CONTROL ESTADSTICO DE CALIDAD, TELLER N 2 II/06 Lorena Patricia Collazos David Fernando Rosero lvaro Fernando Trejo Cristian

Fernando Lpez Ing. Oscar Arango B. UNIVESIDAD DE NARIO. 1. Carta de control para el uso del aditivo, Carragenina, en productos lcteos. Especificacin. (E) = 205 4 Muestreo (m) = 26 y se tomo una muestra (n) = 6
Muestra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 X 203,6 204 203,5 206,5 202 204 204,3 203,7 204,8 204,2 203,9 203,8 204 R 3,6 3,4 3,2 3,6 3,6 3,5 3,1 3,4 3 3,7 2,9 3 3,3 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 (sumatoria ) 204,1 204,5 203,4 203,6 204,2 205 203,1 203,9 203,9 204 204,1 204 3,6 3,4 3,6 3,7 7,3 3,8 3,5 3,8 3,3 3,2 3,4 3

5100,1

88,9

a) Limites de control premilitar para las cartas X y R. R = (Ri) / m R = 88.9 / 25 R = 3.556 Parmetros de sentamiento y dispersin del proceso. Limite superior LSCR = D4 x R LSCR = 2,004 x 3.556 LSCR = 7.126224 Limite Inferior LICR = D3 x R LICR = 0 x 3.556 LICR = 0 Lnea Central = 3.563

Grafica de la carta R, para verificar los datos.

Se puede ver claramente que existe un dato fuera del lmite superior de control, y por lo tanto, esto significa que existe un descontrol. Ahora para controlar la carta se elimina el punto que se ha salido, el punto es el numero 18 con (7.3) Eliminamos el punto y recalculamos los lmites de control R = (Ri) / m R = 88.9 7.3 / 25 R = 3.4 Limite superior LSCR = D4 x R LSCR = 2,004 x 3.4 LSCR = 6.81 Limite Inferior LICR = D3 x R LICR = 0 x 3.4 LICR = 0 Lnea Central = 3.4

Grafica R con datos rectificados

Con esta nueva grafica, podemos observar fcilmente que ya est bajo control y que los datos se apegan a la lnea central. Desviacin Estndar. = R / d2. = 3.4 / 2.534 = 1.34 Ahora, una vez verificados los datos procedemos a construir la carta X. Calculamos la media de las medias. X = (X) / m X = 4895.9 / 24 X = 203.99 ~ 204. Limites de control LSCx = X + A2 x R LSCx = 204 + 0.483(3.4) LSCx = 205.6 LSCx = X - A2 x R LSCx = 204 - 0.483(3.4) LSCx = 202.3

Grafica Carta X
CARTA "X" 207 206 Promedios (x) 205 204 203 202 201 0 5 10 15 Muestra 20 25
LICx =202,3 LSCx =205,6 LC =203,9

Se puede ver que en esta grafica tambin existen datos fuera de los lmites y es necesario eliminar los promedios para que pueda tenerse el proceso controlado. Los datos que estn fuera son 4 con 206.5 por el lmite superior y el 5 con 202 por el lmite inferior. Recalculamos los limites sin los promedios que estn por fuera. X = (X) / m X = (4895.9 206.5 202) / 22 X = 203.9 Limites de control Limite Superior LSCx = X + A2 x R LSCx = 203.9 + 0.483(3.4) LSCx = 205.5 Limite Inferior LSCx = X - A2 x R LSCx = 203.9 - 0.483(3.4) LSCx = 202.2 LC = 203.8

