuadrados. . . . . . . . . . . . . . . . . .
xi
116 117 121 123 125 126 129 130 131
Error por radiacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141 Transductor potenciomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Potencimetro angular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta de una funcin exponencia lnea continua A = 1, lnea de trazos l: A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Potencimetro trigonomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Red con potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Potencimetro cargado con kR. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Grco adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Potencimetro cargado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales. . . Red con potencimetros. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Digrama de bloques funcionales del AD5262. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital . . . . Circuito RDAC equivalente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Circuito de amplicacin para una termorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta para T > 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta para T < 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada. Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos . . . . . . Circuitos para RTD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia. . . . Circuito con termistor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143 144 146 147 148 149 150 151 152 153 153 156 157 159 162 163 164 165 166 167 170 174
xii
LISTA DE FIGURAS 6.23 Respuesta de un termistor con B = 4000 y Ro = 1 (Lnea continua), 10 (Lnea R1 punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente. . . . . . . . . . . . . . . . . 6.24 Circuito con NTC en puente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.25 Circuito con NTC como regulador de tensin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.26 Medida de caudal usando NTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.27 Respuesta normalizada de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.28 Respuesta corrientetensin de un PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.29 Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente. . . . . . . . 6.30 Circuito con un dispositivo PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.31 Histresis en la respuesta de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.32 Respuesta noramlizada de una fotorresistencia para algunos valores de . . . . . 6.33 Circuito simple con fotorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.34 Respuesta de una fotorresistencia en una red. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.35 Respuesta de un fotodiodo a la excitacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.36 Circuito con fotodiodo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.37 Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n (lnea de trazos). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.38 Algunas conguraciones de galgas extensiomtricas de semiconductor (fabricadas por BLH electronics). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.39 Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b) equiangular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.40 Roseta de galgas extesiomtricas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6.41 Esquema bsico del LVDT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7.1 7.2 7.3 7.4 7.5 7.6 8.1 8.2 8.3 8.4 8.5 8.6 8.7 8.8 8.9 Termopar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Termopar con unin de referencia. . . . . . . . . . . . . . . . Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas. Efecto piezoelctrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Manmetro de tubo en U. . . . . . . . . . . . . . . Manmetro de tipo recipiente. . . . . . . . . . . . . Manmetro inclinado. . . . . . . . . . . . . . . . . Barmetro de mercurio. . . . . . . . . . . . . . . . Tubo Bourdon. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Probador de peso muerto. . . . . . . . . . . . . . . Transductor de presin con galga extensiomtrica. Transductor de presin con LVDT. . . . . . . . . . Transductor de presin capacitivo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
175 175 176 177 178 178 179 180 180 182 183 183 185 185 188 189 192 193 195 204 208 209 212 214 220 222 224 225 226 227 227 228 229 229
LISTA DE FIGURAS 8.10 8.11 8.12 8.13 D.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Transductor de presin piezoelctrico. Sensor de vaco McLeod. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
xiii 230 231 232 233
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 256
xiv
LISTA DE FIGURAS
Lista de Tablas
1.1 1.2 1.3 2.1 2.2 2.3 2.4 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 4.6 6.1 6.2 6.3 6.4 6.5 Principios de Transduccin Fsica y Qumica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Sensores analgicos directos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Sensores indirectos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Escala simplicada de rastreabilidad . . . . . . . . . . . Escala de rastreabilidad (Adaptada de Scarr) . . . . . . Puntos jos denidos en el ITS90. . . . . . . . . . . . . Efecto de la presin sobre algunos puntos denidos jos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12 16 18 29 30 31 33 95 96 112 118 132 132 158 158 160 172 193
Resultados de 60 mediciones de la temperatura en un ducto . . . . . . . . . . Medidas de la temperatura arregladas en intervalos. . . . . . . . . . . . . . . Valores crticos de la distribucin t Student . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Valores de los coecientes de Thompson. Segn: ANSI/ASME86 . . . . . . Valores mnimos del coeciente de correlacin para un nivel de signicancia a. Obtencin de los coecientes para un parbola de mnimos cuadrados . . . . Tabla de verdad del control de la lgica de entrada. . . . . . . . . . . . . . Valores caractersticos en el potencimetro digital . . . . . . . . . . . . . . Valores caractersticos en el potencimetro digital en modo inverso . . . . Comparacin de las resistencias NTC y otros sensores . . . . . . . . . . . Caractersticas de las galgas extensiomtricas metlicas y semiconductoras . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . .
B.1 Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos
. . . . . . . . . . . . . 252
xv
xvi
LISTA DE TABLAS
Prlogo
La aplicacin del computador a la ciencia y la tecnologa ha permitido desarrollar herramientas de software y hardware las cuales han permitido conocer directamente el comportamiento de sistemas fsicos. Como un siguiente paso en la teora del conocimiento de los sistemas, la experimentacin ha llegado a ser el medio ms adecuado para el estudio de su comportamiento. En ingeniera, se requieren experimentos diseados cuidadosamente para concebir y vericar los conceptos tericos, desarrollar nuevos mtodos y productos, construir nuevos sistemas con, cada vez, mayor complejidad y evaluar el comportamiento y optimizacin de los sistemas existentes. El diseo de un sistema experimental o de medicin es una actividad inherentemente interdisciplinaria. Por ejemplo, el sistema de control e instrumentacin de una planta procesadora, requiere el concurso de ingenieros qumicos, mecnicos, elctricos y de sistemas. Similarmente, la especicacin de la instrumentacin para medir los terremotos y la respuesta dinmica de las estructuras (edicios, puentes, carreteras, etc.), involucra los conocimientos de ingenieros civiles, gelogos, ingenieros electrnicos, de sistemas. Basados en estos hechos, los tpicos presentados en este texto se han seleccionado para que sean de utilidad en el diseo de proyectos experimentales interdisciplinarios, en el rea de medicin e instrumentacin de la medida. La primera parte del libro tiene que ver con los elementos captadores de seal (elementos primarios o sensores), mientras que la segunda parte se dedicar al estudio y aplicacin de los sistemas de adecuacin de la seal para ser transferida a un sistema de cmputo donde ser procesada o simplemente visualizada. Una parte esencial en el texto es la parte experimental; se han desarrollado diferentes prcticas de laboratorio las cuales utilizan los dispositivos estudiados en clase para ser montados en el laboratorio y observar y analizar su comportamiento. Tambin se ha pensado en el aspecto de la simulacin de experimentos utilizando herramientas de software en tiempo real, como R R y Matlab 2 . Para ello se ha dispuesto el Laboratorio de Instrumentacin de la LabView UTP, donde se pueden realizar dichas prcticas.
LabView
y Matlab
son marcas registradas de National Instruments y Mathworks, respectivamente.
xvii
xviii
PRLOGO
Parte I
Sensrica
Captulo 1
Medidas en sistemas fsicos

1.1 Introduccin
La instrumentacin trata de las tcnicas, los recursos, y mtodos relacionados con la concepcin de dispositivos para mejorar o aumentar la ecacia de los mecanismos de percepcin y comunicacin del hombre [23]. La instrumentacin comprende dos campos principales: instrumentacin de medida e instrumentacin de control. En general, en el diseo de los sistemas de medida la atencin se centra en el tratamiento de las seales o magnitudes de entrada, mientras que en los sistemas de control se da especial importancia al tratamiento de las seales de salida. En el primer caso son de inters los captadores o sensores y los transductores, mientras que en el segundo los dispositivos ms relevantes son los accionadores o actuadores. En la Figura 1.1 se representa un diagrama esquemtico de un posible sistema de control automtico de un proceso. Un anlisis de dicho diagrama muestra que las magnitudes fsicas captadas se convierten en seales elctricas por los grupos captadores C1 , C2 , , Cn y C , C , C , conectados a los 1 2 m amplicadores correspondientes que proporcionan seales de salida de un nivel adecuado para su tratamiento por diversos equipos adicionales. Las seales en este esquema propuesto se agrupan en dos bloques: 1. Seales S1 , S2 , . . . , Sn que se transmiten individualmente (nmero pequeo o instrumentacin asociada es de bajo costo). 2. Seales S , S , . . . , S para cuyo tratamiento se requieren equipos muy costosos o espe1 2 m ciales, o cuyo nmero es muy elevado (como por ejemplo, la medida de temperatura en muchos puntos mediante un termmetro digital de alta precisin; la medida del tiempo con un reloj atmico en las centrales elctricas para conocer el instante de salida y duracin de un fallo en una subestacin o planta remota) 3
CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Directo Acondicionamiento S1 SISTEMA FSICO S2 Sn
S1 S2 Sm
C1 C2 Cn C 1 C 2 C m
Amplificadores Aparato de Medida
AGRUPAMIENTO Y TRANSMISIN
MEM
UNIDAD DE CLCULO
Controlador Doble
Figura 1.1: Control automtico de un proceso. En el diagrama, los bloques Acondicionamiento y Amplicadores se reeren a los elementos o dispositivos destinados a normalizar las seales de modo que todas ellas puedan presentarse en un determinado formato compatible con el sistema de transmisin. Dichos elementos pueden incluir ltros, atenuadores, convertidores A/C, etc. Es frecuente que en un mismo sistema se tengan seales norma-lizadas en forma analgica (mismo campo de variacin) y seales normalizadas en forma digital (mismo nmero de bits). En el esquema de la Fig. 1.1 se indica tambin la posibilidad de Registro directo de diversas magnitudes antes de su transmisin conjunta a una unidad de clculo. El bloque Agrupamiento y Transmisin tiene asignada la funcin de reunir los canales asociados con las diferentes seales para obtener un nico canal de salida (caso de transmisin secuencial o en serie), a un grupo de canales en un nmero general inferior al de seales (caso de transmisin digital en paralelo). Se accede as al medio de transmisin propiamente dicho, que puede constituir una lnea o grupo de lneas, un equipo de transmisinrecepcin de RF, una gua de ondas, un enlace por bra ptica, etc. La naturaleza del medio depender de diversos factores, entre los cuales estn la distancia, el costo de la instalacin, el nivel de interferencias, ancho de banda necesario, nmero de canales, etc. Los datos transmitidos ingresaran, siempre de acuerdo con el ejemplo de la Fig. 1.1, en una unidad de clculo, que podra ser un computador analgico o digital, o simplemente un conjunto de circuitos para tratar los datos segn criterios preestablecidos. En general, la unidad de clculo generar un ujo de informacin de retorno hacia el sistema, donde podran incluirse: Datos para registro o evaluacin.
SEPARACIN
Registro Indirecto
1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS Datos o seales de accionamiento y control.
En el bloque Separacin, se individualizan estas seales en el ujo de datos de retorno, obtenindose un grupo de canales de salida para registro o medida y otro grupo de canales de accionamiento. Los accionadores son dispositivos que realizan la funcin inversa de los captadores, es decir, transforman seales elctricas en magnitudes fsicas de accin directa sobre la instalacin, aparato, mquina, etc., a controlar y en muchos casos constituyen verdaderos servosistemas (electromecnicos, electrohidrulicos, etc.) que, aparte de su funcin meramente conversora han de satisfacer adicionalemente ciertos reque-rimientos relacionados con la estabilizacin automtica de la magniud de salida o bien con la estabilidad de su propio funcionamiento.
1.2
Naturaleza de los Datos
El conocimiento de la naturaleza de los datos que se esperan de un sistema es de la mayor importancia para la seleccin del equipo de captacin y medida y para denir los mtodos de ensayo y control a aplicar, hasta el punto de que pueden producirse grandes errores si las especicaciones de los instrumentos o equipos de medida no se adaptan correctamente a las peculiaridades de los datos que se van a tratar. Puede establecerse una primera base de clasicacin atendiendo al modo de variacin en funcin del tiempo, siendo as posible establecer diferentes categoras de datos que implican procedimientos parti-culares de tratamiento y muchas veces tambin criterios especcos de precisin. Es por ello que tiene importancia hacer un anlisis riguroso de la informacin a tratar, segn su naturaleza, toda vez que de su correcta identicacin puede depender el procedimiento a seguir en su tratamiento, e incluso el costo de un deteminado sistema. En los prrafos siguientes se considerarn agunos tipos de datos.
1.2.1
Datos Estticos
Se caracterizan por una evolucin lenta sin uctuaciones bruscas ni discontinuidades. Un ejemplo tpico podra ser la temperatura de un determinado punto en un sistema de gran inercia trmica. Los datos de esta naturaleza estn asociados normalmente con magnitudes de especial importancia, realizndose a partir de ellos con frecuencia, clculos y anlisis relacionados directamente con la evaluacin del funcionamiento del sistema y su rendimiento. Debido a la naturaleza de los datos estticos no suele ser necesario tratar individualmente cada uno de los puntos que originan seales de un mismo tipo, siendo posible utilizar tcnicas de muestreo con un solo equipo de medida compartido, lo cual simplica y hace ms econmica la instrumentacin requerida. Es frecuente, en este aspecto encontrar, por ejemplo, un slo termmetro central para la medida de todas las temperaturas, un nico voltmetro de precisin
6
y 2.5
1.5
0.5
0 0 12.5 25 37.5 x 50
Figura 1.2: Seal con evolucin muy lenta. para la medida de todas las tensiones, etc. El muestreo suele hacerse conmutando electrnicamente las seales representativas de las variables en un nico sistema de medida y registro; la mayora de los casos digital, para lo cual se dispone de componentes y subsistemas adecuados. En general, los datos estticos son exigidos con gran precisin ya que suelen ser utilizados para la evaluacin del sistema o proceso. Frecuentemente, el lmite de esta precisin est impuesto ms por el dispositivo captador primario que por el equipo de medida.
1.2.2
Datos transitorios
Por lo general, representan la respuesta de un sistema a un cambio brusco en las variables de entrada, siendo ms importante su anlisis para determinar el comportamiento dinmico del mismo. Ms que la precisin de las medidas, interesa la exactitud de la correlacin temporal de las diversas magnitudes, toda vez que las seales transitorias se producen simultneamente en diferentes puntos del sistema como resultado de una perturbacin determinada (frecuentemente provocada para analizar la respuesta).
1.2.3
Datos dinmicos
Son de naturaleza peridica y se presentan en el funcionamiento estable y continuo de los sistemas. El registro de datos dinmicos es de especial inters en el anlisis de la respuesta en rgimen permanente a excitacin senoidal, en el estudio de vibraciones, etc. La mayora de las medidas efectuadas sobre datos peridicos en sistemas reales estn relacionadas con fenmenos oscilatorios en rgimen estacionario con un contenido en armnicos que incluye frecuencias comprendidas entre varios Hz y algunas decenas de kHz, a excepcin de las magnitudes elctricas para las cuales no puede jarse ningn lmite concreto.
1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS

R e s p u e s t a a l e s c a l n
U (1 ) 1 .4
1 .2
A m plitud
0 .8 Y (1) 0 .6 0 .4 0 .2
0 0 2 4 6 8 1 0 1 2 1 4 1 6 1 8 2 0
T ie m p o (s )
Figura 1.3: Respuesta transitoria de un sistema. Estos datos pueden presentarse como reaccin del sistema a excitaciones senoidales aplicadas para estudiar su respuesta en amplitud y fase, o bien se originan en diversos puntos del mismo, como ma-nifestacin de su propio funcionamiento peridico (por ejemplo, dispositivos giratorios en mquinas, elementos mecnicos con movimiento alternativo, etc.). En muchos casos, interesa ms el anlisis espectral que el registro instantneo de las seales.
1.2.4
Datos aleatorios
La caracterstica ms distintiva de este tipo de datos es que sus parmetros fundamentales estn sujetos a uctaciones imprevisibles y su anlisis ha de efectuarse, en general, de acuerdo con criterios estadsticos y de probabilidad. Se pueden distinguir tres categoras de datos aleatorios: Datos que interesa registrar y analizar relacionados con magnitudes aparentemente aleatorias (por ejemplo, un electroencefalograma (EEG), un electrocardiograma (ECG), ciertos datos meteorolgicos, etc.). Datos aleatorios indeseables que aparecen mezclados con las seales de inters (ruidos, interferencias, etc.). Datos aleatorios de salida de un sistema ante una entrada asimismo aleatoria, aplicada para nes de caracterizacin de su respuesta (tcnica de gran inters para el estudio de sistemas complejos o no lineales) (ver Fig. 1.6).
8
y 2.5
1.5
0.5
0 0 12.5 25 37.5 x 50
Figura 1.4: Respuesta senoidal en un sistema elctrico.

4 5 0 0 4 0 0 0 3 5 0 0 3 0 0 0 2 5 0 0 2 0 0 0 1 5 0 0 1 0 0 0 5 0 0 0 -5 0 0 0 5 0 1 0 0 1 5 0 2 0 0 2 5 0 3 0 0 3 5 0 4 0 0
Figura 1.5: Respuesta de un ECG.
1.3
Informacin analgica e informacin digital
Ha sido siempre un tema controvertido la conveniencia de utilizar instrumentacin analgica o digital para el tratamiento de las seales derivadas de los sistemas fsicos. Como es sabido la informacin analgica est asociada a funciones de variacin continua y por lo general uniforme que pueden tomar, en principo, cualquier valor instantneo. En contraste, la informacin digital se presenta ligada a seales que solo presentan ciertos niveles discretos a los que se asignan valores numricos de acuerdo con convenios preestablecidos. En lo que respecta a las funciones analgicas, puede decirse que en general siguen el e instantneamente a la magnitudes que representan, siendo as evidente que prcticamente todas las variables de inters para el ingeniero o el cientco tienen una forma original analgica. Lo expuesto anteriormente justica que el primer tratamiento de las seales sea casi siempre analgico si se tiene en cuenta que frecuentemente su nivel, a la salida de los captadores, es
1.3. INFORMACIN ANALGICA E INFORMACIN DIGITAL
Figura 1.6: Proceso con datos seudoaleatorios. muy bajo y puede incluir informacin no deseada (necesidad de amplicacin, eliminacin de ruidos e interferencias, ltrada, etc.). No obstante cuando el nivel de las seales es alto y estn sucientemente depuradas y acondicionadas, se preere el tratamiento digital, incluso aunque en muchos casos dicho tratamiento sea nicamente un proceso intermedio para una presentacin nal analgica, justicndose este hecho por una serie de razones muy claras, en las que puede destacarse las siguientes: Las seales analgicas transmitidas a travs de cualquier medio son interferidas en mayor o menor grado por seales extraas, adems de distorsionarse, en cuyo caso es muy difcil, si no imposible, recuperar la informacin original. Las seales digitales pueden, por el contrario, regenerarse mediante tcnicas de conformado, deteccin y correccin de error, etc. La precisin de las medidas o registros, en el caso del tratamiento analgico, depende esencialmente de la propia precisin o calidad de los equipos o componentes. Por el contrario, si se hace uso de tcnicas digitales, la exactitud depende nicamente del grado de cuanticacin establecido para la codicacin de la informacin, es decir, del nmero de bits. Se dispone actualmente de una gran variedad de circuitos digitales tanto convencionales como programables, de bajo costo, lo que desplaza las tendencias de diseo hacia el tratamiento digital. De acuerdo con estas consideraciones, podra armarse que un sistema de captacin y tratamiento de datos concebido con criterios modernos incluir en general, aunque no exclusivamente:
10
CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS Un conjunto de sensores, en su mayor parte analgicos, seguidos por las correspondientes unidades de amplicacin (analgicas) y dispositivos de acondicionamiento necesarios en cada caso. Uno o varios convertidores de analgico a digital (A/D). Un sistema de tratamiento digital convencional o programable (microprocesadores, microcontroladores, procesadores de seales digitales (DSP)), usualmente asociado con subsistemas de archivo de datos. Un sistema de presentacin de datos en forma analgica (lo que requiere una segunda conversin), pseudoanalgica (grcos mediante impresora, instrumentacin virtual, dispositivos indicadores de barras, etc.) o numrica. Posiblemente varios canales de tratamiento totalmente analgico con presentacin de datos en tiempo real.
1.4
Sensores primarios
Las magnitudes fsicas tratadas con sistemas electrnicos se deben convertir en seales elctricas, como primer paso en el proceso de captacin. Los transductores son los dispositivos encargados de llevar a cabo esta tranformacin. Los transductores incluyen siempre un componente o componentes sensibles que reaccionan frente a la magnitud a medir o detectar proporcionando una primera seal elctrica representativa de aquella, que usualmente precisa de algn tipo de tratamiento analgico (amplicacin, adaptacin de impedancias, etc.). Estas clulas sensibles son los denominados sensores o captadores. Los sensores aprovechan frecuentemente las propiedades de ciertos materiales que se convierten en generadores de seal en presencia de determinadas excitaciones (termopares, cristales piezoelctricos, etc.). En otros casos, se recurre a utilizar elementos de circuito pasivos (resistencias, condensadores, etc.) cuyos valores varan en funcin de la magnitud a convertir y, en denitiva, los circuitos que forman parte generan seales elctricas equivalentes a dicha magnitud.
1.4.1
Aspectos Generales de los Sensores
El trmino transductor a menudo se utiliza en forma intercambiable con el trmino sensor. La Sociedad de Instrumentacin Americana (Instrument Society of America (ISA)), dene un sensor como sinnimo de transductor. Esta denicin aparece publicada como Standard S37.1 en 1969 (ISA,1969). Esta norma, Electrical Transducer Nomenclature and Terminology, dene un transductor (sensor) como un dispositivo que proporciona una salida til en respuesta a una excitacin especca. (a device which provides a usable output in response to a specied measurand ). Una magnitud medible (measurand ) se dene como una cantidad fsica, propiedad
1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR
11
o condicin medible (a physical quantity, property or condition which is measured ). Una respuesta (output) se dene como una cantidad elctrica (electrical quantity). Esta denicin es especca a un transductor elctrico. Sin embargo, en un sentido amplio, un transductor puede tener una respuesta que puede denirse como una cantidad fsica, propiedad o condicin. Se puede dar la siguiente Denicin 1 Un transductor es un dispositivo o sistema que produce una seal elctrica la cual es funcin de una magnitud de entrada utilizando componentes sensibles que se comportan como elementos variables o como generadores de seal. Los sensores, por supuesto, no estn limitados a la medicin de cantidades fsicas. tambin son utilizados para medir propiedades qumicas y biolgicas. Similarmente, el rango de respuestas tiles no tienen que estar restringidas a cantidades elctricas. Se han clasicado los sensores en grupos donde la excitacin (seal de entrada) y la respuesta del sensor (salida) puede ser una de las siguientes: Mecnica v. gr., longitud, rea, volumen, ujo de masa, fuerza, torque, presin, velocidad, ace-leracin, posicin, longitud de onda acstica, intensidad acstica. Trmica.v. gr., temperatura, calor, entropa, ujo de calor. Elctrica v. gr., tensin, corriente, carga, resistencia, inductancia, capacitancia, constante dielctrica, polarizacin, campo elctrico, frecuencia, momento dipolar. Magntica v. gr., intensidad de campo, densidad de ujo, momento magntico, permeabilidad. Radiante v. gr., intensidad, longitud de onda, polarizacin, fase, reectancia, transmitancia, ndice de refraccin. Qumica v. gr., composicin, concentracin, oxidacin/reduccin, tasa de reaccin, pH. Un sensor utiliza un principio de transduccin fsico o qumico para convertir un tipo de seal de entrada a un tipo de seal de salida. Un sensor puede emplear uno o ms de los principios indicados arriba para producir una seal de salida prctica. Las aplicaciones en electrnica industrial generalmente requieren la salida elctrica de un sensor. La Tabla 1.1 muestra ejemplos de los principios de transduccin fsicos y qumicos que se pueden utilizar en los sensores.
1.5
Estructura de un transductor
Los transductores se presentan en general en dos conguraciones fundamentales: Transductores en lazo abierto Transductores en lazo cerrado
12
CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS Tabla 1.1: Principios de Transduccin Fsica y Qumica
Sal Ent Mecnica (Fluido) Efectos mecnicos y acsticos (diafragma, balanza de gravedad, ecosonda) Expansin trmica (cinta bimetlica, termmetros de gas y de lquido en capilar de vidrio) Efecto radiomtrico Efectos electrocinticos, electrostrictivos y electromecnicos (piezoelectricidad, electrmetros, ley de Ampre) Efectos magnetomecnicos (magnetostric cin, magnetmetro). Efectos Joule y Guillemin Presin de radiacin. Molino de luz de Crooke Higrmetro Celda de electrodeposicin Efecto fotoacstico Trmica Efectos de friccin (calormetro de friccin). Efectos de enfriamiento. Flumetros trmicos Elctrica Piezoelectricidad. Piezoresistividad Efectos R, L, C Efectos acsticos dielctricos Efectos termoelctricos (termorresistencia, emisin termoinica, superconductividad). Efecto Seebeck. Piroelectricidad Ruido trmico (Johnson) Colectores de Carga Probeta de Langmuir Electrets Magntica Efectos magnetomecnicos (efectos piezomagntico, magnetoelstico, anillo de Rowland) Temperatura de Curie Radiante Sistemas fotoelsticos (birefringencia inducida de esfuerzo). Interfermetros Efecto Sagnac Efecto Doppler Efecto termoptico (en cristales lquidos) Emisin radiante Qumica
Mecnica
Trmica
Activacin de reaccin disocia cin trmica
Elctrica
Calentamiento Joule (Resistivo) Efecto Peltier
Ley de Biot Savart Medidores y registradores electromagnticos
Efectos electropticos (Efecto Kerr) Efecto Pockels Electroluminiscencia Efectos magnetopticos (efecto Faraday) Efectos Cotton Mouton y Kerr Efecto foto refractivo Biestabi lidad ptica Espectroscopa (emisin y absorcin) Quimiluminiscencia
Electr lisis Electro migracin
Magntica
Radiante
Efecto termomagntico (efecto Righi-Leduc) Efecto galvanomagntico (Ettingshausen) Termopila de bolmetro
Qumica
Calormetro Celda de conductividad trmica
Efectos termomagnticos (Ettingshausen Nernst). Efectos galvanomagnticos (efecto Hall, magnetoresistencia) Efectos fotoelctricos (fotovoltaico, fotoconductivo, fotogalvnico y fotodielctrico) Potenciometra Conductimetra Amperometra Polarografa Ionizacin de a ma. Efecto Volta Efecto de campo sensible a gases
Almacenamiento magntico- Efecto Barnett Efecto Einsteinde Haas Efecto de Haasvan Alphen Efecto Curie Metro de radiacin
Foto sntesis diso ciacin
Resonancia nuclear magntica
13
1.5.1
Transductores en lazo abierto
En la Fig. 1.7 se representa un esquema general de un transductor en conguracin de lazo abierto. La seal de entrada se aplica a una sonda o diipositivo que est directamente en contacto con el fenmeno a cuanticar. En muchos casos la sonda efecta una primera conversin de magnitud para su mejor adaptacin al sistema de medida. Por ejemplo, para medir la velocidad de un uido puede utilizarse como sonda un tubo de Pitot, que transforma la velocidad en diferencia de presiones; para medir una aceleracin se utiliza como sonda una masa de inercia que transforma la aceleracin en fuerza.
Sonda
Elementos Intermedios
Sensor Preamp.
Figura 1.7: Transductor en lazo abierto. A continuacin de la sonda, pueden estar dispuestos determinados elementos intermedios cuya misin es adaptar la salida de la sonda al sensor o captador primario, el dispositivo que realmete efecta la conversin a seal elctrica. Son ejemplos de elementos intermedios los pistones y resortes antagonistas, que se utilizan en ciertos transductores de presin para acoplar un conducto de entrada de precisin (sonda) a un sensor pasivo, los sistemas de palancas empleados en ciertos transductores de desplazamiento para amplicar mecnicamente el movimiento de un palpador (sonda), etc. De lo anterior se deduce que depende exclusivamente de la sonda y de los elementos intermedios el que un mismo sensor primario se utilice para medir magnitudes diferentes. La seal de salida del sensor (directa en el caso de los sensores generadores, o proporcionada por un circuito en el caso de los sensores de parmetro variable), puede ser amplicada en un preamplicador incorporado al transductor, como se indica en la Fig. 1.7. La inclusin de un preamplicador en el transductor es una prctica muy recomendable, por cuanto permite transmitir la seal de salida hasta los equipos de tratamiento con mejores prestaciones globales en lo que se reere a captacin de interferencias, especialmente si dicha transmisin se realiza a larga distancia. Las ventajas de la preamplicacin se comprenden analizando la Fig. 1.8, que representa esquemticamente un sistema formado por un transductor de impedancia de salida ZL y tensin de salida v0 conectado a un equipo de tratamiento de seal de impedancia de entrada Zs , al que llega una tensin vs . Se supone que existe una fuente de interferencia de tensin vn acoplada a las lneas de conexin a travs de una impedancia Zn (generalmente capacitiva). En este modelo, la verdadera seal de entrada al sistema de tratamiento de seal resulta falseada, deducindose
14
Zn
Transductor
+ Vn + Vs Zs
Equipo de tratamiento + vo ZL -
Figura 1.8: Circuito equivalente para un transductor incluyendo seal de interferencia. del circuito de la Fig. 1.8 la siguiente expresin: v0 = ZL Zn vs + ZL Zs vn Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn (1.5.1)
que demuestra que en la seal v0 de entrada al equipo de tratamiento existe una componente debida a la seal vs de salida del transductor y otra debida a la interferencia, cuyo valor es: vno = Zs ZL vn Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn (1.5.2)
que corresponde al segundo sumando de la ecuacin (1.5.1). El error relativo debido a interferencia ser: i = vno Zs ZL vn = v0 Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn v0 (1.5.3)
De esta ecuacin se extraen dos conclusiones importantes El error relativo de interferencia disminuye en la misma proporcin en que aumenta la seal de salida del transductor. El error relativo de interferencia disminuye al bajar la impedancia de salida del transductor, siendo nulo cuando lo es dicha impedancia. De acuerdo a esta ltima conclusin, se puede mejorar el sistema utilizando en el transductor preamplicadores con la mayor preamplicacin posible y con la impedancia de salida ms baja posible. La primera de las condiciones tiene limitaciones prcticas (la saturacin de las etapas amplicadoras). La segunda, por el contrario, se consigue fcilmente utilizando amplicadores operacionales, los cuales tienen impedancias de salida en lazo cerrado prcticamente nulas en
15
los circuitos usuales. Esta ltima condicin es muy importante puesto que permite anular virtualmente el error de interferencia cuando la fuente de interferencia est acoplada de acuerdo con el modelo propuesto (caso, por ejemplo, del acoplamiento capacitivo responsable de muchas de las interferencias captadas por los sistemas de amplicacin de seales dbiles).
1.5.2
Transductores de lazo cerrado o servotransductores
Una disposicin que se utiliza en ciertos transductores de alta precisin, corresponde a la conguracin en lazo cerrado de los denominados servotransductores, cuyo esquema bsico se representa en la Fig. 1.9.
Sonda
+ _
Sensor de captacin Amplificador Elemento Intermedio Sensor de lectura
Figura 1.9: Transductor en lazo cerrado. Como puede verse en dicha gura, el sistema incluye dos sensores primarios, que aparecen con las denominaciones de sensor de captacin y sensor de lectura. La magnitud vi de entrada se aplica al sensor de captacin a travs de la sonda, cuya magnitud de salida es Ks vi (donde Ks es la funcin de transferencia de la sonda), y de un sistema de acoplamiento diferencial. La salida del sensor de captacin es amplicada y aplicada a un elemento intermedio, frecuentemente de naturaleza mecnica, de funcin de transferencia . La magnitud de salida del elemento intermedio se resta de la salida de la sonda en el mencionado sistema de acoplamiento diferencial y aparece adems como seal de salida del servotransductor despus de ser convertida en seal elctrica en el sensor de lectura. Dentro de cada bloque se indica su funcin de transferencia. La seal de salida del sistema luego de hacer los clculos correspondientes ser: AKs Kc Kl vi 1 + AKc que, para grandes valores de la amplicacin A, toma la forma aproximada v0 = v0 Ks Kl vi = (1.5.4)
(1.5.5)
Por lo tanto, la seal de salida del sensor de lectura es proporcional a la magnitud de entrada. Como puede observarse, en el caso de alta amplicacin, el lazo de realimentacin tiende a anular la diferencia entre la salida de la sonda y el elemento intermedio.
16
Tabla 1.2: Sensores analgicos directos Potenciomtricos Termorresistivos Fotorresistivos De resistencia variable Piezorresistivos Extensomtricos Electroqumicos De adsorcin Geometra variable De parmetro variable De capacidad variable Dielctrico variable De inductancia variable De transformador variable Fotoemisivos Fotoelctricos Fotocontrolados Piezoelctricos Fotovoltaicos Termoelctricos Generadores de seal Magnetoelctricos Electrocinticos Electroqumicos De geometra variable Mixtos De efecto Hall Bioelctricos
1.6. CLASIFICACIN
17
La gran precisin de los servotransductores queda justicada teniendo en cuenta el desarrollo anterior, por cuanto: La medida no resulta afectada por las imperfecciones del sensor de captacin, del amplicador y del elemento intermedio. La precisin de la seal de salida slo depende de la sonda (dispositivo tambin presente en los transductores de lazo abierto) y del sensor de lectura, el cual funciona en condiciones muy favorables al recibir como entrada una magnitud ya amplicada. Las ventajas ms importantes de estos dispositivos son las siguientes: Salida de alto nivel Gran precisin Correccin continua de las medidas Alta resolucin Entre sus desventajas, estn las siguientes: Costo elevado Poca robustez Dicultades en la respuesta dinmica.
1.6
Clasicacin
Considerando la naturaleza de la seal elctrica generada y el modo de obtenerla y atendiendo a los principios fsicos en los cuales de basan, se propone la clasicacin [23] que se muestra en la Tablas 1.2 y 1.3. En el desarrollo del texto se seguir este esquema, con especial atencin a los sensores ms utilizados. Se denominan sensores anlogos directos a los captadores primarios cuya seal de salida analgica representan directamente, sin ningn tipo de proceso de interpretacin adicional, la magnitud de entrada. Dentro de la categara de sensores analgicos directos se distinguen los siguientes tipos: Sensores de parmetro variable: Son componentes de circuito pasivo cuyo valor vara en funcin de la magnitud de entrada. Para su funcionamiento es imprescindible que formen parte de circuitos concretos los cuales requieren alimentacin externa.
18
CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS Tabla 1.3: Sensores indirectos Gravimtricos De elemento vibrante Moduladores de frecuencia De reactancia variable De inductancia Generadores de frecuencia Electromagnticos Fotoelctricos De efecto Hall Codicadores angulares Codicadores lineales Fotoelsticos Tensomtricos De condensador
Digitales
Sensores generadores de seal: Son dispositivos que generan seales representativas de las magnitudes a medir en forma autnoma, sin requerir de ninguna fuente de alimentacin. Sensores Mixtos: Son dispositivos que, de algn modo, tienen la doble naturaleza de generadores (comportamiento activo) y de componentes pasivos (forman parte necesariamente de circuitos con fuentes de alimentacin asociadas) Los sensores indirectos son captadores en donde el valor instantneo de la seal de salida no representa directamente la magnitud de entrada, siendo necesaria una interpretacin o decodicacin posterior para obtener la informacin relativa a la magnitud a medir. Se exponen los sensores de este grupo que proporcionan seales peridicas, cuya frecuencia fundamental contiene la informacin sobre la magnitud de entrada. Tambin se exponen algunos tipos de sensores digitales. Es de observar que muchos de los sensores indirectos utilizan realmente clulas sensibles las cuales pertenecen al grupo de los sensores analgicos directos, variando nicamente su modo de funcionamiento y los circuitos de los cuales forman parte.
Captulo 2
Caractersticas estticas de un sistema de medida

2.1 Introduccin
Este captulo tiene que ver con caractersticas estticas o de estado estacionario; stas son las relaciones que pueden ocurrir entre la salida y la entrada u de un elemento cuando u es o bien un valor constante, o valor que cambia muy lentamente. El comportamiento del sistema de medida est condicionado por el sensor empleado. Se plantean dos conceptos bsicos relativos al concepto de la medida: exactitud y precisin. La exactitud est relacionada con las caractersticas fundamentales de la estructura de la materia y est acotada por el principio de incertidumbre. La precisin tiene que ver esencialmente con el sistema empleado para realizar la medicin. Toda medida lleva asociado inevitablemente un error. El error del sistema es una medida de la diferencia entre el valor del punto de consigna (set point) de la variable controlada y el valor real de la variable que entrega la dinmica del sistema. De acuerdo con la instrumentacin utilizada, puede estimarse la magnitud del error, adoptndose las precauciones necesarias para reducir su valor a lmites aceptables de acuerdo con la precisin requerida. La determinacin del error supone el conocimiento del valor exacto, considerndose en la prctica como valores exactos los derivados de los patrones de medida disponibles. En muchos casos; sin embargo, se toman como patrones las curvas de calibracin suministradas por los fabricantes de los equipos de medida cuando no es necesaria una precisin extrema.
2.2
Caractersticas Sistemticas
Las caratersticas sistemticas son aquellas que pueden ser cuanticadas exactamente por medios grcos o matemticos. Estas son distintas de las caractersticas estticas las cuales no pueden ser cuanticadas exactamente. 19
20
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA 1. Rango El rango de entrada de un elemento est especicado por los valores mximos y mnimos de u, es decir, umin a umax . El rango de salida de un elemento est especicado por los valores mximos y mnimos de , es decir, min a max . As, un transductor de presin puede tener un rango de entrada de 0 a 104 P a y un rango de salida de 4 a 20 mA; una termocupla puede tener un rango de entrada de 100 a 250 C y un rango de salida de 4 a 10 mV . 2. Alcance Es la mxima variacin de entrada o salida, por ejemplo, el alcance de entrada es umax umin , y el alcance de salida es max min . As, en los ejemplos del prrafo anterior, el transductor de presin tiene un alcance en la entrada de 104 P a y un alcance de salida de 16mA; la termocupla tiene un alcance de entrada de 150 C y un alcance de salida de 6mV . 3. Lnea recta ideal. Se dice que un elemento es ideal si los valores respectivos de u y de corresponden a una lnea recta. La lnea recta ideal conecta el punto mnimo A(umin , min ) al punto mximo B(umax , max ) y por lo tanto tiene la ecuacin: max min (u umin ) (2.2.1) min = umax umin o sea, ideal = ku + a donde k = pendiente de la recta ideal = y Ecuacin de una lnea recta ideal max min umax umin (2.2.2)
(2.2.3)
a = intercepto de la recta = min kumin As, la lnea recta para el transductor de presin anterior es = 1.6 103 u + 4.0
(2.2.4)
4. No linealidad En muchos casos la relacin de la lnea recta denida en las ecuaciones (2.2.2) y (2.2.3) no se cumple y se dice que el elemento es no lineal. La no linealidad puede ser denida (Fig. 2.1) en trminos de una funcin N (u) la cual es la diferencia entre el comportamiento real y el ideal de la lnea recta.Es decir, N (u) = (u) (ku + a) o (u) = ku + a + N (u) (2.2.5)
2.2. CARACTERSTICAS SISTEMTICAS
21
+ _ N
Figura 2.1: Denicin de no linealidad. La no linealidad es frecuentemente cuanticada en trminos de la mxima no linealidad N expresada como un porcentaje de la deexin a plena escala (f.s.d en ingls), es decir, como un porcentaje del alcance. As Mxima no linealidad como porcentaje de la f.s.d. = N 100% max min (2.2.6)
En muchos casos (u) y por lo tanto N (u) se pueden expresar como polinomios de u, es decir, m X ai ui (2.2.7) (u) = a0 + a1 u + a2 u2 + + am um =
i=0
Un ejemplo es la variacin de temperatura como consecuencia de la variacin de la tensin termoelctrica en la unin de dos metales distintos. Para una termocupla tipo T (cobre-constantan), los primeros cuatro trminos en el polinomio que relacionan la tensin E(T )V y la temperatura T de la unin en C son: E(T ) = 38.74T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T ) hasta T 8 (2.2.8) donde O(T ) signica trminos de orden superior. Para el rango desde 0 hasta 400 C, puesto que E = 0 mV a T = 0 C y E = 20.869 mV a T = 400 C (ver Fig. 2.2), la ecuacin de la lnea recta ideal es: Eideal = 52.17T (2.2.9)
y la funcin de correccin no lineal es: N (T ) = E(T )Eideal = 13.43T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T ) (2.2.10)
22
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA
Figura 2.2: Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i). En algunos casos expresiones diferentes de las polinomiales son ms apropiadas; por ejemplo, la resistencia R(T ) de un termistor a T C est dada por: R(T ) = 0.04 exp 3300 T + 273
5. Sensibilidad. Esta es la rata de cambio de con respecto a u, es decir, d dN =K+ du du As, para un elemento ideal d =K du (2.2.12) (2.2.11)
es decir, para el transductor de presin anterior, d/du = 1.6 103 mA/P a. Para la termocupla cobre-constantan la sensibilidad dE/dT a T C est dada por: dE = 38.74 + 6.638 102 T + 6.213 104 T 2 8.780 106 T 3 + O(T ) dT la cual tiene un valor aproximado de 50V C 1 a 200 C. (2.2.13)
23
6. Efectos ambientales En general, la salida depende no solamente de la seal de entrada u sino de entradas ambientales tales como la temperatura ambiente, la presin atmosfrica, la humedad relativa, la fuente de alimentacin, etc. As, si la ecuacin (2.2.5) representa adecuadamente el comportamiento del elemento bajo condiciones ambientales estndar, es decir, 25 C temperatura ambiente, presin atmosfrica 1000 milibars, 80% de humedad relativa, fuente de alimentacin de 10V ; entonces la ecuacin debe ser modicada para tomar en cuenta las desviaciones en las condiciones ambientales estndar. Hay dos tipos principales de entradas ambientales:
Sesgo de Cero = Pendiente =
Pendiente = Sesgo de Cero =
Figura 2.3: Efectos de las entradas modicadora e interferente (a)Modicadora (b) Interferente. (a) Una entrada modicadora la cual hace que la sensibilidad lineal del elemento cambie. As, si uM es la desviacin en una entrada ambiental modicadora del valor estndar (uM es cero en condiciones estndar), entonces esta produce un cambio en la sensibilidad lineal desde k hasta k + kM uM (Fig. 2.3(a)).
Figura 2.4: Potencimetro. (b) Una entrada interferente la cual hace que cambie la intercepcin o sesgo de cero del elemento. As, si uI es la desviacin en una entrada ambiental interferente para
24
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA el valor estndar (uI es cero en condiciones estndar); entonces esto produce un cambio en la intercepcin por cero de a a a + kI uI (Fig. 2.3(b)). Los coecientes kM , kI son referidos como constantes de acoplamiento ambiental o sensibilidades. Por lo tanto, se debe ahora corregir la ecuacin (2.2.5), reemplazando ku con (k+kM uM )u y reemplazando a con a + kI uI para obtener: = ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI (2.2.14)
Un ejemplo de una entrada modicadora es la variacin Vs en el voltaje de alimentacin Vs del sensor de desplazamiento potenciomtrico mostrado en la Fig. 2.4. Un ejemplo de una entrada interferente est dado por las variaciones en la temperatura de unin de referencia T2 de una termocupla. 7. Histresis. Para un valor dado de u, la salida es diferente dependiendo de si u est aumentando o est disminuyendo. La histresis es la diferencia entre estos dos valores de (Fig. 2.5), es decir, (2.2.15) H(u) = (u)u (u)u La histresis se cuantica usualmente en trminos de la histresis mxima H, expresada
H
Figura 2.5: Histresis. como un porcentaje de la f.s.d., es decir, el alcance. As, Hmax
fsd %
H 100% max min
(2.2.16)
Un simple sistema de engranajes (Fig. 2.6 ) para convertir movimiento lineal en rotatorio proporciona un buen ejemplo de histresis. Debido al juego en los dientes de los engranajes, la rotacin , para un valor dado de x, es diferente dependiendo de la direccin del movimiento lineal.
25
Figura 2.6: Juego en engranajes. Ejemplo de histresis. 8. Resolucin. Algunos elementos se caracterizan por el incremento de la salida en una serie de pasos discretos o saltos en respuesta a un incremento continuo en la entrada. La resolucin se dene como el cambio ms grande en u que puede ocurrir sin el cambio correspondiente en . As, en la Fig. 2.7 la resolucin se dene en trminos del valor uR del paso ms ancho; la resolucin expresada como un porcentaje del f.s.d. es por lo tanto Res % = uR 100% umax umin (2.2.17)
Un ejemplo comn es un potencimetro de alambre devanado, en respuesta a un continuo

R
x u
Figura 2.7: Ejemplo de resolucin y de potencimetro. incremento en x la resistencia R se incrementa en una serie de pasos; el tamao de cada paso ser igual a la resistencia de una vuelta. As, la resolucin de un potencimetro de 100 vueltas es de 1%. Otro ejemplo es un convertidor anlogo a digital; aqu la seal digital de salida responde en pasos discretos a una tensin de entrada que se incrementa
26
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA continuamente; la resolucin es el cambio en el voltaje requerido para causar que el cdigo de salida cambie con el bit menos signicativo.
p ()
1 2h h h 2h
Figura 2.8: Bandas de error y funcin de probabilidad. 9. Uso y envejecimiento.Estas causas pueden afectar las caractersticas de un elemento, es decir, k y a de modo que cambien lenta pero sistemticamente a travs de su vida. Un ejemplo es la rigidez de un resorte k(t) la cual decrementa lentamente con el tiempo debido al uso, es decir, (2.2.18) k(t) = k0 bt donde k0 es la rigidez inicial y b es una constante. Otro ejemplo corresponde a las constantes a1 , a2 , etc. de una termocupla que mide la temperatura de los gases generados en un horno de fragmentacin, las cuales cambian sistemticamente con el tiempo debido a cambios qumicos en los metales de la termocupla. 10. Bandas de error. Los efectos de las no linealidades, la histresis y la resolucin en muchos sensores modernos son tan pequeos que es difcil y no vale la pena cuanticar exactamente cada efecto individual. En estos casos el fabricante dene el comportamiento del elemento en trminos de bandas de error (ver Fig. 2.8). Aqu el fabricante establece que para cualquier valor de u, la salida estar entre h del valor ideal de la lnea recta ideal. Aqu un enunciado exacto o sistemtico del comportamiento se reemplaza por un enunciado estadstico en trminos de una funcin densidad de probabilidad p(). En general, una Rx funcin densidad de probabilidad p(x) se dene de modo que la integral x12 p(x)dx es la probabilidad Px1 ,x2 de que x caiga entre x1 y x2 . En este caso la funcin densidad de probabilidad es rectangular (Fig. 2.9), es decir, 1 ideal h ideal + h 2h (2.2.19) 0 > ideal + h p() = 0 ideal h >
2.3. MODELO GENERALIZADO DE UN ELEMENTO

p (x)
Densidad de probabilidad
27
Figura 2.9: Funcin densidad de probabilidad. Se puede observar que el rea del rectngulo es igual a la unidad: esta es la probabilidad de que caiga entre ideal h y ideal + h.
2.3
Modelo generalizado de un elemento
Si los efectos de histresis y resolucin no estn presentes en un elemento pero los efectos ambientales y no lineales s, entonces la salida de estado estacionario del elemento estar dada por (2.3.1) = ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI La Fig. 2.10 muestra esta ecuacin en forma de diagrama de bloques para representar las
Modificador Interferente
Entrada
Salida
Esttico
Dinmico
Figura 2.10: Modelo general de un elemento. caractersticas estticas de un elemento. Para efectos de completar el diagrama tambin se
28
Instrumento Patrn
Instrumento Patrn
Elemento o sistema a ser calibrado
Instrumento Patrn
Instrumento Patrn
Figura 2.11: Calibracin de un elemento. muestra la funcin de transferencia G(s) la cual representa las caractersticas dinmicas del mismo.
2.4
2.4.1
Identicacin de caractersticas estticas. Calibracin

