03.03.

2011
1
METALOGRAF
2010-2011
BAHAR
TANIM
Malzemelerin FZKSEL, KMYASAL,
ELEKTRONK ve MEKANK zellikleri
bileimlerinin yan sra YAPILARINA
dorudan baldr.
Baka bir deyile Mikro yap malzeme
teknolojisinin ekirdeidir
Metal malzemelerin i yaplarn inceleyen
bilim dalna METALOGRAF denilmektedir.
03.03.2011
2
Metalografik incelemeler bytme deerine gre 3
temel grupta toplanrlar;
1. plak gzle veya en ok 10x bytme ile
yaplan incelemeler
2. 10x-2000x bytme arasnda yaplan
incelemeler
3. 2000x bytmeden daha byk
deerlerde ve derinliine ayrt etme
gcnn ok yksek olmasnn istendii
yerlerde yaplan incelemeler
plak gzle veya en ok 10x bytme ile
yaplan incelemelerin genel ad
MAKROSKOB dir.
Eer i yap incelemesi 10X bytme veya
daha byk deerlerle yaplyorsa yaplan
inceleme MKROSKOB olarak
adlandrlr.
03.03.2011
3
Mikroskobik incelemeler de kendi iinde
OPTK mikroskobi ve ELEKTRON
mikroskobisi olarak iki balk altnda
toplanr.
Mikroskobik incelemeler, en ok 2000x
bytmeye kadar optik mikroskoplarla
yaplabilirler. Daha byk bytme
deerleri ve daha yksek derinliine ayrt
etme gc isteniyorsa elektron
mikroskoplar kullanlmaktadr.
03.03.2011
4
ounlukla alamsz ve dk alaml
elik malzemelerin mikroskobik
incelemeleri ve karakterizasyonu iin optik
mikroskobi yeterlidir.
Bu ders kapsamnda sizlere OPTK
MKROSKOB konusu anlatlacaktr.
OPTK MKROSKOB
Optik metal mikroskoplar, yzeyi
hazrlanm metal numunelerin i yap
kontrollerinde kullanlmaktadrlar. Optik
mikroskoplarda elde edilen grnt
dzlemsel bir grntdr. ncelenmek
istenen numune mutlaka bir hazrlama
srecinden geirilir.
03.03.2011
5
NUMUNE HAZIRLAMA
Numune hazrlama ilemi 6 temel
kademeden oluur;
1. Numune Alma, Kesme
2. Kalplama
3. Zmparalama
4. Parlatma
5. Dalama
6. Mikroskopta inceleme
Numune Alma, Kesme
Metalografik numune hazrlamann en
nemli aamasdr.
Bu aamada mikroskop altnda
incelenebilecek boyutta bir numune ana
malzemeden alnr.
Dikkat edilmesi gereken nemli nokta
numune alma srasnda incelenecek mikro
yapnn bozulmasna neden olmamaktr.
03.03.2011
6
ou malzemede kesme srasnda
meydana gelecek snma ve/veya
deformasyon mikro yapnn bozulmasna
neden olacaktr.
Bu nedenle kesme ilemi yaplrken en
nemli hususlardan biri, malzemeyi
deforme etmeden ve stmadan numune
almaktr.
Numune alma srasnda oluacak snma
ve/veya deformasyon numune yzeyinde
artifact diye tabir edilen grntlere
neden olabilir. Bu durumda metalografn
numune zerinde grd grnt, gerek
mikroyap grnts deil, snmann
ve/veya deformasyonun oluturduu farkl
bir grntdr.
03.03.2011
7
Numunenin yksek hzl dnen bir disk ile
alnmas deformasyonu ok byk lde
azaltacaktr.
Bu ilem srasnda kullanlacak soutma svlar
ile de snma engellenebilir.
Ancak; doru ekilde alnan bir numune
zerinden doru mikroyap analizi yaplabilir.
elik malzemelerde;
1.Andrc disk ile,
2.Makas ile veya,
3.Testere ile kesme yaplabilir.
Unutulmamas gereken DEFORMASYON ve
ISINMA olmamal
03.03.2011
8
TAVSYE EDLEN
SiC, Al
2
O
3
veya Elmas tozu emdirilmi
andrc diskler ve kaliteli bir kesme
cihaz kullanlmasdr.
Piyasada eitli markalarn
farkl modellerini grebilirsiniz,
ancak iyi bir kesme cihaznda
motorun bamsz bir blmede
olmas ve mengene sisteminin
ok kaliteli olmas nerilir.
Ayrca kesme diski ilerleme
hznn kontrol edilebilecei
cihazlarda daha kaliteli kesme
ilemleri yaplabilmektedir.
03.03.2011
9
Yanl kesilmi mikroyap rnekleri
Her iki mikroyap da ayn numune zerinden alnmtr, malzeme dual faz elii
(0.11C, 1.4 Mn, 0.58 Si, 0.12 Cr, 0.08Mo). Birinci yap kesme srasnda oluan
deformasyon ile olumu artifact yap. kinci mikro yap, birinci yapnn 2 mm
altna yaplan zmparalama ve parlatma sonunda elde edilmi olan gerek
mikroyap. (%12 sulu Na
2
S
2
O
5
, 1000x).
Dk alaml elik (%0.15 C). Andrc kesme diski ile numune alma
srasnda oluan ar snmann neden olduu mikroyap grnts.
Resimlerin tm ayn numuneye aittir. Yalnzca 4. resim gerek mikroyap
grntsdr.(%4 pikral, 1000x)
03.03.2011
10
Kesme yntemlerinin farkllklarnn meydana getirebilecei grntler.
Malzeme AISI 1010, scak hadde mamul elik.
1. Yap andrc kesme diski ile kesilmi, deformasyon en az,
2. Yap erit testere ile kesilmi kesme yzeyinde bir miktar
deformasyon grlyor
3. Yap makas ile kesilmi ve deformasyon en st dzeyde.
(Yntem karanlk saha aydnlatmas, Marshall reaktifi, 400x)
Bunun dnda numune alrken dikkat edilmesi
gereken bir hususta, alnan numunenin,
malzemenin tm zelliklerini yanstabilecek
ekilde seilmesidir.