Grafica Carta X, sin los lmites fuera de los lmites

CARTA "X" 206 Promedios (x) 205 204
LC =203,9 LSCx =205,5

203 202 0 5 10 Muestra 15

LICx =202,2

20

Como no hay promedios fuera de los lmites, la carta de control ya se encuentra bajo control. b) Buscamos los parmetros de centramiento y dispersin del proceso. Calculo del ndice de la capacidad del proceso (Cp). Segn la especificacin tenemos. S = 209 I = 201 CP = (S - I) / 6 CP = (209 201) / 6(1.34) CP = 0.995 Esto indica que el proceso es incapaz de cumplir con la especificacin puesto que es <1. Encontramos la Razn de capacidad (Cr) Cr = 6 /(S - I) * 100 Cr = 6(1.34) / (209-201) * 100 Cr = 1.005 * 100 = 100.5 Aunque la variabilidad de acuerdo al Cr calculado es muy aproximado al deseado, es necesario decir que el proceso tiene defectos.

Mediante la capacidad inferior y superior encontramos de capacidad real del proceso. =X Cpi = ( - I) / 3 Cpi = (203.9 - 201) / 3 (1.34) Cpi = 0.72 Cps = (S - ) / 3 Cps = (209 - 203.9) / 3 (1.34) Cps = 1.26 Cpk = 0.72. El proceso tiende hacia el lmite inferior ya que la distancia entre el y el limite inferior es menor que la distancia entre y el limite superior. Y como la capacidad es baja no cumple con la especificacin del proceso.
N = 205 K = ( - N) / 0.5 (S - I) K = (203.9 205) / 0.5 (209 201) K = -0.275 x 100 = -27.5% El centramiento del proceso no es aceptable por lo que el proceso esta decentrado por el limite superior y es necesario centrarlo. Zi = ( I) / Zi = (203.9 201) / 1.34 = 2.16 Zs = (S ) / Zs = (209 203.9) / 1.34 = 3.8 Se aprecia que el limite superior esta bien, pero se estn presentando defectos en el lmite inferior. c) Calculo del porcentaje de producto disconforme que se genera. % Def. = P(X<I) + P(X>S), hay defectos si se sale por encima o por debajo. % Def. = 1 - P (z<(S ) / ) + P (z<(I ) / ) % Def. = 1-P (Z<(209 - 203.9) / 1.34) + P (Z<(201 - 203.9) / 1.34) % Def. = 1-P (Z<3.8059) + P (Z<-2.164) Segn la tabla obtenemos: % Def. = (1-1) + 0.0154 % Def. = 0.0154 x 100 % Def. = 1.54 El porcentaje de defectos es del 1.54%

d) Ahora probamos con el valor nominal de la especificacin si se logra un centramiento. N = 205 % Def. = P(X<I) + P(X>S), hay defectos si se sale por encima o por debajo. % Def. = 1 - P (z<(S ) / ) + P (z<(I ) / ) % Def. = 1-P (Z<(209 - 205) / 1.34) + P (Z<(201 - 205) / 1.34) % Def. = 1-P (Z<2.98) + P (Z<-2.98) Segn la tabla obtenemos: % Def. = (1 - 0.9986) + 0.014 x 100 % Def. = 0.0154 x 100 % Def. = 0.28 Al adaptar el valor nominal, se logra centrar el proceso mejorndolo. Ahora calculo los lmites con X.

Limite Superior LSCx = X + A2 x R LSCx = 205 + 0.483(3.4) LSCx = 206.6 Limite Inferior LSCx = X - A2 x R LSCx = 205 - 0.483(3.4) LSCx = 203.3 LC = 204.9
e) Calcular cual es el error tipo II y la probabilidad del Tipo I, si la desviacin estndar es de 1.5.

= N () = 205 - 1.5 (1.34) = 203

Probabilidad error tipo I

P det cambio = 1 - P (X < LICx) P det cambio = 1 -P ( (z<(I ) / ) / n) P det cambio = 1 -P ( (z<(203.3 203) / 1.5 ) / 6) P det cambio = 1- (z<0.49) segn la tabla P det cambio = 1- 0.6879 x 100 P = 31.21%
La probabilidad de detectar el cambio es del 31.21%.