Patrones de medida
Las caractersticas estticas de un elemento se pueden encontrar experimentalmente midiendo los valores correpondientes de la entrada u, la salida y las entradas ambientales uM , uI , cuando u es, o bien un valor constante, o una variable que evoluciona lentamente. Este tipo de experimento se denomina calibracin. Las medidas de las variables u, , uM uI deben ser precisas si se desea tener resultados signicativos. Los instrumentos y tcnicas utilizadas para cuanticar estas variables se conocen como patrones de calibracin (Fig. 2.11 ). La precisin en la medida de una variable es el acercamiento al valor verdadero de la misma. Se cuantica en trminos del error de la medida, es decir, la diferencia entre el valor medido y el valor verdadero. As, la precisin de una galga de presin relativa a un patrn de laboratorio es la lectura ms cercana al valor verdadero de la presin. Esto conduce al problema bsico de cmo establecer el verdadero valor de una variable, lo cual conduce a la siguiente Denicin 2 Se dene el valor verdadero de una variable como el valor medido obtenido con un patrn primario. As, la precisin de la galga de presin anterior se cuantica por la diferencia entre la lectura de la galga, para una presin dada, y la lectura dada por el patrn de presin denido como tal. Sin embargo, el fabricante de la galga de presin puede no tener acceso al patrn primario para medir la precisin de sus productos. l puede medir la precisin de sus galgas relativas a un patrn intermedio porttil o patrn de transferencia, es decir, un probador de presin de
2.4. IDENTIFICACIN DE CARACTERSTICAS ESTTICAS. CALIBRACIN Tabla 2.1: Escala simplicada de rastreabilidad
29
Incremento de precisin
Patrn Primario Patrn de transferencia Patrn de laboratorio Elemento a ser calibrado
v.,gr., patrn de presin del NPL v.,gr., probador de peso muerto v.,gr., galga de presin normalizada v.,gr., transductor de presin
peso muerto. La precisin del patrn de transferencia debe encontrarse por calibracin respecto del patrn de presin primario. Esto conduce al concepto de escala de rastreabilidad la cual se muestra en forma simplicada en la grca siguiente. El elemento se calibra usando los patrones del laboratorio, los cuales deben ser calibrados a s mismos por los patrones de transferencia, y estos a su vez deben ser calibrados usando el patrn primario. Cada elemento de la escala debe ser ms preciso que el anterior en forma signicativa. Luego de haber introducido los conceptos de patrn y rastreabilidad se puede ahora discutir con ms detalle, distintos tipos de patrones. El sistema internacional de medida (SI) incluye siete unidades bsicas y dos suplementarias que son compiladas y denidas en el Apndice B. Las unidades de todas las cantidades fsicas pueden ser derivadas de estas unidades bsicas y suplementarias. En el Reino Unido el Laboratorio Nacional de Fsica (National Physical Laboratory N.P.L.) es el responsable de la realizacin fsica de todas las unidades bsicas y muchas de las unidades derivadas correspondientes. El N.P.L. es por lo tanto el guardin de los patrones primarios en ese pas. Hay patrones secundarios guardados en el Servicio de Calibracin Britnico (B.C.S.). stos han sido calibrados con los patrones del N.P.L. y estn disponibles para calibrar los patrones de transferencia. En el N.P.L., el metro se deni usando la longitud de onda de la radiacin de un lser de helio-nen estabilizado con yodo. La reproducibilidad de este patrn es de 3 partes en 1011 y la longitud de onda de la radiacin ha sido relacionada precisamente con la denicin del metro en trminos de la velocidad de la luz. El patrn primario se usa para calibrar interfermetros de lser secundarios los cuales a su vez se usan para calibrar cintas, galgas y barras de precisin. Una escala simplicada de rastreabilidad para longitud se muestra en la Tabla 2.2. El prototipo internacinal del kilogramo est hecho en platinio-iridio y est guardado en la Agencia Internacional de Pesos y Medidas (B.I.P.M.) en Pars. El peso de una masa m es la
30
Tabla 2.2: Escala de rastreabilidad (Adaptada de Scarr) Responsabilidad Longitud Radiacin laser HeNe de longitud de onda de 633 nm Longitud de onda de fuentes laser secundarias Calibracin interferomtrica laser de calidad de referencia para patrn de longitud Calibracin comparativa de calidad operativa para patrn de longitud Calibracin de galgas y de equipos de medida Medida de la pieza de trabajo International Bureau of Weights and Measures National Physical Laboratory British Calibration Service Precisin
BIMP y NPL
3 en 1011
NPL
1 en 107
NPL o BCS o Industria
1 en 106
BCS o Industria
1 en 105
BCS o Industria
1 en 104
BIPM: NPL: BCS:
2.4. IDENTIFICACIN DE CARACTERSTICAS ESTTICAS. CALIBRACIN Tabla 2.3: Puntos jos T empe ratura T90 /K t90 / C 270.15 a 3a5 268.15 13.8033 259.3467 ~17 ~20.3 24.5561 54.6584 83.8058 234.3156 273.16 302.9146 429.7485 505.078 629.677 933.473 1234.93 1337.33 1357.77 ~256.15 ~252.85 248.5939 218.7916 189.3442 38.8344 0.01 29.7646 156.5985 231.928 419.527 660.323 961.78 1064.18 1084.62 denidos en el ITS90. Sustancia He eH2 eH2 ( He) eH2 ( He) Ne O2 Ar Hg H2 O Ga In Sn Zn Al Ag Au Cu Estado V T V G V G T T T T T M F F F F F F F 0.00119007 Wr (T90 )
31
Nmero 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17
0.00844974 0.09171804 0.21585975 0.84414211 1.00000000 1.11813889 1.60980185 1.89279768 2.56891730 3.37600860 4.28642053
fuerza mg que experimenta bajo la aceleracin de la gravedad g. As, si el valor local de la gravedad se conoce de manera precisa, entonces un patrn de fuerza se puede derivar de los patrones de masa. En el N.P.L., v. gr, las mquinas de peso muerto que cubren un rango de fuerza de 450N hasta 30M N se usan para calibrar celdas de carga con galgas extensomtricas y otros transductores de peso. El amperio ha sido tradicionalmente la unidad bsica elctrica y ha sido efectuado en el N.P.L. usando la balanza de corriente AyrtonJones; aqu, la fuerza entre dos espiras que llevan corriente se equilibra con un peso conocido. La precisin de este mtodo est limitada por los grandes pesos muertos de las bobinas y los moldes y de las muchas medidas necesarias. Por esta razn se han escogido como unidades bsicas elctricas el faradio y el voltio (o vatio); las otras unidades tales como el amperio, el ohmio, el henrio y el julio se derivan de estas dos unidades basicas con unidades de tiempo o de frecuencia, usando la ley de Ohm donde sea necesario. El faradio fue realizado usando un capacitor calculable basado en el teorema de Thompson
32
Lampard. Usando puentes a.c., los patrones de capacitancia y frecuencia se pueden usar para calibrar resistores estndar. El patrn primario del voltio se basa sobre el efecto Josephson en la superconductividad; ste se usa para calibrar patrones secundarios de voltaje, usualmente las bateras saturadas de cadmio de Weston. El amperio tambin puede ser llevado a cabo usando una balanza de corriente modicada. Como antes, la fuerza debida a una corriente I se equilibra con un peso conocido mg, pero tambin se hace una medicin separada para el voltaje e inducido en la espira cuando sta se mueve a una velocidad u. Igualando las fuerzas mecnica y elctrica se obtiene la ecuacin eI = mgu (2.4.1) Se pueden hacer medidas precisas de m, u y e usando patrones secundarios que puedan ser rastreados de nuevo con los patrones primarios del kilogramo, el metro, el segundo y el voltio. Idealmente se debe denir la temperatura usando la escala termodinmica, es decir la relacin P V = R (2.4.2)
entre la presin P y la temperatura de un volumen jo V de un gas ideal. Debido a la limitada reproducibilidad de los termmetros reales de gas, se proyect la Escala Prctica Internacional de Temperatura (I.T.P.S.). Esta se muestra en la Tabla 2.3 y consiste de a Puntos jos altamente reproducibles correspondientes a los puntos de fusin y ebullicin o puntos triples de sustancias puras bajo condiciones especcas; b Instrumentos patrones con una salida conocida versus una relacin de temperatura obtenida por calibracin de los puntos jos. Los instrumentos se interpolan entre los puntos jos. En la Tabla 2.4 se muestran los efectos de la variacin de presin sobre los valores denidos de la temperatura. Los nmeros asignados a los puntos jos son tales que hay exactamente 100K entre el punto de congelamiento (273.15K) y el punto de ebullicin (373.15K) del agua. Esto signica que un cambio de 1K es igual al cambio de 1 C en la antigua escala Celsius. La relacin exacta entre las dos escalas es K = T C + 273.15 Los instrumentos de interpolacin mencionados en la tabla se usan para calibrar los intrumentos patrones secundarios; v. gr., un termmetro por interpolacin de resistencia de platino puede ser usado para calibrar un segundo termmetro de resistencia de platino. Los patrones disponibles para las cantidades basicas, es decir, longitud, masa, tiempo, corriente y temperatura, permiten que se realizen patrones para cantidades derivadas. Esto se ilustra en los mtodos para calibrar medidores de ujo de lquidos. El promedio de ujo real a travs del metro se encuentra pesando la cantidad de agua recolectada en un tiempo dado, as que la precisin con que se mide el ujo depende de la precisin de los patrones de peso y tiempo. De manera similar los patrones de presin se pueden derivar de los de fuerza y rea (longitud).
2.4. IDENTIFICACIN DE CARACTERSTICAS ESTTICAS. CALIBRACIN
33
Tabla 2.4: Efecto de la presin sobre algunos puntos denidos jos. Variacin con Valor de asignacin Temperatura profundidad, de temperatura con presin, p lambda Substancia en equilibrio dT /dp dT /d 1 103 Km1 108 KPa T90 /K e-Hidrgeno (T) Nen (T) Oxgeno (T) Argn (T) Mercurio (T) Agua (T) Galio Indio Estao Zinc Aluminio Plata Oro Cobre 13.8033 24.5561 54.3584 83.8058 234.3156 273.16 302.9146 429.7485 505.078 692.677 933.473 1234.93 1337.33 1357.77 34 16 12 25 5.4 7.5 2.0 4.9 3.3 4.3 7.0 6.0 6.1 3.3 0.25 1.9 1.5 3.3 7.1 0.73 1.2 3.3 2.2 2.7 1.6 5.4 10.0 2.6
34
2.5
Medidas experimentales y evaluacin de resultados
El experimento de calibracin se divide en tres partes principales. 1. vs u con uM = uI = 0. Idealmente esta prueba podr ser tomada bajo condiciones ambientales estndar tal que uM = uI = 0, si esto no es posible todas las entradas ambientales debern medirse. u debe incrementarse lentamente desde umin hasta umax y los valores correspondientes de u y debern ser registrados a intervalos del 10% del alcance (es decir, 11 lecturas), dejando tiempo suciente para que la salida se estabilice antes de tomar una nueva lectura. Se tomarn otros 11 pares de lecturas cuando se decremente lentamente u desde umax hasta umin . El proceso completo deber repetirse dos veces ms (arriba y abajo) hasta obtener dos conjuntos de datos: un conjunto arriba (ui , i )I y un conjunto abajo (uj , j )I , i, j = 1, 2, . . . , n (n = 33). Hay paquetes de regresin disponibles paraP mayora de las computadoras, los cuales la m q ajustan a un polinomio, es decir, (u) = q=0 aq u para un conjunto de n datos de puntos. Esos paquetes usan un criterio de mnimos cuadrados. Si di es la desviacin del valor polinomial (ui ) para los valores i , entonces di = (ui ) i . El programa encuentra un conjunto de coecientes a0 , a1 , a2 , etc., tales que la suma de los cuadrados P de las desviaciones es decir n d2 es mnima. Esto involucra la solucin de un conjunto i=1 i de ecuaciones lineales [15]. Para detectar cualquier forma de histresis, se debern realizar regresiones separadas sobre los dos conjuntos de datos (ui , i )I , (uj , j )I , y obtener dos polinomios (u)I =
m X q=0
a uq q
(u)I =
m X q=0
a uq q
(2.5.1)
Si la histresis es signicativa, entonces la separacin de las dos curvas ser mayor que la dispersin de los puntos de datos alrededor de cada curva individual (Fig. 2.12(a)) La histresis H(u) est entonces dada por la ecuacin (2.2.15), es decir, H(u) = (u)u (u)u (2.5.2)
Si, por otra parte, la dispersin de los puntos alrededor de cada curva es ms grande que la separacin de las curvas (Fig. 2.12(b)), entonces H no es signicativo y los dos conjuntos de datos se pueden entonces combinar y as obtener un solo polinomio (u). La pendiente k y el cruce por cero a de la lnea recta ideal unen los puntos mnimo y mximo (umin , min ) y (umax , max ) y pueden hallarse de la ecuacin (2.2.3). La funcin no lineal N (u) puede entonces encontrarse usando (2.2.5): N (u) = (u) (ku + a) (2.5.3)
2.5. MEDIDAS EXPERIMENTALES Y EVALUACIN DE RESULTADOS
35
Abajo
Arriba
(a)
(b)
Figura 2.12: (a) Histresis signicativa (b) Histresis no signicativa. Los sensores de temperatura son frecuentemente calibrados usando puntos jos apropiados en lugar de un instrumento patrn. Por ejemplo, una termocupla puede ser calibrada entre 0 y 500 C midiendo la fem en el hielo, el vapor y el punto zinc. Si la relacin fem temperatura se representa por la ecuacin cbica E = a1 T + a2 T 2 + a3 T 3 , entonces los coecientes a1 , a2 , a3 , se pueden encontrar resolviendo tres ecuaciones simultaneas. 2. vs uM , uI con u = cte. Primero se necesita encontrar cuales entradas ambientales son interferentes, es decir, afectan el cruce por cero a. La entrada u se mantiene constante en u = umin y una entrada ambiental se cambia por una cantidad conocida, el resto se mantiene en valores estndar. Si hay un cambio resultante en , entonces la entrada uI est interriendo y el valor de los coecientes correspondientes kI estarn dados por kI = /uI . Si no hay cambio en , entonces la entrada no es interferente. El proceso se repite hasta que todas las entradas interferentes sean identicadas y los valores correspondientes de kI sean encontrados. Se necesita ahora identicar las entradas modicadoras, es decir, las que afectan la sensibilidad del elemento. La entrada u se mantiene constante en el valor medio del rango 1 2 (umin +umax ) y cada entrada ambiental se vara a su vez por una cantidad conocida. Si un cambio en la entrada produce un cambio en y no es una entrada interferente, entonces esta debe ser una entrada modicadora uM y el valor del coeciente correspondiente kM
36
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA estar dado por: 1 2 = (2.5.4) u uM (umin + umax ) uM Supngase que un cambio en la entrada produce un cambio en y sta ya ha sido identicada como una entrada interferente con un valor conocido kI . Entonces se debe calcular un valor no cero de kM antes de que se pueda asegurar que la entrada es tambin modicadora. Puesto que (umin +umax ) = kI uI,M + kM uI,M 2 entonces 2 kI (2.5.5) kM = (umin + umax ) uI,M kM = 3. Prueba de repetibilidad. Esta prueba podr ser llevada a cabo en el ambiente de trabajo normal del elemento, es decir, en la planta, o en un cuarto de control, donde las entradas ambientales uM , uI estn sujetas a variaciones aleatorias experimentadas usualmente. La seal de entrada u deber mantenerse constante en un valor medio del rango y la salida medida sobre un perodo extendido, idealmente varios dias, obtenindose un conjunto de valores k , k = 1, 2, . . . , N . El valor medio del conjunto se puede encontrar usando X = 1 k N
k=1 N
(2.5.6)
Se deber realizar un histograma de los valores de k , con el n de estimar la funcin densidad de probabilidad p() y compararla con la forma de la funcin gaussiana (Captulo 4).
y la desviacin estndar se encuentra usando (ver Captulo 4) v u N u1X ) 0 = t (k 2 N

k=1
(2.5.7)
2.6
Precisin de los sistemas de medida en estado estacionario
La precisin es una propiedad del sistema de medida completo, ms que de un simple elemento. La precisin se cuantica utilizando el error de medicin , es decir: = valor medido valor verdadero (2.6.1) (2.6.2) = salida del sistema entrada del sistema
En esta seccin se utilizar el modelo esttico de un elemento simple, para calcular la salida y adems el error de medida para un sistema completo de varios elementos. Se concluye examinando mtodos de reduccin del error del sistema.
2.6. PRECISIN DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA EN ESTADO ESTACIONARIO
37
40
20
0.97
0.98
0.99
1.00
1.01
1.02
1.03
Voltios
Figura 2.13: Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
2.6.1
Error en la medida de un sistema con elementos ideales
Considrese el sistema mostrado en la Fig. 2.14 consistente de n elementos en serie. Supngase que cada elemento es ideal, es decir, perfectamente lineal y no sujeto a entradas ambientales. Si tambin se asume que el sesgo o cruce por cero es cero, es decir, a = 0, entonces i = ki ui (2.6.3)
ecuacin entradasalida para un elemento ideal con sesgo cero, para i = 1, . . . , n, donde ki es la sensibilidad lineal o pendiente (ecuacin (2.2.3)). De all se observa que 2 = k2 u2 = k2 k1 u, 3 =
1 1
1 = 1
2 2
2 = 2
3 3
3 3
=
Valor medido
Valor verdadero
Figura 2.14: Error en la medida. k3 u3 = k3 k2 k1 u, y para el sistema completo = n = k1 k2 k3 ki kn u Si el sistema de medida es completo, entonces = u, dando = (k1 k2 k3 kn 1)u (2.6.5) (2.6.4)
38 As, si
k1 k2 k3 kn = 1
(2.6.6)
se tiene = 0 y el sistema es perfectamente preciso. El sistema de medida de temperatura mostrado en la Fig. 2.15 parece satisfacer la condicin anterior. El indicador puede ser un voltmetro de bobina mvil con una escala marcada en grados Celsius, de modo que un cambio en la entrada de 1V produzca un cambio en la deexin de 25 C. Este sistema tiene k1 k2 k3 = 40 106 103 25 = 1 y as parece perfectamente preciso. Este sistema; sin embargo, no es perfectamente preciso pues ninguno de los tres elementos presentes es ideal. La termocupla es no lineal, de manera que la temperatura cambia la sensibilidad, la cual ya no es de 40V C 1 . Tambin los cambios en la temperatura de la union de referencia hace que tambin cambie la fem en la termocupla. La tensin de salida del amplicador tambin est afectada por los
Amplificador V
2
Termocupla
1
Indicador
40 V/C
1000 V/ V
V voltios
3
25 C / V
Temperatura medida
Temperatura verdadera
f. e. m.
Figura 2.15: Sistema simple de medida de la temperatura. cambios en la temperatura ambiente. La sensibilidad k3 del indicador depende de la rigidez del resorte restaurador en el ensamble del indicador (caso bobina mvil). ste es afectado por la temperatura ambiente y por el uso, haciendo que k3 se desve del valor nominal de 25 CV 1 . Por lo tanto, la condicin k1 k2 k3 = 1 no puede ser siempre satisfecha y el sistema tendr error. En general el error de cualquier sistema de medida depende de las caractersticas no ideales de cada elemento del sistema, es decir, la no linealidad, los efectos ambientales y estadsticos, etc. As, con el n de cuanticar este error de forma tan precisa como sea posible se necesita usar el modelo general para un elemento simple como se desarroll previamente.
2.6.2
Tcnicas de reduccin de error
El error de un sistema de medida depende de las caractersticas no ideales de cada elemento del sistema. Usando las tcnicas de calibracin, se puede identicar cuales elementos en el sistema tienen el comportamiento no ideal ms dominante. Se puede entonces, proyectar estrategias de compensacin para estos elementos, las cuales producirn reducciones signicativas en el error total del sistema. Esta seccin bosqueja mtodos de compensacin para efectos no lineales y ambientales. Uno de los mtodos ms comunes de corregir un elemento no lineal es introducir un elemento de compensacin no lineal en el sistema. Este mtodo se ilustra en la Fig. 2.16. Dado un elemento no lineal, descrito por U (u), se necesita un elemento de compensacin C(U ), tal que
39
Elemento no lineal no compensado
Compensacin del elemento no lineal
Temperatura
Resistencia
Voltaje
V
Termistor
V
1.0
Puente de deflexin
V
1.0
12
Total
2 298
348
12
298
348
Figura 2.16: Compensacin de un elemento no lineal. las caractersticas totales C[U (u)] de los elementos, estn tan cerca de la recta ideal como sea posible. El mtodo se ilustra en la Fig. 2.16 con el uso de un puente de deexin para compensar las caractersticas no lineales del termistor. El mtodo ms evidente para reducir los efectos de las entradas ambientales es el aislamiento, es decir, aislar el transductor de los cambios ambientales tal que efectivamente uM = uI = 0. Ejemplos de esto son la localizacin de la unin de referencia de una termocupla en un recinto de temperatura controlada y el uso de un resorte de elevacin para aislar un transductor de las vibraciones de la estructura a la cual esta est conectado. Otro mtodo es el de la sensibilidad ambiental cero, donde el elemento es completamente insensible a entradas ambientales, es decir, kM = ku = 0. Un ejemplo de esto es el uso de una aleacin metlica con coecientes de expansin por temperatura cero y la resistencia como un elemento de galga extensomtrica. Tal material ideal es difcil de encontrar y en la prctica, la resistencia de una galga extensomtrica metlica es afectada ligeramente por cambios en la temperatura ambiente. Un mtodo ms exitoso de correccin para entradas ambientales es el de entradas ambientales opuestas. Supngase que un elemento es afectado por una entrada ambiental; entonces un segundo elemento, sujeto a la misma entrada ambiental, se introduce deliberadamente en
40
+
E le m e n to s in c o m p e n s a r
+ +
_
si
E le m e n to d e c o m p e n s a c i n
+ + + _ + +
Figura 2.17: Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial.
41
+
Fuerza de entrada Fuerza de balanceo
+ _
Elemento sensor Fb
Amplificador de ganancia alta
Tensin de salida
Elemento de retroalimentacin
Figura 2.18: Transductor de fuerza en lazo cerrado.
el sistema tal que los dos efectos tiendan a cancelarse. Este mtodo se ilustra para entradas interferentes en la Fig. 2.17 y puede ser fcilmente extendido para entradas modicadoras. Un ejemplo es la compensacin para variaciones en la temperatura T2 de la unin de referencia de una termocupla. Para una termocupla de cobre-constantan, se tiene kI uI igual a 38.74T2 V de modo que se requiere un elemento de compensacin con una salida igual a +38.74T2 V . Un ejemplo de un sistema diferencial (Fig. 2.17(b)) es el uso de dos galgas extensomtricas pareadas en las ramas adyacentes de un puente, para proporcionar compensacin por cambios en la temperatura ambiente. Un galga mide una fuerza de tensin +f y la otra, una fuerza de compresin igual f . El puente sustrae efectivamente las dos resistencias de modo que el efecto tensor sea el doble y los efectos ambientales se cancelen totalmente. Un mtodo importante de compensacin es el uso de realimentacin negativa de alta ganancia para entradas modicadoras y no linealidades. La Fig. 2.18 ilustra la tcnica par un transductor de fuerza. El voltaje de salida de un elemento sensor de fuerza, sujeto a una entrada modicadora, se amplica con un amplicador de alta ganancia. La salida del amplicador se realimenta a un elemento (v. gr., una bobina y un iman permanente) el cual proporciona una fuerza de balanceo opuesta a la fuerza de entrada.
42
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA Ignorando los efectos de la entrada modicadora por el momento, se tiene: F = F i Fb
VO = kkA F Fb = kF VO es decir
(2.6.7)
VO = Fi kF VO kkA VO = kkA 1 + kF kkA (2.6.8)
de lo cual se obtiene
Ecuacin para la fuerza del transductor con realimentacin negativa. Si la ganacia del amplicador kA se hace grande, tal que sea satisfecha la condicin kF kkA 1 entonces VO 1 Fi kF (2.6.9)
(2.6.10)
Esto quiere decir que la salida del sistema depende solamente de la ganancia kF del elemento de realimentacin y es independiente de las ganancias k y kA de la trayectoria directa. Esto signica que, suponiendo que se cumple la condicin anterior, los cambios en k y kA debidos a entradas modicadoras y/o efectos no lineales, tienen efectos despreciables sobre VO . Esto puede conrmarse repitiendo el anlisis anterior reemplazado k con k + kM uM , de lo cual se obtiene (k + kM uM )kA FIN (2.6.11) VO = 1 + kF (k + kM uM )kA la cual otra vez se reduce a VOUT FIN kF si kF (k + kM uM )kA 1 (2.6.12)
Ahora, por supuesto, se debe asegurar que la ganacia kF del elemento de realimentacin no tenga cambios debidos a efectos no lineales o ambientales. Puesto que el amplicador entrega ms de la potencia requerida, el elemento de realimentacin puede disearse para baja capacidad de manejo de potencia, dando mayor linealidad y menor suceptibilidad a entradas ambientales. Dos dispositivos comunmente utilizados (transmisores de corriente), los cuales emplean este principio se discutirn ms adelante . La rpida disminucin de costo en los circuitos digitales integrados en los aos recientes ha signicado que los microcomputadores estn siendo ahora muy usados como elementos procesadores de seal en sistemas de medida. Esto signica que ahora se pueda utilizar la tcnica
43
de estimacin por computador del valor medido. Para este mtodo se requiere un buen modelo de los elementos del sistema. Anteriormente se vi que la salida de estado estacionario de un elemento est dada en general por una ecuacin de la forma: = ku + a + N (U ) + kM uM u + ku uI (efecamb)
Esta es la ecuacin directa; aqu es la variable dependiente la cual est expresada en trminos de las variables independientes u, uM , uI . Anteriormente se vi cmo la ecuacin directa puede derivarse de un conjunto de datos obtenidos en un experimento de calibracin. Las caractersticas de estado estacionario de un elemento tambin se pueden representar por una ecuacin alternativa. Esta es la denominada ecuacin inversa; aqu la seal de entrada u es la variable dependiente y la salida y las entradas ambientales uI , uM son las variables independientes. La forma general de esta ecuacin es
0 u = k + N() + a kM uM + kI u + 0
(2.6.13)
donde los valores de k0 , N 0 (), a0 etc., son completamente diferentes de los de la ecuacin directa. Por ejemplo, las ecuaciones directa e inversa para una termocupla cobreconstantan (tipo T ), con unin de referencia a 0 C son: Directa E = 3.845 102 T + 4.682 105 T 2 3.789 108 T 3 + 1.652 1011 T 4 mV Inversa T = 22.55E 0.5973E 2 + 2.064 102 E 3 3.205 104 E 4 C donde E es la f.e.m de la termocupla y T la temperatura de la unin medida entre 0 y 400 C. Ambas ecuaciones fueron derivadas usando un polinomio de mnimos cuadrados ajustado a los datos de la norma BS 4937 [4]; para la ecuacin directa, E es la variable dependiente y T la variable independiente, mientras que para la ecuacin inversa T es la variable dependiente y E la variable independiente. La ecuacin directa es la ms til para estimacin del error, mientras que la ecuacin inversa es la ms til para reduccin del error. El uso de la ecuacin inversa en estimacin por computador del valor medido, se implementa mejor en varias etapas. Con referencia a la Fig. 2.19, stas son: 1. Tratar el sistema no compensado como un solo elemento. Usando el procedimiento de calibracin explicado antes (o cualquier otro mtodo de generacin de datos) los parmetros k0 , a0 , etc., en el modelo de ecuacin inversa
0 0 u = k 0 u + N 0 (u) + a0 + kM uM u + kI uI
se pueden encontrar, representando el comportamiento total del sistema sin compensacin Este procedimiento facilitar la identicacin de las entradas ambientales uM , uI , (puede ser ms de una de cada tipo).
44
CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA 2. El sistema de compensacin se puede conectar al estimador. Este consiste, en primer lugar, de un computador el cual almacena los parmetros modelados k 0 , a0 , N 0 () etc. Si los errores debidos a las entradas ambientales se consideran signicativos, entonces tambin son necesarios los sensores ambientales para proporcionar al computador los valores estimados u0 , u0 de estas entradas. La salida U de un sistema sin compensacin tambin se M I almacena en el computador. 3. El computador entonces calcula un valor estimado inicial u0 de u, usando la ecuacin inversa 0 0 u0 = k0 U + N 0 (U ) + a0 + kM uM U + ku uI 4. La presentacin de los datos del elemento muestra entonces el valor medido el cual podr estar cerca de u0 . En aplicaciones que no requieran alta precisin se puede terminar el proceso en esta etapa. 5. Si se requiere alta precisin, entonces puede ser posible, para perfeccionar el estimador calibrar el sistema completo. Los valores de la salida del sistema se miden para un rango de entradas estndar conocido, u y los correspondientes valores del error del sistema = u calculado. Estos valores de error pueden ser debidos principalmente a efectos aleatorios pero pueden tambin contener una pequea componente sistemtica la cual puede ser corregida. 6. Ahora se puede hacer un intento para ajustar el conjunto de datos (i , i ), i = 1, 2, . . . , n, a una lnea recta por mnimos cuadrados de la forma = k + b (2.6.14)
donde b es cualquier error residual cero y k epecica cualquier escala de error residual. 7. El coeciente de correlacin Pn i i qP i=1 P r= n n 2 2 i=1 i i=1 i (2.6.15)
entre y ahora podr ser evaluado. Si la magnitud de r es mayor que 0.5, entonces hay una correlacin razonable entre los datos de y ; esto signica que el error sistemtico de la ecuacin =u (2.6.16) est presente y se puede proceder al paso ocho para corregirlo. Si la magnitud de r es menor de 0.5 entonces no hay correlacin entre los datos de y , esto signica que los errores son aleatorios y no se puede hacer correccin.
45
8. Si es necesario, se puede usar la ecuacin (2.6.14) para calcular un valor medido mejorado 0 = = (k + b) El sistema de medida de desplazamiento de la Fig. 2.19 muestra este mtodo. El sistema sin compensacin consiste de un sensor de desplazamiento inductivo, un oscilador y un disparador Schmitt. El sensor tiene una relacin no lineal entre la inductancia L y el desplazamiento x, el oscilador tiene una relacin no lineal entre la frecuencia f y la inductancia L. Esto signica que la ecuacin inversa del modelo, relaciona el desplazamiemto x y la frecuencia f de la seal de salida del disparador Schmitt, y tiene la forma no lineal mostrada. El estimador consiste de un contador de pulsos de 16 bits y un computador. El computador lee el estado del contador al principio y al nal de un intervalo de tiempo jo y as mide la frecuencia f de la seal de pulsos. El computador entonces calcula x de la ecuacin inversa del modelo usando los coecientes del modelo almacenados en la memoria.
46
Medidas de entrada del medio ambiente
Valor real Sistema sin compensacin Computador Estimador Presentacin de datos Valor medido
Estimado Sistema sin compensacin Desplazamiento verdadero mm No lineal Sensor inductivo No lineal Oscilador Disparador Schmitt pulso/s Contador de pulsos 16 - bit Estimador
Desplazamiento medido
0 a 65,535
Computador
Ecuacin inversa del modelo
-264.1 + 0.3882 - 2.113 x 10 - 12 4 +5.272 x 10 - 8 - 4.928 x 10
-4 2
Figura 2.19: Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo inverso.
Captulo 3
Caractersticas dinmicas de los sistemas de medida

3.1 Introduccin
Si la seal de entrada u de un elemento cambia de un valor a otro en forma sbita, entonces la seal de salida no cambiar instantneamente a su nuevo valor. Por ejemplo, si la temperatura de entrada de una termocupla cambia sbitamente de 25 C a 100 C, algn tiempo tardar en cambiar el voltaje de salida de 1mV a 4mV . El modo en el cual un elemento responde a un cambio repentino se llama su caracterstica dinmica, que es mejor comprendida usando una funcin de transferencia G(s). La primera seccin de este captulo examina la dinmica de elementos tpicos y deriva su respectiva funcin de transferencia. La siguiente seccin examina cmo las seales estndar de prueba pueden ser usadas para identicar G(s) para un elemento. Si la seal de entrada para un sistema de medida de varios elementos cambia rpidamente, entonces la forma de onda de la seal de salida del sistema es generalmente diferente de la de la seal de entrada. Se explicar ms adelante cmo este error dinmico puede ser encontrado y nalmente se analizarn algunos mtodos de compensacin dinmica que pueden ser usados para minimizar errores.
3.2
3.2.1
Funcin de transferencia para elementos tpicos del sistema

Elementos de primer orden
Un buen ejemplo para un elemento de primer orden puede ser un sensor de temperaura con una seal elctrica de salida, v. gr., una termocupla o un termistor. El elemento desnudo (sin funda) se pone en un uido (Fig. 3.1). Inicialmente en t = 0 (justo antes de t = 0), la temperatura del sensor es igual a la temperatura del uido, es decir, T (0 ) = TF (0 ). Si la temperatura 47
48
CAPTULO 3. CARACTERSTICAS DINMICAS DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA

Salida
Figura 3.1: Sensor de temperatura en un uido. del uido es repentinamente subida en t = 0, el sensor no est ms en estado estacionario y su comportamiento dinmico se describe por la ecuacin de balance de calor: Tasa de calor entrantetasa de calor saliente = tasa de cambio del contenido de calor del sensor Asumiendo que TF > T , entonces la tasa de calor saliente ser cero, y la tasa del calor de entrada W ser proporcional a la diferencia de temperatura (TF T ). De conceptos de transferencia de calor se tiene: W = U A(TF T ) vatios (3.2.1)
donde U [W m2 C 1 ] es el coeciente de transferencia de calor global entre el uido y el sensor, y A [m2 ] es el rea efectiva de transferencia de calor. El incremento del contenido de calor del sensor es mC[T T (0 )] [J], donde m [kg] es la masa del sensor y C [Jkg 1 C 1 ] es el calor especco del material del sensor. As, asumiendo que m y C son constantes: tasa de incremento del contenido de calor en el sensor = mC d [T T (0 )] dt (3.2.2)
Deniendo T = T T (0 ) y TF = TF TF (0 ) como las desviaciones de las temperaturas de las condiciones iniciales en reposo, la ecuacin diferencial que describe los cambios de temperatura del sensor es dT UA(TF T ) = mC dt es decir, mC dT + T = TF (3.2.3) UA dt Esta es una ecuacin diferencial lineal en la cual dT /dt y T se multiplican por coecientes constantes; la ecuacin es de primer orden porque dT /dt es el mayor derivador
3.2. FUNCIN DE TRANSFERENCIA PARA ELEMENTOS TPICOS DEL SISTEMA 49 presente. La cantidad mC/U A tiene dimensiones de tiempo: kg J kg 1 C 1 J =s = W m2 C 1 m2 W y se le reere como la constante de tiempo para el sistema. La ecuacin diferencial es ahora dT + T = TF dt (3.2.4)
Aunque la ecuacin diferencial anterior es una descripcin adecuada de la dinmica del sensor, no es la representacin ms til. La funcin de transferencia basada en la transformada de Laplace de la ecuacin diferencial da un marco de trabajo ms conveniente para estudiar la dinmica de un sistema de varios elementos. La transformada de Laplace f (s) de una funcin que vara en el tiempo esta denida por Z est f (t)dt (3.2.5) f (s) =
0
donde s es una variable compleja de la forma s = +j y j = 1. En los textos de matemticas (v. gr., Kreyszig [16]) se encuentran tablas de transformada de Laplace para funciones estndar comunes f (t). Con el n de encontrar la funcin de transferencia para el sensor se debe encontrar la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.4), obtenindose [sT T (0 )] + T (s) = T F (s)
(3.2.6)
donde T (0 ) es la desviacin de la temperatura en condiciones iniciales previas a t = 0. Por denicin T (0 ) = 0, dando sT (s) + T (s) = T F (s) es decir, ( s + 1)T (s) = T F (s) (3.2.7) De aqu se obtiene la funcin de transferencia para un elemento de primer orden como G(s) = 1 T (s) = 1 + s T F (s) (3.2.8)
La funcin de transferencia anterior slo relaciona cambios en la temperatura del sensor respecto de los cambios en la temperatura del uido. La relacin global entre los cambios en la seal de salida del sensor y la temperatura del uido es (s) T (s) = T T F (s) T F (s) (3.2.9)
50
donde T es la sensibilidad en estado estacionario del sensor de temperatura. Para un elemento ideal T sera igual a la pendiente k de la lnea recta ideal. Para elementos no d lineales, sujetos a pequeas uctuaciones de temperatura, se puede tomar T = dT , como el elemento derivativo que ser evaluado en la temperatura de reposo T (0 ) alrededor de la cual las uctuaciones se presentan.
Ejemplo 1 Para una termocupla de cobreconstantan, encontrar la funcin de transferencia que relacione la fem inducida por cambios de temperatura alrededor de 100 C, con una constante de tiempo de 10 s. Sol. Para pequeas uctuaciones de temperatura alrededor 100 C, uando dE a 100 C, usando la ecuacin (2.2.13), con lo cual se obtiene dT E = 46 V C 1 T As, si la constante de tiempo de la termocupla es = 10 s, la relacin dinmica global entre los cambios en la fem y la temperatura del uido es E(s) 1 = 46 1 + 10s T (s) (3.2.10)
E T
se encuentra eval-
Figura 3.2: Modelo de un elemento para clculo de la dinmica. En el caso general de un elemento con caractersticas estticas dadas por la ecuacin (2.2.14), y las caractersticas dinmicas denidas por G(s), el efecto de cambios pequeos y rpidos en u se evalan usando la Fig. 3.2, en la cual la sensibilidad en reposo (/u)u0 = k + kM uM + (dN/du)u0 , y u0 es el valor en reposo de u alrededor del cual toman lugar las uctuaciones.
3.2.2
Elementos de segundo orden
El sensor elstico mostrado en la Fig. 3.3 que convierte una fuerza de entrada F en un desplazamiento de salida x, es un buen ejemplo de un elemento de segundo orden. El diagrama es un
3.2. FUNCIN DE TRANSFERENCIA PARA ELEMENTOS TPICOS DEL SISTEMA 51
kx
Masa Resorte k
vx
Amortiguador
Figura 3.3: Modelo masaresorteamortiguador para un sensor elstico de fuerza. modelo conceptual de el elemento que incorpora una masa [m kg] una constante del resorte k [N m1 ], y un regulador de constante [N sm1 ]. El sistema est inicialmente en reposo en t = 0 as que la velocidad inicial x(0 ) = 0 y la ) = 0. La fuerza inicial de entrada F (0 ) es balanceada por la fuerza aceleracin inicial x(0 elstica en el desplazamiento inicial x (0 ), es decir (3.2.11) F 0 = kx(0 )
Si la fuerza de entrada es repentinamente incrementada a t = 0, entonces el elemento no se encuentra en estado de reposo y su comportamiento dinmico se describe por la segunda ley de Newton, es decir fuerza resultante = masaaceleracin (3.2.12) es decir F kx x = m x y m + kx + x = F x Deniendo a F y a x como las desviaciones en F y en x de las condiciones de reposo del estado inicial, F = F F (0 ), x = x x(0 ) = x x (3.2.13)
x = x,
(3.2.14)
La ecuacin diferencial ahora se convierte en m + x + kx 0 + kx = F (0 ) + F x
52
la cual, usando la ecuacin (3.2.11), se reduce a m + x + kx = F x es decir, m d2 x dx 1 + x = F (3.2.15) + k dt2 k dt k Esta es una ecuacin diferencial lineal de segundo orden en la cual x y sus derivadas se multiplican por coecientes constantes y la mxima derivada presente es d2 x/dt2 . Si se dene r k rad/s Frecuencia natural n = m y (3.2.16) coeciente de amortiguacin = 2 km entonces m/k = 1/ 2 , /k = 2/ n y la ecuacin (3.2.15) se puede expresar en su forma n estndar: 1 d2 x 1 2 dx + x = F (3.2.17) + 2 dt2 n n dt k
Con el n de encontrar la funcin de transferencia para el elemento, se requiere de la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.17). Usando una tabla de transformadas se tiene que 2 1 1 2 [s (s) sx(0 ) x(0 )] + x [s(s) x(0 )] + (s) = F (s) x x 2 n n k (3.2.18)
Debido a que x(0 ) = x(0 ) = 0 y x(0 ) = 0 por denicin, la ecuacin (3.2.18) se reduce a 2 2 (3.2.19) x s + 2 n s + 2 (s) = n F (s) n k As (s) x 1 (s) = k G(s) F donde 1/k = sensibilidad en estado estacionario K, y G(s) = 2 n s2 + 2 n s + 2 n (3.2.20)
La Fig 3.4 muestra un elemento elctrico anlogo, un circuito de la serie L-C-R. Las ecuacioens correspondientes a esta red estn dadas a continuacin: V = iR + di q +L C dt
3.3. IDENTIFICACIN DE LA DINMICA DE UN ELEMENTO
53
> i
+ V C L R
Figura 3.4: Circuito serie RLC. donde i= as L o d2 q R dq 1 1 + q= V + 2 dt L dt LC L (3.2.22) 1 dq d2 q +R + q =V 2 dt dt C (3.2.21) dq dt
Comparando la ecuacin (3.2.13) con la ecuacin (3.2.22) se ve que q es anlogo a x, V es anlogo a F , y, L, R y 1/C son anlogos a m, y k respectivamente. El circuito elctrico tambin est descrito por la funcin de transferencia de segundo orden anterior, con 1 n = LC y R = 2 r (3.2.23)
C L
(3.2.24)
3.3
Identicacin de la dinmica de un elemento
Con el n de identicar la funcin de transferencia G(s) de un elemento, se debern usar seales de excitacin normalizadas. Las dos seales de excitacin ms comunes son el escaln y la onda seno. En esta seccin se examina la respuesta de los elementos de primer y segundo orden ante dichas seales.
54
3.3.1
Respuesta a un escaln de los elementos de primero y de segundo orden
La transformada de Laplace para un escaln de altura unitaria u(t) es L{u(t)} = 1 s (3.3.1)
As, si un elemento de primer orden con G(s) = K/(1 + s) est sujeto a una seal de entrada en escaln, la transformada de Laplace de la seal de salida del elemento ser fo (s) = G(s)fi (s) = K s(1 + s) (3.3.2)
Expresando la ecuacin (3.3.2) en fracciones parciales, se tiene A 1 B fo (s) = K =K + (1 + s)s (1 + s) s Igualando los coecientes de las constantes se obtiene B = 1, e igualando los coecientes de s se llega a 0 = A + B , es decir, A = . As " # 1 1 (s) = K 1 fo =K (3.3.3) 1 s (1 + s) s (s + ) Realizando la transformada inversa de Laplace de la ecuacin (3.3.3) se llega a t fo (t) = K u(t) exp y puesto que u(t) = 1 para t > 0 t fo (t) = K 1 exp (3.3.4)
La cual es la respuesta de un elemento de primer orden a un escaln unitario. La forma de la respuesta se muestra en la Fig 3.5, para K = 1. Ejemplo 2 Considrese el sensor de temperatura de la primera seccin de este captulo. Estudiar la respuesta temporal del sistema ante un escaln unitario, asumiendo estados inicial de 25 C y nal de 100 C. Sol. Inicialmente la temperatura del sensor es igual a la del uido, es decir, T (0 ) = TF (0 ) = 25 C
3.3. IDENTIFICACIN DE LA DINMICA DE UN ELEMENTO

fo(t)
55
2.5
7.5
Figura 3.5: Respuesta a un escaln de un sistema de primer orden: Rojo, = 2, negro, = 1, azul, = 0.5, Si TF es repentinamente elevada a 100 C, entonces esto representa un cambio de un escaln TF de altura 75 C. El cambio correspondiente en el sensor de temperatura est dado por T = 75(1 et/ ) y la temperatura real T del sensor en el tiempo t estar dada por T (t) = 25 + 75(1 et/ ) (3.3.5) As, en el tiempo t = , T = 25 + 75 0.63 = 72.3 C. Midiendo el tiempo tomado por T para subir a 72.3 C se puede encontrar la constante del elemento como se observa en la Fig. 3.6. Si un segundo elemento con una funcin de transferencia G(s) = 2 n s2 + 2 n s + 2 n
est sujeto a una seal de entrada de un escaln, entonces la transformada de Laplace de la seal de salida del elemento es 2 1 n fo (s) = 2 + 2 s + 2 ss n n Expresando la ecuacin (3.3.6) en fracciones parciales se tiene fo (s) = As + B
1 2 s 2 n 2 n s + 1
(3.3.6)
C s
56

y 100
75
50
25
0 0 1.25 2.5 3.75 5 x
Figura 3.6: Determinacin de para un sistema de primer orden. donde, despus de hacer clculos, A = 1/2 , B = 2/n y C = 1. Aplicando los valores n anteriores, la ecuacin queda fo (s) = = = (s + 2n ) 1 2 s s + 2n s + 2 n (s + 2n ) 1 s (s + n )2 + 2 (1 2 ) n (s + n ) 1 n 2 + 2 (1 2 ) 2 + 2 (1 2 ) s (s + n ) (s + n ) n n (3.3.7)
Hay tres casos a considerar dependiendo si es mayor que 1, igual a 1, o menor que 1. Caso 1 Si = 1 Sistema con amortiguacin crtica, entonces 1 1 n fo (s) = s s + n (s + n )2 Realizando la transformada inversa de Laplace, se tiene fo (t) = 1 en t (1 + n t) (3.3.9) (3.3.8)
La cual representa la respuesta de un elemento de segundo orden a un escaln unitario con amortiguacin crtica = 1.
3.3. IDENTIFICACIN DE LA DINMICA DE UN ELEMENTO Caso 2 Si < 1 Sistema subamortiguado, entonces q q fo (t) = 1 en t cos n (1 2 )t + q sin n (1 2 )t 2 (1 )
57
(3.3.10)
La cual representa la respuesta de un elemento de segundo orden a un escaln con subamortiguacin. Caso 3 Si > 1 Sistema sobreamortiguado, entonces q q fo (t) = 1 en t cosh n ( 2 1)t + q sinh n ( 2 1)t 2 ( 1)
(3.3.11)
La cual representa la respuesta a un escaln por un elemento de segundo orden con sobreamortiguacin.
y 1.5
1.25
0.75
0.5
0.25
0 0 2.5 5 7.5 10 12.5 x 15
Figura 3.7: Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1, azul, > 1. La forma de las respuestas normalizadas se muestran en la Fig. 3.7.
58
Ejemplo 3 Considrese la respuesta a un escaln de un sensor de fuerza con una rigidez de k = 103 N m1 , masa m = 0.1kg y constante de amortiguacin = 10N sm1 . Sol. La sensibilidad en estado de reposo es S = 1/k = 103 mN 1 la frecuencia natural n = y la constante de amortiguacin p k/m = 102 rads1
k m = 0.5 2 Inicialmente en t = 0 , una fuerza en reposo F (0 ) = 10N causa un desplazamiento en reposo de (1/103 ) 10 metros, es decir, 10mm. Supngase que en t = 0 la fuerza se incrementa repentinamente de 10 a 12 N, es decir, hay un cambio en escaln F de 2 N . El cambio x(t) en el desplazamiento se encuentra usando = x(t) = SF u(t)fo (t) es decir, x(t) = 1 2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [m] 103 = 2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [mm] (3.3.12)
(3.3.13)
Eventualmente, cuando t es grande x tiende a 2 mm, es decir, x se establece a un nuevo valor en estado estacionario de 12 mm.
3.3.2
Respuesta sinusoidal de elementos de primero y segundo orden
La transformada de Laplace de una onda senoidal est dada por f (s) = /(s2 + 2 ). As si una onda seno de amplitud u es la entrada a un elemento de primer orden, entonces la transformada de Laplace de la seal de salida es fo (s) = u 1 1 + s s2 + 2 (3.3.14)
Expresando la ecuacin (3.3.14) en fracciones parciales se obtiene 1 s + u 2 u + 1 + 2 2 1 + s 1 + 2 2 s2 + 2 u 1 cos + s sin 2 u + 22 1 + s 22 1+ s2 + 2 1+
fo (s) = =
3.3. IDENTIFICACIN DE LA DINMICA DE UN ELEMENTO donde
59
1 , cos = 1 + 22
sin = 1 + 22
(3.3.15)
Realizando la transformada inversa, se tiene fo (t) = 2 u t/ u e + sin(t + ) 1 + 2 2 1 + 2 2 (3.3.16)
0.2
0.15
0.1
0.05
0 0 -0.05 5 10 15 20 x 25
-0.1
Figura 3.8: Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden. En un experimento de prueba con onda seno, se espera hasta que el trmino transitorio haya decado a cero y entonces se toma la medida de la seal senoidal de estado estacionario: u fo (t) = sin(t + ) 1 + 22 (3.3.17)
De las ecuaciones anteriores se puede ver que cuando = 1, es decir = 1/ , la razn de amplitud = 1/ 2 y la diferencia de fase = 45 . Estos resultados permiten que el valor de sea encontrado mediante frecuencias experimentales (ver Fig. 3.8). Los resultados de arriba pueden ser generalizados para un elemento con una sensibi-lidad de estado estacionario K (o /u) y funcin de transferencia G(s), sujeta a una seal de entrada sinusoidal u = u sin t. En el estado estacionario se pueden hacer cuatro suposiciones acerca de la seal de salida: 1. es tambin una onda seno; 2. la frecuencia de es tambin 3. la amplitud de es = K |G(j)| u;
60
CAPTULO 3. CARACTERSTICAS DINMICAS DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA 4. la diferencia de fase entre y u es = arg G(j).
Usando las anteriores reglas, rpidamente se pueden encontrar las relaciones de magnitud y de fase para un elemento de segundo orden con G(s) = De aqu se tiene G(j) = tal que Magnitud : |G(j)| = s 1 tan1 1 2 (3.3.18) 2 n (j)2 + 2 n (j) + 2 n 2 n s2 + 2 n s + 2 n
2 2 n
+ 4 2 2
Diferencia de fase :
2/ n 1 2 / 2 n
4.482 2.718 y 1.649 1 0.6065 0.3679 0.2231 0.1353 0.1353 0.2231 0.3679 0.6065 1 x 1.649 2.718
Figura 3.9: Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden: rojo, = 0.1, azul, = 0.3, negro, = 0.7,verde, = 1.0, prpura = 2. Estas caractersticas son mostradas grcamente en la Fig. 3.9; la razn de amplitud y la fase son crticamente dependientes del valor de .
3.4. ERRORES DINMICOS EN SISTEMAS DE MEDIDA
61
Ntese que para < 0.7, |G(j)| tiene un valor mximo el cual es ms grande que la unidad. Este valor mximo est dado por |G(j)|MAX = y ocurre en la frecuencia de resonancia q R = n 1 2 2 1 p 2 1 2 < 1/ 2
Se pueden encontrar R , y n midiendo |G(j)|MAX . Una alternativa para gracar |G(j)| versus es un grco del nmero de decibeles N dB vs , donde N = 20 log10 |G(j)| (3.3.19)
As, si |G(j)| = 1, N = 0 dB; si |G(j)| = 10, N = +20 dB; y si |G(j)| = 0.1, N = 20 dB.
3.4
Errores dinmicos en sistemas de medida
La Fig. 3.10 muestra un sistema de medida completo el cual consiste de n elementos. Cada elemento i tiene un estado estable ideal y caractersticas dinmicas lineales y puede por lo tanto, ser representado por una constante de sensibilidad de estado estable Ki y una funcin de transferencia Gi (s).
Entrada: seal real
1 1 1
1
2 2
2
i i
Salida , es decir, seal medida
Figura 3.10: Sistema de medida con dinmica. Se comienza por asumir que la sensibilidad de estado estacionario k1 , k2 , . . . , ki , . . . kn para el sistema completo es igual a 1, es decir, el sistema no tiene error de estado estacionario. La funcin de transferencia G(s) es el producto de las funciones de transferencia de los elementos individuales, es decir (s) = G(s) = G1 (s)G2 (s) Gi (s) Gn (s) (s) u (3.4.1)
62
En principio se puede usar la ecuacin (3.4.1) para encontrar la seal de salida del sistema (t) co-rrespondiente a variaciones en el tiempo de la seal de entrada u(t). Primero se encuentra la transformada de Laplace (s) de u(t); entonces, aplicando la transformada de Laplace, la u seal de salida ser (s) = G(s)(s) u (3.4.2) Expresando (s) en fracciones parciales, y usando tablas estndar de las transformadas de Laplace, se puede encontrar la seal correspondiente en el tiempo (t). Expresando esto matemticamente: u (3.4.3) (t) = L1 [G(s)(s)] donde L1 denota la transformada inversa de Laplace. El error dinmico (t) del sistema de medida es la diferencia entre la seal medida y la seal verdadera, es decir, la diferencia entre (t) y u(t) (t) = (t) u(t) (3.4.4) Usando (3.4.3) se tiene u (t) = L1 [G(s)(s)] u(t) (3.4.5) El sistema simple de medida de temperatura de la Fig. 3.11, provee un buen ejemplo para
Temperatura real Temperatura medida -6
f. e. m.
40 x 10 1 + 10
10 1 + 10 - 4 s
Amplificador
25
voltios
10 -2 s +1
2.5x 10
-5s 2 +
Termocupla
Registrador
Figura 3.11: Sistema de medida de temperatura con dinmica. identicar los errores dinmicos. La termocupla tiene una constante de tiempo de 10 s, el amplicador una constante de tiempo de 104 s y el contador es un elemento de segundo orden con n = 200rad/s y = 1.0. La sensibilidad completa de estado estacionario del sistema es la unidad. Se puede ahora calcular el error dinmico del sistema para una entrada escaln de +20 C, es decir, TT (t) = 20u(t) y TT (s) = 20 1/s. As, la transformada de Laplace de la seal de salida es TM (s) = 20 1 1 1 1 2 4 s 1 s 1 + 10s 1 + 10 1 + 200 s 1 A B Cs + D = 20 s s + 0.1 s + 104 (s + 200)2
(3.4.6)
3.4. ERRORES DINMICOS EN SISTEMAS DE MEDIDA De aqu se obtiene h i 4 TM (t) = 20 u(t) Ae0.1t + Be10 t Ee200t (1 + 200t) (t) = TM (t) TT (t) i h 4 = 20 Ae0.1t + Be10 t + Ee200t (1 + 200t)
4
63
y el error dinmico
(3.4.7)
donde el signo negativo indica una lectura muy baja. El trmino Be10 t decae a cero despus de 5 104 s, y el trmino Ee200t (1 + 200t) decae a cero despus de unos 25ms. El trmino Ae0.1t , el cual corresponde a la constante de tiempo 10s de la termocupla, toma cerca de 50s para decaer a cero y tiene el mximo efecto sobre el error dinmico.
Entrada
Salida
Figura 3.12: Respuesta de un sistema con dinmica lineal. Se pueden usar las reglas desarrolladas antes para encontrar el error dinmico de un sistema con una funcin de transferencia G(s) sujeta a una entrada sinusoidal u(t) = u sin t. De la Fig. 3.12 se tiene (t) = |G(j)| u sen(t + ) dando (t) = u [|G(j)| sen(t + ) sent] (3.4.8) donde = arg G(j). Supngase que el anterior sistema de medida de temperatura est mi diendo una variacin sinusoidal de temperatura de amplitud TT = 20 C y perodo T = 6s, es decir de frecuencia angular = 2/T 1.0 rad s1 . La respuesta frecuencial G(j) es G(j) = tal que en = 1 1 |G(j)|=1 = p 0.10 (1 + 100)(1 + 108 )[(1 2.5 105 )2 + 104 ] (3.4.10) 1 (1 + 10j)(1 + 104 j)(1 + 102 j + 2.5 105 (j)2 ) (3.4.9)
64 y
arg |G(j)|=1 0 tan1 (10) tan1 (104 ) tan1 (102 ) 85
Se puede observar, para las anteriores ecuaciones, que los valores de |G(j)| y arg |G(j)| en = 1 estn determinados principalmente por la constante de tiempo de 10s. Las caractersticas dinmicas de los otros elementos solamente estarn afectando el funcionamiento del sistema a frecuencias altas. Ya que TT (t) = 20 sen t y TM (t) = 0.1 20sen(t 85 ), el error es (t) = 20(0.1sen(t 85 ) sen t) Ntese que en el caso de una entrada sinusoidal, la salida tambin registrar una onda seno, es decir, la forma de onda de la seal es invariante aun cuando haya una reduccin en amplitud y un cambio de fase. En la prctica la seal de entrada para un sistema de medida es ms probable que sea peridica en lugar de una simple onda seno. Una seal peridica es aquella que se repite en intervalos iguales de tiempo T , es decir, f (T ) = f (t + T ) = f (t + 2T ), etc., donde T es el perodo. Un ejemplo de una seal peridica medida es la variacin de la temperatura interna de una mquina diesel; otro es la vibracin de la cubierta de un compresor centrfugo [4]. Adems, para el clculo de los errores dinmicos para seales peridicas, se necesita usar anlisis de Fourier. Cualquier seal peridica f (t) con perodo T , puede ser representada como una serie de ondas seno o coseno; stas tienen frecuencias las cuales son armnicas de la frecuencia fundamental 1 = 2/T rad s1 , es decir, f (t) = a0 + donde an = bn = ao = 2 T 2 T 1 T Z
+T /2 X
an cos n1 t +
n=1
n=1
bn senn 1 t
(3.4.11)
f (t) cos n 1 tdt f (t)sen n1 tdt f (t)dt (3.4.12)
T /2 Z +T /2 T /2 Z +T /2 T /2
Si f (t) = u(t), donde u(t) es la variacin de la seal de entrada medida u(t), para el estado estacionario o valor d.c. de u0 , entonces a0 = 0. Si tambin se asume que f (t) es impar, es decir f (t) = f (t), entonces an = 0 para todo n, es decir, hay solamente trminos seno presentes en la serie. La seal de entrada del sistema est dada por u(t) =
X
un sen n1 t
(3.4.13)
n=1
3.4. ERRORES DINMICOS EN SISTEMAS DE MEDIDA
65
donde un = bn es la amplitud del nsimo armnico a la frecuencia n 1 . Con el n de encontrar (t), primero supngase que solamente el nsimo armnico un sen n1 t es la entrada para el sistema. De la Fig. 3.12, la correspondiente seal de salida es un |G(jn 1 )| sen(n 1 t + n ) donde n = arg G(jn 1 ). Ahora se requiere usar el principio de superposicin, el cual es una propiedad bsica de los sistemas lineales (es decir, sistemas descritos por ecuaciones diferenciales lineales). Esto puede establecerse como sigue: Si una entrada u1 (t) produce una salida 1 (t) y una entrada u2 (t) produce una salida 2 (t), entonces una entrada u1 (t) + u2 (t) producir una salida 1 (t)+ 2 (t), siempre que el sistema sea lineal. Esto signica que la seal total de entrada es la suma de muchas formas de onda (ecuacin 3.4.13), entonces la seal total de salida es la suma de las respuestas a cada onda seno, es decir X un |G(jn1 )| sen (n 1 t + n ) (3.4.14) (t) =
n=1
El error dinmico del sistema con seal de entrada peridica es (t) =