Bu nedenle;
Numune alnrken ana malzemenin imalat ekli
gz nne alnmaldr.
03.03.2011
11
Malzeme retim yntemlerinin mikroyap
zerinde etkisi vardr, rnein souk
haddelenmi bir malzemenin mikroyaps
ayn bileimde scak haddelenmi yapdan
farkldr.
Ayrca;
rnein souk haddelenmi bir
malzemenin mikroyaps bak anza
gre farkllk gsterebilir.
03.03.2011
12
Kesme Diski
Nasl Seilmeli?
Kesme hz ne
olmal?
Kesme diskinin
ne lde
anmasna izin
verilmeli?
Kesme Diski
Keseceiniz malzemenin sertlik deerine
bal olarak, kullandnz firma rnleri
iinden uygun diski semelisiniz.
03.03.2011
13
Kesme Hz
Hemen hemen tm kesme cihazlar sabit hzda
dnen bir motorla alrlar. Firmalar,
ounlukla, imal ettikleri diskleri de bu hzlarda
makul dzeyde anacak ekilde retirler.
Genellikle kullanlan diskin zerinde hangi hzda
dndrlmesi gerektii belirtilir.
Bu hzn zerinde yaplacak kesme ilemlerinde
ar snma oluacak ve mikroyap deiecektir.
Kesme diskinde msaade edilen
anma
Eer bir disk uygun olmayan cihazda
kullanlrsa anma miktar artacaktr, bu
durum numunenin ar snmasna neden
olacaktr.
TAVSYE: Kullandnz kesme cihaz iin
nerilen diskleri kullannz.
03.03.2011
14
Kesme diski ilerleme hz
Kesilen malzemenin kesitine, s iletim
katsaysna, sertlik deerine bal olarak
kesme diskinin ilerleme hz seilmelidir.
HANG MALZEMEDEN NE
EKLDE NUMUNE ALINMALI?
ubuk form elik malzemeden numune alrken
ubuun zerinde herhangi bir yerden
alacanz dik kesit numune yeterli olacaktr.
Elinizde farkl arjlardan retilmi ubuklar varsa
her birinden ayr ayr numune alnmas
gereklidir.
rnein bir alm srasnda ayn cins elikten
eitli aplarda ok sayda alm yaplmsa her
ap iinden rassal olarak seilen yeterli rnek
says iin numune kesilmelidir.
03.03.2011
15
Eer haddelenmi bir rn zerinden
numune alp incelemeniz gerekiyorsa, en
az birer numuneyi hadde ynnde, hadde
ynne dik olacak ekilde almal ve
incelemelisiniz.
Dkm Paralardan Numune Alma
zellikle ok byk boyutlu dkm
paralardan dorudan para zerinden
kesilerek numune alnamaz. Bu tip
dkmler iin mutlaka, her arj iin, kupon
numuneler dklmeli ve bu kuponlarn
(bloklarn) dkmn souma hzn temsil
edecek deiken kesitlere sahip olmas
salanmaldr.
03.03.2011
16
Dkm paralar iin merdiven blok, Y
blok, U blok gibi rnekleme paralar da
para dkmnden nce dklerek
incelenmelidir.
Dkm paralarda kullanlan blok rnekleri
Sorun Muhtemel
Sebep
zm
Numune yzeyinde yanma Kesme srasnda numunenin
ar snmas
Soutucu debisini artrn, kesme
diski ilerleme hzn azaltn, daha
yumuak bir kesme diskine
gein.
Kesme diskinin abuk anmas Disk balayc maddesinin tutma
zelliini yitirmesi
Daha sert bir disk sein ve diskin
ilerleme hzn azaltn.
Kesme diski zerinde sklkla
krlma olmas
Soutucu svnn homojen
dalmamas veya numune
mengenesinin gevemesi
Mengeneyi kontrol edin,
soutma sistemini kontrol edin.
Kesmeye kar ar diren
olumas
Diskin yavalamas Daha yumuak bir kesme diski
sein ve soutma suyu debisini
azaltn, kesme basncnz
deiken tutun.
Kesme srasnda diskin durmas Kesme cihaznn kapasitesini
aan bir kesitin kesmek
istenmesi
Daha byk gte bir kesme
cihaz kullann.
Andrc kesme diski ile yaplan kesme srasnda karlalan
sorunlar ve zm nerileri
03.03.2011
17
Kalplama
Bu ilem incelenecek numunenin,
incelenecek yzeyi akta kalacak ekilde
bir dolgu malzemesiyle etrafnn
kaplanmas demektir.
Hangi durumlarda mutlaka
kalplama yaplmaldr?
Numunenin zmparalama ve sonrasnda tabi
tutulaca ilemlerde el ile tutulacak olmas
nedeniyle, eer numune keskin ke ve
kenarlara sahipse veya el ile tutulamayacak
kadar kkse mutlaka kalplanmaldr.
Eer numune zmparalama ve parlatma ilemi
otomatik makinalarda yaplacaksa yine
kalplama gerekecektir.
Numunede yzey ilemi varsa (sertletirme veya
kaplama gibi) ve yzeyde bir analiz yaplacaksa
mutlaka kalplanmaldr.
03.03.2011
18
Kalplama ilemi temel olarak iki ekilde
yaplabilir;
Souk kalplama,
Scak kalplama.
Bunun dnda basit mengene sistemleri de
kullanlabilir.
Souk kalplama ilemi olduka basit ve
hzl yaplabilen bir ilemdir. Kalplanacak
numune souk kalp malzemesinin
dklecei kalp yuvasna incelenecek
yzey alta gelecek ekilde konur ve bir
kap iinde sv olarak hazrlanan kalp
svs bu bolua dklr.
03.03.2011
19
Souk kalp malzemelerinin katlama
sresi kullanlan kalp malzemesine
baldr.
Souk kalp malzemeleri genellikle
sentetik reinelerdir ve bu malzemelerin
20 dakika iinde katlaabilenleri olduu
gibi 24 saat iinde katlaabilenleri de
vardr.
Souk kalplanan malzemeler mutlaka bir vakum kab iinde katlamaya
braklmaldr. Ancak bu ekilde oluabilecek kalp ii gzeneklerin nne
geilebilir.
