Professional Documents
Culture Documents
Niez y Educacin
Nacin el 18 de Marzo de 1891 en New Canton, Illinois, U.S.A. Tuvo una excelente preparacin en ciencias e ingeniera. Muri el 11 de Marzo de 1967 en Troy Hills, New Jersey, Estados Unidos.
Obtuvo la licenciatura y maestra en la Universidad de Illinois. En 1917 el doctorado en fsica en la Universidad de California en Berkeley
Catedrtico de las universidades de Illinois y California. Encabez el Departamento de Fsica, Wisconsin, LaCrosse, U.S.A Trabajo en Western Electric Company y en los Laboratorios Bell Telephone. Enseo Control de Calidad y Estadsticas Aplicadas en la Universidad de Londres, Instituto tecnolgico Stevens, Departamento de Agricultura y en La India.
Sirvi al Departamento de Guerra de U.S.A , las naciones Unidas y el Gobierno de la India Estuvo Activo en el Consejo Nacional de Investigacin y en el Instituto Internacional de Estadstica. Se desempe como el Primer Editor de la Serie Estadsticas Matemticas Presidente de la sociedad Americana de Calidad (ASQ)
Libros Un Estudio del movimiento acelerado de pequeas gotas a travs de un medio viscoso Publicaciones Control Econmico de la Calidad de Productos Manufacturados Mtodo Estadstico desde el punto de vista del control de la calidad
Grficos de Control
Mtodo de evaluacin estadstico
Debe ser un proceso estable Poseer distribucin normal Limita los valores del muestreo
Tipos
Variables
Estudia variable medible
Variacin de precisin
Atributos
Variables no medibles
Resumen de datos
Grficos de Control
Variables
Atributos
Media y Rango
Productos Defectuosos
Numero de defectos
np
Reconocimiento
Miembro fundador, integrante y presidente Miembro fundador, primer miembro honorario y primero en ganar la medalla Shewhart
Entidad
Institute of Mathematical Statistics American Society of Quality Control
Introdujo la importancia del control para distinguir causas asignables y ocasionales. El ciclo PDCA esta basado en un concepto ideado por Shewhart. Los grficos de Shewhart fueron adoptados por ASTM en 1933