X
n=1
un [|G(jn 1 )| sen (n1 t + n ) sen n 1 t]
(3.4.15)
Ejemplo 4 Supngase que la entrada al sistema de medida de temperatura es una onda cuadrada de amplitud 20 C y perodo T = 6s (es decir, 1 = 2/T 1rads1 ). La serie de Fourier para la seal de entrada es TT (t) = 1 1 1 80 [sen t + sen 3t + sen 5t + sen 7t + ] 3 5 7 (3.4.16)
La Fig. 3.13 muestra las relaciones amplitudfrecuencia y fasefrecuencia para una temperatura de entrada; stas denen el espectro de frecuencia de la seal. El espectro consiste de un nmero de lneas a frecuencias 1 , 31 , 5 1 , etc., de longitud decreciente para representar las pequeas amplitudes de los armnicos superiores. En casos prcticos se puede terminar o truncar la serie en un armnico donde la amplitud es despreciable, en este caso se escogi n = 7. Adems para encontrar la seal de salida, es decir, la forma de onda registrada, se necesita evaluar la magnitud y el argumento de G(j) en = 1, 3, 5, 7 rads1 . De nuevo el valor anterior est determinado principalmente por la constante de tiempo del orden de 10s; la frecuencia alta de la seal = 7 an est bajo la frecuencia natural del contador n = 200. La seal de salida del sistema es TM (t) = 80 [0.100sen(t 85 ) + 0.011sen(3t 90 ) +0.004sen(5t 92 ) + 0.002sen(7t 93 )]

(3.4.17) (3.4.18)
Ntese que en la seal de salida, las amplitudes del 3 , 5 y 7 armnico han sido relativamente reducidas a la amplitud de la frecuencia fundamental. El contador de forma de onda tiene por lo
66
Amplitud +20 0 0 -20 Forma de la onda de tiempo de la temperatura de entrada 0.1 Relacin de amplitud Caractersticas de la respuesta de la frecuencia en los sistemas de medida arg Diferencia de fase 0.01 -80 -90 -100 3 6 Fase 0 1 3 5 7
-1
80
25.5
Espectro de frecuencia de la temperatura de entrada
+2 0 -2 Forma de la onda de tiempo de la temperatura de salida (registrada) 3 6
2.6 0 -80 -90 -100

Espectro de frecuencia de la temperatura de salida (registrada)
Figura 3.13: Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica.
tanto una forma diferente de la seal de entrada as como tambin ha sido reducida en amplitud y cambiada en fase.
Las ideas anteriores pueden ser extendidas para calcular el error dinmico para seales de entrada aleatorias. Las seales aleatorias puede ser representadas por espectros continuos de frecuencia.
3.5. TCNICAS DE COMPENSACIN DINMICA
67
3.5
Tcnicas de compensacin dinmica
De la ecuacin (3.4.15) se nota que adems para tener E(t) = 0 para una seal peridica, se deben obedecer las siguientes condiciones: |G(j1 )| = |G(j2 1 )| = = |G(jn1 )| = = |G(jm1 )| = 1 (3.5.1)
arg G(j 1 ) = arg G(j21 ) = = arg G(jn 1 ) = arg G(jm 1 ) = 0 donde m es el orden del armnico superior ms signicativo. Para una seal aleatoria con un espectro de frecuencia continuo que contiene frecuencias entre 0 y MAX , se requiere: |G(j1 )| = 1 y arg G(j 1 ) = 0 para 0 < 6 MAX (3.5.2)
Las condiciones anteriores representan un ideal terico el cual ser dcil de realizar en la prctica. En un criterio ms prctico se limita la variacin en |G(j)| a un pequeo porcentaje de las frecuencias presentes de la seal. Por ejemplo, la condicin: 0.98 < |G(j)| < 1.02 para 0 < 6 MAX (3.5.3)
asegura que el error dinmico est limitado a 2 por ciento para una seal que contenga MAX Hz. frecuencias mayores a 2 Otro criterio comunmente usado es el del ancho de banda. El ancho de banda de un elemento o sistema es el rango de frecuencias para las cuales |G(j)| es mayor que 1/ 2. Puesto que, sin embargo, hay un 30 % de reduccin en |G(j)| en B ,el ancho de banda no es un criterio particularmente usado para sistemas completos de medida. El ancho de banda se usa comunmente en la determinacin de la respuesta en frecuencia de los amplicadores; una reduccin en |G(j)| desde 1 hasta 1/ 2 es equivalente a un cambio en decibeles de N = 20 log(1/ 2) = 3.0dB. Un elemento de primer orden tiene un ancho de 1 banda entre 0 y rad s1 . Si en un sistema no se pueden encontrar los lmites especicados del error dinmico (t); es decir, la funcin de transferencia del sistema G(s) no satisface una condicin tal como (3.5.3), entonces el primer paso es identicar cuales elementos en el sistema dominan el comportamiento dinmico. En el sistema de medida de temperatura de la seccin anterior, el error dinmico se debe casi totalmente a la constante de tiempo 10s de la termocupla. Teniendo identicados los elementos dominantes del sistema, el mtodo ms obvio de mejoramiento de la respuesta dinmica es el de diseo intrnseco. En el caso del sensor de temperatura de primer orden con = mC/UA, puede hacerse mnimo, minimizando la razn masa/rea m/A por ejemplo, usando un termistor en la forma de lmina delgada. p En el caso de de un sensor de fuerza de segundo orden con n = k/m, n puede hacerse mxima maximizando k/m, es decir, usando alta rigidez k y baja masa m. Sin embargo, al
68
Figura 3.14: Respuesta en frecuencia de la magnitud de un elemento de segundo orden. incrementar k, se reduce la sensibilidad de estado estacionario K = 1/k. De la respuesta al escaln en los sistemas de segundo orden y la grca de la respuesta en frecuencia se ve que el valor ptimo de la razn de amortiguacin est alrededor de 0.7. Este valor asegura un tiempo de establecimiento mnimo para la respuesta al escaln y |G(j)| se acerca a la unidad para la respuesta en frecuencia (respuesta plana en la banda pasante) [20]. Otro mtodo posible es el de compensacin dinmica de lazo abierto (Fig. 3.15). Dado un elemento sin compensacin o sistema Gu (s), se introduce un elemento de compensacin Gc (s) en el sistema, tal que la funcin de transferencia total G(s) = Gu (s)Gc (s) satisfaga la condicin requerida (por ejemplo la ecuacin (3.5.3)). As, si se emplea un circuito de adelantoatrazo con una termocupla 3.15, la constante de tiempo total se reduce a 2 de modo que |G(j)| se acerque a la unidad sobre un rango ms ancho de frecuencias. El principal problema con este mtodo es que puede cambiar con el coeciente de transferencia de calor U , reduciendo as la efectividad de la compensacin. Otro mtodo consiste en incorporar el elemento a ser compensado en un sistema de lazo cerrado con retroalimentacin negativa de alta ganancia. Un ejemplo es el acelermetro de lazo cerrado mostrado en forma de esquemtica y diagrama de bloques en la Fig. 3.16. La aceleracin aplicada a produce una fuerza de inercia ma en la masa ssmica m. sta se equilibra con la fuerza que el imn permanente ejerce sobre la corriente de realimentacin de la bobina. Cualquier desbalance de fuerzas se detecta por el elemento elstico de fuerza con lo cual se produce un desplazamiento el cual se detecta con el sensor de desplazamiento potenciomtrico. La tensin de salida del potencimetro se amplica produciendo una corriente de salida la cual
3.5. TCNICAS DE COMPENSACIN DINMICA
69
Elemento no compensado 1 1+ Termocupla
Elemento de compensacin 1 + 1 1 + 2 Circuito de adelanto y atraso 1 1 + 2
Figura 3.15: Compensacin dinmica en lazo abierto. se transere a la bobina de realimentacin a travs de un resistor normalizado para generar la tensin de salida. Analizando el diagrama de bloques se encuentra que la funcin de transferencia total del sistema es mR V (s) 1 = . (3.5.4) 2 k 1 2 k k (s) a KF s+ 1+ as +
KA KD KF n n KA KD KF KA KD KF
Si KA se hace sucientemente grande para que KA KD KF /k 1, entonces la funcin de transferencia del sistema puede ser expresada en la forma Ks 2 V (s) ns = 2 (s) a s + 2 s ns s + 2 ns donde la sensibilidad de estado estacionario del sistema es Ks = la frecuencia natural del sistema ns = n y la razn de amortiguamiento del sistema s = r k KA KD KF r KA KD KF k mR KF
Se ve que la frecuencia natural del sistema ns es ahora mucho mayor que la del elemento elstico de fuerza. La razn de amortiguamiento del sistema s es mucho menor que , pero haciendo grande puede obtenerse.un valor de s 0.7. Adems la sensibilidad de estado estacionario del sistema depende solamente de m, KF y R la cual puede ser constante en un alto grado.
70
Imn
Bobina
Cpsula
Fuerza de Fuerza no Inercia balanceada
Masa Ssmica Fuerza Electro magntica
Sensor de fuerza elstica
Sensor de desplazamiento potenciomtrico
Resistor normalizado
Bobina e imn
Figura 3.16: Esquema y diagrama de bloques de un acelermetro en lazo cerrado.
3.6
Determinacin experimental de los parmetros de un sistema de medida
Aunque el anlisis terico de los instrumentos es vital para revelar las relaciones bsicas involucradas en la operacin de un dispositivo, rara vez es sucientemente preciso para proporcionar valores numricos tiles a parmetros crticos tales como sensibilidad, constante de tiempo, frecuencia natural, etc. Ya se ha discutido la calibracin esttica; aqu se tratarn los mtodos para determinar experimentalmente las caractersticas dinmicas [11]. Para instrumentos de orden cero, la respuesta es instantnea de modo que no existen caractersticas dinmicas. El nico parmetro a ser determinado es la sensibilidad esttica K, la cual se encuentra por calibracin esttica. Para instrumentos de primer orden, la sensibilidad esttica K tambin se encuentra por calibracin esttica. Hay solamente un parmetro correspondiente a la respuesta dinmica, la constante de tiempo y sta puede encontrarse por varios mtodos. Un mtodo comn es aplicar una entrada escaln y medir como el tiempo requerido para llegar al 63.2% del valor nal. Este mtodo est inuido por imprecisiones en la determinacin del punto t = 0 y tampoco da una prueba de si realmente el instrumento es de primer orden. Existe un mtodo mejorado el
3.6. DETERMINACIN EXPERIMENTAL DE LOS PARMETROS DE UN SISTEMA DE MEDIDA71

y 1
0.75
0.5
0.25
0 0 2.5 5 7.5 x 10
Figura 3.17: Respuesta normalizada a un escaln. cual usa los datos de prueba de una funcin escaln redibujados en forma semilogartmica a n de obtener un mejor estimativo de y chequear en conformidad una respuesta verdadera de primer orden. Este mtodo se plantea como sigue. De la ecuacin (3.3.4) se puede escribir
t = 1 e K
(3.6.1)
la cual se encuentra gracada en la Fig. 3.17. De aqu se obtiene 1 Ahora se dene

t = e K
(3.6.2)
y entonces
t , ln 1 = K
(3.6.3)
d 1 = (3.6.4) dt As, si se graca vs t, se obtiene una linea recta cuya pendiente numricamente es 1/ . La Fig.(3.18) ilustra el procedimiento. Este da un valor ms preciso de puesto se que usa la mejor lnea a travs de todos los puntos de datos en lugar de slo dos puntos, como en el mtodo del 63.2%. Ms an, si los puntos de datos caen cerca de la lnea recta, esto asegura que el instrumento se comporta como del tipo de primer orden. Si los datos se desvan considerablemente de la lnea recta se entendera que el instrumento no es de primer orden y un valor de obtenido por el mtodo del 63.2% sera muy engaoso. Una vericacin (o refutacin) an ms fuerte de las caractersticas dinmicas de primer orden es disponible de la prueba de respuesta frecuencial, aunque a considerable costo de tiempo
72

0 0 2.5 5 7.5 x 10
-2.5
-5
-7.5
-10
Figura 3.18: Pueba de la funcin escaln para un sistema de primer orden. y dinero si el sistema no es completamente elctrico, puesto que los generadores sinusoidales no elctricos no son ni comunes ni baratos. Si se dispone del equipo, el sistema es sujeto a entradas sinusoidales sobre un amplio rango de frecuencias y tanto la entrada como la salida son registradas. La razn de amplitud y ngulo de fase se gracan sobre escalas logartmicas. Si el sistema es verdaderamente de primer orden, la razn de amplitud siguen las tpicas asntotas para bajas y altas frecuencias (pendiente cero y 20 dB/dcada) y el ngulo de fase tiende e asintticamente a 90 . Si estas caractersticas estn presentes, el valor numrico de se encuentra determinando en el punto de quiebre y usando = 1/ b (ver Fig. 3.19). Las desviaciones de las anteriores, caractersticas de amplitud y fase indican un comportamiento diferente al de un primer orden. Para sistemas de segundo orden, K se encuentra por calibracin esttica y y n se pueden obtener de diferentes maneras a travs de pruebas sobre funciones en escaln o respuesta frecuencial. La Fig. 3.20(a) muestra un respuesta tpica a un escaln para un sistema subamortiguado de segundo orden Los valores de y n se pueden encontrar de las relaciones v u 1 (3.6.5) = u 2 u t +1 ln(a/A) 2 p n = (3.6.6) T 1 2 Cuando un sistema est ligeramente amortiguado, cualquier entrada transitoria rpida producir una respuesta similar a la de la Fig. 3.20(b). Entonces se puede aproximar a ln(x1 /xn ) 2n
(3.6.7)
1 b =
log
-20 dB / dcada 0 -45 -90
Figura 3.19: Prueba de respuesta frecuencial de un sistema de primer orden. p Esta aproximacin supone que 1 2 1.0, la cual es muy precisa cuando < 0.1, y de nuevo n .puede encontrarse de la ecuacin (3.6.6). Si al aplicar la ecuacin (3.6.6), se presentan muchos ciclos de oscilacin en el registro, es ms preciso determinar el perodo T como el promedio de tantos ciclos distintos como sean posibles, en lugar de uno solo. Si un sistema es estrictamente lineal y de segundo orden, el valor de n en la ecuacin (3.6.7) carece de importancia: el mismo valor de se encontrar para cualquier nmero de ciclos. As, si se calcula para n = 1, 2, 4 y 6 y se obtienen diferentes valores numricos de , se entiende que el sistema no est siguiendo el modelo matemtico postulado. Para sistemas sobreamortiguados ( > 1.0) no existen oscilaciones y la determinacin de y n se torna ms difcil. Usualmente es ms fcil expresar la respuesta del sistema en trminos de dos constantes de tiempo 1 y 2 , en vez de y n . De la ecuacin (3.3.11) se puede escribir f0 (t) = 1 donde 1 , 2 , 1 p 2 1 n 1 p + 2 1 n (3.6.9) (3.6.10) 2 1 et/ 2 + et/ 1 2 1 2 1 (3.6.8)
74
Tiempo Tiempo 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0

ciclos
1
(b)
(a)
Figura 3.20: Pruebas de escaln e impulso para sistemas de segundo orden. Para encontrar 1 y 2 de la curva de respuesta a una funcin escaln se puede proceder como sigue [2]: 1. Denir el porcentaje de respuesta incompleta Rpi como 100 Rpi , 1 K 2. Dibujar Rpi en escala logartmica contra una escala lineal del tiempo t. Si el sistema es de segundo orden, esta curva se aproximar a una lnea recta para valores grandes de t. Prolongar esta lnea hasta cero, y anotar el valor P1 donde la lnea intercepta la escala Rpi . Ahora, 1 es el tiempo en el cual la asntota de la lnea recta tiene el valor de 0.368P1 . 3. Ahora se dibuja sobre la misma grca una nueva curva, la cual es la diferencia entre la asntota en lnea recta y Rpi . Si esta nueva curva no es una lnea recta, el sistema no es de segundo orden. Si es una lnea recta, el tiempo en el cual esta lnea tiene el valor 0.368(P1 100) es numricamente igual a 2 .
150 100 80 70 60 50 40
P1
0.368
2
0.368 [ 20
- 100]
10 5 0 0 1 2 3 4 5 6 7
Figura 3.21: Prueba de la funcin escaln para sistemas de segundo orden. La Fig. 3.21 ilustra este procedimiento. Una vez que 1 y 2 se han encontrado, los valores de y n se pueden determinar de las ecuaciones (3.6.9) y (3.6.10). Para encontrar y n o 1 y 2 tambin se pueden usar los mtodos de respuesta en frecuencia. La Fig. 3.22 muestra la aplicacin de estas tcnicas. Los mtodos mostrados usan solamente la curva de relacin de amplitud. En este caso se aplica la siguiente relacin para encontrar Ap 1 = p A0 2 1 2 (3.6.11)
donde Ap es el valor mximo de la magnitud para la respuesta frecuencial (valor de la respuesta del sistema subamortiguado) y A0 es el valor de la magnitud para frecuencia cero (o frecuencia mnima si es en escala logartmica). Si se dispone de las curvas fasengulo, stas constituyen una valiosa forma de chequeo del modelo propuesto. Para sistemas de medida de forma arbitraria (en contraposicin a los tipos de primer y segundo orden), usualmente se desea la descripcin del comportamiento dinmico en trminos de la respuesta en frecuencia. Esta informacin puede ser obtenida haciendo pruebas con seales sinusoidales, de pulsos, o aleatorias, siguiendo los mtodos generales usados experimentalmente
76
Figura 3.22: Prueba de respuesta en frecuencia de un sistema de segundo orden. para determinar los modelos matemticos de sistemas fsicos. Cuando el sistema fsico a ser estudiado es un sistema de medida, la seal de salida o es en si misma generalmente til y no se requiere la seal de salida de un sensor separado. Sin embargo, usualmente se requiere medir la seal de entrada ui con un sensor separado, el cual sirve como el patrn de calibracin y cuya precisn se conoce, y es alrededor de 10 veces mejor que la del sistema a ser calibrado. Si se puede obtener de esta manera la relacin (o /ui )(i) para el sistema de medida, sta dene el rango de frecuencias bajo las cuales no se requieren correcciones y se proveen los datos necesarios para hacer correcciones dinmicas (usando los mtodos de transformacin) si se desea usar el instrumento en su rango de respuesta en frecuencia no plana.
3.7
Efectos de la carga en sistemas de medida
En la discusin de sistemas de medida, no se ha considerado hasta ahora los efectos producidos por la carga. Un importante efecto es la carga interna del elemento por medio de la cual un elemento dado en un sistema puede modicar las caractersticas de los elementos anteriores (por ejemplo, por drenaje de corriente). A su vez las caractersticas de este elemento pueden ser modicadas por el siguiente elemento en el sistema. Un segundo efecto ms fundamental, es el del proceso de carga, donde la introduccin del elemento sensible en el proceso o sistema a ser medido hace que cambie el valor de la variable medida. As, la introduccin de un sensor de temperatura dentro de un recipiente para lquido puede ocasionar que la temperatura descienda, v. gr., 0.2 C. En esta seccin se discuten las dos formas de carga, primero examinando los
3.7. EFECTOS DE LA CARGA EN SISTEMAS DE MEDIDA
77
principios de la carga elctrica y luego extendiendo estos principios a los efectos de la carga en general.
3.7.1
Carga elctrica
Se ha representado hasta ahora los sistemas de medida como bloques conectados por lneas simples donde la transferencia de informacin y energa est en trminos de una sola variable. As, en el sistema de medida de temperatura Fig. 2.15 la transferencia de informacin entre los elementos est en trminos nicamente del voltaje. Por lo tanto, no se puede identicar la corriente drenada en el amplicador generada por la termocupla, ni la corriente drenada en el indicador generada por el amplicador. Con el n de describir el comportamiento tanto del voltaje como de la corriente en la conexin de dos elementos se necesita representar cada elemento por un circuito equivalente caracterizado por dos terminales. La conexin est representada entonces por dos lneas.
3.7.2
Circuito equivalente Thvenin
El teorema Thvenin establece que cualquier red que consista de impedancias lineales y fuentes de tensin puede reemplazarse por un circuito equivalente que consiste de una fuente de tensin VT h y una impedancia en serie ZT h (Fig. 3.23). La fuente VT h es igual a la tensin de circuito
> i
Red lineal
ZL
+ V Th Z Th
+ VL
_ ZL
Figura 3.23: Circuito equivalente de Thvenin. abierto de la red a travs de los trminales de salida, y ZT h es la impedancia mirando hacia atras en estos terminales, con todas las fuentes de tensin reducidas a cero y reemplazadas por sus impedancias internas. As, conectar una carga ZL a travs de los trminales de salida de la red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito Thvenin. La corriente i en ZL est dada por VT h (3.7.1) i= ZT h + ZL
78
y la tensin VL en la carga es VL = iZL =
1 VT h 1 + ZTLh Z
(3.7.2)
De la ecuacin (3.7.2) se ve que si ZL ZT h , entonces VL VT h ; es decir, que con el n de obtener la mxima transferencia de tensin desde la red hasta la carga, la impedancia de carga debe ser mucho mayor que la impedancia Thvenin de la red. Con el n de obtener la mxima transferencia de potencia desde la red hacia la carga, la impedancia de carga deber ser igual a la impedancia de la red; es decir, ZL = ZT h . Ahora se puede discutir el circuito equivalente Thvenin para el sistema de medida de temperatura de la Fig. 2.15. La termocupla puede estar representada por ZT h = 20 (resistiva) y ET h = 40T V , donde T es la medida de la temperatura en la unin, si se ignoran los efectos de la no linealidad y temperatura de la unin de referencia. El amplicador acta como una carga para la termocupla y como una fuente de voltaje para el indicador. La Fig. 3.24 muestra un circuito equivalente general para un amplicador con dos pares de terminales. Usando los datos
Zo
>
+
vi
Zi
+ A vi -
Figura 3.24: Circuito equivalente de un amplicador. tpicos de un amplicador, se tiene una impedancia de entrada ZI = RI = 2 106 , la ganancia de voltaje de circuito abierto A = 103 , la impedancia de salida ZO = RO = 75. El indicador es una carga resistiva de 104 . El circuito equivalente completo para el sistema se muestra en la Fig. 3.25, y usando la ecuacin (3.7.2) se tiene 104 2 106 y Vn = 1000VI (3.7.3) 2 106 + 20 75 + 104 Si la escala del indicador muestra que un cambio de 1V en VL produce un cambio en la deexin de 25 C, entonces la temperatura medida serTM = 25VL . sto da 104 2 106 TM = T = 0.9925T (3.7.4) 2 106 + 20 104 + 75 VI = 40 106 T es decir, se ha introducido un factor ZL /ZT h + ZL en cada interconexin de dos elementos para admitir la carga. El error por carga L = 0.0075T ; es adems el error de estado estacionario debido a las imperfecciones de los elementos.

75
79
20
>
T Temperatura verdadera
+
vi
2M
+ 1000 vi 10k
TM =25V L Temperatura medida Indicador
>
-
40T V
Amplificador
Termocupla
Figura 3.25: Equivalente Thvenin para un sistema de medicin de temperatura. El error por carga en el ejemplo anterior es pequeo, pero si no se toma cuidado, ste puede ser muy grande. Supngase ahora, que un electrodo de vidrio para medir pH, con sensibilidad 59 mV por pH, es decir, ET h = 59pHmV y ZT h = RT h = 109 , est conectado directamente a un indicador 1 con ZL = RL = 104 y una escala de sensibilidad 59 pH/mV. La medida de pH es 104 1 pHM = 59pH 105 pH (3.7.5) 104 + 109 59 es decir, aqu estar efectivamente un indicador cero para cualquier valor no cero. As el probelma es resuelto conectando el elctrodo a un indicador por medio de amplicador buer. Est est caracterizado por ZIN grande, ZOUT pequeo y una ganancia unitaria A = 1. Por ejemplo, un amplicador operacional con una etapa de entrada con FET conectado con un seguidor de voltaje, tendr una ZIN = 1012 , ZOU T = 10. El indicador del valor pH para el sistema modicado (Fig:(zz)) es 1012 104 pH pHM = 12 4 10 + 109 10 + 10 y el error por carga es ahora 0.002pH, es cual es negativo. Un ejemplo del efecto de la carga ac, se muestra en la Fig. 3.26, la cual representa el circuito equivalente de un tacogenerador con reluctancia variable conectado a un registrador. El voltaje Thvenin VT h para el tacogenerador es tipo ac con una amplitud Vp y una frecuencia angular , ambos proporcionales a la velocidad mecnica angular r . En este ejemplo, Vp = (5.0103 ) r V y = 6 r rad s1 . La impedancia Thvenin ZT h para el tacogenerador es una inductancia y una resistencia en serie (un imn rodeado por una bobina), es decir, ZT h = RT h + jLT h . As, si r = 103 rad s1 ; Vp = 5V, = 6 103 rad s1 y ZT h = 1.5 + j6.0k, tal que la amplitud del voltaje registrado es VL = Vp 10 RL = 5p = 3.85V |ZT h + RL | [(11.5)2 + (6.0)2 ] (3.7.6)
Si la escala de sensibilidad del registrador alcanza el valor de 1/(5 103 )rad s1 , la velocidad angular registrada es 770rad s1 . Este error puede eliminarse bien sea incrementando la
80

L th 1H R th 1.5k + Vp sen t RL 10k V L
V th
Tacogenerador de reluctancia variable
Registrador
Figura 3.26: Carga a.c. de un tacogenerador. impedancia del registrador o cambiando su sensibilidad para evitar los efectos de la carga. Una mejor alternativa es reemplazar el registrador por un contador que mida la frecuencia en lugar de la amplitud de la seal del tacogenerador.
3.7.3
Ejemplo del clculo de un circuito equivalente Thvenin
La Fig.(zz) muestra un digrama esquemtico de un sensor potenciomtrico para medida de desplazamientos d. La resistencia del potencimetro varia linealmente con el desplazamiento. As si x = d/dT es el desplazamiento fraccional, la resistencia correspondiente es Rp x, donde Rp es la resistencia total del potencimetro. El voltaje Thvenin ET h es el voltaje de circuito abierto a travs de los terminales de salida AB. La relacin entre ET h y la fuente de voltaje Vs es igual a la relacin de la resistencia fraccional Rp x; que es Rp x ET h = , Vs Rp dando ET h = Vs x (3.7.7)
La impedancia Thvenin ZT h se encuentra escogiendo una fuente de voltaje Vs = 0, reemplazando la fuente por sus impedancia interna (se asume cero), y calculando la impedancia vista desde los terminales AB como se muestra en la Fig.(zz). Asi 1 1 1 + = RT h Rp x Rp (1 x) dando RT h = Rp x(1 x) (3.7.8) As el efecto de conectar una carga resistiva RL (el registrador o el indicador) a travs de los terminales AB es equivalente a conectar RL a travs del circuito Thvenin.El voltaje de carga
3.7. EFECTOS DE LA CARGA EN SISTEMAS DE MEDIDA es VL = ET h es decir VL = Vs x
81
RL RL = Vs x RT h + RL Rp x(1 x) + RL 1 (Rp /RL )x(1 x) + 1 (3.7.9)
La relacin entre VL y x es no lineal, el valor de la linealidad depende de la relacin Rp /RL (Fig.zz). As el efecto de la carga en un sensor potenciomtrico lineal es introducir un error no lineal en el sistema dando 1 N (x) = ET h VL = Vs x 1 (Rp /RL )x(1 x) + 1 es decir N (x) = Vs x2 (1 x)(Rp /RL ) 1 + (Rp /RL )x(1 x) (3.7.10)
el cual se reduce a N (x) Vs (Rp /RL )(x2 x3 ) si Rp /RL 1 (situacin normal). N (x) tiene 4 un valor mximo de N = 27 Vs (Rp /RL ) cuando x = 2 , corresponde a dN/dx = 0 y un valor 3 negativo d2 N/dx2 . Expresando N como un porcentaje de la escala full de deexin o giro Vs voltios da: Rp 400 Rp % 15 % (3.7.11) N= 27 RL RL Los requerimiento de no linelidad de la sensibilidad y la mxima potencia son usados para especicar los valores de Rp y Vs para una aplicacin dada. Supngase que un potencimetro de rango 10cm est conectado a un registrador de 10. Si la mxima no linealidad no debe exceder el 2%, entonces se requiere 15Rp /RL 6 2, es decir Rp 6 20 103 ; as un potencimetro de 15 1K podr ser adecuado. Como la sensibilidad es dVL /dx Vs , la sensibilidad mas grande que Vs
3.7.4
Circuito equivalente Norton
EL teorema Norton establece que cualquier red que contenga impedancias lineales y fuentes de voltaje puede ser reemplazado por un circuito equivalente consistente de una fuente de corriente iN en paralelo con una impedancia ZN (Fig.zz). ZN es la impedancia vista desde los terminales de salida con todas las fuentes de voltaje reducidas a cero y reemplazadas por su impedancia interna, y iN es la corriente que uye cuando los terminales estn corto circuitados. Conectando una carga ZL a travs de los terminales de la red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito Norton. El voltaje VL a travs de la carga est dado por VL = IN Z, donde 1/Z = 1/ZN + 1/ZL , dando ZN ZL (3.7.12) VL = iN ZN + ZL
82
De (3.7.12) se nota que si ZL ZN , entonces VL iN ZL ; es decir, que adems para desarrollar la mxima corriente a travs de la carga, la impedacnia de carga deber ser ms pequea que la impedancia Norton para la red. Un ejemplo comn de una fuente de corriente es un transmisor de presin diferencial electrnico que entrega una seal de corriente a la salida, en un rango de 4 a 20mA, proporcional a la presin diferencial de entrada, de rangos tpicos de 0 a 2 104 P a. La (Fig.zz) muestra un circuito equivalente tpico para el transmisor conectado a un registrador por medio de un cable. Usando (3.7.12), a travs de la carga total RC + RR del registrador y el cable es VL = iN RN (Rc + RR ) RN + RC + RR (3.7.13)
y la relacin VR /VL = RR /(Rc + RR ) dondo el voltaje del registrador VR = iN RR RN RN + RC + RR (3.7.14)
Usando los datos dados, se tiene que VR = 0.9995iN RR tal que el voltage del registrador diverja del rango deseado de 1 a 5V solamente el 0.05 por ciento. Un segundo ejemplo de un generador de corriente est dado por un cristal piezoelctrico actuando como un sensor de fuerza. Si una fuerza F es aplicada a cualquier cristal, entonces los tomos del cristal experimentan un pequeo desplazamiento x proporcional F . Para un material piezoelctrico el cristal adquiere una carga q proporcional a x es decir, q = Kx. El cristal puede por lo tanto ser visto como una fuente de corriente Norton de magnitud iN = dq/dt = K(dx/dt), donde dx/dt es la velocidad de las deformaciones atmicas. Este efecto se discute mejor en la seccin 8.7. donde se ve que el cristal acta como capacitor CN en paralelo con la fuente de corriente iN . La gura 5.11 muestra el circuito equivalente y los valores tpicos de los componentes para un cristal conectado por medio de un cable capacitivo CC a un grabador que acta como una carga resistiva RL . El voltaje VL atravs de la carga est dado por iN Z, donde Z es la impedancia de CC , CN y RL en paralelo. Puesto que 1 Z = CN s + CC s + 1 RL
Z =
RL 1 + RL (CN + CC )s
donde s denota el operador de Laplace. La funcin de transferencia que relaciona los cambios dinmicos de la corriente de la fuente y el voltaje de la grabadora es as RL VL (s) = N (s) 1 + RL (CN + CC )s (3.7.15)
As, el efecto de la carga elctrica en este ejemplo es para introducir una funcin de transferencia en un sistema de medicin de fuerza; esto afectar la exactitud dinmica.
83
3.7.5
Carga Generalizada
Se ha visto en la seccin previa como los efectos de la carga elctrica pueden ser descritos usando un par de variables, el voltaje y la corriente. El voltaje es un ejemplo de una variable a travs de o esfuerzo y, corriente es un ejemplo de variable de traspaso o ujo x. Una variable de esfuerzo conduce a una de ujo a travs de una impedancia. Otros ejemplos de pares esfuerzo-ujo son fuerza-velocidad, torque-velocidad angular, diferencia de presin-ujo de volumen, diferencia de temperatura-ujo de calor. Cada par y x tiene la propiedad de que el producto y x representa potencia en vatios (excepto por las variables de temperatura, que tienen dimensiones de vatiostemperatura). La tabla 5.1. (adaptada de [2] ) enlista los pares de esfuerzo-ujo de diferentes formas de energa y cada par dene las cantidades relacionadas de impendancia, rigidez, exibilidad e inertancia. As se ve que los conceptos de impedancia estn aplicados a mecnica, udica y sistemas trmicos tambin como electricos. Para un sistema mecnico la masa es anloga a la inductancia elctrica, la constante de amortigamiento es anloga a la resitencia elctrica, y 1/rigidez es anlogo a la capacitancia elctrica. Para un sistema trmico la resistencia trmica es anloga a la resistencia elctrica, la capacitancia trmica es anloga a la capacitancia elctrica. Esto signica, que pueden generalizarse los circuitos elctricos equivalentes de Thvenin y de Norton a sistemas no elctricos. Se pueden entonces estudiar ejemplos de como un elemento sensor primario puede cargar el proceso o el sistema a ser medido. La Fig.(zz) muestra un sistema mecnico o proceso representado por una masa, un resorte y un amortiguador. La fuerza F aplicada a el proceso est siendo medida por un sensor de fuerza, que consiste de un elemento elstico en unin con un sensor de desplazamiento potencimetrico. El sensor elstico de fuerza puede tambin representarse por una masa, un resorte y un amortigador. Bajo condiciones de estado estacionario cuando la velocidad sea x = 0 y la acaleracin sea x = 0, se tienen las siguientes ecuaciones de balance de fuerzas: proceso sensor F = kp x + Fs (3.7.16)
Fs = ks x
mostrando que la relacin entre la fuerza medida Fs y la fuerza verdadera F es Fs = Ks 1 F = F ks + kp 1 + kp /ks (3.7.17)
Adems se ve que para minimizar el error de carga en el estado estacionario el sensor de rigidez ks podr ser mucho ms grande que la rigidez procesada kp . Bajo condiciones de inestabilidad cuando x no sea cero, la segunda ley de Newton da las siguientes ecuaciones diferenciales: proceso sensor F kp x p x Fs = mp x rFs ks x s x = ms x
(3.7.18)
84
es decir
mp
Z dx + p x + kp xdt = F Fs dt Z dx + s x + ks xdt = Fs ms dt
(3.7.19)
Utilizando las analogias dadas al principio, el sensor puede representarse por Fs conduciendo x a travs del circuito mecnico L, C, R ,ms , 1/ks , s ; y el proceso puede representarse por F Fs conduciendo x a travs del circuito mecnico L, C, R ,mp , 1/kp , p . Si x, F y Fs se derivan de las condiciones estacionarias iniciales, entonces la transformada de Laplace de las ecuaciones (3.7.19) son: kp ___ x = F Fs (3.7.20) mp s + p + s ks ___ x = Fs ms s + s + s Usando la tabla () se puede denir la funcin de transferencia de la impedancia mecnica por ___ ZM (s) = F / x (s), tal que impedancia del proceso impedancia del sensor ZMP (s) = mp s + p + kp s ks (s) = ms s + s + s (3.7.21) (3.7.22)
De (3.7.20) y (3.7.22) la relacin entre los cambios dinmicos entre la fuerza medida y la real es Fs (s) = ZMS F (s) ZMS + ZMP (3.7.23)
Adems para minimizar los efectos de la carga dinmica, la impedancia del sensor ZMS puede ser mucho ms grande que la impedacnia del proceso ZMP . La Fig.() muestra el circuito equivalente para el sistema: proceso , sensor de fuerza y el registrador. Se ve que el circuito equivalente completo para el sensor de fuerza es una red de cuatro terminales o de dos puertos. Esto es similar al circuito equivalente para un amplicador electronico (Fig.zz) excepto que aqu el puerto de entrada involucra transferencia de energa mecnica. La Fig.(zz) muestra un cuerpo caliente, es decir, un proceso trmico cuya temperatura Tp est siendo medida por un sensor termocupla. Bajo condiciones de inestabilidad, las consideraciones de razn de ujo de calor son dadas por las siguientes ecuaciones diferenciales: proceso sensor Mp Cp dTp dt dTs Ms Cs dt = Wp Ws , = Ws , Wp = Up Ap (TF Tp ) Ws = Us As (Tp Ts ) (3.7.24)
85
donde M masa C calor especco U coeciente de transferencia de calor A rea de transferencia de calor Las cantidades Mp Cp , Ms Cs tiene las dimensiones de calor/temperatura y son anlogas a la capacitancia elctrica. Las cantidades Up Ap , Us As tiene las dimensiones de razn de ujo de calor/temperatura y son anlogas a 1/(resistencia elctrica). El circuito equivalente para el proceso y la termocupla est mostrado en la Fig. (zz). Se ve que la relacin entre TF y Tp depende de un divisor de potencia 1/Up Ap ,Mp Cp y la relacin entre Tp y Ts dependen del divisor de potencia 1/(Us As ), Ms Cs . De nuevo la termocupla puede representarse por una red de dos puertos con un puerto de entrada trmico y un puerto de salida elctrico. En conclusin se nota que la representacin de los elementos de un sistema de medida por redes de dos puertos permite que los efectos de la carga del proceso y entre los elementos sea cuanticados.
3.7.6
Efectos de la carga bajo condiciones dinmicas
El tratamiento de los efectos de la carga por medio de la impedancia, la admitancia, etc., se ha discutido en las seccin () para condiciones estticas. Todos esos resultados pueden ser inmediatamente transferidos para el caso de la operacin dinmica generalizando las deniciones en trminos de las funciones de transferencia Las ecuaciones bsicas que se reeren a valor sin alteracin qi1u y al valor real medido qi1m en la entrada del dispositivo es ui1m = ui1m = ui1m = ui1m = 1 ui1u Zgo /Zgi + 1 1 ui1u Ygo /Ygi + 1 1 ui1u Sgo /Sgi + 1 1 qi1u Cgo /Cgi + 1 (3.7.25) (3.7.26) (3.7.27) (3.7.28)
Las cantidades Z, Y, S y C fueron previamente consideradas por ser la razn de pequeos cambios en dos variables sistemas de anes bajo condiciones establecidas. Para generalizar esos conceptos, ahora se denen las cantidades Z, Y, S, y C como funciones de transferencia relacionando las mismas dos variables bajo las mismas condiciones excepto que ahora se considera la operacin dinmica. Es decir, se debe obtener (tericamente o experimentalmente) Z(s), Y (s), S(s), y C(s) si se desea usar el mtodo operacional de funcin de transferencia y Z(i), Y (i), S(i), y C(i) si se desea usar el mtodo de respuesta en frecuencia. Si esas cantidades deben ser encontradas experimentalmente usualmente la forma de respuesta en frecuencia es en su mayor parte usada. Esto signica, entonces que en la bsqueda,
86
se supone, Z(i),una de las dos variables involucradas en la denicin de Z juega el papel de una entrada cantidad la cual se varia sinusoidalmente en diferentes frecuencias. Esto causa un cambiosinusoidal en la otra variable (salida), y asi se puede hablar de una razn de amplitud y ngulo de fase entre esas dos cantidades, haciendo ahora Z(i) un nmero complejo que varia con la frecuencia. (Si el sistema es un poco no lineal, la aproximacin efectiva Z llega a ser una funcin tambin de amplitud de entrada). En la ecuacin (3.7.25) por ejemplo, Zgo y Zgi podrn ahora ser nmeros complejos; si esas son conocidas, se puede calcular la amplitud y fase de qi1m si la amplitud, fase, y frecuencia de una sinusoidal qi1m son dadas. La cantidad qi1m entonces podr ser la entrada actual (qi ) pra el dispositivo de medida, y se puede calcular qo si la funcin de transferencia (qo /qi )(i) se conocen. Es decir o 1 (i) Qi1u (i) Qo (i) = Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui As se puede denir una funcin de transferencia cargada (o /ui1u )(i) como (o ) o 1 (i) , (i) ui1u Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui (3.7.30) (3.7.29)
donde o , salida real del dispositivo de medida que no tiene carga en sus salidas ui , valor de la variable medida que puede existir si el dispositivo de medida no produce cargabilidad sobre el medio medido. Las ecuaciones (3.7.26), (3.7.27) y (3.7.28) pueden ser modicadas en forma similar. Tambin, si las ecuaciones diferenciales que relacionan o (t) se necesitan, se puede escribir (o ) o 1 (s) = (s) ui1u Zgo s)/Zgi (s) + 1 ui (3.7.31)
y entonces se obtine la ecuacin diferencial en la forma usual por medio del producto cruz [Zgo (s) + Zgi (s)]
n X i=0
ai si o = [Zgi (s)]
m X j=0
bj sj ui1u
(3.7.32)
Un ejemplo de los mtodos anteriores puede ser til. Considrese un dispositivo para medir la velocidad translacional, como se muestra en la Fig.(). La funcin de transferencia sin carga que relaciona el desplazamiento de salida x0 y la velocidad (medida) de entrada vi es obtenida como sigue: Bi (xi x0 ) Kis xo = Mi xo xo Ki (s) = 2 2 vi s / ni + 2 i s/ni + 1 (3.7.33) (3.7.34)
3.7. EFECTOS DE LA CARGA EN SISTEMAS DE MEDIDA donde Ki , sensibilidad esttica del instrumento , Bi Kis m/(m/s)
87
(3.7.35) (3.7.36) r Kis Mi rad/s (3.7.37)
Bi i , relacin de amortiguacin del instrumento , 2 Kis Mi ni , frecuencia natural del instrumento sin amotiguacin ,
Se ve que el instrumento es de segundo orden y asi se medir vi exactamente para frecuencias sucientemente bajas realtivas a in . Supngase ahora conectar el instrumento a un sistema de vibracin cuya velocidad deseamos medir, como en la Fig.(). La presencia del instrumento de medida distorcionar la velocidad que se trata de medir. El caracter de esta distorsin puede ser calculado aplicando la ecuacin (3.7.26), puesto que la cantidad medida es velocidad (un ujo variable), y asi la admitancia es la cantidad apropiada para usar. Se determina la admitancia de entrada Ygi (s) = (v/f )(s) de la Fig.() como sigue: f kis x0 = Mi xo Tambin f = Bi (v xo ) y, eliminado xo , se obtiene (1/Bi ) s2 / 2 + 2 i s/ ni + 1 v ni Ygi (D) = (s) = f s2 / 2 + 1 ni (3.7.40) (3.7.39) (3.7.38)
La Fig.() tambin muestra las frecuencias caractersticas de esta admitancia de entrada. La admitancia de salida Ygo (s) = (v/f )(s) del sistema de medida es obtenida de la Fig.(): f B x Ks x = M x (1/Ks ) s v (s) = 2 2 Ygo (s) = f s / n + 2s/ n + 1 (3.7.41) (3.7.42)
La frecuencia caracterstica de esta admitancia de salida se muestra en la Fig.(). Se puede ahora escribir xo (s) = vi1u xo (s) = vi1u xo 1 (s) Ygo (s)/Ygi (s) + 1 vi Ki 2 1 ni 2 s2 + 2 i ni s + 2 Bi s + 2 2 (1/Ks ) s ni ni n +1 s2 + 2 n s + 2 s2 + 2 i ni s + 2 n ni | {z }
efecto de la carga
(3.7.43)
88
donde xo , salida real del dispositivo de medida vi1u , velocidad que puede existir si el dispositivo de medida no produce cargabilidad. La Fig.() muestra que en este ejemplo el efecto de la carga es ms severo para frecuencias cercanas a la frecuencia natural del sistema de medida, pero cercano a cero para frecuencias muy bajas o muy altas. Puesto que los efectos de la carga pueden ser expresados en trminos de frecuencia, ellos pueden ser manejados para toda clase de entradas usando apropiadamente series de Fourier, transformada, o densidsad espectral de la media cuadrada.
Figura 3.27:
3.8
Seales y ruido en los sistemas de medida
Representacin esttica de las seales aleatorias a. La Fig.(zz) muestra un registro de una seal aleatoria obtenido durante una observacin peridica To . Puesto que la seal es aleatoria no se puede escribir por medio de una ecuacin algebraica continua y(t) para la seal de voltaje y en el tiempo t. Se puede, sin embargo, escribir por medio de los valores y1 a yN de N muestras tomadas en intervalos iguales T durante To . La primera muestra y1 es tomada en t = T , la segunda y2 es tomada en t = 2T , la isima yi es tomada en t = iT , donde i = 1, . . . , N .Los intervalos de muestreoT = To /N deben satisfacer el teorema de muestreo de Nyquist. Ahora se puede usar ese muestreo para para calcular las cantidades estticas de la seccin observada
3.8. SEALES Y RUIDO EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA
89
de la seal. Esas cantidades estticas observadas proporcionan una estimacin buena del comportamiento futuro de la seal, una vez la observacin peridica es completada, con tal que: a. To sea sucientemente extenso, es decir N es sucientemente grande. b. la seal sea estacionaria, es decir, las cantidades estticas de los trminos grandes no cambian con el tiempo.
3.8.1
Efectos del ruido y la interferencia en los circuitos de medida
En la seccin ?? se vi que la interconexin de dos elementos de medida, tales como una termocupla y un amplicador o transmisor de presin diferencial y una grabadora, pueden ser representados por un circuito equivalente, en el cual, ambos, una fuente de voltaje Thvenin o una fuente de corriente Norton se conecta a una carga. En una instalacin industrial, la fuente y la carga por lo general se encuentran a 100m de distancia y los ruidos o voltajes de interferencia pueden presentarse. La gura ??? muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a una serie de modos de interferencias; aqu un ruido o interferencia de voltaje VSM es una serie con medida de seal de voltaje ET h . La corriente i a travs de la carga es i= ET h + VSM ZT h + Rc + ZL
y el voltaje correspondiente a travs de la carga VL = ZL (ET h + VSM ) ZT h + Rc + ZL (3.8.1)
Normalmente se hace ZL Rc + ZT h para obtener la mxima transferencia de voltaje para la carga; bajo estas condiciones la ecuacin (3.8.1) llega a ser VL = ET h + VSM (3.8.2)
Esto signica que en un sistema de transmisin de voltaje todo el VSM est a travs de la carga, esto afecta el siguiente elemento en el sistema y posiblemente resulte un error en el sistema de medida. Se dene la relacin de seal a ruido o seal a interferencia S/N decibeles por ET h Ws S = 20 log10 = 10 log!0 dB (3.8.3) N VSM WN donde ET h y VSM los valores rms de los voltajes, Ws y WN son las correspondientes potencias de la seal total y del ruido. As si ET h = 1 V, VSM = 0.1 V , S/N = +20 dB. La Fig.() muestra un sistema de transmisin de corriente sujeto a las mismas series de modo de interferecnia de voltaje VSM . La fuente de corriente Norton iN se divide en dos partes, una
90
parte a travs de la impedancia de la fuente ZN , la otra parte a travs de ZL . Usando la regla del divisor de corriente, la corriente a travs de la carga debido a la fuente es i= ZN ZN + Rc + ZL
Adems aqui hay una interferencia de corriente iSM = VSM ZN + Rc + ZL
a travs de la carga debido a la interferencia de voltaje. El voltaje total a travs de la carga es por lo tanto VL = iZL + iSM ZL ZN ZL = iN ZL + VSM ZN + Rc + ZL ZN + Rc + ZL (3.8.4) (3.8.5)
Normalmente se hace Rc + ZL ZN para obtenr la mxima transferencia de corriente para la carga; bajo estas condiciones la ecuacin (3.8.5) llega a ser VL iN ZL + ZL VSM ZN (3.8.6)
Puesto que ZL /ZN 1, esto signica que con un sistema de transmisin de corriente solamente una pequea fraccin de VSM est a travs de la carga. As un sistema de transmisin de corriente tiene una mayor inmunidad inherente a las series de modos de interferencia que un sistema de transmisin de voltaje. En una termocupla el sistema de medida de temperatura, por esta razn, puede ser mejor convertir los milivoltios de la fem de la temocupla en una seal de corriente precedente a la transmisin, ms bien que transmitir la fem directamente. La Fig.(c) muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a modo comn de interferencia en el cual los potenciales de ambos lados de la seal del circuito son creados por VCM relativo al plano comn a tierra. Si como, ZL Rc + ZT h , la corriente i 0 para que el potencial caga a iRc /2 etc. puede ser despreciado. Bajo estas condiciones: Potencial en B = VCM Potencial en A = VCM + ET h y VL = VB VA = ET h . Esto signica que el voltaje a travs de la carga no est afectado por VCM ; All hay, sin embargo, la posibilidad de conversin de un voltaje en modo comn a modo serie.
3.8. SEALES Y RUIDO EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA
91
3.8.2
Fuentes de ruido y mecanismos de acople
Fuentes de ruido interno El movimiento aleatorio inducido por la temperatura de los electrones y otros transportadores de carga en resistores y semiconductores da un aumento a un correspondiente voltaje aleatorio llamado termal o ruido de Johnson. Este tiene una densidad de potencia espectral que es uniforme a lo largo de un rango innito de frecuencias (ruido blanco) pero proporcional a la temperatura absoluta K de el conductor, es decir: = 4Rk watts/Hz (3.8.7)
donde R ohmios es la resistencia de el conductor y k es la constante de Boltzmann= 1.4 1023 JK 1 . De la ecuacin ???? el ruido de potencia termal total entre las frecuencias f1 y f2 Hz es Z
f2
W =
f1
4Rk df = 4Rk(f2 f1 ) vatios
(3.8.8)
y de eq??? el voltaje rms correspondiente es p VRMS = W = 4Rk(f2 f1 )
(3.8.9)
As, si R = 106 , f2 f1 = 106 Hz y = 300K, VRMS = 130V y es por lo tanto comparable con las seales de bajo nivel como la salida de puente de galga de esfuerzo. Un tipo similar de ruido es llamado ruido de disparo; este ocurre en transistores y se debe a las uctuaciones aleatorias de la media en los cuales los transportadores difunden a travs de una unin. Este es de nuevo caracterizado por una densidad de potencia espectral a travs de un amplio rango de frecuencias.
92
Captulo 4
Anlisis Estadstico de Datos Experimentales