03.03.2011
20
Scak kalplama ilemi ise ilk yatrm maliyeti
olduka yksek olan scak kalp presleriyle
yaplabilir.
Bu preslerin haznesine konan numunenin etraf
kalp malzemesiyle doldurulur ve kapa
kapatlan haznenin scakl 150-200
0
C a
karlr, haznenin basnc ise 2 atme kadar
artrlr. Bu ekilde stlan kalp malzemesi
eriyerek numunenin etrafn sarar ve ardndan
soutularak katlamas salanr.
Scak kalplama iin kullanlan kalp malzemeleri
genellikle toz vaziyette bulunan termoset plastik
malzemelerdir. Bu tr kalp malzemeleri souk
kalp malzemelerinden ok ucuz malzemelerdir.
Scak kalplama ilemi, her malzeme iin uygun
deildir. Bu yntemle kalplanacak malzemenin
mikroyapsnn scaklk ve basn altnda
deimemesi gerekmektedir.
03.03.2011
21
03.03.2011
22
Zaman zaman kalplama yerine iki
plaka arasna numuneyi sktrarak
da hazrlama ilemleri yaplabilir.
rnein; bir grup ok ince sac yan
yana dizerek ve iki plaka arasna
alarak numune hazrlamak
mmkndr.
elik ve dkme demir malzemeler hem souk
hem de scak kalplama yntemiyle
kalplanabilirler.
STSNALAR:
1.Eer elik numune zerinde boya kaplama veya
elektrolitik kaplama varsa ve dik kesitte bu
kaplama ile ilgili alma yaplacaksa mutlaka
souk kalplama tercih edilmelidir.
2. Eer su verilmi yksek karbonlu bir elik
malzeme kalplanacaksa mutlaka souk
kalplama tercih edilmelidir.
03.03.2011
23
Dk karbonlu elik levha, elektrolitik olarak nikel
kaplanm. 1. resim scak kalplanm, 2. resim souk
kalplanm numuneye ait. Parlatlm, 100x.
Kalplama tekniinin mikroyap zerine etkisini gsteren fotoraflar.
Malzeme %1C ieren alamsz elik, 1095
0
Cde 30 dakika
bekletildikten sonra suda su verilmi.
1. Resimde scak kalplanm numune yaps, 2. resimde ise souk
kalplanm numune yaps grlyor. Her iki numunede %10 sulu
Na
2
S
2
O
5
ile dalanm, 500x.
03.03.2011
24
Eer numune inceleme ilemi elektron
mikroskobunda yaplacaksa ve numunenin
kalplanmas gerekiyorsa, mutlaka elektrik
iletkenlii olan bir kalp malzemesi
kullanlmaldr.
Bu tip zel kalp malzemesi bulunamad
durumlarda, mevcut kalp malzemesine
demir ya da bakr tozu katlarak iletkenlik
salanabilir.
Kalp malzemeleri ok eitlidir ve bu
malzemelerin sertlikleri de farkldr. Genel
uygulama inceleyeceiniz numunenin
sertlii ile ters orantl bir kalp malzemesi
semektir.
03.03.2011
25
Zmparalama
Zmpara kad ile incelenecek yzeyin mekanik
andrma ilemine tabi tutularak temizlenmesidir.
Zmpara kad olarak genellikle SiC tozlarnn
yaptrlm olduu dairesel katlar kullanlr.
Bu zmparalar dner bir disk tabla zerine yaptrlr ve
numune zmpara zerine el ile veya otomatik numune
tutucusu ile bastrlr.
Zmpara katlar zerinde Mesh numaras (grid)
yazlmaktadr.
Bu numara, zmpara zerinde 1 uzunlukta ka adet
andrc olduunu gstermektedir.
Bu durumda 100 Meshlik bir zmpara 500 Meshlik bir
zmparadan daha kabadr.
03.03.2011
26
Zmparalama ilemi numuneye bal
olarak kaba zmparadan ince zmparaya
doru en az 4 aamada yaplmaldr ve
her zmparalama kademesi arasnda
numune 90 derece evrilmelidir.
Numunenin her kademe arasnda
evrilmesi yzeyin temizlenmesini
kolaylatrmaktadr.
Zmparalama kademeleri arasnda 90
0
evrilerek tutulan numuneler zerinde
oluan paralel izgiler ve bu izgilerin dik kesitteki grnts.
03.03.2011
27
Zmparalama ilemi mutlaka yeterli seviyede yaplmaldr. Aksi taktirde
dier aamalardan sonra dalanan numuneden gerek grnt
alnamayabilir.
Her iki resimde ayn numune zerinden alnmtr. Malzeme AISI 1010,
scak hadde mamul. 1. resim yeterli dzeyde zmparalanmadan,
parlatlm ve dalanm yap. 2. resim ayn numunenin yzeyi 2 mm
daha zmparalandktan sonra parlatlm ve dalanm yap. Marshall
ayrac, 500x.
Gnmzde suya dayankl zmpara
katlar kullanm daha yaygn olmakla
beraber, manyetik diskli cihazlarn
artmasna paralel olarak farkl
zmparalama sistemleri de gelitirilmitir.
03.03.2011
28
Sonu olarak; elik numunelerin
zmparalama ileminde, kestiiniz ve
kalpladnz numunenin yzeyinin ok iyi
hazrlanmasn istiyorsanz 80 grid ile
balayp, 120, 240, 320, 400 ve 600 grid
ile devam edilmelidir. Bu ekilde parlatma
ncesi olabilecek en iyi temizlenmi yzey
elde edilmi olacaktr.
03.03.2011
29
Parlatma
Numunenin yzeyinde yaplan mekanik
andrma ileminin bir dier trdr.
Parlatma ileminde andrc taneler dner bir
disk zerine yaptrlm olan bez zerine
dklrler.
Numune bez zerinde serbeste dolaabilen
andrclar zerine el ile veya tutucu ile
bastrlr.
