P. 1
Atomik Kuvvet Mikroskobu

Atomik Kuvvet Mikroskobu

|Views: 1,340|Likes:
Atomik kuvvet mikroskobu çalışma prensibi ve uygulamalarına dair dar kapsamlı bir araştırma.
Atomik kuvvet mikroskobu çalışma prensibi ve uygulamalarına dair dar kapsamlı bir araştırma.

More info:

Published by: Fazlı Fatih Melemez on Oct 25, 2010
Telif Hakkı:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as DOCX, PDF, TXT or read online from Scribd
See more
See less

07/10/2013

pdf

text

original

T.C.

Sakarya Üniversitesi

Mühendislik Fakültesi

Metalurii ve Malzeme Mühendisligi Bölümü




ATOMÎK KUVVET MÎKROSKOBU

















ATOMÎK KUVVET MÎKROSKOBU
lerin basinda Heinrich
Rohrer ve Gerd Binnig taraIindan
kesIedilen Atomik kuvvet
mikroskobu o yillardan bugüne
dek yüzey özelliklerini ve
malzeme topograIisinin
incelenmesinde vazgecilmez bir
konuma gelmistir. StanIord
üniversitesinde calismalarini
yürüten Özgür Sahin ve ekibi de
gelistirdigi bir teknikle AKMnun
kalitatiI incelemesini mümkün
hale getirmistir.
AKMde malzememizin yüzeyini
incelerken her ne kadar ismi
mikroskopta olsa isik
kullanilmiyor. AKMnun esasi,
birkac atom capinda inceltilmis
özel bir ucun numune yüzeyine
cok düsük kuvvet tatbiki yapacak
sekilde degdirilmesinden ibaret.
Bu sekilde numuneye degerek
malzemeyi tariyor.

Calìsma Prensibi
Aletin calisma ilkesi, gercekte
dokunmaya dayaniyor.
Örneklersek, karanlik bir odada
yemek masasinda oturdugunuzu
düsünün. Masanin üstünde neler
durdugunu bilmek istiyorsunuz.
Yapacaginiz ilk sey, ellerinizi
masanin üstünde gezdirip,
dokundugunuz cisimlerin seklini
anlamaya calismaktir. Bu yolla
catal, bardak veya bir kürdanligi
kolayca bulabilirsiniz. Ancak,
toplu igne basindan daha kücük
cisimleri bulmaniz hic de kolay olmaz. Kücük cisimleri, hele hele atomlari, bu
yöntemle görebilmek icin parmaklardan cok daha sivri ve dokunma duyusu cok daha
geliskin bir araca gerek vardir. Iste atomik kuvvet mikroskobunun rolünü böyle
tanimlayabiliriz. Neredeyse bir atoma kadar sivriltilmis ucu ile bir yüzeydeki atomlara
dokunuldugunda olusan kuvvetlere dayanarak yüzeyin seklini bulmak, yalnizca
atomik kuvvet mikroskobu ile saglanabilir.

Kuvvetlerin hassas sekilde ölcülmesi, plastik bir cetveli ya da bir dalis tahtasini
andiran, ucuna bastirinca bükülebilen ve gözle zor görülecek kücüklükte bir yapiya
dayaniyor. Bu kücücük cetvelin bir ucuna kilogramin trilyonda biri kadar kuvvet
uygulandiginda, ölcülebilir derecede bir bükülme olusuyor. Bükülme, kuvvetle dogru
orantili oldugundan, bükülme ölcülerek dolayli yoldan kuvvet ölcülüyor.
Atomlari görebilmek icin
kullanilan sert sivri uc,
cetvelin bir ucunda, ama
cetvele dik duran, ignemsi bir
yapi olarak düsünülebilir.
Kücük igneyi ciplak gözle
görmek mümkün degildir.
Sivri uc, bilgisayar
islemcilerini yapmakta
kullanilan yöntemle ve birkac
atom genisligine kadar
sivriltilmistir. Bu kücük
cetvel ve ucunda ona dik
olarak duran igne bir yüzeye
yaklastirildiginda, igne
yüzeye temas eder etmez
cetvel bükülmeye baslar.
Cetvel bir yüzey üzerinde
gezdirilirken olusan bükülme,
yüzeydeki atom ve
moleküllerin olusturdugu tepe
ve cukurlari algilar. Bir
bilgisayar yardimi ile
cetveldeki ölcülebilir
bükülmeler kaydedildigi
zaman, yüzeyin sekli de
bulunmus olur. Atomik
kuvvet mikroskobunun
calismasi, basitce bu mantiga
dayanmaktadir.
8|rkac atom capinda |nce|t||m|s man|ve|a ucu
Atomik kuvvet mikroskobu, özellikle polimerler ve ileri teknoloii ürünü süper iletkenlerin
analiz ve incelenmesinde kullanilir.
Itici modun cekici moda göre avantailari:
Manivela yüzeye degmedigi icin yumusak alanlarda (biyoloiik sübstratlar gibi) kullanilabilir.