4.1 Introduccin
Prcticamente en todos los procesos de medicin se observan caractersticas aleatorias. An si el mismo sistema de medicin se utiliza para medir repetidamente un parmetro jo, los resultados no tendrn el mismo valor. Esta aleatoriedad puede ser causada por variables no controladas (o no controlables) que afectan la medida, o en la carencia de precisin en el proceso de medicin. En algunos casos la aleatoriedad de los datos es tan dominante que es difcil distinguir los datos de los valores indeseables. Esto es comn en experimentos en las ciencias sociales y a veces en ingeniera. En tales casos, la estadstica puede ofrecer herramientas que permiten separar valores indeseables de los datos recogidos
4.2
Conceptos Generales
En ingeniera, la tendencia general de datos es usualmente evidente; sin embargo, a menudo se requieren las herramientas estadsticas para identicar y generalizar las caractersticas de los datos de prueba o determinar los lmites en la incertidumbre de los mismos. Los tipos de errores en las mediciones se discutieron antes y generalmente se dividen en dos categoras: de sesgo y de precisin (o sistemticos y aleatorios, respectivamente). Los errores de sesgo son consistentes, los errores por repeticin pueden a menudo minimizarse por calibracin del sistema de medicin. Son los errores de precisn los que mejor se pueden tratar utilizando mtodos de anlisis estadstico. Los conceptos estadsticos son tiles no solo para la interpretacin de los datos experimentales sino tambin para planeamiento de los experimentos, particularmente aquellos con un gran nmero de variables independientes o parmetros. Para aplicar anlisis estadstico a datos experimentales se pueden plantear varios pasos: 93
94
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES Los datos se caracterizan por la determinacin de los parmetros que especican la tendencia central y la dispersin de los mismos. En el siguiente paso se selecciona la funcin de distribucin terica que sea ms adecuada para explicar el comportamiento de los datos. Se puede entonces utilizar la funcin terica elegida para predecir algunas propiedades de los datos.
4.2.1
Medidas de Tendencia Central
El parmetro ms comn usado para describir la tendencia central es la media, la cual se dene por: . x1 + x2 + + xn X xi = x= n n
i=1 n
(4.2.1)
donde los xi son los valores de los datos de la muestra y n es el nmero de mediciones. Para una poblacin con un nmero nito de elementos, N, con valores xi , la media se denota con el smbolo y est dada por: . x1 + x2 + + xn X xi = = N N
i=1 N
(4.2.2)
Los otros dos parmetros que describen la tendencia central son la mediana y la moda. Si las mediciones se ordenan en orden creciente o decreciente la mediana es el valor del centro del conjunto. Si el conjunto tiene un nmero par de elementos, la mediana es el promedio de los dos valores centrales. La moda es el valor de la variable que corresponde al valor pico de la probabilidad de ocurrencia del evento. En un espacio muestral discreto, la moda puede identicarse fcilmente como el valor de ms frecuente ocurrencia. En un espacio muestral continuo, la moda se toma como el punto medio del intervalo de datos con la frecuencia ms alta. Para algunas distribuciones (v. gr., distribucin uniforme), puede no existir la moda, mientras que para otras distribuciones (v. gr., distribucin bimodal) puede haber ms de una frecuencia pico y ms de una moda. Para una que tenga ms de una moda, las frecuencias de ocurrencia de cada moda no requieren ser las mismas. Aunque es comn para la media, la mediana y la moda tener valores muy cercanos, en algunas hojas de datos pueden aparecer valores signicativamente diferentes.
4.2.2
Medidas de Dispersin
Dispersin es la separacin o variabilidad de los datos. Las siguientes cantidades son las ms utilizadas para representar la magnitud de la dispersin de variables aleatorias alrededor de su valor medio:
4.2. CONCEPTOS GENERALES Tabla 4.1: Resultados de 60 mediciones de la temperatura en un ducto Nmero de Temperarura lecturas [ C] 1 1089 1 1092 2 1094 4 1095 8 1098 9 1100 12 1104 4 1105 5 1107 5 1108 4 1110 3 1112 2 1113 La desviacin de cada medida se dene como . di = xi x La desviacin media se dene como X |di | . d= n
i=1 n
95
(4.2.3)
(4.2.4)
La desviacin estndar de la poblacin, para una poblacin con un nmero nito de elementos, se dene como v uN . uX (xi x)2 =t (4.2.5) N
i=1
La desviacin estndar muestral se usa cuando los datos de una muestra se utilizan para estimar la desviacin estndar de la poblacin.
La desviacin estndar muestral, se dene como v u n . uX (xi x)2 S=t n1

i=1
(4.2.6)
96
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES Tabla 4.2: Medidas de la temperatura arregladas en intervalos. Intervalo Nmero de [ C] medidas 1085 T < 1090 1 1090 T < 1095 3 1095 T < 1100 12 1100 T < 1105 21 1105 T < 1110 14 1110 T < 1115 7 1115 T < 1120 2 La varianza se dene como varianza =
2 S2
para la poblacin para una muestra
(4.2.7)
Ejemplo 5 En la Tabla 4.1 se dan los resultados de las mediciones de la temperatura tomadas en un ducto de gas recalentado. Encontrar los valores correspondientes a los parmetros media, mediana, desviacin estndar, varianza y moda. Sol. En la Tabla 4.2 se muestran los datos arreglados para intervalos de temperatura. Para las mediciones de temperatura de la Tabla 4.1 los resultados son Media x = 1103 C Mediana xm = 1104 C Desviacin estndar S = 5.79 C Varianza S 2 = 33.49 C 2 Moda m = 1104 C
4.3
Probabilidad
La probabilidad es un valor numrico que expresa la posibilidad de ocurrencia de un evento relativo a todas las posibilidades en un espacio muestral. La probabilidad de ocurrencia de un evento A se dene como el nmero de ocurrencias exitosas (m) dividido por el nmero total de resultados (n) en un espacio muestral, evaluada para n 1. Entonces m (4.3.1) n El evento puede ser representado por una variable aleatoria continua x, en cuyo caso la probabilidad ser representada por P (x). Para una variable aleatoria discreta xi , la probabilidad se representa por P (xi ). Las siguientes son algunas propiedades asociadas con la probabilidad: Probabilidad de un evento A =
4.3. PROBABILIDAD
97
1. La probabilidad siempre es un nmero positivo con un valor mximo de 1, = 0 P (x) P (xi ) 1. 2. Si un evento A tiene certeza de ocurrir, P (A) = 1. 3. Si un evento A tiene certeza de no ocurrir, P (A) = 0. 4. Si el evento A es el complemento del evento A, entonces P (A) = 1 P (A) (4.3.2)
5. Si los eventoa A y B son mutuamente excluyentes, la probabilidad de la ocurrencia de A o B es P (A Y B) = P (A) + P (B) (4.3.3) 6. Si los eventos A y B son independientes entre s, la probabilidad de que ocurran simultneamente es P (A B) = P (A) P (B) (4.3.4) 7. La probabilidad de la ocurrencia de A o B o ambos es P (A B) = P (A) + P (B) P (AB) 8. La suma de las probabilidades de todos los valores posibles de x es 1
n X i=1
P (xi ) = 1
(4.3.5)
9. La media de la poblacin para una variable aleatoria discreta, llamada tambin el valor esperado (esperanza) de x, E(x), est dada por: =
n X i=1
xi P (xi ) = E(x)
(4.3.6)
10. La varianza de la poblacin est dada por 2 =

n X (xi )2 P (xi ) i=1
(4.3.7)
98
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES
4.3.1
Funcin Densidad de Probabilidad
Para una variable aleatoria continua, una funcin f (x), llamada funcin densidad de probabilidad, se dene tal que la probabilidad de la ocurrencia de la variable aleatoria en un intervalo entre xi y xi + dx est dado por f (xi )dx = P (xi x xi + dx) (4.3.8)
Para evaluar la probabilidad de que x ocurrir en un intervalo nito desde x = a hasta x = b, se puede integrar la ecuacin (4.3.8) para obtener P (a x b) = Z
b
f (x)dx
(4.3.9)
Para una variable aleatoria continua, la probabilidad de que x tenga un valor simple nico, es cero. Si los lmites de intregracin se extienden desde hasta +, se puede asegurar que la medicin est en el rango y la probabilidad ser P ( x ) = 1. La denicin de f (x) permite ahora establecer la media de una poblacin con funcin densidad de probabilidad f (x): Z xf (x)dx (4.3.10) E(x) = =
Este tambin es el valor esperado (esperanza), E(x) de la variable aleatoria, el cual a veces se denomina primer momento. La varianza de la poblacin est dada por 2 = Z
(x )2 f (x)dx
(4.3.11)
La cual tambin se conoce como segundo momento. Ejemplo 6 La vida de un cierto tipo de rodamiento puede caracterizarse por una funcin de distribucin de probabilidad de 0 x < 10h f (x) = 200 x > 10h x3 f (x) se muestra en la Fig. 4.1. (a) Calcular la esperanza de vida de los rodamientos. (b) Si se toma un rodamiento de la lnea de produccin, cul es la probabilidad que su vida ( x) sea menor que 20h, mayor que 20h y, nalmente, 20h?
4.3. PROBABILIDAD
0.2
99
0.1
0 0 12.5 25 37.5 h
Figura 4.1: Funcin distribucin de probabilidad. Sol. (a) Usando la ecuacin (4.3.10), E(x) = = Z
xf (x)dx =
10
10
Las probabilidades requeridas estn dadas por P (x < 20) = Z

20
200 200 = 20h x 3 dx = x x 10

10
f (x)dx =
P (x > 20) = 1 P (x 20) = 0.25 P (x = 20) = 0
0dx +
20
10
200 dx = 0.75 x3
4.3.2
Funcin de Distribucin Acumulativa
La funcin de distribucin acumulativa es otro mtodo para presentar datos para la distribucin de una variable aleatoria. Esta se utiliza para determinar la probabilidad que una variable aleatoria tenga un valor menor que o igual que un valor especco. La funcin distribucin acumulativa para una variable aleatoria continua (rv) se dene como Z f (x)dx = P (rv x) (4.3.12) F (rv x) = F (x) =
Para una variable aleatoria discreta, sta se dene como F (rv xi ) =

i X j=1
P (xi )
(4.3.13)
100
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES Las siguientes relaciones resultan de la denicin de la funcin distribucin acumulativa: P (a < x b) = F (b) F (a) (4.3.14)
P (x > a) = 1 F (a)
El uso de la funcin acumulativa se demuestra en el siguiente Ejemplo 7 Encontrar la probabilidad que el tiempo de vida de uno de los rodamientos del ejemplo anterior sea menor que (a) 15 horas y (b) 20 horas, usando la funcin de distribucin acumulativa. Sol. (a) Usando la ecuacin (4.3.12) se obtiene para la funcin de distribucin acumulativa (la respuesta grca se puede ver en la Fig. 4.2) Z x Z x f (x)dx = 0dx = 0 para x 10 F (x) = Z x 200 100 = 0+ dx = 1 2 para x > 10 x3 x 10
y 1
0.75
0.5
0.25
0 0 12.5 25 37.5 x 50
Figura 4.2: Funcin de distribucin acumulativa.
4.3.3
Funcin de Distribucin Binomial
La distribucin binomial est denida para variables aleatorias discretas que pueden tener solamente dos resultados posibles xito o falla. Esta distribucin tiene aplicacin en control de calidad de la produccin, cuando la calidad de un producto es o aceptable o inaceptable. Las siguientes condiciones debern ser satisfechas para que la distribucin binomial pueda ser aplicable a un cierto experimento:
4.3. PROBABILIDAD
101
1. Cada ensayo en el experimento puede tener solamente dos posibles resultados, xito o falla. 2. La probabilidad de xito permanece constante a travs del experimento. Esta probabilidad se denota por p y usualmente se conoce o se estima para una poblacin dada. 3. El experimento consiste de n ensayos independientes. La distribucin binomial proporciona la probabilidad P de encontrar exactamente r xitos en un total de n ensayos y se expresa como n! n r nr p (1 p) = pr (1 p)nr (4.3.15) P (r) = r r!(n r)! El nmero xitos esperado en n pruebas para una distribucin binomial es = np La desviacin estndar de una distribucin binomial es p = np(1 p) (4.3.16)
(4.3.17)
Ejemplo 8 Un fabricante de una cierta marca de computadores arma que sus computadores son con-ables y que solamente el 10% de las mquinas requiere reparacin durante el perodo de garanta. Determinar la probabilidad de que en una produccin de 20 computadores, 5 requieren reparacin en el perodo de garanta. Sol: Se puede aplicar distribucin binomial debido al resultado de aprobado/fallado del proceso. se denir xito como no requiere reparacin en el tiempo de garanta, en este caso, de acuerdo a las pruebas del fabricante, p = 0.9. Otras suposiciones para la aplicacin de esta distribucin son que todos los ensayos son independientes y que las probabilidades de xito y fallo son las mismas para todos los computadores. El problema consiste en determinar la probabilidad P de tener 15 xitos r de todas las 20 mquinas n. 20 P = 0.915 (1 0.9)5 = 0.032 15 La conclusin aqu es que hay una pequea posibilidad (3.2%) de que haya exactamente 5 computadores para reparacin de los 20 dados. Ejemplo 9 Un fabricante de bombillas ha descubierto que para una produccin dada, el 10% de las bombillas es defectuoso. Si se compran 4 de estas bombillas, cul es la probabilidad de encontrar que las cuatro, tres, dos, una y ninguna de las bombillas sea defectuosa?
102
Sol. De nuevo se puede usar la distribucin binomial. El nmero de ensayos es 4 y si se dene xito como falla de bombilla p = 0.1. La probabilidad de tener cuatro, tres, dos, uno y cero bombillas defectuosas se puede calcular usando la ecuacin (4.3.15). Entonces 4 P (r = 4) = 0.14 (1 0.1)44 = 0.0001 = 0.01% 4 4 P (r = 3) = 0.13 (1 0.1)43 = 0.0036 = 0.36% 3 4 P (r = 2) = 0.12 (1 0.1)42 = 0.0486 = 4.86% 2 4 P (r = 1) = 0.11 (1 0.1)41 = 0.2916 = 29.16% 1 4 P (r = 0) = 0.10 (1 0.1)40 = 0.6561 = 65.61% 0 La probabilidad total de todos los cinco resultados posibles es P = P (r = 4) + P (r = 3) + P (r = 2) + P (r = 1) + P (r = 0) 1 =
4.3.4
Funcin de distribucin de Poisson

e k , k!
Denicin 3 Sea x una variable aleatoria que toma los valores posibles 0, 1, . . . , n. Si P (x = k) = k = 0, 1, . . . , n (4.3.18)
se dice que x tiene una distribucin de Poisson con parmetro > 0. Teorema 1 Si x tiene una distribucin de Poisson con parmetro , entonces E(x) = y S(x) = Prueba. E(x) = haciendo = k 1, se encuentra E(x) = De igual manera, E(x ) =
2 =0 X e k k=0 X e k = (k 1)! k=1 X e k=1
k!
X e +1
X k2 e k k=0
k!
X ke k k=1
(k 1)!
4.3. PROBABILIDAD Procediendo como antes

X X e X e e +1 = + = 2 + E(x ) = ( + 1) ! ! ! 2 =0 =0 =0
103
Puesto que la primera suma representa E(x) mientras que la segunda suma es igual a uno. Luego S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2 + 2 = Ntese esta propiedad de la variable aleatoria de Poisson: su esperanza es igual a su varianza. Existen tablas disponibles para la distribucin de Poisson [19].
4.3.5
Funcin de Distribucin Gaussiana
La funcin de distribucin normal (Gaussiana) es una funcin simple de distribucin, la cual es til para un nmero grande de problemas comunes que involucran variables aleatorias continuas. La distribucin normal se ha utilizado para describir la dispersin de los datos en las mediciones en las cuales la variacin en el valor medido se deben totalmente a factores aleatorios, y la ocurrencia de desviaciones tanto positivas como negativas son igualmente probables. La funcin densidad de probabilidad normal est dada por (x )2 1 (4.3.19) f (x) = exp 2 2 2 En esta ecuacin x es la variable aleatoria. La funcin tiene dos parmetros, la dsviacin estndar de la poblacin, , y la media de la poblacin, . Un grco de f (x) vs x para valores diferentes de (0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0) y un valor jo de (2) se muestra en la Fig. 4.3. Como se ve en la gura, la distribucin es simtrica alrededor del valor medio, y la menor de las desviaciones estndar es el valor de pico ms alto de en la funcin.
4.3.6
Propiedades de la distribucin normal
1. Sea f (x) una funcin densidad de probabilidad. Evidentemente, f (x) 0. Se debe R + vericar que f (x)dx = 1. Demostracin. Haciendo u= se puede escribir 1 I= 2 Z x 2 u exp du 2 (4.3.20)
104

1
0.75
0.5
0.25
0 0 1.25 2.5 x 3.75 5
Figura 4.3: Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0. Para calcular esta integral, primero se toma el cuadrado de I, es decir, 2 2 Z + Z + 1 1 u v 2 du dv I = exp exp 2 2 2 2 2 Z + Z + 1 u + v2 = dudv exp 2 2 Introduciendo coordenadas polares: u = r cos , se tendr como elemento de rea: dudv = rdrd (4.3.23) Cuando u y v varan entre y +, r variar entre 0 y + y lo har entre 0 y 2. Luego 2 Z 2 Z + 1 r 2 rdrd r exp I = 2 0 2 0 Z 2 2 1 r2 e = d 2 0 0 Z 2 1 = d = 1 2 0 Por lo tanto I = 1, lo cual se quera demostrar. 2. Considrese la forma del grco de f (x). ste tiene la forma de campana indicada en la Fig. 4.3. Puesto que f(x) depende slo de x mediante la expresin (x )2 , es evidente v = r sen (4.3.22)
(4.3.21)
4.3. PROBABILIDAD
105
que el grco de f (x) ser simtrico respecto a . El parmetro puede interpretarse geomtricamente. Obsrvese que para x = , el grco de f (x) es cncavo hacia abajo. Cuando x , f (x) 0, asintticamente. Puesto que f (x) 0 para todo x, esto signica que para grandes valores de x (positivos o negativos), el grco de f (x) ser cncavo hacia arriba, teniendo los puntos de inexin en x = . Esto es, unidades a la derecha y a la izquierda de el grco de f (x) cambia de concavidad. As, si es relativamente grande, el grco de f (x), tiende a ser achatado, mientras que si es pequeo el grco de f (x) tiende a ser aguzado (ver Fig. 4.3). 3. De acuerdo a la denicin de funcin densidad de probabilidad en la ecuacin (4.3.9), para una poblacin dada, la probabilidad de tener un valor simple de x entre un lmite inferior x1 y un lmite superior x2 es Z x2 Z x2 1 (x )2 P (x1 x x2 ) = f (x)dx = exp dx (4.3.24) 2 2 2 x1 x1 Puesto que f (x) est en la forma de una funcin de error, la integral anterior no puede ser evaluada analticamente, por lo que la integracin debe hacerse numricamente. Para simplicar el proceso de integracin numrica, se modica el integrando con un cambio de variable de modo que la integral evaluada numricamente es general y til para todos los problemas. Una variable adimensional z se dene como z= Ahora es posible denir la funcin
z2 1 f (z) = e 2 2
(4.3.25)
(4.3.26)
la cual se denomina funcin de densidad normal estndar. Ella representa la funcin de densidad de probabilidad normal para una variable aleatoria z con media = 0 y = 1. Esta funcin normalizada se muestra en la Fig. 4.4. Tomando la diferencial de la ecuacin (4.3.25), dx = dz. la ecuacin (4.3.24) entonces se transformar a 2 Z z2 Z z2 1 z dz (4.3.27) f (z)dz = exp P (x1 x x2 ) = 2 2 z1 z1 La probabilidad de que x est entre x1 y x2 es la misma de que la variable transformada z est entre z1 y z2 P (x1 x x2 ) = P (z1 z z2 ) = P ( x x2 x1 ) (4.3.28)
La probabilidad P (z1 z z2 ) tiene un valor igual al rea demarcada como (z1 y z2) en la Fig. 4.4. La curva mostrada en la gura es simtrica con respecto al eje vertical en
106
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES z = 0, lo cual indica que con esta distribucin, las probabilidades de desviaciones positivas y negativas desde z = 0 son iguales. Matemticamente se tiene P (z1 z 0) = P (0 z z1 ) = P (z1 z z2 ) 2 (4.3.29)
Como se mencion, la integral en la ecuacin (4.3.24) tiene dos parmetros ( y ) y
0.4
0.3
0.2
0.1
0 -2.5 -1.25 0 1.25 z1 z z2 2.5
Figura 4.4: Funcin de distribucin normal estndar. deber ser integrado numricamente para cada aplicacin. El trmino es igual a la suma de las reas de las colas de la derecha y de la izquierda en la Fig. 4.4. Estos conceptos pueden ser reestablecidos como P [z/2 z z/2 ] = 1 Sustituyendo para z, se obtiene x =1 P z/2 z/2 = P x z/2 x + z/2 / n n n puede tambin plantearse que = x z/2 n (4.3.30)
(4.3.31)
(4.3.32)
con un nivel de conanza de 1 . 4. Considrese 1 E(x) = 2 Z

+
(x )2 x exp dx 2
4.3. PROBABILIDAD Haciendo, como antes, z = x , se obtiene 2 Z + 1 z E(x) = dz (z + ) exp 2 2 2 2 Z + Z + 1 1 z z dz + dz = z exp exp 2 2 2 2 La primera de las integrales anteriores es igual a cero puesto que el integrando, 2 Z + 1 z g1 (z) = dz z exp 2 2
107
(4.3.33)
(4.3.34)
tiene la propiedad de que g1 (z) = g1 (z), y, por lo tanto, g1 (z) es una funcin impar. La segunda integral 2 Z + 1 z dz (4.3.35) exp g2 (z) = 2 2 representa el rea total bajo la funcin densidad de probabilidad total y, por lo tanto, es (ver el primer tem) igual a la unidad. Luego E(x) = 5. Considrese 1 E(x ) = 2
2
(4.3.36)
Haciendo nuevamente z =
se obtiene 2 Z + 1 z 2 2 dz (z + ) exp E(x ) = 2 2 Z + Z z 2 1 2 + z2 = 2 z 2 e 2 dz + ze 2 dz + 2 2 Z + z 2 2 e 2 dz + 2
x ,
(x )2 dx x exp 2
2
(4.3.37)
-La segunda integral nuevamente es igual a cero por el argumento usado anteriormente. La ltima integral (sin el factor 2 ) es igual a la unidad. Para calcular la primera integral R + 2 2 go (z) = 2 z 2 ez /2 dz, se integra por partes, obtenindose 2 go (z) = 2 Z
+
z 2 ez
2 /2
Luego
Z + + 2 2 2 2 dz = zez /2 + ez /2 dz = 0 + 2 2 2 E(x2 ) = 2 + 2
108
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES y por lo tanto S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2 As se encuentra que los dos parmetros y 2 que caracterizan la distribucin normal son la esperanza y la varianza de x, respectivamente. En otros trminos, si se sabe que x est distribuido normalmente, slo se sabe que su distribucin de probabilidades es de cierto tipo. Si adems, se conoce E(x) y S(x), la distribucin de x est completamente especicada.
4.3.7
La funcin de distribucin Gamma
Antes de denir la funcin de distribucin gamma, se debe realizar antes la siguiente Denicin 4 La funcin gamma denotada por se dene como Z (p) = xp1 ex dx, para p > 0
0
(4.3.38)
Si se integra por partes (haciendo u = xp1 y dv = ex dx), se obtiene: Z x p1 (p) = e x + (p 1)xp2 ex dx 0 Z 0 = 0 + (p 1) xp2 ex dx
0
= (p 1)(p 1)
(4.3.39)
Se ve que la funcin gamma sigue una relacin recursiva. Suponiendo que p es un entero positivo, haciendo p = n y aplicando la ec (4.3.39) repetidamente se obtiene: (n) = (n 1)(n 1)
Sin embargo, (1) =
R
0
= (n 1)(n 2) (1) ex dx = 1, por lo tanto se obtiene (n) = (n 1)!
= (n 1)(n 2)(n 2)
(4.3.40)
Si n es un entero positivo. Ejercicio 1 Vericar que ( 1 ) = 2 Z
x1/2 ex dx =
(4.3.41)
4.3. PROBABILIDAD Sol. Haciendo cambio de variable x = x ( 1 ) = 2 Z

1 2 u2 2
109 y sustituyendo en (4.3.41) se obtiene dx = udu

u2 2
u2 2
1 2 Z
0
1 2u 2u1 e udu =
x1/2 ex dx =
De las propiedades de la distribucin normal se puede ver que r r Z 2 u I= e 2 du = 2 2 0
Z 2
u2 2
du
(4.3.42)
(4.3.43)
Sustituyendo (4.3.43) en (4.3.42) se llega al resultado de la ecuacin (4.3.41). Con la ayuda de la funcin gamma se puede presentar ahora la distribucin gamma de probabilidades. Denicin 5 Sea x una variable aleatoria continua que toma siempre valores no negativos. Se dice que x tiene una distribucin de probabilidades gamma si su funcin densidad de probabilidad est dada por f (x) = (x)r1 ex , para x > 0 (r) = 0, para otro valor (4.3.44) (4.3.45)
Esta distribucin depende de dos parmetros, r > 0 y > 0. La Fig. 4.5 muestra el grco de la ecuacin (4.3.44) para diversos valores de r con = 1 (color negro) y = 1 (color azul). 2
y 1
0.75
0.5
0.25
0 0 2.5 5 7.5 x 10
Figura 4.5: Grco de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y .
110
4.3.8
Propiedades de la funcin gamma
Si r = 1, la ecuacin (4.3.44) se transforma en f (x) = ex , la cual se denomina distribucin exponencial la cual aparece como un caso especial de la distribucin gamma. En la mayora de las aplicaciones a probabilidades, el parmetro r ser un entero positivo. En este caso, existe una relacin entre la funcin de distribucin acumulativa de la funcin gamma y la distribucin conocida como de Poisson, la cual se expondr en seguida. Considerando la integral I= Z
R en donde r es un entero positivo y a > 0. Luego, r!I = a y r ey dy. Integrando por partes haciendo u = y r y dv = ey dy, se obtiene Z r!I = ea ar + r yr1 ey dy
a
y r ey dy r!
Por tanto
La integral en esta expresin es exactamente de la misma forma que la integral original con la sustitucin de r por r 1. As, al continuar integrando por partes, se obtiene r!I = ea ar + rar1 + r(r 1)ar2 + + r! I = ea I = ea ar ar1 a2 + + + +a+1 r! (r 1)! 21 r r X ak X = P (y = k) k!
i=0
ki=0
en donde y tiene una distribucin de Poisson con parmetro .
4.3.9
Funcin de distribucin t
La forma funcional de la distribucin t est dada por [18] f (t, ) = ( +1 ) 2 ( ) 1 + 2 +1

2
(4.3.46)
t2
donde (x) es la funcin matemtica conocida como funcin gamma. La Fig. 5.2.16 muestra la distribucin t Student para diferentes valores de los grados de libertad . Como en la distribucin normal, stas son curvas simtricas. Cuando el nmero de muestras se incrementa, la distribucin
4.3. PROBABILIDAD
y 0.4
111
0.3
0.2
0.1
0 -2.5 -1.25 0 1.25 2.5 x
Figura 4.6: Funcin densidad de probabilidad usando la distribuci n t Student. t tiende a la distribucin normal. La distribucin t puede ser utilizada para estimar el intervalo de conanza del valor medio de una muestra con cierto nivel de conanza para tamaos pequeos de la muestra (menores que 30). La probabilidad de que t caiga entre t/2 y t/2 es entonces 1 . Esto puede establecerse como P [t/2 t t/2 ] = 1 Sustituyendo para t, se obtiene S S x P t/2 t/2 = P x t/2 x + t/2 =1 S/ n n n puede tambin plantearse que S = x t/2 n (4.3.49) (4.3.48) (4.3.47)
con un nivel de conanza de 1 . puesto que tablas completas de la distribucin t podran resultar voluminosas, es prctica comn especicar solamente los valores crticos de t que son funciones de y . Estos son los valores que se requieren para las ecuaciones (4.3.48) y (4.3.49). La Tabla 4.3 presenta estos valores crticos de t Ejemplo 10 Un fabricante de circuitos integrados (CI) desea estimar el tiempo de falla media de un CI con un 95% de conanza. Se han probado seis sistemas y se han obtenido los siguientes datos (tiempo de operacin en horas): 1250, 1320, 1542, 1464, 1275, 1383. Estimar la media y el 95% de intervalo de conanza sobre la media.
112
Tabla 4.3: Valores crticos de la distribucin t Student /2 0.100 0.050 0.025 0.010 0.005 1 3.078 6.314 12.706 31.823 63.658 2 1.886 2.920 4.303 6.964 9.925 3 1.638 2.353 3.182 4.541 5.841 4 1.533 2.132 2.776 3.747 4.604 5 1.476 2.015 2.571 3.365 4.032 6 1.440 1.943 2.447 3.143 3.707 7 1.415 1.895 2.365 2.998 3.499 8 1.397 1.860 2.306 2.896 3.355 9 1.383 1.833 2.262 2.821 3.250 10 1.372 1.812 2.228 2.764 3.169 11 1.363 1.796 2.201 2.718 3.106 12 1.356 1.782 2.179 2.681 3.054 13 1.350 1.771 2.160 2.650 3.012 14 1.345 1.761 2.145 2.624 2.977 15 1.341 1.753 2.131. 2.602 2.947 16 1.337 1.746 2.120 2.583 2.921 17 1.333 1.740 2.110 2.567 2.898 18 1.330 1.734 2.101 2.552 2.878 19 1.328 1.729 2.093 2.539 2.861 20 1.325 1.725 2.086 2.528 2.845 21 1.323 1.721 2.080 2.518 2.831 22 1.321 1.717 2.074 2.508 2.819 23 1.319 1.714 2.069 2.500 2.807 24 1.318 1.711 2.064 2.492 2.797 25 1.316 1.708 2.060 2.485 2.787 26 1.315 1.706 2.056 2.479 2.779 27 1.314 1.703 2.052 2.473 2.771 28 1.313 1.701 2.048 2.467 2.763 29 1.311 1.699 2.045 2.462 2.756 30 1.310 1.697 2.042 2.457 2.750 1.283 1.645 1.960 2.326 2.576
4.3. PROBABILIDAD
113
Sol. Puesto que el nmero de muestras es n < 30, se puede utilizar la distribucin t para estimar el intervalo de conanza. Primero se calcula la media y la desviacin estndar de los datos 1 x = (1250 + 1320 + 1542 + 1464 + 1275 + 1383) = 1372.3 h 6 #1/2 " 5 1 X S= (xi x) = 114 h 5
i=1
El 95% de conanza corresponde a = 0.05. De la Tabla 4.3, para = n 1 = 5 y /2 = 0.025, t/2 = 2.571. Usando la ecuacin (4.3.49) y un intervalo de conanza de 95%, el tiempo medio de falla ser S 114 = x t/2 = 1372 2.571 = 1372 120 h n 6 Se debe notar que si se incrementa el nivel de conanza, el intervalo estimado tambin se incrementar y viceversa. Ejemplo 11 En el ejemplo anterior, reducir el intervalo de conanza de 95% a 50 h. Determinar cuantos CI adicionales debern ser ensayados en este caso. Sol. puesto que no se conoce el nmero de muestras no se puede seleccionar la curva de distribucin t apropiada. De aqu que el proceso de solucin se debe realizar por ensayo y error. Para obtener el primer estimativo del nmero de muestras n, se asume que n > 30, de modo que se pueda utilizar la distribucin normal Entonces se puede aplicar la ecuacin (4.3.32) y el intervalo de conanza ser = x z/2 = = x 50 n de modo que 2 z/2 = 50 y n = z/2 50 n
Para un nivel de conanza de 95%, /2 = 0.025. Usando la distribucinnormal estndar, se encuentra que z0.025 = 1.96. Usando S = 114 (del ejemplo anterior) como un estimativo para , se obtiene un primer estimativo de n: 114 2 n = 1.96 = 20 50
Puesto que n < 30, se puede utilizar la distribucin t en lugar de la distribucin normal. Se puede usar n = 20 para el siguiente ensayo. Para = n 1 = 19 y /2 = 0.025, de la Tabla 4.3 se obtiene t = 2.093. Este valor de t se puede utilizar con la ecuacin (4.3.49) para estimar un nuevo valor de n: S = x t/2 = x 50 n
114
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES S t/2 = 50 n 2 114 2 S n = t/2 = 2.093 = 23 50 50
Se puede usar este nmero como un valor de ensayo y recalcular n, pero resultar siendo el mismo. Ntese que con pruebas adicionales, el valor promedio de la muestra, x, tambin puede cambiar.
4.4
4.4.1
Estimacin de Parmetros
Estimacin del Intervalo de la Media de la Poblacin
Se desea hacer un estimativo de la media de la poblacin la cual toma la forma =x x x+ (4.4.1)
donde es la incertidumbre y x es la media muestral. El intervalo x hasta x + se denomina intervalo de conanza de la media. Sin embargo, el intervalo de conanza depende de un concepto llamado el nivel de conanza, algunas veces llamado grado de conanza. El nivel de conanza es la probabilidad de que la media de la poblacin caer entre el intervalo especicado: Nivel de conanza = P ( x + ) x (4.4.2)
El nivel de conanza est normalmente expresado en trminos de una variable llamada nivel de signicancia: Nivel de conanza = 1 (4.4.3) es entonces, la probabilidad de que la media caer fuera del intervalo de conanza. El teorema del lmite central hace posible realizar un estimativo del intervalo de conanza con un adecuado nivel de conanza. Considrese una poblacin de la variable aleatoria x con un valor medio y una desviacin estndar . De esta poblacin se podra tomar varias muestras diferentes cada una de tamao n. Cada una de estas muestras podra tener un valor medio xi , pero no se podra esperar que cada una de estas medias tenga el mismo valor. En efecto, los xi son valores de una variable aleatoria. El teorema del lmite central establece que si n es sucientemente grande, los xi tienden a una distribucin normal y la desviacin estndar de estas medias estar dada por (4.4.4) x = n La poblacin no necesita estar distribuida normalmente para que las medias estn distribuidas normalmente. La desviacin estndar de la media tambin se denomina error estndar de la media. Para que se pueda aplicar el teorema del lmite central, el tamao n de la muestra,
4.4. ESTIMACIN DE PARMETROS
115
debe ser grande. En la mayora de los casos, el valor de n debe ser superior a 30, para que sea considerado grande. Del teorema de lmite central se pueden establecer las siguientes conclusiones: Si la poblacin original es normal, la distribucin para los xi ser normal. Si la poblacin original es no normal y n es grande (n > 30), la distribucin para los xi ser normal Si la poblacin original es no normal y si n < 30, los xi seguirn una distribucin normal slo en forma aproximada. Si el tamao de la muestra es grande, se puede usar directamente el teorema del lmite central para hacer un estimado del intervalo de conanza. Puesto que x est distribuido normalmente, se puede usar el valor z ecuacin (4.3.25): z= x x (4.4.5)
y usar la funcin de distribucin normal estndar para estimar el intervalo de conanza sobre z. es la desviacin estndar de la poblacin la cual, en general, no se conoce. Sin embargo, para un tamao grande de muestras, la desviacin estndar de muestras, S, puede usarse como una aproximacin de .
4.4.2
Estimacin del Intervalo de la Varianza de la Poblacin
En muchas situaciones la variabilidad de la variable aleatoria es tan importante como su valor medio. La mejor estimacin de la varianza de la poblacin, 2 , es la varianza muestral, S 2 . Como para la media de la poblacin, es tambin necesario establecer un intervalo de conanza para la varianza estimada. Para poblaciones distribuidas normalmente, se usa la funcin 2 para el propsito de establecer un intervalo de conanza. Considrese una variable aleatoria x con valor medio de poblacin y desviacin estndar . Si se asume que x = , la ecuacim (4.2.5) se puede escribir como n 1 X 2 S = (xi )2 (4.4.6) n1
i=1
la funcin
se dene como
Combinando las ecuaciones (4.4.6) y (4.4.7), se obtiene 2 = (n 1) S2 2
n 1 X (xi )2 = 2 2 i=1
(4.4.7)
(4.4.8)
116
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES La funcin densidad de probabilidad par auna poblacin distribuida normalmente est dada
por (2 )(2)/2 e f ( ) = 2/2 (/2)

2
2 /2
para 2 > 0
(4.4.9)
donde v es el nmero de grados de libertad y es una funcin que se puede obtener de tablas normalizadas. En la Fig. 4.7 se muestran algunas grcas con variacin del parmetro .
y 1
0.75
0.5
0.25
0 0 2.5 5 7.5 x 10
Figura 4.7: Distribucin f (2 ) f (z) para algunos valores de . [ = 1 (lnea continua), = 2 (trazos), = 3 (puntos), = 5 (puntos y trazos)]. Como con otras funciones de densidad de probabilidad, la probabilidad que la variable 2 caiga entre cualquier par de valores es igual al rea bajo la curva entre esos valores (como se ilustra en la Fig. 4.8).En forma de ecuacin, esto es
2 2 P (2 ,1/2 ,/2 ) = 1
(4.4.10)
es el nivel de signicancia como se deni antes y es igual a (1nivel de conanza). Sustituyendo para 2 en la ecuacin (4.4.8), se obtiene S2 2 2 (4.4.11) P ,1/2 (n 1) 2 ,/2 = 1 Puesto que 2 es siempre positivo, esta ecuacin puede arreglarse de modo que se pueda dar un intervalo de conanza sobre la varianza de la poblacin (n 1)S 2 (n 1)S 2 2 2 2 ,1/2 ,/2 (4.4.12)
4.4. ESTIMACIN DE PARMETROS

y 0.3
117
0.25
0.2
0.15
0.1
0.05
0 0 2.5 5 7.5 x 10
Figura 4.8: Intervalo de conanza para la distribucin chicuadrado. En la ecuacin (4.4.11), es el rea total de los extremos mostrados en la Fig. 4.8, de modo que cada extremo (cola) tiene un rea de /2.
4.4.3
Criterio para el rechazo de datos dudosos
En algunos experimentos sucede que uno o ms valores medidos aparecen por fuera de lnea con el resto de datos. Si se puede detectar alguna falla clara en la medicin de aquellos valores especcos, stos se pueden descartar. Pero a veces es difcil detectar estos datos erroneos. Existe un nmero de mtodos estadsticos para el rechazo de estos valores. Las bases de estos mtodos es eliminar los valores que tienen baja probabilidad de ocurrencia. Por ejemplo, los valores de los datos que se desvan de la media por ms de dos o por ms de tres en la desviacin estndar debern ser rechazados. Se ha encontrado que el criterio de rechazo denominado sigmados y sigmatres debe modicarse para tener en cuenta el tamao de la muestra. Ms an, dependiendo del tipo de criterio de rechazo que se emplee, podran eliminarse datos buenos e inclurse datos malos. El mtodo recomendado en el documento de ANSI/ASME, 86 [1] es la tcnica de Thompson modicada. En este mtodo, si se tienen n medidas con una media x y una desviacin estndar S, se pueden arreglar los datos en orden ascendente x1 , x2 , . . . , xn . Los valores extremos (el ms alto y el ms bajo) son candidatos a rechazo. Para estos puntos descartables, la desviacin, , se calcula como i = |xi x| (4.4.13)
y se selecciona el valor ms grande. El siguiente paso es encontrar un valor de de la Tabla 4.4.
118
Tabla 4.4: Valores de los coecientes de Thompson. Segn: ANSI/ASME86 n 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 1.150 1.393 1.572 1.656 1.711 1.749 1.777 1.798 1.815 1.829 n 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 1.840 1.849 1.858 1.865 1.871 1.876 1.881 1.885 1.889 1.893 n 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 1.896 1.899 1.902 1.904 1.906 1.908 1.910 1.911 1.913 1.914 n 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 1.916 1.917 1.919 1.920 1.921 1.922 1.923 1.924 1.925 1.926
El valor ms grande de i se debe comparar con el producto de y la desviacin estdar, S. Si > S (4.4.14)
los valores de los datos se pueden rechazar. De acuerdo a este mtodo, slo el valor de un dato deber ser eliminado. Se deber recalcular la media y la desviacin estndar de lo datos restantes y repetirse el proceso. Se deber repetir el proceso hasta que ningn dato deba ser eliminado. Ejemplo 12 Se tomaron nueve medidas de tensin en un circuito elctrico obtenindose los siguientes datos: 12.02, 12.05, 11.96, 11.99, 12.10, 12.03, 12.00, 11.95, 12.16 V. Determine si algn dato tomado debe ser rechazado. Sol. Para los nueve valores anteriores, V = 12.03V y S = 0.07.Utilizando la prueba deThompson se obtiene: 1 = Vmx V = |12.16 12.03| = 0.13 a 2 = Vmn V = |11.95 12.03| = 0.08
Usando la Tabla 4.4 para n = 9, = 1.777. Entonces S = 1.777 0.07 = 0.124. Puesto que 1 = 0.13 > S = 0.124, deber ser rechazado. Ahora deber recalcularse S y V , lo cual da 0.05 y 12.02, respectivamente. Para n = 8, = 1.749, S = 0.09 y ninguno de los datos restantes deber rechazarse.
4.5
Correlacin de los Datos Experimentales
La dispersin debida a errores aleatorios es una caracterstica comn de virtualmente todas las mediciones. Sin embargo, en algunos casos la dispersin puede ser tan grande que es difcil
4.5. CORRELACIN DE LOS DATOS EXPERIMENTALES
119
detectar una tendencia. Considrese un experimento en el cual una variable independiente x vara sistemticamente y entonces se mide la variable dependiente y. Se desea determinar si el valor de y depende del valor de x. Para determinar si hay dependencia entre los datos y una cierta variable, se dene un parmetro estadstico llamado coeciente de correlacin el cual se puede utilizar para determinar si una tendencia aparente es verdadera o es puramente una consecuencia del azar. El coeciente de correlacin, rxy , es un nmero cuya magnitud puede usarse para determinar si en efecto existe una relacin funcional entre dos variables medidas x y y. Si se tienen dos variables x y y y el experimento conduce a n pares de datos [(xi , yi ), i = 1, n], se dene el coeciente de correlacin lineal como
n P
rxy =
i=1 n P
(xi x)(yi y )
i=1 n P
i=1
(xi x)2
(yi y)2
1/2
(4.5.1)
donde x y y son los valores medios de x y de y obtenidos experimentalmente y estn dados por 1X x= xi n
i=1 n
1X y= yi n
i=1
(4.5.2)
El valor resultante de rxy caer en el rango de 1 a +1 Un valor de +1 podra indicar una relacin lineal perfecta entre las variables con una pendiente positiva (es decir, un incremento en x resulta en un incremento en y). Un valor de 1 indica una relacin lineal perfecta con pendiente negativa (un incremento en x produce un decremento en y). Un valor de cero indica que no hay correlacin lineal entre las variables. An si no hay correlacin, es poco probable que rxy sea exactamente cero. Para un tamao dado de muestras, se puede utilizar la teora estadstica para determinar si un rxy calculado tiene signicado o es consecuencia del azar. Para problemas prcticos, se puede simplicar este proceso en la forma de una tabla simple. Los valores crticos de r, denidos como rt se han calculado [34] y se muestran en la Tabla 4.5. rt es funcin del nmero de muestras y del nivel de signicancia, . Los valores de r en esta tabla son los valores lmites que podran esperarse por puro azar. Por cada valor rt en la tabla hay solamente una probabilidad de que un valor experimental de rxy sea mayor por puro azar. Inversamente, si el vaor experimental excede el valor en la tabla, se puede esperar que ese valor experimental muestre una correlacin real con el nivel de conanza 1 . Para propsitos prcticos, se toma a menudo el nivel de conanza como 95%, el cual corresponde a un valor de de 0.05. Para un conjunto de datos dado, se obtiene rt de la tabla y se compara con el valor calculado de los datos rxy . Si |rxy | > rt , se puede suponer que y depende de x en una manera no aleatoria y puede esperarse que una relacin lineal ofrecer alguna aproximacin a la verdadera relacin funcional. Un valor de |rxy | < rt implica que no se tendr conanza en que exista una relacin funcional lineal No es necesario que la relacin funcional
120
sea realmente lineal para que se pueda calcular un coeciente de correlacin signicativo. Por ejemplo, una relacin funcional parablica que muestre una pequea dispersin en los datos puede mostrar un alto valor en el coeciente de correlacin. Por otra parte, algunas relaciones funcionales, mientras sean ms fuertes (v.gr., funciones circulares multivaloradas) resultaran en un valor muy bajo de rxy . Se deben tener otras precauciones cuando se usan coecientes de correlacin: Un simple valor de los datos mal tomado, puede ocasionar un efecto fuerte en los valores de rxy . Tambin es un error concluir que un valor signicativo del coeciente de correlacin implica que un cambio en una variable causa un cambio en la otra. La casualidad deber determinarse desde otro ngulo del problema Ejemplo 13 Se sabe que los tiempos por vuelta en una carrera de automviles dependen de la temperatura ambiente. Se tomaron en la misma pista, en diferentes carreras, para el mismo carro y con el mismo piloto, los siguientes datos: Temperatura ambiente ( C) Tiempo por vuelta (s) 4.4 65.3 8.3 66.5 12.8 67.3 16.7 67.8 18.9 67 31.1 66.6
Existe una relacin lineal entre estas dos variables? Sol. Primero, se gracan los datos como en la Fig. 4.9. Mirando la grca, podra pensarse que hay una ligera correlacin entre la temperatura ambiente y el tiempo de giro. Se calcular el coeciente de correlacin para determinar si esta correlacin es real o es debida al azar. Se puede determinar este coeciente utilizando la ecuacin (4.5.1). Para ello se hacen los clculos como se muestra en la tabla siguiente: x 65.3 66.5 67.3 67.8 67.0 P 66.6 = 400.5 x = 66.75 y 4.4 8.3 12.8 16.7 18.9 P 31.1 = 92.2 y = 15.367 xx 1.45 0.25 0.55 1.05 0.25 0.15 (x x)2 2.10 0.06 0.30 1.10 0.06 P 0.02 = 3.66 yy 10.967 7.067 2.567 1.333 3.533 15.733 (y y )2 120.28 49.94 6.59 1.78 12.48 P247.53 = 438.6 (x x)(y y) 15. 90 1. 77 1. 41 1. 40 0.88 P -2. 36 = 16. 18
Ahora se puede calcular el coeciente de correlacin utilizando la ecuacin (4.5.1):
4.6. AJUSTE DE CURVAS
121
Figura 4.9: Valores grcos de los pares temperaturatiempo.
rxy =
i=1 n P
i=1
(xi x)2
n P
(xi x)(yi y)
i=1 n P
(yi y )2
1/2 =
16. 18 [3.66 438.6]1/2
= 0.403 83
Para un nivel de conanza de 95%, = 1 0.95 = 0.05. Para los seis pares de datos, de la Tabla 4.5, se obtieneun valor de rt = 0.811. Puesto que rxy < rt , se puede concluir que la aparente tendencia en los datos es probablemente causada por pura casualidad.
4.6
Ajuste de Curvas
La aplicacin de tcnicas numricas en la ciencia y la ingeniera involucra con mucha frecuencia el ajuste a curvas de los datos experimentales. A continuacin se estudiarn algunos mtodos para ajustar datos experimentales a una curva dada siguiendo un proceso sistemtico.
4.6.1
Regresin lineal
A menudo se presenta el caso en el cual un experimento produce un conjunto de puntos a partir de datos tomados a pares (x1 , y1 ), . . . , (xn , yn ), donde las abscisas {xk } son distintas. El problema es determinar una frmula y = f (x) que relacione estas variables. Usualmente,
122
se escoge una clase de frmulas posibles y entonces se deben determinar los coecientes. Hay muchas posibilidades diferentes que pueden utilizarse para un cierto tipo de funcin. Hay a menudo, un modelo matemtico subyacente, basado en la situacin fsica, que determinar la forma de la funcin. En esta seccin se enfatizar la clase de funciones lineales de la forma: y = f (x) = Ax + B (4.6.1)
Si se conocen todos los valores numricos {xk }, {yk } con varios digitos signicativos de precisin, entonces la interpolacin polinomial se puede usar exitosamente; de otra forma no. Cmo encontrar la mejor aproximacin lineal de la forma de la ecuacin (4.6.1) que se ajuste cercanamente a estos puntos? Para responder a esta pregunta, se requiere discutir los errores (tambin llamados desviaciones o residuos), es decir: ek = f (xk ) yk para 1 k n (4.6.2)
Hay varias normas que pueden ser usadas con los residuos en la ecuacin (4.6.2) para medir cuan cerca de la curva y = f (x) estn los datos. Mximo error E (f ) = max {|f (xk ) yk |}
1kn
(4.6.3)
Error promedio
E1 (f ) =
1X |f (xk ) yk | n
k=1
(4.6.4)
Error RMS
E2 (f ) =
1X |f (xk ) yk |2 n
k=1
!1
2
(4.6.5)
Error estdar de la estimacin Criterio para un mejor ajuste
Eyx
v uP n n P P u n 2 yk B yk A xk yk u t k=1 k=1 = k=1 n2
(4.6.6)
Sea {(xk , yk )}n un conjunto de n puntos, donde las abscisas {xk } son distintas. La lnea de k=1 mnimos cuadrados y = f (x) = Ax + B es la lnea que minimiza el error de la raz cuadrtica media E2 (f ). P La cantidad E2 (f ) ser un mnimo si y solamente si la cantidad n(E2 (f ))2 = n (Ax + k=1 B yk )2 es mnima. El siguiente resultado explica este proceso
123
Teorema 2 (Ajuste de una lnea recta utilizando mnimos cuadrados) Supngase que {(xk , yk )}n son n puntos, donde las abscisa {xk , }n son distintos. Los coecientes de la lnea k=1 k=1 de mnimos cuadrados y = Ax + B son las solucin del siguiente sistema lineal conocido como la ecuacin normal.
y 4
0 0 1.25 2.5 3.75 x 5
Figura 4.10: Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea denida con mnimos cuadrados y = Ax + B.
Prueba. Geomtricamente, se comienza con la lnea y = Ax + B La distancia vertical dk desde el punto (xk , yk ) hasta el punto (xk , Axk + B) sobre la lnea es dk = |Axk + B yk | (ver Fig. 4.10) Se debe minimizar la suma de los cuadrados de las distancias verticales dk :
n n X X 2 (Axk + B yk ) = d2 E(A, B) = k k=1 k=1
k=1 n P
k=1
n P
x2 k xk
k=1
n P
xk A = B n
k=1 n P
n P
k=1
xk yk yk
(4.6.7)
(4.6.8)
El valor mnimo de E(A, B) se determina haciendo las derivadas parciales E/A y E/B iguales a cero y resolviendo estas ecuaciones para A y B. Ntese que {xk } y {yk } son constantes en la ecuacin (4.6.8) y que A y B son las variables. Fijando B, y derivando E(A, B) con respecto a A, se obtiene X E(A, B) X = 2(Axk + B yk )(xk ) = 2 (Ax2 + Bxk xk yk ) k A
k=1 k=1 n n
(4.6.9)
124
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES Ahora, jando A y derivando E(A, B) con respecto a B, se obtiene X E(A, B) X = 2(Axk + B yk ) = 2 (Axk + B yk ) B
k=1 k=1 n n
(4.6.10)
Haciendo las derivadas parciales iguales a cero en (4.6.9) y (4.6.10), y usando la propiedad de distribucin de la suma se llega a: 0=
n n n n X X X X (Ax2 + Bxk xk yk ) = A x2 + B xk xk yk k k k=1 k=1 k=1 k=1
(4.6.11)
0=
Estas ecuaciones escritas en forma de matriz conducen al resultado (4.6.7). Problema 1 (Ajuste de una lnea recta usando mnimos cuadrados) Construir la mejor lnea recta que se ajuste a los datos dados por los n puntos (x1 , y1 ), . . . , (xn , yn ).
R Sol. El siguiente programa en Matlab resuelve el problema. Ntese que tambin aparecen los valores de los puntos dados. En la grca de la Fig. 4.11 se muestra la mejor recta factible para este problema. X=[-1,0,1,2,3,4,5,6]; Y=[10,9,7,5,4,3,0,-1]; D=length(X)*sum(X*X)-sum(X)*sum(X); A=1/D*(length(X)*sum(X*Y)-sum(X)*sum(Y)); B=1/D*(sum(X*X)*sum(Y)-sum(X)*sum(X*Y)); fprintf(A= %12.3f\n,A) fprintf(B= %12.3f\n,B) x=-2:0.01:10; y=A*x+B; plot(x,y) hold on plot(X,Y,r*) hold off grid on xlabel(x),ylabel(y) title(Ajuste de una recta usando mnimos cuadrados ) La mejor recta resultante ser
n n n X X X (Axk + B yk ) = A xk + nB yk k=1 k=1 k=1
(4.6.12)
y = 1.607x + 8.643