Numunenin trne gre tutma ilemi sabit veya
numuneyi hareket ettirerek olabilir.
elik malzemelerin parlatlmas ilemi
tamamen numunenin ierdii fazlara
baldr. rnein perlit ve karbr fazlar
ieren bir elik numunede parlatma sresi
ksadr, oysa ferrit arlkl bir numunenin
mikro yapsn ortaya karmak iin
yaplacak parlatma ilemi ok daha uzundur.
Ayrca bu tip bir malzeme her parlatma
kademesi arasnda dalanmaldr.
03.03.2011
30
Perlit veya karbr arlkl mikro yaplar
6 m elmas macunu ile canvas kuma
zerinde birinci kademe parlatmaya tabi
tutulduktan sonra, 1 m elmas macunu ve
orta uzunlukta tyl (rnein uha) kuma
zerinde ikinci kademe parlatma yaplr.
Bu malzemelerin parlatlmasnda
numuneye uygulanan basn yksek olmal
ve disk yava dnmelidir.
03.03.2011
31
Parlatma ileminin ardndan numune akar su
altnda kaliteli bir pamuun zerine srlmesiyle
temizlenmeli ve etil alkol ile silinip kurutulmaldr.
ou elik numune bu aamadan sonra
dalanarak incelenebilir, ancak byk bytme
deerlerine klacaksa daha iyi bir yzey
hazrlamak amacyla colloidal silica (SiO
2
)
kullanlarak (0.04 m) final parlatma yaplmaldr.
zellikle ferrit arlkl elik mikro
yaplarnda veya ferritik matrisli dkme
demir mikro yaplarnda SiO
2
, MgO veya
Al
2
O
3
andrclar kullanarak final
parlatma ilemi yaplmas nemlidir. Zira
bu malzemelerde yetersiz parlatma
nedeniyle yanl grnt alnma riski daha
fazladr.
03.03.2011
32
Her iki mikro yap grnts de AISI 1010 malzemeye aittir, 1. resimde final
parlatma yaplmam bir yap grnmektedir. Bu resimde grnen siyah
noktalarn gerek mikro yap grntsyle (byk ksmnn) hibir ilgisi yoktur.
2. resim ise ayn numunenin doru hazrlanm ve parlatlm halini
gstermektedir.
Parlatma farkllklar: 1.resim 10-20 m Al
2
O
3
uzun tyl uhada parlatlm, 2.
resim 1m elmas macunu ile ksa tyl sentetik set zerinde parlatlm, 3. resim
1 m elmas macunu pamuklu kuma zerinde parlatlm. 250x.
03.03.2011
33
Numune parlatldktan sonra yzey
przsz hale gelmi demektir.
Bu durumda numunenin yzeyi
incelenecek olursa (mikroskop altnda)
numunenin yapsndaki kusurlar veya
metal olmayan kalntlar gzlenebilir.
ncelenen numune bir dkme demirse
numune yzeyinde grafitler grlebilir.
Numune zerinde mikro temizlik seviyesinin
kontrol,
Dkme demirlerde grafit ierii, ekli ve
dalm,
Su verilmi malzemelerde mikro atlak v.b.
Kusurlar
Parlatma ileminden sonra dalamadan
nce ortaya karlrlar.
03.03.2011
34
Elektrolitik Parlatma
Andrclar yerineelektrolitik hcrelerin
kullanld bir uygulamadr.
Elektrolitik parlatmada, parlatma mekanizmas
analitik znmedir. Numune yzeyindeki
przlerin ortadan kaldrlmas kntlarn tercihli
znmesiyle gerekleir. Bu uygulamada
kntlar znrken ukurlar korunurlar.
zellikle elektron mikroskobisi ile inceleme
yaplacaksa parlatmann bu yntemle yaplmas
nerilir.
Dalama
Bu ilem numune yzeyinin kimyasal
olarak tekrar andrlmas ilemidir.
lemin amac, numunenin i yapsn
oluturan fazlarn ve tane snrlarnn farkl
oranlarda anmasn salayarak mikro
yapy ortaya karmaktr.
03.03.2011
35
Metal bir numunenin dalanmas iin
dalama svs bir pamuk yardmyla
numunenin zerine srlr veya elektrolitik
dalama cihaz ile numuneye tatbik edilir.
Bu ilemin sonunda numunenin yzeyi
anr ve mikro yap ortaya kar.
Dalama svs numune yzeyine
srld zaman, numunenin i yapsn
oluturan fazlar ve tane snrlar dalama
svsna farkl tepkiler verirler. Bu durumda
serbest enerji dzeyi yksek olan ksmlar
daha ok, dk olan ksmlar ise daha az
anrlar veya anmazlar.
03.03.2011
36
Her malzemede tane snrlar daima en
yksek serbest enerjiye sahiptir, bu
nedenle dalama srasnda ncelikle tane
snrlar anrlar.
Eer bir malzeme tek fazl veya saf bir
malzemeyse, bu malzemede dalama
sonras tane snrlar ortaya kar, taneler
anmaz.
03.03.2011
37
Eer malzeme ok fazl ise tane
snrlaryla beraber, yksek enerjili faza
sahip olan tanelerde anr. Bu durumda
mikroskop altnda inceleme yapldnda,
anan ksmlar daha koyu, anmayan
ksmlar ise parlak grnr.
03.03.2011
38
elik Malzemelerde Karlalan Fazlar
elik malzemelerde genellikle
o (Ferrit-HMK demir)
Fe
3
C (Demir karbr, sementit)
(Ostenit- YMK demir)
Perlit (Otektoid ferrit+otektoid sementit)
Martenzit (Ani soumayla oluan faz)
Beynit (zotermal bekleme sonucu oluan
faz)
03.03.2011
39
elik Malzemeler iin Mikro Dalama Reaktifleri
DALAYICI TERKB KULLANIM ALANI
NTAL 2 ml HNO3+98 ml Etil alkol (en
az %95 saflkta)
(yksek saflkta metil alkolde
kullanlabilir ancak tedbir
alnmas gerekir)
Karbon eliklerinde Ferrit tane snrlarn ortaya karmak ve
perlit ile ferrit arasnda en iyi kontrast yakalamak iin kullanlr.
Dalama sresi mikroyapya baldr. Perlit arlkl yaplar
daha hzl dalanr. Bu dalayc perlit faznn ayrntlarn ve
sl ilenmi yaplar ortaya karmada yeterli deildir.