Cekici modun itici moda göre avantailari:
Cözünürlük yüksek. Atomik seviyede görüntüler bu modda elde edilir.

Bazen de itici ve cekici modun birlesimi bir modda kullanilir: tiklatma modu. Bu modda ise
manivela yüzeye dokunup, cekilir; bir nevi tiklatma hareket yapar. Bu sayede cekici moddaki
yüzey hasar sorunu bir nevi cözülmüs olur, hem de yüksek cözünürlüklü görüntüler elde
edilir. Aynen TTM'de oldugu gibi AKM'de de bir baska iki mod vardir: sabit yükseklik, sabit
kuvvet. Ilk modda manivela ile yüzey arasi mesaIe sabit tutulur ve kuvvetteki degisim esas
alinir, geri bildirim sistemi vardir. Ikinci modda kuvvet sabit tutulacagi icin mesaIe degisir, bu
mesaIe degisimine göre görüntü olusturulur, geri bildirim sistemi yoktur.

Egilme miktari nasil ölcülür?
AKM ilk üretildiginde manivelanin üstünde TTM'de kullanilan bir sivri uc kullaniliyordu.
Manivela ile bu sivri uc arasindaki tünelleme akimindaki degisime göre hesaplamalar
yapiliyordu. Bu sürec biraz zordu ve her zaman istikrarli bir ölcüm alinamiyabildigi icin artik
kullanilmamaktadir.

Günümüzde optik metodlar kullanilmaktadir. (resimdeki sistem) Bu yöntemde manivelanin
üstü bir metalle kaplanir ve ayna haline getirilir. Daha sonra lazerden demetler gönderilir.
Yansiyan demetler iki Iotodiyottan olusan bir sisteme carpar. Eger manivelanin konumu
degismis ise bir diyot daha Iazla akim üretir, akimdaki bu degisime göre manivelanin sapma
degeri belirlenir.
TTM'ye göre avantajlarì
Görüntüleme kuvvete bagli oldugundan, mikroskop hem iletken hem de yalitkan
yüzeylerde kullanilabilir. Oysa, TTM'lerde görüntü akima bagli oldugundan , sadece
iletken yüzeylerden görüntü alinabiliyordu.
Sübstratin 3 boyutlu proIilini gösterir. TTM ise 2 boyutlu proIiini gösterebilir.
Daha ucuzdur. (ama o kadar da ucuz degildir :) )
Acikhavada ve sivi ortamda calisabilir, TTM vakumlu ortamda calisabilir. Bu yüzden
biyoloiik sübstratlarda AKM kullanilir.