A j u s t e d e u n a r e c t a u s a n d o m n i m o s c u a d r a d o s 12 10 8 6 4 2 0 -2 -4 -6 -8 -2
125
4 x
10
Figura 4.11: Lnea y = Ax + B el error estndar de la funcin estimada es v r u n n n X X 281 8.643 37 + 1.607 25 1 uX 2 t = 0.480 28 Eyx = yk B yk A xk yk = 82 n 2 k=1 k=1 k=1
Esto representa la desviacin de los datos y alrededor de los datos predichos por la mejor lnea de ajuste. La mejor lnea de ajuste, junto con los datos se encuentra gracada en la Fig. 4.11. La regresin lineal de dos variables es una caracterstica estndar en la mayora de los programas de hoja de clculo en los computadores, requiriendo solamente la entrada de dos columnas de nmeros. Ejemplo 14 La siguiente tabla representa la salida (V ) de un transformador diferencial variable lineal (LVDT) para cinco datos de entrada. Determinar la mejor recta que se ajuste a estos datos y hacer la grca correspondiente. L [cm] v[v] 0.00 0.05 0.50 0.52 1.00 1.03 1.50 1.50 2.00 2.00 2.50 2.56
Sol. Para resolver el problema, aplicamos los datos en el programa del Problema 1, obetindose: A = 0.9977 B = 0.0295
126
CAPTULO 4. ANLISIS ESTADSTICO DE DATOS EXPERIMENTALES La mejor lnea recta resultante ser y = 0.9977x + 0.0295
donde y es la tensin y x el desplazamiento. El error estndar de la estimacin para estos datos se obtiene como antes, aplicando la ecuacin (4.6.6): v u n n n X X 14.137 0.0295 7.66 0.9977 13.94 1/2 1 uX 2 t Eyx = y B yk A xk yk = = 0.0278 62 n 2 k=1 k k=1 k=1 Esto representa la desviacin de los datos de y alrededor de los datos predichos por la mejor lnea recta. Esta recta, junto con los datos se graca en la Fig. 4.12.
Figura 4.12: Aproximacin de un conjunto de datos a una lnea recta.
4.6.2
Ajuste a una funcin potencia y = AxM
Algunas situaciones involucran f (x) = AxM , donde M es una constante conocida. En este caso hay solamente un parmetro A es determinado. Teorema 3 Ajuste a una funcin potencia. Supngase que {(xk , yk )}n son n puntos, k=1 donde las abscisas son distintas. El coeciente A de la curva de potencia con aproximacin por mnimos cuadrados y = AxM est dada por
127
A=
Usando la tcnica de mnimos cuadrados, se obtiene un mnimo de la funcin E(A) as:

n X E(A) = (AxM yk )2 k k=1
k=1 n P
n P
xM yk k (4.6.13) x2M k
k=1
(4.6.14)
En este caso es suciente resolver E (A) = 0. La derivada es

n n X X M M E (A) = 2 (Axk yk )(xk ) = 2 (Ax2M xM yk ) k k k=1 k=1
(4.6.15)
Entonces, el coeciente A es la solucin de la ecuacin 0=A

n X k=1
x2M k
n X k=1
xM yk k
(4.6.16)
la cual se reduce a la frmula en la ecuacin (4.6.13).
4.6.3
Ajuste aproximado a una curva
Mtodo de linealizacin de datos para y = CeAx Supngase que se tienen los puntos (x1 , y1 ), . . . , (x1 , y1 ) y se desea ajustar a una curva exponencial de la forma y = CeAx El primer paso es tomar el logaritmo en ambos lados: ln(y) = Ax + ln(C) Entonces se introduce el cambio de variables: Y = ln(y), X (x) y B = ln(C) (4.6.19) (4.6.18) (4.6.17)
Esto resulta en una relacin entre la nueva variable X y Y : Y = AX + B (4.6.20)
128
Los puntos originales (xk , yk ) en el plano xy se transforman en los puntos (Xk , Yk ) = (xk , ln(yk )) en el plano XY. Este proceso es llamado linealizacin de datos.Entonces el mtodo de mnimos cuadrados de la ecuacin (4.6.20) ajusta la lnea a los puntos {(Xk , Yk )}. Las ecuaciones normalizadas para encontrar A y B son: n n n P 2 P P Xk Yk k=1 Xk k=1 Xk A n = k=1 (4.6.21) n P B P Xk n Yk
k=1 k=1
El parmetro C se calcula de la ecuacin (4.6.17), una vez hallados los valores de A y B: C = eB
(4.6.22)
Ejemplo 15 Use el mtodo de linealizacin de datos y encuentre el ajuste exponencial y = CeAx para los puntos dados por (0,1.5), (1,2.5), (2,3.5), (3,5) y (4,7.5). Sol. Aplicando la transformacin (4.6.19) se obtiene: {(Xk , Yk )} = {(0, ln(1.5)), (1, ln(2.5)), (2, ln(3.5)), (3, ln(5.0)), (4, ln(7.5))}
= {(0, 0.40547), (1, 0.91629), (2, 1.25276), (3, 1.60944), (4, 2.01490)}(4.6.23)
La ecuacin de la recta Y = AX + B ajustada por mnimos cuadrados para los puntos (4.6.23) est dada despus de clculos (ver Problema 1) por Y = 0.391202X + 0.457367 (4.6.24)
y la grca correspondiente se muestra en la Fig. 4.13. El valor de C se determina de la ecuacin (4.6.22), es decir, C = e0.457367 = 1. 6. De aqu se obtiene el ajuste exponencial dado por: y = 1. 6e0.391202x cuya grca se muestra en la Fig. 4.14. (4.6.25)
4.6.4
Ajuste polinomial
Cuando el mtodoprecedente se adapta para usar las funciones {fj (x) = xj1 }y el ndice de los rangos de sumacin desde j = 1 hasta j = m + 1, la funcin f (x) ser un polinomio de grado m: (4.6.26) f (x) = c1 + c2 x + c3 x2 + + cm+1 xm Ahora se mostrar como encontrar, v. gr., la parbola con mnimos cuadrados, y la extensin a un polinomio de grado ms alto.

y 3
129
2.5
1.5
0.5
0 0 1.25 2.5 3.75 x 5
Figura 4.13: Puntos de datos transformados {(Xk , Yk )}. Teorema 4 (Parbola con mnimos cuadrados) Supngase que {(xk , yk )}n son n puntos, k=1 donde las abscisas son distintas. Los coecientes de la parbola por mnimos cuadrados y = f (x) = Ax2 + Bx + C
(4.6.27)
son los valores solucin de A, B y C del sistema lineal n X

k=1 k=1
x4 k x3 k
n X
! !
A+ A+
n X n X
k=1 k=1
x3 k x2 k
! !
B+ B+
n X n X
k=1 k=1
x2 k xk
! !
C = C =
n X k=1 n X k=1 n X k=1
yk x2 k yk xk yk (4.6.28)
n X
k=1
x2 k
A+
n X
k=1
xk
B + nC =
Prueba. Los coecientes A, B y C minimizarn la cantidad

n X k=1
0 = E(A, B, C) =
Ax2 + Bxk + C yk k
(4.6.29)
130

y 10
7.5
2.5
0 0 1.25 2.5 3.75 x 5
Figura 4.14: Ajuste exponencial a y = 1. 6.e0.391202x obtenido por el mtodo de linealizacin de los datos Las derivadas parciales relativas a A, B y C deben ser cero. Esto resulta en 0 = 0 = 0 = X E =2 Ax2 + Bxk + C yk (x2 ) k k A
k=1 k=1 n X k=1 n X n
E =2 B E =2 C
Usando la propiedad distributiva de la adicin y llevndola a forma de matriz se obtiene: Pn Pn Pn Pn 4 3 2 2 A Pk=1 xk Pk=1 xk Pk=1 xk Pk=1 yk xk n n 2 n x3 B = n yk xk (4.6.31) k=1 xk k=1 Pk=1 k Pk=1 xk Pn n n 2 n C k=1 xk k=1 xk k=1 yk que es la misma expresin dada por la ecuacin (4.6.30) Ejemplo 16 Encontrar la parbola con mnimos cuadrados para los cuatro puntos (3, 3), (0, 1), (2, 1) y (4, 3). Sol. Los datos y operaciones de suma El sistema lineal quedar: 353 45 45 29 29 3 requeridas, se muestran en la Tabla 4.6 29 A 79 3 B = 5 4 C 8
2 Axk + Bxk + C yk
Ax2 + Bxk + C yk (xk ) k
(4.6.30)
131
La solucin de este sistema lineal es A = 585/3278, B = 631/3278, C = 1394/1639 y la parbola deseada es y = 0.17846x2 0.1925x + 0.85052
3
2.5
1.5
0.5 0 -2.5 -1.25 0 1.25 2.5 3.75 x
Figura 4.15: Ajuste a una parbola usando mnimos cuadrados. La respuesta grca se puede ver en la Fig. 4.15.
4.6.5
Software para Anlisis Estadstico de Datos Experimentales
El anlisis estadstico y la presentacin de los datos ha llegado a ser una caracterstica necesaria de muchos proyectos de ingeniera y administracin. La mayora de las hojas de clculo electrnico contienen funciones estadsticas y algunos programas contienen altas capacidades esR R R R tadsticas (v. gr., Matlab , SWP , Stella , Excel , etc.). Los mejores programas contienen no solamente clculos par determinar la media y la dispersin estndar, ordenamiento de datos e histogramas, sino tambin clculos de coecientes de regresin lineal y no lineal, coecientes R de correlacin y tablas de funciones de distribucin (t, 2 , etc) (Simscript ).
132
Tabla 4.5: Valores mnimos del coeciente de correlacin para un nivel de signicancia a. n 0.2 0.1 0.05 0.02 0.01 3 0.951 0.988 0.997 1.000 1.000 4 0.800 0.900 0.950 0.980 0.990 5 0.687 0.805 0.878 0.934 0.959 6 0.608 0.729 0.811 0.882 0.917 7 0.551 0.669 0.754 0.833 0.875 8 0.507 0.621 0.707 0.789 0.834 9 0.472 0.582 0.666 0.750 0.798 10 0.443 0.549 0.632 0.715 0.765 11 0.419 0.521 0.602 0.685 0.735 12 0.398 0.497 0.576 0.658 0.708 13 0.380 0.476 0.553 0.634 0.684 14 0.365 0.458 0.532 0.612 0.661 15 0.351 0.441 0.514 0.592 0.641 16 0.338 0.426 0.497 0.574 0.623 17 0.327 0.412 0.482 0.558 0.606 18 0.317 0.400 0.468 0.543 0.590 19 0.308 0.389 0.456 0.529 0.575 20 0.299 0.378 0.444 0.516 0.561 25 0.265 0.337 0.396 0.462 0.505 30 0.241 0.306 0.361 0.423 0.463 35 0.222 0.283 0.334 0.392 0.430 40 0.207 0.264 0.312 0.367 0.403 45 0.195 0.248 0.294 0.346 0.380 50 0.184 0.235 0.279 0.328 0.361 100 0.129 0.166 0.197 0.233 0.257 200 0.091 0.116 0.138 0.163 0.180
Tabla 4.6: Obtencin de los coecientes para un parbola de mnimos cuadrados xk yk x2 x3 x4 xk yk x2 yk k k k k 3 3 9 27 81 9 27 0 1 0 0 0 0 0 2 1 4 8 16 2 4 4 3 16 64 256 12 48 P P P P P P P =3 =8 = 29 = 45 = 353 =5 = 79
Captulo 5
Incertidumbre Experimental
5.1 Introduccin
El anlisis de la incertidumbre es parte vital de cualquier programa experimental o diseo de sistemas de medida. En este captulo, se proporcionarn mtodos para combinar las incertidumbres de las fuentes de manera que se pueda estimar la incertidumbre de los resultados nales de un experimento. Cualquier resultado experimental involucrar algn nivel de incertidumbre que puede ser originada por diferentes causas tales como la carencia de precisin del equipo de medida, variacin aleatoria de los elementos de medicin (parmetros fsicos) y aproximaciones en los datos recolectados. Todas estas incertidumbres pueden eventualmente afectar el resultado nal de la medicin, llevando al sistema a una incertidumbre global. A este resultado se le denomina propagacin de la incertidumbre y es un aspecto importante de cualquier experimento en ingeniera. El anlisis de incertidumbre se efecta en varias etapas del proceso: Etapa de diseo. Para seleccionar las tcnicas de medicin y los dispositivos requeridos. Despus de completar la toma de datos. Para demostrar o vericar la validez de los resultados. Mientras se realizan o se validan los experimentos. Para identicar las acciones correctivas Los aspectos bsicos se presentan en este captulo. Para detalles adicionales se puede consultar la Norma ANSI/ASME(1986) [1].
5.2
Propagacin de las Incertidumbres
Sea R, una funcin resultante de n variables independientes medidas x1 , x2 , . . . , xn dada por R = f (x1 , x2 , . . . , xn ) 133 (5.2.1)
134
CAPTULO 5. INCERTIDUMBRE EXPERIMENTAL
Las xi son las cantidades medidas (salidas de instrumento o componentes). Se puede relacionar un pequeo cambio en R, con pequeos cambios en los xi , xi a travs de la expresin diferencial R = X R R R R x1 + x2 + + xn = xi x1 x2 xn xi
i=1 n
(5.2.2)
Esta ecuacin es exacta si los son innitesimales: de otra forma, es una aproximacin. Si R es un resultado calculado basado en los xi medidos, se pueden reemplazar los valores de los xi por las incertidumbres en las variables, denotadas por wxi y R se puede reemplazar por la incertidumbre en el resultado denotada por wR . Cada uno de los trminos de la ecuacin (5.2.2) puede ser positivo o negativo y, puesto que se designarn los w como un rango ms/menos para la mayora de los errores probables, la ecuacin (5.2.2) no producir un valor verdadero para wR . Podra ser posible, en principio, que los trminos positivos y negativos llegaran a cancelarse obtenindose eventualmente un valor de cero para wR. Por lo tanto, se utiliza estimar el valor de la incertidumbre de R haciendo positivos todos los trminos del miembro de la derecha de la ecuacin (5.2.2). En forma matemtica, quedar: n X R wxi wR = xi
i=1
(5.2.3)
No es muy probable que todos los trminos en la ecuacin (5.2.2) sean simultneamente positivos o que los errores en los x individuales estn en el extremo del intervalo de incertidumbre. Consecuentemente, la ecuacin (5.2.3) producir un estimativo muy alto para wR . Un mejor estimativo para la incertidumbre est dado por v u n 2 uX R t wx (5.2.4) wR = xi i
i=1
Las bases conceptuales para la ecuacin (5.2.4) se discuten, v.gr., en Coleman y Steel [9]. A veces se conoce como raiz cuadrada de la suma de los cuadrados (rcs). Cuando se usa la ecuacin (5.2.4), el nivel de conanza en la incertidumbre del resultado R, ser la misma que los niveles de conanza de las incertidumbres en los x. Como conclusin, es conveniente que todas las incertidumbres utilizadas en la ecuacin (5.2.4) sean evaluadas al mismo nivel de conanza. Hay una restriccin signicativa para el uso de la ecuacin (5.2.4). Cada una de las variables, como se dijo al principio, deben ser independientes entre si. Esto es, un error en una variable no deber estar correlacionado con el error en otra. Si las variables no son independientes, la formulacin es ligeramente diferente y se discute en [1] y en [9]. Cuando en el problema se conoce una cierta precisin total necesaria y se desea saber qu precisiones se requieren en los componentes, puede emplearse un mtodo aproximativo. Para
5.2. PROPAGACIN DE LAS INCERTIDUMBRES
135
ello es posible apreciar que este problema es matemticamente indeterminado, ya que existe un nmero innito de combinacin de estimativos para las incertidumbres individuales que puedan dar por resultado la misma incertidumbre total. Los medios para eliminar esta dicultad se encuentran en el mtodo de efectos iguales. En esta teora se supone simplemente que cada fuente de error contribuir con una cantidad de error igual. Matemticamente, si v u n 2 uX R t wx wR = xi i
i=1
entonces, si cada trmino contribuye con el mismo error se tendr: s 2 R wx n wR = x y de aqu se obtiene despejando wx : wR wx = R n x
(5.2.5)
(5.2.6)
De esta expresin, se puede obtener el error admisible, wx para cada medida que deba realizarse. Ejemplo 17 Para calcular el consumo de potencia en un circuito resistivo, se han medido la tensin y la corriente en el mismo encontrndose para la tensin V = 120 2 V y para la corriente I = 10 0.2 A.Calcular el errormximo posible y el mejor estimativo de la incertidumbre en el clculo de la potencia. Suponer el mismo nivel de conanza para V e I. Sol. Escribiendo la ecuacin de potencia P = V I y calculando las derivadas parciales respecto a V e I se obtiene P = I = 10A V Entonces wP mx a wP P P + wV wI = 10 2 + 120 0.2 = 44W = V I s 2 2 p P P wV wI = + = (10 2)2 + (120 0.2)2 = 31.24W V I R = V = 120V I
El mximo error en 44W es del 3.67% de la potencia (P = V I = 12010 = 1200W ) mientras que valor estimativo de la incertidumbre es a 31.24W es 2.60%. Si la resultante R es dependiente solo del producto de las variables medidas, es decir,
136
Esta frmula es ms fcil de usar puesto que el error fraccional en el resultado R, est relacionado directamente con los errores fraccionales en las medidas individuales. Cada uno de los exponentes 1 , 2 , , n puede ser positivo o negativo. Una caracterstica importante de las ecuaciones (5.2.4) y (5.2.8) es que, puesto que los trminos individuales son elevados al cuadrado antes de sumarse, los trminos de valor mayor tienden a ser dominantes. La ecuacin (5.2.4) tambin se puede utilizar en la fase de diseo de un esperimento para determinar la precisin requerida de los instrumentos y otros componentes. Ejemplo 18 Considrese un experimento para medir, por medio de un dinammetro, el promedio de potencia transmitida por un eje giratorio. La frmula para la potencia en caballos de fuerza puede escribirse como: 2LF (5.2.9) Php = 550t donde $ revoluciones del eje durante el tiempo t, L $ longitud del brazo del par motor, [pies], F $ fuerza en el extremo del brazo del par, [lbf], t $ tiempo que dura el experimento, [s].Si para una observacin especca los datos son: F = 1202 1.0 rev = 10.12 0.04 lbf
Se puede demostrar que la ecuacin (5.2.4) toma una forma ms simple: v u n 2 wR uX wi =t i R xi

i=1
R = Cx1 x2 xn n 1 2
(5.2.7)
(5.2.8)
L = 15.63 0.05
t = 60.00 0.50 s (5.2.10)
Sol. Transformando la ecuacin (5.2.9) en funcin de unidades de pulgada, se tiene LF LF 2 = 12 550 t t 4 . Calculando las diferentes derivadas parciales, se obtiene: donde = 9.520 0 10 Php LF 15.63 10.12 = = 9.52 104 = 2.509 7 103 t 60 Php F 1202 10.12 = = 9.52 104 = 0.19301 L t 60 Php L 1202 15.63 = = 9.52 104 = 0.29809 F t 60 Php LF 1202 15.63 10.12 = 2 = 9.52 104 = 5.0278 102 t t 602 Php =
5.2. PROPAGACIN DE LAS INCERTIDUMBRES El error absoluto mximo ser: Php Php Php Php + + + whpmx = w wL wF wt a L F t whpmx = 4.9223 102 hp a La potencia total est dada por: Php = LF 1202 15.63 10.12 = 9.52 104 = 3.0167 hp t 60
137
whpmx = 2.5097 103 1.0 + 0.19301 0.05 + 0.29809 0.04 + 5.0278 102 0.5 a
El resultado puede, entonces, expresarse como Php = 3.017 0.049 hp Php = 3.017 1.6% hp La ecuacin (5.2.4) puede usarse para estimar el lmite de la incertidumbre en la medida s 2 2 2 2
whp = whp =
whp = 2.9556 102
p (2.5097 103 1.0)2 + (0.19301 0.05)2 + (0.29809 0.04)2 + (5.0278 102 0.5)2
Php w
Php wL L
Php wF F
Php wt t
Se puede observar que whp < whpmx Se puede armar que el error es quiz tan grande como a 0.049hp, pero probablemente no mayor que 0.029 hp. Supngase que en el ejemplo anterior se desea medir la potencia con una precisin del 0.5%.Qu precisiones se requieren en las medidas individuales? Sol. Utilizando la ecuacin (5.2.6), se obtiene para cada parmetro: w = wL = wF = wR R n wR R n L wR R n F wR R n t 3.0167 0.005 = 3.005rev = 4 2.5097 103 3.0167 0.005 = = 3.9074 102 pulg 4 0.19301 3.0167 0.005 = 0.0253lbf = 4 0.29809 3.0167 0.005 = 0.15s = 4 5.0278 102 (5.2.11) (5.2.12) (5.2.13) (5.2.14)
wt =
Si se encuentra que el mejor instrumento y tcnica disponibles para medir, v. gr., la fuerza, F, son buenos slo hasta 0.04 lbf en lugar de 0.025 lbf que pide la ecuacin (5.2.13), esto signica
138
necesariamente que Php no medirse al 0.5%. Sin embargo, ello no quiere decir que una o ms de las otras cantidades (, L o t), deban medirse con mayor precisin que la requerida en las ecuaciones (5.2.11), (5.2.12) y (5.2.14), respectivamente. Haciendo una o ms de estas medidas con mayor precisin, puede contrarrestarse el error excesivo en la medida de F.
5.2.1
Consideraciones de sesgo y precisin
En las primeras fases del diseo de un experimento, no es prctico separar los efectos del sesgo y los errores de precisin. Se puede usar la ecuacin (5.2.4) con estas incertidumbres de las variables medidas para estimar la incertidumbre resultante. En un anlisis ms detallado, es deseable mantener separado el anlisis de la incertidumbre en el sesgo (sistemtica) con la incertidumbre en la precisin (aleatoria). Estas incertidumbres conocidas como lmite de sesgo y lmite de precisin, respectivamente, se denotan por los smbolos B y P. El error de precisin es aleatorio en medidas individuales y su estimacin depende del tamao de la muestra. El error de sesgo no vara durante lecturas repetidas y es independiente del tamao de la muestra. El error de precisin usualmente se determina por mediciones repetidas de la variable de inters (o mediciones repetidas en pruebas de calibracin). Los datos medidos se usan para calcular la desviacin estndar muestral de las mediciones, la cual se denomina ndice de precisin, Sx en anlisis de incertidumbre. " #1 n 2 1 X 2 Sx = (xi x) (5.2.15) n1
i=1
Entonces se puede determinar el lmite de precisin, Pxi , para una medida simple xi puede entonces estimarse utilizando el mtodo t Student : Pxi = tSx (5.2.16)
donde t es la funcin de nivel de conanza (v.gr., 95%) y los grados de libertad. El uso de la distribucin t en la ec (5.2.16) es diferente de la discusin de la distribucin t dada en la desigualdad (4.4.14). En ese caso la distribucin t se aplica solamente al intervalo de conanza sobre la media de un conjunto de medidas. En ANSI/ASME 86 [1]; sin embargo, la distribucin t se aplica al clculo del intervalo de conanza de una medida individual cuando la desviacin estndar se basa en una muestra pequea. Si se desea predecir la incertidumbre de la media, x, de las medidas (xi ), se sigue la formulacin dada antes. Puesto que la desvicin estndar de la media se relaciona con la desviacin estndar de las mediciones por Sx Sx = n la incertidumbre de la media estar dada por Px = tSx (5.2.18) (5.2.17)
5.2. PROPAGACIN DE LAS INCERTIDUMBRES El intervalo de incertidumbre en la precisin est dado por tSx Px = n
139
(5.2.19)
El nivel de conanza en la incertidumbre, w, que el nivel de conanza en P.En ANSI/ASME 86 se recomienda que para anlisis de incertidumbre se use un nivel de conanza del 95%. Existen muchas situaciones en las cuales resulta un error grande de sesgo debido a la instalacin de los dispositivos de medida. Un ejemplo es la medicin de la temperatura de un gas caliente cuando se retiene el gas en un contenedor fro. La transferencia de calor por radiacin entre las paredes del contenedor y el dispositivo de medida resultar en valor medido inferior a la verdadera temperatura del gas. Errores dinmicos y espaciales tambin pueden introducir grandes errores de sesgo. En muchos casos es posible reducir el error de sesgo corrigiendo analticamente los datos. Este proceso de correccin puede reducir signicativamente este tipo de error, pero como el proceso de correccin es en s mismo incierto, el proceso no puede reducir el error de sesgo a cero. Ejemplo 19 Para estimar el valor calrico de un campo de gas natural se tomaron diez muestras y valor calrico de cada muestra se midi con un calormetro. Los valores medidos en kJ/kg son 48530, 48980, 50210, 49860, 48560, 49540, 49270, 48850, 49320, 48680 Asumiendo que el calormetro no introduce error de precisin, calcular el lmte de precisin (a) de cada medida (b) el lmite de precisin de la media de las medidas. Usar un nivel de conanza del 95%. Sol. Tomando xi como el valor calrico, la media ser x= 1X xi = 49180 kJ/kg n
El lmite de sesgo, B, permanece constante si se repite la prueba bajo las mismas condiciones. Los errores de sesgo incluyen aquellos errores que son conocidos pero no se han eliminado por medio de calibracin y otros errores jos que pueden ser estimados pero no eliminados del proceso de medida. Para combinar las incertidumbres de precisin y sesgo, se usa la expresin p w = P 2 + B2 (5.2.20)
La desviacin estndar de las muestras es:
P 1 (xi x)2 2 = 566.3 kJ/kg Sz = n1
140
Usando distribucin t de Student para un nivel de conanza de 95% y grados de libertad de 10 1 = 9, el valor de t se encuentra como t = 2.26 (a) El lmite de precisin de cada muestra ser Pi = tSx = 2.26 566.3 = 1280 kJ/kg
(b) Puesto que Sx = Sx / n, el lmite de precisin del valor medio ser tSx 2.26 566.3 = 404.7kJ/kg Px = = n 10 Ejercicio 2 La especicacin dada por el fabricante para el calormetro en el ejemplo anterior, establece que el calormetro tiene una precisin de 1.5% del rango total de 0 a 100000 kJ/kg. Calcular el estimativo de la incertidumbre total (a) del valor medio de las medidas del ejemplo, (b) una medida del valor calrico dado como 49500 kJ/kg, el cual fue medido posteriormente a las medidas dadas en el ejemplo. Sol. Los datos disponibles son: Valor medio x = 49180 kJ/kg Lmite de precisin de la media Px = 404.7 kJ/kg Lmite de precisin del valor individual Pi = 1280 kJ/kg Error de sesgo B = 0.015 105 = 1500 kJ/kg Se ha supuesto que la exactitud est denida slo con el error de sesgo (a) El lmite de precisin de la media es 404.7 kJ/kg. De acuerdo a la ec (5.2.20), la incertidumbre total de la medida con un nivel de conanza de 95% ser p p w = P 2 + B 2 = 404.72 + 15002 = 1553. 6 kJ/kg
el cual es 3.1% del valor medio. (b) El lmite de precisin de una medida individual es 1280kJ/kg. Consecuentemente, la incertidumbre de una medida de este estilo con 95% de nivel de conanza ser wi = (Pi2 + B 2 )1/2 = (12802 + 15002 )1/2 = 1971. 9 kJ/kg el cual es el 4% del valor medido. Ejemplo 20 Como se muestra en la Fig. ??, un sensor para medir temperatura se usa para medir la temperatura, Tg , de un gas caliente en un ducto. La lectura del sensor Ts, es de 773 K y la temperatura de la pared, Tw , es de 723K. Se espera que el sensor tenga una lectura ms baja que la verdadera temperatura del gas debido a que el sensor se enfra por radiacin hacia
5.2. PROPAGACIN DE LAS INCERTIDUMBRES
141
Figura 5.1: Error por radiacin. la pared ms fra del ducto. Se puede utilizar la siguiente frmula para corregir el error de la medida debido a la radiacin: 4 4 (5.2.21) Tc = Tg Ts = (Ts Tw ) h es la constante de StefanBoltzmann, la cual tiene un valor de 5.669108 W/m2 K, h es el coeciente de transferencia de calor entre el gas y el sensor de temperatura y es la emisividad de la supercie del sensor de temperatura. La temperatura debe estar en K. El valor de es +0.1 0.9 + y el valor de h es 50 10 W/m2 K. Se puede despreciar la incertidumbre en la 0.2 medida de la temperatura. Determinar (a) La correccin de la temperatura y (b) la incertidumbre en la correccin. Sol. (a) Sustituyendo en la ecuacin (5.2.21) se obtiene Tc = Tg Ts = 5.669 108 0.9 4 4 (Ts Tw ) = (7734 7234 ) = 85. 506 K h 50
(b) Se puede utilizar la ecuacin (5.2.8) para estimar las incertidumbres. Se debe notar que el intervalo de la incertidumbre positiva es diferente al de la negativa, debido a que la emisividad tiene incertidumbre asimtrica. " " # 2 #1/2 w 2 1/2 + 2 w 0.1 2 10 h + + = + = 0.228 79 wT = h 0.9 50
+ wT = 0.228 79 86 = 19. 676 K
142 " 2
CAPTULO 5. INCERTIDUMBRE EXPERIMENTAL #1/2 " 2 2 #1/2
wT =
w 2
h
0.2 0.9
10 50
= 0.298 97
wT = 0.298 97 86 = 25.711 K
El mejor estimativo de la temperatura ser Tg = 773 + 86 = 859 + 86 +19.7 25.7
+19.7 a un intervalo de . Es este intervalo el que As se ha reducido el error de sesgo de 25.7 deber aplicarse en un anlisis completo de la incertidumbre. El error de sesgo mximo se ha reducido a menos de un tercio de su valor original.
Captulo 6
Sensores de parmetro variable

6.1 Introduccin
Los transductores de parmetro variable constituyen un importante grupo de captadores de seal, pu-diendo armarse que cubren la mayor parte de las aplicaciones industriales. Se caracterizan por su robustez y simplicidad constructiva porque producen una salida que est relacionada con la variacin de un determinado parmetro elctrico pasivo (resistencia, capacitancia, inductancia, acoplamiento magntico, etc.) originada por una variacin proporcional de la magnitud fsica que se quiere medir.
6.2
Transductores potenciomtricos
Un potencimetro consiste esencialmente en un resistencia ja sobre la cual desliza un cursor accionado por rotacin, por deslizamiento lineal, o por ambos efectos combinados. Se trata pues, de elementos de tres terminales (ver Fig. 6.1) de los cuales dos corresponden a los extremos de la resistencia y el tercero est conectado al cursor.
A
+ vi R
| x Rf(x) | B
+ o -
Figura 6.1: Transductor potenciomtrico. 143
144
CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE
En la Fig. 6.1 estn indicados los siguientes parmetros R: Resistencia total. x: Desplazamiento del cursor a partir de un extremo de referencia. Rf (x): Resistencia comprendida entre el extremo de referencia y el cursor, siendo 0 f (x) 1 Supngase que se aplica una tensin vi entre los terminales A y B con la polaridad indicada. En este caso, la tensin v0 de salida entre el cursor y el extremo de referencia B ser: vi = vi f (x) R expresin que indica que la tensin de salida est relacionada con la tensin de entrada mediante una funcin que depende nicamente de las caractersticas constructivas del potencimetro y del desplazamiento del cursor. v0 = Rf (x)
Cursor
vS vO
Figura 6.2: Potencimetro angular. Atendiendo a la naturaleza del desplazamiento x, se tienen los siguientes tipos de transductores potenciomtricos: Potencimetros de desplazamiento lineal: El cursor desliza longitudinalmente sobre un elemento resistivo rectilneo (ver Fig. 6.1). Potencimetros angulares: El cursor desliza sobre un elemento resistivo en forma de sector circular, girando alrededor de un punto central (la variable x corresponde al ngulo girado) (ver Fig. 6.2). Potencimetros multivuelta o helicoidales: En este caso el elemento de resistencia tiene forma de hlice de varios pasos (normalmente 10 20) y el cursor desliza sobre el mismo,
6.2. TRANSDUCTORES POTENCIOMTRICOS
145
girando alrededor de un eje central y desplazndose al simultneamente paralelo al mismo (la variable x corresponde al ngulo de giro que puede ser, por supuesto, superior a 360 ). En otro tipo de disposicin constructiva, el elemento resistivo es rectilneo y el cursor est accionado por un tornillo sin n cuyo eje es paralelo a dicho elemento. Atendiendo, por otra parte, a la naturaleza de la funcin f (x), se pueden obtener diferentes tipos de potencimetros. A continuacin se muestran algunos prototipos funcionales.
6.2.1
Potencimetro de funcin lineal

f (x) = Kx (6.2.1)
La funcin f (x) es del tipo y como para x = xmx (cursor lo ms alejado posible del extremo de referencia) se cumple que a f (xmax ) = 1 = Kxmax se tiene f (x) = x xmax x xmax
= v0 =
vi
(6.2.2)
6.2.2
Potencimetros logartmicos y antilogartmicos
Para los potencimetros logartmicos la funcin f (x) es del tipo x f (x) = M log A +B xmax y con las condiciones de contorno f (0) = 0, f (xmax ) = 1, se deduce 0 = M log B = B = 1 1 = M log(A + 1) = M = o sea f (x) = y la tensin de salida ser x 1 v0 = f (x)vi = log A + 1 vi log(A + 1) xmax 1 log(A + 1)
(6.2.3)
x log A xmax + 1 log(A + 1)
(6.2.4)
(6.2.5)
146
y 1
0.75
0.5
0.25
0 0 0.25 0.5 0.75 x 1
Figura 6.3: Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10, lnea punteada A = 100. De lo anterior se deduce que existen innitas funciones posibles haciendo variar el parmetro A. Para A = 0 se tiene el caso particular del potencimetro lineal. Por otra parte, es de observar que el carcter de la funcin logartmica es absolutamente general ya que no se ha hecho referencia a la base de la misma. En la Fig. 6.3 se observa la respuesta normalizada para algunos valores de A. Los potencimetros antilogartmicos corresponden a una funcin f (x) inversa de la correspondiente a los logartmicos y, mediante razonamiento similar, se llega a la forma analtica: f (x) = o sea
x 1 (A + 1) xmax 1 A
(6.2.6)
(A + 1) xmax 1 v0 = vi A
(6.2.7)
x Al igual que en el caso anterior, para A = 0 se obtiene f (x) = xmax , es decir, el potencimetro lineal. La respuesta normalizada para algunos valores de A, aparecen gracados en la Fig. 6.4.
6.2.3
Potencimetros trigonomtricos
Normalmente son giratorios (x = =ngulo de giro) y la tensin de salida es proporcional al seno o al coseno del desplazamiento angular del cursor (nicas funciones trigonomtricas acotadas). La disposicin constructiva diere sustancialmente de la representada en la Fig. 6.1 ya que, dada la naturaleza de las funciones seno y coseno (que toman valores positivos y negativos), es necesaria una fuente de alimentacin de doble polaridad. En la Fig. 6.5 se ilustran las conexiones asociadas a un potencimetro senoidalcosenoidal con dos cursores a 90 .

y 1
147
0.75
0.5
0.25
0 0 0.25 0.5 0.75 x 1
Figura 6.4: Respuesta de una funcin exponencia lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10, l: lnea punteada A = 100. Por supuesto, la resistencia estar diseada de modo que su variacin con el ngulo responda a la funcin trigonomtrica. Realmente, se trata de cuatro potencimetros ya que se tiene un elemento resistivo por cada cuadrante. Considerando, por ejemplo, el cursor que forma un ngulo con la horizontal, puede escribirse: v0 = o sea R() vi = vi sen R( ) 2
R() = R( )sen 2 en el primer cuadrante. El potencimetro completo estar constituido por resistencias simtricas con la misma ley de variacin, dispuestas en los cuatro cuadrantes.
6.2.4
Potencimetros Funcionales
En estos potencimetros la funcin F (x) es general, y en muchos casos emprica, adaptada al caso particular en estudio. Entre ello, son de particular inters los llamados potencimetros programables o potencimetros gene-radores de funciones, que permiten la sntesis de cualquier funcin F (x) mediante aproximacin por tramos rectilneos. Se caracterizan por tener una serie de tomas intermedias accesibles en terminales exteriores a los que se aplican tensiones continuas preajustadas segn los valores de la funcin y que pueden obtenerse, por ejemplo, mediante potencimetros convencionales. De acuerdo con este principio, la tensin v de salida en el cursor mvil tomar los mencionados valores preajustados al pasar dicho cursor por cada una de las tomas intermedias, variando linealmente entre cada dos tomas adyacentes.
148
Figura 6.5: Potencimetro trigonomtrico. Tomando como variable independiente x el desplazamiento del cursor, puede as construirse la funcin F (x) que pasa por una serie de puntos discretos cuyas coordenadas corresponden a los valores de x asociados a las tomas y a los valores de tensin preajustados en dichas tomas.
6.2.5
El potencimetro como elemento del circuito
Hasta ahora se ha considerado el transductor potenciomtrico como elemento aislado generador de una seal representativa de la magnitud a medir, sin tener en cuenta los efectos que produce su inclusin en el circuito de medida. Antes de seguir adelante, se considera necesario hacer algunas reexiones relacionadas con el comportamiento elctrico del potencimetro y, puesto que ya se determinado la amplitud de la seal producida en su salida (en ausencia de carga exterior), se proceder a deducir sus impedancias de entra y salida, con lo cual quedar totalmente denido como componente. Para ello, y con referencia a la Fig. ??, suponiendo conectada una impedancia ZL de carga entre los bornes de salida, se tendr como impedancia de entrada: Zi = R [1 f (x)] + y operando la expresin anterior: Zi = ZL + Rf (x) [1 f (x)] R ZL + Rf (x) (6.2.8) ZL Rf (x) ZL + Rf (x)
149
Figura 6.6: Red con potencimetro. En cuanto a la impedancia de salida, y segn el teorema de Thvenin, equivaldr a la combinacin en paralelo de Rf (x) y R [1 f (x)], o sea: Zo = (6.2.9)
R2 f (x) [1 f (x)] = Rf (x) [1 f (x)] R Derivando esta ltima expresin e igualando a cero, se obtiene dZi df (x) = R [1 2f (x)] = 0
1 (6.2.10) 2 de donde se deduce que la impedancia de salida es mxima cuando las resistencias entre el cursor y los extremos son iguales. f (x) = Ejemplo 21 Un potencimetro lineal de resistencia R est cargado por una resistencia de valor kR. Sea la proporcin del recorrido total del contacto deslizante (6.7). Encontrar la la expresin de la salida del potencimetro versus . Solucin: La salida se mide a travs de la resistencia R en paralelo con kR. Se computa la razn k de la salida respecto a la entrada. Tratando la Fig. como un divisor de voltaje. E0 H= = Ei Simplicando esta expresin, kR2 k = 2 + (1 )R2 ( + k) kR k + + k 2 k k = 2++k . Se verica esta expresin para una carga muy liviana, k = . La expresin correcta para el . potencimetro sin carga es k = . H =
R(kR) R+kR R(kR) R+kR + (1 )R
150
vi
-
R
kR
vo
Figura 6.7: Potencimetro cargado con kR. Ejemplo 22 Determinar el error de no linealidad que se produce en un potencimetro lineal por causa de la carga. Solucin: Restando la salida real con carga de la salida terica sin carga: Error() = Simplicando la expresin del error: =
y 0.125
k ++k
2 (1 ) 3 + 2 + k k = 2 + + k 2 + k
0.1
0.075
0.05
0.025
0 0 0.25 0.5 0.75 x 1
Grco adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje. En aplicaciones de gran precisin, el potencimetro se carga muy ligeramente, o sea, k > 10. Para esta condicin 2 (1 ) (6.2.11) = k

0.15
151
0.125 y 0.1
0.075
0.05
0.025
0 0.25 0.5 0.75 x 1
Figura 6.8: Grco adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje. Ejercicio 3 Usando (6.2.11), encontrar el punto donde el error de no linealidad es mximo. Solucin: Se encuentra max por diferenciacin respecto de . Como = d 1 = (2 32 ) = 0, d k Resolviendo para , 2 3 Evidentemente, la curva de error tiene pendiente cero en el origen y un valor mximo en = 2/3, aproximadamente. 1 = 0, 2 = Ejercicio 4 Usando (6.2.11), encontrar el valor del mximo error debido a la carga. Dibujar versus . Solucin: Se sustituye = 2/3 en (6.2.11): = Si k = 10 = Una buena regla para recordar es 15 % k En la Fig.6.8 se ha dibujado la curva del error. El resultado es universal si se graca k en vez de . Para desarrollar caractersticas no lineales, los potencimetros pueden ser cargados de varias maneras. Para desarrollar no linealidades sustanciales se requiere una gran carga a la salida. max = ( 2 )2 (1 2 ) 1 4 1 4 2 (1 ) 3 = 3 = = k k k 9 3 27k 4 = 1.5% 270 o (2 3) = 0
2 3 k ,
152
Ejercicio 5 Analizar las no linealidades que pueden desarrollarse cargando ya sea la parte superior o la parte inferior del potencimetro de la Fig. (6.9).
(1-)R
k2R +
vi
-
R
k1R
vo
Figura 6.9: Potencimetro cargado. Solucin: la ecuacin de salida bsica para las cargas de la Fig.(hacer Fig.) se desarrolla fcilmente tratando la red como un divisor de voltaje. Se tiene, H= Simplicando la expresin de H: H= o H= k1 (k2 + 1 ) k1 (k2 + 1 ) + k2 (1 )(k1 + ) k1 (k2 + 1 ) 2 (k1 + k2 ) + (k1 + k2 ) + k1 k2 k1 k2 k1 = 2++k + k2 + k1 k2 1
k1 R(R) k1 R+R k1 R(R) (k2 R)(1)R k1 R+R + k2 R+(1)R
Para encontrar las funciones de varga separadas, se hace k2 = : H1 = A continuacin se hace k1 = : H2 = 2 k2
k1 (k2 + 1 ) (k2 + 1 ) = 2 k + k + k k 1 2 + + k2 1 1 2

1 0.9 0.8 y 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 x 0.8 0.9 1
153
Figura 6.10: Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales. La Fig. 6.10 muestra el grco de k1 y k2 versus el ngulo del eje para varios valores de k1 y k2 . las curvas universales del diagrama permiten una investigacin simple de las posibilidades de modelacin no lineal de curvas. Ejemplo 23 Tomando como referencia la Fig. (6.11), demostrar que el voltaje del punto nulo corresponde a la suma de los voltajes de entrada.
+
V
+
v1
v2 vn
V
I1 I2 R2 R1 RL In Rn
Figura 6.11: Red con potencimetros.
Solucin: Si los potencimetros de entrada se han dispuesto en V1 , V2 , V3 , . . . , Vn , los voltajes
154 en el punto cero son:
V0 = V1 I1 R1 = V2 I2 R2 = V3 I3 R3 ) = Vn In Rn Las corrientes individuales pueden calcularse fcilmente: I1 = I2 = I3 = In = donde G1 , G2 , G3 , . . . , Gn = V1 V0 R1 V2 V0 R2 V3 V0 R3 Vn V0 Rn = (V1 V0 )G1 = (V2 V0 )G2 = (V3 V0 )G3 = (Vn V0 )Gn 1 1 1 1 , , , , R1 R2 R3 Rn
Como la suma de las corrientes que entran al nodo deben ser igual a la corriente que circula desde el punto 0 a tierra, (V1 V0 )G1 + (V2 V0 )G2 + (V3 V0 )G3 + + (Vn V0 )Gn = V0 G0 Reordando, V1 G1 + V2 G2 + V3 G3 + + Vn Gn = V0 (G1 + G2 + G3 + + Gn ) Disponiendo G1 + G2 + G3 + + Gn = GT la conductancia total a tierra desde el punto 0; entonces V0 = V1 G1 G2 G3 Gn + V2 + V3 + + Vn GT GT GT GT (6.2.12)
El voltaje V0 del nodo es la suma de los voltajes individuales aplicados, cada uno multiplicado por un factor de escalmiento apropiado tal como se requiere. Ejemplo 24 Dos potencimetros de 1000 ohms se excitan en la forma que se muestra en la Fig. (). Calcular la corriente por el contacto deslizante del potencimetro cuando P1 se dispone en +7 V y el otro se dispone para producir un mnimo valor de 0 en el punto cero. Provoca esta corriente una imprecisin en la posicin? Qu efecto tiene la impedancia de entrada R0 del amplicador en los resultados?
6.2. TRANSDUCTORES POTENCIOMTRICOS Solucin: Usando (6.2.12) V0 = V1 Sustituyendo valores numricos, G1 = GT V0 1 1 1 = 104 , G2 = = 104 , G0 = = 105 R1 R2 R0 = (2 104 ) + 105 = 21 105 104 104 10 = V1 + V2 = (V1 + V2 ) V 21 105 21 105 21 G1 G2 + V2 , GT GT GT = G1 + G2 + G0
155
Para anular el voltaje de error con V1 = +7, V2 debe disponerse en 7 v. En el caso general, el drenaje de corriente puede introducir errores en la carga, que a su vez pueden ser evaluados. Sin embargo, en el caso actual, las cargas en ambos potencimetros son idnticas. Por lo tanto, para condiciones de equilibrio, las salidas de voltaje de ambos potencimetros, al ser efectadas en forma igual por la carga, no conducen a imprecisiones en la posicin del eje. La impedancia de entrada del amplicador afecta el factor de escalamiento de la salida ms no la posicin del punto nulo. Ejercicio 6 Los potencimetros del problema anterior desarrollan su salida total para un ngulo de rotacin de 320 . Si se gira el potencimetro P2 en un grado de su posicin de equilibrio nulo, qu voltaje de error aparece en el punto cero? Solucin: Tal como antes V1 = +7, V2 = 7 + V
donde V es el voltaje de salida de P2 para un desplazamiento de un grado de la posicin nula. Hay 20 V a travs de los 320 del potencimetro. Por lo tanto, un grado es equivalente a 1 20 = V = V 320 116 El incremento de voltaje en el punto de suma P0 es 1 10 1 10 +7 7 + = V0 = = 30mV 21 16 21 16 El gradiente del sistema es de 30 mV /grado.
156
6.2.6
Potencimetros Digitales
Un tipo de potencimetros programables son los potencimetros digitales (PD) los cuales constan de un dispositivo resistivo variable (VR) de 2n posiciones (si n = 8, entonces se tendrn 256 posiciones). Estos dispositivos realizan la misma funcin de ajuste electrnico que los de tipo mecnico. Los PD se fabrican de uno o ms canales, cada uno de los cuales est constituido por varias etapas: Un resistor jo con toma central (cursor). El valor del resistor se determina por un cdigo digital cargado en un registro de desplazamiento. Un latch (cerrojo) del VR, donde se programa el valor de la resistencia entre el cursor y cada uno de los terminales jos del resistor, la cual vara linealmente de acuerdo al cdigo digital transferido. Un registro de desplazamiento serieparalelo, el cual se carga desde una interface serie y actualiza el latch del VR. En la Fig. 6.12 se muestra el diagrama en bloques de un potencimetro digital comercial, el cual consta de dos canales con un registro serie de 9 bits cada uno. Cada bit es transferido al registro en el anco positivo del CLK.
Figura 6.12: Digrama de bloques funcionales del AD5262.
Interface digital El AD5260/AD5262 contiene una interface de control de entrada serial de tres hilos. Las tres entradas son el reloj (CLK ), El selector de circuito (CS) y la entrada de datos serie (SDI ). La
157
Figura 6.13: Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital entrada de CLK sensible al anco positivo, requiere transiciones limpias para evitar transferencia incorrecta de datos al registro de entrada serie. La lgica trabaja bien. La Fig. 6.13 muestra el diagrama de bloques con ms detalle de la circuitera interna del dispositivo. Cuando CS est bajo, el reloj carga el dato en el registro serie en cada anco positivo del reloj (ver Tabla 6.1). El terminal de salida de datos serie (SDO) contiene un FET de canal n de drenador abierto. Esta salida requiere un resistor de pullup (v. gr.: Rp = 2k) con el n de transferir los datos al pin SDI del siguiente circuito. Programacin del resistor variable La resistencia nominal del registro RDAC entre los terminales A y B est disponible, para el potencimetro de la Fig. 6.12 con valores de 20 k, 50 k y 200 k. La resistencia nominal (RAB ) del VR, para este caso particular, tiene 256 puntos de contacto, accesibles por el cursor, ms el terminal de contacto B. Los datos de ocho bits en el latch RDAC se decodican para seleccionar una de las 256 posiciones. Supngase que se va a utilizar un arreglo de 20 k. El primer valor de la conexin del cursor con respecto al terminal B ser de 00H . Puesto que, de acuerdo al fabricante, hay una resistencia de contacto de 60 con el cursor, tal conexin conduce a un mnimo de resistencia de 60 entre los terminales W y B. La segunda conexin es el primer punto intermedio (tap) que corresponde a 138 , es decir, RAB + RW = 78 + 60 = 138 RW B = 256
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CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE Tabla 6.1: Tabla de verdad del control de la lgica de entrada. CLK L P X X X X X CS L L P H X H H PR H H H H L P H SHDN H H H H H H L NOTE: Register Activity No SR eect, enables SDO pin Shift One bit in from the SDI pin. The eighth previously entered bit is shifted out of the SDO pin. Load SR data into RDAC latch based on A0 decode A0 = 0, RDAC #1, A0 = 1, RDAC #2 No Operation Sets all RDAC latches to midscale, wiper centered, & SDO latch cleared. Latches all RDAC latches to 80H. Open circuits all resistor Aterminals, connects W to B, turns o SDO output transistor. P = positive edge, X = dont care, SR = shift register
Tabla 6.2: Valores caractersticos en el potencimetro digital D [decimal] RW B [] Estado de salida 256 19982 Escala plena 128 10060 Escala media 1 138 1 LSB 0 60 Escala cero para el dato 01H . La conexin es el siguiente tap que representa 216 (78 2 + 60) para el dato 02H y as sucesivamente. Cada incremento en el valor del dato (1LSB) mueve el cursor hacia arriba en una escalera de resistencias hasta que el ltimo punto se alcanza en 19982 (RAB 1LSB + RW ). El cursor no conecta directamente al terminal B. En la Fig. 6.14 se puede observar un diagrama simplicado del circuito RDAC equivalente. La ecuacin general que determina la resistencia de salida programada digitalmente entre los terminales W y B es: D RAB + RW (6.2.13) RW B (D) = 256 donde D es el equivalente decimal del cdigo binario que se carga en el registro RDAC de 8 bits, y RAB es la resistencia nominal total. Por ejemplo, para RAB = 20 k, VB = 0 V y el circuito del terminal A est abierto, se obtienen los valores de la resistencia de salida RW B para los correspondientes valores de los cdigos del latch RDAC, los cuales se muestran en la Tabla 6.2. Los resultados seran los mismos si fuera el terminal A el que se conectara con W . En la condicin de escala cero la resistencia es muy baja, por lo cual se debe tener cuidado
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Figura 6.14: Circuito RDAC equivalente. con el ujo de corriente entre los terminales W y B mantenindolo en un lmite de 5 mA. Si no se hace esto podra destruirse el conmutador interno. De igual modo que el potencimetro mecnico, la resistencia del RDAC entre el cursor W y el terminal A tambin produce una resistencia controlada digitalmente RW A . Cuando se usan estos terminales, el terminal B deber estar abierto o conectado al cursor. Este modo de operacin hace que el valor de la resistencia RW A empiece al valor mximo de la resistencia y decremente en la medida que el valor de los datos cargados en el latch se incrementen. La ecuacin general para esta operacin es RW A (D) = 256 D RAB + RW 256 (6.2.14)
En la Tabla 6.3 se pueden observar algunos valores caractersticos para este modo de operacin. La distribucin tpica de la resistencia nominal RAB de canal a canal est ajustada en 1%. Programacin del potencimetro como divisor de tensin El potencimetro digital genera fcilmente tensiones de salida de W a B y de W a A de modo que sean proporcionales a la tensin de entrada de A a B. Ignorando temporalmente el efecto de la resistencia de contacto, por ejemplo, si se conecta el terminal A a +5 V y el terminal B a
160
CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE Tabla 6.3: Valores caractersticos en el potencimetro digital en modo inverso D [decimal] RW B [] Estado de salida 256 60 Escala plena 128 10060 Escala media 1 19982 1 LSB 0 20060 Escala cero
tierra se produce una tensin de salida de W a B empezando en cero voltios hasta 1 LSB menor que +5 V . La ecuacin general que dene la tensin de salida W a tierra para cualquier tensin de entrada dada entre los terminales AB es VW (D) = D 256 D VA + VB 256 256 (6.2.15)
La operacin del potencimetro digital en el modo de divisor resulta en una operacin ms precisa con respecto a la temperatura. A diferencia del modo de restato, la tensin de salida es dependiente de la relacin de los resistores internos RW A y RW B y no de sus valores absolutos.
6.3
Transductores termorresistivos
En general, la resistencia hmica de un material conductor o semiconductor depende en mayor o menor grado de la temperatura, de modo que existir una relacin R = f (T ) (6.3.1)
siendo R la resistencia del elemento sensible y T su temperatura y estando determinada la funcin f por la naturaleza del material. Se dene como coeciente de temperatura el cociente entre la variacin diferencial relativa de resistencia dR/R y la variacin correspondiente de temperatura dT =
dR R
dT
1 dR R dT
(6.3.2)
Para los conductores usuales la ley de variacin es lineal, del tipo R = R0 (1 + T ) (6.3.3)
mantenindose el coeeciente sensiblemente constante en una amplia gama de temperaturas (4.2 103 C 1 para el Cu, 6.6 103 C 1 para el Ni y 3 9 103 C 1 para el Pt). Es de destacar que la precisin de estos parmetros es tan alta que los termmetros de resistencia metlica se utilizan frecuentemente como patrones para medidas trmicas (por ejemplo, el termmetro de resistencia de platino se emplea como patrn internacional entre 190 C y
6.3. TRANSDUCTORES TERMORRESISTIVOS
161
660 C), pero tambin es necesario observar que su aplicacin industrial presenta algunos inconvenientes relacionados con problemas de contaminacin del elemento metlico, defectos de aislamiento, poca robustez, etc. En aplicaciones de termometra el elemento sensible forma parte, en general, de un puente de Wheatstone con el objeto el obtener seales de amplitud relativamente grandes sin amplicacin. Aunque existen muy diversos tipos de sondas termomtricas de resistencia metlica, se citarn dos muy utilizados industrialmente: El captador de bulbo, que incluye una vaina metlica protectora que contiene el hilo de resistencia y un material de sellado a travs del cual salen los conductores terminales, utilizndose normalmente para medida de temperatura de lquidos y gases. Por otra parte, el captador de supercie, consiste en una malla muy na de hilo metlico (por ejemplo, nquel) embebida en una placa de material aislante que se aplica a la supercie cuya temperatura ha de medirse. Otra aplicacin clsica de los transductores de resistencia metlica variable, es el llamado anemmetro de hilo caliente. El captador tiene en uno de sus extremos un hilo conductor muy delgado (dimetro del orden de 0.005 mm) a travs del cual se hace pasar una corriente elctrica de caldeo. Si dicha corriente se mantiene constante, la tensin que aparece entre extremos de la sonda ser proporcional a la resistencia de la misma, la cual depender a su vez de la temperatura, que estar determinada por las condiciones de refrigeracin impuestas por la corriente del uido cuya velocidad desea conocerse. La relacin de velocidadtensin de salida viene dada por la curva de calibracin que acompaa al transductor.
6.3.1
Circuitos de medida con sondas de resistencia metlica
Aunque son muy diversos los circuitos utilizados con sondas de resistencia metlica, se expone a continuacin, a modo de ejemplo, un esquema basado en la alimentacin a corriente constante de la termorresistencia, procedimiento que permite obtener directamente una tensin aproximadamente proporcional a la temperatura (con el error de linealidad inherente a la propia ley de variacin de la resistencia). En la Fig. 6.15, el amplicador operacional U1 est conectado como fuente de corriente e inyecta en la sonda una corriente i = vi /R1 (siempre que R Rs ), sirviendo el potencimetro P1 para ajustar el valor de dicha corriente. El amplicador U2 est conectado como sumador y su tensin vo de salida es: vo = Kf (iRs vp ) = Kf Rs vi vp R1 (6.3.4)
y sustituyendo, en primera aproximacin, Rs = Ro (1 + ), donde R0 es la resistencia de la sonda para = 0, se tiene: R0 (1 + T ) vi vp vo = Kf (6.3.5) R1
162
Figura 6.15: Circuito de amplicacin para una termorresistencia. Para T = 0, el potencimetro P2 deber ajustarse de modo que se cumpla vo = 0, para lo cual, segn la ecuacin (6.3.5), R0 vp = vi (6.3.6) R1 obtenindose entonces: vo = R0 Kf T vi R1 (6.3.7)
La resistencia variable conectada como realimentacin del amplicador U2 servir, obviamente, para el ajuste de fondo de escala dado que la tensin de salida es proporcional a Kf , de acuerdo con la ecuacin (6.3.7). La sensibilidad absoluta del circuito es: v vo Ro S o = = Kf vi R1 (6.3.8)
mientras que la sensibilidad relativa con respecto a todos los parmetros involucrados estar dada por vo v v vo v v v = STo = So = SKf = SRoo = SRo1 = 1 (6.3.9) So = vo
163
6.3.2
Detectores de temperatura resistivos (RTD)
Una caracterstica de los metales es que su resistencia elctrica es funcin de la temperatura del metal. As, un alambre de metlico de longitud l, combinado con un dispositivo de medicin de resistencia es un sistema de medida de temperatura. Los sensores de temperatura basados en el efecto de la resistencia de un metal se conocen como detectores de temperatura resistivos (RTD). Los RTD se usan para medir directamente la temperatura, tienden a ser muy estables. Por otra parte, las sondas RTD son en general sicamente ms grandes que las termocuplas, resultando en un resolucin espacial ms pobre y una respuesta transitoria ms lenta. Los sensores RTD ms comunes se construyen de platino, aunque se pueden utilizar otros metales incluyendo nquel y aleaciones de nquel. Para el platino la relacin resistencia temperatura est dada por la ecuacin CallendarVan Dusen: RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]} (6.3.10)
donde , y son constantes, dependientes de la pureza del platino la cual se determina por calibracin. La constante dominante es , la cual tiene un valor de 0.003921/ C para la denominada curva de calibracin americana, o 0.003851/ C para la curva de calibracin europea. Para la curva de calibracin americana, = 1.49 y = 0 para T > 0. y = 0.11 para T < 0.Fcilmente se puede adquirir los sensores correspondientes a cada curva. En las Figs. 6.16 y 6.17 se muestra la respuesta de R vs T para valores positivos y negativos de la temperatura, respectivamente.
y 300
250
200
150
100
50
0 0 125 250 375 x 500
Figura 6.16: Respuesta para T > 0. Hay un gran nmero de conguraciones de elementos sensores RTD. La Fig. 6.18 muestra un sensor de hilo de platino devanado y un sensor de pelcula delgada. En el sensor de hilo devanado, el platino se enrolla en un bobina y el ensamble completo se monta en una cubierta de cermica o de vidrio. El encapsulado previene dao o contaminacin. En el diseo de pelcula
164