Calculo del error tipo II

P NO det cambio = 1 - P det cambio P NO det cambio = 1 -0.3121 P NO det cambio = 0.6879 x 100 P = 68.79%. El 68.79% es la probabilidad de que la carta NO muestra que el proceso ha cambiado. f) Para aceptar un error pequeo tipo II, se necesita la siguiente muestra. P tipo II = 1 P tipo I, y asumiendo a 10% como un porcentaje bajo. 0.1 = 1 P (z<(I ) / ) / m) 1- 0.1 = (203.3 -203) / 1.34 / m 0.9 en la tabla 1.28 1.28 = (0.3) / 1.34 m m = 33 Las muestras necesarias para considerar que a un error tipo II con un porcentaje de error pequeo es de 33.
2) Carta de control Para un proceso de manufactura Muestras = 6 Subgrupos (S) = 50 X = 1000 S = 75 a) Calculo de los lmites para las cartas X y S Para carta S = S / S = 75/ 50 = 1.5 Limite Superior LSCs = B4 LSCs = 1.97 x 1.5 = 2.995 Limite Inferior LICs = B3 LICs = 0.030 x 1.5 = 0.045 Para carta X X = X / S X = 1000 / 50 = 20 Limite Superior LSCx = X + A3 x LSCX = 20 + 1.287 x 1.5 LSCX = 21.9

Limite Inferior LICX = X A3 x LICX = 20- 1.287 x 1.5 LICX = 18.06 LC = 19.98 b) Conclusin de la capacidad si se usa los siguientes lmites. Especificacin (E) = 194 I = 15 S = 23 = / C4 = 1.5 / 0.9515 = 1.57 Capacidad del proceso. Cp = (S-I)/ 6 Cp = (23-15) / 6 x 1.57 Cp = 0.85 Este proceso No es capaz de cumplir con la especificacin, puesto que su Cp es < 3 y esto demuestra que el proceso es muy inadecuado. Razn de capacidad (Cr): Cr = 1/Cp Cr = 1 / 0.85 Cr = 1.176 x 100 = 117.6 % Con esto se confirma que el proceso debe modificarse ya que su variabilidad esta por encima del 100%, significando que existe muchos errores. Capacidad real del proceso Cpi = ( - I) / 3 Cpi = (20- 15)/ (3*1.57) Cpi = 1.061 Cps = (S - )/ 3 Cps = (23-20)/ (3*1.57) Cps = 0.636 Cpk = 0.636 Esto muestra que la capacidad real es baja, esta decentrada, entonces no ser capaza de cumplir con la especificacin. Se debe centrar K = (20 19) / 0.5(23 -15) K = 0.25 x 100 = 25%

El decentramiento se presenta hacia el lmite Superior. c) Calculo de los defectos que se reprocesan y los que se rechazan. %Def. = P(X>S) %Def. = (1- P((z<(S )/ ) %Def. = (1- P((z<(23 20) 1.57 %Def. =1- (z =1.91) Segn la tabla. %Def. = (1 - 0.9719)) x 100 %Def. = 2.81 El porcentaje de artculos a reprocesar es del 2.81% %Def. = P(X<I) %Def. = P((z<(I )/ ) %Def. = P((z<(15 20) 1.57 %Def. = P(z = - 3.18) Segn la tabla. %Def. = (0.00074) x 100 %Def. = 0.076 El porcentaje de artculos a desechar es del 0.076%, con esto concluimos que hay la ventaja de desechar muy pocos artculos defectuosos y reprocesar un porcentaje bajo artculos. d) Calculo de artculos a reprocesar y a desechar, si se utiliza el valor nominal de la especificacin. = LC = 19 %Def. = P(X>S) %Def. = (1- P((z<(S )/ ) %Def. = (1- P((z<(23 19) 1.57 %Def. =1- (z =2.54) Segn la tabla. %Defectuosos = (1 0.9945)) x 100 %Defectuosos = 0.55 El porcentaje de artculos a reprocesar es del 0.55% %Def. = P(X <I) %Def. = P((z<(I )/ ) %Def. = P((z<(15 19) 1.57 %Def. = P(z = - 2.54)