PKRAL 4 gr pikrik asit+100 ml etil alkol
(Eer asit %10dan fazla nem
ieriyorsa, 4-5 damla zefiran
klorr katlmas nerilir)
zellikle perlit faznn ayrntlarn ortaya karmak iin
kullanlr. Ancak ferrit ve perlit arasnda tane snrlarnn ve
belirgin bir kontrastn olumasn salamaz.
SODYUM
METABSLFT
(a) 8 gr Na
2
S
2
O
5
+100 ml
distile su
(b) 10 gr Na
2
S
2
O
5
+100 ml
distile su
(a) Genel olarak eliklerde su verme sonras oluan
martenzit yapsn net grmek amacyla kullanlr.
(b) %2Nital ile 2 s n dalama ardndan kullanlr, zellikle
dual faz eliklerinde perlit, martenzit ve ostenit
yaplarnn ayrt edilmesi iin kullanlr.
DALAYICI TERKB KULLANIM ALANI
VLELLA AYRACI 5 ml HCl + 1 gr pikrik asit+100
ml etit alkol
Temperlenmi martenzit yapsn ortaya karmada iyi sonu
verir. Ayrca su verilmi ve su verilmi temperlenmi
eliklerde kalnt ostenit fazn ayrt etmede kullanlr.
BERAHA AYRACI 3 gr K
2
S
2
O
5
+10 gr
Na
2
S
2
O
5
+100 ml H
2
O
%2 Nital ile 2 s n dalama ardndan kullanlr ve ferrit
tanelerinin renklenmesini salar.
KLEMMS AYRACI 50 ml doymu (suda) Na
2
S
2
O
3
solsyonu+1 gr K
2
S
2
O
5
Alamsz elik ve dkme demirlerde sl ilem sonras
yaplar ayrt etmek iin kullanlr. Bu dalayc ferrit tanelerini
koyu kahverengine boyar, buna karn nitrr, karbr gibi
yaplar beyaz kalr.
MARSHALLS AYRACI (a) 8 gr oxalic asit+5 ml
H
2
SO
4
+100 ml Su
(b) %30 H
2
O
2
ok dk karbonlu eliklerde ve elektrik eliklerinde ferrit
snrlarn ok iyi ortaya karr.Numuneye %2 nital ile 2 s n
dalama yapldktan sonra (a) ve (b) solsyonlar eit oranda
kartrlp kullanlr.
elik malzemeler iin kullanlan daha pek ok dalayc vardr. Genel olarak
tm dalayclarn taze olarak hazrlanmas ve kullanlmas nerilir. Ayrca
kullanlan kimyasallarn safiyetlerinin mutlaka ok yksek olmas
gerekmektedir.
03.03.2011
40
Elektrolitik Dalama
Elektrolitik parlatmada kullanlan
mekanizma aynen kullanlr. Yalnz
kullanlan doru akmn potansiyel fark ve
akm deerleri ile tatbik sresi deitirilir bu
ekilde farkl serbest enerjiye sahip
blgelerin tercihli anmas nedeniyle
dalama gereklemi olur.
Mikroskopta nceleme
Optik mikroskoplar, bir k kaynann yayd
belli lde younlatrarak numunenin
zerine gnderirler.
Numune zerinden geri yansyan k huzmesi
(Anmayan ksmlardan dik, anan ksmlardan
belli alarla yansmaktadr) nce bir objektif
tarafndan toplanr, ardndan bir okler
tarafndan toplanr.
Okler zerinden bakarak grdmz
grntnn bykl objektif ve okler
bytme deerlerinin arpmdr.
03.03.2011
41
03.03.2011
42
03.03.2011
43
MKROSKOP
KARAKTERSTKLER
Mikroskoplarn temel yap eleman
objektiflerdir. Objektiflerin zellikleri
incelenerek mikroskop karakteristikleri
ifade edilmektedir.
Objektiflerin zellikleri;
Bytme Yetenei
Nmerik Aklk
Ayrt Etme Gc
Derinliine Ayrt Etme Gc
03.03.2011
44
Bytme Yetenei;
Objektifler, tek balarna belli bir bytme
deerine sahiptirler. Buna n bytme
denilmektedir. Bu deer objektif zerinde ardna
bir x iareti konularak belirtilir (20x, 100x gibi).
Baz objektiflerde de rakamn nne M harfi
konulmaktadr (M40, M10 gibi). Okler ve
objektifin bytme deerleri arpm
mikroskobun toplam bytme deerini vermekle
beraber, bu deer, mikroskop tpnn
uzunluuna, yani objektif ve oklerin birbirine
olan mesafesine de baldr. Genellikle tm
mikroskoplar 160-250 mm tp mesafesindedir.
Nmerik Aklk (NA);
Nmerik aklk, objektifin k toplama
yeteneinin bir ifadesidir. Objektifin ince
detaylar ayrt edebilmesi, esas olarak
objektife giren k miktaryla ilgilidir.
Dolaysyla NA deeri bydke objektifin
k toplama yetenei yani grnty daha
net gsterme olasl artacaktr.
03.03.2011
45
Bir objektifin NA deeri, gelen k konisinin tepe
asnn yarsnn sinsyle, objektifin n
mercei ile numune arasnda kalan ortamn
krlma indisinin arpmna eittir.
) (u Sin n NA =
NA: Nmerik Aklk
n: Krlma indisi
u: Ik konisi tepe asnn yars
Kuru ve yal objektif.
03.03.2011
46
Havann krlma indisi 1 iken, mikroskop
yann krlma indisi 1.5dir.
Genellikle bytme deeri byk olan
objektiflerde mikroskop ya kullanlarak
daha net grnt elde edilebilir.
Ayrt Etme Gc (AEG);
Bir objektifin ayrt etme gc, numunedeki
birbirine yakn detaylar fark edebilme
yeteneinin lsdr.
AEG objektifin NA deerine ve numuneyi
aydnlatan n dalga boyuna baldr.