150 y
125
100
75
50
25
0 -100 x -75 -50 -25 0
Figura 6.17: Respuesta para T < 0. delgada, el platino se monta en un sustrato de cermica y entonces es encapsulado con cermica o vidrio. El diseo de pelcula delgada es una tecnologa ms nueva y est ganando favor debido a su ms bajo costo. Es importante en el diseo de las sondas RTD minimizar el esfuerzo sobre el platino debido a la expasin trmica, puesto que el esfuerzo tambin causa cambios en la resistencia. Como en el caso de las galgas extensomtricas, el puente de Wheatstone es un circuito apropiado para medir el cambio de resistencia en los RTD. La Fig.6.19 muestra un puente de Wheatstone que podra utilizarse para medir la resistencia de un RTD. Hay que tener en cuenta la resistencia propia del alambre de conexin puesto que va a estar sometido al cambio de temperatura igual que la sonda. Si la temperatura cambia, tambin cambiar la resistencia del hilo. Si Vo se mide en la forma como est indicado, las resistencias en el hilo estarn en la misma rama del puente donde est el RTD y el cambio en la resistencia del hilo simplemente se sumar al cambio de resistencia del RTD. El circuito del la Fig. 6.19 (a) ser adecuado si la resistencia de los alambres terminales es baja y no se requiere gran precisin. Despreciando las resistencias de los alambres terminales y asumiendo que R1 = R4 , el anlisis del circuito conduce la siguiente expresin para la resistencia del RTD: RRTD = R2 Vcc 2Vo Vcc + 2Vo (6.3.11)
Se debe notar que el cambio en la resistencia de los RTD es muy grande comparada con las galgas extensomtricas (como se ver ms adelante), y la posible linealizacin para las galgas no es factible para los circuitos RTD. Como consecuencia, la ecuacin (6.3.11) muestra una relacin no lineal entre la tensin medida y la resistencia del RTD. Un circuito alternativo llamada el puente RTD de tres hilos se muestra en la Fig. 6.19 (b) donde un hilo adicional C, se ha agregado. Con este circuito, Rha (la resistencia del hilo A)
165
Alambres terminales
Pelcula de platino Cpsula de cermica
Alambre de platino 1 cm (a)
Sustrato
(b)
Figura 6.18: Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada. estar en la misma rama del puente como R2 y Rhb (la resistencia del hilo B), estar en la misma rama que el RTD Si los hilos de los terminales son del mismo material, tienen el mismo dimetro y longitud y siguen la misma trayectoria, los cambios en la resistencia de los terminales tendrn un efecto muy pequeo sobre Vo . No hay corriente a travs de Rhc , de modo que esta resistencia no afecta al circuito. Para este circuito, incluyendo las resistencia de los terminales (con R1 = R4 ), la resistencia del RTD estar dada por RRTD = R2 Vcc 2Vo 4Vo Rterm Vcc + 2Vo Vcc + 2Vo (6.3.12)
donde Rterm corresponde a la resistencia de los terminales. El segundo trmino en esta ecuancin usualmente es pequeo, pero para obtener los mejores resultados, se deber determinar el valor inicial de la resistencia de los terminales. El hecho de que Rterm (se supone que todos los terminales tienen la misma resistencia) tenga efecto en la medida, es una consecuencia de la operacin del puente en el modo desbalanceado. Es posible operar el puente en un modo balanceado en el cual el resistor R2 se ajusta tal que Vo sea cero. En este caso, RRTD = R2 y las resistencias de los terminales no afectarn el resultado. Desafortunadamente, es difcil usar sistemas de adquisicin de datos con el modo balanceado. Para medidas de alta precisin, sin embargo, es preferible el modo balanceado. La Fig.6.20 presenta dos circuitos ms utilizados para determinar la resistencia de un RTD. En la Fig. 6.20 (a), la cada de tensin a travs del RTD es sensada con dos terminales que no conducen corriente y por lo tanto no tienen cada de tensin. Para este circuito la resistencia es
166
Figura 6.19: Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos una funcin lineal de la tensin medida y est dada por RRTD = Vo I (6.3.13)
En este circuito Vo es proporcional a la resistencia del RTD en lugar que al cambio de resistencia como en el caso con los circuitos de puente Wheatstone. La Fig. 6.20 (b) utiliza cuatro terminales portadores de corriente siguiendo la misma trayectoria del RTD. Dos de los terminales ms el RTD estn en la misma rama AD y los otros dos terminales ms R3 estarn el rama DC. Como con el puente de tres hilos, los cambios en las resistencias de los terminales compensan y tienen un efecto despreciable sobre Vo . La frmula para evaluar la resistencia del RTD es RRTD = R3 Vcc 2Vo 8Vo Rterm Vcc + 2Vo Vcc + 2Vo (6.3.14)
Como el puente de tres hilos, para mediciones precisas, se debern conocer las resistencias nominales de los terminales cuando se trabaja en el modo desbalanceado. Puesto que existe un ujo de corriente a travs del RTD cuando est situado en un circuito de medicin, hay una disipacin de potencia y por lo tanto el RTD tiene autocalentamiento. Este no es normalmente un problema cuando se mide temperaturas en lquidos pero puede producir error cuando se mide temperatura en gases. Se puede estimar este efecto de autocalentamiento, usando
167
Figura 6.20: Circuitos para RTD. dos tensiones de alimentacin diferentes mientras se mide una temperatura esttica. Cualquier diferencia en la resistencia indica un problema potencial de autocalentamiento. El problema de autocalentamiento se puede minimizar usando fuentes de alimentacin de bajo voltaje; sin embargo, se reducir la salida del circuito sensor. Como se mencion, las sondas RTD tienen potencialmente muy alta precisin (0.001 C) pero con las tcnicas actuales utilizadas en ingeniera, no se requiere que el sensor tenga alto grado de precisin. Esto depender esencialmente del sistema de adecuacin y adquisicin de los datos. Por otra parte, las incertidumbres en los resistores del puente y los dispositivos de medida de voltaje tendrn un precisin limitada. Ejemplo 25 Una sonda RTD tiene una resistencia de 100 a 0 C. Las constantes de la ecuacin CallendarVan Dusen son = 0.00392, = 1.49 y = 0 para T > 0. Cul ser la resistencia a (i) 300 C? (ii) Se desea medir la temperatura a 50 C, Cul ser el valor de la resistencia en este caso? Sol. (i) Sustituyendo en la ecuacin (6.3.10) se obtiene RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
= 100(1 + 0.00392(300 1.49(0.01 300 1)(0.01 300))) = 214.10
(ii) Para este caso T < 0 y se debe utilizar el factor = 0.11. Reemplazando en la misma ecuacin se llega a RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
= 79.944
Ejemplo 26 Se dispone de una RTD de platino de 100 que tiene un coeciente de disipacin trmica = 6mW/K en aire y = 100mW/K en agua. Si se desea que el error por autocalentamiento sea inferior a 0.1 C, cunta corriente puede circular por la resistencia segn est al aire o inmersa en agua?
168
CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE Sol. Si la potencia disipada es Pd , el calentamiento experimentado ser T = Pd I 2R = (6.3.15)
y, por lo tanto, la corriente mxima permitida ser r T I= R Con la sonda en el aire, I= Con la sonda inmersa en agua I= r (0.1) (0.1) = 10 mA 100 r (0.1) (0.006) = 2.4495 mA 100
(6.3.16)
Obsrvese que la inmersin en el agua permite mayor ujo de corriente.
6.3.3
Termistores
Como con el RTD, el termistor es un dispositivo que tiene una resistencia dependiente de la temperatura. Sin embargo, el termistor, un dispositivo semiconductor muestra un mayor cambio en la resistencia con respecto a la temperatura que el RTD. El cambio en la resistencia con la temperatura en el termistor es muy grande, del orden del 4% por grado centgrado. Es posible construir termistores con una caracterstica de resistencia vs temperatura con pendiente positiva o negativa. Sin embargo, los dispositivos termistores ms comunes tienen una pendiente negativa NTC ; lo que signica, que un incremento en la temperatura produce un decremento en la resistencia, lo opuesto de los RTD. Estn constituidos por mezclas sinterizadas de polvos de xidos metlicos (de hierro, titanio, nquel, cobalto, cromo, etc) y semiconductores, en forma de discos, barras, placas y otras conguraciones. Los termistores son altamente no lineales, mostrando una relacin logartmica entre la resistencia (en k) y la temperatura: 1 = a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3 T (6.3.17)
Para identicar los parmetros a, b, c y d, basta medir R a cuatro temperaturas distintas y resolver el sistema de ecuaciones como se indica en la ecuacin (6.3.18). 1 T1 1 ln R1 (ln R1 )2 (ln R1 )3 a 1 ln R2 (ln R2 )2 (ln R2 )3 b T 1 2 (6.3.18) 1 ln R3 (ln R3 )2 (ln R3 )3 c = T 1 3 1 1 ln R4 (ln R4 )2 (ln R4 )3 d T4
6.3. TRANSDUCTORES TERMORRESISTIVOS A partir de a, b, c y d el valor de T con una resistencia medida R viene dada por T = (a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3 )1 273.15
0
169
Ejemplo 27 Los siguientes son datos de resistencia y temperatura, en k y Kelvin respectivamente, para el caso de un termistor con encapsulado de acero de 10 k dados por el fabricante: T1 T2 T3 T4 = 253.15 R1 = 78.91 = 293.15 R2 = 12.26 = 343.15 R3 = 1.99 = 393.15 R4 = 0.4818
R Sol: El siguiente programa realizado en Matlab , permite calcular los coecientes a, b, c y d, as como realizar la grca de T vs R la cual se puede apreciar en la Fig. 6.21.
T1=253.15; R1=78.91; T2=293.15; R2=12.26; T3=343.15; R3=1.990; T4=393.15; R4=0.4818; y=[1/T1;1/T2;1/T3;1/T4]; A=[1,(log(R1)),(log(R1))^2,(log(R1))^3;1,(log(R2)),(log(R2))^2,(log(R2))^3; 1,(log(R3)),(log(R3))^2,(log(R3))^3;1,(log(R4)),(log(R4))^2,(log(R4))^3]; x=A^(-1)*y; R=1.0:0.1:100.0; T=(x(1)+x(2)*log(R)+x(3)*(log(R)).^2+x(4)*(log(R)).^3).^(-1)-273.15 plot(R,T) Para el caso dado se obtienen los siguientes valores de los coecientes: a = 2.700 103 b = 2.6138 104 c = 3.416 106 d = 1.2714 107 Siendo dispositivos semiconductores, los termistores estn restringidos a temperaturas relativamente bajas. Muchos estn restringidos a temperaturas por debajo de 100 C y generalmente no hay disponibles para medir temperaturas por encima de 300 C. Los sensores de termistores pueden llegar a ser muy precisos, del orden de 0.1 C, pero la mayora no lo son tanto. Otra forma de expresar la relacin de la resistencia de coeciente de temperatura negativo con la temperatura absoluta es de la forma: R = R0 e
B
1 T 1 T 0
(6.3.19)
donde R es la resistencia a la temperatura absoluta T . El parmetro B es la denominada temperatura caracterstica del material, y tiene valores entre 2000 K y 5000 K, pero vara con
170
Figura 6.21: Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia. la temperatura, aumentando al aumentar sta. Para el modelo Thermowid de Siemens, por ejemplo, (6.3.20) B(TC ) = B[1 + (TC 100)] donde TC es la temperatura en grados centgrados, = 2.5 104 /K para TC > 100 C y = 5 104 /K para TC < 100 C.B tambin vara de una a otra unidad para un mismo material salvo en el caso de modelos intercambiables. Se puede denir un coeciente de temperatura tomando logaritmos neperianos y diferenciando, B dR = 2 dT R T es decir, B 1 dR = 2 (6.3.21) = R dT T coeciente siempre negativo y muy dependiente de la temperatura, el cual representa la sensibilidad relativa del sistema. A 25 C y con B = 4000K, resulta = 4.5%/K, que es ms de diez veces superior a la de la Pt100. El valor de B se puede encontrar midiendo la resistencia del termistor a dos temperaturas conocidas T1 y T2 . Si la resistencia respectiva es R1 y R2 , se tendr ln R1 (6.3.22) B = 1 R21 T1 T2
171
Ejercicio 7 Se han tomado medidas con un termistor obtenindose datos as: T1 = 50 C, R1 = 50k. Se decrementa la temperatura a 25 C con lo cual la resistencia se incrementa en un 50%. Encontrar el valor de B del termistor. Cul ser el valor de R0 ? Solucin. Aplicando la ecuacin (6.3.22) se obtiene B= ln R1 R2
1 T1
1 T2
1 273.15+50
5010 ln 50103 1.5
1 273.15+25
= 1562. 6
y el valor de la resistencia Ro se obtiene despejndola de la ecuacin (6.3.19): R0 = R1 e

B
1 T 1 T 0
= 50 103 e1562.6( 273.15+50 273.15 ) = 121.17 k
Para algunas aplicaciones de los termistores, interesan no tanto sus caractersticas resistencia temperatura como la relacin entre la tensin en bornes del termistor y la corriente a su travs. En rgimen transitorio se tendr W = V I = I 2 RT = (T Ta ) + cp dT dt (6.3.23)
50103 = 50 000donde (mW/K) es la constante de disipacin trmica del termistor, cp (mJ/K) es su capacidad calorca y Ta es la temperatura ambiente. En rgimen estacionario dT /dt = 0 y queda I 2 RT = (T Ta ) V2 VI = = (T Ta ) RT (6.3.24) (6.3.25)
La tensin mxima en bornes del termistor en funcin de la temperatura puede obtenerse a partir de la ecuacin (6.3.25) y de B (6.3.26) V = RI = IAe T 2 resulta, V = (T Ta )A exp
2
para tensin mxima se cumplir dV 2 /dT = 0, que lleva a 1 = (T Ta ) cuyas soluciones son B T = 2 r B T2
B T
(6.3.27)
(6.3.28) !
4Ta 1 B
(6.3.29)
172
CAPTULO 6. SENSORES DE PARMETRO VARIABLE Tabla 6.4: Comparacin de las resistencias NTC y otros sensores Captador Margen Sensibilidad Precisin Estabilidad
Termistor (absoluta) Resistencia metlica Termopar
260 C a +300 C 200 C a +1000 C 260 C a +2800 C
10 K/ C 0.2/ C 40 50V / C
0.01 C 0.01 C 0.1 C
0.03 C/a o n 0.01a 0.003 C/a o n C/a o 0.1 a 0.03 n
y la temperatura correspondiente al mximo resulta ser la obtenida tomando el signo menos. Obsrvese que esta temperatura depende del material (B) [28]. En la zona de autocalentamiento el termistor es sensible a cualquier efecto que altere el ritmo de disipacin del calor. Esto permite aplicarlo a las medidas de caudal, nivel, conductividad calorca (vaco, composicin, etc.). Si la velocidad de extraccin de calor es ja, el termistor es sensible a la potencia elctrica de entrada y entonces se puede aplicar al control de nivel de tensin o de potencia. Recientemente han aparecido las resistencias de coeciente de temperatura positivo o PTC, elementos semiconductores construidos por cristales de titanato de bario. Estas resistencias tienen la propiedad de modicar su estructura cristalina a una cierta temperatura que vara segn la naturaleza y concentracin de determinadas impurezas incorporadas al material base (por ejemplo, estroncio). A este cambio de estructura cristalina, que es reversible, corresponde una variacin enorme de la resistividad alrededor de una temperatura crtica de transicin comprendida entre 50 C y +140 C (mrgenes usuales). La resitencia puede variar en un factor del orden de 104 y el coeciente de temperatura (en este caso positivo) puede ser hasta 100 veces superior al de una resistencia NTC. A continuacin se analizar las caractersticas y aplicaciones de ambos tipos de resistencias sensibles a la temperatura. Es de destacar que, al contrario de las termocuplas que responden a diferencias de temperatura, las resistencias NTC o PTC son sensibles a la temperatura absoluta. Por otra parte, una de sus cualidades ms sobresalientes es que presentan grandes variaciones de resistencia al variar la temperatura, por lo cual los dispositivos termomtricos que utilizan termistores se caracterizan siempre por su alta sensibilidad. Se trata, adems de componentes muy robustos, ables y econmicos. Los nicos inconvenientes son su lentitud de respuesta, las grandes tolerancias de fabricacin, la necesidad de un envejecimiento articial para poder garantizar una estabilidad razonable y el campo de medida limitado. En el cuadro siguiente se resumen algunos datos comparativos de las resistencias NTC con otros componentes sensibles a la temperatura.
6.3.4
Curvas caractersticas de las resistencias NTC
Como se sabe, el valor de la resistencia de estos componentes viene dado por la expresin R = Ro e
1 1 B( T T ) 0
(6.3.30)
173
La temperatura T0 suele ser de 198K (25 C), y el coeciente B puede ser del orden de 4000K. En la Fig. ?? se representa esta funcin para varios termistores comerciales (siendo el parmetro de las curvas el coeciente B).
54.6
7.389
0.1353
0.01832 200 250 300 350 400 x 450 500
Respuesta de termistores comerciales para algunos valores de B. Muchas veces, en el diseo de circuitos, interesa la curva caracterstica tensin-corriente, para cuya justicacin es necesario tener en cuenta no solo la temperatura ambiente, sino tambin los efectos de autocalentamiento.
6.3.5
Aplicaciones de las resistencias NTC a la termometra
Las resistencias NTC se aplican ampliamente en circuitos temomtricos. Como se ver a continuacin, pese a la no linealidad de su resistencia en funcin de la temperatura, puede optimizarse el diseo obtenindose sistemas de medida muy sensibles con errores por falta de linealidad aceptables. En la Fig. 6.22 se representa un circuito tpico muy simple para medida de temperatura en donde el termistor se hace funcionar en el primer tramo de su caracterstica. La tensin de salida del divisor es Vo = VCC R1 R1 + R(T )
Sustituyendo R(T ) por su funcin se obtiene Vo = 1+ 1

R0 B R1 e
1 T 1 T
VCC
(6.3.31)
cuya representacin grca normalizada se ilustra en la Fig. 6.23.
174
+ Vcc
NTC
R(T) +
R1 Vo
Figura 6.22: Circuito con termistor. La curva presenta un punto de inexin para una determinada temperatura TL que corresponder a la mxima linealidad. La temperatura TL se calcula haciendo d2 Vo =0 dt2 B 2TL B( 1 1 ) R0 e TL T0 (6.3.32) B + 2TL La expresin (6.3.32) permite as calcular la resistencia R1 ptima en funcin de las caractersticas del termistor y de la temperatura TL central del campo de medida. En cuanto a la eleccin de VCC , habr que llegar a un compromiso entre precisin (valores de VCC pequeos para evitar el autocalentamiento) y sensibilidad (valores de VCC grandes). Para ello se admite un incremento T mximo sobre la temperatura ambiente Ta a medir, incremento que estar asociado con el error por autocalentamiento. De acuerdo con esto, se tiene: R1 = T = T Ta siendo la potencia mxima disipada en la NTC (correspondiente a R = R1 ): Wmax = de donde VCC =
2 VCC T = 4R1 R
obtenindose
R1 T R La sensibilidad absoluta del sistema para T = TL es VCC B 2 dvs = S= 2 1 dT T =TL B 4TL
(6.3.33)
(6.3.34)

y 1
175
0.75
0.5
0.25
125
250
375 x
500
Figura 6.23: Respuesta de un termistor con B = 4000 y punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente.
Ro R1
= 1 (Lnea continua), 10 (Lnea
El nico inconveniente de este circuito es que, para el origen de la escala termomtrica que se adopte, la tensin de salida no es nula. Para evitar esto, se utiliza la conguracin en puente (ver 6.24), en donde la tensin de salida ser
R2 + Vcc
NTC A
R1 Vo
R(T)
+ B
R1
Figura 6.24: Circuito con NTC en puente.
vo = VBA = VCC
R1 R1 R(T ) + R1 R1 + R2
que solo se diferencia en una constante de la tensin dada por (6.3.31).
176
6.3.6
Otras aplicaciones de las resistencias NTC
En la Fig. 6.4 se ilustra muy esquemticamente una aplicacin de una resistencia NTC, donde el termistor funciona en la zona regenerativa. En este caso el termistor acta como un estabilizador de temperatura. Ntese que se tiene la respuesta dada por la ecuacin (6.3.31).
Figura 6.25: Circuito con NTC como regulador de tensin.
Respuesta de tensin de un NTC. La Fig.6.26 representa un circuito de aplicacin a la medida del caudal de uidos. En este caso uno de los termistores (sonda de referencia) est en contacto con el uido en reposo y el otro (sonda de medida) est situado en el interior del ducto a travs del cual circula el uido cuyo caudal quiere medirse. El uido en movimiento afecta a la resistencia trmica de la sonda de medida desequilibrando el puente y obtenindose una medida indirecta del caudal.
177
Figura 6.26: Medida de caudal usando NTC.
6.3.7
Resistencias de coeciente PTC
Las resistencias de coeciente de temperatura positivo o PTC, tienen la propiedad de experimentar un cambio drstico en su valor cuando se alcanza una temperatura crtica caracterstica del material. Por debajo de dicha temperatura la resistencia es baja (del orden de 100) y por encima, la resistencia es muy alta (del oreden de 10M ). Dado que no existe una ecuacin que exprese rigurosamente este comportamiento y puesto que el cambio se produce en el estrecho intervalo de temperaturas, la curva queda idealizada como se ilustra en la Fig. 6.27, donde se representa cualitativamente la curva resistenciatemperatura de estos dispositivos.Tomando como base esta simplicacin, es fcil deducir la forma de la caracterstica tensincorriente. En efecto, si v e i son, respectivamente, la tensin aplicada y la corriente se tiene, al igual que en las resistencias NTC: v2 (6.3.35) T Ta = R vi = R R(T ) Para remperatura ambiente (Ta ) constante y tensiones muy bajas, T ser menor que Tc y el valor de la resistencia ser R1 por lo cual la curva v i ser una recta tal que v = Rmin i (primer tramo de la caracterstica esttica, Fig. 6.28).
178
Figura 6.27: Respuesta normalizada de una PTC.
Figura 6.28: Respuesta corrientetensin de un PTC.
La temperatura crtica se alcanza cuando la tensin toma un valor V1 tal que: V2 Tc Ta = R 1 Rmin s Rmin (Tc Ta ) R
V1 =
(6.3.36)
Si se sigue aumentando v se produce el trnsito hacia el valor R2 a temperatura constante Tc , luego la potencia disipada ser as mismo constante, de acuerdo con (6.3.35), es decir: Tc Ta = R vi (6.3.37)
179
funcin que corresponde grcamente a una hiprbola equilatera en el diagrama v i (segundo tramo). Finalmente cuando R(T ) toma el valor Rmax la tensin aplicada es tal que: s V22 Rmax (Tc Ta ) Tc Ta = R V2 = (6.3.38) Rmax R Para tensiones superiores a V2 la relacin v/i se mantiene nuevamente constante e igual a Rmax y la caracterstica vuelve a ser una recta de ecuacin v = iRmax (tercer tramo). Es de observar que los tramos primero y tercero no dependen de la temperatura ambiente, por lo cual, una familia de curvas para diferentes valores de Ta tendra el aspecto que se muestra en la Fig. 6.29.
Figura 6.29: Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente. Las resistencias PTC se aplican fundamentalmente en la deteccin de umbral de temperatura (protecciones trmicas, detectores de incendio, etc.) siendo muy simples, por lo general, los circuitos correspondientes. Puesto que Rmax Rmin las resistencias PTC se comportan prcticamente como un interruptor que se abre y se cierra en la proximidades de Tc . Adems, y como una ventaja adicional, en dichos circuitos este efecto se produce por histresis, lo cual evita la ambigedad en el trnsito. Con el objeto de poner de maniesto lo anterior, considrese el circuito de la Fig. ?? que representa el montaje ms simple de detector de temperatura. Del mismo modo que en el caso de las resistencias NTC, la expresin v = V iR dene una recta de carga cuya interseccin con la curva caracterstica corresponde a una determinada temperatura ambiente y constituye el punto de funcionamiento. En la Fig. 6.31 se representa v en funcin de T evidencindose el efecto de histresis. Para que el funcionamiento tenga lugar es preciso que la pendiente de la recta de carga sea menos negativa que la de la zona hiprblica, lo cual se cumple, si Rl Rmin (6.3.39)
180
Figura 6.30: Circuito con un dispositivo PTC.
Figura 6.31: Histresis en la respuesta de una PTC.
6.4
Transductores fotorresistivos
Los ms importantes dentro de este grupo son, sin duda, la clula fotorresistiva (fotorresistencia) y el fotodiodo.
6.4.1
La clula fotorresistiva
La clula fotoresistiva o LDR es esencialmente una resistencia cuyo valor vara con la intensidad de la radiacin luminosa incidente y consiste en una capa delgada de selenio, germanio, sulfuro de plomo, sulfuro de cadmio, antimonio, indio y algunos otros metales o compuestos meticos, dispuesta sobre un substrato cermico o plstico. La capa fotorresistiva suele tener forma ondulada y est protegida por una lmina transparente que constituye una de las caras de la cpsula que contien la clula. La resistencia de elemento disminuye a medida que aumenta la intensidad
6.4. TRANSDUCTORES FOTORRESISTIVOS
181
de la radiacin segn la ley de variacin que depende del material utilizado. Con el objeto de ilustrar el principio fsico en que se basan las resistencias LDR, la Fig. representa un bloque de un material semiconductor fotosensible provisto de dos electrodos exteriores entre los que est aplicada la tensin v, y sobre el cual incide radiacin luminosa de intensidad L y longitud de onda . El nmero de electrones liberados por unidad de tiempo por efecto fotoelctrico puede expresarse en la forma N = LAd (6.4.1) donde es un parmetro que depende de , A es el ancho de la zona expuesta y d su longitud. Si es la vida media de los electrones libres y v la velocidad media a la que se desplazan por accin del campo elctrico asociado con el potencial v, el nmero efectivo de ellos que contribuir a la corriente en el circuito exterior, ser: Nef = L A d v d (6.4.2)
ya que el producto v es la longitud recorrida durante su vida media. Por otra parte, si E = v/d es el campo elctrico, se cumple: v = e E = e donde e es la movilidad de los electrones, luego Nef = LA e v d v q d (6.4.4) v d (6.4.3)
La corriente elctrica se obtendr multiplicando Nef por la carga q del electrn: i = qNef = L A e (6.4.5)
y la resistencia medida entre los electrodos puede obtenerse de la expresin anterior R= v d 1 = i A e q L (6.4.6)
la vida media por otra parte, est ligada con la intensidad luminosa L mediante uan expresin del tipo (6.4.7) = L 0 De este modo, la resistencia R ser de la forma R = K I donde K= d A q 0
182
Figura 6.32: Respuesta noramlizada de una fotorresistencia para algunos valores de . El exponente puede variar, segn el tipo de clula, entre 0.7 y 1.5. En la Fig. 6.32 se ilustra cualitativamente la funcin R(L) pudiendo observarse que se producen grandes variaciones de resistencia, dado el orden , sobre todo para bajos niveles de iluminacin. Ls fotorresistencias son, pues, captadores muy sensibles al igual que los termistores. En cuanto a la curva caracterstica tensincorriente no tiene ninguna particularidad dado que, para L constante, ser una recta que pasa por el origen. El principal inconveniente de las resistencias fotosensibles es su fuerte dependencia de la temperatura para baja iluminacin. Para combatir este efecto suelen conectarse resistencias normales en paralelo obtenindose curvas de resistencia global en funcin de la intensidad de iluminacin ms estables a expensas de sacricar la sensibilidad. Otro inconveniente importante es su lentitud de respuesta ante variacin brusca de intensidad luminosa, con constantes de tiempo del orden de segundos. Este hecho limita las aplicaciones de las fotorresistencias a frecuencias muy bajas . Las clulas LDR se utilizan como captadores primarios para fotometra, si bien pueden formar parte de transductores ms complejos en donde se detecta, por ejemplo, la interrupcin de un haz luminoso, un cambio de transparencia, etc. En la Fig. 6.33 se representa un circuito muy simple para medidas fotomtricas. La tensin de salida es la proporcionada por el divisor de tensin formado por R(L) y R1 , es decir: vo = R1 R1 1 V = V = V K 1 R1 + R(L) R1 + KLa 1 + R1 L (6.4.8)
cuya representacin grca se ilustra en la Fig. 6.34 Se observa, como ocurra con los termistores NTC, la posible existencia de un punto de inexin, que se determina haciendo: d2 vo =0 (6.4.9) dL2
6.4. TRANSDUCTORES FOTORRESISTIVOS
183
Figura 6.33: Circuito simple con fotorresistencia.
Figura 6.34: Respuesta de una fotorresistencia en una red. con lo cual se obtiene
1 a L (6.4.10) +1 c donde Lc es la abscisa de dicho punto de inexin. Este valor Lc deber corresponder al centro del margen de medida, para mxima linealidad, o sea R1 = K Lc = Lmin + Lmax 2 (6.4.11)
siendo Lmin y Lmax las intensidades de iluminacin en los extremos de dicho margen. La ecuacin que proporciona R1 demuestra que para que exista punto de inexin, tiene que ser mayor que 1. Es decir, la condicin >1 (6.4.12)
184
podra ser el criterio de eleccin de la clula para que fuese vlido el procedimiento de diseo que se est proponiendo. Puesto que, adems, (6.4.13) KLa = R(Lc ) c la expresin de R1 puede escribirse tambin en la forma 1 R(Lc ) (6.4.14) +1 No hay criterios claros para elegir un determinado tipo de clula en fotometra, a excepcin de que sea mayor que la unidad. Los fabricantes suelen recomendar clulas de alta resistencia para fuertes iluminaciones y de baja resistencia para iluminaciones dbiles. En cuanto a la tensin de alimentacin V , puede elegirse, como en el caso de las resistencias NTC, admitiendo un incremento T de temperatura sobre la ambiente, pudiendo aplicarse la misma frmula r R1 T V 2 R La sensibilidad absoluta del circuito que se est estudiando, en el centro de la escala de medida, es: V 2 1 dvs (6.4.15) = S= dL L=Lc LC 4 R1 =
6.4.2
El fotodiodo
Puede tambin considerarse dentro del grupo de captadores fotorresistivos al fotodiodo. En los fotodiodos se aprovecha el aumento de la conductividad inversa de unin PN por absorcin de radiacin luminosa. Dicho aumento se debe a la generacin de pares electrnhueco al incidir los fotones sobre el material semiconductor, crendose as una corriente inversa de fugas dependientes de la intensidad de la radiacin. En la Fig. 6.35 se representa una familia de curvas caractersticas de un fotodiodo. Para L = 0 se tiene la curva tpica de un diodo semiconductor. Para intensidades luminosas crecientes (L1 , L2 , etc) las curvas toman la forma ilustrada en la gura presentando un desplazamiento descendente. Los tramos del primer y cuarto cuadrante corresponden al funcionamiento como generador fotovoltaico. Los tramos horizontales del tercer cuadrante corresponden, por el contrario, al funcionamiento como fotorresistencias pasivas, aplicacin ms usual, dado que los valores de la corriente inversa son sensiblemente proporcionales a las intensidades luminosas (fotometra). En la Fig. 6.36 se representa un dispositivo fotomtrico basado en estos dos modos de funcionamiento. Admitiendo que la corriente inversa del fotodiodo es proporcional a la intensidad luminosa L, es decir, i = Kd L, donde Kd es una constante particular para cada fotodiodo, la tensin de salida ser: (6.4.16) vo = iR1 = R1 Kd L
6.5. TRANSDUCTORES EXTENSOMTRICOS

i 1.25
185
-2
-1.5
-1
-0.5
0 0
0.5
-1.25
-2.5
Figura 6.35: Respuesta de un fotodiodo a la excitacin.

__ >
D + V R1
+
vo
Figura 6.36: Circuito con fotodiodo. con una sensibilidad absoluta de S=
dvs = R1 Kd dL
(6.4.17)
Los fotodiodos son ms estables con la temperatura que las clulas LDR y, por supuesto, mucho ms lineales y de respuesta mucho ms rpida. Su nico inconveniente es que las corrientes que manejan son muy pequeas (del orden de microamperios). Se utilizan en fotometra, deteccin de impulsos luminosos, lectura ptica de cintas perforadas, lectura de caracteres, medida de transparencia, etc.
6.5
Transductores extensomtricos
Constituyen un importante grupo de captadores de amplia aplicacin en la medida de deformaciones de estructuras slidas sometidas a esfuerzos. Su principio de funcionamiento se basa en
186
la variacin de resistencia de un hilo conductor por efecto de un alargamiento. Cuando se aplica una fuerza a una estructura, los componentes de la estructura cambian ligeramente en sus dimensiones y se dice que est sometida a un esfuerzo. Los dispositivos que miden estos pequeos cambios en las dimensiones se denominan galgas extensomtricas. La galga extensomtrica es un dispositivo muy comn utilizado en la medicin de esfuerzos en las estructuras y tambin como un elemento sensor en una amplia variedad de transductores, incluyendo aquellos usados para medir fuerza, aceleracin y presin. Las galgas extensimetricas y los acondicionadores de seal asociados son sencillos, baratos y muy conables. Considrese un hilo metlico de longitud l seccin A, y resistividad , su resistencia elctrica R es l R= A Si se le somete a un esfuerzo en direccin longitudinal, cada una de las tres magnitudes que intervienen en el valor de R experimenta un cambio y, por lo tanto, R tambin cambia de la forma d dl dA dR = + (6.5.1) R l A El cambio de la longitud que resulta de aplicar una fuerza F a una pieza unidimensional, siempre y cuando no se entre en la zona de uencia (Fig), viene dado por la ley de Hooke, = dl F =E =E A l
donde E es una constante del material, denominada mdulo de Young, es la tensin mecnica y es la deformacin unitaria. es adimensional, pero para mayor claridad se suele dar en microdeformaciones (1 microdeformacin = 1 = 106 m/m). El trmino dl/l se dene como esfuerzo axial, a . dl a = l Si se considera ahora una pieza que adems de la longitud l tenga una dimensin transversal t, resulta que como consecuencia de aplicar un esfuerzo longitudinal no solo cambia l sino que tambin lo hace t. El cambio en la dimensin transversal respecto a la longitudinal depende de la relacin entre los esfuerzos transversal y longitudinal, los cuales estn dados por la ley de Poisson: (6.5.2) t = a donde es el denominado coeciente de Poisson. El signo menos indica que cuando la longitud se incrementa, la seccin decrece.Su valor est entre 0 y 0.5, siendo, por ejemplo, de 0.17 para la fundicin maleable, de 0.303 para el acero y de 0.33 para el aluminio y el cobre. Obsrvese que para que se conservara constante el volumen debera ser = 0.5.
187
Para el hilo conductor considerado anteriormente, si se supone una seccin cilndrica de dimetro D, se tendr D2 A= 4 dD dl dA =2 = 2 (6.5.3) A D l Debe notarse que esta relacin es vlida independientemente de la forma geomtrica de la seccin transversal del hilo conductor. La variacin que experimenta la resistividad como resultado de un esfuerzo mecnico se conoce como efecto piezorresistivo. Estos cambios se deben a la variacin de la amplitud de las oscilaciones de los nudos de la red cristalina del metal. Si ste se tensa, la amplitud aumenta, mientras que si se comprime, la amplitud disminuye. Si la amplitud de las oscilaciones de los nudos aumenta, la velocidad de los electrones disminuye, y aumenta. Si dicha amplitud disminuye tambin disminuye. Para el caso de los metales, resulta que los cambios porcentuales de resistividad y de volumen son proporcionales dV d =C V donde C es la denominada constante de Bridgman, cuyo valor es de 1.13 a 1.15 para las aleaciones empleadas comnmente en galgas, y de 4.4 para el platino. Aplicando (6.5.3), el cambio de volumen se puede expresar como V = lD2 4
dV dl dD dl = +2 = (1 2) V l D l y, por lo tanto, si el material es istropo y no se rebasa su lmite elstico, (6.5.1) se transforma nalmente en dR =a [1 + 2 + C(1 2)] (6.5.4) R En este punto, es til denir el factor de galga axial (Funcin de sensibilidad relativa), Sa : Sa = dR/R
a
(6.5.5)
Combinando las ecuaciones (6.5.4) y (6.5.5), se obtiene Sa = 1 + 2 + C(1 2) (6.5.6)
El valor de Sa es del orden de 2 para la mayora de los metales, salvo para el platino en cuyo caso es del orden de 6.
188
As pues, para pequeas variaciones la resistencia del hilo metlico deformado puede ponerse de la forma R = R0 (1 + x) donde R0 es la resistencia en reposo y x = Sa . El cambio de resistencia no excede el 2%. En el caso de un semiconductor, al someterlo a esfuerzo predomina el efecto piezorresistivo. Las expresiones de la relacin resistencia-deformacin son para un caso concreto [7]: para un material tipo p: para un material tipo n dR = 119.5 + 4 R0
dR = 110 + 10 2 R0 donde R0 es la resistencia en reposo a 25 C, y se supone una alimentacin a corriente constante.
En la Fig. 6.37 se observa la respuesta resistencia vs deformacin para los dos tipos de semiconductores.Puesto que se pueden fabricar galgas semiconductoras con alta resistencia, se
Figura 6.37: Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n (lnea de trazos). pueden obtener dispositivos de salida muy alta (5 V o ms), caracterstica que no se puede dar en las galgas metlicas, en las cuales hay una alta limitacin de corriente. La ecuacin bsica para un puente sobre un voladizo es: (6.5.7) vo = a Sa vi Con esta ecuacin, es posible obtener el valor de salida de los puentes activos completos que utilizan galgas semiconductoras. Debe notarse que la tensin de salida no depende de la resistencia
189
Figura 6.38: Algunas conguraciones de galgas extensiomtricas de semiconductor (fabricadas por BLH electronics). de la galga. El factor de galga para galgas de alta resistencia tambin es considerablemente grande y el factor de alinealidad es algo ms bajo. Ejemplo 28 Si un puente activo completo de 2000 se monta sobre un voladizo con un buen disipador trmico. Encontrar la excitacin posible y la tensin de salida correspondiente. Se supone potencia mxima disipada de 250 mW, esfuerzo de ms y menos 1500m/m con un factor de galga S de 148. Sol. p vi = 2 P R = 2 250 103 2 103 = 44. 721 45 vo = 1500 106 148 44. 721 = 9. 928 1 10V. = Para el caso de un puente alimentado con 10 V, se tendr un salida de alredeor de 2V (2.22V ). En la Fig. (6.38) se muestran las conguraciones de algunas galgas semiconductoras comerciales. Se ofrecen galgas extensomtricas semiconductoras con vidrio fenlico encapsuladas y no encapsuladas. Debido a las altas propiedades de instalacin requeridas para voltajes altos, se recomienda usar las de tipo encapsulado. Se puede observar que existe una relacin entre el cambio de resistencia de un material y la deformacin que experimente ste. Si se conoce la relacin entre esta deformacin y el esfuerzo que la provoca ??, a partir de la medida de los cambios de resistencia se podrn
Sustituyendo este valor para la tensin de entrada en la ecuacin (6.5.7) se obtiene
190
conocer los esfuerzos y, en su caso, las magnitudes que provocan dichos esfuerzos en un sensor apropiado. Un resistor dispuesto de forma que sea sensible a la deformacin constituye una galga extensomtrica. Cabe considerar algunas limitaciones en la aplicacin de este principio de medida [28]: El esfuerzo aplicado no debe llevar a la galga fuera del margen elstico de deformaciones. ste no excede del 4% de la longitud de la galga y va desde unas 3000 para las semiconductoras a unas 40000 para las metlicas. La medida de un esfuerzo slo ser correcta si es transmitido totalmente a la galga. Ello se logra pegando sta cuidadosamente mediante un adhesivo elstico que sea sucientemente estable con el tiempo y la temperatura. A la vez, la galga debe estar aislada elctricamente del objeto donde se mide, y protegida del ambiente. Se debe estar en un estado plano de deformaciones, es decir, que no haya esfuerzos en la direccin perpendicular a la supercie de la galga. Para que la resistencia elctrica de sta sea apreciable se disponen varios tramos longitudinales y en el diseo se procura que los tramos transversales tengan mayor seccin, pues as se reduce la sensibilidad transversal a un valor de slo el 1% o el 2% de la logitudinal. La temperatura es una fuente de interferencias por varias razones. Afecta a la resistividad del material, a sus dimensiones y a las dimensiones del soporte. Como resultado de todo ello, una vez la galga est dispuesta en la supercie de medida, si hay un cambio de temperatura, antes de aplicar algn esfuerzo se tendr ya un cambio de resistencia. En galgas metlicas este cambio puede ser de hasta 50 / C. Un factor que puede provocar el calentamiento de la galga es la propia potencia que disipe cuando, al medir su resistencia, se haga circular por ella una corriente elctrica. En las galgas metlicas la corriente mxima es de unos 25 mA si el soporte es buen conductor (cobre, acero, aluminio) y de 5 mA si es mal conductor (plstico, madera). La potencia permitida aumenta con el rea de la galga y va desde 0.77 W/cm2 a 0.15 W/cm2 , segn el soporte. En las galgas semiconductoras, la potencia mxima disipable es de unos 250 mW . Las fuerzas termoelectromotrices presentes en la unin de dos metales distintos, ya que pueden dar una tensin de salida superpuesta a la de inters si se alimenta la galga con corriente continua. Su presencia se reconoce si cambia la salida al variar la polaridad de la alimentacin. Deben corregirse bien mediante el mtodo de insensibilidad intrnseca, por seleccin de materiales, bien mediante ltrado, a base de alimentar las galgas con corriente alterna. Idealmente, las galgas deberan ser puntuales para poder medir los esfuerzos en un punto concreto. En la prctica sus dimensiones son apreciables, y se supone que el punto de medida
191
es el centro geomtrico de la galga. Si se van a medir vibraciones, la longitud de onda de stas debe ser mucho mayor que la longitud de la galga. Si por ejemplo, sta es de 5 mm y se mide en acero, donde la velocidad del sonido es de unos 5900 m/s, la mxima frecuencia medible es del orden de 100kHz. Si se mide en una supercie no uniforme, como el hormign, puede interesar, en cambio, realizar un promedio de deformaciones para no caer en error debido a una singularidad en la supercie. En muchas situaciones, la supercie de una estructura se comprime o tensiona simultanemanete en ms de una direccin, llevando a una condicin llamada esfuerzo biaxial, si una estructura se carga en una direccin existe un esfuerzo transversal (como lo predice la ecuacin (6.5.2)). Este efecto est incluido cuando los fabricantes determinan los factores de galga. En el esfuerzo biaxial, sin embargo, hay una expansin transversal que resulta del esfuerzo transverso. Esta expansin transversal afectar la salida de galga extensomtrica y puede describirse con un factor de galga transversal, St . Similar a la ecuacin (6.5.5) la cual dene el factor de galga axial, St se dene por dR/R (6.5.8) St =
t
Los fabricantes miden un factor, Kt , llamado la sensibilidad transversal, la cual se suminstra al usuario. sta es denida como St Kt = (6.5.9) Sa Los valores de Kt son normalmente muy pequeos, siendo posible valores menores que 0.01. Para una galga sencilla Budynas [8] proporciona la siguiente frmula para el error en un esfuerzo axial debido a un esfuerzo transversal aplicado: a a Kt t = + 1 Kt a a donde a es el esfuerzo axial verdadero y a es el esfuerzo que la medida podra predecir si se despreciara el esfuerzo transversal. Para Kt = 0.01, = 0.3 y t / a = 2, el error en el esfuerzo axial es 2.3%. Aunque la galga es ligeramente sensible a los esfuerzos transversales, para propsitos prcticos, una simple galga extensomtrica puede medir el esfuerzo nicamente en una direccin. Para denir el estado del esfuerzo sobre una supercie, es necesario especicar dos esfuerzos lineales ortogonales x y y y un tercer esfuerzo llamado cizalladura (esfuerzo cortante), xy , el cambio entre dos lneas originalmente ortogonales cuando un slido se somete a un esfuerzo. Estos esfuerzos se pueden determinar por tres galgas situadas adecuadamente en un arreglo llamado roseta extensomtrica. La Fg. 6.39 muestra los dos arreglos ms comunes de estas tres galgas: La roseta rectangular, y la roseta equiangular. En la roseta rectangular, las galgas se colocan a ngulos de 0 , 45 y 90 . En la roseta equiangular, estn arregladas a 0 , 60 y 120 . cada una de estas galgas mide el esfuerzo lineal en la direccin del eje de la misma.
192
120 45 60
SG3
SG2
SG3
x
SG2
SG1
SG1
(a)
(b)
Figura 6.39: Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b) equiangular. De acuerdo a Popov [29], si se puede describir el campo del esfuerzo en un plano sobre un slido por los valores x , y y xy , el esfuerzo lineal en una direccin al eje x se puede representar por 2 2 (6.5.10) = x cos + y sen + xy sen cos Esta ecuacin puede aplicarse a cada una de las galgas extensomtricas en una roseta, resultando en tres ecuaciones simultaneas:
1 2 3
= = =
2 x cos 1 2 x cos 2 2 x cos 3
+ + +
2 y sen 1 2 y sen 2 2 y sen 3
+ xy sen1 cos 1 + xy sen2 cos 2 + xy sen3 cos 3

x, y
(6.5.11)
La roseta proporciona medidas de 1 , 2 y 3 , de aqu se obtienen valores para Para la roseta rectangular, la solucin es:
x y
y xy .
= =
0 90 45
(6.5.12) (
0
xy = 2 Para la roseta equiangular, la solucin es:

x y
90 )
= =
60
2
60
120
0 )
(6.5.13)
xy =
2 ( 3
120 )
6.5. TRANSDUCTORES EXTENSOMTRICOS Tabla 6.5: Caractersticas de las galgas extensiomtricas metlicas y semiconductoras Parmetro Metlicas Semiconductoras Margen de medida, 0.1 a 40000 0.001 a 3000 Factor de sensibilidad 1.8 a 2.35 50 a 200 Resistencia, 120, 350, 600, . . .5000 1000 a 5000 Tolerancia en la resistencia, % 0.1 a 0.2 1a2 Tamao, mm 0.4 a 150 1a5
193
En muchos libros de mecnica de materiales se proporcionan mtodos para evaluar los esfuerzos mximos normal y cortante de estos valores de deformacin. No es fcil construir los rosetas extensomtricas, stas se pueden obtener de los fabricantes con la forma denida, un ejemplo se muestra en la Fig.6.40.
Figura 6.40: Roseta de galgas extesiomtricas.
Tipos y aplicaciones Los materiales para la fabricacin de galgas extensomtricas son diversos conductores metlicos, como las aleaciones constantan, advance, karma, y tambin semiconductores como el silicio y el germanio. Las aleaciones metlicas escogidas tienen la ventaja de un bajo coeciente de temperatura porque en ellas se compensa parcialmente la disminucin de la movilidad de los electrones al aumentar la temperatura con el aumento de su concentracin [28]. Las galgas pueden tener o no soporte propio, eligindose en su caso en funcin de la temperatura a la que se va a medir. Para aplicaciones de sensores tctiles en robots, se emplean tambin elastmeros conductores. Para la medida de grandes deformaciones en estructuras biolgicas se emplean galgas elsticas que consisten en un tubo elstico lleno de mercurio u otro lquido conductor [26]. Las galgas metlicas con soporte pueden ser de hilo bobinado o plegado con soporte de papel, o impresas en fotograbado. En este caso se dispone de una gran variedad de conguraciones, adaptadas a diversos tipos de esfuerzos. Hay modelos para diafragma, para medir torsiones, para determinar esfuerzos mximos y mnimos y sus direcciones (rosetas mltiples), etc.
194
En la Tabla 6.5 se presentan algunas de las caractersticas habituales de las galgas metlicas y semiconductoras [28]. El factor de sensibilidad se determina por muestreo, pues una vez utilizada la galga es irrecuperable. Se da entonces el valor probable de S y la tolerancia. Los mtodos de ensayo y la especicacin de caractersticas para las galgas metlicas est normalizado [27]. Las galgas extensomtricas se pueden aplicar a la medida de cualquier variable que pueda convertirse, con el sensor apropiado, en una fuerza capaz de provocar deformaciones del orden de 10m incluso inferiores. Una aplicacin singular del efecto piezorresistivo es la medida de presiones muy elevadas (1.4GP a a 40GP a) mediante las denominadas galgas de manganina. La manganina es una aleacin (84% Cu, 12% Mn, 4% Ni) que tiene un coeciente de temperatura muy bajo. Si se somete un hilo de manganina a una presin en todas direcciones, se presenta un coeciente de resistencia de entre 0.021 y 0.028 //kP a, de modo que el cambio de resistencia da informacin sobre la presin a que est sometido.
6.6
6.6.1 6.6.2
Elementos Capacitivos e Inductivos