Segn la tabla. %Def. = (0.0055) x 100 %Defectuosos = 0.55 % Aqu aunque aparentemente, se mejora el proceso con los porcentajes de reprocesamiento, esto no es as porque el porcentaje de eliminacin de artculos aumenta y esto significa que en el proceso se tendrn que eliminar ms artculos que antes. 3) Carta de control P para los datos que el fabricante tomo para su producto final. nte. Tabla de datos con sus respectivos lmites.
Datos . 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 Total Subgrupo Marzo 29 30 31 Abril 1 2 5 6 7 8 9 12 13 14 15 16 19 20 21 22 23 26 27 28 29 30 Cantidad Nmero de no Fraccin de no Inspeccionada conformidades conformidades 2385 55 0,023 1451 18 0,012 1935 50 0,026 2430 42 0,017 1987 39 0,020 2158 52 0,024 1947 47 0,024 1972 34 0,017 2244 29 0,013 1238 53 0,043 2269 45 0,020 1484 26 0,018 2061 47 0,023 1667 34 0,020 2350 31 0,013 2354 38 0,016 1509 28 0,019 2190 30 0,014 2678 113 0,042 2252 58 0,026 1641 34 0,021 1782 19 0,011 1993 30 0,015 2382 17 0,007 2132 46 0,022 50491 1015 LSCp 0,029 0,031 0,030 0,029 0,030 0,029 0,030 0,030 0,029 0,032 0,029 0,031 0,029 0,030 0,029 0,029 0,031 0,029 0,028 0,029 0,030 0,030 0,030 0,029 0,029 LICp 0,011 0,009 0,011 0,012 0,011 0,011 0,011 0,011 0,011 0,008 0,011 0,009 0,011 0,010 0,011 0,011 0,009 0,011 0,012 0,011 0,010 0,010 0,011 0,011 0,011

Lnea Central. P = 1015 / 50491 P = 0.0201 Limites para la Carta P Limite superior LSCp = P + 3 x [P x (1 - P) / n] LSCp = 0.0201 + 3 x [0.0201 x (1 0.0201) / 2385]

LSCp = 0.029 Limite Inferior LICp = P 3 [P x (1 - P) / n] LICp = 0.0201 3 x [0.0201 x (1 0.0201) / 2385] LICp = 0.011 Promedio inspeccionado diariamente n = (ni) / #n n = 50491 / 25 n = 2019.64 Limites de control para el periodo completo. Lmite superior LSCp = P + 3 x [P x (1 - P) / n] LSCp = 0.0201 + 3 x [0.0201 x (1 0.0201) / 2019.64] LSCp = 0.0295 Limite Inferior. LICp = P + 3 x [P x (1 - P) / n] LICp = 0.0201 3 x [0.0201 x (1 0.0201) / 2019.64] LICp = 0.0107 LCp = 0.0201 Grafica para la carta P

CARTA "P"
4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 0 5 Fraccion Np 10 LSCp Datos 15 LICp

LSCp = 2,95% Lp = 2,01%

Porcentaje

LSCp = 1,07% 20 25

Se nota que No esta bajo control estadstico puesto que existen fuera tres datos, dos por el limite superior 10 (abril 9) y 19 (abril 22) con causas asignables con mayor artculos defectuosos y uno por el limite inferior 24 (abril 29) con causa asignable favorable. Se deben eliminar estos datos y recalcular los limites. Promedio inspeccionado diariamente n = (ni Datos errneos) / #n n = (50491 1238 2678 2382) / (25 3) n = 2005.5 P = (1015 113 -53 -17) / 44121 P = 832 / 44121 P = 0.0188 Limites de control para el periodo completo. Lmite superior LSCp = P + 3 x [P x (1 - P) / n] LSCp = 0.0188 + 3 x [0.0188 x (1 0.0188) / 20005.5] LSCp = 0.028 Limite Inferior. LICp = P + 3 x [P x (1 - P) / n] LICp = 0.0188 3 x [0.0188*(1 0.0188) / 2005.5] LICp = 0.009 LCp = 0.0185 Grafica para la carta P Sin los datos que estn fuera de los lmites