Eer objektifin akl tamamen
aydnlatlm ise AEG nin en byk deeri
elde edilmi olur ve bu deer;
03.03.2011
47

NA
AEG

=
2
Formlyle ifade edilir. Burada n dalga
boyudur.
AEG den daha ok kullanlan deerlerden biri
Ayrt Etme Snrdr. AES objektifin ayrntlardaki
baarsnn bir ifadesidir.
NA AEG
AES

= =
2
1
RNEK;
Nmerik Akl 1 ve n bytmesi 100x olan bir
objektif, dalga boyu =0.00053 mm olan yeil
kla kullanlyor. AES deerini hesaplaynz ve
yorumlaynz.
mm
NA
AES 000265 . 0
1 2
00053 . 0
2
=

=

Bu objektifle numune zerinde 0.000265 mm aralklarla (veya daha
geni aralklarla) olumu izgiler ayrt edilebilir.Bu deerden daha
kk aralklar ise ayrt edilemez.
03.03.2011
48
nsan gznn 250 mm mesafeden 0.11 mm
aralklarla izilmi izgileri net olarak ayrt
edebildii bilinmektedir. Buna gre;
AES
k
11 . 0
=
Forml yazlabilmektedir. Bu formlde k deeri mikroskobun toplam
bytme deeridir.
Bir nceki rnee bakalm;
k=0.11/0.000265 = 415 kar.
Objektif 100x olduuna gre okler 4.15
bytme yapmaldr. Bu deerde okler
bulunamayaca iin en yakn st
deerdeki okler kullanlrsa;
5x okler ve 100x objektif ile 500x
bytmede numune incelenebilir.
Burada faydal bytme deeri 415dir,
geri kalan deer fuzuli bytmedir.
03.03.2011
49
ASTM TANE NUMARASI
ASTM E112 numaral standarda gre elik
malzemelerde tane numaras (tane
boyutunu ifade eden bir deer) hesaplanr.
Tane numaras hesabnda 100x bytme
deerinde bir mikro fotoraf ve bu fotoraf
zerinde (1)
2
alan iindeki tane says
esas alnr.
Tane says hesaplanrken tamam grnt
alan iinde kalan (kesilmeyen) tanelerle, bir
ksm grnt alan iinde kalan (kesilen
tanelerin) tane saysnn yars toplanr.
1
2

=
G
N
N: 100x mikro fotorafta (1)
2
alan iinde kalan
toplam tane says (Kesilen tane says/2 +
kesilmeyen tane says)
G: ASTM tane numaras.
03.03.2011
50
ekildeki mikroyap fotoraf zerinde ASTM
tane numarasn hesaplayalm:
ncelikle kesilen ve kesilmeyen taneleri
iaretleyip sayalm.
Kesilen tane says=26 Kesilmeyen tane says=52
03.03.2011
51
02 . 7
1
) 2 ln(
) 65 ln(
) 2 ln( ) 1 ( ) 65 ln(
2 65
65 52
2
26
2
1
1
=
+ =
=
=
= + =
=

G
G
G
N
N
G
G
Bu mikroyap iin ASTM tane numarasnn 7
olduunu syleyebiliriz.
MAKROYAPI ANALZ
Genel olarak metal malzemeler zerinde
plak gzle veya en ok 10x bytme ile
yaplan kontroller iin kullanlan yntem
makroskobidir.
ounlukla kuvvetli dalayclarla
malzemenin kesitinin hazrlanp
dalanmas ve bu kesit zerinde olas
kusurlarn kontrol edilmesi esasna
dayanr.
03.03.2011
52
Makro dalamann temel sebebi malzemedeki
heterojenlii ortaya karmaktr.
Tane boyutlarndaki farkllama
Kolonsal yap
Dendritik yap
Segregasyon ve kalntlar
Karbrler
Mikrosegregasyon
Karbrizasyon ve dekarbrizasyon
Porozite ve atlaklar
Ayrk ksmlar ve katmerleme
Kaynakl yap etd
Makro dalama yaplmadan nce numune
en az 400 grid zmparaya kadar
zmparalanr ve ardndan dalanr. Bu tip
incelemelerde parlatma yaplmasna gerek
yoktur.
Makro dalama reaktifleri genellikle
kuvvetli asitlerle yaplan dalayclardr.
03.03.2011
53
DALAYICI KULLANIM YER
%50 HCl+%50H
2
O 15-60 dakika uygulanr, numunede segregasyon, porozite, sertlik dalm, atlaklar,
dendritler, ak izgileri, kaynak yeri muayenesi iin kullanlr.
Konsantre HCl 1. Dalaycyla ayn
50 gr (NH4)2S2O8 ve 500 ml H2O Tane boyutu ve kaynak yeri analizi iin kullanlr
2 birim H
2
SO
4
+1 birim HCl+1 birim H
2
O 1. Dalaycyla ayn
%2-25HNO
3
+75-98H
2
O veya Etil Alkol 5-30 dakika uygulanr, karbrizasyon ve dekarbrizasyon yaplar, sertlik dalm ve
atlaklarn ortaya karlmas iin kullanlr.
2.5 gr CuCl
2
, 20 gr MgCl
2
, 10 ml HCl ve
500 ml Etil Alkol
Fosforca zengin blgeler
10 birim H
2
SO
4
+ 90 birim H
2
O 15-60 dakika uygulanr, slfr ve oksit inklzyonlarnn ortaya karlmas iin
kullanlr.
Karbon ve alam eliklerinde karlalan fazlar ve bu fazlarn
zelliklerini mikroyaplar zerinde inceleyelim.
03.03.2011
54
MAKROYAPILAR
Dk karbonlu elik ingot, %50
sulu HCl, 0.5x, (ASTM E381e gre
kabul edilebilir.)
Alaml elik ingot, merkezde
segregasyon izleri grlyor. %50
HCl, 0.625x
03.03.2011
55
Alaml elik malzeme, orta ksmlarda segregasyon daha belirgin olarak
grlyor. %50 Sulu HCl, 0.625x.