Elementos Capacitivos Elementos Inductivos
6.7
6.7.1
Elementos con transformador, Electrodinmicos, Servos y Resonantes

Elementos con transformador
Transformadores de ncleo sencillo
6.8
Transformador diferencial de variacin lineal (LVDT )
El transformador diferencial de variacin lineal (LVDT ) se basa en la variacin de la inductancia mutua entre un primario y cada uno de los dos secundarios al desplazarse a lo largo de su interior un ncleo de material ferromagntico, arrastrado por un vstago no ferromagntico, unido a la pieza cuyo movimiento se desea medir. Al alimentar el primario con una tensin alterna, en la posicin central las tensiones inducidas en cada secundario son iguales y, al apartarse de dicha posicin el ncleo, una de las dos tensiones crece y la otra se reduce en la misma magnitud. Normalmente los dos devanados se conectan en oposicinserie, como lo indica la Fig. 6.41. El modelo matemtico correspondiente se deduce del anlisis de la Fig(6.41). Si la resistencia 0 total en el primario se designa por R1 = Rg + Rb1 y la del secundario por R2 = Rb2 + Rb2 + Rc ,
6.8. TRANSFORMADOR DIFERENCIAL DE VARIACIN LINEAL (LVDT)
195
.
M1
Rg + v R b1 L2
R b2
___> i1
.
^ |x
___> i2
R' b2
Rc
M3
L1
.
L3
M2
Figura 6.41: Esquema bsico del LVDT. se tiene el siguientes sistema de ecuaciones: (M1 M2 )s R1 + sL1 i1 v1 = (M1 M2 )s R2 + sL2 + sL0 sM3 0 i2 2 A partir de esta expresin, se obtiene i2 =
M1 M2 L1 (L2 +L0 2M3 )(M2 M1 )2 2 2 s
(6.8.1)
sv1 R2 L1 +R1 (L2 +L0 2M3 ) R1 2 2 s + L1 (L2 +L0 2MR)(M2 M1 )2 L1 (L2 +L0 2M3 )(M2 M1 )2 3 2 2
(6.8.2)
La tensin de salida es, pues, v0 =

(M2 M1 )Rc L1 (L2 +L0 2M3 )(M2 M1 )2 2 2 s
(6.8.3) En la posicin central, M2 = M1 , y segn (6.8.3), v0 = 0, tal como se haba anticipado. En las otras posiciones del ncleo, L1 , L2 , L0 , M3 y M2 M1 varan aproximadamente de la 2 forma siguiente: M3 presenta variaciones lentas alrededor de x0 ; M2 M1 tiene una variacin muy rpida y lineal, alrededor de x0 ; L2 + L0 se mantiene prcticamente constante y L1 tiene 2 variaciones lentas alrededor de x0 . Para analizar cual es nalmente la relacin entre la tensin de salida y la posicin del vstago, conviene considerar primero el efecto de la resistencia de carga Rc . Si el secundario est en vaco, la expresin nal de la tensin de salida se reduce a v0 = s(M1 M2 )v1 sL1 + R1 (6.8.4)
sv1 R2 L1 +R1 (L2 +L0 2M3 ) R1 R2 2 L1 (L2 +L0 2M3 )(M2 M1 )2 s + L1 (L2 +L0 2M3 )(M2 M1 )2 2 2
La corriente en el primario viene dada en estas condiciones por v1 i1 sL1 + R1
(6.8.5)
196
de forma que i1 es prcticamente constante, independientemente de la posicin del vstago. Combinando (6.8.4) y (6.8.5) se llega a v0 = (M2 M1 )si1 (6.8.6)
que indica que v0 es proporcional a M2 M1 y, por lo tanto, al desplazamiento del vstago, y que est desfasasa 90 respecto a la corriente del primario. De la expresin (6.8.4) se deduce, adems, que v0 /v1 tiene respuesta de paso alto respecto a la frecuencia de la tensin de alimentacin. Cuando f1 = R1 /L1 , la sensibilidad es del 70% (3dB) de la que se tiene a partir de frecuencias unas diez veces mayores. Si el secundario no est en vaco, pero se acepta que L2 +L0 2M3 es prcticamente constante 2 con la posicin del vstago y se designa por 2L2 , y que 2L2 L1 (M2 M1 )2 , la expresin de la tensin de salida pasa a ser sv1 v0 = (M1 M22)Rc (6.8.7) 2L1 L 2 + R2 L1 +2R1 L2 s + R1 R2 s 2L1 L2 2L1 L2 Resulta, pues que la sensibilidad aumenta al hacerlo la resistencia de carga. Tambin aumenta inicialmente al hacerlo f1 , pero a partir de una determinada frecuencia decrece. En la Fig () i se h 2 j 1 (1 ) presenta esta evolucin para un determinado modelo. 92 +(12 )2 , 92 +(12 )2 , tan 32
y 1.5 1
0.5
0 0 -0.5 2.5 5 7.5 x 10
-1
-1.5
0.25
0.125
0 0 2.5 5 7.5 x -0.125 10
-0.25
197
0.8
0.6
0.4
0.2
0 0 2.5 5 7.5 x 10
De () se deduce tambin que hay un desfase entre la tensin del primario y la del secundario, que depende de f1 . Este desfase es nulo a la frecuencia 1 fn = 2 R1 R2 2L1 L2 1
2
(6.8.8)
que es la misma frecuencia a partir de la cual la sensibilidad decrece. Si se excita el primario con f1 = fn , la salida es entonces independiente de f1 , y viene dada por v0 = (M1 M2 )Rc v1 R2 L1 + 2L2 R1 (6.8.9)
As pues, a una frecuencia dada la tensin de salida es proporcional a la diferencia de acoplamiento mutuo entre el primario y cada uno de los secundarios. Si ste es proporcional a la posicin del vstago, tambin lo ser la tensin de salida. Obsrvese que en este caso, aunque el dispositivo responde al desplazamiento con un cambio de impedancia mutua, la salida es propiamente una tensin alterna modulada en amplitud, no un cambio de impedancia como suceda con los sensores diferenciales. Al comportamiento ideal descrito en los prrafos anteriores, cabe sealarle algunas limitaciones. La primera es que en los dispositivos reales, en la posicin central la tensin de salida no pasa por cero, sino por un mnimo. Ello se debe a la presencia de capacidades parsitas entre primario y secundarios que apenas cambian con la posicin del vstago y tambin a la falta de simetra en los bobinados y circuitos magnticos. Normalmente es inferior al 1% de la tensin a fondo de escala. Otra limitacin es la presencia de armnicos en la salida, ms visible en el nulo. Aparece, sobre todo, el tercer armnico de la alimentacin, debido a saturaciones de los materiales magnticos. Esta interferencia se puede eliminar bastante bien a base de un ltro de pasa bajas en la salida.
198
La temperatura es otra posible fuente de interferencias, pues vara la resistencia elctrica del primario. Si la temperatura aumenta, lo hace tambin la resistencia, con lo que se reduce la corriente en el primario, y con ella la tensin de salida, si se alimenta a tensin constante. Si la frecuencia de alimentacin es alta, entonces predomina la impedancia de L1 frente a la de R1 y el efecto es menor. Las derivas trmicas pueden expresarse de la forma VT = V25 [1 + (T 25) + (T 25)2 ] (6.8.10)
donde T es la temperatura expresado en grados Celsius, es una constante que depende de la frecuencia, y es otra constante. Para reducir las interferencias trmicas, se ha propuesto un LVDT autocompensado que utiliza dos pares de secundarios en vez de un solo par []. Las tensiones de un par se restan de la forma habitual (v01 v02 ), pero las tensiones del otro par, que son respectivamente iguales a las del primer par, se suman (v01 + v02 ). La relacin (v01 v02 )/(v01 + v02 ) es entonces proporcional al desplazamiento del ncleo, pero en cambio es relativamente insensible a las variaciones en la corriente y frecuencia de excitacin, y a los cambios de temperatura ambiente y de los devanados. Las ventajas del LVDT son mltiples y justican por que es un sensor tan frecuente. En primer lugar, su resolucin terica es innta y en la prctica superior al 0.1%. Tienen tambin un rozamiento muy bajo entre ncleo y devanados, por lo que imponen poca carga mecnica, sobre todo si se los compara con los potencimetros. La fuerza magntica que se ejerce sobre el ncleo es proporcional al cuadrado de la corriente en el primario; es cero en la posicin central y aumenta linealmente con el desplazamiento. Es mayor que en un sensor capacitivo, pero la tensin de salida es mayor aqu. El bajo rozamiento les da vida casi ilimitada y alta abilidad. Su tiempo medio antes de fallar puede ser de hasta 2 106 h. Otra ventaja es que ofrecen aislamiento elctrico entre el circuito del primario y el del secundario, con lo que pueden tener referencias o puestas a tierra distintas. Esto es una ventaja ante la posible presencia de bucles de masa (). Ofrecen tambin aislamiento entre el sensor (vstago) y el circuito elctrico, ya que estn acoplados magnticamente. Esto tiene inters al medir en atmsferas peligrosas, por cuanto queda limitada la energa que se puede disipar dentro del recinto de medida. Tienen, adems, alta repetibilidad (del cero sobre todo) por su simetra; sensibilidad unidireccional, alta linealidad (hasta el 0.05%); alta sensibilidad, si bien depende de la frecuencia de alimentacin, y respuesta dinmica elevada. En la construccin del LVDT, el primario se devana a lo largo del centro del ncleo y los secundarios se disponen simtricos respecto al centro. Los tres devanados se recubren con una sustancia impermeable para que puedan funcionar con una humedad ambiental elevada. Para solucionar el problema de que el margen lineal es de solamente el 30% de la longitud total del transformador, se emplean disposiciones especiales que permiten obtener una relacin margen/longitud de 0.8. El ncleo es una aleacin de hierro y nquel, y est laminado longitudinalmente para reducir las corrientes de Foucault. El vstago que lo arrastra no debe ser magntico. Todo el conjunto
199
puede apantallarse magnticamente para hacerlo inmune a campos externos. Los alcances de medida pueden ir desde 100m a 25cm, las tensiones de excitacin aceptadas, de 1 a 24 Vrms , con frecuencias de 50 Hz a 20 kHz. Las sensibilidades disponibles van de unos 0.1 V/cm a 40 mV/ m por cada voltio de alimentacin. La resolucin puede ser de hasta 0.1 m. Hay modelos que incorporan la electrnica de modo que aceptan una alimentacin de tensin continua. Ellos tienen ya el oscilador, amplicador y demodulador, y dan una tensin continua a la salida. Se habla entonces de transformadores diferenciales de continua (DCLVDT). Hay tambin versiones para desplazamientos angulares (RVDT) con un margen lineal de 20 y sensibilidad del orden de 10 mV/grado pero en general, sus prestaciones son inferiores a las de los modelos lineales. En el cuadro () se recogen las principales caractersticas de un LVDT comercial. En [] se propone un nuevo tipo de LVDT que es plano en vez de cilndrico y carece de ncleo en sus devanados. Su aplicacin es la deteccin de posicin en motores lineales de continua. El circuito equivalente para el LVDT es un generador de tensin alterna con frecuencia igual a la de excitacin del primario, modulada en amplitud por el desplazamiento del vstago, y con una impedancia de salida constante e inferior, en general, a 5 k. El desfase entre la tensin aplicada aplicada al primario y las tensiones en el secundario es, con el secundario en vaco [ecuacin (6.8.4)] = 90 tan1 Si el secundario no est en vaco, es entonces [6.8.7] = 90 tan1 (R1 L1 + 2R1 L2 ) R1 R2 2L1 L2 2 (6.8.12) L1 R1 (6.8.11)
Si no se puede trabajar a la frecuencia de desfase nulo, se puede ajustar el desfase mediante alguno de los circuitos de la Fig (). Las aplicaciones ms inmediatas de los LVDT son las medidas de desplazamiento y posicin. En particular, es muy frecuente como detector de cero en servosistemas de posicin en aviones y submarinos. Si se pone un muelle entre el chasis y el extremo lejano del vstago, se puede emplear como palpador en mquinasherramienta, pues entonces el muelle garantiza el contacto continuado con el perl que se desea seguir. Aqu tambin, mediante el empleo de los sensores primarios adecuados, se pueden medir otras magnitudes que pueden provocar nalmente desplazamiento del ncleo. En la Fig() se muestra como se puede aplicar un LVDT a las medidas de aceleracin e inclinmetros mediante un sistema inercial (a) y a la medida de presiones mediente un tubo de Bourdon (b), que fue su primer aplicacin, o mediante un diafragma, fuelle o cpsula. Se pueden aplicar a los instrumentos basados en un otador, siempre y cuando los devanados sean hermticos. El otador arrastra el vstago, o es l mismo el ncleo, y su movimiento
200
es detectado en forma de diferencia de tensin en los dos secundarios. Los rotmetros y los detectores de nivel se prestan fcilmente a este uso. Las clulas de carga y los medidores de par, donde se produce un desplazamiento muy pequeo, pueden emplear tambin un LVDT como sensor.
6.8.1
Transformadores variables
Si en un transformador uno o varios de los devanados pueden desplazarse, lineal o angularmente, respecto a los dems, variando el acoplamiento entre primario y secundarios, es decir, la inductancia mutua entre ellos, tambin variar la tensin inducida en los devanados si uno o varios se excitan con una tensin alterna. En la Fig() se representa esquemticamente la situacin para el caso de un solo primario y un solo secundario. la inductancia mutua entre primario y secundario es d (6.8.13) M12 = N2 2 di1 donde N2 es el nmero de vueltas del secuindario e i1 es la corriente en el primario. El ujo abarcado por el secundario 2 es 2 = B S = BS cos = HS cos = N1 i1 S cos l (6.8.14)
donde S es la seccin del secundario, N1 el nmero de vueltas del primario, l su longitud, la permeabilidad magntica del ncleo y la inclinacin relativa entre el primario y el secundario. As pues, (6.8.15) M12 = N2 N1 S cos = M cos l Si se considera el secundario en vaco y se aplica al primario una tensin sinusoidal de frecuencia , en el secundario se obtendr di1 v2 = M12 (6.8.16) dt v2 = ji1 M12 = iM (cos )(cos t) = k cos cos t (6.8.17)
Es decir, la tensin de salida tiene la misma frecuencia que la de entrada, pero su amplitud depende de la inclinacin relativa entre los devanados, si bien no de una forma proporcional. Este principio de medida se presta bien a las aplicaciones donde hay que determinar una posicin o desplazamiento angular. Por su pequeo momento de inercia, los transformadores variables imponen, en general, menos carga mecnica al eje de giro que los codicadores digitales, que requieren discos grandes para tener alta resolucin. Por su construccin, aguantan mayores temperaturas y ms humedad, choques y vibraciones que los codicadores y ciertos potencimetros, por lo que son particularmente considerados en las aplicaciones militares y aeroespaciales.
6.9. TRANSDUCTORES ELECTROQUMICOS
201
Segn se ver, los transformadores variables pueden transmitir la informacin analgica hasta 2 km de distancia, con cable adecuado, y all hacer la conversin a digital. En cambio, los codicadores digitales sufren mucha interferencia si se transmite directamente su seal de salida, en particular en aquellas aplicaciones donde hay campos electromagnticos intensos, como puede ser el posicionamiento de antenas (radar). Otra ventaja es que hay desplazamiento elctrico entre la excitacin de entrada y la salida, y ello reduce, por ejemplo, las interferencias conducidas. En el cuadro () se recogen los valores de la excitacin mxima aproximada propia de distintos sistemas de medida de posiciones angulares. Las ventajas de los transforamdores variables han llevado al desarrollo de diversas conguraciones fsicas, cuya comercializacin con una marca determinada ha tenido en algunos casos tanto xito que todos los dispositivos similares se conocen con el mismo nombre comercial. Una de las disposiciones fsicas ms simple es el denominado potencimetro de induccin (Fig()). Consiste en dos devanados planos concntricos, uno jo, estator, y otro mvil, rotor, que puede girar respecto al primero, cada uno con su propio ncleo ferromagntico. Si uno de los dos se alimenta con una tensin sinusoidal, la tensin inducida en el otro, en circuito abierto, viene dada por (6.8.17)
6.9
Transductores electroqumicos
Estos transductores tienen escasa aplicacin industrial y se basan en la deteccin del nivel de un electrolito por la variacin que se produce en la resistencia entre dos electrodos sumergidos. Pueden utilizarse directamente en la medida de nivel de lquidos con propiedades electroqumicas, y en la medida de pequeas presiones (proporcionales a la altura del electrolito en el receptculo del transductor, que se unira mediante un conducto adecuado provisto de diafragma o pistn al punto de medida). El inconveniente ms importate de este transductor es la alteracin progresiva que se va produciendo en el electrolito por efecto de los fenmenos de electrlisis que tienen lugar. Captadores de variacin de nivel de mercurio. En los que una columna de mercurio de altura variable cortocircuita diferentes tomas intermedias de una cadena de resistencias. Su aplicacin inmediata es la medida de presiones. Captadores de discos de carbn. Constituidos por una pila de discos de grato (aproximandamente 10 mm de dimetro y 2 mm de espesor) cuya resistencia global disminuye al crecer la presin aplicada debido a la variacin de resistencia entre las supercies superpuestas de las caras. Estos dispositivos son poco precisos pero muy robustos, obtenindose relaciones entre resistencias extremas de 10 : 1.
Sensores de reactancia variable
202
En este tipo de sensores se aprovecha la variacin de la reactancia de algn dispositivo inductivo o capacitivo o una combinacin de ambos. La respuesta suele ser no lineal, por lo cual, se requieren circuitos de compensacin de tipo diferencial. Tambin presentan limitaciones a la mxima frecuencia de variacin admisible de la variable medida, pues debe ser inferior a la frecuencia de excitacin empleada. Algunos de estos sensores son generadores intrnsecos de seal. Sensores capacitivos Un capacitor consiste en dos conductores separados por un dielctrico (slido, lquido o gaseoso), o el vaco. Funcionan por el principio de que la capacitancia de un condensador es funcin de la distancia entre las placas y del rea de las mismas:
donde es el coeciente dielctrico de las sustancia entre las placas ( para el aire), es la permitividad del vaco 8.85 1012 C 2 /N m2 , A es el rea de la placa superpuesta y d es la distancia entre las placas. Si A tiene unidades de m2 y d est en metros, C tendr unidades de faradios. Como se muestra en la Fig. , hay dos modos de usar un transductor capacitivo para medidas de desplazamiento. En la Fig. (a) una placa se mueve de modo que la distancia, d, entre las placas vara. Alternativamente, [Fig. (b)],una de las placas se puede mover paralela a la otra, de modo que el rea enfrentada vara. En el primer caso, la capacitancia es aproximadamente una funcin lineal del desplazamiento. Puesto que la salida del sensor capacitvo no es un voltaje, se requiere acondicionamiento de la seal. Se puede utilizar un puente Wheatstone de corriente alterna para este propsito. En general los sensores capacitivos son no lineales. su linealidad depende del parmetro que vara y de si se mide la impedancia o la admitancia del condensador. En un condensador plano, por ejemplo, con Sensores Inductivos Sensores Electromagnticos
Captulo 7
Sensores generadores de seal

7.1 Introduccin
Se denominan sensores generadores aquellos que generan una seal elctrica a partir de la magnitud que miden sin necesidad de alimentacin elctrica. Ofrecen una alternativa para medir muchas de las magnitudes ordinarias, sobre todo temperatura, fuerza y magnitudes anes. Pero, adems, dado que se basan en efectos reversibles, estn relacionados con diversos tipos de accionadores o aplicaciones inversas en general. Es decir, se pueden emplear para la generacin de acciones no elctricas a partir de seales elctricas. Igualmente sern analizados los sensores fotovoltaicos y algunos de magnitudes qumicas (relacionadas con la composicin) para las que hasta el momento se han visto pocas posibilidades de medida. Algunos de los efectos que se describen aqu pueden producirse inadvertidamente en los circuitos, y ser as fuente de interfencias Es el caso de las fuerzas termoelectromotrices, de las vibraciones en cables con determinados dielctricos o de los potenciales galvnicos en soldaduras o contactos. La descripcin de los fenmenos asociados, con vistas a la transduccin, permite tambin su anlisis cuando se trate de reducir interferencias.
7.2
7.2.1
Termopares
Efectos termoelctricos
Los sensores termoelctricos se basan en dos efectos que, a diferencia del efecto Joule, son reversibles. se trata del efecto Peltier y del efecto Thompson. Histricamente fue primero Thomas J. Seebeck quien descubri, en 1822, que en un circuito de dos metales distintos homogneos, A y B, con dos uniones a diferente temperatura, aparece una corriente elctrica Fig. 7.1. Es decir, hay una conversin de energa trmica a elctrica, o bien, si se abre el circuito, hay una fuerza termoelectromotriz (f.t.e.m) que depende de los 203
204
CAPTULO 7. SENSORES GENERADORES DE SEAL
Alambre de cobre Alambre de metal A
Unin sensora
DVM
Alambre de metal B
Terminal DVM
Figura 7.1: Termopar. metales y de la diferencia de temperatura entre las dos uniones. Al conjunto de estos dos metales distintos con una unin rme en un punto a una zona se denomina termopar. La relacin entre la f.t.e.m., VAB , y la diferencia de temperatura entre las uniones, T , dene el coeciente Seebeck, SAB , dVAB = SA SB (7.2.1) SAB = dT donde SA y SB son, respectivamente, la potencia termoelctrica absoluta de A y B. En general, SAB no es constante sino que depende de T , y suele crecer al aumentar T . Es importante anotar que mientras la corriente que circula por el circuito depende de la resistencia de los conductores, en cambio la f.t.e.m. no depende ni de la resistividad, ni de la seccin, ni de la distribucin o gradiente de temperatura. Depende solo de la diferencia de temperatura de las uniones y de la naturaleza de los metales. Esta fuerza electromotriz se debe al efecto Peltier y al efecto Thompson. El efecto Peltier descubierto por Jean C.A. Peltier en 1834, consiste en el calentamiento o enfriamiento de una unin entre dos metales distintos al pasar corriente por ella. Al invertir el sentido de la corriente, se invierte tambin el sentido del ujo de calor. Es decir, si una unin antes se calentaba (ceda calor), al cambiar el sentido de la corriente se enfra (absorbe calor), y si primero se enfra ahora se calienta. Este efecto es reversible e independiente del contacto, es decir, de la forma y dimensiones de los conductores. Depende slo de su composicin y de la temperatura de la unin. Esta dependencia resulta ser adems lineal y viene descrita por el coeciente de Peltier, AB , que por tener dimensiones de tensin se llama a veces tensin de Peltier. Se dene como el calor generado en la unin AB por unidad de corriente que circula de B hacia A dQp = AB Idt (7.2.2)
7.2. TERMOPARES Para una union a temperatura absoluta T , se demuestra que AB = T (SB SA ) = BA
205
(7.2.3)
El hecho de que el calor intercambiado por unidad de supercie de la unin sea proporcional a la corriente y no a su cuadrado, marca la diferencia respecto al efecto Joule. En ste, el calentamiento depende del cuadrado de la corriente, y no cambia al hacerlo su direccin. El efecto Peltier es tambin independiente del origen de la corriente, que puede ser, pues, incluso de origen termoelctrico. En este caso las uniones alcanzan una temperatura diferente a la ambiental, y por ello puede ser una fuente de errores. El efecto Thompson, descubierto por William Thompson (Lord Kelvin) en 1847-54, consiste en la absorcin o liberacin del calor por parte de un conductor homogneo con temperatura no homognea por el que circule una corriente. El calor liberado es proporcional a la corriente no a su cuadrado y, por ello, cambia el signo al hacerlo el sentido de la corriente. En otras palabras, se absorbe calor si la corriente y el calor uyen en direcciones opuestas, y se libera calor si uyen en la misma direccin. El ujo neto de calor por unidad de volumen, Q, en un conductor de resistividad r, con un gradiente longitudinal de temperatura, dT , por el que circula una densidad de corriente J, ser, dx Q = J dT dx (7.2.4)
donde es el denominado coeciente de Thompson. Con referencia al circuito de la Fig. 7.1, se observa que si la corriente que circula es sucientemente pequea para poder despreciar el efecto Joule, se pueden considerar exclusivamente los efectos termoelctricos reversibles. En este caso, la energa termoelectromotriz producida, dVAB dT T , debe coincidir con la energa trmica neta transformada. Para el caso de un termopar con una temperatura T + T en un unin y T en la otra, el calor absorbido en la unin caliente es AB (T +T ), mientras que el calor liberado en la unin fra es AB T. Por efecto Thompson, se libera en A un calor A (T ), mientras que en B se absorbe un calor B (T ). El balance energtico es as dVAB T = AB (T + T ) AB (T ) + ( B A )T dT Dividiendo ambos trminos por T y pasando al lmite cuando T tiende a 0, resulta d AB dVAB = + ( B A )T dT dT (7.2.6) (7.2.5)
esta expresin indica que el efecto Seebeck es, de hecho, el resultado de los efectos Peltier y Thompson, y expresa el teorema fundamental de la termoelectricidad. Las expresiones (7.2.1) y (7.2.6) permiten pensar en la aplicacin de los termopares a la medida de temperaturas. Si en un circuito se mantiene una unin a temperatura constante
206
(unin de referencia), la f.t.e.m. ser funcin de la temperatura a la que est sometida la otra unin, que se denomina unin de medida. Los valores correspondientes a la tensin obtenida con determinados termopares, en funcin de la temperatura de esta unin cuando la otra se mantiene a 0 C, estn tabulados. El circuito equivalente es una fuente de tensin con una resistencia de salida distinta en cada rama (la de cada metal). Para cobre y constantan, por ejemplo, pueden ser 300 y 10. Ahora bien, la aplicacin de los termopares a la medida est sujeta a una serie de limitaciones que conviene conocer para su uso correcto. La temperatura mxima que alcance el termopar debe ser inferior a su temperatura de fusin. Por lo tanto, hay que elegir un modelo adecuado a los valores de temperatura a medir. El medio donde se va a medir no debe atacar a ninguno de los metales de la unin. La corriente que circule por el circuito de temopares debe ser mnima. De no ser as, dado el carcter reversible de los efectos Peltier y Thomson, la temperatura de los conductores, y en particular la de las uniones, sera distinta a la del entorno, debido al ujo de calor desde y hacia el circuito. Segn la intensidad de la corriente, incluso el efecto Joule podra ser apreciable. Todo esto llevara a que la unin de medida alcanzara una temparatura distinta a la que se desea medir y la unin de referencia una temperatura diferente a la supuesta, con los consiguientes errores. Los conductores deben ser homogneos, por lo que conviene extremar las precauciones para que no sufran tensiones mecnicas (por ejemplo, al instalarlos), ni trmicas (por ejemplo, debidas al envejecimiento si hay gradientes de temperatura importantes a lo largo de su tendido). Se debe mantener una de las dos uniones a una temperatura de referencia ja si se desea medir la de la otra unin, pues todo cambio en dicha unin de referencia ser una fuente de error. Repercute en ello que la tensin de salida es muy pequea, por cuanto la sensibilidad tpica es de 6 a 75V / C. Si adems la temperatura de referencia no es muy prxima a la de la medida, resultar que la seal ofrecida tendr un nivel alto constante en el que los cambios de temperatura de inters puede que provoquen slo pequeas variaciones de tensin. Si se desea una precisin elevada, la no linealidad de la relacin entre f.t.e.m. y temperatura puede ser importante. Una frmula aproximada y con validez general es
2 2 VAB C1 (T1 + T2 ) + C2 (T1 T2 )
(7.2.7)
donde T1 y T2 son las temperaturas absolutas respectivas de cada unin, y C1 y C2 son constantes que dependen de los materiales A y B. La realizacin de termopares tiles
7.2. TERMOPARES
207
viene limitada, precisamente, por el inters de que C2 sea muy pequea, y esto restringe mucho las posibilidades de eleccin. Para el termopar de cobre/constantan, por ejemplo, se tiene 2 2 (7.2.8) EAB 62.1(T1 + T2 ) + 0.045(T1 T2 )V Esta no linealidad puede que requiera una correccin que se realiza en el circuito de acondicionamiento de seal. Considerando todos los factores, es dcil tener un error menor que 0.5 C. La tolerancia de unas a otras unidades del mismo modelo, puede ser de varios grados Celsius. A pesar de estas limitaciones, los termopares tiene muchas ventajas y son, con mucha diferencia, los sensores ms frecuentes para la medida de temperaturas. Por una parte, tienen un alcance de medida grande, no slo en su conjunto, que va desde 270 C hasta 3000 C, sino en cada modelo particular. Por otra parte, su estabilidad a largo plazo es aceptable y su abilidad elevada. Adems, para temperaturas bajas tiene mayor exactitud que las RTD, y por su pequeo tamao permiten tener velocidades de respuesta rpidas, del orden de milisegundos. Poseen tambin robustez, simplicidad y exibilidad de utilizacin, y se dispone de modelos de bajo precio que son sucientes en muchas aplicaciones. Dado que no necesitan excitacin, no tienen los problemas de autocalentamiento que presentan las RTD, en particular al medir la temperatura de gases.
7.2.2
Compensacin de la unin de referencia
La simplicidad general de los termopares ha conducido a su amplio uso como sensores para medida de la temperatura. Hay, sin embargo, un nmero de complicaciones en su uso: 1. La medida de tensin se debe hacer sin ujo de corriente. 2. Las conexiones a dispositivos de medida de tensin resultan en uniones adicionales. 3. La tensin depende de la composicin de los metales usados en los hilos. Para que un termopar pueda ser usado como medidor de temperatura, no debe haber ujo de corriente a travs de los hilos y la unin. Esto es porque el ujo de corriente no solo resultar en prdidas resistivas sino que tambin afectar las tensiones termoelctricas. Reunir este requisito actualmemte no es un problema puesto que se dispone de voltmetros electrnicos y de sistemas de adquisicin de datos con muy alta impedancia de entrada. La segunda complicacin tiene que ver con el hecho de que realmente hay tres uniones en la Fig. 7.1. Adems de la unin sensora, hay dos uniones donde el termopar se conecta con el DVM. La lectura de la tensin as, es funcin de tres temperaturas (la unin sensora y las uniones a los terminales del DVM), dos de las cuales son de ningn inters. La solucin a este problema se muestra en la Fig. 7.2(a).
208
Alambre de metal A Unin sensora
Cobre
Alambre de metal A Unin sensora DVM DVM
Alambre de metal B
Metal A Unin de referencia (a)
Alambre de metal B
Metal B Uniones de referencia
(b)
Figura 7.2: Termopar con unin de referencia.
Se usan dos termocuplas, la segunda se denomina unin de referencia. La unin de referencia se mantiene a una temperatura conocida ja. La temperatura de una mezcla de hielo y agua pura a 1 atm. (0 C). Se dispone actualmente de dispositivos electrnicos que simulan elctricamente la unin de referencia fra sin la necesidad de disponer realmente de la mezcla hieloagua. An hay dos uniones en los terminales del DVM, pero cada una de estas uniones est construida con los mismos materiales y si los dos materiales pueden mantenerse a la misma temperatura, las tensiones en los terminales se cancelarn. Se pueden mantener los dos terminales a la misma temperatura colocndolos en un mismo recinto aislado trmicamente conenctados con un conductor trmico pero en una estructura aislada elctricamente. Con la temperatura de la unin de referencia conocida, la tensin medida es funcin nicamente de los materiales con los cuales est construido el termopar y la unin sensora de temperatura. El circuito de la Fig. 7.2(b) es elctricamente equivalente a la Fig. 7.2(a) y producir la misma tensin en el DVM. Finalmente, la tensin generada depende fuertemente de la composicin de los hilos utilizados para formar el termopar. Este problema ha sido resuelto restringiendo los materiales utilizados para construir los termopares. Cuando se fabrican los alambres para los termopares de acuerdo a las normas establecidas por el National Institute of Standards and Technology (antiguamente conocido como National Bureau of Standards NBS), se pueden usar las curvas de calibracin normalizadas para determinar la temperatura con base a las tensiones medidas. Puesto que la tensin de salida es en general funcin no lineal de la temperatura, se requieren tablas, grcos o funciones polinomiales para interpretar los datos de la tensin leda. La Fig. 7.3 muestra las curvas de calibracin tomadas de las funciones polinomiales dadas por Creus [10] para varios R termopares. El programa desarrollado en Matlab est listado en el Apndice A.
7.3. SENSORES PIEZOELCTRICOS
209
Figura 7.3: Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas.
7.3
Sensores piezoelctricos
What is Piezoelectricity? An overview & History In the 1880s, Pierre and Jacque Curie discovered that some crystalline materials, when compressed, produce a voltage proportional to the applied pressure and that when an electric eld is applied across the material, there is a corresponding change of shape. This characteristic is called piezoelectricity or pressure electricity (Piezo is the Greek word for pressure). Piezoelectric ceramics respond rapidly to changes in input voltage, and power supply noise is the only limiting factor in the positional resolution. Although high voltages are used to produce the piezoelectric eect, power consumption is low, and energy consumption is minimal in maintaining a xed position with a xed load. Although piezoelectricity is found in several types of natural materials, most modern devices use polycrystalline ceramics such as lead zirconate titanate (PZT). A material is said to possess piezoelectric properties if an electrical charge is produced when a mechanical stress in applied. This is commonly referred to as the generator eect. The converse also holds true; an applied electric eld will produce a mechanical stress in the material. This is commonly referred to as the motor eect. Some naturally occurring crystalline materials possessing these properties are quartz and tourmaline. Some articially produced piezoelectric crystals are Rochelle salt, ammonium dihydrogen phosphate (ADP) and lithium sulphate (LH).
210
Another class of materials possessing these properties is polarized piezoelectric ceramic. They are typically referred to as ferroelectric materials. In contrast to the naturally occurring piezoelectric crystals, ferroelectric ceramics are of polycrystalline structure. the most commonly produced piezoelectric ceramics are: lead zirconate titanate (PZT), barium titanate, lead titanate and lead metaniobate. Production of all of the piezoelectric ceramic materials involve detailed processing. Material properties may be altered by modifying the chemical composition and manufacturing processes. The provides the designer a means of tailoring the materials properties to the application. Many processes are involved in the production of piezoelectric ceramics. The rst ceramic process consists of mixing the raw materials. The powders are then heated which reacts the constituent materials into a compound. This process is commonly referred to as calcining. The calcined powders are then ground into very ne particles. The production of ceramic shapes requires that a binder be added. The binder holds the parts together prior to ring. Ceramic parts may be formed to many shapes including; bars, plates, discs, rings, cylinders and hemispears. The formed parts are then bisque red at low temperatures in order to drive o the binders and provide some mechanical strength. The second ring, or high ring completes the chemical bounding of the constituent material dimensions. Electrodes are applied to the desired surfaces. a nal ring bonds the electrode material to the ceramic surfaces. Activation of the piezoelectric ceramic properties on a macroscope level occurs in the polling process. The electroded part is heated in a dielectric oil bath. A high electric eld is applied across the electrodes resulting in an aligning of the dipoles within the material. The material is now fully activated. From the moment the activated ceramic material is removed from the poling apparatus, the material properties undergo changes. The process of change is referred to as aging. Aging of the ceramic occurs very rapidly in the rst few hours. After a few days the changes in the material properties are very small and decrease logarithmically. The aging process can be attributed to the relaxation of the dipoles in the material. Piezoelectric ceramic materials possess electrical, mechanical and electromechanical properties resulting from the chemical formulation and the manufacturing processing. Typical electrical parameters are the dielectric constant K, and the dissipation. High dielectric constants are desirable for they result in low impedance. Low dissipations are desirable for they result in low electrical losses. Typical electromechanical parameters are the electromechanical coupling, k, and piezoelectric g and d constants. Higher electromechanical couplings result in a more ecient transfer of electrical energy to mechanical energy. Typical mechanical parameters are the density and elastic constants, S from which the resonant properties may be determined. Many of these properties are dependent upon the axis of measurement. The axis being dened relative to the poled axis. Depolarization of the piezoelectric ceramic can result if it is exposed to excessive heat, electrical drive or mechanical stress or any combination thereof. The temperature at which piezoelectric ceramic will be totally depoled is known as the curie point.
211
Piezoelectric ceramics also possess pyroelectric properties. A change in ceramic temperature will result in a change in mechanical dimensions. The mechanical change produces stress within the ceramic and corresponding electrical charge on the electrode surfaces. Very high potentials can be created, caution should be exercised when handling piezoelectric ceramic.
7.3.1
Captadores Piezoelctricos
La piezoelectricidad consiste en la aparicin de desequilibrios de carga elctrica en determinadas zonas de lminas talladas segn ciertos ejes, en respuesta a una deformacin de la red cristalina provocada, por ejemplo, por la aplicacin de una fuerza. El fenmeno es reversible de modo que, si se crea una distribucin asimtrica de cargas, se produce una deformacin correspondiente en el cristal. Es as lgico que estos materiales se utilicen tanto en sensores primarios de deformacin, como en accionadores mecnicos (por ejemplo, generadores de ultrasonidos, posicionadores de elementos mecnicos, etc).
7.3.2
Materiales piezoelctricos
Entre los materiales naturales que maniestan el fenmeno descrito estn los cristales de cuarzo y turmalina, y entre los materiales sintticos que se comportan del mismo modo pueden citarse la sal de Rochelle y el titanato de bario, adems de ciertos compuestos de tipo cermico utilizados actualmente. El titanato de bario, concretamente, pertenece al grupo de los denominados materiales ferroelctricos, de los cuales el ms representativo podra ser el zirconato de plomo. Deben su nombre a la analoga entre los dominios elctricos, concepto que se utiliza en la interpretacin terica de sus propiedades, y los dominios magnticos a los que se hace referencia en la teora del ferromagnetismo. Durante el proceso de fabricacin, se polarizan calentndolos por encima del punto Curie y se dejan enfriar lentamente en presencia de un fuerte campo elctrico (obsrvese la analoga con el proceso de fabricacin de los imanes y la dualidad campo magnticocampo elctrico). Los dispositivos que utilizan materiales ferroelctricos se caracterizan por su gran robustez y capacidad para soportar grandes esfuerzos. Se emplean adems frecuentemente como actuadores y, en especial, en sistemas de generacin de ultrasonidos. Recientemente se estn utilizando tambin los polmeros ferroelctricos entre los cuales destaca el uoruro de polivinilideno, material de alta sensibilidad piezoelctrica y piroelctrica que sive de base para algunos sensores modernos experimentales de diversas magnitudes mecnicas, elctricas y pticas. Actualmente se estudia su aplicabilidad a la deteccin tactil en robots y en prtesis de miembros. En aplicaciones como sensores, destacan los cristales de cuarzo tallados segn determinadas direcciones preferentes en forma de lminas sobre cuyas caras opuestas se depositan electrodos metlicos (generalmente de oro o de plata). Dependiendo de la direccin del corte,
212
Figura 7.4: Efecto piezoelctrico se consiguen lminas sensibles a deformaciones por compresin, esfuerzo cortante o exin (ver Fig.7.4)
7.3.3
Base Terica
Las relaciones mecanoelctricas para un material piezoelctrico vienen dadas por las siguientes ecuaciones (unidimensionales): = (T, E) D = D(T, E) =sT +dE
D =E +dT
donde Deformacin unitaria T Esfuerzo E Campo elctrico D Desplazamiento Constante dielctrica s Inversa del mdulo de Young d Constante piezoelctrica (C/N ) En estos materiales, tanto la deformacin mecnica como el vector desplazamiento elctrico se deben a una cambinacin del esfuerzo y campo elctrico aplicado al material. Un ndice de la conversin viene dado por el coeciente de acoplamiento electromecnico (K), denido como la raz cuadrada de la relacin entre la energa disponible y la almacenada (para frecuencias muy por debajo de la frecuencia de resonancia del elemento). Puede demostrarse que K= d2 s
213
La generalizacin de las ecuaciones anteriores a tres dimensiones, proporciona las siguientes relaciones: [ i ] = [ i,j ][Tj ] + [di,k ][Ek ] [Di ] = [l,m ][Em ] + [dl,n ][Tn ] donde se cumple que di,j = dj,i l,m = 0 l 6= m j, n = 1, 2, . . . 6 i, k, l, m = 1, 2, 3
(indicando los subndices 1, 2 y3 esfuerzos de traccin/compresin y los subndices 4, 5 y 6, esfuerzos de cizalladura) Fig. Con el n de comprender el comportamiento en circuito de los sensores piezoelctricos, es interesante abordar tericamente un modelo simple unidimensional al que responden con bastante aproximacin los cristales tallados prismticamente cuando funcionan en rgimen de compresintraccin que, por otra parte, es el usual en muchos de los transductores basados en este tipo de sensores Fig En la Fig. se representa esquemticamente un cristal piezoelctrico en forma de lmina con electrodos metlicos depositados sobre las caras opuestas. En la misma gura se ilustra el equilibrio dinmico del cristal sometido a una fuerza F de compresin, de modo que se produce una disminucin z en su espesor. Los terminales del cristal aparecen cortocircuitados, es decir no existe diferencia de potencial entre ellos y no se tiene en cuenta, por lo tanto, la fuerza debida a la reversibilidad del efecto piezoelctrico. La deformacin genera una carga Q cuyo valor es aproximadamente proporcional al acortamiento unitario del espesor del cristal, para deformaciones muy pequeas, o sea: Q=K z e (7.3.1)
donde K es una constante que depende del material y de la direccin de la talla y e es el espesor del cristal antes de la deformacin. Si, en el caso ms gnenral, se supone que z est variando con el tiempo a una velocidad dz/dt y una aceleracin d2 z/dt2 , considerando el sentido positivo de z indicado en la Fig., Se obtien derivando la expresin (7.3.1): i= K dz dQ = dt e dt (7.3.2)
donde se ha considerado que el espesor e permanece constante. Existe pues una corriente de desplazamiento interno de cargas proporcional a la velocidad de deformacin, que circulara por el conductor de cortocircuito entre terminales.
214
Por otra parte, como se indica en la Fig., intervienen en el caso ms genral, adems de la fuerza F aplicada, otras solicitaciones que denen el equilibrio dinmico del sistema y que pueden expresarse del modo siguiente en funcin de z y sus derivadas 2z Fuerza de inercia a la masa m equivalente del cristal md 2 dt dz r dt Fuerza asociada a las resistencias pasivas (del tipo de rozamiento viscoso, proporcional a la velocidad) l Cm z Fuerza de reaccin elstica, proporcional a la deformacin, donde Cm , es la llamada capacidad mecnica, inversa de la elastancia mecnica del cristal para el modo de deformacin considerado. El equilibrio dinmico se expresar indicando balance de fuerzas que acta sobre el sistema: F =m y teniendo en cuenta (7.3.2) resulta e l me di re + i+ F = K dt K K Cm Z idt (7.3.4) l dz d2 z +r + z 2 dt dt Cm (7.3.3)
7.3.4
Circuito Equivalente de un cristal piezoelctrico
Considrece ahora el esquema de la Fig. (7.5) que representa un circuito L, R, C en serie alimentado por un generador de tensin v(t).
R +
R +
C Co
F
-
Figura 7.5: Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico. De acuerdo con la teora de circuitos, la relacin entre v(t) e i(t) estar dada por la ecuacin 1 di(t) + Ri(t) + v(t) = L dt C Z i(t)dt (7.3.5)
Dado que los trminos funcionales de los segundos miembros de las ecuaciones (7.3.4) y (7.3.5) son idnticos, puede establecerse una equivalencia entre ambas expresando la proporcionalidad
215
entre las funciones de los primeros miembros y entre los coecientes correspondientes del segundo, o sea u(t) LK RK Cm K = = = = (7.3.6) F me re Ce donde sera el factor de proporcionalidad. De la ecuacin anterior, se deducen las expresiones u(t) = F L= e K e m R = r C = Cm K K e
Resulta as que puede establecerse una analoga entre el cristal en su equilibrio dinmico y un circuito resonante serie con amortiguamiento, en donde son vlidas las siguientes relaciones: La tensin de alimentacin es proporcional a la fuerza. La resistencia es proporcional al coeciente representativo del efecto del amortiguamiento mecnico del sistema. La inductancia es proporcional a la masa equivalente del cristal. La capacidad elctrica es proporcional a la capacidad mecnica. Estas conclusiones son de gran utilidad para el estudio de circuitos con cristales piezoelctricos, toda vez que el cristal puede ser sustituido por un circuito L, R, C equivalente alimentado por un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada, como se muestra en la Fig.(izquieda). Si se abre el corto circuito entre los terminales fsicos del cristal, quedar intercalado en el buque el condensador C0 correspondiente a la disposicin de los dos electrodos separados por el propio cristal (dielctrico) y, en este caso, la corriente i(t) no podra ser medida sicamenteya que estaa formada por el desplazamiento interno de cargas que se almacenaran, en denitiva, en dicho condensador. El circuito equivalente completo es el representado en la derecha de la Fig. (), donde los pintos a y b corresponden a los terminales fsicos del sensor A modo de ejemplo, se indican a continuacin los parmetros elctricos d un cristal de cuarzo de frecuencia de resonancia igual a 10M Hz (corte AT). En aplicaciones como sensor, donde el funcionamiento tiene lugar a frecuencias muy inferiores a la de resonancia mecnica del cristal (obviamente coincidente con la resonancia elctrica de su circuito equivalente), tanto las velocidades como las aceleraciones tienen valores tan bajos que es posible despreciar los trminos asociados a estas magnitudes, con lo cual el circuito equivalente se reduce al ilustrado en el lado izquierdo de la Fig.(). En el lado derecho de dicha gura se muestra una conguracin aun ms simplicada que resulta de la anterior aplicando el teorema de Thevenin entre los terminales a y b, en donde el generador corresponde al original afectado del coeciente = C/(C + C0 ) del divisor de tensin capacitivo y la impedancia interna est formada por los dos condensadores en paralelo.
216
Puede decirse que el cristal piezoelctrico, dentro de las aproximaciones indicadas, equivale a un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada en serie con un condensador que corresponde aproximadamente al denido fsicamente por la geometra del sensor (es decir, el condensador C0 ), siempre referido al modelo de la Fig(). El estudio de la respuesta de los cristales piezoelctricos a solicitaciones estticas proporciona interesantes relaciones entre los parmetros que se estn manejando y otros dependientes de las propiedades elsticas del material y de su geometra.
7.3.5
Respuesta esttica
Si se supone sometido el cristal a una fuerza constante y el sistema est en reposo, la carga almacenada en las placas ser 1F z (7.3.7) Q=K =K e ES donde E es el mdulo de Young, F la fuerza aplicada y S la supercie sobre la que acta (la de los electrodos de acuerdo con el modelo de la Fig()). Por otra parte, de acuerdo a la denicn de Cm , se tiene, en condiciones estticas (la nica fuerza que se opone a F es la reaccin elstica del cristal) 1 z (7.3.8) F = Cm deduciendose de estas dos ecuaciones la relacin S =E Cm e (7.3.9)
Mediante diferentes operaciones, se obtienen adems estas otras expresiones que proporcionan los valores de .R y L en funcin de los parmetros fsicos del cristal entre los que se cuenta la capacidad C. La tensin de salida del sensor piezoelctrico para excitacin esttica es, segn la Fig.() = K CES R= e e C r L= m us = F CES CES C + C0 (7.3.10)
en donde, sustituyendo el valor de segn (equ), se tiene us = 1 K K F F = ES C + C0 ESC0 (7.3.11)
expresin en la que puede sustituirse C0 por el valor correspondiente al condensador plano de supercie S, espesor e y constante dielctrica , obtenindose: K e us = E S 2 (7.3.12)
217
Puede observarse que esta sensibilidad es funcin de las caractersticas fsicas del cristal (E, e, K) y de su conguracin geomtrica (e/S 2 ), siendo fuertemente dependiente de la supercie de lascaras que sirven de soporte a los elctrodos. Obviamente, la sensibilidad referida a presin (F/S) tendra una expresin idntica a la anterior pero en el denominador aparecera S sin elevar al cuadrado.
7.3.6
Respuesta dinmica
Suponiendo aplicada una fuerza variable senoidalmete, es decir de la forma F (t) = Fm sent la tensin de salida del sensor en rgimen permanente se deduce del circuito equivalente, siendo su mdulo: CFm p (7.3.13) |us | = C0 ((1 LC 2 )2 + R2 C 2 2 ) Esta misma expresin puede ponerse en funcin de los parmetros mecnicos del cristal utilizando las equivalencias ya conocidas, con lo que resulta |us | = Cm KFm p 2 eC0 ((1 LCm 2 )2 + r2 Cm 2 )
(7.3.14)
En la Fig.() se representa el mdulo de laa tensin de salida en funcin de observndose que para frecuencias bajas la curva es muy horizontal, es decir la tensinde salida depende un poco de la frecuencia. existe adems un valor de para el que la funcin es mxima, que corresponde a la resonancia mecnica del cristal, o bien a la resonancia elctrica del circuito equivalente, y que puede calcularse igualendo a cero la derivada, obtenindose: s 1 r2 (7.3.15) 0 = 2f0 = mCm 2m2 donde 0 y f0 son la pulsacin y la frecuencia de resonancia, respectivamente. En las aplicaciones como sensor, un criterio a seguir es que las frecuencias contenidas en la magnitud excitadora sean muy inferiores a la de resonancia del cristal, con objeto de operar en la parte plana de la curva. En otro tipo de aplicaciones (osciladores, generadores de ultrasonidos, etc) el cristal se hace funcionar precisamente a su frecuancia de resonancia. En estos casos, en que no existe una fuerza exterior aplicada, el cristal se considera como elemento del circuito pasivo y es interesante observar que presenta dos frecuencias de resonancia (que corresponde a las denominadas resonancia serie y resonancia paralelo). En efecto, la impedancia entre los puntos a y b del circuito equivalente de la Fig.() es: z= 1 1 + RCp + LCp2 CC0 CC0 2 (C + C )p 1 + R C+C0 p + L C+C0 p 0 (7.3.16)
218
cuyo mdulo, para funcionamiento en alterna (p = j), tiene un mnimo y un mximo correspondiente a las dos frecuencias de resonancia mencionadas. Una primera aproximacin vlida consiste en despreciar el efecto amortiguador de la resistencia R (en efecto, los factores Q son usualmente de decenas de millares), con lo cual: z() = 1 1 (/s )2 (C + C0 )j 1 (/ p )2 (7.3.17)
donde s (pulsacin de resonancia serie) y p (pulsacin de resonancia paralelo) son: 1 1 s p q = = CC0 LC L (C+C0 ) s p = (7.3.18)
Dado que, como se ha explicado anteiormente, C0 es mucho mayor que C, las pulsaciones o frecuencias de resonancia serie y paralelo son casi iguales, es decir: (7.3.19)
Los osciladores de cristal oscilan una frecuencia comprendida entre la de resonancia serie y la de resonacia paralelo, en los diseos ms usuales, con un ligero desplazamiento hacia la resonancia paralelo. No obstante, de acuerdo con (eq), la frecuencia de oscilacin es prcticamente igual a ambas y a la de resonancia mecnica del cristal (). En ciertos casos, los cristales se hacen oscilar a mltiplos de la frecuencia fundamental (sobretonos) forzando determinados modos de vibracin en los que se producen ondas estacionarias. Dependiendo de las caractersticas del cristal, pueden excitarse modos de vibracin a compresin, a cortadura, a exin, etc. En la Fig.() se ilustra cualitativamente el mdulo de la impedancia dada por () en funcin de la pulsacin . Es de destacar que existen sensores basados en la variacin de la frecuencia de oscilacin con el incremento de la masa del cristal al jarse sobre un recubrimiento sensible determinadas substancias (microgavimetra selectiva), pero se trata en este caso de sensores indirectos.
7.3.7
Problemas especcos relacionados con las medidas
Los circuitos equivalentes de los cristales piezoelctricos muestran dicultades de las medidas en muy baja frecuencia con este tipo de sensores (impedancia de salida innita para frecuencia cero). No obstante, pueden aplicarse vitualmente en cualquier rango de frecuencias utilizando los denominados amplicadores de carga, que consisten esencialmente en integradores. En la Fig.() se muestra en foram esquemtica un sisterma que muestra un integrador analgico conectado a un sensor piezoelctrico, que aparece sustituido por su circuito equivalente. La tensin de salida de este circuito, viene dada por la siguiente expresin: us = 1 C
1+(p/s )2 R (c + C0 )p + 1 C0 1+(p/p )2 a
(7.3.20)
219
que, para magnitudes con un contenido armnico de muy baja frecuencia, puede aproximarse como C Qc us = F = (7.3.21) Ca Ca La tensin de salida es, pues, aproximadamente proporcional a la carga Qc alamcenada en el condensador Ca . Los amplicadores de carga permiten as medidas incluso en condiciones estticas (de hecho, la expresin anterior es exacta en tales condiciones), entregando una salida proporcional a la fuerza aplicada. Su principal problema prctico es que tienden a saturarse a largo plazo por integracin de pequeos errores de deriva de continua, lo que obliga a utilizar amplicadores operacionales de altas prestaciones en lo que se reere a deriva, tensiones de desviacin (oset) y corrientes de polarizacin. Adicionalmente, suele ser necesario cortocircuitar peridicamente el condensador de integracin para eliminar errores acumulados. Por supuesto, puede utilizarse cualquier esquema de integrador adems del ilustrado en la Fig.(). Otro problema que se presenta algunas veces cuando el cable de conexin de seal es largo existen perturbaciones mecnicas ambientales (acsticas, vibratorias, etc), es que dicho cable puede comportarse como un transductor microfnico, apareciendo ruido en la seal. Muchos fabricantes disponen de cable especial para evitar o mitigar este efecto. Adicionalmente, la capacidad parsita asociada se suma al valor de C0 , reducindose la amplitud de la seal disponible por efecto de divisor capacitivo con el condensador C. Es recomendable preamplicar la seal muy cerca del sensor. La instrumentacin asociada a las medidas con transductores piezoelctricos es usualmente no diferencial con el crislta aislado a tierra, realizndose en este caso la conexin masapantalla tierra en el extremo de la carga nal de utilizacin (aparato de registro, osciloscopio, etc). La Fig.() ilustra un esquema de apantallamiento recomendado cuando se utiliza un amplicador de carga que tien conectada interiormente la masa al blindaje, pudiendo apreciarse que las pantallas de los conduntores de entrada y salida del amplicador puentean el blindaje de este ltimo. Esta disposicin es la ms favorable para evitar interferencias producidas por diferencias de potencial entre la tierra de seal (tierra remota) y la de los aparatos de registro o medida anles (tierra local) ya que las correintes implicadas circulan principalmente por las pantallas y blindaje del amplicador y no por los conductores de seal. Se respetan al mismo tiempo las reglas bsicas de apantallamiento de la instrumentacin no diferencial (continuidad directa entre pantallas y blindaje y conexin a masa de estos elementos).
7.3.8
Aplicaciones
Los sensores piezoelctricos encuentran aplicacin en multitud de transductores analgicos directos (medidores de fuerza y presin, acelermetros, micrfonos, etc) que se caracterizan, en general, por su abilidad, robustez y capacidad para trabajar en ambientes hostiles. Podra armarse, no obstante, que las realizaciones de mayor difusin se reeren a medidas dinmicas, dados los problemas que presentan en muy baja frecuencia. Sin embargo, existen transductores
220
basados en cristales piezoelctricos de gran precisin que son exitados por magnitudes estticas o cuasiestticas.En los transductores en que la magnitud excitadora puede cambiar de signo (por ejemplo, un acelermetro que puede medir aceleracin y desaceleracin) y este hecho implica una inversin de la solicitacin mecnica (por ejemplo, se pasa de compresin a traccin), se preere polarizar mecnicamente el cristal sometindolo a una deformacin inicial a la que se superpone en un sentido u otro la debida a la magnitud a medir. En la Fig.() se muestra esquemticamente, por por ejemplo, la estructura de un acelermetro tpico, donde puede observarse como el cristal est precomprimido por un resorte dispuesto entre la carcasa del transductor y la masa de inercia que acta como sonda. La fuerza de precompresin puede ajustarse haciendo girar la tapa roscada sobre la que se apoya el resorte.
y 1.5
1.25
0.75
0.5
0.25
0 0 0.25 0.5 0.75 x 1
Figura 7.6:
Captulo 8
Medida de presin y humedad