CARTA "P"
4,5 4 3,5 3 2,5 2 1,5 1 0,5 0 0 5 Fraccion Np 10 LSCp Datos 15 LICp

LSCp = 2,8% Lp = 1,88%

Porcentaje

LSCp = 0,9 20

Con este ajuste podemos decir que la carta ya esta bajo control estadstico. b) La calidad de este proceso en promedio esta ubicado en el 1.88 % en artculos defectuosos producidos con una capacidad cualitativa que se encuentra entre 0.9 % y 2.8 % de posibles artculos defectuosos. c) si en una hora en particular se encuentra que el nmero de paquetes defectuosos es cero significa que el proceso ha mejorado por que la causa asignable que se presenta indicara que lo que ha pasado en dicho tiempo es bueno y se debe mantener, se generan menores inconformidades y se mejora la rentabilidad. Si se aumenta el 2.5% de artculos defectuosos significa que el proceso se fuerza mucho, aunque este dentro de los lmites y esto indicara que el proceso ha empeorado. 4) Carta C de control para datos de una lnea de produccin. m = 31 lotes Lotes = 50
Numero de Numero de no Numero Numero de no lote conformidades. de lote conformidades. 20 7 36 2 21 8 37 12 22 6 38 3 23 6 39 6 24 2 40 14 25 9 41 10 26 8 42 8 27 10 43 6 28 0 44 4 29 2 45 9 30 8 46 14 31 2 47 5 32 11 48 2 33 1 49 6 34 6 50 3 35 5 Total 195

Carta C. = 195 / 31 = 6.3 Limites de la carta c: Limite superior. LSCc = +3 x ( ) LSCc = 6.3 + 3 (6.3) LSCc = 13.8 Limite Inferior LICc = 0 Estadsticamente no se usan nmeros negativos Grafica de la Carta C.

CARTA "C"
16 14 12 10 8 6 4 2 0 19 24 29 34 39 44 LICc= 0 49 Lc= 6,9 LSCc= 13,8

El proceso esta descontrolado puesto que existen puntos que estn fuera de los lmites (superior) de la carta debido a causas no asignables y se deben eliminar para su anlisis. Los puntos son 40 y 46 con 14 y 14 respectivamente. Carta C. = (195 -14 -14) / (31 2) = 5.76 Limites de la carta c: Limite superior. LSCc = +3 x ( ) LSCc = 5.76 + 3 x (5.76) LSCc = 12.96 Limite Inferior LICc = 0 Estadsticamente no se usan nmeros negativos

3. Grafica nueva de la carta.

Ahora el proceso ya se encuentra bajo control estadstico, no hay ningn punto por encima del LSCc. Cabe mencionar que hay puntos muy cercanos al LICc, los cuales se pueden presentar por una mala inspeccin, o la presencia de condiciones favorables que se deben determinar, investigar y mantener para mejorar el proceso. La capacidad de este proceso se puede determinar mediante el promedio () que se expresa en trminos de 5.76 defectos por unidad inspeccionada y que puede llegar harta 12.96 defectos por unidad. V). Carta de promedios y rangos mviles con un lapso de 3. Tabla de datos.
Das 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 % grasa 3,56 3,65 3,66 3,34 3,65 3,4 3,5 3,55 3,69 3,29 3,58 3,71 3,61 3,66 3,46 3,7 3,65 3,61 3,54 3,55 3,54 3,54 3,47 3 das muestras 10,87 10,65 10,65 10,39 10,55 10,45 10,74 10,53 10,56 10,58 10,9 10,98 10,73 10,82 10,81 10,96 10,8 10,7 10,63 10,63 10,55 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 3,62 3,55 3,55 3,46 3,52 3,48 3,58 3,51 3,52 3,53 3,63 3,66 3,58 3,61 3,60 3,65 3,60 3,57 3,54 3,54 3,52 0,1 0,32 0,32 0,31 0,15 0,15 0,19 0,4 0,4 0,42 0,13 0,1 0,2 0,24 0,24 0,09 0,11 0,11 0,01 0,01 0,07 X R