Alaml elik malzeme, orta ksmlarda segregasyon daha belirgin olarak
grlyor. %50 Sulu HCl, 0.5x
03.03.2011
56
Orta karbonlu elik
malzemede karbon
segregasyonu, %50
HCl, 0.33x, (kabul
edilebilir)
Alaml elik
malzemede alam
segregasyonu, %50
HCl, 0.33x, (kabul
edilemez)
Alaml elik
malzemede alam
segregasyonu, %50
HCl, 0.33x, (kabul
edilemez)
Alaml elik ingot,
st ksma yakn, gaz
boluklarnn
oluturduu kusur,
kabul edilemez, %50
sulu HCl, 0.33x.
Alaml elik ingot, alt
ksma yakn, yrtlma,
kabul edilemez, %50
sulu HCl, 0.33x.
Alaml elik ingot, alt
ksma yakn, yivler,
kabul edilemez, %50
sulu HCl, 0.33x.
03.03.2011
57
Alaml elik, dvme srasnda
olumu, orta ksmda bir
patlama. Muhtemel sebep
yanl seilmi retim koullar,
%50 sulu HCl, gerek boyut.
4140 eliinden dvmeyle imal
edilmi bir kancann boyuna kesitinin
makro dalamas, ak izgileri
izlenebiliyor, %50 sulu HCl, 0.5x.
03.03.2011
58
Olduka yksek alaml elik
malzeme, dvme ile ekillendirilmi,
baz ksmlarda kaba tane oluumu
grlyor, %50 sulu HCl, 0.25x.
Suda sertleebilen W1 takm elii, 800
0
Cde ostenitlenmi, tuzlu suda
su verilmi, ardndan 2 saat 150
0
Cde temperlenmi. D ksmda
grlen koyu halka sertlemi ksm, srasyla, 76, 51 ve 25 mm apl
ubuklar. %50 sulu HCl, 0.5x.
03.03.2011
59
W1 elii, 800
0
Cde
ostenitlenmi ve
tuzlu suda su
verilmi, d
ksmda sertlemi
blge grlyor, %5
sulu HNO3, 2x.
Alevle sertletirilmi klavuz
kesiti, sertlemi ksm koyu
renkli, gei zonu ise siyaha
yakn renkte grlyor. %10
Nital, gerek boyut.
Kaynakla birletirilmi
boruda kaynakl
ksmn kesit resmi,
katlama izgileri,
kaynakl ksm, ITAB
ve dip ksmda
kaynaklanmam yer
grlyor. %4 Nital,
10x.
Diren kayna ile birletirilmi
boruda kaynakl ksmn kesit
resmi, (NH
4
)
2
S
2
O
8
, 5x.
Ark kayna ile birletirilmi A517
Grade J elik, kolonsal yap, kaynak
metali, ITAB grlyor, %2 nital, 4x.
03.03.2011
60
1008 elii, kenar ksm plastik
deformasyonla ekillendirilmi malzeme,
LDERS bantlar grlyor, 0.875x.
Parlatma veya dalama yok.
Plastik deformasyonla
ekillendirilmi 1008 elik para,
yzeyde portakal kabuu
grnts, dalanmam, gerek
boyut.
Alminyum ile deokside edilmi
scak hadde mamul 1008 elii,
yzeyde tabakalar grlyor,
parlatlmam, 2x.
Alminyum ile deokside edilmi scak
hadde mamul 1008 elii, okba
hatas, kaznm yzey,
parlatlmam, gerek boyut.
03.03.2011
61
MKROYAPILAR
%0.08 C ieren hadde mamul
elik. Yapda ferrit taneleri
grlyor. Kenardan ieriye doru
tane boyutunun deiimine dikkat
ediniz. %3 nital, 100x.
03.03.2011
62
%0.013 C ieren elik. 845
0
Cde
scak haddelenmi ve 695
0
Cde
halka formu verilmi. lem
scaklnn farkllamas, ferrit
tanelerinin tamamen dzensiz
olmasna neden olmu. %3 Nital,
100x
%0.013 C ieren elik. 940
0
Cde
scak haddelenmi ve 725
0
Cde
halka formu verilmi. Bu
scaklklarda ilem grm
eliklerde kolaylkla rastlanmayacak
kalitede ferrit taneleri grlyor. %3
Nital, 100x.
%0.012 C ieren elik, 820
0
Cde
scak haddelenmi ardndan
680
0
Cde halka formu verilmi
malzeme. Bir nceki yapya gre
daha dk olan ilem scakl
tanelerin daha dzgn bir form
almasn salam. Nital, 100x.
03.03.2011
63
%0.05 C ieren malzme,
ferrit tane snrlarnda Fe3C
(demir karbr) grlyor.
%2 Nitalle n dalanm,
ardndan Marshall ayrac ile
dalanm, 340x
Tm resimler %0.06 Clu elik, 1. resim: 845
0
Cde scak haddelenmi 620
0
Cde
ekillendirilmi para, ferrit taneleri grlyor, Nital, 100x. 2. resim: yapnn pikralle
dalanp daha byk bytmede incelenmesiyle ortaya kan sementit fazn
gsteriyor, pikral, 500x. 3. resim: 1. resimle ayn, yalnz 790
0
Cde scak
haddelenmi, yzeye yakn ksmlarda tavlamaya bal tane bymesi, ie doru
klen taneler grlyor, nital, 100x.
03.03.2011
64
%0.06 Clu elik, souk haddelenmi ve ardndan tavlanm, 1. resim masif
karbr, 2. resim, dalm orta byklkte karbrler ve 3. resim dalm
kk karbr partiklleri ieriyor, pikral 1000x.
Sac metal malzeme (0.06 C-0.35 Mn-0.04 Si- 0.4 Ti) tm yap
ferrit tanelerinden oluuyor, dalama teknii nedeniyle tanelerin
yerleimine gre renkleri farkl grlyor, 1. resim Beraha renkli
dalama ayrac ile dalanm gri ton kaydedilmi, 100x. 2. resim
3 gr K
2
S
2
O
5
, 10 gr Na
2
S
2
O
3
ve 100 mlH
2
O ile dalanm, 100x.
03.03.2011
65
1008 elik malzeme 1.resim %10, 2. resim %20, 3. resim %30, 4.resim %40, 5.
resim %50 ve 6.resim %60 deforme edilmi, %4Nital 250x. Hadde ynnde ak
izlenebiliyor.