Uygulama Alanlarì
Hissetme - Bazi malzemelerin ortamda olup olmadigini anlamaya yardimci olur.
Atom yer degistirmesi - Yüzeydeki atomlarin yerleri ile oynanabilir.
Ölcme - Malzemenin karakteristik bir özelligini hakkinda bilgi toplama.
Görüntüleme - Yüzeylerin topograIik görüntüleri olusturulur.
Atomik Kuvvet Mikroskobu ve Kalitatif Analiz
Bu calisma atomik kuvvet mikroskobuna ''yeni beceriler kazandirmak'' olarak nitelenebilir.
Mikroskop, yüzeyin görüntüsünü almak icin tek tek atom ve moleküllere dokunurken, bir
yandan da yüzeyi olusturan cismin kimyasal bilesimlerinin bulunabilecegi düsüncesinden yola
ciktim. Bir kumasa dokundugumuzda ipek mi yoksa yün mü anliyorsak ya da plastik bir catali
metal cataldan ayirt edebiliyorsak, atomik kuvvet mikroskobu da, atomlara ve moleküllere
dokunurken onlari taniyabilirdi. Böyle bir gelisme, daha önce söz edilmemisti biyoloiik
moleküllerin kimyasal yapilarini ve islevlerini gözleyebilmemize olanak taniyacak, yeni
gelistirilen malzemelerin atomik ölcekteki bilesenlerini ayirt edebilmemize ve daha iyilerini
tasarlayabilmemize yardimci olacakti.
StanIord Üniversitesi imkanlarini kullanarak büyük bir basariyi saglayan Özgür Sahin ,
AFMde elementel analizi mümkün kilan bir teknik gelistirmisti. Atomik kuvvet
mikroskobuna ''yeni beceriler kazandirmak'' olarak nitelenebilir. Mikroskop, yüzeyin
görüntüsünü almak icin tek tek atom ve moleküllere dokunurken, bir yandan da yüzeyi
olusturan cismin kimyasal bilesimlerinin bulunabilecegi düsüncesinden yola cikildi. Bir
kumasa dokundugumuzda ipek mi yoksa yün mü anliyorsak ya da plastik bir catali metal
cataldan ayirt edebiliyorsak, atomik kuvvet mikroskobu da, atomlara ve moleküllere
dokunurken onlari taniyabilirdi. Böyle bir gelisme, daha önce söz ettigim, biyoloiik
moleküllerin kimyasal yapilarini ve islevlerini gözleyebilmemize olanak taniyacak, yeni
gelistirilen malzemelerin atomik ölcekteki bilesenlerini ayirt edebilmemize ve daha iyilerini
tasarlayabilmemize yardimci olacakti.
Gelistirilen bu teknigin temeli, atomik kuvvet mikroskobunun en yaygin isletilme yöntemi
olan ve kuvvet ölcmeye yarayan kücük cetvelin titresmesi temeline dayaniyor. Bu kabul
görmüs yöntem, daha önce basitce tasvir ettigim yönteme oranla cok daha hassastir ve
yüzeye, neredeyse hic zarar vermez. Yöntemde, cetvel saniyede yüz binlerce kez salinir. Tipki
dikis makinesinin kumasa girip cikan ignesi gibi, her salinisinda yüzeye bir kez haIiIce carpar.
Salinim, adeta bir gitar telinin cinlamasina benzer.
Bu teknik üzerine yapilan calismalarin basinda, kücük cetvelin hareketini matematiksel
yöntemler ile inceleyerek, yüzeydeki yapilarin mekanik (dolayli olarak da kimyasal)
özelliklerinin cetvelin üstünde beklenenin aksine, cok yüksek Irekanslarda titresimler
olusturdugunu buldum. Ancak titresimler o kadar cilizdi ki, pratik olarak ölcülmeleri mümkün
degildi. Bir süre sonra, cetvelin üstünde yapilacak kücük bir degisiklikle, bu titresimlerin
. kat etkili hale gelebilecegini bulunca, StanIord Üniversitesi'nin olanaklarindan
yararlanarak, yeni tasarima dayanan kücük cetvelleri ürettim. Yaptigim deneyler, bu yüksek
Irekansli titresimlerin gercekten de yüzeydeki moleküllerin kimyasal yapisina iliskin bilgiler
tasidigini gösterdi. Bu yeni teknigin calisma ilkesi, sivri ucun yüzeye vurup geri cekilmeye
baslamasi sirasinda gecen süreninin ölcülmesine dayaniyor. Yumusak bir maddeye carpan uc,
yüzeyi daha Iazla cökertip belli bir zaman kaybediyor. Bu zaman Iarkliliklari, saniyenin
milyarda biri düzeyinde ve cetvelin üstündeki yüksek Irekansli titresimler araciligiyla
ölcülebiliyor.

Mekanik yöntemler kullanarak maddelerin kimyasal özelliklerinin ölcülmesi oldukca basit bir
temele dayaniyor. Dogadaki en sert malzeme olan elmas, yumusak bir malzeme olan lastikten
yaklasik bir milyon kat daha sert. Bu kadar büyük bir Iark, elmasin ve lastigin yapisini
olusturan kimyasal baglardan kyynaklaniyor. Maddelerin bu özelligi, onlarla etkilesebilmemiz
ve inceleyebilmemiz icin bize büyük potansiyel sagliyordu; ama, atomik boyuttaki ölcümler
bu güne kadar yapilamiyordu. Gelistirilen bu töntem, bu potansiyelin ortaya cikarilabilecegini
gösterdi. Ancak kat edilmesi gereken daha cok uzun yol var.






,

You're Reading a Free Preview

İndirme
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->