24 25 26 27 28 29 30

3,64 3,72 3,47 3,66 3,51 3,43 3,34

10,65 10,83 10,83 10,85 10,64 10,6 10,28 TOTAL

22 23 24 25 26 27 28 28

3,55 3,61 3,61 3,62 3,55 3,53 3,43 99,72

0,17 0,25 0,25 0,25 0,19 0,23 0,17 5,58

Carta R. 1. = (5.58) / 28 = 0.199 0.2

2. Limites de control. LSCR = D4 * LSCR = 2.574 * 0.2 LSCR = 0.51 LSCR = D4 * LICR = 0 3. Grafica de la carta R.

Aunque los puntos estn por dentro de los limites de control, se observa que al dividir la regin entre la lnea central y cada uno de los limites en tres partes, se nota que 2 de 3 puntos estn por encima de dos errores estndar, 4 de 6 puntos estn por debajo de un error estndar, siendo estos claros indicadores de que el proceso ha salido de control por causas asignables, es decir errores al leer los datos por parte del operario, descalibracin de equipos de medida o errores al realizar la prueba de grasa, etc. Elimino los puntos que hacen que el proceso se salga de control. (10 (0.4), 20 (0.11) y 21 (0.01)). 1. = (5.06) / 25 = 0.198 0.202

2. Nuevos Limites de control. LSCR = D4 * LSCR = 2.574 * 0.202 LSCR = 0.52 LICR = 0 3. Nueva Grafica de la carta R.

Ahora el proceso se encuentra bajo control estadstico en cuanto a su variabilidad. sin embargo hace falta un comportamiento mas aleatorio ya que se ven algunos puntos juntos. Carta X: 1. Xmedia = 89.13 / 25 = 3.56 2. LSCX = Xmedia + A2* LSCX = 3.56+ 1.023 *0.202 LSCX = 3.77 LICX = 3.35 LCx = 3.56 3. Grafica de la carta X.

El proceso no esta bajo control en cuanto a su centramiento porque hay 7 de 8 puntos consecutivos por encima del LCx, lo cual indica l presencia de causas asignables en el proceso, entonces se debe eliminar el ltimo de ellos (18) y recalcular los limites. 1. Xmedia = (89.13 -3.57) / 24 = 3.56

El valor de la media de medias es igual al anterior, entonces los lmites de control sern los mismos. Nueva grafica de la carta X.

Ahora el proceso ya esta bajo control en cuanto a su centramiento. = / d2 = 0.202/ 1.693 ; = 0.119 E 3.2% Cpi = (3.56 3.2) / (3*0.119) ; Cpi = 1.005 = Cpk

La capacidad real del proceso es buena, ya que si puede cumplir con la especificacin exigida, pero si el proceso sufre una pequea alteracin en su centramiento corrindose hacia el lmite inferior va a ser incapaz de cumplirla.

%Lotes que no cumplen = P(X<I) = P(z< (3.2- 3.56)/ 0.119) = z = -3.02en tabla. = 0.00126*100 = 0.126 % R/ Con este proceso el porcentaje de lotes que no cumplen con la especificacin es el 0.126%. 0.023%0.00023.z = -3.5 -3.5 = (3.2 )/ 0.119 = 3.62 Para que el porcentaje de lotes que no cumplen con la especificacin sea aproximadamente 0% (0.023%), se debe obtener un valor promedio del 3.62% de contenido de grasa en la leche.