1008 elii, 1. Resim %70, 2.resim %80 ve 3. resim %90 deforme edilmi, %4
Nital 250x, ferrit tane snrlar izlenemiyor ve ak yn tamamen belirgin.
03.03.2011
66
%90 souk deforme olmu 1008 eliinin yeniden kristalleme tavlamas
srasnda alnm resimleri, 550
0
Cde yaplan tavlama iin, 1.resim 106
saniye, 2.resim 7 dakika, 3.resim 14.5 dakika tutulmu durum, Nital, 1000x.
1008 elik malzeme, 1.resim, 690
0
Cde 20 saat kreletirme
tavlamasna tabi tutulmu, krelemi sementit partiklleri
grlyor, 2. resim 740
0
Cde 20 saat bekletilmi ve yava
soutulmu, yapda ferrit ve perlit fazlar grlyor, Pikral,
500x.
03.03.2011
67
Yksek mukavemetli-dk alaml elik malzeme (%0.2 C), 1.resim
scak haddelenmi, yapda ferrit ve perlit taneleri grlyor, %4 pikral,
ardndan %2 nital ile dalanm, 200x. 2.resim, ayn malzemeye suda
su verilmi durum, yap martenzit, Na
2
S
2
O
5
, 500x
%0.2 C - %1 Mn ieren elik, su
verilmi, en koyu ksmlar perlit,
daha ak gri ksmlar martenzit
ve beyaz ksmlar ferrit, %10
Na
2
S
2
O
5
, 1000x.
Ferrit
Martenzit
Perlit
03.03.2011
68
1030 elii, 1. resim 930
0
Cde 1 saat ostenitlenmi, ardndan 775
0
Cde 2 saat 40
dakika tutulmu, sonrasnda 705
0
Cde izotermal bekleme yaplm ve tuzlu suda
soutulmu, kaba perlit ve ferrit taneleri grlyor, Pikral, 1000x. 2. resim 800
0
Cde
40 dakika tutulmu ardndan 705
0
Cde 15 dakika bekletilmi, ardndan 710
0
Cde
192 saat bekletilmi, ferrit matris iinde krelemi perlit taneleri grlyor, Pikral,
1000x.
10B35 elii 850
0
Cde 1 saat ostenitlenmi ve suda su
verilmi, ardndan 175
0
Cde 1 saat temperlenmi. Kk
beyaz alanlar ferrit, ok koyu inesel ksmlar alt beynit ve
dier ksmlar temperlenmi martenzit, %1 Nital, 550x
03.03.2011
69
10B35, 850
0
Cde 1 saat ostenitlenmi,
kartrlan suda su verilmi ve
230
0
Cde 1 saat temperlenmi, temper
martenzit yaps, %1 Nital, 500x.
Ayn resmin yzey ksm, bu ksmda
dekarbrize olmu ferrit yaps
grlyor, %1 Nital, 500x.
1. Resim 1035, 2.resim 10B35 malzeme, her ikisi de 850
0
Cde 1 saat
ostenitlendikten sonra suda su verilmi ve 175
0
Cde 1 saat temperlenmi.
D ksmda ak tonlu grnen ksm martenzit, yapdaki B elementi
katksnn martenzit oluumuna etkisi grlyor. %10 nital ardndan %1
pikral ile dalanm, gerek boyut.
03.03.2011
70
32 mm kalnlkta EB kayna ile
birletirilmi C103 malzeme.
Renklenme termal dalama ile
elde edilmi, 10x.
Beyaz dkme demir tamam sementit yap, %2 Nital, 200x.
03.03.2011
71
Gri dkme demir, parlatlm, dalanmam, 100x.
Ostemperlenmi kresel grafitli dkme demir, yap alt beynit, beya ksmlar
kalnt ostenit. Vilella, 100x.
03.03.2011
72
MKROSKOBK NCELEME
YNTEMLER
ou zaman aydnlk saha aydnlatmas yntemi
ve farkl bytme deerleri kullanyoruz.
Bu yntemde k demetleri bir objektif zerinden
numune zerine drlr. Ancak ne kadar
bytme yaplrsa yaplsn veya ne kadar ok
k gc artrlrsa artrlsn bu yntemde belli bir
noktadan sonra iyi grnt elde edilemeyebilir.
Daha yksek kontrast oranlarnn istendii
durumlarda daha farkl inceleme yntemleri
kullanlr.
Bu amala aydnlk saha aydnlatmas
yntemi dnda kullanlan 5 farkl
yntem daha vardr;
1. Karanlk saha aydnlatmas
2. Faz-Kontrast
3. Polarize Ik
4. Interference
5. Renk Ayrm
03.03.2011
73
Aydnlk saha aydnlatmas iin kullanlan sistem.
KARANLIK SAHA AYDINLATMASI
Bu yntem aydnlk saha
aydnlatmasnn tam tersidir.
Ksaca aydnlk saha
ynteminde elde edilen
grntnn negatifidir.
Bu yntemde zellikle yzey
dzlemi zerinde bulunmayan
ayrntlarn grnmesi
salanr.
03.03.2011
74
FAZ-KONTRAST
Numune
yzeyindeki
przler, yansyan
kla faz farkna
sebep olur. Faz-
Kontrast
metodunda bu faz
fark gzle fark
edilebilecek ekilde
iddet farkna
dnr.
03.03.2011
75
POLARZE IIK
Birok metal veya
metal olmayan faz
optik zellikleri
asndan anizotropik
olduu iin bu fazlar
polarize k
kullanlarak ayrt
edilirler. Genellikle
normal k
mikroskoplarna ilave
olarak taklan polarize
k dzenekleri
kullanlarak bu
incelemeler yaplr.
Dkm bizmut, polarize kla ikizlenme
grnts elde edilmi, 50x.
03.03.2011
76
NTERFERENCE
Polarize k
yntemine benzer
dzeneklerle yaplr,
burada ama
parlatlm
numunelerde
dalama
yaplmadan nce
farkl sertliklerde
olan blgeleri ortaya
karmaktr.
ki fazn, interference
yntemiyle alnm resmi,
Elektrolitik olarak dalanm,
250x