8.1 Introduccin
En este captulo se proporcionan las bases tcnicas de los sistemas comunes usados para medir presin y humedad. Se incluyen los dispositivos de medida ms corrientes, aunque deber notarse que en la prctica de ingeniera tambin se emplean otros dispositivos. En este captulo tambin se hace una introduccin a la tecnologa de bra ptica en los sistemas de medida los cuales incluyen sensores para presin, temperatura y otras variables fsicas.
8.2
Medida de presin
La presin se mide en tres formas diferentes: presin absoluta, presin atmosfrica y presin diferencial. La presin absoluta se usa en termodinmica para determinar el estado de una sustancia, se mide con relacin al cero absoluto de presin. La presin atmofrica es la presin ejercida por la atmsfera terrestre medida con un barmetro. A nivel del mar esta presin es cercana a 760mm Hg absolutos o 14.7 psia (libras por pulgada cuadrada absoluta) y estos valores denen la presin ejercida por la atmsfera estndar. La presin diferencial es la diferencia de presin entre dos puntos de un sistema. El vaco es la diferencia de presiones entre la presin atmosfrica existente y la presin absoluta, es decir, es la presin medida por debajo de la atmosfrica. Existen dispositivos para medir directamente la presin en cada forma. Aunque algunos dispositivos miden directamente la presin absoluta, es comn hacer dos medidas con dos dispositivos uno para determinar la presin absoluta ambiente y el otro para determinar la presin atmosfrica. La presin absoluta es entonces pabs = pamb + patm 221 (8.2.1)
222
CAPTULO 8. MEDIDA DE PRESIN Y HUMEDAD
En el sistema ingls de unidades, las presiones absoluta, atmosfrica y diferencial se dan normalmente en unidades de libras por pulgada cuadrada en la forma de psia, psig y psid, respectivamente. En el sistema de unidades SI, la presin se expresa en pascal, Pa (o kilopascal, kPa) agregando la palabra absoluta, atmosfrica o diferencial. Un pascal es una presin de un newton por metro cuadrado. 1P a = 1N/m2 (8.2.2)
8.3
Dispositivos de medida de presin
Existen tres dispositivos tradicionales para medida de presin los cuales no tienen salida elctrica pero an son muy utilizados por lo cual merecen ser mencionados. El manmetro y el tubo Bourdon (desarrollado por E. Bourdon en 1849) son usados debido a que se puede leer directamente la presin. El tercer dispositivo, el sensor de peso muerto, es valioso para calibracin de otros dispositivos de medida de presin. Ninguno es adecuado para medidas dinmicas.
8.3.1
Manmetros
El manmetro ms simple es el tubo en U mostrado en la Fig. 8.1 Consiste de un tubo de vidrio o plstico en forma de U parcialmente lleno con un lquido. El dispositivo se emplea para medir presin diferencial o atmosfrica en lquidos o gases. Si el uido a ser sensado es un lquido, entonces el uido dentro del manmetro debe ser no miscible y ms denso que dicho uido.
Tubo transparente en U
Densidad m
h
(R)
Figura 8.1: Manmetro de tubo en U. Los uidos debern tambin tener diferentes colores de modo que la interface (menisco) sea
8.3. DISPOSITIVOS DE MEDIDA DE PRESIN
223
visible fcilmente. La diferencia de presin en el extremo del manmetro se puede calcular de P = P1 P2 = hg(m s ) = Rg(m s ) (8.3.1)
donde h = R es la diferencia de niveles de las dos interfaces, m es la densidad del lquido del manmetro, s es la densidad del uido sensado y g es la aceleracin de la gravedad. Para los gases, s es muy pequea con respecto a m y se puede despreciar, dando P = Rgm . Aunque la presin tiene unidades de psi o Pa, es comn expresarla como la altura de una columna de un uido. Si una presin se divide entre g, el resultado tiene unidad de altura. Por ejemplo, en el sistema ingls de unidades, si se usa la densidad del agua, la presin puede expresarse como pies de agua o pulgadas de agua. La presin atmosfrica usualmente se expresa de esta manera 30 pulgadas o 760 mm Hg, por ejemplo. Cuando se expresa la presin como la altura de una columna de un uido, tambin es necesario conocer la temperatura del uido puesto que sta afecta la densidad. Por ejemplo, la densidad del agua vara 0.75% entre 10 y 40 C. Es comn usar la densidad del agua a 4 C, 1000kg/m3 o 62.43lbm/f t3 . Tambin es comn especicar la densidad del uido usando el trmino gravedad especca, S, la cual es la razn de la densidad del uido a la densidad del agua a una temperatura especca (usualmente 4 C). Los manmetros son normalmente precisos an sin calibracin. Los principales factores que afectan su precisin son la escala y la densidad del uido del manmetro. Las escalas se pueden construir de forma precisa y mantener su precisin con el tiempo. Las densidades de los uidos tambin son conocidas y pueden ser fcilmente chequeadas. La expansin trmica afecta tanto a la escala como a la densidad del uido, pero se pueden hacer correcciones analticas para eliminar los errores. Los manmetros de U tambin tienen el inconveniente de que es necesario leer la localizacin de las dos interfaces. Una variacin comn, el manmetro de tipo recipiente, se muestra en la Fig. 8.2. En esta conguracin, el rea de la seccin transversal es muy grande comparada con el rea del tubo transparente y cuando se aplica una presin, el cambio en la elevacin de la supercie del recipiente es muy pequeo comparado con el cambio de elevacin en el tubo. Como resultado, slo se requiere una lectura. Los dispositivos tienen un ajuste, de modo que la lectura es cero cuando no hay presin diferencial aplicada. Para aplicar los manmetros a medida de gases se puede usar directamente la ecuacin (8.3.1), ya que s 0. Para lquidos, la frmula aplicable es ms complicada puesto que el recipiente y la columna no estn a la misma altura. Para aplicaciones a lquidos, el usuario deber seguir el anlisis sobre manmetros dado, v. gr., en Streeter y Wylie [31]. Cuando se tienen presiones diferenciales muy bajas se puede usar el llamado manmetro inclinado (Fig. 8.3), el cual tiene mayor resolucin con lo cual se incrementa la sensibilidad. ste se puede utilizar para medir presiones tan bajas como 0.1 pulgadas de una columna de agua. El tubo inclinado hace que un pequeo cambio en la altura del uido cause un gran desplazamiento en la direccin del tubo transparente.
224

Tubo transparente
R P1
Recipiente
Figura 8.2: Manmetro de tipo recipiente. Para los gases, P = hg = Rsen g (8.3.2)
donde R es la lectura y es el ngulo entre el tubo del manmetro y la direccin horizontal. Se utiliza generalmente aceite con una densidad ms baja que el agua. En la mayora de los casos, se comprime la escala del manmetro de modo que las lecturas estn en las unidades de presin apropiadas. Otro instrumento de medida de presin es el barmetro el cual se emplea para medir la presin atmosfrica (Fig. 8.4). Este dispositivo es esencialmente un manmetro tipo recipiente en el cual se evaca una de las piernas de modo que la presin sobre ella sea el vapor de mercurio. Se debe hacer correccin de la temperatura en la lectura de la presin en el barmetro ya que sta afecta la presin del vapor del mercurio y la escala de medida. Hay una cantidad de diferentes variaciones de manmetros diseados para altas o bajas presiones. Para altas presiones son preferibles dispositivos no manomtricos tales como los transductores de presin discutidos ms adelante. Una variedad de dispositivos conocidos como micromanmetros se usan para medir bajas presiones. Para el vaco (presiones muy bajas), se usa un sensor manomtrico llamado sensor de McLeod, el cual se ver ms adelante. Ejemplo 29 Se aplica una diferencia de presin de gas de 125kPa a las piernas de un tubo en U. El manmetro contiene Hg con una gravedad especca de 13.6. Determinar la lectura del manmetro.
225
P2
P1
h
R
Figura 8.3: Manmetro inclinado. Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene R= P P 125000 = = = 0.937 88 m m g Sagua g 13.6 1000 9.8
Ejemplo 30 Una presin est dada como 58 psi. Cul es la presin expresada como pulgadas de Hg y pies de agua? Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene
lbf pul 58 pul2 144 pies2 32.17 lbf pies P lbf s2 = = 9. 836 9 pies Hg = 118. 04. pulg Hg h = lbm Hg g 13.6 62.43 pies3 32.17 pies s2
2
Similarmente, para pies de agua se tiene

lbf pul 58 pul2 144 pies2 32.17 lbf pies P lbf s2 h = = 133. 78 pies de H2 O = pies lbm H O g 62.43 pies3 32.17 s2 2
2
Ejemplo 31 Se aplica una presin de gas a la cmara de un manmetro tipo recipiente. La columna est abierta a la atmsfera y el uido del manmetro tiene una gravedad especca de 2.0. Si la lectura es de 47.5 cm, encontrar la presin aplicada. Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), se obtiene P1 P2 = P1 0 = Rm g = 0.475 2.0 9.8 1000 = 9310.0 = 9.31kP a
226
Vaco
Tubo transparente
Figura 8.4: Barmetro de mercurio. Ejemplo 32 Se desea disear un manmetro inclinado para medir una presin de gas entre 0 y 3 pulg. de una columna de agua con una resolucin de 0.01pulg. El uido del manmetro es agua y es posible leer la pendiente de la escala con una resolucin de 0.05 pulg. Cul ser el ngulo , y cmo de largo deber ser el tubo inclinado? Sol. El ngulo puede determinarse del requisito de resolucin; 0.01 pulg. de agua corresponde a 0.05 del tubo inclinado. Por lo tanto sen = 0.01/0.05, = 11.5 . Puesto que la elevacin total es de 3.0 pulg. en la longitud del tubo, sen = 3/L, = L = 15 pulg.
8.3.2
Tubo Bourdon
Un dispositivo de medida de presin muy comn, el tubo Bourdon, se muestra en la Fig. 8.5. Es un dispositivo sencillo para obtener lecturas rpidas de presin en los uidos. El principio bsico de operacin es que un tubo curvo y aplanado tratar de enderezarse cuando sea sometido a una presin interna. El terminal del tubo se conecta con un engranaje a un indicador rotatorio. Puede utilizarse para presiones hasta de 20000 psi o ms, aunque no tiene alta precisin son comunes errores de hasta el 5%. Se pueden obtener dispositivos de mucha mejor respuesta con errores de hasta del 0.5% a plena escala. Los tubos Bourdon son utilizados algunas veces como dispositivos de sensado de presin remotos. La deexin del tubo es sensada con un LVDT o un potencimetro los cuales transmiten una seal elctrica al lugar de adquisin de datos.
8.3.3
Probador de peso muerto
El probador de peso muerto, mostrado en la Fig. 8.6 es un dispositivo que se utiliza a menudo para calibrar otros dispositivos de medida de presin a presiones moderadas o altas. El dispositivo de medida de presin a ser calibrado, sensa la presin del aceite contenido en una cmara.
227
Tubo tipo Bourdon
Seccin A - A
Seal de presin
Figura 8.5: Tubo Bourdon.
Un arreglo cilindropistn se conecta en la cima de la cmara donde se pueden colocar pesas. Un tornillo separado de un pistn puede ser utilizado para ajustar el volumen de la cmara de modo que el pistn con la pesa este situado en la mitad de su rango posible de movimiento. La presin del uido es entonces el peso del pistn el peso del arreglo dividido entre el rea del pistn. El dispositivo es muy preciso puesto que el rea del pistn y el valor de la pesa se pueden determinar con alta precisin.
Dispositivo a ensayar
Pesas
W
rea de pistn, A Tornillo con rosca de desplazamiento
Aceite
Manivela
Figura 8.6: Probador de peso muerto.
228
8.3.4
Transductores de presin
Un dispositivo muy comn y relativamente barato para medir presin en un uido es el transductor de presin de diafragma con galga extensomtrica, esquematizado en la Fig. 8.7. La presin de prueba se aplica a un lado del diafragma, una presin de referencia al otro lado y la deexin del difragma se sensa con galgas extensomtricas. En los diseos ms comunes, la presin de referencia es la atmosfrica, de modo que el transductor mide dicha presin. En algunos casos el lado de referencia del transductor es evacuado y sellado de modo que el transductor mide presin absoluta. Finalmente, ambos lados del transductor se pueden conectar a diferentes presiones de prueba de modo que la medida es presin diferencial. Los transductores para cada una de estas aplicaciones tienen detalles de construccin ligeramente diferentes.
Galga extensiomtrica
Seal de presin
Presin de referencia
Diafragma
Figura 8.7: Transductor de presin con galga extensiomtrica. Antiguamente, el diafragma era usualmente hecho de metal y se utilizaban galgas metlicas. Ms recientemente, ha llegado a ser comn construir el diafragma de un material semiconductor (silicio) con galgas extensomtricas de semiconductor embebidas en el diafragma. Esta es una tcnica de construccin menos costosa y, puesto que las galgas extensomtricas de semiconductor tienen factores de galga ms altos, se mejora la sensibilidad. El sicilio no es resistente a la corrosin producida por algunos uidos, por lo que se incluye adems algn material resistente a la corrosin en el diafragma, con la regin situada entre los dos diafragmas llena de un uido. Normalmente, el acondicionador de seal en puente de Wheatstone se construye en el transductor (todas las ramas del puente son galgas activas) y se conectan galgas extensomtricas para compensar la temperatura. La mayora de los transductores de presin de galga extensomtrica producen una salida de corriente continua en el rango de los milivoltios, pero algunos incluyen amplicadores internos que tienen las salidas en el rango de 0 a 5 de 0 a 10 V. Las unidades de salida de mayor tensin son menos susceptibles al ruido elctrico ambiente. La presin tambin se puede sensar con dispositivos LVDT. La Fig. 8.8 muestra un arreglo con una cmara exible (cpsula) y un LVDT para sensar el desplazamiento. Este diseo es

Presin de referencia
229
Cpsula
LVDT
Seal de presin
Ncleo del LVDT
Figura 8.8: Transductor de presin con LVDT. ms costoso que los sensores que usan galgas extensomtricas pero pueden ser ms durables en aplicaciones que requieren un tiempo de vida ms largo. Muchos transductores de presin de servicio pesado usados en la industria de control de procesos usan sensores LVDT. En las industrias de procesos, la salida de tensin usualmente se convertir en corriente de 4 a 20 mA para la transmisin de la seal. Los sensores capacitivos a veces se usan como transductores de presin y son particularmente tiles para presiones muy bajas (tanto como 0.1 Pa), puesto que los sensores capacitivos pueden detectar deexiones extremadamente pequeas. Un esquema de un transductor de presin capacitivo se muestra en la Fig.8.9.
Placa mvil del capacitor Seal de presin
Diafragma Presin de referencia
Placa fija del capacitor
Figura 8.9: Transductor de presin capacitivo. Las medidas de presiones que varan muy rpidamente en el tiempo presentan muchos problemas tcnicos. El uido y el diafragma (u otro elemento de desplazamiento) forman un sistema
230
dinmico de segundo orden. Si el diafragma es muy exible, la frecuencia natural ser baja y la salida del transductor ser engaosa para variaciones de presin a alta frecuencia. Los transductores usados para medidas de presin a alta frecuencia, tales como los procesos de combustin en una mquina de combustin interna, normalmente usan un elemento de sensibilidad piezoelctrica.
Figura 8.10: Un esquema de de un transductor piezoelctrico se muestra en la Fig.8.11 Estos transductores generalmente usan elementos de sensibilidad piezoelctrica de efecto transversal. Los materiales piezoelctricos son muy rgidos y esos transductores en muchas aplicaciones tienen una frecuencia natural alta.Los transductores piezoelctricos de presin pueden tener frecuencias naturales por encima de 150 kHz y son usables por encima de mas o menos 30 kHz. La geometra de los transductores piezoelctricos es diferente de los transductores discutidos anteriormente el diafragma es del tipo usf-mounted, y cuando el transductor es instalado este llega a hacer contacto directo con el uido en la pipeta o cmara. La razn para esto es doble. Si una cavidad fue includa como en los otros transductores, esta puede signicativamente alterar lo medido, debido a la presin. Adems la frecuencia natural, puede ser reducida y la habilidad para responder a los transitorios puede ser empeorada. Las lineas de sensibilidad afectan la frecuencia natural, haciendo determinante la dependencia de la frecuencia natural en la aplicacin. Otros tipos de transductores de presin son tambin disponibles con elevacin a nivel, pero estos son frecuentemente para uso en uidos sucios, en los cuales la cavidad puede llegar a ser tapada o difcil de limpiar
231
Elemento (s) piezoelctrico (s)
Diafragma
Conector elctrico
Figura 8.11: Transductor de presin piezoelctrico.
8.3.5
Medida del Vaco
La necesidad de medir presiones absolutas muy bajas (vaco) existe tanto en el laboratorio como en la industria. El frioseco de los alimentos se realiza en un ambiente vacio. Las presiones de vaco absoluto se miden en unidades de torr. Esta unidad se dene como 1/760 de la atmsfera estndar. Puesto que la atmsfera estndar es 760mm de mercurio, 1 torr es 1mmHg. Norton (1982) dio las siguientes deniciones para rangos de presiones de vaco: Vaco bajo 760 a 25 torr Vaco medio 25 a 103 torr Vaco alto 103 a 106 torr Vaco muy alto 106 a 109 torr Vacio ultra-alto Inferior a 109 torr Los dispositivos de medida de presin descritos previamente pueden ser usados para medicin de vacios bajos y medios. Los manmetros, los calibradores bourdon, y calibradores similares usan un fuelle instalasdo de un tubo bourdon y los transductores de diafragma capacitivos pueden medir vacios hasta 103 torr. Transductores especializados de diafragma capacitivo pueden medir vacios tan bajos como 105 torr [Norton (1982)].A continuacin, se discutiran tres dispositivos especializados de medida de vacio: el calibrador de McLeod, calibradores de conductividad trmica,. y calibradores de ionizacin. Ese es un calibrador mecnico usado para graduacin, y los otros dos proveen salidas electricas. Calibrador McLeod El principio de operacin es para comprimir un volumen grande de gas a baja presin en uno ms pequeo y despus medir esa presin. Un bosquejo de una variacin del calibrador McLeod se muestra en la Fig..8.12(a). La cmara grande con volumn V es llenada completamente con
232
gas a presin baja. Luego, el mbolo es empujado hacia abajo hasta que el mercurio ascienda al nivel h2 en el tubo capilar 2 Fig..8.12(b). En el modelo de operacin mostrado aqui, el nivel de h2 es el mismo como el tope del tubo capilar 1
S eal de vaco P vac Tubo capilar 2 C apilar de seccin transversal,a
h2
Tubo capilar 1 m bolo
h1
Punto A M ercurio
(a)
(b)
Figura 8.12: Sensor de vaco McLeod. El gas originalmente contenido en el volumn V ha sido comprimido dentro del tubo capilar 1.y tiene un volumn y una presin dados por V 0 = a(h2 h1 ) P 0 = Pvac + (h2 h1 ) (8.3.3)
(8.3.4)
donde a es el rea de la seccin transversal de los tubos capilares.Puesto que se determina la presin en la torre, las unidades de h son mmHg. En el rango que el calibrador McLeod es ausado, la presin de vaco, Pvac es normalmente negativa comparada con (h2 h1 ). La ley de gases ideales relaciona las condiciones antes y despus de la compresin: P 0V 0 Pvac V = T T (8.3.5)
Si el sistema llega al equilibrio trmico despus de compresin, las temperaturas inicial y nal pueden ser las mismas. Combinando las ecuaciones (8.3.3) y (8.3.5), se obtiene Pvac = (h2 h1 )a(h2 h1 ) = k(h2 h1 )2 V (8.3.6)
233
Esto es, la presin sensada es igual a la diferencia de las alturas al cuadrado multiplicada por una constante k. La escala puede ser marcada para ser leda directamente en unidades de torr. El calibrador McLeod es til para medir vacios en un rango 103 a 106 torr. Deben se usados con gases secosque no se condensen mientra es comprimido en el tubo capilar El calibrador McLeod tiene algunos inconvenientes para su uso y son usados principalmente para calibrar otros dispositivos de medida de vaco. Calibradores de vaco de Conductividad Trmica Estos equipos estn basados en el hecho de que la conductividad trmica de los gases a bajas presiones es funcin de la presin Aunque estos equipos no por lo normal sensan vacios tan bajos coma la galga McLeod, ellos proveen una salida elctrica y son simples de usar. Un sensor de conductividad trmica llamado galga Pirani est representado en la Fig().
Figura 8.13: Un lamento calentado est localizado en el centro de un canal conectado a la fuente de vacio. La transferencia de calor del lamento a la pared est dado por q = C(Tf Tw )Pvac (8.3.7)
donde Tf es la temperatura del lamento, Tw es la temperatura del canal pared, la geometra del canal y el rea de la supercie del lamento. La presin del vaco debe ser lo sucientemente menor para que el gas uya libremente, el cual debe ser grande comparado con las dimensiones del canal.
234
Un mtodo de usar la galga Pirani se muestra en la Fig(), en la cual est ubicada en un puente Wheatstone. A medida que la presin desciende, la diferencia de temperatura entre el lamento y la pared incrementar,aumentando la resistencia del lamento. La salida del puente, la cual es funcin de la resistencia del sensor es as una medidad de la presin del gas. Desde que la transferencia de calor es tambin funcin de la temperatura del ambiente un canal sellado de referencia est includo en el puente para compensacin. Hay muchos diseos de galgas de conductividad trmica que se pueden usar en presiones tan bajas como 103 torr. Galgas de Ionizacin en vaco Este sensor est basado en el principio de que a medida que los elctrones energizados pasan a travs de un gas ellos ionizaran algunas de las molculas del gas. El nmero de iones generados depende de la densidad del gas y en consecuencia de la presin. Una galga de ionizacin est mostrada esquemticamente en la Fig(). El sensor fsicamente se asemeja al tubo de vaco conocido como triodo aunque el modo de operacin es distinto. El ctodo es un lamento calentado y el circuito crea una corriente de electrones entre el ctodo y la malla. Los electrones ionizaran algunas de las molculas del gas creando iones positivos y ms electrones. Los electrones sern atrados a la malla pero los iones sern atrados a la placa, la cual es mantenida a un voltaje negativo (a diferencia del triodo donde la placa es mantenida en un voltaje positivo). La corriente de iones y la corriente de la placa se miden separadamente. La presin puede ser obtenida de i+ Pvac = si donde i+ es la corriente de la placa (iones), i es la corriente de la malla (electrones), y s es una constante para el circuito dado. Las galgas de ionizacin no pueden ser usadas en presiones mayores a 103 torr debido a que el lamento se deterioraria. Sin embargo, ella puede medir presiones tan bajas como 107 torr. Una variacin de la galga descrita, la galga BayardAlpert puede medir presiones tan bajas como 1012 torr.
8.4
Medida de Temperatura
Para la medida de la temperatura se usan tradicionalmente..
Parte II
Adecuacin de la Seal
235
Captulo 9
El amplicador operacional
9.1 Introduccin
Los amplicadores operacionales son dispositivos lineales de alta versatilidad y prestaciones su area de aplicain es muy amplia: Una de las aplicaiones prcticas ms interesantes es en la solucin de ecuaciones algebraicas y diferenciales, as como en la emulacin de sistemas complejos en ingeniera tales como en el modelado de mquinas electricas y sistemas de control.En tales casos, el circuito puede analizarse escribiendo las ecuaciones del modelo matemtico del sistema y simular el proceso con la ayuda de un simulador como Spice. De otra parte queda la opcin de montar la red y observar su funcionamiento en tiempo real con la ayuda de la instrumentacin correspondiente. En este artculo se estudiar el comportamiento de las redes con opam en sistemas lineales . En la primera parte se analizar la red planteando condiciones de equilibrio dinmico en las corrientes de polarizacin de los nodos de entrada . En la segunda parte, se aplicarn los resultados obtenidos, para la solucin prctica de ecuaciones algebraicas y ecuaciones diferenciales lineales. Finalmente se plantea la solucin de ecuaciones diferenciales lineales a travs de ecuaciones de estado. Esto conduce a un concepto ya planteado [?] concerniente al problema del ltro; se plantean los conceptos necesarios que conducen al diseo e implementacin de ltros universales de segundo orden usando integradores y sumadores. Pra este caso se emplearn integradores Miller no inversores. stos tienen como caracterstica particular su conguracin con realimentacin positiva (red prtico), sin embargo ofrecen la gran ventaja de su alta impedancia de entrada y la opcin de no requerir inversores adicionales para tomar la seal. Los resultados son obtenidos de simulacin en un sistema simple como es Circuit Maker [?] y de datos tomados en el Laboratorio de Electrnica de la UTP.
237
238
CAPTULO 9. EL AMPLIFICADOR OPERACIONAL
Captulo 10
Conabilidad
En anteriores secciones se deni la precisin de un sistema de medida y se explic cmo un error de medida puede ser calculado, bajo condiciones de estabilidad estable y dinmica. La conabilidad es otra caracterstica importante de un sistema de medida; no es bueno tener un sistema de medida exacto el cual est contantemente fallando y requiriendo reparacin. La primera seccin de este cpitulo tiene que ver con la conabilidad de sistemas de medida; primero explicando los principios fundamentales de conabilidad, entonces se discute la conablidad de sistemas prcticos, y nalmente se examinan formas de conabilidad.
10.1
10.1.1
Conabilidad de sitemas de medida

Principios fundamentales de sistemas de medida
Probabilidad Si un nmero aleatorio de pruebas independientes son hechas, entonces la probabilidad P de que un evento particular ocurra est dada por la relacin P = nmero de ocurrencias del evento nmero total de pruebas (10.1.1)
en el lmite que el nmero total de pruebas tienda a innito. As la probabilidad de que un lanzamiento de moneda muestre caras tiendo al valor terico de 1 bajo un nemro grande de 2 pruebas. Conabilidad R(t) La conabilidad de un elemento de medida o sistema puede ser denada como: la probabilidad que el elemento o sistema pueda operar a un nivel determinado de funcionamiento, para un perido especco, sujeto a condiciones ambientales especicadas. En el cso de un sistema de medida nivel determinado de funcionamiento puede signicar una precisin de 1.5 por ciento. Si el sistema est dando un error de medida fuera de esos lmites, entonces se le considera como fallado, aunque normalmente siempre esta sea otra forma de trabajo La importancia de las condiciones ambientales sobre la canabilidad de sistemas de 239
240
CAPTULO 10. CONFIABILIDAD
medida ser discutida completamente ms adelante. La conabilidad varia con el tiempo, un sistema de medida que ha sido justamente chequeado y calibrado podr tener una conabilidad de 1 cuando inicialmente se coloque en servicio. Seis meses despus, la conabilidad puede ser solamente 0.5 como la probabilidad de que una falla aumentara. No conabilidad.F (t) Esta es la probabilidad que el elemento o sistema falle durante la operacin a un nivel determinado de funcionamiento, para un perodo especicado, sujeto a condiciones ambientales especicas. Puesto que el equipamento tiene ya sea fallo o no fallo la suma de la conabilidad y no conabilidad debe ser la unidad, es decir R(t) + F (t) = 1 (10.1.2)
La no conablidid depende tambin del tiempo; un sistema que ha sido justamente chequeado y calibrado podr tener una no conabilidad de cero, cuando inicialmete se coloque en servicio, aumentando, es decir, 0.5 despus de seis meses. Tiempo medio entre fallas (M:T:B:F) Las anteriores deniciones, mientras el uso sea extremo, sufren la desventaja de tener que especicar un perodo particular de operacin del equipo. Una medida ms usual de funcionamiento la cual no involucra el perodo de operacin es el tiempo medio entre fallas (M.T.B.F). M.T.B.F es aplicable a cualquier tipo de equipo el cual puede ser reparado por medio del reemplazo de una componente fallada o unidad, y es de esta manera adecuado para describir elementos de medida o sistemas. Supngase que N elementos idnticos o sistemas estn probados para un perodo total T . Cada falla es registrada, el equipo es reparado, se coloca fuera de servicio y el nmero total de fallas NF durante T se encuentra. El M.T.B.F observado es NT M.T.B.F = (10.1.3) NF donde el intervalo de prueba T no incluye el tiempo total de reparacin. As si se graban 150 faltas para 200 transductores diferenciales de presin por 1.5 aos, el M.T.B.F. observado es de 2.0 aos. Taza de falla .Es el promedio del nmero de fallas, por item de equipo, por unidad de tiempo. La taza de falla de varios elementos y sistemas de medida es aproximadamente constante durante la mayor parte de la vida til. En este caso la taza de falla es el reciproco de M.T.B.F, es decir 1 (10.1.4) = M.T.B.F y la taza de fallo observada es NF (10.1.5) = NT Variacin en la taza de fallo durante el tiempo de vida del equipo. La taza de falla, de un tipo de elemento o sistema dado, varia a travs de la vida del equipo. Es posible identicar tres fases distintas cada una con diferentes caracteristicas de falla: antes de la falla, durante la falla (vida normal de trabajo) y falla por desgaste. Estas son mostradas en la Fig. (zz),
10.1. CONFIABILIDAD DE SITEMAS DE MEDIDA
241
la llamada curva de baera. La regin de fallo temprana, permanece posiblemente seis meses, es debido a componentes dbiles y falta de conocimiento en la operacin del sistema, la regin madura, permanece posiblemente 10 aos, est caracterizada por una constante baja de taza de fallo, todos los componentes dbiles han sido removidos y el sistema est siendo operado correctamente. La regin de falla por desgaste est caracterizada por un incremento de la taza defalla cuando las componentes tienden al n de su vida til. Relacin entre R(t), F (t) y , por la constante . Supngase que n0 items idnticos de un equipo son escogidos en un tiempo de operacin t = 0.
242
CAPTULO 10. CONFIABILIDAD
Apndice A
Clculo de funciones polinmicas para termocuplas

Clculo de funciones polinmicas FEM - temperatura (Norma IEC IPTS-68) de termocuplas Ing Luis Enrique Avendao M. Sc. UTP 1. Termocupla tipo R hold on grid on xlabel(Temperatura T o C),ylabel(Tensin V) title(Grca de las termocuplas tipo R, S, B, J, T, E y K) for t=-50:630.74, A=[0 5.289139 1.39111e-2 -2.400524e-5 3.620141e-8 -4.464502e-11 3.849769e-14 -1.537264e17]; T1=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7]; E1=dot(A,T1); plot(t,E1) end hold on for t=630.74:1064.43, B=[-2.641801e2 8.046868 2.989229e-3 -2.687606e-7]; T2=1e-6*[1 t t.^2 t.^3]; E2=dot(B,T2); plot(t,E2) end hold on for t=1064.43:1665, C=[1.5540414e4 4.2357773e3 1.4693087e2 -5.2213890e1]; ta=(t-1375)/300; 243
244 APNDICE A. CLCULO DE FUNCIONES POLINMICAS PARA TERMOCUPLAS T3=1e-6*[1 ta ta.^2 ta.^3]; E3=dot(C,T3); plot(t,E3) end hold on for t=1665:1767.6, D=[2.0416695e4 6.6850914e2 -1.2301472e1 -2.7861521]; ta1=(t-1715)/50; T4=1e-6*[1 ta1 ta1.^2 ta1.^3]; E4=dot(D,T4); plot(t,E4) end 2. Termocupla tipo S (Pt 10% Rd-Pt) hold on for t=-50:630.74, As=[0 5.399578 1.251977e-2 -2.244822e-5 2.845216e-8 -2.244058e-11 8.505417e-15]; T1s=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6]; E1s=dot(As,T1s); plot(t,E1s) end hold on for t=630.74:1064.43, Bs=[-2.982448e2 8.237553 1.645391e-3]; T2s=1e-6*[1 t t.^2]; E2s=dot(Bs,T2s); plot(t,E2s) end hold on for t=1064.43:1665, Cs=[1.3943439e4 3.6398687e3 -5.0281206 -4.2450546e1]; tas=(t-1365)/300; T3s=1e-6*[1 tas tas.^2 tas.^3]; E3s=dot(Cs,T3s); plot(t,E3s) end hold on for t=1665:1767.6, Ds=[1.8113083e4 5.6795375e2 -1.2112492e1 -2.8117589]; ta1s=(t-1715)/50; T4s=1e-6*[1 ta1s ta1s.^2 ta1s.^3];
245 E4s=dot(Ds,T4s); plot(t,E4s) end 3. Termocupla tipo B (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd) hold on for t=0:1820, Ab=[0 2.4674601620e-1 5.9102111169e-3 -1.4307123430e-6 2.1509149750e-9 -3.1757800720e12 ... 2.4010367459e-15 -9.0928148159e-19 1.3299505137e-22]; T1b=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8]; E1b=dot(Ab,T1b); plot(t,E1b) end 4. Termocupla tipo J (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd) hold on for t=-210:760, Aj=[0 5.0372753027e1 3.0425491284e-2 -8.5669750464e-5 1.3348825735e-7 -1.7022405966e-10 ... 1.9416091001e-13 -9.6391844859e-17]; T1j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7]; E1j=dot(Aj,T1j); plot(t,E1j) end hold on for t=760:1200, Bj=[2.9721751778e+5 -1.5059632873e+3 3.2051064215 -3.2210174230e-3 1.5949968788e-6 ... -3.1239801752e-10]; T2j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5]; E2j=dot(Bj,T2j); plot(t,E2j) end 5. Termocupla tipo T (Cu/Cu Ni) hold on for t=-270:0, At=[0 3.8740773840e1 4.4123932482e-2 1.1405238498e-4 1.9974406568e-5 9.0445401187e-7 ... 2.2766018504e-8 3.6247409380e-10 3.8648924201e-12 2.8298678519e-14 1.4281383349e-16 ... 4.8833254364e-19 1.0803474683e-21 1.3949291026e-24 7.9795893150e-28]; T1t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13 t.^14]; E1t=dot(At,T1t); plot(t,E1t)
246 APNDICE A. CLCULO DE FUNCIONES POLINMICAS PARA TERMOCUPLAS end hold on for t=0:400, Bt=[0 3.8740773840e1 3.3190198092e-2 2.0714183645e-4 -2.1945834823e-6 1.1031900550e-8 ... -3.0927581898e-11 4.5653337165e-14 -2.7616878040e-17]; T2t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8]; E2t=dot(Bt,T2t); plot(t,E2t) end 5. Termocupla tipo E (Ni Cr/Cu-Ni) hold on for t=-270:0, Ae=[0 5.8695857799e1 5.1667517705e-2 -4.4652683347e-4 -1.7346270905e-5 -4.8719368427e-7 ... -8.8896550447e-9 -1.0930767375e-10 -9.1784535039e-13 -5.2575158521e-15 -2.0169601996e-17 ... -4.9502138782e-20 -7.0177980633e-23 -4.3671808488e-26]; T1e=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13]; E1e=dot(Ae,T1e); plot(t,E1e) end hold on for t=0:100, Be=[0 5.8695857799e1 4.3110945462e-2 5.7220358202e-5 -5.4020668085e-7 1.5425922111e-9 ... -2.4850089136e-12 2.3389721459e-15 -1.1946296815e-18 2.5561127497e-22]; T2e=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9]; E2e=dot(Be,T2e); plot(t,E2e) end 5. Termocupla tipo K (NiCr/NiAl) hold on for t=-270:0, Ak=[0 3.9475433139e1 2.7465251138e-2 -1.6565406716e-4 -1.5190912392e-6 -2.4581670924e-8 ... -2.4757917816e-10 -1.5585276173e-12 -5.9729921255e-15 -1.2688801216e-17 -1.1382797374e20]; T1k=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10]; E1k=dot(Ak,T1k);
247 plot(t,E1k) end hold on for t=0:1372, Bk=[-1.8533063273e1 3.8918344612e1 1.6645154356e-2 -7.8702374448e-5 2.2835785557e-7 ... -3.5700231258e-10 2.9932909136e-13 -1.2849848798e-16 2.2239974336e-20]; T2k=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8]; K=125e-6*[1 1 1 1 1 1 1 1 1]; Tko=[exp(-0.5*((1-127)/65).^2) exp(-0.5*((t-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^2-127)/65).^2) ... exp(-0.5*((t.^3-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^4-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^5-127)/65).^2) ... exp(-0.5*((t.^6-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^7-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^8-127)/65).^2)]; Tk=dot(K,Tko); E2k=dot(Bk,T2k); Ek=E2k+Tk; plot(t,Ek) end
248 APNDICE A. CLCULO DE FUNCIONES POLINMICAS PARA TERMOCUPLAS
Apndice B
Deniciones de las Unidades Bsicas del SI y del Radian y del Steradian1

B.1 Introduction
The following denitions of the SI base units are taken from Ref. [5]; the denitions of the SI supplementary units, the radian and steradian, which are now interpreted as SI derived units, are those generally accepted and are the same as those given in Ref. [6]. It should be noted that SI derived units are uniquely dened only in terms of SI base units; for example, 1V = 1m2 kg s3 A1 .
B.2
Meter (17th CGPM, 1983)
The meter is the length of the path travelled by light in vacuum during a time interval of 1/299 792 458 of a second.
B.3
Kilogram (3d CGPM, 1901)
The kilogram is the unit of mass; it is equal to the mass of the international prototype of the kilogram.
B.4
Second (13th CGPM, 1967)
The second is the duration of 9 192 631 770 periods of the radiation corresponding to the transition between the two hyperne levels of the ground state of the cesium-133 atom.
1
Los nombres consignados a continuacin se especican en la lengua original
249
250APNDICE B. DEFINICIONES DE LAS UNIDADES BSICAS DEL SI Y DEL RADIAN Y DEL STER
B.5
Ampere (9th CGPM, 1948)
The ampere is that constant current which, if maintained in two straight parallel conductors of innite length, of negligible circular cross section, and placed 1 meter apart in vacuum, would produce between these conductors a force equal to 2 10 7 newton per meter of length.
B.6
Kelvin (13th CGPM, 1967)
The kelvin, unit of thermodynamic temperature, is the fraction 1/273.16 of the thermodynamic temperature of the triple point of water.
B.7
Mole (14th CGPM, 1971)
1. The mole is the amount of substance of a system which contains as many elementary entities as there are atoms in 0.012 kilogram of carbon 12. 2. When the mole is used, the elementary entities must be specied and may be atoms, molecules, ions, electrons, other particles, or specied groups of such particles. In the denition of the mole, it is understood that unbound atoms of carbon 12, at rest and in their ground state, are referred to. Note that this denition species at the same time the nature of the quantity whose unit is the mole.
B.8
Candela (16th CGPM, 1979)
The candela is the luminous intensity, in a given direction, of a source that emits monochromatic radiation of frequency 540 1012 hertz and that has a radiant intensity in that direction of (1/683) watt per steradian.
B.9
Radian
The radian is the plane angle between two radii of a circle that cut o on the circumference an arc equal in length to the radius.
B.10
Steradian
The steradian is the solid angle that, having its vertex in the center of a sphere, cuts o an area of the surface of the sphere equal to that of a square with sides of length equal to the radius of the sphere.
B.10. STERADIAN
251
(a) The radian and steradian may be used with advantage in expressions for derived units to distinguish between quantities of dierent nature but the same dimension. (b) In practice, the symbols rad and sr are used where appropriate, but the derived unit "1" is generally omitted. (c) In photometry, the name steradian and the symbol sr are usually retained in expressions for units. (d) This unit may be used in combination with SI prexes, e.g. millidegree Celsius, m C.
252APNDICE B. DEFINICIONES DE LAS UNIDADES BSICAS DEL SI Y DEL RADIAN Y DEL STER Tabla B.1: Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos Derived quantity Name plane angle solid angle frequency force pressure, stress energy, work, quantity of heat power, radiant ux electric charge, quantity of electricity electric potential dierence, electromotive force capacitance electric resistance electric conductance magnetic ux magnetic ux density inductance Celsius temperature luminous ux illuminance activity (referred to a radionuclide) absorbed dose, specic energy (imparted), kerma dose equivalent, ambient dose equivalent, directional dose equivalent, personal dose equivalent, organ equivalent dose radian (a) steradian (a) hertz newton pascal joule watt Coulomb rad sr (c) Hz N Pa J W C N/m2 Nm J/s SI derived unit in terms of other SI units... Expression in terms of SI base units mm1 = 1 (b) m2 m2 = 1 (b) s1 mkgs2 m1 kgs2 m2 kgs2 m2 kgs3 sA
volt farad ohm siemens weber tesla henry degree Celsius lumen lux becquerel gray
V F S Wb T H C lm lx Bq Gy
W/A C/V V/A A/V Vs Wb/m2 Wb/A cdsr (c) lm/m2
m2 kgs3 A1 m2 kg1 s4 A2 m2 kgs3 A2 m2 kg1 s3 A2 m2 kgs2 A1 kgs2 A1 m2 kgs2 A2 K m2 m2 cd=cd m2 m4 cd=m2 cd s1
(d)
J/kg
m2 s2
sievert
Sv
J/kg
m2 s2
Apndice C
Prejos del Sistema Internacional

El 11o congreso del CGPM (1960) adopt una primera serie de prejos y smbolos de los mismos para formar los nombres y smbolos de los mltiplos y submltiplos de las unidades del SI. En los ltimos aos las unidades se han extendido a las dadas en la tabla siguiente: 1024 1021 1018 1015 1012 109 106 103 102 101 101 102 103 106 109 1012 1015 1018 1021 1024
yota zeta exa peta tera giga mega kilo hecto deca deci centi mili micro nano pico femto ato zepto yocto
Y Z E P T G M k h da d c m n p f a z y
253
254
APNDICE C. PREFIJOS DEL SISTEMA INTERNACIONAL
Apndice D
Enlace de unidades bsicas del SI a constantes atmicas y fundamentales

The gure below represents some of the links between the base units of the SI and the fundamental physical and atomic constants. It is intended to show that the base units of the SI are linked to the real world through the unchanging and universal constants of physics. In the gure, the surrounding boxes, lines and uncertainties represent the real world. The uncertainties next to the base units are estimates of the standard uncertainties of their best practical realizations; those next to the fundamental constants represent the uncertainty of our knowledge of these constants (from the 1998 CODATA adjustment). the grey, fuzzy links to the outside reect the unknown long-term stability of the kilogram artefact and its consequent eects on the practical realization of the denitions of the ampere, mole and candela. The amperes denition, for example, involves the kilogram, but an alternative link is the Josephson-eect constant (KJ-90) and von Klitzings quantum-Hall resistance (RJ-90), both of which were given xed, conventional values in 1990.
D.1
La Escala de Temperatura Internacional de 1990 (ITS-90)
The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90) came into eect on 1 Janurary 1990, replacing the IPTS-68 and the EPT-76. The ITS-90 diers from the IPTS-68 in a number of important respects: - it uses the triple point of water (273.16 K), rather than the freezing point of water (273.15 K), as a dening point 255
256APNDICE D. ENLACE DE UNIDADES BSICAS DEL SI A CONSTANTES ATMICAS Y FUNDA
Figura D.1:
D.1. LA ESCALA DE TEMPERATURA INTERNACIONAL DE 1990 (ITS-90)
257
- it extends to lower temperatures: 0.65 K instead of 13.8 K - it is in closer agreement with thermodynamic temperatures - it has improved continuity and precision - it has a number of overlapping ranges and sub-ranges - in certain ranges it has alternative but substantially equivalent denitions - it includes the helium vapour pressure scales - it includes an interpolating gas thermometer as one of the dening instruments - the range of the platinum resistance thermometer as dening instrument has been extended from 630 C up to the silver point, 962 C - the Pt/10 % Rh-Pt thermocouple is no longer a dening instrument of the scale - the range based upon the Planck radiation law begins at the silver point instead of at the gold point, but options exist for using any one of the silver, gold or copper points as reference points for this part of the scale. For further details please refer to the following BIPM publications: - Preston-Thomas H., The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90), Metrologia, 1990, 27, 3-10; Metrologia, 1990, 27, 107-127 - Techniques for approximating the International Temperature Scale of 1990 - Supplementary information for the International Temperature Scale of 1990
258APNDICE D. ENLACE DE UNIDADES BSICAS DEL SI A CONSTANTES ATMICAS Y FUNDA
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Libro Sistemas de Medicion

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FUNDAMENTOS DE INSTRUMENTACIN

Luis Enrique Avendao M. Sc.

UNIVERSIDAD TECNOLGICA DE PEREIRA

3.4 3.5 3.6 3.7

Los nombres consignados a continuacin se especican en la lengua original

C Prejos del Sistema Internacional

116 117 121 123 125 126 129 130 131

xiii 230 231 232 233

B.1 Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos

son marcas registradas de National Instruments y Mathworks, respectivamente.

Medidas en sistemas fsicos

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS Datos o seales de accionamiento y control.

Naturaleza de los Datos

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

1.2. NATURALEZA DE LOS DATOS

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Figura 1.4: Respuesta senoidal en un sistema elctrico.

Figura 1.5: Respuesta de un ECG.

Informacin analgica e informacin digital

1.3. INFORMACIN ANALGICA E INFORMACIN DIGITAL

Aspectos Generales de los Sensores

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR

Activacin de reaccin disocia cin trmica

Calentamiento Joule (Resistivo) Efecto Peltier

Ley de Biot Savart Medidores y registradores electromagnticos

Electr lisis Electro migracin

Efecto termomagntico (efecto Righi-Leduc) Efecto galvanomagntico (Ettingshausen) Termopila de bolmetro

Calormetro Celda de conductividad trmica

Foto sntesis diso ciacin

Resonancia nuclear magntica

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR

Transductores en lazo abierto

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

1.5. ESTRUCTURA DE UN TRANSDUCTOR

Transductores de lazo cerrado o servotransductores

Sensor de captacin Amplificador Elemento Intermedio Sensor de lectura

CAPTULO 1. MEDIDAS EN SISTEMAS FSICOS

Caractersticas estticas de un sistema de medida

2.2. CARACTERSTICAS SISTEMTICAS

CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

2.2. CARACTERSTICAS SISTEMTICAS

Sesgo de Cero = Pendiente =

Pendiente = Sesgo de Cero =

H 100% max min

2.2. CARACTERSTICAS SISTEMTICAS

Un ejemplo comn es un potencimetro de alambre devanado, en respuesta a un continuo

2.3. MODELO GENERALIZADO DE UN ELEMENTO

Modelo generalizado de un elemento

CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

Elemento o sistema a ser calibrado

Identicacin de caractersticas estticas. Calibracin

Patrn Primario Patrn de transferencia Patrn de laboratorio Elemento a ser calibrado

CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

NPL o BCS o Industria

BIPM: NPL: BCS:

CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

2.4. IDENTIFICACIN DE CARACTERSTICAS ESTTICAS. CALIBRACIN

CAPTULO 2. CARACTERSTICAS ESTTICAS DE UN SISTEMA DE MEDIDA

Medidas experimentales y evaluacin de resultados

2.5. MEDIDAS EXPERIMENTALES Y EVALUACIN DE RESULTADOS

y la desviacin estndar se encuentra usando (ver Captulo 4) v u N u1X ) 0 = t (k 2 N

Precisin de los sistemas de medida en estado estacionario

2.6. PRECISIN DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA EN ESTADO ESTACIONARIO